JP5466887B2 - Shield plate, portable communication terminal, and method for identifying a portion of a through hole established in a shield plate - Google Patents

Shield plate, portable communication terminal, and method for identifying a portion of a through hole established in a shield plate Download PDF

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Description

本発明は、電磁波ノイズを抑制するシールド板、及びシールド板を備える携帯通信端末に関し、特にICから発生する電磁波ノイズをアンテナに帰還しないようにする為のシールド板に関する。   The present invention relates to a shield plate for suppressing electromagnetic wave noise, and a portable communication terminal including the shield plate, and more particularly to a shield plate for preventing electromagnetic wave noise generated from an IC from returning to an antenna.

携帯通信端末において、デジタル信号処理を主として担当するデジタルIC(Integrated Circuit:集積回路)から発生する電磁波ノイズがアンテナに帰還してしまい、携帯通信端末の通信状況が劣化するという現象を避ける為に、デジタルICをシールド板で覆うことによって、デジタルICから発生する電磁波ノイズのアンテナへの帰還を抑制するという対策がなされている(例えば特許文献1参照)。   In order to avoid a phenomenon that electromagnetic wave noise generated from a digital IC (Integrated Circuit: integrated circuit) mainly responsible for digital signal processing in the mobile communication terminal is fed back to the antenna and the communication status of the mobile communication terminal deteriorates. By covering the digital IC with a shield plate, a countermeasure is taken to suppress feedback of electromagnetic noise generated from the digital IC to the antenna (for example, see Patent Document 1).

また、携帯通信端末は、より多い機能をより小さい端末で実現する為に、複数の部品を一つの部品に統合することで部品点数を削減するという取り組みや、部品間の距離を小さくすることでより小さな容積に部品を実装するという取り組みが行われている。
携帯通信端末の部品であるICに関しても、前述したデジタルICと、通信関係の高周波アナログ信号処理を主として担当するRFIC(Radio Frequency Integrated Circuit:高周波集積回路)とを1つのIC(以降デジアナ混在ICと呼ぶ)に統合する取り組みが行われている。
In addition, in order to realize more functions with a smaller terminal, mobile communication terminals can reduce the number of parts by integrating multiple parts into one part and reduce the distance between parts. Efforts are being made to mount components in smaller volumes.
As for ICs that are parts of portable communication terminals, the above-described digital ICs and RFICs (Radio Frequency Integrated Circuits) mainly responsible for communication-related high-frequency analog signal processing are combined into one IC (hereinafter referred to as a digital-analog mixed IC). Is being integrated.

特開2004−72051号公報JP 2004-72051 A

しかしながら、デジタルICとRFICとを一つのデジアナ混在ICとすることで、デジアナ混在ICのデジタルIC部から発生した電磁波ノイズが、シールド板を介して伝搬し、同じデジアナ混在ICのRFIC部にあるLNA(Low Noise Amplifier)に帰還してしまい、このRFIC部の受信感度が劣化してしまうという現象が起こる。   However, by making the digital IC and the RFIC into one digital / analog mixed IC, electromagnetic noise generated from the digital IC portion of the digital / analog mixed IC propagates through the shield plate, and the LNA in the RFIC portion of the same digital / analog mixed IC A phenomenon occurs in which the feedback sensitivity of the RFIC unit deteriorates due to feedback to (Low Noise Amplifier).

デジアナ混在ICとシールド板との間隔を2mm以上空けることや、デジアナ混在ICとシールド板との間に電磁波吸収体を挿入することで、この受信感度劣化を改善できることが確認されているが、前者の方法では携帯通信端末の寸法が大きくなってしまうという問題があり、後者の方法では携帯通信端末のコストが上がってしまうという問題がある。
そこで、本発明は係る問題に鑑みてなされたものであり、ICの電磁波ノイズが帰還してしまうことを抑制するシールド板、シールド板を用いた携帯通信端末、及びシールド板に開設する貫通孔の部位を特定する方法を提供することを目的とする。
It has been confirmed that this reception sensitivity deterioration can be improved by separating the digital-analog mixed IC and the shield plate by 2 mm or more, or by inserting an electromagnetic wave absorber between the digital-analog mixed IC and the shield plate. This method has a problem that the size of the mobile communication terminal becomes large, and the latter method has a problem that the cost of the mobile communication terminal increases.
Therefore, the present invention has been made in view of such problems, and a shield plate that suppresses the return of electromagnetic wave noise of an IC, a mobile communication terminal using the shield plate, and a through hole established in the shield plate. An object is to provide a method for identifying a site.

上記課題を解決するために本発明に係るシールド板は、デジタル回路とアナログ回路とを含むICが基板上に搭載され、当該ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズの透過を抑制するように前記ICの主表面を覆うシールド板であって、前記ICの主表面における領域であって所定の電磁波を受けると前記ICのアナログ回路の性能を低下させる領域に対応する部位に貫通孔が開設されていることを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, an IC including a digital circuit and an analog circuit is mounted on a substrate, and the shield plate according to the present invention is configured to suppress transmission of electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC. A through-hole is formed in a portion corresponding to a region on the main surface of the IC that is a region on the main surface of the IC that reduces the performance of the analog circuit of the IC when receiving a predetermined electromagnetic wave. It is characterized by that.

ここで、所定の電磁波とは、ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、貫通孔のないシールド板を介して伝搬し、再びICに印加される場合に、ICに再び印加される電磁波によって引き起こされる、ICのアナログ回路への影響を再現するように、強度、周波数等が定められたものである。   Here, the predetermined electromagnetic wave is caused by the electromagnetic wave reapplied to the IC when the electromagnetic wave noise emitted by the digital circuit of the IC propagates through the shield plate without the through hole and is applied to the IC again. The strength, frequency, etc. are determined so as to reproduce the influence of the IC on the analog circuit.

上述の構成を備える本発明に係るシールド板は、ICの電磁波ノイズが帰還してしまうことを抑制することができる。   The shield plate according to the present invention having the above-described configuration can suppress the return of IC electromagnetic noise.

内部の構造を示すように一部を切り欠いている、携帯通信端末筺体100の斜視図である。It is a perspective view of the portable communication terminal housing | casing 100 which has notched a part so that an internal structure may be shown. 携帯通信端末筺体100内に収められている構造物の分解斜視図である。2 is an exploded perspective view of a structure housed in a mobile communication terminal housing 100. FIG. デジアナ混在IC130の主表面の平面図である。It is a top view of the main surface of digital-analog mixed IC130. デジアナ混在IC130付近について、シールド板120の上から平面視した平面図である。6 is a plan view of the vicinity of the digital / analog mixed IC 130 as viewed from above the shield plate 120. FIG. シールド板120を取り除いた、デジアナ混在IC130付近についてシールドフレーム110の上から平面視した平面図である。6 is a plan view of the vicinity of the digital / analog mixed IC 130 with the shield plate 120 removed, as viewed from above the shield frame 110. FIG. デジアナ混在IC130のAGC値を測定している状況を示す図である。It is a figure which shows the condition which is measuring the AGC value of digital / analog mixed IC130. 貫通孔140の部位を特定する方法を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating a method for specifying a portion of a through hole 140. 小領域名とAGC値との対応関係を示す図である。It is a figure which shows the correspondence of a small area | region name and an AGC value. デジアナ混在IC130の電磁波ノイズを測定している状況を示す図である。It is a figure which shows the condition which is measuring the electromagnetic wave noise of Digiana mixed IC130. チャッキング平板部110Bを配置する位置を特定する方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the method of specifying the position which arrange | positions the chucking flat plate part 110B.

<実施の形態>
以下、本発明に係るシールド板、及び携帯通信端末の一実施形態として、貫通孔の開設されたシールド板を用いた携帯通信端末について説明する。
<概要>
本実施の形態に係る携帯通信端末は、基板上に配置されたデジアナ混在ICから放出される電磁波ノイズが、アンテナへ帰還して携帯通信端末の通信に及ぼす悪影響を抑制すべく、デジアナ混在ICの全体を覆う位置にシールド板を配置し、基板とシールド板との間に挟まれたデジアナ混在ICを取り囲むようにシールドフレームを配置しているものである。
<Embodiment>
Hereinafter, as an embodiment of a shield plate and a mobile communication terminal according to the present invention, a mobile communication terminal using a shield plate having a through hole will be described.
<Overview>
In the mobile communication terminal according to the present embodiment, in order to suppress the adverse effect that electromagnetic wave noise emitted from the digital / analog mixed IC arranged on the substrate returns to the antenna and affects the communication of the mobile communication terminal, A shield plate is arranged at a position covering the whole, and a shield frame is arranged so as to surround a digital / analog mixed IC sandwiched between the substrate and the shield plate.

このシールド板には貫通孔があり、この貫通孔が開いている部位は、デジアナ混在ICのデジタル信号処理を主として担当するデジタル信号処理部から発生した電磁波ノイズが、シールド板の表面を伝搬し、同じデジアナ混在ICの高周波アナログ信号処理を主として担当するRF回路部に帰還しないように、デジアナ混在ICの主表面のうち、電磁波を受けるとRF回路部に悪影響を及ぼしてしまう領域と対向する。   This shield plate has a through-hole, and the part where this through-hole is open is electromagnetic noise generated from the digital signal processing unit mainly responsible for digital signal processing of the digital / analog mixed IC propagates on the surface of the shield plate, The main surface of the digital / analog mixed IC faces an area that adversely affects the RF circuit when receiving an electromagnetic wave so as not to return to the RF circuit that mainly handles high-frequency analog signal processing of the same digital / analog mixed IC.

