JP5410330B2 - Stylus observation device - Google Patents

Stylus observation device Download PDF

Info

Publication number
JP5410330B2
JP5410330B2 JP2010038242A JP2010038242A JP5410330B2 JP 5410330 B2 JP5410330 B2 JP 5410330B2 JP 2010038242 A JP2010038242 A JP 2010038242A JP 2010038242 A JP2010038242 A JP 2010038242A JP 5410330 B2 JP5410330 B2 JP 5410330B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stylus
display
measured
contact
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010038242A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011174779A (en
Inventor
千裕 石津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2010038242A priority Critical patent/JP5410330B2/en
Publication of JP2011174779A publication Critical patent/JP2011174779A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5410330B2 publication Critical patent/JP5410330B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、表面性状測定機に用いられるスタイラスを観察するスタイラス観察装置に関する。   The present invention relates to a stylus observation apparatus for observing a stylus used in a surface texture measuring machine.

従来、被測定物に接触する接触子を一端に有する棒状のスタイラスを備え、接触子を被測定物に接触させることで被測定物の表面性状を測定する表面性状測定機が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載の座標測定装置(表面性状測定機)は、プローブ球(接触子)を有するプローブピン(スタイラス)を備え、プローブ球をワーク(被測定物)に接触させることでワークの表面性状を測定している。
また、特許文献1に記載の座標測定装置では、プローブ球、及びワークの接触する領域を撮像するビデオカメラと、ビデオカメラにて撮像される画像を表示するモニタとを用いることでプローブ球、及びワークの接触する領域を視認することができる。したがって、特許文献1に記載の座標測定装置は、微小なプローブピンを用いてワークを測定する際にも適切に測定をすることができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a surface texture measuring machine that includes a rod-like stylus having a contact that contacts an object to be measured at one end, and measures the surface property of the object to be measured by bringing the contact into contact with the object to be measured ( For example, see Patent Document 1).
A coordinate measuring device (surface texture measuring device) described in Patent Document 1 includes a probe pin (stylus) having a probe ball (contact), and the surface of the workpiece is brought into contact with the workpiece (object to be measured). The properties are being measured.
Moreover, in the coordinate measuring apparatus described in Patent Document 1, a probe ball, a probe ball by using a video camera that captures an area in contact with a workpiece, and a monitor that displays an image captured by the video camera, and The area where the workpiece contacts can be visually confirmed. Therefore, the coordinate measuring apparatus described in Patent Literature 1 can appropriately measure even when measuring a workpiece using a minute probe pin.

ところで、このような微小なスタイラスを備える表面性状測定機では、スタイラスの軸径と、接触子の大きさとの差が小さいので、スタイラスが傾斜して取り付けられている場合などのようにスタイラスが正しい姿勢で取り付けられていない場合には、被測定物に接触子を接触させる際に被測定物にスタイラスの軸が接触し、スタイラスが破損してしまうことがあるという問題がある。
このため、このような微小なスタイラスを備える表面性状測定機では、スタイラスを観察するスタイラス観察装置を用いることでスタイラスの姿勢を調整している。
By the way, in the surface texture measuring machine having such a fine stylus, the difference between the shaft diameter of the stylus and the size of the contact is small, so that the stylus is correct as in the case where the stylus is mounted with an inclination. When not attached in the posture, there is a problem that when the contact is brought into contact with the object to be measured, the shaft of the stylus comes into contact with the object to be measured and the stylus may be damaged.
For this reason, in such a surface texture measuring instrument equipped with such a fine stylus, the stylus posture is adjusted by using a stylus observation device that observes the stylus.

図3は、表面性状測定機、及びスタイラス観察装置の一例を示す模式図である。
表面性状測定機100は、図3(A)に示すように、被測定物(図示略)に接触する接触子110Aを一端に有する棒状のスタイラス110と、被測定物を載置するための定盤120とを備え、接触子110Aを被測定物に接触させることで被測定物の表面性状を測定するものである。なお、図3(A)では、紙面上下方向の軸をZ軸とし、Z軸と直交する2軸をX,Y軸としている。
スタイラス観察装置200は、定盤120に固定される円盤状のテーブル210と、テーブル210に固定され、スタイラス110を撮像する撮像手段220とを備える。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an example of a surface texture measuring device and a stylus observation device.
As shown in FIG. 3A, the surface texture measuring machine 100 has a rod-like stylus 110 having a contact 110A at one end that contacts a measured object (not shown) and a constant for placing the measured object. A surface 120 of the object to be measured is measured by bringing the contactor 110A into contact with the object to be measured. In FIG. 3A, the axis in the vertical direction of the paper is the Z axis, and the two axes orthogonal to the Z axis are the X and Y axes.
The stylus observation apparatus 200 includes a disk-shaped table 210 fixed to the surface plate 120 and an imaging unit 220 that is fixed to the table 210 and images the stylus 110.

