JP5483360B2 - Deterioration state diagnosis method and apparatus for plating - Google Patents

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Description

本発明は、めっきされた金属の腐食状況即ちめっきの劣化状況を診断する方法及び装置に関する。さらに詳述すると、本発明は、例えば送電鉄塔や配電部材等に用いられている溶融亜鉛めっき鋼の長期運用および保守を行うためのめっきの減耗状態を評価するのに用いて好適なめっきの劣化診断方法およびその装置に関する。尚、本明細書において、めっきの劣化とは、めっきの減耗、減肉あるいは腐食などとも呼ばれるものであり、主にめっき厚さの減少を意味するものとして用いている。   The present invention relates to a method and apparatus for diagnosing the corrosion status of plated metal, that is, the degradation status of plating. More specifically, the present invention is suitable for use in evaluating plating depletion conditions for long-term operation and maintenance of hot-dip galvanized steel used in, for example, power transmission towers and distribution members. The present invention relates to a diagnostic method and an apparatus thereof. In the present specification, the deterioration of the plating is also referred to as plating depletion, thinning or corrosion, and is mainly used to mean a reduction in plating thickness.

溶融亜鉛めっき鋼は、耐久性および耐腐食性の観点から送電鉄塔や配電設備といった多くの設備で使用されている。しかし、経年とともにめっきは減耗するため、めっきの状態の適切な把握および保守を怠ると発錆に至る。そのため、定期的な検査にてめっきの劣化状態を把握することが重要となっている。勿論、溶融亜鉛めっき鋼に限らず、他のめっきにおいても劣化状況を把握することは重要である。   Hot dip galvanized steel is used in many facilities such as power transmission towers and power distribution facilities from the viewpoint of durability and corrosion resistance. However, since the plating wears down over time, rusting occurs if proper grasping and maintenance of the state of plating is neglected. Therefore, it is important to grasp the deterioration state of the plating by periodic inspection. Of course, it is important to grasp the deterioration state not only in hot dip galvanized steel but also in other plating.

ここで、金属の被めっき物に施されためっきの劣化状況を診断する方法としては、従来、目視やカメラ画像による視覚的観察、電磁膜厚計や超音波発生装置などを用いた膜厚測定、EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)などの分析装置による検査などが上げられる。なかでも、送電鉄塔などに用いられている溶融亜鉛めっき鋼の現場での劣化診断には、目視点検が一般的である。この目視点検では、写真見本をあらかじめ作成し、見本と比較することにより劣化の度合いを5段階で評価している。また、近年では、画像処理による劣化の評価も行われている。画像処理による方法では、写真撮影した画像の色情報を利用して、目視点検では点検者が主観的に行っていた劣化の判断を、画像処理により機械的に処理して判断する(特許文献1)。また、膜厚測定によるめっきの劣化診断では、電磁膜厚計や超音波発生装置などの計器をめっき表面に接触させ、めっきの膜厚を測定することで劣化を判断する。   Here, as a method for diagnosing the deterioration state of the plating applied to the metal object, conventionally, visual observation or visual observation with a camera image, film thickness measurement using an electromagnetic film thickness meter, an ultrasonic generator or the like And an inspection apparatus such as an EPMA (Electron Probe Micro Analyzer). In particular, visual inspection is generally used for on-site deterioration diagnosis of hot-dip galvanized steel used in power transmission towers and the like. In this visual inspection, a photograph sample is prepared in advance, and the degree of deterioration is evaluated in five stages by comparing with a sample. In recent years, deterioration due to image processing has also been evaluated. In the method by image processing, the color information of the photographed image is used to judge the deterioration that the inspector subjectively performed in the visual inspection by mechanically processing the image processing (Patent Document 1). ). Moreover, in the deterioration diagnosis of plating by film thickness measurement, an instrument such as an electromagnetic film thickness meter or an ultrasonic generator is brought into contact with the plating surface, and the deterioration is determined by measuring the film thickness of the plating.

特開平11−37950号公報JP 11-37950 A

しかしながら、目視やカメラ撮影では亜鉛腐食生成物のような外見上の変化がほとんどない腐食状況を診断することが困難である。また、特許文献1記載の発明の場合には、晴天時や雨天時といった気象条件の変化や被写体の影などにより点検対象物の写り方が変わるため、画像処理による劣化の判断結果は、撮影条件に大きく左右され変化する。また、汚れや付着生成物の付着状況などにより外見が変化した場合、画像からは劣化が進んでいないと判断されても、実際には汚れで隠されている箇所のめっきの減耗が大きい場合がある。さらに、中空鋼管といったカメラによる撮影が困難な箇所に画像処理の手法を適用することは困難である。   However, it is difficult to diagnose a corrosion situation that hardly changes in appearance such as zinc corrosion products by visual observation or camera photography. In addition, in the case of the invention described in Patent Document 1, since the way the inspection object is reflected changes due to changes in weather conditions such as in fine weather or rainy weather or shadows of the subject, the determination result of deterioration by image processing is based on the imaging conditions. It is greatly influenced by and changes. In addition, when the appearance changes due to dirt or the adhesion status of adhered products, even if it is judged from the image that the deterioration has not progressed, the wear of the plating that is actually hidden by the dirt may be large. is there. Furthermore, it is difficult to apply an image processing method to a place where photographing with a camera is difficult, such as a hollow steel pipe.

一方、電磁膜厚計および超音波発生装置は膜厚の測定を行えるが、めっき表面などに汚れが付着していたり腐食生成物が厚く形成されていたりする場合、膜厚が大きめに評価されるため、めっきの減耗を正確に把握することができない。また、EPMAなどの分析装置では膜厚の測定や腐食状況の分析を精密に行うことが可能であるが、分析対象となる材料を切断する必要があり、現場で測定を行うことができない。したがって、送電鉄塔や配電設備などの多くの設備で使用されている溶融亜鉛めっき鋼の場合、現場で測定することができないため、サンプルを切り取ってから分析装置がある所まで持ち帰り検査するため、結果的には破壊検査となることから適用することができなかった。   On the other hand, the electromagnetic film thickness meter and the ultrasonic generator can measure the film thickness, but if the plating surface is contaminated or the corrosion product is thick, the film thickness is evaluated to be larger. Therefore, it is not possible to accurately grasp the wear of the plating. Moreover, although an analyzer such as EPMA can accurately measure the film thickness and analyze the corrosion state, it is necessary to cut the material to be analyzed, and the measurement cannot be performed on site. Therefore, in the case of hot-dip galvanized steel used in many facilities such as transmission towers and distribution facilities, it is impossible to measure on-site. It was not possible to apply because it was a destructive inspection.

本発明は、視覚的観察並の簡便さを有しながらも測定条件および汚れなどの外見の影響を受けずに客観的な点検が可能なめっき鋼材の劣化状態診断方法および装置を提供することを目的とする。また、本発明は鋼管内面といった点検者および点検機器の接近が困難な箇所の点検を可能とする装置を提供することを目的とする。   The present invention provides a method and an apparatus for diagnosing a deterioration state of a plated steel material that can be objectively inspected without being affected by the appearance of measurement conditions and dirt, etc. while having the convenience of visual observation. Objective. It is another object of the present invention to provide an apparatus that enables inspection of a location where it is difficult for an inspector and inspection equipment such as an inner surface of a steel pipe to approach.

かかる目的を達成するため本発明者等が種々実験・研究した結果、めっき層はめっき成分のみで形成されているのではなく、めっき成分と金属下地の合金を形成し、金属下地に近づく程に金属下地の成分・元素が増加し、めっき表面に向かう程金属下地の成分・元素が減る方向に金属下地の含有率が変化していることに着目し、めっき表面をレーザー光でアブレーションしてめっき層の含有成分をプラズマ発光させ、金属下地成分とめっき成分との発光強度比をとることでめっきの減耗(即ち、めっきの劣化)の進捗状況を判断することが可能であることを知見するに至った。   As a result of various experiments and researches by the present inventors in order to achieve such an object, the plating layer is not formed of only the plating component, but forms an alloy of the plating component and the metal base so that it approaches the metal base. Focusing on the fact that the content of the metal substrate changes in the direction of decreasing the components and elements of the metal substrate as the component / element of the metal substrate increases and toward the plating surface, plating is performed by ablating the plating surface with laser light. To know that it is possible to judge the progress of plating depletion (that is, deterioration of plating) by making the components contained in the layer emit plasma and taking the emission intensity ratio between the metal base component and the plating component It came.

