JP5364968B2 - Optical scanning device, multi-beam optical scanning device, image forming apparatus - Google Patents

Optical scanning device, multi-beam optical scanning device, image forming apparatus Download PDF

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Description

本発明は、光源装置から射出された光ビームをカップリングするカップリング光学系と、カップリング光学系からの光ビームを主走査方向に長く略線上に集光する第1光学系と、第1光学系からの光ビームを偏向走査する、偏向手段としての回転多面鏡、光源からの光ビームを、被走査面に集光する走査光学系とを持つ光走査装置等に関する発明である。   The present invention includes a coupling optical system for coupling a light beam emitted from a light source device, a first optical system for condensing the light beam from the coupling optical system in a substantially long line in the main scanning direction, The present invention relates to a rotary polygon mirror as a deflecting unit that deflects and scans a light beam from an optical system, and an optical scanning device that includes a scanning optical system that focuses a light beam from a light source on a surface to be scanned.

近年、レーザープリンタや複写機のカラー化が急速に進んでいる。このため、これらの機器に用いられる光走査装置にも複数の感光体に対して一度に複数の走査線を形成できるものが求められてきている。   In recent years, colorization of laser printers and copiers is rapidly progressing. For this reason, optical scanning devices used in these devices are also required to be able to form a plurality of scanning lines at a time for a plurality of photosensitive members.

このような要求を満足する方式としてはいくつかの方法が考えられるが、例えばCMYKに対応した四つの感光体を並べるタンデム方式などがある。   Several methods are conceivable as methods that satisfy such a requirement. For example, there is a tandem method in which four photoconductors corresponding to CMYK are arranged.

タンデム方式に適した、低コストな走査光学系として、光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に角度をもって入射する斜入射光学系がある。複数の光束を偏向面の副走査断面中心に向けて斜入射させることで、偏向面の副走査方向高さを低減した低コストな光偏向器の採用を可能としている。   As a low-cost scanning optical system suitable for the tandem system, there is an oblique incidence optical system that makes an incident with an angle in the sub-scanning direction with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the optical deflector. By making a plurality of light beams obliquely incident toward the center of the sub-scanning section of the deflection surface, it is possible to employ a low-cost optical deflector in which the height of the deflection surface in the sub-scanning direction is reduced.

しかし、斜入射光学系には、「走査線曲がり」が大きいという問題がある。この走査線曲がり発生量は、前記各光ビームの副走査方向の斜入射角により異なり、各々の光ビームで描かれた潜像を各色のトナーにより重ね合わせ可視化した際に、色ずれとなって現れてしまう。また、斜入射することにより、光束が走査レンズにねじれて入射することで、波面収差も増大し、特に周辺の像高で光学性能が著しく劣化し、ビームスポット径が太ってしまい、高画質化を妨げる要因となる。   However, the oblique incidence optical system has a problem that “scanning line bending” is large. The amount of bending of the scanning line varies depending on the oblique incident angle of each light beam in the sub-scanning direction, and color misregistration occurs when the latent images drawn by the respective light beams are superimposed and visualized with the respective color toners. Appears. In addition, the oblique incident light causes the light beam to be twisted and incident on the scanning lens, thereby increasing the wavefront aberration. Particularly, the optical performance is significantly deteriorated at the peripheral image height, the beam spot diameter is increased, and the image quality is improved. It becomes a factor to prevent.

斜入射光学系では、光源側からの光束をポリゴンミラーの回転軸に向けて入射させるために、主走査方向で走査レンズの光軸と重なる位置に光源を配置した場合、走査レンズとの干渉を避けるために斜入射角は増大してしまう。   In the oblique incidence optical system, when the light source is arranged at a position overlapping with the optical axis of the scanning lens in the main scanning direction so that the light beam from the light source side is incident on the rotation axis of the polygon mirror, interference with the scanning lens is caused. In order to avoid this, the oblique incident angle increases.

斜め入射方式に固有の「大きな走査線曲がり」を補正する方法として、走査結像光学系に「副走査断面内におけるレンズ面の固有傾きを、走査線曲がりを補正するように主走査方向へ変化させたレンズ面を有するレンズ」を含める方法(特許文献1)や、走査結像光学系に「副走査断面内における反射面の固有傾きを、走査線曲がりを補正するように主走査方向へ変化させた反射面を有する補正反射面」を含める方法(特許文献2)等が提案されている。   As a method of correcting the “large scanning line bending” inherent to the oblique incidence method, the scanning imaging optical system “changes the inherent inclination of the lens surface in the sub-scan section in the main scanning direction so as to correct the scanning line bending. In the scanning imaging optical system, the “inherent inclination of the reflecting surface in the sub-scanning section is changed in the main scanning direction so as to correct the scanning line curvature”. A method of including a “corrected reflecting surface having a reflected surface” (Patent Document 2) has been proposed.

また、特許文献3においては、斜入射される光束を走査レンズの軸外を通し、走査レンズの子線の非球面量を主走査方向に沿って変化させる面を用いて走査線の位置を揃える方法が提案されている。本公報においては、1枚の走査レンズにて補正を行う例を挙げており、前記走査線曲がりの補正は可能であるが、以下に説明する波面収差増大によるビームスポット径の劣化については記述されていない。   Further, in Patent Document 3, the obliquely incident light beam passes off the axis of the scanning lens, and the position of the scanning line is aligned using a surface that changes the aspherical amount of the child line of the scanning lens along the main scanning direction. A method has been proposed. In this publication, an example in which correction is performed with one scanning lens is given, and the scanning line bending can be corrected. However, the beam spot diameter deterioration due to an increase in wavefront aberration described below is described. Not.

また、偏向器に入射する複数の光束を副走査断面内において偏向面の法線に対して異なる角度で斜入射させる走査光学系において、共通に使用するレンズの副走査断面内のパワーを略ゼロとしたものとして、特許文献4「光走査装置及びそれを用いた画像形成装置」がある。   Further, in a scanning optical system in which a plurality of light beams incident on the deflector are incident obliquely at different angles with respect to the normal line of the deflection surface in the sub-scan section, the power in the sub-scan section of the commonly used lens is substantially zero. Patent Document 4 “Optical scanning device and image forming apparatus using the same” is disclosed.

共通に使用するレンズの副走査断面内のパワーを略ゼロとすることで、走査線曲がりの発生を抑えることは可能であるが、以下に説明する波面収差増大によるビームスポット径の劣化ついては記述されていない。   Although it is possible to suppress the occurrence of scanning line bending by setting the power in the sub-scan section of the commonly used lens to be substantially zero, the deterioration of the beam spot diameter due to the increase of wavefront aberration described below will be described. Not.

斜め入射方式における今1つの問題は、光線スキューにより周辺像高(走査線の両端部近傍)で波面収差の大きな劣化が発生し易いことである。このような波面収差が生じると、周辺像高で光スポットのスポット径が大径化してしまう。この問題を解決できないと、近来強く要請されている「高密度の光走査」を実現できない。上記公報記載の光走査装置では、斜め入射方式に特有の大きな走査線曲がりが極めて良好に補正されているが、上記波面収差の補正は十分といえない。   Another problem with the oblique incidence method is that a large wavefront aberration is likely to occur at the peripheral image height (near both ends of the scanning line) due to the light beam skew. When such wavefront aberration occurs, the spot diameter of the light spot increases at the peripheral image height. If this problem cannot be solved, “high-density optical scanning”, which has been strongly demanded recently, cannot be realized. In the optical scanning device described in the above publication, a large scanning line curve peculiar to the oblique incidence method is corrected extremely well, but the correction of the wavefront aberration is not sufficient.

斜め入射方式の問題点といえる上記「走査線曲がりと波面収差の劣化」を良好に補正できる光走査装置として、走査結像光学系に複数の回転非対称レンズを含め、これら回転非対称レンズのレンズ面の子線頂点を結ぶ母線形状を副走査方向に湾曲させたものが提案されている(特許文献5)。   As an optical scanning device that can satisfactorily correct the above-mentioned “scan line bending and wavefront aberration degradation” which can be said to be a problem with the oblique incidence method, the scanning imaging optical system includes a plurality of rotationally asymmetric lenses, and the lens surfaces of these rotationally asymmetric lenses. There has been proposed one in which the shape of a bus connecting the child line vertices is curved in the sub-scanning direction (Patent Document 5).

しかし、上記「子線頂点を結ぶ母線形状を副走査方向に湾曲させたレンズ面」を有するレンズは母線を湾曲させることで諸問題を解決しており、入射光束に対応した個別の走査レンズが必要となるため、タンデム型の走査光学系に適用する場合、走査レンズの枚数が増大してしまう。   However, the lens having the “lens surface curved in the sub-scanning direction of the generatrix connecting the child vertexes” solves various problems by curving the generatrix, and an individual scanning lens corresponding to the incident light beam Therefore, when applied to a tandem scanning optical system, the number of scanning lenses increases.

走査レンズ枚数低減のために偏向器側のレンズを共通化し、異なる被走査面に向かう複数の光束を入射させた場合、母線形状を湾曲させることにより一方の光束に対しては諸問題の解決がなされるが、他方の光束については走査線曲がりや波面収差を低減させることは難しい。   When a common lens is used on the deflector to reduce the number of scanning lenses and multiple light beams traveling toward different scanning surfaces are incident, the problem is solved for one light beam by curving the shape of the generatrix. However, it is difficult to reduce scanning line bending and wavefront aberration for the other light flux.

また、副走査方向に曲率を持つため、組み付け誤差、加工誤差、環境変動等の影響により、同レンズに入射する光束が副走査方向にシフトした場合、副走査方向のレンズの屈折力の影響を受け、走査線曲がりの形状が変化し、カラー画像における初期の(または設計時の)色ずれ抑制の効果は得られず、色ずれが発生してしまう課題がある。   Also, since it has a curvature in the sub-scanning direction, if the light beam incident on the lens shifts in the sub-scanning direction due to the effects of assembly errors, processing errors, environmental fluctuations, etc., the influence of the refractive power of the lens in the sub-scanning direction Therefore, there is a problem in that the shape of the scanning line curve changes, the effect of suppressing the initial (or design) color shift in the color image cannot be obtained, and color shift occurs.

また、特許文献6においては、偏向面に対して垂直入射する光束と斜入射する光束とを単一の偏向器で偏向し、それぞれ異なる被走査面に結像させる光学系が開示されている。   Further, Patent Document 6 discloses an optical system in which a light beam perpendicularly incident on a deflecting surface and a light beam obliquely incident are deflected by a single deflector to form images on different scanned surfaces.

しかし、偏向面に対して垂直入射する光束が二つあるために、その光束分離には偏向面が二段のポリゴンミラーを必要となり、低コスト化の点で課題がある。また、偏向面が二段であるために、風損の影響による消費電力アップが生じてしまい省エネ化の点でも課題がある。
特開平11−14932号公報 特開平11−38348号公報 特開2004−70109号公報 特開2005−62834 特開平10−73778号公報 特開2005−92148号公報
However, since there are two light beams that are perpendicularly incident on the deflection surface, a polygon mirror having a two-stage deflection surface is required for separating the light beams, which is problematic in terms of cost reduction. In addition, since the deflection surface has two stages, power consumption is increased due to the influence of windage loss, and there is a problem in terms of energy saving.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-14932 Japanese Patent Laid-Open No. 11-38348 JP 2004-70109 A JP 2005-62834 A Japanese Patent Laid-Open No. 10-73778 JP-A-2005-92148

これらの事情に鑑み、本発明では、光源装置から射出された光ビームをカップリングするカップリング光学系と、カップリング光学系からの光ビームを主走査方向に長く略線上に集光する第1光学系と、第1光学系からの光ビームを偏向走査する、偏向手段としての回転多面鏡、光源からの光ビームを、被走査面に集光する走査光学系とを持つ光走査装置において、光源装置からの光ビームを光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に角度を持つ斜め入射方式の光走査装置における走査線曲がりと波面収差の劣化を有効に補正した光走査装置の実現を第1の目的としている。   In view of these circumstances, in the present invention, a coupling optical system that couples a light beam emitted from the light source device, and a first light beam that converges the light beam from the coupling optical system on a substantially long line in the main scanning direction. In an optical scanning device having an optical system, a rotating polygon mirror as a deflecting means for deflecting and scanning a light beam from the first optical system, and a scanning optical system for condensing the light beam from a light source on a scanned surface, Optical scanning device that effectively corrects scanning line bending and wavefront aberration degradation in an oblique incidence type optical scanning device having an angle in the sub-scanning direction with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the optical deflector. Is the first purpose.

