JP5499919B2 - Microwave irradiation test apparatus, irradiation test method and irradiation test program used in the test apparatus - Google Patents

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この発明は、マイクロ波照射試験装置、該試験装置に用いられる照射試験方法及び照射試験プログラムに係り、たとえば、電波暗室などで電子機器にマイクロ波を広い周波数帯域にわたって照射し、同電子機器内外の電磁界の解析や同電子機器に対するマイクロ波の影響を解析する場合に用いて好適なマイクロ波照射試験装置、該試験装置に用いられる照射試験方法及び照射試験プログラムに関する。   The present invention relates to a microwave irradiation test apparatus, an irradiation test method and an irradiation test program used in the test apparatus. For example, an electronic apparatus is irradiated with microwaves over a wide frequency band in an anechoic chamber, and the inside and outside of the electronic apparatus The present invention relates to a microwave irradiation test apparatus suitable for analysis of electromagnetic fields and the influence of microwaves on the electronic apparatus, an irradiation test method used in the test apparatus, and an irradiation test program.

電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析する場合、電波暗室などで同電子機器にマイクロ波を広い周波数帯域にわたって照射し、同電子機器内外の電磁界の解析や同電子機器に対するマイクロ波の影響を解析するマイクロ波照射試験装置が用いられる。   When analyzing the effects of microwaves on electronic equipment, irradiate the electronic equipment over a wide frequency band in an anechoic chamber, etc., and analyze the electromagnetic field inside and outside the electronic equipment and influence the microwave on the electronic equipment. A microwave irradiation test device for analysis is used.

この種のマイクロ波照射試験装置は、たとえば図７に示すように、測定装置１０と、信号発生装置２１と、パルス発生器２２と、電力増幅器２３1 ，２３2 と、アンテナ２４1 ，２４2 と、回転台２５と、光電界センサ２６と、光ケーブル２７とから構成されている。測定装置１０は、操作部１１と、表示部１２と、記憶部１３と、評価部１４と、検出部１５と、制御部１６とを有している。また、上記電力増幅器２３1 ，２３2 、アンテナ２４1 ，２４2 、回転台２５及び光電界センサ２６は、電波暗室Ｒ内に設置されている。信号発生装置２１は、測定装置１０から、周波数制御信号ｆｃ及びレベル制御信号ｖｃ、及びパルス発生器２２からトリガ信号ｔｇが与えられ、周波数制御信号ｆｃに対応した周波数かつレベル制御信号ｖｃに対応したレベルの種信号ｓｃをトリガ信号ｔｇに基づいて発生する。 For example, as shown in FIG. 7, this type of microwave irradiation test apparatus includes a measuring apparatus 10, a signal generator 21, a pulse generator 22, power amplifiers 23 1 and 23 2 , and antennas 24 1 and 24 2. And a turntable 25, an optical electric field sensor 26, and an optical cable 27. The measuring apparatus 10 includes an operation unit 11, a display unit 12, a storage unit 13, an evaluation unit 14, a detection unit 15, and a control unit 16. The power amplifiers 23 1 and 23 2 , the antennas 24 1 and 24 2 , the turntable 25 and the optical electric field sensor 26 are installed in the anechoic chamber R. The signal generator 21 is supplied with the frequency control signal fc and the level control signal vc from the measuring device 10, and the trigger signal tg from the pulse generator 22, and corresponds to the frequency corresponding to the frequency control signal fc and the level control signal vc. A level seed signal sc is generated based on the trigger signal tg.

電力増幅器２３1 ，２３2 は、信号発生装置２１から発生した種信号ｓｃを受信し、増幅してマイクロ波に対応するＲＦ信号ｕ，ｖ（高周波信号）を出力する。アンテナ２４1 ，２４2 は、電力増幅器２３1 ，２３2 毎に設けられ、電力増幅器２３1 ，２３2 から出力されたＲＦ信号ｕ，ｖに対応したマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 を図示しない電子機器（供試機器）に照射する。光電界センサ２６は、上記電子機器に照射されたマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界を検出して光信号の電界強度検出信号ｅｄを出力する。パルス発生器２２は、測定装置１０から与えられたパルス制御信号ｐｃに基づいてトリガ信号ｔｇを信号発生装置２１に与える。回転台２５は、測定装置１０からの回転台制御信号ｃａにより制御され、載置されている図示しない供試機器を回転して水平方向を制御する。 The power amplifiers 23 1 and 23 2 receive the seed signal sc generated from the signal generator 21, amplify it, and output RF signals u and v (high frequency signals) corresponding to the microwaves. Antenna 24 1, 24 2 are provided to the power amplifier 23 1, 23 every 2, the power amplifier 23 1, 23 RF signal u outputted from the 2, not shown microwave w 1, w 2 corresponding to v electronic Irradiate the equipment (test equipment). The optical electric field sensor 26 detects the electric fields of the microwaves w 1 and w 2 applied to the electronic device and outputs an electric field strength detection signal ed of an optical signal. The pulse generator 22 gives a trigger signal tg to the signal generator 21 based on the pulse control signal pc given from the measuring device 10. The turntable 25 is controlled by a turntable control signal ca from the measuring apparatus 10 and rotates a test equipment (not shown) placed thereon to control the horizontal direction.

測定装置１０は、信号発生装置２１に対して、種信号ｓｃを発生させるためのレベル制御信号ｖｃ及び周波数制御信号ｆｃ、パルス発生器２２に対してパルス制御信号ｐｃ、及び回転台２５に対して回転台制御信号ｃａを与える。この測定装置１０では、操作部１１は、オペレータにより操作される。表示部１２は、試験条件や電界計算結果などを表示する。記憶部１３は、計算結果や換算データを記憶する。制御部１６は、光電界センサ２６から光ケーブル２７を経て電界強度検出信号ｅｄを受信する。検出部１５は、受信された電界強度検出信号ｅｄから電界値を検出する。評価部１４は、検出された電界値を算出し、設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルを算出し、信号発生装置２１に対して、算出されたレベルの種信号ｓｃを発生させるためのレベル制御信号ｖｃ及び周波数制御信号ｆｃを与える。 The measuring device 10 causes the signal generating device 21 to generate the seed signal sc, the level control signal vc and the frequency control signal fc, the pulse generator 22 to the pulse control signal pc, and the turntable 25 to A turntable control signal ca is given. In the measurement apparatus 10, the operation unit 11 is operated by an operator. The display unit 12 displays test conditions, electric field calculation results, and the like. The storage unit 13 stores calculation results and conversion data. The control unit 16 receives the electric field strength detection signal ed from the optical electric field sensor 26 via the optical cable 27. The detector 15 detects an electric field value from the received electric field strength detection signal ed. The evaluation unit 14 calculates the detected electric field value, calculates the level of the seed signal sc corresponding to the microwaves w 1 and w 2 having the set constant electric field strength and frequency, and A level control signal vc and a frequency control signal fc for generating the seed signal sc having the calculated level are provided.

このマイクロ波照射試験装置では、信号発生装置２１から出力された種信号ｓｃは、電力増幅器２３1 ，２３2 で増幅され、その入出力特性は、図８に示されている。この図８では、横軸に信号発生装置出力レベル［ｄＢｍ］、縦軸に電力増幅器出力レベル［ｄＢｍ］及び電界強度レベル［Ｖ／ｍ］がとられている。この入出力特性は、図８に示すように、一般にリニア領域ａ〜ｂと飽和領域ｂ〜ｄとに別れる。リニア領域ａ〜ｂと飽和領域ｂ〜ｄとの境界や飽和領域の出力特性は、電力増幅器２３1 ，２３2 に特有のものであり、周波数によっても変化する。このため、飽和領域ｂ〜ｄで増幅された信号の出力レベルは不明となり、アンテナ２４1 ，２４2 から供試機器に照射されるマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界強度も不明となるため、この試験装置により、飽和領域でアンテナ２４1 ，２４2 から供試機器に照射されるマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界強度を予め測定し、データベース化しておく必要がある。 In this microwave irradiation test apparatus, the seed signal sc output from the signal generator 21 is amplified by the power amplifiers 23 1 and 23 2 , and the input / output characteristics thereof are shown in FIG. In FIG. 8, the horizontal axis represents the signal generator output level [dBm], and the vertical axis represents the power amplifier output level [dBm] and the electric field strength level [V / m]. As shown in FIG. 8, the input / output characteristics are generally divided into linear regions ab and saturation regions bd. The output characteristics of the boundary between the linear regions ab and the saturation regions bd and the saturation region are peculiar to the power amplifiers 23 1 and 23 2 and change depending on the frequency. For this reason, the output level of the signal amplified in the saturation regions b to d becomes unknown, and the electric field strength of the microwaves w 1 and w 2 irradiated from the antennas 24 1 and 24 2 to the EUT becomes unknown. With this test apparatus, it is necessary to measure in advance the electric field strengths of the microwaves w 1 and w 2 irradiated from the antennas 24 1 and 24 2 to the EUT in the saturation region, and to create a database.

