JP5466994B2 - Metal detector - Google Patents

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Description

本発明は、樹脂に混入した金属異物を検出する金属検出装置に関するものである。   The present invention relates to a metal detection device that detects metal foreign matter mixed in a resin.

特許文献１には、米穀等の被検査体中に混入した金属片等の異物を検出するための金属検出装置が開示されている。この金属検出装置は、中心部を被検査体の通過経路とする平面状のスパイラルコイルを備え、上記通過経路を導電体が通過した場合、渦電流損によるスパイラルコイルのインピーダンス変化を検出する。   Patent Document 1 discloses a metal detection device for detecting foreign matters such as metal pieces mixed in an object to be inspected such as rice grains. This metal detection device includes a planar spiral coil having a center portion as a passage path of an object to be inspected, and detects a change in impedance of the spiral coil due to eddy current loss when a conductor passes through the passage path.

特開平８−１６０００４号公報JP-A-8-160004

しかし、上記特許文献１では、非鉄金属や非酸化鉄は検出できるが、酸化した金属（酸化金属）には渦電流が流れにくいため、酸化金属の検出が困難である。   However, in Patent Document 1, non-ferrous metals and non-iron oxides can be detected, but it is difficult to detect metal oxides because eddy currents hardly flow through oxidized metals (metal oxides).

また、米穀に限らず、樹脂中の金属異物の検出も一般に行われており、その場合にも同様の問題が生じる。   Further, not only rice grains but also metal foreign substances in the resin are generally detected, and the same problem occurs in that case.

本発明は上記従来の問題点を解決するもので、その目的とするところは、非鉄金属や非酸化鉄に加え、酸化金属を検出する金属検出装置を得ることにある。   The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to obtain a metal detector that detects metal oxide in addition to non-ferrous metal and non-iron oxide.

上記の課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、樹脂中の金属異物を検出する金属検出装置であって、前記樹脂を通過させる通過経路、前記通過経路の周りに配置され、該通過経路に磁界を発生させる駆動コイル、及び前記通過経路の周りに配置され、前記駆動コイルにより発生された磁界を受け、かつ前記通過経路を磁性体が通過した場合に、それぞれに生じる電圧の差が変化するように配置された第１及び第２のスパイラルコイルと、前記通過経路の周りに第１及び第２のスパイラルコイルと離間して通過方向に対してほぼ直交する平面状に配置され、発振電流を流した状態で前記通過経路を導電体が通過した場合にインピーダンス変化が生じる第３のスパイラルコイルと、前記第１及び第２のスパイラルコイルに生じる電圧の差の変化と、前記第３のスパイラルコイルに生じるインピーダンス変化とに基づいて、金属異物の混入の有無を判定する判定部とを備えていることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 is a metal detection device for detecting a metal foreign substance in a resin, and is disposed around a passage path through which the resin passes, A drive coil that generates a magnetic field in the passage path, and a voltage difference that is generated when the magnetic body is disposed around the passage path, receives the magnetic field generated by the drive coil, and passes through the passage path. The first and second spiral coils are arranged so as to change, and are arranged in a plane that is separated from the first and second spiral coils around the passage path and substantially perpendicular to the passage direction, Difference in voltage generated between the third spiral coil in which an impedance change occurs when a conductor passes through the passage in a state where an oscillating current flows, and the first and second spiral coils. Change and the third on the basis of the impedance change occurring in the spiral coil, characterized in that it includes a determination section whether the contamination of the metal foreign substance.

これにより、樹脂中に酸化金属が混入している場合でも、この酸化金属が磁性体であれば、第１及び第２のスパイラルコイルの電圧の差が変化するので、これに基づいて判定部は金属異物の混入有りと判定できる。また、樹脂中に非鉄金属や非酸化鉄が混入している場合には、渦電流損により第３のスパイラルコイルのインピーダンスが変化するので、このインピーダンス変化に基づいて判定部は金属異物の混入有りと判定できる。したがって、この金属検出装置により、非鉄金属や非酸化鉄、及び酸化金属の両方を検出できる。   As a result, even when metal oxide is mixed in the resin, if the metal oxide is a magnetic material, the voltage difference between the first and second spiral coils changes. It can be determined that metal foreign matter is mixed. In addition, when non-ferrous metal or non-iron oxide is mixed in the resin, the impedance of the third spiral coil changes due to eddy current loss. Can be determined. Therefore, this metal detection device can detect both non-ferrous metals, non-iron oxides, and metal oxides.

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、前記第１及び第２のスパイラルコイルは、前記駆動コイルを境に前記通過経路の上流側と下流側との通過経路の周りに通過方向に対してほぼ直交する平面状に配置されていることを特徴とする。   Further, the invention according to claim 2 is the metal detection device according to claim 1, wherein the first and second spiral coils are provided between the upstream side and the downstream side of the passage path with the drive coil as a boundary. It is characterized by being arranged in a plane substantially orthogonal to the passing direction around the passing path.

これにより、第１及び第２のスパイラルコイルの寸法が通過方向に短くなるので、通過経路の寸法を通過方向に短くできる。   Thereby, since the dimension of the 1st and 2nd spiral coil becomes short in a passage direction, the dimension of a passage route can be shortened in a passage direction.

また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、前記判定部は、前記第３のスパイラルコイルのインピーダンスの変化率を示す値を取得し、取得した値の最近の所定時間分の平均値又は積算値が所定の閾値を超えたときに金属異物の混入有りと判定することを特徴とする。   Moreover, the invention according to claim 3 is the metal detection device according to claim 1, wherein the determination unit acquires a value indicating a rate of change in impedance of the third spiral coil, and the latest of the acquired value is obtained. When the average value or integrated value for a predetermined time exceeds a predetermined threshold value, it is determined that metal foreign matter is mixed.

これにより、第３のスパイラルコイルのインピーダンスの変化率を示す値の最近の所定時間分の平均値又は積算値に基づいて判定が行われるので、第３のスパイラルコイルのインピーダンスの変化率が雑音によって一瞬大きくなっても、そのことが判定に影響しにくい。したがって、雑音による誤った判定が防止される。   As a result, the determination is made based on the average value or integrated value for the most recent predetermined time of the value indicating the impedance change rate of the third spiral coil, so that the impedance change rate of the third spiral coil is caused by noise. Even if it grows for a moment, it is difficult to affect the judgment. Accordingly, erroneous determination due to noise is prevented.

また、請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の金属検出装置において、前記所定の閾値は、周囲温度に応じて変動することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the metal detector according to the third aspect, the predetermined threshold value varies according to an ambient temperature.

