JP5445848B2 - Object shape evaluation device - Google Patents

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Description

本発明は、測定対象物の形状に対応する多数の測定点とこの測定点に対応する多数の基準点とを位置合わせすることで測定対象物の形状を評価する物体形状評価装置に関する。   The present invention relates to an object shape evaluation apparatus that evaluates the shape of a measurement object by aligning a large number of measurement points corresponding to the shape of the measurement object and a large number of reference points corresponding to the measurement points.

測定点群と基準点群とを位置合わせ(マッチング)することで測定対象物に対する測定結果を評価する従来の技術として、ステレオ視とICP(Iterative Closest Point)アルゴリズムを組み合わせて、被計測物体の位置・姿勢を精度良く計測する画像計測方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。このステレオ画像計測方法では、計測対象の3次元形状を複数台のカメラ画像をステレオ処理することにより計測点群が求められ、計測対象の既知の形状情報とステレオカメラの相対位置・姿勢とから可視部が予測され、予測された可視部の形状情報のみを用い前記計測点群の空間密度に合わせたモデル点群が決定され、前記計測点群とモデル点群の間でICPアルゴリズムを用いてマッチングさせ、最も評価関数が小さなモデル群に対応する位置・姿勢を計測結果として採用される。   As a conventional technique for evaluating the measurement result for a measurement object by aligning (matching) the measurement point group and the reference point group, the position of the object to be measured is combined with stereo vision and an ICP (Iterative Closest Point) algorithm. An image measurement method that accurately measures the posture is known (for example, see Patent Document 1). In this stereo image measurement method, a measurement point cloud is obtained by stereo-processing a plurality of camera images of the three-dimensional shape of the measurement target, and is visible from the known shape information of the measurement target and the relative position and orientation of the stereo camera. The model point cloud is determined according to the spatial density of the measurement point group using only the predicted shape information of the visible part, and matching is performed between the measurement point group and the model point group using an ICP algorithm. The position / orientation corresponding to the model group having the smallest evaluation function is adopted as the measurement result.

しかしながら、ICPアルゴリズムは、原則として例外値を含まない位置データ同士の位置決めまたは融合(両データの最も一致する合同変換を求める問題)を行う手法である。従って、位置決め対象となる距離データ集合内に重複しない不一致部分、またはデータの追加部分などが含まれていると、それらが例外値として働き正しい状態への収束を阻害するという問題が生じる。   However, the ICP algorithm is a technique for positioning or merging position data that does not include an exceptional value in principle (problem for obtaining the most congruent congruent transformation of both data). Therefore, if there is a non-overlapping part or an additional part of data included in the distance data set to be positioned, there arises a problem that these function as exception values and hinder convergence to the correct state.

このようなICPアルゴリズムの問題点を解消するために、M推定を導入したICP位置決め法が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。このM推定ICP位置決め法では、2つの点群(例えば、測定点群と基準点群)の対応関係を更新しながら合同変換を逐次収束させる際、残差量(例えば、測定点と基準点との距離)に応じて重みを設定する。この重みによって対応点毎に位置決めにおける評価価値を変化させることにより、例外値による悪影響を抑制することが可能となる。しかしながら、測定対象物の三次元形状を測定するような場合、測定装置の測定技術上の条件から、測定対象物の傾斜した面に対しては測定点がずれることで測定誤差が大きくなり、また孔や切り欠きなどの貫通領域などに対しては測定データそのものが欠落することでさらに測定誤差が大きくなるという問題が生じる。   In order to solve such problems of the ICP algorithm, an ICP positioning method in which M estimation is introduced has been proposed (see, for example, Non-Patent Document 1). In this M-estimated ICP positioning method, when the congruent transformation is successively converged while updating the correspondence between two point groups (for example, a measurement point group and a reference point group), a residual amount (for example, a measurement point and a reference point) The weight is set according to the distance. By changing the evaluation value in positioning for each corresponding point by this weight, it is possible to suppress the adverse effect due to the exceptional value. However, when measuring the three-dimensional shape of the measurement object, the measurement error increases due to the measurement point being shifted with respect to the inclined surface of the measurement object due to the measurement technical conditions of the measurement apparatus. For penetrating regions such as holes and cutouts, the measurement data itself is missing, resulting in a problem that the measurement error further increases.

特開2008−14691号公報(段落番号0006、図1)Japanese Patent Laying-Open No. 2008-14691 (paragraph number 0006, FIG. 1) 金子俊一・他著「M推定を導入したロバストICP位置決め法」精密工学会誌V0l.67,No.8,2001、1276-1280Shunichi Kaneko et al. “Robust ICP positioning method with M estimation”, Journal of Precision Engineering V0l.67, No.8, 2001, 1276-1280

上記実状に鑑み、本発明の目的は、測定装置の測定技術上の条件から、その測定誤差が大きくなるような特定の測定領域が存在する測定対象物であっても、測定点群と基準点群との合同変換が適正かつ迅速に行われ、その結果、測定対象物の物体形状評価が適正に行われる物体形状評価装置を提供することである。   In view of the above situation, the object of the present invention is to provide a measurement point group and a reference point even if a measurement object has a specific measurement region in which the measurement error increases due to the measurement technical conditions of the measurement apparatus. To provide an object shape evaluation apparatus in which joint conversion with a group is performed appropriately and quickly, and as a result, object shape evaluation of a measurement object is performed appropriately.

上記目的を達成するため、本発明に係る物体形状評価装置の特徴構成は、測定対象物の形状に対応する多数の測定点の位置情報を含む測定点データを入力する測定点データ入力部と、前記測定対象物の基準形状に対応する多数の基準点の位置情報を含む基準点データを格納する基準データ格納部と、対応する測定点と基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせする位置合わせ処理手段と、前記位置合わせ処理手段による位置合わせ処理後の前記測定点データと前記基準点データとに基づいて前記測定対象物の形状を評価する形状評価手段とを含み、前記位置合わせ処理手段は、測定点データから前記測定対象物のエッジに対応するエッジ点を検出するエッジ検出部によって生成されたエッジ点群と、前記基準データ格納部に格納されている前記測定対象物のエッジのためのエッジ基準点データであるエッジ基準点群とを位置合わせするエッジ位置合わせを行い、当該エッジ位置合わせによって得られたエッジ合同変換パラメータを用いて前記測定点データ全体の測定点が前記基準点に向かう位置合わせを行い、隣接する前記測定点の間の隣接点間距離又は隣接する前記基準点の間の隣接点間距離に基づいて隣接点間距離重み係数を決定する重み係数決定手段を有し、当該隣接点間距離重み係数を前記逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いることである。 In order to achieve the above object, the characteristic configuration of the object shape evaluation apparatus according to the present invention includes a measurement point data input unit that inputs measurement point data including position information of a large number of measurement points corresponding to the shape of the measurement object, A reference data storage unit that stores reference point data including position information of a large number of reference points corresponding to the reference shape of the measurement object, and a sequential convergence process for sequentially converging the distance between the corresponding measurement point and the reference point An alignment processing means for aligning the measurement point and the reference point based on the measurement point, and the measurement point data after the alignment processing by the alignment processing means and the reference point data A shape evaluation unit that evaluates a shape, and the alignment processing unit is generated by an edge detection unit that detects an edge point corresponding to an edge of the measurement object from measurement point data. Edge alignment is performed by aligning an edge point group and an edge reference point group that is edge reference point data for the edge of the measurement object stored in the reference data storage unit, and the edge alignment is performed. between the reference point obtained edge congruent transformation parameters the measuring point data overall measurement points using stomach line alignment toward the reference point, adjacent point distance between said measuring points adjacent or neighboring A weight coefficient determining means for determining a distance weight coefficient between adjacent points based on a distance between adjacent points, and using the distance weight coefficient between adjacent points when obtaining a sequential convergence evaluation value in the sequential convergence process. .

この特徴構成によれば、得られた測定点データからエッジ検出処理によって抽出された測定対象物のエッジに対応する測定点であるエッジ測定点群と、この測定対象物のエッジに対応するエッジ基準点群とを用いて、エッジ位置合わせを行う。エッジ測定点群と測定対象物の外形形状を規定するために重要であり、孔や切り欠きとは違って明確な実体的形状を表していることから測定によって正確に検出しやすい。したがって、このエッジ位置合わせにより、エッジ測定点群はエッジ基準点群に対して正確に重なる。さらに、そのようなエッジ位置合わせに用いられたエッジ合同変換パラメータを用いて測定点データ全体の測定点群を前記基準点データ全体の基準点群に合わせるように位置合わせを行う。これにより、傾斜面や孔や切り欠きといったその測定誤差が大きくなるような特定の測定領域が存在する測定対象物であっても、満足できる測定点群と基準点群との重ね合わせが可能となり、この重ね合わせ結果から、基準形状からの測定対象物の形状ずれを検知することができる。
また、この構成によれば、測定点群と基準点群のいずれかの点群においてその点群に属する各点(測定点又は基準点)に対して隣接する点との距離である隣接点間距離に基づいて重み係数が割り当てられる。割り当てられた重み係数は、対応する測定点と基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いられ、隣接点間距離によって逐次収束評価値に及ぼす影響度が調整される。例えば、隣接点間距離が他に比べて大きくなっている測定点、あるいは、隣接点間距離が他に比べて大きくなっている基準点に対応している測定点ではわずかな測定点のずれが測定点と基準点との間の位置座標値の大きな差となってしまう可能性がある。これは、レーザビームなどによる測定面が測定基準面に対して直角に近い角度で湾曲していたり傾斜していたりしている場合、測定走査ピッチの僅かなずれが測定点の大きなずれを導き、基準点と測定点との間の位置対応が悪くなるからである。このような測定状況においては、隣接点間距離が大きな点に対してより小さな重み係数を割り当てて、その点が逐次収束評価値に及ぼす影響を抑制することで、測定点群と基準点群との間の適正な合同変換が実現できる。その結果、測定対象物の物体形状評価が適正に行われることになる。
According to this feature configuration, the edge measurement point group that is the measurement point corresponding to the edge of the measurement object extracted from the obtained measurement point data by the edge detection process, and the edge reference corresponding to the edge of the measurement object Edge alignment is performed using point clouds. It is important to define the outer shape of the edge measurement point group and the object to be measured, and unlike a hole or notch, it expresses a clear substantive shape and is easy to detect accurately by measurement. Therefore, by this edge alignment, the edge measurement point group accurately overlaps the edge reference point group. Further, alignment is performed so that the measurement point group of the entire measurement point data is aligned with the reference point group of the entire reference point data using the edge joint conversion parameter used for such edge alignment. This makes it possible to superimpose satisfactory measurement point groups and reference point groups even for measurement objects that have a specific measurement area where the measurement error, such as inclined surfaces, holes, and notches, increases. The shape deviation of the measurement object from the reference shape can be detected from the overlay result.
Further, according to this configuration, between any adjacent points that are distances between adjacent points (measurement points or reference points) belonging to the point group in either the measurement point group or the reference point group. A weighting factor is assigned based on the distance. The assigned weighting factor is used to determine the sequential convergence evaluation value in the sequential convergence process that sequentially converges the distance between the corresponding measurement point and the reference point, and the effect of the distance between adjacent points on the sequential convergence evaluation value The degree is adjusted. For example, there is a slight measurement point deviation at a measurement point where the distance between adjacent points is larger than the other points, or at a measurement point corresponding to a reference point where the distance between adjacent points is larger than the others. There may be a large difference in the position coordinate value between the measurement point and the reference point. This is because, when the measurement surface by a laser beam or the like is curved or inclined at an angle close to a right angle with respect to the measurement reference surface, a slight deviation of the measurement scanning pitch leads to a large deviation of the measurement point, This is because the positional correspondence between the reference point and the measurement point is deteriorated. In such a measurement situation, a smaller weighting factor is assigned to a point having a large distance between adjacent points, and the influence of the point on the convergence evaluation value is sequentially suppressed, so that the measurement point group and the reference point group Appropriate congruent conversion between can be realized. As a result, the object shape of the measurement object is properly evaluated.

エッジ基準点群に位置合わせしたエッジ測定点群にエッジ測定点群以外の測定点群も設定することで得られた全測定点群はかなり正確に全基準点群に重なり合うが、エッジのない測定面領域の割合が多い場合、エッジ点の照合だけでは不十分な場合が生じる。従って、測定点データ全体の測定点群を基準点データ全体の基準点群により正確に合わせていくための、本発明の好適な実施形態の一つでは、前記エッジ合同変換パラメータを用いた前記測定点の基準点に向かう位置合わせの後に、さらに前記測定点データ全体の測定点とこれに対応する基準点との位置合わせを行う。これにより、全測定点群と全基準点群との照合が行われるのでその精度は向上するが、予めエッジ点も用いて位置合わせしていることから、全測定点群と全基準点群との位置合わせは無駄なく実行することができる。   All measurement point groups obtained by setting measurement point groups other than the edge measurement point group in the edge measurement point group aligned with the edge reference point group overlap with all reference point groups fairly accurately, but there is no edge measurement. When the ratio of the surface area is large, there are cases where it is not sufficient to match only the edge points. Therefore, in one preferred embodiment of the present invention for accurately matching the measurement point group of the entire measurement point data with the reference point group of the entire reference point data, the measurement using the edge joint conversion parameter is performed. After the alignment of the points toward the reference point, alignment is further performed between the measurement points of the entire measurement point data and the corresponding reference points. As a result, since all the measurement point groups and all the reference point groups are collated, the accuracy is improved, but since the alignment is performed using the edge points in advance, all the measurement point groups and all the reference point groups are Can be performed without waste.

