JP5454214B2 - Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell - Google Patents

Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell Download PDF

Info

Publication number
JP5454214B2
JP5454214B2 JP2010036156A JP2010036156A JP5454214B2 JP 5454214 B2 JP5454214 B2 JP 5454214B2 JP 2010036156 A JP2010036156 A JP 2010036156A JP 2010036156 A JP2010036156 A JP 2010036156A JP 5454214 B2 JP5454214 B2 JP 5454214B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
compound semiconductor
layer
buffer layer
gel sheet
solar cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010036156A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011171653A (en
Inventor
雅人 栗原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP2010036156A priority Critical patent/JP5454214B2/en
Publication of JP2011171653A publication Critical patent/JP2011171653A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5454214B2 publication Critical patent/JP5454214B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Description

本発明は化合物半導体バッファ層の製造方法及び化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing a compound semiconductor buffer layer and a method for producing a compound semiconductor thin film solar cell.

普及が進んできているバルク結晶シリコン太陽電池に替わって、薄膜状の半導体層を光吸収層として用いる薄膜太陽電池の開発が進んでいる。中でも、Ib族とIIIb族とVIb族とを含むp型の化合物半導体層を光吸収層とする薄膜太陽電池は、高いエネルギー変換効率を示し、光による劣化の影響を受け難いことから、次世代の太陽電池として期待されている。特に、CIGS層やCIGSS層と呼ばれる、Cu(In,Ga1−x(Se,S1−y層(ここで、0<x<1、0<y≦1、0<i,jである。)を光吸収層として備えた薄膜太陽電池において、高い変換効率が得られている(例えば、下記特許文献1〜2参照)。 Development of thin film solar cells using thin film semiconductor layers as light absorption layers is progressing instead of bulk crystal silicon solar cells that have become widespread. Among these, the thin-film solar cell using a p-type compound semiconductor layer including a group Ib, a group IIIb, and a group VIb as a light absorption layer exhibits high energy conversion efficiency and is hardly affected by deterioration due to light. Is expected as a solar cell. In particular, a Cu (In x , Ga 1-x ) i (Se y , S 1-y ) j layer (where 0 <x <1, 0 <y ≦ 1, 0 <, called a CIGS layer or a CIGSS layer) i, j.) is obtained as a light absorption layer, and high conversion efficiency is obtained (for example, see Patent Documents 1 and 2 below).

また、CIGSやCIGSS、CZTS(CuZnSnS)等の化合物半導体を光吸収層に用いた薄膜太陽電池において、バッファ層には一般的に硫化カドミウム(以下、「CdS」と記す。)が用いられている。このCdSバッファ層は、主に湿式法により作製されている(例えば、下記特許文献3参照)。 In a thin film solar cell using a compound semiconductor such as CIGS, CIGSS, or CZTS (Cu 2 ZnSnS 4 ) as a light absorption layer, cadmium sulfide (hereinafter referred to as “CdS”) is generally used for the buffer layer. It has been. This CdS buffer layer is mainly produced by a wet method (for example, see Patent Document 3 below).

特表2009−515343号公報Special table 2009-515343 特表平10−513606号公報Japanese National Patent Publication No. 10-513606 米国特許第4,611,091号明細書US Pat. No. 4,611,091

しかしながら、CdSバッファ層を湿式法で作製した場合、均一な層を再現性良く形成することが困難であったり、CdSのコロイドが化合物半導体光吸収層の表面に不均一に付着しやすいなどの問題がある。   However, when the CdS buffer layer is produced by a wet method, it is difficult to form a uniform layer with good reproducibility, or the CdS colloid tends to adhere unevenly to the surface of the compound semiconductor light absorption layer. There is.

本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、均一なCdSバッファ層を形成することができる化合物半導体バッファ層の製造方法、及び、それを用いた化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art, and a method for manufacturing a compound semiconductor buffer layer capable of forming a uniform CdS buffer layer, and a compound semiconductor thin film solar cell using the same An object is to provide a manufacturing method.

上記目的を達成するために、本発明は、カドミウム塩水溶液と、カドミウム塩と共通のアニオンを有するアンモニウム塩水溶液とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートAを得る工程と、チオ尿素水溶液とアンモニア水とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートBを得る工程と、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体又はCuZnSnSからなる化合物半導体光吸収層を30℃以上に加熱し、該化合物半導体光吸収層上に上記ゲルシートAを密着させた後、該ゲルシートA上に上記ゲルシートBを重ねる工程と、上記ゲルシートA及びBを上記化合物半導体光吸収層から剥離する工程と、上記化合物半導体光吸収層を洗浄及び乾燥することにより、該化合物半導体光吸収層上に硫化カドミウムからなる化合物半導体バッファ層を形成する工程と、を有する化合物半導体バッファ層の製造方法を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention comprises a step of impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed solution containing an aqueous cadmium salt solution and an aqueous ammonium salt solution having a common anion with the cadmium salt to obtain a gel sheet A; , A step of impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed liquid containing a thiourea aqueous solution and ammonia water to obtain a gel sheet B; and a compound semiconductor containing Cu group elements Ib, IIIb and VIb or Cu 2 ZnSnS 4 Heating the compound semiconductor light absorbing layer comprising 30 ° C. or more to adhere the gel sheet A onto the compound semiconductor light absorbing layer, and then superimposing the gel sheet B on the gel sheet A; and the gel sheets A and B Is removed from the compound semiconductor light absorption layer, and the compound semiconductor light absorption layer is washed and dried to thereby produce the compound semiconductor. To provide a manufacturing method of a compound semiconductor buffer layer having a step of forming a compound semiconductor buffer layer of cadmium sulfide in the light absorbing layer, a.

