JP5382797B2 - Method for manufacturing structure by electrochemical reaction using conductive composition - Google Patents

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本発明は、導電性組成物を用いた電気化学反応による構造体の作製方法に関する。 The present invention relates to a manufacturing how structures by electrochemical reaction using a conductive composition.

電気化学反応を行うための導電性組成物としては、例えば液体状のめっき溶液またはエッチング溶液が広く知られている。これに対して出願人は特開2008−266740号公報においてゲル状めっき組成物を開示している。すなわち、特開2008−266740号公報には、めっき溶液にゲル化剤を加えることにより、流動性がなく固体状のゲル状めっき組成物を作成し、前記ゲル状めっき組成物を用いて被めっき体に金属膜を形成することが開示されている。さらに、シート状または格子状等の任意のパターンのゲル状めっき組成物を被めっき体に載置することによりパターニングされた金属膜を得ることができることが開示されている。   As a conductive composition for performing an electrochemical reaction, for example, a liquid plating solution or an etching solution is widely known. In contrast, the applicant has disclosed a gel-like plating composition in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-266740. That is, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-266740, by adding a gelling agent to a plating solution, a solid gel-like plating composition having no fluidity is created and plated using the gel-like plating composition. It is disclosed to form a metal film on the body. Furthermore, it is disclosed that a patterned metal film can be obtained by placing a gel-like plating composition having an arbitrary pattern such as a sheet shape or a lattice shape on an object to be plated.

ゲル状めっき組成物のパターニングはシート状のゲル状めっき組成物を例えばナイフ等で切断することにより行われているが、正確にパターニングすることは容易ではないことがあった。またパターニング後のシート状のゲル状めっき組成物を被めっき体に載置することも容易ではないことがあった。   Patterning of the gel-like plating composition is performed by cutting the sheet-like gel-like plating composition with, for example, a knife, but it may not be easy to pattern accurately. Moreover, it may not be easy to place the sheet-like gel-like plating composition after patterning on the object to be plated.

特開2008−266740号公報JP 2008-266740 A

本発明は、ゲル状態の導電性組成物を用いた構造体の容易な作製方法を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide an easy manufacturing how the structure using the conductive composition of the gel state.

上記目的を達成すべく、本発明の実施の形態の構造体の作製方法は、ゲル化剤と、電気化学反応を行うための導電性イオンと、溶媒と、を有する導電性組成物をゾル状態とするゾル化工程と、ゾル状態の前記導電性組成物を基板上で所定のパターン形状とするパターン形成工程と、
前記所定のパターン形状の前記導電性組成物をゲル状態とするゲル化工程と、ゲル状態の前記導電性組成物を用いて電気化学反応を行う電気化学反応工程と、を具備することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for manufacturing a structure according to an embodiment of the present invention includes a sol state of a conductive composition having a gelling agent, conductive ions for performing an electrochemical reaction, and a solvent. And a pattern forming step of forming the conductive composition in a sol state into a predetermined pattern shape on a substrate,
A gelling step of bringing the conductive composition having the predetermined pattern shape into a gel state; and an electrochemical reaction step of performing an electrochemical reaction using the conductive composition in the gel state. To do.

本発明によれば、ゲル状態の導電性組成物を用いた構造体の容易な作製方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide easy fabrication how the structure using the conductive composition of the gel state.

めっき用組成物をパターニングするディスペンサ装置の横方向から見た図である。It is the figure seen from the horizontal direction of the dispenser apparatus which patterns the composition for plating. ディスペンサ装置を用いてめっき用組成物を基板上にパターニングする状態を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating the state which patterns the composition for plating on a board | substrate using a dispenser apparatus. ディスペンサ装置を用いてめっき用組成物を基板上にパターニングする状態を説明するための横方向から見た図であり、図3(A)はパターニング前の状態を、図3(B)はパターニング中の状態を、図3(C)はパターニング後の状態を示している。It is the figure seen from the horizontal direction for demonstrating the state which patterns the composition for plating on a board | substrate using a dispenser apparatus, FIG. 3 (A) is in the state before patterning, FIG. 3 (B) is in patterning. FIG. 3C shows the state after patterning. フォトレジストパターンを用いてめっき用組成物を基板上にパターニングする状態を説明するための横方向から見た図である。It is the figure seen from the horizontal direction for demonstrating the state which patterns the composition for plating on a board | substrate using a photoresist pattern. スクリーン印刷装置を用いてめっき用組成物を基板上にパターニングする状態を説明するための横方向から見た図である。It is the figure seen from the horizontal direction for demonstrating the state which patterns the composition for plating on a board | substrate using a screen printing apparatus. めっき用組成物を用いて金属を析出する方法を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the method of depositing a metal using the composition for plating. プローバーを用いて金属を析出する方法を説明するための横から見た模式図である。It is the schematic diagram seen from the side for demonstrating the method to deposit a metal using a prober. めっき用組成物を用いて金属を析出する方法を説明するための断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the method of depositing a metal using the composition for plating. エッチング用組成物を用いた構造体の作成を説明するための模式図であり、図9(A)はエッチング前のゲルパターンを有する基板の平面図であり、図9(B)は図9(A)のIXB−IXB線に沿ったエッチング前のゲルパターンを有する基板を含む断面模式図である。FIGS. 9A and 9B are schematic views for explaining the creation of a structure using an etching composition, FIG. 9A is a plan view of a substrate having a gel pattern before etching, and FIG. It is a cross-sectional schematic diagram including the board | substrate which has a gel pattern before the etching along the IXB-IXB line of A). エッチング用組成物を用いた構造体の作成を説明するための模式図であり、図10(A)はエッチング後の銅膜パターンを有する基板の平面図であり、図10(B)は図10(A)のXB−XB線に沿ったエッチング後の銅膜パターンを有する基板を含む断面模式図である。FIGS. 10A and 10B are schematic views for explaining the production of a structure using an etching composition, FIG. 10A is a plan view of a substrate having a copper film pattern after etching, and FIG. It is a cross-sectional schematic diagram containing the board | substrate which has the copper film pattern after the etching along the XB-XB line of (A). プローバーを用いて金属をエッチングする方法を説明するための横から見た模式図である。It is the schematic diagram seen from the side for demonstrating the method to etch a metal using a prober.

<第1の実施形態>
本発明の第1の実施の形態の構造体の作製方法に用いる導電性組成物は、電気化学反応を行うための導電性イオンとして、電気めっき析出可能な金属イオンを含有しているゲル状態のめっき用組成物2Aである。めっき用組成物2Aはゲル化剤と金属イオンと溶媒とを有しており、ゲル状態とゾル状態を可逆的に変化する。ここで、ゲル状態とは流動性を有しない状態を、ゾル状態は流動性を有する状態を意味する。言い換えればゲル状態とは、分散質のネットワークにより高い粘性を持ち流動性を失い、系全体としては固体状態になったものである。そしてめっき用組成物は室温においてゲル状態であり加温によりゾル状態になる。なお、室温においてゾル状態であり冷却によりゲル状態になるめっき用組成物等であってもよい。すなわちめっき用組成物は、ゾル状態とゲル状態とを可逆的に変化し、少なくとも電気化学反応を行うときにはゲル状態となる。
<First Embodiment>
The conductive composition used in the method for manufacturing the structure according to the first embodiment of the present invention is a gel state containing a metal ion capable of being electroplated as a conductive ion for performing an electrochemical reaction. It is composition 2A for plating. The plating composition 2A has a gelling agent, a metal ion, and a solvent, and reversibly changes the gel state and the sol state. Here, the gel state means a state having no fluidity, and the sol state means a state having fluidity. In other words, the gel state is a state where the dispersoid network has a high viscosity and loses fluidity, and the entire system is in a solid state. The plating composition is in a gel state at room temperature and becomes a sol state by heating. It may be a plating composition that is in a sol state at room temperature and becomes a gel state upon cooling. That is, the plating composition reversibly changes between a sol state and a gel state, and at least when an electrochemical reaction is performed, the plating composition becomes a gel state.

最初に、めっき用組成物2をゲル状態の所定のパターン形状のめっき用組成物2Aとする方法について説明する。めっき用組成物2は、例えば加温されたゾル状態で開口を介して基板上に所定のパターン形状となるように吐出され、基板上で冷却されることにより、ゲル状態のめっき用組成物2Aとなる。すなわち、図1に示すようにめっき用組成物2は、ディスペンサ装置10のディスペンサ11の内部に収納され、本体部10Aの制御により、ディスペンサ11のキャピラリ12の先端部の開口13からステージ14上に配置された基板20上に吐出される。ディスペンサ11の内部およびキャピラリ12は加温装置(不図示)により、例えば50℃に加温されている。加温温度はめっき用組成物2に応じて適宜選択されるが、室温を超え100℃未満であり、めっき用組成物2の安定性および粘度の関係から、好ましくは40℃以上80℃未満である。   First, a method of using the plating composition 2 as a plating composition 2A having a predetermined pattern shape in a gel state will be described. The plating composition 2 is discharged in a predetermined pattern shape onto the substrate through the opening in a heated sol state, for example, and cooled on the substrate, whereby the plating composition 2A in a gel state It becomes. That is, as shown in FIG. 1, the plating composition 2 is stored in the dispenser 11 of the dispenser device 10, and is controlled on the stage 14 from the opening 13 at the tip of the capillary 12 of the dispenser 11 by the control of the main body 10 </ b> A. It is discharged onto the substrate 20 arranged. The inside of the dispenser 11 and the capillary 12 are heated to, for example, 50 ° C. by a heating device (not shown). The heating temperature is appropriately selected depending on the plating composition 2, but is higher than room temperature and lower than 100 ° C., and preferably 40 ° C. or higher and lower than 80 ° C. in view of the stability and viscosity of the plating composition 2. is there.