テーブル210は、定盤120に固定され、Z軸回りに回転可能に構成されている(図3(A)中矢印A参照)。また、テーブル210は、+X軸方向側となる位置、及び+Y軸方向側となる位置(図3(A)中二点鎖線参照)との2つの位置で撮像手段220を係止するように構成されている。したがって、撮像手段220は、テーブル210を回転させることでスタイラス110をX,Y軸方向の2つの方向から撮像することができる。
撮像手段220にて撮像される画像には、図3(B)に示すように、縦横方向に2本の基準線L1,L2が描画されている。そして、テーブル210、及び撮像手段220は、縦方向の基準線L1が定盤120に対して垂直となり、横方向の基準線L2が定盤120に対して水平となるように、定盤120に固定されている。
The table 210 is fixed to the surface plate 120 and configured to be rotatable around the Z axis (see arrow A in FIG. 3A). The table 210 is configured to lock the imaging unit 220 at two positions: a position on the + X-axis direction side and a position on the + Y-axis direction side (see the two-dot chain line in FIG. 3A). Has been. Therefore, the imaging unit 220 can image the stylus 110 from two directions of the X and Y axes by rotating the table 210.
As shown in FIG. 3B, two reference lines L1 and L2 are drawn in the vertical and horizontal directions in the image picked up by the image pickup means 220. The table 210 and the imaging means 220 are arranged on the surface plate 120 such that the vertical reference line L1 is perpendicular to the surface plate 120 and the horizontal reference line L2 is horizontal to the surface plate 120. It is fixed.

このようなスタイラス観察装置200を用いることでスタイラス110の姿勢を調整するには、始めに、スタイラス110をX軸方向側から撮像手段220にて撮像し、使用者は、撮像手段220にて撮像される画像内におけるスタイラス110の軸が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス110をYZ平面に沿って移動させる。
次に、スタイラス110をY軸方向側から撮像手段220にて撮像し、使用者は、撮像手段220にて撮像される画像内におけるスタイラス110の軸が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス110をXZ平面に沿って移動させる。
このような調整によれば、スタイラス110の軸が定盤120に対して垂直となるようにスタイラス110の姿勢を調整することができる。
In order to adjust the posture of the stylus 110 by using such a stylus observation apparatus 200, first, the stylus 110 is imaged by the imaging unit 220 from the X-axis direction side, and the user images by the imaging unit 220. The stylus 110 is moved along the YZ plane so that the axis of the stylus 110 is parallel to the vertical reference line L1.
Next, the stylus 110 is imaged by the imaging unit 220 from the Y-axis direction side, and the user makes the axis of the stylus 110 in the image captured by the imaging unit 220 parallel to the vertical reference line L1. The stylus 110 is moved along the XZ plane so that
According to such adjustment, the attitude of the stylus 110 can be adjusted so that the axis of the stylus 110 is perpendicular to the surface plate 120.

特表平7−505958号公報JP 7-505958 A

しかしながら、スタイラス観察装置200を用いることでスタイラス110の姿勢を調整すると、スタイラス110をY軸方向側から撮像手段220にて撮像し、撮像手段220にて撮像される画像内におけるスタイラス110の軸が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス110をXZ平面に沿って移動させる際に、スタイラス110がYZ平面に沿って移動してしまう場合があるという問題がある。   However, when the posture of the stylus 110 is adjusted by using the stylus observation device 200, the stylus 110 is imaged by the imaging unit 220 from the Y-axis direction side, and the axis of the stylus 110 in the image captured by the imaging unit 220 is When the stylus 110 is moved along the XZ plane so as to be parallel to the vertical reference line L1, there is a problem that the stylus 110 may move along the YZ plane.