かかる化合物半導体バッファ層の製造方法によれば、反応場としてゲルシートを用いることにより、擬似的に乾式法としてCdSバッファ層を形成することができる。そのため、本発明の製造方法においては、湿式法の場合のような液浴の浪費を抑制することができ、且つ、CdSのコロイドが化合物半導体光吸収層の表面に不均一に付着することを抑制することができる。そして、本発明の製造方法によれば、ゲルシートを用いることにより、化合物半導体光吸収層上に均一なCdSバッファ層を効率的に且つ再現性良く形成することができる。   According to such a method for producing a compound semiconductor buffer layer, a CdS buffer layer can be formed as a pseudo dry method by using a gel sheet as a reaction field. Therefore, in the production method of the present invention, waste of the liquid bath as in the case of the wet method can be suppressed, and CdS colloid can be prevented from adhering unevenly to the surface of the compound semiconductor light absorption layer. can do. And according to the manufacturing method of this invention, a uniform CdS buffer layer can be efficiently and reproducibly formed on a compound semiconductor light absorption layer by using a gel sheet.

本発明はまた、上記本発明の化合物半導体バッファ層の製造方法により、上記化合物半導体光吸収層上に上記化合物半導体バッファ層を形成する工程を有する、化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法を提供する。   The present invention also provides a method for producing a compound semiconductor thin film solar cell, comprising the step of forming the compound semiconductor buffer layer on the compound semiconductor light absorption layer by the method for producing a compound semiconductor buffer layer of the present invention.

かかる化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法によれば、上記本発明の化合物半導体バッファ層の製造方法により化合物半導体光吸収層上に均一で高透過率なCdSバッファ層を形成することができるため、高変換効率で安定した特性を有する化合物半導体薄膜太陽電池を得ることができる。   According to such a method for manufacturing a compound semiconductor thin film solar cell, a uniform and high transmittance CdS buffer layer can be formed on the compound semiconductor light absorption layer by the method for manufacturing a compound semiconductor buffer layer of the present invention. A compound semiconductor thin film solar cell having stable characteristics with conversion efficiency can be obtained.

本発明によれば、均一なCdSバッファ層を効率的に且つ再現性良く形成することができる化合物半導体バッファ層の製造方法、及び、それを用いた化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the compound semiconductor buffer layer which can form a uniform CdS buffer layer efficiently and with sufficient reproducibility, and the manufacturing method of a compound semiconductor thin film solar cell using the same are provided. Can do.

本発明の製造方法により製造される化合物半導体薄膜太陽電池の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the compound semiconductor thin film solar cell manufactured by the manufacturing method of this invention.

以下、場合により図面を参照しつつ本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面中、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。更に、図面の寸法比率は図示の比率に限られるものではない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as the case may be. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, the positional relationship such as up, down, left and right is based on the positional relationship shown in the drawings unless otherwise specified. Further, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the illustrated ratios.

図1は、本発明の製造方法により製造される化合物半導体薄膜太陽電池の一例を示す概略断面図である。図1に示すように、太陽電池2は、ソーダライムガラス4(青板ガラス)と、ソーダライムガラス4上に形成された裏面電極層6と、裏面電極層6上に形成された化合物半導体光吸収層8と、該光吸収層8上に形成された化合物半導体バッファ層(CdSバッファ層)10と、CdSバッファ層10上に形成された半絶縁層12と、半絶縁層12上に形成された窓層14(透明導電層)と、窓層14上に形成された上部電極16(取り出し電極)と、を備える薄膜型太陽電池である。   FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a compound semiconductor thin film solar cell produced by the production method of the present invention. As shown in FIG. 1, the solar cell 2 includes soda lime glass 4 (blue plate glass), a back electrode layer 6 formed on the soda lime glass 4, and a compound semiconductor light absorption formed on the back electrode layer 6. Layer 8, compound semiconductor buffer layer (CdS buffer layer) 10 formed on light absorption layer 8, semi-insulating layer 12 formed on CdS buffer layer 10, and formed on semi-insulating layer 12 The thin film solar cell includes a window layer 14 (transparent conductive layer) and an upper electrode 16 (extraction electrode) formed on the window layer 14.