すなわち、図1に示した状態では、ゲル化剤と、電気化学反応を行うための導電性イオンと、溶媒と、を有する導電性組成物であるめっき用組成物2は、加温しゾル状態とするゾル化工程にある。   That is, in the state shown in FIG. 1, the plating composition 2, which is a conductive composition having a gelling agent, conductive ions for performing an electrochemical reaction, and a solvent, is heated to a sol state. It is in the solation process.

なお、めっき用組成物2をゾル状態とするゾル化工程としては、所定温度に保持するだけでもよい場合もある。例えば、室温においてゾル状態であり、室温未満の温度においてゲル状態となるゼラチン等を有するめっき用組成物2の場合には、加温の必要はなく、室温に放置すること自体がゾル化工程に相当する。あるいは圧力を印加することでゾル状態となるめっき用組成物2であれば、ゾル化工程は圧力を印加する工程である。さらに、剪断応力を印加することでゾル状態となる、いわゆるチクソトロピー性を有するめっき用組成物2であれば、ゾル化工程は剪断応力を印加する工程である。すなわち、ゲル状態のめっき用組成物2を構成する分子等の結合を断ち切るのがゾル化工程である。   In addition, as a sol formation process which makes the composition 2 for plating into a sol state, it may just hold | maintain at predetermined temperature. For example, in the case of the plating composition 2 having gelatin or the like that is in a sol state at room temperature and is in a gel state at a temperature lower than room temperature, there is no need for heating, and leaving it at room temperature itself is in the sol forming step. Equivalent to. Or if it is the composition 2 for plating which will be in a sol state by applying a pressure, a sol formation process is a process of applying a pressure. Furthermore, in the case of the plating composition 2 having so-called thixotropy that becomes a sol state by applying a shear stress, the sol formation step is a step of applying the shear stress. That is, it is the sol formation step that breaks the bonds of the molecules constituting the gel-forming plating composition 2.

さらにゾル化工程としては、加温、圧力、または、剪断応力から選択された2以上を組み合わせても良い。なお、大きな塊となっためっき用組成物2は管路内を搬送することができないが、ミキサー等で小さく分割(粉砕)することにより、ポンプによる管路内の搬送が可能となる。すなわちディスペンサ11にゲル状態のめっき用組成物2を供給するときにゾル状態にしてもよいが、ゲル状態のまま供給することが可能である。   Furthermore, as the sol formation step, two or more selected from heating, pressure, or shear stress may be combined. In addition, although the composition 2 for plating which became the big lump cannot be conveyed in a pipe line, it can be conveyed in the pipe line by a pump by dividing | segmenting small (pulverization) with a mixer etc. That is, when supplying the plating composition 2 in a gel state to the dispenser 11, it may be in a sol state, but can be supplied in a gel state.

キャピラリ12は例えば内径0.1mm、外径0.3mmであり、フッ素樹脂により作成されている。ディスペンサ11は駆動機構(不図示)により基板20の面内方向および垂直方向の3方向に移動可能である。ディスペンサ11の移動、すなわちキャピラリ12の移動は本体部10Aにより制御される。なおディスペンサ11ではなくステージ14が移動してもよい。   The capillary 12 has an inner diameter of 0.1 mm and an outer diameter of 0.3 mm, for example, and is made of a fluororesin. The dispenser 11 can be moved in three directions, ie, an in-plane direction and a vertical direction of the substrate 20 by a driving mechanism (not shown). The movement of the dispenser 11, that is, the movement of the capillary 12, is controlled by the main body 10A. The stage 14 may move instead of the dispenser 11.

図2は、基板20上に、所定のパターン形状のゲル状態のめっき用組成物2Aを間隔D1で多数連続して作成する様子を示している。加温工程において、ゾル状態のディスペンサ11の内部のめっき用組成物2は、例えば0.2MPaの加圧によりキャピラリ12の開口13を介して基板20上に吐出するパターン形成工程により所定のパターン形状となる。室温の基板20の上に吐出されたゾル状態のめっき用組成物2は、基板20に熱が奪われるため、すなわち自然冷却されるために、ゲル状態となる(冷却工程)。基板20は冷却装置により室温以下に冷却されていてもよいし、熱容量の大きなステージ14に固定することによりめっき用組成物2からの熱をステージ14を介して放熱するようにしてもよい。   FIG. 2 shows a state in which a large number of gel-like plating compositions 2A having a predetermined pattern shape are continuously formed on the substrate 20 at intervals D1. In the heating step, the plating composition 2 inside the sol-state dispenser 11 is formed into a predetermined pattern shape by a pattern formation step of discharging onto the substrate 20 through the opening 13 of the capillary 12 by pressurization of 0.2 MPa, for example. It becomes. The sol-state plating composition 2 discharged onto the substrate 20 at room temperature is in a gel state because the substrate 20 is deprived of heat, that is, naturally cooled (cooling step). The substrate 20 may be cooled to room temperature or lower by a cooling device, or heat from the plating composition 2 may be radiated through the stage 14 by being fixed to the stage 14 having a large heat capacity.

ここで、略半球状、または略円柱状のパターン形状のめっき用組成物2Aは単独で利用してもよいし、図2に示すように、めっき用組成物2Aを連続して形成することにより、さらに大きな所望のパターン、例えば、配線パターンを形成してもよい。すなわち、吐出により基板上に直接、ライティング形成されたパターン形状のめっき用組成物2Aを互いに一部が重なり合うように形成してもよい。   Here, the plating composition 2A having a substantially hemispherical or substantially cylindrical pattern shape may be used alone, or by continuously forming the plating composition 2A as shown in FIG. A larger desired pattern, for example, a wiring pattern may be formed. In other words, the plating composition 2A having a pattern shape that is directly formed on the substrate by discharge may be formed so as to partially overlap each other.

また図3(A)〜図3(C)に示すように、キャピラリ12の先端部を基板20に近接した状態でめっき用組成物2を開口13から突出してもよい。すなわち図3(A)に示すようにキャピラリ12の先端部からめっき用組成物2が滴下しない状態で、図3(B)に示すようにめっき用組成物2の一部が基板20と接触するまでキャピラリ12の先端部の基板20に近接する。その後、図3(C)に示すように、キャピラリ12の先端部を基板20から遠ざける。この方法によりキャピラリ12の開口13の直径R0よりも小さな直径R1を有するパターンのめっき用組成物2Aを作成してもよい。   Further, as shown in FIGS. 3A to 3C, the plating composition 2 may protrude from the opening 13 in a state where the tip of the capillary 12 is close to the substrate 20. That is, as shown in FIG. 3A, a part of the plating composition 2 is in contact with the substrate 20 as shown in FIG. 3B in a state where the plating composition 2 is not dripped from the tip of the capillary 12. Up to the substrate 20 at the tip of the capillary 12. Thereafter, the tip of the capillary 12 is moved away from the substrate 20 as shown in FIG. By this method, a plating composition 2A having a diameter R1 smaller than the diameter R0 of the opening 13 of the capillary 12 may be formed.

すなわち、キャピラリ12からめっき用組成物2を滴下すると基板20上に形成されるめっき用組成物2Aは開口13よりも大きな面積となる。しかし上記方法では、より微細なパターンを容易に形成することができる。さらに図3(B)に示した状態でキャピラリ12を移動しながらゾル状態のめっき用組成物2を連続的に基板20上に吐出することにより、線状パターンのゲル状態のめっき用組成物2Aを形成することもできる。ディスペンサ11を用いたパターニングでは、例えば、直径1〜2000μm、高さ1〜1000μm程度のめっき用組成物2Aを容易に得ることができる。   That is, when the plating composition 2 is dropped from the capillary 12, the plating composition 2 </ b> A formed on the substrate 20 has a larger area than the opening 13. However, in the above method, a finer pattern can be easily formed. Further, the plating composition 2 in a sol state is continuously discharged onto the substrate 20 while moving the capillary 12 in the state shown in FIG. Can also be formed. In the patterning using the dispenser 11, for example, a plating composition 2A having a diameter of 1 to 2000 μm and a height of 1 to 1000 μm can be easily obtained.

