JP5403402B2 - Laser processing residue removal device - Google Patents

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Description

本発明は、薄膜太陽電池の可撓性基板上に積層されたアモルファス半導体膜などのパターニング工程において、レーザ加工等を行った際の加工残渣を除去する際に使用するレーザ加工残渣の除去装置に関する。 The present invention, in the patterning process such as an amorphous semiconductor film laminated on a flexible substrate of the thin-film solar cell, the Relais chromatography The processing residue to use in removing machining residues when subjected to laser processing The present invention relates to a removing device.

薄膜太陽電池は、電気絶縁性を有する可撓性基板の表面に下電極層としての第1電極層,光電変換層,透明電極層(第2電極層)を順次積層してなる光電変換部と、前記可撓性基板の裏面に形成した接続電極層としての第3電極層および第4電極層とを備え、前記光電変換部および接続電極層を互いに位置をずらして単位部分にパターニングし、前記光電変換層形成領域内に形成した接続孔ならびに集電孔を介して、前記表面上の互いにパターニングされて隣り合う単位光電変換部分(ユニットセル)を電気的に直列に接続して構成されている。   The thin-film solar cell includes a photoelectric conversion unit formed by sequentially laminating a first electrode layer, a photoelectric conversion layer, and a transparent electrode layer (second electrode layer) as a lower electrode layer on a surface of a flexible substrate having electrical insulation. A third electrode layer and a fourth electrode layer as connection electrode layers formed on the back surface of the flexible substrate, and patterning the photoelectric conversion part and the connection electrode layer into unit parts while shifting their positions from each other, The unit photoelectric conversion portions (unit cells) that are patterned and adjacent to each other on the surface are electrically connected in series via a connection hole and a current collection hole formed in the photoelectric conversion layer formation region. .

かかる薄膜太陽電池の製造方法においては、前記パターニング工程においてレーザ加工で加工端部に数十〜数百μmのバリが加工屑として付着する。   In such a method for manufacturing a thin-film solar cell, burrs of several tens to several hundreds of μm adhere to processing edges as laser processing in the patterning step.

従来、このようなレーザ加工で加工端部に付着した加工屑を除去するために、ロールによって加工屑を擦って除去する先行技術(特許文献1および特許文献2)が知られている。   Conventionally, prior art (Patent Document 1 and Patent Document 2) is known in which processing scraps are removed by rubbing with a roll in order to remove the processing scraps attached to the processing end by such laser processing.

特許文献1(特開2002−126659号公報)においては、レーザ加工により可撓性基板をパターニングした後、押さえロールに可撓性基板を挟持するウレタン製の2個のクリーニングロールを、可撓性基板の搬送方向に互いに2つの該クリーニングロールを正逆回転させ、且つ可撓性基板の搬送方向と直角方向に振動させて可撓性基板のバリを擦り洗浄する。   In Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2002-126659), after patterning a flexible substrate by laser processing, two urethane-made cleaning rolls that sandwich the flexible substrate between pressing rolls are flexible. The two cleaning rolls are rotated forward and backward relative to each other in the substrate transport direction and oscillated in a direction perpendicular to the transport direction of the flexible substrate to scrub and clean the burrs on the flexible substrate.

また、特許文献2(特開2006−167529号公報)においては、基板をブラシ高さ調整機構を備えた複数のディスクブラシ下に載置して、該複数のディスクブラシの高さを独立して調整して、ディスクブラシが可撓性基板に接触する圧力を等しくしている。   In Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 2006-167529), a substrate is placed under a plurality of disc brushes having a brush height adjusting mechanism, and the heights of the plurality of disc brushes are independently set. Adjust to equalize the pressure at which the disc brush contacts the flexible substrate.

図9、図10は特許文献1に示される可撓性基板100のバリ101の発生状況を示す拡大断面図、図11は前記バリ101のクリーニングロールによる除去方法の概念図である。   9 and 10 are enlarged cross-sectional views showing the state of occurrence of burrs 101 on the flexible substrate 100 disclosed in Patent Document 1, and FIG. 11 is a conceptual diagram of a method for removing the burrs 101 using a cleaning roll.