また、光偏向器の小型化や、マルチビームによる光偏向器である回転多面鏡の回転数低下による消費電力の低下など、環境を考慮した光走査装置の実現、及び、前記説明の目的を達成する画像形成装置の実現を、第2の目的としている。   In addition, the realization of the optical scanning device considering the environment, such as the miniaturization of the optical deflector and the reduction of the power consumption due to the decrease in the rotational speed of the rotary polygon mirror, which is an optical deflector by multi-beams, and the purpose of the above description are achieved. The second object is to realize the image forming apparatus.

上記目的を達成する本発明の態様は、光ビームを発する複数の光源装置と、前記光源装置から発した複数の光ビームを同一偏向面で偏向走査する光偏向器と、前記光偏向器によって偏向された複数の光ビームをそれぞれ異なる被走査面に結像させる結像光学系を有し、前記光源装置から発した複数の光ビームが前記光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に所定の角度をもって入射し、前記結像光学系が同一偏向面で偏向走査された全ての光ビームが共に通過する第1レンズ群と、被走査面ごとに備えられた第2レンズ群とからなる光走査装置において、光偏向器での反射点と、第1レンズ群の最も偏向器に近いレンズへの入射点とが、基準平面に対して互いに反対側に配置され、前記第1レンズ群は、光学面基準軸を含む副走査断面内におけるパワーはゼロまたは略ゼロであり、かつ、射出面の副走査断面内の曲率が光学面基準軸より離れるに従い変化することにより光学面基準軸に平行な副走査断面内におけるパワーの絶対値が大きくなるレンズ一枚からなり、前記光学面基準軸より離れるに従い副走査断面内における負のパワーが強くなり、前記基準平面は、偏向器の回転軸と直交し前記光学面基準軸を含む平面であることを特徴とする光走査装置に関するものである。 An aspect of the present invention that achieves the above object includes a plurality of light source devices that emit light beams, a light deflector that deflects and scans a plurality of light beams emitted from the light source devices on the same deflection surface, and deflection by the light deflector. A plurality of light beams formed on different scanning surfaces, and the plurality of light beams emitted from the light source device are sub-scanned with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the optical deflector. A first lens group that is incident at a predetermined angle in the direction and through which all light beams deflected and scanned by the imaging optical system on the same deflecting surface pass, and a second lens group provided for each scanned surface; In the optical scanning device, the reflection point on the optical deflector and the incident point on the lens closest to the deflector of the first lens group are arranged on opposite sides with respect to a reference plane, and the first lens A group is a sub-scan section including an optical surface reference axis. And the absolute value of the power in the sub-scan section parallel to the optical surface reference axis is changed by changing the curvature of the exit surface in the sub-scan section along the distance from the optical surface reference axis. made from a single larger lens, wherein Ri a strong negative power in the sub-scanning cross-section with increasing distance from the optical surface reference axis, said reference plane is the plane containing the optical surface reference axis perpendicular to the rotation axis of the deflector der is Rukoto relates to an optical scanning apparatus according to claim.

また、前記第1レンズ群の光学面基準軸を含む副走査断面における副走査方向の曲率はゼロまたは略ゼロであることを特徴とする。   The curvature in the sub-scanning direction in the sub-scanning section including the optical surface reference axis of the first lens group is zero or substantially zero.

また、前記第2レンズ群の少なくとも一つの面は、副走査方向に曲率を持たない面で構成され、かつ、前記光学面基準軸からの距離に応じて副走査方向のチルト偏心角度が変化する特殊チルト偏心面を少なくとも一面有することを特徴とする。そして、前記第2レンズ群の特殊チルト偏心面の偏心量は、前記光学面基準軸を含む副走査断面内ではゼロであることを特徴とする。   Further, at least one surface of the second lens group is configured by a surface having no curvature in the sub-scanning direction, and a tilt eccentric angle in the sub-scanning direction changes according to a distance from the optical surface reference axis. It has at least one special tilt eccentric surface. The decentering amount of the special tilt eccentric surface of the second lens group is zero in the sub-scan section including the optical surface reference axis.

また、前記結像光学系は、副走査断面内において縮小光学系であることを特徴とする。   The imaging optical system is a reduction optical system in the sub-scan section.

本発明の他の態様は、上記光走査装置を、光走査手段として用いることを特徴とするマルチビーム光走査装置に関するものである。   Another aspect of the present invention relates to a multi-beam optical scanning device using the optical scanning device as an optical scanning unit.

また、本発明の他の態様は、上記光走査装置を、電子写真の書込手段として用いることを特徴とする画像形成装置に関するものである。   Another aspect of the present invention relates to an image forming apparatus using the optical scanning device as an electrophotographic writing unit.

本発明の光走査装置は、結像光学系の内、共通で使用される第1レンズ群を、光学面基準軸を含む副走査断面におけるパワーをゼロかゼロに近いレンズ一枚とし、かつ、射出面は像高に応じて副走査断面内の曲率が変化するので、光学面基準軸近傍ではレンズ面に入射する光束のねじれによる波面収差の劣化が少なくなり、製造誤差や組み付け時の偏心による性能の変動を低減させる。よって、斜め入射方式であっても、走査線曲がりと波面収差の劣化を有効に補正することができる。   In the optical scanning device of the present invention, the first lens group that is commonly used in the imaging optical system is one lens whose power in the sub-scan section including the optical surface reference axis is zero or close to zero, and Since the curvature of the exit surface changes in the sub-scanning section according to the image height, the wavefront aberration is less deteriorated due to the twist of the light beam incident on the lens surface near the optical surface reference axis, resulting in manufacturing errors and eccentricity during assembly. Reduce performance fluctuations. Therefore, even with the oblique incidence method, it is possible to effectively correct scanning line bending and wavefront aberration degradation.

また、副走査方向に角度を持つ光ビームとすることで、光走査装置を構成する部品でコスト比率の高い光偏向器を多段にすることが無いので、そのコストを下げ、消費電力や騒音を低減可能な、環境を考慮した光走査装置を実現することができる。   In addition, by using a light beam having an angle in the sub-scanning direction, it is possible to reduce the cost and reduce the power consumption and noise because there are no multiple stages of optical deflectors with high cost ratios in the components constituting the optical scanning device. It is possible to realize an optical scanning device that can be reduced and considers the environment.

以下、本発明の光走査装置を実施するための最良の形態について説明する。説明する際には、本明細書と同時に提出する図面を適宜参照する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the optical scanning device of the present invention will be described. In the description, the drawings submitted at the same time as this specification will be referred to as appropriate.

図1によって、本形態の光走査装置の実施の一形態を説明する。図1(b)、(c)は図1(a)の一つの結像光学系について、折り返しミラーを展開し、適切な仮想ミラーを挿入した状態における、主走査断面および副走査方向の断面図である。   An embodiment of the optical scanning device of this embodiment will be described with reference to FIG. FIGS. 1B and 1C are cross-sectional views in the main scanning section and the sub-scanning direction in a state where the folding mirror is expanded and an appropriate virtual mirror is inserted in the one imaging optical system of FIG. It is.

光源としての半導体レーザから放射された発散性の光束はカップリングレンズにより以後の斜入射光学系に適した光束形態に変換される。カップリングレンズにより変換された光束形態は、平行光束であることも、弱い発散性あるいは弱い集束性の光束であることもできる。   A divergent light beam emitted from a semiconductor laser as a light source is converted into a light beam shape suitable for a later oblique incidence optical system by a coupling lens. The form of the light beam converted by the coupling lens can be a parallel light beam or a light beam with weak divergence or weak convergence.

カップリングレンズからの光束はシリンダレンズにより副走査方向に集光され、ポリゴンミラーを回転させる回転多面鏡(光偏向器)の偏向反射面に入射する。図に示すように、光源側からの光束は、ポリゴンミラーの偏向反射面の回転軸に直交する平面に対して傾いて入射する。従って、偏向反射面により反射された光束も、前記平面に対して傾いている。回転多面鏡の回転軸に直交する平面に対し角度を有する光ビームは、所望の角度に光源装置、カップリング光学系、第1光学系を傾けて配置しても良いし、折返しミラーを用いて角度をつけても良い。また、第1光学系の光軸を副走査方向にシフトすることで、偏向反射面に向かう光ビームに角度をつけても構わない。   The light beam from the coupling lens is condensed in the sub-scanning direction by the cylinder lens, and is incident on the deflecting / reflecting surface of the rotary polygon mirror (optical deflector) that rotates the polygon mirror. As shown in the figure, the light beam from the light source side is incident with an inclination with respect to a plane orthogonal to the rotation axis of the deflection reflection surface of the polygon mirror. Therefore, the light beam reflected by the deflecting reflecting surface is also inclined with respect to the plane. The light beam having an angle with respect to the plane orthogonal to the rotation axis of the rotary polygon mirror may be arranged by tilting the light source device, the coupling optical system, and the first optical system at a desired angle, or by using a folding mirror. An angle may be added. Further, the optical beam toward the deflecting / reflecting surface may be angled by shifting the optical axis of the first optical system in the sub-scanning direction.

ここで、偏向面に入射する光ビームは、第1レンズ群(L1)の光学面基準軸(両面の光学面基準軸は一致)を含み主走査方向に平行な平面(偏向器の回転軸と垂直な平面)に対して異なる二つの入射角度で両側から、計4本の光束が入射している。本実施例では±1.46degおよび±3.30degとしている。第1レンズ群(L1)の光学面基準軸を含み主走査方向に平行な平面に対して結像光学系は面対称であるため、以下の説明では片側についてのみ述べる事とする。   Here, the light beam incident on the deflection surface includes a plane parallel to the main scanning direction (including the rotation axis of the deflector and the optical surface reference axis of the first lens group (L1)). A total of four light beams are incident from both sides at two different incident angles with respect to the vertical plane. In this embodiment, they are ± 1.46 deg and ± 3.30 deg. Since the imaging optical system is plane symmetric with respect to a plane including the optical surface reference axis of the first lens group (L1) and parallel to the main scanning direction, only one side will be described in the following description.

偏向反射面により反射された光束は、ポリゴンミラーの等速回転とともに等角速度的に偏向し、第2レンズ群(L2)を含む走査光学系を透過して、被走査面上に集光する。これにより、偏向光束は被走査面上に光スポットを形成し、被走査面の光走査を行う。   The light beam reflected by the deflecting reflecting surface is deflected at a constant angular velocity along with the constant speed rotation of the polygon mirror, passes through the scanning optical system including the second lens group (L2), and is condensed on the surface to be scanned. Thereby, the deflected light beam forms a light spot on the surface to be scanned, and performs optical scanning of the surface to be scanned.

水平入射片側走査方式の光走査装置においては、図2(a)に示した通り、各々対応する被走査面に向かう光束を分離するのに必要な間隔Zを得るためにポリゴンミラーの副走査方向の厚さが非常に厚くなってしまう。4段化ポリゴンを使用する方法も考えられるが、高速化、低コスト化に不向きとなる。   In the horizontal-incidence single-side scanning optical scanning device, as shown in FIG. 2A, the polygon mirror sub-scanning direction is used to obtain an interval Z necessary to separate the light beams traveling toward the corresponding scanned surfaces. Will become very thick. Although a method using a four-stage polygon can be considered, it is not suitable for speeding up and cost reduction.

