JP5468687B2 - 静的ランダムアクセスセル、マトリクスアクティブマトリクスデバイス、アレイ素子回路 - Google Patents
静的ランダムアクセスセル、マトリクスアクティブマトリクスデバイス、アレイ素子回路 Download PDFInfo
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Description
(1)アレイに含まれる液滴の位置を監視する。
(2)以前に実行した任意の液滴動作が正しく実行されたか否かを検証する手段として、アレイに含まれる液滴の位置を判定する。
(3)液滴のインピーダンスを計測し、液滴の性質(例えば、導電性)に関する情報を判定する。
(4)化学反応または生化学反応を検出または計量するために、液滴のインピーダンスの特性を計測する。
(1)AM−EWODに電圧およびタイミング信号を供給する。
(2)AM−EWODから送り返されたセンサデータを解析する。
(3)プログラムされたデータ、および/または、センサデータをメモリに保存する。
(4)必要に応じてセンサのキャリブレーションを行い、メモリにキャリブレーションに関する情報を保存する。
(5)AM−EWODから受信したセンサデータを処理する。これには、保存されたキャリブレーションのデータに基づいて、調整を行うことが含まれる。
(6)電圧レベルおよびセンサ制御信号のタイミングを調整し、制御する。
(7)液滴動作を実行するために、デジタルデータまたはアナログデータをAM−EWODに送信する。
(8)計測されたセンサ出力データに成分が依存する液滴に対して動作を実行するために、デジタルデータまたはアナログデータをAM−EWODに送信する。
(9)計測されたセンサ出力データに応じて、EW駆動電極に書き込まれた信号の電圧レベルを調整する、などがある。
(1)ドライバ回路をAM−EWOD基板に統合できる。図13は、構成の一例を示す。EWODアレイ42の制御は、統合行ドライバ回路76および統合列ドライバ回路78を用いて実現される。シリアルインターフェース80は、シリアル入力データストリームを処理するために備えられ、必要となる電圧をアレイ42に書き込む。アレイの大きさのわりには、TFT基板(図12)と外部駆動エレクトロニクスや電源などとの間にある数々の接続ワイヤ82を、比較的少なくすることができる。
(2)TFTベースのエレクトロニクスは、AM−EWODへの応用に適している。比較的大きな基板エリアを比較的安価なコストで生産できるため、それらは安価に製造できる。
(3)TFTベースの検知を、アクティブマトリクスの制御アレイに組み込むことができる。例えば、米国特許第20080085559号明細書(Hartzell et al.、2008年4月10日)では、カンチレバーベースのアレイを用いるTFTベースのアクティブマトリクスバイオセンサが開示されている。
(1)AM−EWODアレイにおけるそれぞれのアレイ素子でインピーダンスを計測することによって、当該アレイに含まれる液滴の位置を判定できる。
(2)所定の液滴のインピーダンスを計測することによって、当該液滴のサイズを判定することができる。したがって、化学反応および/または生化学反応において用いられる液滴の量を計量するために、インピーダンスセンサの機能を使うことができる。
(3)それぞれのアレイ素子においてインピーダンスを計測することによって、液滴に対する操作(例えば、液滴を移動させる、液滴を分離させる、容器から液滴を作動させる)が正しく実行されたか否かを検証することができる。
(4)回路ベースの技術を利用することによって、液滴の成分に関する情報(例えば、抵抗率)を判定できる。
(1)アクティブマトリクスセンサの構成を利用することによって、ほとんど同時に、アレイにおける多数のポイントにおいてインピーダンスが計測される。
(2)センサ駆動回路(sensor drive circuitry)と出力増幅器(output amplifiers)とをAM−EWOD駆動エレクトロニクス(AM-EWOD drive electronics)に統合することによって、AM−EWODデバイスと外部の駆動エレクトロニクスとの間で必要となる接続は、ごく少数のままで、アレイにおける多数のポイントにおいて、インピーダンスが計測される。これによって、当該アレイにおけるそれぞれの位置におけるインピーダンスは、個別に接続される必要のある従来技術のようなパッシブマトリクスセンサの構成と比較して、製造可能性を改善し、コストを最小化することができる。
(3)標準的なAM−EWODデバイスと比較して、統合インピーダンスセンサ(integrated impedance sensor)の機能は、追加的な処理ステップ又は組立てコストをほとんど必要としない。