前記、特許文献1に示された技術では、押さえロールとともに可撓性基板100を挟持する2個のクリーニングロールを、可撓性基板100の搬送方向に互いに正逆回転させ、且つ可撓性基板100の搬送方向と直角方向に振動させて可撓性基板100のバリ101を擦り洗浄している。   In the technique disclosed in Patent Document 1, the two cleaning rolls that sandwich the flexible substrate 100 together with the pressing roll are rotated forward and backward in the conveyance direction of the flexible substrate 100, and the flexible substrate The burr 101 of the flexible substrate 100 is rubbed and cleaned by vibrating in a direction perpendicular to the transport direction of 100.

特開2002−126659号公報JP 2002-126659 A 特開2006−167529号公報JP 2006-167529 A

従って、かかる特許文献1においては、可撓性基板100の搬送方向と直角方向に振動させて可撓性基板100を擦り洗浄しているため、クリーニングロールのブラシ先端部102が、可撓性基板100の搬送方向と平行な軌跡Kとなり易い。また、図11に示すように、ブラシ先端部102の軌跡Kが可撓性基板100のバリ101を通過してしまうことがある。
従って、かかる従来技術では、ブラシ先端部102が可撓性基板100のバリ101に届かずに、除去できないケースやバリ101に接触しても作用力が小さいことから、バリ除去率が低いという問題がある。
Therefore, in Patent Document 1, since the flexible substrate 100 is rubbed and cleaned by vibrating in a direction perpendicular to the conveyance direction of the flexible substrate 100, the brush tip 102 of the cleaning roll is attached to the flexible substrate. The track K tends to be parallel to the 100 conveyance direction. Further, as shown in FIG. 11, the locus K of the brush tip 102 may pass through the burr 101 of the flexible substrate 100.
Therefore, in such a conventional technique, the brush tip 102 does not reach the burr 101 of the flexible substrate 100 and cannot be removed. There is.

本発明は、上記の課題を解決するもので、薄膜太陽電池の製造において、パターニング工程においてレーザ加工によって発生するバリとクリーニングロールのブラシ先端部との接触を洩れなく行い、バリを確実に除去し得て、バリ除去率を向上したレーザ加工残渣の除去装置を提供することを目的とする。 The present invention solves the above problems, and in the manufacture of a thin film solar cell, the burr generated by laser processing in the patterning step and the brush tip of the cleaning roll are contacted without leakage, and the burr is reliably removed. obtained, and an object thereof is to provide an apparatus for removing les chromatography the processing residue with improved burr removal rate.

本発明は前述の従来技術の有する課題を解決するためになされたもので、連続的に搬送される可撓性基板の少なくとも主面に薄膜を形成し、前記可撓性基板の薄膜にレーザ加工によりパターニングを施すとともに、前記パターニングの際に前記可撓性基板に付着したレーザ加工残渣を、除去する装置において、前記可撓性基板の主面側に配置された、ブラシを用いたクリーニングロールと、このクリーニングロールに対向して前記可撓性基板の主面側と反対側の面に配置された押さえロールとを備え、前記クリーニングロールを前記可撓性基板の搬送方向と一定角度で交叉する方向に配設し、前記クリーニングロールのブラシを前記可撓性基板の搬送方向に対して斜めに操作させるようにしてなるレーザ加工残渣の除去装置であって、前記可撓性基板を搬送方向の2箇所で一定角度で折り返すとともに、この折り返し部に前記クリーニングロール及び押さえロールの各組を、前記レーザ加工残渣の付着面側に前記クリーニングロールが来るように配置したことにある。 The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and a thin film is formed on at least the main surface of a flexible substrate that is continuously conveyed, and laser processing is performed on the thin film of the flexible substrate. And a cleaning roll using a brush disposed on the main surface side of the flexible substrate in the apparatus for removing the laser processing residue adhering to the flexible substrate during the patterning. And a pressing roll disposed on the surface opposite to the main surface of the flexible substrate so as to face the cleaning roll, and crossing the cleaning roll at a certain angle with the conveyance direction of the flexible substrate. disposed in a direction, the brush of the cleaning roll a removing device of the laser processing residue obtained by the so that by operation obliquely to the conveying direction of the flexible substrate, wherein the Allowed The folding substrate is folded back at a fixed angle at two locations in the transport direction, and each set of the cleaning roll and the pressing roll is arranged in the folded portion so that the cleaning roll comes to the laser processing residue adhesion surface side. is there.