上記のマイクロ波照射試験装置の他、この種の関連技術としては、たとえば、特許文献１に記載された妨害排除能力試験装置がある。
この試験装置では、ホーンアンテナから供試機器に試験用電波を照射して、供試機器の妨害波に対する耐性を試験する際、測定装置により、ホーンアンテナから放射させる試験用電波の周波数及び偏波面の角度が、予め設定された試験条件に従って可変され、さらに、各試験条件下で、送信信号の信号レベルが可変されることにより、供試機器が正常動作から異常動作（又はその逆）へ変化する境界点が検知され、その境界点での電界強度が算出される。また、測定装置により、試験結果となる各試験条件下での電界強度が、増幅器の出力レベルから算出されるが、その換算データは、試験前に、供試機器の設置場所に設置した電界強度測定器を利用して自動生成される。この場合、換算データは、試験前に妨害波の送信出力を徐々に増加させ、送信出力に対する電界強度を周波数毎に測定しておくことにより作成される。 In addition to the microwave irradiation test apparatus described above, as this type of related technology, there is an interference exclusion capability test apparatus described in Patent Document 1, for example.
In this test equipment, when the test equipment is irradiated from the horn antenna to the EUT and the resistance of the EUT to the interference wave is tested, the frequency and polarization plane of the test radio wave radiated from the horn antenna by the measurement equipment Is changed according to preset test conditions, and the signal level of the transmission signal is changed under each test condition, so that the EUT changes from normal operation to abnormal operation (or vice versa). The boundary point to be detected is detected, and the electric field strength at the boundary point is calculated. In addition, the electric field strength under each test condition that is the test result is calculated by the measuring device from the output level of the amplifier, but the converted data is the electric field strength installed at the installation location of the EUT before the test. Automatically generated using a measuring instrument. In this case, the conversion data is created by gradually increasing the transmission output of the interference wave before the test and measuring the electric field strength with respect to the transmission output for each frequency.

また、特許文献２に記載された測定デバイスでは、センサは、プローブ部を有し、複数の測定信号を出力するために構成かつ配置され、同測定信号の各々が、同プローブ部と源との間の三次元における複数の位置関係の対応する一つにおいて同プローブ部に源から発するエネルギー場（電場、磁場、熱場）の影響を表す。位置決めデバイスは、上記複数の位置関係を制御可能に形成するために構成かつ配置されている。処理ユニットは、上記複数の位置関係に関する測定信号及び位置情報に基づいてデータを受信するために構成かつ配置され、場の特徴を出力する。場の特徴が、上記プローブ部に対するエネルギー場の影響の三次元の性質の表現を含む。   Further, in the measurement device described in Patent Document 2, the sensor has a probe unit, and is configured and arranged to output a plurality of measurement signals, and each of the measurement signals is connected to the probe unit and the source. 1 represents the influence of an energy field (electric field, magnetic field, heat field) emitted from the source to the probe part in a corresponding one of a plurality of positional relationships in three dimensions. The positioning device is configured and arranged to form the plurality of positional relationships in a controllable manner. The processing unit is configured and arranged to receive data based on the measurement signals and position information relating to the plurality of positional relationships, and outputs field characteristics. The field features include a representation of the three-dimensional nature of the effect of the energy field on the probe part.

また、特許文献３に記載された試験装置では、同試験装置の電源から増幅器の入力までの入力損失が計算され、入力損失補正係数が規定される。増幅器の出力から試験装置の電力計までの出力損失が計算され、出力損失補正係数が規定される。上記入力損失補正係数を使用して実際の入力電力レベルが決定されると共に、上記出力損失補正係数を使用して実際の出力電力レベルが決定され、増幅器の入力及び出力特性の校正が、周波数領域全体にわたって行われる。   In the test apparatus described in Patent Document 3, the input loss from the power supply of the test apparatus to the input of the amplifier is calculated, and the input loss correction coefficient is defined. The output loss from the output of the amplifier to the power meter of the test apparatus is calculated and an output loss correction factor is defined. The input loss correction factor is used to determine the actual input power level, and the output loss correction factor is used to determine the actual output power level, and calibration of the amplifier input and output characteristics is performed in the frequency domain. Done throughout.

特開２００６−３２９８７７号公報JP 2006-329877 A 特表２００４−５２２９３４号公報Special table 2004-522934 gazette 特表２００７−５０２４０２号公報JP-T-2007-502402

しかしながら、上記関連技術では、次のような課題があった。
すなわち、図７の試験装置では、マイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界強度を予め測定してデータベース化する作業は、全ての周波数において、信号発生装置２１の出力（種信号ｓｃ）を変化させたときのアンテナ２４1 ，２４2 から供試機器に照射されるマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界強度を測定することになり、しかも、全ての電力増幅器２３1 ，２３2 に対して行うことになるため、手作業で行うと、膨大な計測時間を必要とするという課題がある。また、マイクロ波帯の高出力の電力増幅器２３1 ，２３2 は、飽和レベル付近では送信出力に対する電界強度が線形に変化するわけではないため、周波数毎に一様な換算データにすることができないという課題がある。 However, the related technology has the following problems.
That is, in the test apparatus of FIG. 7, the work of measuring the electric field strengths of the microwaves w 1 and w 2 in advance and creating a database changed the output (seed signal sc) of the signal generator 21 at all frequencies. The electric field strength of the microwaves w 1 and w 2 irradiated to the equipment under test from the antennas 24 1 and 24 2 is measured, and this is performed for all the power amplifiers 23 1 and 23 2 . Therefore, there is a problem that enormous measurement time is required if it is performed manually. Further, in the microwave band high-power power amplifiers 23 1 and 23 2 , since the electric field intensity with respect to the transmission output does not change linearly near the saturation level, it cannot be converted into uniform conversion data for each frequency. There is a problem.

また、特許文献１に記載された試験装置では、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるが、上記換算データは、試験の前に妨害波の送信出力を徐々に増加させ、送信出力に対する電界強度を周波数毎に測定しておくことにより作成するものであり、図７の試験装置と同様の課題がある。   Moreover, in the test apparatus described in Patent Document 1, a test result that can evaluate the resistance to the interference wave is obtained. However, the converted data gradually increases the transmission output of the interference wave before the test, and the transmission output This is created by measuring the electric field strength for each frequency, and has the same problem as the test apparatus of FIG.

特許文献２に記載された測定デバイスでは、処理ユニットにより、場の特徴が出力されるが、この発明とは構成が異なり、上記の課題は、改善されない。
特許文献３に記載された試験装置では、増幅器の入力及び出力特性の校正が周波数領域全体にわたって行われるが、この発明とは構成が異なり、上記の課題は、改善されない。 In the measurement device described in Patent Document 2, the characteristics of the field are output by the processing unit. However, the configuration is different from the present invention, and the above problem is not improved.
In the test apparatus described in Patent Document 3, the input and output characteristics of the amplifier are calibrated over the entire frequency domain. However, the configuration is different from the present invention, and the above problem is not improved.

この発明は、上述の事情に鑑みてなされたもので、マイクロ波の電子機器に及ぼす影響を解析する場合の計測時間が短縮されるマイクロ波照射試験装置、該試験装置に用いられる照射試験方法及び照射試験プログラムを提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and a microwave irradiation test apparatus, an irradiation test method used in the test apparatus, and the like, in which the measurement time when analyzing the influence of microwaves on an electronic device is shortened, and It aims to provide an irradiation test program.

上記課題を解決するために、この発明の第１の構成は、試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置に係り、周波数制御信号及びレベル制御信号が与えられ、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生する信号発生装置と、該信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力する所定数の電力増幅器と、前記各電力増幅器毎に設けられ、前記各電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射するアンテナと、前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力する電界検出手段と、前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースを作成し、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出し、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御手段とを備えてなることを特徴としている。   In order to solve the above-mentioned problems, a first configuration of the present invention is to apply a microwave having a desired constant electric field strength over a predetermined frequency band to an electronic device that is a test object, thereby causing a microscopic effect on the electronic device. The present invention relates to a microwave irradiation test apparatus for analyzing the influence of waves, and is provided with a frequency control signal and a level control signal, and generates a seed signal having a frequency corresponding to the frequency control signal and a level corresponding to the level control signal. A signal generator, a predetermined number of power amplifiers that amplify the seed signal generated from the signal generator and output a high-frequency signal corresponding to the microwave, and the power amplifiers provided for each of the power amplifiers An antenna for irradiating the electronic device with the microwave corresponding to the high-frequency signal output from the electronic device, and an electric power of the microwave irradiated to the electronic device. An electric field detecting means for detecting an electric field intensity detection signal and a plurality of levels including an upper limit value and a lower limit value within a variable range of the level of the seed signal output from the signal generator, and the electric field detection means A database is created by measuring the relationship between the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal output from the electric field intensity for each frequency in the predetermined frequency band for each power amplifier, and the set constant electric field A level control signal for calculating the level of the seed signal corresponding to the microwave of intensity and frequency based on the database, and for generating the seed signal of the calculated level for the signal generator; And a signal generator control means for providing a frequency control signal.