また、シールドフレームには、携帯通信端末の組み立て工程において、シールドフレームを持ち運ぶ為に必要な、吸着盤等で代表されるチャッキングツールによってチャック(吸着)される為に板状構造をしたチャッキング平板部があり、このチャッキング平板部の位置を、ICの主表面のうち、所定の電磁波を受けると当該RF回路の性能を所定の性能より低下させる領域を除く領域を覆う位置とすることで、チャッキング平板部が、デジアナ混在ICのデジタル信号処理部が発生する電磁波ノイズがシールド板に伝搬することを抑制するシールドを兼用するようになっている。   In addition, the shield frame has a plate-like structure for chucking (sucking) by a chucking tool represented by a suction disk, etc., necessary for carrying the shield frame in the mobile communication terminal assembly process. There is a flat plate portion, and the position of the chucking flat plate portion is a position that covers a region of the main surface of the IC excluding a region that, when receiving a predetermined electromagnetic wave, degrades the performance of the RF circuit below the predetermined performance. The chucking flat plate portion also serves as a shield that suppresses propagation of electromagnetic wave noise generated by the digital signal processing portion of the digital / analog mixed IC to the shield plate.

この携帯通信端末は、波長がそれぞれ約375mm、約150mmである800MHz帯や2GHz帯の電磁波を通信に用いる。
この波長のサイズに対して、貫通孔のサイズは、高々デジアナ混在ICの主表面のサイズである12mm角の正方形程度のサイズにしかならない。従って、通信に使用する電磁波の波長に比べて貫通孔の大きさが十分に小さくなるので、これらの周波数帯の電磁波は、この貫通孔を通り抜けることができない。
<構成>
本実施の形態に係る携帯通信端末の構成について、以下図面を参照しながら説明する。
This portable communication terminal uses electromagnetic waves in the 800 MHz band and the 2 GHz band having wavelengths of about 375 mm and about 150 mm, respectively, for communication.
With respect to the size of this wavelength, the size of the through hole is only about the size of a 12 mm square, which is the size of the main surface of the digital / analog mixed IC. Therefore, since the size of the through hole is sufficiently smaller than the wavelength of the electromagnetic wave used for communication, electromagnetic waves in these frequency bands cannot pass through the through hole.
<Configuration>
The configuration of the mobile communication terminal according to the present embodiment will be described below with reference to the drawings.

図1は、折りたたみ式の携帯通信端末1000を開いた状態の斜視図であって、携帯通信端末筺体100の一部分について、内部の構造を示すように切り欠いて表現している。
図2は、携帯通信端末筺体100内に収められている構造物の分解斜視図である。
同図からわかるように、基板150は、表面に電子部品を配置し、電子部品の端子間を電気的に接続する回路基板である。
FIG. 1 is a perspective view of a state in which a foldable mobile communication terminal 1000 is opened, and a part of the mobile communication terminal housing 100 is cut out to show the internal structure.
FIG. 2 is an exploded perspective view of a structure housed in the mobile communication terminal housing 100.
As can be seen from the figure, the substrate 150 is a circuit board in which electronic components are arranged on the surface and the terminals of the electronic components are electrically connected.

シールド板120は、厚さ0.1mmの金属板であって、基板150上に配置されたデジアナ混在IC130の主表面全体を覆う位置に配置されている。
シールド壁部110Aは基板150に立設する金属製の高さ1.3mm、厚さ0.2mmの壁であって、基板150とシールド板120との間に挟まれてデジアナ混在IC130を取り囲んでいる。
The shield plate 120 is a metal plate having a thickness of 0.1 mm, and is disposed at a position covering the entire main surface of the digital / analog mixed IC 130 disposed on the substrate 150.
The shield wall portion 110A is a metal wall with a height of 1.3 mm and a thickness of 0.2 mm that stands on the substrate 150, and is sandwiched between the substrate 150 and the shield plate 120 to surround the digital / analog mixed IC 130. Yes.

シールド板120には、所定部位に貫通孔140が開設されている。貫通孔140の部位については後述する。
チャッキング平板部110Bは、携帯通信端末1000の組み立て工程において、シールドフレーム110を持ち運ぶ為に必要な吸着盤等によって吸着を容易にする為に、板状構造をしている。
The shield plate 120 is provided with a through hole 140 at a predetermined site. The part of the through hole 140 will be described later.
The chucking flat plate portion 110 </ b> B has a plate-like structure in order to facilitate suction by a suction disk or the like necessary for carrying the shield frame 110 in the assembly process of the mobile communication terminal 1000.

この組み立て工程において必要なチャッキング平板部110Bを、デジアナ混在IC130とシールド板120との間の位置にくるようにすることで、デジアナ混在IC130のデジタル信号処理部が発生する電磁波ノイズが、シールド板120に伝搬することを抑制している。チャッキング平板部110Bと、デジアナ混在IC130との位置関係については後述する。   The electromagnetic wave noise generated by the digital signal processing unit of the digital / analog mixed IC 130 is reduced by placing the chucking flat plate portion 110 </ b> B necessary in the assembly process at a position between the digital / analog mixed IC 130 and the shield plate 120. Propagation to 120 is suppressed. The positional relationship between the chucking flat plate portion 110B and the digital / analog mixed IC 130 will be described later.

シールドフレーム110は、基板150のグラウンド配線にはんだ付けすることで固定され、シールド板120は40個の突起をシールドフレーム110にある40個の差し込み口にはめ込むことで固定され、シールドフレーム110とシールド板120の電位は基板のグラウンド電位となっている。
アンテナ220は、携帯通信端末1000と基地局との間での無線通信の行う為のアンテナであって、アンテナ接続モジュール210を介して、基板150に接続されている。
The shield frame 110 is fixed by soldering to the ground wiring of the substrate 150, and the shield plate 120 is fixed by inserting 40 protrusions into the 40 insertion openings of the shield frame 110, and the shield frame 110 and the shield frame 110 are shielded. The potential of the plate 120 is the ground potential of the substrate.
The antenna 220 is an antenna for performing wireless communication between the mobile communication terminal 1000 and the base station, and is connected to the substrate 150 via the antenna connection module 210.

基板150と、シールドフレーム110と、シールド板120とでデジアナ混在IC130を取り囲む構造とすることによって、デジアナ混在IC130のデジタル信号処理部が放出する電磁波ノイズが、アンテナ220に帰還しないようになっている。
以下、デジアナ混在IC130と、シールド板120にあいている貫通孔140と、チャッキング平板部110Bとの位置関係について図3〜図5を用いて説明する。
By adopting a structure that surrounds the digital / analog mixed IC 130 with the substrate 150, the shield frame 110, and the shield plate 120, electromagnetic wave noise emitted by the digital signal processing unit of the digital / analog mixed IC 130 is prevented from returning to the antenna 220. .
Hereinafter, the positional relationship between the digital / analog mixed IC 130, the through hole 140 in the shield plate 120, and the chucking flat plate portion 110B will be described with reference to FIGS.

図3はデジアナ混在IC130の主表面を、仮想的に16個の小領域に区分していることを示す図である。
仮想的に区分とは、デジアナ混在IC130の主表面を現実的には区分していないが、電磁波脆弱領域を探索する処理をする場合は、各小領域毎に探索できることをシステム的に保証していることをいう。
FIG. 3 is a diagram showing that the main surface of the digital / analog mixed IC 130 is virtually divided into 16 small regions.
Virtually categorizing does not actually divide the main surface of the digital / analog mixed IC 130, but when processing to search for electromagnetic wave fragile regions, the system guarantees that each small region can be searched. It means being.

デジアナ混在IC130は、主表面が1辺12mmの正方形で、高さが1.0mmの直方体である。この主表面を1辺3mmの正方形であるA〜Pの名前をつけた16個の小領域に仮想的に区分し、これらの小領域の各々にスポット的に電磁波を印加する。
図4は基板150上に、デジアナ混在IC130と、シールドフレーム110と、シールド板120とを組み立てた状態を、シールド板120の上から見た平面図である。
The digital / analog mixed IC 130 is a rectangular parallelepiped whose main surface is a square having a side of 12 mm and a height of 1.0 mm. This main surface is virtually divided into 16 small areas with names A to P each having a square of 3 mm on a side, and electromagnetic waves are applied spot-wise to each of these small areas.
FIG. 4 is a plan view of a state in which the digital / analog mixed IC 130, the shield frame 110, and the shield plate 120 are assembled on the substrate 150 as viewed from above the shield plate 120.

貫通孔領域410は、デジアナ混在IC130の小領域A、B、C、Eからなる領域で、所定の電磁波を印加されると、デジアナ混在IC130のRFIC部の性能を所定以下にさせる脆弱領域である。
貫通孔140は、貫通孔領域410に対向する位置に開設されている貫通孔であり、貫通孔領域410と同じ形状になるように、金属板打抜き加工装置により数十μmの精度で穿設されている。
The through-hole region 410 is a region composed of the small regions A, B, C, and E of the digital / analog mixed IC 130 and is a fragile region that reduces the performance of the RFIC portion of the digital / analog mixed IC 130 to a predetermined level or less when a predetermined electromagnetic wave is applied. .
The through-hole 140 is a through-hole opened at a position facing the through-hole region 410, and is drilled with an accuracy of several tens of μm by a metal plate punching device so as to have the same shape as the through-hole region 410. ing.