また、例えばフォトレジストにより基板上に形成されたパターンの開口部にめっき用組成物2を流し込んでもよい。すなわち、図4に示すように、フォトレジスト6の壁に囲まれた基板上の開口部をめっき用組成物2Aで充填する。フォトレジストによるパターニングは精度が高く微細化が容易であるとともに、アスペクト比(レジスト高さ/開口面積)を大きくできる。このためディスペンサ11により形成可能なめっき用組成物2の大きさよりも小さなパターンの開口内にめっき用組成物2Aを充填できる。さらに厚いめっき用組成物2Aを得ることができる。またフォトレジストによるパターンは、円形以外の任意のパターンも形成可能である。   Further, for example, the plating composition 2 may be poured into an opening of a pattern formed on the substrate with a photoresist. That is, as shown in FIG. 4, the opening on the substrate surrounded by the wall of the photoresist 6 is filled with the plating composition 2A. Patterning with a photoresist is highly accurate and easy to miniaturize, and can increase the aspect ratio (resist height / opening area). For this reason, 2 A of plating compositions can be filled in the opening of a pattern smaller than the magnitude | size of the composition 2 for plating which can be formed with the dispenser 11. FIG. Further thicker plating composition 2A can be obtained. Moreover, the pattern by a photoresist can also form arbitrary patterns other than circular.

なお、めっき用組成物2をパターン形状とするために開口を介して基板上に吐出する方法としては、図5(A)〜図5(D)に示すように孔版印刷法の1種であるスクリーン印刷法を用いることもできる。スクリーン印刷法では最初に、図5(A)に示すように、スクリーン印刷装置30の開口32を有するスクリーン31の上にゾル状態のめっき用組成物2を配設する。そして図5(B)〜図5(D)に示すようにスキージ33でスクリーン31の内面(上面)を加圧しながら移動する。すると、スクリーン31の開口32を介してめっき用組成物2が基板20上に押し出され、すなわち吐出され、ゲル状態のパターンとなる。パターンの形状はスクリーン作成時に設計される。スクリーン印刷法では、縦糸と横糸とが形成する開口を介してめっき用組成物2が基板上にパターニングされるが、細い幅の糸を用いることにより糸の影響によるパターン切れを防止することができる。   In addition, as a method for discharging the plating composition 2 onto the substrate through the opening in order to form a pattern, it is one type of stencil printing method as shown in FIGS. 5 (A) to 5 (D). A screen printing method can also be used. In the screen printing method, first, as shown in FIG. 5A, the sol-state plating composition 2 is disposed on the screen 31 having the openings 32 of the screen printing apparatus 30. 5B to 5D, the squeegee 33 moves while pressing the inner surface (upper surface) of the screen 31. Then, the plating composition 2 is extruded onto the substrate 20 through the openings 32 of the screen 31, that is, discharged, and becomes a gel state pattern. The shape of the pattern is designed when creating the screen. In the screen printing method, the plating composition 2 is patterned on the substrate through the opening formed by the warp and the weft. By using a thin thread, pattern breakage due to the influence of the thread can be prevented. .

めっき用組成物2をパターン形状とするために開口を介して基板上に吐出する方法としては、スクリーン印刷法と同様の手法であるメタルマスク印刷法を用いてもよい。メタルマスク印刷法ではスクリーン31の替わりに開口を有する金属板を用いる点がスクリーン印刷法と異なるが、それ以外の方法は同様である。   As a method for discharging the plating composition 2 onto the substrate through the openings in order to obtain a pattern shape, a metal mask printing method that is the same as the screen printing method may be used. The metal mask printing method is different from the screen printing method in that a metal plate having an opening is used instead of the screen 31, but the other methods are the same.

スクリーン印刷方法およびメタルマスク印刷法は、ディスペンサ装置10を用いる方法に比べて、広い面積に一度に多数のパターンを形成できるために生産性に優れている。   The screen printing method and the metal mask printing method are excellent in productivity because a large number of patterns can be formed at once on a wide area, compared to the method using the dispenser device 10.

さらにめっき用組成物2を所定のパターン形状とする方法としては、インクジェット方式も好ましく用いることができる。さらに、インクジェット方式としては、広く使用されている圧電素子を用いるピエゾ方式または加熱してノズル内で気泡を発生させる熱方式(バブルジェット(登録商標)方式)に限られるものではなく、静電的な力を利用した、いわゆるスーパーインクジェット方式を用いてもよい。スーパーインクジェット方式ではドット径として1μm以下、液滴のサイズとしてフェムトリットルが吐出可能であるため、より微細なパターン形成が可能である。   Furthermore, as a method for forming the plating composition 2 into a predetermined pattern shape, an ink jet method can also be preferably used. Furthermore, the ink jet method is not limited to a piezo method using a widely used piezoelectric element or a heat method (bubble jet (registered trademark) method) that generates bubbles in a nozzle by heating, and is electrostatic. A so-called super ink jet method using a strong force may be used. In the super ink jet system, since the dot diameter is 1 μm or less and the femtoliter can be discharged as the droplet size, a finer pattern can be formed.

また、基板の同一部分へのゲル状態のめっき組成物のパターン形成は1回に限られるものではなく、基板上に形成されためっき組成物2Aの高さ、すなわち厚さが不足している場合には複数回、ゾルめっき組成物を吐出して積層してもよい。すなわち、めっき組成物2Aの上にさらに、めっき組成物2を吐出してもよい。また、後述するように導電性イオンの異なるゲルめっき組成物を積層してもよい。   In addition, the pattern formation of the plating composition in the gel state on the same part of the substrate is not limited to once, but the height of the plating composition 2A formed on the substrate, that is, the thickness is insufficient Alternatively, the sol plating composition may be discharged and laminated a plurality of times. That is, you may discharge the plating composition 2 further on the plating composition 2A. Moreover, you may laminate | stack the gel plating composition from which electroconductive ion differs so that it may mention later.

次に、めっき用組成物2の構成について説明する。すでに説明したようにめっき用組成物2はゲル化剤と金属イオンと溶媒とを有している。   Next, the configuration of the plating composition 2 will be described. As already described, the plating composition 2 has a gelling agent, metal ions, and a solvent.

ゲル化剤としては、めっき用組成物2が、室温においてゲル状態であり加温によりゾル状態になるような材料から選択されるが、例えば、寒天、ゼラチン、キサンタンガム、カラギナン、ローストビーンガム(LBG)、グアーガム、ジェランガム、メチルセルロース、ヒドロキシプロピルメチルセルロース、ペクチン、アルギン酸から選ばれる少なくとも1種、すなわち、各単独または2種以上の混合物、が挙げられる。   The gelling agent is selected from materials in which the plating composition 2 is in a gel state at room temperature and becomes a sol state upon heating. For example, agar, gelatin, xanthan gum, carrageenan, roast bean gum (LBG) ), Guar gum, gellan gum, methylcellulose, hydroxypropylmethylcellulose, pectin, alginic acid, that is, each alone or a mixture of two or more.

前記ゲル化剤の中で、ゾル化温度の点およびゲル強度の点から、寒天、ゼラチン、キサンタンガム、カラギナン、ローストビーンガム、グアーガム、ヒドロキシプロピルメチルセルロースを用いることが望ましく、特に好ましくは、カラギナンとローストビーンガムとを混合して用いることが好ましい。   Among the gelling agents, it is desirable to use agar, gelatin, xanthan gum, carrageenan, roast bean gum, guar gum, and hydroxypropyl methylcellulose, particularly preferably carrageenan and roasted from the viewpoints of solation temperature and gel strength. It is preferable to use a mixture with bean gum.

前記ゲル化剤の含有量は適宜、調整されるが、例えば、電解銅めっき用のめっき組成物2では、ゲル化剤の含有量は、組成物全量に対して、1〜5重量%(10g/L〜50g/L)の範囲で用いる。   The content of the gelling agent is appropriately adjusted. For example, in the plating composition 2 for electrolytic copper plating, the content of the gelling agent is 1 to 5% by weight (10 g) based on the total amount of the composition. / L to 50 g / L).

めっき析出可能な金属イオンとは、公知のめっきに用いられている金属イオンである。例えば、銅、ニッケル、金、スズ、銀、パラジウムなどのイオンを挙げることができる。   The metal ion capable of being deposited by plating is a metal ion used for known plating. For example, ions such as copper, nickel, gold, tin, silver, and palladium can be given.

溶媒としては金属化合物を溶解し金属イオンとすることが可能な非プロトン性有機溶媒、例えば、エ−テル、テトラヒドロフラン、トルエン等を用いることもできるが、汎用性から水が好ましい。   As the solvent, an aprotic organic solvent capable of dissolving a metal compound to form metal ions, for example, ether, tetrahydrofuran, toluene and the like can be used, but water is preferable from the viewpoint of versatility.

めっき用組成物2は、さらに公知のめっき液が有する導電性化合物、添加剤、安定化剤等を有していてもよい。例えば、銅めっき用のめっき組成物の場合には導電性化合物として硫酸を用いることにより導電率が向上するため、より大電流での高速成膜が可能となる。   The plating composition 2 may further have a conductive compound, an additive, a stabilizer, and the like included in a known plating solution. For example, in the case of a plating composition for copper plating, since the conductivity is improved by using sulfuric acid as the conductive compound, high-speed film formation with a larger current becomes possible.