光吸収層8は、Ib族元素(第11族元素)、IIIb族元素(第13族元素)及びVIb族元素(第16族元素)を含む化合物半導体、又は、CZTSと呼ばれるCuZnSnSで構成されるp型化合物半導体層である。ここで、Ib族元素としては、Cu、Ag及びAuが挙げられる。IIIb族元素としては、B、Al、Ga、In及びTlが挙げられる。VIb族元素としては、O、S、Se及びTeが挙げられる。 The light absorption layer 8 is a compound semiconductor containing a group Ib element (group 11 element), a group IIIb element (group 13 element) and a group VIb element (group 16 element), or Cu 2 ZnSnS 4 called CZTS. The p-type compound semiconductor layer is configured. Here, Cu, Ag, and Au are mentioned as an Ib group element. Examples of group IIIb elements include B, Al, Ga, In, and Tl. Examples of the group VIb element include O, S, Se, and Te.

Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体として具体的には、CIGSやCIGSSと呼ばれるCu(In,Ga1−x(Se,S1−y、及び、Cu(In,Ga1−x(Se,S1−y中のGaをAlに変えた化合物半導体等が挙げられる。ここで、0<x<1、0<y≦1、0<i,jである。Cu(In,Ga1−x(Se,S1−yとして典型的には、i=1、j=2である化合物、i=3、j=5である化合物が挙げられる。Cuのモル比は1以下でも良く、例えば、0.65〜0.95であることができる。 Specifically, as a compound semiconductor containing an Ib group element, an IIIb group element, and a VIb group element, Cu (In x , Ga 1-x ) i (Se y , S 1-y ) j called CIGS or CIGSS, and Cu (in x, Ga 1- x) i (Se y, S 1-y) compounds of Ga in the j was changed to Al semiconductor, and the like. Here, 0 <x <1, 0 <y ≦ 1, 0 <i, j. Cu (In x , Ga 1-x ) i (Se y , S 1-y ) j typically includes compounds in which i = 1 and j = 2, and compounds in which i = 3 and j = 5. It is done. The molar ratio of Cu may be 1 or less, for example, 0.65 to 0.95.

また、InとGaとのモル比や、SeとSとのモル比を調整することにより、禁制帯幅Egを適宜制御することができる。   In addition, the forbidden band width Eg can be appropriately controlled by adjusting the molar ratio of In and Ga and the molar ratio of Se and S.

本実施形態において、光吸収層8は、CIGS又はCZTSで構成される層であることが好ましい。   In the present embodiment, the light absorption layer 8 is preferably a layer made of CIGS or CZTS.

また、CdSバッファ層10は、硫化カドミウム(CdS)で構成されるn型化合物半導体層である。   The CdS buffer layer 10 is an n-type compound semiconductor layer made of cadmium sulfide (CdS).

以下、本発明の化合物半導体バッファ層の製造方法、及び、それを用いた本発明の化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法の好適な実施形態として、上述した構造を有する太陽電池2を製造する場合を例に説明する。   Hereinafter, as a preferred embodiment of the method for producing the compound semiconductor buffer layer of the present invention and the method for producing the compound semiconductor thin-film solar cell of the present invention using the same, a case where the solar cell 2 having the above-described structure is produced is described. Explained as an example.

本実施形態では、まず、ソーダライムガラス4上に裏面電極層6を形成する。裏面電極層6は、通常、Moから構成される金属層である。裏面電極層6の形成方法としては、例えばMoターゲットのスパッタリング等が挙げられる。   In the present embodiment, first, the back electrode layer 6 is formed on the soda lime glass 4. The back electrode layer 6 is usually a metal layer made of Mo. Examples of the method for forming the back electrode layer 6 include sputtering of a Mo target.

ソーダライムガラス4上に裏面電極層6を形成した後、化合物半導体光吸収層8を裏面電極層6上に形成する。光吸収層8の形成方法としては特に制限されないが、例えば、一段階同時蒸着法(ワンステップ法)、三段階同時蒸着法(NREL法)、固相セレン化法又は気相セレン化法等が挙げられる。   After the back electrode layer 6 is formed on the soda lime glass 4, the compound semiconductor light absorption layer 8 is formed on the back electrode layer 6. A method for forming the light absorption layer 8 is not particularly limited, and examples thereof include a one-step simultaneous vapor deposition method (one-step method), a three-step simultaneous vapor deposition method (NREL method), a solid-phase selenization method, or a vapor-phase selenization method. Can be mentioned.

光吸収層8の形成後、化合物半導体バッファ層(CdSバッファ層)10を光吸収層8上に形成する。CdSバッファ層10は、以下の各工程を経て作製される。   After the formation of the light absorption layer 8, a compound semiconductor buffer layer (CdS buffer layer) 10 is formed on the light absorption layer 8. The CdS buffer layer 10 is manufactured through the following steps.