本発明はかかる知見に基づいて成されたものであって、請求項1記載のめっきの劣化診断方法は、検査対象であるめっき表面にパルスレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションし、アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し分光することにより金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度とを求め、金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度との強度比の変化から金属の被めっき物に施されためっきの劣化状況を診断するようにしている。   The present invention has been made on the basis of such knowledge, and the plating deterioration diagnosis method according to claim 1 comprises ablating the surface of the plating by irradiating the plating surface to be inspected with a pulsed laser beam. The emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component element are obtained by measuring and spectrally measuring the emission of the plasma generated by the above, and the emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component element The deterioration state of the plating applied to the metal object is diagnosed from the change in the strength ratio of the metal.

また、本発明のめっきの劣化診断方法においては、検査対象のサンプルを用いて金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を予め求めておき、測定値に基づく発光強度比と相関とからめっき層の劣化状態を定量化することが好ましい。   In the plating deterioration diagnosis method of the present invention, a correlation between the intensity ratio between the light emission intensity of the element constituting the metal substrate and the light emission intensity of the plating component and the plating thickness is obtained in advance using the sample to be inspected. The deterioration state of the plating layer is preferably quantified from the emission intensity ratio based on the measured value and the correlation.

また、本発明のめっきの劣化診断方法においては、検査対象を溶融亜鉛めっき鋼材とし、328.23、330.21、334.57、468.01、472.21、481.05nmの亜鉛の発光線のいずれか一つと、338.01、339.26、340.74、342.71、344.09、346.58、347.54、349.05、349.78、351.38、352.60、354.20、355.49 nmの鉄の発光線のいずれか一つを用い、亜鉛と鉄の発光線の強度比を求め、めっき膜厚を評価することが好ましい。   Further, in the plating deterioration diagnosis method of the present invention, the object to be inspected is a hot dip galvanized steel material, and any one of 328.23, 330.21, 334.57, 468.01, 472.21, 481.05 nm zinc emission line, and 338.01, 339.26, 340.74. , 342.71, 344.09, 346.58, 347.54, 349.05, 349.78, 351.38, 352.60, 354.20, 355.49 nm, the intensity ratio of zinc and iron luminescent lines was determined, and the plating thickness was determined. It is preferable to evaluate.

また、本発明にかかるめっきの劣化診断装置は、検査対象であるめっき表面にパルス状のレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションするレーザー装置と、アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し分光する分光装置と、金属下地の元素の発光強度とめっき成分の元素の発光強度とを求め、金属下地元素の発光強度とめっき成分の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価する分析装置とを備えるようにしている。   In addition, the plating deterioration diagnosis apparatus according to the present invention includes a laser apparatus for ablating a plating surface by irradiating the plating surface to be inspected with a pulsed laser beam, and measuring and emitting a plasma emission generated by the ablation. Measuring the emission intensity of the element of the metal base and the emission intensity of the element of the plating component, and evaluating the deterioration state of the plating layer from the change in the intensity ratio between the emission intensity of the metal base element and the emission intensity of the plating component And an analyzing device to be provided.

さらに、本発明にかかるめっきの劣化診断装置においては、検査対象のサンプルを用いて予め金属下地元素の発光強度とめっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を求めたデータを格納する記憶装置を備え、測定値に基づく発光強度比と予め求められた発光強度比とめっき厚さとの相関からめっき層の劣化状態を定量化することが好ましい。   Furthermore, in the plating deterioration diagnosis apparatus according to the present invention, data obtained by using the sample to be inspected in advance to obtain the correlation between the plating ratio and the intensity ratio between the emission intensity of the metal base element and the emission intensity of the plating component is stored. It is preferable to quantify the deterioration state of the plating layer from the correlation between the emission intensity ratio based on the measured value, the emission intensity ratio determined in advance, and the plating thickness.

さらに、本発明にかかるめっきの劣化診断装置においては、検査対象を溶融亜鉛めっき鋼材とし、328.23、330.21、334.57、468.01、472.21、481.05nmの亜鉛の発光線のいずれか一つと、338.01、339.26、340.74、342.71、344.09、346.58、347.54、349.05、349.78、351.38、352.60、354.20、355.49 nmの鉄の発光線のいずれか一つを用い、亜鉛と鉄の発光線の強度比を求め、めっきの劣化状況を評価することが好ましい。   Furthermore, in the plating deterioration diagnosis apparatus according to the present invention, the inspection object is a hot dip galvanized steel material, and any one of 328.23, 330.21, 334.57, 468.01, 472.21, 481.05 nm zinc emission line, and 338.01, 339.26, Deterioration of plating by using one of 340.74, 342.71, 344.09, 346.58, 347.54, 349.05, 349.78, 351.38, 352.60, 354.20, and 355.49 nm of the iron emission line to determine the intensity ratio of zinc and iron emission line It is preferable to evaluate the situation.

さらに、本発明にかかるめっきの劣化診断装置においては、分光装置を経て分光されたプラズマ化された物質からの発光を受光し発光スペクトルを得るゲート機能を有する受光素子と、レーザー及び受光素子のゲート開放開始時間との間の時間差を制御するコントローラとを備えることが好ましい。   Furthermore, in the plating degradation diagnosis apparatus according to the present invention, a light receiving element having a gate function for receiving light emitted from a plasma substance dispersed through a spectroscopic device and obtaining an emission spectrum, and a gate of the laser and the light receiving element It is preferable to provide a controller that controls a time difference from the opening start time.

本発明にかかるめっきの劣化診断方法及び装置によれば、検査対象であるめっきの表面をレーザー光でアブレーションし、発生するプラズマの発光を計測して金属下地とめっきの元素の発光強度比を求めることでめっき層の劣化状態を評価することができるので、現場での測定に基づいて尚かつ短い測定時間でめっきの劣化状態を非破壊で直接診断することができる。しかも、レーザー光が到達する範囲内であれば遠隔で測定を行うことが可能であるため、活線付近の測定や鋼管内部の測定といった容易に測定者が接近できない箇所の測定に適用することが可能である。したがって、送電鉄塔や配電設備などの多くの設備で使用されている溶融亜鉛めっき鋼の現場でのめっきの劣化診断を実現できる。さらに、中空鋼管といったカメラによる撮影が困難な箇所でも、レーザー光の光路が確保されれば容易に腐食状況を診断することができる。つまり、本発明にかかるめっきの劣化診断方法並びに装置は、鋼管内面といった点検者および点検機器の接近が困難な箇所の点検を可能とする。   According to the plating deterioration diagnosis method and apparatus according to the present invention, the surface of the plating to be inspected is ablated with a laser beam, and the generated plasma emission is measured to determine the emission intensity ratio between the metal substrate and the plating element. Thus, the deterioration state of the plating layer can be evaluated, so that the deterioration state of the plating can be directly diagnosed in a non-destructive manner in a short measurement time based on on-site measurement. Moreover, since it is possible to measure remotely as long as it is within the reach of the laser beam, it can be applied to the measurement where the measurer cannot easily reach such as measurement near the live line or measurement inside the steel pipe. Is possible. Accordingly, it is possible to realize on-site plating deterioration diagnosis of hot dip galvanized steel used in many facilities such as power transmission towers and power distribution facilities. Furthermore, even in places where photographing with a camera such as a hollow steel pipe is difficult, the corrosion situation can be easily diagnosed if the optical path of the laser beam is secured. That is, the plating deterioration diagnosis method and apparatus according to the present invention enables inspection of places where it is difficult for an inspector and inspection equipment such as the inner surface of a steel pipe to approach.

一方、めっき表面に汚れが付着したり腐食生成物が厚く形成されていたりする場合でも、レーザー光によるアブレーションによりめっき表面の汚れなどが蒸発されあるいは剥離され、膜厚に応じた発光強度比が得られるため、めっきの減耗を正確に把握することができる。即ち、レーザーアブレーションによりめっき表面の汚れや腐食生成物がプラズマ発光したとしても、金属下地とめっき成分との元素の発光のみを対象とするため、めっきの劣化状況を診断するのに影響を与えることがない。   On the other hand, even when dirt adheres to the plating surface or a thick corrosion product is formed, dirt on the plating surface is evaporated or peeled off by ablation with a laser beam, and an emission intensity ratio corresponding to the film thickness is obtained. Therefore, it is possible to accurately grasp plating depletion. In other words, even if dirt or corrosion products on the plating surface are emitted by plasma due to laser ablation, it only affects the light emission of the elements of the metal base and plating components, and this affects the diagnosis of plating deterioration. There is no.