この発明の第２の構成は、信号発生装置と、所定数の電力増幅器と、各電力増幅器毎に設けられたアンテナと、電界検出手段と、信号発生装置制御手段とを備え、試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置に用いられる照射試験方法に係り、前記信号発生装置に、周波数制御信号及びレベル制御信号を与えて、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生させ、前記所定数の電力増幅器に、前記信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力させ、前記各アンテナに、対応する前記電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射させ、前記電界検出手段に、前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力させ、前記信号発生装置制御手段に、前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定させてデータベースを作成させ、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出させ、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御処理を行わせることを特徴としている。 The second configuration of the invention includes a signal generating apparatus, a predetermined number of power amplifiers, an antenna provided for each power amplifier, and the electric field detection means, and a signal generator control unit, test object An irradiation test method used in a microwave irradiation test apparatus for analyzing the influence of microwaves on an electronic device by irradiating the electronic device with microwaves having a desired constant electric field intensity over a predetermined frequency band. engagement is, in the signal generating device, giving frequency control signal and the level control signal, and a frequency corresponding to the frequency control signal raised originating the level of species signal corresponding to said level control signal, the predetermined number a power amplifier, said signal by amplifying the seed signal generated from the generator to force out of the high-frequency signal corresponding to the microwave, on each antenna, from the corresponding said power amplifier The microwaves that corresponds to the force by said high-frequency signal by irradiation Isa to the electronic device, the electric field detection means, out of the field strength detection signal by detecting the electric field of the microwave irradiated to the electronic device power is, the signal generator control hand stage is output from a plurality of levels and the electric field detecting means including upper and lower limit values in the variable range of the level of the seed signal output from the pre-SL signal generator that the so created a database by previously measurement for each arbitrary frequency in the electric field strength within the predetermined frequency band the each power amplifier the relationship between the electric field intensity based on the detection signal, the constant electric field is set the level of the seed signal corresponding to the microwave intensity and the frequency was issued calculated on the basis of the database, for the previous SL signal generator, for generating the seed signals of the calculated level It is characterized that you to perform signal generator control processing providing said level control signal and the frequency control signal.

この発明の構成によれば、マイクロ波の電子機器に及ぼす影響を解析する場合の計測時間が短縮されるマイクロ波照射試験装置を提供することができる。   According to the configuration of the present invention, it is possible to provide a microwave irradiation test apparatus that can reduce the measurement time when analyzing the influence of microwaves on electronic equipment.

この発明の第１の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の要部の電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of the principal part of the microwave irradiation test apparatus which is 1st Embodiment of this invention. 図１のマイクロ波照射試験装置の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining operation | movement of the microwave irradiation test apparatus of FIG. コンプレッションファイルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of a compression file. 校正テーブルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of a calibration table. この発明の第２の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の電力増幅器の入出力特性に基づいてデータベースを作成するための飽和領域の態様を示す図である。It is a figure which shows the aspect of the saturation area | region for producing a database based on the input-output characteristic of the power amplifier of the microwave irradiation test apparatus which is 2nd Embodiment of this invention. この発明の第３の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の要部の電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of the principal part of the microwave irradiation test apparatus which is 3rd Embodiment of this invention. 関連技術に係るマイクロ波照射試験装置の構成図である。It is a block diagram of the microwave irradiation test apparatus which concerns on related technology. 図７中の電力増幅器の入出力特性を示す図である。It is a figure which shows the input-output characteristic of the power amplifier in FIG.

上記各電力増幅器は、上記種信号のレベルの増加に対して上記高周波信号のレベルが線形に増加する線形領域（リニア領域）、及び上記種信号のレベルの増加に対して上記高周波信号のレベルが非線形に増加する非線形領域（飽和領域）からなる入出力特性を有し、上記信号発生装置制御手段（測定装置）は、上記線形領域（リニア領域）と上記非線形領域（飽和領域）との境界及び上記非線形領域（飽和領域）内の任意の点での上記種信号のレベルと上記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を上記各電力増幅器毎に測定して上記データベースを作成する構成とされているマイクロ波照射試験装置を実現する。   Each power amplifier has a linear region (linear region) in which the level of the high-frequency signal increases linearly with an increase in the level of the seed signal, and the level of the high-frequency signal with respect to an increase in the level of the seed signal. It has input / output characteristics consisting of a nonlinear region (saturation region) that increases nonlinearly, and the signal generator control means (measuring device) has a boundary between the linear region (linear region) and the nonlinear region (saturation region), and The database is created by measuring the relationship between the level of the seed signal at an arbitrary point in the nonlinear region (saturation region) and the electric field strength based on the electric field strength detection signal for each power amplifier. The microwave irradiation test equipment is realized.

また、上記信号発生装置制御手段（測定装置）は、設定された上記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する上記種信号のレベルを、上記データベースの上記電界強度を線形補間することにより算出する構成とされている。また、上記信号発生装置制御手段（測定装置）は、上記非線形領域（飽和領域）内の複数の点での上記種信号のレベルと上記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を上記各電力増幅器毎に測定して上記データベースを作成する構成とされている。また、上記各電力増幅器は、周波数帯域がそれぞれ異なる構成とされている。また、上記各電力増幅器は、上記種信号を増幅する利得がそれぞれ異なる構成とされている。   The signal generator control means (measuring device) calculates the level of the seed signal corresponding to the set constant electric field strength and frequency microwave by linearly interpolating the electric field strength of the database. It is configured. Further, the signal generator control means (measuring device) determines the relationship between the level of the seed signal at a plurality of points in the nonlinear region (saturation region) and the electric field strength based on the electric field strength detection signal. The database is created by measuring each amplifier. Each of the power amplifiers has a different frequency band. The power amplifiers have different gains for amplifying the seed signal.

実施形態１Embodiment 1

図１は、この発明の第１の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の要部の電気的構成を示すブロック図である。
この形態のマイクロ波照射試験装置は、同図に示すように、図７中の測定装置１０に代えて、異なる構成の測定装置１０Ａが設けられている。このマイクロ波照射試験装置は、試験対象物である供試機器２８（電子機器）に所望の一定電界強度のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、同供試機器２８に及ぼすマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の影響を解析するための装置である。 FIG. 1 is a block diagram showing an electrical configuration of a main part of a microwave irradiation test apparatus according to the first embodiment of the present invention.
As shown in the figure, the microwave irradiation test apparatus of this embodiment is provided with a measurement apparatus 10A having a different configuration in place of the measurement apparatus 10 in FIG. This microwave irradiation test apparatus irradiates the test equipment 28 (electronic equipment), which is a test object, with microwaves w 1 and w 2 having a desired constant electric field intensity over a predetermined frequency band, thereby providing the test equipment. This is a device for analyzing the influence of the microwaves w 1 and w 2 on the H.28.

測定装置１０Ａでは、図７中の測定装置１０の評価部１４に代えて、異なる機能を有する評価部１４Ａが設けられている。評価部１４Ａは、信号発生装置２１から出力される種信号ｓｃのレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと、光電界センサ２６から出力される電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を、電力増幅器２３1 ，２３2 毎に所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースを作成する。さらに、評価部１４Ａは、設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルを上記データベースに基づいて算出し、信号発生装置２１に対して、上記算出されたレベルの種信号ｓｃを発生させるためのレベル制御信号ｖｃ及び周波数制御信号ｆｃを与える。 In the measurement apparatus 10A, an evaluation unit 14A having a different function is provided instead of the evaluation unit 14 of the measurement apparatus 10 in FIG. The evaluation unit 14A generates a plurality of levels including an upper limit value and a lower limit value within a variable range of the level of the seed signal sc output from the signal generator 21, and an electric field intensity detection signal ed output from the optical electric field sensor 26. A database is created by measuring the relationship with the electric field strength based on the power amplifiers 23 1 and 23 2 in advance for each arbitrary frequency within a predetermined frequency band. Furthermore, the evaluation unit 14A calculates the level of the seed signal sc corresponding to the set microwaves w 1 and w 2 having a constant electric field strength and frequency based on the database, and the signal generator 21 calculates the above level. A level control signal vc and a frequency control signal fc for generating the seed signal sc having the specified level are provided.