また、本発明に係る物体形状評価装置におけるさらなる特徴構成として、前記重み係数決定手段は前記対応する測定点と基準点との間の対応点間距離に基づいて対応点間距離重み係数を決定し、当該対応点間距離重み係数を前記位置合わせ処理手段が前記逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いることも好適である。この特徴は、いわゆるM推定法として知られているロバストICP(Iterative Closest Point)位置決め法である。非特許文献1で詳しく説明されているのでここでの詳しい説明は省略するが、対応する測定点と基準点との間の対応点間距離に基づいて決定される対応点間距離重み係数が前記逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いられ、大きな対応点間距離をもつ測定点(いわゆる外れ点)によって逐次収束評価値に及ぼす影響度が調整される。これにより、この好適な物体形状評価装置では、対応する測定点と基準点との間の対応点間距離に基づいて決定される対応点間距離重み係数と、同一点群における隣接点間距離に基づいて決定される隣接点間距離重み係数とで、誤差を導くと推定される測定点データを排除またはその影響力を小さくすることができる。その結果、測定対象物の物体形状評価がさらに適正に行われることになる。   Further, as a further characteristic configuration in the object shape evaluation apparatus according to the present invention, the weighting factor determination means determines a distance weighting factor between corresponding points based on a distance between corresponding points between the corresponding measurement point and a reference point. It is also preferable to use the distance weight coefficient between corresponding points when the alignment processing means obtains the sequential convergence evaluation value in the sequential convergence processing. This feature is a robust ICP (Iterative Closest Point) positioning method known as a so-called M estimation method. Since it is explained in detail in Non-Patent Document 1, detailed explanation here is omitted, but the distance weight factor between corresponding points determined based on the distance between corresponding points between the corresponding measurement point and the reference point is It is used when obtaining the successive convergence evaluation value in the successive convergence process, and the degree of influence on the successive convergence evaluation value is adjusted by a measurement point having a large distance between corresponding points (so-called outlier). Thereby, in this preferable object shape evaluation apparatus, the distance weight between corresponding points determined based on the distance between corresponding points between the corresponding measurement point and the reference point, and the distance between adjacent points in the same point group. With the distance weight coefficient between adjacent points determined based on the measurement point data estimated to introduce an error, the influence of the measurement point data can be eliminated or reduced. As a result, the object shape evaluation of the measurement object is performed more appropriately.

重み係数決定手段による隣接点間距離に基づく隣接点間距離重み係数の決定の際、測定点群における隣接点間距離と基準点群における隣接点間距離のうちのいずれを採用してもよいが、基準点群における隣接点間距離を採用する場合、測定の前に予め隣接点間距離重み係数を求めておくことができる。同形状の測定対象物が複数ある場合、共通の基準点データ(基準点群)から求められた隣接点間距離重み係数をそれぞれの物体形状評価において利用できるので効果的である。   In determining the distance weight between adjacent points based on the distance between adjacent points by the weight coefficient determining means, either the distance between adjacent points in the measurement point group or the distance between adjacent points in the reference point group may be adopted. When the distance between adjacent points in the reference point group is adopted, the distance weight coefficient between adjacent points can be obtained in advance before measurement. When there are a plurality of measurement objects of the same shape, it is effective because the distance weight coefficient between adjacent points obtained from common reference point data (reference point group) can be used in each object shape evaluation.

本発明による物体形状評価装置は、隣接点間距離が大きな点に対してより小さな重み係数を割り当てることでその点が逐次収束評価値に及ぼす影響を抑制する。従って、測定走査ピッチの僅かなずれが測定点の大きなずれを導くことで基準点と測定点との間の位置対応が悪くなるような測定系の物体形状評価に特に適している。このことから、本発明による物体形状評価装置の測定点データがスリット光によって照射された前記測定対象物の撮影画像を処理することによって得られた距離画像から取り出された三次元位置データである場合に適している。   The object shape evaluation apparatus according to the present invention assigns a smaller weight coefficient to a point having a large distance between adjacent points, thereby suppressing the influence of the point on the successive convergence evaluation value. Therefore, a slight shift in the measurement scanning pitch leads to a large shift in the measurement point, which is particularly suitable for the object shape evaluation of the measurement system in which the position correspondence between the reference point and the measurement point is deteriorated. Therefore, when the measurement point data of the object shape evaluation apparatus according to the present invention is three-dimensional position data extracted from a distance image obtained by processing a captured image of the measurement object irradiated with slit light. Suitable for

本発明に係るエッジ点を利用した測定点群と基準点群との位置合わせの原理を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the principle of alignment with the measurement point group using the edge point which concerns on this invention, and a reference point group. 図1での位置合わせの原理に追加された処理を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the process added to the principle of the alignment in FIG. 本発明に係る物体形状評価装置の一例模式的に示す概略構成図である。 An example of an object shape evaluation apparatus according to the present invention is a schematic diagram schematically showing. 評価ユニットの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of an evaluation unit. 表面評価モジュールの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of a surface evaluation module. 欠陥評価モジュールの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of a defect evaluation module. 基準データ変更モジュールの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of a reference data change module. 物体形状評価装置における全体的な制御の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the whole control in an object shape evaluation apparatus. 評価演算処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an evaluation calculation process. エッジ抽出ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an edge extraction routine. エッジ位置合わせルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an edge position alignment routine. 全点位置合わせルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an all-points alignment routine. 欠陥判定ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a defect determination routine. 型修正による形状違い判定ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the shape difference determination routine by mold correction. 型修正による形状違い判定ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the shape difference determination routine by mold correction. 欠陥・型修正箇所判定ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a defect and type | mold correction location determination routine. 基準データ変更ルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a reference data change routine. 測定点群と基準点群との位置合わせを模式的に示す模式図である。It is a schematic diagram which shows typically position alignment with a measurement point group and a reference point group. 全点照合による位置合わせと、エッジ照合と全点照合とを組み合わせた位置合わせとを比較した比較グラフである。It is the comparison graph which compared the alignment by all point collation, and the alignment which combined edge collation and all point collation. 種々の重み係数を用いて行われた繰り返し位置合わせの比較演算結果を示す比較グラフである。It is a comparison graph which shows the comparison calculation result of the repetition position alignment performed using various weighting factors.

本発明に係る物体形状装置における、エッジ点を利用した測定点群と基準点群との位置合わせアルゴルズムを採用した表面欠陥評価の基本原理を、図1を用いて説明する。
この例では、測定対象物の表面の三次元位置データを得るために、三角測量に原理に基づいて三次元測定を行う光切断方式が用いられている(#01)。この光切断方式では、スリット光を測定対象物に照射し、測定対象物の表面形状に応じて湾曲する帯状の光をカメラで撮影し、その撮影画像内の結像位置から、点列のX、Y、Z値が演算される。このスリット光によって走査される測定対象物の全表面の測定点の三次元位置データが光切断画素位置情報として生成され、以下に述べる表面凹凸形状評価のための測定点データとしてワークメモリに展開される(#02)。
The basic principle of the surface defect evaluation employing the alignment algorithm between the measurement point group using the edge points and the reference point group in the object shape device according to the present invention will be described with reference to FIG.
In this example, in order to obtain the three-dimensional position data of the surface of the measurement object, a light cutting method that performs three-dimensional measurement based on the principle of triangulation is used (# 01). In this light cutting method, a slit object is irradiated with slit light, a band-like light that is curved according to the surface shape of the object to be measured is photographed with a camera, and the point sequence X is obtained from the imaging position in the photographed image. , Y, Z values are calculated. The three-dimensional position data of the measurement points on the entire surface of the measurement object scanned by the slit light is generated as the light cutting pixel position information, and is developed in the work memory as the measurement point data for the evaluation of the surface unevenness described below. (# 02).

なお、表面凹凸形状評価のための前準備として、測定対象物の表面全体の基準となる三次元データである全基準データと、測定対象物の表面に形成されているエッジの基準データであるエッジ基準データ(全基準データにエッジ検出フィルタ処理を施すことによって作り出すことができる)とが格納されていることにする。   As preparations for the evaluation of surface irregularities, all reference data, which is three-dimensional data serving as a reference for the entire surface of the measurement object, and edge, which is reference data for the edges formed on the surface of the measurement object It is assumed that reference data (which can be created by applying edge detection filter processing to all reference data) is stored.

まずは、ワークメモリに展開された測定点データである測定点群に対してソーベルフィルタのようなエッジ検出フィルタをかけてエッジ検出処理を行う(#03)。このエッジ検出処理によって生成されたエッジ測定点群と、予め格納されているエッジ基準データから読み出したエッジ基準点群とを対応付けて、エッジ測定点群をエッジ基準点群に近づける位置合わせを行う(#04)。この位置合わせには後で詳しく説明するICP(iterative closest point)法に基づいて方法が適している。この方法では、その位置合わせにおいて合同変換パラメータとしてE(R,t)、R:回転行列、t:並進移動ベクトルを最小化するものを求める演算が所定のしきい値に達するまで繰り返される(#05)。エッジ測定点群とエッジ基準点群との位置合わせが終了し、最終的にエッジ測定点群をエッジ基準点群に近づける合同変換パラメータが得られると、この合同変換パラメータを用いて、全測定点データからの全測定点群を全基準データからの全基準点群に近づける位置合わせを行う(#06)。測定条件が良好な場合、これにより、目標通りに仕上げられている箇所の測定点群と基準点群とがほぼ重なり合う。もし、測定点と基準点とが所定以上に離れている場合、欠陥の可能性があるとみなされ、その箇所を特定した欠陥情報が得られることになる(#07)。   First, an edge detection process is performed by applying an edge detection filter such as a Sobel filter to the measurement point group which is the measurement point data developed in the work memory (# 03). The edge measurement point group generated by the edge detection process is associated with the edge reference point group read from the edge reference data stored in advance, and the edge measurement point group is aligned with the edge reference point group. (# 04). For this alignment, a method based on an ICP (iterative closest point) method, which will be described in detail later, is suitable. In this method, E (R, t), R: rotation matrix, t: calculation for minimizing the translation vector is repeated as a joint transformation parameter in the alignment until a predetermined threshold value is reached (# 05). When the alignment of the edge measurement point group and the edge reference point group is completed, and finally the joint conversion parameter that brings the edge measurement point group close to the edge reference point group is obtained, all the measurement points are Alignment is performed so that all measurement point groups from the data approach all reference point groups from all reference data (# 06). When the measurement conditions are good, the measurement point group and the reference point group at the portion finished as intended are almost overlapped. If the measurement point and the reference point are separated by a predetermined distance or more, it is considered that there is a possibility of a defect, and defect information specifying the location is obtained (# 07).

以上が、本発明で採用されている基本的な表面欠陥評価の処理手順であるが、エッジだけを用い得られた合同変換パラメータを用いて、全測定点データからの全測定点群を全基準データからの全基準点群に近づける全点位置合わせを行っても、測定対象物の形状や測定条件などによっては、十分な重ね合わせができていないことがある。そのようなケースでは図2に示すように、その全点位置合わせを行った状態から、さらに、全測定点データと全基準点群とを対応づけて位置合わせを行う必要がある。まず、図1におけるステップ#06の状態から、全測定点群と全基準点群を対応付け(#06a)、合同変換パラメータ:E(R,t)が最小となる位置合わせが、所定のしきい値に達するまで繰り返される(#06b)。十分に収束した位置合わせが得られると、この全位置合わせが終了する(#06c)。最終的に位置合わせされた状態において測定点と基準点とが所定以上に離れている場合、欠陥の可能性があるとみなされ、その箇所を特定した欠陥情報が生成される(#08)。   The above is the basic surface defect evaluation processing procedure employed in the present invention, but using the joint conversion parameters obtained using only the edges, all the measurement point groups from all the measurement point data are set to all the standards. Even if all-point positioning is performed so as to be close to all the reference point groups from the data, there is a case where sufficient overlay is not achieved depending on the shape of the measurement object, measurement conditions, and the like. In such a case, as shown in FIG. 2, it is necessary to perform alignment by further associating all measurement point data with all reference point groups from the state in which all the points are aligned. First, from the state of step # 06 in FIG. 1, all measurement point groups and all reference point groups are associated (# 06a), and the alignment that minimizes the congruent transformation parameter: E (R, t) is predetermined. Repeat until the threshold is reached (# 06b). When the sufficiently converged alignment is obtained, the entire alignment is completed (# 06c). When the measurement point and the reference point are separated by a predetermined distance or more in the finally aligned state, it is considered that there is a possibility of a defect, and defect information specifying the location is generated (# 08).

上述したような、エッジ基準点を含む基準点群とエッジ測定点群を含む測定点群との位置合わせアルゴリズムを採用した物体形状評価装置の一例を説明する。この実施の形態での物体形状評価装置は、表面に多数の直線上の深溝が整列形成されている測定対象物の溝断面を検査するように設定されている。図3は、そのような物体形状評価装置の構成を模式的に示す斜視図である。   An example of an object shape evaluation apparatus that employs an alignment algorithm for a reference point group including an edge reference point and a measurement point group including an edge measurement point group as described above will be described. The object shape evaluation apparatus in this embodiment is set so as to inspect a groove cross section of a measurement object in which a large number of straight deep grooves are aligned on the surface. FIG. 3 is a perspective view schematically showing the configuration of such an object shape evaluation apparatus.

この物体形状評価装置は、測定装置部1と、測定物台2と、この測定装置部1及び測定物台2に対する測定動作制御及びその測定結果に対する評価を行うコントローラ3を備えている。測定装置部1は、測定系の主な構成要素として、スリット光を発生させるレーザタイプのスリット光源ユニット11aと、測定対象物のスリット光が照射されている領域を撮像する撮像ユニット11bとを備えている。このスリット光源ユニット11aと撮像ユニット11bとは測定ヘッドとして一体的に組み付けられている。また測定物台2は、主な構成要素として、基台23と、基台23に立設された門形フレーム22とを備えている。測定対象物のポジショニング機構として、測定対象物を載置させるとともに回転する回転テーブル21及び門形フレーム22をY軸方向に移動させるY方向走査機構が基台23に設けられ、測定ヘッドをX軸方向に移動させるX方向走査機構が門形フレーム22に設けられている。このX方向走査機構とY方向走査機構とによって測定対象物の表面のX−Y平面走査が可能となる。なお、測定ヘッド内にはスリット光源ユニット11aと撮像ユニット11bとを昇降させる昇降機構が備えられている。   The object shape evaluation apparatus includes a measurement device unit 1, a measurement object table 2, and a controller 3 that performs measurement operation control on the measurement device unit 1 and the measurement object table 2 and evaluates the measurement result. The measurement apparatus unit 1 includes, as main components of the measurement system, a laser-type slit light source unit 11a that generates slit light and an imaging unit 11b that captures an area of the measurement object irradiated with the slit light. ing. The slit light source unit 11a and the imaging unit 11b are integrally assembled as a measurement head. The measurement object table 2 includes a base 23 and a portal frame 22 erected on the base 23 as main components. As a positioning mechanism for the measurement object, a rotary table 21 for placing the measurement object and a Y-direction scanning mechanism for moving the portal frame 22 in the Y-axis direction are provided on the base 23, and the measurement head is moved to the X-axis. An X-direction scanning mechanism that moves in the direction is provided on the portal frame 22. The X-direction scanning mechanism and the Y-direction scanning mechanism enable XY plane scanning of the surface of the measurement object. Note that an elevating mechanism for elevating and lowering the slit light source unit 11a and the imaging unit 11b is provided in the measurement head.