つまり、本発明にかかるめっきの劣化診断方法及び装置は、視覚的観察並の簡便さを有しながらも測定条件および汚れなどの外見の影響を受けずに客観的な点検が可能である。しかも、アブレーションによるめっき層の破壊は、アブレーション1回当たりにおいて数百nm程度であるのに対し、めっき厚さは200μm以上であることから、1/1000〜1/5000程度にしか相当しないことが本発明者等の実験において確認された。加うるに、実際のめっきの表面は、1〜2μmの凹凸がある(つまり、腐食している)ことから、レーザー光によるアブレーションによって腐食が助長されることの心配もない。   In other words, the plating deterioration diagnosis method and apparatus according to the present invention can be objectively inspected without being affected by the appearance of measurement conditions and dirt, while having the convenience of visual observation. In addition, the destruction of the plating layer due to ablation is about several hundreds of nanometers per ablation, whereas the plating thickness is 200 μm or more, so it may only correspond to about 1/1000 to 1/5000. This was confirmed by the inventors' experiments. In addition, since the surface of the actual plating has irregularities of 1 to 2 μm (that is, corrodes), there is no concern that corrosion is promoted by ablation by laser light.

また、本発明のめっきの劣化診断方法及び装置において、検査対象のサンプルを用いて金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を予め求めておく場合には、測定値に基づく発光強度比と相関とからめっき層の劣化状態を定量化することができる。   Further, in the plating deterioration diagnosis method and apparatus of the present invention, the correlation between the intensity ratio between the emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component and the plating thickness is obtained in advance using the sample to be inspected. In this case, the deterioration state of the plating layer can be quantified from the emission intensity ratio based on the measured value and the correlation.

さらに、本発明にかかるめっきの劣化診断装置において、ゲート機能を有する受光素子とレーザー及び受光素子のゲート開放開始時間との間の時間差を制御するコントローラとを備える場合には、白色光と呼ばれる発光強度の高い光(バックグランドノイズ)の影響を排除し発光ピークが顕著となったタイミングで受光素子で受光して発光スペクトルを得ることできるので測定感度を上げることができる。   Furthermore, in the plating deterioration diagnosis apparatus according to the present invention, when a light-receiving element having a gate function and a controller for controlling a time difference between the laser and the gate opening start time of the light-receiving element are provided, light emission called white light is emitted. It is possible to increase the measurement sensitivity because it is possible to obtain an emission spectrum by eliminating the influence of high intensity light (background noise) and receiving light by the light receiving element at the timing when the emission peak becomes remarkable.

溶融亜鉛めっき層の構成を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the structure of a hot dip galvanization layer. 遠隔測定用劣化診断装置概念図である。It is a conceptual diagram of the deterioration diagnostic device for remote measurement. 光ファイバを用いた近接が困難な箇所の劣化診断装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the deterioration diagnostic apparatus of the location where proximity | contact is difficult using an optical fiber. 光伝送管を用いた近接が困難な箇所の劣化診断装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the deterioration diagnostic apparatus of the location where proximity | contact is difficult using an optical transmission tube. 実験装置の配置図である。It is a layout of an experimental device. 溶融亜鉛めっき層におけるプラズマの発光スペクトルの発光スペクトルを示すグラフで、実線は劣化前のメッキ表面における発光スペクトル、破線は劣化後の地金に達したときの発光スペクトルを示す。In the graph which shows the emission spectrum of the plasma emission spectrum in the hot dip galvanized layer, the solid line shows the emission spectrum on the plating surface before deterioration, and the broken line shows the emission spectrum when reaching the bare metal after deterioration. 溶融亜鉛めっき層における亜鉛の発光スペクトルの発光スペクトルを示すグラフである。It is a graph which shows the emission spectrum of the emission spectrum of zinc in a hot dip galvanization layer. 溶融亜鉛めっき層におけるプラズマの発光スペクトルの連続測定結果を示すグラフである。It is a graph which shows the continuous measurement result of the emission spectrum of the plasma in a hot dip galvanization layer. 鉄と亜鉛の発光線の強度を示すグラフである。It is a graph which shows the intensity | strength of the emission line of iron and zinc. 亜鉛と鉄の発光強度比と溶融亜鉛のめっき層の構成との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the luminous intensity ratio of zinc and iron, and the structure of the plating layer of hot dip zinc. レーザー光を4000回照射した後の照射痕の窪みの状況を示す画像である。It is an image which shows the condition of the hollow of the irradiation trace after irradiating a laser beam 4000 times. レーザー光を1000回照射した後の照射痕の窪みの状況を示す画像である。It is an image which shows the condition of the hollow of the irradiation trace after irradiating a laser beam 1000 times. レーザー光を4000回照射した痕の表面粗さを示すもので、(A)は照射痕の写真と粗さ測定位置(赤線部分)を示す。(B)は表面粗さを示すグラフである。It shows the surface roughness of the trace irradiated with the laser light 4000 times, and (A) shows a photograph of the irradiation trace and the roughness measurement position (red line portion). (B) is a graph showing surface roughness. レーザー照射回数に対する窪みの深さの関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship of the depth of the hollow with respect to the frequency | count of laser irradiation. 亜鉛と鉄の発光強度変化を示すグラフで、(A)は亜鉛の発光強度変化を、(B)は鉄の発光強度変化を示す。It is a graph which shows the luminous intensity change of zinc and iron, (A) shows the luminous intensity change of zinc, (B) shows the luminous intensity change of iron. 亜鉛と鉄の発光強度変化を示すグラフで、(A)は亜鉛の発光強度変化を規格化したもの、(B)は鉄の発光強度変化を規格化したものである。It is a graph which shows the luminescence intensity change of zinc and iron, (A) is what normalized the luminescence intensity change of zinc, (B) is what normalized the luminescence intensity change of iron.

以下、本発明の構成を図面に示す実施形態に基づいて詳細に説明する。尚、本実施形態においては、検査対象として溶融亜鉛メッキ鋼板を例に挙げて説明している。   Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the drawings. In the present embodiment, a hot dip galvanized steel sheet is taken as an example for inspection.

図1に溶融亜鉛めっき層の構成を示す。めっき層の内部では亜鉛と鉄との合金層が形成されており、被めっき物たる鉄素地に近いほど鉄の含有率が高くなる。亜鉛めっき層は、劣化するにつれてη層から減耗していき、合金層が露出するようになる。更に劣化が進むと発錆が生じ、母材の腐食につながる。即ち、めっきの減耗によりめっき厚みが変化することでめっき表面に含まれる元素比が変化する。このことから、めっき表面をレーザー光でアブレーションすれば、めっき表面に含まれる元素に対応したプラズマ発光が得られる。そして、めっきの劣化が進行するのに伴って金属下地成分とめっき成分との発光強度比が変化する。ここで、発光連続スペクトル並びに発光強度はめっきの含有元素比(成分比)そのものを表わすものではない。また、発光強度はめっきの成分の含有量そのものを表すものでもない。しかし、複数の元素間の発光強度比をとることによってそれらの成分比を特定することができる。つまり、金属下地成分(Fe)とめっき成分(Zn)との発光強度比をとること、即ちめっき層における鉄の含有率を測定することにより、めっきの劣化(腐食)の進捗状況を判断することが可能である。尚、本実施形態における検査対象たる溶融亜鉛めっきの場合には、単相めっきであるため素地と下地とは同じとなる。   FIG. 1 shows the configuration of the hot dip galvanized layer. An alloy layer of zinc and iron is formed inside the plating layer, and the iron content becomes higher as it is closer to the iron base material to be plated. As the galvanized layer deteriorates, it is depleted from the η layer, and the alloy layer is exposed. Further deterioration causes rusting and leads to corrosion of the base material. That is, the ratio of elements contained in the plating surface is changed by changing the plating thickness due to the wear of the plating. From this, if the plating surface is ablated with laser light, plasma emission corresponding to the elements contained in the plating surface can be obtained. As the plating progresses, the emission intensity ratio between the metal base component and the plating component changes. Here, the emission continuous spectrum and the emission intensity do not represent the content ratio (component ratio) of the plating itself. Further, the emission intensity does not represent the content of the plating component itself. However, the component ratio can be specified by taking the emission intensity ratio between a plurality of elements. That is, the progress of the deterioration (corrosion) of the plating is judged by taking the emission intensity ratio between the metal base component (Fe) and the plating component (Zn), that is, by measuring the iron content in the plating layer. Is possible. In addition, in the case of hot dip galvanization to be inspected in the present embodiment, since it is single phase plating, the substrate and the base are the same.