これにより、第３のスパイラルコイルの抵抗及び増幅度は周囲温度に応じて変化するので、前記所定の閾値を周囲温度に応じて適切に変動させることにより、周囲温度の変化による誤判定を防止できる。   As a result, the resistance and the amplification degree of the third spiral coil change according to the ambient temperature. Therefore, erroneous determination due to a change in the ambient temperature can be prevented by appropriately changing the predetermined threshold according to the ambient temperature. .

また、請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、両端が電気的に接続された第１の状態と、両端が電気的に接続されていない第２の状態とに切替可能に設けられたテストコイルを備え、当該テストコイルは、前記第１の状態において、前記通過経路を導電体が通過した場合と同等のインピーダンス変化を前記第３のスパイラルコイルに生じさせることを特徴とする。   Further, the invention according to claim 5 is the metal detection device according to claim 1, wherein the first state in which both ends are electrically connected and the second state in which both ends are not electrically connected are provided. The test coil is configured to cause a change in impedance in the third spiral coil that is equivalent to a case where a conductor passes through the passage path in the first state. It is characterized by.

これにより、テストコイルを第１の状態にしたとき、すなわちテストコイルの両端を電気的に接続したときに、異物混入有りと判定されるか否かを確認することにより、判定部が適切に動作しているか否かを確認することができる。   As a result, when the test coil is in the first state, that is, when both ends of the test coil are electrically connected, the determination unit operates appropriately by checking whether or not it is determined that foreign matter is mixed. It can be confirmed whether or not.

また、請求項６に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、前記判定部は、前記第１及び第２のスパイラルコイルに設けられた各１箇所の計測箇所の電圧の差を、前記第１及び第２のスパイラルコイルに生じる電圧の差とみなして、金属異物の混入の有無を判定するものであり、前記第１及び第２のスパイラルコイルの少なくとも一方は、複数箇所に信号取り出し口を有し、当該複数箇所の信号取り出し口のうちの１つが前記計測箇所として使用されることを特徴とする。   Moreover, the invention according to claim 6 is the metal detection device according to claim 1, wherein the determination unit is configured such that a difference between voltages at one measurement point provided in each of the first and second spiral coils is determined. Is determined as the difference between the voltages generated in the first and second spiral coils, and the presence or absence of metal foreign matter is determined, and at least one of the first and second spiral coils is provided at a plurality of locations. It has a signal extraction port, and one of the plurality of signal extraction ports is used as the measurement point.

これにより、複数の信号取り出し口からいずれか一つを選択して使用することにより、金属異物が通過経路を通過していないときの第１及び第２のスパイラルコイルの電圧の差を所定の理想値に近付けることができる。   As a result, by selecting and using any one of the plurality of signal extraction ports, the difference between the voltages of the first and second spiral coils when the metal foreign object does not pass through the passage path is determined as a predetermined ideal. Can approach the value.

また、請求項７に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、前記駆動コイルと、第１及び第２のスパイラルコイルとが、相対位置を固定した状態で一体化されていることを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, in the metal detection device according to the first aspect, the drive coil and the first and second spiral coils are integrated with their relative positions fixed. It is characterized by that.

これにより、駆動コイルと、第１及び第２のスパイラルコイルとが相対位置を固定した状態で一体化されているので、外部振動による相対位置のずれによる誤判定が防止される。   Thereby, since the drive coil and the first and second spiral coils are integrated in a state where the relative position is fixed, erroneous determination due to a shift in the relative position due to external vibration is prevented.

また、請求項８に記載の発明は、請求項１に記載の金属検出装置において、前記通過経路の下流側には、前記金属異物を含まない樹脂を排出するための第１の排出経路と、前記金属異物を含む樹脂を排出するための第２の排出経路とが設けられ、当該金属検出装置は、前記判定部により異物の混入有りと判定されてから所定時間が経過するまでは、樹脂の排出経路を第１の排出経路にし、前記判定部により異物の混入有りと判定されてから所定時間が経過した後、樹脂の排出経路を第１の排出経路から第２の排出経路に切り替える切替手段を備えていることを特徴とする。   Further, the invention according to claim 8 is the metal detection device according to claim 1, wherein, on the downstream side of the passage path, a first discharge path for discharging the resin not containing the metal foreign matter, A second discharge path for discharging the resin containing the metal foreign matter, and the metal detection device is configured to remove the resin until a predetermined time elapses after the determination unit determines that the foreign matter is mixed. Switching means for switching the resin discharge path from the first discharge path to the second discharge path after a predetermined time has elapsed after the discharge path is set to the first discharge path and the determination unit determines that foreign matter is mixed. It is characterized by having.

これにより、判定部によって金属異物の混入有りと判定されるのと同時に第２の排出経路からの樹脂の排出を開始する場合に比べ、金属異物を含まない樹脂の第２の排出経路からの排出量を削減できる。   As a result, compared to the case where the determination unit determines that there is contamination of the metal foreign substance and starts discharging the resin from the second discharge path at the same time, the resin does not contain the metal foreign substance is discharged from the second discharge path. The amount can be reduced.

本発明により、金属検出装置により、非鉄金属や非酸化鉄、及び酸化金属を検出できる。   According to the present invention, non-ferrous metal, non-iron oxide, and metal oxide can be detected by a metal detector.

本発明の実施形態に係る金属検出装置の正面図である。It is a front view of the metal detection apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る通過経路周辺部の断面図である。It is sectional drawing of the passage route periphery part which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るスパイラルコイルの平面図である。It is a top view of the spiral coil which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る金属検出システムを示すブロック図である。It is a block diagram which shows the metal detection system which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る駆動部を実現する回路の例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the example of the circuit which implement | achieves the drive part which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る検出部を実現する回路の例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the example of the circuit which implement | achieves the detection part which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る渦電流方式金属検出部を実現する回路の例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the example of the circuit which implement | achieves the eddy current system metal detection part which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るＣＰＵにより取得されるデータを示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows the data acquired by CPU which concerns on embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図１は、本発明の実施形態に係る金属検出装置１００の外観を示す。該金属検出装置１００は、筐体１０４を備え、該筐体１０４の上方には、上部が開口したホッパー１０６が被検査体としての樹脂ペレットを投入するために設けられている。   FIG. 1 shows an appearance of a metal detection device 100 according to an embodiment of the present invention. The metal detection apparatus 100 includes a housing 104, and a hopper 106 having an upper opening is provided above the housing 104 so as to put a resin pellet as an object to be inspected.