電力増幅器２３1 ，２３2 は、図８に示すように、種信号ｓｃのレベルの増加に対してＲＦ信号ｕ，ｖのレベルが線形に増加する線形領域（リニア領域ａ〜ｂ）、及び種信号ｓｃのレベルの増加に対してＲＦ信号ｕ，ｖのレベルが非線形に増加する非線形領域（飽和領域ｂ〜ｄ）からなる入出力特性を有している。また、電力増幅器２３1 ，２３2 は、周波数帯域がそれぞれ異なる構成となっている。評価部１４Ａは、特に、この実施形態では、上記線形領域（リニア領域）と非線形領域（飽和領域）との境界及び非線形領域（飽和領域）内の任意の点での種信号ｓｃのレベルと電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を電力増幅器２３1 ，２３2 毎に測定して上記データベースを作成する。また、評価部１４Ａは、設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルを、上記データベースの上記電界強度を線形補間することにより算出する。また、この測定装置１０Ａは、照射試験プログラムに基づいて動作するコンピュータで構成されている。 As shown in FIG. 8, the power amplifiers 23 1 and 23 2 include a linear region (linear regions a and b) in which the levels of the RF signals u and v increase linearly with respect to an increase in the level of the seed signal sc, and a seed. It has input / output characteristics composed of nonlinear regions (saturation regions b to d) in which the levels of the RF signals u and v increase nonlinearly with an increase in the level of the signal sc. Further, the power amplifiers 23 1 and 23 2 have different frequency bands. In particular, in this embodiment, the evaluation unit 14A determines the level of the seed signal sc and the electric field at an arbitrary point in the boundary between the linear region (linear region) and the nonlinear region (saturation region) and in the nonlinear region (saturation region). The database is created by measuring the relationship with the electric field intensity based on the intensity detection signal ed for each of the power amplifiers 23 1 and 23 2 . Further, the evaluation unit 14A calculates the level of the seed signal sc corresponding to the microwaves w 1 and w 2 having the set constant electric field strength and frequency by linearly interpolating the electric field strength of the database. The measuring apparatus 10A is configured by a computer that operates based on an irradiation test program.

図２は、図１のマイクロ波照射試験装置の動作を説明するフローチャート、図３は、コンプレッションファイルの例を示す図、及び図４が、校正テーブルの例を示す図である。
これらの図を参照して、この形態のマイクロ波照射試験装置に用いられる照射試験方法の処理内容について説明する。
このマイクロ波照射試験装置では、信号発生装置制御手段（測定装置１０Ａ）により、信号発生装置２１から出力される種信号ｓｃのレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと、電界検出手段（光電界センサ２６）から出力される電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を、電力増幅器２３1 ，２３2 毎に所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースが作成される。そして、設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルがデータベースに基づいて算出され、信号発生装置２１に対して、算出されたレベルの種信号ｓｃを発生させるためのレベル制御信号ｖｃ及び周波数制御信号ｆｃが与えられると共に、パルス発生器２２に対してパルス制御信号ｐｃが与えられる（信号発生装置制御処理）。 2 is a flowchart for explaining the operation of the microwave irradiation test apparatus of FIG. 1, FIG. 3 is a diagram showing an example of a compression file, and FIG. 4 is a diagram showing an example of a calibration table.
With reference to these drawings, processing contents of the irradiation test method used in the microwave irradiation test apparatus of this embodiment will be described.
In this microwave irradiation test apparatus, a plurality of levels including an upper limit value and a lower limit value within a variable range of the level of the seed signal sc output from the signal generator 21 are controlled by the signal generator controller (measuring device 10A). The relationship with the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal ed output from the electric field detection means (optical electric field sensor 26) is measured in advance for each arbitrary frequency within a predetermined frequency band for each of the power amplifiers 23 1 and 23 2. A database is created. Then, the level of the seed signal sc corresponding to the microwaves w 1 and w 2 having the set constant electric field strength and frequency is calculated based on the database, and the signal generator 21 receives the calculated level of the seed signal sc. Is supplied with a level control signal vc and a frequency control signal fc, and a pulse control signal pc is provided to the pulse generator 22 (signal generator control process).

信号発生装置２１では、信号発生装置制御手段（測定装置１０Ａ）から周波数制御信号ｆｃ及びレベル制御信号ｖｃ、及びパルス発生器２２からトリガ信号ｔｇが与えられ、周波数制御信号ｆｃに対応した周波数かつレベル制御信号ｖｃに対応したレベルの種信号ｓｃがトリガ信号ｔｇに基づいて発生する。電力増幅器２３1 ，２３2 により、信号発生装置２１から発生した種信号ｓｃが増幅されてマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応するＲＦ信号ｕ，ｖが出力される。アンテナ２４1 ，２４2 により、電力増幅器２３1 ，２３2 から出力されたＲＦ信号ｕ，ｖに対応したマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 が電子機器（供試機器２８）に照射される。電界検出手段（光電界センサ２６）により、電子機器（供試機器２８）に照射されたマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界が検出されて電界強度検出信号ｅｄが出力される。 In the signal generator 21, the frequency control signal fc and the level control signal vc are given from the signal generator control means (measurement device 10A), and the trigger signal tg is given from the pulse generator 22, and the frequency and level corresponding to the frequency control signal fc. A seed signal sc at a level corresponding to the control signal vc is generated based on the trigger signal tg. The power amplifiers 23 1 and 23 2 amplify the seed signal sc generated from the signal generator 21 and output RF signals u and v corresponding to the microwaves w 1 and w 2 . The microwaves w 1 and w 2 corresponding to the RF signals u and v output from the power amplifiers 23 1 and 23 2 are radiated to the electronic device (test device 28) by the antennas 24 1 and 24 2 . The electric field detection means (optical electric field sensor 26) detects the electric fields of the microwaves w 1 and w 2 applied to the electronic device (test device 28) and outputs the electric field strength detection signal ed.

上記データベースは、信号発生装置制御手段（測定装置１０Ａ）により、電力増幅器２３1 ，２３2 の入出力特性の線形領域（リニア領域）と非線形領域（飽和領域）との境界及び非線形領域（飽和領域）内の任意の点での種信号ｓｃのレベルと電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を電力増幅器２３1 ，２３2 毎に測定することにより作成される。また、上記設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルは、信号発生装置制御手段（測定装置１０Ａ）により、上記データベースの電界強度を線形補間することにより算出される。 The database includes a boundary between a linear region (linear region) and a nonlinear region (saturation region) of the input / output characteristics of the power amplifiers 23 1 and 23 2 and a nonlinear region (saturation region) by the signal generator control means (measuring device 10A). ) Is created by measuring the relationship between the level of the seed signal sc at an arbitrary point in () and the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal ed for each of the power amplifiers 23 1 and 23 2 . Further, the level of the seed signal sc corresponding to the microwaves w 1 and w 2 having the set constant electric field strength and frequency is linearly interpolated by the signal generator control means (measuring device 10A). Is calculated by

すなわち、図２に示すように、まず、コンプレッションファイルを作成する（コンプレッションファイル作成処理、ステップＡ１）。コンプレッションファイルの作成では、図８に示すような信号発生装置２１の出力レベル（種信号ｓｃのレベル）に対する電力増幅器２３1 （又は２３2 ）の出力レベル（ＲＦ信号のレベル）の特性が測定される（電力増幅器の入出力特性の測定、ステップＡ２）。そして、各周波数毎に、傾きが略“１”になる点ａ、傾きが略“０．５”となる点ｂ、傾きが略“０．３”となる点ｃ、及び、傾きが略“０”となる点ｄを求め、点ａ，ｂ，ｃ，ｄでの信号発生装置２１の出力レベルを抽出することにより作成される（コンプレッションファイルの作成、ステップＡ３）。作成されたコンプレッションファイルでは、たとえば図３に示すように、周波数ｆ１［ＭＨｚ］に対して、点ａ，ｂ，ｃ，ｄでの信号発生装置２１の出力レベルがＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４［ｄＢｍ］となっている。 That is, as shown in FIG. 2, first, a compression file is created (compression file creation process, step A1). In creating the compression file, the characteristics of the output level (RF signal level) of the power amplifier 23 1 (or 23 2 ) with respect to the output level of the signal generator 21 (the level of the seed signal sc) as shown in FIG. 8 are measured. (Measurement of input / output characteristics of power amplifier, step A2). For each frequency, the point a at which the slope is approximately “1”, the point b at which the slope is approximately “0.5”, the point c at which the slope is approximately “0.3”, and the slope is approximately “ It is created by obtaining a point d that becomes 0 ″ and extracting the output level of the signal generator 21 at points a, b, c, d (creation of a compression file, step A3). In the created compression file, for example, as shown in FIG. 3, the output level of the signal generator 21 at points a, b, c, and d is P1, P2, P3, P4 [ dBm].