一方、本形態の様な斜入射光学系では、ポリゴンミラーの偏向反射面において、複数の光ビームを副走査方向に所定の間隔を持たせる必要がない。つまり、図2(b)に示した通り、ポリゴンミラーの反射面の法線に対し副走査方向に異なる角度を持つ複数光源装置からの光ビームの対を、偏向器の回転軸に垂直な平面の上下方向より同一の反射面に入射させることで、ポリゴンミラーの偏向反射面を形成する多面体を一段で、かつ、副走査方向の厚みを低減でき、回転体としてのイナーシャを小さくでき起動時間を短くできる。   On the other hand, in the oblique incidence optical system as in this embodiment, it is not necessary to provide a plurality of light beams with a predetermined interval in the sub-scanning direction on the deflection reflection surface of the polygon mirror. That is, as shown in FIG. 2B, a pair of light beams from a plurality of light source devices having different angles in the sub-scanning direction with respect to the normal line of the reflection surface of the polygon mirror is a plane perpendicular to the rotation axis of the deflector. By making the light incident on the same reflective surface from the top and bottom, the polyhedron that forms the deflecting and reflecting surface of the polygon mirror can be formed in a single stage and the thickness in the sub-scanning direction can be reduced, and the inertia as a rotating body can be reduced and the startup time can be reduced. Can be shortened.

このように、片側で4つの異なる被走査面に対応する光学系においては、全ての光ビーム、即ち4つの異なる被走査面に向かう全ての光ビームを、光偏向器の反射面の法線に対し角度を持つ、すなわち副走査方向に角度を持つ光ビームとすることで、光走査装置を構成する部品でコスト比率の高い光偏向器のコストを下げ、消費電力や騒音を低減可能な、環境を考慮した光走査装置が提供可能となる。   As described above, in the optical system corresponding to four different scanned surfaces on one side, all the light beams, that is, all the light beams directed to the four different scanned surfaces are made normal to the reflecting surface of the optical deflector. An environment that can reduce the power consumption and noise by reducing the cost of the optical deflector with a high cost ratio with the components that make up the optical scanning device by using a light beam with an angle to the sub-scanning direction It is possible to provide an optical scanning device in consideration of the above.

従来の水平入射に対し、副走査方向に斜め入射させる方式では、走査レンズに副走査方向に角度を持って入射することにより、諸収差量が増大し光学性能が劣化することは公知である。   It is well known that, in the conventional method of oblique incidence in the sub-scanning direction with respect to horizontal incidence, the amount of various aberrations increases and the optical performance deteriorates by entering the scanning lens at an angle in the sub-scanning direction.

これに対して、特許文献6では、水平入射と斜入射の光束を共に通過させる共用レンズにおいて、斜入射した光束が通過する領域のみをチルト偏心させた特殊面を用いることで波面収差を良好に補正している。しかし、この実施例では水平入射の光束が二つあるために二段ポリゴンミラー(ないしは副走査方向に厚いポリゴンミラー)を用いる必要があり高コストである。平面の一部をチルト偏心させるためには、加工上の要請から副走査断面内において光束間に一定の距離を必要とする。このため、低コストなポリゴンミラーを用いるために全ての光束を斜入射とした場合には、光束の分離に必要な距離を確保するためには偏向器から共用レンズまでの距離が伸びてしまい、装置の大型化を招いてしまう。   On the other hand, in Patent Document 6, in a shared lens that passes both horizontally incident and obliquely incident light beams, a wavefront aberration is improved by using a special surface in which only a region through which obliquely incident light beams pass is tilted decentered. It has been corrected. However, in this embodiment, since there are two horizontally incident light beams, it is necessary to use a two-stage polygon mirror (or a thick polygon mirror in the sub-scanning direction), which is expensive. In order to decenter a part of the plane, a certain distance is required between the light beams in the sub-scan section because of processing requirements. For this reason, when all the light beams are obliquely incident to use a low-cost polygon mirror, the distance from the deflector to the shared lens is increased in order to ensure the distance necessary for the light beam separation, This will increase the size of the device.

そこで本形態では、レンズの高さを抑えるために共用レンズの副走査断面を円弧形状とし、かつ、像高に応じて副走査方向の曲率が変化する面(以下、「特殊トロイダル面」という。)を有する共用レンズを用いて前記光学性能の劣化を補正している。これにより、異なる斜入射角度の光束に対しても同一形状面で補正しているため、各光束をより隣接させることが可能である。よって、ポリゴンミラーの偏向反射面の法線に対する角度(副走査方向に斜入射する角度)を小さくして光学性能の劣化を小さく抑えることが可能となり、良好な光学性能を実現できる。この結果、安定したビームスポット径を得ることが可能となり、ビームスポット径の小径化による画質向上にも有利となる。   Therefore, in this embodiment, in order to suppress the height of the lens, the sub-scanning section of the common lens has an arc shape, and the curvature in the sub-scanning direction changes according to the image height (hereinafter referred to as “special toroidal surface”). ) Is used to correct the deterioration of the optical performance. As a result, the light beams having different oblique incident angles are corrected with the same shape surface, so that the light beams can be more adjacent to each other. Therefore, it is possible to reduce the angle with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the polygon mirror (the angle at which the light is obliquely incident in the sub-scanning direction), and to suppress the deterioration of the optical performance, thereby realizing good optical performance. As a result, a stable beam spot diameter can be obtained, which is advantageous for improving the image quality by reducing the beam spot diameter.

片側走査方式の場合、図3(b)に示すような、全ての光ビームがポリゴンミラーの偏向反射面の法線に対し水平であった従来の光走査装置においては、良好な光学性能が得られる反面、各光源装置からの光ビーム、つまり互いに異なる被走査面に導かれる光ビーム間の間隔は、光ビームごとに分離するのに必要な間隔(図中△d)、通常3mmから5mmの間隔を持つことが必要である。そのため、偏向手段(ポリゴンミラー)の高さ(副走査方向の高さ)hが高くなり、空気との接触面積が増大して、風損の影響による消費電力アップ、騒音の増大、コストアップなどの問題が生じていた。特に、光走査装置の構成部品で偏向手段の占めるコスト比率は高く、コスト面での課題が大きかった。   In the case of the one-side scanning method, as shown in FIG. 3B, the conventional optical scanning device in which all the light beams are horizontal with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the polygon mirror can obtain good optical performance. On the other hand, the distance between the light beams from each light source device, that is, the light beams guided to different scanning surfaces, is an interval necessary for separating each light beam (Δd in the figure), usually 3 mm to 5 mm. It is necessary to have an interval. For this reason, the height (height in the sub-scanning direction) h of the deflecting means (polygon mirror) is increased, the contact area with the air is increased, power consumption is increased due to the influence of windage loss, noise is increased, and costs are increased. The problem was occurring. In particular, the cost ratio occupied by the deflecting means in the component parts of the optical scanning device is high, and the problem in cost is large.

その点、前述の本形態にかかる光走査装置の実施形態によれば、偏向手段としてのポリゴンミラーの偏向反射面で反射される、複数の光源装置からの光ビームは、ポリゴンミラーの偏向反射面の法線に対し、角度を持つ(副走査方向に角度を持つ)光ビームとして走査レンズに入射させることで、図3(c)に示すように、ポリゴンミラーの高さhを大幅に低減することが可能となり、対向走査方式の説明と同様に、ポリゴンミラーの偏向反射面を形成する多面体を一段で、かつ、副走査方向の厚みを低減でき、回転体としてのイナーシャを小さくでき起動時間を短くできる。また、従来の対向走査方式における2段化されたポリゴンミラーに対し、コストダウン可能である。   In that respect, according to the above-described embodiment of the optical scanning device according to the present embodiment, the light beams from the plurality of light source devices reflected by the deflecting / reflecting surfaces of the polygon mirror as the deflecting means are deflected / reflecting surfaces of the polygon mirror. As shown in FIG. 3C, the height h of the polygon mirror is significantly reduced by making the light beam having an angle (with an angle in the sub-scanning direction) incident on the scanning lens. As in the description of the opposed scanning method, the polyhedron that forms the deflecting and reflecting surface of the polygon mirror can be formed in a single stage, the thickness in the sub-scanning direction can be reduced, the inertia as a rotating body can be reduced, and the startup time can be reduced. Can be shortened. Further, the cost can be reduced with respect to the two-stage polygon mirror in the conventional counter scanning system.

片側走査方式で最も斜入射角を小さく設定するためには、図3(a)の様な水平入射と斜入射の組合せが考えられるが、ポリゴンミラーの小型化に対しては、従来の水平入射に比べ改善されるが、(c)の形態が最も小型化で諸課題の解決が可能となる。   In order to set the oblique incidence angle to be the smallest in the one-side scanning method, a combination of horizontal incidence and oblique incidence as shown in FIG. 3 (a) can be considered. However, the embodiment (c) is the most compact and can solve various problems.

水平入射方式に対し副走査方向に斜入射させる本方式では、「走査線曲がり」が大きいという問題がある。この走査線曲がり発生量は、前記各光ビームの副走査方向の斜入射角により異なり、各々の光ビームで描かれた潜像を各色のトナーにより重ね合わせ可視化した際に、色ずれとなって現れてしまう。また、斜入射することにより、光束が走査レンズにねじれて入射することで、波面収差も増大し、特に周辺の像高で光学性能が著しく劣化し、ビームスポット径が太ってしまい、高画質化を妨げる要因となる。   In this method in which the oblique incidence is made in the sub-scanning direction with respect to the horizontal incidence method, there is a problem that “scanning line bending” is large. The amount of bending of the scanning line varies depending on the oblique incident angle of each light beam in the sub-scanning direction, and color misregistration occurs when the latent images drawn by the respective light beams are superimposed and visualized with the respective color toners. Appears. In addition, the oblique incident light causes the light beam to be twisted and incident on the scanning lens, thereby increasing the wavefront aberration. Particularly, the optical performance is significantly deteriorated at the peripheral image height, the beam spot diameter is increased, and the image quality is improved. It becomes a factor to prevent.

斜入射による走査線曲がりの発生について説明する。例えば、走査光学系を構成する走査レンズ、特に副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズ(図1では第2走査結像レンズ)入射面の主走査方向の形状が、偏向反射面の光ビームの反射点を中心とする円弧形状でない限り、主走査方向のレンズ高さにより光偏向器の偏向反射面から走査レンズ入射面までの距離は異なる。通常、走査レンズを前記形状にすることは、光学性能を維持する上で困難である。つまり、図1の様に、通常の光ビームは、光偏向器により偏向走査され、各像高にて主走査断面において、レンズ面に対し垂直入射することはなく、主走査方向にある入射角を持って入射する。   The occurrence of scanning line bending due to oblique incidence will be described. For example, the shape of the scanning lens constituting the scanning optical system, particularly the scanning lens having a strong refractive power in the sub-scanning direction (second scanning imaging lens in FIG. 1) in the main scanning direction is the light beam of the deflecting reflecting surface. Unless the arc shape is centered on the reflection point, the distance from the deflecting reflection surface of the optical deflector to the incident surface of the scanning lens differs depending on the lens height in the main scanning direction. Usually, it is difficult to make the scanning lens in the above shape in order to maintain optical performance. That is, as shown in FIG. 1, a normal light beam is deflected and scanned by an optical deflector, and does not enter the lens surface perpendicularly at each image height in the main scanning section, but in the main scanning direction. Is incident.