スリット光源ユニット11aは、レーザスリット平行光投光器でありレーザスリット投光器12とシリンドリカルレンズ13とを含む。レーザスリット投光器12から出た扇状に拡がっていくスリット光はシリンドリカルレンズ13によってスリット光軸に平行な平行光に変換され、測定対象物を照射する。   The slit light source unit 11 a is a laser slit parallel light projector, and includes a laser slit projector 12 and a cylindrical lens 13. The slit light that spreads out in a fan shape from the laser slit projector 12 is converted into parallel light parallel to the slit optical axis by the cylindrical lens 13 and irradiates the measurement object.

撮像ユニット11bは、テレセントリック系レンズ群15と、面状に配置された多数の受光素子(CCDやCMOS)からなる撮像部16と、テレセントリック系レンズ群15の被写体側に配置されたP偏光板14とを備えている。テレセントリック系レンズ群6の採用は、画角ゼロで測定対象物上の複数の凹凸表面を死角なく撮像するためである。スリット光光源ユニット2からのスリット光が測定対象物の表面に照射され、そこで反射した反射光が、撮像ユニット11bの撮像光軸に沿って、P偏光板14とテレセントリック系レンズ群15とを通過して撮像部16に達するように設定されている。スリット光光源ユニット2のスリット光軸と撮像ユニット11bの撮像光軸とが交差する交差角、つまり撮像角は、この実施の形態では約11度という極めて狭い角度を採用している。従って、撮像部16の撮像面が撮像光軸に直角となる姿勢であると、スリット光軸方向に沿った測定深さの範囲がテレセントリック系レンズ群15の被写界深度を超えていると測定深さの範囲においてピントの合わない領域が生じる。これを回避するため、撮像部16の撮像面を撮像光軸に対してあおり角を作り出すように傾け、あおり撮影の原理で被写界深度を稼いでいる。これにより、テレセントリック系レンズ群15のもつ被写界深度以上の測定範囲においてもピンボケのない撮影画像が取得できる。   The imaging unit 11 b includes a telecentric lens group 15, an imaging unit 16 including a large number of light receiving elements (CCD and CMOS) arranged in a plane, and a P polarizing plate 14 arranged on the subject side of the telecentric lens group 15. And. The telecentric lens group 6 is used for imaging a plurality of uneven surfaces on a measurement object without a blind spot at an angle of view of zero. The slit light from the slit light source unit 2 is applied to the surface of the measurement object, and the reflected light reflected there passes through the P polarizing plate 14 and the telecentric lens group 15 along the imaging optical axis of the imaging unit 11b. Thus, it is set to reach the imaging unit 16. In this embodiment, an extremely narrow angle of about 11 degrees is adopted as an intersection angle at which the slit optical axis of the slit light source unit 2 intersects with the imaging optical axis of the imaging unit 11b. Therefore, when the imaging surface of the imaging unit 16 is in a posture perpendicular to the imaging optical axis, the measurement depth range along the slit optical axis direction exceeds the depth of field of the telecentric lens group 15. An out-of-focus area occurs in the depth range. In order to avoid this, the imaging surface of the imaging unit 16 is tilted with respect to the imaging optical axis so as to create a tilt angle, and the depth of field is gained by the principle of tilt shooting. As a result, a photographed image without blur can be acquired even in a measurement range that is greater than the depth of field of the telecentric lens group 15.

コントローラ3は、実質的にはコンピュータユニットとして形成されており、光源制御部31、画像メモリ32、画像処理部33、三次元測定データ演算部34、本発明に特に関係する評価ユニット4、昇降機構制御部35、回転テーブル制御部36、X方向走査制御部37、Y方向走査制御部38を備えている。回転テーブル制御部36、X方向走査制御部37、Y方向走査制御部38はそれぞれ、回転テーブル21、X方向走査機構、Y方向走査機構の動作を制御して、測定対象物を測定平面(X−Y平面)内の適正な測定位置に設定する。昇降機構制御部35は、スリット光源ユニット11aと撮像ユニット11bとの測定対象物に対する高さを調整する。   The controller 3 is substantially formed as a computer unit, and includes a light source control unit 31, an image memory 32, an image processing unit 33, a three-dimensional measurement data calculation unit 34, an evaluation unit 4 particularly related to the present invention, and a lifting mechanism. A control unit 35, a rotary table control unit 36, an X direction scanning control unit 37, and a Y direction scanning control unit 38 are provided. The rotary table control unit 36, the X-direction scanning control unit 37, and the Y-direction scanning control unit 38 control the operations of the rotary table 21, the X-direction scanning mechanism, and the Y-direction scanning mechanism, respectively. Set to an appropriate measurement position in the (Y plane). The lifting mechanism control unit 35 adjusts the height of the slit light source unit 11a and the imaging unit 11b with respect to the measurement object.

撮像ユニット11bからコントローラ3に送られてきた撮像画像(画像データ)は、画像メモリ32に展開される。さらに、必要に応じて、画像処理部33によって座標変換やレベル補正、エッジ検出などの画像処理を施され、スリット光による光切断線Sが検出される。三次元測定データ演算部34は、スリット光の照射点や照射角度、スリット光軸と撮像光軸とのなす角度が既知なので、画像処理部33で検出された光切断線Sの座標値から三角測量法に基づいて演算することで、光切断線Sつまり複数の直線状深溝を形成している測定対象物の3次元断面形状に対応する多数の測定点データ(距離画像)を得ることができる。ここでいう距離画像とは、測定点としての画素にその三次元位置座標値を割り当てた測定データである。なお、三角測量法に基づく演算に代えて、その演算結果を格納したテーブルを用いる方法を採用してもよい。三次元測定データ演算部34によって生成された測定点データは評価ユニット4に転送される。   The captured image (image data) sent from the imaging unit 11 b to the controller 3 is developed in the image memory 32. Furthermore, if necessary, the image processing unit 33 performs image processing such as coordinate conversion, level correction, and edge detection, and the light cutting line S by the slit light is detected. The three-dimensional measurement data calculation unit 34 is known from the coordinate value of the light cutting line S detected by the image processing unit 33 because the irradiation point and irradiation angle of the slit light, and the angle formed by the slit optical axis and the imaging optical axis are known. By calculating based on the surveying method, it is possible to obtain a large number of measurement point data (distance images) corresponding to the optical cutting line S, that is, the three-dimensional cross-sectional shape of the measurement object forming a plurality of linear deep grooves. . The distance image here is measurement data in which a three-dimensional position coordinate value is assigned to a pixel as a measurement point. Instead of the calculation based on the triangulation method, a method using a table storing the calculation result may be adopted. The measurement point data generated by the three-dimensional measurement data calculation unit 34 is transferred to the evaluation unit 4.

評価ユニット4は、図4に示すように、表面評価モジュール5と、欠陥評価モジュール6と、基準データ変更モジュール7と、データ格納部8を備えている。表面評価モジュール5は、ICPなどの位置合わせアルゴリズムを用いて測定点群の基準点群への位置合わせを行い測定対象物の表面形状を評価する。欠陥評価モジュール6は、表面評価モジュール5から出力された測定点群の基準点群への位置合わせ結果に基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。基準データ変更モジュール7は、金型の部分修正といったような要因によって製品許容範囲内での形状変更が生じた際に、この形状測定を通じてその基準データを変更する機能を有する。そのような基準データの変更は所定数の測定対象物単位で判定される。この実施の形態では、表面評価モジュール5と欠陥評価モジュール6の両方が形状評価手段として機能する。
データ格納部8には、基準データ格納部81と欠陥情報格納部82と型修正情報格納部83が設けられている。基準データ格納部81は、測定対象物の表面形状を示す基準点データを格納する。基準データはエッジ基準点データと全基準点データとに区分けされている。全基準点データは、測定対象物の測定対象全面に渡って予め区分けされた所定ブロック毎に測定点に対応するように設定された理想的な仕上がり形状を示すデータである。エッジ基準点データは、その全基準点データから展開された基準点群から、その基準点群によって規定される外形形状におけるエッジに対応する基準点だけを取り出したものである。欠陥情報格納部82は、位置合わせが終了した状態で、基準点から所定以上に離れている測定点のうち所定の条件を満たすことで欠陥と判定された測定点の集まりに関する情報である欠陥情報を格納する。型修正情報格納部83は、後で詳しく説明されるが、表面欠陥評価の処理を通じて金型が修正された可能性がある部分に関する情報である型修正情報を格納する。
As shown in FIG. 4, the evaluation unit 4 includes a surface evaluation module 5, a defect evaluation module 6, a reference data change module 7, and a data storage unit 8. The surface evaluation module 5 evaluates the surface shape of the measurement object by aligning the measurement point group with the reference point group using an alignment algorithm such as ICP. The defect evaluation module 6 evaluates the surface defect of the measurement object based on the alignment result of the measurement point group output from the surface evaluation module 5 to the reference point group. The reference data change module 7 has a function of changing the reference data through the shape measurement when the shape change within the allowable range of the product occurs due to factors such as partial correction of the mold. Such a change in the reference data is determined in units of a predetermined number of measurement objects. In this embodiment, both the surface evaluation module 5 and the defect evaluation module 6 function as shape evaluation means.
The data storage unit 8 includes a reference data storage unit 81, a defect information storage unit 82, and a mold correction information storage unit 83. The reference data storage unit 81 stores reference point data indicating the surface shape of the measurement object. The reference data is divided into edge reference point data and all reference point data. The total reference point data is data indicating an ideal finished shape set so as to correspond to the measurement points for each of the predetermined blocks divided in advance over the entire measurement target of the measurement target. The edge reference point data is obtained by extracting only the reference points corresponding to the edges in the outer shape defined by the reference point group from the reference point group developed from all the reference point data. The defect information storage unit 82 is defect information that is information on a collection of measurement points that are determined to be defective by satisfying a predetermined condition among measurement points that are more than a predetermined distance from the reference point in a state where the alignment is completed. Is stored. As will be described in detail later, the mold correction information storage unit 83 stores mold correction information, which is information about a portion where the mold may be corrected through the surface defect evaluation process.

図5に示すように、表面評価モジュール5は、測定点データ入力部51と、エッジ検出部52と、点群対応付け部53と、重み演算部54と、収束評価部55と、合同変換パラメータ生成部56と、位置合わせ実行部57とを有する。測定点データ入力部51は三次元測定データ演算部34から測定点データを受け取る。エッジ検出部52は、測定点データに基づいて測定点群をワーキングメモリに展開し、ソーベルフィルタなどのエッジ検出フィルタを用いて測定対象物の表面におけるエッジに対応するエッジ測定点を検出して、エッジ測定点群からなるエッジ測定点データを生成する。点群対応付け部53は、前記所定ブロック単位で、前述した位置合わせアルゴリズムに基づいて測定点と基準点とを対応させる。点群対応付け部53は、説明をわかり易くするために、位置合わせの処理対象をエッジ測定点群とエッジ基準点群とするエッジ点群対応付け部53aと、位置合わせの処理対象を全測定点群と全基準点群とする全点群対応付け部53aとに区分けしているが、その演算機能は同じである。重み演算部54は、後で詳しく説明するが、位置合わせ処理に用いられる重み係数を求める。ここで用いられる重み係数:wは、隣接点間距離重み係数:γiと対応点間距離重み係数:ρiとを乗算した値である。合同変換パラメータ生成部56は、対応付けされた基準点群に測定点群を位置合わせするための合同変換パラメータを求める。収束評価部55は、合同変換パラメータを用いて測定点群が基準点群に収束移動させようとする際にその逐次収束評価値を演算し、測定点群の移動が基準点群に逐次収束していくかどうかを評価する。位置合わせ実行部57は、合同変換パラメータ生成部56によって生成されるとともに収束評価部55で収束すると評価された合同変換パラメータを用いて測定点群の位置座標を変換する。この実施形態では、点群対応付け部53と重み演算部54と収束評価部55と合同変換パラメータ生成部56と位置合わせ実行部57とは、対応する測定点群と基準点群との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて測定点群と基準点群とを位置合わせする位置合わせ処理手段50を構成している。   As shown in FIG. 5, the surface evaluation module 5 includes a measurement point data input unit 51, an edge detection unit 52, a point group association unit 53, a weight calculation unit 54, a convergence evaluation unit 55, and a congruent conversion parameter. A generation unit 56 and an alignment execution unit 57 are included. The measurement point data input unit 51 receives measurement point data from the three-dimensional measurement data calculation unit 34. The edge detection unit 52 expands the measurement point group in the working memory based on the measurement point data, and detects an edge measurement point corresponding to the edge on the surface of the measurement object using an edge detection filter such as a Sobel filter. Then, edge measurement point data including an edge measurement point group is generated. The point group associating unit 53 associates the measurement points with the reference points based on the above-described alignment algorithm in units of the predetermined blocks. In order to make the explanation easy to understand, the point group associating unit 53 includes an edge point group associating unit 53a in which the alignment processing target is an edge measurement point group and an edge reference point group, and the alignment processing target is all measurement points. The calculation function is the same, although it is divided into a group and an all-point group associating unit 53a as an all-reference point group. As will be described in detail later, the weight calculation unit 54 obtains a weighting coefficient used for the alignment process. The weight coefficient w used here is a value obtained by multiplying the distance weight coefficient between adjacent points: γi and the distance weight coefficient between corresponding points: ρi. The joint conversion parameter generation unit 56 obtains joint conversion parameters for aligning the measurement point group with the associated reference point group. The convergence evaluation unit 55 calculates a sequential convergence evaluation value when the measurement point group attempts to converge and move to the reference point group using the congruent transformation parameter, and the movement of the measurement point group sequentially converges to the reference point group. Evaluate whether or not The alignment execution unit 57 converts the position coordinates of the measurement point group using the joint conversion parameter that is generated by the joint conversion parameter generation unit 56 and evaluated to be converged by the convergence evaluation unit 55. In this embodiment, the point group associating unit 53, the weight calculating unit 54, the convergence evaluating unit 55, the joint conversion parameter generating unit 56, and the alignment executing unit 57 are between the corresponding measurement point group and the reference point group. An alignment processing means 50 is configured to align the measurement point group and the reference point group based on the sequential convergence process for sequentially converging the distance.