請求項1によれば、クリーニングロールを可撓性基板の搬送方向と一定角度で交叉する方向に配設し、前記クリーニングロールのブラシを前記可撓性基板の搬送方向に対して斜めに操作させたので、レーザ加工残渣を斜めに擦ることで広範囲の加工屑(バリ)に接触して除去することができることから、効率良く、レーザ加工残渣を除去することができる。さらに、可撓性基板を搬送方向の2箇所で一定角度で折り返すとともに、この折り返し部にクリーニングロール及び押さえロールの各組を、レーザ加工残渣の付着面側に前記クリーニングロールが来るように配置したので、クリーニングロール及び押さえロールの各組を用途によって自在に配置することができる。 According to claim 1, arranged in a direction intersecting the click leaning roll conveying direction a certain angle of the flexible substrate, operating diagonally brush of the cleaning roll to the conveying direction of the flexible substrate since was, since it can be removed in contact with the swarf wide by rubbing the laser processing residue obliquely Bari, efficiently, Ru can be removed with a laser processing residue. Furthermore, the folded back at an angle at two positions in the conveying direction flexible substrate, each set of cleaning roll and the press roll to the folded portion, and arranged such that the cleaning roller on the attachment surface side of the laser processing residue comes Therefore, each set of the cleaning roll and the pressing roll can be freely arranged depending on the application.

本発明の参考となる薄膜製造装置の可撓性基板の搬送概念図である。A conveying conceptual view of the flexible substrate of the thin film manufacturing apparatus to be present onset bright reference. 図1のZ矢視図である。FIG. 本発明の参考となる第1の形態が適用されるクリーニングユニットの側面概念図である。It is a side schematic view of the cleaning unit in which the first shape state as a reference for the present invention is applied. 本発明の参考となる第1の形態に係るクリーニングユニットの配置図である。It is a layout view of a cleaning unit according to the first form state as a reference for the present invention. 本発明の実施例にかかるクリーニングユニットのブラシ先端部の移動軌跡図である。It is a movement locus | trajectory figure of the brush front-end | tip part of the cleaning unit concerning the Example of this invention. 本発明の参考となる第2の形態に係るクリーニングロールを平行に配置したクリーニングユニット近傍の下面から見た平面配置図である。It is a flat layout view seen from the lower surface of the cleaning unit near that arranged parallel to the cleaning roller according to a second form states that can be used as a guide of the present invention. 本発明の参考となる第2の形態に係るクリーニングロールをハ形形状に配置したクリーニングユニット近傍の下面から見た平面配置図である。It is a flat layout view of the cleaning roller as viewed from the lower surface of the cleaning unit near placed into a high shape according to the second form states that can be used as a guide of the present invention. 本発明の第1実施形態に係るクリーニングユニット近傍の下面から見た平面配置図である。It is a flat layout view seen from the lower surface of the cleaning unit near according to the first implementation mode of the present invention. 従来技術における可撓性基板のバリの発生状況を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the generation | occurrence | production state of the burr | flash of the flexible substrate in a prior art. 従来技術におけるクリーニングロールによる除去状況を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the removal condition by the cleaning roll in a prior art. 従来技術におけるバリのクリーニングロールによる除去方法の概念図である。It is a conceptual diagram of the removal method by the cleaning roll of a burr | flash in a prior art.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は本発明の参考となる薄膜製造装置の可撓性基板の搬送状況の概念図、図2は図1のZ方向の矢視図である。また図3は本発明の参考となる第1の形態が適用されるクリーニングユニットの側面概念図である。 Figure 1 is a conceptual view of the transport situation of the flexible substrate of the thin film manufacturing apparatus to be present onset bright reference, FIG. 2 is an arrow view of the Z direction in FIG. The Figure 3 is a side schematic view of the cleaning unit in which the first shape state as a reference for the present invention is applied.