図4では、貫通孔140と貫通孔領域410との関係をわかりやすくする為に、貫通孔140が貫通孔領域410より少し大きくなるように強調して表現しているが、実際には、上述した通り、同じ大きさとなっている。
貫通孔領域410が、デジアナ混在IC130の小領域A、B、C、Eからなると特定する方法については、後述する。
In FIG. 4, in order to make the relationship between the through hole 140 and the through hole region 410 easy to understand, the through hole 140 is expressed so as to be slightly larger than the through hole region 410. As you can see, they are the same size.
A method for specifying that the through-hole region 410 is composed of the small regions A, B, C, and E of the digital / analog mixed IC 130 will be described later.

チャッキング平板部110Bは、図4で示すように、デジアナ混在IC130の主表面のうち、貫通孔領域410よりも右上の部位を覆う位置に配置することで、貫通孔領域410を覆わないようになっている。
チャッキング平板部110Bとデジアナ混在IC130との位置関係の詳細は、以下図5を用いて説明する。
As shown in FIG. 4, the chucking flat plate portion 110 </ b> B is arranged at a position covering the upper right portion of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 from the through-hole region 410 so as not to cover the through-hole region 410. It has become.
Details of the positional relationship between the chucking flat plate portion 110B and the digital / analog mixed IC 130 will be described below with reference to FIG.

図5は、図4で示されている状態から、シールド板120を取り除いた状態を、シールドフレーム110の上から見た平面図であって、シールドフレーム110に遮られて直接見ることができないデジアナ混在ICの部分を破線で表記している。
チャッキング平板部110Bは、厚さ0.2mmで、デジアナ混在ICの小領域K、L、O、Pの全ての領域と、小領域N、J、F、G、Hの一部の領域とを覆う位置に配置されている。
FIG. 5 is a plan view of the state where the shield plate 120 is removed from the state shown in FIG. 4 as viewed from above the shield frame 110, and cannot be directly seen by being shielded by the shield frame 110. The part of the mixed IC is indicated by a broken line.
The chucking flat plate portion 110B has a thickness of 0.2 mm, and includes all of the small areas K, L, O, and P of the digital / analog mixed IC, and some areas of the small areas N, J, F, G, and H. It is arranged at a position to cover.

チャッキング平板部110Bを配置する位置が、上述する位置であると特定する方法については、後述する。
左腕部110Cと右腕部110Dは、厚さ0.2mmでチャッキング平板部110Bからそれぞれ左右に伸びてシールド壁部110Aに接続し、シールドフレーム110の強度を補強する為の補強材である。
<貫通孔を作成する方法>
以下、貫通孔140の部位を特定する特定者が、手作業によって貫通孔140の部位を特定し、シールド板120に貫通孔140を開設する工作者が、特定した貫通孔140の部位に、数十μmの誤差で金属板に穴をあけることができる金属板打抜き加工装置を使って、穴を開ける方法について図を用いて説明する。
A method for specifying that the position at which the chucking flat plate portion 110B is disposed is the position described above will be described later.
The left arm portion 110C and the right arm portion 110D are reinforcing members for reinforcing the strength of the shield frame 110 by connecting them to the shield wall portion 110A with a thickness of 0.2 mm extending from the chucking flat plate portion 110B to the left and right.
<Method of creating a through hole>
Hereinafter, a specific person who specifies the part of the through hole 140 specifies the part of the through hole 140 by manual operation, and an operator who opens the through hole 140 in the shield plate 120 includes several parts in the specified part of the through hole 140. A method of making a hole using a metal plate punching apparatus capable of making a hole in a metal plate with an error of 10 μm will be described with reference to the drawings.

図6は、携帯通信端末1000の動作に影響がないように加工して、携帯通信端末筺体100の一部に穴を開けて、図1に示す携帯通信端末1000のシールド板120と図1のシールドフレーム110とを取り除いた状態で、携帯通信端末1000の電源を入れて、携帯通信端末1000の性能を測定している状況を示す図である。ただし、ここでは説明をわかりやすくするために、携帯通信端末筺体100の一部に開けた穴の大きさを、大きく強調して記述してある。穴を開ける代わりに、例えば携帯通信端末筺体100の上蓋を取り外すこととしても構わない。   6 is processed so as not to affect the operation of the mobile communication terminal 1000, a hole is formed in a part of the mobile communication terminal housing 100, and the shield plate 120 of the mobile communication terminal 1000 shown in FIG. It is a figure which shows the condition where the power of the portable communication terminal 1000 is turned on and the performance of the portable communication terminal 1000 is measured with the shield frame 110 removed. However, here, in order to make the explanation easy to understand, the size of the hole formed in a part of the mobile communication terminal housing 100 is greatly emphasized. Instead of opening the hole, for example, the upper lid of the mobile communication terminal housing 100 may be removed.

シグナルジェネレータ520は、周波数と強度とを設定して電磁波を発生させる電磁波発生装置であって、ここでは、このシグナルジェネレータ520により、棒状アンテナ510の先端から、870MHzの周波数で−50dBmの強度を持った電磁波を発生させるように設定している。
この設定は、シールド板120に貫通孔140がない場合に、デジアナ混在IC130のデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、シールド板120を介して伝搬することで再びデジアナ混在IC130に印加されるとき、この再び印加される電磁波によってデジアナ混在IC130のRF回路部への影響を再現するように、決められた設定である。
The signal generator 520 is an electromagnetic wave generator that generates an electromagnetic wave by setting a frequency and an intensity. Here, the signal generator 520 has an intensity of −50 dBm at a frequency of 870 MHz from the tip of the rod-shaped antenna 510 by the signal generator 520. Set to generate electromagnetic waves.
When the shield plate 120 does not have the through hole 140, the electromagnetic wave noise emitted from the digital circuit of the digital / analog mixed IC 130 propagates through the shield plate 120 and is applied to the digital / analog mixed IC 130 again. The setting is determined so as to reproduce the influence on the RF circuit section of the digital / analog mixed IC 130 by the electromagnetic wave applied again.

棒状アンテナ510は、シグナルジェネレータ520が発生した電磁波を、ケーブル550を介して受信し、デジアナ混在IC130の主表面の小領域の各々に個別に印加することができる。
コネクタ540は、携帯通信端末1000を構成する部品を調整するために、携帯通信端末筺体100の下部にあるソケットに接続することで、携帯通信端末1000の外部に、携帯通信端末1000を構成する部品の情報を出力する。
The rod-shaped antenna 510 can receive the electromagnetic wave generated by the signal generator 520 via the cable 550 and individually apply it to each of the small areas on the main surface of the digital / analog mixed IC 130.
The connector 540 is a component that configures the mobile communication terminal 1000 outside the mobile communication terminal 1000 by connecting to the socket at the bottom of the mobile communication terminal housing 100 in order to adjust the components that configure the mobile communication terminal 1000. The information of is output.

デジアナ混在IC130は、デジアナ混在IC130のRF回路部にあるLNAが使用している、AGC(Automatic Gain Control:自動ゲイン制御)値を出力するAGC値出力端子を備えており、このAGC値出力端子の出力であるAGC値を、基板150と携帯通信端末筺体100のソケットを介して、コネクタ540が出力できるようになっている。   The digital / analog mixed IC 130 includes an AGC value output terminal that outputs an AGC (Automatic Gain Control) value used by the LNA in the RF circuit unit of the digital / analog mixed IC 130. The connector 540 can output the AGC value as an output via the socket of the substrate 150 and the portable communication terminal housing 100.

コネクタ540が出力するAGC値は、ケーブル560を介してAGC値表示装置530に送られ、AGC値表示装置530は、受け取ったAGC値を表示する。
このAGC値は、強度−90dBmを基準にして、基準とのレベル差をdB換算して表示される値であって、このAGC値が大きいほど、デジアナ混在ICのRF回路部の性能の劣化が大きいということを示している。
The AGC value output from the connector 540 is sent to the AGC value display device 530 via the cable 560, and the AGC value display device 530 displays the received AGC value.
This AGC value is a value that is displayed by converting the level difference from the reference to dB with reference to an intensity of −90 dBm. The larger the AGC value, the more the degradation of the performance of the RF circuit section of the digital / analog mixed IC. It shows that it is big.

上述した構成を取ることによって、特定者は、棒状アンテナ510を操作して、デジアナ混在IC130の主表面における小領域の各々に、特定の電磁波を印加した状態で携帯通信端末1000を動作させた時の、デジアナ混在IC130のRF回路部にあるLNAが使用するAGC値を、AGC値表示装置530で表示させることができる。
図7は、特定者がシールド板120に開設する貫通孔140の部位を特定するフローチャートである。
By taking the above-described configuration, the specific person operates the rod-shaped antenna 510 to operate the mobile communication terminal 1000 in a state where a specific electromagnetic wave is applied to each of the small areas on the main surface of the digital / analog mixed IC 130. The AGC value used by the LNA in the RF circuit section of the digital / analog mixed IC 130 can be displayed on the AGC value display device 530.
FIG. 7 is a flowchart for specifying a portion of the through hole 140 opened in the shield plate 120 by the specific person.