この位置合わせ処理手段50における位置合わせ処理を概略的に説明すれば、
(1)三次元測定データ演算部34から測定点データを入力する、
(2)エッジ点群対応付け部53aによって対応付けられたエッジ測定点群とエッジ基準点群との位置合わせ結果をエッジ位置合わせデータとして生成する、
(3)このエッジ位置合わせデータに基づいて、全点群対応付け部53bによって対応付けられた全測定点群と全基準点群との位置合わせ結果を全位置合わせデータとして生成する、
(4)全位置合わせデータを欠陥評価モジュール6に出力する、
となる。
The alignment process in the alignment processing unit 50 will be schematically described.
(1) Input measurement point data from the three-dimensional measurement data calculator 34.
(2) generating an alignment result between the edge measurement point group and the edge reference point group associated by the edge point group association unit 53a as edge alignment data;
(3) Based on the edge alignment data, the alignment result of all measurement point groups and all reference point groups associated by the all point group association unit 53b is generated as all alignment data.
(4) Output all alignment data to the defect evaluation module 6;
It becomes.

図6に示すように、表面欠陥評価手段として機能する表面欠陥評価モジュール6は、誤対応測定点群抽出部61と、欠陥判定部62と、型修正評価部63と、型修正箇所情報登録部64と、欠陥特徴量演算部65とを有する。誤対応測定点群抽出部61は、後で詳しく説明する表面欠陥判定条件に基づいて、対応する測定点と基準点との間の対応点間距離が第1しきい値より大きい測定点を誤対応測定点とみなしていくことで誤対応測定点群(誤対応領域)を抽出する。欠陥判定部62は、抽出された誤対応測定点群に含まれる誤対応測定点のうち隣接する測定点との距離が第2しきい値より小さい近傍測定点の数が第3しきい値より大きい時に当該近傍測定点を含む領域を表面欠陥の可能性があると判定し、その欠陥情報を記述した欠陥データを出力する。   As shown in FIG. 6, the surface defect evaluation module 6 that functions as a surface defect evaluation unit includes an erroneous correspondence measurement point group extraction unit 61, a defect determination unit 62, a mold correction evaluation unit 63, and a mold correction location information registration unit. 64 and a defect feature amount calculation unit 65. The erroneous corresponding measurement point group extraction unit 61 erroneously selects a measurement point where the distance between corresponding points between the corresponding measurement point and the reference point is greater than the first threshold based on the surface defect determination condition described in detail later. A miscorresponding measurement point group (miscorresponding region) is extracted by regarding it as a corresponding measurement point. The defect determination unit 62 determines that the number of neighboring measurement points whose distance from an adjacent measurement point is smaller than the second threshold among the erroneous measurement points included in the extracted erroneous measurement point group is less than the third threshold value. When the area is large, it is determined that there is a possibility of a surface defect in the area including the neighboring measurement point, and defect data describing the defect information is output.

欠陥特徴量演算部65は、欠陥判定部62によって判定された欠陥(表面欠陥:めくれ、へこみ、剥がれなど)の欠陥サイズや欠陥重心などといった欠陥特徴量を算定し、その欠陥の三次元位置ともに欠陥情報として欠陥情報格納部82に格納する。測定対象物が金型製作されるような製品の場合、ロット生産の途中で金型の一部を修正した場合、正常に製作された製品の形状と基準点データによる形状が一致しなくなり、その不一致を欠陥とみなすという問題が生じる。型修正評価部63は、この問題を解決すべく、欠陥判定部62によって判定された欠陥が使用された金型を部分的に修正したために生じたものであるかどうかを欠陥情報を参照してチェックする機能を有する。型修正評価部63が、受け取った欠陥データに対応する欠陥領域が型修正によるものではないと評価した場合、欠陥判定部62に型修正なしが通知されるので、欠陥判定部62はその欠陥領域を欠陥と確定する。型修正評価部63が、受け取った欠陥データに対応する欠陥領域が型修正によるものであると評価した場合、その欠陥領域が型修正によるという評価結果を型修正箇所情報登録部64も出力する。型修正箇所情報登録部64は、この評価結果を受けて生成された型修正箇所情報を型修正箇所情報格納部83に登録する。   The defect feature amount calculation unit 65 calculates the defect feature amount such as the defect size and the center of gravity of the defect (surface defect: turning, dent, peeling, etc.) determined by the defect determination unit 62, and the three-dimensional position of the defect. The defect information is stored in the defect information storage unit 82 as defect information. If the object to be measured is a product that is manufactured by a mold, and if a part of the mold is modified during lot production, the shape of the product that has been successfully manufactured does not match the shape of the reference point data. The problem arises that discrepancies are considered defects. In order to solve this problem, the mold correction evaluation unit 63 refers to the defect information to determine whether the defect determined by the defect determination unit 62 is caused by partially correcting the used mold. Has a function to check. If the mold correction evaluation unit 63 evaluates that the defect area corresponding to the received defect data is not due to the mold correction, the defect determination unit 62 is notified that there is no mold correction, so the defect determination unit 62 Is determined to be a defect. When the mold correction evaluation unit 63 evaluates that the defect area corresponding to the received defect data is due to mold correction, the mold correction location information registration unit 64 also outputs an evaluation result indicating that the defect area is due to mold correction. The mold correction location information registration unit 64 registers the type correction location information generated in response to the evaluation result in the type correction location information storage unit 83.

この実施の形態ではさらに、欠陥判定部62によって判定された欠陥に対応している基準点群と測定点群との間の類似度を演算してこの類似度を欠陥情報として欠陥情報格納部82に格納する類似度演算部66が備えられている。従って、欠陥特徴量演算部65は、判定された欠陥が使用された金型を部分的に修正したために生じたものであるかどうかをチェックする際に、この類似度を参照することができる。類似度は、その欠陥に含まれる基準点群によって規定される表面形状とその欠陥に含まれる測定点群によって規定される表面形状との類似度を直接的にあるいは間接的に表せるものであればよい。直接的な類似度としては欠陥サイズに対応する等価楕円長軸長さ(長さが近似するほど類似度は大きいことになる)など、間接的な類似度としては基準点群と測定点群との平均対応距離(距離が短いほど類似度は大きいとみなすことができる)などが挙げられる。   In this embodiment, the degree of similarity between the reference point group corresponding to the defect determined by the defect determining unit 62 and the measurement point group is further calculated, and this similarity is used as defect information for the defect information storage unit 82. A similarity calculation unit 66 is provided. Therefore, the defect feature amount calculation unit 65 can refer to this similarity when checking whether or not the determined defect is caused by partially correcting the used mold. If the similarity can directly or indirectly represent the similarity between the surface shape defined by the reference point group included in the defect and the surface shape defined by the measurement point group included in the defect Good. As the direct similarity, the equivalent ellipse major axis length corresponding to the defect size (the similarity becomes larger as the length is approximated), the indirect similarity is the reference point group and the measurement point group. Average correspondence distance (the shorter the distance, the higher the degree of similarity can be considered).

測定対象物が金型製作されるような製品の場合、所定数の製品が製作されると磨耗等によって金型に寸法変動が生じる。このような寸法変動は、製品が正常に製作されているにもかかわらず、その測定点データと基準データとの間のずれが生じる。このずれを欠陥と判定することを避けるためには、そのようなずれが生じる領域の基準データを正常に製作された製品の測定点データによって修正することが好ましい。この目的のために設けられた基準データ変更モジュール7は、図7に示すように、データ入力部71と測定点データ形状評価部72と基準データ変更部73とを有する。データ入力部71は、表面評価モジュール5で生成された測定点データと製品設計データである形状データを受け取り、内部処理可能な形式に変換して測定点データ形状評価部72に転送する。測定点データ形状評価部72が測定点データと製品設計データとを比較して製品が設計寸法の許容範囲であると評価すると、基準データ変更部73が基準データ格納部81にアクセスして、この測定点データで基準データを変更する。   In the case where the object to be measured is a product in which a mold is manufactured, dimensional variation occurs in the mold due to wear or the like when a predetermined number of products are manufactured. Such a dimensional variation causes a deviation between the measurement point data and the reference data even though the product is normally manufactured. In order to avoid judging this deviation as a defect, it is preferable to correct the reference data of the region where such a deviation occurs with the measurement point data of a product manufactured normally. The reference data change module 7 provided for this purpose includes a data input unit 71, a measurement point data shape evaluation unit 72, and a reference data change unit 73 as shown in FIG. The data input unit 71 receives the measurement point data generated by the surface evaluation module 5 and the shape data that is product design data, converts the data into a form that can be internally processed, and transfers the data to the measurement point data shape evaluation unit 72. When the measurement point data shape evaluation unit 72 compares the measurement point data with the product design data and evaluates that the product is within the allowable range of the design dimensions, the reference data change unit 73 accesses the reference data storage unit 81 to Change the reference data with the measurement point data.

上述したように構成された物体形状評価装置を用いた、測定対象物の形状評価処理の基本的な流れを図8から図17に示されたフローチャートを用いて以下に説明する。ここでの測定対象物は、長方形のプレート体に表面に多数の直線状の深溝が形成されたもので、その測定領域は400mm×300mm程度とする。この測定領域は100mm×15mmの測定ブロックに区分けされている。1回のX軸方向走査で4つの測定ブロックを走査して、走査ピッチと撮像解像度によって規定される測定単位での直線状深溝の3次元断面形状位置を表す測定点データを取得して、測定ブロック毎に区分けしてメモリに格納する。1回のX軸方向走査が完了する毎に所定ピッチでY軸方向移動を行い、次の測定ブロックに対するX軸方向走査を逆方向で行う。このような、X軸方向走査とY軸方向移動を繰り返すことで、全測定領域おける直線状深溝の測定点データを取得する。さらに、測定死角の発生を考慮して、測定対象物を90度回転させた状態で、再度同じ測定領域における測定を行う。なお、取得した測定点データを用いた測定対象物の測定結果に対する評価は、つまり測定対象物に対する検査は、各ブロック単位で行われ、各ブロック単位での検査結果をまとめて、最終的な総合判定が行われる。   A basic flow of the shape evaluation process of the measurement object using the object shape evaluation apparatus configured as described above will be described below with reference to the flowcharts shown in FIGS. The object to be measured here is a rectangular plate body with a number of straight deep grooves formed on the surface, and the measurement area is about 400 mm × 300 mm. This measurement area is divided into 100 mm × 15 mm measurement blocks. Four measurement blocks are scanned in one X-axis direction scan, and measurement point data representing the three-dimensional cross-sectional shape position of the linear deep groove in the measurement unit defined by the scanning pitch and imaging resolution is acquired and measured. Divide into blocks and store in memory. Each time one X-axis direction scan is completed, the Y-axis direction is moved at a predetermined pitch, and the X-axis direction scan for the next measurement block is performed in the reverse direction. By repeating such scanning in the X-axis direction and movement in the Y-axis direction, the measurement point data of the linear deep groove in the entire measurement region is acquired. Further, taking into account the generation of the measurement blind spot, the measurement in the same measurement region is performed again with the measurement object rotated by 90 degrees. In addition, the evaluation of the measurement result of the measurement object using the acquired measurement point data, that is, the inspection of the measurement object is performed in each block unit, and the inspection result in each block unit is put together to make a final synthesis. A determination is made.

この装置において形状評価を行うために、測定対象物が回転テーブル21にセットされる(#1)。図示されていない測定開始ボタンが操作されると(#2Yes分岐)、測定が開始される。まず、光源制御部31によってレーザスリット投光器12がONされ、スリット光が照射される(#3)。測定開始ポイントである1番目の測定ブロックの左エッジがスリット光によって照射されるように、X方向走査機構及びY方向走査機構、回転テーブル21を動作させる(#04)。   In order to perform shape evaluation in this apparatus, a measurement object is set on the rotary table 21 (# 1). When a measurement start button (not shown) is operated (# 2 Yes branch), measurement is started. First, the laser slit projector 12 is turned on by the light source controller 31, and the slit light is irradiated (# 3). The X-direction scanning mechanism, the Y-direction scanning mechanism, and the rotary table 21 are operated so that the left edge of the first measurement block that is the measurement start point is irradiated with the slit light (# 04).

X方向走査機構を正方向に定速移動させながらX軸方向の走査を行う(#5)。それとともに、撮像ユニット11bからの画像データを画像メモリ32に転送する(#6)。このX軸方向の走査と画像データの取得は、スリット光が測定対象物の側端に達するまで行われる。スリット光が測定対象物の側端に達すると(#7Yes)、X軸方向の走査を停止する(#8)。X軸方向の走査を停止すると、光切断法に基づく測定点データが算定され、その測定点データと基準点データとから表面欠陥の有無を判定する評価演算処理が行われる(#9から#24)。この評価演算処理はあとで詳しく説明される。実際には、ステップ#08でX軸方向走査が停止すると、評価演算処理が実行されている間に、Y方向走査機構が動作され、所定のピッチでY軸方向のシフトが行われる(#25)。Y軸方向のシフトが終わると、X軸方向の走査がまだ残っているかどうかのチェックが行われる(#26)。   Scanning in the X-axis direction is performed while moving the X-direction scanning mechanism at a constant speed in the positive direction (# 5). At the same time, the image data from the imaging unit 11b is transferred to the image memory 32 (# 6). This scanning in the X-axis direction and acquisition of image data are performed until the slit light reaches the side edge of the measurement object. When the slit light reaches the side edge of the measurement object (# 7 Yes), scanning in the X-axis direction is stopped (# 8). When scanning in the X-axis direction is stopped, measurement point data based on the optical cutting method is calculated, and evaluation calculation processing is performed to determine the presence or absence of surface defects from the measurement point data and reference point data (from # 9 to # 24). ). This evaluation calculation process will be described in detail later. Actually, when the X-axis direction scanning is stopped in step # 08, the Y-direction scanning mechanism is operated while the evaluation calculation process is being executed, and the Y-axis direction shift is performed at a predetermined pitch (# 25). ). When the shift in the Y-axis direction is completed, a check is made as to whether scanning in the X-axis direction still remains (# 26).