なお、めっき組成物は、ゲル状態となったときのゲル強度を高めるために硬さ調整剤を有していてもよい。硬さ調整剤としては例えば、カリウム塩、カルシウム塩、マグネシウム塩、セシウム塩、糖類など、具体的には、塩化カリウム、硫酸カリウムなどのカリウム塩、塩化カルシウム、乳酸カルシウムなどのカルシウム塩、塩化マグネシウムなどのマグネシウム塩、塩化セシウムなどのセシウム塩、ショ糖などの糖類などの少なくとも1種を用いることができ、さらに好ましくは、硬さ調整範囲の広さの点から、塩化カリウム、乳酸カルシウム、硫酸カリウムが好ましい。硬さ調整剤の含有量は、例えば、組成物全量に対して、0.05〜1.0重量%(0.5g/L〜10g/L)の範囲で用いることができる。   In addition, the plating composition may have a hardness adjusting agent in order to increase the gel strength when it is in a gel state. As the hardness adjusting agent, for example, potassium salt, calcium salt, magnesium salt, cesium salt, saccharide, etc., specifically, potassium salt such as potassium chloride and potassium sulfate, calcium salt such as calcium chloride and calcium lactate, magnesium chloride At least one selected from the group consisting of magnesium salts such as cesium chloride, saccharides such as sucrose, and more preferably potassium chloride, calcium lactate, sulfuric acid from the viewpoint of a wide range of hardness adjustment. Potassium is preferred. The content of the hardness adjusting agent can be used, for example, in the range of 0.05 to 1.0% by weight (0.5 g / L to 10 g / L) with respect to the total amount of the composition.

さらにめっき組成物は、めっき面の平滑性、均一なめっき膜を形成させる点、離水性の制御の点から、めっき表面調整剤、例えば、非イオン性界面活性剤、塩化物、ゼラチンなどを含有することが好ましい。めっき表面調整剤としては、めっき面の平滑性、均一なめっき膜を形成させる点から、具体的には、ポリエチレングリコール、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテルなどの非イオン性界面活性剤、塩化ナトリウム、塩化カリウム、塩化カルシウムなどの塩化物、ゼラチンの少なくとも1種が挙げられ、好ましくは、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、塩化ナトリウム、塩化カリウムである。さらに離水性制御の容易さの点から、ポリオキシエチレンアルキルエーテルを単独または他のめっき表面調整剤と組み合わせて用いることがより好ましい。めっき表面調整剤の含有量は、めっき法、ゲル化剤等により変動するが、組成物全量に対して、0.001〜0.5重量%(0.01g/L〜5g/L)の範囲で用いることができる。   Furthermore, the plating composition contains a plating surface conditioner such as a nonionic surfactant, chloride, gelatin, etc. from the viewpoint of smoothness of the plating surface, formation of a uniform plating film, and control of water separation. It is preferable to do. As plating surface conditioners, non-ionic surface activity such as polyethylene glycol, polyoxyethylene alkyl ether, polyoxyethylene octylphenyl ether, etc., from the point of forming smooth plating surface and uniform plating film Examples thereof include at least one of agents, chlorides such as sodium chloride, potassium chloride and calcium chloride, and gelatin, preferably polyoxyethylene alkyl ether, sodium chloride and potassium chloride. Furthermore, it is more preferable to use polyoxyethylene alkyl ether alone or in combination with other plating surface conditioners from the viewpoint of ease of water separation control. The content of the plating surface conditioner varies depending on the plating method, gelling agent, etc., but is in the range of 0.001 to 0.5% by weight (0.01 g / L to 5 g / L) based on the total amount of the composition. Can be used.

次に、所定のパターン形状となっためっき組成物2Aを用いて、構造体である電気めっき膜(金属膜3)を形成する電気化学反応を行う電気化学反応工程について説明する。   Next, an electrochemical reaction process for performing an electrochemical reaction for forming an electroplating film (metal film 3) as a structure using the plating composition 2A having a predetermined pattern shape will be described.

図6(A)に示すように、導電性基板20Aを用いた場合には、電源40の陰極に導電性基板20Aを接続し、陽極にプローブ41等を介してめっき組成物2Aを接続し、直流電流を印加することにより、導電性基板20A上で電気化学反応である金属イオンの析出反応(電気めっき反応)が進行し、導電性基板20A上にめっき組成物2Aが有していた金属イオンが金属膜3として析出する。なお、より精密に析出反応を管理するために、プローブ41に加えて参照電極(不図示)をめっき組成物2A中に配置してもよい。   As shown in FIG. 6A, when the conductive substrate 20A is used, the conductive substrate 20A is connected to the cathode of the power supply 40, and the plating composition 2A is connected to the anode via the probe 41 or the like. By applying a direct current, a metal ion deposition reaction (electroplating reaction) that is an electrochemical reaction proceeds on the conductive substrate 20A, and the metal ions that the plating composition 2A had on the conductive substrate 20A. Is deposited as the metal film 3. In order to manage the precipitation reaction more precisely, a reference electrode (not shown) may be arranged in the plating composition 2A in addition to the probe 41.

めっき時の電流密度は公知のめっき液を用いた場合と同様に、例えば硫酸銅めっき用のめっき組成物2Aでは、1〜50mA/cm程度であり、電流密度10mA/cmで成膜を行えば10分間で2μmの膜厚の銅金属膜を得ることができる。 Current density during plating as in the case of using a known plating solution, for example in the plating composition 2A for copper sulfate plating is about 1~50mA / cm 2, the deposition at a current density of 10 mA / cm 2 If it does, a copper metal film | membrane with a film thickness of 2 micrometers can be obtained in 10 minutes.

なお図6(B)に示すように、基板が樹脂基板、セラミック基板、シリコン基板等の導電性を有しない基板20Bの場合には、予め、表面を導電化処理し、導電層42を形成した後にめっき組成物2Aを形成する。スパッタ法、無電解めっき法等の公知の表面導電化処理法を用いることができるが、環境負荷低減等の観点から、ダイレクトプレーティング(DP)前処理が好ましい。DP前処理では、Pdまたは銅による公知の触媒化処理が行われる。なお表面導電化処理により形成された導電層42は金属膜3の形成後、除去される。   As shown in FIG. 6B, in the case where the substrate is a non-conductive substrate 20B such as a resin substrate, a ceramic substrate, or a silicon substrate, the conductive layer 42 is formed by conducting the surface in advance. Later, the plating composition 2A is formed. Although known surface conductive treatment methods such as sputtering and electroless plating can be used, direct plating (DP) pretreatment is preferable from the viewpoint of reducing environmental impact. In the DP pretreatment, a known catalytic treatment with Pd or copper is performed. Note that the conductive layer 42 formed by the surface conductive treatment is removed after the metal film 3 is formed.

また、図6(C)に示すように、めっき組成物2Aを表面に有する基板20Aをめっき組成物2Aを介して第2の基板20A1と接合し、第2の基板20A1上で電気化学反応を進行、すなわち、第2の基板20A1上に構造体である金属膜3を形成してもよい。後述するように第2の基板20A1に通電機能だけでなく、金属の溶解反応により金属イオンを供給する溶解性陽極の機能を付与することができる。   Further, as shown in FIG. 6C, a substrate 20A having a plating composition 2A on the surface is joined to the second substrate 20A1 through the plating composition 2A, and an electrochemical reaction is performed on the second substrate 20A1. Progression, that is, the metal film 3 as a structure may be formed on the second substrate 20A1. As will be described later, the second substrate 20A1 can be provided with not only an energization function but also a function of a soluble anode that supplies metal ions by a metal dissolution reaction.

また、図6(D)に示すように、めっき組成物2Aを表面に有する基板20Aから、めっき組成物2Aを剥離し、第3の基板20D上に再配置する再配置工程の後に、第3の基板20D上に金属膜3を形成してもよい。   Further, as shown in FIG. 6D, after the rearrangement step of peeling the plating composition 2A from the substrate 20A having the plating composition 2A on the surface and rearranging it on the third substrate 20D, the third The metal film 3 may be formed on the substrate 20D.

さらに、図6(E)に示すように、めっき組成物2Aを表面に有する基板20Aをめっき組成物2Aを介して、導電性イオンを有するゲル状態の第2の導電性組成物4Aを配置して、導電性基板20A上に金属膜3を形成してもよい。第2の導電性組成物4Aはめっき組成物2Aと同じ構成、すなわち同じゲル化剤と同じ金属イオンと、同じ溶媒とを、それぞれ同じ数量有していてもよいし、異なっていてもよい。第2の導電性組成物4Aはゾル状態で底が平面の容器に流し込んだ後に冷却しゲル状態とし、切断するという公知の手法により作成することができる。なお第2の導電性組成物4Aは、ゲル状態であるが、パターニングされているめっき組成物2Aと異なり、大きくても取り扱いが容易である。   Further, as shown in FIG. 6 (E), a second conductive composition 4A in a gel state having conductive ions is disposed on the substrate 20A having the plating composition 2A on the surface via the plating composition 2A. Thus, the metal film 3 may be formed on the conductive substrate 20A. The second conductive composition 4A may have the same configuration as that of the plating composition 2A, that is, the same gelling agent, the same metal ion, and the same solvent, respectively, or may be different. The second conductive composition 4A can be prepared by a known technique in which the second conductive composition 4A is poured into a container having a flat bottom in a sol state, cooled to a gel state, and then cut. Although the second conductive composition 4A is in a gel state, it is easy to handle even if it is large, unlike the patterned plating composition 2A.

