JP5426941B2 - Light emitting device inspection apparatus and light emitting device inspection system - Google Patents
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Description
本発明は、光を発する検査対象物の発光特性を検査する発光機器の検査装置および発光機器の検査システムに関する。 The present invention relates to a light-emitting device inspection device and a light-emitting device inspection system that inspects light emission characteristics of an inspection object that emits light.
従来から、光を発する検査対象物の発光特性を検査する検査装置として、検査対象物から放射された光を撮像して単位領域あたりの受光量および発光領域の面積を求める装置が知られている。従来の検査装置は、検査対象物の発光面を含む領域を複数の小領域に分割して小領域ごとにスポット計測を行い、各小領域の受光量を測定することによって、発光領域の２次元分布を求める。つまり、従来の検査装置は、発光領域の２次元分布を求めるために、上記スポット計測を繰り返す。 2. Description of the Related Art Conventionally, as an inspection apparatus that inspects the light emission characteristics of an inspection object that emits light, an apparatus that captures the light emitted from the inspection object and determines the amount of light received per unit area and the area of the light emission area is known. . A conventional inspection apparatus divides a region including a light emitting surface of an inspection object into a plurality of small regions, performs spot measurement for each small region, and measures the amount of light received in each small region, thereby obtaining a two-dimensional light emitting region. Find the distribution. That is, the conventional inspection apparatus repeats the spot measurement in order to obtain the two-dimensional distribution of the light emitting area.
なお、上記のような検査装置とは別に、原稿画像を読み取るための光源の光量を検査する画像読取装置が知られている（例えば特許文献１参照）。 In addition to the above-described inspection apparatus, an image reading apparatus that inspects the light amount of a light source for reading a document image is known (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、従来の検査装置には、検査対象物の発光領域の２次元分布を求めるためにスポット計測を繰り返すことから、検査対象物の検査時間が長くなるという問題があった。その結果、量産ラインで検査対象物を検査することが難しかった。 However, the conventional inspection apparatus has a problem that the inspection time of the inspection object becomes long because spot measurement is repeated in order to obtain the two-dimensional distribution of the light emitting region of the inspection object. As a result, it was difficult to inspect the inspection object on the mass production line.
本発明は上記の点に鑑みて為され、本発明の目的は、検査対象物の検査時間を短縮するとともに検査対象物の良否を精度よく判定することができる発光機器の検査装置および発光機器の検査システムを提供することにある。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to reduce the inspection time of an inspection object and determine the quality of the inspection object with high accuracy. To provide an inspection system.
請求項１に係る発光機器の検査装置の発明は、光を発するランプユニットを含む検査対象物の発光特性を検査する発光機器の検査装置であって、前記ランプユニットの発光面を一括して撮像するエリアセンサである撮像部と、前記撮像部で撮像された撮像画像を２値化処理して２値化画像を作成し当該２値化画像を用いて発光領域を抽出する画像処理部と、前記発光領域の全領域が前記撮像画像内に含まれているか否かを判定する判定手段と、前記発光領域の全領域が前記撮像画像内に含まれていると前記判定手段で判定された場合に、前記発光領域の外郭部で囲まれた領域内において予め設定された単位領域の受光量に対応する濃淡値が予め設定された基準濃淡範囲内であるか否かを判定する濃淡値判定機能と、前記発光領域の面積値が予め設定された基準面積範囲内であるか否かを判定する面積値判定機能とを有し、前記濃淡値判定機能と前記面積値判定機能とを組み合わせて前記ランプユニットの良否を判定する判定部とを備え、前記判定部は、前記濃淡値が前記基準濃淡範囲内であり、かつ、前記面積値が前記基準面積範囲内である場合、前記ランプユニットが良品であると判定する一方、前記濃淡値が前記基準濃淡範囲内ではないこと、および、前記面積値が前記基準面積範囲内ではないことの少なくとも一方を満たす場合、前記ランプユニットが不良品であると判定することを特徴とする。 The light-emitting device inspection device according to claim 1 is a light-emitting device inspection device that inspects the light emission characteristics of an inspection object including a lamp unit that emits light, and collectively images the light-emitting surface of the lamp unit. An imaging unit that is an area sensor, an image processing unit that binarizes a captured image captured by the imaging unit to create a binarized image, and extracts a light emitting region using the binarized image; A determination unit that determines whether or not the entire area of the light emitting area is included in the captured image, and a case in which the determination unit determines that the entire area of the light emitting area is included in the captured image In addition, a gray value determination function for determining whether or not a gray value corresponding to a light reception amount of a preset unit area within an area surrounded by the outer portion of the light emitting area is within a preset reference gray range When the area value of the light-emitting region is pre And a determining area value determination function whether it is within the set reference area range, and the gray value determining function and the area value determining function and a judging section that acceptability of the lamp unit in combination The determination unit determines that the lamp unit is a non-defective product when the gray value is within the reference gray range and the area value is within the standard area range. Is determined not to be within the reference shade range and when the area value is not within the reference area range, the lamp unit is determined to be defective .
請求項２に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項１の発明において、前記判定部は、前記発光領域の全領域が撮像領域内に含まれているか否かを判定し、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれているときに、前記ランプユニットの良否を判定することを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a light-emitting device according to the first aspect, wherein the determination unit determines whether or not the entire area of the light-emitting area is included in an imaging area. When the whole area is included in the imaging area, the quality of the lamp unit is determined.
請求項３に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項２の発明において、前記判定部は、前記発光領域の外郭部のすべてが前記撮像領域内に含まれている場合、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれていると判定することを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a light-emitting device according to the second aspect of the present invention, wherein the determination unit is configured such that when the entire outer portion of the light-emitting region is included in the imaging region, It is determined that the entire area is included in the imaging area.
請求項４に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項２の発明において、前記判定部は、前記発光領域の重心が予め設定された領域内に含まれている場合、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれていると判定することを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a light-emitting device according to the second aspect of the present invention, wherein the determination unit includes the entire light-emitting area when the center of gravity of the light-emitting area is included in a preset area. It is determined that an area is included in the imaging area.
請求項５に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項１〜４のいずれか１項の発明において、前記撮像部は、露光時間が前記検査対象物の発光時間以上であることを特徴とする。 The invention of a light-emitting device inspection apparatus according to claim 5 is characterized in that, in the invention according to any one of claims 1 to 4, the imaging unit has an exposure time equal to or longer than a light emission time of the inspection object. To do.
請求項６に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項１〜５のいずれか１項の発明において、前記撮像部に入射される光量を減少させる減光フィルタを備えることを特徴とする。 According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a light-emitting device according to any one of the first to fifth aspects, further comprising a neutral density filter that reduces the amount of light incident on the imaging unit.
請求項７に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項１〜６のいずれか１項の発明において、前記検査対象物は、前記ランプユニットと、前記ランプユニットが装着され当該ランプユニットに電圧印加して当該ランプユニットを発光させる本体部とを含み、前記判定部で良品であると判定された前記ランプユニットが装着された前記本体部の良否を判定する第２の判定部と、前記第２の判定部で良否が判定された前記本体部を含む前記検査対象物の良否を判定する第３の判定部とをさらに備えることを特徴とする。
請求項８に係る発光機器の検査装置の発明は、請求項７の発明において、前記第２の判定部は、前記判定部で良品であると判定された前記ランプユニットが前記本体部に装着された状態で前記ランプユニットの発光面が撮像された第２の撮像画像を用いて、前記本体部から前記ランプユニットに印加される印加電圧を調整するための電圧調整値を求める機能と、前記電圧調整値が調整範囲内であるか否かを判定する機能と、前記電圧調整値が前記調整範囲内である場合に前記印加電圧の調整が必要であるか否かを判定する機能とを有し、前記電圧調整値が前記調整範囲外である場合、前記本体部が不良品であると判定する一方、前記電圧調整値が前記調整範囲内であり、かつ、前記印加電圧の調整が不要である場合、前記本体部が良品であると判定し、前記第３の判定部は、前記第２の判定部で前記印加電圧の調整が必要であると判定され前記印加電圧が変更された前記ランプユニットの発光面が撮像された第３の撮像画像における複数の単位領域の濃淡値の最大値である最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内であるか否かを判定する機能を有し、前記最大濃淡値が前記第３の基準濃淡範囲内である場合、前記検査対象物が良品であると判定する一方、前記最大濃淡値が前記第３の基準濃淡範囲外である場合、前記検査対象物が不良品であると判定することを特徴とする。
請求項９に係る発光機器の検査システムの発明は、請求項１〜８のいずれか１項の発光機器の検査装置を複数備え、各発光機器の検査装置は、他の発光機器の検査装置との前記撮像画像の濃淡ばらつきを補正するために予め設定された補正係数を用いて前記撮像画像の前記濃淡値を補正する補正部を備えることを特徴とする。
A light-emitting device inspection device according to a seventh aspect of the present invention is the light-emitting device inspection device according to any one of the first to sixth aspects, wherein the inspection object includes the lamp unit and the lamp unit attached thereto, A second determination unit that determines whether the main body unit to which the lamp unit that has been determined to be non-defective by the determination unit is acceptable is included. And a third determination unit that determines the quality of the inspection object including the main body unit that has been determined to be good or bad by the second determination unit.