まず、カドミウム塩水溶液と、カドミウム塩と共通のアニオンを有するアンモニウム塩水溶液とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートAを作製する。ここで、混合液中のカドミウム塩の濃度は、急激な反応で粒子の生成が起こらないようにしつつ、CdSを効率的に合成する観点から、0.2〜100mMとすることが好ましく、1〜50mMとすることがより好ましい。また、混合液中のアンモニウム塩の濃度は、急激な反応でコロイド粒子の生成が起こらないようにしつつ、CdSを効率的に合成する観点から、安定なカドミウムイオンのアンモニウム錯体を形成させるため、カドミウム塩の濃度の1〜10倍とすることが好ましく、2〜5倍とすることがより好ましい。   First, a gel sheet A is produced by impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed solution containing an aqueous solution of cadmium salt and an aqueous solution of ammonium salt having a common anion with the cadmium salt. Here, the concentration of the cadmium salt in the mixed solution is preferably 0.2 to 100 mM from the viewpoint of efficiently synthesizing CdS while preventing generation of particles due to a rapid reaction. More preferably, it is 50 mM. In addition, the concentration of ammonium salt in the mixed solution is such that a stable ammonium complex of cadmium ions is formed from the viewpoint of efficiently synthesizing CdS while preventing the generation of colloidal particles by a rapid reaction. The concentration is preferably 1 to 10 times the salt concentration, and more preferably 2 to 5 times.

カドミウム塩としては、塩化カドミウム、硫酸カドミウム、酢酸カドミウム、硝酸カドミウム、ヨウ化カドミウムなどが挙げられる。また、アンモニウム塩はカドミウム塩と共通のアニオンを有するものを用いる。   Examples of the cadmium salt include cadmium chloride, cadmium sulfate, cadmium acetate, cadmium nitrate, and cadmium iodide. As the ammonium salt, one having a common anion with the cadmium salt is used.

高吸水性高分子シートは、水を吸収して膨潤する性質を有する高吸水性高分子をシート状に形成したものである。この高吸水性高分子をホストとし、これに上記混合液を含浸させることでゲル化させることができる。高吸水性高分子としては、例えば、水溶性高分子を不溶化したものとして、セルロースアセテート、ポリビニルアルコール、ポリ−N−ビニルピロリドン、ポリアクリルアミド、セルロース、カルボキシメチルセルロース、ニトロセルロース、シアノエチルセルロース、セルロースサルフェート、ヘパリン、ペクチン、アルギン酸、ヒドロキシメチルセルロース、イソプロピルセルロース、ポリアクリル酸、ポリエチレンオキシド等の熱処理物や架橋物、あるいはこれら水溶性高分子のうち2種以上の高分子を架橋して得られた共重合体を用いることができる。例えば、水溶性高分子がポリビニルアルコールの場合、架橋剤としてほう酸を添加することにより、水溶性高分子同士が2次架橋して擬固体化状態となり、強度を高めることができる。   The superabsorbent polymer sheet is obtained by forming a superabsorbent polymer in the form of a sheet having the property of absorbing water and swelling. This highly water-absorbing polymer can be used as a host and gelled by impregnating it with the above mixed solution. Examples of the superabsorbent polymer include, for example, cellulose acetate, polyvinyl alcohol, poly-N-vinylpyrrolidone, polyacrylamide, cellulose, carboxymethyl cellulose, nitrocellulose, cyanoethyl cellulose, cellulose sulfate, Heparin, pectin, alginic acid, hydroxymethylcellulose, isopropylcellulose, polyacrylic acid, polyethylene oxide and other heat-treated products or cross-linked products, or copolymers obtained by cross-linking two or more of these water-soluble polymers Can be used. For example, when the water-soluble polymer is polyvinyl alcohol, by adding boric acid as a cross-linking agent, the water-soluble polymers are secondarily crosslinked to become a quasi-solidified state, and the strength can be increased.

また、水によって殆ど膨潤しない非水溶性高分子であっても、水溶性高分子と適当な分率で共重合し、水中での膨潤度を向上させることにより、高吸水性高分子として用いることができる。こうした非水溶性高分子としては、例えば、ポリビニリデンフルオライド、ポリテトラフルオロエチレンが挙げられる。   Also, even water-insoluble polymers that hardly swell with water can be used as highly water-absorbing polymers by copolymerizing with water-soluble polymers at an appropriate fraction and improving the degree of swelling in water. Can do. Examples of such a water-insoluble polymer include polyvinylidene fluoride and polytetrafluoroethylene.

また、光架橋性のモノマーを水溶性高分子溶液に溶解させておき、製膜後に光照射して架橋構造を作ることで、高吸水性高分子シートを得ることもできる。これらの高分子としては、例えば、光架橋性ポリビニルアルコール、光架橋性ポリエチレンオキシド、光架橋性ポリエチレングリコールなどが挙げられる。   Alternatively, a highly water-absorbing polymer sheet can be obtained by dissolving a photocrosslinkable monomer in a water-soluble polymer solution and forming a crosslinked structure by light irradiation after film formation. Examples of these polymers include photocrosslinkable polyvinyl alcohol, photocrosslinkable polyethylene oxide, and photocrosslinkable polyethylene glycol.

更に、水溶性高分子に対して、イオン性高分子としてポリビニルスルホン酸やポリスチレンスルホン酸、ナフィオン(登録商標)等をコーティングしたものを高吸水性高分子として用いることもできる。   Furthermore, what coated polyvinyl sulfonic acid, polystyrene sulfonic acid, Nafion (trademark) etc. as an ionic polymer with respect to water-soluble polymer can also be used as a highly water-absorbing polymer.