本発明の参考となる第1の形態は、図1ないし図3の構成と、同様な構成を備えている。
即ち、図1および図2は、いわゆるロール・ツー・ロール方式の薄膜製造装置であり、図において、送りローラ1に巻かれた長尺の可撓性基板2は、搬送パス上に配置した支持ロール2aを経て、レーザパターニングユニット3及びクリーニングユニット4を通って、支持ロール5aを経て巻取りロール5で巻かれる。薄膜太陽電池の製造方法においては、前記パターニング工程においてレーザ加工で加工端部に数十〜数百μmのバリが加工屑として付着する。
The first form state as a reference for the present invention includes the configuration of FIGS. 1 through 3, the same configuration.
1 and 2 are so-called roll-to-roll type thin film manufacturing apparatuses. In the drawing, a long flexible substrate 2 wound around a feed roller 1 is supported on a transport path. It passes through the roll 2a, passes through the laser patterning unit 3 and the cleaning unit 4, and is wound on the take-up roll 5 through the support roll 5a. In the method for manufacturing a thin film solar cell, burrs of several tens to several hundreds of μm adhere to processing edges as laser processing in the patterning step.

図3は本発明の参考となる前記クリーニングユニット4の詳細側面図である。
図3において、かかるクリーニングユニット4は、前記可撓性基板2を挟持して回転する押さえロール6と、クリーニングロール7を2組、該可撓性基板2の搬送方向に一定間隔で2個併設している。
前記レーザパターニングユニット3でレーザ加工された可撓性基板2は、クリーニングユニット4内において、ブラシ11を用いた円筒状のクリーニングロール7と、該クリーニングロール7と協働して回転する押さえロール6に挟まれて、レーザ加工残渣と呼ばれる加工屑(バリ)が除去される。
Figure 3 is a detailed side view of a prior SL cleaning unit 4 serving as a reference for the present invention.
In FIG. 3, the cleaning unit 4 includes two sets of pressing rolls 6 that rotate while sandwiching the flexible substrate 2 and two cleaning rolls 7, and two are provided at regular intervals in the conveyance direction of the flexible substrate 2. doing.
The flexible substrate 2 laser-processed by the laser patterning unit 3 includes a cylindrical cleaning roll 7 using a brush 11 and a pressing roll 6 that rotates in cooperation with the cleaning roll 7 in the cleaning unit 4. The processing waste (burrs) called laser processing residue is removed.

前記押さえロール6は、クリーニングロール7の対向面側に配され該クリーニングロール7より硬い材質で形成した回転自在な円筒状のローラである。また、前記クリーニングロール7は周面に多数の線材を植設したブラシ(図示せず)が設けられており、このブラシを前記可撓性基板2のレーザ加工残渣に擦り付けて加工屑(バリ)からなるレーザ加工残渣を除去するものである。
尚、前記2つのクリーニングロール7は、図3矢印のように、N1及びN2回転で互いに逆回転している。
The pressing roll 6 is a rotatable cylindrical roller that is disposed on the opposite surface side of the cleaning roll 7 and is formed of a material harder than the cleaning roll 7. The cleaning roll 7 is provided with a brush (not shown) in which a large number of wires are implanted on the peripheral surface, and the brush is rubbed against the laser processing residue of the flexible substrate 2 to process dust (burrs). The laser processing residue consisting of is removed.
The two cleaning rolls 7 are rotated in the opposite directions by N1 and N2 rotations as shown by arrows in FIG.

に、前記クリーニングユニット4の具体的な構成について説明する。 In the following, it will be described prior Symbol specific configuration of the cleaning unit 4.