すなわち第2の導電性組成物4Aは自己形状を保持できるようにゲル化剤等の組成が決定される。また第2の導電性組成物4Aの形状は直方体等に限られるものではなく、自己形状を保持しやすい形状とすることが好ましい。あるいは第2の導電性組成物4Aの形状を保持する機能を有する治具を用いてもよい。あるいは第2の導電性組成物4Aからなるシートを治具としての保持枠に取り付けて使用することもできる。さらに第2の導電性組成物4Aの内部に形状を維持するための補強材としての治具を配設してもよい。補強材としての治具は例えば網状金属を芯として用いる。これらの治具を導電体で構成することにより電極機能を付与してもよく、不溶性陽極または溶解性陽極として用いてもよい。まためっき組成物2Aのない部分にスペーサを設けてよいし、スペーサ機能を有する凸部を設けても良い。すなわちスペーサは例えばOリングを用いて後から設けても良いが、簡便に取り除くことができるように配設することが必要である。   That is, the composition of the gelling agent or the like is determined so that the second conductive composition 4A can maintain its own shape. The shape of the second conductive composition 4A is not limited to a rectangular parallelepiped or the like, and is preferably a shape that can easily maintain its own shape. Or you may use the jig | tool which has the function to hold | maintain the shape of 4 A of 2nd electroconductive compositions. Alternatively, the sheet made of the second conductive composition 4A can be used by being attached to a holding frame as a jig. Furthermore, you may arrange | position the jig | tool as a reinforcing material for maintaining a shape inside the 2nd conductive composition 4A. A jig as a reinforcing material uses, for example, a mesh metal as a core. These jigs may be made of a conductor to provide an electrode function, and may be used as an insoluble anode or a soluble anode. In addition, a spacer may be provided in a portion without the plating composition 2A, or a convex portion having a spacer function may be provided. That is, the spacer may be provided later using, for example, an O-ring, but it is necessary to arrange the spacer so that it can be easily removed.

そして上記の場合には、めっき組成物2Aまたは第2の導電性組成物4Aの少なくともいずれかの導電性イオンが、めっき析出する金属イオンを有していればよい。例えば、めっき組成物2Aが金属イオンを有していれば第2の導電性組成物4Aは金属イオンを有していなくとも基板20A上に金属膜3を形成することができる。そして第2の導電性組成物4Aはめっき組成物2Aと類似のゲル状態であるために両者の接触状態は良好であるために接触抵抗が低くなる。さらにめっき組成物2Aが形成後の時間経過により溶媒が揮発し表面の導電性が劣化していても、第2の導電性組成物4Aから溶媒を供給することができるために導電性が改善する。このため、第2の導電性組成物4Aはめっき組成物2Aとは同じ溶媒を有することが好ましい。   In the above case, it is only necessary that at least one of the conductive ions of the plating composition 2A or the second conductive composition 4A has a metal ion for plating deposition. For example, if the plating composition 2A has metal ions, the metal film 3 can be formed on the substrate 20A even if the second conductive composition 4A does not have metal ions. Since the second conductive composition 4A is in a gel state similar to the plating composition 2A, the contact state between the two is good and the contact resistance is low. Furthermore, even if the solvent is volatilized and the conductivity of the surface is deteriorated with the passage of time after the formation of the plating composition 2A, the conductivity is improved because the solvent can be supplied from the second conductive composition 4A. . For this reason, it is preferable that 2nd electroconductive composition 4A has the same solvent as plating composition 2A.

一方、図6(F)に示すように、第2の導電性組成物4Bが、複数の所定のパターン形状のめっき組成物2Aの上に配置されていてもよい。さらに、めっき組成物2Aの体積が小さく、所望の膜厚の金属膜を析出するために必要な金属イオンを有していない場合であっても、第2の導電性組成物4Bが金属イオンを有していれば、第2の導電性組成物4Bの有する金属イオンが、めっき組成物2Aと基板20Aとの界面まで供給されるために、所望の膜厚の金属膜を析出することができる。さらには、めっき組成物2Aが全く金属イオンを有していなくとも第2の導電性組成物4Bから金属イオンの供給を受けることにより所望の金属膜を析出することができる。   On the other hand, as shown in FIG. 6F, the second conductive composition 4B may be disposed on a plurality of plating compositions 2A having a predetermined pattern shape. Further, even if the plating composition 2A has a small volume and does not have metal ions necessary for depositing a metal film having a desired film thickness, the second conductive composition 4B does not contain metal ions. If so, the metal ions of the second conductive composition 4B are supplied to the interface between the plating composition 2A and the substrate 20A, so that a metal film having a desired film thickness can be deposited. . Furthermore, even if the plating composition 2A does not have any metal ions, a desired metal film can be deposited by receiving the supply of metal ions from the second conductive composition 4B.

また、陽極側に溶解性金属、すなわち電解により溶解し金属イオンを供給する金属を用いることにより、陽極溶解により生成する金属イオンを導電性組成物2Aに供給することができる。例えば、図6(F)に示すようにプローブ41の替わりに溶解性金属の板20E、例えば銅板を用いることにより、導電性組成物2Aが有する金属イオンだけでなく、金属板から第2の導電性組成物4Bを介して導電性組成物2A、4Bに供給された金属イオンを用いて、金属膜3を形成することができる。   Further, by using a soluble metal on the anode side, that is, a metal that dissolves by electrolysis and supplies metal ions, metal ions generated by anodic dissolution can be supplied to the conductive composition 2A. For example, by using a soluble metal plate 20E, for example, a copper plate, instead of the probe 41 as shown in FIG. 6F, not only the metal ions of the conductive composition 2A but also the second conductive material from the metal plate. The metal film 3 can be formed using metal ions supplied to the conductive compositions 2A and 4B via the conductive composition 4B.

溶解性金属としては、通常の電気めっきにおいて公知の各種組成、例えば銅の場合は含りん銅、ニッケルの場合には硫黄含有ニッケル等を用いることができる。   As the soluble metal, various known compositions in normal electroplating, such as phosphorus-containing copper in the case of copper, sulfur-containing nickel in the case of nickel, and the like can be used.

溶解性金属を陽極とした場合には、めっき組成物2Aが所望の膜厚の金属膜を析出するために必要な金属イオンを有していない場合であっても、溶解性金属からの金属イオンが、めっき組成物2Aと基板20Aとの界面まで供給されるために、所望の膜厚の金属膜を析出することができる。   When the soluble metal is used as the anode, the metal ion from the soluble metal even if the plating composition 2A does not have a metal ion necessary for depositing a metal film having a desired film thickness. However, since it is supplied to the interface between the plating composition 2A and the substrate 20A, a metal film having a desired film thickness can be deposited.

さらに、図6(D)に示したようにめっき組成物2Aを表面に有する基板20Aから、めっき組成物2Aを剥離した場合に、めっき組成物2Aを移動制御可能な棒状体の一端部、例えばプローバーの探針(プローブ)の先端部に再配置することもできる。すなわち図7に示すようにプローバー50の探針51の先端部にめっき組成物2Aを再配置し、探針51とステージ52上の第3の基板である基板20Dとの間に電源40を配置する。プローバー50は、探針51とステージ52上の被めっき基板20Dとの相対関係をXYZの3方向に移動制御可能である。このため、基板20D上の所望の場所に、めっき組成物2Aの形状にパターニングされている金属膜3を複数、形成することができる。すなわち、プローバー50の探針51の位置および電源40の制御により、1つのめっき組成物2Aを用いて、複数のパターニングされた金属膜3を基板20D上に形成することができる。さらに、ステージ52上の基板を交換することにより、1つのめっき組成物2Aを用いて、複数の基板上に金属膜3を形成することができる。   Further, as shown in FIG. 6D, when the plating composition 2A is peeled from the substrate 20A having the plating composition 2A on the surface, one end of a rod-like body that can control the movement of the plating composition 2A, for example, It can be rearranged at the tip of the prober probe. That is, as shown in FIG. 7, the plating composition 2A is rearranged at the tip of the probe 51 of the prober 50, and the power source 40 is arranged between the probe 51 and the substrate 20D as the third substrate on the stage 52. To do. The prober 50 can control the movement of the relative relationship between the probe 51 and the substrate to be plated 20D on the stage 52 in three directions XYZ. For this reason, a plurality of metal films 3 patterned in the shape of the plating composition 2A can be formed at desired locations on the substrate 20D. That is, a plurality of patterned metal films 3 can be formed on the substrate 20D by using one plating composition 2A by controlling the position of the probe 51 of the prober 50 and the power source 40. Furthermore, by replacing the substrate on the stage 52, the metal film 3 can be formed on the plurality of substrates using one plating composition 2A.

なお、図6(C)に示したように、めっき組成物2Aを表面に有する基板20Aをめっき組成物2Aを介して第2の基板20Cと接合して金属膜3を形成した場合にも、めっき組成物2Aを第2の基板20Cから分離してさらに別の基板に接合することにより該別の基板に金属膜を形成することもできる。   As shown in FIG. 6C, even when the metal film 3 is formed by bonding the substrate 20A having the plating composition 2A on the surface to the second substrate 20C via the plating composition 2A, A metal film can be formed on another substrate by separating the plating composition 2A from the second substrate 20C and bonding it to another substrate.