上記筐体１０４の内部には、図２に示す検出装置本体部１０２と図示しない回路基板とが収容されている。   2 is housed in the housing 104 and a circuit board (not shown).

上記検出装置本体部１０２は、セラミック（非磁性体）製の円筒部材１０１を備え、該円筒部材１０１の内部空間が、ホッパー１０６に投入された被検査体を自然落下により通過させる通過経路Ｒとなる。該円筒部材１０１の外側面には、上下方向中程より若干上方寄りに、全周に亘って一定の幅で凹部１０３が形成されている。該凹部１０３内には、上下方向全体に亘って駆動コイル１０５が巻き付けられている。   The detection apparatus main body 102 includes a cylindrical member 101 made of ceramic (non-magnetic material), and the internal space of the cylindrical member 101 has a passage route R through which an object to be inspected put into the hopper 106 passes by natural fall. Become. A concave portion 103 is formed on the outer surface of the cylindrical member 101 with a constant width over the entire circumference, slightly above the middle in the vertical direction. A drive coil 105 is wound in the recess 103 over the entire vertical direction.

また、上記円筒部材１０１の外側には、凹部１０３及び該凹部１０３の上下近傍を囲むように環状部材１０７が固定されている。この環状部材１０７の内側面の上下方向中程には、上記凹部１０３に嵌合する凸部１０９が全周に亘って形成されている。上記凸部１０９の突出長さＬ１は、上記凹部１０３の深さＬ２よりも上記駆動コイル１０５の厚さ程度短くなっている。   An annular member 107 is fixed to the outside of the cylindrical member 101 so as to surround the concave portion 103 and the vicinity of the upper and lower portions of the concave portion 103. In the middle of the inner surface of the annular member 107 in the vertical direction, a convex portion 109 that fits into the concave portion 103 is formed over the entire circumference. The protruding length L1 of the convex portion 109 is shorter than the depth L2 of the concave portion 103 by about the thickness of the drive coil 105.

また、上記環状部材１０７の上面には、プリント基板１１１が板面を当該上面に沿わせた状態で一体に締結されている。プリント基板１１１には、第１のスパイラルコイル１１３が通過経路Ｒ（通過方向）に対してほぼ直交する平面状に銅箔により形成されている。   Further, the printed circuit board 111 is integrally fastened to the upper surface of the annular member 107 with the plate surface along the upper surface. On the printed board 111, a first spiral coil 113 is formed of a copper foil in a planar shape substantially perpendicular to the passage path R (passing direction).

同様に、上記環状部材１０７の下面には、プリント基板１１５が板面を当該下面に沿わせた状態で一体に締結されている。プリント基板１１５には、第２のスパイラルコイル１１７が通過経路Ｒ（通過方向）に対してほぼ直交する平面状に銅箔により形成されている。   Similarly, the printed circuit board 115 is integrally fastened to the lower surface of the annular member 107 with the plate surface along the lower surface. On the printed board 115, a second spiral coil 117 is formed of a copper foil in a planar shape substantially perpendicular to the passage path R (passing direction).

第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７は、それぞれ、図３に示すように、それぞれ外周側端部近傍の５箇所に信号取り出し口１１９を有している。第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７の内周側端部同士は互いに接続されている。   As shown in FIG. 3, each of the first and second spiral coils 113 and 117 has signal extraction ports 119 at five locations in the vicinity of the outer peripheral side end portions. The inner peripheral side ends of the first and second spiral coils 113 and 117 are connected to each other.

また、上記円筒部材１０１の外側面における上記環状部材１０７の下方には、該環状部材１０７と離間してテストコイル１２１が１周巻き付けられている。   A test coil 121 is wound around the outer surface of the cylindrical member 101 below the annular member 107 so as to be spaced apart from the annular member 107.

また、上記円筒部材１０１の上記テストコイル１２１の下方には、テストコイル１２１と離間してプリント基板１２３が板面を上下方向に向けて円筒部材１０１周りに配設されている。プリント基板１２３には、第３のスパイラルコイル１２５が通過経路Ｒ（通過方向）に対してほぼ直交する平面状に銅箔により形成されている。つまり、第３のスパイラルコイル１２５は、渦巻きの中心部を上記円筒部材１０１（通過経路Ｒ）が該第３のスパイラルコイル１２５によって構成される平面を横切って通過するように固定配置されている。   Further, below the test coil 121 of the cylindrical member 101, a printed circuit board 123 is disposed around the cylindrical member 101 so as to be spaced apart from the test coil 121 and with the plate surface directed in the vertical direction. On the printed circuit board 123, a third spiral coil 125 is formed of a copper foil in a planar shape substantially perpendicular to the passage path R (passing direction). That is, the third spiral coil 125 is fixedly disposed so that the cylindrical member 101 (passage path R) passes through the center of the spiral across the plane formed by the third spiral coil 125.

さらに、上記円筒部材１０１の下方には、下方に向かって直径が徐々に短くなる断面環状の筒状部材１２７が、上側開口を上記円筒部材１０１の下側開口に対向させた状態で配設されている。当該筒状部材１２７の上側開口近傍の側壁には、回転可能な１本の軸部材１２９が当該側壁に対して略垂直に固定されており、この軸部材１２９の回転により上記筒状部材１２７が下側開口を真下に向けた第１の状態から、下側開口を斜め下に向けた第２の状態（図２において仮想線で示す）へ回動するようになっている。   Further, below the cylindrical member 101, a tubular member 127 having an annular cross section whose diameter gradually decreases downward is disposed with the upper opening facing the lower opening of the cylindrical member 101. ing. A rotatable shaft member 129 is fixed to the side wall near the upper opening of the cylindrical member 127 substantially perpendicularly to the side wall, and the cylindrical member 127 is rotated by the rotation of the shaft member 129. From the first state in which the lower opening is directed directly below, the second opening is rotated to the second state (indicated by a virtual line in FIG. 2) in which the lower opening is directed obliquely downward.