そこで、図2に示すように、検査対象である溶融亜鉛メッキ鋼板1のめっき表面にパルスレーザー光8を照射することでめっき表面をアブレーションし、その後アブレーションにより生じたプラズマ2からの発光を分光装置4で計測および分光して金属下地成分(Fe)とめっき成分(Zn)との発光強度を測定し、さらに測定装置5で金属下地成分とめっき成分との発光強度比を求めることでめっきの劣化状況を判断する。尚、図2に示す実施形態の劣化診断装置は、遠隔の場所に存在する検査対象について劣化診断するものであり、受光部に望遠鏡3を備え付けることによって受光感度を向上させるようにしている。また、図中の符号4は分光装置、5は測定装置、6はタイミングコントローラ、7はレーザー装置である。   Therefore, as shown in FIG. 2, the plating surface of the hot dip galvanized steel sheet 1 to be inspected is irradiated with pulsed laser light 8 to ablate the plating surface, and then the light emitted from the plasma 2 generated by the ablation is spectroscopic apparatus. Degradation of plating by measuring and spectrally measuring at 4 and measuring the light emission intensity of the metal base component (Fe) and the plating component (Zn), and further obtaining the light emission intensity ratio between the metal base component and the plating component by the measuring device 5 Determine the situation. Note that the deterioration diagnosis apparatus of the embodiment shown in FIG. 2 is for diagnosing deterioration of an inspection object existing at a remote place, and is provided with a telescope 3 in the light receiving unit to improve the light receiving sensitivity. In the figure, reference numeral 4 is a spectroscopic device, 5 is a measuring device, 6 is a timing controller, and 7 is a laser device.

使用するレーザー装置7については、アブレーションすると共にプラズマ化するに十分なピークパワーのレーザー、例えばNd:YAGレーザ、ファイバーレーザー、チタンサファイアレーザー、ガラスレーザー、COレーザ、エキシマレーザ等といったパルスレーザーの類が用いられる。つまり、パルスレーザーであれば、ナノ秒レーザーでも、超短パルスレーザーでも実施可能である。 Regarding the laser device 7 to be used, a laser having a peak power sufficient to ablate and turn into plasma, for example, a pulse laser such as Nd: YAG laser, fiber laser, titanium sapphire laser, glass laser, CO 2 laser, excimer laser, etc. Is used. That is, if it is a pulse laser, a nanosecond laser or an ultrashort pulse laser can be used.

分光装置4は、受光したプラズマ発光を分光することにより、金属下地とめっきの各成分元素の発光線を計測する。溶融亜鉛メッキ鋼板のめっきの劣化診断の場合、分光により、亜鉛と鉄の発光線を計測する。この時、各元素の発光線の強度は、アブレーションされた箇所の元素の含有量に比例する。さらに、異なる元素同士の発光強度の比は、各元素の含有率に比例する。   The spectroscopic device 4 measures the light emission lines of the component elements of the metal base and plating by dispersing the received plasma emission. In the case of diagnosing deterioration of a hot dip galvanized steel sheet, zinc and iron emission lines are measured by spectroscopy. At this time, the intensity of the emission line of each element is proportional to the content of the element in the ablated portion. Furthermore, the ratio of the emission intensity between different elements is proportional to the content of each element.

めっき層の亜鉛と鉄の含有率が鉄素地に近づくにつれて変化するため、例えば図6および図7に示すような発光強度の変化が測定される。そこで、328.23、330.21、334.57nmの亜鉛の発光線のいずれか一つと、338.01、339.26、340.74、342.71、344.09、346.58、347.54、349.05、349.78、351.38、352.60、354.20、355.49nmの鉄の発光線のいずれか一つを用い、図10のように亜鉛と鉄の発光線との強度比をとることにより、鉄の含有率が分かる。元素の含有率が同じであっても、各元素の発光線の強度はレーザーの照射条件により変化する。しかし、測定により一度に取得する各元素の発光強度の比をとることにより、測定条件の寄与は相殺され、測定箇所の含有率にのみ依存する値が得られる。また、劣化状態が同じで汚れなどにより外見が異なっていたとしても、本方法は鉄と亜鉛以外の物質から影響を受けないため、測定結果に影響を及ぼさない。ここで、金属下地成分とめっき成分との発光強度比を得るための発光線は、特定の発光線の間でのみ成立するものではなく、全ての発光線の間において成立するものである。例えば、溶融亜鉛メッキ鋼板を例に上げると、図15(A)、(B)に示すように、亜鉛と鉄とを示す発光線はそれぞれ幾つも存在するが、いずれもめっきの減耗状況に応じて同様の発光強度の変化を示しており、それらを規格化すると図16(A)及び(B)に示すようにより一層同じ傾向の変化を示していることが明らかである。したがって、亜鉛と鉄とのいずれの発光線を用いても、めっきの減耗の進捗状況に対して同様の発光強度比の変化が得られることがわかる。   Since the zinc and iron content of the plating layer changes as it approaches the iron substrate, for example, changes in the emission intensity as shown in FIGS. 6 and 7 are measured. Therefore, one of the 328.23, 330.21, and 334.57 nm zinc emission lines and the 338.01, 339.26, 340.74, 342.71, 344.09, 346.58, 347.54, 349.05, 349.78, 351.38, 352.60, 354.20, and 355.49 nm iron emission lines. By using any one of the above and taking the intensity ratio between zinc and iron emission lines as shown in FIG. 10, the iron content can be determined. Even if the element content is the same, the intensity of the emission line of each element varies depending on the laser irradiation conditions. However, by taking the ratio of the emission intensity of each element acquired at once by measurement, the contribution of the measurement conditions is canceled out, and a value that depends only on the content of the measurement location is obtained. Even if the deterioration state is the same and the appearance is different due to dirt or the like, the method is not affected by substances other than iron and zinc, and therefore does not affect the measurement results. Here, the light emission lines for obtaining the light emission intensity ratio between the metal base component and the plating component are not established only between specific light emission lines, but are established between all light emission lines. For example, taking a hot dip galvanized steel sheet as an example, as shown in FIGS. 15 (A) and 15 (B), there are a number of light emission lines indicating zinc and iron, respectively, depending on the plating depletion situation. As shown in FIGS. 16 (A) and 16 (B), it is clear that the same change in the emission intensity is shown. Therefore, it can be seen that the same change in the emission intensity ratio can be obtained with respect to the progress of the depletion of plating, regardless of which of the emission lines of zinc and iron is used.

めっき表面のアブレーションにより得られるプラズマ2からの発光スペクトルの取り込みと、亜鉛と鉄の任意の発光線の発光強度の抽出及び亜鉛と鉄の発光強度比の算出並びに得られた発光強度比に基づくめっきの劣化状態の評価は、測定装置5において行われる。測定装置5は、図示していないが、分光装置4からの出力をタイミングコントローラ6の指示により取り込むゲート機能を有する受光素子と、スペクトル強度分布を分析する各種解析プログラムなどを実装した中央演算処理部並びに記憶部を備え、発光線毎の発光強度の情報を入力して、このデータを保存し、さらには亜鉛と鉄の任意の発光線の発光強度を抽出してそれらの発光強度比を演算し、その発光強度比からめっき表面に含まれる元素比の変化、即ちめっきの劣化状態を求めてディスプレーなどに出力するものである。タイミングコントローラ6はレーザー装置7によるレーザー光8の照射時と測定装置5の受光素子のゲート開放開始時間との間の時間差を制御する。尚、測定装置5は、図示していないが記憶装置を備え、検査対象のサンプルを用いて金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を予め求めた検量線あるいはテーブルとして記憶装置に格納しておき、この相関関係を記憶装置から読み出して測定値に基づく発光強度比との関係からめっき層の劣化状態を定量化するようにしても良い。   Incorporation of emission spectrum from plasma 2 obtained by ablation of plating surface, extraction of emission intensity of arbitrary emission lines of zinc and iron, calculation of emission intensity ratio of zinc and iron, and plating based on the obtained emission intensity ratio The evaluation of the deterioration state of is performed in the measuring device 5. Although not shown, the measuring device 5 is a central processing unit that is mounted with a light receiving element having a gate function that takes in an output from the spectroscopic device 4 according to an instruction from the timing controller 6, and various analysis programs for analyzing the spectral intensity distribution. In addition, a storage unit is provided to input information on the emission intensity for each emission line, save this data, and extract the emission intensity of any emission line of zinc and iron to calculate their emission intensity ratio. The change in the ratio of elements contained in the plating surface, that is, the deterioration state of the plating is obtained from the emission intensity ratio and output to a display or the like. The timing controller 6 controls the time difference between the time of irradiation of the laser beam 8 by the laser device 7 and the gate opening start time of the light receiving element of the measuring device 5. The measuring device 5 includes a storage device (not shown), and uses the sample to be inspected to correlate the intensity ratio between the emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component and the plating thickness. A calibration curve or a table obtained in advance may be stored in a storage device, and this correlation may be read from the storage device to quantify the deterioration state of the plating layer from the relationship with the emission intensity ratio based on the measured value. .