特定者は、携帯通信端末1000の電源を入れて携帯通信端末1000を起動し、基地局からの待ち受け状態である受信モードに設定する(ステップS100)。
次に特定者は、図3に示すようにデジアナ混在IC130の主表面を仮想的にA〜Pの16個の小領域に区分していることを拡大して示す図である仮想区分図を見て、小領域区分図上の小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域に、棒状アンテナ510を操作して870MHzの周波数で−50dBmの強度を持った電磁波を印加する。
The specific person turns on the mobile communication terminal 1000 to activate the mobile communication terminal 1000, and sets the reception mode that is a standby state from the base station (step S100).
Next, as shown in FIG. 3, the specific person sees a virtual partition diagram that is an enlarged view showing that the main surface of the digital / analog mixed IC 130 is virtually partitioned into 16 small regions A to P. Thus, an electromagnetic wave having an intensity of −50 dBm at a frequency of 870 MHz is applied to the region of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small region A on the small region division diagram.

電磁波を印加している状態でAGC値表示装置530が表示するAGC値を測定し、測定したAGC値を記録する(ステップS110)。
小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のAGC値の記録が終わると、小領域区分図の小領域Bに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のAGC値を、同様の方法で測定して記録する(ステップS120:Yes、ステップS130、ステップS110)。
The AGC value displayed by the AGC value display device 530 is measured in a state where an electromagnetic wave is applied, and the measured AGC value is recorded (step S110).
When the recording of the AGC value of the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A is completed, the AGC value of the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area B of the small area division diagram is calculated in the same manner. (Step S120: Yes, Step S130, Step S110).

アルファベット順に従って順番に、小領域区分図上の各小領域に相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のAGC値を測定して記録し(ステップS120:Yes、ステップS130、ステップS110を繰り返す)、小領域Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のAGC値の測定と記録が終わると(ステップS120:No)、AGC値測定を終了する。   In order according to the alphabetical order, the AGC value of the area of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to each small area on the small area division diagram is measured and recorded (step S120: Yes, step S130, and step S110 are repeated) When the measurement and recording of the AGC value of the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area P is completed (step S120: No), the AGC value measurement is ended.

特定者は、小領域毎に記録したAGC値が、所定のAGC値以上であるか否かを判定し、所定のAGC値以上である小領域を、デジアナ混在IC130が所定の性能を満たしていない小領域であると判定し、貫通孔領域と特定する(ステップS140)。
最後に、特定者は、貫通孔領域と対向するシールド板の部分を、貫通孔の部位であると特定する(ステップS150)。
The specific person determines whether or not the AGC value recorded for each small area is equal to or greater than a predetermined AGC value, and the digital / analog mixed IC 130 does not satisfy the predetermined performance for the small area that is equal to or greater than the predetermined AGC value. It determines with it being a small area | region and specifies with a through-hole area | region (step S140).
Finally, a specific person specifies that the part of the shield plate which opposes a through-hole area | region is a site | part of a through-hole (step S150).

以下、所定のAGC値が10dBであって、AGC値が10dB以上である小領域が、小領域A、B、C、Eである場合を例として、貫通孔の部位を特定する方法を説明する。
特定者は、携帯通信端末1000を起動し(ステップS100)、上述したように、各小領域に相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のAGC値を、小領域Aからアルファベット順に小領域Pまで測定して記録する(ステップS110、ステップS120:Yes、ステップS130を繰り返し、最後にステップS120:No)。
In the following, a method for specifying the site of the through-hole will be described by taking as an example the case where the small regions having the predetermined AGC value of 10 dB and the AGC value of 10 dB or more are the small regions A, B, C, and E. .
The specific person activates the mobile communication terminal 1000 (step S100), and as described above, the AGC value of the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to each small area is changed from the small area A to the small area P in alphabetical order. Measure and record (step S110, step S120: Yes, repeat step S130, and finally step S120: No).

図8は、特定者が、小領域A〜Pの各々について、測定して記録したAGC値を一覧表にまとめた図であって、図中の「貫通孔領域の一部」の欄には、測定されたAGC値が10dB以上の場合に○、10dB未満の場合に×を記入している。
ここで、特定者は図8に示されるように、AGC値が10dB以上である貫通孔領域410が、小領域A、B、C、Eであるので、図4の貫通孔領域410を、小領域AとBとCとEとによって構成される領域であると特定し(ステップS140)、この貫通孔領域410に対向するシールド板の部分を、貫通孔140の部位であると特定する(ステップS150)。
FIG. 8 is a table in which AGC values recorded by a specific person measured and recorded for each of the small areas A to P are listed, and in the “part of the through-hole area” column in the figure, When the measured AGC value is 10 dB or more, ◯ is entered when it is less than 10 dB.
Here, as shown in FIG. 8, since the through hole region 410 having an AGC value of 10 dB or more is the small regions A, B, C, and E, the specific person can reduce the through hole region 410 in FIG. It is specified that the region is composed of regions A, B, C, and E (step S140), and the portion of the shield plate that faces this through-hole region 410 is specified as the portion of the through-hole 140 (step S150).

上述した方法により、貫通孔140の部位が、シールド板120に貫通孔140がない場合に、デジアナ混在IC130のデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、シールド板120を介して伝搬することで再びデジアナ混在IC130に印加されるとき、この再び印加される電磁波によってデジアナ混在IC130のRF回路部への影響が10dB以上になる部分に対向する、シールド板120の部位であると特定することができる。   According to the above-described method, when the through hole 140 is not formed in the shield plate 120, the electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the digital / analog mixed IC 130 propagates through the shield plate 120 so that the digital / analog mixed again. When applied to the IC 130, it can be specified that the part of the shield plate 120 is opposed to the part where the influence on the RF circuit part of the digital / analog mixed IC 130 is 10 dB or more due to the re-applied electromagnetic wave.

その後、工作者は、精度数十μmで金属板を打ち抜き加工することができる金属板打抜き加工装置に、特定者が特定した貫通孔140の部位を示すシールド板120上の座標を入力し、シールド板120に対して入力された座標部分を打ち抜き加工することで、貫通孔140は、数十μmの精度で貫通孔領域410と同じ形状となる、貫通孔140を作成する。
<チャッキング平板部を配置する位置を特定する方法>
以下、チャッキング平板部110Bの配置する位置を特定する特定者が、手作業によってチャッキング平板部110Bの配置する位置を特定し、シールドフレームを作成する工作者が、特定された位置にチャッキング平板部110Bを作成する方法について図を用いて説明する。
Thereafter, the operator inputs the coordinates on the shield plate 120 indicating the part of the through hole 140 specified by the specific person into the metal plate punching apparatus capable of punching the metal plate with an accuracy of several tens of μm. By punching the coordinate portion input to the plate 120, the through-hole 140 is formed in the same shape as the through-hole region 410 with an accuracy of several tens of μm.
<Method of specifying the position where the chucking flat plate portion is disposed>
Hereinafter, the person who specifies the position where the chucking flat plate portion 110B is arranged manually specifies the position where the chucking flat plate portion 110B is arranged, and the operator who creates the shield frame chucks the specified position. A method of creating the flat plate portion 110B will be described with reference to the drawings.

図9は、携帯通信端末1000の動作に影響がないように加工して、携帯通信端末筺体100の一部に穴を開けて、図1に示す携帯通信端末1000のシールド板120と図1のシールドフレーム110とを取り除いた状態で、携帯通信端末1000の電源を入れて、デジアナ混在IC130の放出する電磁波を測定している状況を示す図である。ただし、ここでは図6と同様に、説明をわかりやすくするために、携帯通信端末筺体100の一部に開けた穴の大きさを、大きく強調して記述してある。穴を開ける代わりに、例えば携帯通信端末筺体100の上蓋を取るとしても構わない。   9 is processed so as not to affect the operation of the mobile communication terminal 1000, a hole is formed in a part of the mobile communication terminal housing 100, and the shield plate 120 of the mobile communication terminal 1000 shown in FIG. It is a figure which shows the condition which turns on the power supply of the portable communication terminal 1000 in the state which removed the shield frame 110, and is measuring the electromagnetic waves which the digital-analog mixed IC130 discharge | releases. However, as in FIG. 6, the size of the hole opened in a part of the mobile communication terminal housing 100 is greatly emphasized for easy understanding. Instead of opening the hole, for example, the top cover of the mobile communication terminal housing 100 may be removed.

スペクトラムアナライザ610は、入力された電気信号を、横軸を周波数、縦軸を電力とする二次元のグラフとして画面に表示することができる装置であって、ケーブル640から入力された電磁波の周波数と電力とを二次元のグラフとして画面上に表示する。
棒状アンテナ650は、デジアナ混在IC130の主表面上の小領域の各々から放出される電磁波を受信し、受信した電磁波を、ケーブル630を介してアンプ620へ送信する。
The spectrum analyzer 610 is a device that can display an input electrical signal on a screen as a two-dimensional graph with the horizontal axis representing frequency and the vertical axis representing power, and the frequency of electromagnetic waves input from the cable 640 The power is displayed on the screen as a two-dimensional graph.
The rod-shaped antenna 650 receives electromagnetic waves emitted from each of the small regions on the main surface of the digital / analog mixed IC 130, and transmits the received electromagnetic waves to the amplifier 620 via the cable 630.