ステップ#26のチェックでX軸方向の走査がまだ残っている場合(#26Yes分岐)、X軸方向の走査の向きを反転し(#27)、ステップ#5に戻ってX軸方向の走査を行う。ステップ#26のチェックでX軸方向の走査が残っていない場合(#14No分岐)、レーザスリット投光器12がOFFされ、スリット光の照射が停止する(#28)。さらに、回転テーブル21を90度回転測定死角の発生に伴う測定不能箇所の測定点データを補完するために、回転テーブル21を90度回転させる必要があるかどうかをチェックする(#29)。回転テーブル21を90度回転させる必要がある場合は(#29Yes分岐)、回転テーブル21の90度回転動作を行い、再びステップ#3に戻り、この測定を繰り返す。なお、この90度の追加回転で不十分な場合には、さらに90度毎のあと2回までの回転(最初の姿勢位置に対する180度位置と270度位置)が行われる。回転テーブル21を90度回転させる必要がない場合は(#29No分岐)、全ての測定ブロックにおける欠陥評価結果に基づいて総合判定を行う(#30)。この総合判定において、欠陥の位置を測定対象物の全体を示す全体図の上でマーキングした欠陥位置表示図をモニタ又はプリントを通じて出力することができる。総合判定が終了すると、測定対象物に対する形状評価処理は完了するが、この時点で所定数の測定対象物の検査が終了しておれば、前述した基準データ変更モジュール7基準データを正常に製作された製品の測定点データによって修正する基準データ変更ルーチンが行われる(#31)。   If scanning in the X-axis direction still remains in step # 26 (Yes branch at # 26), the direction of scanning in the X-axis direction is reversed (# 27), and the process returns to step # 5 to perform scanning in the X-axis direction. Do. If scanning in the X-axis direction does not remain in the check of step # 26 (# 14 No branch), the laser slit projector 12 is turned OFF and the slit light irradiation is stopped (# 28). Further, it is checked whether or not it is necessary to rotate the rotary table 21 by 90 degrees in order to complement the measurement point data of the unmeasurable part accompanying the generation of the 90-degree rotational blind spot (# 29). When it is necessary to rotate the rotary table 21 by 90 degrees (# 29 Yes branch), the rotary table 21 is rotated by 90 degrees, and the process returns to step # 3 again to repeat this measurement. If the additional rotation of 90 degrees is not sufficient, another 90 rotations (180 degree position and 270 degree position with respect to the initial posture position) are performed every 90 degrees. If it is not necessary to rotate the turntable 21 by 90 degrees (# 29 No branch), comprehensive determination is performed based on the defect evaluation results in all measurement blocks (# 30). In this comprehensive determination, a defect position display diagram in which the position of the defect is marked on the overall view showing the entire measurement object can be output through a monitor or a print. When the comprehensive determination is completed, the shape evaluation process for the measurement object is completed. If the inspection of a predetermined number of measurement objects is completed at this time, the reference data changing module 7 described above is normally manufactured. A reference data changing routine for correcting the measured point data of the product is performed (# 31).

この基準データ変更ルーチンが、図17に示されている。まず、同じ金型で製作されて、この物体形状評価装置で検査された測定対象物の個数(測定ワーク数)を算出するために、測定対象物に対する形状評価処理が完了する毎にカウントする(#800)。この測定ワーク数が設定数以下なら(#801No分岐)、基準データ変更処理の必要がないとしてこのルーチンを終了する。測定ワーク数が設定数以下なら(#801Yes分岐)、さらに、この測定対象物の測定点データが基準点データの修正に適したものであるかどうか、つまりこの測定対象物に対する形状評価処理において欠陥が検出されていたかどうかがチェックされる(#802)。欠陥が検出されていると(#802No分岐)、この測定対象物は基準点データの修正に適していないとみなしてこのルーチンを終了する。欠陥が検出されていない場合(#802Yes分岐)、さらに測定データによる形状チェックが行われる(#803)。この測定データによる形状チェックでは、測定点データと製品設計データとを比較して製品が設計寸法の許容範囲で入っていることでその形状が正常であるとみなされる。測定データ形状チェックによりその形状が正常でないとみなされた場合(#804No分岐)、この測定対象物は基準点データの修正に適していないとみなしてこのルーチンを終了する。測定データ形状チェックによりその形状が正常であるとみなされた場合(#802Yes分岐)、この測定対象物は基準点データの修正に適していないとみなして、この測定対象物の測定点データを基準点データに変更する(#805)。   This reference data changing routine is shown in FIG. First, in order to calculate the number of measurement objects (the number of measurement workpieces) manufactured with the same mold and inspected by this object shape evaluation apparatus, each time the shape evaluation process for the measurement object is completed ( # 800). If the number of workpieces to be measured is equal to or less than the set number (# 801 No branch), this routine is terminated because it is not necessary to change the reference data. If the number of workpieces is less than the set number (# 801 Yes branch), whether or not the measurement point data of this measurement object is suitable for correcting the reference point data, that is, a defect in the shape evaluation process for this measurement object. Is detected (# 802). If a defect is detected (# 802 No branch), this measurement object is regarded as not suitable for correcting the reference point data, and this routine is terminated. When no defect is detected (# 802 Yes branch), a shape check is further performed based on measurement data (# 803). In the shape check based on the measurement data, the measurement point data is compared with the product design data, and the shape is regarded as normal because the product is within the allowable range of the design dimension. If it is determined by the measurement data shape check that the shape is not normal (# 804 No branch), it is determined that the measurement object is not suitable for correcting the reference point data, and this routine is terminated. When the measurement data shape check determines that the shape is normal (Yes in # 802), the measurement object is regarded as not suitable for correcting the reference point data, and the measurement point data of the measurement object is used as a reference. Change to point data (# 805).

次に、図9に示された、本発明に係る処理ルーチンである評価演算処理を説明する。
まず、コントローラ3の画像処理部33が、撮像部16から転送されてきた画像データを処理してその光切断線画素位置情報を生成する(#09)。この光切断線画素位置情報から、三次元測定データ演算部34は、画素位置とその画素位置から三角測量法に基づいて演算された3次元位置との関係を格納したテーブルを利用して、光切断線画素位置情報に基づき測定対象物の三次元座標値を読み出し、この値を測定点データとして各測定点に対応付けられたメモリアドレスに転送する(#10)。もちろん、テーブルを用いずに、その都度、光切断線画素位置情報を用いて三角測量法に基づく演算を行うことで三次元座標値を求めて測定点データとしてもよい。
Next, the evaluation calculation process which is the process routine according to the present invention shown in FIG. 9 will be described.
First, the image processing unit 33 of the controller 3 processes the image data transferred from the imaging unit 16 to generate the optical cutting line pixel position information (# 09). From this light section line pixel position information, the three-dimensional measurement data calculation unit 34 uses a table storing the relationship between the pixel position and the three-dimensional position calculated from the pixel position based on the triangulation method. Based on the cutting line pixel position information, the three-dimensional coordinate value of the measurement object is read out, and this value is transferred to the memory address associated with each measurement point as measurement point data (# 10). Of course, instead of using a table, a three-dimensional coordinate value may be obtained and used as measurement point data by performing calculations based on the triangulation method using the light section line pixel position information each time.

測定点データが得られると、この測定点データからエッジ測定点を抽出してエッジ測定点データを生成するエッジ抽出ルーチンが実行される(#11)。このエッジ抽出ルーチンでは、図10に示すように、全測定点データが読み出されて、ワーキングメモリに展開される(#100)。その際、この全測定点データにおいて測定不能のために生じたデータ欠落点には測定下限値以下の指定値をダミーとして割り当てておく(#101)。測定されたブロックの全領域にわたって高さ方向(Z軸方向)の値に対してエッジ検出フィルタ(ソーベルフィルタなどの微分フィルタ)をかけて、微分値を算出する(#102)。この微分値を所定のしきい値を用いて、例えば「0」「1」で振り分けることにより、エッジと非エッジとを区分けした二値化データが生成されるので、この二値化データからエッジ測定点群データを取り出し、メモリに保存して(#102)、このルーチンを終了する。   When the measurement point data is obtained, an edge extraction routine for extracting edge measurement points from the measurement point data and generating edge measurement point data is executed (# 11). In this edge extraction routine, as shown in FIG. 10, all measurement point data is read and developed in the working memory (# 100). At this time, a specified value equal to or lower than the measurement lower limit value is assigned as a dummy to the missing data point caused by the inability to measure in all measurement point data (# 101). An edge detection filter (differential filter such as a Sobel filter) is applied to the value in the height direction (Z-axis direction) over the entire area of the measured block to calculate a differential value (# 102). By assigning this differential value using a predetermined threshold value, for example, “0” or “1”, binarized data in which edges and non-edges are separated is generated. The measurement point cloud data is taken out and stored in the memory (# 102), and this routine is terminated.

続いて、位置合わせ処理手段50によるエッジ測定点データとエッジ基準点データとの位置合わせが実行されるが、その前に、先行する測定対象物に対して実行された物体形状評価処理において、型修正箇所の存在推定に基づいて設定される追加基準データの有無がチェックされる(#12)。追加基準データが存在する場合には、その追加基準データ(追加基準点群)によって規定される領域が金型の型修正領域に対応している可能性があるので、それを考慮した欠陥判定が行われるが、ここではまず、追加基準データが存在しない場合での欠陥判定を説明する。   Subsequently, alignment between the edge measurement point data and the edge reference point data is performed by the alignment processing means 50. Before that, in the object shape evaluation process performed on the preceding measurement object, The presence / absence of additional reference data set based on the existence estimation of the corrected portion is checked (# 12). If additional reference data exists, the area defined by the additional reference data (additional reference point group) may correspond to the mold correction area of the mold. Here, first, the defect determination when there is no additional reference data will be described.

ステップ#12のチェックで追加基準データが存在しない場合には(#12Yes)、上記エッジ抽出ルーチンで得られたエッジ測定点群と、基準データ格納部81から読み出されたエッジ基準点データとを用いたエッジ位置合わせルーチンが実行される(#13)。   If the additional reference data does not exist in the check of step # 12 (# 12 Yes), the edge measurement point group obtained by the edge extraction routine and the edge reference point data read from the reference data storage unit 81 are used. The used edge alignment routine is executed (# 13).

位置合わせルーチンを説明する前に、図18を用いて本発明で採用した測定点群と基準点群との位置合わせアルゴリズムを模式的に説明する。この位置合わせアルゴリズムでは、基準点群と測定点群との位置合わせを行う逐次収束処理としてICPアルゴリズムに基づいた方法が採用されている。このICPアルゴリズムでは、図18で模式的に示されているように、基準点群(基準点データ)の各点について最も近い測定点群(測定点データ)の点を対応点とし、各対応点距離の2乗和を最小とする合同変換パラメータを推定して、逐次収束させていく。このようなICPアルゴリズムによる位置合わせでは、図18で示しているような等測定走査ピッチで測定点を決定していくような形状測定の場合、測定面の姿勢によっては僅かな走査ピッチのずれが大きな測定点のずれを導くことになる(図18では、測定点S4、S5、S6がこれに当てはまる)。従って、想定している位置座標と実際の位置座標との誤差が大きいことが予想される測定点とそれに対応する基準点とをそのまま逐次収束処理における逐次収束評価に用いることは好ましくない。このような問題を回避するため、本発明で適用されている改善されたICPアルゴリズムでは、以下に説明するような重み係数を取り入れている。   Prior to describing the alignment routine, an alignment algorithm between the measurement point group and the reference point group employed in the present invention will be schematically described with reference to FIG. In this alignment algorithm, a method based on the ICP algorithm is adopted as a sequential convergence process for aligning the reference point group and the measurement point group. In this ICP algorithm, as schematically shown in FIG. 18, each point of the reference point group (reference point data) is set to the corresponding point of the closest measurement point group (measurement point data), and each corresponding point The congruent transformation parameter that minimizes the sum of squares of the distance is estimated and converged sequentially. In such alignment by the ICP algorithm, in the case of shape measurement in which measurement points are determined at an equal measurement scan pitch as shown in FIG. 18, a slight scan pitch shift may occur depending on the orientation of the measurement surface. This leads to a large shift of measurement points (in FIG. 18, measurement points S4, S5, S6 apply to this). Therefore, it is not preferable to use a measurement point at which an error between an assumed position coordinate and an actual position coordinate is expected to be large and a reference point corresponding thereto as it is for the successive convergence evaluation in the successive convergence process. In order to avoid such problems, the improved ICP algorithm applied in the present invention incorporates weighting factors as described below.

図18では、基準点群(基準点データ):Mに含まれる基準点はmで示されており、測定順序に対応させて添え字(自然数)が付与されている。測定点群(測定点データ):Sに含まれる測定点はsで示されており、基準点と同様に測定順序に対応させて添え字(自然数)が付与されている。測定点群を基準点群に重ねる位置決めのための従来のICPアルゴリズムを用いた逐次収束処理では、測定点群中の各測定点について基準点群の中で最も近い基準点を対応点とし、各対応点間の距離の2乗和が最小となる合同変換パラメータ(R、t)が求められる。ここで、Rは回転行列で、tは並進移動ベクトルである。その際、対応する基準点と測定点の組み合わせの中で、上述した大きい誤差が予想される測定点との組み合わせたものを他の組み合わせと同様に扱うと無視できない誤差の影響を受ける可能性がある。従って、測定点又は前記基準点の隣接点間距離に基づいて隣接点間距離重み係数を割り当て、その悪影響を抑制する。ここでは、基準点の間の隣接点間距離に基づいてその対応点間の距離に対する重み係数を算定することにするが、もちろん測定点の間の隣接点間距離に基づいてその対応点間の距離に対する重み係数を算定してもよい。   In FIG. 18, a reference point group (reference point data): a reference point included in M is indicated by m, and a subscript (natural number) is given corresponding to the measurement order. Measurement point group (measurement point data): The measurement point included in S is indicated by s, and a subscript (natural number) is given corresponding to the measurement order in the same manner as the reference point. In the sequential convergence process using the conventional ICP algorithm for positioning the measurement point group over the reference point group, the closest reference point in the reference point group is set as the corresponding point for each measurement point in the measurement point group. A joint transformation parameter (R, t) that minimizes the sum of squares of the distances between corresponding points is obtained. Here, R is a rotation matrix and t is a translation vector. At that time, among the corresponding combinations of reference points and measurement points, if the combination of the above-mentioned measurement points where a large error is expected is handled in the same way as other combinations, there is a possibility that it will be affected by errors that cannot be ignored. is there. Therefore, the distance weight coefficient between adjacent points is assigned based on the distance between adjacent points of the measurement point or the reference point, and the adverse effect is suppressed. Here, the weighting coefficient for the distance between the corresponding points is calculated based on the distance between the adjacent points between the reference points. Of course, the distance between the corresponding points is determined based on the distance between the adjacent points between the measurement points. A weighting factor for the distance may be calculated.