以上のように構成されためっきの劣化診断装置によれば、タイミングコントローラ6によってレーザー装置7から検査対象である溶融亜鉛メッキ鋼板1のめっき表面にパルスレーザー光8を照射してめっきの表面をアブレーションし、アブレーションにより生じたプラズマ2の発光9を望遠鏡3と分光装置4とを介して計測し、分光することにより金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度とを求め、測定装置5で金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価することができる。   According to the plating deterioration diagnosis apparatus configured as described above, the timing controller 6 irradiates the plating surface of the hot dip galvanized steel sheet 1 to be inspected from the laser device 7 by irradiating the surface of the plating with the pulse laser beam 8. Then, the light emission 9 of the plasma 2 generated by ablation is measured through the telescope 3 and the spectroscopic device 4, and the light emission intensity of the element constituting the metal substrate and the light emission intensity of the plating component element are obtained by spectroscopic measurement. The deterioration state of the plating layer can be evaluated from the change in the intensity ratio between the light emission intensity of the element constituting the metal substrate and the light emission intensity of the plating component element.

次に鋼管内面といった点検者および点検機器の接近が困難な箇所のめっきの劣化診断を行う装置の概念図を図3に示す。図3は、レーザー光8の伝送およびプラズマ発光9の受光を光ファイバで行う装置の概念図である。装置としてはレーザー光を伝送するファイバ11とプラズマ受光するファイバ12から成っており、それらを中空管13で束ねて利用する。レーザー照射端では凸レンズ14によりレーザー光8を集光し、アブレーションを行う。光ファイバ11,12自体はある程度の柔軟性があるため、形状に沿って測定を行うことが可能である。勿論、中空管13を用いずに、むき出しとなったレーザー光伝送用の光ファイバ11と、発光計測用の光ファイバ12のみで構成するようにしても良い。この場合には、各光ファイバ11,12は図示していない巻き取り用ドラムになどに巻き取られて鋼管内などの狭隘な空間に吊り下げられ、めっき表面と対向するようにケーブル先端が曲げられた状態で上下動されるように設けられる。検査対象である鋼管内周面1’の表面のめっきの劣化状態を診断することができる。   Next, FIG. 3 shows a conceptual diagram of an apparatus for diagnosing plating deterioration at locations where it is difficult for an inspector and inspection equipment such as the inner surface of a steel pipe to approach. FIG. 3 is a conceptual diagram of an apparatus for transmitting laser light 8 and receiving plasma light emission 9 using an optical fiber. The apparatus consists of a fiber 11 for transmitting laser light and a fiber 12 for receiving plasma, which are bundled by a hollow tube 13 and used. At the laser irradiation end, the laser light 8 is condensed by the convex lens 14 and ablation is performed. Since the optical fibers 11 and 12 themselves have a certain degree of flexibility, it is possible to perform measurement along the shape. Of course, instead of using the hollow tube 13, it may be configured only by the exposed optical fiber 11 for laser light transmission and the optical fiber 12 for light emission measurement. In this case, each of the optical fibers 11 and 12 is wound around a winding drum (not shown) and suspended in a narrow space such as in a steel pipe, and the end of the cable is bent so as to face the plating surface. It is provided so that it can be moved up and down. It is possible to diagnose the deterioration state of the plating on the surface of the inner peripheral surface 1 ′ of the steel pipe to be inspected.

図4は、光伝送管を用いた他の実施形態の概念図である。この光伝送管は、中空管19にレーザー光伝送用の光学系と発光計測用の光学系とを内蔵したものであり、検査対象であるめっきの表面とは中空管19の先端の透明ガラス窓18を備える先端開口部を対向させて配置するようにして用いられる。ここで、レーザー光伝送用の光学系は、集光用レンズ17と、レーザー光8の波長のみを反射してレーザー光8をめっき表面に照射する波長選択型ミラー15とを含む。発光計測用の光学系は、めっき表面のアブレーションにより生じたプラズマ発光を波長選択型ミラー15の背後に配置されて波長選択型ミラー15を透過したプラズマ発光9を反射させる波長に依存しない反射ミラー16を含む。したがって、レーザー光8は、中空管19内を伝搬し、照射端にある波長選択型ミラー15及び窓ガラス18を通して検査対象箇所に照射される。発光9は、同じく窓ガラス18を通して、中空管19内にあるミラー16を用いて中空管19内を伝搬する。本装置では、中空管19を伸縮構造にする事により、縦長な箇所を広範囲に測定することが可能である。   FIG. 4 is a conceptual diagram of another embodiment using an optical transmission tube. This optical transmission tube has a hollow tube 19 in which an optical system for laser light transmission and an optical system for light emission measurement are incorporated, and the plating surface to be inspected is transparent at the tip of the hollow tube 19. The tip opening provided with the glass window 18 is used so as to be opposed to each other. Here, the optical system for laser beam transmission includes a condensing lens 17 and a wavelength selective mirror 15 that reflects only the wavelength of the laser beam 8 and irradiates the plating surface with the laser beam 8. The optical system for light emission measurement is a reflection mirror 16 that does not depend on the wavelength for reflecting the plasma light emission 9 that is disposed behind the wavelength selective mirror 15 and transmits the plasma light emission 9 transmitted through the wavelength selective mirror 15 by ablation of the plating surface. including. Therefore, the laser beam 8 propagates through the hollow tube 19 and is irradiated to the inspection target portion through the wavelength selective mirror 15 and the window glass 18 at the irradiation end. The light emission 9 propagates through the hollow tube 19 through the window glass 18 and using the mirror 16 in the hollow tube 19. In the present apparatus, it is possible to measure a vertically long portion over a wide range by making the hollow tube 19 into an expandable structure.

なお、上述の形態は本発明の好適な形態の一例ではあるがこれに限定されるものではなく本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能である。例えば、本実施形態では溶融亜鉛めっき鋼板のめっきの劣化の診断を例に挙げて主に説明したが、診断対象となるめっきはこれに特に限られるものではなく、他のめっきでも測定対象となる元素が異なるだけでありその劣化状況を診断することは可能である。本発明は、金属下地とめっき材料の元素比を調べることで、めっきの減耗状態を推定することにある。したがって、例えば、金属下地が鉄でめっき材料がすずであるブリキめっきの場合には、鉄とすずの元素比を発光強度比から調べてブリキの減耗状態を推定することが可能である。しかも、検査対象となるめっきの成分や種類などは予め明らかである必要はない。めっきの組成成分の存在量比は発光強度比から求められることから、発光スペクトルの形とピーク波長とでめっき組成成分元素は特定できる。したがって、めっきや金属下地の組成が不明なものであっても、さらにはめっきの種類を問われることなく、めっきの劣化診断を行うことができる。   The above-described embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. For example, in the present embodiment, the diagnosis of the deterioration of the hot dip galvanized steel sheet is mainly described as an example, but the plating to be diagnosed is not particularly limited to this, and other platings are also to be measured. It is possible to diagnose the deterioration state only with different elements. An object of the present invention is to estimate a depletion state of plating by examining an element ratio between a metal base and a plating material. Therefore, for example, in the case of tin plating in which the metal base is iron and the plating material is tin, it is possible to estimate the tin depletion state by examining the element ratio of iron and tin from the emission intensity ratio. In addition, the components and types of plating to be inspected need not be known in advance. Since the abundance ratio of the plating composition components is determined from the emission intensity ratio, the plating composition component elements can be specified by the shape of the emission spectrum and the peak wavelength. Therefore, even if the composition of the plating or the metal base is unknown, the deterioration diagnosis of the plating can be performed without questioning the type of plating.

また、上述の実施形態において好適な例として挙げたレーザーの種類や照射時間、照射の仕方などについては特に限定されるものではない。レーザーの種類やレーザー光の当て方や照射時間などが異なることで各元素毎の発光強度そのものは異なることが考えられるが、任意の元素間における発光強度比は一定であると推定される。したがって、めっき層に悪影響を与えない範囲で特定のレーザーの種類やレーザー光の当て方や照射時間などに特に限られるものではない。   In addition, the type of laser, irradiation time, irradiation method, and the like given as preferable examples in the above-described embodiment are not particularly limited. Although it is conceivable that the emission intensity itself of each element varies depending on the type of laser, how to apply laser light, irradiation time, etc., it is estimated that the emission intensity ratio between arbitrary elements is constant. Therefore, it is not particularly limited to a specific type of laser, a method of applying laser light, an irradiation time, or the like as long as it does not adversely affect the plating layer.