アンプ620はケーブル630から送られてきた電磁波を利得20dBmで増幅してケーブル640へ出力する。
上述した構成によって、特定者は、デジアナ混在IC130の主表面における小領域の各々から放出される電磁波を、スペクトラムアナライザ610で視覚的に確認することができる。
The amplifier 620 amplifies the electromagnetic wave sent from the cable 630 with a gain of 20 dBm and outputs it to the cable 640.
With the above-described configuration, the specific person can visually check the electromagnetic wave emitted from each of the small regions on the main surface of the digital / analog mixed IC 130 with the spectrum analyzer 610.

以下、チャッキング平板部110Bを配置する位置を特定する特定者が、手作業によってチャッキング平板部110Bを配置する位置を特定し、シールドフレームを作成する工作者が、特定したチャッキング平板部110Bの位置に、チャッキング平板部を配置したシールドフレームを作成する方法について図を用いて説明する。
図10は、特定者が手作業によってチャッキング平板部110Bを配置する位置を特定する方法を示すフローチャートである。
Hereinafter, the specific person who specifies the position where the chucking flat plate portion 110B is arranged manually specifies the position where the chucking flat plate portion 110B is arranged, and the operator who creates the shield frame specifies the chucking flat plate portion 110B. A method of creating a shield frame in which the chucking flat plate portion is arranged at the position will be described with reference to the drawings.
FIG. 10 is a flowchart showing a method of specifying a position where the specific person manually places the chucking flat plate portion 110B.

特定者は、携帯通信端末1000の電源を入れて携帯通信端末1000を起動し、基地局からの待ち受け状態である受信モードに設定する(ステップS200)。
次に特定者は、図3に示すようにデジアナ混在IC130の主表面を仮想的にA〜Pの16個の小領域に区分されたことを拡大して示す図である仮想区分図を見て、棒状アンテナ650を操作して、小領域区分図上の小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面から放出される電磁波を、スペクトラムアナライザ610の画面にて目視にて確認する(ステップS210)。
The specific person turns on the mobile communication terminal 1000 to activate the mobile communication terminal 1000, and sets the reception mode that is a standby state from the base station (step S200).
Next, as shown in FIG. 3, the specific person looks at the virtual section diagram which is an enlarged view showing that the main surface of the digital / analog mixed IC 130 is virtually partitioned into 16 small regions A to P. Then, by operating the rod-shaped antenna 650, the electromagnetic wave emitted from the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A on the small area division diagram is visually confirmed on the screen of the spectrum analyzer 610 (step S210). .

特定者は、小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の領域からは所定の強度以上の強度の電磁波が放出されていることを確認する(ステップS220:Yes)と、小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域が貫通孔領域410の一部であるか、又は貫通孔領域410に隣接する小領域であるかを確認し、貫通孔領域410でもないし、貫通孔領域410に隣接する小領域でもない場合(ステップS225:Yes)に、小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域をチャッキング領域の一部と特定して記録(ステップS230)する。   When the specific person confirms that an electromagnetic wave having a predetermined intensity or more is emitted from the area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A (step S220: Yes), the digital / analog mixed corresponding to the small area A It is confirmed whether the region of the main surface of the IC 130 is a part of the through-hole region 410 or a small region adjacent to the through-hole region 410, and the small surface adjacent to the through-hole region 410 is not the through-hole region 410. If it is not an area (step S225: Yes), the area of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A is specified as a part of the chucking area and recorded (step S230).

小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の領域からは所定の強度以上の強度の電磁波が放出されていることを確認しない場合(ステップS220:No)と、小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域が貫通孔領域410の一部であるか、又は貫通孔領域410に隣接する小領域である場合(ステップS225:No)とには、小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域をチャッキング領域の一部と特定しない。   When it is not confirmed that the electromagnetic wave having a predetermined intensity or higher is emitted from the area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A (step S220: No), the main area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A is displayed. When the surface region is a part of the through-hole region 410 or a small region adjacent to the through-hole region 410 (step S225: No), the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small region A Is not specified as a part of the chucking area.

小領域Aに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域から所定の強度以上の強度の電磁波が放出されているか否かの確認が終わると、アルファベット順に従って順番に、小領域区分図上の各小領域に相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域から所定の強度以上の強度の電磁波が放出されているか否かの確認を行い(ステップS240:Yes、ステップS250、ステップS210、ステップS220、ステップS225、ステップS230を繰り返す)、小領域Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域から所定の強度以上の強度の電磁波が放出されているか否かの確認が終わると(ステップS240:No)、電磁波の測定を終了する。   When it is confirmed whether or not electromagnetic waves having a predetermined intensity or more are emitted from the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area A, the small areas on the small area division diagram are sequentially displayed in alphabetical order. It is confirmed whether or not an electromagnetic wave having a predetermined intensity or more is emitted from the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the area (step S240: Yes, step S250, step S210, step S220, step S225, When step S230 is repeated), when it is confirmed whether or not electromagnetic waves having a predetermined intensity or higher have been emitted from the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small area P (step S240: No), End measurement.

特定者は、デジアナ混在ICの主表面の領域のうち、チャッキング領域の一部と特定した領域の全てを覆う位置を、チャッキング平板部110Bを配置する位置だと特定する(ステップS260)。
以下、所定の電磁波の強度以上の強度の電磁波を放出する小領域に相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域が、小領域D、G、K、L、O、Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域である場合を例として、チャッキング平板部を配置する位置を特定する方法を説明する。
A specific person specifies the position which covers all the area | regions identified as a part of chucking area | region among the area | regions of the main surface of a digital-ana mixed IC as a position which arrange | positions the chucking flat plate part 110B (step S260).
Hereinafter, the area of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to a small area that emits an electromagnetic wave having a strength equal to or greater than the intensity of a predetermined electromagnetic wave corresponds to the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas D, G, K, L, O, and P. A method of specifying the position where the chucking flat plate portion is arranged will be described by taking the case of the region of the main surface as an example.

特定者は、携帯通信端末1000を起動し(ステップS200)、上述したように、各小領域に対応するデジアナ混在IC130の主表面の領域が放出する電磁波を、小領域Aからアルファベット順に小領域Pになるまで確認していく(ステップS210〜ステップS250を繰り返し、最後はステップS240:No)。
このとき、小領域A、B、C、E、F、H、I、J、M、Nに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域は、所定の強度以上の強度の電磁波が放出されていることを確認しない(ステップS220:No)ので、チャッキング領域の一部であると特定されることはない。
The specific person activates the mobile communication terminal 1000 (step S200), and, as described above, the electromagnetic waves emitted from the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to each small area are displayed in alphabetical order from the small area A to the small area P. (Steps S210 to S250 are repeated, and finally step S240: No).
At this time, an electromagnetic wave having a strength greater than or equal to a predetermined strength is emitted from the main surface region of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small regions A, B, C, E, F, H, I, J, M, and N. Since this is not confirmed (step S220: No), it is not specified to be a part of the chucking area.

小領域D、Gに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域は、貫通孔領域410に隣接する小領域である(ステップS225:No)ので、チャッキング領域の一部であると特定されることはない。
小領域K、L、O、Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域は、所定の強度以上の強度の電磁波が放出されていることを確認され(ステップS220:Yes)、貫通孔領域410でもないし、貫通孔領域410に隣接する小領域でもないので(ステップS225:Yes)、チャッキング領域の一部であると特定される。
Since the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas D and G is a small area adjacent to the through-hole area 410 (step S225: No), it is specified as a part of the chucking area. There is no.
The main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas K, L, O, and P is confirmed to emit an electromagnetic wave having a predetermined intensity or more (step S220: Yes). However, since it is not a small region adjacent to the through-hole region 410 (step S225: Yes), it is specified as a part of the chucking region.

小領域K、L、O、Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域が、チャッキング領域の一部であると特定されたので、図5のチャッキング平板部110Bの位置のように、小領域K、L、O、Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域の全てを覆う位置をチャッキング平板部110Bを配置する位置と特定する(ステップS260)
図5では、チャッキング平板部110Bが、小領域F、G、H、J、Nに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域の一部も覆うとしているが、小領域K、L、O、Pに相当するデジアナ混在IC130の主表面の領域のみを覆うとしても構わない。
Since the area of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas K, L, O, and P is specified to be a part of the chucking area, the position of the chucking flat plate portion 110B in FIG. A position that covers the entire area of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas K, L, O, and P is specified as a position where the chucking flat plate portion 110B is disposed (step S260).
In FIG. 5, the chucking flat plate portion 110 </ b> B covers a part of the main surface area of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to the small areas F, G, H, J, and N, but the small areas K, L, O, Only the region of the main surface of the digital / analog mixed IC 130 corresponding to P may be covered.

上述した方法により、貫通孔領域410とその隣接領域とを覆わない位置のうち、電磁波ノイズを発生する小領域を覆う位置を、チャッキング平板部110Bを配置する位置と特定する。
これによって、デジアナ混在IC130が発生する電磁波ノイズがシールド板120に伝搬することを抑制する位置にチャッキング平板部110Bを配置することができ、しかも、チャッキング平板部110Bは貫通孔領域410を覆う位置に配置されない為、デジアナ混在ICが発生する電磁波ノイズがチャッキング平板部110Bを介して伝搬して、再び貫通孔領域410に印加されることのない位置を、チャッキング平板部110Bを配置する位置だと特定することができる。
Of the positions that do not cover the through-hole area 410 and its adjacent areas, the position that covers the small area that generates electromagnetic wave noise is identified as the position at which the chucking flat plate portion 110B is disposed.
Accordingly, the chucking flat plate portion 110B can be disposed at a position where electromagnetic wave noise generated by the digital / analog mixed IC 130 is prevented from propagating to the shield plate 120, and the chucking flat plate portion 110B covers the through-hole region 410. Since the electromagnetic noise generated by the digital / analog mixed IC is propagated through the chucking flat plate portion 110B and is not applied to the through-hole region 410 again, the chucking flat plate portion 110B is arranged. It can be identified as a position.