さらに、すでに説明したように基板20Aが金属の溶解反応により金属イオンを供給する溶解性陽極機能を有する場合には、めっき組成物2Aに含まれていた金属イオン量に限定されることなく、所望の厚さ、所望の数の金属膜3を形成できる。さらには、めっき組成物2に金属イオンが含まれていなくとも、所望の厚さ、所望の数の金属膜3を形成できる。すなわち、めっき組成物2Aは金属膜を形成する領域を規定するために、被成膜面にパターニングを行うことなく、所望の金属膜パターンを形成することができる。また同じめっき組成物2Aが形成された基板20Aを用いて、複数の異なる基板に所望の金属膜パターンを形成することができる。   Further, as described above, when the substrate 20A has a soluble anode function of supplying metal ions by a metal dissolution reaction, the amount is not limited to the amount of metal ions contained in the plating composition 2A. A desired number of metal films 3 can be formed. Furthermore, a desired thickness and a desired number of metal films 3 can be formed even if the plating composition 2 does not contain metal ions. That is, the plating composition 2A can form a desired metal film pattern without patterning the deposition surface in order to define the region where the metal film is formed. A desired metal film pattern can be formed on a plurality of different substrates using the substrate 20A on which the same plating composition 2A is formed.

言い換えれば、めっき組成物2Aは所望部分に電気化学反応の電解質を固定することができる。パターニングされためっき組成物2Aが形成された基板20Aは、ゲル電解質をインク保持体とするインプリント用の版であり、これを用いることにより、いわゆるインプリントめっき法によりミニマルマニュファクチャリングに基づく金属の析出、すなわち構造体の作成を実現できる。   In other words, the plating composition 2A can fix the electrolyte for electrochemical reaction to a desired portion. The substrate 20A on which the patterned plating composition 2A is formed is an imprint plate having a gel electrolyte as an ink holding member. By using this, a metal based on minimal manufacturing by a so-called imprint plating method is used. Precipitation, that is, creation of a structure can be realized.

特に、パターニングされためっき組成物2Aが配設されたプローバー50の探針51により、基板上の所望の位置にパターニングを行うことなくミニマルマニュファクチャリングに基づく金属の析出を実現できる。   In particular, by the probe 51 of the prober 50 provided with the patterned plating composition 2A, metal deposition based on minimal manufacturing can be realized without patterning at a desired position on the substrate.

<第1の実施の形態の変形例>
以下、本発明の第1の実施の形態の変形例について説明する。本変形例は第1の実施の形態と類似しているため同じ説明は省略する。
<Modification of the first embodiment>
Hereinafter, modifications of the first embodiment of the present invention will be described. Since this modification is similar to the first embodiment, the same description is omitted.

第1の実施の形態の構造体の作製方法に用いる導電性組成物は電気めっき用のめっき組成物2Aであった。これに対して図8(A)、図8(B)に示すように、構造体として無電解めっき膜3Bが成膜可能な無電解めっき用のめっき組成物2B、または置換めっき膜3Cが成膜可能な置換めっき用のめっき組成物2Cを用いることもできる。めっき組成物2Bは公知の無電解めっき液を、めっき組成物2Cは公知の置換めっき液を参考に適宜、構成することができる。   The conductive composition used in the method for manufacturing the structure according to the first embodiment was a plating composition 2A for electroplating. On the other hand, as shown in FIGS. 8A and 8B, a plating composition 2B for electroless plating or a displacement plating film 3C capable of forming an electroless plating film 3B as a structure is formed. A plating composition 2C for displacement plating that can be formed into a film can also be used. The plating composition 2B can be appropriately configured with reference to a known electroless plating solution, and the plating composition 2C can be appropriately configured with reference to a known displacement plating solution.

まためっき組成物により作成した金属膜を下地膜として、電気めっきまたは無電解めっきを行って構造体を作成しても良い。前段工程でめっき組成物により作成した金属膜はパターニングされているために、後段工程の電気めっきまたは無電解めっきのときにマスク等を用いることなくパターニングされた構造体を得ることができる。例えば、めっき組成物により作成した金属膜を触媒層として用いることにより、後段工程の無電解めっきでは触媒化を行わずマスクレスにより、パターニングされた無電解めっき膜からなる構造体を得ることができる。なお、めっき組成物により作成した金属膜が触媒として機能しない場合であっても、後段工程の無電解めっきで触媒化処理を行うことによりマスクレスによりパターニングされた無電解めっき膜からなる構造体を得ることができる。   Alternatively, the structure may be formed by electroplating or electroless plating using a metal film made of a plating composition as a base film. Since the metal film prepared from the plating composition in the preceding step is patterned, a patterned structure can be obtained without using a mask or the like during the subsequent step of electroplating or electroless plating. For example, by using a metal film prepared from a plating composition as a catalyst layer, a structure composed of a patterned electroless plating film can be obtained without masking in the subsequent electroless plating without masking. . Even if the metal film prepared from the plating composition does not function as a catalyst, a structure composed of an electroless plating film patterned in a maskless manner by performing a catalyzing process by electroless plating in a subsequent step. Can be obtained.

<第2の実施の形態>
次に第2の実施の形態の構造体の作製方法に用いる導電性組成物であるエッチング用組成物7Aについて説明する。本実施の形態の構造体の作製方法等は第1の実施の形態の構造体の作製方法等と類似しているので同じ構成要素には同じ符号を付し説明は省略する。
<Second Embodiment>
Next, an etching composition 7A, which is a conductive composition used in the structure manufacturing method of the second embodiment, will be described. Since the structure manufacturing method and the like of the present embodiment are similar to the structure manufacturing method and the like of the first embodiment, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

本実施の形態の構造体の作製方法に用いる導電性組成物は、電気化学反応である金属の溶解反応を行うためのエッチング用組成物7Aである。すなわちエッチング用組成物7Aを用いることにより、被エッチング基板の表面の金属層、例えば配線板の銅配線パターンの一部を溶解するために用いることができる。   The conductive composition used in the structure manufacturing method of the present embodiment is an etching composition 7A for performing a metal dissolution reaction that is an electrochemical reaction. That is, by using the etching composition 7A, the metal layer on the surface of the substrate to be etched, for example, a part of the copper wiring pattern of the wiring board can be dissolved.

エッチング用組成物7Aは、めっき組成物2A等と同様に、ゲル化剤と、導電性イオンと、溶媒と、を有しているが、金属の溶解反応を行うための組成物であるために金属イオンを有している必要がない点においてのみ異なる。エッチング用組成物7Aは、公知のエッチング溶液を参考に適宜、構成することができる。   Etching composition 7A has a gelling agent, conductive ions, and a solvent in the same manner as plating composition 2A and the like, but is a composition for performing a metal dissolution reaction. It differs only in that it does not need to have metal ions. The etching composition 7A can be appropriately configured with reference to a known etching solution.

例えば、図9(A)に示すように、導電性基板20Cの表面に、ミアンダパターンを残す形のパターンにゲル状態のエッチング用組成物7A(エッチング前のゲルパターン)が形成される。エッチング用組成物7Aのパターン化はめっき組成物2Aと同様の方法を用いることができる。そして図9(B)の矢印で示すように、エッチング用組成物7Aを介して、銅膜20E1が樹脂基板20E2と張り合わされた銅積層板20Eが導電性基板20Cと接合される。その後、銅膜20E1と導電性基板20Cとの間に電源40により直流電流を印加することにより、銅膜20E1のエッチング用組成物7Aと接触している部分の金属銅が銅イオンとなりエッチング用組成物7A側に移動する。すなわち、銅膜20E1がパターンエッチングされる。   For example, as shown in FIG. 9A, the etching composition 7A (gel pattern before etching) in a gel state is formed in a pattern that leaves a meander pattern on the surface of the conductive substrate 20C. The patterning of the etching composition 7A can use the same method as the plating composition 2A. 9B, the copper laminate 20E in which the copper film 20E1 is bonded to the resin substrate 20E2 is bonded to the conductive substrate 20C via the etching composition 7A. Thereafter, by applying a direct current between the copper film 20E1 and the conductive substrate 20C by the power source 40, the portion of the copper film 20E1 in contact with the etching composition 7A becomes copper ions, and the etching composition Move to the object 7A side. That is, the copper film 20E1 is pattern etched.

エッチング後には、図10(B)の矢印に示すように導電性基板20Cから銅積層板20Eは分離される。図10(A)に示すように分離された銅積層板20Eは樹脂基板20E2上にミアンダパターンの銅膜(エッチング後の銅膜パターン)20E1を有する構造体8となる。なお、エッチング用組成物7Aが形成された導電性基板20Cは再利用、すなわち別の銅積層板のエッチングに用いることができる。   After the etching, the copper laminate 20E is separated from the conductive substrate 20C as indicated by the arrow in FIG. As shown in FIG. 10A, the separated copper laminate 20E becomes a structure 8 having a copper film (a copper film pattern after etching) 20E1 having a meander pattern on the resin substrate 20E2. The conductive substrate 20C on which the etching composition 7A is formed can be reused, that is, used for etching another copper laminate.