(1)わずかに低い性能を発揮する重要回路のコンポーネントは、EW駆動電圧に要求されるような高電圧に抵抗することを要請される。これにより、レイアウト面積を減らし、信頼性を改善し、回路の性能を改善することができる。
(2)検知動作を実行することがEW駆動素子に書き込まれたEW駆動電圧を破壊しないように、センサ回路が構成される。これによって、当該検知動作の間の限られた時間のみそれが阻害される。
(3)アレイ素子回路に追加されたセンサコンポーネントを介したDC漏電経路によって、EW駆動素子に書き込まれるEW駆動電圧が低下しないように、センサ回路が構成される。
(1)当該アレイ素子において示されるインピーダンスを計測するための機能を、アレイ素子回路(array element circuit)85がさらに含んでいる。
(2)インピーダンスを計測する機能の動作(operation of the impedance sensor function、インピーダンス計測機能)を制御するために、上記アレイ素子回路85に電圧信号を供給するように、統合行ドライバ回路(integrated row driver circuits)76および統合列ドライバ回路(integrated column driver circuits)78が設計されている。
(3)上記アレイ素子回路85のインピーダンス計測機能から出力電圧を計測するために、列出力回路(column output circuit)79が備えられている。
(1)スイッチトランジスタ68
(2)ストレージコンデンサCs58
(3)連結コンデンサCc146
(4)ダイオード148
(5)ダイオード202
(6)トランジスタ94
アレイ素子回路85に供給される接続は、以下のとおりである。
(1)同一の列にあるアレイ素子回路85で共有されるソースアドレッシング線(source addressing line)62
(2)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有されるゲートアドレッシング線(gate addressing line)64
(3)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有されるセンサ行選択線(sensor row select line)RWS104
(4)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有されるリセット線(reset line)RST108
(5)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有される第2のリセット線RSTB200
(6)同一のアレイにあるすべてのアレイ素子回路85に共通の電力供給線VDD150
(7)同一の列にあるアレイ素子回路85で共有されるセンサ出力線COL106
それぞれのアレイ素子は、電圧VWRITEがあらかじめ調整されたEW駆動電極152を含む。コンデンサCL154によって表される負荷素子も示されており、当該コンデンサCL154は、EW駆動電極152とその反対側の基板36との間のインピーダンスを特に表すため、当該アレイ素子に含まれる疎水性表面を備えた疎水性セルによって与えられるインピーダンスを表す。コンデンサCL154の値は、当該アレイにおける特定のアレイ素子に含まれる疎水性セルの任意の液滴の存在、サイズ、および成分に依存する。
(1)インピーダンスデータによって示されるイメージは、当該アレイに含まれる液滴4の空間的な位置を判定するために使われる。
(2)インピーダンスデータによって示されるイメージは、当該アレイに含まれる液滴4のサイズ(または容積)を判定するために使われる。
(A)書き込みデータのフレームが書き込まれた後、検知データのイメージが計測され、書き込みデータのフレームがさらに書き込まれ、検知データのイメージがさらに計測されるなどのように、デバイスが制御される。
(B)書き込みデータの複数のフレームが書き込まれた後、検知データの単一のイメージが計測され、書き込みデータの複数のフレームがさらに書き込まれ、検知データのイメージがさらに計測されるなどのように、デバイスが制御される。
(C)書き込みデータが書き込まれると同時に検知データが計測されるように、デバイスが制御される。これにより、当該アレイの所定のN行に対して書き込み動作が実現される一方で、当該アレイの異なるM行に対して検知動作が同時に実現される。行を書き込み、行を検知するために必要となる時間が同じになるように、行ドライバ76の回路および列ドライバ78の回路は設計されてよい。これにより、当該アレイのすべての行は引き続き1回で書き込まれ、任意の行に対する書き込みおよび検知の動作が決して同時に起こらないように、異なる時間に検知される。