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a light-emitting device according to the seventh aspect, wherein the second determination unit is mounted on the main body unit with the lamp unit determined to be a non-defective product by the determination unit. A function for obtaining a voltage adjustment value for adjusting an applied voltage applied to the lamp unit from the main body using the second captured image obtained by capturing the light emitting surface of the lamp unit in the A function for determining whether an adjustment value is within the adjustment range, and a function for determining whether adjustment of the applied voltage is necessary when the voltage adjustment value is within the adjustment range. When the voltage adjustment value is outside the adjustment range, the main body portion is determined to be defective, while the voltage adjustment value is within the adjustment range and the adjustment of the applied voltage is unnecessary. In this case, the main body is a good product The third determining unit determines that the adjustment of the applied voltage is necessary in the second determining unit, and the third light emitting surface of the lamp unit in which the applied voltage is changed is imaged. A function of determining whether or not a maximum gray value, which is a maximum value of gray values of a plurality of unit areas in the captured image, is within a third reference gray range, and the maximum gray value is the third reference gray value; When it is within the range, it is determined that the inspection object is a non-defective product, while when the maximum gradation value is outside the third reference gradation range, it is determined that the inspection object is a defective product. Features.
The invention of a light emitting device inspection system according to claim 9 comprises a plurality of the light emitting device inspection devices according to any one of claims 1 to 8 , wherein each light emitting device inspection device comprises: characterized in that it comprises a correction unit that correct complement the gray value of the captured image by using the preset correction coefficient for correcting the density variations of the captured image.
請求項１の発明によれば、撮像部がエリアセンサであることによって、スポット計測を繰り返して発光面の２次元分布を求める場合に比べて、ランプユニットの発光面の撮像が１回ですむので、検査時間を短縮することができる。また、請求項１の発明によれば、撮像画像の発光領域の外郭部で囲まれた領域における単位領域の受光量に対応する濃淡値が基準濃淡範囲内であるか、発光領域の面積値が基準面積範囲内であるかの少なくとも一方を満たすことによって、検査対象物の発光特性を精度よく検査して、検査対象物の良否を判定することができる。 According to the invention of claim 1, since the imaging unit is an area sensor, the imaging of the light emitting surface of the lamp unit can be performed only once compared to the case where the two-dimensional distribution of the light emitting surface is obtained by repeating spot measurement. , Inspection time can be shortened. According to the first aspect of the present invention, the gray value corresponding to the received light amount of the unit area in the area surrounded by the outline of the light emitting area of the captured image is within the reference gray area, or the area value of the light emitting area is By satisfying at least one of the reference area range, it is possible to accurately inspect the light emission characteristics of the inspection object and determine the quality of the inspection object.
請求項２の発明によれば、ランプユニットの発光領域の位置ばらつきが大きい場合に、発光領域の全領域が撮像領域内に含まれていることを判定することによって、ランプユニットの良否判定の精度を高めることができる。 According to the second aspect of the present invention, when the position variation of the light emitting area of the lamp unit is large, it is determined that the entire area of the light emitting area is included in the imaging area, thereby determining the accuracy of the quality determination of the lamp unit. Can be increased.
請求項３の発明によれば、発光領域の外郭部のすべてが撮像領域内に含まれていることを確認することによって、発光領域の全領域が撮像領域内に含まれていることを確実に判定することができる。 According to the invention of claim 3, it is ensured that the entire area of the light emitting area is included in the imaging area by confirming that the entire outer portion of the light emitting area is included in the imaging area. Can be determined.
請求項４の発明によれば、発光領域の重心が例えば撮像領域の中心付近にあることを確認することによって、発光領域の全領域が撮像領域内に含まれていることを簡単に判定することができる。 According to the invention of claim 4, it is easily determined that the entire area of the light emitting area is included in the imaging area by confirming that the center of gravity of the light emitting area is, for example, near the center of the imaging area. Can do.
請求項５の発明によれば、撮像部の露光時間を検査対象物の発光時間以上にすることによって、検査対象物からの光を撮像部ですべて取り込むことができる。 According to the invention of claim 5, by making the exposure time of the imaging unit equal to or longer than the light emission time of the inspection object, all the light from the inspection object can be captured by the imaging unit.
請求項６の発明によれば、撮像部に入射される光量を減少させる減光フィルタを備えることによって、撮像部の受光素子に入る光量の飽和を防止することができる。 According to the sixth aspect of the present invention, by providing the neutral density filter that reduces the amount of light incident on the imaging unit, saturation of the amount of light entering the light receiving element of the imaging unit can be prevented.
請求項９の発明によれば、各発光機器の検査装置において、発光機器の検査装置ごとに設定された補正係数を用いて濃淡値を補正することによって、発光機器の検査装置間の検査ばらつきを低減することができる。 According to the invention of claim 9 , in the inspection device for each light emitting device, the variation in the inspection between the inspection devices of the light emitting device is corrected by correcting the gray value using the correction coefficient set for each inspection device of the light emitting device. Can be reduced.
（実施形態１）
実施形態１に係る発光機器の検査装置（以下「検査装置」という）１は、図１に示すように、光を発するランプユニットＢを有する検査対象物Ａに対して、ランプユニットＢの発光特性を検査して、検査対象物Ａの良否を判定する。ランプユニットＢの発光特性とは、ランプユニットＢから放射された光の光量や発光領域などをいう。
(Embodiment 1)
As shown in FIG. 1, a light emitting device inspection apparatus 1 (hereinafter referred to as “inspection apparatus”) 1 according to Embodiment 1 has a light emission characteristic of a lamp unit B with respect to an inspection object A having a lamp unit B that emits light. Is checked to determine whether the inspection object A is good or bad. The light emission characteristics of the lamp unit B refer to the amount of light emitted from the lamp unit B, the light emission region, and the like.
検査対象物Ａは、上記ランプユニットＢと、ランプユニットＢが装着される本体部Ｃとで構成されている。検査対象物Ａは、例えば人体に対して光を照射する美容機器や健康器具などである。以下、本実施形態では、光放射面をユーザの肌に直接接触させて上記ユーザの肌に光を短時間照射して肌を美しくする（抑毛効果を含む）美容機器を検査対象物Ａとして説明する。図２（ａ）には、上記美容機器である検査対象物Ａの外観が示されている。 The inspection object A includes the lamp unit B and a main body C to which the lamp unit B is mounted. The inspection object A is, for example, a beauty device or a health appliance that irradiates light to the human body. Hereinafter, in this embodiment, a beauty device that includes a light emitting surface directly in contact with the user's skin and irradiates the user's skin with light for a short time to make the skin beautiful (including a hair suppression effect) is used as the inspection object A. explain. FIG. 2A shows an appearance of the inspection object A that is the beauty device.
ランプユニットＢは、図２（ｂ）に示すように、閃光を発する高輝度キセノン光源（以下「光源」という）Ｂ１と、光源Ｂ１の放射方向に設けられた反射板Ｂ２と、反射板Ｂ２のうち光の放射側（図２（ｂ）の上側）に設けられたレンズＢ３とを備えている。ランプユニットＢは、本体部Ｃに対して脱着可能である。 As shown in FIG. 2B, the lamp unit B includes a high-brightness xenon light source (hereinafter referred to as “light source”) B1 that emits flashing light, a reflecting plate B2 provided in the radiation direction of the light source B1, and a reflecting plate B2. Among these, a lens B3 provided on the light emission side (the upper side in FIG. 2B) is provided. The lamp unit B is detachable from the main body C.
光源Ｂ１から放射された光の一部は、図２（ｃ）に示すように、反射板Ｂ２で反射することがない直射光Ｌ１（図２（ｃ）の実線）としてレンズＢ３を透過し、受光面Ｂ４を照射する。一方、光源Ｂ１から放射された光の残りは、反射板Ｂ２で反射した反射光Ｌ２（図２（ｃ）の破線）としてレンズＢ３を透過し、受光面Ｂ４を照射する。なお、受光面Ｂ４は、検査時では検査装置１の撮像部２（図１参照）であり、美容機器として実際に使用される場合ではユーザの肌である。 A part of the light emitted from the light source B1 is transmitted through the lens B3 as direct light L1 (solid line in FIG. 2C) that is not reflected by the reflector B2, as shown in FIG. Irradiate the light receiving surface B4. On the other hand, the remainder of the light emitted from the light source B1 is transmitted through the lens B3 as reflected light L2 (broken line in FIG. 2C) reflected by the reflecting plate B2, and irradiates the light receiving surface B4. The light receiving surface B4 is the imaging unit 2 (see FIG. 1) of the inspection apparatus 1 at the time of inspection, and is the user's skin when actually used as a beauty device.
本体部Ｃは、図１に示すように、ランプユニットＢに電圧印加して、ランプユニットＢを発光させる。本体部Ｃは、ランプユニットＢに印加する印加電圧の大きさを制御する電圧制御部Ｃ１と、ランプユニットＢを発光させるために動作する発光回路Ｃ２と、ランプユニットＢが装着される装着部Ｃ３とを備えている。ランプユニットＢが装着部Ｃ３に装着されると、電圧制御部Ｃ１は、発光回路Ｃ２を動作させて、ランプユニットＢに電圧印加し、ランプユニットＢを発光させる。 As shown in FIG. 1, the main body C applies a voltage to the lamp unit B to cause the lamp unit B to emit light. The main body C includes a voltage control unit C1 that controls the magnitude of an applied voltage applied to the lamp unit B, a light emitting circuit C2 that operates to cause the lamp unit B to emit light, and a mounting unit C3 to which the lamp unit B is mounted. And. When the lamp unit B is mounted on the mounting unit C3, the voltage control unit C1 operates the light emitting circuit C2 to apply a voltage to the lamp unit B and cause the lamp unit B to emit light.
本実施形態の検査対象物Ａは、上述したように、ランプユニットＢの光放射面をユーザの肌に直接接触させる機器である。したがって、検査対象物Ａの検査項目としては、抑毛に必要な光強度が十分な範囲で得られているか、安全レベルを超えて発光する領域がないか、発光強度不足になっていないかの３つが少なくとも必要である。 As described above, the inspection object A of the present embodiment is a device that directly contacts the user's skin with the light emitting surface of the lamp unit B. Therefore, as the inspection item of the inspection object A, whether the light intensity necessary for hair suppression is obtained in a sufficient range, whether there is no region that emits light exceeding the safety level, or whether the light emission intensity is insufficient. At least three are required.
続いて、検査装置１について説明する。検査装置１は、撮像機能を有する撮像部２と、撮像部２の光入力側に取り付けられた減光フィルタ３と、ランプユニットＢに電圧を印加するマスタ部４と、画像処理機能を有する処理装置５と、表示機能を有する表示装置６と、ユーザが操作するときに用いられる操作入力装置７とを備えている。 Subsequently, the inspection apparatus 1 will be described. The inspection apparatus 1 includes an imaging unit 2 having an imaging function, a neutral density filter 3 attached to the light input side of the imaging unit 2, a master unit 4 for applying a voltage to the lamp unit B, and a process having an image processing function. A device 5, a display device 6 having a display function, and an operation input device 7 used when a user operates the device 5 are provided.
撮像部２は、ランプユニットＢの発光面を一括して撮像するＣＣＤエリアセンサである。本実施形態のＣＣＤエリアセンサは、例えば１０００万画素以上の高画素センサである。撮像部２の露光時間は、ランプユニットＢの発光時間以上である。図３には、ランプユニットＢの発光面を撮像したときの撮像画像２１が示されている。減光フィルタ３は、ランプユニットＢと撮像部２との間に設けられ、撮像部２に入射される光量を減少させる。 The imaging unit 2 is a CCD area sensor that collectively images the light emitting surface of the lamp unit B. The CCD area sensor of this embodiment is a high pixel sensor having 10 million pixels or more, for example. The exposure time of the imaging unit 2 is longer than the light emission time of the lamp unit B. FIG. 3 shows a captured image 21 when the light emitting surface of the lamp unit B is captured. The neutral density filter 3 is provided between the lamp unit B and the imaging unit 2 and reduces the amount of light incident on the imaging unit 2.
図１に示すマスタ部４は、ランプユニットＢに印加する印加電圧の大きさを制御する電圧制御部４１と、ランプユニットＢを発光させるために動作する発光回路４２と、ランプユニットＢが装着される装着部４３とを備えている。ランプユニットＢが装着部４３に装着されると、電圧制御部４１は、発光回路４２を動作させて、ランプユニットＢに電圧印加し、ランプユニットＢを発光させる。 The master unit 4 shown in FIG. 1 is equipped with a voltage control unit 41 that controls the magnitude of an applied voltage applied to the lamp unit B, a light emitting circuit 42 that operates to cause the lamp unit B to emit light, and the lamp unit B. And a mounting portion 43. When the lamp unit B is mounted on the mounting unit 43, the voltage control unit 41 operates the light emitting circuit 42 to apply a voltage to the lamp unit B and cause the lamp unit B to emit light.
処理装置５は、画像取込部５１と、画像処理部５２と、記憶部５３と、第１の判定部５４と、第２の判定部５５と、電圧調整部５６と、第３の判定部５７と、画像出力部５８と、入力インタフェース５９とを備えている。処理装置５のうち画像処理部５２と第１の判定部５４と第２の判定部５５と電圧調整部５６と第３の判定部５７とは、コンピュータの演算部に構成され、プログラムに基づいて動作する。 The processing device 5 includes an image capture unit 51, an image processing unit 52, a storage unit 53, a first determination unit 54, a second determination unit 55, a voltage adjustment unit 56, and a third determination unit. 57, an image output unit 58, and an input interface 59. Of the processing device 5, the image processing unit 52, the first determination unit 54, the second determination unit 55, the voltage adjustment unit 56, and the third determination unit 57 are configured as a calculation unit of a computer and based on a program. Operate.
画像取込部５１は、撮像部２の出力側に接続され、撮像部２で撮像された撮像画像２１（図３参照）を取り込む。 The image capturing unit 51 is connected to the output side of the imaging unit 2 and captures the captured image 21 (see FIG. 3) captured by the imaging unit 2.
画像処理部５２は、画像取込部５１で取り込まれた撮像画像２１の全画素の濃淡値をそれぞれ算出する。 The image processing unit 52 calculates the gray value of all the pixels of the captured image 21 captured by the image capturing unit 51.
画像処理部５２は、画像取込部５１で取り込まれた撮像画像２１を２値化処理して２値化画像を作成する。具体的には、画像処理部５２は、各画素の濃淡値と適宜選択される閾値とを比較し、濃淡値が閾値以上の画素を白色に変換し、濃淡値が閾値未満の画素を黒色に変換する。上記のように変換された各画素を用いて、画像処理部５２は、２値化画像を作成する。その後、画像処理部５２は、上記２値化画像を用いて発光領域Ｍ（図４参照）を抽出する。なお、上記閾値は、発光領域Ｍと他の領域とを分離できるような値に選択される。例えば各画素を濃淡値の大きさの順に並び替えた濃淡ヒストグラム（濃度ヒストグラム）を用いて、閾値が設定される。 The image processing unit 52 binarizes the captured image 21 captured by the image capturing unit 51 to create a binarized image. Specifically, the image processing unit 52 compares the gray value of each pixel with an appropriately selected threshold value, converts pixels whose gray value is equal to or greater than the threshold value to white, and converts pixels whose gray value is less than the threshold value to black Convert. The image processing unit 52 creates a binary image using each pixel converted as described above. Thereafter, the image processing unit 52 extracts the light emitting region M (see FIG. 4) using the binarized image. The threshold value is selected to a value that can separate the light emitting region M from other regions. For example, the threshold value is set using a grayscale histogram (density histogram) in which each pixel is rearranged in the order of grayscale values.
記憶部５３には、予め設定された第１の基準濃淡範囲と、予め設定された基準面積範囲と、予め設定された第３の基準濃淡範囲とが記憶されている。 The storage unit 53 stores a preset first reference shade range, a preset reference area range, and a preset third reference shade range.
第１の判定部５４は、ランプユニットＢがマスタ部４に装着されている場合において、ランプユニットＢの発光特性を検査し、ランプユニットＢの良否を判定する。具体的には、第１の判定部５４は、位置判定機能と、第１の濃淡値算出機能と、第１の最大値抽出機能と、濃淡値判定機能と、面積値算出機能と、面積値判定機能とを有している。 When the lamp unit B is mounted on the master unit 4, the first determination unit 54 examines the light emission characteristics of the lamp unit B and determines whether the lamp unit B is good or bad. Specifically, the first determination unit 54 includes a position determination function, a first gray value calculation function, a first maximum value extraction function, a gray value determination function, an area value calculation function, and an area value. It has a judgment function.
まず、位置判定機能について説明する。第１の判定部５４は、ランプユニットＢがマスタ部４に装着されたときに画像処理部５２で抽出された発光領域Ｍの外郭部Ｍ１のすべてが撮像領域内に含まれているか否かを判定することによって、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれているか否かを判定する。発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれている場合（図５（ａ）参照）、第１の判定部５４は、受光量のピーク位置Ｍ２を検出することができる。一方、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていない場合（図５（ｂ）参照）、第１の判定部５４は、位置Ｍ３をピーク位置Ｍ２として誤検出する場合がある。発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていない場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する。 First, the position determination function will be described. The first determination unit 54 determines whether or not the entire outer portion M1 of the light emitting region M extracted by the image processing unit 52 when the lamp unit B is mounted on the master unit 4 is included in the imaging region. By determining, it is determined whether or not the entire area of the light emitting area M is included in the imaging area. When the entire region of the light emitting region M is included in the imaging region (see FIG. 5A), the first determination unit 54 can detect the peak position M2 of the received light amount. On the other hand, when the entire region of the light emitting region M is not included in the imaging region (see FIG. 5B), the first determination unit 54 may erroneously detect the position M3 as the peak position M2. When the entire area of the light emitting area M is not included in the imaging area, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a defective product.
ここで、発光領域Ｍの外郭部Ｍ１の抽出方法について説明する。第１の判定部５４は、例えばプリューウィットフィルタ（Prewitt filter）やソーベルフィルタ（Sobel filter）などの微分フィルタを用いて以下のような微分演算を行う。本実施形態では３×３微分フィルタを用いる。上記微分フィルタでは、上段において左から順に画素Ａ、画素Ｂ、画素Ｃとし、中段において左から順に画素Ｄ、画素Ｅ、画素Ｆとし、下段において左から順に画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｉとする。第１の判定部５４は、微分フィルタの中心画素Ｅを着目画素とし、画素Ｅに隣接する８画素（以下「８近傍」という）Ａ〜Ｄ，Ｆ〜Ｉの濃淡値を用いてＸ方向（横方向）の濃淡変化ΔＸと縦方向（Ｙ方向）の濃淡変化ΔＹとを以下の式１と式２とによって求める。第１の判定部５４は、画素ごとに濃淡値と微分フィルタの係数との積を求め、求めた積の総和をΔＸおよびΔＹとする。式１および式２において、Ａ〜Ｈは対応する画素の濃淡値を示す。
ΔＸ＝（Ａ＋Ｄ＋Ｇ）−（Ｃ＋Ｆ＋Ｉ）（式１）
ΔＹ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｈ＋Ｉ）（式２）
第１の判定部５４は、画素Ｅの近傍領域における濃淡変化を表わす微分絶対値ａｂｓ（Ｅ）を式３によって求める。
ａｂｓ（Ｅ）＝（ΔＸ２＋ΔＹ２）１／２（式３）
式３から明らかなように、微分絶対値ａｂｓ（Ｅ）は、画素Ｅの近傍領域における濃淡値の変化率を表わす。つまり、微分絶対値ａｂｓは、撮像画像２１の画素の濃淡変化が大きい部位ほど大きくなる。その後、第１の判定部５４は、撮像画像２１の画素を順次走査し、微分絶対値ａｂｓが規定値以上である画素をエッジ画素とし、連続する複数のエッジ画素を外郭部Ｍ１として抽出する。
Here, a method for extracting the outer portion M1 of the light emitting region M will be described. The first determination unit 54 performs the following differential operation using a differential filter such as a Prewitt filter or a Sobel filter. In this embodiment, a 3 × 3 differential filter is used. In the differential filter, pixels A, B, and C are sequentially arranged from the left in the upper stage, pixels D, pixels E, and F are sequentially arranged from the left in the middle stage, and pixels G, H, and I are sequentially arranged from the left in the lower stage. . The first determination unit 54 uses the center pixel E of the differential filter as the pixel of interest, and uses the gray values of 8 pixels (hereinafter referred to as “8 neighborhoods”) A to D and F to I adjacent to the pixel E in the X direction ( The change in shade ΔX in the horizontal direction and the change in shade ΔY in the vertical direction (Y direction) are obtained by the following equations 1 and 2. The first determination unit 54 obtains the product of the gray value and the coefficient of the differential filter for each pixel, and sets the sum of the obtained products as ΔX and ΔY. In Expressions 1 and 2, A to H indicate the shade values of the corresponding pixels.
ΔX = (A + D + G) − (C + F + I) (Formula 1)
ΔY = (A + B + C) − (G + H + I) (Formula 2)
The first determination unit 54 obtains a differential absolute value abs (E) that represents a change in shading in the vicinity region of the pixel E using Equation 3.
abs (E) = (ΔX 2 + ΔY 2 ) 1/2 (Formula 3)
As is clear from Equation 3, the differential absolute value abs (E) represents the change rate of the gray value in the vicinity region of the pixel E. In other words, the differential absolute value abs becomes larger as the portion where the change in shading of the pixels of the captured image 21 is larger. Thereafter, the first determination unit 54 sequentially scans the pixels of the captured image 21, extracts pixels whose differential absolute value abs is equal to or greater than the specified value as edge pixels, and extracts a plurality of continuous edge pixels as the outer portion M <b> 1.
続いて、第１の濃淡値算出機能について説明する。第１の判定部５４は、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれている場合（図５（ａ）参照）、後述する各区画の平均濃淡値を算出する。 Next, the first gray value calculation function will be described. When the entire area of the light emitting area M is included in the imaging area (see FIG. 5A), the first determination unit 54 calculates an average gray value of each section to be described later.
本実施形態では、撮像画像２１が１０００万画素のＣＣＤエリアセンサで撮像された画像であるため、第１の判定部５４が１画素ごとに濃淡値を算出すると、情報量が膨大になる。本実施形態では、５０画素×５０画素という複数の画素の集まりを１区画とし、区画ごとに、区画内の平均濃淡値が算出される。つまり、第１の判定部５４は、２６７２画素×４０００画素の撮像画像２１を、５０画素×５０画素を１区画として５３×８０個の区画に分割し、各区画ごとに区画内の各画素の濃淡値の平均値（以下「平均濃淡値」という）を算出する。各区画の平均濃淡値のうち、発光領域Ｍ内にある区画の平均濃淡値を第１の濃淡値という。上記１区画（５０画素×５０画素）は、本発明の「予め設定された単位領域」に相当する。なお、撮像画像２１の全領域を複数の区画に分割したときに端数（余り）が発生した場合、撮像画像２１の両端にある画素を均等に除外すればよい。 In the present embodiment, since the captured image 21 is an image captured by a CCD area sensor having 10 million pixels, if the first determination unit 54 calculates the gray value for each pixel, the amount of information becomes enormous. In this embodiment, a group of a plurality of pixels of 50 pixels × 50 pixels is defined as one section, and the average gray value in the section is calculated for each section. In other words, the first determination unit 54 divides the captured image 21 of 2672 pixels × 4000 pixels into 53 × 80 sections with 50 pixels × 50 pixels as one section, and each pixel in each section is divided into sections. An average value of gradation values (hereinafter referred to as “average gradation value”) is calculated. Of the average gray values of the sections, the average gray value of the sections in the light emitting region M is referred to as a first gray value. The one section (50 pixels × 50 pixels) corresponds to the “preset unit region” of the present invention. In addition, what is necessary is just to exclude the pixel in the both ends of the captured image 21 equally, when a fraction (remainder) generate | occur | produces when dividing the whole area | region of the captured image 21 into several divisions.
第１の判定部５４は、各区画の平均濃淡値を算出した後、第１の最大値抽出機能として、平均濃淡値の最大値（以下「第１の最大濃淡値」という）を抽出する。 After calculating the average gray value of each section, the first determination unit 54 extracts the maximum value of the average gray value (hereinafter referred to as “first maximum gray value”) as a first maximum value extraction function.
続いて、濃淡値判定機能について説明する。第１の判定部５４は、図４に示すように、第１の最大濃淡値（最大光強度、図４のＸ１）が濃淡上限値（図４の光強度Ｐｍａｘ）以下であるか否かを判定する（図４参照）。濃淡上限値とは、第１の基準濃淡範囲の上限値である。第１の最大濃淡値が濃淡上限値を超える場合（図４の場合）、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する。 Next, the gray value determination function will be described. As shown in FIG. 4, the first determination unit 54 determines whether or not the first maximum gray value (maximum light intensity, X1 in FIG. 4) is equal to or lower than the gray level upper limit value (light intensity Pmax in FIG. 4). Judgment is made (see FIG. 4). The density upper limit value is the upper limit value of the first reference density range. When the first maximum density value exceeds the density upper limit value (in the case of FIG. 4), the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a defective product.
一方、第１の最大濃淡値が濃淡上限値以下である場合、第１の判定部５４は、発光領域Ｍの外郭部Ｍ１で囲まれた領域において、すべての第１の濃淡値（光強度）が第１の基準濃淡範囲（図４の光強度（Ｐｍａｘ−Ｐｍｉｎ））内であるか否かを判定する。いずれかの第１の濃淡値が第１の基準濃淡範囲外である場合（図４のＸ２）、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する。上記より、発光領域Ｍが環状（ドーナツ状）になっている場合（図４の非発光領域Ｎがある場合）も、ランプユニットＢは不良品と判定される。 On the other hand, when the first maximum gray value is equal to or lower than the gray level upper limit value, the first determination unit 54 determines all the first gray values (light intensity) in the region surrounded by the outer portion M1 of the light emitting region M. Is within the first reference grayscale range (light intensity (Pmax-Pmin) in FIG. 4). If any of the first gray values are outside the first reference gray range (X2 in FIG. 4), the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a defective product. From the above, when the light emitting region M is annular (donut-shaped) (when there is the non-light emitting region N in FIG. 4), the lamp unit B is determined to be defective.
次に、面積値算出機能および面積値判定機能について説明する。図１に示す第１の判定部５４は、すべての第１の濃淡値が第１の基準濃淡範囲内である場合、面積値算出機能として、発光領域Ｍ（図５（ａ）参照）の面積値（以下「発光面積値」という）を算出する。その後、第１の判定部５４は、面積値判定機能として、発光面積値が基準面積範囲内であるか否かを判定する。発光面積値が基準面積範囲内である場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品ではないと判定する。一方、発光面積値が基準面積範囲外である場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する。なお、濃淡値判定機能と面積値判定機能の組み合わせを第１の良否判定機能とする。 Next, the area value calculation function and the area value determination function will be described. The first determination unit 54 shown in FIG. 1 uses the area of the light emitting region M (see FIG. 5A) as an area value calculation function when all the first gray values are within the first reference gray range. A value (hereinafter referred to as “light emitting area value”) is calculated. Then, the 1st determination part 54 determines whether the light emission area value is in a reference | standard area range as an area value determination function. When the light emission area value is within the reference area range, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is not a defective product. On the other hand, when the light emission area value is outside the reference area range, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a defective product. A combination of the gray value determination function and the area value determination function is defined as a first pass / fail determination function.
上記より、第１の判定部５４は、すべての第１の濃淡値が第１の基準濃淡範囲内であるとともに発光面積値が基準面積範囲内である場合、ランプユニットＢが不良品ではないと判定する。つまり、上記の場合、ランプユニットＢは良品と判定される。 As described above, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is not defective when all the first gray values are within the first reference gray range and the light emission area value is within the standard area range. judge. That is, in the above case, the lamp unit B is determined as a non-defective product.
第２の判定部５５は、第１の判定部５４で良品と判定されたランプユニットＢが本体部Ｃに装着された場合において、ランプユニットＢの発光特性を検査し、本体部Ｃの良否を判定する。具体的には、第２の判定部５５は、第２の濃淡値算出機能と、第２の最大値抽出機能と、電圧調整値算出機能と、第２の良否判定機能とを有している。 When the lamp unit B determined as a non-defective product by the first determination unit 54 is mounted on the main body C, the second determination unit 55 inspects the light emission characteristics of the lamp unit B and determines whether the main body C is good or bad. judge. Specifically, the second determination unit 55 has a second tone value calculation function, a second maximum value extraction function, a voltage adjustment value calculation function, and a second pass / fail determination function. .
まず、第２の濃淡値算出機能および第２の最大値抽出機能について説明する。第２の濃淡値算出機能として、第２の判定部５５は、ランプユニットＢが本体部Ｃに装着された後に撮像部２で撮像された撮像画像２１（図３参照）から各区画（単位領域）ごとに区画内の各画素の濃淡値の平均値を算出する。各画素の濃淡値の平均値を第２の濃淡値とする。その後、第２の最大値抽出機能として、第２の判定部５５は、第２の濃淡値の最大値（以下「第２の最大濃淡値」という）を抽出する。 First, the second gray value calculation function and the second maximum value extraction function will be described. As a second tone value calculation function, the second determination unit 55 includes each section (unit area) from the captured image 21 (see FIG. 3) captured by the imaging unit 2 after the lamp unit B is mounted on the main body C. ) For each pixel in the section. The average value of the gray values of each pixel is set as the second gray value. Thereafter, as a second maximum value extraction function, the second determination unit 55 extracts the maximum value of the second gray value (hereinafter referred to as “second maximum gray value”).
続いて、電圧調整値算出機能について説明する。第２の判定部５５は、第１の最大濃淡値に対する第２の最大濃淡値の相対値として、第１の最大濃淡値に対する第２の最大濃淡値の比率、または第１の最大濃淡値と第２の最大濃淡値との差分を求める。上記相対値はアナログ値である。第２の判定部５５は、上記相対値を量子化して、本体部ＣからランプユニットＢへの印加電圧を調整するための電圧調整値を求める。つまり、電圧調整値は、電圧制御部Ｃ１が印加電圧の大きさを制御するための指示値である。上記相対値を量子化して求めた離散値が電圧調整値となる。 Next, the voltage adjustment value calculation function will be described. The second determination unit 55 uses, as a relative value of the second maximum gray value to the first maximum gray value, a ratio of the second maximum gray value to the first maximum gray value, or the first maximum gray value. A difference from the second maximum gray value is obtained. The relative value is an analog value. The second determination unit 55 quantizes the relative value to obtain a voltage adjustment value for adjusting the voltage applied from the main body C to the lamp unit B. That is, the voltage adjustment value is an instruction value for the voltage control unit C1 to control the magnitude of the applied voltage. A discrete value obtained by quantizing the relative value is a voltage adjustment value.
続いて、第２の良否判定機能について説明する。第２の判定部５５は、電圧調整値が後述の電圧調整部５６の調整範囲外である場合、本体部Ｃが不良品であると判定する。一方、電圧調整値が電圧調整部５６の調整範囲内である場合、第２の判定部５５は、本体部Ｃが良品であると判定する。 Next, the second pass / fail determination function will be described. The second determination unit 55 determines that the main body C is a defective product when the voltage adjustment value is outside the adjustment range of the voltage adjustment unit 56 described later. On the other hand, when the voltage adjustment value is within the adjustment range of the voltage adjustment unit 56, the second determination unit 55 determines that the main body C is a non-defective product.
電圧調整部５６は、本体部ＣからランプユニットＢに印加される印加電圧の大きさを調整する。第２の判定部５５で求められた電圧調整値が調整範囲内である場合、電圧調整部５６は、上記電圧調整値に応じて、上記印加電圧を変更するように電圧制御部Ｃ１に指示する。 The voltage adjustment unit 56 adjusts the magnitude of the applied voltage applied from the main body C to the lamp unit B. When the voltage adjustment value obtained by the second determination unit 55 is within the adjustment range, the voltage adjustment unit 56 instructs the voltage control unit C1 to change the applied voltage according to the voltage adjustment value. .
第３の判定部５７は、電圧調整部５６からの指示に応じて電圧制御部Ｃ１で印加電圧が変更された場合に、本体部Ｃに装着されたランプユニットＢの発光特性を検査し、検査対象物Ａの良否を判定する。具体的には、第３の判定部５７は、第３の濃淡値算出機能と、第３の最大値抽出機能と、第３の良否判定機能とを有している。 The third determination unit 57 inspects the light emission characteristics of the lamp unit B mounted on the main body C when the applied voltage is changed by the voltage control unit C1 in accordance with an instruction from the voltage adjustment unit 56, and the inspection is performed. The quality of the object A is determined. Specifically, the third determination unit 57 has a third tone value calculation function, a third maximum value extraction function, and a third pass / fail determination function.
まず、第３の濃淡値算出機能および第３の最大値抽出機能について説明する。第３の濃淡値算出機能として、第３の判定部５７は、電圧調整部５６からの指示に応じて電圧制御部Ｃ１で印加電圧が変更された後に撮像部２で撮像された撮像画像２１（図３参照）から各区画（単位領域）ごとに区画内の各画素の濃淡値の平均値を算出する。各画素の濃淡値の平均値を第３の濃淡値とする。その後、第３の最大値抽出機能として、第３の判定部５７は、第３の濃淡値の最大値（以下「第３の最大濃淡値」という）を抽出する。 First, the third gray value calculation function and the third maximum value extraction function will be described. As a third gray value calculation function, the third determination unit 57 is a captured image 21 (captured by the imaging unit 2 after the applied voltage is changed by the voltage control unit C1 in accordance with an instruction from the voltage adjustment unit 56. For each section (unit area), the average value of the gray value of each pixel in the section is calculated from FIG. The average value of the gray values of each pixel is defined as a third gray value. Thereafter, as a third maximum value extraction function, the third determination unit 57 extracts the maximum value of the third gray value (hereinafter referred to as “third maximum gray value”).
なお、第３の判定部５７の第３の濃淡値算出機能は、第１の判定部５４の第１の濃淡値判定機能および第２の判定部５５の第２の濃淡値判定機能と共通のハードウェアで構成されていてもよいし、別々のハードウェアで構成されていてもよい。また、第３の判定部５７の第３の最大値抽出機能も、第１の判定部５４の第１の最大値抽出機能および第２の判定部５５の第２の最大値抽出機能と共通のハードウェアで構成されていてもよいし、別々のハードウェアで構成されていてもよい。 The third tone value calculation function of the third determination unit 57 is the same as the first tone value determination function of the first determination unit 54 and the second tone value determination function of the second determination unit 55. It may be configured by hardware or may be configured by separate hardware. The third maximum value extraction function of the third determination unit 57 is also common to the first maximum value extraction function of the first determination unit 54 and the second maximum value extraction function of the second determination unit 55. It may be configured by hardware or may be configured by separate hardware.
続いて、第３の良否判定機能について説明する。第３の判定部５７は、第３の最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内である場合、検査対象物Ａが良品であると判定する。一方、第３の最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲外である場合、第３の判定部５７は、検査対象物Ａが不良品であると判定する。 Next, the third pass / fail determination function will be described. The third determination unit 57 determines that the inspection object A is a non-defective product when the third maximum gray value is within the third reference gray range. On the other hand, when the third maximum density value is outside the third reference density range, the third determination unit 57 determines that the inspection object A is a defective product.
画像出力部５８には、表示装置６が接続されている。表示装置６は、撮像画像２１（図３参照）や２値化画像を表示したり、第１〜３の判定部５４，５５，５７の判定結果を表示したりする。また、入力インタフェース５９には、ユーザが操作するときに用いられる操作入力装置７が接続されている。ユーザによる操作入力装置７への操作に応じた入力情報は、入力インタフェース５９を介して、処理装置５に取得される。 The display device 6 is connected to the image output unit 58. The display device 6 displays the captured image 21 (see FIG. 3) and a binarized image, and displays the determination results of the first to third determination units 54, 55, and 57. Further, the input interface 59 is connected to an operation input device 7 used when a user operates. Input information corresponding to a user's operation on the operation input device 7 is acquired by the processing device 5 via the input interface 59.
次に、本実施形態に係る検査装置１を用いた発光機器の検査方法について図６を用いて説明する。検査装置１は、後述の発光領域Ｍの面積が実用に十分な照射範囲であるか否か、発光領域Ｍ内の照射量が設定範囲内であるか否かを検査する。 Next, a method for inspecting a light emitting device using the inspection apparatus 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. The inspection apparatus 1 inspects whether the area of the light emitting region M described later is within a practically sufficient irradiation range and whether the irradiation amount in the light emitting region M is within a set range.
まず、ランプユニットＢがマスタ部４に装着される。上記ランプユニットＢの発光面を撮像部２が撮像する（図６のＳ１）。続いて、画像処理部５２が、ステップＳ１で撮像された第１の撮像画像の全画素の濃淡値をそれぞれ算出し、２値化処理して２値化画像を作成し、発光領域Ｍ（図４参照）を抽出する（Ｓ２）。 First, the lamp unit B is mounted on the master unit 4. The imaging unit 2 images the light emitting surface of the lamp unit B (S1 in FIG. 6). Subsequently, the image processing unit 52 calculates the gray value of all the pixels of the first captured image captured in step S1 and binarizes it to create a binarized image. 4) is extracted (S2).