このコンプレッションファイルを基に、校正テーブルを作成する（校正データの作成処理、ステップＡ４）。この校正テーブルは、供試機器２８の照射領域に、コンプレッションファイルの信号発生装置２１の出力レベルに基づいてマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 を照射し、光電界センサ２６により電界強度を測定することにより、種信号ｓｃの周波数、信号発生装置２１の出力値、及び測定した電界値をデータベース化した換算テーブルである。
この場合、まず、校正データを作成するための種信号ｓｃの周波数の範囲が設定される（校正周波数範囲の設定、ステップＡ５）。そして、図３のコンプレッションファイルから、設定された周波数の範囲内の各周波数における信号発生装置２１の出力レベル（ＳＧ出力レベル）を４点（出力レベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４）読み込み、周波数を変更して同様に出力レベルを読み込む（校正の開始、ステップＡ６、周波数のシフト、ステップＡ７）。これにより、図４に示すように、信号発生装置２１の出力レベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４［ｄＢｍ］に対応した電界値Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４［ｄＢｍ］が得られ、校正テーブルが作成される（校正データの完成、ステップＡ８）。 A calibration table is created based on this compression file (calibration data creation process, step A4). This calibration table irradiates the irradiation area of the EUT 28 with the microwaves w 1 and w 2 based on the output level of the signal generator 21 of the compression file, and measures the electric field intensity by the optical electric field sensor 26. 4 is a conversion table in which the frequency of the seed signal sc, the output value of the signal generator 21 and the measured electric field value are converted into a database.
In this case, first, the frequency range of the seed signal sc for creating the calibration data is set (setting of the calibration frequency range, step A5). Then, four points (output levels P1, P2, P3, P4) of the output level (SG output level) of the signal generator 21 at each frequency within the set frequency range are read from the compression file of FIG. Change and read the output level in the same way (start calibration, step A6, frequency shift, step A7). As a result, as shown in FIG. 4, electric field values E1, E2, E3, E4 [dBm] corresponding to the output levels P1, P2, P3, P4 [dBm] of the signal generator 21 are obtained, and a calibration table is created. (Completion of calibration data, step A8).

この校正データの出力レベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の各データ間は、電界値Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４を線形補間することにより算出され、アンテナ２４1 ，２４2 から所望の一定の電界強度のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 を照射することが可能となる（電界一定モード実行処理、ステップＡ９）。この場合、所望する電界値が入力され（ステップＡ１０）、校正データより信号発生装置２１の出力レベルが自動計算されて同信号発生装置２１が制御され、電界値が一定の照射試験が行われる（ステップＡ１１）。さらに、種信号ｓｃの周波数がシフトされ（ステップＡ１２）、ステップＡ１１に戻って同様の照射試験が行われる。 Between the data of the calibration data output levels P1, P2, P3, and P4, the electric field values E1, E2, E3, and E4 are calculated by linear interpolation, and the desired constant electric field strength is obtained from the antennas 24 1 and 24 2. Microwaves w 1 and w 2 can be irradiated (constant electric field mode execution process, step A9). In this case, a desired electric field value is input (step A10), the output level of the signal generator 21 is automatically calculated from the calibration data, the signal generator 21 is controlled, and an irradiation test with a constant electric field value is performed ( Step A11). Further, the frequency of the seed signal sc is shifted (Step A12), and the same irradiation test is performed by returning to Step A11.

上記所望の電界強度を計算する場合、この電界強度の値をＥｓｅｔ（Ｖ／ｍ）とし、照射したいマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の周波数をｆｒとする。周波数ｆｒにおいて、校正テーブル中の電界値を、小さい値から電界値Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４とし、同校正テーブル中の信号発生装置２１の出力レベルを小さい値から出力レベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４とするとき、電界強度Ｅｓｅｔの値に応じて信号発生装置２１の出力レベルＰｓｅｔの計算方法は、次の［１］乃至［５］のように場合分けされる。すなわち、
［１］Ｅｓｅｔ＜Ｅ１のとき、
Ｐｓｅｔ＝Ｐ１＋２０ｌｏｇ（Ｅｓｅｔ）−２０ｌｏｇ（Ｅ１）
［２］Ｅ１≦Ｅｓｅｔ＜Ｅ２のとき、
Ｐｓｅｔ＝Ｐ１＋（Ｐ２−Ｐ１）｛ｌｏｇ（Ｅｓｅｔ）−ｌｏｇ（Ｅ１）｝
÷｛ｌｏｇ（Ｅ２）−ｌｏｇ（Ｅ１）｝
［３］Ｅ２≦Ｅｓｅｔ＜Ｅ３のとき、
Ｐｓｅｔ＝Ｐ２＋（Ｐ３−Ｐ２）｛ｌｏｇ（Ｅｓｅｔ）−ｌｏｇ（Ｅ２）｝
÷｛ｌｏｇ（Ｅ３）−ｌｏｇ（Ｅ２）｝
［４］Ｅ３≦Ｅｓｅｔ＜Ｅ４のとき、
Ｐｓｅｔ＝Ｐ３＋（Ｐ４−Ｐ３）｛ｌｏｇ（Ｅｓｅｔ）−ｌｏｇ（Ｅ３）｝
÷｛ｌｏｇ（Ｅ４）−ｌｏｇ（Ｅ３）｝
［５］Ｅ４≦Ｅｓｅｔのとき、
Ｐｓｅｔ＝Ｐ４ When calculating the desired electric field strength, the value of the electric field strength is set to Eset (V / m), and the frequencies of the microwaves w 1 and w 2 to be irradiated are set to fr. At the frequency fr, the electric field value in the calibration table is changed from a small value to the electric field value E1, E2, E3, E4, and the output level of the signal generator 21 in the calibration table is changed from a small value to the output level P1, P2, P3. When P4 is set, the calculation method of the output level Pset of the signal generator 21 according to the value of the electric field strength Eset is divided into the following cases [1] to [5]. That is,
[1] When Eset <E1,
Pset = P1 + 20 log (Eset) −20 log (E1)
[2] When E1 ≦ Eset <E2,
Pset = P1 + (P2-P1) {log (Eset) -log (E1)}
÷ {log (E2) -log (E1)}
[3] When E2 ≦ Eset <E3,
Pset = P2 + (P3-P2) {log (Eset) -log (E2)}
÷ {log (E3) -log (E2)}
[4] When E3 ≦ Eset <E4,
Pset = P3 + (P4-P3) {log (Eset) -log (E3)}
÷ {log (E4) -log (E3)}
[5] When E4 ≦ Eset,
Pset = P4

操作部１１にて、オペレータが周波数ｆｒの所望の電界値Ｅｓｅｔを設定すると、評価部１４Ａで上記校正テーブルを基にして上記の自動計算が短時間で行われ、アンテナ２４1 ，２４2 から電界値Ｅｓｅｔのマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 が供試機器２８に照射される。 When the operator sets a desired electric field value Eset of the frequency fr in the operation unit 11, the automatic calculation is performed in a short time on the basis of the calibration table in the evaluation unit 14A, and the electric field is transmitted from the antennas 24 1 and 24 2. The test equipment 28 is irradiated with microwaves w 1 and w 2 having a value Eset.

以上のように、この第１の実施形態では、測定装置１０Ａにより、信号発生装置２１から出力される種信号ｓｃのレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと、光電界センサ２６から出力される電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を、電力増幅器２３1 ，２３2 毎に所定の周波数帯域内の周波数毎に予め測定してデータベースが作成され、設定された一定電界強度及び周波数のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 に対応する種信号ｓｃのレベルがデータベースに基づいて短時間で算出され、信号発生装置２１に対して、算出されたレベルの種信号ｓｃを発生させるためのレベル制御信号ｖｃ及び周波数制御信号ｆｃが与えられる。これにより、アンテナ２４1 ，２４2 から所望の電界値のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 が供試機器２８に照射される。 As described above, in the first embodiment, the measurement device 10A uses a plurality of levels including the upper limit value and the lower limit value within the variable range of the level of the seed signal sc output from the signal generation device 21, and photoelectric A database is created and set by measuring the relationship between the electric field strength based on the electric field strength detection signal ed output from the field sensor 26 for each frequency within a predetermined frequency band for each of the power amplifiers 23 1 and 23 2. The level of the seed signal sc corresponding to the microwaves w 1 and w 2 having a certain electric field strength and frequency is calculated in a short time based on the database, and the seed signal sc of the calculated level is sent to the signal generator 21. A level control signal vc and a frequency control signal fc for generation are provided. As a result, the microwaves w 1 and w 2 having desired electric field values are applied to the EUT 28 from the antennas 24 1 and 24 2 .