上記筐体１０４の下方には、第１の状態の筒状部材１２７の下側開口に対応する位置に第１の開口部（図示せず）が形成されているとともに、第２の状態の筒状部材１２７の下側開口に対応する位置に第２の開口部（図示せず）が形成されている。そして、第１の開口部周縁には、第１の排出管部１３３が筐体１０４の外側に向けて突設され、第２の開口部周縁には、第２の排出管部１３５が筐体１０４の外側に向けて突設されている。第１の排出管部１３３の内部空間が、異物を含まない樹脂ペレットを排出するための第１の排出経路となり、第２の排出管部１３５の内部空間が、異物を含む樹脂ペレットを排出するための第２の排出経路となる。   A first opening (not shown) is formed below the housing 104 at a position corresponding to the lower opening of the cylindrical member 127 in the first state, and the cylinder in the second state. A second opening (not shown) is formed at a position corresponding to the lower opening of the member 127. A first discharge pipe portion 133 projects from the outer periphery of the housing 104 at the periphery of the first opening, and a second discharge pipe portion 135 is provided at the periphery of the second opening. Projecting toward the outside of 104. The internal space of the first discharge pipe part 133 serves as a first discharge path for discharging resin pellets that do not contain foreign substances, and the internal space of the second discharge pipe part 135 discharges resin pellets that contain foreign substances. Therefore, it becomes the second discharge route.

上記駆動コイル１０５と、第１〜第３のスパイラルコイル１１３，１１７，１２５と、テストコイル１２１と、上記図示しない回路基板（判定部）とで、図４に示す金属検出システム４００が構成される。   The metal detection system 400 shown in FIG. 4 is configured by the drive coil 105, the first to third spiral coils 113, 117, and 125, the test coil 121, and the circuit board (determination unit) (not shown). .

金属検出システム４００は、差動方式金属検出部４０１と渦電流方式金属検出部４０２とテスト回路４０３と温度センサー４２０とＣＰＵ４０４とを有する。   The metal detection system 400 includes a differential metal detection unit 401, an eddy current metal detection unit 402, a test circuit 403, a temperature sensor 420, and a CPU 404.

差動方式金属検出部４０１は、駆動部４０５と検出部４０６とを備え、上記駆動部４０５は、コルピッツ発振回路４０７と、誤差増幅回路４０８と、電流源回路４０９とを備えている。   The differential metal detection unit 401 includes a drive unit 405 and a detection unit 406, and the drive unit 405 includes a Colpitts oscillation circuit 407, an error amplification circuit 408, and a current source circuit 409.

上記コルピッツ発振回路（三素子発振回路）４０７は、三素子のうちの一つであるコイルとして上記駆動コイル１０５を含む。   The Colpitts oscillation circuit (three-element oscillation circuit) 407 includes the drive coil 105 as a coil that is one of the three elements.

上記誤差増幅回路４０８は、コルピッツ発振回路４０７により生成された発振信号と基準電圧との差を増幅する。   The error amplification circuit 408 amplifies the difference between the oscillation signal generated by the Colpitts oscillation circuit 407 and the reference voltage.

上記電流源回路４０９は、コルピッツ発振回路４０７に入力される電流の値を調節する。   The current source circuit 409 adjusts the value of the current input to the Colpitts oscillation circuit 407.

駆動部４０５は、例えば図５に示すような回路により実現できる。   The drive unit 405 can be realized by a circuit as shown in FIG.

上記検出部４０６は、上記第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７と、第１増幅回路４１０と、検波回路４１１と、第２増幅回路４１２とを備えている。   The detection unit 406 includes the first and second spiral coils 113 and 117, a first amplification circuit 410, a detection circuit 411, and a second amplification circuit 412.

第１増幅回路４１０は、第１のスパイラルコイル１１３のいずれか１つの信号取り出し口１１９と、第２のスパイラルコイル１１７のいずれか１つの信号取り出し口１１９とに接続され、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７に生じた誘起電圧の差を示す信号を増幅し、増幅信号を出力する。この第１増幅回路４１０の増幅率は可変である。   The first amplifier circuit 410 is connected to one of the signal extraction ports 119 of the first spiral coil 113 and one of the signal extraction ports 119 of the second spiral coil 117, and is connected to the first and second signal extraction ports 119. A signal indicating a difference between induced voltages generated in the spiral coils 113 and 117 is amplified and an amplified signal is output. The amplification factor of the first amplifier circuit 410 is variable.

検波回路４１１は、第１増幅回路４１０により出力された増幅信号に対して検波を行い、復調信号を出力する。   The detector circuit 411 detects the amplified signal output from the first amplifier circuit 410 and outputs a demodulated signal.

第２増幅回路４１２は、検波回路４１１により出力された復調信号を増幅して出力する。この第２増幅回路４１２の出力は、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７に生じた電圧の差に基づく信号となる。   The second amplifier circuit 412 amplifies and outputs the demodulated signal output from the detector circuit 411. The output of the second amplifier circuit 412 is a signal based on the difference between the voltages generated in the first and second spiral coils 113 and 117.

検出部４０６は、例えば図６に示すような回路により実現できる。   The detection unit 406 can be realized by a circuit as shown in FIG.

図６において、第１増幅回路４１０は、アナログ掛け算器４１０ａ、及び演算増幅器４１０ｂにより構成されている。   In FIG. 6, the first amplifier circuit 410 includes an analog multiplier 410a and an operational amplifier 410b.

渦電流方式金属検出部４０２は、コルピッツ発振回路４１３、検波回路４１４、増幅回路４１５、微分回路４１６、及び電流源回路４１７を備えている。   The eddy current metal detection unit 402 includes a Colpitts oscillation circuit 413, a detection circuit 414, an amplification circuit 415, a differentiation circuit 416, and a current source circuit 417.

コルピッツ発振回路４１３は、三素子のうちの一つのコイルとして上記第３のスパイラルコイル１２５を含む。第３のスパイラルコイル１２５には、発振電流が流れる。   The Colpitts oscillation circuit 413 includes the third spiral coil 125 as one of the three elements. An oscillation current flows through the third spiral coil 125.

検波回路４１４は、第３のスパイラルコイル１２５に流れる高周波電流により発生した電圧信号に対して検波を行い、復調信号を出力する。この復調信号は、第３のスパイラルコイル１２５を通過する金属により変動する。   The detection circuit 414 detects the voltage signal generated by the high-frequency current flowing through the third spiral coil 125 and outputs a demodulated signal. This demodulated signal varies depending on the metal passing through the third spiral coil 125.

増幅回路４１５は、検波回路４１４により出力された復調信号を増幅し、信号成分に含まれる高周波成分の除去と直流成分を取り除いた金属異物の検出信号を微分回路４１６に出力する。また、検波回路４１４のＤＣ電圧信号をＣＰＵ４０４に出力する。   The amplification circuit 415 amplifies the demodulated signal output from the detection circuit 414, and outputs to the differentiation circuit 416 a detection signal of a metallic foreign object from which a high frequency component included in the signal component is removed and a direct current component is removed. Further, the DC voltage signal of the detection circuit 414 is output to the CPU 404.