また、本実施形態ではそれほど測定感度を必要としていないためにシングルパルスでプラズマ発光を得るようにしているが、場合によってはダブルパルスでプラズマ発光を得るようにしても良い。この場合、アブレーションさせた元素の発光を漏れなく計測することができるので、測定感度を向上させることができる。つまり、1回目のアブレーションにより励起された粒子を2回目のレーザー光による再加熱または再励起を効果的に行うことによって励起原子の発光寿命を延ばすと共に、1回目のアブレーションでプラズマ化せずにめっき表面からはじき出された粒子も励起されるので、より低いパワーで材料への損傷を抑えながらもアブレーション効率を上げてプラズマを生成し測定感度を良くすることができる。しかも、一回目のレーザーパルスのエネルギーを低く出来るため、めっき表面におけるレーザー光による損傷を低減することができる。特に、パルス状のレーザー光の照射を、めっき表面に向けて照射しめっき表面をアブレーションさせる第1のステップと、アブレーションにより形成されたプラズマに向けてめっき表面と平行に照射され第1のステップで励起されなかった粒子を含めて再加熱または再励起する第2のステップとで行う場合には、より効果的である。この場合、第1のステップで照射するレーザー光と第2のステップで照射するレーザー光との間に0.5μs〜5μsの時間差を与えることにより、追加加熱の効果が得られると共に励起された粒子が飛散する前に十分な追加加熱を与えることができる。さらに、第1のステップで照射するレーザー光を第2のステップで照射するレーザー光よりも弱く、少なくとも計測対象となるめっき成分をめっき表面からはじき出すのに十分なものであり、第2のステップで照射するレーザー光は第1のステップではじき出された成分を励起して発光させるに十分なものとする場合には、めっき表面におけるレーザー光による損傷を最小限に抑制しながら測定感度を上げることができる。   Further, in the present embodiment, since the measurement sensitivity is not so much required, plasma emission is obtained with a single pulse, but in some cases, plasma emission may be obtained with a double pulse. In this case, since the light emission of the ablated element can be measured without omission, the measurement sensitivity can be improved. In other words, the particles excited by the first ablation are effectively reheated or re-excited by the second laser beam to extend the emission lifetime of the excited atoms and are plated without being converted to plasma by the first ablation. Since particles ejected from the surface are also excited, it is possible to increase the ablation efficiency and improve the measurement sensitivity while suppressing damage to the material with lower power. In addition, since the energy of the first laser pulse can be reduced, damage caused by laser light on the plating surface can be reduced. In particular, the first step of ablating the plating surface by irradiating the pulsed laser light toward the plating surface, and the first step of irradiating the plasma formed by ablation in parallel with the plating surface. This is more effective when performed in the second step of reheating or reexcitation including particles that have not been excited. In this case, by giving a time difference of 0.5 μs to 5 μs between the laser beam irradiated in the first step and the laser beam irradiated in the second step, the effect of additional heating is obtained and the excited particles Sufficient additional heating can be applied before the splashes. Furthermore, the laser beam irradiated in the first step is weaker than the laser beam irradiated in the second step, and is sufficient to eject at least the plating component to be measured from the plating surface. If the laser light to be irradiated is sufficient to excite and emit the components ejected in the first step, the measurement sensitivity can be increased while minimizing damage by the laser light on the plating surface. it can.

また、レーザー光の照射によるアブレーション並びにアブレーションプルームからの発光の計測は、光学レンズやミラーなどを用いた光学系によって行うようにしているが、場合によっては、直接光ファイバーによって導光することにより、照射したり、分光器に取り込むようにしても良い。光ファイバーは通常紫外域(波長200nm以下)の光は通さないため、そのような発光を測定する場合に有効である。勿論、レンズを用いて光ファイバーに集光することにより分光される光強度を増加し、測定感度を向上することも好ましい。また、光ファイバーとしてバンドルファイバーを用い、光ファイバーの出射形状をライン状にして分光器のスリット形状に合わせることにより、光ファイバーと分光器の結合効率を向上させるようにしても良い。また、レーザー光の集光と発光の集光を同軸に設定することも可能である。これにより、システムを簡便にすることができる。   In addition, measurement of ablation by laser light irradiation and light emission from the ablation plume is performed by an optical system using an optical lens, a mirror, or the like. Or may be taken into a spectroscope. An optical fiber normally does not pass light in the ultraviolet region (wavelength of 200 nm or less), and is therefore effective in measuring such light emission. Of course, it is also preferable to improve the measurement sensitivity by increasing the intensity of the separated light by condensing on the optical fiber using a lens. Alternatively, a bundle fiber may be used as the optical fiber, and the coupling efficiency between the optical fiber and the spectroscope may be improved by matching the output shape of the optical fiber to a line shape and the slit shape of the spectroscope. It is also possible to set the condensing of the laser light and the condensing of the emitted light coaxially. Thereby, the system can be simplified.

本発明によってめっきの劣化診断が可能なことを確認するための実験をおこなった。実験装置は、図5に示すように、タイミングコントローラ6によってレーザー光8の照射が制御されたレーザー装置7からのレーザー光8を反射ミラー21及び凸レンズ22を介して検査対象(溶融亜鉛めっき鋼板)1に照射し、アブレーションにより得られたプラズマ2の発光スペクトルを平凸レンズ23、シャープカットフィルタ24並びに光ファイバ25を介して分光器26並びにICCDカメラ(工業用カメラ)27で取り込み、パソコン28で分析し腐食状況を評価するようにしている。また、タイミングコントローラ6は、レーザー装置7からレーザー光を照射してから所定の遅延を以て、パソコン28がICCDカメラ27のシャッターを開放すると共に所定時間開放し続ける指示を出すトリガーを出力する。尚、パソコン28は、ICCDカメラ27からの画像信号を取り込み、必要に応じて発光スペクトルを保存し、演算処理し、解析することにより、金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度とを求め、金属下地を構成する元素の発光強度とめっき成分元素の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価するようにしたものである。また、受光系としては分光器26と光電子増倍管(図示省略)を用いたり、ゲート機能を有する受光素子として通常のCCDカメラや線形フォトダイオード等の線形受光素子を用いることも可能である。また、場合によっては受光素子として、光電子増倍管やフォトダイオード等の単一受光素子を用いることも可能である。   An experiment was conducted to confirm that the present invention can diagnose the deterioration of the plating. As shown in FIG. 5, the experimental apparatus inspects the laser light 8 from the laser apparatus 7 whose irradiation with the laser light 8 is controlled by the timing controller 6 via the reflection mirror 21 and the convex lens 22 (hot dip galvanized steel sheet). 1 and the emission spectrum of plasma 2 obtained by ablation is captured by a spectroscope 26 and an ICCD camera (industrial camera) 27 via a plano-convex lens 23, a sharp cut filter 24 and an optical fiber 25, and analyzed by a personal computer 28. The corrosion situation is evaluated. In addition, the timing controller 6 outputs a trigger for issuing an instruction for the personal computer 28 to release the shutter of the ICCD camera 27 and keep it open for a predetermined time with a predetermined delay after the laser beam is emitted from the laser device 7. The personal computer 28 captures the image signal from the ICCD camera 27, saves the emission spectrum as necessary, calculates, and analyzes the emission intensity of the elements constituting the metal substrate and the emission of the plating component elements. The strength is obtained, and the deterioration state of the plating layer is evaluated from the change in the intensity ratio between the light emission intensity of the element constituting the metal substrate and the light emission intensity of the plating component element. It is also possible to use a spectroscope 26 and a photomultiplier tube (not shown) as the light receiving system, or to use a linear light receiving element such as a normal CCD camera or a linear photodiode as the light receiving element having a gate function. In some cases, a single light receiving element such as a photomultiplier tube or a photodiode may be used as the light receiving element.