その後、工作者は、特定者が特定したチャッキング平板部110Bを配置する位置通りに、シールドフレーム110の金型を作成し、この金型を使ってシールドフレーム110を作成することで、特定者が特定したチャッキング平板部110Bを配置する位置に、チャッキング平板部110Bを配置したシールドフレームを作成する。
上述の構成を備えるシールド板は貫通孔が開設され、この貫通孔に対応するICの主表面における領域は、所定の電磁波を受けると当該ICのRF回路等のアナログ回路の性能を低下させる領域となっている。
Thereafter, the operator creates a mold for the shield frame 110 in accordance with the position where the chucking flat plate portion 110B specified by the specific person is arranged, and uses this mold to create the shield frame 110, thereby specifying the specific person. The shield frame in which the chucking flat plate portion 110B is arranged at the position where the chucking flat plate portion 110B specified by is created.
The shield plate having the above-described configuration has a through hole, and the region on the main surface of the IC corresponding to the through hole is a region that reduces the performance of an analog circuit such as an RF circuit of the IC when receiving a predetermined electromagnetic wave. It has become.

シールド板に貫通孔を開設することによって、貫通孔に対向する予定のICの主表面の領域には、ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、当該ICを覆う前記シールド板を介して伝搬しない。
従って、所定の電磁波を受けるとICのアナログ回路の性能を低下させる領域への、ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズの、シールド板を介した伝搬量を抑制することができるようになり、ICのアナログ回路の性能が所定の性能より低下することを抑制するシールド板を提供することができる。
By opening a through hole in the shield plate, electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC does not propagate through the shield plate covering the IC to the region of the main surface of the IC that is to face the through hole. .
Accordingly, it is possible to suppress the amount of propagation of electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC through the shield plate to a region where the performance of the analog circuit of the IC is deteriorated when receiving a predetermined electromagnetic wave. It is possible to provide a shield plate that suppresses the performance of the analog circuit from deteriorating from a predetermined performance.

このシールド板を、例えばデジアナ混在ICを搭載した携帯通信端末のシールド板として使用することで、デジアナ混在ICとシールド板との間隔を2mm以上空ける必要がなく、デジアナ混在ICとシールド板との間に電磁波吸収体を挿入する必要がないため、携帯電話端末の寸法を大きくすることなく、そして、携帯通信端末のコストを上昇させることのない、シールド板を提供することができるという効果を有する。
<補足>
以上、本発明に係るシールド板と携帯通信端末の一実施形態として、貫通孔のあるシールド板とチャッキング平板部のあるシールドフレームとを用いた携帯通信端末について、及び、本発明にかかるシールド板作成方法の一実施形態として、携帯通信端末に用いるシールド板の貫通孔の位置を特定する方法について説明したが、以下のように変形することも可能であり、本発明は上述した実施の形態で示した通りのシールド板、携帯通信端末、及び、シールド板作成方法に限られないことはもちろんである。
(1)実施の形態において、デジアナ混在IC130の主表面を仮想的に16個の正方形の小領域A〜Pに区分したとして説明したが、これ以外の個数、形状の小領域に仮想的に区分しても構わない。
By using this shield plate as, for example, a shield plate for a portable communication terminal equipped with a digital / analog mixed IC, there is no need to leave a gap of 2 mm or more between the digital / analog mixed IC and the shield plate, and the gap between the digital / analog mixed IC and the shield plate is not necessary. Therefore, there is no need to insert an electromagnetic wave absorber, so that it is possible to provide a shield plate without increasing the size of the mobile phone terminal and without increasing the cost of the mobile communication terminal.
<Supplement>
As described above, as an embodiment of the shield plate and the mobile communication terminal according to the present invention, the mobile communication terminal using the shield plate with the through hole and the shield frame with the chucking flat plate portion, and the shield plate according to the present invention Although the method for specifying the position of the through hole of the shield plate used in the mobile communication terminal has been described as one embodiment of the creation method, the present invention can be modified as follows, and the present invention is the embodiment described above. Of course, it is not limited to the shield plate, the mobile communication terminal, and the shield plate creation method as shown.
(1) In the embodiment, the main surface of the digital / analog mixed IC 130 has been described as virtually divided into 16 square small areas A to P. However, the main surface is virtually divided into small areas having other numbers and shapes. It doesn't matter.

16個よりも多い小領域に区分すれば、よりきめ細かに貫通孔を開設する部位を特定することができる。
また、デジアナ混在IC130の主表面の大きさと、棒状アンテナ510の大きさとの関係や、棒状アンテナ510の性能、デジアナ混在IC130の構成等で、小領域の個数を多くしても実質的に意味がない場合もあり、このような場合等には、16個より少ない数であっても十分な精度で貫通孔を開設する部位を特定することができる。
By dividing into more than 16 small regions, it is possible to specify the portion where the through-hole is opened more finely.
In addition, the number of small regions is substantially meaningful due to the relationship between the size of the main surface of the digital-analog mixed IC 130 and the size of the rod-shaped antenna 510, the performance of the rod-shaped antenna 510, the configuration of the digital-analog mixed IC 130, and the like. In such a case, even if the number is less than 16, it is possible to specify the site where the through-hole is opened with sufficient accuracy.

小領域の形状については、デジアナ混在IC130の形状と棒状アンテナ510の形状との関係等により、正方形以外の形状の方が、よりきめ細かに貫通孔を開設する部位を特定することができる場合もあり、このような場合等には、正方形以外の形状であっても十分な精度で貫通孔を開設する部位を特定することができる。
(2)実施の形態において、貫通孔140の形状としてL字型の形状になる場合について説明したが、デジアナ混在IC130の主表面を区分する小領域の形状や個数、デジアナ混在IC130の形状や内部構成等によって、貫通孔140を開設する部位が決定される為、L字型以外の様々な形状を取る可能性があり、結果的に、貫通孔140の形状としてL字型の形状に限られず、場合によっては、貫通孔が複数の場合もあり得る。
(3)実施の形態において、チャッキング平板部110Bの位置として、チャッキング領域を全て覆う位置としたが、チャッキング領域の全てではなくて、一部を覆う位置としても構わない。
With regard to the shape of the small region, there may be a case where the shape of the shape other than the square can be specified more finely by the relationship between the shape of the digital / analog mixed IC 130 and the shape of the rod-shaped antenna 510. In such a case, it is possible to specify a portion where the through hole is opened with sufficient accuracy even if the shape is other than a square.
(2) In the embodiment, the case where the shape of the through-hole 140 is an L-shape has been described. However, the shape and number of small areas that divide the main surface of the digital / analog mixed IC 130, the internal shape of the digital / analog mixed IC 130, and the inside Since the part where the through hole 140 is opened is determined depending on the configuration and the like, there is a possibility of taking various shapes other than the L shape, and as a result, the shape of the through hole 140 is not limited to the L shape. In some cases, there may be a plurality of through holes.
(3) In the embodiment, the position of the chucking flat plate portion 110B is a position that covers the entire chucking area, but may be a position that covers a part of the chucking area instead of the entire chucking area.

チャッキング領域を全て覆うほうが、デジアナ混在IC130が放出する電磁波をシールドする効果が、より顕著になるが、チャッキング領域の全てではなくて、一部を覆うとするだけでも、デジアナ混在IC130が放出する電磁波をシールドする効果をもたらす為、組み立て工程の制約等の理由で、チャッキング平板部110Bの位置が、チャッキング領域の全てではなくて、一部を覆う位置のほうが好ましい場合もあり得る。
(4)実施の形態において、シグナルジェネレータ520の設定は、棒状アンテナ510からデジアナ混在IC130の主表面の小領域の各々に向けて、870MHzの周波数で、−50dBmの強度を持った電磁波を発生させるよう設定されているとして説明したが、これらの値に限られない。例えば2GHzの周波数で、−50dBmの強度を持った電磁波を発生させるように設定しても構わない。
The effect of shielding the electromagnetic wave emitted by the digital / analog mixed IC 130 becomes more conspicuous when the entire chucking area is covered. However, the digital / analog mixed IC 130 emits only by covering a part rather than the entire chucking area. In order to bring about an effect of shielding the electromagnetic wave to be performed, it may be preferable that the position of the chucking flat plate portion 110B covers a part of the chucking region instead of the whole of the chucking region for reasons of assembly process.
(4) In the embodiment, the setting of the signal generator 520 generates an electromagnetic wave having an intensity of −50 dBm at a frequency of 870 MHz from the rod-shaped antenna 510 toward each of the small areas on the main surface of the digital / analog mixed IC 130. Although described as being set as such, it is not limited to these values. For example, it may be set to generate an electromagnetic wave having an intensity of −50 dBm at a frequency of 2 GHz.