ゲルシートAに使用する高吸水性高分子シートのゲル化後の厚さは、光吸収層8上にCdSバッファ層10を効率的に形成する観点から、0.05〜10mmであることが好ましく、0.5〜5mmであることがより好ましい。   From the viewpoint of efficiently forming the CdS buffer layer 10 on the light absorption layer 8, the thickness after gelation of the superabsorbent polymer sheet used for the gel sheet A is preferably 0.05 to 10 mm. More preferably, it is 0.5-5 mm.

ゲルシートAにおいて、高吸水性高分子シートへの混合液の含浸量は、高吸水性高分子シート1質量部に対して5〜200質量部とすることが好ましく、20〜100質量部とすることがより好ましい。   In gel sheet A, the amount of impregnation of the mixed liquid into the superabsorbent polymer sheet is preferably 5 to 200 parts by mass, and preferably 20 to 100 parts by mass with respect to 1 part by mass of the superabsorbent polymer sheet. Is more preferable.

一方、チオ尿素水溶液とアンモニア水とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートBを作製する。ここで、混合液中のチオ尿素の濃度は、CdSを均一かつ効率的に合成する観点から、カドミウム塩の濃度の2〜40倍とすることが好ましく、5〜30倍とすることがより好ましい。また、混合液中のアンモニアの濃度は、安定にS2−イオンを得て、CdSを効率的に合成する観点から、0.2〜7Mとすることが好ましく、1〜5Mとすることがより好ましい。 On the other hand, a gel sheet B is prepared by impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed liquid containing an aqueous thiourea solution and aqueous ammonia. Here, the concentration of thiourea in the mixed solution is preferably 2 to 40 times, more preferably 5 to 30 times the concentration of the cadmium salt from the viewpoint of uniformly and efficiently synthesizing CdS. . The concentration of ammonia in the mixed solution is preferably 0.2 to 7M, more preferably 1 to 5M from the viewpoint of stably obtaining S 2− ions and efficiently synthesizing CdS. preferable.

ゲルシートBに用いる高吸水性高分子シートとしては、ゲルシートAに用いる高吸水性高分子シートと同様のものを用いることができる。ゲルシートBに使用する高吸水性高分子シートの厚さは、光吸収層8上にCdSバッファ層10を効率的に形成する観点から、0.05〜10mmであることが好ましく、0.5〜5mmであることがより好ましい。   As the superabsorbent polymer sheet used for the gel sheet B, the same superabsorbent polymer sheet used for the gel sheet A can be used. From the viewpoint of efficiently forming the CdS buffer layer 10 on the light absorption layer 8, the thickness of the superabsorbent polymer sheet used for the gel sheet B is preferably 0.05 to 10 mm, More preferably, it is 5 mm.

ゲルシートBにおいて、高吸水性高分子シートへの混合液の含浸量は、高吸水性高分子シート1質量部に対して5〜200質量部とすることが好ましく、20〜100質量部とすることがより好ましい。   In gel sheet B, the amount of impregnation of the mixed liquid into the superabsorbent polymer sheet is preferably 5 to 200 parts by mass, and preferably 20 to 100 parts by mass with respect to 1 part by mass of the superabsorbent polymer sheet. Is more preferable.

次に、30℃以上に加熱した光吸収層8上に上記ゲルシートAを密着させた後、該ゲルシートA上に上記ゲルシートBを重ねる。このように、加熱した光吸収層8上で、カドミウムイオンの供給源となるゲルシートAと、硫化物イオンの供給源となるゲルシートBとを接触させることにより、光吸収層8上に均一なCdS膜を形成することができる。特に、カドミウム塩水溶液とアンモニウム塩水溶液とを含む混合液を含浸させたゲルシートA、チオ尿素水溶液とアンモニア水とを含む混合液を含浸させたゲルシートBを用いることにより、ゲルが良好な反応場となってカドミウムイオンと硫化物イオンとの反応を進行させることができ、光吸収層8上に均一なCdS膜を効率的に且つ再現性良く形成することができる。   Next, after making the said gel sheet A closely_contact | adhere on the light absorption layer 8 heated at 30 degreeC or more, the said gel sheet B is piled up on this gel sheet A. FIG. In this way, by bringing the gel sheet A serving as a cadmium ion supply source and the gel sheet B serving as a sulfide ion supply source into contact with each other on the heated light absorption layer 8, uniform CdS is formed on the light absorption layer 8. A film can be formed. In particular, by using a gel sheet A impregnated with a mixed solution containing a cadmium salt aqueous solution and an ammonium salt aqueous solution, and a gel sheet B impregnated with a mixed solution containing a thiourea aqueous solution and ammonia water, a reaction field with a good gel can be obtained. Thus, the reaction between cadmium ions and sulfide ions can proceed, and a uniform CdS film can be efficiently and reproducibly formed on the light absorption layer 8.

ここで、光吸収層8は、ソーダライムガラス4及び裏面電極層6とともに加熱される。光吸収層8の加熱温度は30℃以上であるが、CdSの合成の促進と高温による不具合の防止とを両立させる観点から、45〜80℃とすることが好ましく、55〜70℃とすることがより好ましい。   Here, the light absorption layer 8 is heated together with the soda lime glass 4 and the back electrode layer 6. Although the heating temperature of the light absorption layer 8 is 30 ° C. or higher, it is preferably 45 to 80 ° C., and preferably 55 to 70 ° C. from the viewpoint of achieving both the promotion of CdS synthesis and the prevention of defects due to high temperatures. Is more preferable.