1の参考形
図4は、本発明の参考となる第1の形態に係るクリーニングユニットのクリーニングロール7を示す配置図である。全体構成は、図1ないし図3の構成で配置されている。
の参考形態では、可撓性基板2に対して、クリーニングロール7と押さえロール6からなるクリーニングユニット4は搬送方向に対してそれぞれ直交する方向に配置されている。2組のクリーニングユニット4は一定間隔で互いに平行に配置され、それぞれ逆方向にクリーニングロール7が回転されている。
The first reference type state 4 is a layout diagram showing a cleaning roller 7 of the cleaning unit according to the first form state as a reference for the present invention. The overall configuration is arranged as shown in FIGS.
In this reference shaped state, with respect to the flexible substrate 2, the cleaning unit 4 consisting of a roll 6 pressing the cleaning roller 7 is arranged in a direction perpendicular respectively to the conveying direction. The two sets of cleaning units 4 are arranged in parallel with each other at regular intervals, and the cleaning roll 7 is rotated in the opposite direction.

そして、各クリーニングロール7は、図4に示すように、ガイド部材14によって一定の振幅15で軸方向に揺動されている。こうして、可撓性基板2を搬送させながらクリーニングロール7を揺動させると、クリーニングロール7が可撓性基板2の搬送方向に対して直交する方向に揺動する。このとき、クリーニングロール7のブラシ先端部11は、図5に示すように、可撓性基板2の搬送方向に対して一定角度で矢印13の方向に斜めに操作されることになる。こうして、可撓性基板2に付着している可撓性基板2のレーザ加工残渣、すなわち加工屑(バリ)10は斜めに擦られて除去される。クリーニングロール7
のブラシ先端部11の操作角度は、傾斜角(θ)が45°、あるいは傾斜角(θ)=30°〜90°の範囲で傾斜するように構成する。
Each cleaning roll 7 is swung in the axial direction with a constant amplitude 15 by a guide member 14 as shown in FIG. Thus, when the cleaning roll 7 is swung while the flexible substrate 2 is being transported, the cleaning roll 7 is swung in a direction perpendicular to the transport direction of the flexible substrate 2. At this time, the brush tip 11 of the cleaning roll 7 is operated obliquely in the direction of the arrow 13 at a constant angle with respect to the conveyance direction of the flexible substrate 2 as shown in FIG. In this way, the laser processing residue of the flexible substrate 2 adhering to the flexible substrate 2, that is, the processing waste (burr) 10 is removed by rubbing obliquely. Cleaning roll 7
The operation angle of the brush tip 11 is configured such that the inclination angle (θ) is 45 ° or the inclination angle (θ) is in the range of 30 ° to 90 °.

の参考形態の具体的な構成の一例は、クリーニングロール7のブラシ種類としては、材質にナイロンを用い、毛丈は14〜20mm、ブラシの毛の直径(φ)は、0.07〜0.10mmを用いている。そして、クリーニングロール7のロール角度は、0度である。
つまり、基板搬送方向に直交するように配置する。すなわち、レーザ加工ラインは搬送方向に平行であるため、ライン端部に付着した加工残渣(バリ)とブラシ先端がなす角度は、揺動しない場合は0度となっている。
揺動条件は、周波数が50Hz、振幅が50mmである。
An example of a specific configuration of this reference type state, as the brush type cleaning roller 7, using a nylon material, Hair length is 14~20Mm, bristle diameter of the brush (phi) is 0.07 0.10 mm is used. The roll angle of the cleaning roll 7 is 0 degree.
That is, it arrange | positions so as to be orthogonal to a board | substrate conveyance direction. That is, since the laser processing line is parallel to the conveyance direction, the angle formed between the processing residue (burrs) adhering to the end of the line and the brush tip is 0 degrees when it does not swing.
The oscillation conditions are a frequency of 50 Hz and an amplitude of 50 mm.

これによる、バリ除去率は、90%以上であった。除去率は、光学顕微鏡でレーザ加工ライン上5mm幅のバリ面積を測定、洗浄前後で比較して算出した。
可撓性基板2の表面には、光学顕微鏡で表面を観察した結果、表面傷は生じなかった。
As a result, the burr removal rate was 90% or more. The removal rate was calculated by measuring a burr area having a width of 5 mm on a laser processing line with an optical microscope and comparing the burr area before and after cleaning.
As a result of observing the surface of the flexible substrate 2 with an optical microscope, no surface damage was generated.