三次元座標(xi,yi,zi)を有する基準点:miの隣接点間距離:diは、三平方の定理で求められ、その二乗は、
i 2=xi 2+yi 2+zi 2となる。
隣接点間距離重み係数:γiは、重み関数をΓとすると、
γi=Γ(di 2)で求められる。
例えば、重み関数:Γを次のようなしきい値関数とすると好都合である。
i 2がしきい値:dth以上の時、γi=0.01
i 2がしきい値:dth未満の時、γi=1
しきい値:dthは基準点群や測定点群の特性によって適切に決めることにより、想定している位置座標と実際の位置座標との誤差が大きいことが予想される測定点とそれに対応する基準点とが逐次収束評価に及ぼす悪影響を抑制することができる。
Three-dimensional coordinates (x i, y i, z i) the reference point having: m i between adjacent point distance: d i is calculated by the Pythagorean theorem, the square is
d i 2 = x i 2 + y i 2 + z i 2
The distance weight coefficient between adjacent points: γ i is the weight function Γ,
It is obtained by γ i = Γ (d i 2 ).
For example, it is convenient that the weight function: Γ is a threshold function as follows.
When d i 2 is a threshold value: d th or more, γ i = 0.01
When d i 2 is less than the threshold: d th γ i = 1
The threshold value: d th is determined appropriately according to the characteristics of the reference point group and the measurement point group, and corresponding to the measurement point where the error between the assumed position coordinate and the actual position coordinate is expected to be large. The adverse effect of the reference point on the successive convergence evaluation can be suppressed.

なお、このようなICPアルゴリズムに基づく位置合わせにおいて、上述した非特許文献に開示されているようなM推定を用いることが有用である。図18を用いて、M推定を導入したICPアルゴリズムを簡単に説明する。このM推定の導入は、対応する測定点と基準点との間の対応点間距離に基づいて決定された対応点間距離重み係数を逐次収束処理における逐次収束評価に用いることである。例えば、対応点間距離をeiとすると、対応点間距離重み係数:ρiは、重み関数をΡとすると、
ρi=Ρ(ei) で求められる。ここでも、重み関数:Ρを次のようなしきい値関数とすることができる;
|ei|が設定幅:Bi以下の時、
ρi=(Bi 2/2 )(1−(1−(ei/Bi2
|ei|が設定幅:Biを越える時、
ρi=(Bi 2/2 )。
It should be noted that it is useful to use M estimation as disclosed in the above-mentioned non-patent document in the alignment based on such an ICP algorithm. The ICP algorithm in which M estimation is introduced will be briefly described with reference to FIG. The introduction of M estimation is to use the distance weight factor between corresponding points determined based on the distance between corresponding points between the corresponding measurement point and the reference point for the successive convergence evaluation in the successive convergence process. For example, assuming that the distance between corresponding points is e i , the distance weight coefficient between corresponding points: ρ i is
ρ i = Ρ (e i ) Again, the weight function: Ρ can be a threshold function such as:
When | e i | is less than the setting width: Bi,
ρ i = (B i 2/ 2) (1- (1- (e i / B i) 2)
When | ei | exceeds the set width Bi
ρ i = (B i 2/ 2).

隣接点間距離重み係数:γiに加えて対応点間距離重み係数:ρiも逐次収束評価に用いる場合には、トータル重み係数:wは、隣接点間距離重み係数:γiと対応点間距離重み係数:ρiとをパラメータとする関数から導くことができる。従って、逐次収束処理における逐次収束評価値:Jは、対応点の数をNとすれば、対応点間距離:eiと対応点間距離重み係数:ρiと隣接点間距離重み係数:γiとをパラメータとする評価関数:Hを用いて導出することができる。
J=(1/N)ΣH(ei,ρi,γi
演算を簡単化するために、トータル重み係数:wiを各重み係数の乗算とすれば、
J=(1/N)ΣH(ei,wi)、wi=ρi×γi
となる。
When the distance weight coefficient between adjacent points: γ i and the distance weight coefficient between corresponding points: ρ i are also used for successive convergence evaluation, the total weight coefficient: w is the distance weight coefficient between adjacent points: γ i and the corresponding points. It can be derived from a function having a distance weight coefficient: ρ i as a parameter. Thus, sequential convergence process sequential convergence evaluation value in: J, if the number of corresponding points is N, between the corresponding point distance: e i and between the corresponding point distance weighting factor: [rho i with the neighboring point distance weight factor: gamma An evaluation function with i as a parameter can be derived using H.
J = (1 / N) ΣH (e i , ρ i , γ i )
In order to simplify the calculation, if the total weight coefficient: wi is multiplied by each weight coefficient,
J = (1 / N) ΣH (e i , w i ), w i = ρ i × γ i
It becomes.

次に、上述したアルゴリズムを用いて位置合わせされた基準点群(基準点データ)と測定点群(測定点データ)とから、効率的にめくり上がりなどの特定の表面欠陥を判定する基本的なアルゴリズムを図18の下側の模式図を用いて説明する。
まず、対応点間距離:eiが予め設定されている対応点間距離しきい値(第1しきい値):TA以上となる連続した測定点群を誤対応領域として抽出する。図2では、測定点S4、S5、S6が抽出されている。さらに、誤対応領域に属する測定点の分布密度が算定される。簡単に分布密度を算定するため、例えば、それらの測定点の隣接点間距離:diを用いることができる。つまり、隣接点間距離:diが予め設定されている隣接点間距離しきい
値(第2しきい値):TL以上となる測定点を近傍測定点とみなす。これにより、所定以上の分布密度を有する対応点(近傍測定点)が抽出されたことになる。さらに、この近傍測定点の数が予め設定されている近傍点数しきい値(第3しきい値):TC以上となるかどうかチェックされる。近傍測定点の数が近傍点数しきい値より大きい場合この近傍測定点群によって規定される領域、つまりこの近傍測定点群を含む表面領域が表面欠陥として判定される。
Next, a basic method for efficiently determining a specific surface defect such as turning up from a reference point group (reference point data) and a measurement point group (measurement point data) aligned using the algorithm described above. The algorithm will be described with reference to the lower schematic diagram of FIG.
First, between the corresponding point distance: e i is preset to have the corresponding point distance threshold (first threshold): extracts the continuous measurement point group to be T A or as erroneous corresponding area. In FIG. 2, measurement points S 4 , S 5 , S 6 are extracted. Further, the distribution density of the measurement points belonging to the erroneous correspondence area is calculated. In order to easily calculate the distribution density, for example, the distance between adjacent points of the measurement points: d i can be used. In other words, adjacent point distance: d i between the adjacent points is preset distance threshold (second threshold) regarded as near measurement point the measurement point as a T L or more. As a result, corresponding points (neighboring measurement points) having a distribution density greater than or equal to a predetermined value are extracted. Further, it is checked whether or not the number of neighboring measurement points is equal to or greater than a preset neighboring point threshold value (third threshold value): T C. When the number of neighboring measurement points is larger than the neighboring score threshold, a region defined by this neighboring measurement point group, that is, a surface region including this neighboring measurement point group is determined as a surface defect.

さて、上述した位置合わせアルゴリズムに基づいたエッジ位置合わせルーチン(#13)では、図11で示されているように、まず、エッジ測定点データを読み出してエッジ測定点群をメモリに展開するとともに(#200)、エッジ基準点データを読み出してエッジ基準点群をメモリに展開する(#201)。最も小さい対応点間距離を有するように測定点と基準点を対応付ける(#202)。対応点間距離に基づいた重み係数と隣接点間距離に基づいた重み係数を算出し、これらを掛け合わせてトータル重み係数を求める(#203)。さらにこのトータル重み係数と対応点間距離を用いて逐次収束評価値を算出する(#204)。算出された逐次収束評価値に基づいてこの対応付けられた対応点群が逐次収束しているかどうかチェックされる(#205)。収束しない場合(#205No分岐)、ステップ#202に戻り再度測定点と基準点との対応付けを行う。収束する場合(#205Yes分岐)、対応点群ができる限り一致するような合同変換パラメータ:E(R,t)を生成する(#206)。生成された合同変換パラメータを用いてエッジ測定点群の位置座標を変換し、エッジ測定点群と全測定点群を移動する(#207、#208)。つまり、エッジ測定点群を用いて生成された合同変換パラメータを用いて全測定点群を移動させている。移動後の測定点群と基準点群とから平均対応距離を算出し(#209)、算出された平均対応距離と予め設定されたしきい値とを比較して、終了条件が満たされたかどうかチェックする(#210)。なお、このチェックステップにおいて繰り返し回数の上限を付加的に設定しておくと好都合である。終了条件が満たされていない場合(#210No分岐)。ステップ#202に戻り、移動後の測定点と基準点との対応付けを行う。終了条件が満たされている場合(#210Yes分岐)、このエッジ位置合わせルーチンを終了する
In the edge alignment routine (# 13) based on the above-described alignment algorithm, as shown in FIG. 11, first, edge measurement point data is read and the edge measurement point group is developed in the memory ( In step # 200, the edge reference point data is read and the edge reference point group is developed in the memory (# 201). The measurement point and the reference point are associated with each other so as to have the smallest distance between corresponding points (# 202). A weighting factor based on the distance between corresponding points and a weighting factor based on the distance between adjacent points are calculated and multiplied to obtain a total weighting factor (# 203). Further, a convergence evaluation value is calculated sequentially using the total weight coefficient and the distance between corresponding points (# 204). Based on the calculated successive convergence evaluation value, it is checked whether or not the associated corresponding point group is successively converged (# 205). When convergence does not occur (# 205 No branch), the process returns to step # 202 to associate the measurement point with the reference point again. In the case of convergence (# 205 Yes branch), a congruent transformation parameter: E (R, t) is generated (# 206) so that the corresponding point group matches as much as possible. The position coordinate of the edge measurement point group is converted using the generated joint conversion parameter, and the edge measurement point group and all the measurement point groups are moved (# 207, # 208). That is, the entire measurement point group is moved using the joint conversion parameter generated using the edge measurement point group. An average correspondence distance is calculated from the measurement point group and the reference point group after movement (# 209), and the calculated average correspondence distance is compared with a preset threshold value to determine whether the end condition is satisfied. Check (# 210). It is convenient to additionally set an upper limit on the number of repetitions in this check step. When the termination condition is not satisfied (# 210 No branch). Returning to step # 202, the measurement point after movement and the reference point are associated with each other. If the end condition is satisfied (# 210 Yes branch), this edge alignment routine is ended.

エッジ位置合わせルーチン(#13)が終了すると、次に全点位置合わせルーチンが実行される(#14)。この全点位置合わせルーチンは図12に示されている。この全点位置合わせルーチンは、エッジ位置合わせルーチンにおいて生成された合同変換パラメータを用いて全測定点軍を移動させた後に、さらに全測定点群と全基準点群を用いて精密な位置合わせを行うため実行すると好適である。また、測定ブロックに明確なエッジが存在しない場合や、満足できるエッジ測定データが得られない場合には、エッジの位置合わせルーチンを省略してこの全点位置合わせルーチンだけが行われることになる。この全点位置合わせルーチン(#14)は、エッジの位置合わせルーチン(#13)に比べて、エッジ測定点群とエッジ基準点群との関係が全測定点群と全基準点群との関係になるだけで、実質的な処理手順は同じであるので、ここでの説明は省略する。   When the edge alignment routine (# 13) ends, the all-point alignment routine is executed (# 14). This all-point alignment routine is shown in FIG. In this all-point alignment routine, after all the measurement point forces are moved using the joint transformation parameters generated in the edge alignment routine, a precise alignment is further performed using all measurement point groups and all reference point groups. It is preferable to execute it to do it. Further, when there is no clear edge in the measurement block or when satisfactory edge measurement data cannot be obtained, the edge alignment routine is omitted and only the all-point alignment routine is performed. Compared with the edge alignment routine (# 13), the all-point alignment routine (# 14) has a relationship between the edge measurement point group and the edge reference point group between the all measurement point group and the all reference point group. However, since the substantial processing procedure is the same, description thereof is omitted here.

位置合わせルーチンが終了すると、欠陥評価モジュール6が上述した表面欠陥判定アルゴリズムを用いて表面欠陥領域の検出を行う欠陥判定ルーチンを実行する(#15)。この欠陥判定ルーチンは、図13に示されている。まず、対応点間距離しきい値を用いて、対応点間距離がしきい値以上となる測定点の集合体(特定測定点群)を誤対応領域として抽出する処理を実行する(#400)。誤対応領域が抽出されなかった場合(#401No分岐)、この欠陥判定ルーチンを終了する。誤対応領域が抽出された場合(#401Yes分岐)、誤対応領域に含まれている測定点間の隣接点間距離が予め設定されている隣接点間距離しきい値以下点群を1つの集合体としてラベリングを行う(#402)。さらに、ラベルを付与された集合体毎に特徴量(欠陥特徴量)を算出する(#403)。特徴量としては、欠陥可能性としての集合体の重心、等価楕円長軸長、等価楕円長軸角度、フィレ径等が挙げられる。その特徴量が設定値より大きい場合(#404Yes分岐)、欠陥とみなされ、その特徴量はその三次元位置などとともに、欠陥として欠陥情報格納部82に記録される。その特徴量が設定値より小さい場合(#404No分岐)、欠陥とはみなされず、その特徴量は記録されずに、このルーチンは終了する。   When the alignment routine is completed, the defect evaluation module 6 executes a defect determination routine for detecting a surface defect area using the surface defect determination algorithm described above (# 15). This defect determination routine is shown in FIG. First, using a threshold value between corresponding points, a process of extracting a collection of measurement points (specific measurement point group) whose distance between corresponding points is equal to or greater than the threshold value as a miscorresponding region (# 400). . If no erroneous correspondence area is extracted (# 401 No branch), this defect determination routine is terminated. When an erroneous correspondence region is extracted (# 401 Yes branch), a set of points whose distance between adjacent points between measurement points included in the erroneous correspondence region is equal to or smaller than a preset threshold value between adjacent points is set as one set. Label as a body (# 402). Further, a feature amount (defect feature amount) is calculated for each aggregate to which a label is assigned (# 403). Examples of the feature amount include the center of gravity of the aggregate as a defect possibility, the equivalent ellipse major axis length, the equivalent ellipse major axis angle, and the fillet diameter. When the feature amount is larger than the set value (# 404 Yes branch), it is regarded as a defect, and the feature amount is recorded in the defect information storage unit 82 as a defect together with the three-dimensional position and the like. If the feature amount is smaller than the set value (# 404 No branch), it is not regarded as a defect, the feature amount is not recorded, and this routine ends.