光吸収層8上にゲルシートA及びBを積層する工程において、ゲルシートAを光吸収層8上に密着させた後、時間を置かずにゲルシートBをゲルシートA上に密着させても良いが、光吸収層8へのCdイオンのドープによりCdS層との親和性を向上させる観点から、2〜10分間の時間を置いてからゲルシートBをゲルシートA上に密着させることが好ましい。   In the step of laminating the gel sheets A and B on the light absorption layer 8, after the gel sheet A is closely attached to the light absorption layer 8, the gel sheet B may be closely attached to the gel sheet A without taking time. From the viewpoint of improving the affinity with the CdS layer by doping Cd ions into the absorption layer 8, it is preferable that the gel sheet B is adhered to the gel sheet A after 2 to 10 minutes have elapsed.

次に、ゲルシートA及びBを光吸収層8から剥離する。このとき、ゲルシートBをゲルシートAに密着させた後、時間を置かずにゲルシートA及びBを光吸収層8から剥離しても良いが、光吸収層8上に十分な厚さのCdS膜を均一に形成する観点から、3〜30分間(より好ましくは5〜20分間)の時間を置いてからゲルシートA及びBを光吸収層8から剥離することが好ましい。ゲルシートA及びBは、同時に剥離しても良く、ゲルシートBを剥離してからゲルシートAを剥離してもよい。   Next, the gel sheets A and B are peeled from the light absorption layer 8. At this time, after the gel sheet B is brought into close contact with the gel sheet A, the gel sheets A and B may be peeled off from the light absorption layer 8 without taking time, but a CdS film having a sufficient thickness is formed on the light absorption layer 8. From the viewpoint of uniform formation, it is preferable that the gel sheets A and B are peeled from the light absorbing layer 8 after a time of 3 to 30 minutes (more preferably 5 to 20 minutes) is set. Gel sheets A and B may be peeled off simultaneously, or gel sheet A may be peeled off after gel sheet B is peeled off.

次に、光吸収層8を洗浄及び乾燥することにより、光吸収層8上にCdSバッファ層10を形成する。洗浄は、蒸留水等を用いて行う。乾燥は、洗浄に使用した蒸留水等を十分に除去できる温度及び時間で行う。   Next, the CdS buffer layer 10 is formed on the light absorption layer 8 by washing and drying the light absorption layer 8. Washing is performed using distilled water or the like. Drying is performed at a temperature and time that can sufficiently remove distilled water and the like used for washing.

こうして形成されるCdSバッファ層10の厚さは、30〜100nmであることが好ましく、40〜70nmであることがより好ましい。   The thickness of the CdS buffer layer 10 thus formed is preferably 30 to 100 nm, and more preferably 40 to 70 nm.

CdSバッファ層10の形成後、CdSバッファ層10上に半絶縁層12を形成し、半絶縁層12上に窓層14を形成し、窓層14上に上部電極16を形成する。これにより、太陽電池2が得られる。なお、窓層14上にMgFから構成される反射防止層を形成してもよい。 After the formation of the CdS buffer layer 10, the semi-insulating layer 12 is formed on the CdS buffer layer 10, the window layer 14 is formed on the semi-insulating layer 12, and the upper electrode 16 is formed on the window layer 14. Thereby, the solar cell 2 is obtained. Note that an antireflection layer made of MgF 2 may be formed on the window layer 14.

半絶縁層12としては、例えばi−ZnO層等が挙げられる。窓層14としては、例えばZnO:B又はZnO:Al等が挙げられる。上部電極16は例えばAl又はNi等の金属から構成される。半絶縁層12、窓層14及び上部電極16は、例えばスパッタリング又はMOCVD等によって形成することができる。   Examples of the semi-insulating layer 12 include an i-ZnO layer. Examples of the window layer 14 include ZnO: B or ZnO: Al. The upper electrode 16 is made of a metal such as Al or Ni. The semi-insulating layer 12, the window layer 14, and the upper electrode 16 can be formed by sputtering or MOCVD, for example.

以上、本発明の好適な一実施形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。   As mentioned above, although one suitable embodiment of the present invention was described in detail, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment.

以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to a following example.