2の参考形
図6は本発明の参考となる第2の形態に係るクリーニングユニット近傍の下面から見た配置図である。
この第2の参考形態においては、前記クリーニングユニット4において、クリーニングロール7及び押さえロール6を、可撓性基板2の搬送方向に一定距離Cをおいて2組設置し、前記2組のクリーニングロール7,7を、一定角度で同方向にする方向に配置している。好ましくは傾斜角(θ)が45°、あるいは傾斜角(θ)=30°〜90°の範囲で傾斜するように構成する。
この場合は、該クリーニングロール7を前記傾斜角(θ)=45°に設定し、この傾斜角で揺動しないようにする。図6の場合には、クリーニングロール7,7は正逆回転駆動させる。
尚、第2の参考形態では揺動させなくとも効果はあるが、前記第1の参考例のように、図示しないモータ及びカム等で、左右に周波数50Hz、振幅50mmで揺動(図4の15は揺動振幅)させることもできる。
尚、かかる第2の参考形態において、前記第1の参考形態と同一の部材には同一の符号を付して、重複する説明を省略する。
Second reference-type state 6 is a layout view seen from the lower surface of the cleaning unit near according to the second form states that can be used as a guide of the present invention.
In the second reference-type condition, in the cleaning unit 4, the cleaning roller 7 and the pressing roll 6, at a certain distance C in the conveying direction of the flexible substrate 2 two sets installed, the two sets of cleaning The rolls 7 and 7 are arranged in the same direction at a constant angle. The tilt angle (θ) is preferably 45 °, or tilted within the range of the tilt angle (θ) = 30 ° to 90 °.
In this case, the cleaning roll 7 is set to the inclination angle (θ) = 45 ° so as not to swing at this inclination angle. In the case of FIG. 6, the cleaning rolls 7 are driven to rotate forward and reverse.
Although in the second reference type state are effective without swung, as mentioned above in the first reference example, a motor and a cam, etc. (not shown), left and right frequency 50 Hz, the oscillating amplitude 50 mm (Fig. 4 15 can also be a swing amplitude).
Incidentally, omitted in such second reference shaped state, said the first reference type on purpose the same members are denoted by the same reference numerals, and redundant description.

の参考形態の具体的な構成の一例は、クリーニングロール7のブラシ種類としては、材質にナイロンを用い、毛丈は14〜20mm、ブラシの毛の直径(φ)は、0.07〜0.10mmを用いている。そして、クリーニングロール7のロール角度は、傾斜角(θ)=45°に設定する。つまり、基板搬送方向に対して45度傾斜させる。ロール角度は、基板搬送方向とロールのなす角度を示す。すなわち、レーザ加工ラインは搬送方向に平行であるため、ライン端部に付着した加工残渣(バリ)とブラシ先端がなす角度は、45度となっている。
ロール回転数は2000rpm、基板搬送速度は、1〜10m/分、押し付け量は、1〜3mm、とした。この結果、バリ除去率は90%以上、表面傷は無しであった。
なお、第1の参考形態と同様に揺動条件は、周波数が50Hz、振幅が50mmで揺動させても良い。
図7の場合は、図6と同様にクリーニングロール7を傾斜させて配置したもので、この場合、クリーニングロール7,7は、互いにハの字形に配置したものである。この参考形態では、2つのクリーニングロール7,7は同方向に正転駆動させる。クリーニングロール7の一方が傾斜角(θ)=30°〜90°の範囲で傾斜するように構成された場合、クリーニングロール7の他方は、傾斜角(θ)=−30°〜−90°の範囲で傾斜させる。その他の具体的な構成は図6の参考形態と同様である。
の参考形態の場合にも、クリーニングロール7のブラシ先端部11は、図5に示すように、可撓性基板2の搬送方向に対して一定角度で矢印13の方向に斜めに操作されることになる。こうして、可撓性基板2に付着している可撓性基板2のレーザ加工残渣、すなわち加工屑(バリ)10は斜めに擦られて除去される。
An example of a specific configuration of this reference type state, as the brush type cleaning roller 7, using a nylon material, Hair length is 14~20Mm, bristle diameter of the brush (phi) is 0.07 0.10 mm is used. The roll angle of the cleaning roll 7 is set to an inclination angle (θ) = 45 °. That is, it is inclined 45 degrees with respect to the substrate transport direction. The roll angle indicates an angle formed between the substrate transport direction and the roll. That is, since the laser processing line is parallel to the conveyance direction, the angle formed by the processing residue (burrs) adhering to the line end and the brush tip is 45 degrees.
The roll rotation speed was 2000 rpm, the substrate conveyance speed was 1 to 10 m / min, and the pressing amount was 1 to 3 mm. As a result, the burr removal rate was 90% or more, and there were no surface scratches.
The first reference type on purpose likewise oscillating conditions, the frequency is 50 Hz, the amplitude may be swung by 50 mm.
In the case of FIG. 7, the cleaning roll 7 is inclined and arranged in the same manner as in FIG. 6. In this case, the cleaning rolls 7 and 7 are arranged in a C shape. In this reference type state, two cleaning rolls 7, 7 is rotated forward drive in the same direction. When one of the cleaning rolls 7 is configured to be inclined in a range of an inclination angle (θ) = 30 ° to 90 °, the other of the cleaning rolls 7 has an inclination angle (θ) = − 30 ° to −90 °. Tilt in range. Other specific configurations are on purpose similar reference shape in FIG.
If this reference type state also, the brush tip portion 11 of the cleaning roller 7, as shown in FIG. 5, is operated in the diagonal in the direction of arrow 13 at an angle to the conveying direction of the flexible substrate 2 Will be. In this way, the laser processing residue of the flexible substrate 2 adhering to the flexible substrate 2, that is, the processing waste (burr) 10 is removed by rubbing obliquely.