微分回路４１６は、増幅回路４１５により出力された増幅信号に対して微分を行い、金属異物による信号電圧の変動分のみを検出信号として出力する。この検出信号は、第３のスパイラルコイル１２５のインピーダンスの変化率に応じた値となる。   The differentiating circuit 416 differentiates the amplified signal output from the amplifying circuit 415, and outputs only the signal voltage fluctuation due to the metal foreign object as a detection signal. This detection signal has a value corresponding to the rate of change in impedance of the third spiral coil 125.

電流源回路４１７は、前記コルピッツ発振回路４１３を流れる電流を生成する。   The current source circuit 417 generates a current flowing through the Colpitts oscillation circuit 413.

渦電流方式金属検出部４０２は、例えば図７に示すような回路により実現できる。   The eddy current type metal detection unit 402 can be realized by a circuit as shown in FIG. 7, for example.

ＣＰＵ４０４は、検出部４０６の第２増幅回路４１２により出力された復調信号のレベルとＤＣ電圧信号とに基づいて、第１増幅回路４１０の増幅率と検波回路４１１のバイアス電圧とを調整する。   The CPU 404 adjusts the amplification factor of the first amplification circuit 410 and the bias voltage of the detection circuit 411 based on the level of the demodulated signal output from the second amplification circuit 412 of the detection unit 406 and the DC voltage signal.

ＣＰＵ４０４は、増幅回路４１５により出力されたＤＣ電圧信号、微分回路４１６により出力された検出信号に基づいて、検出感度が最良となるように、検波回路４１４のバイアス電圧、及び電流源回路４１７により生成される電流の大きさを調整する。   Based on the DC voltage signal output from the amplification circuit 415 and the detection signal output from the differentiation circuit 416, the CPU 404 generates the bias voltage of the detection circuit 414 and the current source circuit 417 so that the detection sensitivity is the best. Adjust the magnitude of the current.

また、ＣＰＵ４０４は、微分回路４１６により出力された検出信号に対してサンプリングを所定のサンプリング周期毎に行うことによりサンプリングデータＳａｍを取得し、過去３２個のサンプリングデータの平均値ＡｖＳａｍを上記サンプリング周期毎に算出する。そして、サンプリングデータＳａｍと前記平均値ＡｖＳａｍとの差Ｄｉｆを上記サンプリング周期毎に算出する。そして、過去５個分の差Ｄｉｆの積算値ＩｎｔＤｉｆ（最近の５サンプリング周期分）を上記サンプリング周期毎に算出する。   Further, the CPU 404 obtains sampling data Sam by sampling the detection signal output from the differentiating circuit 416 every predetermined sampling period, and obtains the average value AvSam of the past 32 sampling data for each sampling period. To calculate. Then, the difference Dif between the sampling data Sam and the average value AvSam is calculated for each sampling period. Then, an integrated value IntDif (for the latest five sampling periods) of the difference Dif for the past five is calculated for each sampling period.

図８は、ＣＰＵ４０４により取得されたＳａｍ、ＡｖＳａｍ、Ｄｉｆ、及びＩｎｔＤｉｆを示す。   FIG. 8 shows Sam, AvSam, Dif, and IntDif acquired by the CPU 404.

ＣＰＵ４０４は、積算値ＩｎｔＤｉｆが所定の第１の閾値を超えた場合には異物混入有りと判定する。また、ＣＰＵ４０４は、差動方式金属検出部４０１の検出部４０６の第２増幅回路４１２の出力が所定の第２の閾値を超えた場合にも異物混入有りと判定する。一方、当該積算値ＩｎｔＤｉｆが所定の第１の閾値を超えておらず、かつ差動方式金属検出部４０１の検出部４０６の第２増幅回路４１２の出力が所定の第２の閾値を超えていない場合には、異物混入無しと判定する。上記第１の閾値及び第２の閾値は可変であり、周囲温度に基づいてＣＰＵ４０４により自動的に調整される。   When the integrated value IntDif exceeds a predetermined first threshold value, the CPU 404 determines that foreign matter is mixed. The CPU 404 also determines that foreign matter is mixed when the output of the second amplifier circuit 412 of the detection unit 406 of the differential metal detection unit 401 exceeds a predetermined second threshold. On the other hand, the integrated value IntDif does not exceed the predetermined first threshold value, and the output of the second amplifier circuit 412 of the detection unit 406 of the differential metal detection unit 401 does not exceed the predetermined second threshold value. In this case, it is determined that no foreign matter is mixed. The first threshold value and the second threshold value are variable, and are automatically adjusted by the CPU 404 based on the ambient temperature.

詳しくは、第１の閾値は以下の式によって算出される。   Specifically, the first threshold value is calculated by the following equation.

第１の閾値＝２５℃における判定基準＋（現在の温度−２５℃）×温度係数
ＣＰＵ４０４は、異物混入有りと判定すると、当該判定の時刻から所定時間経過後に、軸部材１２９を回転させることにより、筒状部材１２７を上記第１の状態から第２の状態に回動させる。前記所定時間は、ＣＰＵ４０４の判定から判定対象の被検査体が筒状部材１２７の下側開口に達するまでにかかる時間以下に設定される。 First threshold = determination criterion at 25 ° C. + (Current temperature−25 ° C.) × temperature coefficient When the CPU 404 determines that foreign matter is mixed, it rotates the shaft member 129 after a predetermined time has elapsed from the time of the determination. The cylindrical member 127 is rotated from the first state to the second state. The predetermined time is set to be equal to or less than the time taken from the determination of the CPU 404 until the object to be inspected reaches the lower opening of the cylindrical member 127.