(1)EW駆動電極152にプログラムされた電圧VWRITEは、検知動作を実行することによっては破壊されず、センサ行選択線RWS104において、センサ行の選択パルスを印加する間に、短い時間だけ阻害されるに過ぎない。
(2)検知機能を追加しても、EW駆動電極152に至る追加的なDC漏電は発生しない。すなわち、EW駆動電極152に書き込まれた蓄電の漏電経路は、標準的なAM−EWODの場合としては、トランジスタ68に限られる。
(3)高い電圧がEW駆動電極152に書き込まれる必要がある場合、高い電圧に耐えられることが特に必要とされる動的デバイスは、スイッチトランジスタ68のみである。特に、デバイス94、148、および202は、高い電圧に耐えられることは必要とされない。これは、トランジスタ94にとって特に重要である。すなわち、トランジスタ94はアナログな機能を有し、頑健性を改善するためのデバイスエンジニアリング(例えば、LDD、GOLD、長さを増すなど)が必要となる場合、正常に機能しない。94、148、および202が標準的な低電圧デバイスとなる回路の配置も、そうしたデバイスはレイアウト面積を小さくできるという点で利点がある。これにより、アレイ素子のサイズの物理的な寸法をより小さくすることができ、および/または、当該アレイ素子の中に含まれる他の回路にスペースを空けることができる。
(4)回路コンポーネントの低電圧動作は、製品の頑健性を生み出し、改善するように回路を改良する。
(1)n型のトランジスタ206
(2)当該アレイの全ての素子に共通する電力供給線VRST208
本実施の形態におけるリセット線RST108は、トランジスタ206のゲートに接続されている。トランジスタ206のソースおよびドレインは、それぞれ検知ノード102および電力供給線VRST208に接続されている。
(1)p型トランジスタ205
(2)n型トランジスタ206
(3)当該アレイのすべての素子において共通する電力供給線VRST208
リセット線RST108は、トランジスタ206のゲートと接続されている。リセット線RSTB200は、トランジスタ205のゲートと接続されている。トランジスタ205および206のソースは、1つにまとめられて検知ノード102に接続されている。トランジスタ205および206のドレインは、1つにまとめられて電力供給線VRST208に接続されている。
(1)リセット動作が実行された場合、図27、30、および31に示されるように、ダイオードや単一のスイッチトランジスタによってリセットが実行される場合よりも、電力供給線VRST208において、迅速にリセット電位に検知ノード102が放電される。
(2)リセット線RST108およびRSTB200に印加される論理信号の電圧レベルが同一となる。これにより、第1の実施の形態と比較して、ドライバ回路の設計を単純にすることができる。
(3)アレイ素子回路85を実施するために、ダイオードは必要ない。これは、薄膜ダイオードが標準的な回路素子ではない過程において有用である。
(1)スイッチトランジスタ68
(2)コンデンサCs190
(3)コンデンサCP192
(4)連結コンデンサCc146
(5)ダイオード188
(6)トランジスタ94
(7)トランジスタ186
アレイ素子回路85gに供給される接続は、以下のとおりである。
(1)同一の列にあるアレイ素子回路85gで共有されるソースアドレッシング線62
(2)同一の行にあるアレイ素子回路85gで共有されるゲートアドレッシング線64
(3)同一の行にあるアレイ素子回路85gで共有されるセンサ行選択線RWS104
(4)当該アレイに含まれるすべてのアレイ素子回路85gで共通の電力供給線VSS184
(5)同一の列にあるアレイ素子回路85gで共有されるセンサ出力線COL106
それぞれのアレイ素子は、電圧VWRITEがプログラムされるところに、EW駆動電極152を含む。また、図示されているものは、EW駆動電極152とその反対側の基板36との間のインピーダンスを表す負荷要素CL154である。前述した実施の形態と同様に、CLの値は、当該アレイの当該アレイ素子における任意の液滴の存在、サイズ、構成に依存する。
(1)トランジスタ196
(2)コンデンサCs58
(3)連結コンデンサCc146
(4)ダイオード148
(5)ダイオード202
(6)トランジスタ94
(7)背景技術において述べたような、IN、OUT、CK,およびCKB端子を含むSRAMセル194
当該アレイ素子回路に供給される接続は、以下のとおりである。
(1)同一の列にあるアレイ素子回路85hで共有されるソースアドレッシング線62
(2)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有されるゲートアドレッシング線64