実施形態２Embodiment 2

図５は、この発明の第２の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の電力増幅器の入出力特性に基づいてデータベースを作成するための飽和領域の態様を示す図である。
この形態のマイクロ波照射試験装置では、図１中の評価部１４Ａに代えて、新たな機能が付加された図示しない評価部１４Ｂが設けられている。
評価部１４Ｂは、信号発生装置２１から出力される種信号ｓｃの飽和領域（非線形領域）内の複数の点でのレベルと電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係を測定してデータベースを作成する。すなわち、評価部１４Ｂは、図５に示すように、各周波数毎に、傾きが略“１”の点ａ、傾きが略“０．７”となる点ｂ、傾きが略“０．５”となる点ｃ、傾きが略“０．３”となる点ｄ、傾きが略“０．１”となる点ｅ、傾きが略“０”となる点ｆを求め、点ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆでの信号発生装置２１の出力レベルを抽出することにより、コンプレッションファイルを作成する。そして、評価部１４Ｂは、このコンプレッションファイルを基に、校正テーブルを作成する。 FIG. 5 is a diagram showing an aspect of a saturation region for creating a database based on the input / output characteristics of the power amplifier of the microwave irradiation test apparatus according to the second embodiment of the present invention.
In the microwave irradiation test apparatus of this embodiment, an evaluation unit 14B (not shown) to which a new function is added is provided instead of the evaluation unit 14A in FIG.
The evaluation unit 14B measures the relationship between the level at a plurality of points in the saturation region (non-linear region) of the seed signal sc output from the signal generator 21 and the electric field strength based on the electric field strength detection signal ed, and stores the database. create. That is, as shown in FIG. 5, the evaluation unit 14B, for each frequency, has a point “a” with an inclination of about “1”, a point “b” with an inclination of about “0.7”, and an inclination of about “0.5”. A point c where the slope is approximately “0.3”, a point e where the slope is approximately “0.1”, a point f where the slope is approximately “0”, and points a, b, c A compression file is created by extracting the output level of the signal generator 21 at, d, e, and f. Then, the evaluation unit 14B creates a calibration table based on this compression file.

このマイクロ波照射試験装置では、評価部１４Ｂにより、信号発生装置２１から出力される種信号ｓｃの飽和領域（非線形領域）内の複数の点でのレベルと電界強度検出信号ｅｄに基づく電界強度との関係が測定されてデータベースが作成されるので、設定された一定電界強度に対する供試機器２８に照射されるマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界値の差が少なくなり、同マイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界値の精度が向上する。ただし、この場合、データベースの作成時間が増加するので、時間と精度の兼ね合いを考慮した最良の方法で試験を行う必要がある。 In this microwave irradiation test apparatus, the evaluation unit 14B uses the levels at a plurality of points in the saturation region (nonlinear region) of the seed signal sc output from the signal generator 21 and the electric field strength based on the electric field strength detection signal ed. And the database is created, so that the difference in the electric field values of the microwaves w 1 and w 2 applied to the EUT 28 with respect to the set constant electric field strength is reduced, and the microwave w 1 , the accuracy of the electric field value of w 2 is improved. However, in this case, since the database creation time increases, it is necessary to perform a test by the best method considering the balance between time and accuracy.

実施形態３Embodiment 3

図６は、この発明の第３の実施形態であるマイクロ波照射試験装置の要部の電気的構成を示すブロック図である。
この形態のマイクロ波照射試験装置では、図６に示すように、図１の試験装置の構成に加え、電力増幅器２３3 ，２３4 及びアンテナ２４3 ，２４4 が付加されている。電力増幅器２３3 ，２３4 は、周波数帯域がそれぞれ異なる構成とされ、信号発生装置２１から発生した種信号ｓｃを増幅してマイクロ波に対応するＲＦ信号ｍ，ｎ（高周波信号）を出力する。また、電力増幅器２３3 ，２３4 は、電力増幅器２３1 ，２３2 とも周波数帯域が異なる構成となっている。また、電力増幅器２３1 ，２３2 ，２３3 ，２３4 は、種信号ｓｃを増幅する利得がそれぞれ異なる構成とされている。アンテナ２４3 ，２４4 は、ＲＦ信号ｍ，ｎに対応したマイクロ波ｗ3 ，ｗ4 を供試機器２８に照射する。他は、図１と同様の構成である。 FIG. 6 is a block diagram showing the electrical configuration of the main part of the microwave irradiation test apparatus according to the third embodiment of the present invention.
In the microwave irradiation test apparatus of this embodiment, as shown in FIG. 6, in addition to the configuration of the test apparatus of FIG. 1, power amplifiers 23 3 and 23 4 and antennas 24 3 and 24 4 are added. The power amplifiers 23 3 and 23 4 have different frequency bands, amplify the seed signal sc generated from the signal generator 21, and output RF signals m and n (high frequency signals) corresponding to the microwaves. In addition, the power amplifiers 23 3 and 23 4 have a different frequency band from the power amplifiers 23 1 and 23 2 . Further, the power amplifiers 23 1 , 23 2 , 23 3 , and 23 4 are configured to have different gains for amplifying the seed signal sc. The antennas 24 3 and 24 4 irradiate the EUT 28 with microwaves w 3 and w 4 corresponding to the RF signals m and n. The other configuration is the same as that shown in FIG.

このマイクロ波照射試験装置では、電力増幅器２３3 ，２３4 は、周波数帯域がそれぞれ異なり、また、電力増幅器２３1 ，２３2 とも周波数帯域が異なることにより、より広帯域で所望する電界強度のマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 ，ｗ3 ，ｗ4 が供試機器２８に照射される。また、電力増幅器２３1 ，２３2 ，２３3 ，２３4 は、利得がそれぞれ異なることにより、供試機器２８に照射するマイクロ波ｗ1 ，ｗ2 ，ｗ3 ，ｗ4 の電界強度の幅が広げられる。 In this microwave irradiation test apparatus, the power amplifiers 23 3 and 23 4 have different frequency bands, and the power amplifiers 23 1 and 23 2 have different frequency bands. The test equipment 28 is irradiated with w 1 , w 2 , w 3 , and w 4 . Further, the power amplifiers 23 1 , 23 2 , 23 3 , and 23 4 have different gains, so that the widths of the electric field strengths of the microwaves w 1 , w 2 , w 3 , and w 4 applied to the EUT 28 are different. Can be spread.

以上、この発明の実施形態を図面により詳述してきたが、具体的な構成は同実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更などがあっても、この発明に含まれる。
たとえば、上記第２の実施形態では、図５中の飽和領域内の点ｄ，ｅに加え、他の点を付加することにより、マイクロ波ｗ1 ，ｗ2 の電界値の精度がさらに向上する。また、上記第３の実施形態では、図６中の電力増幅器２３1 ，２３2 ，２３3 ，２３4 に加え、周波数帯域及び利得が異なる電力増幅器を付加することにより、供試機器２８に照射されるマイクロ波の周波数帯域及び電界強度の幅が広がる。 The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to the embodiment, and even if there is a design change without departing from the gist of the present invention, Included in the invention.
For example, in the second embodiment, the accuracy of the electric field values of the microwaves w 1 and w 2 is further improved by adding other points in addition to the points d and e in the saturation region in FIG. . In the third embodiment, in addition to the power amplifiers 23 1 , 23 2 , 23 3 , and 23 4 in FIG. 6, power amplifiers having different frequency bands and gains are added to irradiate the EUT 28. The frequency band of microwaves and the range of electric field strength are expanded.

上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限定されない。   A part or all of the above embodiment can be described as in the following supplementary notes, but is not limited to the following.