また、図11に示すように、エッチング用組成物7Aを、プローバー50の探針51の先端部に配設することにより、たとえば微細な金属配線を表面に有する配線板の金属配線の一部のみを溶解して切断することも可能である。プローバー50の探針51の先端部に配設したエッチング用組成物7Aは複数回、エッチングに用いることができる。   Further, as shown in FIG. 11, by disposing the etching composition 7A at the tip of the probe 51 of the prober 50, for example, only a part of the metal wiring of the wiring board having fine metal wiring on the surface thereof. It is also possible to dissolve and cut. The etching composition 7A disposed at the tip of the probe 51 of the prober 50 can be used for etching a plurality of times.

さらに、電解エッチング反応ではなく、ケミカルエッチング反応を用いるエッチング用組成物を用いることも可能である。   Furthermore, it is also possible to use an etching composition that uses a chemical etching reaction instead of an electrolytic etching reaction.

そして、第1の実施の形態で説明した種々の方法は本実施の形態においても用いることができる。例えば、エッチング用組成物7はスクリーン印刷法またはメタルマスク印刷法を用いて形成することもできる。   The various methods described in the first embodiment can also be used in this embodiment. For example, the etching composition 7 can also be formed using a screen printing method or a metal mask printing method.

また第1の実施の形態と同様に、エッチング用組成物7Aが形成された基板、または配設された探針51を用いて、同一基板の複数箇所の金属膜をパターンエッチングすることができるだけでなく、複数の異なる基板の金属膜をパターンエッチングすることができる。   Similarly to the first embodiment, it is only possible to pattern-etch a plurality of metal films on the same substrate using the substrate on which the etching composition 7A is formed or the probe 51 provided. In addition, the metal films on a plurality of different substrates can be pattern etched.

言い換えれば、エッチング用組成物7Aは所望部分に電気化学反応の電解質を固定することができる。パターニングされたエッチング用組成物7Aが形成された基板または探針51は、ゲル電解質をインク保持体とするインプリント用の版であり、これを用いることにより、いわゆるインプリントエッチング法によりミニマルマニュファクチャリングに基づく金属の溶解を実現できる。   In other words, the etching composition 7A can fix the electrolyte for electrochemical reaction at a desired portion. The substrate or probe 51 on which the patterned etching composition 7A is formed is an imprint plate using a gel electrolyte as an ink holding member, and by using this, a minimal manufacturable by a so-called imprint etching method. Metal melting based on charing can be realized.

特に、パターニングされたエッチング用組成物7Aが配設されたプローバー50の探針51により、基板上の所望の位置にパターニングを行うことなくミニマルマニュファクチャリングに基づく金属の溶解を実現できる。   In particular, by using the probe 51 of the prober 50 in which the patterned etching composition 7A is disposed, it is possible to achieve metal melting based on minimal manufacturing without patterning at a desired position on the substrate.

<実施上の留意点>
なお、上記で説明した各種の電気化学反応では副反応として水素発生を伴う場合もある。導電性組成物2A等は水素発生によりゲルが劣化するため、水素発生の少ない電気化学反応が適している。例えば、電気めっきでは高濃度硫酸銅めっき、無電解めっきでは金めっき、置換めっきでは銅めっきが、導電性組成物2A等による反応に特に適している。
<Notes on implementation>
Note that the various electrochemical reactions described above may involve hydrogen generation as a side reaction. The conductive composition 2A or the like is suitable for an electrochemical reaction with less hydrogen generation because the gel deteriorates due to hydrogen generation. For example, high-concentration copper sulfate plating for electroplating, gold plating for electroless plating, and copper plating for displacement plating are particularly suitable for reactions with the conductive composition 2A and the like.

また、電気化学反応は温度が高い方が進行速度が速く良質なめっき膜を高速成膜可能なことがある。このため、めっき組成物2A等がゾル化しない温度範囲であれば電気化学反応を行う際に加熱してもよい。   In addition, the electrochemical reaction has a higher traveling speed when the temperature is higher, and a high-quality plated film may be formed at high speed. For this reason, you may heat when performing an electrochemical reaction, if the plating composition 2A grade | etc., Is the temperature range which does not sol.

ゲル状態のめっき組成物2A等は、めっき液に比べて乾燥しにくいが、より乾燥を防止するための手段を併用してもよい。特に加温した場合には乾燥が促進されるため乾燥を防止するための手段を併用することが好ましい。乾燥を防止するための手段としては、高湿度状態の雰囲気に保持するために、密閉した狭い空間内での保存および使用、例えば基板上に吐出した直後から、めっき組成物2Aを小さな箱にいれて密閉して保存することが好ましい。さらに箱の中を飽和水蒸気圧とするため水を含浸した不織布等とともに保存することが好ましい。   The gel-state plating composition 2A and the like are harder to dry than the plating solution, but may be used in combination with means for preventing drying. In particular, when heated, drying is promoted, so it is preferable to use a means for preventing drying. As a means for preventing the drying, in order to keep the atmosphere in a high humidity state, the plating composition 2A is put in a small box immediately after being stored and used in a sealed narrow space, for example, immediately after being discharged onto the substrate. It is preferable to store in a sealed state. Further, it is preferable to store the inside of the box together with a nonwoven fabric impregnated with water in order to obtain a saturated water vapor pressure.

なお、めっき組成物2A等が乾燥してしまった場合には前記方法またはめっき組成物2Aからゲル化剤を抜いた溶液(めっき液)と接触させる方法等により溶媒を補充することもできる。また溶媒と同様にめっき組成物2A中の金属イオンが電気化学反応により枯渇してしまった場合には補充することもできる。   In addition, when plating composition 2A etc. have dried, a solvent can also be replenished by the method of making it contact with the solution (plating liquid) which removed the gelatinizer from the said method or plating composition 2A. Similarly to the solvent, when the metal ions in the plating composition 2A are depleted by an electrochemical reaction, they can be replenished.

なおゲル状態のめっき組成物2A等の表面は内部に比べれば室温においても乾燥しやすい。めっき組成物2Aの表面のみが乾燥した場合であっても、プローブ41等との接触抵抗が大きくなってしまい電気化学反応の妨げとなる。表面が乾燥しやすいゲルを用いる場合には、乾燥を防止するための手段を用いることが好ましく、密閉した狭い空間内での使用、例えば基板上に吐出した直後から、めっき組成物2Aを小さな箱にいれて密閉して保存することが好ましい。さらに箱の中を飽和水蒸気圧とするため水を含浸した不織布等とともに保存することが好ましい。表面が乾燥しやすいゲルが乾燥した場合には、パターン化されためっき組成物2A、ゲル状態の第2の導電性組成物4A、4Bを溶媒でぬらすことにより接触抵抗を低減できる。またはプローブ41、第2の基板20A1、溶解性金属の板20E、銅積層板20C等のゲル状態のめっき組成物2A等と接触するものを溶媒でぬらしてもよい。あるいはゲルに圧力をかけ、内部の溶媒を表面部に移動することにより接触抵抗を低減できる。またプローブ41を用いる場合には乾燥していない内部にまでプローブ41の先端部を挿入することにより接触抵抗を低減できる。   It should be noted that the surface of the gel-like plating composition 2A and the like is easily dried at room temperature as compared with the inside. Even when only the surface of the plating composition 2A is dried, the contact resistance with the probe 41 and the like is increased, which hinders the electrochemical reaction. In the case of using a gel whose surface is easy to dry, it is preferable to use a means for preventing drying, and the plating composition 2A is put into a small box immediately after being used in a closed narrow space, for example, after being discharged onto the substrate. It is preferable to store in a sealed state. Further, it is preferable to store the inside of the box together with a nonwoven fabric impregnated with water in order to obtain a saturated water vapor pressure. When the gel whose surface is easy to dry is dried, the contact resistance can be reduced by wetting the patterned plating composition 2A and the second conductive compositions 4A and 4B in a gel state with a solvent. Alternatively, the probe 41, the second substrate 20 </ b> A <b> 1, the soluble metal plate 20 </ b> E, the copper-plated plate 20 </ b> C, and the like that are in contact with the gel-state plating composition 2 </ b> A may be wetted with a solvent. Alternatively, the contact resistance can be reduced by applying pressure to the gel and moving the internal solvent to the surface. Further, when the probe 41 is used, the contact resistance can be reduced by inserting the tip portion of the probe 41 to the inside which is not dried.

また化学的に不安定なめっき組成物2の場合には含有する成分を別々に保存しておき、別々に開口を介して吐出してめっき組成物2Aを作成してもよい。例えば、無電解めっき用のめっき組成物2Bでは、還元剤含有組成物と、金属イオン含有組成物を別々に吐出して作成してもよい。   In the case of the chemically unstable plating composition 2, the components contained may be stored separately and discharged separately through the opening to create the plating composition 2 </ b> A. For example, in the plating composition 2B for electroless plating, the reducing agent-containing composition and the metal ion-containing composition may be separately ejected.

さらに、めっき組成物2Aを用いた電気化学反応は空気中の酸素の影響を受けにくい。このため、従来は窒素雰囲気下でなければ行うことのできなかった嫌気性めっき反応を大気中で行うことができる。例えば、還元剤として2価の鉄イオン、金属イオンとして銅イオンを有する無電解めっき組成物2Bを用いた無電解銅めっき反応は大気中で行うことができる。   Furthermore, the electrochemical reaction using the plating composition 2A is not easily affected by oxygen in the air. For this reason, the anaerobic plating reaction which could not be performed only in a nitrogen atmosphere can be performed in the air. For example, the electroless copper plating reaction using the electroless plating composition 2B having divalent iron ions as the reducing agent and copper ions as the metal ions can be performed in the atmosphere.

本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等ができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various changes and modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

2、2A、…めっき用組成物、2B…無電解めっき用組成物、、2C…置換めっき用組成物、3…金属膜、4A、4B…導電性組成物、6…フォトレジスト、7A…エッチング用組成物、8…構造体、10…ディスペンサ装置、10A…本体部、11…ディスペンサ、12…キャピラリ、13…開口、14…ステージ、20、20A〜20D…基板、30…スクリーン印刷装置、31…スクリーン、32…開口、33…スキージ、40…電源、41…プローブ、42…導電層、50…プローバー、51…探針、52…ステージ 2, 2A,... Plating composition, 2B, electroless plating composition, 2C, displacement plating composition, 3 ... metal film, 4A, 4B ... conductive composition, 6 ... photoresist, 7A ... etching 8 ... structure, 10 ... dispenser device, 10A ... main body, 11 ... dispenser, 12 ... capillary, 13 ... opening, 14 ... stage, 20, 20A-20D ... substrate, 30 ... screen printing device, 31 ... Screen, 32 ... Opening, 33 ... Squeegee, 40 ... Power supply, 41 ... Probe, 42 ... Conductive layer, 50 ... Prober, 51 ... Probe, 52 ... Stage

Claims (21)

ゲル化剤と、電気化学反応を行うための導電性イオンと、溶媒と、を有する導電性組成物をゾル状態とするゾル化工程と、
ゾル状態の前記導電性組成物を基板上で所定のパターン形状とするパターン形成工程と、
前記所定のパターン形状の前記導電性組成物をゲル状態とするゲル化工程と、
ゲル状態の前記導電性組成物を用いて電気化学反応を行う電気化学反応工程と、を具備することを特徴とする構造体の作製方法。
A solating step of bringing a conductive composition having a gelling agent, a conductive ion for performing an electrochemical reaction, and a solvent into a sol state;
A pattern forming step in which the conductive composition in a sol state has a predetermined pattern shape on a substrate;
A gelation step of bringing the conductive composition of the predetermined pattern shape into a gel state;
And an electrochemical reaction step of performing an electrochemical reaction using the conductive composition in a gel state.
前記ゾル化工程において前記導電性組成物を加温し、前記ゲル化工程において前記導電性組成物を冷却することを特徴とする請求項1に記載の構造体の作製方法。   The method for manufacturing a structure according to claim 1, wherein the conductive composition is heated in the sol formation step, and the conductive composition is cooled in the gelation step. 前記ゾル化工程において、前記導電性組成物に圧力を印加することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の構造体の作製方法。   3. The method for manufacturing a structure according to claim 1, wherein pressure is applied to the conductive composition in the sol formation step. 前記ゾル化工程において、前記導電性組成物に剪断応力を印加することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。   The method for producing a structure according to any one of claims 1 to 3, wherein a shear stress is applied to the conductive composition in the sol formation step. 前記パターン形成工程において、前記ゾル状態の前記導電性組成物を開口から吐出することにより前記所定のパターン形状とすることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の構造体の作製方法   5. The structure according to claim 1, wherein, in the pattern forming step, the conductive pattern in the sol state is discharged from an opening to form the predetermined pattern shape. 6. Body production method 前記開口がキャピラリの開口であることを特徴とする請求項5に記載の構造体の作製方法。   6. The structure manufacturing method according to claim 5, wherein the opening is an opening of a capillary. 前記開口がスクリーン印刷のスクリーンの開口、またはメタルマスク印刷のメタルマスクの開口であることを特徴とする請求項5に記載の構造体の作製方法。   6. The structure manufacturing method according to claim 5, wherein the opening is an opening of a screen for screen printing or an opening of a metal mask for metal mask printing. 前記パターン形成工程において、基板に形成したフォトレジストパターンを用いることにより前記所定のパターン形状とすることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。   The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 6, wherein in the pattern formation step, the predetermined pattern shape is obtained by using a photoresist pattern formed on a substrate. 前記溶媒は水であることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。   The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 8, wherein the solvent is water. 前記ゲル化工程においてゲル状態とする前記導電性組成物を表面に有する前記基板と、第2の基板とを前記導電性組成物を介して接合し、前記電気化学反応工程を前記第2の基板上で行うことを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。   The substrate having the conductive composition in a gel state in the gelation step and the second substrate are joined via the conductive composition, and the electrochemical reaction step is performed on the second substrate. The method for producing a structure according to any one of claims 1 to 9, wherein the method is performed as described above. 前記ゲル化工程においてゲル状態とする前記導電性組成物を前記基板上から剥離し、第3の基板上に再配置する再配置工程をさらに有し、
前記電気化学反応工程を前記第3の基板上で行うことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。
Further comprising a rearrangement step of peeling the conductive composition in a gel state in the gelation step from the substrate and rearranging the conductive composition on a third substrate;
The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 9 , wherein the electrochemical reaction step is performed on the third substrate.
前記ゲル化工程においてゲル状態とした前記導電性組成物を、前記基板上から移動制御可能な棒状体の一端部に、配設する配設工程と、
前記棒状体を移動制御し、前記導電性組成物を第3の基板上に再配置する再配置工程と、をさらに有し、
前記電気化学反応工程を前記第3の基板上で行うことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。
A disposing step of disposing the conductive composition in a gel state in the gelling step on one end of a rod-shaped body whose movement can be controlled from the substrate;
A rearrangement step of controlling the movement of the rod-shaped body and rearranging the conductive composition on a third substrate,
The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 9 , wherein the electrochemical reaction step is performed on the third substrate.
前記棒状体が、プローバーの探針であることを特徴とする請求項12に記載の構造体の作製方法。   The method for producing a structure according to claim 12, wherein the rod-like body is a prober of a prober. 前記導電性イオンが金属イオンを有し、
前記電気化学反応が前記金属イオンの析出反応であることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。
The conductive ions have metal ions;
The method for manufacturing a structure according to claim 1, wherein the electrochemical reaction is a precipitation reaction of the metal ions.
前記電気化学反応が金属イオンの析出反応であり、
前記金属イオンが、金属の溶解反応により前記溶媒に供給されることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。
The electrochemical reaction is a precipitation reaction of metal ions,
The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 13, wherein the metal ions are supplied to the solvent by a metal dissolution reaction.
前記電気化学反応金属の溶解反応であることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。 The method for manufacturing a structure according to any one of claims 1 to 13 , wherein the electrochemical reaction is a metal dissolution reaction. 前記ゲル化工程においてゲル状態とする前記所定のパターン形状の前記導電性組成物の上に、導電性イオンを有するゲル状態の第2の導電性組成物を配置し、前記導電性組成物と前記第2の導電性組成物とを電気的に接触状態とする第2の導電性組成物配置工程をさらに有し、
前記電気化学反応工程において、前記第2の導電性組成物を介して前記導電性組成物に電流を印加することを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の構造体の作製方法。
A second conductive composition in a gel state having conductive ions is disposed on the conductive composition having the predetermined pattern shape to be in a gel state in the gelation step, and the conductive composition and the A second conductive composition arranging step of bringing the second conductive composition into electrical contact with the second conductive composition;
In the electrochemical reaction step structure according to any one of the second conductive composition via and applying a current to the conductive composition according to claim 1 to claim 13 Manufacturing method.
前記第2の導電性組成物が、複数の前記所定のパターン形状の前記導電性組成物の上に配置されることを特徴とする請求項17に記載の構造体の作製方法。   The method for manufacturing a structure according to claim 17, wherein the second conductive composition is disposed on the plurality of the conductive compositions having the predetermined pattern shape. 前記導電性組成物または前記第2の導電性組成物の少なくともいずれかの前記導電性イオンが金属イオンを有し、
前記電気化学反応が前記金属イオンの析出反応であることを特徴とする請求項17または請求項18に記載の構造体の作製方法。
The conductive ion of at least one of the conductive composition or the second conductive composition has a metal ion,
The method for producing a structure according to claim 17 or 18, wherein the electrochemical reaction is a precipitation reaction of the metal ions.
前記電気化学反応が金属イオンの析出反応であり、
前記金属イオンが、金属の溶解反応により前記溶媒に供給されることを特徴とする請求項17または請求項18に記載の構造体の作製方法。
The electrochemical reaction is a precipitation reaction of metal ions,
The method for manufacturing a structure according to claim 17 , wherein the metal ions are supplied to the solvent by a metal dissolution reaction.
前記電気化学反応金属の溶解反応であることを特徴とする請求項17または請求項18に記載の構造体の作製方法。 The method for manufacturing a structure according to claim 17 or 18, wherein the electrochemical reaction is a metal dissolution reaction.
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