(3)同一の行にあるアレイ素子回路85で共有され、ゲートアドレッシング線64の信号の論理要素を運ぶゲート補完アドレッシング線65
(4)同一の行にあるアレイ素子回路85hで共有される、または他の設計においては、当該アレイにおけるすべての素子に共通となるセンサエネーブル線SEN198
(5)同一の行にあるアレイ素子回路85hで共有されるセンサ行選択線RWS104
(6)同一の行にあるアレイ素子回路85hで共有されるリセット線RST108
(7)同一の行にあるアレイ素子回路85hで共有される第2のリセット線RSTB200
(8)同一のアレイにあるすべてのアレイ素子回路85hに共通の電力供給線VDD150
(9)同一の列にあるアレイ素子回路85で共有されるセンサ出力線COL106
それぞれのアレイ素子回路85hは、電圧VWRITEがプログラムされるものに、EW駆動電極152を含む。同様に、EW駆動電極と反対基板36との間のインピーダンスを示す負荷素子CL154が図示されている。当該アレイに含まれるアレイ素子における位置において、CLの値は、任意の液滴の存在、サイズ、および成分に依存する。
(1)IN、OUT、CK1、およびCK2の端子を含む修正SRAMセル210によって、SRAMセル194が置換される。
(2)トランジスタ196は取り除かれる。すなわち、修正SRAMセル210のOUT出力は、EW駆動電極152に接続される。
(3)ゲートアドレッシング線65は取り除かれる。すなわち、センサエネーブル線SEN198は、修正SRAMセル294のCK2入力に接続されている。
(1)トランジスタ212および218(それぞれサンプリングスイッチおよびフィードバックスイッチ)
(2)論理インバータ214および216(それぞれ第1のインバータおよび第2のインバータ)
(3)クロック入力CK1およびCK2(それぞれ第1のクロック入力および第2のクロック入力)
(4)データ入力IN
(5)データ出力OUT
修正SRAMセル210の要素は、以下のように接続されている。
したがって、修正SRAMセル210は、標準的なSRAMセルに類似する方式にしたがって動作し、その出力においてデータを保持する。
(i)オフセットコンポーネント、これによりそれぞれのアレイ素子のセンサ出力は、一定のオフセットを有する(すなわち、インピーダンスの値に依存しない)。FPNのオフセットコンポーネントは、当該アレイのそれぞれの素子において異なる値をとると仮定されるパラメータKと表される。
(ii)ゲインコンポーネント、これによりそれぞれのアレイ素子のセンサ出力はゲインパラメータMを持ち、インピーダンスの真値が実際に計測された値Iに、J=MIの関係で関連する。ここで、ゲインパラメータMは、当該アレイのそれぞれの素子において異なる値をとると仮定される。
(1)1つ又は複数のキャリブレーション画像A(例えば、A1、A2など)が取得される。これらは、それぞれのアレイ素子に存在するバックグラウンド固定パターンノイズの計測値である。
(2)第1の実施の形態で説明したように、通常の方法でセンサ画像Sが取得される。
(3)キャリブレーションされたセンサ出力画像Cが、外部の手法によって計算される(例えば、コンピュータ318がセンサ出力データを処理する)。これにより、キャリブレーションされたセンサ出力イメージは、センサ画像とキャリブレーション画像との関数である(例えば、C=f(A,S))。
4 液滴
6 接触角
8 固液界面の表面張力
10 液体ガス界面の表面張力
12 固体ガス界面の表面張力
14 親水性の表面
16 疎水性の表面
18 表面における液滴の移動方向
20 絶縁層
22 導電性電極
25 下層基板
26 疎水性層
28 電極(上層基板)
32 スペーサー
34 非イオン性液体(オイル)
36 反対側の基板
38 電極底面基板(複数の電極(38Aおよび38B))
42 電極の2次元アレイ
44 液滴の移動経路
46 疎水性層の電気容量(Ci)
47 中間層
48 液滴インピーダンスCdropの容量コンポーネント
50 液滴インピーダンスRdropの抵抗コンポーネント
52 液滴が存在する場合のインピーダンス
54 セルギャップ電気容量Cgapを示すコンデンサ
56 液滴が存在しない場合のインピーダンス
57 ディスプレイのピクセル回路Cstoreのストレージコンデンサ
58 コンデンサCs
60 液晶の電気容量
62 ソースアドレッシング線
64 ゲートアドレッシング線
65 ゲート補完アドレッシング線
66 書き込みノード
68 ディスプレイ回路のスイッチトランジスタ/本発明において等価に用いられる
70 反対側の基板CP
72 TFT基板
74 薄膜エレクトロニクス
76 行ドライバ
78 統合列ドライバ
79 列出力回路
80 シリアルインターフェース
82 接続ワイヤ
84 タッチされたLC電気容量