（付記１）試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置であって、周波数制御信号及びレベル制御信号が与えられ、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生する信号発生装置と、該信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力する所定数の電力増幅器と、前記各電力増幅器毎に設けられ、前記各電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射するアンテナと、前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力する電界検出手段と、前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースを作成し、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出し、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御手段とを備えてなるマイクロ波照射試験装置。   (Additional remark 1) Microwave irradiation test apparatus for analyzing the influence of the microwave which acts on the electronic device by irradiating the electronic device which is a test object with the microwave of a predetermined constant electric field intensity over a predetermined frequency band A signal generator for receiving a frequency control signal and a level control signal and generating a seed signal having a frequency corresponding to the frequency control signal and a level corresponding to the level control signal, and generated from the signal generator A predetermined number of power amplifiers that amplify the seed signal and output high-frequency signals corresponding to the microwaves, and the microwaves provided for each of the power amplifiers and corresponding to the high-frequency signals output from the power amplifiers An antenna for irradiating the electronic device with a wave, and an electric field intensity detection signal is output by detecting an electric field of the microwave applied to the electronic device. Based on a field detection means, a plurality of levels including an upper limit value and a lower limit value within a variable range of the level of the seed signal output from the signal generator, and the electric field strength detection signal output from the electric field detection means A database is created by measuring the relationship with the electric field strength in advance for each frequency within the predetermined frequency band for each of the power amplifiers, and the seed corresponding to the set microwave of the constant electric field strength and frequency. Signal generator control means for calculating a level of a signal based on the database and providing the signal generator with the level control signal and a frequency control signal for generating the seed signal of the calculated level; A microwave irradiation test apparatus comprising:

（付記２）前記各電力増幅器は、前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが線形に増加する線形領域、及び前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが非線形に増加する非線形領域からなる入出力特性を有し、前記信号発生装置制御手段は、前記線形領域と前記非線形領域との境界及び前記非線形領域内の任意の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する構成とされている付記１記載のマイクロ波照射試験装置。   (Appendix 2) Each power amplifier has a linear region in which the level of the high-frequency signal increases linearly with an increase in the level of the seed signal, and the level of the high-frequency signal with respect to an increase in the level of the seed signal. It has input / output characteristics consisting of a nonlinear region that increases nonlinearly, and the signal generator control means includes a boundary between the linear region and the nonlinear region, and a level of the seed signal at an arbitrary point in the nonlinear region. The microwave irradiation test apparatus according to appendix 1, wherein the database is created by measuring the relationship with the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal for each power amplifier.

（付記３）前記信号発生装置制御手段は、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを、前記データベースの前記電界強度を線形補間することにより算出する構成とされている付記１又は２記載のマイクロ波照射試験装置。   (Additional remark 3) The said signal generator control means calculates the level of the said seed signal corresponding to the microwave of the set said fixed electric field strength and frequency by linearly interpolating the said electric field strength of the said database, The microwave irradiation test apparatus according to Supplementary Note 1 or 2, wherein

（付記４）前記信号発生装置制御手段は、前記非線形領域内の複数の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する構成とされている付記２又は３記載のマイクロ波照射試験装置。   (Additional remark 4) The said signal generator control means measures the relationship between the level of the said seed signal in the some point in the said nonlinear area | region, and the electric field strength based on the said electric field strength detection signal for every said power amplifier. 4. The microwave irradiation test apparatus according to appendix 2 or 3, wherein the database is created.

（付記５）前記各電力増幅器は、周波数帯域がそれぞれ異なる構成とされている付記１、２、３又は４記載のマイクロ波照射試験装置。   (Supplementary note 5) The microwave irradiation test apparatus according to supplementary notes 1, 2, 3, or 4, wherein each of the power amplifiers has a different frequency band.

（付記６）前記各電力増幅器は、前記種信号を増幅する利得がそれぞれ異なる構成とされている付記１、２、３、４又は５記載のマイクロ波照射試験装置。   (Supplementary note 6) The microwave irradiation test apparatus according to supplementary notes 1, 2, 3, 4 or 5, wherein each of the power amplifiers has a different gain for amplifying the seed signal.

（付記７）試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置に用いられる照射試験方法であって、該マイクロ波照射試験装置は、周波数制御信号及びレベル制御信号が与えられ、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生する信号発生装置と、該信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力する所定数の電力増幅器と、前記各電力増幅器毎に設けられ、前記各電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射するアンテナと、前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力する電界検出手段と、信号発生装置制御手段とを備え、該信号発生装置制御手段が、前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースを作成し、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出し、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御処理を行う照射試験方法。   (Supplementary note 7) Microwave irradiation test apparatus for analyzing influence of microwave on electronic device by irradiating electronic device as test object with microwave of desired constant electric field intensity over a predetermined frequency band The microwave irradiation test apparatus is provided with a frequency control signal and a level control signal, and generates a seed signal having a frequency corresponding to the frequency control signal and a level corresponding to the level control signal. A signal generator for generating, a predetermined number of power amplifiers for amplifying the seed signal generated from the signal generator and outputting a high-frequency signal corresponding to the microwave, and provided for each of the power amplifiers, An antenna for irradiating the electronic device with the microwave corresponding to the high-frequency signal output from a power amplifier, and the electronic device irradiated with the microwave An electric field detecting means for detecting an electric field of the microwave and outputting an electric field intensity detection signal; and a signal generating device control means, wherein the signal generating device control means outputs a level of the seed signal output from the signal generating device. The relationship between the plurality of levels including the upper limit value and the lower limit value within the variable range of the electric field intensity and the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal output from the electric field detection means is within the predetermined frequency band for each power amplifier. A database is created by measuring in advance for each arbitrary frequency, and the level of the seed signal corresponding to the set microwave of the constant electric field strength and frequency is calculated based on the database, and the signal generator An irradiation test method for performing a signal generator control process for providing the level control signal and the frequency control signal for generating the seed signal of the calculated level.

（付記８）前記各電力増幅器は、前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが線形に増加する線形領域、及び前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが非線形に増加する非線形領域からなる入出力特性を有し、前記信号発生装置制御手段が、前記線形領域と前記非線形領域との境界及び前記非線形領域内の任意の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する付記７記載の照射試験方法。   (Supplementary Note 8) Each power amplifier has a linear region in which the level of the high-frequency signal increases linearly with an increase in the level of the seed signal, and the level of the high-frequency signal with respect to an increase in the level of the seed signal. An input / output characteristic comprising a nonlinear region that increases nonlinearly, and the signal generator control means includes a boundary between the linear region and the nonlinear region and a level of the seed signal at an arbitrary point in the nonlinear region; The irradiation test method according to appendix 7, wherein the database is created by measuring the relationship with the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal for each of the power amplifiers.

（付記９）前記信号発生装置制御手段が、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを、前記データベースの前記電界強度を線形補間することにより算出する付記７又は８記載の照射試験方法。   (Supplementary Note 9) The signal generator control means calculates the level of the seed signal corresponding to the set microwave having the constant electric field strength and frequency by linearly interpolating the electric field strength of the database. Or the irradiation test method of 8.

（付記１０）前記信号発生装置制御手段が、前記非線形領域内の複数の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する付記８又は９記載の照射試験方法。   (Additional remark 10) The said signal generator control means measures the relationship between the level of the said seed signal in the some point in the said nonlinear area | region, and the electric field strength based on the said electric field strength detection signal for every said power amplifier. The irradiation test method according to appendix 8 or 9, wherein the database is created.

（付記１１）前記各電力増幅器は、周波数帯域がそれぞれ異なる構成とされている付記７、８、９又は１０記載の照射試験方法。   (Supplementary note 11) The irradiation test method according to supplementary note 7, 8, 9 or 10, wherein each of the power amplifiers has a different frequency band.

（付記１２）前記各電力増幅器は、前記種信号を増幅する利得がそれぞれ異なる構成とされている付記７、８、９又は１０記載の照射試験方法。   (Supplementary note 12) The irradiation test method according to supplementary note 7, 8, 9 or 10, wherein each of the power amplifiers has a different gain for amplifying the seed signal.

（付記１３）コンピュータを、付記１乃至６のいずれか一に記載の信号発生装置制御手段として機能させる照射試験プログラム。   (Additional remark 13) The irradiation test program which makes a computer function as a signal generator control means as described in any one of additional marks 1 thru | or 6.

この発明は、マイクロ波の供試機器に及ぼす影響を解析するマイクロ波照射試験装置全般に適用できる。   The present invention can be applied to all microwave irradiation test apparatuses for analyzing the influence of microwaves on the EUT.

