JP5354426B2 - 測定装置、測定方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
位置を中心とする正多角形の各辺近傍に配置された関係であることを特徴とする。
以下、測定装置の一例について、図面を参照して説明する。
図1に示すように、測定装置1は、光源2および3、発振器4および5、光ファイバー6および7、結合器8、送光プローブ9、プローブホルダ10、プローブソケット11および12、受光プローブ13、受光素子14、ロックインアンプ15および16、A/D変換部17、計算処理部18、記憶部19、表示部20、入力部21、撮影部22および23、キャプチャ部24を備えている。
以下、計算処理部18の構成について詳細に説明する。図2は、計算処理部の機能ブロック図である。計算処理部18は、三次元座標計測部30、フロートオフセット補正部31、座標変換部32、投影部33、Hb濃度変化測定部34、Hb濃度変化表示部35を備えている。
以下、測定装置の動作について説明する。図3は、測定装置の動作を示すフローチャートである。以下では、図3のステップ毎に計測手順を詳細に説明する。
まず、図1の頭部25にターゲットを貼付する。3つの参照点Nz,AR,ALに円形のレトロターゲット(再帰反射性ターゲット)を貼り付ける。レトロターゲットは光を全反射するため、撮影画像で白円として映し出される。
次に、頭部25に貼り付けたターゲットを撮影する。撮影は、プローブ9および13を外した状態で行う。
続いて、撮影画像からプローブまたはチャネル、参照点の三次元座標を計測する。まず、撮影画像からリングターゲット40(プローブまたはチャネル)を検出し、プローブ位置またはチャネル位置を左右画像で対応付ける処理について説明する。
(1)未知パラメータ(κ1,φ1,κ2,φ2,ω2)の初期近似値は通常0とする。
(2)数14の共面条件式を近似値のまわりにテーラー展開し、線形化したときの微分係数の値を数15により求め、観測方程式をたてる。
(3)最小二乗法をあてはめ、近似値に対する補正量を求める。
(4)近似値を補正する。
(5)補正された近似値を用いて、(2)〜(4)までの操作を収束するまで繰り返す。
以下、プローブ位置またはチャネル位置のフロートオフセット補正について説明する。まず、図4に示すように、位置マークM1〜M6の三次元座標に基づき、位置マークを含む仮想平面42を求める。さらに、プローブ位置P1を通るように仮想平面42の法線41を求める。
以下、3つの参照点Nz,AR,ALから、参照座標系の補助参照点Czを算出する方法について説明する。図10は、補助参照点の算出方法を説明する説明図である。
次に、3つの参照点と補助参照点の4点から座標変換の変換行列を算出する。座標変換には、アフィン変換を用いる。アフィン変換の基本式を数17に示す。数17の行列式を数18の一次方程式にし、4点の三次元座標を数18に代入して連立方程式を解く。これにより、変換行列を求める。
次に、上記変換行列を用いて、既に求めたプローブ位置またはチャネル位置の三次元座標をモデル座標系から参照座標系へ座標変換する。この処理は、数17の式に、P1,P2またはCh1の三次元座標を代入することで求める。
参照座標系のプローブ位置またはチャネル位置は、参照頭部上には位置していないため、バルーンインフレーション法(Balloon-inflation Method)、凸包法(Convex-hull Method)、または複数の位置マークを含む仮想平面の法線を用いて、プローブ位置またはチャネル位置を参照頭部の頭表上または脳表上に投影する。図11および図12は、プローブ位置またはチャネル位置の投影方法を説明する説明図である。
最後に、プローブ毎またはチャネル毎に測定したOxyHbとDeoxyHbの濃度変化を参照頭部の頭表上または脳表上に表示する。
以下、第1の実施形態の優位性について説明する。第1の実施形態によれば、複数のプローブ9および13が取り付けられる位置P1,P2を、画像計測(写真測量)によって半自動または全自動で測定できるため、測定時間を低減することができる。
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。第2の実施形態は、フロートオフセット補正の変形例である。以下、第1の実施形態と同様の構成については、説明を省略する。
以下、第2の実施形態の優位性について説明する。第2の実施形態によれば、頭表面とプローブ面またはチャネル面とが、より等しい曲率となるため、プローブ位置P1,P2またはチャネル位置Ch1を頭表上または脳表上に投影することができる。
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。第3の実施形態は、フロートオフセット補正の変形例である。以下、第1の実施形態と同様の構成については、説明を省略する。
以下、第3の実施形態の優位性について説明する。第3の実施形態によれば、頭表面とプローブ面またはチャネル面とが略等しい曲率となるため、プローブ位置P1,P2またはチャネル位置Ch1を頭表上または脳表上に投影することができる。
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。第4の実施形態は、コードターゲットの変形例である。以下、第1の実施形態と同様の構成については、説明を省略する。
以下、第4の実施形態の優位性について説明する。第4の実施形態によれば、無彩色のコードターゲットによって、複数の撮影画像内で検出したターゲットを自動的に対応付けることができる。
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。第5の実施形態は、コードターゲットの変形例である。以下、第1の実施形態と同様の構成については、説明を省略する。なお、第5の実施の形態におけるL型プローブを使用すれば、頭部にプローブホルダとプローブをつけた状態でプローブ位置の計測が可能となる。
以下、第5の実施形態の優位性について説明する。第5の実施形態によれば、四角形ターゲット50が、L型プローブの頭部51に設けられているため、四角形ターゲット50の3つの位置マークM1〜M3が含まれる仮想平面の法線52方向と、L型プローブの光軸方向とが略等しくなる。
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。第6の実施形態は、コードターゲットの変形例である。以下、第1の実施形態と同様の構成については、説明を省略する。
以下、第6の実施形態の優位性について説明する。第6の実施形態によれば、撮影画像内で検出された複数の位置マークM1〜M6を、プローブ9または13毎(ターゲット毎)のグループに自動的に分類し、かつ左右画像で複数の位置マークM1〜M6を自動的に対応付けることができる。このため、複数のプローブ9および13が取り付けられる位置P1,P2の測定時間を低減することができる。
Claims (18)