(実施例1)
<CdSバッファ層の作製>
蒸留水72.5質量部、0.4M塩化カドミウム(CdCl)水溶液6.5質量部、及び、0.4M塩化アンモニウム(NHCl)水溶液21.0質量部を混合した混合液を調製した。この混合液を、ポリビニルアルコール製の高吸水性高分子シートに含浸させ、厚さ3mmのゲルシートAを作製した。また、0.8Mチオ尿素(CHS)水溶液80質量部、及び、13.8Mアンモニア水20質量部を混合した混合液を調製した。この混合液を、ポリビニルアルコール製の高吸水性高分子シートに含浸させ、厚さ3mmのゲルシートBを作製した。
Example 1
<Preparation of CdS buffer layer>
A mixture was prepared by mixing 72.5 parts by mass of distilled water, 6.5 parts by mass of a 0.4 M cadmium chloride (CdCl 2 ) aqueous solution, and 21.0 parts by mass of a 0.4 M ammonium chloride (NH 4 Cl) aqueous solution. . This mixed solution was impregnated into a superabsorbent polymer sheet made of polyvinyl alcohol to prepare a gel sheet A having a thickness of 3 mm. Further, 0.8 M thiourea (CH 4 N 2 S) aqueous solution 80 parts by mass, and to prepare a liquid mixture of 13.8M ammonia water 20 parts by mass. This mixed solution was impregnated into a superabsorbent polymer sheet made of polyvinyl alcohol to prepare a gel sheet B having a thickness of 3 mm.

まず、60℃に加熱したCIGS(多元蒸着法により形成、Cu0.75In0.7Ga0.3Se)層上に上記ゲルシートAを密着させた。その5分後、ゲルシートA上に上記ゲルシートBを密着させた。その5分後、2層のゲルシートA及びBをCIGS層上から剥離除去し、CIGS層を蒸留水で洗浄した後、乾燥させて、厚さ50nmのCdSバッファ層を得た。 First, the gel sheet A was adhered to a CIGS (formed by a multi-source deposition method, Cu 0.75 In 0.7 Ga 0.3 Se 2 ) layer heated to 60 ° C. After 5 minutes, the gel sheet B was adhered onto the gel sheet A. After 5 minutes, the two gel sheets A and B were peeled off from the CIGS layer, and the CIGS layer was washed with distilled water and dried to obtain a CdS buffer layer having a thickness of 50 nm.

得られたCdSバッファ層を評価したところ、CdSコロイドのCIGS層への付着が確認されず、成膜性が良好であり、均一なCdSバッファ層が形成されていることが確認された。   When the obtained CdS buffer layer was evaluated, adhesion of the CdS colloid to the CIGS layer was not confirmed, it was confirmed that the film forming property was good and a uniform CdS buffer layer was formed.

<太陽電池の作製>
上記CdSバッファ層上に、スパッタリングにより半絶縁層であるi−ZnO層と、窓層であるZnO:Al層とを形成し、蒸着法によりAl上部電極を形成して太陽電池を得た。
<Production of solar cell>
On the CdS buffer layer, an i-ZnO layer as a semi-insulating layer and a ZnO: Al layer as a window layer were formed by sputtering, and an Al upper electrode was formed by vapor deposition to obtain a solar cell.

面積0.5cmに区切った太陽電池セルに対し、ソーラーシミュレーターを用いて、Air Mass 1.5、光強度100mW/cmの光を照射し、I−V測定を行った。その結果、15.4%の変換効率を示した。 To the solar cell, separated into an area 0.5 cm 2, using a solar simulator, Air Mass 1.5, the light intensity 100 mW / cm 2 was irradiated, were I-V measurements. As a result, the conversion efficiency was 15.4%.

(比較例1)
ゲルシートA、Bの代わりに同組成の溶液を用いてCdSバッファ層の形成を行った以外は実施例1と同様にして太陽電池を作製し、同様のI−V測定を行った。その結果、11.3%の変換効率となった。
(Comparative Example 1)
A solar cell was produced in the same manner as in Example 1 except that the CdS buffer layer was formed using a solution having the same composition instead of the gel sheets A and B, and the same IV measurement was performed. As a result, the conversion efficiency was 11.3%.

2…太陽電池、4…ソーダライムガラス、6…裏面電極層、8…化合物半導体光吸収層、10…化合物半導体バッファ層(CdSバッファ層)、12…半絶縁層、14…窓層(透明導電層)、16…上部電極(取り出し電極)。
2 ... Solar cell, 4 ... Soda lime glass, 6 ... Back electrode layer, 8 ... Compound semiconductor light absorption layer, 10 ... Compound semiconductor buffer layer (CdS buffer layer), 12 ... Semi-insulating layer, 14 ... Window layer (transparent conductive) Layer), 16... Upper electrode (extraction electrode).

Claims (2)