テスト回路４０３は、上記テストコイル１２１と、抵抗４１８と、ＣＰＵ４０４によってＯＮ／ＯＦＦが制御されるスイッチ４１９とを備えている。テストコイル１２１の位置、巻き数、及び抵抗４１８の抵抗値は、スイッチ４１９をＯＮにした場合に通過経路Ｒに金属を投入した場合と同等の変化が第３のスパイラルコイル１２５を貫く磁束に生じるように設定されている。   The test circuit 403 includes the test coil 121, a resistor 418, and a switch 419 whose ON / OFF is controlled by the CPU 404. The position of the test coil 121, the number of turns, and the resistance value of the resistor 418 change in the magnetic flux passing through the third spiral coil 125 in the same manner as when metal is inserted into the passage path R when the switch 419 is turned on. Is set to

上記のように構成された金属検出装置１００では、通常の使用状態においては、テスト回路４０３のスイッチ４１９はＯＦＦに制御されている。この状態で、ホッパー１０６に投入された樹脂ペレット中に導電体が混入していると、第３のスパイラルコイル１２５に高周波電流が流れることにより発生された磁力線内にその導電体が入り、導電体に渦電流が生じる。これにより、渦電流損が生じ、第３のスパイラルコイル１２５の両端の電位差の振幅、すなわち第３のスパイラルコイル１２５のインピーダンスに変化が生じる。これにより、微分回路４１６により出力される検出信号のレベルが大きくなり、第１の閾値が適切な値に予め設定されていれば、積算値ＩｎｔＤｉｆが上記第１の閾値を超え、ＣＰＵ４０４が異物混入有りと判定する。   In the metal detector 100 configured as described above, the switch 419 of the test circuit 403 is controlled to be OFF in a normal use state. In this state, if a conductor is mixed in the resin pellets put into the hopper 106, the conductor enters the magnetic lines of force generated by the high-frequency current flowing through the third spiral coil 125, and the conductor An eddy current is generated. As a result, eddy current loss occurs, and the amplitude of the potential difference between both ends of the third spiral coil 125, that is, the impedance of the third spiral coil 125 changes. As a result, the level of the detection signal output from the differentiating circuit 416 increases, and if the first threshold value is set to an appropriate value in advance, the integrated value IntDif exceeds the first threshold value, causing the CPU 404 to contain foreign matter. Judge that there is.

また、ホッパー１０６に投入された樹脂ペレット中に磁性体が混入していると、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７のうち、磁性体に近い側の一方の誘起電圧が他方の誘起電圧に比べて高くなる。したがって、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７に電位差が生じる。これにより、差動方式金属検出部４０１の検出部４０６の第２増幅回路４１２の出力が大きくなり、上記第２の閾値が適切な値に予め設定されていれば、第２増幅回路４１２の出力が第２の閾値を超え、ＣＰＵ４０４が異物混入有りと判定する。   In addition, when a magnetic material is mixed in the resin pellet put into the hopper 106, one of the first and second spiral coils 113 and 117 on the side close to the magnetic material is the other induced voltage. Higher than Therefore, a potential difference is generated between the first and second spiral coils 113 and 117. As a result, the output of the second amplification circuit 412 of the detection unit 406 of the differential metal detection unit 401 becomes large, and if the second threshold is set in advance to an appropriate value, the output of the second amplification circuit 412 Exceeds the second threshold value, and the CPU 404 determines that foreign matter is mixed.

ＣＰＵ４０４は異物混入有りと判定すると、当該判定の時刻から所定時間経過後に、軸部材１２９を回転させることにより、筒状部材１２７を上記第１の状態から第２の状態に回動させる。これにより、導電体や鉄が混じった樹脂ペレットは、第２の排出管部１３５から排出される。   When the CPU 404 determines that foreign matter is mixed, the cylindrical member 127 is rotated from the first state to the second state by rotating the shaft member 129 after a predetermined time has elapsed since the determination time. As a result, the resin pellet mixed with the conductor and iron is discharged from the second discharge pipe portion 135.

ＣＰＵ４０４が金属異物の混入有りと判定してから所定時間が経過するまでは、筒状部材１２７は第１の状態に維持されており、樹脂ペレットは第１の排出管部１３３から排出される。   The cylindrical member 127 is maintained in the first state until the predetermined time elapses after the CPU 404 determines that the metal foreign object is mixed, and the resin pellet is discharged from the first discharge pipe portion 133.

このように、判定の時刻から所定時間経過後に第２の排出管部１３５からの排出を開始するので、金属異物の混入有りと判定されるのと同時に第２の排出管部１３５からの排出を開始する場合に比べ、金属異物を含まない樹脂ペレットの第２の排出管部１３５からの排出量を削減できる。   As described above, since the discharge from the second discharge pipe part 135 is started after a lapse of a predetermined time from the determination time, the discharge from the second discharge pipe part 135 is simultaneously performed when it is determined that the metal foreign matter is mixed. Compared with the case where it starts, the discharge amount from the 2nd discharge pipe part 135 of the resin pellet which does not contain a metal foreign material can be reduced.

また、ＣＰＵ４０４がテスト回路４０３のスイッチ４１９をＯＮにすると、テストコイル１２１に誘導電流が流れ、この結果、第３のスパイラルコイル１２５を貫く磁束に、通過経路Ｒに金属を投入した場合と同等の変化が生じる。したがって、テスト回路４０３のスイッチ４１９をＯＮにしたときにＣＰＵ４０４が異物混入有りと判定するか否かを確認することにより、渦電流方式金属検出部４０２が適切な感度で動作しているか否かを確認することができる。   Further, when the CPU 404 turns on the switch 419 of the test circuit 403, an induced current flows through the test coil 121. As a result, it is equivalent to the case where metal is put into the passage route R in the magnetic flux passing through the third spiral coil 125. Change occurs. Therefore, whether or not the eddy current type metal detection unit 402 is operating at an appropriate sensitivity is checked by checking whether or not the CPU 404 determines that foreign matter is mixed when the switch 419 of the test circuit 403 is turned on. Can be confirmed.

本実施形態によると、樹脂ペレットに酸化金属が混入している場合でも、この酸化金属が磁性体であれば、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７の電圧の差が変化するので、これに基づいてＣＰＵ４０４は金属異物の混入有りと判定できる。また、樹脂ペレットに非鉄金属や非酸化鉄が混入している場合には、渦電流損により第３のスパイラルコイル１２５のインピーダンスが変化するので、このインピーダンス変化に基づいてＣＰＵ４０４は金属異物の混入有りと判定できる。   According to the present embodiment, even when metal oxide is mixed in the resin pellet, if the metal oxide is a magnetic material, the voltage difference between the first and second spiral coils 113 and 117 changes. On the basis of the above, the CPU 404 can determine that the metal foreign matter is mixed. Further, when non-ferrous metal or non-ferrous oxide is mixed in the resin pellet, the impedance of the third spiral coil 125 changes due to eddy current loss. Can be determined.

また、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７を平面状に形成しているので、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７の寸法が通過方向に短くなる。したがって、通過経路Ｒの寸法を通過方向に短くできる。   In addition, since the first and second spiral coils 113 and 117 are formed in a planar shape, the dimensions of the first and second spiral coils 113 and 117 are shortened in the passing direction. Therefore, the dimension of the passage route R can be shortened in the passage direction.