実験は、Nd:YAGレーザー装置7から第二高調波(532nm)を発振させ、レーザー光8を溶融亜鉛メッキ鋼板1に対して垂直に入射させた。レーザー光8は、アブレーションをさせるために凸レンズ22で集光させた。アブレーションにより生成されたプラズマ2の発光9を計測するために、平凸レンズ23とシャープカットフィルタ24並びに光ファイバ25を用いて受光し、分光器26を介してICCDカメラ27にて受光した。計測においては、同一箇所を連続的に照射し、溶融亜鉛めっき層を少しずつアブレーションしながら、その過程で断続的に発光スペクトルを計測し続けた。このように計測することにより、めっき層表面から鉄素地までの領域の発光スペクトルを同一実験条件で測定した。レーザーのエネルギーは30mJとし、レーザーを照射してから1.7μsec後にICCDカメラ27のシャッターを500nsec間開放して発光を計測した。また、発光スペクトルは20回積算平均を行った。計測で使用した溶融亜鉛めっき試料は劣化度2程度の(亜鉛層が消失し合金層が露出している)ものを用いた。   In the experiment, the second harmonic (532 nm) was oscillated from the Nd: YAG laser device 7 and the laser beam 8 was made to enter the hot dip galvanized steel sheet 1 perpendicularly. The laser beam 8 was condensed by the convex lens 22 for ablation. In order to measure light emission 9 of plasma 2 generated by ablation, light was received using a plano-convex lens 23, a sharp cut filter 24, and an optical fiber 25, and received by an ICCD camera 27 via a spectroscope 26. In the measurement, the same spot was continuously irradiated and the emission spectrum was continuously measured in the process while ablating the galvanized layer little by little. By measuring in this way, the emission spectrum in the region from the plating layer surface to the iron substrate was measured under the same experimental conditions. The energy of the laser was 30 mJ, and the light emission was measured by opening the shutter of the ICCD camera 27 for 500 nsec 1.7 μsec after the laser irradiation. The emission spectrum was averaged 20 times. The hot dip galvanized sample used in the measurement was one with a degradation degree of about 2 (zinc layer disappeared and alloy layer exposed).

図6に溶融亜鉛めっき層におけるプラズマの発光スペクトルを示す。325〜335nmにおいて亜鉛の発光線が確認され、335〜355nmにおいて鉄の発光線が確認された。   FIG. 6 shows the emission spectrum of plasma in the hot dip galvanized layer. Zinc emission lines were confirmed at 325 to 335 nm, and iron emission lines were confirmed at 335 to 355 nm.

レーザーを照射しながらスペクトルを測定した結果を図8に示す。レーザー照射直後は、図中のめっき層表面に相当し、照射を続けるとアブレーションにより徐々にめっきが除去され、鉄素地に近づく。鉄素地に近づくほど亜鉛の発光強度は低下し、相対的に鉄の発光強度が高くなる。これは、図1で示した通り、鉄素地に近いほどめっき層における鉄の含有率が高くなることが原因と考えられる。即ち、合金層の特徴(地金に近づくほどFeが多い)を反映しているものと考えられる。   The result of measuring the spectrum while irradiating the laser is shown in FIG. Immediately after the laser irradiation, it corresponds to the surface of the plating layer in the figure. When the irradiation is continued, the plating is gradually removed by ablation and approaches the iron substrate. The closer to the iron substrate, the lower the emission intensity of zinc and the higher the emission intensity of iron. As shown in FIG. 1, this is considered to be because the iron content in the plating layer increases as it is closer to the iron substrate. That is, it is considered to reflect the characteristics of the alloy layer (the closer to the bare metal, the more Fe).

図9に亜鉛と鉄の発光線の強度変化を示す。めっき表面ではZnの発光強度が強いが、地金に近づくほど相対的にFeの発光強度が高くなった。また、どちらの発光強度とも鉄素地に近づくほど小さくなった。これは、アブレーションされ易さが変化すること、即ちめっき表面ほどアブレーションし易く、金属下地に迫るほどアブレーションし難くなることに起因するものと考えられる。つまり、アブレーションによりレーザー光の照射点の位置が徐々に変化してくことで、計測条件が変化したことが原因と考えられる。このように発光強度は、計測条件の影響を受けるため、発光強度から各元素の含有率を直接的に推定することは困難である。   FIG. 9 shows changes in the intensity of the zinc and iron emission lines. On the plated surface, the emission intensity of Zn was strong, but the emission intensity of Fe was relatively higher as it was closer to the metal. Moreover, both emission intensity became small, so that it approached an iron substrate. This is considered to be due to the fact that the ease of ablation changes, that is, the ablation is easier to ablate as the plating surface is closer to the metal substrate. That is, it can be considered that the measurement condition has changed due to the gradual change of the position of the laser light irradiation point due to ablation. As described above, since the emission intensity is affected by the measurement conditions, it is difficult to directly estimate the content of each element from the emission intensity.

そこで、図10のように亜鉛と鉄との発光強度の比をとることで、計測条件による発光強度の影響を相殺し、亜鉛に対する鉄の含有率を推定することが可能となる。理想的には、鉄素地領域にて亜鉛の発光はなくなるはずだが、実際には背景光ノイズにより発光強度比は零にならない。実際には、再めっきの交換目安と言われている劣化度III(ζ層の全体的な露出)を評価することが必要である。本実験では、劣化度II程度の試料を用いており、発光強度比の傾きの変化から図10のように各層を評価できる。そのため、劣化度IIIは発光強度比0.7以上で判断される。つまり、本実験の結果からは、発光強度比0.7以上に閾値を定めて、めっきの劣化診断例えば再めっきの必要性の有無を判断するようにしても良い。   Therefore, by taking the ratio of the emission intensity of zinc and iron as shown in FIG. 10, it is possible to cancel the influence of the emission intensity due to the measurement conditions and estimate the iron content to zinc. Ideally, the zinc emission should disappear in the iron base region, but the emission intensity ratio does not actually become zero due to background light noise. In practice, it is necessary to evaluate the degree of degradation III (overall exposure of the ζ layer), which is said to be a replacement standard for replating. In this experiment, a sample having a degree of degradation of about II is used, and each layer can be evaluated from the change in the slope of the emission intensity ratio as shown in FIG. For this reason, the degree of deterioration III is determined when the emission intensity ratio is 0.7 or more. That is, based on the result of this experiment, a threshold value may be set to a light emission intensity ratio of 0.7 or more to determine whether or not there is a necessity for diagnosing plating deterioration, for example, re-plating.

本発明にかかるめっきの診断手法では、レーザー光の強度が高すぎると過度にめっきを除去してしまう可能性がある。そこで、本実験条件にて計測を行った場合にどの程度めっきが除去されるのかを光学顕微鏡観察により明らかにした。図11は、本実験条件にて同一箇所を4000回照射した痕の照射痕付近の粗さを3次元で表わしたものである。図より照射痕の周りはほとんどめっきが除去されておらず、小面積の領域のみ除去していることがわかる。   In the plating diagnostic method according to the present invention, if the intensity of the laser beam is too high, the plating may be excessively removed. Therefore, it was clarified by optical microscope observation how much plating was removed when measurement was performed under the present experimental conditions. FIG. 11 is a three-dimensional representation of the roughness in the vicinity of an irradiation mark of a mark irradiated with the same portion 4000 times under the present experimental conditions. From the figure, it can be seen that the plating mark is hardly removed around the irradiation mark, and only a small area is removed.

図12は、本実験条件にて同一箇所を4000回照射した痕の照射痕付近の粗さを3次元で表わしたものである。   FIG. 12 is a three-dimensional representation of the roughness near the irradiation mark of the mark irradiated with the same spot 4000 times under the present experimental conditions.

図13に図11で計測した照射痕の表面粗さを示す。図の400〜600μmの領域は未照射面を示している。未照射領域の表面は約10μm程度のばらつきがみられる。照射面および未照射面ともに粗さにばらつきが見られるが、90μm程度の窪み深さであることがわかる。   FIG. 13 shows the surface roughness of the irradiation mark measured in FIG. An area of 400 to 600 μm in the figure shows an unirradiated surface. The surface of the unirradiated area has a variation of about 10 μm. Although there is a variation in roughness on both the irradiated surface and the unirradiated surface, it can be seen that the depth is about 90 μm.

図14に、レーザー照射回数に対する窪み深さを示す。1回の照射で除去するめっきの量が一定だと仮定すると、1回の照射で約20nmの厚みのめっきを除去する計算になる。これは、照射前のめっき表面の粗さ(〜10μm)の2000分の1程度である。また、めっきの厚みはめっき処理直後で約200μm程度であり、1回の測定での照射回数を実施例と同じ20回とすると、1回の測定によりめっきの厚みの約2000分の1程度を除去する計算になる。   FIG. 14 shows the depth of the depression with respect to the number of times of laser irradiation. Assuming that the amount of plating to be removed by one irradiation is constant, the calculation is to remove the plating having a thickness of about 20 nm by one irradiation. This is about 1/2000 of the plating surface roughness (-10 μm) before irradiation. Further, the thickness of the plating is about 200 μm immediately after the plating treatment, and if the number of times of irradiation in one measurement is 20 times as in the example, about one half of the thickness of the plating is obtained by one measurement. It will be a calculation to remove.