85 アレイ素子回路
86 タッチされないLC電気容量
90 指の先端またはスタイラス
92 液晶層
94 トランジスタ
98 基準コンデンサ
100 LC電気容量2
102 検知ノード
104 センサ行選択線RWS
106 センサ出力線COL
108 リセット線RST
110 ダイオード
120 MOSコンデンサ
122 半導体物質
124 MOSコンデンサの性質
126 MOSコンデンサ(n型)の電気容量
128 半導体物質
130 MOSコンデンサ(p型)の性質
132 p+型の領域
134 軽度にドープされた領域
136 n+型の領域
137 陽極端子
138 陰極端子
140 ゲート端子
142 電気的な絶縁層
144 ゲートP−I−Nダイオード
146 連結コンデンサ
148 ダイオード
150 電源VDD
152 EW駆動電極
154 容量性負荷要素
155 電位VB
157 電位VA
158 VA>VBの場合のゲートダイオードの動作
160 ゲートダイオードデバイスのチャンネル
162 VB>VAの場合のゲートダイオードの動作
164 正バイアス電圧Vab
166 負バイアス電圧Vab
168 ゲートダイオードの電気容量(点線)における窪み
170 二重目的のRST/RWS線
172 バイアス供給VBR
176 逆方向バイアスの電圧におけるゲートダイオードの電気容量を示す点線
180 行選択パルス(複数のパルス)
182 行選択パルス(単一のパルス)
184 電力供給線VSS
186 p型トランジスタT3
188 ダイオード
190 コンデンサCs
192 コンデンサCp
194 SRAMセル
196 トランジスタ68
198 センサエネーブル線SEN
200 リセット線RSTB
202 ダイオード
204 RWS/RSTB線
205 トランジスタ
206 トランジスタ
208 電力供給線VRST
210 修正SRAMセル
212 トランジスタ
214 論理インバータ
216 論理インバータ
218 トランジスタ
290 トランジスタ
292 トランジスタ
294 論理インバータ
296 論理インバータ
302 センサ出力画像のピクセル
306 行ドライバ
308 列ドライバ
310 書き込まれた行データ
312 書き込まれない行データ
314 検知されたアレイの一部
316 検知されないアレイの一部
318 コンピュータ
320 検知タイミング系列
322 キャリブレーションタイミング系列
Claims (13)
- 静的ランダムアクセスメモリ(SRAM)セルであって、
サンプリングスイッチおよびフィードバックスイッチと、
第1のインバータの出力が第2のインバータの入力に接続されるように、直列に接続された第1のインバータおよび第2のインバータとを備え、
前記第1のインバータの入力は、前記サンプリングスイッチを介して、前記静的ランダムアクセスメモリセルのデータ入力と、前記フィードバックスイッチから独立して前記静的ランダムアクセスメモリセルのデータ出力とに接続され、
前記第2のインバータの出力は、前記フィードバックスイッチを介して前記第1のインバータの入力に接続され、
前記静的ランダムアクセスメモリセルの第1のクロック入力および第2のクロック入力が、前記サンプリングスイッチおよび前記フィードバックスイッチをそれぞれ制御するように設計されていることを特徴とする静的ランダムアクセスメモリセル。 - 所定の動作の間、前記サンプリングスイッチと前記フィードバックスイッチとのそれぞれに対して、互いに異なる時間に切り替えるように設計されたタイミング回路をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の静的ランダムアクセスメモリセル。
- アクティブマトリクスデバイスであって、
行および列に配置された複数のアレイ素子回路と、
対応する同一の列において、前記アレイ素子回路の間で共有された複数のソースアドレッシング線と、
対応する同一の行において、前記アレイ素子回路の間で共有された複数のゲートアドレッシング線と、
対応する同一の行において、前記アレイ素子回路の間で共有された複数のセンサ行選択線とを備え、
前記複数のアレイ素子回路のそれぞれは、
駆動素子により駆動電圧が印加されることによって制御されるアレイ素子と、
前記駆動素子に前記駆動電圧を書き込む書き込み回路と、
当該書き込み回路は、前記複数のソースアドレッシング線および前記複数のゲートアドレッシング線のうち、対応するソースアドレッシング線と対応するゲートアドレッシング線とに接続されており、前記駆動素子に書き込まれる駆動電圧を保持するために、請求項1に記載の静的ランダムアクセスメモリ(SRAM)セルを含み、
前記駆動素子において示されたインピーダンスを検知する検知回路とを備え、
当該検知回路は対応するセンサ行選択線に接続されている
ことを特徴とするアクティブマトリクスデバイス。 - 前記静的ランダムアクセスメモリセルの前記データ入力は、前記対応するソースアドレッシング線に接続されており、前記静的ランダムアクセスメモリセルの前記データ出力は、対応する前記駆動素子に接続されていることを特徴とする請求項3に記載のアクティブマトリクスデバイス。
- 所定の動作の間、前記静的ランダムアクセスメモリセルの所定の1つに含まれた前記サンプリングスイッチおよび前記フィードバックスイッチのそれぞれに対して、互いに異なる時間に切り替えるように設計されたタイミング回路を備え、
対応する前記静的ランダムアクセスメモリセルを介して、駆動素子に前記駆動電圧を書き込む書き込み動作の一部として、前記タイミング回路は、
(a)前記データ入力におけるデータを前記駆動素子に接続するために、前記サンプリングスイッチをオンにし、
(b)前記駆動素子においてデータを保持する閉ループを生じさせるために、前記フィードバックスイッチをオンにし、
(c)前記(a)および(b)の後、前記第1のインバータの入力を前記データ入力から切断するために、前記サンプリングスイッチをオフにする、
ように設計されたことを特徴とする請求項4に記載のアクティブマトリクスデバイス。 - 前記所定の動作は、前記書き込み動作に続く検知動作であり、当該検知動作の一部として、前記タイミング回路は、
(d)前記(c)の後で前記サンプリングスイッチがオンのままである場合、開ループを生じさせた後、前記検知回路が前記駆動素子において示されるインピーダンスを検知するために、前記フィードバックスイッチをオフにする、
ように設計されたことを特徴とする請求項5に記載のアクティブマトリクスデバイス。 - 前記検知動作の一部として、前記タイミング回路は、
(e)前記(d)の後、前記(c)の後で前記サンプリングスイッチがオフのままである場合、前記駆動素子において前記データを保持する前記閉ループを生じさせるために、前記フィードバックスイッチをオンにする、
ように設計されたことを特徴とする請求項6に記載のアクティブマトリクスデバイス。 - それぞれの静的ランダムアクセスメモリセルの前記サンプリングスイッチは、前記対応するゲートアドレッシング線におけるクロック信号によって制御されることを特徴とする請求項3から7のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。
- それぞれの静的ランダムアクセスメモリセルの前記フィードバックスイッチは、対応するセンサエネーブル線におけるクロック信号によって制御されることを特徴とする請求項3から8のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。
- 静的ランダムアクセスメモリセルのそれぞれは、スイッチとしては前記サンプリングスイッチおよび前記フィードバックスイッチのみを含み、前記サンプリングスイッチおよび前記フィードバックスイッチに供給されるクロック信号は、相補的でないことを特徴とする請求項3から9のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。
- 前記アレイ素子は、対応する前記駆動素子により前記駆動電圧が印加されることによって、疎水性が制御される表面を備えた疎水性セルであり、対応する前記検知回路は、前記疎水性セルによって、前記駆動素子において示されたインピーダンスを検知することを特徴とする請求項3から10のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。
- 前記複数のアレイ素子回路のそれぞれにおいて、
前記書き込み回路は、前記駆動素子に書き込まれた前記駆動電圧に摂動を与えるように設計されており、
前記検知回路は、前記駆動素子に書き込まれた前記駆動電圧の摂動の結果を検知するように設計されており、前記摂動の結果は、前記駆動素子において示されたインピーダンスに依存するものであり、
前記検知回路は、出力信号を生成するための出力を含み、上記出力信号の値は前記駆動素子において示されたインピーダンスを表すことを特徴とする請求項3から11のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。 - 前記アクティブマトリクスデバイスは、対応する同一の列において、前記アレイ素子回路の間で共有される複数のセンサ出力線を含み、前記複数のアレイ素子回路の出力は、対応するセンサ出力線に接続されていることを特徴とする請求項3から11のいずれか1項に記載のアクティブマトリクスデバイス。
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