また、ＣＰＵ４０４が、サンプリングデータＳａｍと過去３２個のサンプリングデータの平均値ＡｖＳａｍとの差Ｄｉｆではなく、当該Ｄｉｆの過去５個分の積算値ＩｎｔＤｉｆを所定の閾値と比較することによって判定を行うので、第３のスパイラルコイル１２５のインピーダンスの変化率が雑音によって一瞬大きくなっても、そのことが判定に影響しにくい。したがって、雑音による誤った判定が防止される。   Further, since the CPU 404 makes a determination by comparing the integrated value IntDif for the past five of the Dif with a predetermined threshold instead of the difference Dif between the sampling data Sam and the average value AvSam of the past 32 sampling data. Even if the rate of change of the impedance of the third spiral coil 125 increases for a moment due to noise, this hardly affects the determination. Accordingly, erroneous determination due to noise is prevented.

また、駆動コイル１０５を巻き付けた円筒部材１０１が環状部材１０７に固定されるとともに、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７を形成したプリント基板１１１、１１５が環状部材１０７に一体に締結され、駆動コイル１０５と第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７との３つのコイルの相対位置が固定された状態になっているので、外部振動による相対位置のずれによる誤判定が防止される。   In addition, the cylindrical member 101 around which the drive coil 105 is wound is fixed to the annular member 107, and the printed boards 111 and 115 on which the first and second spiral coils 113 and 117 are formed are integrally fastened to the annular member 107. Since the relative positions of the three coils of the drive coil 105 and the first and second spiral coils 113 and 117 are fixed, an erroneous determination due to a relative position shift due to external vibration is prevented.

また、微分回路４１６により出力された検出信号に含まれるノイズ成分や、第３のスパイラルコイル１２５の抵抗及び増幅度は周囲温度に応じて変動するが、第１の閾値及び第２の閾値が周囲温度に基づいて調整されるので、周囲温度の変化による誤判定を防止できる。   The noise component included in the detection signal output from the differentiating circuit 416 and the resistance and amplification factor of the third spiral coil 125 vary depending on the ambient temperature, but the first threshold value and the second threshold value are the ambient values. Since the adjustment is based on the temperature, erroneous determination due to a change in the ambient temperature can be prevented.

また、第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７がそれぞれ複数の信号取り出し口１１９を有しているので、いずれか一つの信号取り出し口１１９を選択して使用することにより、金属異物が通過経路Ｒを通過していないときの第１及び第２のスパイラルコイル１１３，１１７の電位差を所定の理想値に近付けることができる。   Further, since each of the first and second spiral coils 113 and 117 has a plurality of signal extraction ports 119, by selecting and using any one of the signal extraction ports 119, a metal foreign object passes through the path. The potential difference between the first and second spiral coils 113 and 117 when not passing through R can be brought close to a predetermined ideal value.

なお、本実施形態では、過去５個分の差Ｄｉｆの積算値ＩｎｔＤｉｆに代えて、例えば過去１０個分の差Ｄｉｆの積算値ＩｎｔＤｉｆ’（図８参照）を所定の第１の閾値と比較するようにしてもよい。   In this embodiment, instead of the integrated value IntDif of the past five differences Dif, for example, the integrated value IntDif ′ (see FIG. 8) of the past ten differences Dif is compared with a predetermined first threshold value. You may do it.

また、過去５個分の差Ｄｉｆの積算値ではなく、平均値に基づいて、異物の混入の有無を判定するようにしてもよい。   Further, the presence / absence of foreign matter may be determined based on the average value instead of the integrated value of the five previous differences Dif.

また、上記第１の閾値及び第２の閾値のいずれか一方のみが、周囲温度に基づいてＣＰＵ４０４により調整されるようにしてもよい。   Further, only one of the first threshold value and the second threshold value may be adjusted by the CPU 404 based on the ambient temperature.

また、第１の閾値は、必ずしも上記式により算出される値に限らず、周囲温度に応じた他の値であってもよい。例えば、第３のスパイラルコイル１２５のインピーダンスの変化率が、周囲温度の上昇に応じて低下する場合には、次の式により第１の閾値を算出するようにしてもよい。   Further, the first threshold value is not necessarily limited to the value calculated by the above formula, and may be another value corresponding to the ambient temperature. For example, when the rate of change in impedance of the third spiral coil 125 decreases as the ambient temperature increases, the first threshold value may be calculated by the following equation.

第１の閾値＝２５℃における判定基準−（現在の温度−２５℃）×温度係数
また、ＣＰＵ４０４がさらに、差動方式金属検出部４０１の検出部４０６の第２増幅回路４１２の出力に対してサンプリングを所定のサンプリング周期毎に行うことによりサンプリングデータＳａｍ２を取得し、過去３２個のサンプリングデータの平均値ＡｖＳａｍ２を上記サンプリング周期毎に取得し、サンプリングデータＳａｍ２と前記平均値ＡｖＳａｍ２との差Ｄｉｆ２を上記サンプリング周期毎に算出し、過去５個分の差Ｄｉｆ２の積算値ＩｎｔＤｉｆ２（最近の５サンプリング周期分）を上記サンプリング周期毎に算出するようにしてもよい。そして、積算値ＩｎｔＤｉｆ２が第２の閾値を超えた場合に異物混入有りと判定し、積算値ＩｎｔＤｉｆが第１の閾値を超えておらず、かつ積算値ＩｎｔＤｉｆ２が第２の閾値を超えていない場合に、異物混入無しと判定するようにしてもよい。 First threshold = Criteria at 25 ° C .− (Current temperature−25 ° C.) × Temperature coefficient The CPU 404 further outputs the second amplification circuit 412 of the detection unit 406 of the differential metal detection unit 401. Sampling data Sam2 is obtained by performing sampling every predetermined sampling period, an average value AvSam2 of the past 32 sampling data is obtained for each sampling period, and a difference Dif2 between the sampling data Sam2 and the average value AvSam2 is obtained. It may be calculated for each sampling period, and an integrated value IntDif2 (for the latest five sampling periods) of the past five differences Dif2 may be calculated for each sampling period. Then, when the integrated value IntDif2 exceeds the second threshold, it is determined that foreign matter is present, the integrated value IntDif does not exceed the first threshold, and the integrated value IntDif2 does not exceed the second threshold. In addition, it may be determined that no foreign matter is mixed.