第1の実施形態
図8は本発明の第1の実施形態に係るクリーニングユニット近傍の下面から見た平面配置図である。
この第1の実施形態においては、前記クリーニングユニット4a,4bにおいて、前記可撓性基板2を搬送方向Sにおいて、2箇所を折り返して、該2箇所の折り返し部2a,2bの前記可撓性基板2の搬送方向Sの平行部分2c、2dにそれぞれ前記クリーニングロール7及び押さえロール6を配置している。
そして、前記クリーニングロール7,7を、所定角度θ1、θ2で傾斜するように、前記折り返し部2a,2bに2個配置するように構成している。
First implementation embodiment 8 are plan layout view as viewed from the lower surface of the cleaning unit near according to the first implementation mode of the present invention.
In this first implementation mode, the cleaning unit 4a, the 4b, in the conveyance direction S of the flexible substrate 2, folded back two positions, the two positions of the folded portion 2a, 2b the flexible The cleaning roll 7 and the pressing roll 6 are disposed in parallel portions 2c and 2d in the transport direction S of the substrate 2, respectively.
Then, two cleaning rolls 7 and 7 are arranged on the folded portions 2a and 2b so as to be inclined at predetermined angles θ1 and θ2.

この場合は、該クリーニングロール7を45度、あるいは前記傾斜角θ1=θ2=30°〜90°の範囲で設定し、この傾斜角で揺動しないようにする。
尚、かかる第1の実施形態において、前記第1の参考形態と同一の部材には同一の符号を付して、重複する説明を省略する。この第1の実施形態によれば、クリーニングロール7のブラシ先端部11は、図5に示すように、可撓性基板2の搬送方向に対して一定角度で矢印13の方向に斜めに操作されることになる。こうして、可撓性基板2に付着している可撓性基板2のレーザ加工残渣、すなわち加工屑(バリ)10は斜めに擦られて除去される。
In this case, the cleaning roll 7 is set at 45 degrees or in the range of the tilt angle θ1 = θ2 = 30 ° to 90 ° so as not to swing at this tilt angle.
Note that in such a first implementation form, said the first reference type on purpose the same members are denoted by the same reference numerals, you omit redundant description. According to this first embodiment, the brush tip portion 11 of the click leaning roll 7, as shown in FIG. 5, the operation obliquely in the direction of arrow 13 at an angle to the conveying direction of the flexible substrate 2 Will be. In this way, the laser processing residue of the flexible substrate 2 adhering to the flexible substrate 2, that is, the processing waste (burr) 10 is removed by rubbing obliquely.