すなわち、スタイラス110をX軸方向側から撮像手段220にて撮像し、撮像手段220にて撮像される画像内におけるスタイラス110の軸が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス110をYZ平面に沿って移動させる始めの調整が無に帰すことになり、スタイラス110の姿勢を適切に調整することができない場合があるという問題がある。
また、スタイラス観察装置200は、テーブル210を備える必要があるので、構成が複雑化するという問題がある。さらに、スタイラス観察装置200は、スタイラス110の姿勢を調整する際にテーブル210を回転させる必要があるので、調整に手間がかかるという問題がある。
That is, the stylus 110 is imaged by the imaging unit 220 from the X-axis direction side, and the stylus 110 is parallel to the vertical reference line L1 in the image captured by the imaging unit 220. There is a problem that the initial adjustment for moving the stylus 110 along the YZ plane is neglected, and there is a case where the posture of the stylus 110 cannot be adjusted appropriately.
Further, since the stylus observation apparatus 200 needs to include the table 210, there is a problem that the configuration becomes complicated. Furthermore, since the stylus observation apparatus 200 needs to rotate the table 210 when adjusting the posture of the stylus 110, there is a problem that adjustment takes time.

本発明の目的は、簡素な構成でスタイラスの姿勢を容易、かつ適切に調整することができるスタイラス観察装置を提供することにある。   The objective of this invention is providing the stylus observation apparatus which can adjust the attitude | position of a stylus easily and appropriately with a simple structure.

本発明のスタイラス観察装置は、被測定物に接触する接触子を一端に有する棒状のスタイラスを備え、前記接触子を前記被測定物に接触させることで前記被測定物の表面性状を測定する表面性状測定機に用いられる前記スタイラスを観察するスタイラス観察装置であって、前記スタイラスの軸に直交する平面内で光軸を互いに直交させるように配設され、前記スタイラスからの光を反射させる2つのミラーと、前記各ミラーにて反射される光を合成する合成手段と、前記合成手段にて合成される光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段にて撮像される画像を表示する表示手段と、前記撮像手段、及び前記表示手段を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記スタイラスの姿勢を指示するための指示線を前記表示手段に表示させる表示制御部を備えることを特徴とする。 A stylus observation apparatus according to the present invention includes a rod-like stylus having a contact that contacts an object to be measured at one end, and measures the surface properties of the object to be measured by bringing the contact into contact with the object to be measured. A stylus observation device for observing the stylus used in a property measuring instrument, wherein the stylus observation device is arranged so that the optical axes are orthogonal to each other in a plane orthogonal to the axis of the stylus, and reflects light from the stylus. A mirror, a combining unit that combines the light reflected by each of the mirrors, an imaging unit that images the light combined by the combining unit, and a display unit that displays an image captured by the imaging unit A table for displaying an instruction line for instructing the posture of the stylus on the display means. Characterized in that it comprises a control unit.

このような構成によれば、スタイラスからの光は、スタイラスの軸に直交する平面内で光軸を互いに直交させるように配設される2つのミラーにて反射され、合成手段にて合成される。そして、合成手段にて合成される光は、撮像手段にて撮像されるので、撮像手段を移動させることなく、スタイラスを互いに直交する2つの方向から同時に撮像することができる。したがって、本発明のスタイラス観察装置によれば、簡素な構成でスタイラスの姿勢を容易、かつ適切に調整することができる。   According to such a configuration, the light from the stylus is reflected by the two mirrors arranged so that the optical axes are orthogonal to each other in a plane orthogonal to the axis of the stylus, and is combined by the combining means. . The light combined by the combining means is picked up by the image pickup means, so that the stylus can be picked up simultaneously from two directions orthogonal to each other without moving the image pickup means. Therefore, according to the stylus observation apparatus of the present invention, the posture of the stylus can be easily and appropriately adjusted with a simple configuration.

本発明では、上述したように、前記撮像手段にて撮像される画像を表示させる表示手段と、前記撮像手段、及び前記表示手段を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記スタイラスの姿勢を指示するための指示線を前記表示手段に表示させる表示制御部を備えることを特徴とするIn the present invention, as described above, the display unit displays an image captured by the imaging unit, the imaging unit, and a control unit that controls the display unit, and the control unit includes the stylus. characterized in that it comprises a display control unit for displaying the indication line for indicating orientation on the display means.

