JP5439218B2 - Image measuring machine - Google Patents

Image measuring machine Download PDF

Info

Publication number
JP5439218B2
JP5439218B2 JP2010032018A JP2010032018A JP5439218B2 JP 5439218 B2 JP5439218 B2 JP 5439218B2 JP 2010032018 A JP2010032018 A JP 2010032018A JP 2010032018 A JP2010032018 A JP 2010032018A JP 5439218 B2 JP5439218 B2 JP 5439218B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
front lens
lens
measured
telecentric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010032018A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011169661A (en
Inventor
龍也 長濱
秀光 浅野
憲嗣 岡部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2010032018A priority Critical patent/JP5439218B2/en
Publication of JP2011169661A publication Critical patent/JP2011169661A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5439218B2 publication Critical patent/JP5439218B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

本発明は、テレセントリック光学系を備えた画像測定機に関する。   The present invention relates to an image measuring machine equipped with a telecentric optical system.

図5に示すように、前側レンズ12、後側レンズ13およびテレセントリック絞り14から構成されたテレセントリック光学系が知られている。
テレセントリック光学系は、物体視野が広く、焦点深度が深く、結像倍率が物体の位置に関係なく前側レンズと後側レンズの焦点距離によって決まるという特徴を備えている。そのため、刃工具類や機械部品、アッセンブリされた電子部品等、段差を有する被測定物の広視野一括測定に、テレセントリック光学系が広く利用されている(特許文献1参照)。
As shown in FIG. 5, a telecentric optical system including a front lens 12, a rear lens 13, and a telecentric stop 14 is known.
The telecentric optical system has a feature that the object field is wide, the focal depth is deep, and the imaging magnification is determined by the focal length of the front lens and the rear lens regardless of the position of the object. Therefore, a telecentric optical system is widely used for wide field collective measurement of objects to be measured such as blade tools, machine parts, assembled electronic parts, and the like (see Patent Document 1).

例えば、図6(A)に示すように、上下方向(Z軸方向)に段差を有する被測定物を、テレセントリック光学系でない非テレセントリック光学系を搭載した画像測定機で画像測定(真上から画像測定)した場合、同図(B)に示すように、Z軸方向に対して直交するX,Y軸方向の寸法変化が大きい画像となってしまう。
これに対して、テレセントリック光学系を搭載した画像測定機で画像測定すると、同図(C)に示すように、Z軸方向に対して直交するX,Y軸方向の寸法変化が少ない画像が得られる。つまり、段差を有する被測定物でもX,Y軸方向の形状を精度よく測定できることから、テレセントリック光学系が広く利用されている。
For example, as shown in FIG. 6A, an object to be measured having a step in the vertical direction (Z-axis direction) is measured with an image measuring machine equipped with a non-telecentric optical system that is not a telecentric optical system. Measurement), as shown in FIG. 5B, an image having a large dimensional change in the X and Y axis directions orthogonal to the Z axis direction is obtained.
On the other hand, when an image is measured with an image measuring machine equipped with a telecentric optical system, an image with little dimensional change in the X and Y axis directions orthogonal to the Z axis direction is obtained as shown in FIG. It is done. That is, a telecentric optical system is widely used because it is possible to accurately measure the shape in the X and Y axis directions even with an object having a step.

特開2003−232999号公報JP 2003-232999 A

ところで、テレセントリック光学系では、開口数(N.A.)を小さくして焦点深度を深くすることが一般的に行われているが、焦点深度を深くすると、フォーカス位置を正確に検出することが困難になる。そのため、Z軸方向の寸法測定ができず、結果的に三次元形状測定が不可能になるといった問題が発生する。   By the way, in a telecentric optical system, the numerical aperture (NA) is generally decreased to increase the depth of focus. However, if the depth of focus is increased, the focus position can be accurately detected. It becomes difficult. Therefore, there is a problem that dimension measurement in the Z-axis direction cannot be performed, and as a result, three-dimensional shape measurement becomes impossible.

本発明の目的は、テレセントリック光学系の特長を維持しつつ、その課題を解決し、被測定物の三次元形状測定を可能とする画像測定機を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an image measuring machine that solves the problems while maintaining the features of a telecentric optical system and enables three-dimensional shape measurement of an object to be measured.

本発明の画像測定機は、被測定物を載置したテーブルと撮像光学部とを相対移動機構により相対移動させるとともに、前記撮像光学部によって撮像した前記被測定物の画像から前記被測定物の形状を測定する画像測定機において、前記撮像光学部は、前側レンズ、後側レンズおよびテレセントリック絞りを有するテレセントリック光学系と、このテレセントリック光学系によって結像された前記被測定物の画像を撮像する撮像手段とを含んで構成され、レーザ光を用いて、前記テレセントリック光学系の光軸上における前記被測定物表面の前記光軸方向の位置を非接触で測定する非接触位置測定手段を備え、前記非接触位置測定手段は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射されたレーザ光を前記テレセントリック光学系の前側レンズを通して前記被測定物に照射するレーザ光照射光学系と、前記被測定物表面で反射したレーザ光を処理して前記前側レンズの焦点位置に対する前記被測定物表面のずれ量を検出するずれ量検出部と、このずれ量検出部によって検出されたずれ量がなくなるように、前記相対移動機構を動作させる相対移動指令手段と、前記光軸方向における前記テーブルと前記テレセントリック光学系との相対移動量を検出する位置検出手段と、を備え、前記前側レンズは、物体側より配置された第1前側レンズ、第2前側レンズ、第3前側レンズを有し、前記第1前側レンズおよび第2前側レンズはアフォーカル光学系を構成し、前記レーザ光照射光学系は、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を平行光とするコリメータレンズと、前記コリメータレンズからのレーザ光を前記第1前側レンズに向けて反射させるビームスプリッタとを含んで構成され、前記テレセントリック絞りは、前記第3前側レンズの後側焦点位置と前記後側レンズの前側焦点位置とが一致する位置に配置され、前記ビームスプリッタは、前記第1前側レンズの後側焦点位置と前記第2前側レンズの前側焦点位置とが一致する位置に配置されていることを特徴とする。 In the image measuring machine according to the present invention, the table on which the object to be measured is placed and the imaging optical unit are relatively moved by a relative movement mechanism, and the image of the object to be measured is obtained from the image of the object to be measured taken by the imaging optical unit. In the image measuring machine for measuring a shape, the imaging optical unit is configured to capture a telecentric optical system having a front lens, a rear lens, and a telecentric stop, and an image of the object to be measured formed by the telecentric optical system. is configured to include a means, by using a laser beam, Bei give a non-contact position measuring means for measuring the position along the optical axis of the object surface on the optical axis of the telecentric optical system in a non-contact, The non-contact position measuring means passes a laser light source and a laser beam emitted from the laser light source through a front lens of the telecentric optical system. A laser beam irradiation optical system for irradiating the object to be measured, and a deviation amount detection for detecting a deviation amount of the surface of the object to be measured with respect to the focal position of the front lens by processing the laser beam reflected by the surface of the object to be measured A relative movement command means for operating the relative movement mechanism, and a relative movement amount between the table and the telecentric optical system in the optical axis direction so that the deviation amount detected by the deviation amount detection unit is eliminated. Position detecting means for detecting, wherein the front lens includes a first front lens, a second front lens, and a third front lens arranged from the object side, wherein the first front lens and the second front lens are An afocal optical system is configured, and the laser light irradiation optical system includes a collimator lens that collimates laser light emitted from the laser light source, and the collimator lens. And a beam splitter that reflects the laser beam toward the first front lens, and the telecentric diaphragm has a rear focal position of the third front lens that matches a front focal position of the rear lens. The beam splitter is arranged at a position where a rear focal position of the first front lens and a front focal position of the second front lens coincide with each other.

このような構成によれば、撮像光学部がテレセントリック光学系を含んで構成されているから、段差を有する被測定物でも、テレセントリック光学系の光軸に対して直交する方
向の形状を精度よく、かつ、広視野測定することができる。
また、レーザ光を用いて、テレセントリック光学系の光軸上における被測定物表面の光軸方向の位置を非接触で測定する非接触位置測定手段を備えているから、テレセントリック光学系の光軸方向における被測定物の位置も正確に測定することができる。
従って、通常のテレセントリック光学系の特徴を維持しつつ、そのテレセントリック光学系の課題を解決し、被測定物の三次元形状測定を実現することができる。
さらに、オートフォーカスレーザ変位計を利用して、光軸方向における被測定物表面の位置を検出することができるから、被測定物表面の位置を高精度に検出することができる。
加えて、第1前側レンズを光のコリメートに利用し、残る第2前側レンズおよび第3前側レンズを光学系の結像による収差を補正するために使用できる。これにより、レーザ光の口径を大きくしても、レンズ表面からのレーザ光や照明光のフレアを低減できる。また、レーザ光の口径を大きくすると、フォーカス位置の検出精度が向上するため、より高精度な測定を実現できる。
According to such a configuration, since the imaging optical unit is configured to include the telecentric optical system, even in the measurement object having a step, the shape in the direction orthogonal to the optical axis of the telecentric optical system can be accurately obtained. In addition, wide field of view can be measured.
In addition, since there is provided non-contact position measuring means for measuring the position of the surface of the object to be measured on the optical axis of the telecentric optical system in a non-contact manner using laser light, the optical axis direction of the telecentric optical system is provided. It is also possible to accurately measure the position of the object to be measured.
Therefore, it is possible to solve the problem of the telecentric optical system while maintaining the characteristics of the normal telecentric optical system and to realize the three-dimensional shape measurement of the object to be measured.
Furthermore, since the position of the surface of the object to be measured in the optical axis direction can be detected using an autofocus laser displacement meter, the position of the surface of the object to be measured can be detected with high accuracy.
In addition, the first front lens can be used for collimating light, and the remaining second front lens and third front lens can be used to correct aberration due to image formation of the optical system. Thereby, even if the aperture of the laser beam is increased, the flare of the laser beam and illumination light from the lens surface can be reduced. In addition, when the aperture of the laser beam is increased, the detection accuracy of the focus position is improved, so that more accurate measurement can be realized.

本発明の画像測定機において、前記非接触位置測定手段によって測定される前記被測定物表面の位置が、前記テレセントリック光学系の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置に達したことを判定する焦点深度判定手段と、この焦点深度判定手段によって、前記被測定物表面の位置が、前記テレセントリック光学系の焦点深度から外れる近傍位置に達したことが判定されたときに、前記被測定物表面の位置が前記テレセントリック光学系の焦点深度略中央位置にくるように、前記相対移動機構を動作させて前記テーブルと前記テレセントリック光学系とを前記光軸方向に相対移動させる焦点深度調整指令手段と、を備えることが好ましい。   In the image measuring machine of the present invention, it is determined that the position of the surface of the object measured by the non-contact position measuring means has reached a position within the focal depth of the telecentric optical system and a position outside the focal depth. When it is determined by the depth-of-focus determination means and the depth-of-focus determination means that the position of the surface of the object to be measured has reached a position close to the focal depth of the telecentric optical system, the surface of the object to be measured is determined. A depth-of-focus adjustment command means for operating the relative movement mechanism to relatively move the table and the telecentric optical system in the optical axis direction so that the position is substantially at the center of the focal depth of the telecentric optical system. It is preferable to provide.

通常のテレセントリック光学系を搭載した画像測定機により、上下方向にうねり(起伏)がある被測定物を測定する際、図7に示すように、テレセントリック光学系を一定の高さ位置で被測定物に沿って移動(図7(a)〜(c))させていくと、被測定物の表面位置がテレセントリック光学系の焦点深度から外れる場合(図7(c)の場合)がある。このような場合、被測定物を測定することができないため、測定を一旦中断し、テレセントリック光学系を被測定物の表面に対して上下させて、被測定物の表面がテレセントリック光学系の焦点深度内に入るように調整したのち、測定作業を再開しなければならない。   When measuring an object having waviness (undulation) in the vertical direction with an image measuring machine equipped with a normal telecentric optical system, as shown in FIG. 7, the telecentric optical system is measured at a certain height position. When moving along (FIGS. 7A to 7C), the surface position of the object to be measured may deviate from the focal depth of the telecentric optical system (in the case of FIG. 7C). In such a case, since the object to be measured cannot be measured, the measurement is temporarily stopped, the telecentric optical system is moved up and down with respect to the surface of the object to be measured, and the surface of the object to be measured is the focal depth of the telecentric optical system. After making adjustments to get inside, the measurement work must be resumed.

本発明によれば、上下方向にうねり(起伏)がある被測定物を測定する際、図3に示すように、焦点深度判定手段によって、被測定物表面の位置が、テレセントリック光学系の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置(判定設定値HSU,HSD)に達したことが判定されると、焦点深度調整指令手段によって、被測定物表面位置がテレセントリック光学系の焦点深度略中央位置にくるように、相対移動機構が動作されてテーブルとテレセントリック光学系とが光軸方向に相対移動される。
従って、被測定物表面位置が、常に、テレセントリック光学系の焦点深度内に保たれた状態に維持されるから、連続した測定を実現することができる。
According to the present invention, when measuring an object to be measured having waviness (undulations) in the vertical direction, as shown in FIG. 3, the position of the surface of the object to be measured is determined by the focal depth determination means so that the focal depth of the telecentric optical system is If it is determined that the position has reached a near position (determination set value HSU, HSD) that is out of the focal depth, the surface depth of the object to be measured is set to the approximate focal depth of the telecentric optical system by the focal depth adjustment command means. Thus, the relative movement mechanism is operated so that the table and the telecentric optical system are relatively moved in the optical axis direction.
Therefore, since the surface position of the object to be measured is always maintained within the focal depth of the telecentric optical system, continuous measurement can be realized.

本発明の画像測定機において、前記第1前側レンズは単レンズまたは貼り合わせレンズにより構成されていてもよい。 The image measuring machine of the present invention, before Symbol first front lens may be constituted by a single lens or cemented lens.

本発明の第1実施形態に係る画像測定機を示す模式図。The schematic diagram which shows the image measuring device which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係る画像測定機を示す模式図。The schematic diagram which shows the image measuring machine which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 同上第2実施形態に係る画像測定機を用いた連続測定例を示す図。The figure which shows the example of a continuous measurement using the image measuring machine which concerns on 2nd Embodiment same as the above. 本発明の第3実施形態に係る画像測定機を示す模式図。The schematic diagram which shows the image measuring machine which concerns on 3rd Embodiment of this invention. テレセントリック光学系を示す模式図。The schematic diagram which shows a telecentric optical system. 非テレセントリック光学系およびテレセントリック光学系の特徴を示す図。The figure which shows the characteristic of a non-telecentric optical system and a telecentric optical system. テレセントリック光学系で被測定物を測定したときの問題点を示す図。The figure which shows a problem when measuring a to-be-measured object with a telecentric optical system.

<第1実施形態(図1参照)>
第1実施形態の画像測定機は、図1に示すように、被測定物Wを載置したテーブル1と、このテーブル1の真上に配置された撮像光学部10、非接触位置測定手段としてのオートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40と、テーブル1と撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40とを三次元方向、つまり、左右方向(X軸方向)、前後方向(Y軸方向)および上下方向(Z軸方向)へ相対移動させる相対移動機構50と、撮像光学部10で撮像された画像およびオートフォーカスレーザ変位計部20によって得られた被測定物表面の高さ(Z軸方向)情報から被測定物の三次元形状を求める形状演算部60とを含んで構成されている。
<First Embodiment (see FIG. 1)>
As shown in FIG. 1, the image measuring machine according to the first embodiment includes a table 1 on which an object to be measured W is placed, an imaging optical unit 10 disposed immediately above the table 1, and a non-contact position measuring unit. The autofocus laser displacement meter unit 20 and the illumination optical unit 40, the table 1, the imaging optical unit 10, the autofocus laser displacement meter unit 20 and the illumination optical unit 40 are arranged in a three-dimensional direction, that is, in the left-right direction (X-axis direction). The relative movement mechanism 50 for relative movement in the front-rear direction (Y-axis direction) and the vertical direction (Z-axis direction), the image picked up by the image pickup optical unit 10 and the measurement object obtained by the autofocus laser displacement meter unit 20 And a shape calculation unit 60 for obtaining the three-dimensional shape of the object to be measured from the surface height (Z-axis direction) information.

撮像光学部10は、テレセントリック光学系11と、このテレセントリック光学系11によって結像された被測定物の画像を撮像する撮像手段としてのCCDカメラ15とを含んで構成されている。
テレセントリック光学系11は、前側レンズ12と、この前側レンズ12の後側焦点位置に前側焦点位置が一致するように配置された後側レンズ13と、前側レンズ12の後側焦点位置と後側レンズ13の前側焦点位置とが一致する位置に配置されたテレセントリック絞り14とを含んで構成されている。ここでは、前側レンズ12と後側レンズ13との間が平行光束となっている。前側レンズ12および後側レンズ13は、単レンズでもよいが、複数枚のレンズによって構成するのが好ましい。
CCDカメラ15は、後側レンズ13の後側焦点位置(結像位置)に配置されている。
The imaging optical unit 10 includes a telecentric optical system 11 and a CCD camera 15 as an imaging unit that captures an image of a measurement object imaged by the telecentric optical system 11.
The telecentric optical system 11 includes a front lens 12, a rear lens 13 arranged so that a front focal position coincides with a rear focal position of the front lens 12, a rear focal position and a rear lens of the front lens 12. And a telecentric diaphragm 14 disposed at a position where the front focal position of 13 coincides. Here, a parallel light flux is formed between the front lens 12 and the rear lens 13. The front lens 12 and the rear lens 13 may be single lenses, but are preferably constituted by a plurality of lenses.
The CCD camera 15 is disposed at the rear focal position (imaging position) of the rear lens 13.

オートフォーカスレーザ変位計部20は、レーザ光を用いて、テレセントリック光学系11の光軸上における被測定物表面の光軸方向(Z軸方向)の位置を非接触で測定するもので、ここでは、ダブルピンホール法のオートフォーカスレーザ変位計によって構成されている。
具体的には、レーザ光源21と、このレーザ光源21から出射されたレーザ光をテレセントリック光学系11の前側レンズ12を通して被測定物に照射するレーザ光照射光学系22と、被測定物の表面で反射したレーザ光を処理して前側レンズ12の焦点位置に対する被測定物表面のずれ量を検出するずれ量検出部31と、このずれ量検出部31によって検出されたずれ量がなくなるように、相対移動機構50を動作させる相対移動指令手段としてのサーボ回路37と、光軸方向におけるテーブル1とテレセントリック光学系11との相対移動量を検出する位置検出手段38とを備える。
The autofocus laser displacement meter unit 20 measures the position of the surface of the object to be measured on the optical axis of the telecentric optical system 11 in a non-contact manner using a laser beam. It is composed of an autofocus laser displacement meter of the double pinhole method.
Specifically, the laser light source 21, the laser light irradiation optical system 22 that irradiates the measurement object with the laser light emitted from the laser light source 21 through the front lens 12 of the telecentric optical system 11, and the surface of the measurement object. A deviation amount detection unit 31 that detects the deviation amount of the surface of the object to be measured with respect to the focal position of the front lens 12 by processing the reflected laser light, and the relative amount so that the deviation amount detected by the deviation amount detection unit 31 is eliminated. A servo circuit 37 as a relative movement command means for operating the moving mechanism 50 and a position detection means 38 for detecting the relative movement amount between the table 1 and the telecentric optical system 11 in the optical axis direction are provided.

レーザ光源21としては、赤色の半導体レーザが用いられている。
レーザ光照射光学系22は、レーザ光源21から出射されたレーザ光を平行光とするコリメータレンズ23と、このコリメータレンズ23からの平行光を反射しテレセントリック光学系11の光軸に直交して入射させる2つのビームスプリッタ24,25と、テレセントリック光学系11の前側レンズ12とテレセントリック絞り14との間に配置されビームスプリッタ25からのレーザ光を前側レンズ12に向けて反射させるビームスプリッタ26とを含んで構成されている。
As the laser light source 21, a red semiconductor laser is used.
The laser light irradiation optical system 22 includes a collimator lens 23 that converts the laser light emitted from the laser light source 21 into parallel light, and reflects the parallel light from the collimator lens 23 and is incident perpendicular to the optical axis of the telecentric optical system 11. and two beam splitters 24 and 25 make, and a beam splitter 26 for reflecting toward the front side lens 12 the laser light from the beam splitter 25 is disposed between the front lens 12 and the telecentric stop 14 of the telecentric optical system 11 It is configured to include.

ずれ量検出部31は、被測定物で反射されかつビームスプリッタ24を透過した反射光を結像する結像レンズ32と、この結像レンズ32を透過した光を分割するビームスプリッタ33と、このビームスプリッタ33により分割された各反射光の合焦位置よりも前および後にそれぞれ配置された2つのピンホール34A,34Bと、各ピンホール34A,34Bを通過した反射光の光量をそれぞれ検出するホトダイオードなどの受光素子35A,35Bと、この各受光素子35A,35Bからの出力を基に前側レンズ12の前側焦点位置と被測定物表面とのずれ量を検出するずれ量検出回路36とから構成されている。   The deviation amount detection unit 31 includes an imaging lens 32 that forms an image of reflected light that is reflected by the object to be measured and transmitted through the beam splitter 24, a beam splitter 33 that divides the light transmitted through the imaging lens 32, Two pinholes 34A and 34B arranged before and after the focused position of each reflected light divided by the beam splitter 33, and a photodiode for detecting the amount of reflected light that has passed through each pinhole 34A and 34B, respectively. And a shift amount detection circuit 36 for detecting the shift amount between the front focal position of the front lens 12 and the surface of the object to be measured based on the outputs from the light receiving elements 35A and 35B. ing.

サーボ回路37は、ずれ量検出回路36によって検出されたずれ量がゼロになるように、相対移動機構50を動作させる。ここでは、撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40を一体的にZ軸方向へ移動させる。
位置検出手段38は、撮像光学部10にZ軸方向に沿って設けられたスケール38Aと、このスケール38Aに対向し静止側(画像測定機の固定側部材など)に固定された検出ヘッド38Bとを含んで構成されている。位置検出方式は、光電式、静電容量式、磁気式など、公知の方法を利用できる。
The servo circuit 37 operates the relative movement mechanism 50 so that the shift amount detected by the shift amount detection circuit 36 becomes zero. Here, the imaging optical unit 10, the autofocus laser displacement meter unit 20, and the illumination optical unit 40 are integrally moved in the Z-axis direction.
The position detection means 38 includes a scale 38A provided in the imaging optical unit 10 along the Z-axis direction, and a detection head 38B that faces the scale 38A and is fixed to a stationary side (such as a fixed side member of the image measuring machine). It is comprised including. As the position detection method, a known method such as a photoelectric method, a capacitance method, or a magnetic method can be used.

照明光学部40は、照明光源41と、この照明光源41からの光を平行光とするコリメータレンズ42と、このコリメータレンズ42を透過した照明光を反射しビームスプリッタ25を透過させてビームスプリッタ26に入射させるミラー43とを含んで構成されている。   The illumination optical unit 40 includes an illumination light source 41, a collimator lens 42 that converts the light from the illumination light source 41 into parallel light, and reflects the illumination light that has passed through the collimator lens 42, transmits the beam splitter 25, and transmits the beam splitter 26. And a mirror 43 to be incident on the mirror.

相対移動機構50は、図示省略したが、例えば、テーブル1を前後方向(Y軸方向)へ移動させるY軸移動機構と、テーブル1を跨いで設けられた門形フレームと、この門形フレームの水平ビームに左右方向(X軸方向)へスライド可能に設けられたスライダと、このスライダに上下方向(Z軸方向)へ昇降可能に設けられ下端に撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40を搭載(支持)した昇降部材とから構成されている。   Although the relative movement mechanism 50 is not illustrated, for example, a Y-axis movement mechanism that moves the table 1 in the front-rear direction (Y-axis direction), a portal frame provided across the table 1, and the portal frame A slider provided on the horizontal beam so as to be slidable in the left-right direction (X-axis direction), and an imaging optical unit 10 and an autofocus laser displacement meter unit 20 provided at the lower end of the slider so as to be movable up and down (Z-axis direction). And an elevating member on which the illumination optical unit 40 is mounted (supported).

形状演算部60は、撮像光学部10で撮像された画像を画像処理して被測定物のX,Y軸方向寸法や形状を求めるとともに、オートフォーカスレーザ変位計部20によって得られた被測定物表面の高さ情報から被測定物のZ軸方向寸法を求める。つまり、被測定物の三次元形状を求める。   The shape calculation unit 60 performs image processing on the image picked up by the image pickup optical unit 10 to obtain the X and Y axis direction dimensions and shape of the measurement object, and the measurement object obtained by the autofocus laser displacement meter unit 20. The dimension in the Z-axis direction of the object to be measured is obtained from the surface height information. That is, the three-dimensional shape of the object to be measured is obtained.

このような構成において、照明光源41から照明光が出射されると、その照明光は、コリメータレンズ42、ミラー43、ビームスプリッタ25,26、前側レンズ12を経て、被測定物に照射される。被測定物表面で反射した反射光は、テレセントリック光学系11を経てCCDカメラ15で撮像される。従って、被測定物の画像がテレセントリック光学系11で結像され、それがCCDカメラ15で撮像されるから、テレセントリック光学系11の特徴を活かすことができる。つまり、段差を有する被定物でも、テレセントリック光学系11の光軸に対して直交する方向の形状を精度よくかつ広視野測定することができる。   In such a configuration, when illumination light is emitted from the illumination light source 41, the illumination light is irradiated to the object to be measured through the collimator lens 42, the mirror 43, the beam splitters 25 and 26, and the front lens 12. The reflected light reflected from the surface of the object to be measured is imaged by the CCD camera 15 via the telecentric optical system 11. Therefore, since the image of the object to be measured is formed by the telecentric optical system 11 and is imaged by the CCD camera 15, the features of the telecentric optical system 11 can be utilized. That is, even in the case of an object having a level difference, the shape in the direction orthogonal to the optical axis of the telecentric optical system 11 can be accurately measured with a wide field of view.

このとき、被測定物の表面にうねりや凹凸がある場合、オートフォーカスレーザ変位計部20により、テレセントリック光学系11の前側レンズ12の前側焦点位置が被測定物の表面に一致するように、撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40がテーブル1に対して上下方向(Z軸方向)へ変位され、その変位量が位置検出手段38によって検出される。従って、テレセントリック光学系11の光軸方向における被測定物の位置も測定することができる。
その結果、通常のテレセントリック光学系の特徴を活かしつつ、その課題を解決し、被測定物の三次元形状測定を実現することができる。
At this time, if the surface of the object to be measured has undulations or irregularities, the autofocus laser displacement meter unit 20 takes an image so that the front focal position of the front lens 12 of the telecentric optical system 11 coincides with the surface of the object to be measured. The optical unit 10, the autofocus laser displacement meter unit 20 and the illumination optical unit 40 are displaced in the vertical direction (Z-axis direction) with respect to the table 1, and the displacement amount is detected by the position detection means 38. Therefore, the position of the object to be measured in the optical axis direction of the telecentric optical system 11 can also be measured.
As a result, while taking advantage of the characteristics of a normal telecentric optical system, the problem can be solved and three-dimensional shape measurement of the object to be measured can be realized.

<第2実施形態(図2および図3参照)>
第1実施形態では、オートフォーカスレーザ変位計部20によって、テレセントリック光学系11の前側レンズ12の前側焦点位置に被測定物表面が一致するように、撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40が一体的にテーブル1に対して上下方向(Z軸方向)へ変位され、その変位量が位置検出手段38によって検出されることによって、被測定物のZ軸方向の位置データを検出するようにしたが、第2実施形態では、被測定物の表面位置が、テレセントリック光学系11の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置に達したときに、被測定物の表面位置がテレセントリック光学系11の前側レンズ12の前側焦点位置にくるように、相対移動機構50を動作させるようにしたものである。
<Second Embodiment (see FIGS. 2 and 3)>
In the first embodiment, the imaging optical unit 10 and the autofocus laser displacement meter unit 20 are configured so that the surface of the object to be measured matches the front focal position of the front lens 12 of the telecentric optical system 11 by the autofocus laser displacement meter unit 20. Further, the illumination optical unit 40 is integrally displaced with respect to the table 1 in the vertical direction (Z-axis direction), and the amount of displacement is detected by the position detection means 38, whereby the position data of the object to be measured in the Z-axis direction is detected. In the second embodiment, the surface position of the object to be measured is reached when the surface position of the object to be measured reaches a position within the focal depth of the telecentric optical system 11 and deviating from the depth of focus. The relative movement mechanism 50 is operated so that is located at the front focal position of the front lens 12 of the telecentric optical system 11.

具体的には、図2に示すように、オートフォーカスレーザ変位計部20において、焦点深度判定手段としての焦点深度判定回路39が付加されている。
焦点深度判定回路39は、オートフォーカスレーザ変位計部20によって測定される被測定物の表面位置が、テレセントリック光学系11の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置に達したことを判定する。具体的には、図3に示すように、テレセントリック光学系11の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置、つまり、判定設定値HSU,HSDが、焦点深度判定回路39内に予め設定されている。焦点深度判定回路39は、ずれ量検出回路36によって検出されたずれ量と判定設定値HSU,HSDとを比較し、ずれ量が判定設定値HSU,HSDを超えると、そのずれ量に相当するフォーカスエラー信号を焦点深度調整指令手段としてのサーボ回路37に与える。
Specifically, as shown in FIG. 2, a focus depth determination circuit 39 as a focus depth determination means is added to the autofocus laser displacement meter unit 20.
The focal depth determination circuit 39 determines that the surface position of the measurement object measured by the autofocus laser displacement meter unit 20 has reached a position within the focal depth of the telecentric optical system 11 and a position outside the focal depth. Specifically, as shown in FIG. 3, positions near the focal depth of the telecentric optical system 11 and deviating from the focal depth, that is, determination setting values HSU and HSD are preset in the focal depth determination circuit 39. Yes. The depth-of-focus determination circuit 39 compares the deviation amount detected by the deviation amount detection circuit 36 with the determination setting values HSU and HSD, and when the deviation amount exceeds the determination setting values HSU and HSD, the focus corresponding to the deviation amount. An error signal is given to the servo circuit 37 as a focal depth adjustment command means.

サーボ回路37は、焦点深度判定回路39からのフォーカスエラー信号に基づいて、相対移動機構50を動作させてテーブル1とテレセントリック光学系11とを光軸方向に相対移動させる。つまり、被測定物の表面位置が、テレセントリック光学系11の前側レンズ12の前側焦点位置(焦点深度略中央位置)にくるように、テーブル1とテレセントリック光学系11とを光軸方向に相対移動させる。   The servo circuit 37 operates the relative movement mechanism 50 based on the focus error signal from the depth-of-focus determination circuit 39 to relatively move the table 1 and the telecentric optical system 11 in the optical axis direction. That is, the table 1 and the telecentric optical system 11 are relatively moved in the optical axis direction so that the surface position of the object to be measured comes to the front focal position of the front lens 12 of the telecentric optical system 11 (substantially the focal depth central position). .

実施形態によれば、図3に示すように、上下方向にうねり(起伏)がある被測定物を連続測定する際、焦点深度判定回路39によって、被測定物の表面位置が、テレセントリック光学系11の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置(判定設定値HSU,HSD)に達したことが判定されると、サーボ回路37によって、被測定物の表面位置がテレセントリック光学系11の焦点深度略中央位置(前側レンズ12の前側焦点位置)にくるように、相対移動機構50が動作されてテーブル1とテレセントリック光学系11とが光軸方向に相対移動される。
従って、被測定物の表面位置が、テレセントリック光学系11の焦点深度内に保たれた状態に維持されるから、連続して測定することができる。
According to the second embodiment, as shown in FIG. 3, when continuously measuring an object having waviness (undulation) in the vertical direction, the surface position of the object to be measured is changed to a telecentric optical by the focal depth determination circuit 39. When it is determined that the position close to the focal depth of the system 11 and deviating from the focal depth (determination setting values HSU, HSD) is reached, the servo circuit 37 determines the surface position of the object to be measured as the focal point of the telecentric optical system 11. The relative movement mechanism 50 is operated so that the table 1 and the telecentric optical system 11 are moved relative to each other in the optical axis direction so as to come to substantially the center position in the depth (the front focal position of the front lens 12).
Therefore, since the surface position of the object to be measured is maintained in a state where it is kept within the focal depth of the telecentric optical system 11, measurement can be continuously performed.

<第3実施形態(図4参照)>
第3実施形態では、図4に示すように、テレセントリック光学系11の構成が、第1,第2実施形態とは異なる。
第3実施形態のテレセントリック光学系11は、前側レンズ12が、物体側より配置された第1前側レンズ12A、第2前側レンズ12B、第3前側レンズ12Cを少なくとも有する構成とされている。ここでは、第1前側レンズ12Aと第2前側レンズ12Bとの間、および、第3前側レンズ12Cと後側レンズ13との間が平行光束になっている。第1前側レンズ12Aは、単レンズまたは貼り合わせレンズにより構成されている。また、第1前側レンズ12Aおよび第2前側レンズ12Bは、アフォーカル光学系を構成している。
<Third Embodiment (see FIG. 4)>
In 3rd Embodiment, as shown in FIG. 4, the structure of the telecentric optical system 11 differs from 1st, 2nd embodiment.
In the telecentric optical system 11 according to the third embodiment, the front lens 12 includes at least a first front lens 12A, a second front lens 12B, and a third front lens 12C that are arranged from the object side. Here, parallel light fluxes are formed between the first front lens 12A and the second front lens 12B and between the third front lens 12C and the rear lens 13. The first front lens 12A is configured by a single lens or a bonded lens. Further, the first front lens 12A and the second front lens 12B constitute an afocal optical system.

レーザ光照射光学系22のビームスプリッタ26は、第1前側レンズ12Aと第2前側レンズ12Bとの間に配置されている。従って、第3実施形態のレーザ光照射光学系22は、コリメータレンズ23と、ビームスプリッタ24,25と、第1前側レンズ12Aと第2前側レンズ12Bとの間に配置されビームスプリッタ25からのレーザ光を第1前側レンズ12Aに向けて反射させるビームスプリッタ26とを含んで構成されている。   The beam splitter 26 of the laser light irradiation optical system 22 is disposed between the first front lens 12A and the second front lens 12B. Accordingly, the laser beam irradiation optical system 22 of the third embodiment is arranged between the collimator lens 23, the beam splitters 24 and 25, the first front lens 12A, and the second front lens 12B, and the laser from the beam splitter 25. And a beam splitter 26 that reflects the light toward the first front lens 12A.

第3実施形態によれば、第1前側レンズ12Aを光のコリメートに利用し、残る第2前側レンズ12Bおよび第3前側レンズ12Cを光学系の結像による収差を補正するために使用できる。これにより、レーザ光の口径を大きくしても、レンズ表面からのレーザ光や照明光のフレアを低減できる。また、レーザ光の口径を大きくすると、フォーカス位置の検出精度が向上するため、より高精度な測定を実現できる。   According to the third embodiment, the first front lens 12A can be used for light collimation, and the remaining second front lens 12B and third front lens 12C can be used to correct aberrations due to imaging of the optical system. Thereby, even if the aperture of the laser beam is increased, the flare of the laser beam and illumination light from the lens surface can be reduced. In addition, when the aperture of the laser beam is increased, the detection accuracy of the focus position is improved, so that more accurate measurement can be realized.

<変形例>
本発明は、前述の実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本考案に含まれる。
前記各実施形態では、レーザ光源21として赤色半導体レーザを用いたが、赤色半導体レーザの代わりに、不可視レーザを使用すれば、通常の観察画像をさえぎることを防ぐことができる。
<Modification>
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
In each of the embodiments described above, a red semiconductor laser is used as the laser light source 21, but if an invisible laser is used instead of the red semiconductor laser, it is possible to prevent a normal observation image from being interrupted.

前記各実施形態では、非接触位置測定手段として、ダブルピンホール法のオートフォーカスレーザ変位計を用いたが、これに限られない。
例えば、ナイフエッジ法のオートフォーカスレーザ変位計を用いてもよい。
あるいは、レーザ光をビームスプリッタで2つの光に分割し、一方の光を参照ミラーで反射させるとともに、他方の光をテレセントリック光学系の前側レンズ12を通して被測定物に照射し、この被測定物からの反射光を参照ミラーで反射した参照光と干渉させたのち、検出器で受光させる構造の干渉計(マイケルソン干渉計)などでも利用できる。
In each of the above-described embodiments, the double-pinhole method autofocus laser displacement meter is used as the non-contact position measuring means, but is not limited thereto.
For example, a knife edge autofocus laser displacement meter may be used.
Alternatively, the laser light is split into two lights by a beam splitter, one light is reflected by a reference mirror, and the other light is irradiated to the object to be measured through the front lens 12 of the telecentric optical system. The reflected light can be interfered with the reference light reflected by the reference mirror and then received by the detector, and can also be used in an interferometer (Michelson interferometer) or the like.

前記各実施形態では、テーブル1がY軸方向へ、撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40がX軸方向(左右方向)およびZ軸方向(上下方向)へ移動する構成であったが、これに限られない。要するに、テーブル1と撮像光学部10、オートフォーカスレーザ変位計部20および照明光学部40とが三次元方向へ相対移動する構成であれば、どのような構成でも構わない。   In each of the embodiments, the table 1 moves in the Y-axis direction, and the imaging optical unit 10, the autofocus laser displacement meter unit 20, and the illumination optical unit 40 move in the X-axis direction (left-right direction) and Z-axis direction (up-down direction). Although it was a structure, it is not restricted to this. In short, any configuration may be used as long as the table 1, the imaging optical unit 10, the autofocus laser displacement meter unit 20, and the illumination optical unit 40 are relatively moved in the three-dimensional direction.

本発明は、刃工具類や機械部品、アッセンブリされた電子部品等、段差を有する被測定物の三次元形状測定に利用できる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for measuring the three-dimensional shape of an object to be measured having a step, such as blade tools, mechanical parts, assembled electronic parts, and the like.

1…テーブル、
10…撮像光学部、
11…テレセントリック光学系、
12…前側レンズ、
12A…第1前側レンズ、
12B…第2前側レンズ、
12C…第3前側レンズ、
13…後側レンズ、
14…テレセントリック絞り、
15…CCDカメラ(撮像手段)、
20…オートフォーカスレーザ変位計部(非接触位置測定手段)、
21…レーザ光源、
22…レーザ光照射光学系、
31…ずれ量検出部、
36…ずれ量検出回路、
37…サーボ回路(相対移動指令手段、焦点深度調整指令手段)、
39…焦点深度判定手段、
50…相対移動機構。
1 ... table,
10: Imaging optical unit,
11 ... Telecentric optical system,
12 ... Front lens,
12A ... 1st front lens,
12B ... Second front lens,
12C ... Third front lens,
13: Rear lens,
14 ... Telecentric aperture,
15 ... CCD camera (imaging means),
20 ... Autofocus laser displacement meter (non-contact position measuring means),
21 ... Laser light source,
22 ... Laser light irradiation optical system,
31: Deviation amount detection unit,
36: Deviation amount detection circuit,
37 ... Servo circuit (relative movement command means, focal depth adjustment command means),
39: Depth of focus determination means,
50: Relative movement mechanism.

Claims (3)

被測定物を載置したテーブルと撮像光学部とを相対移動機構により相対移動させるとともに、前記撮像光学部によって撮像した前記被測定物の画像から前記被測定物の形状を測定する画像測定機において、
前記撮像光学部は、前側レンズ、後側レンズおよびテレセントリック絞りを有するテレセントリック光学系と、このテレセントリック光学系によって結像された前記被測定物の画像を撮像する撮像手段とを含んで構成され、
レーザ光を用いて、前記テレセントリック光学系の光軸上における前記被測定物表面の前記光軸方向の位置を非接触で測定する非接触位置測定手段を備え、
前記非接触位置測定手段は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射されたレーザ光を前記テレセントリック光学系の前側レンズを通して前記被測定物に照射するレーザ光照射光学系と、前記被測定物表面で反射したレーザ光を処理して前記前側レンズの焦点位置に対する前記被測定物表面のずれ量を検出するずれ量検出部と、このずれ量検出部によって検出されたずれ量がなくなるように、前記相対移動機構を動作させる相対移動指令手段と、前記光軸方向における前記テーブルと前記テレセントリック光学系との相対移動量を検出する位置検出手段と、を備え、
前記前側レンズは、物体側より配置された第1前側レンズ、第2前側レンズ、第3前側レンズを有し、
前記第1前側レンズおよび第2前側レンズはアフォーカル光学系を構成し、
前記レーザ光照射光学系は、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を平行光とするコリメータレンズと、前記コリメータレンズからのレーザ光を前記第1前側レンズに向けて反射させるビームスプリッタとを含んで構成され、
前記テレセントリック絞りは、前記第3前側レンズの後側焦点位置と前記後側レンズの前側焦点位置とが一致する位置に配置され、
前記ビームスプリッタは、前記第1前側レンズの後側焦点位置と前記第2前側レンズの前側焦点位置とが一致する位置に配置されていることを特徴とする画像測定機。
In an image measuring machine that relatively moves a table on which a measurement object is placed and an imaging optical unit with a relative movement mechanism and measures the shape of the measurement object from an image of the measurement object captured by the imaging optical unit ,
The imaging optical unit includes a telecentric optical system having a front lens, a rear lens, and a telecentric stop, and an imaging unit that captures an image of the object to be measured formed by the telecentric optical system.
Using a laser beam, Bei give a non-contact position measuring means for measuring the position along the optical axis of the object surface on the optical axis of the telecentric optical system in a non-contact,
The non-contact position measuring means includes a laser light source, a laser light irradiation optical system for irradiating the measurement object with a laser beam emitted from the laser light source through a front lens of the telecentric optical system, and a surface of the measurement object. A deviation amount detection unit that processes the reflected laser light to detect a deviation amount of the surface of the object to be measured with respect to the focal position of the front lens, and the relative amount so that the deviation amount detected by the deviation amount detection unit is eliminated. A relative movement command means for operating a movement mechanism, and a position detection means for detecting a relative movement amount between the table and the telecentric optical system in the optical axis direction,
The front lens has a first front lens, a second front lens, and a third front lens arranged from the object side,
The first front lens and the second front lens constitute an afocal optical system,
The laser light irradiation optical system includes a collimator lens that collimates laser light emitted from the laser light source, and a beam splitter that reflects the laser light from the collimator lens toward the first front lens. Configured,
The telecentric diaphragm is disposed at a position where a rear focal position of the third front lens and a front focal position of the rear lens coincide;
The image measuring machine , wherein the beam splitter is disposed at a position where a rear focal position of the first front lens and a front focal position of the second front lens coincide with each other .
請求項1に記載の画像測定機において、
前記非接触位置測定手段によって測定される前記被測定物表面の位置が、前記テレセントリック光学系の焦点深度内でかつ焦点深度から外れる近傍位置に達したことを判定する焦点深度判定手段と、
この焦点深度判定手段によって、前記被測定物表面の位置が、前記テレセントリック光学系の焦点深度から外れる近傍位置に達したことが判定されたときに、前記被測定物表面の位置が前記テレセントリック光学系の焦点深度略中央位置にくるように、前記相対移動機構を動作させて前記テーブルと前記テレセントリック光学系とを前記光軸方向に相対移動させる焦点深度調整指令手段と、を備えることを特徴とする画像測定機。
The image measuring machine according to claim 1,
A depth-of-focus determination means for determining that the position of the surface of the object measured by the non-contact position measurement means has reached a position within the depth of focus of the telecentric optical system and deviating from the depth of focus;
When it is determined by the depth-of-focus determination means that the position of the surface of the object to be measured has reached a position close to the focal depth of the telecentric optical system, the position of the surface of the object to be measured is the telecentric optical system. A depth-of-focus adjustment commanding unit that operates the relative movement mechanism to move the table and the telecentric optical system relative to each other in the direction of the optical axis so as to come to a substantially central position of the depth of focus. Image measuring machine.
請求項1または請求項2に記載の画像測定機において、
記第1前側レンズは単レンズまたは貼り合わせレンズにより構成されている、ことを特徴とする画像測定機。
In the image measuring machine according to claim 1 or 2 ,
Before Symbol first front lens is constituted by a single lens or cemented lens, the vision measuring machine, characterized in that.
JP2010032018A 2010-02-17 2010-02-17 Image measuring machine Active JP5439218B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010032018A JP5439218B2 (en) 2010-02-17 2010-02-17 Image measuring machine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010032018A JP5439218B2 (en) 2010-02-17 2010-02-17 Image measuring machine

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011169661A JP2011169661A (en) 2011-09-01
JP5439218B2 true JP5439218B2 (en) 2014-03-12

Family

ID=44683951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010032018A Active JP5439218B2 (en) 2010-02-17 2010-02-17 Image measuring machine

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5439218B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014023333A1 (en) 2012-08-07 2014-02-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Coordinate measuring device for determining spatial coordinates of a measurement object
US9684149B2 (en) 2012-08-07 2017-06-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Coordinate measuring machine and method for determining spatial coordinates on a measurement object
WO2014023332A1 (en) 2012-08-07 2014-02-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Co-ordinate measuring device for determining spatial co-ordinates on an object to be measured
WO2017099890A1 (en) * 2015-12-09 2017-06-15 Quality Vision International, Inc. Focusing system for a telecentric optical measuring machine
JP6685849B2 (en) * 2016-06-17 2020-04-22 株式会社ミツトヨ Optical interference measuring device and optical interference measuring method
JP7143057B2 (en) * 2016-12-28 2022-09-28 株式会社キーエンス Three-dimensional measuring device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06100715B2 (en) * 1987-04-17 1994-12-12 富士写真フイルム株式会社 Camera rangefinder
JP4646342B2 (en) * 1998-11-20 2011-03-09 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ Thin film magnetic head size / array measuring method and thin film magnetic head size / array measuring apparatus
JP4240754B2 (en) * 1999-05-11 2009-03-18 コニカミノルタセンシング株式会社 Telecentric optics
JP4782958B2 (en) * 2001-09-21 2011-09-28 株式会社リコー Surface shape measuring apparatus and method, program, and storage medium
JP4157305B2 (en) * 2002-02-13 2008-10-01 株式会社ミツトヨ Telecentric lens system and image measuring device
JP2007225431A (en) * 2006-02-23 2007-09-06 Mitsubishi Electric Corp Visual inspection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011169661A (en) 2011-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5439218B2 (en) Image measuring machine
US6856381B2 (en) Method for carrying out the non-contact measurement of geometries of objects
JP5584140B2 (en) Non-contact surface shape measuring method and apparatus
EP3387370B1 (en) Focusing system for a telecentric optical measuring machine
JP4500736B2 (en) Shape measuring device
WO2013084557A1 (en) Shape-measuring device
JP5220081B2 (en) IMAGING TOOL MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING FINE TOOL END IN IMAGING TOOL
JP6288280B2 (en) Surface shape measuring device
KR20160030365A (en) Laser machining apparatus
KR101891182B1 (en) Apparatus for controlling auto focus
US20090141131A1 (en) Calibrating method of image measuring instrument
US8111407B2 (en) Displacement sensor
JP5242940B2 (en) Non-contact shape measuring device
JP2011033383A (en) Measuring device of workpiece held on chuck table, and laser beam machine
JP2008215833A (en) Apparatus and method for measuring optical characteristics
JPH0812046B2 (en) Two-step detection non-contact positioning device
JP2015190885A (en) edge detection device
JP4197340B2 (en) 3D shape measuring device
JP4833662B2 (en) Non-contact displacement measuring device, edge detection method thereof, and edge detection program
JP6287153B2 (en) Sensor unit, shape measuring device, and structure manufacturing system
JP5346670B2 (en) Non-contact surface shape measuring device
JP2019163946A (en) Noncontact surface profile measurement device
JP6328507B2 (en) Laser processing equipment
JP5656242B2 (en) Shape measuring method, shape measuring device, and machine tool
JP6980304B2 (en) Non-contact inner surface shape measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130918

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5439218

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250