斜入射されているため、副走査方向に角度を持っていることにより、光偏向器により偏向反射された光ビームは、像高により光偏向器の偏向反射面から走査レンズ入射面までの距離は異なり、走査レンズへの副走査方向の入射高さが周辺に行くほど中心より高い位置、もしくは低い位置(光ビームの副走査方向にもつ角度の方向により異なる)に入射される。この結果、副走査方向に屈折力を持つ面を通過する際に、副走査方向に受ける屈折力が異なり走査線曲がりが発生してしまう。通常の水平入射であれば、偏向反射面から走査レンズ入射面までの距離が異なっても、光ビームは走査レンズに対し水平に進行するため、走査レンズ上での副走査方向の入射位置が異なることはなく、走査線曲がりの発生が生じない。   Since the light beam is obliquely incident and has an angle in the sub-scanning direction, the light beam deflected and reflected by the optical deflector has a distance from the deflecting reflection surface of the optical deflector to the scanning lens incident surface depending on the image height. In contrast, the incident height in the sub-scanning direction to the scanning lens is incident on a position higher or lower than the center as it goes to the periphery (depending on the direction of the angle of the light beam in the sub-scanning direction). As a result, when passing through a surface having refracting power in the sub-scanning direction, the refracting power received in the sub-scanning direction differs and scanning line bending occurs. In the case of normal horizontal incidence, even if the distance from the deflecting / reflecting surface to the scanning lens incidence surface is different, the light beam travels horizontally with respect to the scanning lens, so the incident position in the sub-scanning direction on the scanning lens is different. There is no occurrence of bending of the scanning line.

斜入射による波面収差劣化について説明する。先の説明の通り、走査光学系を構成する走査レンズ入射面の主走査方向の形状が、偏向反射面の光ビームの反射点を中心とする円弧形状でない限り、像高により光偏向器の偏向反射面から走査レンズ入射面までの距離は異なる。通常、走査レンズを前記形状にすることは、光学性能を維持する上で困難である。つまり、通常の光ビームは、光偏向器により偏向走査され、各像高にて主走査断面において、レンズ面に対し垂直入射することはなく、主走査方向にある入射角を持って入射する。   Wavefront aberration deterioration due to oblique incidence will be described. As described above, the deflection of the optical deflector depends on the image height unless the shape in the main scanning direction of the entrance surface of the scanning lens constituting the scanning optical system is an arc shape centered on the reflection point of the light beam on the deflection reflection surface. The distance from the reflecting surface to the scanning lens entrance surface is different. Usually, it is difficult to make the scanning lens in the above shape in order to maintain optical performance. That is, a normal light beam is deflected and scanned by an optical deflector, and does not enter the lens surface perpendicularly at each image height in the main scanning section, but with an incident angle in the main scanning direction.

光偏向器により偏向反射された光ビームの光束は、主走査方向にある幅を持っており、光束内で主走査方向の両端の光ビームは、光偏向器の偏向反射面から走査レンズ入射面までの距離が異なり、斜入射されているために副走査方向に角度を持っていることにより、走査レンズにねじれた状態で入射することになる(図4参照)。この結果、波面収差が著しく劣化し、ビームスポット径が太る。主走査方向の入射角は、周辺像高に行くほどきつくなり、光束のねじれは大きくなり、周辺に行くほど波面収差の劣化によるビームスポット径の太りは大きくなる。   The light beam deflected and reflected by the optical deflector has a certain width in the main scanning direction, and the light beams at both ends in the main scanning direction within the light beam are deflected from the deflection reflecting surface of the optical deflector to the scanning lens incident surface. Since the angle is different and the angle is obliquely incident, there is an angle in the sub-scanning direction, so that the light enters the scanning lens in a twisted state (see FIG. 4). As a result, the wavefront aberration is significantly degraded and the beam spot diameter is increased. The incident angle in the main scanning direction becomes tighter toward the peripheral image height, the twist of the light beam increases, and the beam spot diameter increases due to the deterioration of the wavefront aberration toward the periphery.

本形態においては、特殊トロイダル面を採用し、波面収差及び走査線曲がりを補正している。また、走査線曲がりの補正は、レンズ面を副走査方向にチルト偏芯させることでも補正可能である。像高間での副走査方向の走査位置、及び、劣化した波面収差量のバランスを取ることにより、各像高での走査位置や波面収差を補正し、被走査面上での走査線曲がりや波面収差の劣化によるビームスポット径の太りを補正している。   In this embodiment, a special toroidal surface is adopted to correct wavefront aberration and scanning line bending. Further, the correction of the scanning line bending can also be performed by tilting the lens surface in the sub-scanning direction. By balancing the scanning position in the sub-scanning direction between image heights and the amount of deteriorated wavefront aberration, the scanning position and wavefront aberration at each image height are corrected, and the scanning line curve on the scanned surface is corrected. The beam spot diameter due to the wavefront aberration deterioration is corrected.

しかし、レンズ面に入射する光束のねじれ(スキュー)による波面収差の劣化量や、回転多面鏡に斜入射する事による像高間での物点の副走査方向の変化量、偏向反射面からレンズ面までの距離は、像高間で異なるため、波面収差の補正や走査線曲がりの補正を完全に行うことはできない。   However, the amount of degradation of wavefront aberration due to the twist (skew) of the light beam incident on the lens surface, the amount of change in the sub-scanning direction of the object point between the image heights due to oblique incidence on the rotating polygon mirror, the lens from the deflecting reflecting surface Since the distance to the surface varies between image heights, it is not possible to completely correct wavefront aberrations or scan line bending.

そこで本形態においては、結像光学系の内、共通で使用される第1レンズ群(L1)を、光学面基準軸を含む副走査断面におけるパワーをゼロかゼロに近いレンズ一枚とし、かつ、射出面は像高に応じて副走査断面内の曲率が変化する特殊トロイダル面とすることで波面収差の補正を実施している。   Therefore, in the present embodiment, the first lens group (L1) that is commonly used in the imaging optical system is one lens whose power in the sub-scan section including the optical surface reference axis is zero or close to zero, and The wavefront aberration is corrected by making the exit surface a special toroidal surface whose curvature in the sub-scan section changes according to the image height.

ここで、副走査断面内のパワーを略ゼロとしているのは、光学面基準軸近傍ではレンズ面に入射する光束のねじれ(スキュー)による波面収差の劣化が少ないことと、製造誤差や組み付け時の偏心による性能の変動を低減させるためである。なお、「光学面基準軸」とはレンズ形状を表現する式の原点を結んだ線のことを指す。また、周辺像高に向かう光束に対しては、光学面基準軸から離れるに従い副走査断面内においてパワーの強くなるレンズとして、像高が高いほど光束を、第1レンズ群(L1)の光学面基準軸を含み主走査方向に平行な平面(以下、「光学基準面」という。)から離れるように跳ね上げることで波面収差補正を行っている。   Here, the power in the sub-scanning section is set to substantially zero because there is little deterioration of wavefront aberration due to torsion (skew) of the light beam incident on the lens surface in the vicinity of the optical surface reference axis, as well as manufacturing errors and assembling. This is to reduce fluctuations in performance due to eccentricity. The “optical surface reference axis” refers to a line connecting the origins of the expressions expressing the lens shape. Further, for a light beam traveling toward the peripheral image height, as a lens whose power increases in the sub-scan section as it moves away from the optical surface reference axis, the higher the image height, the light beam is transmitted to the optical surface of the first lens group (L1). Wavefront aberration correction is performed by jumping up away from a plane including the reference axis and parallel to the main scanning direction (hereinafter referred to as “optical reference plane”).

また、斜入射光学系ではレンズ面による反射光が偏向面に戻ると、本来とは異なる感光体に光束が到達し、画質の劣化を引き起こす可能性がある。本形態においてはレンズ面の反射光の曲率の変化を射出面にのみ持たせることで、第1レンズ群(L1)の入射面による反射光は光学基準面から離れるように反射し、光束が偏向面に再度戻ることがないようにしている。   In addition, in the oblique incidence optical system, when the reflected light from the lens surface returns to the deflecting surface, the light beam may reach a photoconductor different from the original one, which may cause deterioration in image quality. In this embodiment, only the exit surface has a change in the curvature of the reflected light of the lens surface, so that the reflected light from the entrance surface of the first lens group (L1) is reflected away from the optical reference surface, and the light beam is deflected. I try not to return to the surface again.

さらに好ましくは、前記レンズ面を副走査方向に最も屈折力の大きなレンズより光偏向器側に配設するのがよい。   More preferably, the lens surface is disposed closer to the optical deflector than the lens having the largest refractive power in the sub-scanning direction.

波面収差の劣化は、特に副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズへの入射時に、光束がねじれることにより大きく発生するため、波面収差の補正のためには、前記副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズへの入射高さを補正し、被走査面上で一点に集光するようにする必要がある。   Deterioration of wavefront aberration is greatly caused by twisting of the light beam when entering a scanning lens having a strong refractive power especially in the sub-scanning direction. Therefore, in order to correct the wavefront aberration, a strong refractive power in the sub-scanning direction is used. Therefore, it is necessary to correct the incident height to the scanning lens having a focal point so that the light is condensed at one point on the surface to be scanned.

特殊トロイダル面で波面収差を補正する場合、第2レンズ群(L2)への入射高さを高くし、光束内の主走査方向両端の光ビームについても、周辺に行くほど副走査方向に強い屈折力を持つ第2レンズ群(L2)への副走査方向の入射高さを高くすることで補正可能となる。   When correcting wavefront aberration with a special toroidal surface, the incident height to the second lens group (L2) is increased, and the light beams at both ends of the main scanning direction in the light beam are also strongly refracted in the sub-scanning direction as they go to the periphery. Correction can be made by increasing the incident height in the sub-scanning direction to the second lens group (L2) having a force.

つまり、最も副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズより光偏向器側の走査レンズに、光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に角度を持つ光ビームに対し、光学面基準軸より離れるにつれて副走査断面内におけるパワーがより大きくなるように特殊トロイダル面を形成し、副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズへの副走査方向の入射位置を調整することで、波面収差の劣化を補正可能となる。このため、波面収差の補正を行うために用いる特殊トロイダル面は、副走査方向に最も強い屈折力を持つ走査レンズより、光偏向器側のレンズに設けることが望ましい。   That is, the optical surface for the light beam having an angle in the sub-scanning direction with respect to the normal of the deflecting reflection surface of the optical deflector to the scanning lens closer to the optical deflector than the scanning lens having the strongest refractive power in the sub-scanning direction A special toroidal surface is formed so that the power in the sub-scanning section increases as the distance from the reference axis increases, and the wavefront is adjusted by adjusting the incident position in the sub-scanning direction to the scanning lens having strong refractive power in the sub-scanning direction. Aberration deterioration can be corrected. For this reason, it is desirable to provide the special toroidal surface used for correcting the wavefront aberration on the lens on the optical deflector side rather than the scanning lens having the strongest refractive power in the sub-scanning direction.

さらに望ましくは、第2レンズ群(L2)には、副走査方向の形状を、曲率を持たない平面形状とし、かつ、レンズ長手方向(主走査方向)のレンズ高さに応じてレンズ短手方向(副走査方向)の偏芯角度(チルト量)が異なる特殊チルト偏心面を設けて走査線曲がりの補正を実施するとよい。前記特殊チルト偏心面のチルト量(偏芯角度)とは、光学素子の光学面における短手方向の傾き角を言う。チルト量が0であるときには傾きがない状態、つまり通常のレンズと同じ状態となる。   More preferably, in the second lens group (L2), the shape in the sub-scanning direction is a planar shape having no curvature, and the short direction of the lens according to the lens height in the lens longitudinal direction (main scanning direction). A special tilt eccentric surface having a different eccentric angle (tilt amount) in the (sub-scanning direction) may be provided to correct scanning line bending. The tilt amount (eccentric angle) of the special tilt eccentric surface refers to a tilt angle in the short direction on the optical surface of the optical element. When the tilt amount is 0, there is no tilt, that is, the same state as a normal lens.