この際、設定すべき電磁波の周波数と強度としては、シールド板に貫通孔がないことを仮定した場合であって、デジアナ混在IC130のデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、貫通孔のないシールド板を介して伝搬し、再びデジアナ混在IC130に印加されるときに、デジアナ混在IC130に再び印加される電磁波によって引き起こされるデジアナ混在IC130のRF回路部への影響を再現する周波数と強度になるような設定であれば、どのように設定しても構わない。
(5)実施の形態において、小領域が貫通孔領域の一部であるか否かを決定する指標として、LNAが用いるAGC値であって、強度−90dBmを基準にして、基準とのレベル差をdB換算して10dBである値としたが、10dB以外の値を指標として用いても構わないし、これ以外の手法で決定されたAGC値を指標としても構わないし、さらには、AGC値以外であっても、デジアナ混在IC130のRF回路部の性能の劣化の大きさを示す指標であれば、どのような指標であっても構わない。
(6)実施の形態において、貫通孔領域410に隣接する小領域でないことが、チャッキング領域であるための必要条件であったが、この条件を用いないとしても構わない。
At this time, the frequency and intensity of the electromagnetic wave to be set is a case where it is assumed that there is no through hole in the shield plate, and the electromagnetic wave noise emitted by the digital circuit of the digital / analog mixed IC 130 is reduced to the shield plate without the through hole. When the signal is propagated through the digital signal and again applied to the digital / analog mixed IC 130, the frequency and intensity are set so as to reproduce the influence on the RF circuit unit of the digital / analog mixed IC 130 caused by the electromagnetic wave applied again to the digital / analog mixed IC 130. Any setting can be used.
(5) In the embodiment, as an index for determining whether or not the small region is a part of the through-hole region, the AGC value used by the LNA, and the level difference from the reference on the basis of the intensity −90 dBm Is a value that is 10 dB in terms of dB, but a value other than 10 dB may be used as an index, an AGC value determined by a method other than this may be used as an index, and a value other than an AGC value may be used. Even if it is an index, any index may be used as long as it indicates the degree of deterioration of the performance of the RF circuit unit of the digital / analog mixed IC 130.
(6) In the embodiment, it is a necessary condition for the chucking area not to be a small area adjacent to the through-hole area 410. However, this condition may not be used.

結果的にデジアナ混在IC130が発生する電磁波ノイズがチャッキング平板部110Bを介して伝搬して、再び貫通孔領域410に印加されることのない位置を、チャッキング平板部110Bの位置と特定することができれば、どのような条件を必要条件としても構わない。
(7)実施の形態において、シールド板120とシールドフレーム110の材質として金属として説明したが、電磁波の透過を抑制する材質であれば、金属以外の材質であっても構わない。
(8)実施の形態において、貫通孔140の形状は、数十μmの精度で貫通孔領域410と同じ形状となるとしたが、チャッキング領域に対向する部位を含まなければ、対象となる電磁波の波長に比べて十分に小さい大きさの範囲内で、貫通孔領域410よりも大きな形状になるとしても構わない。
As a result, the position where the electromagnetic wave noise generated by the digital / analog mixed IC 130 propagates through the chucking flat plate portion 110B and is not applied to the through-hole region 410 again is specified as the position of the chucking flat plate portion 110B. Any condition can be used as long as it is possible.
(7) In the embodiment, the metal has been described as the material of the shield plate 120 and the shield frame 110, but any material other than metal may be used as long as the material suppresses transmission of electromagnetic waves.
(8) In the embodiment, the shape of the through-hole 140 is the same shape as the through-hole region 410 with an accuracy of several tens of μm. However, if the portion facing the chucking region is not included, the target electromagnetic wave The shape may be larger than the through-hole region 410 within a range that is sufficiently smaller than the wavelength.

貫通孔領域410よりも大きな形状となる場合は、デジアナ混在IC130が発生する電磁波ノイズがチャッキング平板部110Bを介して伝搬して、再び貫通孔領域410に印加される電磁波が増えることもないし、電磁波を発生させる領域であるチャッキング領域に貫通孔140が対向する部分を含まなければ、電磁波の波長に比べて貫通孔140が十分に小さい大きさなので、貫通孔140を通って電磁波が通り抜けてしまうこともない。
(9)実施の形態において、特定者が手作業によって貫通孔140の部位を特定する場合について説明したが、ソフトウエアで記述されたプログラムに従って動作する装置等を用いて、全てもしくは一部を自動的に処理するようにしても構わない。また、特定者が手作業によってチャッキング平板部110Bを配置する位置を特定する場合について説明したが、ソフトウエアで記述されたプログラムに従って動作する装置等を用いて、全てもしくは一部を自動的に処理するようにしても構わない。
(10)実施の形態において、シールドフレーム110には、強度を補強する為の補強材として、左腕部110Cと右腕部110Dを備えているとして説明したが、補強材を備えていなくても構わないし、これ以外の形状の補強材を備えていても構わない。
(11)実施の形態において、シールド板120の厚さは0.1mm、チャッキング平板部110Bの厚さは0.2mm、シールド壁部110Aの高さは1.3mm、厚さ0.2mmとしたが、これ以外の大きさであっても構わない。
(12)実施の形態において、携帯通信端末1000にシールド板120を用いる場合を例として説明したが、携帯通信端末以外の機器に用いても構わない。
When the shape is larger than the through-hole region 410, the electromagnetic noise generated by the digital / analog mixed IC 130 propagates through the chucking flat plate portion 110B, and the electromagnetic wave applied to the through-hole region 410 again does not increase. If the chucking region, which is an electromagnetic wave generating region, does not include a portion where the through hole 140 is opposed, the through hole 140 is sufficiently small compared to the wavelength of the electromagnetic wave, so that the electromagnetic wave passes through the through hole 140. There is no end to it.
(9) In the embodiment, the case where the specific person manually specifies the portion of the through hole 140 has been described. However, all or part of the automatic operation is automatically performed using a device that operates according to a program described in software. You may make it process it. In addition, the case where the specific person manually specifies the position where the chucking flat plate portion 110B is arranged has been described. However, all or part of the specification is automatically performed using a device that operates according to a program described in software. You may make it process.
(10) In the embodiment, the shield frame 110 has been described as including the left arm portion 110C and the right arm portion 110D as reinforcing materials for reinforcing the strength. However, the shield frame 110 may not include the reinforcing material. A reinforcing material having a shape other than this may be provided.
(11) In the embodiment, the thickness of the shield plate 120 is 0.1 mm, the thickness of the chucking flat plate portion 110B is 0.2 mm, the height of the shield wall portion 110A is 1.3 mm, and the thickness is 0.2 mm. However, it may be other sizes.
(12) Although the case where the shield plate 120 is used for the mobile communication terminal 1000 has been described as an example in the embodiment, it may be used for devices other than the mobile communication terminal.

例えば、医療機器等の、特定の部位に電磁波ノイズを受けることで不都合が生じるような機器において、電磁波ノイズを放出するデジアナ混在ICがある場合等に、この機器にシールド板120を用いる場合等が考えられる。
(13)携帯通信端末は、デジタル回路と、アナログ信号処理を行うアナログ回路とが組み込まれたICと、前記ICが配置されている基板と、前記ICの主表面を覆うように配置された、前記ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズのシールド板とを備える携帯通信端末であって、前記シールド板は、前記ICの主表面における領域であって、所定の電磁波を受けると前記ICのアナログ回路の性能を低下させる領域に対応する部位に、貫通孔が開設されていることを特徴としてもよい。
For example, when there is a digital / analog mixed IC that emits electromagnetic wave noise in a device such as a medical device that is inconvenienced by receiving electromagnetic wave noise at a specific site, the shield plate 120 may be used for this device. Conceivable.
(13) The mobile communication terminal is disposed so as to cover an IC in which a digital circuit and an analog circuit that performs analog signal processing are incorporated, a substrate on which the IC is disposed, and a main surface of the IC. A portable communication terminal comprising a shield plate for electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC, wherein the shield plate is a region on the main surface of the IC, and when receiving a predetermined electromagnetic wave, the analog circuit of the IC It is good also as a feature that the through-hole is opened in the site | part corresponding to the area | region which reduces the performance of this.

上述の構成を備える携帯通信端末が備えるシールド板は貫通孔を開設され、この貫通孔に対応するICの主表面における領域は、所定の電磁波を受けると当該ICのアナログ回路の性能を所定の性能より低下させる脆弱領域となっている。
シールド板に貫通孔を開設することによって、シールド板が有する貫通孔に対応するICの主表面の領域には、ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズが、当該ICを覆う前記シールド板を介して伝搬しない為、所定の電磁波を受けるとRF回路の性能を所定以下に低下させる領域への、ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズの、シールド板を介した伝搬量を抑制することができるようになり、RF回路の性能が所定の性能より低下することを抑制する携帯通信端末を提供することができるという効果を有する。
(14)携帯通信端末はさらに、前記基板に立設するシールドフレームとを備え、前記シールドフレームは、前記ICの側周面を取り囲む壁部と、当該シールドフレームをチャッキングツールでチャックして搬送する際に使用するチャッキング平板部とを有し、前記壁部の上端側に前記シールド板が取着され、前記チャッキング平板部は、前記ICと前記シールド板とに挟まれて、前記ICの主表面の一部を覆い、前記領域を覆わない位置に存在していることを特徴としても良い。
The shield plate provided in the mobile communication terminal having the above-described configuration is provided with a through hole, and the region on the main surface of the IC corresponding to the through hole receives the predetermined electromagnetic wave, and the performance of the analog circuit of the IC is set to the predetermined performance. It has become a more vulnerable area.
By opening a through hole in the shield plate, electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC is generated in the region of the main surface of the IC corresponding to the through hole of the shield plate through the shield plate covering the IC. Because it does not propagate, the amount of propagation through the shield plate of the electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC to the area where the performance of the RF circuit is lowered below a predetermined level when receiving a predetermined electromagnetic wave can be suppressed. Thus, there is an effect that it is possible to provide a mobile communication terminal that suppresses a decrease in the performance of the RF circuit from a predetermined performance.
(14) The mobile communication terminal further includes a shield frame erected on the substrate, and the shield frame is transported by chucking the shield frame with a chucking tool and a wall portion surrounding the side peripheral surface of the IC. A chucking flat plate portion to be used when the shield plate is attached to the upper end side of the wall portion, and the chucking flat plate portion is sandwiched between the IC and the shield plate, and the IC It may be characterized in that it is present at a position that covers a part of the main surface of the material and does not cover the region.