次に、欠陥判定ルーチンで欠陥と判定された集合体が位置する領域が金型修正された型修正箇所とみなされる領域であるかどうかを判定する型修正による形状違い判定ルーチンが実行される。この形状違い判定ルーチンは、具体的には種々の形態が考えられるが、ここでは、2つの形態を説明する。
まず、第1の形態の形状違い判定ルーチン(#16A)は、図14に示されている。型修正以前の金型で製作される測定対象物の目標形状は基準点群に基づいて設定することができる。また、型修正後の金型で製作された測定対象物における型修正箇所における測定点群と基準点群とのずれは同じ箇所に発生する。従って、上記欠陥判定ルーチンによって判定された欠陥のうち、連続して同じ箇所に発生している欠陥は、型修正による目標形状とのずれであり、欠陥とはみなさず、それらを区別するのが、この形状違い判定ルーチン(#16A)の主旨である。そのため、まず、前回の測定対象物で判定された欠陥の特徴量を読み出すとともに(#500)、今回の測定対象物で判定された欠陥の特徴量を読み出す(#501)。前回と今回との実質的に同じ位置での欠陥がもつ欠陥特徴量、例えば欠陥の重心、等価楕円長軸長、等価楕円長軸角度、フィレ径等から選択された特徴量の所定範囲内で一致しているかどうかチェックされる(#502)。一致であれば(#502Yes分岐)、その欠陥箇所は型修正箇所であると判定し(#503)、不一致であれば(#502No分岐)、その欠陥箇所は型修正箇所ではないと判定して(#504)、このルーチンを終了する。
Next, a shape difference determination routine based on mold correction is performed to determine whether or not the area where the assembly determined to be a defect in the defect determination routine is an area that is regarded as a mold correction location corrected by the mold. The shape difference determination routine may specifically take various forms, but here, two forms will be described.
First, the shape difference determination routine (# 16A) of the first embodiment is shown in FIG. The target shape of the measurement object manufactured by the mold before the mold correction can be set based on the reference point group. Further, the deviation between the measurement point group and the reference point group at the mold correction position in the measurement object manufactured by the mold after the mold correction occurs at the same position. Therefore, among the defects determined by the defect determination routine, the defects that are continuously generated at the same location are the deviations from the target shape due to the mold correction, and are not regarded as defects, and can be distinguished from each other. This is the gist of the shape difference determination routine (# 16A). Therefore, first, the feature amount of the defect determined by the previous measurement object is read (# 500), and the defect feature amount determined by the current measurement object is read (# 501). Within a predetermined range of feature values selected from the defect feature amounts of defects at substantially the same position as the previous time and this time, for example, the center of gravity of the defect, the equivalent ellipse major axis length, the equivalent ellipse major axis angle, the fillet diameter, etc. It is checked whether they match (# 502). If they match (# 502 Yes branch), it is determined that the defective part is a mold correction part (# 503). If they do not match (# 502 No branch), it is determined that the defect part is not a mold correction part. (# 504), this routine is terminated.

第2の形態の形状違い判定ルーチン(#16B)は、図15に示されている。この形状違い判定ルーチンは、型修正後の金型で製作された測定対象物における型修正箇所の形状(つまり測定点群に規定される測定形状)と、型修正以前の金型で製作される測定対象物の目標形状(つまり測定点群に規定される測定形状)とは、形状そのものは類似しているという事実を利用している。そのため、まず、エッジ基準点データと全基準点データとを含む基準点データを読み出すとともに(#600)、今回の測定対象物で判定された欠陥の特徴量を含む欠陥情報を読み出す(#601)。欠陥の特徴量とその欠陥に対応する基準点データとからその欠陥が垂直な側面(測定光に対しておおむね平行となる)に発生しているものか、底面もしくは上面(測定光に対しておおむね垂直となる)に発生しているものかを判断する(#602)。垂直な側面の場合(#602Yes分岐)、欠陥情報から得られる欠陥部と同程度の領域に対応するエッジ基準点群を基準点データから抽出し(#603)、欠陥領域に限定したエッジ位置合わせルーチンを行う(#604)。垂直な側面でない場合(#602No分岐)、欠陥情報から得られる欠陥部と同程度の領域に対応する全基準点群を全基準点データから抽出し(#605)、欠陥領域に限定した全位置合わせルーチンを行う(#606)。つまり、ここでは、欠陥領域という狭い領域に限定した位置合わせを行うが、その際測定点データが不安定になりやすい垂直な側面における欠陥領域にはエッジ位置合わせルーチンを適用する。   The shape difference determination routine (# 16B) of the second embodiment is shown in FIG. This shape difference determination routine is manufactured with the shape of the mold correction location (that is, the measurement shape defined in the measurement point group) in the measurement object manufactured with the mold after the mold correction, and the mold before the mold correction. The fact that the shape itself is similar to the target shape of the measurement object (that is, the measurement shape defined in the measurement point group) is used. Therefore, first, reference point data including edge reference point data and all reference point data is read (# 600), and defect information including the feature amount of the defect determined by the current measurement object is read (# 601). . Based on the feature amount of the defect and the reference point data corresponding to the defect, the defect is generated on a vertical side surface (generally parallel to the measurement light) or the bottom or top surface (generally to the measurement light) It is determined whether it has occurred (# 602). In the case of a vertical side surface (# 602 Yes branch), an edge reference point group corresponding to an area equivalent to the defect portion obtained from the defect information is extracted from the reference point data (# 603), and edge alignment limited to the defect area is performed. A routine is executed (# 604). If it is not a vertical side surface (# 602 No branch), all reference point groups corresponding to the same area as the defect portion obtained from the defect information are extracted from all reference point data (# 605), and all positions limited to the defect area A matching routine is performed (# 606). That is, here, the alignment is limited to a narrow area called a defect area, but the edge alignment routine is applied to the defect area on the vertical side surface where the measurement point data is likely to be unstable.

いずれかの位置合わせルーチンによる位置合わせが終了すると、基準点群によって規定される基準点平面と測定点群によって規定される測定点平面との間の類似度を算定する(#607)。この類似度は、例えば欠陥領域の等価楕円長軸長や平均対応距離などをパラメータとして算出される。その類似度関数は、等価楕円長軸長が大きいほど類似度が高くなるように、平均対応距離が大きくなるほど類似度が低くなるように設定すると、好適であることが実験的に確かめられている。算出された類似度が所定しきい値で比較される(#608)。類似度が高い場合(#608Yes分岐)、その欠陥箇所は型修正箇所であると判定し(#609)、類似度が低い場合(#609No分岐)、その欠陥箇所は型修正箇所ではないと判定して(#610)、このルーチンを終了する。   When the alignment by any of the alignment routines is completed, the similarity between the reference point plane defined by the reference point group and the measurement point plane defined by the measurement point group is calculated (# 607). This similarity is calculated using, for example, the equivalent ellipse major axis length of the defect region, the average correspondence distance, and the like as parameters. It has been experimentally confirmed that it is preferable that the similarity function is set so that the similarity becomes higher as the equivalent ellipse major axis length becomes larger and the similarity becomes lower as the average corresponding distance becomes larger. . The calculated similarity is compared with a predetermined threshold (# 608). If the similarity is high (# 608 Yes branch), it is determined that the defective part is a mold correction part (# 609), and if the similarity is low (# 609 No branch), it is determined that the defective part is not a mold correction part. (# 610), and this routine is finished.

図9の評価演算処理のフローチャートに戻ると、上述した型修正による形状違い判定ルーチン(#16A又は#16B)が終了すると、型修正による形状違い判定ルーチンにおいて型修正箇所とみなされた箇所があったかどうかチェックされる(#17)。型修正箇所があった場合には(#17Yes分岐)、その型修正箇所情報を型修正箇所情報格納部83に記録するとともに、その型修正箇所の領域、あるいはその型修正箇所を含む測定ブロック全体の基準点データを新たな基準点データとして、基準データ格納部81に追加登録して(#18)、このルーチンを終了する。なお、型修正箇所情報格納部83を基準データ格納部81に兼用させても良い。   Returning to the flowchart of the evaluation calculation process in FIG. 9, when the shape difference determination routine (# 16A or # 16B) by the above-described mold correction ends, is there a place that is regarded as a mold correction place in the shape difference determination routine by the mold correction? A check is made (# 17). When there is a mold correction location (# 17 Yes branch), the type correction location information is recorded in the type correction location information storage unit 83, and the area of the type correction location or the entire measurement block including the type correction location is recorded. Are newly registered in the reference data storage unit 81 as new reference point data (# 18), and this routine is terminated. Note that the mold correction location information storage unit 83 may also be used as the reference data storage unit 81.

このように、ステップ#18で型修正箇所情報ないしは追加基準データが記録されると、それ以降の測定対象物に対するこの評価演算処理において、ステップ#12のチェックにおいてNo分岐する。ここでNo分岐すると、上述した位置合わせアルゴリズムを用いたエッジ測定点データと型修正前のエッジ基準点データを用いた位置合わせと、エッジ測定点データと型修正後のエッジ基準点データを用いた位置合わせが実行される(#19)。さらに、全測定点データと型修正前の全基準点データを用いた位置合わせと、全測定点データと型修正後の全基準点データを用いた位置合わせが実行される(#20)。   As described above, when the mold correction location information or the additional reference data is recorded in Step # 18, the No branch is made in the check of Step # 12 in the subsequent evaluation calculation processing for the measurement object. When No branch is made here, the alignment using the edge measurement point data and the edge reference point data before the mold correction using the above-described alignment algorithm, the edge measurement point data and the edge reference point data after the mold correction are used. Alignment is executed (# 19). Further, alignment using all measurement point data and all reference point data before mold correction, and alignment using all measurement point data and all reference point data after mold correction are executed (# 20).

位置合わせが終了すると、型修正前と型修正後の製品が混在しても、欠陥か型修正箇所なのかを判定する欠陥・型修正箇所判定ルーチンが実行される(#21)。
この欠陥・型修正箇所判定ルーチン(#21)は、図16に示されている。まず、まず型修正前の基準点データから、対応点間距離しきい値を用いて対応点間距離がしきい値以上となる測定点群の集合体(特定測定点群)を誤対応領域として抽出する(#700)。抽出された誤対応領域は、図13で示した欠陥判定処理と同様な処理により、欠陥検出が行われ、欠陥が見出されると、欠陥情報:E1として欠陥情報格納部82に記録される(#705)。なお、ここでのステップ#701から#704までは、上記欠陥判定処理のステップ#401から#404に対応しているので、ここでの説明は省略される。
When the alignment is completed, a defect / mold correction location determination routine is executed to determine whether the product is a defect or a mold correction location even if products before and after mold correction are mixed (# 21).
This defect / die correction point determination routine (# 21) is shown in FIG. First, from the reference point data before mold correction, a set of measurement point groups (specific measurement point group) where the distance between corresponding points is equal to or greater than the threshold using the distance threshold between corresponding points is set as a miscorresponding region. Extract (# 700). The extracted miscorresponding area is subjected to defect detection by a process similar to the defect determination process shown in FIG. 13, and when a defect is found, it is recorded in the defect information storage unit 82 as defect information: E1 (# 705). Since steps # 701 to # 704 here correspond to steps # 401 to # 404 of the defect determination process, description thereof is omitted here.

さらに、型修正後の基準点データから、対応点間距離しきい値を用いて対応点間距離がしきい値以上となる測定点群の集合体(特定測定点群)を誤対応領域として抽出する(#706)。抽出された誤対応領域に対して、ステップ#701から#704までと同様な処理(ステップ#707から#710)が行われ、欠陥が見出されると、欠陥情報:E2として欠陥情報格納部82に記録される(#711)。   Furthermore, from the reference point data after mold correction, a set of measurement point groups (specific measurement point group) where the distance between corresponding points is equal to or greater than the threshold value is extracted as a miscorresponding region using the distance threshold between corresponding points (# 706). Processing similar to steps # 701 to # 704 (steps # 707 to # 710) is performed on the extracted erroneous correspondence area, and when a defect is found, defect information: E2 is stored in the defect information storage unit 82. It is recorded (# 711).

ここまでの処理で見つけられた欠陥が、型修正による形状違いでなく本当の欠陥なら、型修正前と型修正後の両方の基準点データを用いた欠陥判定処理から欠陥として見出されると考えられる。従って、欠陥情報:E1及び欠陥情報:E2とが所定範囲内の共通領域に属していると判定(#712Yes分岐)された欠陥は最終的に欠陥として判断される(#714)。また、ここまでの処理で見つけられた欠陥が、型修正前の基準点データを用いた欠陥判定処理のみから欠陥として見出された場合は、本当の欠陥ではなく型修正による形状違いと考えられる。従って、欠陥情報:E1のみ領域に属していると判定(#713Yes分岐)された欠陥箇所は型修正箇所して判断され、測定製品個数である測定ワーク数がカウントアップされる(#715)。 If the defect found in the process so far is not a shape difference due to mold correction but a real defect, it can be found as a defect from the defect determination process using both reference point data before and after mold correction. . Therefore, the defect determined that the defect information: E1 and the defect information: E2 belong to the common area within the predetermined range (# 712 Yes branch) is finally determined as a defect (# 714). In addition, if the defect found in the process so far is found as a defect only from the defect determination process using the reference point data before the mold correction, it is considered that the shape is not a real defect but a shape difference due to the mold correction. . Thus, defect information: E1 only determined to belong to the region (# 713Yes branches) have been defective portion is determined by the type of correcting portions, measured product measurement work number is the number is counted up (# 715) .