今回、レーザーを15W/cm2相当のエネルギーフルエンスでめっき表面に照射したが、フルエンスが高いとめっきの除去量も多いため、なるべく低いフルエンスで行うことが望ましい。しかし、フルエンスが低すぎるとアブレーションが起きずにプラズマの発光が測定できない。今回の実験結果から、プラズマが生成されるフルエンス下限は実験条件と同じ15W/cm2であることを確認した。また、レーザーを照射してから1.7μsec後にICCDカメラ7のシャッターを開放したが、シャッターの開放するタイミングが早すぎると、各元素の発光と同時に白色光と呼ばれる発光強度の高い光も受光してしまい、測定ができなくなる。一方、タイミングが遅いと各元素の発光線の強度が低下し、感度が低下する。そのため、シャッターを開放するタイミングは、約1〜20μsecの範囲、より好ましくは1〜2μsecの範囲で行うことである。 This time, the surface of the plating was irradiated with a laser with an energy fluence equivalent to 15 W / cm 2. However, if the fluence is high, the removal amount of the plating is large. However, if the fluence is too low, ablation does not occur and plasma emission cannot be measured. From the results of this experiment, it was confirmed that the lower limit of the fluence at which plasma was generated was 15 W / cm 2 , the same as the experimental conditions. In addition, the shutter of the ICCD camera 7 was opened 1.7 μsec after the laser irradiation, but if the timing of opening the shutter is too early, light of high emission intensity called white light is received simultaneously with the light emission of each element. It becomes impossible to measure. On the other hand, if the timing is late, the intensity of the emission line of each element is lowered and the sensitivity is lowered. Therefore, the timing for opening the shutter is about 1 to 20 μsec, more preferably about 1 to 2 μsec.

1 溶融亜鉛めっき鋼板
2 プラズマ
3 望遠鏡
4 分光装置
5 測定装置
6 タイミングコントローラ
7 レーザー装置
8 レーザー光
9 プラズマの発光
25 光ファイバ
26 分光器
27 ICCDカメラ
28 パソコン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Hot-dip galvanized steel plate 2 Plasma 3 Telescope 4 Spectrometer 5 Spectrometer 5 Measuring device 6 Timing controller 7 Laser device 8 Laser light 9 Plasma emission 25 Optical fiber 26 Spectrometer 27 ICCD camera 28 Personal computer

Claims (7)

金属の被めっき物に施されためっきの劣化状況を診断する方法において、検査対象であるめっき表面にパルスレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションし、前記アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し、分光することにより金属下地を構成する元素の発光強度と前記めっき成分元素の発光強度とを求め、前記金属下地を構成する元素の発光強度と前記めっき成分元素の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価するめっきの劣化診断方法。 In a method for diagnosing the deterioration of plating applied to a metal object, the surface of the plating is ablated by irradiating the plating surface to be inspected with a pulsed laser beam, and the emission of plasma generated by the ablation is measured. The emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component element are obtained by spectroscopy, and the intensity ratio between the emission intensity of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component element is calculated. A plating deterioration diagnosis method that evaluates the deterioration state of a plating layer from changes. 前記検査対象のサンプルを用いて前記金属下地を構成する元素の発光強度と前記めっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を予め求めておき、測定値に基づく前記発光強度比と前記相関とからめっき層の劣化状態を定量化することを特徴とする請求項1記載のめっきの劣化診断方法。 Using the sample to be inspected, the correlation between the emission ratio of the element constituting the metal substrate and the emission intensity of the plating component and the plating thickness is obtained in advance, and the emission intensity ratio based on the measured value and The plating deterioration diagnosis method according to claim 1, wherein the deterioration state of the plating layer is quantified from the correlation. 前記検査対象は溶融亜鉛めっき鋼材であり、328.23、330.21、334.57、468.01、472.21、481.05nmの亜鉛の発光線のいずれか一つと、338.01、339.26、340.74、342.71、344.09、346.58、347.54、349.05、349.78、351.38、352.60、354.20、355.49 nmの鉄の発光線のいずれか一つを用い、前記亜鉛と前記鉄の発光線の強度比を求め、めっき膜厚を評価することを特徴とする請求項1または2記載のめっきの劣化診断方法。 The inspection object is a hot dip galvanized steel material, any one of 328.23, 330.21, 334.57, 468.01, 472.21, 481.05 nm zinc emission line, 338.01, 339.26, 340.74, 342.71, 344.09, 346.58, 347.54, 349.05, 349.78, 351.38, 352.60, 354.20, 355.49 nm, using one of the iron emission lines, obtaining the intensity ratio of the zinc and iron emission lines, and evaluating the plating film thickness. The plating deterioration diagnosis method according to 1 or 2. 金属の被めっき物に施されためっきの劣化状況を診断する装置において、検査対象であるめっき表面にパルス状のレーザー光を照射してめっきの表面をアブレーションするレーザー装置と、前記アブレーションにより生じたプラズマの発光を計測し、分光する分光装置と、前記金属下地の元素の発光強度と前記めっき成分の元素の発光強度とを求め、前記金属下地元素の発光強度と前記めっき成分の発光強度との強度比の変化からめっき層の劣化状態を評価する分析装置とを備えるめっきの劣化診断装置。 An apparatus for diagnosing the deterioration state of plating applied to a metal object, a laser device for ablating the plating surface by irradiating the plating surface to be inspected with a pulsed laser beam, and the ablation A spectroscopic device that measures and divides the emission of plasma, obtains the light emission intensity of the element of the metal base and the light emission intensity of the element of the plating component, and calculates the light emission intensity of the metal base element and the light emission intensity of the plating component. An apparatus for diagnosing deterioration of plating, comprising: an analyzer for evaluating a deterioration state of a plating layer from a change in intensity ratio. 前記検査対象のサンプルを用いて予め前記金属下地元素の発光強度と前記めっき成分の発光強度との強度比とめっき厚さとの相関を求めたデータを格納する記憶装置を備え、測定値に基づく前記発光強度比と前記発光強度比とめっき厚さとの相関からめっき層の劣化状態を定量化することを特徴とする請求項4記載のめっきの劣化診断装置。 Using a sample to be inspected, a storage device that stores data obtained by calculating a correlation between an intensity ratio between the emission intensity of the metal base element and the emission intensity of the plating component and a plating thickness in advance, and based on the measurement value 5. The plating deterioration diagnosis apparatus according to claim 4, wherein the deterioration state of the plating layer is quantified from the correlation between the emission intensity ratio, the emission intensity ratio, and the plating thickness. 前記検査対象は溶融亜鉛めっき鋼材であり、328.23、330.21、334.57、468.01、472.21、481.05nmの亜鉛の発光線のいずれか一つと、338.01、339.26、340.74、342.71、344.09、346.58、347.54、349.05、349.78、351.38、352.60、354.20、355.49 nmの鉄の発光線のいずれか一つを用い、前記亜鉛と前記鉄の発光線の強度比を求め、めっきの劣化状況を評価することを特徴とする請求項4または5記載のめっきの劣化診断装置。 The inspection object is a hot dip galvanized steel material, any one of 328.23, 330.21, 334.57, 468.01, 472.21, 481.05 nm zinc emission line, 338.01, 339.26, 340.74, 342.71, 344.09, 346.58, 347.54, 349.05, 349.78, 351.38, 352.60, 354.20, 355.49 nm, using one of the iron emission lines, obtaining the intensity ratio between the zinc and iron emission lines, and evaluating the deterioration of the plating. Item 6. The plating deterioration diagnosis apparatus according to Item 4 or 5. 前記分光装置を経て分光された前記プラズマ化された物質からの発光を受光し発光スペクトルを得るゲート機能を有する受光素子と、前記レーザー及び前記受光素子のゲート開放開始時間との間の時間差を制御するコントローラとを備える請求項4から6のいずれかに記載のめっきの劣化診断装置。 Controls a time difference between a light receiving element having a gate function for receiving light emitted from the plasma substance dispersed through the spectroscopic device and obtaining a light emission spectrum, and a gate opening start time of the laser and the light receiving element. A plating deterioration diagnosis apparatus according to claim 4, further comprising a controller for performing the plating.
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