また、前記所定角度即ち傾斜角θ(θ1=θ2)=30°〜90°の限定は、θ(θ1=θ2)=30°未満の場合は、クリーニングロール7の作動が不十分であり、また、θ(θ1=θ2)=90°を超える場合は、直交する場合で限界値である。   The predetermined angle, that is, the inclination angle θ (θ1 = θ2) = 30 ° to 90 ° is limited when θ (θ1 = θ2) = less than 30 °, and the operation of the cleaning roll 7 is insufficient. , Θ (θ1 = θ2) = 90 ° is a limit value when orthogonal.

本発明の実施の形態につき述べたが、本発明は既述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づいて各種の変更及び変形が可能である。   Although the embodiments of the present invention have been described, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications can be made based on the technical idea of the present invention.

本発明にかかる、パターニング工程においてレーザ加工によって発生するバリとクリーニングロールのブラシ先端部との接触を洩れなく行い、バリを確実に除去し得て、バリ除去率を向上したレーザ加工用クリーナ装置を提供でき、薄膜太陽電池の製造に好適である。   According to the present invention, there is provided a laser processing cleaner device capable of performing a contact between a burr generated by laser processing in a patterning step and a brush tip of a cleaning roll without omission and removing a burr reliably and improving a burr removal rate. It can be provided and is suitable for manufacturing a thin film solar cell.

1 送りローラ
2 可撓性基板
3 レーザパターニングユニット
4 クリーニングユニット
5 巻取りロール
6 押さえロール
7 クリーニングロール
10 加工屑(バリ)
11 ブラシ先端部
13 ブラシ先端部の軌跡
S 搬送方向
θ 傾斜角
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Feed roller 2 Flexible substrate 3 Laser patterning unit 4 Cleaning unit 5 Winding roll 6 Pressing roll
7 Cleaning roll 10 Processing waste (burr)
11 Brush tip 13 Trajectory of brush tip S Transfer direction θ Inclination angle

Claims (1)

連続的に搬送される可撓性基板の少なくとも主面に薄膜を形成し、前記可撓性基板の薄膜にレーザ加工によりパターニングを施すとともに、前記パターニングの際に前記可撓性基板に付着したレーザ加工残渣を、除去する装置において、前記可撓性基板の主面側に配置された、ブラシを用いたクリーニングロールと、このクリーニングロールに対向して前記可撓性基板の主面側と反対側の面に配置された押さえロールとを備え、前記クリーニングロールを前記可撓性基板の搬送方向と一定角度で交叉する方向に配設し、前記クリーニングロールのブラシを前記可撓性基板の搬送方向に対して斜めに操作させるようにしてなるレーザ加工残渣の除去装置であって、  A thin film is formed on at least the main surface of the flexible substrate that is continuously conveyed, and the thin film of the flexible substrate is patterned by laser processing, and the laser adhered to the flexible substrate during the patterning. In an apparatus for removing processing residues, a cleaning roll using a brush disposed on the main surface side of the flexible substrate, and a side opposite to the main surface side of the flexible substrate facing the cleaning roll A pressing roll disposed on the surface of the flexible substrate, wherein the cleaning roll is disposed in a direction intersecting with the conveyance direction of the flexible substrate at a constant angle, and the brush of the cleaning roll is disposed in the conveyance direction of the flexible substrate. A laser processing residue removal device configured to be operated obliquely with respect to
前記可撓性基板を搬送方向の2箇所で一定角度で折り返すとともに、この折り返し部に前記クリーニングロール及び押さえロールの各組を、前記レーザ加工残渣の付着面側に前記クリーニングロールが来るように配置したことを特徴とするレーザ加工残渣の除去装置。The flexible substrate is folded back at a fixed angle at two locations in the transport direction, and each set of the cleaning roll and the pressing roll is arranged at the folded portion so that the cleaning roll comes to the laser processing residue attachment surface side. An apparatus for removing a laser processing residue.
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