このような構成によれば、表示手段には、スタイラスの姿勢を指示するための指示線が表示されるので、スタイラス観察装置の使用者は、指示線による指示に従ってスタイラスの姿勢を調整することができる。したがって、表示手段に表示させる指示線の角度によっては、スタイラスを任意に傾斜させるようにスタイラスの姿勢を調整することができる。   According to such a configuration, since the instruction line for instructing the stylus posture is displayed on the display means, the user of the stylus observation apparatus can adjust the stylus posture in accordance with the instruction by the instruction line. it can. Therefore, depending on the angle of the instruction line displayed on the display means, the stylus posture can be adjusted so that the stylus is arbitrarily inclined.

本発明の第1実施形態に係る表面性状測定機、及びスタイラス観察装置を示す模式図。The schematic diagram which shows the surface texture measuring machine and stylus observation apparatus which concern on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係る表面性状測定機、及びスタイラス観察装置を示す模式図。The schematic diagram which shows the surface property measuring machine and stylus observation apparatus which concern on 2nd Embodiment of this invention. 表面性状測定機、及びスタイラス観察装置の一例を示す模式図。The schematic diagram which shows an example of a surface property measuring machine and a stylus observation apparatus.

〔第1実施形態〕
以下、本発明の第1実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係る表面性状測定機1、及びスタイラス観察装置2を示す模式図である。
表面性状測定機1は、図1(A)に示すように、被測定物(図示略)に接触する接触子11Aを一端に有する棒状のスタイラス11を備え、接触子11Aを被測定物に接触させることで被測定物の表面性状を測定するものである。なお、図1(A)は、表面性状測定機1、及びスタイラス観察装置2をスタイラス11の軸方向に沿って接触子11Aの反対側から見た図である。また、図1(A)では、スタイラス11の軸方向の軸をZ軸とし、Z軸と直交する2軸をX,Y軸としている。
[First Embodiment]
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic diagram showing a surface texture measuring instrument 1 and a stylus observation device 2 according to a first embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1A, the surface texture measuring instrument 1 includes a rod-like stylus 11 having a contact 11A that contacts a measured object (not shown) at one end, and the contact 11A contacts the measured object. By doing so, the surface property of the object to be measured is measured. 1A is a view of the surface texture measuring instrument 1 and the stylus observation device 2 as viewed from the opposite side of the contact 11A along the axial direction of the stylus 11. FIG. In FIG. 1A, the axis of the stylus 11 in the axial direction is the Z axis, and two axes orthogonal to the Z axis are the X and Y axes.

スタイラス観察装置2は、スタイラス11の軸に直交する平面内で光軸を互いに直交させるように配設され、スタイラス11からの光を反射させる2つのミラー21,22と、各ミラー21,22にて反射される光を合成するハーフミラー23と、ハーフミラー23、及び各ミラー21,22を介してスタイラス11を照明する照明手段24と、ハーフミラー23にて合成される光を撮像する撮像手段25と、撮像手段25にて撮像される画像を表示する表示手段26と、撮像手段25、及び表示手段26を制御する制御手段27とを備える。なお、表示手段26は、例えば、液晶モニタで構成することができる。   The stylus observation device 2 is arranged so that the optical axes thereof are orthogonal to each other in a plane orthogonal to the axis of the stylus 11, and reflects the light from the stylus 11, and the mirrors 21 and 22 respectively. Mirror 23 that synthesizes the reflected light, illumination means 24 that illuminates the stylus 11 via the half mirror 23, and the mirrors 21 and 22, and imaging means that images the light synthesized by the half mirror 23 25, a display unit 26 for displaying an image captured by the imaging unit 25, an imaging unit 25, and a control unit 27 for controlling the display unit 26. In addition, the display means 26 can be comprised with a liquid crystal monitor, for example.

ハーフミラー23は、入射する光の一部を反射させるとともに、他を透過させるものであり、各ミラー21,22と平行になるように配設されている。
照明手段24は、例えば、白色光源で構成することができ、ミラー22、及びハーフミラー23の光軸上に配設されている。
撮像手段25は、ミラー21、及びハーフミラー23の光軸上に配設され、入射する光を集光させるレンズ251と、レンズ251にて集光される光を撮像する撮像素子252とを備える。
The half mirror 23 reflects a part of the incident light and transmits the other, and is arranged so as to be parallel to the mirrors 21 and 22.
The illumination means 24 can be composed of, for example, a white light source, and is disposed on the optical axis of the mirror 22 and the half mirror 23.
The imaging unit 25 includes a lens 251 that is disposed on the optical axes of the mirror 21 and the half mirror 23 and collects incident light, and an imaging element 252 that captures the light collected by the lens 251. .