また、本実施形態では、被検査体が樹脂ペレットであったが、樹脂ペレット以外の樹脂（樹脂材料）を被検査体とする場合にも本発明を適用できる。   Moreover, in this embodiment, although the to-be-inspected object was a resin pellet, this invention is applicable also when resin (resin material) other than a resin pellet is used as an to-be-inspected object.

本発明は、樹脂に混入した金属異物を検出する金属検出装置として有用である。   The present invention is useful as a metal detection device that detects metal foreign matter mixed in a resin.

１００ 金属検出装置
１０５ 駆動コイル
１１３ 第１のスパイラルコイル
１１７ 第２のスパイラルコイル
１２５ 第３のスパイラルコイル
１１９ 信号取り出し口
１２１ テストコイル
４０４ ＣＰＵ（判定部） 100 Metal detector
105 Drive coil
113 First spiral coil 117 Second spiral coil 125 Third spiral coil 119 Signal extraction port
121 Test coil
404 CPU (determination unit)

Claims (8)

樹脂中の金属異物を検出する金属検出装置であって、
前記樹脂を通過させる通過経路、前記通過経路の周りに配置され、該通過経路に磁界を発生させる駆動コイル、及び前記通過経路の周りに配置され、前記駆動コイルにより発生された磁界を受け、かつ前記通過経路を磁性体が通過した場合に、それぞれに生じる電圧の差が変化するように配置された第１及び第２のスパイラルコイルと、
前記通過経路の周りに第１及び第２のスパイラルコイルと離間して通過方向に対してほぼ直交する平面状に配置され、発振電流を流した状態で前記通過経路を導電体が通過した場合にインピーダンス変化が生じる第３のスパイラルコイルと、
前記第１及び第２のスパイラルコイルに生じる電圧の差の変化と、前記第３のスパイラルコイルに生じるインピーダンス変化とに基づいて、金属異物の混入の有無を判定する判定部とを備えていることを特徴とする金属検出装置。 A metal detection device for detecting metal foreign matter in resin,
A passage path through which the resin passes, a drive coil disposed around the passage path and generating a magnetic field in the passage path, and a magnetic field disposed around the passage path and generated by the drive coil; and A first spiral coil and a second spiral coil arranged so that a difference in voltage generated when a magnetic material passes through the passage path is changed;
When the conductor passes through the passage path in a state where an oscillation current is flowed, arranged in a planar shape that is separated from the first and second spiral coils around the passage path and is substantially orthogonal to the passage direction. A third spiral coil in which an impedance change occurs;
A determination unit configured to determine whether or not a metal foreign object is mixed based on a change in a difference between voltages generated in the first and second spiral coils and an impedance change generated in the third spiral coil; A metal detection device characterized by the above. 請求項１に記載の金属検出装置において、
前記第１及び第２のスパイラルコイルは、前記駆動コイルを境に前記通過経路の上流側と下流側との通過経路の周りに通過方向に対してほぼ直交する平面状に配置されていることを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
The first and second spiral coils are arranged in a plane substantially orthogonal to the passing direction around the passing path between the upstream side and the downstream side of the passing path with the drive coil as a boundary. A metal detection device. 請求項１に記載の金属検出装置において、
前記判定部は、前記第３のスパイラルコイルのインピーダンスの変化率を示す値を取得し、取得した値の最近の所定時間分の平均値又は積算値が所定の閾値を超えたときに金属異物の混入有りと判定することを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
The determination unit acquires a value indicating a rate of change in impedance of the third spiral coil, and when the average value or integrated value of the acquired value over a predetermined period of time exceeds a predetermined threshold value, A metal detector characterized by determining that there is contamination. 請求項３に記載の金属検出装置において、
前記所定の閾値は、周囲温度に応じて変動することを特徴とする金属検出装置。 The metal detection apparatus according to claim 3,
The metal detection apparatus, wherein the predetermined threshold value varies according to an ambient temperature. 請求項１に記載の金属検出装置において、
両端が電気的に接続された第１の状態と、両端が電気的に接続されていない第２の状態とに切替可能に設けられたテストコイルを備え、当該テストコイルは、前記第１の状態において、前記通過経路を導電体が通過した場合と同等のインピーダンス変化を前記第３のスパイラルコイルに生じさせることを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
A test coil provided to be switchable between a first state in which both ends are electrically connected and a second state in which both ends are not electrically connected, the test coil being in the first state; The metal detection device according to claim 1, wherein an impedance change equivalent to that when a conductor passes through the passage path is generated in the third spiral coil. 請求項１に記載の金属検出装置において、
前記判定部は、前記第１及び第２のスパイラルコイルに設けられた各１箇所の計測箇所の電圧の差を、前記第１及び第２のスパイラルコイルに生じる電圧の差とみなして、金属異物の混入の有無を判定するものであり、
前記第１及び第２のスパイラルコイルの少なくとも一方は、複数箇所に信号取り出し口を有し、当該複数箇所の信号取り出し口のうちの１つが前記計測箇所として使用されることを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
The determination unit regards the difference in voltage at each of the measurement points provided in the first and second spiral coils as a difference in voltage generated in the first and second spiral coils, and detects a metal foreign object. To determine the presence or absence of contamination,
At least one of the first and second spiral coils has signal extraction ports at a plurality of locations, and one of the signal extraction ports at the plurality of locations is used as the measurement location. apparatus. 請求項１に記載の金属検出装置において、
前記駆動コイルと、第１及び第２のスパイラルコイルとが、相対位置を固定した状態で一体化されていることを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
The metal detection device, wherein the drive coil and the first and second spiral coils are integrated with their relative positions fixed. 請求項１に記載の金属検出装置において、
前記通過経路の下流側には、前記金属異物を含まない樹脂を排出するための第１の排出経路と、前記金属異物を含む樹脂を排出するための第２の排出経路とが設けられ、
当該金属検出装置は、前記判定部により異物の混入有りと判定されてから所定時間が経過するまでは、樹脂の排出経路を第１の排出経路にし、前記判定部により異物の混入有りと判定されてから所定時間が経過した後、樹脂の排出経路を第１の排出経路から第２の排出経路に切り替える切替手段を備えていることを特徴とする金属検出装置。 The metal detection device according to claim 1,
On the downstream side of the passage path, a first discharge path for discharging the resin that does not contain the metal foreign matter and a second discharge path for discharging the resin containing the metal foreign matter are provided,
The metal detection device uses the resin discharge path as the first discharge path until a predetermined time has elapsed after the determination unit determines that foreign matter is mixed, and the determination unit determines that foreign matter is mixed. And a switching means for switching the resin discharge path from the first discharge path to the second discharge path after a predetermined time has elapsed.
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