このように、光偏向器に近い走査レンズ(少なくとも副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズより光偏向器側の走査レンズ)の特殊トロイダル面で波面収差補正を行い、被走査面に近い走査レンズ(副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズ)の特殊チルト偏心面で走査線曲がり補正を行うように、それぞれの補正機能を分離することで、ビームスポット径の更なる小径化と走査線曲がりの低減を達成可能となる。もちろん、完全に機能分離させなければならないわけではなく、それぞれの特殊チルト偏心面で、波面収差補正の一部、走査線曲がり補正の一部を受け持つこともできる。   In this way, wavefront aberration correction is performed on the special toroidal surface of the scanning lens close to the optical deflector (at least on the optical deflector side of the scanning lens having a strong refractive power in the sub-scanning direction), and scanning close to the surface to be scanned is performed. The beam spot diameter is further reduced and the scanning line is separated by separating each correction function so that the scanning line bending correction is performed on the special tilt eccentric surface of the lens (scanning lens having a strong refractive power in the sub-scanning direction). Reduction in bending can be achieved. Of course, it is not necessary to completely separate the functions, and each special tilt eccentric surface may be responsible for part of wavefront aberration correction and part of scanning line bending correction.

図5に本形態による波面収差、走査線曲がり補正後の光路図を示す。図に示す光線は、カップリングレンズ通過後に配置されているアパーチャの副走査方向中心、主走査方向両端の2本の光線である。また、副走査方向に強い屈折力を持つレンズは、第2レンズ群(L2)である。   FIG. 5 shows an optical path diagram after wavefront aberration correction and scanning line bending correction according to this embodiment. The light rays shown in the figure are two light rays at the center of the aperture in the sub-scanning direction and at both ends in the main scanning direction after passing through the coupling lens. A lens having a strong refractive power in the sub-scanning direction is the second lens group (L2).

更に、図中「仮想面」とは、実際には存在しない面であり、図中において第2レンズ群(L2)を第1レンズ群(L1)と水平に配置させるための仮想ミラー面である。第1レンズ群(L1)の第2面には特殊トロイダル面を採用し波面収差の補正を行っている。第2レンズ群(L2)への入射高さを高くし、光束内の主走査方向両端の光ビームについても、周辺に行くほど副走査方向に強い屈折力を持つ第2レンズ群(L2)への副走査方向の入射高さを高くしている。   Furthermore, the “virtual surface” in the figure is a surface that does not actually exist, and is a virtual mirror surface for arranging the second lens group (L2) horizontally with the first lens group (L1) in the figure. . A special toroidal surface is adopted as the second surface of the first lens group (L1) to correct wavefront aberration. Incident height to the second lens group (L2) is increased, and the light beams at both ends in the main scanning direction in the light flux are also directed to the second lens group (L2) having a strong refractive power in the sub-scanning direction toward the periphery. The incident height in the sub-scanning direction is increased.

通常、走査レンズはポリゴンミラーの偏向反射点を中心として主走査方向で同心円上になるようにレンズ面を形成することは、所望の光学性能を確保するためには難しい。   Normally, it is difficult to form a lens surface so that the scanning lens is concentric in the main scanning direction with the deflection reflection point of the polygon mirror as the center in order to ensure desired optical performance.

このため、光偏向器としてのポリゴンミラーにて偏向反射された光ビームは、周辺に行くほど、光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に角度を持つ方向に高く、走査レンズに入射する。つまり、図5の光路図で示した様に、偏向反射面にて光ビームが跳ね上げられた場合、走査レンズの入射面では、周辺像高に行くほど走査レンズの上部(第2レンズ群(L2)で像高0の光ビーム通過位置を基準としたとき、+110像高では副走査方向の高さでプラス側)を光ビームが通過する。   For this reason, the light beam deflected and reflected by the polygon mirror as the light deflector is higher in the direction having an angle in the sub-scanning direction with respect to the normal line of the deflecting reflection surface of the light deflector, as it goes to the periphery. Is incident on. That is, as shown in the optical path diagram of FIG. 5, when the light beam is bounced up on the deflecting reflecting surface, the upper surface of the scanning lens (second lens group ( When the light beam passage position at the image height of 0 is used as a reference in L2), the light beam passes through the +110 image height at the height in the sub-scanning direction plus side).

特殊トロイダル面で波面収差を補正する場合、第2レンズ群(L2)への入射高さを高くし、光束内の主走査方向両端の光ビームについても、周辺に行くほど副走査方向に強い屈折力を持つ第2レンズ群(L2)への副走査方向の入射高さを高くすることで補正可能となる。つまり、最も副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズより光偏向器側の走査レンズに、光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に角度を持つ光ビームに対し、周辺に向かうより前記法線に対する角度を大きくするように特殊トロイダル面を形成し、副走査方向に強い屈折力を持つ走査レンズへの副走査方向の入射位置を調整することで、波面収差の劣化を補正可能となる。   When correcting wavefront aberration with a special toroidal surface, the incident height to the second lens group (L2) is increased, and the light beams at both ends of the main scanning direction in the light beam are also strongly refracted in the sub-scanning direction as they go to the periphery. Correction can be made by increasing the incident height in the sub-scanning direction to the second lens group (L2) having a force. In other words, the scanning lens having the strongest refractive power in the sub-scanning direction is closer to the scanning lens on the optical deflector side than the light beam having an angle in the sub-scanning direction with respect to the normal of the deflecting reflection surface of the optical deflector. A special toroidal surface is formed so that the angle with respect to the normal line is larger than the heading direction, and the incident position in the sub-scanning direction to the scanning lens having a strong refractive power in the sub-scanning direction is adjusted to correct the wavefront aberration deterioration. It becomes possible.

図6により特殊チルト偏心面について説明を加える。特殊チルト偏心面の面形状は、以下の形状式(数1)による。ただし、この発明の内容は以下の形状式に限定されるものではなく、同一の面形状を別の形状式を用いて特定することも可能である。光軸を含み、主走査方向に平行な平断面である「主走査断面」内の近軸曲率半径をRy、光軸から主走査方向の距離をY、高次係数をAi(i=1,2,・・・)とし、主走査断面に直交する「副走査断面」内の近軸曲率半径をRzとする。

Figure 0005364968
但し、Cm = 1/Ry ,Cs(Y) = 1/Rz とする。 The special tilt eccentric surface will be described with reference to FIG. The surface shape of the special tilt eccentric surface is according to the following shape formula (Equation 1). However, the content of the present invention is not limited to the following shape formula, and the same surface shape can be specified using another shape formula. The paraxial radius of curvature in the `` main scanning section '', which is a flat section parallel to the main scanning direction including the optical axis, is Ry, the distance from the optical axis in the main scanning direction is Y, and the higher order coefficient is Ai (i = 1, 2,..., And Rz is the paraxial radius of curvature in the “sub-scanning section” orthogonal to the main scanning section.
Figure 0005364968
However, Cm = 1 / Ry and Cs (Y) = 1 / Rz.

(F0 + F1*Y+ F2*Y^2 + F3*Y^3 + F4*Y^4 + ・・・)Zは、チルト量を表す部分であり、チルト量を持たないとき、F0,F1,F2,・・・は全て0である。F1,F2,・・・が0で無いとき、チルト量は、主走査方向に変化することになる。   (F0 + F1 * Y + F2 * Y ^ 2 + F3 * Y ^ 3 + F4 * Y ^ 4 + ...) Z is the part that represents the tilt amount. When there is no tilt amount, F0, F1, F2, ... are all zero. When F1, F2,... Are not 0, the tilt amount changes in the main scanning direction.

上記各係数に種々の数値を入力したときの結果を数値実施例1として表1に、また、数値実施例2として表2にまとめておく。

Figure 0005364968
Figure 0005364968
The results when various numerical values are input to the above coefficients are summarized in Table 1 as Numerical Example 1 and in Table 2 as Numerical Example 2.
Figure 0005364968
Figure 0005364968

更に、特殊チルト偏心面の副走査方向の形状を、曲率を持たない平面形状としている理由について説明する。   Further, the reason why the shape of the special tilt eccentric surface in the sub-scanning direction is a planar shape having no curvature will be described.

副走査方向に曲率を付けた場合、副走査方向の高さ毎に主走査方向の形状が大きく変化し、温度変動、光学素子の組み付け誤差により副走査方向に光ビームの入射位置がずれた場合に倍率誤差変動が大きく発生し、カラー機においては、各色間でのビームスポット位置がずれ色ずれが発生してしまう。そこで、本形態の様に特殊チルト偏心面の副走査方向の面形状は、曲率を持たない平面形状とすることで、副走査方向の高さ毎に主走査方向の形状誤差は小さくでき、副走査方向に光ビームの入射位置がずれた場合の倍率誤差変動を小さくすることができ、色ずれの発生を抑えることができる。   When curvature is added in the sub-scanning direction, the shape in the main-scanning direction changes greatly for each height in the sub-scanning direction, and the incident position of the light beam shifts in the sub-scanning direction due to temperature fluctuations and optical element assembly errors In the color machine, the beam spot position is shifted between the colors and color shift occurs. Therefore, the surface shape of the special tilt eccentric surface in the sub-scanning direction is a plane shape having no curvature, so that the shape error in the main scanning direction can be reduced for each height in the sub-scanning direction. A variation in magnification error when the incident position of the light beam is shifted in the scanning direction can be reduced, and the occurrence of color shift can be suppressed.

実際には、特殊チルト偏心面を用いることで主走査形状は副走査方向の高さにより変化するが、その量は僅かであり、副走査方向に曲率を付けた場合に比べ主走査形状の変化を小さくできる。この結果、温度分布発生による光ビーム間での倍率変動の差は小さくでき、同期を取ることで書き出し位置と書き終わり位置を各光ビームで一致させたときの中間像高での色ずれを低減できる。   Actually, by using a special tilt eccentric surface, the main scanning shape changes depending on the height in the sub-scanning direction, but the amount is slight, and the main scanning shape changes compared to the case where the curvature is added in the sub-scanning direction. Can be reduced. As a result, the difference in magnification fluctuation between the light beams due to the temperature distribution can be reduced, and by synchronizing, the color shift at the intermediate image height when the writing position and the writing end position are matched with each light beam is reduced. it can.

また、図7(b)に示したように入射光線が副走査方向にシフトした場合、特殊チルト偏心面は屈折力を持たないため光線の進行方向もシフトするのみで、その方向の変化は小さい。副走査方向に曲率を持つ、つまり屈折力を持つ面では、図7(a)の様に入射光線が副走査方向にシフトした場合、屈折力が変わることにより光線の進行方向が変わる。各像高でこの進行方向の変化量が異なると、走査線曲がりが大きく発生してしまう。以上の理由から、特殊チルト偏心面における副走査方向の形状は、曲率を持たない平面形状とする必要がある。   Further, as shown in FIG. 7B, when the incident light beam is shifted in the sub-scanning direction, the special tilt eccentric surface does not have refractive power, so only the traveling direction of the light beam is shifted, and the change in the direction is small. . On a surface having a curvature in the sub-scanning direction, that is, having a refractive power, when the incident light beam is shifted in the sub-scanning direction as shown in FIG. 7A, the traveling direction of the light beam is changed by changing the refractive power. If the amount of change in the advancing direction is different at each image height, the scanning line is greatly bent. For the above reasons, the shape in the sub-scanning direction on the special tilt eccentric surface needs to be a planar shape having no curvature.

本形態によれば、走査線曲がりについて特殊チルト偏心面により各像高に向かう光ビームの副走査方向の方向を、走査レンズの主走査方向に異なるチルト量を最適に与えることで補正可能となる。   According to this embodiment, it is possible to correct the direction of the scanning beam in the sub-scanning direction of the light beam directed to each image height by the special tilt eccentric surface by optimally providing a different tilt amount in the main scanning direction of the scanning lens. .