その後、第１の判定部５４が、ステップＳ１で撮像された第１の撮像画像から各区画（単位領域）ごとに平均濃淡値を算出し、さらに第１の最大濃淡値を抽出する。第１の最大濃淡値が基準上限値以下である場合、第１の判定部５４は、発光領域Ｍ内のすべての第１の濃淡値が第１の濃淡範囲内であるか否かを判定する（Ｓ３）。いずれかの第１の濃淡値が第１の濃淡値範囲内ではない場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する（Ｓ１２）。一方、すべての第１の濃淡値が第１の濃淡範囲内である場合、第１の判定部５４は、発光面積値が基準面積範囲内であるか否かを判定する（Ｓ４）。発光面積値が基準面積範囲内である場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが良品であると判定する。一方、発光面積値が基準面積範囲内ではない場合、第１の判定部５４は、ランプユニットＢが不良品であると判定する（Ｓ１２）。 Thereafter, the first determination unit 54 calculates an average gray value for each section (unit area) from the first captured image captured in step S1, and further extracts a first maximum gray value. When the first maximum gray value is equal to or less than the reference upper limit value, the first determination unit 54 determines whether all the first gray values in the light emitting region M are within the first gray range. (S3). If any of the first gray values is not within the first gray value range, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a defective product (S12). On the other hand, when all the first gray values are within the first gray range, the first determination unit 54 determines whether or not the light emission area value is within the reference area range (S4). When the light emission area value is within the reference area range, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is a non-defective product. On the other hand, when the light emission area value is not within the reference area range, the first determination unit 54 determines that the lamp unit B is defective (S12).
その後、良品と判定されたランプユニットＢは、マスタ部４から取り外され、本体部Ｃに装着される。上記ランプユニットＢの発光面を撮像部２が撮像する（Ｓ５）。 Thereafter, the lamp unit B determined to be non-defective is removed from the master unit 4 and attached to the main body C. The imaging unit 2 images the light emitting surface of the lamp unit B (S5).
その後、第２の判定部５５は、ステップＳ５で撮像された第２の撮像画像から各区画（単位領域）ごとに第２の濃淡値を算出し、第２の最大濃淡値を算出する。続いて、第２の判定部５５は、第１の最大濃淡値に対する第２の最大濃淡値の相対値から電圧調整値を作成し、電圧調整値が調整範囲内であるか否かを判定する（Ｓ６）。電圧調整値が調整範囲内ではない場合、第２の判定部５５は、本体部Ｃが不良品であると判定する（Ｓ１２）。一方、電圧調整値が調整範囲内である場合、第２の判定部５５は、印加電圧の調整が必要であるか否かを検討する（Ｓ７）。印加電圧の調整が不要である場合、第２の判定部５５は、本体部Ｃが良品であると判定する（Ｓ１１）。印加電圧の調整が必要である場合、電圧調整部５６は、本体部ＣからランプユニットＢへの印加電圧を調整するように電圧制御部Ｃ１に指示する（Ｓ８）。 Thereafter, the second determination unit 55 calculates a second gray value for each section (unit region) from the second captured image captured in step S5, and calculates a second maximum gray value. Subsequently, the second determination unit 55 creates a voltage adjustment value from the relative value of the second maximum gray value with respect to the first maximum gray value, and determines whether or not the voltage adjustment value is within the adjustment range. (S6). When the voltage adjustment value is not within the adjustment range, the second determination unit 55 determines that the main body C is a defective product (S12). On the other hand, when the voltage adjustment value is within the adjustment range, the second determination unit 55 examines whether the adjustment of the applied voltage is necessary (S7). When adjustment of an applied voltage is unnecessary, the 2nd determination part 55 determines with the main-body part C being non-defective (S11). When adjustment of the applied voltage is necessary, the voltage adjusting unit 56 instructs the voltage control unit C1 to adjust the applied voltage from the main body C to the lamp unit B (S8).
ところで、電圧調整部５６によって本体部ＣからランプユニットＢへの印加電圧が調整された場合、ほとんどのランプユニットＢの発光特性は正常になる。しかし、電圧調整値がアナログ値ではなく段階値（ステップ値）であるため、実際の印加電圧と目標の印加電圧とでずれが生じる場合がある。したがって、本実施形態の検査装置１は、検査対象物Ａを最終判定するために、以下のステップを実行する。 By the way, when the voltage applied from the main body C to the lamp unit B is adjusted by the voltage adjusting unit 56, the light emission characteristics of most lamp units B become normal. However, since the voltage adjustment value is not an analog value but a step value (step value), a deviation may occur between the actual applied voltage and the target applied voltage. Therefore, the inspection apparatus 1 of the present embodiment performs the following steps in order to finally determine the inspection object A.
ステップＳ８が実行された後、ランプユニットＢが本体部Ｃに装着されたまま、上記ランプユニットＢの発光面を撮像部２が撮像する（Ｓ９）。 After step S8 is executed, the imaging unit 2 images the light emitting surface of the lamp unit B while the lamp unit B is mounted on the main body C (S9).
その後、第３の判定部５７は、ステップＳ９で撮像された第３の撮像画像から第３の最大濃淡値を算出し、第３の最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内であるか否かを判定する（Ｓ１０）。第３の最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内である場合、第３の判定部５７は、検査対象物Ａが良品であると判定する（Ｓ１１）。一方、第３の最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内ではない場合、第３の判定部５７は、検査対象物Ａが不良品であると判定する（Ｓ１２）。 Thereafter, the third determination unit 57 calculates a third maximum gray value from the third captured image captured in step S9, and whether or not the third maximum gray value is within the third reference gray range. Is determined (S10). If the third maximum density value is within the third reference density range, the third determination unit 57 determines that the inspection object A is a non-defective product (S11). On the other hand, when the third maximum density value is not within the third reference density range, the third determination unit 57 determines that the inspection object A is a defective product (S12).
以上、本実施形態によれば、撮像部２がエリアセンサであることによって、スポット計測を繰り返して発光面の２次元分布を求める場合に比べて、ランプユニットＢの発光面の撮像が１回ですむので、検査時間を短縮することができる。 As described above, according to the present embodiment, since the imaging unit 2 is an area sensor, imaging of the light emitting surface of the lamp unit B is performed once compared to the case where the two-dimensional distribution of the light emitting surface is obtained by repeating spot measurement. Therefore, the inspection time can be shortened.
また、本実施形態によれば、ランプユニットＢがマスタ部４に装着されている場合に、撮像画像２１の発光領域Ｍの外郭部Ｍ１で囲まれた領域における各区画（単位領域）の受光量に対応する第１の濃淡値が第１の基準濃淡範囲内であるとともに発光領域Ｍの面積値（発光面積値）が基準面積範囲内であることを判定することによって、検査対象物Ａの発光特性を精度よく検査して、検査対象物Ａの良否を判定することができる。 Further, according to the present embodiment, when the lamp unit B is mounted on the master unit 4, the received light amount of each section (unit region) in the region surrounded by the outer portion M <b> 1 of the light emitting region M of the captured image 21. The light emission of the inspection object A is determined by determining that the first gray value corresponding to is within the first reference gray range and that the area value (light emission area value) of the light emitting region M is within the standard area range. It is possible to determine the quality of the inspection object A by accurately inspecting the characteristics.
さらに、本実施形態によれば、第２の最大濃淡値が第１の最大濃淡値に比べて調整できないほどずれていた場合、第２の判定部５５で本体部Ｃが不良品であると判定されるので、電圧調整部５６による無駄な電圧調整を防止することができる。 Furthermore, according to the present embodiment, when the second maximum gray value is deviated from the first maximum gray value so as not to be adjusted, the second determination unit 55 determines that the main body C is a defective product. Thus, useless voltage adjustment by the voltage adjustment unit 56 can be prevented.
また、本実施形態によれば、本体部ＣからランプユニットＢへの印加電圧の大きさを調整することによって、本体部Ｃに装着されたランプユニットＢの発光特性が所定条件を満たすようにすることができるので、ランプユニットＢが装着される本体部Ｃの歩留まりを向上させることができる。 In addition, according to the present embodiment, by adjusting the magnitude of the voltage applied from the main body C to the lamp unit B, the light emission characteristics of the lamp unit B mounted on the main body C satisfy the predetermined condition. Therefore, the yield of the main body C to which the lamp unit B is mounted can be improved.
さらに、本実施形態によれば、本体部ＣからランプユニットＢへの印加電圧を調整した後に、第３の判定部５７がランプユニットＢの発光特性を再検査することによって、検査対象物Ａの良否を最終判定することができる。 Furthermore, according to the present embodiment, after adjusting the voltage applied from the main body C to the lamp unit B, the third determination unit 57 reexamines the light emission characteristics of the lamp unit B, whereby the inspection object A The quality can be finally determined.
また、本実施形態によれば、撮像部２に入射される光量を減少させる減光フィルタ３を備えることによって、撮像部２のＣＣＤ素子（受光素子）に入る光量の飽和を防止することができる。特に、ランプユニットＢからの光が閃光のような単位時間あたりの光エネルギーが高い場合に効果的である。 Further, according to the present embodiment, by providing the neutral density filter 3 that reduces the amount of light incident on the imaging unit 2, saturation of the amount of light entering the CCD element (light receiving element) of the imaging unit 2 can be prevented. . This is particularly effective when the light from the lamp unit B has a high light energy per unit time such as a flash.