欠陥・型修正箇所判定ルーチンが終了して、図9の評価演算処理のフローチャートに戻ると、型修正後の製品個数が設定値以下かどうか、つまり型修正前と型修正後の製品が混在しているかどうかが判断される(#22)。設定値以下の場合(#22Yes分岐)、型修正前と型修正後の製品が混在しているとみなして、このルーチンを終了する。設定値を超えている場合(#22No分岐)、もはや型修正前の製品がなくなったとみなして、型修正前の基準データを消去される(#23)。さらに、測定製品個数である測定ワーク数がリセットされ(#24)、この評価演算処理ルーチンを終了する。   When the defect / mold correction location determination routine is completed and the flow returns to the flowchart of the evaluation calculation process in FIG. 9, whether the number of products after mold correction is equal to or less than the set value, that is, products before and after mold correction are mixed. Is determined (# 22). If it is equal to or smaller than the set value (# 22 Yes branch), it is determined that the product before and after the mold correction is mixed, and this routine is terminated. If it exceeds the set value (# 22 No branch), it is considered that there is no longer any product before the mold correction, and the reference data before the mold correction is deleted (# 23). Further, the number of measured workpieces, which is the number of measured products, is reset (# 24), and this evaluation calculation processing routine is terminated.

上述したような物体形状評価処理、特にエッジ位置合わせを行うことにより、従来技術では、十分な信頼性を得られなかった、側面や底面などからの測定点データが不十分な測定対象物に対しても高い信頼性もって形状評価できるようになった。例えば、側面が存在しないような人工的な測定対象物に対しておこなわれた実験結果が図19のグラフに示されている。全位置合わせだけを採用した位置合わせでは、10回以上の位置合わせを繰り返しても30ミクロン以上の対応点平均距離が残っている。これに対して、エッジ位置合わせと全位置合わせを組み合わせた位置合わせでは最初の位置合わせから対応点平均距離が実質的にゼロに等しくなるような効果的な位置合わせが実現している。
また、アルミダイキャストのような金型製品の場合、金型の磨耗により形状が変わっても、逐次正常な製品の測定点データを基準点データとして登録変更することできる。これにより、型修正などで型の形状が変わり、型修正前の製品と型修正後の製品が混在しても、型修正箇所と欠陥を区別する処理を導入することで、高い信頼性の物体形状評価が得られる。
By performing object shape evaluation processing as described above, especially edge alignment, the measurement technology for measuring objects with insufficient measurement point data from the side or bottom, etc., where sufficient reliability could not be obtained with the conventional technology. However, the shape can be evaluated with high reliability. For example, the result of an experiment performed on an artificial measurement object having no side surface is shown in the graph of FIG. In the alignment using only the entire alignment, even if the alignment is repeated 10 times or more, the corresponding point average distance of 30 microns or more remains. On the other hand, in the alignment that combines the edge alignment and the total alignment, an effective alignment is realized such that the corresponding point average distance is substantially equal to zero from the initial alignment.
Further, in the case of a mold product such as an aluminum die cast, even if the shape changes due to wear of the mold, the measurement point data of a normal product can be sequentially registered and changed as reference point data. With this, even if the shape of the mold changes due to mold correction, etc., even if the product before mold correction and the product after mold correction are mixed, a highly reliable object is introduced by introducing a process to distinguish the mold correction location from the defect. Shape evaluation is obtained.

以下、別実施形態を例示する。
(1)エッジ基準点データは予め生成して基準データ格納部に格納するのではなく、使用する時に、全基準点データからエッジ検出フィルタ処理などで生成してもよい。
(2)上記実施形態では、位置合わせアルゴリズムとして重み演算付きのICPアルゴリズムを採用していたが、一般的なICPアルゴリズムを採用してもよいし、その他の位置合わせアルゴリズムを採用しても良い。
(3)上記実施形態では、隣接点間距離重み係数は位置合わせルーチンにおいて算出していたが、この隣接点間距離重み係数を基準点群の隣接点間距離に基づいて求める場合、予め算定しておいてテーブル化しておくことで演算速度が高速化する。
(4)上記実施の形態では、判定条件として予め設定された多くのしきい値が用いられていたが、このしきい値を予め設定されたものではなく、測定対象物の表面形状あるいは測定結果の統計学的な特性からしきい値が算定されるような構成を採用してもよい。
(5)上記実施形態では、隣接点間距離重み係数:γiを求める重み関数:Γを隣接点間距離:diに応じて決定される二値関数としていたが、以下の(a) 、(b) 、(c)に列挙するような、その他の重み関数:Γを用いることも可能である。
なお、ここで、計測分解能で正規化された隣接点間距離を次のように定義しておく、
Di2=(xi/△x)2+(yi/△y)2+ (zi/△z)2
ここで、△x:x方向の計測分解能 △y:y方向の計測分解能 △z:z方向の計測分
解能である。
(a) γi=Γ(p) =1/p2、ここでp=di 2 またはp=Di 2
(b) γi=Γ(p) =1/p、ここでp=di 2 またはp=Di 2
(c) γi=Γ(p) =1/exp(p)、ここでp=di 2 またはp=Di 2
以上のように、種々の隣接点間距離重み係数:γiを用いることができる。
図20には、重み係数を用いない通常のM推定ICP(黒ダイヤプロット線)、上述した実施の形態で用いた二値化関数での重み係数(白抜き四角プロット線)、そして上記(a) 、(b) 、(c) を用いて行われた繰り返し位置合わせの比較演算結果が示されている。(a)の重み係数は隣接点間距離の2乗の逆数であり、白抜き三角プロット線で示され、(b)の重み係数は隣接点間距離の逆数であり、ペケプロット線で示され、(c)の重み係数はexp関数で示され、黒丸プロット線で示されている。なお、図20の横軸は、位置合わせの繰り返し回数を示し、縦軸は比較評価のための評価値としての対応点平均距離に対応する値を示している。この比較演算結果から、(a)の隣接点間距離重み係数が最も良い評価値となっており、位置合わせでの照合誤差が小さい。その際、p=di 2 でなくp=Di 2を、つまり計測分解能で正規化された隣接点間距離を用いると分解能の影響を受けずにさらに照合誤差が小さくなることが期待できる。
Hereinafter, another embodiment is illustrated.
(1) The edge reference point data may not be generated in advance and stored in the reference data storage unit, but may be generated from all reference point data by edge detection filter processing or the like when used.
(2) In the above-described embodiment, the ICP algorithm with weight calculation is employed as the alignment algorithm. However, a general ICP algorithm may be employed, or other alignment algorithms may be employed.
(3) In the above embodiment, the distance weighting factor between adjacent points is calculated in the alignment routine. However, when this distance weighting factor between adjacent points is obtained based on the distance between adjacent points of the reference point group, it is calculated in advance. The calculation speed is increased by making a table in advance.
(4) In the above embodiment, many threshold values set in advance as the determination conditions are used. However, the threshold values are not set in advance, and the surface shape of the measurement object or the measurement result A configuration may be adopted in which the threshold value is calculated from the statistical characteristics.
(5) In the above embodiment, the weight function: Γ i for obtaining the distance weight coefficient between adjacent points: γ i is a binary function determined according to the distance between adjacent points: d i , but the following (a), Other weight functions as listed in (b) and (c): Γ can also be used.
Here, the distance between adjacent points normalized by the measurement resolution is defined as follows,
Di 2 = (x i / Δx) 2 + (y i / Δy) 2 + (z i / Δz) 2
Here, Δx: measurement resolution in the x direction Δy: measurement resolution in the y direction Δz: measurement resolution in the z direction.
(a) γ i = Γ (p) = 1 / p 2 , where p = d i 2 or p = D i 2
(b) γ i = Γ (p) = 1 / p, where p = d i 2 or p = D i 2
(c) γ i = Γ (p) = 1 / exp (p), where p = d i 2 or p = D i 2
As described above, various distance weight coefficients between adjacent points: γ i can be used.
FIG. 20 shows a normal M-estimated ICP (black diagram plot line) that does not use a weight coefficient, a weight coefficient (white square plot line) in the binarization function used in the above-described embodiment, and the above (a ), (B), and (c) show the results of the comparison operation of repeated alignment performed. The weighting factor in (a) is the reciprocal of the square of the distance between adjacent points, and is indicated by a white triangular plot line, and the weighting factor in (b) is the reciprocal of the distance between adjacent points, indicated by a peke plot line, The weighting factor in (c) is indicated by the exp function and indicated by a black circle plot line. In FIG. 20, the horizontal axis indicates the number of repetitions of alignment, and the vertical axis indicates a value corresponding to the corresponding point average distance as an evaluation value for comparative evaluation. From this comparison calculation result, the distance weighting coefficient between adjacent points in (a) is the best evaluation value, and the matching error in alignment is small. At that time, p = a p = D i 2 instead of d i 2, i.e. using a normalized between adjacent point distance further verification error without being affected by the resolution can be expected be less in measurement resolution.

本発明は、種々の三次元測定装置を用いた測定点データに基づく物体形状評価に利用することができる。   The present invention can be used for object shape evaluation based on measurement point data using various three-dimensional measurement apparatuses.

4:評価ユニット
5:表面評価モジュール(形状評価手段)
6:欠陥評価モジュール(形状評価手段)
7:基準データ変更モジュール
8:データ格納部
81:基準データ格納部
82:欠陥情報格納部
83:型修正情報格納部
50:位置合わせ処理手段
52:エッジ検出部
4: Evaluation unit 5: Surface evaluation module (shape evaluation means)
6: Defect evaluation module (shape evaluation means)
7: Reference data change module 8: Data storage unit 81: Reference data storage unit 82: Defect information storage unit 83: Mold correction information storage unit 50: Registration processing means 52: Edge detection unit

Claims (5)

測定対象物の形状に対応する多数の測定点の位置情報を含む測定点データを入力する測定データ入力部と、前記測定対象物の基準形状に対応する多数の基準点の位置情報を含む基準点データを格納する基準データ格納部と、対応する測定点と基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせする位置合わせ処理手段と、前記位置合わせ処理手段による位置合わせ処理後の前記測定点データと前記基準点データとに基づいて前記測定対象物の形状を評価する形状評価手段とを含み、
前記位置合わせ処理手段は、測定点データから前記測定対象物のエッジに対応するエッジ点を検出するエッジ検出部によって生成されたエッジ点群と、前記基準データ格納部に格納されている前記測定対象物のエッジのためのエッジ基準点データであるエッジ基準点群とを位置合わせするエッジ位置合わせを行い、当該エッジ位置合わせによって得られたエッジ合同変換パラメータを用いて前記測定点データ全体の測定点が前記基準点に向かう位置合わせを行い、
隣接する前記測定点の間の隣接点間距離又は隣接する前記基準点の間の隣接点間距離に基づいて隣接点間距離重み係数を決定する重み係数決定手段を有し、当該隣接点間距離重み係数を前記逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いる物体形状評価装置。
A measurement data input unit for inputting measurement point data including position information of a large number of measurement points corresponding to the shape of the measurement object, and a reference point including position information of a large number of reference points corresponding to the reference shape of the measurement object A reference data storage unit for storing data, and an alignment processing means for aligning the measurement point and the reference point based on a sequential convergence process for sequentially converging the distance between the corresponding measurement point and the reference point; Shape evaluation means for evaluating the shape of the measurement object based on the measurement point data and the reference point data after the alignment processing by the alignment processing means,
The alignment processing means includes an edge point group generated by an edge detection unit that detects an edge point corresponding to an edge of the measurement object from measurement point data, and the measurement object stored in the reference data storage unit Edge position alignment is performed for aligning an edge reference point group that is edge reference point data for an object edge, and measurement points of the entire measurement point data are obtained using edge congruence conversion parameters obtained by the edge alignment. There have rows aligned toward the reference point,
A weight coefficient determining means for determining a distance weight coefficient between adjacent points based on a distance between adjacent points between adjacent measurement points or a distance between adjacent points between adjacent reference points; An object shape evaluation apparatus used when a weighting factor is used to obtain a sequential convergence evaluation value in the sequential convergence process .
前記エッジ合同変換パラメータを用いた前記測定点の基準点に向かう位置合わせの後に、さらに前記測定点データ全体の測定点とこれに対応する基準点との位置合わせを行う請求項1に記載の物体形状評価装置。   2. The object according to claim 1, wherein after the alignment of the measurement point toward the reference point using the edge joint conversion parameter, the alignment of the measurement point of the entire measurement point data and the corresponding reference point is further performed. Shape evaluation device. 前記重み係数決定手段は、対応する前記測定点と前記基準点との間の対応点間距離に基づいて対応点間距離重み係数を決定し、当該対応点間距離重み係数を前記位置合わせ処理手段が前記逐次収束処理における逐次収束評価値を求める際に用いる請求項1又は2に記載の物体形状評価装置。 The weighting coefficient determining means determines a distance weighting coefficient between corresponding points based on a distance between corresponding points between the corresponding measurement point and the reference point, and the distance weighting coefficient between corresponding points is the alignment processing means. There object shape evaluation apparatus according to claim 1 or 2 used to obtain a sequential convergence evaluation value in the sequential convergence process. 前記隣接点間距離重み係数は前記基準点の隣接点間距離に基づいて決定される請求項に記載の物体形状評価装置。 The object shape evaluation apparatus according to claim 3 , wherein the distance weight coefficient between adjacent points is determined based on a distance between adjacent points of the reference point. 前記測定点データは、スリット光によって照射された前記測定対象物の撮影画像を処理することによって得られた距離画像から取り出された三次元位置データである請求項1からのいずれか一項に記載の物体形状評価装置。 The measurement point data, in any one of claims 1 is a three-dimensional position data retrieved from the acquired distance image by processing the captured image of the measurement object illuminated by the slit light 4 The object shape evaluation apparatus described.
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