ここでチャッキング平板部とは、携帯通信端末の組み立て工程において、シールドフレームを搬送する際に必要な、吸着盤等で代表されるチャッキングツールによってチャック(吸着)される為に板状構造をしたシールドフレームの一部分のことである。
これにより、チャッキング平板部が覆う領域が、ICの主表面のうち、所定の電磁波を受けると当該RF回路の性能を所定の性能より低下させる領域を除く領域とすることによって、ICからシールド板へ伝搬する電磁波ノイズを抑制することができるという効果を有し、また、壁部がICを取り囲むことによって、アンテナへ帰還する電磁波ノイズをより抑制することができるという効果を有する。
Here, the chucking flat plate portion is a plate-like structure that is chucked (sucked) by a chucking tool represented by a suction disk or the like necessary for transporting the shield frame in the assembly process of the mobile communication terminal. A part of the shield frame.
As a result, the area covered by the chucking flat plate portion is the area excluding the area that reduces the performance of the RF circuit below the predetermined performance when receiving a predetermined electromagnetic wave on the main surface of the IC. The electromagnetic wave noise propagating to the antenna can be suppressed, and the wall portion surrounds the IC, whereby the electromagnetic wave noise returning to the antenna can be further suppressed.

さらに、携帯通信端末の組み立て工程において使用するチャッキング平板部を、前述したICからシールド板へ伝搬する電磁波ノイズを抑制するシールドとして兼用することとするので、従来の携帯通信端末の組み立て工程と比べて、新たな部品、工程等を必要とせずに、前述のアンテナへ帰還する電磁波ノイズを抑制することができるという効果を有する。
(15)シールド板に開設する貫通孔の部位を特定する方法は、基板上のICの主表面を覆うように配置され、前記ICが放出する電磁波ノイズの透過を抑制するシールド板に開ける貫通孔の部位を特定する方法であって、前記ICの主表面における複数の小領域の各々に、スポット的に電磁波を印加する電磁波印加ステップと、前記電磁波印加ステップにより、複数の小領域の各々に、所定の電磁波を印加している期間毎に、前記ICの性能を測定する性能測定ステップと、前記性能測定ステップで測定された前記ICの性能毎に、所定の性能を満たしているか否かを判定する性能判定ステップと、前記性能判定ステップで否定的な判定であった場合毎に、前記ICの性能が満たさないと判定されたところの小領域に対応する前記シールド板の部位を、前記貫通孔の部位であると特定する貫通孔部位特定ステップとからなることを特徴としても良い。
Furthermore, since the chucking flat plate portion used in the assembly process of the mobile communication terminal is also used as a shield for suppressing the electromagnetic wave noise propagating from the IC to the shield plate, it is compared with the assembly process of the conventional mobile communication terminal. Thus, there is an effect that the electromagnetic wave noise returning to the antenna can be suppressed without requiring new parts and processes.
(15) A method for specifying a portion of a through-hole to be opened in a shield plate is a through-hole that is disposed so as to cover the main surface of the IC on the substrate and that opens in the shield plate that suppresses transmission of electromagnetic wave noise emitted by the IC. In the method of identifying the part of the IC, an electromagnetic wave application step of applying an electromagnetic wave in a spot manner to each of the plurality of small regions on the main surface of the IC, and each of the plurality of small regions by the electromagnetic wave application step, For each period of applying a predetermined electromagnetic wave, a performance measurement step for measuring the performance of the IC and a determination as to whether or not the predetermined performance is satisfied for each performance of the IC measured in the performance measurement step And the shield corresponding to the small area where it is determined that the performance of the IC is not satisfied every time the performance determination step is negative. Site of, may be characterized by comprising a through-hole portion specifying step of specifying as a part of the through hole.

これにより、小領域毎にICの性能を測定することで、シールド板に貫通孔を開設する部位を小領域単位で特定することができる為に、小領域の大きさに応じた精度で、シールド板に貫通孔を開設する部位を特定することができるようになるという効果を有する。   As a result, by measuring the IC performance for each small area, the part where the through hole is opened in the shield plate can be specified in units of small areas. Therefore, the shield can be accurately controlled according to the size of the small area. It has the effect that the part which opens a through-hole in a board can be specified now.

100 携帯通信端末筺体
110 シールドフレーム
110A シールド壁部
110B チャッキング平板部
120 シールド板
130 デジアナ混在IC
140 貫通孔
150 基板
220 アンテナ
1000 携帯通信端末
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Mobile communication terminal housing 110 Shield frame 110A Shield wall part 110B Chucking flat plate part 120 Shield board 130 Digital / analog mixed IC
140 Through-hole 150 Substrate 220 Antenna 1000 Mobile communication terminal

Claims (2)

デジタル回路と、アナログ信号処理を行うアナログ回路とが組み込まれたICと、
前記ICが配置されている基板と、
前記ICの主表面を覆うように配置された、前記ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズのシールド板と
前記基板に立設するシールドフレームとを備える携帯通信端末であって、
前記シールド板は、前記ICの主表面における領域であって、所定の電磁波を受けると前記ICのアナログ回路の性能を低下させる第1領域に対応する部位に、貫通孔が開設され
前記シールドフレームは、前記ICの側周面を取り囲む壁部と、平板部とを有し、
前記壁部の上端側に前記シールド板が取着され、
前記平板部は、前記ICと前記シールド板とに挟まれて、前記ICの主表面の内の、前記所定の電磁波を放出し得る第2領域の少なくとも一部を覆い、前記第1領域を覆わない位置に存在していることを特徴とする
携帯通信端末。
An IC incorporating a digital circuit and an analog circuit for performing analog signal processing;
A substrate on which the IC is disposed;
A shield plate for electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC, disposed so as to cover the main surface of the IC ;
A mobile communication terminal comprising a shield frame standing on the substrate ,
The shield plate is a region on the main surface of the IC, and a through hole is opened in a portion corresponding to a first region that reduces the performance of the analog circuit of the IC when receiving a predetermined electromagnetic wave ,
The shield frame has a wall portion that surrounds a side peripheral surface of the IC, and a flat plate portion,
The shield plate is attached to the upper end side of the wall portion,
The flat plate portion is sandwiched between the IC and the shield plate, covers at least a part of the second region that can emit the predetermined electromagnetic wave, and covers the first region, on the main surface of the IC. A mobile communication terminal characterized by being present at a position not present .
デジタル回路と、アナログ信号処理を行うアナログ回路とが組み込まれたICから放出される電磁波ノイズをシールドするシールド構造体であって、
前記ICが配置されている基板と、
前記ICの主表面を覆うように配置された、前記ICのデジタル回路が放出する電磁波ノイズのシールド板と
前記基板に立設するシールドフレームとを備え、
前記シールド板は、前記ICの主表面における領域であって、所定の電磁波を受けると前記ICのアナログ回路の性能を低下させる第1領域に対応する部位に、貫通孔が開設され
前記シールドフレームは、前記ICの側周面を取り囲む壁部と、平板部とを有し、
前記壁部の上端側に前記シールド板が取着され、
前記平板部は、前記ICと前記シールド板とに挟まれて、前記ICの主表面の内の、前記所定の電磁波を放出し得る第2領域の少なくとも一部を覆い、前記第1領域を覆わない位置に存在していることを特徴とする
シールド構造体。
A shield structure that shields electromagnetic noise emitted from an IC in which a digital circuit and an analog circuit that performs analog signal processing are incorporated ,
A substrate on which the IC is disposed;
A shield plate for electromagnetic noise emitted by the digital circuit of the IC, disposed so as to cover the main surface of the IC ;
A shield frame standing on the substrate ,
The shield plate is a region on the main surface of the IC, and a through hole is opened in a portion corresponding to a first region that reduces the performance of the analog circuit of the IC when receiving a predetermined electromagnetic wave ,
The shield frame has a wall portion that surrounds a side peripheral surface of the IC, and a flat plate portion,
The shield plate is attached to the upper end side of the wall portion,
The flat plate portion is sandwiched between the IC and the shield plate, covers at least a part of the second region that can emit the predetermined electromagnetic wave, and covers the first region, on the main surface of the IC. It is characterized by being present at no position
Shield structure.
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