照明手段24から出射される光は、ハーフミラー23に入射し、ハーフミラー23に入射する光の一部はハーフミラー23にて反射され、他はハーフミラー23を透過する。ハーフミラー23にて反射される光は、ミラー21にて反射され、スタイラス11をY軸方向に沿って照明する。そして、スタイラス11からの光は、再度、ミラー21にて反射され、ハーフミラー23に入射する。ハーフミラー23に入射する光の一部は、ハーフミラー23を透過してレンズ251に入射する。   The light emitted from the illumination unit 24 enters the half mirror 23, a part of the light incident on the half mirror 23 is reflected by the half mirror 23, and the other part passes through the half mirror 23. The light reflected by the half mirror 23 is reflected by the mirror 21 and illuminates the stylus 11 along the Y-axis direction. Then, the light from the stylus 11 is reflected again by the mirror 21 and enters the half mirror 23. Part of the light incident on the half mirror 23 passes through the half mirror 23 and enters the lens 251.

また、ハーフミラー23を透過する光は、ミラー22にて反射され、スタイラス11をX軸方向に沿って照明する。そして、スタイラス11からの光は、再度、ミラー22にて反射され、ハーフミラー23に入射する。ハーフミラー23に入射する光の一部は、ハーフミラー23にて反射されてレンズ251に入射する。
すなわち、ハーフミラー23は、各ミラー21,22にて反射される光を合成してレンズ251に入射させる合成手段として機能する。そして、レンズ251に入射する光は、レンズ251にて集光され、撮像素子252にて撮像される。
The light that passes through the half mirror 23 is reflected by the mirror 22 and illuminates the stylus 11 along the X-axis direction. Then, the light from the stylus 11 is reflected again by the mirror 22 and enters the half mirror 23. Part of the light incident on the half mirror 23 is reflected by the half mirror 23 and enters the lens 251.
That is, the half mirror 23 functions as a combining unit that combines the light reflected by the mirrors 21 and 22 and makes the light enter the lens 251. Then, the light incident on the lens 251 is collected by the lens 251 and imaged by the image sensor 252.

制御手段27は、例えば、CPU(Central Processing Unit)や、メモリなどで構成され、表示手段26を制御する表示制御部271を備える。
表示制御部271は、図1(B)に示すように、撮像手段25にて撮像される画像を表示手段26に表示させるとともに、画像の縦横方向に2本の基準線L1,L2を描画する。なお、撮像手段25は、縦方向の基準線L1がXY平面に対して垂直となり、横方向の基準線L2がXY平面に対して水平となるように配設されている。
The control unit 27 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a memory, and the like, and includes a display control unit 271 that controls the display unit 26.
As shown in FIG. 1B, the display control unit 271 displays an image picked up by the image pickup means 25 on the display means 26 and draws two reference lines L1 and L2 in the vertical and horizontal directions of the image. . Note that the imaging unit 25 is arranged such that the vertical reference line L1 is perpendicular to the XY plane and the horizontal reference line L2 is horizontal to the XY plane.

スタイラス観察装置2を用いることでスタイラス11の姿勢を調整するには、始めに、スタイラス11を撮像手段25にて撮像し、使用者は、撮像手段25にて撮像される画像内における2つのスタイラス11のうち、いずれか一方のスタイラス11が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス11をYZ平面に沿って移動させる。
次に、使用者は、撮像手段220にて撮像される画像内における2つのスタイラス11のうち、いずれか他方のスタイラス11が縦方向の基準線L1に対して平行となるようにスタイラス11をXZ平面に沿って移動させる。
このような調整によれば、スタイラス11の軸方向がXY平面に対して垂直となるようにスタイラス11の姿勢を調整することができる。
In order to adjust the attitude of the stylus 11 by using the stylus observation device 2, first, the stylus 11 is imaged by the imaging unit 25, and the user uses two styluses in the image captured by the imaging unit 25. 11, the stylus 11 is moved along the YZ plane so that one of the styluses 11 is parallel to the vertical reference line L1.
Next, the user moves the stylus 11 to the XZ so that one of the two styluses 11 in the image captured by the imaging unit 220 is parallel to the vertical reference line L1. Move along a plane.
According to such adjustment, the attitude of the stylus 11 can be adjusted so that the axial direction of the stylus 11 is perpendicular to the XY plane.