カドミウム塩水溶液と、カドミウム塩と共通のアニオンを有するアンモニウム塩水溶液とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートAを得る工程と、
チオ尿素水溶液とアンモニア水とを含む混合液を高吸水性高分子シートに含浸させてゲルシートBを得る工程と、
Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体又はCuZnSnSからなる化合物半導体光吸収層を30℃以上に加熱し、該化合物半導体光吸収層上に前記ゲルシートAを密着させた後、該ゲルシートA上に前記ゲルシートBを重ねる工程と、
前記ゲルシートA及びBを前記化合物半導体光吸収層から剥離する工程と、
前記化合物半導体光吸収層を洗浄及び乾燥することにより、該化合物半導体光吸収層上に硫化カドミウムからなる化合物半導体バッファ層を形成する工程と、
を有する化合物半導体バッファ層の製造方法。
A step of impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed solution containing a cadmium salt aqueous solution and an ammonium salt aqueous solution having a common anion with the cadmium salt to obtain a gel sheet A;
A step of impregnating a superabsorbent polymer sheet with a mixed liquid containing an aqueous thiourea solution and aqueous ammonia to obtain a gel sheet B;
A compound semiconductor light-absorbing layer comprising a compound semiconductor containing a group Ib element, a group IIIb element and a group VIb element or Cu 2 ZnSnS 4 was heated to 30 ° C. or more, and the gel sheet A was adhered to the compound semiconductor light-absorbing layer. Then, the step of stacking the gel sheet B on the gel sheet A,
Peeling the gel sheets A and B from the compound semiconductor light absorbing layer;
Forming a compound semiconductor buffer layer made of cadmium sulfide on the compound semiconductor light absorbing layer by washing and drying the compound semiconductor light absorbing layer; and
The manufacturing method of the compound semiconductor buffer layer which has this.
請求項1記載の化合物半導体バッファ層の製造方法により、前記化合物半導体光吸収層上に前記化合物半導体バッファ層を形成する工程を有する、化合物半導体薄膜太陽電池の製造方法。
A method for producing a compound semiconductor thin-film solar cell, comprising the step of forming the compound semiconductor buffer layer on the compound semiconductor light absorption layer by the method for producing a compound semiconductor buffer layer according to claim 1.
JP2010036156A 2010-02-22 2010-02-22 Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell Expired - Fee Related JP5454214B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010036156A JP5454214B2 (en) 2010-02-22 2010-02-22 Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010036156A JP5454214B2 (en) 2010-02-22 2010-02-22 Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011171653A JP2011171653A (en) 2011-09-01
JP5454214B2 true JP5454214B2 (en) 2014-03-26

Family

ID=44685425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010036156A Expired - Fee Related JP5454214B2 (en) 2010-02-22 2010-02-22 Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5454214B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2993792B1 (en) * 2012-07-26 2017-09-15 Imra Europe Sas CRYSTALLIZED CRYSTALLIZED METAL CHALCOGENIDE (S) FILM, COLLOIDAL SOLUTION OF AMORPHOUS PARTICLES AND METHODS OF PREPARATION.

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000017289A (en) * 1998-07-01 2000-01-18 Car Mate Mfg Co Ltd Peeling composition for glassy film and peeling method
JP2006202919A (en) * 2005-01-19 2006-08-03 Shinko Electric Ind Co Ltd Solar cell module and method of manufacturing same
JP2009534841A (en) * 2006-04-18 2009-09-24 ダウ・コーニング・コーポレイション Photovoltaic devices based on copper indium diselenide and methods for making the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011171653A (en) 2011-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Hsueh et al. Hybrid Cd‐free CIGS solar cell/TEG device with ZnO nanowires
US9647163B2 (en) Solar cell having a double-sided structure, and method for manufacturing same
CN109713131B (en) Organic-inorganic hybrid perovskite homojunction solar cell based on n-i-p structure
US20170243999A1 (en) Solar cell
CN111525037B (en) Preparation method of perovskite/N-type TOPCON/perovskite laminated solar cell
CN112490315A (en) Cadmium telluride solar cell and preparation method thereof
JP5454214B2 (en) Method for producing compound semiconductor buffer layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell
KR101017141B1 (en) 3-Dimensional Junction Solar Cell and Method of Manufacturing Thereof
KR101634620B1 (en) Preparation method of metal oxide photoelectrode, the metal oxide photoelectrode thereby, and Perovskite solar cells comprising the same
CN108832004B (en) Interface modification method for eliminating hysteresis phenomenon of perovskite battery
CN110752297A (en) Ultraviolet-absorbing organic molecule-doped ternary solar cell and preparation method thereof
CN102769072B (en) N-type crystalline silicon solar cell and preparation method thereof
JP5454213B2 (en) Method for producing compound semiconductor light absorption layer and method for producing compound semiconductor thin film solar cell
CN101459206A (en) Manufacturing process for high-efficiency multi-junction solar cell
CN111916521A (en) Double-junction GaAs/Si Schottky junction solar cell with interface plasmon effect and preparation method thereof
CN101521248A (en) Method for manufacturing silica-based high-efficiency double-junction solar battery
KR102262616B1 (en) Method of preparing buffer layer for solar cell using ultraviolet
US11798704B2 (en) Perovskite radiovoltaic-photovoltaic battery
CN112542548B (en) Thin film crystalline silicon perovskite heterojunction solar cell and preparation method thereof
WO2024086975A1 (en) Perovskite solar cell and preparation method therefor, and electric device
WO2024086977A1 (en) Perovskite solar cell and preparation method therefor, and electric device
CN117177638A (en) Sb (Sb) 2 S 3 Method for manufacturing solar cell
EP2784826A2 (en) Method of manufacturing thin film solar cell and thin film solar cell manufactured by the method
KR101069109B1 (en) Thin film solar cell and method of manufacturing the same
EP2804220A2 (en) Method of manufacturing thin film solar cell, device for manufacturing thin film solar cell, and thin film solar cell including buffer layer manufactured by the method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121227

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20130424

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130924

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130925

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131223

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5454214

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees