JP5429015B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Description
m値の画像データにおける注目画素の画素値を、予め定められた閾値に基づいてn値(n<m)化して出力する量子化部と、
注目画素に対して所定のフィードバック対象位置に配置される1以上の処理済画素について前記量子化部においてn値化された画素値に所定のフィードバック係数を乗算した値であるフィードバック値を算出するフィードバック部と、
前記量子化部によってn値化される前後の注目画素の画素値の差を誤差として、当該注目画素に対して所定の誤差拡散位置に配置される1以上の未処理画素の画素値に対して拡散させる誤差拡散部と、
注目画素の画素値に、前記誤差拡散部によって拡散された誤差を加算する第1加算部と、
前記第1加算部によって誤差が加算された注目画素の画素値に、前記フィードバック部において算出されたフィードバック値を加算する第2加算部と、を備え、
前記フィードバック部は、注目画素に対応する属性情報に基づいてフィードバック係数を決定し、該決定したフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数としてフィードバック値の算出を行うことを特徴とする。
前記フィードバック部は、前記属性情報に基づくフィードバック係数が出力されるように構成されたルックアップテーブルを記憶しており、前記ルックアップテーブルから出力されたフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする。
前記フィードバック部は、注目画素及び該注目画素に対して所定の属性判定対象位置に配置される1以上の周辺画素のそれぞれに対応する属性情報に基づいて前記乗算に用いるフィードバック係数を決定することを特徴とする。
前記フィードバック部は、注目画素を含むM行N列(M≧1/N≧1)によって構成される画素グループにおける各画素の属性情報を特定する各数値の平均値を算出し、該算出結果に対応するフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする。
前記フィードバック部は、注目画素を含むM行N列(M≧1/N≧1)によって構成される画素グループにおける各画素の属性情報に対応するそれぞれのフィードバック係数の平均を算出し、該算出されたフィードバック係数の平均値を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする。
前記属性情報には、エッジ、文字、下地、イメージをそれぞれ特定するものが含まれ、
前記フィードバック部は、前記属性情報の組み合わせがエッジと下地とを含むものであるときは、注目画素に対応する属性情報に対応するフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定し、それ以外の組み合わせであるときは、平均値の算出結果によるフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする。
m値の画像データにおける注目画素の画素値を、予め定められた閾値に基づいてn値(n<m)化して出力する量子化工程と、
注目画素に対して所定のフィードバック対象位置に配置される1以上の処理済画素について前記量子化工程においてn値化された画素値に所定のフィードバック係数を乗算した値であるフィードバック値を算出するフィードバック工程と、
前記量子化工程においてn値化される前後の注目画素の画素値の差を誤差として、当該注目画素に対して所定の誤差拡散位置に配置される1以上の未処理画素の画素値に対して拡散させる誤差拡散工程と、
注目画素の画素値に、前記誤差拡散工程において拡散された誤差を加算する第1加算工程と、
前記第1加算工程において誤差が加算された注目画素の画素値に、前記フィードバック工程において算出されたフィードバック値を加算する第2加算工程と、を含み、
前記フィードバック工程において、注目画素に対応する属性情報に基づいてフィードバック係数を決定し、該決定したフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数としてフィードバック値の算出を行うことを特徴とする。
本発明に係る画像処理装置としては、例えばプリンタ、複写機、ファクシミリ装置又はこれらの複合機等が挙げられるが、画像を構成する各画素における多値データを量子化する処理を行う画像処理装置であればこれに限定されない。
画像処理装置1は、属性情報入力部2、画像入力部3、第1加算部4、第2加算部5、量子化部6、画像出力部7、減算部8、誤差拡散部9、フィードバック部10を備えて構成されている。画像処理装置1は、多値データが入力され、当該多値データに各種処理を施して、二値データを出力する装置である。
なお、属性情報は上述のものに限らず、他の属性情報を設定するとともに、これに対応する値を設定するようにしてもよい。
例えば、図4に示されるように、直前画素が「エッジ」で、注目画素が「文字」である場合、「エッジ」に対応する値(0)と「文字」に対応する値(2)の平均値(1)が算出される。
また、直前画素が「イメージ」で注目画素が「エッジ」の場合、「イメージ」に対応する値(5)と「エッジ」に対応する値(0)の平均は2.5となるが、小数点以下の端数については切り上げられるよう設定されており、この場合、値は(3)となる。
なお、画素グループを構成する画素の対象範囲は任意に設定することが可能である。また、属性情報を判定する画素数と平均値を求める対象とする画素数とを異ならせるようにしてもよい。この場合、属性情報を判定する画素グループの範囲内において、平均値を求める対象とする画素を設定するのが好ましい。
例えば、直前画素が「下地」で、注目画素が「エッジ」である場合、両者の平均値は(2)であるが、この場合は、注目画素である「エッジ」を示す値である(0)が係数出力部13に出力されることとなる。
これに従い、直前画素の属性情報と注目画素の属性情報とに基づいて属性判定部12から出力された値が係数出力部13に入力されると、図4に示されるようなフィードバック係数が出力されるようになる。フィードバック係数は、その値が小さくなるほど高線数化され(ドットが疎らとなり)、大きくなるほど低線数化される(ドットが密となる)ため、属性情報によって適切なフィードバック係数を対応させることで滑らかな線数変化が可能となる。
また、本実施の形態においては、属性判定部12において注目画素及び直前画素のそれぞれの属性情報の平均値を算出し、係数出力部13においてその平均値に対応するフィードバック係数を出力するようにしたが、係数出力部13において注目画素及び直前画素のそれぞれの属性情報に対応するフィードバック係数をそれぞれ求めるとともに、これらのフィードバック係数の平均を算出した結果を最終的に出力するフィードバック係数としてもよい。
2 属性情報入力部
3 画像入力部
4 第1加算部
5 第2加算部
6 量子化部
7 画像出力部
8 減算部
9 誤差拡散部
10 フィードバック部
11 処理済み画素参照部
12 属性判定部
13 係数出力部
14 乗算部
30 注目画素
31 処理済み画素
32 未処理画素
100 画像処理装置
110 フィードバック部
Claims (7)
- m値の画像データにおける注目画素の画素値を、予め定められた閾値に基づいてn値(n<m)化して出力する量子化部と、
注目画素に対して所定のフィードバック対象位置に配置される1以上の処理済画素について前記量子化部においてn値化された画素値に所定のフィードバック係数を乗算した値であるフィードバック値を算出するフィードバック部と、
前記量子化部によってn値化される前後の注目画素の画素値の差を誤差として、当該注目画素に対して所定の誤差拡散位置に配置される1以上の未処理画素の画素値に対して拡散させる誤差拡散部と、
注目画素の画素値に、前記誤差拡散部によって拡散された誤差を加算する第1加算部と、
前記第1加算部によって誤差が加算された注目画素の画素値に、前記フィードバック部において算出されたフィードバック値を加算する第2加算部と、を備え、
前記フィードバック部は、注目画素に対応する属性情報に基づいてフィードバック係数を決定し、該決定したフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数としてフィードバック値の算出を行うことを特徴とする画像処理装置。 - 前記フィードバック部は、前記属性情報に基づくフィードバック係数が出力されるように構成されたルックアップテーブルを記憶しており、前記ルックアップテーブルから出力されたフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記フィードバック部は、注目画素及び該注目画素に対して所定の属性判定対象位置に配置される1以上の周辺画素のそれぞれに対応する属性情報に基づいて前記乗算に用いるフィードバック係数を決定することを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理装置。
- 前記フィードバック部は、注目画素を含むM行N列(M≧1/N≧1)によって構成される画素グループにおける各画素の属性情報を特定する各数値の平均値を算出し、該算出結果に対応するフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。
- 前記フィードバック部は、注目画素を含むM行N列(M≧1/N≧1)によって構成される画素グループにおける各画素の属性情報に対応するそれぞれのフィードバック係数の平均を算出し、該算出されたフィードバック係数の平均値を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。
- 前記属性情報には、エッジ、文字、下地、イメージをそれぞれ特定するものが含まれ、
前記フィードバック部は、前記属性情報の組み合わせがエッジと下地とを含むものであるときは、注目画素に対応する属性情報に対応するフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定し、それ以外の組み合わせであるときは、平均値の算出結果によるフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数に決定することを特徴とする請求項4又は5に記載の画像処理装置。 - m値の画像データにおける注目画素の画素値を、予め定められた閾値に基づいてn値(n<m)化して出力する量子化工程と、
注目画素に対して所定のフィードバック対象位置に配置される1以上の処理済画素について前記量子化工程においてn値化された画素値に所定のフィードバック係数を乗算した値であるフィードバック値を算出するフィードバック工程と、
前記量子化工程においてn値化される前後の注目画素の画素値の差を誤差として、当該注目画素に対して所定の誤差拡散位置に配置される1以上の未処理画素の画素値に対して拡散させる誤差拡散工程と、
注目画素の画素値に、前記誤差拡散工程において拡散された誤差を加算する第1加算工程と、
前記第1加算工程において誤差が加算された注目画素の画素値に、前記フィードバック工程において算出されたフィードバック値を加算する第2加算工程と、を含み、
前記フィードバック工程において、注目画素に対応する属性情報に基づいてフィードバック係数を決定し、該決定したフィードバック係数を前記乗算に用いるフィードバック係数としてフィードバック値の算出を行うことを特徴とする画像処理方法。
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