このような本実施形態によれば以下の効果がある。
(1)スタイラス観察装置2によれば、スタイラス11からの光は、スタイラス11の軸に直交する平面内で光軸を互いに直交させるように配設される2つのミラー21,22にて反射され、ハーフミラー23にて合成される。そして、ハーフミラー23にて合成される光は、撮像手段25にて撮像されるので、撮像手段25を移動させることなく、スタイラス11を互いに直交する2つの方向から同時に撮像することができる。したがって、スタイラス観察装置2によれば、簡素な構成でスタイラス11の姿勢を容易、かつ適切に調整することができる。
According to this embodiment, there are the following effects.
(1) According to the stylus observation device 2, the light from the stylus 11 is reflected by the two mirrors 21 and 22 arranged so that the optical axes are orthogonal to each other in a plane orthogonal to the axis of the stylus 11. Are synthesized by the half mirror 23. Since the light combined by the half mirror 23 is imaged by the imaging unit 25, the stylus 11 can be simultaneously imaged from two directions orthogonal to each other without moving the imaging unit 25. Therefore, according to the stylus observation device 2, the posture of the stylus 11 can be easily and appropriately adjusted with a simple configuration.

〔第2実施形態〕
以下、本発明の第2実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、既に説明した部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
図2は、本発明の第2実施形態に係る表面性状測定機1、及びスタイラス観察装置2Aを示す模式図である。
前記第1実施形態では、スタイラス観察装置2は、制御手段27を備え、制御手段27は、表示制御部271を備えていた。これに対して、本実施形態では、スタイラス観察装置2Aは、図2(A)に示すように、制御手段27Aを備え、制御手段27Aは、表示制御部271Aを備えている点で異なる。
[Second Embodiment]
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, parts that have already been described are assigned the same reference numerals and description thereof is omitted.
FIG. 2 is a schematic diagram showing a surface texture measuring instrument 1 and a stylus observation device 2A according to a second embodiment of the present invention.
In the first embodiment, the stylus observation apparatus 2 includes the control unit 27, and the control unit 27 includes the display control unit 271. On the other hand, in this embodiment, the stylus observation apparatus 2A is different in that the control unit 27A includes a display control unit 271A as shown in FIG. 2A.

表示制御部271Aは、図2(B)に示すように、撮像手段25にて撮像される画像を表示手段26に表示させるとともに、画像の縦横方向に2本の基準線L1,L2を描画する。また、表示制御部271Aは、スタイラス11の姿勢を指示するための指示線I1,I2を表示手段26に表示させる。
指示線I1は、図2(B)に破線で示すように、基準線L1に対して傾斜して描画され、YZ平面におけるスタイラス11の角度を示している。また、指示線I2は、図2(B)に太線で示すように、基準線L1に対して傾斜して描画され、XZ平面におけるスタイラス11の角度を示している。
As shown in FIG. 2B, the display control unit 271A displays the image captured by the imaging unit 25 on the display unit 26 and draws two reference lines L1 and L2 in the vertical and horizontal directions of the image. . Further, the display control unit 271A causes the display means 26 to display instruction lines I1 and I2 for instructing the posture of the stylus 11.
As indicated by a broken line in FIG. 2B, the instruction line I1 is drawn inclined with respect to the reference line L1, and indicates the angle of the stylus 11 in the YZ plane. In addition, the instruction line I2 is drawn inclined with respect to the reference line L1, as shown by a thick line in FIG. 2B, and indicates the angle of the stylus 11 in the XZ plane.