さらに、本実施形態によれば、撮像部２の露光時間をランプユニットＢの発光時間以上にすることによって、ランプユニットＢからの光をすべて撮像部２で取り込むことができる。 Furthermore, according to the present embodiment, by making the exposure time of the imaging unit 2 longer than the light emission time of the lamp unit B, all the light from the lamp unit B can be captured by the imaging unit 2.
また、本実施形態によれば、ランプユニットＢの発光領域Ｍの位置ばらつきが大きい場合に、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていることを判定することによって、ランプユニットＢの良否判定の精度を高めることができる。このとき、発光領域Ｍの外郭部Ｍ１のすべてが撮像領域内に含まれていることを確認することによって、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていることを確実に判定することができる。 Further, according to the present embodiment, when the position variation of the light emitting area M of the lamp unit B is large, it is determined that the entire area of the light emitting area M is included in the imaging area, thereby The accuracy of pass / fail judgment can be increased. At this time, by confirming that the entire outer portion M1 of the light emitting area M is included in the imaging area, it is reliably determined that the entire area of the light emitting area M is included in the imaging area. Can do.
さらに、本実施形態のようにランプユニットＢが閃光を発する場合に、ランプユニットＢによる１回の発光で撮像部２が発光面を一括して撮像することができるので、検査対象物Ａの検査時間の短縮により効果的である。 Further, when the lamp unit B emits a flash as in the present embodiment, the imaging unit 2 can collectively image the light emitting surface by one light emission by the lamp unit B, so that the inspection of the inspection object A is performed. It is more effective by shortening the time.
なお、本実施形態の変形例として、第１の判定部５４は、位置判定機能として、図７に示すように発光領域Ｍの重心Ｇを求め、上記重心Ｇを用いて、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれているか否かを判定してもよい。図７（ａ）に示すように重心Ｇが予め設定された領域Ｇ１内に含まれる場合、第１の判定部５４は、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていると判定する。図７（ｂ）に示すように発光領域Ｍの重心Ｇが領域Ｇ１外である場合、第１の判定部５４は、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていないと判定する。以下の実施形態２においても同様である。 As a modification of the present embodiment, the first determination unit 54 obtains the center of gravity G of the light emitting region M as a position determination function, as shown in FIG. It may be determined whether or not the area is included in the imaging area. When the center of gravity G is included in the preset region G1 as shown in FIG. 7A, the first determination unit 54 determines that the entire region of the light emitting region M is included in the imaging region. . As shown in FIG. 7B, when the center of gravity G of the light emitting region M is outside the region G1, the first determination unit 54 determines that the entire region of the light emitting region M is not included in the imaging region. The same applies to the second embodiment below.
ここで、発光領域Ｍの重心Ｇの求め方について説明する。第１の判定部５４は、実施形態１の方法によって、いくつか（ｎ個）のエッジ画素を抽出する。その後、第１の判定部５４は、ｎ個のエッジ画素の座標（ａ１，ｂ１），（ａ２，ｂ２）・・・（ａｎ，ｂｎ）から、発光領域Ｍの重心Ｇの座標（ｘ，ｙ）を、ｘ＝（ａ１＋ａ２＋・・・＋ａｎ）／ｎ、ｙ＝（ｂ１＋ｂ２＋・・・＋ｂｎ）／ｎとして算出する。 Here, how to obtain the center of gravity G of the light emitting region M will be described. The first determination unit 54 extracts some (n) edge pixels by the method of the first embodiment. Thereafter, the first determination unit 54 determines the coordinates (x, y) of the center of gravity G of the light emitting region M from the coordinates (a1, b1), (a2, b2)... (An, bn) of the n edge pixels. ) Is calculated as x = (a1 + a2 +... + An) / n and y = (b1 + b2 +... + Bn) / n.
上記変形例によれば、発光領域Ｍの重心Ｇが撮像領域の中心付近（領域Ｇ１内）にあることを確認することによって、発光領域Ｍの全領域が撮像領域内に含まれていることを簡単に判定することができる。 According to the modified example, by confirming that the center of gravity G of the light emitting region M is near the center of the imaging region (in the region G1), it is confirmed that the entire region of the light emitting region M is included in the imaging region. It can be easily determined.
また、本実施形態では、撮像画像２１を複数の区画に分割し、各区画ごとに区画内の各画素の濃淡値の平均値を第１の濃淡値として求めているが、本実施形態の変形例として、各画素の濃淡値をそれぞれ第１の濃淡値としてもよい。変形例の場合、１つの画素の領域が、本発明の「予め設定された単位領域」に相当する。上記変形例は、各区画ごとに濃淡値の平均値を求める必要がないため、撮像画像２１の画素数が少ない場合に有効である。 In the present embodiment, the captured image 21 is divided into a plurality of sections, and the average value of the gray values of each pixel in each section is obtained as the first gray value for each section. As an example, the gray value of each pixel may be set as the first gray value. In the case of the modification, the area of one pixel corresponds to the “preset unit area” of the present invention. The above modification is effective when the number of pixels of the captured image 21 is small because it is not necessary to obtain the average value of the gray values for each section.
本実施形態では、ランプユニットＢと本体部Ｃとで構成される機器を検査対象物Ａとした場合について説明したが、検査対象物Ａは、上記のように２つの部分に分離できる機器に限定されず、光源部分と上記光源部分を発光させる部分とが一体に構成された機器であってもよい。以下の実施形態２においても同様である。 In the present embodiment, the case where the device constituted by the lamp unit B and the main body C is the inspection object A has been described, but the inspection object A is limited to an apparatus that can be separated into two parts as described above. Alternatively, a device in which a light source part and a part that emits light from the light source part are integrally formed may be used. The same applies to the second embodiment below.
この場合、本実施形態のマスタ部４は不要である。第１の判定部５４は、各区画（単位領域）の受光量に対応する第１の濃淡値を用いて、検査対象物Ａの良否判定を行う。その後、第２の判定部５５は、第２の濃淡値を抽出する必要はなく、第１の最大濃淡値から電圧調整値を作成し、電圧調整値が調整範囲内であるか否かを判定する。電圧調整値が調整範囲内ではない場合、第２の判定部５５は、検査対象物Ａが不良品であると判定する。 In this case, the master unit 4 of this embodiment is not necessary. The first determination unit 54 determines pass / fail of the inspection object A using the first gray value corresponding to the amount of light received in each section (unit region). Thereafter, the second determination unit 55 does not need to extract the second gray value, creates a voltage adjustment value from the first maximum gray value, and determines whether the voltage adjustment value is within the adjustment range. To do. When the voltage adjustment value is not within the adjustment range, the second determination unit 55 determines that the inspection object A is a defective product.
上記の場合においても、検査対象物Ａの発光特性を精度よく検査して、検査対象物Ａの良否を判定することができる。 Even in the above case, the light emission characteristics of the inspection object A can be accurately inspected to determine whether the inspection object A is good or bad.
また、本実施形態では、第１の判定部５４において、各区画の受光量に対応する第１の濃淡値と発光領域Ｍの面積値（発光面積値）とを用いて良否判定を行ったが、本実施形態の変形例として、検査対象物Ａの種類や用途に応じては、第１の判定部５４が、第１の濃淡値と発光面積値のいずれ一方のみを用いて良否判定を行ってもよい。以下の実施形態２においても同様である。例えば検査対象物Ａの反射板Ｂ２がなく反射光Ｌ２がない場合、反射板Ｂ２のばらつきが少ない場合、発光面積値は推定できるので、第１の判定部５４は、各区画の第１の濃淡値のみを用いて良否判定を行えばよい。一方、例えば懐中電灯など、光の光量がある程度あれば、精度が問われない場合、第１の判定部５４は、発光面積値のみを用いて良否判定を行えばよい。 In the present embodiment, the first determination unit 54 performs pass / fail determination using the first gray value corresponding to the amount of light received in each section and the area value (light emission area value) of the light emitting region M. As a modification of the present embodiment, depending on the type and application of the inspection object A, the first determination unit 54 performs pass / fail determination using only one of the first gray value and the light emission area value. May be. The same applies to the second embodiment below. For example, when there is no reflection plate B2 of the inspection object A and there is no reflected light L2, when the variation of the reflection plate B2 is small, the light emission area value can be estimated, so the first determination unit 54 determines the first density of each section. What is necessary is just to perform quality determination using only a value. On the other hand, if there is a certain amount of light, such as a flashlight, if the accuracy is not questioned, the first determination unit 54 may perform pass / fail determination using only the light emitting area value.
（実施形態２）
実施形態２では、図８に示すように、複数（図示例では６台）の検査装置１，１・・・を備える検査システムＳについて説明する。なお、実施形態１と同様の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
(Embodiment 2)
In the second embodiment, as shown in FIG. 8, an inspection system S including a plurality (six in the illustrated example) of inspection apparatuses 1, 1,. In addition, about the component similar to Embodiment 1, the same code | symbol is attached | subjected and description is abbreviate | omitted.
同種の検査対象物Ａの検査に対して複数の検査装置１，１・・・を用いる場合、複数の検査装置１，１・・・間で撮像部２の感度や減光フィルタ３にばらつきがあるため、複数の検査装置１，１・・・間で撮像画像２１（図３参照）の濃淡値のばらつきが発生する。 When a plurality of inspection apparatuses 1, 1... Are used for the inspection of the same type of inspection object A, the sensitivity of the imaging unit 2 and the neutral density filter 3 vary among the plurality of inspection apparatuses 1, 1. For this reason, variation in the gray value of the captured image 21 (see FIG. 3) occurs between the plurality of inspection apparatuses 1, 1.
そこで、本実施形態では、図８に示すように、各検査装置１は、撮像部２と減光フィルタ３とマスタ部４と処理装置５と表示装置６と操作入力装置７とを実施形態１の検査装置１と同様に備えるとともに、補正係数を用いて第１の濃淡値、第２の濃淡値および第３の濃淡値を補正する補正部８をさらに備えている。補正係数は、他の検査装置１との撮像画像２１の濃淡ばらつきを補正するために、各検査装置１ごとに予め設定された係数である。補正部８では、補正後の第１の濃淡値が新たな第１の濃淡値となり、補正後の第２の濃淡値が新たな第２の濃淡値となり、補正後の第３の濃淡値が新たな第３の濃淡値となる。なお、補正部８は、処理装置５の画像処理部５２と第１の判定部５４と第２の判定部５５と電圧調整部５６と第３の判定部５７とともに、コンピュータの演算部に構成され、プログラムに基づいて動作する。 Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. 8, each inspection apparatus 1 includes an imaging unit 2, a neutral density filter 3, a master unit 4, a processing device 5, a display device 6, and an operation input device 7. And a correction unit 8 that corrects the first gray value, the second gray value, and the third gray value using the correction coefficient. The correction coefficient is a coefficient that is set in advance for each inspection apparatus 1 in order to correct the shading variation of the captured image 21 with another inspection apparatus 1. In the correction unit 8, the corrected first gray value becomes a new first gray value, the corrected second gray value becomes a new second gray value, and the corrected third gray value is obtained. A new third gray value is obtained. The correction unit 8 is configured as a computing unit of the computer together with the image processing unit 52, the first determination unit 54, the second determination unit 55, the voltage adjustment unit 56, and the third determination unit 57 of the processing device 5. Operates based on the program.
以上、本実施形態によれば、各検査装置１において、検査装置１ごとに設定された補正係数を用いて第１の濃淡値、第２の濃淡値および第３の濃淡値を補正することによって、検査装置１，１・・・間の検査ばらつきを低減することができる。 As described above, according to the present embodiment, each inspection apparatus 1 corrects the first gray value, the second gray value, and the third gray value by using the correction coefficient set for each inspection apparatus 1. , Inspection variations among the inspection apparatuses 1, 1... Can be reduced.
１ 検査装置
２ 撮像部
３ 減光フィルタ
４ マスタ部
５ 処理装置
５２ 画像処理部
５３ 記憶部
５４ 第１の判定部
５５ 第２の判定部
５６ 電圧調整部
５７ 第３の判定部
８ 補正部
Ａ 検査対象物
Ｂ ランプユニット
Ｂ１ 高輝度キセノン光源
Ｃ 本体部
Ｃ１ 電圧制御部
Ｓ 検査システム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 2 Image pick-up part 3 Neutral filter 4 Master part 5 Processing apparatus 52 Image processing part 53 Memory | storage part 54 1st determination part 55 2nd determination part 56 Voltage adjustment part 57 3rd determination part 8 Correction | amendment part A Inspection Object B Lamp unit B1 High-brightness xenon light source C Main body C1 Voltage controller S Inspection system
Claims (9)
前記ランプユニットの発光面を一括して撮像するエリアセンサである撮像部と、
前記撮像部で撮像された撮像画像を２値化処理して２値化画像を作成し当該２値化画像を用いて発光領域を抽出する画像処理部と、
前記発光領域の外郭部で囲まれた領域内において予め設定された単位領域の受光量に対応する濃淡値が予め設定された基準濃淡範囲内であるか否かを判定する濃淡値判定機能と、前記発光領域の面積値が予め設定された基準面積範囲内であるか否かを判定する面積値判定機能とを有し、前記濃淡値判定機能と前記面積値判定機能とを組み合わせて前記ランプユニットの良否を判定する判定部とを備え、
前記判定部は、前記濃淡値が前記基準濃淡範囲内であり、かつ、前記面積値が前記基準面積範囲内である場合、前記ランプユニットが良品であると判定する一方、前記濃淡値が前記基準濃淡範囲内ではないこと、および、前記面積値が前記基準面積範囲内ではないことの少なくとも一方を満たす場合、前記ランプユニットが不良品であると判定する
ことを特徴とする発光機器の検査装置。 A light-emitting device inspection device that inspects the light emission characteristics of an inspection object including a lamp unit that emits light,
An imaging unit that is an area sensor that collectively images the light emitting surface of the lamp unit ;
An image processing unit that binarizes the captured image captured by the imaging unit to create a binarized image, and extracts a light emitting region using the binarized image;
A gray value determination function for determining whether or not a gray value corresponding to a light reception amount of a unit area set in advance in an area surrounded by an outer portion of the light emitting area is within a preset reference gray range; An area value determination function for determining whether or not the area value of the light emitting region is within a preset reference area range, and the lamp unit combining the gray value determination function and the area value determination function A determination unit for determining the quality of the
The determination unit determines that the lamp unit is non-defective when the gray value is within the reference gray range and the area value is within the standard area range, while the gray value is the reference value. An inspection apparatus for a light emitting device , wherein the lamp unit is determined to be a defective product when satisfying at least one of not being in a shade range and not being in the reference area range .
前記判定部で良品であると判定された前記ランプユニットが装着された前記本体部の良否を判定する第２の判定部と、
前記第２の判定部で良否が判定された前記本体部を含む前記検査対象物の良否を判定する第３の判定部とをさらに備える
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の発光機器の検査装置。 The object to be inspected includes the lamp unit, and a main body portion to which the lamp unit is attached and which applies a voltage to the lamp unit to cause the lamp unit to emit light.
A second determination unit that determines whether the main body unit to which the lamp unit that has been determined to be non-defective by the determination unit is mounted;
7. The apparatus according to claim 1 , further comprising: a third determination unit that determines the quality of the inspection object including the main body unit that has been determined to be good or bad by the second determination unit. The inspection apparatus for light-emitting devices described in 1 .
前記判定部で良品であると判定された前記ランプユニットが前記本体部に装着された状態で前記ランプユニットの発光面が撮像された第２の撮像画像を用いて、前記本体部から前記ランプユニットに印加される印加電圧を調整するための電圧調整値を求める機能と、Using the second captured image obtained by imaging the light emitting surface of the lamp unit in a state where the lamp unit determined to be non-defective by the determination unit is mounted on the main body unit, the lamp unit is moved from the main body unit to the lamp unit. A function for obtaining a voltage adjustment value for adjusting an applied voltage applied to
前記電圧調整値が調整範囲内であるか否かを判定する機能と、A function of determining whether the voltage adjustment value is within an adjustment range;
前記電圧調整値が前記調整範囲内である場合に前記印加電圧の調整が必要であるか否かを判定する機能とを有し、A function of determining whether adjustment of the applied voltage is necessary when the voltage adjustment value is within the adjustment range;
前記電圧調整値が前記調整範囲外である場合、前記本体部が不良品であると判定する一方、前記電圧調整値が前記調整範囲内であり、かつ、前記印加電圧の調整が不要である場合、前記本体部が良品であると判定し、When the voltage adjustment value is outside the adjustment range, the main body is determined to be defective, while the voltage adjustment value is within the adjustment range and the adjustment of the applied voltage is unnecessary. , Determine that the main body is a good product,
前記第３の判定部は、The third determination unit includes:
前記第２の判定部で前記印加電圧の調整が必要であると判定され前記印加電圧が変更された前記ランプユニットの発光面が撮像された第３の撮像画像における複数の単位領域の濃淡値の最大値である最大濃淡値が第３の基準濃淡範囲内であるか否かを判定する機能を有し、It is determined that the applied voltage needs to be adjusted by the second determination unit, and the grayscale values of the plurality of unit regions in the third captured image obtained by capturing the light emitting surface of the lamp unit whose applied voltage has been changed are captured. A function of determining whether or not the maximum gray value that is the maximum value is within the third reference gray range;
前記最大濃淡値が前記第３の基準濃淡範囲内である場合、前記検査対象物が良品であると判定する一方、前記最大濃淡値が前記第３の基準濃淡範囲外である場合、前記検査対象物が不良品であると判定するWhen the maximum density value is within the third reference density range, it is determined that the inspection object is a non-defective product, while when the maximum density value is outside the third reference density range, the inspection object Judge that the item is defective
ことを特徴とする請求項７記載の発光機器の検査装置。The light-emitting device inspection apparatus according to claim 7.
各発光機器の検査装置は、他の発光機器の検査装置との前記撮像画像の濃淡ばらつきを補正するために予め設定された補正係数を用いて前記撮像画像の前記濃淡値を補正する補正部を備えるThe inspection device for each light emitting device includes a correction unit that corrects the gray value of the captured image using a correction coefficient that is set in advance in order to correct the variation in light and shade of the captured image with the inspection device of another light emitting device. Prepare
ことを特徴とする発光機器の検査システム。An inspection system for light emitting devices.
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