- 対象物に接触または近接させた複数の測定用端子の検出信号に基づいて前記対象物の特性を測定し、かつ前記測定用端子の位置を測定する測定装置において、
前記測定用端子の位置を求めるために、前記測定用端子の周囲で所定の位置関係に配置された複数の位置マークを有するターゲットと、
前記ターゲットを少なくとも異なる2方向から撮影する撮影部と、
前記撮影部の撮影画像内で検出した複数の位置マークを、前記所定の位置関係を利用して前記測定用端子ごとのグループに分類し、前記複数の位置マークの三次元座標を計測する三次元座標計測部と、
前記三次元座標計測部で計測した複数の位置マークが含まれる仮想平面を測定用端子ごとに求め、前記仮想平面に法線を想定し、前記測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることによって、前記測定用端子の対象物表面からの浮き度合いを補正するフロートオフセット補正部と、
を備えることを特徴とする測定装置。 - 前記フロートオフセット補正部は、隣接する測定用端子の位置を結ぶ仮想結線を想定し、前記仮想結線と前記法線とのなす対象物側の角度が略等しくなるように、特定の測定用端子の位置を固定し、他の測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記フロートオフセット補正部は、隣接する測定用端子の位置を結ぶ仮想結線を想定し、前記仮想結線と前記法線とのなす対象物側の角度が略等しくなるように、特定の測定用端子の位置を固定し、他の測定用端子の位置を前記法線方向に移動させるオフセット量を求め、さらに複数の測定用端子の位置を固定して、測定用端子ごとに複数のオフセット量を求め、前記複数のオフセット量の平均値を補正に必要なオフセット量として利用することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記フロートオフセット補正部は、隣接する測定用端子の位置を結ぶ仮想結線を想定し、前記仮想結線と前記法線とのなす対象物側の角度が略等しくなるように、予め与えられた測定用端子のオフセット量だけ前記測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記ターゲットは、前記測定用端子を識別するコード部を有するコードターゲットであることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記ターゲットは、前記測定用端子を識別するカラーコード部を有するカラーコードターゲットであることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記フロートオフセット補正部で補正した測定用端子の位置を、少なくとも3つの参照点によって、対象物が存在する座標系に変換する座標変換部をさらに備え、前記座標変換部は、前記参照点が4つ未満である場合に、極座標を利用して前記参照点から補助参照点を算出することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記対象物は人体の頭部であり、前記参照点は前記頭部の解剖学的メルクマールであることを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
- 前記座標変換部で変換した測定用端子の位置を、バルーンインフレーション法、または凸包法、または前記法線を用いて、前記対象物表面上に投影する投影部をさらに備えることを特徴する請求項7に記載の測定装置。
- 前記ターゲットは、前記測定用端子のソケットの挿入面に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記ターゲットは、L型の測定用端子の頭部に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記カラーコード部の起点は、前記複数の位置マークにおける所定の位置関係に基づいて判別されることを特徴とする請求項6に記載の測定装置。
- 前記ターゲットは、少なくとも4つの位置マークを有していることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記所定の位置関係は、測定用端子の位置を中心とする同心円上に配置された関係、または測定用端子の位置を中心とする正多角形の各辺近傍に配置された関係であることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記所定の位置関係は、対称となる2つの三角形の頂点に配置された関係であることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記所定の位置関係は、多角形の頂点に配置された関係であることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 対象物に接触または近接させた複数の測定用端子の検出信号に基づいて前記対象物の特性を測定し、かつ前記測定用端子の位置を測定するための測定方法において、
前記測定用端子の位置を求めるために、前記測定用端子の周囲で所定の位置関係に配置された複数の位置マークを有するターゲットを少なくとも異なる2方向から撮影する手順と、
前記手順で撮影した画像内で検出した複数の位置マークを、前記所定の位置関係を利用して前記測定用端子ごとのグループに分類し、前記複数の位置マークの三次元座標を計測する手順と、
前記手順で計測した複数の位置マークが含まれる仮想平面を測定用端子ごとに求め、前記仮想平面に法線を想定し、前記測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることによって、前記測定用端子の対象物表面からの浮き度合いを補正する手順と、
を備えることを特徴とする測定方法。 - 対象物に接触または近接させた複数の測定用端子の検出信号に基づいて前記対象物の特性を測定し、かつ前記測定用端子の位置を測定するためのプログラムにおいて、
前記測定用端子の位置を求めるために、前記測定用端子の周囲で所定の位置関係に配置された複数の位置マークを有するターゲットを少なくとも異なる2方向から撮影するステップと、
前記ステップで撮影した画像内で検出した複数の位置マークを、前記所定の位置関係を利用して前記測定用端子ごとのグループに分類し、前記複数の位置マークの三次元座標を計測するステップと、
前記ステップで計測した複数の位置マークが含まれる仮想平面を測定用端子ごとに求め、前記仮想平面に法線を想定し、前記測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることによって、前記測定用端子の対象物表面からの浮き度合いを補正するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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