スタイラス観察装置2Aを用いることでスタイラス11の姿勢を調整するには、始めに、スタイラス11を撮像手段25にて撮像し、使用者は、撮像手段25にて撮像される画像内における2つのスタイラス11のうち、いずれか一方のスタイラス11が指示線I1に対して平行となるようにスタイラス11をYZ平面に沿って移動させる。
次に、使用者は、撮像手段220にて撮像される画像内における2つのスタイラス11のうち、いずれか他方のスタイラス11が指示線I2に対して平行となるようにスタイラス11をXZ平面に沿って移動させる。
このような調整によれば、スタイラス11を任意に傾斜させるようにスタイラス11の姿勢を調整することができる。
In order to adjust the posture of the stylus 11 by using the stylus observation device 2A, first, the stylus 11 is imaged by the imaging unit 25, and the user uses two styluses in the image captured by the imaging unit 25. 11, the stylus 11 is moved along the YZ plane so that any one of the stylus 11 is parallel to the instruction line I1.
Next, the user moves the stylus 11 along the XZ plane so that one of the two styluses 11 in the image captured by the imaging unit 220 is parallel to the instruction line I2. To move.
According to such adjustment, the attitude of the stylus 11 can be adjusted so that the stylus 11 is arbitrarily tilted.

このような本実施形態においても、前記第1実施形態と同様の作用、効果を奏することができる他、以下の作用、効果を奏することができる。
(2)スタイラス観察装置2Aによれば、表示手段26には、スタイラス11の姿勢を指示するための指示線I1,I2が表示されるので、スタイラス観察装置2Aの使用者は、指示線I1,I2による指示に従ってスタイラス11の姿勢を調整することができる。したがって、表示手段26に表示させる指示線I1,I2の角度によっては、スタイラス11を任意に傾斜させるようにスタイラス11の姿勢を調整することができる。
In this embodiment as well, the same operations and effects as those of the first embodiment can be achieved, and the following operations and effects can be achieved.
(2) According to the stylus observation apparatus 2A, the display unit 26 displays the instruction lines I1 and I2 for instructing the posture of the stylus 11, so that the user of the stylus observation apparatus 2A can display the instruction lines I1 and I2. The posture of the stylus 11 can be adjusted according to the instruction by I2. Therefore, the attitude of the stylus 11 can be adjusted so that the stylus 11 is arbitrarily tilted depending on the angles of the instruction lines I1 and I2 displayed on the display means 26.

〔実施形態の変形〕
なお、本発明は前記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記各実施形態では、合成手段は、ハーフミラー23で構成されていたが、例えば、ダイクロイックミラーなどの他の光学素子で構成してもよい。要するに、合成手段は、各ミラーにて反射される光を合成することができるものであればよい。
[Modification of Embodiment]
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope in which the object of the present invention can be achieved are included in the present invention.
For example, in each of the above embodiments, the combining unit is configured by the half mirror 23, but may be configured by another optical element such as a dichroic mirror. In short, the combining means may be any means that can combine the light reflected by each mirror.

前記各実施形態では、スタイラス観察装置2,2Aは、表示手段26、及び制御手段27,27Aを備え、スタイラス11の姿勢を使用者に視認させることでスタイラス11の姿勢を調整させていたが、表示手段26、及び制御手段27は備えていなくてもよい。例えば、撮像手段のレンズに基準線を描画し、撮像手段にて撮像される画像を表示手段に直接的に表示させることによって、制御手段を備えていない構成としてもよい。また、例えば、スタイラスの姿勢を調整する調整機構を設け、この調整機構を制御手段にて制御することでスタイラスの姿勢を自動的に調整することによって、表示手段を備えていない構成としてもよい。   In each of the embodiments described above, the stylus observation device 2 or 2A includes the display unit 26 and the control units 27 and 27A and adjusts the posture of the stylus 11 by allowing the user to visually recognize the posture of the stylus 11. The display means 26 and the control means 27 may not be provided. For example, the control unit may not be provided by drawing a reference line on the lens of the imaging unit and causing the display unit to directly display an image captured by the imaging unit. In addition, for example, an adjustment mechanism that adjusts the attitude of the stylus may be provided, and the adjustment mechanism may be controlled by the control means so that the attitude of the stylus is automatically adjusted, so that the display means is not provided.

本発明は、表面性状測定機に用いられるスタイラスを観察するスタイラス観察装置に好適に利用することができる。   The present invention can be suitably used in a stylus observation apparatus that observes a stylus used in a surface texture measuring machine.