１０Ａ 測定装置（信号発生装置制御手段）
１１ 操作部（信号発生装置制御手段の一部）
１２ 表示部（信号発生装置制御手段の一部）
１３ 記憶部（信号発生装置制御手段の一部）
１４Ａ 評価部（信号発生装置制御手段の一部）
１５ 検出部（信号発生装置制御手段の一部）
１６ 制御部（信号発生装置制御手段の一部）
２１ 信号発生装置
２３1 ，２３2 ，２３3 ，２３4 電力増幅器
２４1 ，２４2 ，２４3 ，２４4 アンテナ
２６ 光電界センサ（電界検出手段） 10A measuring device (signal generator control means)
11 Operation unit (part of signal generator control means)
12 Display (part of signal generator control means)
13 Memory (part of signal generator control means)
14A evaluation unit (part of signal generator control means)
15 detector (part of signal generator control means)
16 Control unit (part of signal generator control means)
21 signal generator 23 1, 23 2, 23 3, 23 4 power amplifier 24 1, 24 2, 24 3, 24 4 antenna 26 optical electric field sensor (field detection unit)

Claims (10)

試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置であって、
周波数制御信号及びレベル制御信号が与えられ、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生する信号発生装置と、
該信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力する所定数の電力増幅器と、
前記各電力増幅器毎に設けられ、前記各電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射するアンテナと、
前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力する電界検出手段と、
前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定してデータベースを作成し、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出し、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御手段とを備えてなることを特徴とするマイクロ波照射試験装置。 A microwave irradiation test apparatus for analyzing an influence of a microwave on the electronic device by irradiating the electronic device as a test object with a microwave having a predetermined constant electric field intensity over a predetermined frequency band,
A signal generator for receiving a frequency control signal and a level control signal, and generating a seed signal having a frequency corresponding to the frequency control signal and a level corresponding to the level control signal;
A predetermined number of power amplifiers that amplify the seed signal generated from the signal generator and output a high-frequency signal corresponding to the microwave;
An antenna that is provided for each of the power amplifiers and that irradiates the electronic device with the microwaves corresponding to the high-frequency signals output from the power amplifiers.
An electric field detection means for detecting an electric field of the microwave applied to the electronic device and outputting an electric field strength detection signal;
Relationship between a plurality of levels including an upper limit value and a lower limit value within a variable range of the level of the seed signal output from the signal generator and the electric field strength based on the electric field strength detection signal output from the electric field detection means For each of the power amplifiers is measured in advance for each arbitrary frequency within the predetermined frequency band to create a database, and the level of the seed signal corresponding to the set microwave of the constant electric field strength and frequency is Signal generator control means for calculating based on a database and providing the signal generator with the level control signal and frequency control signal for generating the seed signal of the calculated level. A microwave irradiation test apparatus characterized by. 前記各電力増幅器は、
前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが線形に増加する線形領域、及び前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが非線形に増加する非線形領域からなる入出力特性を有し、
前記信号発生装置制御手段は、
前記線形領域と前記非線形領域との境界及び前記非線形領域内の任意の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する構成とされていることを特徴とする請求項１記載のマイクロ波照射試験装置。 Each of the power amplifiers
Input / output comprising a linear region where the level of the high-frequency signal increases linearly with an increase in the level of the seed signal, and a non-linear region where the level of the high-frequency signal increases nonlinearly with an increase in the level of the seed signal Has characteristics,
The signal generator control means includes:
The relationship between the level of the seed signal and the electric field strength based on the electric field strength detection signal at the boundary between the linear region and the nonlinear region and at any point in the nonlinear region is measured for each of the power amplifiers. 2. The microwave irradiation test apparatus according to claim 1, wherein the database is created. 前記信号発生装置制御手段は、
設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを、前記データベースの前記電界強度を線形補間することにより算出する構成とされていることを特徴とする請求項１又は２記載のマイクロ波照射試験装置。 The signal generator control means includes:
The level of the seed signal corresponding to the set microwave of the constant electric field strength and frequency is configured to calculate the electric field strength of the database by linear interpolation. 2. The microwave irradiation test apparatus according to 2. 前記信号発生装置制御手段は、
前記非線形領域内の複数の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定して前記データベースを作成する構成とされていることを特徴とする請求項２記載のマイクロ波照射試験装置。 The signal generator control means includes:
The database is created by measuring the relationship between the level of the seed signal at a plurality of points in the nonlinear region and the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal for each power amplifier. The microwave irradiation test apparatus according to claim 2, wherein the apparatus is a microwave irradiation test apparatus. 前記各電力増幅器は、
周波数帯域がそれぞれ異なる構成とされていることを特徴とする請求項１、２、３又は４記載のマイクロ波照射試験装置。 Each of the power amplifiers
The microwave irradiation test apparatus according to claim 1, wherein the frequency bands are different from each other. 前記各電力増幅器は、
前記種信号を増幅する利得がそれぞれ異なる構成とされていることを特徴とする請求項１、２、３、４又は５記載のマイクロ波照射試験装置。 Each of the power amplifiers
6. The microwave irradiation test apparatus according to claim 1, wherein gains for amplifying the seed signal are different from each other. 信号発生装置と、所定数の電力増幅器と、各電力増幅器毎に設けられたアンテナと、電界検出手段と、信号発生装置制御手段とを備え、試験対象物である電子機器に所望の一定電界強度のマイクロ波を所定の周波数帯域にわたり照射することにより、該電子機器に及ぼすマイクロ波の影響を解析するためのマイクロ波照射試験装置に用いられる照射試験方法であって、
前記信号発生装置に、周波数制御信号及びレベル制御信号を与えて、該周波数制御信号に対応した周波数かつ該レベル制御信号に対応したレベルの種信号を発生させ、
前記所定数の電力増幅器に、前記信号発生装置から発生した前記種信号を増幅して前記マイクロ波に対応する高周波信号を出力させ、
前記各アンテナに、対応する前記電力増幅器から出力された前記高周波信号に対応した前記マイクロ波を前記電子機器に照射させ、
前記電界検出手段に、前記電子機器に照射された前記マイクロ波の電界を検出して電界強度検出信号を出力させ、
前記信号発生装置制御手段に、
前記信号発生装置から出力される前記種信号のレベルの可変範囲内での上限値及び下限値を含む複数のレベルと前記電界検出手段から出力される前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に前記所定の周波数帯域内の任意の周波数毎に予め測定させてデータベースを作成させ、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを前記データベースに基づいて算出させ、前記信号発生装置に対して、前記算出されたレベルの前記種信号を発生させるための前記レベル制御信号及び周波数制御信号を与える信号発生装置制御処理を行わせることを特徴とする照射試験方法。 A signal generating device, and a predetermined number of power amplifiers, an antenna provided for each power amplifier, and the electric field detection means, and a signal generator control means, a desired constant electric field to the electronic device is a test object An irradiation test method used in a microwave irradiation test apparatus for analyzing the influence of microwaves on the electronic device by irradiating an intense microwave over a predetermined frequency band ,
Wherein the signal generator, giving frequency control signal and the level control signal causes Generating an level seed signal corresponding to the frequency and the level control signal corresponding to the frequency control signal,
Wherein the predetermined number of the power amplifier, amplifies the seed signal generated from the signal generator to force out of the high-frequency signal corresponding to the microwave,
Wherein each antenna, the micro-wave corresponding to the high frequency signal output from the corresponding said power amplifier so Isa irradiation to the electronic device,
Wherein the electric field detection means, to force out the field strength detection signal by detecting the electric field of the microwave irradiated to the electronic device,
Said signal generator controlling hand stage,
Between the electric field intensity based on the electric field intensity detection signal a plurality of levels are output from the electric field detecting means including upper and lower limit values in the variable range of the level of the seed signal output from the pre-SL signal generator the seed signal relationship was created any advance measurement is not in the database for each frequency within said predetermined frequency band the each power amplifier and corresponding to the micro-wave of the predetermined field strength and frequency is set the level of allowed out calculation based on said database, for the previous SL signal generator, the level control signal and the signal generator control processing providing a frequency control signal for generating the seed signals of the calculated level irradiation test wherein a call to perform. 前記各電力増幅器は、前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが線形に増加する線形領域、及び前記種信号のレベルの増加に対して前記高周波信号のレベルが非線形に増加する非線形領域からなる入出力特性を有し、
前記信号発生装置制御手段に、前記線形領域と前記非線形領域との境界及び前記非線形領域内の任意の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定させて前記データベースを作成させることを特徴とする請求項７記載の照射試験方法。 Each power amplifier has a linear region in which the level of the high-frequency signal increases linearly with an increase in the level of the seed signal, and the level of the high-frequency signal increases non-linearly with an increase in the level of the seed signal. It has input / output characteristics consisting of a nonlinear region,
Said signal generator controlling hand stage, the relationship between the electric field intensity based on the level and the field strength detection signal of the seed signal at any point before Symbol boundary and the nonlinear region of the linear region and the nonlinear region irradiation test method according to claim 7, characterized in that created the database by measure the each power amplifier. 前記信号発生装置制御手段に、設定された前記一定電界強度及び周波数のマイクロ波に対応する前記種信号のレベルを、前記データベースの前記電界強度を線形補間することにより算出させることを特徴とする請求項７又は８記載の照射試験方法。 Said signal generator controlling hand stage, characterized in that the level of the seed signal corresponding to the microwave of the predetermined field strength and frequency is set, to the field strength of the database issued calculated by linear interpolation The irradiation test method according to claim 7 or 8. 前記信号発生装置制御手段に、前記非線形領域内の複数の点での前記種信号のレベルと前記電界強度検出信号に基づく電界強度との関係を前記各電力増幅器毎に測定させて前記データベースを作成させることを特徴とする請求項８記載の照射試験方法。 Said signal generator controlling hand stage, said pre SL relationship between the electric field intensity based on the level and the field strength detection signal of the seed signal at a plurality of points of the non-linear region is measure the each power amplifier irradiation test method according to claim 8, characterized in that created the database.
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