またこのとき、特殊チルト偏心面を有するレンズは光学面基準軸近傍を中心像高に向かう光線が通過するように副走査断面内においてレンズ全体を傾けてられている。なお、両面の光学面基準軸は一致している。このために、光軸近傍では走査レンズに対し光束のスキューや走査線曲がりがほとんど発生しない。このため、本形態における特殊チルト偏心面において、光学面基準軸上における偏心量はゼロとすることができる。   At this time, the lens having the special tilt eccentric surface is tilted in the sub-scan section so that the light beam traveling toward the central image height passes in the vicinity of the optical surface reference axis. Note that the optical surface reference axes on both sides coincide. For this reason, in the vicinity of the optical axis, there is almost no light beam skew or scanning line bending with respect to the scanning lens. For this reason, in the special tilt eccentric surface in this embodiment, the amount of eccentricity on the optical surface reference axis can be made zero.

本形態の光走査装置をさらに小型で低コストなものとするためには、光偏向器での反射点と、最も偏向器に近いレンズへの入射点とが、前記偏向器の回転軸と直交し前記レンズの光学面基準軸を含む平面(以下、「基準平面」という。)に対して互いに反対側に配置させるとよい。図8(a)に従来の斜入射光学系の副走査方向の軌跡(破線)と本形態による副走査方向の軌跡(実線)を図示した。従来の斜入射光学系では偏向器での反射点と基準平面を一致させている。本形態では副走査方向に対し、Zrだけ第1走査結像レンズの入射点と反対側にシフトさせているため、第1走査結像レンズの副走査方向の高さを少なくでき、ひいては光走査装置全体の高さを低減することが可能になる。偏向器の副走査方向の高さも若干増加してしまうが、第1走査結像レンズの高さの低減量が更に大きいために問題となり得ない。   In order to further reduce the size and cost of the optical scanning device of this embodiment, the reflection point on the optical deflector and the incident point on the lens closest to the deflector are orthogonal to the rotation axis of the deflector. And it is good to arrange | position on the mutually opposite side with respect to the plane (henceforth a "reference plane") containing the optical-surface reference axis of the said lens. FIG. 8A shows a trajectory (broken line) in the sub-scanning direction of the conventional oblique incidence optical system and a trajectory in the sub-scanning direction (solid line) according to this embodiment. In the conventional oblique incidence optical system, the reflection point on the deflector is matched with the reference plane. In this embodiment, the height of the first scanning imaging lens in the sub-scanning direction can be reduced because Zr is shifted to the opposite side of the incident point of the first scanning imaging lens with respect to the sub-scanning direction. It becomes possible to reduce the height of the entire apparatus. Although the height of the deflector in the sub-scanning direction also slightly increases, there is no problem because the amount of reduction in the height of the first scanning imaging lens is even larger.

さらに小型化を推し進めるためには、図8(b)にあるように、複数光束を同一反射点にそれぞれ異なる斜入射角で入射させるとよい。さらに図8(c)にあるように、前記基準平面に対して面対称となるように複数光源を配置することが望ましい。なお、ここでいう鏡面対称とは、ポリゴンミラーにて偏向反射された以降の折返しミラーを全て省略した状態で、ポリゴンミラーの反射面の法線に水平で、ポリゴンミラーにより反射偏向された複数の光ビームの副走査方向中心を含む面に対するものである。   In order to further reduce the size, as shown in FIG. 8B, it is preferable that a plurality of light beams are incident on the same reflection point at different oblique incident angles. Further, as shown in FIG. 8C, it is desirable to arrange a plurality of light sources so as to be plane-symmetric with respect to the reference plane. The mirror symmetry here refers to a state in which all the folding mirrors after being deflected and reflected by the polygon mirror are omitted, and a plurality of the mirrors reflected and deflected by the polygon mirror are horizontal to the normal line of the reflecting surface of the polygon mirror. This is for the plane including the center of the light beam in the sub-scanning direction.

また、走査線曲がりの発生を小さく抑えるためには、結像光学系の副走査断面内における結像倍率を1.0倍以下の縮小光学系とするとよい。このようにすることで、走査光学系の製造上の誤差および組み付け上の誤差が発生したとしても、走査線曲がりの変化の影響を小さく抑えることができる。   In order to suppress the occurrence of scanning line bending, it is preferable to use a reduction optical system in which the imaging magnification in the sub-scan section of the imaging optical system is 1.0 times or less. By doing so, even if a manufacturing error and assembly error of the scanning optical system occur, it is possible to suppress the influence of the change in the scanning line bending.

本形態による走査線曲がり補正の効果を図9に示す。図中2つの曲線はそれぞれ本形態による特殊チルト偏心面を有する光学系と特殊チルト偏心面を用いない光学系の走査線曲がりを示している。図より明らかなように特殊チルト偏心面によって斜入射光学系の走査線曲がりは良好に補正されている。   FIG. 9 shows the effect of scanning line bending correction according to this embodiment. The two curves in the figure show the scanning line bending of the optical system having the special tilt eccentric surface and the optical system not using the special tilt eccentric surface according to this embodiment. As is apparent from the figure, the scan line bending of the oblique incidence optical system is well corrected by the special tilt eccentric surface.

また、本走査光学系をより偏心や環境変動に強い光走査装置とするためには、第1レンズ群(L1)においてすべてのレンズ高さで副走査断面形状が平面となるような面を持たせるとよい。第1レンズ群(L1)は光学面基準軸から離れるに従い副走査断面内でパワーを持つが、曲率を有する面を1面に集約させ、もう1面は平面形状とすることで、レンズの偏心の影響を低減可能となる。   In order to make the scanning optical system an optical scanning device that is more resistant to decentration and environmental fluctuations, the first lens group (L1) has a surface whose sub-scanning cross-sectional shape is flat at all lens heights. It is good to make it. The first lens group (L1) has power in the sub-scan section as it moves away from the optical surface reference axis. However, the first lens group (L1) is integrated into one surface and the other surface has a planar shape, thereby decentering the lens. It becomes possible to reduce the influence of.

さらに望ましくは、すべてのレンズ高さで副走査断面形状が平面となる面は第1レンズ群(L1)の入射面側に設けるとよい。レンズ面における反射光が像面や光源に到達すると画質が劣化するが、このようにすることで第1レンズ群(L1)の入射面における反射光は再び偏向器に入射して像面や光源に到達しなくなる。また、このとき第1レンズ群(L1)の光学面基準軸を含まない副走査断面内におけるレンズのパワーは負のパワーを有する(図10参照)。   More desirably, a surface having a flat sub-scanning sectional shape at all lens heights may be provided on the incident surface side of the first lens group (L1). When the reflected light on the lens surface reaches the image surface or the light source, the image quality deteriorates. By doing so, the reflected light on the incident surface of the first lens group (L1) is incident on the deflector again and the image surface or the light source. Will not reach. At this time, the power of the lens in the sub-scan section not including the optical surface reference axis of the first lens group (L1) has a negative power (see FIG. 10).

前記説明の特殊チルト偏心面を、異なる被走査面に向かう光ビームごと、つまり光偏向器の反射面の法線に対する副走査方向の角度(斜入射角度)毎に最適に設定することで、全ての光ビームにおいて良好な波面収差補正、及び、走査線曲がり補正が可能となる。この場合、斜入射角度が異なっても、本特殊チルト偏心面を用い形状式の係数を変え最適に設計することで対応可能となる。   The special tilt eccentric surface described above is optimally set for each light beam directed to a different surface to be scanned, that is, for each angle (oblique incidence angle) in the sub-scanning direction with respect to the normal line of the reflection surface of the optical deflector. This makes it possible to correct the wavefront aberration and to correct the scanning line bending. In this case, even if the oblique incident angles are different, this special tilt eccentric surface can be used by changing the coefficient of the shape formula and designing optimally.

更に、図1に示したように、回転多面鏡の偏向反射面に入射する光ビームを走査レンズに干渉させないように主走査方向に角度を持って入射させることで、副走査方向の入射角度を小さく設定できる。先に述べた様に、副走査方向の斜入射させる角度が大きいと前記光学性能の劣化が大きくなるため、良好な補正は困難になってしまう。このため、回転多面鏡の偏向反射面に入射する光ビームを主走査方向に角度を持って入射させることが望ましい。   Furthermore, as shown in FIG. 1, the incident angle in the sub-scanning direction can be reduced by causing the light beam incident on the deflecting / reflecting surface of the rotary polygon mirror to enter the main scanning direction so as not to interfere with the scanning lens. Can be set small. As described above, if the angle of oblique incidence in the sub-scanning direction is large, the optical performance is greatly deteriorated, so that good correction becomes difficult. For this reason, it is desirable that the light beam incident on the deflecting / reflecting surface of the rotary polygon mirror is incident at an angle in the main scanning direction.

本形態の光走査装置をさらに高速なものとするためには、最も被走査面に近いレンズに像高に応じて副走査方向の曲率が異なる面を少なくとも一面用いると良い。このような構成にすることで像高間の倍率偏差を十分に低減することができる。また、副走査方向の像面湾曲をより良好に補正する効果も期待できる。   In order to further increase the speed of the optical scanning device of this embodiment, it is preferable to use at least one surface having a curvature different in the sub-scanning direction in accordance with the image height for the lens closest to the surface to be scanned. With such a configuration, the magnification deviation between image heights can be sufficiently reduced. In addition, an effect of better correcting the curvature of field in the sub-scanning direction can be expected.

さらに好ましくは、前記副走査方向の曲率が、基準軸を中心として主走査方向に非対称に変化させると良い。本実施例の光走査装置において、光ビームを主走査方向に角度を持って光偏向器に入射させている。この結果、前記回転多面鏡による「光学的サグ」の発生は、走査レンズの基準軸に対して主走査方向に対称に発生しない。つまり、諸収差が発生する原因となる光路長差が中心に対し左右対称とならないため諸収差の発生も左右非対称に発生するため、このような構成とすることで効果的な収差補正が可能となる。   More preferably, the curvature in the sub-scanning direction is changed asymmetrically in the main scanning direction around the reference axis. In the optical scanning device of this embodiment, the light beam is incident on the optical deflector at an angle in the main scanning direction. As a result, the occurrence of “optical sag” by the rotating polygon mirror does not occur symmetrically in the main scanning direction with respect to the reference axis of the scanning lens. In other words, since the difference in optical path length that causes various aberrations is not symmetrical with respect to the center, the occurrence of various aberrations also occurs asymmetrically, so this configuration enables effective aberration correction. Become.

本形態による光走査装置においてさらに低コスト化を推し進めるためには、走査結像レンズをプラスチックレンズとするのがよい。走査結像レンズをプラスチックとすることで、面形状の自由度が増し、より良好な光学性能を達成できるという効果も期待できる。   In order to further reduce the cost in the optical scanning device according to the present embodiment, the scanning imaging lens is preferably a plastic lens. By making the scanning imaging lens plastic, the degree of freedom of the surface shape is increased, and the effect of achieving better optical performance can be expected.

本形態に係る光走査装置において、光源を、例えば、複数の発光点を有する半導体レーザアレイや、単数の発光点もしくは複数の発光点を有する光源を複数用いたマルチビーム光源装置とし、複数の光ビームを感光体表面に同時に走査するように構成するとよい。こうすることにより、高速化、高密度化を図った光走査装置および画像形成装置を構成することができ、かかる光走査装置および画像形成装置を構成した場合も、これまで説明してきた効果と同様の効果を得ることができる。図11はマルチビーム光源装置を構成する光源ユニットの例を示す。   In the optical scanning device according to the present embodiment, the light source is, for example, a semiconductor laser array having a plurality of light emission points, or a multi-beam light source device using a single light emission point or a plurality of light sources having a plurality of light emission points, and a plurality of light sources. The beam may be scanned on the surface of the photoconductor at the same time. By doing so, it is possible to configure an optical scanning device and an image forming apparatus that are increased in speed and density, and even when such an optical scanning device and an image forming apparatus are configured, the same effects as described above are obtained. The effect of can be obtained. FIG. 11 shows an example of a light source unit constituting the multi-beam light source device.

図11(a)において、半導体レーザ403、404は各々ベース部材405の裏側に形成した図示しない嵌合孔405−1、405−2に個別に嵌合されている。上記嵌合孔405−1、405−2は主走査方向に所定角度、実施例では約1.5°微小に傾斜していて、この嵌合孔に嵌合された半導体レーザ403、404も主走査方向に約1.5°傾斜している。半導体レーザ403、404は、その円筒状ヒートシンク部403−1、404−1に切り欠きが形成されていて、押え部材406、407の中心丸孔に形成された突起406−1、407−1を上記ヒートシンク部の切り欠き部に合わせることによって発光源の配列方向が合わせられている。押え部材406、407はベース部材405にその背面側からネジ412で固定されることにより、半導体レーザ403、404がベース部材405に固定されている。また、コリメートレンズ408、409は各々その外周をベース部材405の半円状の取り付けガイド面405−4、405−5に沿わせて光軸方向の調整を行い、発光点から射出した発散ビームが平行光束となるよう位置決めされ接着されている。   In FIG. 11A, the semiconductor lasers 403 and 404 are individually fitted in fitting holes 405-1 and 405-2 (not shown) formed on the back side of the base member 405, respectively. The fitting holes 405-1 and 405-2 are inclined at a predetermined angle in the main scanning direction, in the embodiment, about 1.5 °, and the semiconductor lasers 403 and 404 fitted in the fitting holes are also main. It is inclined about 1.5 ° in the scanning direction. The semiconductor lasers 403 and 404 have notches formed in the cylindrical heat sink portions 403-1 and 404-1, and the protrusions 406-1 and 407-1 formed in the center round holes of the pressing members 406 and 407 are provided. The alignment direction of the light emitting sources is adjusted by matching the notch portion of the heat sink portion. The holding members 406 and 407 are fixed to the base member 405 with screws 412 from the back side thereof, so that the semiconductor lasers 403 and 404 are fixed to the base member 405. Further, the collimating lenses 408 and 409 are adjusted in the optical axis direction so that the outer circumference thereof is aligned with the semicircular mounting guide surfaces 405-4 and 405-5 of the base member 405. Positioned and bonded so as to be a parallel light beam.

なお、上記実施例では、各々の半導体レーザからの光線が主走査面内で交差するように設定するため、光線方向に沿って嵌合孔405−1、405−2および半円状の取り付けガイド面405−4,405−5を傾けて形成している。ベース部材405の円筒状係合部405−3をホルダ部材410に係合し、ネジ413を貫通孔410−2に通してネジ孔405−6、405−7に螺合することによって、ベース部材405がホルダ部材410に固定され、光源ユニットを構成している。   In the above-described embodiment, since the light beams from the respective semiconductor lasers are set so as to intersect within the main scanning plane, the fitting holes 405-1 and 405-2 and the semicircular mounting guide are disposed along the light beam direction. The surfaces 405-4 and 405-5 are formed to be inclined. By engaging the cylindrical engagement portion 405-3 of the base member 405 with the holder member 410 and passing the screw 413 through the through hole 410-2 and screwing into the screw holes 405-6 and 405-7, the base member Reference numeral 405 denotes a light source unit that is fixed to the holder member 410.

上記光源ユニットのホルダ部材410は、その円筒部410−1が光学ハウジングの取り付け壁411に設けた基準孔411−1に嵌合され、取り付け壁411の表側よりスプリング611を挿入してストッパ部材612を円筒部突起410−3に係合することで、取り付け壁411の裏側に密着して保持され、これによって上記光源ユニットが保持されている。スプリング611の一端を取り付け壁411の突起411−2に引っ掛け、スプリング611の他端を光源ユニットに引っ掛けることで、光源ユニットに円筒部中心を回転軸とした回転力を発生している。この光源ユニットの回転力を係止するように設けた調節ネジ613を具備していて、この調節ネジ613により、光軸の周りであるθ方向にユニット全体を回転しピッチを調節することができるように構成されている。光源ユニットの前方にはアパーチャ415が配置され、アパーチャ415には半導体レーザ毎に対応したスリットが設けられ、光学ハウジングに取り付けられて光ビームの射出径を規定するように構成されている。   The holder member 410 of the light source unit has a cylindrical portion 410-1 fitted into a reference hole 411-1 provided in the mounting wall 411 of the optical housing, and a spring 611 is inserted from the front side of the mounting wall 411 to stop the stopper member 612. Is held in close contact with the back side of the mounting wall 411, thereby holding the light source unit. One end of the spring 611 is hooked on the protrusion 411-2 of the mounting wall 411, and the other end of the spring 611 is hooked on the light source unit, thereby generating a rotational force about the center of the cylindrical portion in the light source unit. An adjustment screw 613 provided to lock the rotational force of the light source unit is provided, and the adjustment screw 613 can rotate the entire unit in the θ direction around the optical axis to adjust the pitch. It is configured as follows. An aperture 415 is disposed in front of the light source unit, and the aperture 415 is provided with a slit corresponding to each semiconductor laser, and is configured to be attached to an optical housing to define an emission diameter of the light beam.

図11(b)は、光源ユニットの第2の実施形態を示す。図11(b)において、4個の発光源を持つ半導体レーザ703からの各光ビームは、ビーム合成手段を用いて合成するように構成されている。符号706は押え部材、705はベース部材、708はコリメートレンズ、710はホルダ部材をそれぞれ示している。この実施の形態では光源としての半導体レーザ703は1個であり、これに応じて押え部材706が1個である点が図11(a)に示す実施の形態と異なっており、他の構成は基本的に同じである。   FIG. 11B shows a second embodiment of the light source unit. In FIG. 11B, each light beam from the semiconductor laser 703 having four light emitting sources is configured to be combined using beam combining means. Reference numeral 706 denotes a pressing member, 705 denotes a base member, 708 denotes a collimating lens, and 710 denotes a holder member. This embodiment is different from the embodiment shown in FIG. 11A in that there is one semiconductor laser 703 as a light source and there is one pressing member 706 according to this, and other configurations are as follows. Basically the same.

図11(c)は、図11(b)に示す例に準じる構成のものであって、4個の発光源を持つ半導体レーザアレイ801からの光ビームを、ビーム合成手段を用いて合成する例を示している。基本的な構成要素は図11(a)、(b)と同様であるから、ここでは説明を省略する。   FIG. 11C shows a configuration similar to the example shown in FIG. 11B, in which the light beams from the semiconductor laser array 801 having four light emitting sources are combined using beam combining means. Is shown. Since the basic components are the same as those shown in FIGS. 11A and 11B, description thereof is omitted here.

次に、本形態に係る光走査装置を用いた画像形成装置の一実施形態を、図12を参照しながら説明する。本実施形態は、本形態に係る光走査装置をタンデム型フルカラーレーザプリンタに適用した例である。図12において、装置内の下部側には水平方向に配設された給紙カセット13から給紙される記録材(例えば転写紙)Sを搬送する搬送ベルト17が設けられている。この搬送ベルト17上にはイエロー(Y)用の感光体7Y、マゼンタ(M)用の感光体7M、シアン(C)用の感光体7C及びブラック(K)用の感光体7Kが、転写紙Sの搬送方向上流側から下流側に向けて順に等間隔で配設されている。なお、以下、符号に対する添字Y、M、C、Kを適宜付けて区別するものとする。これらの感光体7Y、7M、7C、7Kは全て同一径に形成されたもので、その周囲には、電子写真プロセスにしたがって各プロセスを実行するプロセス部材が順に配設されている。感光体7Yを例に採れば、帯電チャージャ8Y、光走査装置9の光走査光学系6Y、現像装置10Y、転写チャージャ11Y、クリーニング装置12Y等が順に配設されている。なお、他の感光体7M、7C、7Kに対しても同様である。   Next, an embodiment of an image forming apparatus using the optical scanning device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. This embodiment is an example in which the optical scanning device according to this embodiment is applied to a tandem full-color laser printer. In FIG. 12, a transport belt 17 for transporting a recording material (for example, transfer paper) S fed from a paper feed cassette 13 disposed in the horizontal direction is provided on the lower side in the apparatus. A yellow (Y) photosensitive member 7Y, a magenta (M) photosensitive member 7M, a cyan (C) photosensitive member 7C, and a black (K) photosensitive member 7K are transferred onto the transfer belt 17. S is arranged at equal intervals in order from the upstream side in the transport direction to the downstream side. Hereinafter, subscripts Y, M, C, and K are appropriately added to the reference numerals for distinction. These photoreceptors 7Y, 7M, 7C, and 7K are all formed to have the same diameter, and process members that perform each process in accordance with the electrophotographic process are sequentially disposed around the photoreceptors. Taking the photoconductor 7Y as an example, a charging charger 8Y, an optical scanning optical system 6Y of the optical scanning device 9, a developing device 10Y, a transfer charger 11Y, a cleaning device 12Y, and the like are sequentially arranged. The same applies to the other photoconductors 7M, 7C, and 7K.

本実施形態では、感光体7Y、7M、7C、7Kの表面を各色毎に設定された被走査面(または被照射面)とするものであり、各々の感光体7Y、7M、7C、7Kに対して光走査装置9の光走査光学系6Y、6M、6C、6Kが1対1の対応関係で設けられている。但し、図1と同様に、光偏向器5と、該光偏向器5に近い側の第1レンズ群L1は、4つの光走査光学系6Y、6M、6C、6Kで共通使用しており、感光体(被走査面)7Y、7M、7C、7Kに近い側の第2レンズ群L2は各光学系にそれぞれ設けられている。なお、複数の光源装置やカップリングレンズ、アパーチャ、シリンドリカルレンズ等の偏向器前光学系の図示は省略している。   In the present embodiment, the surfaces of the photoconductors 7Y, 7M, 7C, and 7K are used as scan surfaces (or irradiated surfaces) that are set for the respective colors, and the photoconductors 7Y, 7M, 7C, and 7K are provided on the respective photoconductors 7Y, 7M, 7C, and 7K. On the other hand, the optical scanning optical systems 6Y, 6M, 6C, and 6K of the optical scanning device 9 are provided in a one-to-one correspondence relationship. However, as in FIG. 1, the optical deflector 5 and the first lens unit L1 on the side close to the optical deflector 5 are commonly used by the four optical scanning optical systems 6Y, 6M, 6C, and 6K. The second lens group L2 on the side close to the photoreceptors (scanned surfaces) 7Y, 7M, 7C, and 7K is provided in each optical system. Note that illustration of a pre-deflector optical system such as a plurality of light source devices, coupling lenses, apertures, and cylindrical lenses is omitted.

搬送ベルト17は駆動ローラ18と従動ローラ19に支持されて図中の矢印の方向に回転され、その周囲には、感光体7Yよりも上流側に位置させてレジストローラ16と、ベルト帯電チャージャ20が設けられ、感光体7Kよりもベルト17の回転方向下流側に位置させてベルト分離チャージャ21、ベルト除電チャージャ22、ベルトクリーニング装置23等が順に設けられている。また、ベルト分離チャージャ21よりも転写紙搬送方向下流側には加熱ローラ24aと加圧ローラ24bからなる定着装置24が設けられ、排紙トレイ26に向けて排紙ローラ25で結ばれている。   The conveying belt 17 is supported by a driving roller 18 and a driven roller 19 and rotated in the direction of the arrow in the figure. Around the periphery thereof, a registration roller 16 and a belt charging charger 20 are positioned upstream of the photoreceptor 7Y. And a belt separation charger 21, a belt neutralization charger 22, a belt cleaning device 23, and the like are provided in this order so as to be positioned downstream of the photoreceptor 7K in the rotation direction of the belt 17. A fixing device 24 including a heating roller 24 a and a pressure roller 24 b is provided downstream of the belt separation charger 21 in the transfer paper conveyance direction, and is connected to a paper discharge tray 26 by a paper discharge roller 25.

このような概略構成のレーザープリンタにおいて、例えば、フルカラーモード(複数色モード)時であれば、各感光体7Y、7M、7C、7Kを帯電チャージャ8Y、8M、8C、8Kで帯電した後、各感光体7Y、7M、7C、7Kに対してY、M、C、K用の各色の画像信号に基づき光走査装置9の各々の光走査光学系6Y、6M、6C、6Kによる光ビームの光走査で、各感光体表面に、各色信号に対応した静電潜像が形成される。これらの静電潜像は各々の対応する現像装置10Y、10M、10C、10KでY、M、C、Kの各色のトナーにより現像されてトナー像となる。この画像形成プロセスにタイミングを合わせて給紙カセット13内の転写紙Sが給紙ローラ14と搬送ローラ15により給紙され、レジストローラ16により搬送ベルト17に送り出される。搬送ベルト17に給紙された転写紙Sは、ベルト帯電チャージャ20の作用により搬送ベルト17に静電的に吸着されて感光体7Y、7M、7C、7Kに向けて搬送され、各感光体7Y、7M、7C、7K上の画像が転写紙S上に順次転写されることにより重ね合わせられ、転写紙S上にフルカラー画像が形成される。このフルカラー画像が転写された転写紙Sはベルト分離チャージャ21により搬送ベルト17から分離されて定着装置24に搬送され、定着装置34でフルカラー画像が転写紙Sに定着された後、排紙ローラ25により排紙トレイ26に排紙される。   In the laser printer having such a schematic configuration, for example, in the full color mode (multiple color mode), each of the photoconductors 7Y, 7M, 7C, and 7K is charged by the charging chargers 8Y, 8M, 8C, and 8K, Light beams from the optical scanning optical systems 6Y, 6M, 6C, and 6K of the optical scanning device 9 based on image signals of colors Y, M, C, and K for the photoreceptors 7Y, 7M, 7C, and 7K. By scanning, an electrostatic latent image corresponding to each color signal is formed on the surface of each photoconductor. These electrostatic latent images are developed with toners of respective colors Y, M, C, and K by the corresponding developing devices 10Y, 10M, 10C, and 10K to form toner images. The transfer paper S in the paper feed cassette 13 is fed by the paper feed roller 14 and the transport roller 15 in synchronization with this image forming process, and is sent out to the transport belt 17 by the registration roller 16. The transfer sheet S fed to the transport belt 17 is electrostatically attracted to the transport belt 17 by the action of the belt charger 20 and transported toward the photoconductors 7Y, 7M, 7C, 7K. , 7M, 7C, and 7K are sequentially transferred onto the transfer paper S so that they are superimposed, and a full-color image is formed on the transfer paper S. The transfer sheet S on which the full-color image has been transferred is separated from the transport belt 17 by the belt separation charger 21 and transported to the fixing device 24. After the full-color image is fixed on the transfer paper S by the fixing device 34, the discharge roller 25 As a result, the paper is discharged to the paper discharge tray 26.

上記画像形成装置の光走査光学系6Y、6M、6C、6Kを、前述の実施形態に係る光走査装置とすることで、走査線曲がりと波面収差の劣化を有効に補正し、色ずれが無く、高品位な画像再現性が確保できる画像形成装置を実現することができる。   By using the optical scanning optical systems 6Y, 6M, 6C, and 6K of the image forming apparatus as the optical scanning apparatus according to the above-described embodiment, the scanning line bending and the wavefront aberration can be effectively corrected, and there is no color shift. Thus, an image forming apparatus that can ensure high-quality image reproducibility can be realized.

なお、上述した形態は、本形態の光走査装置等を実施するための最良のものであるが、かかる実施形式に限定する趣旨ではない。従って、本形態の要旨を変更しない範囲内においてその実施形式を種々変形することが可能である。   The above-described embodiment is the best for implementing the optical scanning device of the present embodiment, but is not intended to be limited to such an embodiment. Therefore, various modifications can be made to the implementation form without departing from the scope of the present embodiment.

本形態の光走査装置をデジタル複写機、レーザープリンタ、レーザファクシミリ等の開発が望まれる。   Development of a digital copying machine, a laser printer, a laser facsimile, etc. is desired for the optical scanning device of this embodiment.

本形態の斜入射光学系の光走査装置の結像光学系の構成を図示したものである。2 illustrates the configuration of an imaging optical system of an optical scanning device of an oblique incidence optical system according to the present embodiment. 水平入射片側走査方式の光走査装置におけるポリゴンミラーの形状(a)と、斜入射光学系の光走査装置におけるポリゴンミラーの形状(b)を図示したものである。The shape (a) of the polygon mirror in the optical scanning device of the horizontal incidence one side scanning system and the shape (b) of the polygon mirror in the optical scanning device of the oblique incidence optical system are illustrated. ポリゴンミラーの副走査方向の高さhと光ビームの分離間隔Δdの関係を図示したものであり、(a)水平入射と斜入射を組み合せたものと、(b)水平入射によるものと、(c)斜入射によるものである。The relationship between the height h of the polygon mirror in the sub-scanning direction and the separation interval Δd of the light beam is illustrated, (a) a combination of horizontal incidence and oblique incidence, (b) due to horizontal incidence, c) Due to oblique incidence. 斜入射されているために副走査方向に角度を持っている光ビームが、第1走査結像レンズにねじれた状態で入射する様子を図示したものである。The light beam having an angle in the sub-scanning direction because it is obliquely incident is shown in a state of being incident on the first scanning imaging lens in a twisted state. 本形態による波面収差、走査線曲がり補正後の光路図(a)〜(c)を図示したものである。The optical path diagrams (a) to (c) after correction of wavefront aberration and scanning line bending according to this embodiment are shown. 特殊チルト偏心面について、レンズ高さと傾きの関係を図示したものである。The relationship between the lens height and the tilt is illustrated for the special tilt eccentric surface. 特殊チルト偏心面の形状により、入射光線が副走査方向にシフトした場合に、光線の進行方向がシフトする様子(a)、(b)を図示したものである。(A) and (b) show how the traveling direction of the light beam is shifted when the incident light beam is shifted in the sub-scanning direction due to the shape of the special tilt eccentric surface. 光ビームの斜入射光学系の副走査方向の軌跡を図示したもの(a)〜(c)である。(A)-(c) which showed the locus | trajectory of the sub-scanning direction of the oblique incidence optical system of a light beam. 走査線曲がり補正の効果を説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the effect of a scanning line curvature correction. 第1レンズ群(L1)の副走査断面内におけるレンズのパワーに関するグラフである。It is a graph regarding the power of the lens in the sub-scan section of the first lens group (L1). マルチビーム光源装置を構成する光源ユニットを図示したもの(a)〜(c)である。1A to 1C illustrate light source units constituting a multi-beam light source device. 本形態に係る光走査装置をタンデム型フルカラーレーザプリンタに適用したものの構成を図示したものである。1 illustrates a configuration of an optical scanning device according to the present embodiment applied to a tandem type full color laser printer.

符号の説明Explanation of symbols

L1 第1レンズ群
L2 第2レンズ群
L1 First lens group L2 Second lens group

Claims (7)

光ビームを発する複数の光源装置と、前記光源装置から発した複数の光ビームを同一偏向面で偏向走査する光偏向器と、前記光偏向器によって偏向された複数の光ビームをそれぞれ異なる被走査面に結像させる結像光学系を有し、前記光源装置から発した複数の光ビームが前記光偏向器の偏向反射面の法線に対し副走査方向に所定の角度をもって入射し、前記結像光学系が同一偏向面で偏向走査された全ての光ビームが共に通過する第1レンズ群と、被走査面ごとに備えられた第2レンズ群とからなる光走査装置において、
光偏向器での反射点と、第1レンズ群の最も偏向器に近いレンズへの入射点とが、基準平面に対して互いに反対側に配置され、
前記第1レンズ群は、光学面基準軸を含む副走査断面内におけるパワーはゼロまたは略ゼロであり、かつ、射出面の副走査断面内の曲率が光学面基準軸より離れるに従い変化することにより光学面基準軸に平行な副走査断面内におけるパワーの絶対値が大きくなるレンズ一枚からなり、
前記光学面基準軸より離れるに従い副走査断面内における負のパワーが強くなり、
前記基準平面は、偏向器の回転軸と直交し前記光学面基準軸を含む平面であることを特徴とする光走査装置。
A plurality of light source devices that emit light beams, a light deflector that deflects and scans a plurality of light beams emitted from the light source device on the same deflection surface, and a plurality of light beams deflected by the light deflector are scanned differently. A plurality of light beams emitted from the light source device are incident at a predetermined angle in a sub-scanning direction with respect to the normal line of the deflection reflection surface of the optical deflector, and In an optical scanning device comprising a first lens group through which all light beams deflected and scanned by the image optical system on the same deflection surface, and a second lens group provided for each scanned surface,
The reflection point at the optical deflector and the incident point to the lens closest to the deflector of the first lens group are arranged on opposite sides with respect to the reference plane,
The first lens group has zero or substantially zero power in the sub-scan section including the optical surface reference axis, and the curvature of the exit surface in the sub-scan section changes as the distance from the optical surface reference axis changes. It consists of a single lens that increases the absolute value of power in the sub-scan section parallel to the optical surface reference axis,
Ri a strong negative power in the sub-scanning cross-section with increasing distance from the optical surface reference axis,
The reference plane is perpendicular to the rotation axis of the deflector optical scanning device comprising a planar der Rukoto including the optical surface reference axis.
前記第1レンズ群の光学面基準軸を含む副走査断面における副走査方向の曲率はゼロまたは略ゼロであることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。   2. The optical scanning device according to claim 1, wherein a curvature in a sub-scanning direction in a sub-scanning section including an optical surface reference axis of the first lens group is zero or substantially zero. 前記第2レンズ群の少なくとも一つの面は、副走査方向に曲率を持たない面で構成され、かつ、前記光学面基準軸からの距離に応じて副走査方向のチルト偏心角度が変化する特殊チルト偏心面を少なくとも一面有することを特徴とする請求項1または2に記載の光走査装置。   At least one surface of the second lens group is a surface having no curvature in the sub-scanning direction, and a special tilt in which the tilt eccentric angle in the sub-scanning direction changes according to the distance from the optical surface reference axis. The optical scanning device according to claim 1, wherein the optical scanning device has at least one eccentric surface. 前記第2レンズ群の特殊チルト偏心面の偏心量は、前記光学面基準軸を含む副走査断面内ではゼロであることを特徴とする請求項3に記載の光走査装置。   4. The optical scanning device according to claim 3, wherein an eccentric amount of the special tilt eccentric surface of the second lens group is zero in a sub-scan section including the optical surface reference axis. 前記結像光学系は、副走査断面内において縮小光学系であることを特徴とする請求項1から4の何れかに記載の光走査装置。   5. The optical scanning device according to claim 1, wherein the imaging optical system is a reduction optical system in a sub-scan section. 請求項1から5の何れかに記載の光走査装置を、光走査手段として用いることを特徴とするマルチビーム光走査装置。   6. A multi-beam optical scanning device using the optical scanning device according to claim 1 as optical scanning means. 請求項1から5の何れかに記載の光走査装置を、電子写真の書込手段として用いることを特徴とする画像形成装置。   An image forming apparatus using the optical scanning device according to claim 1 as an electrophotographic writing unit.
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