1…表面性状測定機
2,2A…スタイラス観察装置
11…スタイラス
11A…接触子
21,22…ミラー
23…ハーフミラー(合成手段)
25…撮像手段
26…表示手段
27,27A…制御手段
271A…表示制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface texture measuring machine 2, 2A ... Stylus observation apparatus 11 ... Stylus 11A ... Contactor 21, 22 ... Mirror 23 ... Half mirror (combining means)
25 ... Imaging means 26 ... Display means 27, 27A ... Control means 271A ... Display control section

Claims (1)

被測定物に接触する接触子を一端に有する棒状のスタイラスを備え、前記接触子を前記被測定物に接触させることで前記被測定物の表面性状を測定する表面性状測定機に用いられる前記スタイラスを観察するスタイラス観察装置であって、
前記スタイラスの軸に直交する平面内で光軸を互いに直交させるように配設され、前記スタイラスからの光を反射させる2つのミラーと、
前記各ミラーにて反射される光を合成する合成手段と、
前記合成手段にて合成される光を撮像する撮像手段と
前記撮像手段にて撮像される画像を表示する表示手段と、
前記撮像手段、及び前記表示手段を制御する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、
前記スタイラスの姿勢を指示するための指示線を前記表示手段に表示させる表示制御部を備えることを特徴とするスタイラス観察装置。
A stylus having a rod-like stylus having one end in contact with an object to be measured, the surface stylus used for measuring the surface property of the object to be measured by bringing the contact into contact with the object to be measured. A stylus observation device for observing
Two mirrors arranged so that the optical axes are orthogonal to each other in a plane orthogonal to the axis of the stylus and reflecting light from the stylus;
Combining means for combining the light reflected by each of the mirrors;
Imaging means for imaging light synthesized by the synthesis means ;
Display means for displaying an image captured by the imaging means;
Control means for controlling the imaging means and the display means,
The control means includes
A stylus observation apparatus comprising: a display control unit configured to display an indication line for instructing the posture of the stylus on the display unit.
JP2010038242A 2010-02-24 2010-02-24 Stylus observation device Expired - Fee Related JP5410330B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010038242A JP5410330B2 (en) 2010-02-24 2010-02-24 Stylus observation device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010038242A JP5410330B2 (en) 2010-02-24 2010-02-24 Stylus observation device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011174779A JP2011174779A (en) 2011-09-08
JP5410330B2 true JP5410330B2 (en) 2014-02-05

Family

ID=44687769

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010038242A Expired - Fee Related JP5410330B2 (en) 2010-02-24 2010-02-24 Stylus observation device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5410330B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112021001666T5 (en) 2020-03-17 2022-12-29 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Inner surface shape measuring device and adjustment method for inner surface shape measuring device
JP7372545B2 (en) 2020-03-17 2023-11-01 株式会社東京精密 Internal shape measuring machine and alignment method for internal shape measuring machine
WO2021187191A1 (en) * 2020-03-17 2021-09-23 株式会社東京精密 Inner surface shape measurement device, alignment method for inner surface shape measurement device, and magnification calibration method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4327250C5 (en) * 1992-09-25 2008-11-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Method for measuring coordinates on workpieces
JP3802403B2 (en) * 2001-11-27 2006-07-26 株式会社新川 Wire bonding method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011174779A (en) 2011-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3612068B2 (en) Coordinate measurement method for workpiece
JP5095644B2 (en) Image measuring apparatus and computer program
WO2007141857A1 (en) External appearance inspection device
TWI408361B (en) Visual inspection apparatus
JP2006308808A (en) Enlarging observation device
JP2012235997A (en) Endoscope
JP5410330B2 (en) Stylus observation device
JP2008286576A (en) Visual inspection device
JPWO2018100828A1 (en) Microscope device and control method
JP2012145722A (en) Lens module, magnifying observation apparatus using the lens module, and magnifying observation method
KR101985724B1 (en) 3D scanner with accelerometer
CN106842532B (en) Stereoscopic observation device for operation
US20190290384A1 (en) Medical observation system
JP2010127703A (en) Determination method of verticality of imaging means
JP2007327903A (en) Visual inspection system
JP2006053321A (en) Projection observation device
JP6508763B2 (en) Surface inspection device
JP2003139721A5 (en)
JP2012093258A (en) Shape measurement device
JP6928803B2 (en) Imaging device
JP6940746B2 (en) Detector and surface roughness measuring machine
JP6400767B2 (en) Measuring endoscope device
JP2011215084A (en) Image processing device and interferometer measurement system
WO2022196050A1 (en) Digital projector, machine tool, and projected image display method
JP2011112579A (en) Shape-measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130128

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130806

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130813

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131003

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131022

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131106

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5410330

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees