JP5353395B2 - Signal transmission circuit and power conversion device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the accuracy of transmission of a transmitting signal by eliminating the influence of noise accompanying a change in a magnetic field. <P>SOLUTION: A signal transmitting circuit includes a set pulse gate circuit 12a, which is closed for a predetermined time from the point of time when the pulses of a set signal S102 pass. It prevents the pulses of the set signal S102 from being transmitted to an N-channel field effect transistor Tr1, at an interval which is shorter than the predetermined time, thereby limiting the excitation interval of the exciting coil of the insulating transformer TL1 for setting. It includes a reset pulse gate circuit 12c, which is open until the pulses of the reset signal S103 pass immediately after the pulses of the set signal S102 pass. It prevents noise from being transmitted to an N-channel field effect transistor Tr2 as pulses of the reset signals S103 by mistake after the pulses of the reset signal S103 pass, while surely passing the pulses of the reset signal S103 corresponding to the set signal S102. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、トランスを用いて信号伝送を行なう信号伝送回路及び電力変換装置に関する。   The present invention relates to a signal transmission circuit and a power conversion device that perform signal transmission using a transformer.

近年の車両機器では、高効率化および省エネ対策を図るために、駆動力を生む電動機の駆動システムに、昇降圧コンバータ及びインバータが搭載されている。
図5は、昇降圧コンバータ及びインバータを用いた車両駆動システムの概略構成を示すブロック図である。
図5において、車両駆動システムには、昇降圧コンバータ1102に電力を供給する直流電源1101、電圧の昇降圧を行う昇降圧コンバータ1102、昇降圧コンバータ1102から出力された電圧を3相電圧に変換するインバータ1103及び車両を駆動する電動機1104が設けられている。
In recent vehicle equipment, a step-up / step-down converter and an inverter are mounted on a drive system of an electric motor that generates drive force in order to achieve high efficiency and energy saving measures.
FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a vehicle drive system using a buck-boost converter and an inverter.
5, the vehicle drive system includes a DC power supply 1101 that supplies power to the buck-boost converter 1102, a buck-boost converter 1102 that performs voltage buck-boost, and a voltage output from the buck-boost converter 1102 is converted into a three-phase voltage. An inverter 1103 and an electric motor 1104 for driving the vehicle are provided.

なお、直流電源1101は、架線からの給電電圧、又は直列接続されたバッテリーから構成することができる。
そして、車両駆動時には、昇降圧コンバータ1102は、直流電源1101の電圧(例えば280V)を電動機1104の駆動に適した電圧(例えば750V)に昇圧し、インバータ1103に供給する。そして、インバータ1103のスイッチング素子をオン/オフ制御することにより、昇降圧コンバータ1102にて昇圧された電圧を3相電圧に変換して、電動機1104の各相に電流を流し、スイッチング周波数を制御することで車両の速度を変化させる。
Note that the DC power supply 1101 can be constituted by a power supply voltage from an overhead wire or a battery connected in series.
When the vehicle is driven, the step-up / down converter 1102 boosts the voltage (eg, 280 V) of the DC power supply 1101 to a voltage (eg, 750 V) suitable for driving the electric motor 1104 and supplies the boosted voltage to the inverter 1103. Then, by switching on / off the switching element of the inverter 1103, the voltage boosted by the buck-boost converter 1102 is converted into a three-phase voltage, and a current is passed through each phase of the motor 1104 to control the switching frequency. This changes the speed of the vehicle.

一方、車両の制動時には、インバータ1103は、電動機1104の各相に生じる電圧に同期してスイッチング素子をオン/オフ制御することにより整流動作を行い、直流電圧に変換してから、昇降圧コンバータ1102に供給する。そして、昇降圧コンバータ1102は、電動機1104から生じる電圧(例えば750V)を直流電源1101の電圧(例えば280V)に降圧して電力の回生動作を行う。   On the other hand, at the time of braking of the vehicle, the inverter 1103 performs a rectifying operation by performing on / off control of the switching element in synchronization with the voltage generated in each phase of the electric motor 1104 and converts it to a DC voltage, and then the buck-boost converter 1102. To supply. Then, the step-up / down converter 1102 steps down the voltage (for example, 750 V) generated from the electric motor 1104 to the voltage (for example, 280 V) of the DC power supply 1101 and performs a power regeneration operation.

図6は、図5の昇降圧コンバータ1102及びインバータ1103の概略構成を示すブロック図である。
図6において、昇降圧コンバータ1102には、エネルギーの蓄積を行うリアクトルL、電荷の蓄積を行うコンデンサC、インバータ1103に流入する電流を通電及び遮断するスイッチング素子SW1、SW2、スイッチング素子SW1、SW2の導通及び非導通を指示する制御信号を生成する制御回路1111が接続されている。
FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of the buck-boost converter 1102 and the inverter 1103 of FIG.
In FIG. 6, the buck-boost converter 1102 includes a reactor L for storing energy, a capacitor C for storing charge, switching elements SW1 and SW2, and switching elements SW1 and SW2 for energizing and interrupting current flowing into the inverter 1103. A control circuit 1111 that generates a control signal instructing conduction and non-conduction is connected.

そして、スイッチング素子SW1、SW2は直列に接続されると共に、スイッチング素子SW1、SW2の接続点には、リアクトルLを介して直流電源1101が接続されている。
ここで、スイッチング素子SW1には、制御回路1111からの制御信号に従ってスイッチング動作を行うIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)1105が設けられ、IGBT1105に流れる電流と逆方向に電流を流すフライホイールダイオードD1がIGBT1105に並列に接続されている。
The switching elements SW1 and SW2 are connected in series, and a DC power source 1101 is connected to a connection point of the switching elements SW1 and SW2 via a reactor L.
Here, the switching element SW1 is provided with an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) 1105 that performs a switching operation in accordance with a control signal from the control circuit 1111. Connected in parallel.

また、スイッチング素子SW2には、制御回路1111からの制御信号に従ってスイッチング動作を行うIGBT1106が設けられ、IGBT1106に流れる電流と逆方向に電流を流すフライホイールダイオードD2がIGBT1106に並列に接続されている。そして、IGBT1106のコレクタは、コンデンサCおよびインバータ1103の双方に接続されている。   The switching element SW2 is provided with an IGBT 1106 that performs a switching operation in accordance with a control signal from the control circuit 1111. A flywheel diode D2 that flows a current in a direction opposite to the current flowing through the IGBT 1106 is connected in parallel to the IGBT 1106. The collector of the IGBT 1106 is connected to both the capacitor C and the inverter 1103.

一方、インバータ1103は、昇降圧コンバータ1102のスイッチングSW1及びSW2と同一構成を有するスイッチング素子SW11、SW21が直列に接続された第1のアームA1と、同様に、スイッチング素子SW1、SW2と同一構成を有するスイッチング素子SW12、SW22が直列に接続された第2のアームA2と、スイッチング素子SW1、SW2と同一構成を有するスイッチング素子SW13、SW23が直列に接続された第3のアームA3とを有し、これらアームA1〜A3が並列に接続されて構成される。そして、各アームA1〜A3のスイッチング素子どうしの接続点が、3相の電動機1104の各リアクトルに接続されている。
なお、各スイッチング素子SW11〜SW23の、各IGBTのゲート端子は、制御回路1112に接続され、各IGBTは、制御回路1112からの制御信号に応じて動作し、これによりスイッチング素子SW11〜SW23の導通及び非導通が制御される。
On the other hand, the inverter 1103 has the same configuration as the switching elements SW1 and SW2 as well as the first arm A1 in which switching elements SW11 and SW21 having the same configuration as the switching SW1 and SW2 of the buck-boost converter 1102 are connected in series. A second arm A2 having switching elements SW12 and SW22 connected in series, and a third arm A3 having switching elements SW13 and SW23 having the same configuration as the switching elements SW1 and SW2 connected in series; These arms A1 to A3 are configured to be connected in parallel. And the connection point of the switching elements of each arm A1 to A3 is connected to each reactor of the three-phase motor 1104.
Note that the gate terminals of the IGBTs of the switching elements SW11 to SW23 are connected to the control circuit 1112, and the IGBTs operate in response to a control signal from the control circuit 1112, whereby the conduction of the switching elements SW11 to SW23 is achieved. And non-conduction is controlled.

図7は、昇圧動作時に図6の昇降圧コンバータ1102のリアクトルLに流れる電流の波形を示す図である。
図7において、昇圧動作では、スイッチング素子SW1のIGBT1105がオン(導通)すると、IGBT1105を介してリアクトルLに電流Iが流れ、LI2/2のエネルギーがリアクトルLに蓄積される。
次に、スイッチング素子SW1のIGBT1105がオフ(非導通)すると、スイッチング素子SW2のフライホイールダイオードD2に電流が流れ、リアクトルLに蓄えられたエネルギーがコンデンサCに送られる。
FIG. 7 is a diagram showing a waveform of a current flowing through the reactor L of the buck-boost converter 1102 in FIG. 6 during the boosting operation.
In FIG. 7, in the step-up operation, when IGBT 1105 of switching element SW <b> 1 is turned on (conductive), current I flows to reactor L through IGBT 1105, and energy of LI <b> 2/2 is accumulated in reactor L.
Next, when the IGBT 1105 of the switching element SW1 is turned off (non-conducting), a current flows through the flywheel diode D2 of the switching element SW2, and the energy stored in the reactor L is sent to the capacitor C.

一方、降圧動作では、スイッチング素子SW2のIGBT1106がオン(導通)すると、IGBT1106を介してリアクトルLに電流Iが流れ、LI2/2のエネルギーがリアクトルLに蓄積される。
次に、スイッチング素子SW2のIGBT1106がオフ(非導通)すると、スイッチング素子SW1のフライホイールダイオードD1に電流が流れ、リアクトルLに蓄えられたエネルギーが直流電源1101へ回生される。
On the other hand, in the step-down operation, when IGBT 1106 of switching element SW2 is turned on (conductive), current I flows through reactor L via IGBT 1106, and the energy of LI2 / 2 is accumulated in reactor L.
Next, when the IGBT 1106 of the switching element SW2 is turned off (non-conducting), a current flows through the flywheel diode D1 of the switching element SW1, and the energy stored in the reactor L is regenerated to the DC power source 1101.

ここで、フライホイールダイオードD2(昇圧動作の場合)又はスイッチング素子SW2のIGBT1106(降圧動作の場合)のオン時比率(ON Duty)を変更することで、昇降圧の電圧を調整することが可能であり、概略の電圧値は以下の(1)式にて求めることができる。
VL/VH=ON Duty ……(1)
ただし、VLは直流電源1101の電圧、VHはコンデンサCの電圧、ON DutyはフライホイールダイオードD2(昇圧動作の場合)又はスイッチング素子SW2(降圧動作の場合)のスイッチング周期に対する導通期間の割合である。
Here, by changing the on-time ratio (ON Duty) of the flywheel diode D2 (in the case of step-up operation) or the IGBT 1106 (in the case of step-down operation) of the switching element SW2, it is possible to adjust the voltage of the step-up / step-down voltage. Yes, the approximate voltage value can be obtained by the following equation (1).
VL / VH = ON Duty (1)
However, VL is the voltage of the DC power supply 1101, VH is the voltage of the capacitor C, and ON Duty is the ratio of the conduction period to the switching cycle of the flywheel diode D2 (in the case of step-up operation) or the switching element SW2 (in the case of step-down operation). .

ここで、実際には負荷の変動、電源電圧VLの変動などがあるので、電圧VH、VLを監視し、昇降圧された電圧が目標値となるように、オン時比率(ON Duty)の制御が行われている。
図5、図6に示すような昇降圧コンバータ1102に対し、絶縁トランスを用いて信号を伝送するパワーエレクトロニクス機器を適用することが提案されている(例えば特許文献1参照)。
Here, since there are actually fluctuations in the load, fluctuations in the power supply voltage VL, and the like, the voltages VH and VL are monitored, and the on-duty ratio (ON Duty) is controlled so that the stepped-up / down voltage becomes the target value. Has been done.
It has been proposed to apply a power electronics device that transmits signals using an insulating transformer to the buck-boost converter 1102 as shown in FIGS. 5 and 6 (see, for example, Patent Document 1).

図8は、そのようなパワーエレクトロニクス機器の一つであるIPM(Inteligent Power Module)及びその周辺回路を含めた概略構成を示すブロック図である。
スイッチング素子SW1、SW2、およびこれらスイッチング素子SW1、SW2の導通及び非導通を指示する制御信号を生成する制御回路1111は、車体筐体に設置される。
FIG. 8 is a block diagram showing a schematic configuration including an IPM (Intelligent Power Module) which is one of such power electronics devices and its peripheral circuits.
The switching elements SW1 and SW2 and the control circuit 1111 that generates a control signal that instructs conduction and non-conduction of the switching elements SW1 and SW2 are installed in the vehicle body casing.

制御回路1111は、中央演算処理IC、或いは論理IC及び中央演算処理IC、等が搭載されたLSIなどで構成されるCPU1111aを備えている。このCPU1111a側は低圧系であり、スイッチング素子SW1、SW2に接続されるアーム側は高圧系となる。このため、スイッチング素子SW1、SW2の破壊などの事故が発生しても、人体が危険に晒されることがないようにするために、絶縁トランスやフォトカプラ等、を用いて電気的に絶縁しながら、CPU1111a側とアーム側との間で信号の授受が行われる。   The control circuit 1111 includes a CPU 1111a configured by a central processing IC, or an LSI on which a logic IC and a central processing IC are mounted. The CPU 1111a side is a low pressure system, and the arm side connected to the switching elements SW1 and SW2 is a high pressure system. Therefore, in order to prevent the human body from being exposed to danger even if an accident such as destruction of the switching elements SW1 and SW2 occurs, it is electrically insulated using an insulating transformer or a photocoupler. Signals are exchanged between the CPU 1111a side and the arm side.

このCPU1111aでは、スイッチング素子SW1、SW2の導通及び非導通を指示する制御信号として両者に対するPWM信号をそれぞれ生成する。
また、スイッチング素子SW1、SW2は、それぞれ下アーム用、上アーム用として動作する。
そして、上アーム用のスイッチング素子SW2を構成するIGBT1106が形成されたチップには、チップの温度変化に起因するフライホイールダイオードD2のVF(順方向電圧)変化を測定原理として用いた温度センサ、及び抵抗RU1、RU2を介してIGBT1106の電流センス用エミッタからの電流の大きさを検出することにより主回路電流の大きさを検出する電流センサが設けられている(電流センス用エミッタからの電流の大きさと主回路電流の大きさの比は一定である。)。
The CPU 1111a generates PWM signals for both as control signals for instructing conduction and non-conduction of the switching elements SW1 and SW2.
The switching elements SW1 and SW2 operate for the lower arm and the upper arm, respectively.
In the chip on which the IGBT 1106 constituting the switching element SW2 for the upper arm is formed, a temperature sensor using a VF (forward voltage) change of the flywheel diode D2 due to a temperature change of the chip as a measurement principle, and A current sensor is provided for detecting the magnitude of the main circuit current by detecting the magnitude of the current from the current sensing emitter of the IGBT 1106 via the resistors RU1 and RU2 (the magnitude of the current from the current sensing emitter). And the ratio of the magnitude of the main circuit current is constant.)

同様に、下アーム用のスイッチング素子SW1を構成するIGBT1105が形成されたチップには、チップの温度変化に起因するフライホイールダイオードD1のVF変化を測定原理として用いた温度センサ、及びIGBT1105の電流センス用エミッタからの電流の大きさを抵抗RD1、RD2を介して検出することにより主回路電流の大きさを検出する電流センサが設けられている。   Similarly, on the chip on which the IGBT 1105 constituting the switching element SW1 for the lower arm is formed, the temperature sensor using the VF change of the flywheel diode D1 due to the temperature change of the chip as a measurement principle, and the current sense of the IGBT 1105 There is provided a current sensor for detecting the magnitude of the main circuit current by detecting the magnitude of the current from the main emitter via the resistors RD1 and RD2.

そして、上アーム側には、温度センサからの過熱検知信号SU6及び電流センサからの過電流検知信号SU5を監視しながら、IGBT1106の制御端子を駆動するためのゲート信号SU4を生成する保護機能付きゲートドライバIC1115Uが設けられると共に、IGBT1106の温度に対応したPWM信号を生成するアナログ−PWM変換器CUが設けられている。なお、保護機能付きゲートドライバIC1115Uには、スイッチング素子SW2の状態信号を生成する自己診断回路を設けることができる。   On the upper arm side, a gate with a protection function that generates a gate signal SU4 for driving the control terminal of the IGBT 1106 while monitoring the overheat detection signal SU6 from the temperature sensor and the overcurrent detection signal SU5 from the current sensor. A driver IC 1115U is provided, and an analog-PWM converter CU that generates a PWM signal corresponding to the temperature of the IGBT 1106 is provided. Note that the gate driver IC 1115U with a protective function can be provided with a self-diagnosis circuit that generates a state signal of the switching element SW2.

同様に、下アーム側には、温度センサからの過熱検知信号SD6及び電流センサからの過電流検知信号SD5を監視しながら、IGBT1105の制御端子を駆動するためのゲート信号SD4を生成する保護機能付きゲートドライバIC1115Dが設けられると共に、IGBT1105の温度に対応したPWM信号を生成するアナログ−PWM変換器CDが設けられている。なお、保護機能付きゲートドライバIC1115Dには、スイッチング素子SW1の状態信号を生成する自己診断回路を設けることができる。   Similarly, the lower arm side has a protection function for generating a gate signal SD4 for driving the control terminal of the IGBT 1105 while monitoring the overheat detection signal SD6 from the temperature sensor and the overcurrent detection signal SD5 from the current sensor. A gate driver IC 1115D is provided, and an analog-PWM converter CD that generates a PWM signal corresponding to the temperature of the IGBT 1105 is provided. Note that the gate driver IC 1115D with protection function can be provided with a self-diagnosis circuit that generates a state signal of the switching element SW1.

また、制御回路1111は、CPU1111aから出力されたPWM信号を、保護機能付きゲートドライバIC1115U及び1115Dに伝送すると共に、保護機能付きゲートドライバIC1115U、1115Dでのスイッチング素子SW1、SW2の過電流を検出したことを通知するためのアラーム信号SU2、SD2、或いは、アナログ−PWM変換器CU、CDからのチップが過熱状態であることを検出したことを通知するためのアラーム信号SU3、SD3を、電気的に絶縁したままCPU1111aに絶縁伝送するための絶縁トランスを用いた信号伝送部1117を備えている。
CPU1111aは、保護機能付きゲートドライバIC1115U、1115D或いは、アナログ−PWM変換器CU、CDからのアラーム信号SU2、SD2、SU3、SD3が通知されたときには、PWM信号の生成を停止する。
The control circuit 1111 transmits the PWM signal output from the CPU 1111a to the gate driver ICs 1115U and 1115D with protection functions, and detects the overcurrent of the switching elements SW1 and SW2 in the gate driver ICs 1115U and 1115D with protection functions. The alarm signals SU2 and SD2 for notifying that, or the alarm signals SU3 and SD3 for notifying that the chip from the analog-PWM converters CU and CD is detected to be overheated are electrically A signal transmission unit 1117 using an insulation transformer for insulation transmission to the CPU 1111a while being insulated is provided.
When the CPU 1111a is notified of the alarm signals SU2, SD2, SU3, and SD3 from the gate driver ICs 1115U and 1115D with protection functions or the analog-PWM converters CU and CD, the CPU 1111a stops generating the PWM signal.

また、保護機能付きゲートドライバIC1115U、1115D、或いは、アナログ−PWM変換器CU,CDでは、それぞれ温度センサ或いは電流センサの出力信号が、IGBT1105、1106が破壊されることのない閾値を下回り、且つこの状態が一定時間経過した後に、アラーム信号を解除する。また、さらに細かい監視を行なう場合には、温度センサの出力信号のアナログ値をPWM変換によりデジタル信号にし、これを、絶縁トランスを介して信号伝送を行なう信号伝送部1117を介してCPU1111aに絶縁伝送し、CPU1111aで、伝送されたPWM信号からIGBTのチップ温度を算出し、予め設けられた複数段階の閾値に応じて、スイッチング周波数の段階的な低下及びスイッチングの停止を行なう。
ここで、前記信号伝送部1117は、図8に示すように、絶縁トランスにより信号伝送を行なう信号伝送回路TUを複数備えており、この信号伝送回路TUは信号線毎に設けられている。
In addition, in the gate driver ICs 1115U, 1115D with protection function, or the analog-PWM converters CU, CD, the output signals of the temperature sensor or current sensor are below the threshold values at which the IGBTs 1105, 1106 are not destroyed, respectively. Release the alarm signal after a certain period of time. Further, when performing further monitoring, the analog value of the output signal of the temperature sensor is converted into a digital signal by PWM conversion, and this is insulated and transmitted to the CPU 1111a via the signal transmission unit 1117 that performs signal transmission via the insulation transformer. Then, the CPU 1111a calculates the chip temperature of the IGBT from the transmitted PWM signal, and performs stepwise reduction of the switching frequency and stop of switching according to a plurality of threshold values provided in advance.
Here, as shown in FIG. 8, the signal transmission unit 1117 includes a plurality of signal transmission circuits TU that perform signal transmission using an insulating transformer, and the signal transmission circuit TU is provided for each signal line.

図9(a)は、絶縁トランスの構成を示す断面図、図9(b)は、絶縁トランスの概略構成の一例を示す平面図である。
図9において、半導体基板2011には引き出し配線層2012が埋め込まれると共に、半導体基板2011上には1次巻線パターン2014が形成されている。引き出し配線層2012と1次巻線パターン2014は接続導体2013により接続されている。そして、1次巻線パターン2014上には平坦化膜2015が形成され、平坦化膜2015上には、2次巻線パターン2017が形成され、2次巻線パターン2017は保護膜2018にて覆われている。そして、保護膜2018には、2次巻線パターン2017の中心を露出させる開口部2019が形成され、開口部2019を介して2次巻線パターン2017の中心にボンディングワイヤを接続することにより、2次巻線パターン2017からの引き出しを行なうことができる。
FIG. 9A is a cross-sectional view showing a configuration of the insulating transformer, and FIG. 9B is a plan view showing an example of a schematic configuration of the insulating transformer.
In FIG. 9, a lead wiring layer 2012 is embedded in the semiconductor substrate 2011, and a primary winding pattern 2014 is formed on the semiconductor substrate 2011. The lead-out wiring layer 2012 and the primary winding pattern 2014 are connected by a connection conductor 2013. A planarizing film 2015 is formed on the primary winding pattern 2014, a secondary winding pattern 2017 is formed on the planarizing film 2015, and the secondary winding pattern 2017 is covered with a protective film 2018. It has been broken. An opening 2019 is formed in the protective film 2018 to expose the center of the secondary winding pattern 2017. By connecting a bonding wire to the center of the secondary winding pattern 2017 through the opening 2019, 2 Drawing out from the next winding pattern 2017 can be performed.

なお、例えば、1次巻線パターン2014および2次巻線パターン2017の巻線幅は5〜10μm、厚みは4〜5μm、巻線の最外径は500μmとすることができる。
そして、1次巻線パターン2014に印加された電流により生成された磁束φ=L1*I1の大部分が2次巻線パターン2017の鎖交磁束となり、2次巻線パターン2017の両端には、dφ/dTに比例するM21*dI1/dTの電圧が得られる。ただし、L1は1次巻線パターン2014の自己インダクタンス、I1は1次巻線パターン2014に流れる電流、M21は1次巻線パターン2014と2次巻線パターン2017の相互インダクタンスである。
For example, the primary winding pattern 2014 and the secondary winding pattern 2017 may have a winding width of 5 to 10 μm, a thickness of 4 to 5 μm, and an outermost diameter of the winding of 500 μm.
And most of the magnetic flux φ = L1 * I1 generated by the current applied to the primary winding pattern 2014 becomes the interlinkage magnetic flux of the secondary winding pattern 2017. At both ends of the secondary winding pattern 2017, A voltage of M21 * dI1 / dT proportional to dφ / dT is obtained. Here, L1 is a self-inductance of the primary winding pattern 2014, I1 is a current flowing through the primary winding pattern 2014, and M21 is a mutual inductance of the primary winding pattern 2014 and the secondary winding pattern 2017.

このように、絶縁トランスによる信号伝送では、1次巻線に流れる電流の微分に相当する電圧が得られるので、ロジック信号を伝送する場合には、キャリア信号伝送方式または状態遷移信号伝送方式による信号処理が行われる。
ここで、キャリア信号伝送方式では、伝送されるロジック信号の論理に基づいて振幅変調された高周波キャリア信号にて1次巻線を励磁し、2次巻線の出力電圧をローパスフィルタにて平滑してロジック信号が取り出される。
Thus, in the signal transmission by the insulation transformer, a voltage corresponding to the differentiation of the current flowing through the primary winding is obtained. Therefore, when transmitting a logic signal, the signal by the carrier signal transmission method or the state transition signal transmission method is used. Processing is performed.
Here, in the carrier signal transmission method, the primary winding is excited by a high frequency carrier signal that is amplitude-modulated based on the logic of the transmitted logic signal, and the output voltage of the secondary winding is smoothed by a low-pass filter. The logic signal is extracted.

状態遷移信号伝送方式では、伝送されるロジック信号の状態遷移(ロジック信号の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ)を検出し、ロジック信号の立ち上がりでパルスを伝送するセット用絶縁トランスから得られるパルス信号でフリップフロップをセットし、ロジック信号の立ち下がりでパルスを伝送するリセット用絶縁トランスから得られるパルス信号でフリップフロップをリセットすることで、ロジック信号の状態が取り出される。   In the state transition signal transmission method, the state transition of the logic signal to be transmitted (rising edge and falling edge of the logic signal) is detected and flipped with the pulse signal obtained from the set isolation transformer that transmits the pulse at the rising edge of the logic signal The state of the logic signal is taken out by resetting the flip-flop with a pulse signal obtained from a reset isolation transformer that transmits a pulse at the falling edge of the logic signal.

一方、微細加工技術を適用して形成された絶縁トランスは、銅線を用いた巻線型トランスに比べて、巻線の導体断面積が小さく、許容直流電流は遥かに少ない。この許容直流電流は、電流が流れることによって巻線の導体抵抗により発生する消費電力に起因して発生するジュール熱に応じて規定されている。このため、微細加工技術を適用して形成された絶縁トランスを用いる場合、絶縁トランスに電流を流す期間を短くして電流を流すことにより、平均電流を許容直流電流以下にする必要がある。
ここで、キャリア信号伝送方式では、ロジック信号がハイレベルの期間に常にキャリア信号にて絶縁トランスが励磁され、絶縁トランスの巻線抵抗による発熱を抑えることができない。このため、微細加工技術を適用して形成された絶縁トランスによる信号伝送では状態遷移信号伝送方式を用いることが提案されている。
On the other hand, an insulating transformer formed by applying a microfabrication technique has a smaller conductor cross-sectional area of the winding and much less allowable direct current than a winding transformer using a copper wire. This allowable direct current is defined according to the Joule heat generated due to the power consumption generated by the conductor resistance of the winding when the current flows. For this reason, when using an insulating transformer formed by applying a microfabrication technique, it is necessary to make the average current equal to or less than the allowable direct current by flowing the current while shortening the current flowing period in the insulating transformer.
Here, in the carrier signal transmission method, the insulation transformer is always excited by the carrier signal during a period in which the logic signal is at a high level, and heat generation due to the winding resistance of the insulation transformer cannot be suppressed. For this reason, it has been proposed to use a state transition signal transmission method in signal transmission by an insulating transformer formed by applying a microfabrication technique.

図10は、絶縁トランスによる信号伝送回路TUの概略構成を示す回路図、図11は信号伝送回路TUの各部の信号波形を示す図である。
信号伝送回路TUは、入力信号の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを検出する変換回路KU0、入力信号の立ち上がりエッジに応じたパルス電流を伝送するセット用絶縁トランスTL1及びパルス信号の立ち下がりエッジに応じたパルス電流を伝送するリセット用絶縁トランスTL2を備えている。これらセット用絶縁トランスTL1及びリセット用絶縁トランスTL2は、図9に示すような半導体技術によって作られた絶縁トランスや空芯型絶縁トランスなどで構成される。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a schematic configuration of a signal transmission circuit TU using an insulating transformer, and FIG. 11 is a diagram showing signal waveforms of respective parts of the signal transmission circuit TU.
The signal transmission circuit TU includes a conversion circuit KU0 that detects a rising edge and a falling edge of the input signal, a set insulation transformer TL1 that transmits a pulse current corresponding to the rising edge of the input signal, and a falling edge of the pulse signal. A reset insulating transformer TL2 for transmitting a pulse current is provided. The set insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2 are configured by an insulating transformer or an air-core insulating transformer made by a semiconductor technology as shown in FIG.

そして、変換回路KU0において、抵抗R1の一端はコンデンサC1を介して接地されるとともに、排他的論理和回路U1Aの一方の入力端子に接続され、抵抗R1の他端は信号源Gに接続されている。また、排他的論理和回路U1Aの他方の入力端子には信号源Gが接続される。また、否定論理積回路U3Aの一方の入力端子には、排他的論理和回路U1Aの出力端子が接続されるとともに、否定論理積回路U3Aの他方の入力端子には信号源Gが接続されている。さらに、否定論理積回路U3Bの一方の入力端子には、排他的論理和回路U1Aの出力端子が接続されるとともに、否定論理積回路U3Bの他方の入力端子には、インバータU2Bを介して信号源Gが接続されている。   In the conversion circuit KU0, one end of the resistor R1 is grounded via the capacitor C1, and is connected to one input terminal of the exclusive OR circuit U1A, and the other end of the resistor R1 is connected to the signal source G. Yes. A signal source G is connected to the other input terminal of the exclusive OR circuit U1A. The output terminal of the exclusive OR circuit U1A is connected to one input terminal of the NAND circuit U3A, and the signal source G is connected to the other input terminal of the NAND circuit U3A. . Furthermore, the output terminal of the exclusive OR circuit U1A is connected to one input terminal of the NAND circuit U3B, and the signal source is connected to the other input terminal of the NAND circuit U3B via the inverter U2B. G is connected.

また、セット用絶縁トランスTL1には1次巻線M1及び2次巻線M2が設けられ、リセット用絶縁トランスTL2には1次巻線M3及び2次巻線M4が設けられている。
そして、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1の両端はダイオードD1を介して接続されるとともに、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1の一端は、Nチャンネル電界効果型トランジスタTr1のドレインに接続され、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1の他端は電源電位Vcc1に接続されている。
The set insulation transformer TL1 is provided with a primary winding M1 and a secondary winding M2, and the reset insulation transformer TL2 is provided with a primary winding M3 and a secondary winding M4.
Both ends of the primary winding M1 of the set insulating transformer TL1 are connected via a diode D1, and one end of the primary winding M1 of the setting insulating transformer TL1 is connected to the drain of the N-channel field effect transistor Tr1. The other end of the primary winding M1 of the setting isolation transformer TL1 is connected to the power supply potential Vcc1.

また、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3の両端はダイオードD2を介して接続されるとともに、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3の一端は、Nチャンネル電界効果型トランジスタTr2のドレインに接続され、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3の他端は電源電位Vcc1に接続されている。
そして、否定論理積回路U3Aの出力端子はインバータU2Cを介してNチャンネル電界効果型トランジスタTr1のゲートに接続され、否定論理積回路U3Bの出力端子はインバータU2Dを介してNチャンネル電界効果型トランジスタTr2のゲートに接続されている。
Further, both ends of the primary winding M3 of the reset insulating transformer TL2 are connected via a diode D2, and one end of the primary winding M3 of the reset insulating transformer TL2 is connected to the drain of the N-channel field effect transistor Tr2. The other end of the primary winding M3 of the reset isolation transformer TL2 is connected to the power supply potential Vcc1.
The output terminal of the NAND circuit U3A is connected to the gate of the N-channel field effect transistor Tr1 via the inverter U2C, and the output terminal of the NAND circuit U3B is connected to the N-channel field effect transistor Tr2 via the inverter U2D. Connected to the gate.

一方、セット用絶縁トランスTL1の2次巻線M2の一端は、抵抗R3を介して電源電位Vcc2に接続されると共に、演算増幅器U4Aの反転入力端子に接続され、セット用絶縁トランスTL1の2次巻線M2の他端は、抵抗R2を介して接地されると共に、演算増幅器U4Aの非反転入力端子に接続される。
また、リセット用絶縁トランスTL2の2次巻線M4の一端は、抵抗R5を介して電源電位Vcc2に接続されると共に、演算増幅器U4Bの非反転入力端子に接続され、リセット用絶縁トランスTL2の2次巻線M4の他端は、抵抗R4を介して接地されると共に、演算増幅器U4Bの反転入力端子に接続される。
On the other hand, one end of the secondary winding M2 of the set isolation transformer TL1 is connected to the power supply potential Vcc2 via the resistor R3 and is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier U4A. The other end of the winding M2 is grounded via the resistor R2 and is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier U4A.
One end of the secondary winding M4 of the reset isolation transformer TL2 is connected to the power supply potential Vcc2 via the resistor R5 and is also connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier U4B. The other end of the next winding M4 is grounded via a resistor R4 and is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier U4B.

演算増幅器U4Aの出力端子はフリップフロップU5Aのクロック端子CLKに接続され、演算増幅器U4Bの出力端子はフリップフロップU5Aのリセット端子CLRに接続されている。また、フリップフロップU5Aの入力端子Dは電源電位Vcc2に接続されるとともに、フリップフロップU5Aの非反転出力端子Qは抵抗R6を介して接地されている。   The output terminal of the operational amplifier U4A is connected to the clock terminal CLK of the flip-flop U5A, and the output terminal of the operational amplifier U4B is connected to the reset terminal CLR of the flip-flop U5A. The input terminal D of the flip-flop U5A is connected to the power supply potential Vcc2, and the non-inverting output terminal Q of the flip-flop U5A is grounded through the resistor R6.

そして、信号源Gにて生成された入力信号S1(図11(a))が変換回路KU0に入力されると、抵抗R1およびコンデンサC1からなる遅延回路にて遅延させられ、入力信号S1と、この入力信号S1を遅延させた信号とが排他的論理和回路U1Aに入力される。そして、排他的論理和回路U1Aにてこれらの信号の排他論理和がとられることにより、入力信号S1のLOWレベルからHIGHレベルへの立ち上がりエッジまたはHIGHレベルからLOWレベルへの立ち下がりエッジに同期したエッジ信号S3が抽出される(図11(b))。そして、このエッジ信号S3は否定論理積回路U3A、U3Bに入力されるとともに、否定論理積回路U3Aには入力信号S1が入力され、否定論理積回路U3BにはインバータU2Bを介して入力信号S1が入力される。   When the input signal S1 (FIG. 11 (a)) generated by the signal source G is input to the conversion circuit KU0, the input signal S1 is delayed by a delay circuit including a resistor R1 and a capacitor C1. A signal obtained by delaying the input signal S1 is input to the exclusive OR circuit U1A. Then, the exclusive OR circuit U1A takes the exclusive OR of these signals to synchronize with the rising edge from the LOW level to the HIGH level or the falling edge from the HIGH level to the LOW level of the input signal S1. The edge signal S3 is extracted (FIG. 11 (b)). The edge signal S3 is input to the NAND circuits U3A and U3B, the input signal S1 is input to the NAND circuit U3A, and the input signal S1 is input to the NAND circuit U3B via the inverter U2B. Entered.

そして、時刻t01、t03において、否定論理積回路U3Aにてエッジ信号S3と入力信号S1との否定論理積がとられ、さらにインバータU2Cにより反転されることにより、立ち上がりエッジパルスS4が生成されるとともに(図11(c))、時刻t02、t04において、論理積回路U3Bにてエッジ信号S3と入力信号S1の反転信号との否定論理積がとられ、さらにインバータU2Dにより反転されることにより、立ち下がりエッジパルスS5が生成される(図11(d))。   At times t01 and t03, a negative logical product of the edge signal S3 and the input signal S1 is obtained by the negative logical product circuit U3A, and further inverted by the inverter U2C, thereby generating a rising edge pulse S4. (FIG. 11 (c)) At times t02 and t04, the logical product of the edge signal S3 and the inverted signal of the input signal S1 is obtained by the logical product circuit U3B, and further inverted by the inverter U2D. A falling edge pulse S5 is generated (FIG. 11 (d)).

そして、否定論理積回路U3AおよびインバータU2Cにて生成された立ち上がりエッジパルスS4はNチャンネル電界効果型トランジスタTr1のゲートに入力され、一方、否定論理積回路U3BおよびインバータU2Dにて生成された立ち下がりエッジパルスS5はNチャンネル電界効果型トランジスタTr2のゲートに入力される。これにより、入力信号S1の立ち上がりと立ち下がりとで、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1およびリセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3に流れるパルス電流のタイミングが互いに異なるような動作を行うことができる。   The rising edge pulse S4 generated by the NAND circuit U3A and the inverter U2C is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr1, while the falling edge generated by the NAND circuit U3B and the inverter U2D. The edge pulse S5 is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr2. As a result, an operation is performed in which the timings of the pulse currents flowing in the primary winding M1 of the set insulating transformer TL1 and the primary winding M3 of the reset insulating transformer TL2 are different from each other depending on the rise and fall of the input signal S1. It can be carried out.

そして、立ち上がりエッジパルスS4がNチャンネル電界効果型トランジスタTr1のゲートに入力されると、Nチャンネル電界効果型トランジスタTr1がオンし、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1が励磁される。また、立ち下がりエッジパルスS5がNチャンネル電界効果型トランジスタTr2のゲートに入力されると、Nチャンネル電界効果型トランジスタTr2がオンし、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3が励磁される。   When the rising edge pulse S4 is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr1, the N-channel field effect transistor Tr1 is turned on, and the primary winding M1 of the setting insulating transformer TL1 is excited. When the falling edge pulse S5 is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr2, the N-channel field effect transistor Tr2 is turned on, and the primary winding M3 of the reset insulating transformer TL2 is excited.

そして、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1が励磁されると、セット用絶縁トランスTL1の2次巻線M2に起電力が発生し、セット用絶縁トランスTL1の2次巻線M2に発生した起電力は、演算増幅器U4Aに導かれる。また、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3が励磁されると、リセット用絶縁トランスTL2の2次巻線M4に起電力が発生し、リセット用絶縁トランスTL2の2次巻線M4に発生した起電力は、演算増幅器U4Bに導かれる。   When the primary winding M1 of the set insulation transformer TL1 is excited, an electromotive force is generated in the secondary winding M2 of the set insulation transformer TL1, and is generated in the secondary winding M2 of the set insulation transformer TL1. The generated electromotive force is guided to the operational amplifier U4A. Further, when the primary winding M3 of the reset insulating transformer TL2 is excited, an electromotive force is generated in the secondary winding M4 of the reset insulating transformer TL2, and is generated in the secondary winding M4 of the reset insulating transformer TL2. The generated electromotive force is guided to the operational amplifier U4B.

そして、入力信号S1の立ち上がりエッジでは、セット用絶縁トランスTL1の2次巻線M2の端子電圧のレベルの変化に伴って、演算増幅器U4AからパルスS14が送出され(図11(e))、入力信号S1の立ち下がりエッジでは、リセット用絶縁トランスTL2の2次巻線M4の端子電圧のレベルの変化に伴って、演算増幅器U4BからパルスS15が送出される(図11(f))。そして、これらのパルスS14、S15がフリップフロップU5Aに入力されると、演算増幅器U4AからのパルスS14にてフリップフロップU5Aがセット(厳密にはデータ端子Dから電源電位Vcc2、すなわちHIGHレベルが読み込まれる。)されるとともに、演算増幅器U4BからのパルスS15にてフリップフロップU5Aがリセットされ、送信側の入力信号S1が復元された出力信号S16がフリップフロップU5Aの出力端子Qから出力される(図11(g))。   At the rising edge of the input signal S1, the pulse S14 is sent from the operational amplifier U4A in accordance with the change in the terminal voltage level of the secondary winding M2 of the setting isolation transformer TL1 (FIG. 11 (e)). At the falling edge of the signal S1, a pulse S15 is sent from the operational amplifier U4B in accordance with the change in the terminal voltage level of the secondary winding M4 of the reset isolation transformer TL2 (FIG. 11 (f)). When these pulses S14 and S15 are input to the flip-flop U5A, the flip-flop U5A is set by the pulse S14 from the operational amplifier U4A (strictly speaking, the power supply potential Vcc2, that is, the HIGH level is read from the data terminal D). In addition, the flip-flop U5A is reset by the pulse S15 from the operational amplifier U4B, and the output signal S16 obtained by restoring the input signal S1 on the transmission side is output from the output terminal Q of the flip-flop U5A (FIG. 11). (G)).

また、特許文献2には、パルストランスを用いて、正パルス及び負パルスの信号を交互に伝送するようにした送受信装置において、正パルス又は負パルスの何れか一方のパルス信号が出力されたときに、タイマにより他方のパルス信号を一定時間無効とすることにより、アンダーシュートによる誤出力を防止する方法が開示されている。   Further, in Patent Document 2, when a pulse signal of either a positive pulse or a negative pulse is output in a transmission / reception apparatus that alternately transmits a positive pulse signal and a negative pulse signal using a pulse transformer. In addition, a method for preventing erroneous output due to undershoot by disabling the other pulse signal for a certain period of time by a timer is disclosed.

特開2008−17653号公報JP 2008-17653 A 特開平2−141017号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2-141017

ところで、上述の昇降圧コンバータに適用される、昇降圧コンバータ用インテリジェントモジュールは、例えば図12の実装状態を示す断面図のように構成されている。
図12において、放熱の役割を行う銅ベース71上には、絶縁用セラミックス基板72を介して、IGBTチップ73aおよびFWD(フライホイールダイオード)チップ73bが実装されている。そして、IGBTチップ73aおよびFWDチップ73bは、ボンディングワイヤ74a〜74cを介して互いに接続されるとともに、主回路電流の取り出しを行う主端子77、78に接続されている。また、IGBTチップ73aおよびFWDチップ73b上には、IGBTのゲート駆動および監視を行う回路基板75が配置され、IGBTチップ73a、FWDチップ73bおよび回路基板75はモールド樹脂76にて封止されている。ここで、IGBTチップ73aおよびFWDチップ73bは、負荷へ流入する電流を通電および遮断するスイッチング素子を構成することができ、上アーム用および下アーム用として動作するようにスイッチング素子を直列に接続することができる。また、回路基板75には、スイッチング素子の導通および非導通を指示する制御信号を生成する制御回路を設けることができる。
By the way, the intelligent module for buck-boost converters applied to the above-mentioned buck-boost converter is configured as a cross-sectional view showing the mounted state of FIG. 12, for example.
In FIG. 12, an IGBT chip 73 a and an FWD (flywheel diode) chip 73 b are mounted on a copper base 71 that plays a role of heat dissipation via an insulating ceramic substrate 72. The IGBT chip 73a and the FWD chip 73b are connected to each other via bonding wires 74a to 74c and are connected to main terminals 77 and 78 for taking out a main circuit current. Further, a circuit board 75 for performing gate drive and monitoring of the IGBT is disposed on the IGBT chip 73a and the FWD chip 73b, and the IGBT chip 73a, the FWD chip 73b and the circuit board 75 are sealed with a mold resin 76. . Here, the IGBT chip 73a and the FWD chip 73b can constitute a switching element for energizing and interrupting the current flowing into the load, and the switching elements are connected in series so as to operate for the upper arm and the lower arm. be able to. Further, the circuit board 75 can be provided with a control circuit that generates a control signal that instructs conduction and non-conduction of the switching element.

そして、主回路電流は、主端子77、78のみならず、主端子77、78とIGBTチップ73aおよびFWDチップ73bを接続するボンディングワイヤ74a〜74cにも流れるが、ボンディングワイヤ74a〜74cは回路基板75の直近に配置されるので、ボンディングワイヤ74a〜74cを流れる主回路電流で生成される磁界による影響が問題となる。この主回路電流は、通常動作では、最高でも250A程度であるが、例えば発進時あるいは、空転後の負荷等では、900A以上流れる場合が有る。
このような大電流を伴うスイッチングによる磁界変化に起因するノイズが図10の信号伝送回路TUの入力信号S1に重畳された場合には、昇降圧コンバータの誤動作を引き起こし、さらに、これが重なると絶縁トランスが励起される回数および絶縁トランスに流れる電流が増大するという問題が生じる。
The main circuit current flows not only to the main terminals 77 and 78 but also to bonding wires 74a to 74c that connect the main terminals 77 and 78 to the IGBT chip 73a and the FWD chip 73b, but the bonding wires 74a to 74c are circuit boards. Since it is arranged in the immediate vicinity of 75, the influence of the magnetic field generated by the main circuit current flowing through the bonding wires 74a to 74c becomes a problem. The main circuit current is about 250 A at the maximum in normal operation, but may flow at 900 A or more, for example, at the time of starting or a load after idling.
When noise due to such a magnetic field change due to switching accompanied by a large current is superimposed on the input signal S1 of the signal transmission circuit TU in FIG. 10, a malfunction of the buck-boost converter is caused. There arises a problem that the number of times the current is excited and the current flowing through the insulating transformer increases.

図13は、主回路電流の変化によって誘導されたノイズが、入力信号S1に重畳された伝送信号波形を示す図である。
図13において、下アーム側のIGBT1105が導通してIGBT1105に流れる電流Icが0Aから600Aに変化している間に、この電流Icの変化の時間微分に相当する電圧波形がノイズ(グリッチノイズ)として信号伝送回路TUの入力信号S1に重畳しているのが判る(領域AR1)。なお、図中のVceはIGBT1105のコレクタ・エミッタ間電圧である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a transmission signal waveform in which noise induced by a change in the main circuit current is superimposed on the input signal S1.
In FIG. 13, while the IGBT 1105 on the lower arm side is turned on and the current Ic flowing through the IGBT 1105 is changing from 0 A to 600 A, the voltage waveform corresponding to the time derivative of the change in the current Ic is noise (glitch noise). It can be seen that the signal is superimposed on the input signal S1 of the signal transmission circuit TU (area AR1). In the figure, Vce is the collector-emitter voltage of the IGBT 1105.

このように入力信号S1にノイズが重畳された場合、特に、短期間で多数のパルスが重畳された場合には、結果的にセット用絶縁トランスTL1、リセット用絶縁トランスTL2が、短期間で多数回励磁されることになり、特にセット用絶縁トランスTL1、リセット用絶縁トランスTL2が微細構造の場合には、励磁頻度によっては、励磁コイルが焼損する等、損傷する可能性がある。   As described above, when noise is superimposed on the input signal S1, in particular, when a large number of pulses are superimposed in a short period, as a result, a large number of set insulating transformers TL1 and reset insulating transformers TL2 are generated in a short period. In particular, when the set insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2 have a fine structure, the exciting coil may be damaged depending on the excitation frequency.

また、特許文献2に開示されている誤出力を防止する方法では、セット信号を検出すると一定時間リセット信号を無効にしてしまうので、リセット信号を検出しそこなう危険性がある。リセット信号の検出を失敗するとIGBTに電流が流れ続けてしまい、大きな問題となる。
そこで、この発明は、上記従来の未解決の問題点に着目してなされたものであり、外部からの磁界変化によるノイズの影響を低減しつつ絶縁状態で信号授受を行なうことの可能な、信号伝送回路及び電力変換装置を提供することを目的としている。
Further, in the method for preventing erroneous output disclosed in Patent Document 2, if the set signal is detected, the reset signal is invalidated for a certain period of time, so that there is a risk that the reset signal may be missed. If detection of the reset signal fails, current continues to flow through the IGBT, which is a big problem.
Therefore, the present invention has been made paying attention to the above-mentioned conventional unsolved problems, and is capable of performing signal transmission and reception in an insulated state while reducing the influence of noise due to a magnetic field change from the outside. An object of the present invention is to provide a transmission circuit and a power converter.

上記目的を達成するために、本発明の請求項1に係る信号伝送回路は、トランス手段と、入力信号の立ち上がり及び立ち下がりエッジに同期したパルス信号を生成するパルス信号生成手段と、を有し、前記パルス信号生成手段で生成した前記パルス信号を前記トランス手段の1次巻線側に入力し、前記トランス手段の2次巻線側に生成されたパルス信号に基づき前記入力信号を復元するようにした信号伝送回路において、第1の入力信号とその次に入力される第2の入力信号とのパルス間隔が、予め設定した規定時間よりも短いとき、前記第2の入力信号の前記立ち上がり及び立ち下がりエッジに同期したパルス信号の前記トランス手段の一次巻線への入力を禁止する励磁阻止手段、を備え、前記トランス手段は、前記立ち上がりエッジに同期した立ち上がりパルス信号を伝送するセット用トランスと、前記立ち下がりエッジに同期した立ち下がりパルス信号を伝送するリセット用トランスと、を有し、前記励磁阻止手段は、前記立ち上がりパルス信号が生成された時点から前記規定時間が経過するまでの間に生成される他の立ち上がりパルス信号を無効とする第1の阻止手段と、前記立ち下がりパルス信号が生成された時点からこれ以後前記立ち上がりパルス信号が生成されるまでの間に生成される他の立ち下がりパルス信号を無効とする第2の阻止手段と、を備えることを特徴としている。 In order to achieve the above object, a signal transmission circuit according to claim 1 of the present invention includes transformer means and pulse signal generation means for generating a pulse signal synchronized with rising and falling edges of an input signal. The pulse signal generated by the pulse signal generating means is input to the primary winding side of the transformer means, and the input signal is restored based on the pulse signal generated on the secondary winding side of the transformer means. In the signal transmission circuit, when the pulse interval between the first input signal and the second input signal inputted next is shorter than a predetermined time set in advance, the rising edge of the second input signal and falling excitation inhibiting means for inhibiting an input to the primary winding of the transformer means of the synchronizing pulse signal to the edge, Bei example, said transformer means, the said rising edge A set transformer for transmitting the rising pulse signal, and a reset transformer for transmitting the falling pulse signal synchronized with the falling edge, and the excitation preventing means is a point in time when the rising pulse signal is generated. From the time when the falling pulse signal is generated, and the rising pulse signal is generated thereafter from the time when the falling pulse signal is generated. It is characterized by obtaining Bei and a second blocking means for disabling the other falling pulse signals generated until that.

また、請求項2に係る信号伝送回路は、前記パルス間隔は、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号との間の、立ち上がりエッジ間隔又は立ち下がりエッジ間隔であることを特徴としている。 The signal transmission circuit according to claim 2 is characterized in that the pulse interval is a rising edge interval or a falling edge interval between the first input signal and the second input signal. The

また、請求項に係る信号伝送回路は、前記励磁阻止手段は、コンデンサと、前記コンデンサへの充電及び放電を行なう充放電制御手段と、を備え、前記コンデンサの両端電圧を利用して前記規定時間を計測することを特徴としている。
また、請求項に係る信号伝送回路は、前記充放電制御手段は、定電流を前記コンデンサに流入させることを特徴としている。
Further, the signal transmission circuit according to claim 3 , wherein the excitation preventing means includes a capacitor and charge / discharge control means for charging and discharging the capacitor, and uses the voltage across the capacitor to define the regulation. It is characterized by measuring time.
The signal transmission circuit according to claim 4 is characterized in that the charge / discharge control means causes a constant current to flow into the capacitor.

また、請求項に係る信号伝送回路は、前記充放電制御手段は、高抵抗を介して前記コンデンサに定電圧を印加することにより前記コンデンサに電流を流入させることを特徴としている。
また、本発明の請求項に係る信号伝送回路は、クロック信号を生成するクロック信号生成回路を有し、前記励磁阻止手段は、前記クロック信号を計数するクロック信号計数手段を有し、前記クロック信号計数手段の計数値を利用して前記規定時間を計測することを特徴としている。
The signal transmission circuit according to claim 5 is characterized in that the charge / discharge control means causes a current to flow into the capacitor by applying a constant voltage to the capacitor via a high resistance.
A signal transmission circuit according to a sixth aspect of the present invention includes a clock signal generation circuit that generates a clock signal, and the excitation prevention unit includes a clock signal counting unit that counts the clock signal, and the clock The prescribed time is measured using the count value of the signal counting means.

さらに、本発明の請求項に係る電力変換装置は、負荷へ流入する電流を通電及び遮断するスイッチング素子と、前記スイッチング素子の導通及び非導通を指示する制御信号を生成する制御回路と、前記制御信号に基づいて前記スイッチング素子の制御端子を駆動する駆動回路と、前記制御回路で生成した前記制御信号を前記駆動回路に伝送する信号伝送部と、を備え、前記請求項1から請求項の何れかに記載の信号伝送回路を、前記信号伝送部として利用したことを特徴としている。
さらにまた、請求項に係る電力変換装置は、車両を駆動する電動機をPWM制御するようにした車両駆動システムに適用され、前記電動機を前記負荷とし、前記PWM制御用のPWM信号を前記入力信号として、前記駆動回路を駆動する電力変換装置であって、前記規定時間が87μs以下であることを特徴としている。
Furthermore, a power conversion device according to claim 7 of the present invention includes a switching element that energizes and interrupts a current flowing into a load, a control circuit that generates a control signal instructing conduction and non-conduction of the switching element, and a drive circuit for driving a control terminal of the switching element based on a control signal, a signal transmission unit for transmitting the control signal generated by the control circuit to the drive circuit includes a claim from the claims 1 6 The signal transmission circuit according to any one of the above is used as the signal transmission unit.
Furthermore, the power conversion device according to claim 8 is applied to a vehicle drive system in which a motor for driving a vehicle is PWM-controlled, wherein the motor is used as the load, and the PWM signal for PWM control is used as the input signal. As a power converter for driving the drive circuit, the specified time is 87 μs or less.

本発明によれば、入力信号の立ち上がり及び立ち下がりエッジに同期したパルス信号の、トランス手段の一次巻線への入力間隔が規定時間よりも長くなるようにしたため、大電流のスイッチングにより発生するノイズに起因する誤動作を抑制できるとともに、一次巻線の励磁間隔が規定時間よりも短くなることに起因して一次巻線が損傷することを回避することができる。   According to the present invention, since the input interval of the pulse signal synchronized with the rising and falling edges of the input signal to the primary winding of the transformer means is longer than the specified time, noise generated by switching of a large current is achieved. Can be prevented, and the primary winding can be prevented from being damaged due to the excitation interval of the primary winding being shorter than the specified time.

特に、立ち上がりパルス信号が生成された時点から前記規定時間が経過するまでの間に生成される他の立ち上がりパルス信号を無効とする第1の阻止手段を設けたため、立ち上がりパルス信号を伝送するセット用トランスの一次巻線に入力される立ち上がりパルス信号の間隔を的確に監視し、一次巻線の損傷を的確に回避することができる。さらに、立ち下がりパルス信号が生成された時点からこれ以後立ち上がりパルス信号が生成されるまでの間に生成される他の立ち下がりパルス信号を無効とする第2の阻止手段を設けたため、立ち上がりパルス信号と対をなす立ち下がりパルス信号を的確に伝送することができると共に、ノイズ等によるパルス信号が、誤って伝送されることを回避することができる。 In particular, due to the provision of the first blocking means for disabling the other of the rising pulse signals generated between the time that the rising pulse signal is generated until the predetermined time has elapsed, it transmits a rising pulse signal It is possible to accurately monitor the interval between the rising pulse signals input to the primary winding of the setting transformer, and to prevent damage to the primary winding. Further, since the second blocking means for invalidating other falling pulse signals generated from the time when the falling pulse signal is generated until the rising pulse signal is generated thereafter, the rising pulse signal is provided. In addition, it is possible to accurately transmit the falling pulse signal that makes a pair, and it is possible to avoid erroneous transmission of the pulse signal due to noise or the like.

本発明の一実施形態に係る信号伝送回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the signal transmission circuit which concerns on one Embodiment of this invention. 図1の信号伝送回路の各部の信号波形を示すタイミングチャートである。2 is a timing chart showing signal waveforms of respective parts of the signal transmission circuit of FIG. 1. 信号伝送回路のより詳細な構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the more detailed structure of a signal transmission circuit. 電動機の制御方式と、各制御方式におけるPWM信号の電圧波形と、変調率との対応を表す図である。It is a figure showing a response | compatibility with the control system of an electric motor, the voltage waveform of the PWM signal in each control system, and a modulation factor. 昇降圧コンバータ及びインバータを用いた車両駆動システムの概略を示す構成図である。It is a block diagram which shows the outline of the vehicle drive system using a buck-boost converter and an inverter. 昇降圧コンバータ及びインバータの概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of a buck-boost converter and an inverter. 昇圧動作時に昇降圧コンバータのリアクトルに流れる電流の波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform of the electric current which flows into the reactor of a buck-boost converter at the time of pressure | voltage rise operation. 本発明を適用した信号伝送回路が適用される昇降圧コンバータ用インテリジェントパワーモジュール及びその周辺回路を含めた概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure including the intelligent power module for buck-boost converters with which the signal transmission circuit to which this invention is applied, and its periphery circuit are included. 図9(a)は、絶縁トランスの概略構成の一例を示す断面図、図9(b)は、絶縁トランスの概略構成の一例を示す平面図である。FIG. 9A is a cross-sectional view illustrating an example of a schematic configuration of an insulating transformer, and FIG. 9B is a plan view illustrating an example of a schematic configuration of the insulating transformer. 従来の信号伝送回路の回路構成を示す図である。It is a figure which shows the circuit structure of the conventional signal transmission circuit. 図10の信号伝送回路の各部の信号波形を示す図である。It is a figure which shows the signal waveform of each part of the signal transmission circuit of FIG. 昇降圧コンバータ用インテリジェントパワーモジュールの実装状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting state of the intelligent power module for buck-boost converters. 主回路電流の変化によって誘導されたノイズが重畳された信号伝送波形を示す図である。It is a figure which shows the signal transmission waveform on which the noise induced by the change of the main circuit current was superimposed.

以下、本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明を適用した信号伝送回路TUの構成を示すブロック図であって、昇降圧コンバータ用のインテリジェントモジュール(IPM:Inteligent Power Module)に適用したものである。また、図2は、信号伝送回路TUの各部の信号波形を示す図である。
本発明に係る信号伝送回路TUは、図10に示す従来の信号伝送回路TUにおいて、変換回路KU0に替えて変換回路KU1を設けたものであり、同一部には同一符号を付与し、その詳細な説明は省略する。
本発明における変換回路KU1は、セット・リセット信号生成回路11と、ゲート回路12と、セット側ゲート信号生成回路13と、リセット側ゲート信号生成回路14と、を備える。
Embodiments of the present invention will be described below.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a signal transmission circuit TU to which the present invention is applied, which is applied to an intelligent module (IPM: Intelligent Power Module) for a buck-boost converter. FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms at various parts of the signal transmission circuit TU.
The signal transmission circuit TU according to the present invention is provided with a conversion circuit KU1 in place of the conversion circuit KU0 in the conventional signal transmission circuit TU shown in FIG. The detailed explanation is omitted.
The conversion circuit KU1 according to the present invention includes a set / reset signal generation circuit 11, a gate circuit 12, a set-side gate signal generation circuit 13, and a reset-side gate signal generation circuit.

セット・リセット信号生成回路11は、入力信号S101の立ち上がりエッジに同期した所定のパルス幅を有するセット信号S102を生成するセットパルス生成回路11aと、入力信号S101の立ち下がりエッジに同期した所定のパルス幅を有するリセット信号S103を生成するリセットパルス生成回路11bと、を備える。セットパルス生成回路11aで生成したセット信号S102及びリセットパルス生成回路11bで生成したリセット信号S103はゲート回路12に入力される。   The set / reset signal generation circuit 11 includes a set pulse generation circuit 11a that generates a set signal S102 having a predetermined pulse width synchronized with the rising edge of the input signal S101, and a predetermined pulse synchronized with the falling edge of the input signal S101. And a reset pulse generation circuit 11b that generates a reset signal S103 having a width. The set signal S102 generated by the set pulse generation circuit 11a and the reset signal S103 generated by the reset pulse generation circuit 11b are input to the gate circuit 12.

ゲート回路12は、セットパルス生成回路11aからのセット信号S102の、後段への供給を遮断するセットパルスゲート回路12aと、セットパルスゲート回路12aの出力信号を反転する反転回路12bと、リセットパルス生成回路11bからのリセット信号S103の後段への供給を遮断するリセットパルスゲート回路12cと、リセットパルスゲート回路12cの出力信号を反転する反転回路12dと、を備える。   The gate circuit 12 includes a set pulse gate circuit 12a that interrupts the supply of the set signal S102 from the set pulse generation circuit 11a to the subsequent stage, an inversion circuit 12b that inverts the output signal of the set pulse gate circuit 12a, and a reset pulse generation A reset pulse gate circuit 12c that cuts off the supply of the reset signal S103 from the circuit 11b to the subsequent stage, and an inversion circuit 12d that inverts the output signal of the reset pulse gate circuit 12c are provided.

セットパルスゲート回路12aは、セットパルス生成回路11aからのセット信号S102及びセット側ゲート信号生成回路13からのセットパルスゲート信号S111を入力とし、セットパルスゲート信号S111がHIGHレベル(論理値”1”)であるときにはセット信号S102の反転信号を反転回路12bに出力し、LOWレベル(論理値”0”)であるときにはセット信号S102を反転回路12bに伝達しない。   The set pulse gate circuit 12a receives the set signal S102 from the set pulse generation circuit 11a and the set pulse gate signal S111 from the set side gate signal generation circuit 13, and the set pulse gate signal S111 has a HIGH level (logical value “1”). ), The inverted signal of the set signal S102 is output to the inverting circuit 12b, and when it is at the LOW level (logic value “0”), the set signal S102 is not transmitted to the inverting circuit 12b.

反転回路12bはセットパルスゲート回路12aから出力される信号S104を反転し、これをゲート化セット信号S105として出力する。このゲート化セット信号S105は、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線励磁用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr1のゲートに入力される。
リセットパルスゲート回路12cは、リセットパルス生成回路11bからのリセット信号S103及びリセット側ゲート信号生成回路14からのリセットパルスゲート信号S113を入力とし、リセットパルスゲート信号S113がHIGHレベルであるときには、リセット信号S103の反転信号を反転回路12dに出力し、LOWレベルであるときには、リセット信号S103を反転回路12dに伝達しない。
The inverting circuit 12b inverts the signal S104 output from the set pulse gate circuit 12a and outputs it as a gated set signal S105. This gated set signal S105 is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr1 for exciting the primary winding of the setting isolation transformer TL1.
The reset pulse gate circuit 12c receives the reset signal S103 from the reset pulse generation circuit 11b and the reset pulse gate signal S113 from the reset side gate signal generation circuit 14, and when the reset pulse gate signal S113 is at the HIGH level, the reset signal When the inverted signal of S103 is output to the inverter circuit 12d and is at the LOW level, the reset signal S103 is not transmitted to the inverter circuit 12d.

反転回路12dはリセットパルスゲート回路12cから入力される信号S106を反転し、これをゲート化リセット信号S107として出力する。このゲート化リセット信号S107は、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線励磁用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr2のゲートに入力される。
セット側ゲート信号生成回路13は、単パルス生成回路13aと、遅延単パルス生成回路13bと、D型フリップフロップ13cと、積分回路13dと、D型フリップフロップ13eと、を備える。
The inverting circuit 12d inverts the signal S106 input from the reset pulse gate circuit 12c and outputs it as a gated reset signal S107. This gated reset signal S107 is input to the gate of the N-channel field effect transistor Tr2 for exciting the primary winding of the reset isolation transformer TL2.
The set-side gate signal generation circuit 13 includes a single pulse generation circuit 13a, a delayed single pulse generation circuit 13b, a D-type flip-flop 13c, an integration circuit 13d, and a D-type flip-flop 13e.

単パルス生成回路13aは、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104の立ち上がりエッジに同期した、セット側ゲート信号生成回路13全体をクリア(リセット)するための、所定のパルス幅を有する単パルスS108を生成し、これを、遅延単パルス生成回路13bと、D型フリップフロップ13cと、積分回路13dと、D型フリップフロップ13eとに出力する。
遅延単パルス生成回路13bは、単パルス生成回路13aからの単パルスS108を所定時間だけ遅延して反転した遅延単パルスS109を生成し、これをD型フリップフロップ13cに出力する。
The single pulse generation circuit 13a receives a single pulse S108 having a predetermined pulse width for clearing (resetting) the entire set-side gate signal generation circuit 13 in synchronization with the rising edge of the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a. This is output to the delayed single pulse generation circuit 13b, the D-type flip-flop 13c, the integration circuit 13d, and the D-type flip-flop 13e.
The delayed single pulse generation circuit 13b generates a delayed single pulse S109 obtained by inverting and delaying the single pulse S108 from the single pulse generation circuit 13a for a predetermined time, and outputs this to the D flip-flop 13c.

D型フリップフロップ13cは、遅延単パルスS109をクロック端子CLKに入力し、単パルス生成回路13aからの単パルスS108をクリア端子に入力し、遅延単パルスS109の立ち上がりで出力信号をHIGHレベルに切り替え、単パルスS108の立ち上がりでD型フリップフロップ13cをクリアして出力信号をLOWレベルに切り替える。
積分回路13dは、D型フリップフロップ13cの出力信号及び単パルス生成回路13aからの単パルスS108を入力とし、D型フリップフロップ13cの出力信号を積分し、積分結果を積分出力S110として出力すると共に、単パルスS108の立ち上がりで積分値をリセットする。
The D flip-flop 13c inputs the delayed single pulse S109 to the clock terminal CLK, inputs the single pulse S108 from the single pulse generation circuit 13a to the clear terminal, and switches the output signal to the HIGH level at the rising edge of the delayed single pulse S109. The D flip-flop 13c is cleared at the rising edge of the single pulse S108, and the output signal is switched to the LOW level.
The integration circuit 13d receives the output signal of the D-type flip-flop 13c and the single pulse S108 from the single-pulse generation circuit 13a, integrates the output signal of the D-type flip-flop 13c, and outputs the integration result as an integration output S110. The integral value is reset at the rising edge of the single pulse S108.

D型フリップフロップ13eは、積分回路13dからの積分出力S110をクロック端子CLKに入力し、単パルス生成回路13aからの単パルスS108をクリア端子に入力し、積分出力S110が規定値を上回ったとき出力信号をHIGHレベルに切り替え、単パルスS108の立ち上がりでD型フリップフロップ13cをクリアして出力信号をLOWレベルに切り替える。D型フリップフロップ13eの出力は、セットパルスゲート信号S111としてセットパルスゲート回路12aに入力される。   The D-type flip-flop 13e inputs the integration output S110 from the integration circuit 13d to the clock terminal CLK, inputs the single pulse S108 from the single pulse generation circuit 13a to the clear terminal, and the integration output S110 exceeds the specified value. The output signal is switched to HIGH level, the D-type flip-flop 13c is cleared at the rising edge of the single pulse S108, and the output signal is switched to LOW level. The output of the D flip-flop 13e is input to the set pulse gate circuit 12a as the set pulse gate signal S111.

リセット側ゲート信号生成回路14は、単パルス生成回路14aと、D型フリップフロップ14bと、を備える。
単パルス生成回路14aは、リセットパルスゲート回路12cの出力信号S106を入力とし、この出力信号S106の立ち上がりエッジに同期した、リセット側ゲート信号生成回路14全体をクリアするための単パルスS112を生成し、これをD型フリップフロップ14bに出力する。
The reset-side gate signal generation circuit 14 includes a single pulse generation circuit 14a and a D-type flip-flop 14b.
The single pulse generation circuit 14a receives the output signal S106 of the reset pulse gate circuit 12c as an input, and generates a single pulse S112 for clearing the entire reset-side gate signal generation circuit 14 in synchronization with the rising edge of the output signal S106. This is output to the D-type flip-flop 14b.

D型フリップフロップ14bは、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104をクロック端子CLKに入力し、単パルス生成回路14aからの単パルスS112をクリア端子に入力し、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104の立ち上がりで出力信号をHIGHレベルに切り替え、単パルスS112の立ち上がりでD型フリップフロップ14bをクリアして出力信号をLOWレベルに切り替える。そして、D型フリップフロップ14bの出力信号は、リセットパルスゲート信号S113として、リセットパルスゲート回路12cに入力される。   The D-type flip-flop 14b inputs the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a to the clock terminal CLK, inputs the single pulse S112 from the single pulse generation circuit 14a to the clear terminal, and outputs the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a. The output signal is switched to the HIGH level at the rising edge, and the D-type flip-flop 14b is cleared at the rising edge of the single pulse S112 to switch the output signal to the LOW level. The output signal of the D-type flip-flop 14b is input to the reset pulse gate circuit 12c as the reset pulse gate signal S113.

そして、入力信号S101(図2(a))が変換回路KU1に入力されると、入力信号S101は、セットパルス生成回路11a及びリセットパルス生成回路11bに入力され、セットパルス生成回路11aにおいて、時刻t11、時刻t17、時刻t21での入力信号S101のLOWレベルからHIGHレベルへの立ち上がりエッジに同期したセット信号S102(図2(b))が抽出され、リセットパルス生成回路11bにおいて、時刻t14、時刻t18、時刻t24での入力信号S101のHIGHレベルからLOWレベルへの立ち下がりエッジに同期したリセット信号S103が抽出される(図2(c))。   When the input signal S101 (FIG. 2A) is input to the conversion circuit KU1, the input signal S101 is input to the set pulse generation circuit 11a and the reset pulse generation circuit 11b. The set signal S102 (FIG. 2B) synchronized with the rising edge from the LOW level to the HIGH level of the input signal S101 at time t11, time t17, and time t21 is extracted, and the reset pulse generation circuit 11b receives time t14 and time t14. The reset signal S103 synchronized with the falling edge from the HIGH level to the LOW level of the input signal S101 at time t18 and time t24 is extracted (FIG. 2C).

時刻t11で生成されたセット信号S102はセットパルスゲート回路12aで反転されて出力信号S104として反転回路12bに出力され、ここで反転されてゲート化セット信号S105としてセット用絶縁トランスTL1の励磁用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr1に供給される。これによって、セット用絶縁トランスTL1の1次巻線M1が励磁され、セット信号S102が2次巻線M2に伝達されることになる。   The set signal S102 generated at time t11 is inverted by the set pulse gate circuit 12a and output to the inverting circuit 12b as the output signal S104, where it is inverted and used as the gated set signal S105 for exciting the setting isolation transformer TL1. The N channel field effect transistor Tr1 is supplied. As a result, the primary winding M1 of the setting isolation transformer TL1 is excited, and the set signal S102 is transmitted to the secondary winding M2.

また、セットパルスゲート回路12aにおいて時刻t11で生成された出力信号S104は、セット側ゲート信号生成回路13の単パルス生成回路13aに入力され、単パルス生成回路13aでは、時刻t12での出力信号S104の立ち上がりでHIGHレベルとなる単パルスS108を生成する(図2(f))。)
この単パルスS108はセット側ゲート信号生成回路13全体をクリアする信号であるため、セット側ゲート信号生成回路13の各部がクリアされ積分回路13dの積分出力S110もクリアされる(図2(h))。このため、積分出力S110が図2(h)の破線で示す規定値を下回り、その結果D型フリップフロップ13eの出力信号(セットパルスゲート信号S111)がLOWレベルとなり、すなわち、セットパルスゲート信号S111がLOWレベルとなるため(図2(i))、セットパルスゲート回路12aは、入力されるセット信号S102を伝達しないゲート閉状態となる。
The output signal S104 generated at time t11 in the set pulse gate circuit 12a is input to the single pulse generation circuit 13a of the set side gate signal generation circuit 13, and the single pulse generation circuit 13a outputs the output signal S104 at time t12. A single pulse S108 which becomes HIGH level at the rising edge of the signal is generated (FIG. 2 (f)). )
Since this single pulse S108 is a signal that clears the entire set-side gate signal generation circuit 13, each part of the set-side gate signal generation circuit 13 is cleared and the integration output S110 of the integration circuit 13d is also cleared (FIG. 2 (h)). ). For this reason, the integral output S110 falls below the specified value indicated by the broken line in FIG. 2H, and as a result, the output signal (set pulse gate signal S111) of the D-type flip-flop 13e becomes LOW level, that is, the set pulse gate signal S111. Becomes the LOW level (FIG. 2 (i)), the set pulse gate circuit 12a enters a gate closed state in which the input set signal S102 is not transmitted.

そして、単パルス生成回路13aで生成された単パルスS108を所定時間だけ遅延させて反転した遅延単パルスS109が、時刻t13で立ち上がると(図2(g))、この時点でD型フリップフロップ13cの出力がHIGHレベルとなり、これが積分回路13dで積分されるため、その積分出力S110は時間の経過に比例して上昇する(図2(h))。積分出力S110が規定値を下回る間は、D型フリップフロップ13eの出力はLOWレベルを維持し、すなわちセットパルスゲート信号S111がLOWレベルを維持するため、セットパルスゲート回路12aはゲート閉状態を維持する。積分出力S110が規定値に達する時刻t19までの間は、D型フリップフロップ13eの出力はLOWレベルを維持するため、時刻t19までの間は、セットパルスゲート信号S111はLOWレベルを維持し、この間、セットパルスゲート回路12aはゲート閉状態を維持することになる。   Then, when the delayed single pulse S109 obtained by delaying and inverting the single pulse S108 generated by the single pulse generation circuit 13a for a predetermined time rises at time t13 (FIG. 2 (g)), at this time, the D-type flip-flop 13c Output becomes HIGH level and is integrated by the integration circuit 13d, so that the integration output S110 rises in proportion to the passage of time (FIG. 2 (h)). While the integration output S110 is below the specified value, the output of the D-type flip-flop 13e is maintained at the LOW level, that is, the set pulse gate signal S111 is maintained at the LOW level, so that the set pulse gate circuit 12a is maintained in the gate closed state. To do. Until the time t19 when the integrated output S110 reaches the specified value, the output of the D-type flip-flop 13e maintains the LOW level. Therefore, until the time t19, the set pulse gate signal S111 maintains the LOW level. The set pulse gate circuit 12a maintains the gate closed state.

このため、入力信号S101が時刻t17で立ち上がり、その立ち上がりエッジが検出されセット信号S102が出力された場合、この時点では、セットパルスゲート回路12aはゲート閉状態となっているため、セット信号S102は伝達されない。このため、セットパルスゲート回路12aから出力信号S104が出力されない。つまり出力信号S104はHIGHレベルを維持するため、ゲート化セット信号S105もLOWレベルを維持し、すなわちセット用絶縁トランスTL1が励磁されることはない。   Therefore, when the input signal S101 rises at time t17, the rising edge is detected, and the set signal S102 is output, the set pulse gate circuit 12a is in the gate closed state at this time, and therefore the set signal S102 is Not transmitted. For this reason, the output signal S104 is not output from the set pulse gate circuit 12a. That is, since the output signal S104 maintains the HIGH level, the gated set signal S105 also maintains the LOW level, that is, the setting isolation transformer TL1 is not excited.

一方、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104が時刻t12で立ち上がると、リセット側ゲート信号生成回路14のD型フリップフロップ14bは、クロック端子への入力信号が立ち上がるため、出力信号をHIGHレベルに切り替える。すなわちリセットパルスゲート信号S113がHIGHレベルとなるため(図2(k))、リセットパルスゲート回路12cは、ゲート開状態となる。すなわち、リセットパルスゲート回路12cはその入力信号S103を出力信号S106に伝達する。   On the other hand, when the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a rises at time t12, the D-type flip-flop 14b of the reset-side gate signal generation circuit 14 switches the output signal to the HIGH level because the input signal to the clock terminal rises. . That is, since the reset pulse gate signal S113 becomes HIGH level (FIG. 2 (k)), the reset pulse gate circuit 12c enters the gate open state. That is, the reset pulse gate circuit 12c transmits the input signal S103 to the output signal S106.

このため、時刻t14で、入力信号S101が立ち下がり、この立ち下がりでリセット信号S103が立ち上がると、この時点で、リセットパルスゲート回路12cはゲート開状態であるため、リセット信号S103はリセットパルスゲート回路12cで反転されて出力信号S106として出力される。この出力信号S106は反転回路12dを介してゲート化リセット信号S107として、リセット用絶縁トランスTL2の励磁用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr2に供給される。これによって、リセット用絶縁トランスTL2の1次巻線M3が励磁され、リセット信号S103が2次巻線M4に伝達されることになる。   For this reason, when the input signal S101 falls at time t14 and the reset signal S103 rises at this fall, the reset pulse gate circuit 12c is in the gate open state at this point, so the reset signal S103 is the reset pulse gate circuit. Inverted at 12c and output as an output signal S106. The output signal S106 is supplied to the N-channel field effect transistor Tr2 for excitation of the reset isolation transformer TL2 as the gated reset signal S107 through the inverting circuit 12d. As a result, the primary winding M3 of the reset isolation transformer TL2 is excited, and the reset signal S103 is transmitted to the secondary winding M4.

一方、リセット側ゲート信号生成回路14の単パルス生成回路14aでは、出力信号S106が時刻t15で立ち上がるタイミングで単パルスS112が生成される。このため、時刻t15でD型フリップフロップ14bはクリアされ、その出力信号であるリセットパルスゲート信号S113はLOWレベルに切り替わる。これにより、この時点で、リセットパルスゲート回路12cは、ゲート閉状態に切り替わる。   On the other hand, in the single pulse generation circuit 14a of the reset side gate signal generation circuit 14, the single pulse S112 is generated at the timing when the output signal S106 rises at time t15. For this reason, the D-type flip-flop 14b is cleared at time t15, and the reset pulse gate signal S113, which is an output signal thereof, is switched to the LOW level. Thereby, at this time, the reset pulse gate circuit 12c is switched to the gate closed state.

このため、時刻t17で立ち上がった入力信号S101が時刻t18で立ち下がり、これに応じてリセットパルス生成回路11bにおいて、リセット信号S103が発生された場合、この時点で、リセットパルスゲート信号S113はLOWレベルであって、リセットパルスゲート回路12cはゲート閉状態であるため、時刻t18で生じたリセット信号S103はリセットパルスゲート回路12cでブロックされ、出力信号S106に伝達されない。したがって、ゲート化リセット信号S107が出力されないため、リセット用絶縁トランスTL2の励磁は行なわれない。   Therefore, when the input signal S101 that rises at time t17 falls at time t18 and the reset signal S103 is generated in the reset pulse generation circuit 11b accordingly, at this time, the reset pulse gate signal S113 is at the LOW level. Since the reset pulse gate circuit 12c is in the gate closed state, the reset signal S103 generated at time t18 is blocked by the reset pulse gate circuit 12c and is not transmitted to the output signal S106. Therefore, since the gated reset signal S107 is not output, the reset isolation transformer TL2 is not excited.

そして、時刻t19で、積分回路13dの積分出力S110が規定値を上回ると、この時点でD型フリップフロップ13eの出力信号がHIGHレベルに切り替わり、すなわちセットパルスゲート信号S111がHIGHレベルとなるため、セットパルスゲート回路12aはゲート開状態に切り替わる。
このため、時刻t21で、入力信号S101が立ち上がり、セット信号S102が生成されると、この時点でセットパルスゲート回路12aは、ゲート開状態であるため、セット信号S102に応じた出力信号S104が反転回路12bを介してゲート化セット信号S105として、セット用絶縁トランスTL1用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr1に供給され、セット信号S102の伝達が行なわれることになる。
At time t19, when the integration output S110 of the integration circuit 13d exceeds the specified value, the output signal of the D-type flip-flop 13e is switched to HIGH level at this time, that is, the set pulse gate signal S111 is set to HIGH level. The set pulse gate circuit 12a is switched to the gate open state.
For this reason, when the input signal S101 rises and the set signal S102 is generated at time t21, the set pulse gate circuit 12a is in the gate open state at this time, so the output signal S104 corresponding to the set signal S102 is inverted. The gated set signal S105 is supplied to the N-channel field effect transistor Tr1 for the setting isolation transformer TL1 through the circuit 12b, and the set signal S102 is transmitted.

そして、セットパルスゲート回路12aを通過した出力信号S104の時刻t22での立ち上がりのタイミングで単パルス生成回路13aにおいて単パルスS108が生成され、D型フリップフロップ13eがクリアされるため、セットパルスゲート信号S111がLOWレベルに切り替わり、この時点で、セットパルスゲート回路12aがゲート閉状態に切り替わる。そして、以後、上記と同様に、時刻t22の単パルスS108の立ち上がりタイミングから所定時間だけ遅延させた遅延単パルスS109の時刻t23での立ち上がりタイミングで積分回路13dでの積分が開始され、積分出力S110が規定値に達したとき、セットパルスゲート信号S111がHIGHレベルに切り替わり、これによりセットパルスゲート回路12aがゲート開状態に切り替わる。   The single pulse S108 is generated in the single pulse generation circuit 13a at the rising timing of the output signal S104 that has passed through the set pulse gate circuit 12a at time t22, and the D-type flip-flop 13e is cleared. S111 switches to the LOW level, and at this time, the set pulse gate circuit 12a switches to the gate closed state. Thereafter, in the same manner as described above, the integration in the integration circuit 13d is started at the rising timing at time t23 of the delayed single pulse S109 delayed by a predetermined time from the rising timing of the single pulse S108 at time t22, and the integration output S110 When the signal reaches the specified value, the set pulse gate signal S111 is switched to the HIGH level, whereby the set pulse gate circuit 12a is switched to the gate open state.

一方、時刻t22で、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104が立ち上がると、このタイミングでD型フリップフロップ14bの出力信号がHIGHレベルに切り替わり、すなわちリセットパルスゲート信号S113がHIGHレベルとなるため、リセットパルスゲート回路12cがゲート開状態に切り替わる。このため、時刻t24で入力信号S101が立ち下がると、リセット信号S103はリセットパルスゲート回路12c、反転回路12dを介してゲート化リセット信号S107としてリセット用絶縁トランスTL2用のNチャンネル電界効果型トランジスタTr2に供給され、リセット信号S103の伝達が行なわれることになる。   On the other hand, when the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a rises at time t22, the output signal of the D-type flip-flop 14b is switched to HIGH level at this timing, that is, the reset pulse gate signal S113 becomes HIGH level. The pulse gate circuit 12c is switched to the gate open state. Therefore, when the input signal S101 falls at time t24, the reset signal S103 is converted into the gated reset signal S107 via the reset pulse gate circuit 12c and the inverting circuit 12d, and the N-channel field effect transistor Tr2 for the reset isolation transformer TL2 And the reset signal S103 is transmitted.

そして、リセット信号S103から生成されたリセットパルスゲート回路12cの出力信号S106が時刻t25で立ち上がるタイミングで、単パルスS112が生成され、これによりD型フリップフロップ14bがクリアされ、リセットパルスゲート信号S113がLOWレベルに切り替わるため、リセットパルスゲート回路12cはゲート閉状態に切り替わる。   Then, at the timing when the output signal S106 of the reset pulse gate circuit 12c generated from the reset signal S103 rises at time t25, a single pulse S112 is generated, whereby the D-type flip-flop 14b is cleared, and the reset pulse gate signal S113 is In order to switch to the LOW level, the reset pulse gate circuit 12c switches to the gate closed state.

このように、セット信号S102のパルスがセットパルスゲート回路12aを通過した時点で、セットパルスゲート回路12aをゲート閉状態に切り替えて以後のセット信号S102のパルスの通過を阻止するようにし、所定の経過時間(以下、規定時間という。)が経過した時点で、セットパルスゲート回路12aをゲート開状態に切り替える構成としたため、規定時間よりも短い間隔でセット用絶縁トランスTL1が励磁されることを回避することができる。   In this way, when the pulse of the set signal S102 passes through the set pulse gate circuit 12a, the set pulse gate circuit 12a is switched to the gate closed state so as to prevent subsequent passage of the pulse of the set signal S102. Since the set pulse gate circuit 12a is switched to the gate open state when the elapsed time (hereinafter referred to as a specified time) has elapsed, the setting isolation transformer TL1 is prevented from being excited at an interval shorter than the specified time. can do.

また、セット信号S102のパルスがセットパルスゲート回路12aを通過した時点で、リセットパルスゲート回路12cをゲート開状態に切り替え、リセット信号S103のパルスがリセットパルスゲート回路12cを通過した時点でリセットパルスゲート回路12cをゲート閉状態に切り替える構成とし、一度リセット信号S103のパルスがリセットパルスゲート回路12cを通過すると、その後はセット信号S102のパルスが発生するまでリセット信号S103を無効化するため、セット信号S102のパルス(つまり立ち上がりエッジ)と対をなすリセット信号S103のパルス(つまり立ち下がりエッジ)を除くリセット信号S103に生じたパルス、つまりノイズ等に基づいてリセット用絶縁トランスTL2が励磁されることを回避することができる。   Further, when the pulse of the set signal S102 passes through the set pulse gate circuit 12a, the reset pulse gate circuit 12c is switched to the gate open state, and when the pulse of the reset signal S103 passes through the reset pulse gate circuit 12c, the reset pulse gate The circuit 12c is configured to be switched to the gate closed state. Once the pulse of the reset signal S103 passes through the reset pulse gate circuit 12c, the reset signal S103 is invalidated until a pulse of the set signal S102 is generated thereafter. The reset isolation transformer TL2 is excited on the basis of pulses generated in the reset signal S103 excluding the pulse (that is, falling edge) of the reset signal S103 that is paired with the other pulse (that is, rising edge), that is, noise. It can be avoided.

このように、規定時間よりも短い間隔でセット用絶縁トランスTL1が励磁されることを回避することができるため、リセット用絶縁トランスTL2についても、規定値よりも短い間隔で励磁されることを回避することができ、セット用絶縁トランスTL1、及びリセット用絶縁トランスTL2の励磁間隔が短いことに起因して、これらセット用絶縁トランスTL1及びリセット用絶縁トランスTL2の励磁コイルが損傷することを回避することができる。   In this way, since it is possible to avoid the setting isolation transformer TL1 from being excited at intervals shorter than the specified time, the reset insulating transformer TL2 is also prevented from being excited at intervals shorter than the specified value. It is possible to avoid damaging the exciting coils of the set insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2 due to a short excitation interval between the setting insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2. be able to.

また、リセットパルスゲート回路12cは、所定のパルス幅を有するセット信号S102の立ち下がりに相当する、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104の立ち上がりでゲート開状態となるように構成している。このため、入力信号S101の立ち上がりエッジが検出された直後にゲート開状態となって、入力信号の立ち下がりエッジがいつ検出されても、この立ち下がりエッジに同期したリセット信号S103のパルスの通過を許容する状態となる。したがって、立ち上がりエッジと対をなす立ち下がりエッジに対応するパルスの通過を阻止することなく確実に通過させることができる。特に、本実施形態では、立ち上がりエッジのタイミングでIGBT1105又は1106を導通状態とし、立ち下がりのタイミングでIGBT1105又は1106を非導通状態に制御している。このため、立ち下がりエッジに対応するパルスを的確に伝送することができなかった場合には、IGBTが導通状態のままに維持されることになる。しかしながら、上述のように、真の立ち下がりエッジに対応するパルスの通過を阻止することなく的確に通過させることができるため、信頼性をより向上させることができる。   The reset pulse gate circuit 12c is configured to be in the gate open state at the rising edge of the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a corresponding to the falling edge of the set signal S102 having a predetermined pulse width. For this reason, the gate is opened immediately after the rising edge of the input signal S101 is detected, and any time the falling edge of the input signal is detected, the pulse of the reset signal S103 synchronized with the falling edge is passed. It will be in an acceptable state. Therefore, the pulse corresponding to the falling edge paired with the rising edge can be reliably passed without being blocked. In particular, in this embodiment, the IGBT 1105 or 1106 is turned on at the rising edge timing, and the IGBT 1105 or 1106 is controlled to be turned off at the falling timing. For this reason, when the pulse corresponding to the falling edge cannot be accurately transmitted, the IGBT is maintained in the conductive state. However, as described above, since the pulse corresponding to the true falling edge can be accurately passed without being blocked, the reliability can be further improved.

また、リセットパルスゲート回路12cは、リセット信号S103の立ち下がりに相当する単パルスS112の立ち上がりでゲート閉状態となるように構成している。このため、入力信号の立ち下がりエッジに対応するパルスが通過した直後にゲート閉状態となり、立ち上がりエッジと対をなす立ち下がりエッジに対応するパルスではなく、ノイズ等によるパルスが通過することを阻止することができる。したがって、入力信号S101に重畳されたノイズだけでなく、リセットパルスゲート信号S113に重畳されたノイズも除去することができる。   The reset pulse gate circuit 12c is configured to be in a gate-closed state at the rising edge of the single pulse S112 corresponding to the falling edge of the reset signal S103. Therefore, the gate is closed immediately after the pulse corresponding to the falling edge of the input signal passes, and the pulse due to noise or the like is prevented from passing, not the pulse corresponding to the falling edge paired with the rising edge. be able to. Therefore, not only the noise superimposed on the input signal S101 but also the noise superimposed on the reset pulse gate signal S113 can be removed.

図3は、図1の変換回路KU1の詳細構成を示す回路図である。
セット・リセット信号生成回路11において、抵抗R11の一端は、インバータ111を介して入力信号S101の信号源Gに接続される。抵抗R11の他端は、コンデンサC11を介して接地されるとともに、排他的論理和回路112の一方の入力端子に接続される。また、排他的論理和回路112の他方の入力端子には信号源Gが接続される。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a detailed configuration of the conversion circuit KU1 of FIG.
In the set / reset signal generation circuit 11, one end of the resistor R <b> 11 is connected to the signal source G of the input signal S <b> 101 via the inverter 111. The other end of the resistor R11 is grounded via the capacitor C11 and is connected to one input terminal of the exclusive OR circuit 112. The signal source G is connected to the other input terminal of the exclusive OR circuit 112.

排他的論理和回路112の出力はインバータ113Aを介して否定論理積回路114Aの一方の入力端子に接続されると共に、インバータ113Aを介して否定論理積回路114Bの一方の入力端子に接続される。否定論理積回路114Aの他方の入力端子には信号源Gが接続される。また、否定論理積回路114Bの他方の入力端子には信号源Gがインバータ113Bを介して接続される。   The output of the exclusive OR circuit 112 is connected to one input terminal of the NAND circuit 114A via the inverter 113A, and is connected to one input terminal of the NOR circuit 114B via the inverter 113A. A signal source G is connected to the other input terminal of the NAND circuit 114A. The signal source G is connected to the other input terminal of the NAND circuit 114B through the inverter 113B.

否定論理積回路114Aの出力はインバータ115Aを介して、セット信号S102として出力される。否定論理積回路114Bの出力はインバータ115Bを介して、リセット信号S103として出力される。
つまり、信号源Gの入力信号S101は、インバータ111で反転された後、抵抗R11及びコンデンサC11からなる積分回路で遅延された後、排他的論理和回路112に入力され、ここで、入力信号S101の遅延信号と入力信号S101との排他的論理和(Exclusive OR)がとられる。この排他的論理和をインバータ113Aで反転した信号と入力信号S101との否定論理積(NAND)が否定論理積回路114Aでとられて、入力信号S101の立ち上がりエッジに同期した信号が生成され、これがインバータ115Aで反転されてセット信号S102が生成される。
The output of the NAND circuit 114A is output as the set signal S102 via the inverter 115A. The output of the NAND circuit 114B is output as the reset signal S103 via the inverter 115B.
That is, the input signal S101 of the signal source G is inverted by the inverter 111, delayed by an integrating circuit including the resistor R11 and the capacitor C11, and then input to the exclusive OR circuit 112, where the input signal S101 The exclusive OR of the delayed signal and the input signal S101 is taken. A negative logical product (NAND) of the signal obtained by inverting the exclusive logical sum by the inverter 113A and the input signal S101 is taken by the negative logical product circuit 114A to generate a signal synchronized with the rising edge of the input signal S101. Inverted by inverter 115A, set signal S102 is generated.

また、排他的論理和回路112で演算された排他的論理和をインバータ113Aで反転した信号と、入力信号S101をインバータ113Bで反転した信号との否定論理積が否定論理積回路114Bでとられて、入力信号S101の立ち下がりエッジに同期した信号が生成され、これがインバータ115Bで反転されてリセット信号S103が生成される。   Further, a negative logical product of a signal obtained by inverting the exclusive logical sum calculated by the exclusive logical sum circuit 112 by the inverter 113A and a signal obtained by inverting the input signal S101 by the inverter 113B is obtained by the negative logical product circuit 114B. A signal synchronized with the falling edge of the input signal S101 is generated and inverted by the inverter 115B to generate the reset signal S103.

図3において、インバータ111、抵抗R11、コンデンサC11、排他的論理和回路112、インバータ113A、否定論理積回路114A、インバータ115Aによりセットパルス生成回路11aを構成している。また、インバータ111、抵抗R11、コンデンサC11、排他的論理和回路112、インバータ113A、113B、否定論理積回路114B、インバータ115Bによりリセットパルス生成回路11bを構成している。
次に、ゲート回路12は、セットパルスゲート回路12aを構成する否定論理積回路121Aと、リセットパルスゲート回路12cを構成する否定論理積回路121Bと、反転回路12bを構成するインバータ122Aと、反転回路12dを構成するインバータ122Bとを備える。
In FIG. 3, an inverter 111, a resistor R11, a capacitor C11, an exclusive OR circuit 112, an inverter 113A, a negative AND circuit 114A, and an inverter 115A constitute a set pulse generation circuit 11a. The inverter 111, the resistor R11, the capacitor C11, the exclusive OR circuit 112, the inverters 113A and 113B, the NAND circuit 114B, and the inverter 115B constitute the reset pulse generation circuit 11b.
Next, the gate circuit 12 includes a NAND circuit 121A that constitutes the set pulse gate circuit 12a, a NAND circuit 121B that constitutes the reset pulse gate circuit 12c, an inverter 122A that constitutes the inverting circuit 12b, and an inverting circuit. And an inverter 122B constituting 12d.

否定論理積回路121Aの一方の入力端子には、セット信号S102が入力され、他方の入力端子には、セット側ゲート信号生成回路13からのセットパルスゲート信号S111が入力される。そして、これらの否定論理積(S104)が、インバータ122Aを介してゲート化セット信号S105として出力される。
否定論理積回路121Bの一方の入力端子には、リセット信号S103が入力され、他方の入力端子には、リセット側ゲート信号生成回路14からのリセットパルスゲート信号S113が入力される。そして、これらの否定論理積(S106)が、インバータ122Bを介してゲート化リセット信号S107として出力される。
The set signal S102 is input to one input terminal of the NAND circuit 121A, and the set pulse gate signal S111 from the set-side gate signal generation circuit 13 is input to the other input terminal. These NANDs (S104) are output as the gated set signal S105 via the inverter 122A.
The reset signal S103 is input to one input terminal of the NAND circuit 121B, and the reset pulse gate signal S113 from the reset-side gate signal generation circuit 14 is input to the other input terminal. These negative logical products (S106) are output as the gated reset signal S107 via the inverter 122B.

次に、セット側ゲート信号生成回路13において、ゲート回路12の否定論理積回路121A、すなわちセットパルスゲート回路12aの出力信号S104は、D型フリップフロップ131のクロック端子CLKに入力される。D型フリップフロップ131の入力端子Dには電源電位Vcc1が印加され、出力端子QはコンデンサC21及び抵抗R21を介して接地されると共にコンデンサC21及びインバータ132を介して否定論理積回路133の一方の入力端子に接続される。D型フリップフロップ131、コンデンサC21、抵抗R21、インバータ132及び否定論理積回路133により微分回路に基づく単パルス生成回路13aを構成している。   Next, in the set side gate signal generation circuit 13, the NAND circuit 121 </ b> A of the gate circuit 12, that is, the output signal S <b> 104 of the set pulse gate circuit 12 a is input to the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 131. The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 131, the output terminal Q is grounded via the capacitor C21 and the resistor R21, and one of the NAND circuits 133 is connected via the capacitor C21 and the inverter 132. Connected to input terminal. The D-type flip-flop 131, the capacitor C21, the resistor R21, the inverter 132, and the NAND circuit 133 constitute a single pulse generation circuit 13a based on a differentiation circuit.

否定論理積回路133の他方の入力端子には、後述の電源リセット回路15からの電源リセット信号S120が入力される。否定論理積回路133の出力が単パルスS108となり、この単パルスS108は、抵抗R23を介してNチャンネル電界効果型トランジスタ134のゲート端子に入力されると共に、インバータ135を介してD型フリップフロップ13cとしてのD型フリップフロップ136のクリア端子に入力される。   A power reset signal S120 from a power reset circuit 15 described later is input to the other input terminal of the NAND circuit 133. The output of the NAND circuit 133 becomes a single pulse S108, and this single pulse S108 is input to the gate terminal of the N-channel field effect transistor 134 via the resistor R23, and also to the D-type flip-flop 13c via the inverter 135. Are input to the clear terminal of the D-type flip-flop 136.

また、インバータ135の出力はD型フリップフロップ13eとしてのD型フリップフロップ137のクリア端子に入力されると共に、D型フリップフロップ131のクリア端子に入力され、さらに、D型フリップフロップ138のクロック端子CLKに入力される。
D型フリップフロップ138の入力端子Dには、電源電位Vcc1が印加され、出力端子Qは、コンデンサC22及び抵抗R25を介して接地されると共に、コンデンサC22及びインバータ139を介して否定論理積回路140の一方の入力端子に接続される。D型フリップフロップ138、コンデンサC22、抵抗R25、否定論理積回路140及び後述のインバータ141により微分回路に基づく遅延単パルス生成回路13bを構成している。
The output of the inverter 135 is input to a clear terminal of a D-type flip-flop 137 as the D-type flip-flop 13 e and also input to a clear terminal of the D-type flip-flop 131, and further, a clock terminal of the D-type flip-flop 138. Input to CLK.
The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 138, the output terminal Q is grounded via the capacitor C22 and the resistor R25, and the NAND circuit 140 via the capacitor C22 and the inverter 139. Is connected to one of the input terminals. A D-type flip-flop 138, a capacitor C22, a resistor R25, a NAND circuit 140, and an inverter 141 (to be described later) constitute a delayed single pulse generation circuit 13b based on a differentiation circuit.

否定論理積回路140の他方の入力端子には、後述の電源リセット回路15の電源リセット信号S121が入力される。否定論理積回路140の出力はインバータ141に入力され、インバータ141の出力が遅延単パルスS109として、D型フリップフロップ136のクロック端子CLKに入力されると共に、D型フリップフロップ138のクリア端子CLRに入力される。   A power reset signal S121 of the power reset circuit 15 described later is input to the other input terminal of the NAND circuit 140. The output of the NAND circuit 140 is input to the inverter 141, and the output of the inverter 141 is input to the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 136 as a delayed single pulse S109 and to the clear terminal CLR of the D-type flip-flop 138. Entered.

D型フリップフロップ136の入力端子Dには電源電位Vcc1が印加され、出力端子Qは抵抗R29及びコンデンサC23を介して接地されると共に、抵抗R29を介してNチャンネル電界効果型トランジスタ134のドレインに接続され、さらに抵抗R29を介してD型フリップフロップ137のクロック端子CLKに入力される。
Nチャンネル電界効果型トランジスタ134のソースは、接地される。
The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 136, the output terminal Q is grounded via the resistor R29 and the capacitor C23, and is connected to the drain of the N-channel field effect transistor 134 via the resistor R29. Furthermore, it is input to the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 137 via the resistor R29.
The source of the N-channel field effect transistor 134 is grounded.

そして、D型フリップフロップ137の入力端子Dには電源電位Vcc1が印加され、出力端子Qは、ゲート回路12の否定論理積回路121Aの一方の入力端子に接続され、D型フリップフロップ137の出力が、D型フリップフロップ13eの出力信号(セットパルスゲート信号S111)として、セットパルスゲート回路12a(否定論理積回路121A)に供給される。   The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 137, the output terminal Q is connected to one input terminal of the NAND circuit 121A of the gate circuit 12, and the output of the D-type flip-flop 137 Is supplied to the set pulse gate circuit 12a (negative AND circuit 121A) as an output signal (set pulse gate signal S111) of the D flip-flop 13e.

以上の構成により、セットパルスゲート回路12a(否定論理積回路121A)の出力信号S104が立ち上がると、D型フリップフロップ131、コンデンサC21、抵抗R21、インバータ132及び否定論理積回路133からなる単パルス生成回路13aによりパルス幅が一定のパルス信号が生成され、これが単パルスS108としてNチャンネル電界効果型トランジスタ134のゲートに供給される。このため、単パルスS108の立ち上がりで、Nチャンネル電界効果型トランジスタ134が導通状態となり、タイマの役割を果たす抵抗R29及びコンデンサC23からなる積分回路の、コンデンサC23の電荷を放電させる。これにより、積分回路13dの積分値がリセットされたことと同等となる。   With the above configuration, when the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a (the NAND circuit 121A) rises, a single pulse is generated that includes the D-type flip-flop 131, the capacitor C21, the resistor R21, the inverter 132, and the NAND circuit 133. A pulse signal having a constant pulse width is generated by the circuit 13a and supplied to the gate of the N-channel field effect transistor 134 as a single pulse S108. For this reason, at the rise of the single pulse S108, the N-channel field effect transistor 134 becomes conductive, and the charge of the capacitor C23 of the integrating circuit composed of the resistor R29 and the capacitor C23 serving as a timer is discharged. This is equivalent to the integration value of the integration circuit 13d being reset.

また、単パルスS108がインバータ135で反転されてD型フリップフロップ131、D型フリップフロップ136、D型フリップフロップ137のクリア端子に入力されることにより、単パルスS108の立ち上がりで、これらD型フリップフロップ131.136、137がリセットされ、D型フリップフロップ137がクリアされることにより、D型フリップフロップ13eの出力信号(セットパルスゲート信号S111)がLOWレベルに切り替わるため、セットパルスゲート回路12aの否定論理積回路121Aの出力は、セットパルス生成回路11aの出力であるインバータ115Aの出力(セット信号S102)に関わらず固定され、すなわち、セットパルスゲート回路12aが閉ゲート状態に切り替わることと同等となる。このため、セットパルス生成回路11aの出力信号(セット信号S102)のパルスの伝達が阻止される。また、単パルスS108がインバータ135で反転されてD型フリップフロップ138のクロックCLKに入力され、D型フリップフロップ138とコンデンサC22と抵抗R25とからなる微分回路を経ることにより、単パルスS108の立ち下がりのタイミングで、単パルスS108のパルス幅相当だけ遅延したパルスが生成され、これが、インバータ139で成形された後、否定論理積回路140、インバータ141を経て遅延単パルスS109として、D型フリップフロップ136のクロック端子CLKに入力される。   In addition, the single pulse S108 is inverted by the inverter 135 and input to the clear terminals of the D flip-flop 131, the D flip-flop 136, and the D flip-flop 137, so that these D flip-flops at the rising edge of the single pulse S108. The reset signals 131.136 and 137 are reset and the D flip-flop 137 is cleared, so that the output signal (set pulse gate signal S111) of the D flip flop 13e is switched to the LOW level. The output of the negative AND circuit 121A is fixed regardless of the output of the inverter 115A (set signal S102) that is the output of the set pulse generation circuit 11a, that is, equivalent to the set pulse gate circuit 12a switching to the closed gate state. BecomeFor this reason, the transmission of the pulse of the output signal (set signal S102) of the set pulse generation circuit 11a is blocked. Further, the single pulse S108 is inverted by the inverter 135 and input to the clock CLK of the D-type flip-flop 138, and passes through a differentiating circuit composed of the D-type flip-flop 138, the capacitor C22, and the resistor R25. At the falling timing, a pulse delayed by the pulse width of the single pulse S108 is generated. This pulse is formed by the inverter 139, and then passed through the negative AND circuit 140 and the inverter 141 as the delayed single pulse S109. 136 is input to the clock terminal CLK.

このため、遅延単パルスS109の立ち上がりで、D型フリップフロップ136の出力がHIGHレベルに切り替わり、抵抗R29及びコンデンサC23からなる積分回路による積分が開始されコンデンサC23への充電が開始される。
コンデンサC23の両端の電圧、すなわち積分出力S110が後段のD型フリップフロップ137のクロック端子CLKの閾値電圧に到達するまで充電されると、D型フリップフロップ137の出力がHIGHレベルに切り替わり、すなわちセットパルスゲート信号S111がHIGHレベルとなる。そして、これがセットパルスゲート回路12aの否定論理積回路121Aに入力されるため、セットパルスゲート回路12aはゲート開状態に切り替わる。これにより、セットパルス生成回路11aからのセット信号S102のパルスの伝達が可能となる。ここで、入力信号S101が立ち上がってから積分出力S110が後段のD型フリップフロップ137のクロック端子CLKの閾値電圧に到達するまでの時間が、上述の規定時間となる。
For this reason, at the rise of the delayed single pulse S109, the output of the D-type flip-flop 136 is switched to the HIGH level, the integration by the integrating circuit including the resistor R29 and the capacitor C23 is started, and the charging of the capacitor C23 is started.
When the voltage at both ends of the capacitor C23, that is, the integration output S110, is charged until it reaches the threshold voltage of the clock terminal CLK of the subsequent D-type flip-flop 137, the output of the D-type flip-flop 137 switches to HIGH level, that is, set The pulse gate signal S111 becomes HIGH level. Since this is input to the NAND circuit 121A of the set pulse gate circuit 12a, the set pulse gate circuit 12a is switched to the gate open state. Thereby, transmission of the pulse of the set signal S102 from the set pulse generation circuit 11a becomes possible. Here, the time from when the input signal S101 rises until the integration output S110 reaches the threshold voltage of the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 137 at the subsequent stage is the above-mentioned specified time.

次に、リセット側ゲート信号生成回路14において、ゲート回路12のセットパルスゲート回路12a(否定論理積回路121A)の出力信号S104は、D型フリップフロップ13eとしてのD型フリップフロップ151のクロック端子CLKに入力される。D型フリップフロップ151の入力端子Dには電源電位Vcc1が印加され、出力端子Qはゲート回路12の否定論理積回路121Bに入力される。またD型フリップフロップ151のクリア端子CLRには後述のインバータ155からの単パルスS112が入力される。   Next, in the reset-side gate signal generation circuit 14, the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a (negative AND circuit 121A) of the gate circuit 12 is the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 151 as the D-type flip-flop 13e. Is input. The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 151, and the output terminal Q is input to the NAND circuit 121B of the gate circuit 12. A single pulse S112 from an inverter 155, which will be described later, is input to the clear terminal CLR of the D-type flip-flop 151.

一方、ゲート回路12のリセットパルスゲート回路12b(否定論理積回路121B)の出力信号S106はD型フリップフロップ152のクロック端子CLKに入力される。
D型フリップフロップ152の入力端子Dには電源電位Vcc1が印加され、出力端子QはコンデンサC41及び抵抗R42を介して接地されると共に、コンデンサC41及びインバータ153を介して否定論理積回路154の一方の入力端子に入力される。
否定論理積回路154の他方の入力端子には、電源リセット信号S120が入力され、否定論理積回路154の出力はインバータ155を経て単パルスS112としてD型フリップフロップ151及び152のクリア端子に入力される。
On the other hand, the output signal S106 of the reset pulse gate circuit 12b (negative AND circuit 121B) of the gate circuit 12 is input to the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 152.
The power supply potential Vcc1 is applied to the input terminal D of the D-type flip-flop 152, the output terminal Q is grounded through the capacitor C41 and the resistor R42, and one of the NAND circuits 154 is connected through the capacitor C41 and the inverter 153. Is input to the input terminal.
A power reset signal S120 is input to the other input terminal of the NAND circuit 154, and an output of the NAND circuit 154 is input to the clear terminals of the D flip-flops 151 and 152 as a single pulse S112 via the inverter 155. The

以上の構成により、セットパルスゲート回路12a(否定論理積回路121A)を通過したセット信号S102の立ち下がりで、セットパルスゲート回路12aの出力信号S104が立ち下がると、D型フリップフロップ151の出力であるリセットパルスゲート信号S113がHIGHレベルとなり、否定論理積回路121Bの一方の入力端子への入力がHIGHレベルとなるため、リセットパルスゲート回路12c(否定論理積回路121B)はゲート開状態となる。   With the above configuration, when the output signal S104 of the set pulse gate circuit 12a falls at the fall of the set signal S102 that has passed through the set pulse gate circuit 12a (the NAND circuit 121A), the output of the D-type flip-flop 151 A certain reset pulse gate signal S113 becomes HIGH level, and the input to one input terminal of the NAND circuit 121B becomes HIGH level, so that the reset pulse gate circuit 12c (Negation AND circuit 121B) is in a gate open state.

そして、リセット信号S103のパルスがリセットパルスゲート回路12c(否定論理積回路121B)を通過し、否定論理積回路121Bの出力S106が立ち上がると、D型フリップフロップ152、コンデンサC41、抵抗R42とからなる微分回路を経ることにより単パルスS112が生成され、この単パルスS112によりD型フリップフロップ151がクリアされその出力であるリセットパルスゲート信号S113がLOWレベルに切り替わる。このため、否定論理積回路121Bへの一方の入力がLOWレベルとなるため、リセットパルスゲート回路12c(否定論理積回路121B)はゲート閉状態となる。   When the pulse of the reset signal S103 passes through the reset pulse gate circuit 12c (negative AND circuit 121B) and the output S106 of the negative AND circuit 121B rises, the D flip-flop 152, the capacitor C41, and the resistor R42 are formed. A single pulse S112 is generated by passing through the differentiating circuit, the D-type flip-flop 151 is cleared by this single pulse S112, and the reset pulse gate signal S113 which is the output is switched to the LOW level. For this reason, since one input to the negative AND circuit 121B becomes LOW level, the reset pulse gate circuit 12c (negative AND circuit 121B) is in a gate closed state.

次に、電源リセット回路15において、抵抗R51の一端が電源電圧Vcc1に接続され他端はコンデンサC51を介して接地されると共に、スイッチSW51を介して接地される。このスイッチSW51は、昇降圧コンバータ用インテリジェントモジュールの電源のオン/オフに応じて動作し、電源オンとなったときには遮断状態となり、電源オフとなったときに導通状態となる。   Next, in the power reset circuit 15, one end of the resistor R51 is connected to the power supply voltage Vcc1, and the other end is grounded via the capacitor C51 and grounded via the switch SW51. The switch SW51 operates in response to power on / off of the step-up / down converter intelligent module. The switch SW51 is turned off when the power is turned on and is turned on when the power is turned off.

さらに抵抗R51とコンデンサC51との接続点の電位がインバータ161、162を経て電源リセット信号S120として、セット側ゲート信号生成回路13の否定論理積回路133及びリセット側ゲート信号生成回路14の否定論理積回路154の一方の入力端子に入力される。また、インバータ162の出力端子は、インバータ163、インバータ164を介して抵抗R52の一端に接続され、抵抗R52の他端は、セット側ゲート信号生成回路13の否定論理積回路140の一方の入力端子に入力されると共に、抵抗C52を介して接地されている。   Further, the potential at the connection point between the resistor R51 and the capacitor C51 is passed through the inverters 161 and 162 as the power reset signal S120, and the negative logical product 133 of the set side gate signal generation circuit 13 and the negative logical product of the reset side gate signal generation circuit 14 are used. The signal is input to one input terminal of the circuit 154. The output terminal of the inverter 162 is connected to one end of the resistor R52 via the inverter 163 and the inverter 164, and the other end of the resistor R52 is one input terminal of the NAND circuit 140 of the set-side gate signal generation circuit 13. And is grounded via a resistor C52.

以上の構成により、昇降圧コンバータ用インテリジェントモジュールが電源オンとなったときに、電源リセット信号S120がHIGHレベルとなった後、電源リセット信号S120に遅れて電源リセット信号S121がHIGHレベルとなる。これにより、最初にセット側ゲート信号生成回路13の否定論理積回路133及びリセット側ゲート信号生成回路14の否定論理積回路154、そして、これらに遅れて否定論理積回路140が一方の入力端子への入力に応じた信号を出力するよう固定される。また、昇降圧コンバータ用インテリジェントモジュールが電源オフとなったときに、電源リセット信号S120、及びこれに遅れて電源リセット信号S121がLOWレベルとなって、これら否定論理積回路133、140及び154の出力は所定の遅延時間をもってHIGHレベルに固定される。   With the above configuration, when the intelligent module for the buck-boost converter is turned on, after the power reset signal S120 becomes HIGH level, the power reset signal S121 becomes HIGH level after the power reset signal S120. As a result, first, the NAND circuit 133 of the set side gate signal generation circuit 13 and the NAND circuit 154 of the reset side gate signal generation circuit 14, and the NAND circuit 140 after that, are transferred to one input terminal. It is fixed to output a signal according to the input. When the intelligent module for the buck-boost converter is turned off, the power reset signal S120 and the power reset signal S121 become LOW after this, and the outputs of these NAND circuits 133, 140 and 154 are output. Is fixed to HIGH level with a predetermined delay time.

否定論理積回路133、140及び154の出力がHIGHレベルとなると、D型フリップフロップ131、137、138、151、152がクリアされてこれらの出力がLOWレベルとなるので、信号伝送回路TU全体がリセットされて、セット信号103、リセット信号S103も、セットパルスゲート12a、リセットパルスゲート12cを通過できなくなる。   When the outputs of the NAND circuits 133, 140 and 154 become HIGH level, the D-type flip-flops 131, 137, 138, 151 and 152 are cleared and these outputs become LOW level, so that the entire signal transmission circuit TU After the reset, the set signal 103 and the reset signal S103 cannot pass through the set pulse gate 12a and the reset pulse gate 12c.

昇降圧コンバータ用インテリジェントモジュールの電源オンとなった直後はこの状態であり、その後、抵抗R51、コンデンサC51およびインバータ161の閾値により決まる時間が経過すると、セット側ゲート信号生成回路13の遅延単パルス生成回路13bを除く信号伝送回路TU全体のリセットが外れる。そして、さらに抵抗R52、コンデンサC52および否定論理積回路140の閾値で決まる時間が経過すると、遅延単パルス生成回路13bのリセットも外れることになる。遅延単パルス生成回路13bのリセット解除を遅くしたのは、D型フリップフロップ138のクロック入力のタイミングとクリア入力が外れるタイミングが重ならないようにするためである。   This state is immediately after the power supply of the intelligent module for the buck-boost converter is turned on. After that, when the time determined by the threshold values of the resistor R51, the capacitor C51 and the inverter 161 elapses, the set-side gate signal generation circuit 13 generates the delayed single pulse. The reset of the entire signal transmission circuit TU excluding the circuit 13b is released. When the time determined by the threshold values of the resistor R52, the capacitor C52, and the NAND circuit 140 further elapses, the reset of the delayed single pulse generation circuit 13b is also released. The reason why the reset release of the delayed single pulse generation circuit 13b is delayed is to prevent the timing of the clock input of the D-type flip-flop 138 from deviating from that of the clear input.

次に、積分回路13dにおける規定値に相当する、セットパルスゲート回路12aを閉状態に維持する規定時間の設定方法を説明する。
ここで、図1から図3では、昇降圧コンバータ1102用のインテリジェントモジュールの制御回路1111における信号伝送回路TUについて説明したが、インバータ1103の制御回路1112も同様に構成されている。すなわち、図8に示す昇降圧コンバータ1102用の制御回路1111と同様に、インバータ1103の各IGBTそれぞれに保護機能付きゲートドライバICが設けられると共にアナログ−PWM変換器が設けられ、これらとCPUとの間の信号の伝達が絶縁トランスを備えた1117と同様の信号伝送部を介して行なわれる。
Next, a method for setting a prescribed time corresponding to a prescribed value in the integrating circuit 13d and maintaining the set pulse gate circuit 12a in the closed state will be described.
Here, in FIG. 1 to FIG. 3, the signal transmission circuit TU in the control circuit 1111 of the intelligent module for the buck-boost converter 1102 has been described, but the control circuit 1112 of the inverter 1103 is similarly configured. That is, like the control circuit 1111 for the buck-boost converter 1102 shown in FIG. 8, each IGBT of the inverter 1103 is provided with a gate driver IC with a protection function and an analog-PWM converter, and these are connected to the CPU. Signal transmission between them is performed through a signal transmission unit similar to 1117 equipped with an insulating transformer.

そして、昇降圧コンバータ1102のセットパルスゲート回路12aの規定時間は、インバータ1103における、セットパルスゲート回路の規定時間と同一に設定している。
このインバータ1103における、セットパルスゲート回路の規定時間は、次の手順で設定する。
ここで、インバータ1103の制御回路1112では、インバータ1103における電力変換を行なう際には、図4に示すように、正弦波PWM制御方式、過変調PWM制御方式、矩形波制御方式の3つの制御方式を切り替えて使用する。
The specified time of the set pulse gate circuit 12 a of the buck-boost converter 1102 is set to be the same as the specified time of the set pulse gate circuit in the inverter 1103.
The specified time of the set pulse gate circuit in the inverter 1103 is set by the following procedure.
Here, in the control circuit 1112 of the inverter 1103, when power conversion is performed in the inverter 1103, as shown in FIG. 4, there are three control methods: a sine wave PWM control method, an overmodulation PWM control method, and a rectangular wave control method. Switch between and use.

まず、正弦波PWM制御方式は、一般的なPWM制御として用いられるものであり、各相アームにおけるスイッチング素子のオン・オフを、正弦波状の電圧指令値と搬送波(代表的には、三角波)との電圧比較に従って制御する。この結果、上アーム素子のオン期間に対応するHIGHレベル期間と、下アーム素子のオン期間に対応するLOWレベル期間との集合について、一定期間内でその基本波成分が正弦波となるようにデューティ比が制御される。この正弦波PWM制御方式では、この基本波成分振幅をインバータの電圧の0.61倍までしか高めることができない。   First, the sine wave PWM control method is used as a general PWM control, and the switching elements in each phase arm are turned on / off by using a sine wave voltage command value and a carrier wave (typically, a triangular wave). Control according to the voltage comparison. As a result, with respect to the set of the HIGH level period corresponding to the ON period of the upper arm element and the LOW level period corresponding to the ON period of the lower arm element, the duty is set so that the fundamental wave component becomes a sine wave within a certain period. The ratio is controlled. In this sine wave PWM control system, the amplitude of the fundamental wave component can be increased only up to 0.61 times the voltage of the inverter.

一方、矩形波制御方式では、上記一定期間内で、HIGHレベル期間及びLOWレベル期間の比が1:1の矩形波1パルス分を電動機1104に印加する。これにより変調率は、0.78まで高められる。
次に、過変調PWM制御方式は、搬送波の振幅を縮小するように歪ませた上で、上記正弦波PWM制御方式と同様のPWM制御を行なうものである。この結果、基本波成分を歪ませることができ、変調率を0.61〜0.78の範囲まで高めることができる。
On the other hand, in the rectangular wave control method, one pulse of a rectangular wave having a ratio of HIGH level period to LOW level period of 1: 1 is applied to the electric motor 1104 within the predetermined period. This increases the modulation factor to 0.78.
Next, the overmodulation PWM control system performs the same PWM control as the sine wave PWM control system after distorting the carrier wave to reduce the amplitude. As a result, the fundamental wave component can be distorted, and the modulation factor can be increased to a range of 0.61 to 0.78.

そして、制御回路1112では、電動機1104の回転速度に応じてこれら制御方式を切り替え、電動機1104の回転速度が遅い領域では、滑らかに回転をさせることが可能な正弦波PWM制御方式を用い、中程度の回転速度の領域では過変調PWM制御方式を用い、高回転速度の領域では矩形波制御方式を用いることにより、直流電源1101の電圧利用率を向上させるようにしている。これは、IGBT1105、1106などの高パワー素子のスイッチング速度は、概ね10kHzが限界となっているためであり、制御方式を切り替えることで、電動機1104を低回転から高回転まで駆動している。   The control circuit 1112 switches between these control methods in accordance with the rotation speed of the motor 1104, and uses a sine wave PWM control method that allows smooth rotation in a region where the rotation speed of the motor 1104 is low. The overmodulation PWM control method is used in the rotation speed region, and the rectangular wave control method is used in the high rotation speed region, thereby improving the voltage utilization rate of the DC power supply 1101. This is because the switching speed of high power elements such as IGBTs 1105 and 1106 is generally limited to 10 kHz, and the electric motor 1104 is driven from a low rotation to a high rotation by switching the control method.

表1は、正弦波PWM制御方式を用いた場合の、パルス間隔がどのような範囲にあるかを演算した結果である。インバータ1103のインバータ周波数が1kHzであり且つPWM基本周波数が10kHzの場合には、PWMパルス信号のパルス間隔は、87〜201μsの範囲にある。また、インバータ周波数が50Hzであり且つPWM基本周波数が10kHzの場合には、PWMパルス信号のパルス間隔は、99〜200μsの範囲にあることがわかる。   Table 1 shows the calculation results of the range of the pulse interval when the sine wave PWM control method is used. When the inverter frequency of the inverter 1103 is 1 kHz and the PWM basic frequency is 10 kHz, the pulse interval of the PWM pulse signal is in the range of 87 to 201 μs. In addition, when the inverter frequency is 50 Hz and the PWM basic frequency is 10 kHz, it can be seen that the pulse interval of the PWM pulse signal is in the range of 99 to 200 μs.

Figure 0005353395
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つまり、インバータ1103のPWMパルス信号のパルス間隔は、87μs以上であるとみなすことができる。したがって、パルス間隔が87μsよりも短い間隔で発生するパルスは、ノイズによるものとみなすことができる。このため、このインバータ1103のPWMパルス信号が通常とり得るパルス間隔87μsよりも短い値を、規定時間として設定する。ここでは、余裕代(マージン)を確保して、50μs程度とする。この値は、表1を実現するインバータにおいて、大電流を伴うスイッチングによる磁界変化に起因するノイズを防ぐには十分であり、かつ正規のパルスをマスクして見逃してしまうことがない値となっている。   That is, the pulse interval of the PWM pulse signal of the inverter 1103 can be regarded as 87 μs or more. Therefore, pulses generated at intervals shorter than 87 μs can be regarded as noise. For this reason, a value shorter than the pulse interval of 87 μs that can be normally taken by the PWM pulse signal of the inverter 1103 is set as the specified time. Here, a margin (margin) is secured and is set to about 50 μs. This value is sufficient to prevent noise caused by magnetic field change due to switching with a large current in the inverter that realizes Table 1, and is a value that is not overlooked by masking a regular pulse. Yes.

規定時間は、図1のセット側ゲート信号生成回路13の積分回路13dのタイマ時間、すなわち、図3の抵抗R29,コンデンサC23およびD型フリップフロップ137のクロック端子CLKの閾値電圧で決定されるため、タイマ時間が、50μs程度となるように、これらの抵抗値及び容量を決定する。
以上により、インバータ1103の規定時間が設定される。そして、昇降圧コンバータ1102の規定時間として、インバータ1103の規定時間と同一値を設定する。
The specified time is determined by the timer time of the integration circuit 13d of the set-side gate signal generation circuit 13 of FIG. 1, that is, the threshold voltage of the resistor R29, the capacitor C23 and the clock terminal CLK of the D-type flip-flop 137 of FIG. The resistance value and the capacitance are determined so that the timer time is about 50 μs.
Thus, the specified time for the inverter 1103 is set. Then, the same value as the specified time of the inverter 1103 is set as the specified time of the buck-boost converter 1102.

ここで、図5に示すような車両駆動システムの場合、昇降圧コンバータ1102におけるPWM信号のパルス間隔は、一般に、インバータ1103のPWM信号のパルス間隔よりも長い。
したがって、昇降圧コンバータ1102における規定時間として、インバータ1103の規定時間を設定した場合であっても、ノイズではない、真のパルスの伝達が阻止されることはなく、ノイズの伝達を阻止し励磁コイルを保護しつつ、真に必要なパルスの伝達を確実に行なうことができる。
Here, in the case of the vehicle drive system as shown in FIG. 5, the pulse interval of the PWM signal in the buck-boost converter 1102 is generally longer than the pulse interval of the PWM signal of the inverter 1103.
Therefore, even when the specified time of the inverter 1103 is set as the specified time in the step-up / down converter 1102, the transmission of a true pulse, which is not noise, is not blocked, and the transmission of noise is blocked and the excitation coil It is possible to surely transmit the necessary pulse while protecting the signal.

なお、ここでは、昇降圧コンバータ1102における規定時間として、インバータ1103の規定時間を設定した場合について説明したが、これに限るものではない。
昇降圧コンバータ1102においても、PWM信号がとり得るパルス間隔の最小値を検出し、真のパルスの通過を阻止しない時間を規定時間として設定してもよい。このように設定することによって、ノイズの通過をできるだけ除去することができる。
Although the case where the specified time of the inverter 1103 is set as the specified time in the buck-boost converter 1102 has been described here, the present invention is not limited to this.
Also in the buck-boost converter 1102, the minimum value of the pulse interval that can be taken by the PWM signal may be detected, and the time that does not prevent the passage of the true pulse may be set as the specified time. By setting in this way, the passage of noise can be removed as much as possible.

また、上記実施の形態においては、昇降圧コンバータ1102及びインバータ1103の規定時間を、インバータ1103のPWM信号が通常とり得るパルス間隔の最小値に基づき設定する場合について説明したが、これに限るものではない。要は、絶縁トランスの励磁コイルが損傷に至ることのない間隔であり、且つ、昇降圧コンバータ1102、或いはインバータ1103のそれぞれにおけるPWM信号に応じた真のパルスの伝達を阻止することのない時間に設定すればよい。   In the above embodiment, the case where the specified times of the buck-boost converter 1102 and the inverter 1103 are set based on the minimum value of the pulse interval that can be normally taken by the PWM signal of the inverter 1103 has been described. Absent. The point is that the interval is such that the exciting coil of the insulating transformer does not cause damage, and that the transmission of the true pulse corresponding to the PWM signal in each of the buck-boost converter 1102 or the inverter 1103 is not blocked. You only have to set it.

また、上記実施の形態においては、セット側ゲート信号生成回路13では、抵抗R29とコンデンサC23とからなる積分回路と、D型フリップフロップ136と、Nチャンネル電界効果型トランジスタ134とで充放電回路を構成し、Nチャンネル電界効果型トランジスタ134によりコンデンサC23を放電させた後、抵抗R29にHIGHレベルの電圧を印加することによりコンデンサC23に電流を流入させて充電する構成とした場合について説明したが、これに限るものではなく、例えば、コンデンサC23に定電流を流入させる構成としてもよい。また、コンデンサC23の両端電圧をもとに所定時間を計測する構成とする場合に限るものではなく、例えば、信号伝送回路TU内に定周期のクロック信号を生成するクロック信号生成回路を設けるとともに、セット側ゲート信号生成回路13内にそのクロック信号を計数するクロック信号計数手段を設け、この計数値が規定時間相当となったか否かにより規定時間が経過したか否かを判断する構成とすることも可能である。   In the above-described embodiment, the set-side gate signal generation circuit 13 includes a charge / discharge circuit including the integration circuit composed of the resistor R29 and the capacitor C23, the D-type flip-flop 136, and the N-channel field effect transistor 134. A case has been described in which the capacitor C23 is discharged by the N-channel field effect transistor 134 and then a high level voltage is applied to the resistor R29 so that a current flows into the capacitor C23 to be charged. For example, a configuration in which a constant current is allowed to flow into the capacitor C23 may be employed. Further, the present invention is not limited to a configuration in which a predetermined time is measured based on the voltage across the capacitor C23. For example, a clock signal generation circuit that generates a clock signal having a fixed period is provided in the signal transmission circuit TU. A clock signal counting means for counting the clock signal is provided in the set-side gate signal generating circuit 13, and it is determined whether or not the specified time has elapsed depending on whether or not the counted value corresponds to the specified time. Is also possible.

また、上記実施の形態においては、本発明による信号伝送回路TUを、車両機器用の電力変換装置に適用した場合について説明したが、これに限るものではなく、絶縁トランスを用いて信号伝送を行なうようにした電力変換装置であれば適用することができる。
また、空芯型のトランスに適用した場合について説明したが、鉄心を有するトランスであっても適用することができる。
In the above embodiment, the case where the signal transmission circuit TU according to the present invention is applied to a power conversion device for vehicle equipment has been described. However, the present invention is not limited to this, and signal transmission is performed using an insulating transformer. Any power conversion device as described above can be applied.
Moreover, although the case where it applied to an air core type transformer was demonstrated, even if it is a transformer which has an iron core, it is applicable.

また、上記実施の形態においては、入力信号の立ち上がりエッジに基づいて、セット信号S102及びリセット信号S103によるセット用絶縁トランスTL1、リセット用絶縁トランスTL2の励磁を制限する場合について説明したが、入力信号の立ち下がりエッジに基づいてセット用絶縁トランスTL1、リセット用絶縁トランスTL2の励磁を制限するように構成することも可能である。   In the above embodiment, the case where the excitation of the set insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2 by the set signal S102 and the reset signal S103 is limited based on the rising edge of the input signal has been described. It is also possible to limit the excitation of the setting insulating transformer TL1 and the reset insulating transformer TL2 on the basis of the falling edge.

ここで、上記実施の形態において、セット用絶縁トランスTL1が特許請求の範囲のセット用トランスに対応し、リセット用絶縁トランスTL2がリセット用トランスに対応し、これらセット用絶縁トランスTL1及びリセット用絶縁トランスTL2がトランス手段に対応し、セット・リセット信号生成回路11がパルス信号生成手段に対応し、セットパルスゲート回路12aが第1の阻止手段に対応し、リセットパルスゲート回路12cが第2の阻止手段に対応し、セットパルスゲート回路12a及びリセットパルスゲート回路12cが励磁阻止手段に対応している。   Here, in the above-described embodiment, the set insulation transformer TL1 corresponds to the set transformer in the claims, the reset insulation transformer TL2 corresponds to the reset transformer, and the set insulation transformer TL1 and the reset insulation The transformer TL2 corresponds to the transformer means, the set / reset signal generation circuit 11 corresponds to the pulse signal generation means, the set pulse gate circuit 12a corresponds to the first blocking means, and the reset pulse gate circuit 12c corresponds to the second blocking means. The set pulse gate circuit 12a and the reset pulse gate circuit 12c correspond to the excitation blocking means.

また、Nチャンネル電界効果型トランジスタ134、抵抗R29、コンデンサC23及びD型フリップフロップ136が充放電制御手段に対応している。
さらに、スイッチング素子SW1、SW2、SW11〜SW23がスイッチング素子に対応し、制御回路1111及び制御回路1112が制御回路に対応し、保護機能付きゲートドライバIC1115U、1115Dが駆動回路に対応し、信号伝送回路1117が信号伝送部に対応している。
An N-channel field effect transistor 134, a resistor R29, a capacitor C23, and a D-type flip-flop 136 correspond to charge / discharge control means.
Further, the switching elements SW1, SW2, SW11 to SW23 correspond to the switching elements, the control circuit 1111 and the control circuit 1112 correspond to the control circuit, the gate drivers ICs 1115U and 1115D with protection functions correspond to the drive circuits, and the signal transmission circuit Reference numeral 1117 corresponds to the signal transmission unit.

11 セット・リセット信号生成回路
11a セットパルス生成回路
11b リセットパルス生成回路
12 ゲート回路
12a セットパルスゲート回路
12c リセットパルスゲート回路
13 セット側ゲート信号生成回路
13a 単パルス生成回路
13b 遅延単パルス生成回路
13c D型フリップフロップ
13d 積分回路
13e D型フリップフロップ
14 リセット側ゲート信号生成回路
14a 単パルス生成回路
14b D型フリップフロップ
15 電源リセット回路
1102 昇降圧コンバータ
1103 インバータ
1105、1106 IGBT
1111、1112 制御回路
1111a CPU
1115U、1115D 保護機能付きゲートドライバIC
1117 信号伝送部
S101 入力信号
S102 セット信号
S103 リセット信号
S104 セットパルスゲート回路12aの出力信号
S105 ゲート化セット信号
S106 リセットパルスゲート回路12cの出力信号
S107 ゲート化リセット信号
S108 単パルス
S109 遅延単パルス
S110 積分出力
S111 セットパルスゲート信号
S112 単パルス
S113 リセットパルスゲート信号
S120、S121 電源リセット信号
SW1、SW2、SW11〜SW23 スイッチング素子
TL1 セット用絶縁トランス
TL2 リセット用絶縁トランス
Tr1、Tr2 Nチャンネル電界効果型トランジスタ
TU 信号伝送回路
11 set / reset signal generation circuit 11a set pulse generation circuit 11b reset pulse generation circuit 12 gate circuit 12a set pulse gate circuit 12c reset pulse gate circuit 13 set side gate signal generation circuit 13a single pulse generation circuit 13b delay single pulse generation circuit 13c D Type flip-flop 13d integration circuit 13e D-type flip-flop 14 reset-side gate signal generation circuit 14a single pulse generation circuit 14b D-type flip-flop 15 power supply reset circuit 1102 buck-boost converter 1103 inverter 1105, 1106 IGBT
1111, 1112 Control circuit 1111a CPU
1115U, 1115D Gate driver IC with protection function
1117 Signal Transmission Unit S101 Input Signal S102 Set Signal S103 Reset Signal S104 Set Pulse Gate Circuit 12a Output Signal S105 Gated Set Signal S106 Reset Pulse Gate Circuit 12c Output Signal S107 Gated Reset Signal S108 Single Pulse S109 Delayed Single Pulse S110 Integration Output S111 Set pulse gate signal S112 Single pulse S113 Reset pulse gate signal S120, S121 Power reset signal SW1, SW2, SW11 to SW23 Switching element TL1 Set insulation transformer TL2 Reset insulation transformer Tr1, Tr2 N-channel field effect transistor TU signal Transmission circuit

Claims (8)

トランス手段と、
入力信号の立ち上がり及び立ち下がりエッジに同期したパルス信号を生成するパルス信号生成手段と、を有し、
前記パルス信号生成手段で生成した前記パルス信号を前記トランス手段の1次巻線側に入力し、
前記トランス手段の2次巻線側に生成されたパルス信号に基づき前記入力信号を復元するようにした信号伝送回路において、
第1の入力信号とその次に入力される第2の入力信号とのパルス間隔が、予め設定した規定時間よりも短いとき、前記第2の入力信号の前記立ち上がり及び立ち下がりエッジに同期したパルス信号の前記トランス手段の一次巻線への入力を禁止する励磁阻止手段、を備え、
前記トランス手段は、前記立ち上がりエッジに同期した立ち上がりパルス信号を伝送するセット用トランスと、前記立ち下がりエッジに同期した立ち下がりパルス信号を伝送するリセット用トランスと、を有し、
前記励磁阻止手段は、前記立ち上がりパルス信号が生成された時点から前記規定時間が経過するまでの間に生成される他の立ち上がりパルス信号を無効とする第1の阻止手段と、
前記立ち下がりパルス信号が生成された時点からこれ以後前記立ち上がりパルス信号が生成されるまでの間に生成される他の立ち下がりパルス信号を無効とする第2の阻止手段と、を備えることを特徴とする信号伝送回路。
Transformer means;
Pulse signal generating means for generating a pulse signal synchronized with the rising and falling edges of the input signal,
The pulse signal generated by the pulse signal generating means is input to the primary winding side of the transformer means,
In the signal transmission circuit adapted to restore the input signal based on the pulse signal generated on the secondary winding side of the transformer means,
A pulse synchronized with the rising and falling edges of the second input signal when the pulse interval between the first input signal and the second input signal input next is shorter than a preset specified time. excitation inhibiting means for inhibiting an input to the primary winding of the transformer means of the signal, Bei give a,
The transformer means includes a set transformer that transmits a rising pulse signal synchronized with the rising edge, and a reset transformer that transmits a falling pulse signal synchronized with the falling edge,
The excitation blocking means is a first blocking means for invalidating other rising pulse signals generated during a period from the time when the rising pulse signal is generated until the specified time has elapsed;
That obtain Bei and a second blocking means for disabling the other falling pulse signals generated until Hereafter the rising pulse signal from the time when the falling pulse signal is generated is generated A characteristic signal transmission circuit.
前記パルス間隔は、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号との間の、立ち上がりエッジ間隔又は立ち下がりエッジ間隔であることを特徴とする請求項1記載の信号伝送回路。   The signal transmission circuit according to claim 1, wherein the pulse interval is a rising edge interval or a falling edge interval between the first input signal and the second input signal. 前記励磁阻止手段は、
コンデンサと、前記コンデンサへの充電及び放電を行なう充放電制御手段と、を備え、
前記コンデンサの両端電圧を利用して前記規定時間を計測することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の信号伝送回路。
The excitation blocking means is
A capacitor, and charge / discharge control means for charging and discharging the capacitor,
Signal transmission circuit according to claim 1 or claim 2, characterized in that measuring the prescribed time using the voltage across the capacitor.
前記充放電制御手段は、定電流を前記コンデンサに流入させることを特徴とする請求項記載の信号伝送回路。 4. The signal transmission circuit according to claim 3 , wherein the charge / discharge control means causes a constant current to flow into the capacitor. 前記充放電制御手段は、高抵抗を介して前記コンデンサに定電圧を印加することにより前記コンデンサに電流を流入させることを特徴とする請求項記載の信号伝送回路。 4. The signal transmission circuit according to claim 3, wherein the charge / discharge control means applies a constant voltage to the capacitor through a high resistance to cause a current to flow into the capacitor. クロック信号を生成するクロック信号生成回路を有し、
前記励磁阻止手段は、前記クロック信号を計数するクロック信号計数手段を有し、
前記クロック信号計数手段の計数値を利用して前記規定時間を計測することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の信号伝送回路。
A clock signal generation circuit for generating a clock signal;
The excitation preventing means has clock signal counting means for counting the clock signal,
Signal transmission circuit according to claim 1 or claim 2, characterized in that measuring the prescribed time using the count value of the clock signal counting means.
負荷へ流入する電流を通電及び遮断するスイッチング素子と、
前記スイッチング素子の導通及び非導通を指示する制御信号を生成する制御回路と、
前記制御信号に基づいて前記スイッチング素子の制御端子を駆動する駆動回路と、
前記制御回路で生成した前記制御信号を前記駆動回路に伝送する信号伝送部と、を備え、
前記請求項1から請求項の何れかに記載の信号伝送回路を、前記信号伝送部として利用したことを特徴とする電力変換装置。
A switching element for energizing and interrupting the current flowing into the load;
A control circuit for generating a control signal instructing conduction and non-conduction of the switching element;
A drive circuit for driving a control terminal of the switching element based on the control signal;
A signal transmission unit that transmits the control signal generated by the control circuit to the drive circuit;
A power conversion device using the signal transmission circuit according to any one of claims 1 to 6 as the signal transmission unit.
車両を駆動する電動機をPWM制御するようにした車両駆動システムに適用され、前記電動機を前記負荷とし、前記PWM制御用のPWM信号を前記入力信号として、前記駆動回路を駆動する電力変換装置であって、
前記規定時間が87μs以下であることを特徴とする請求項記載の電力変換装置。
The present invention is applied to a vehicle drive system in which an electric motor that drives a vehicle is PWM-controlled, and is a power conversion device that drives the drive circuit using the electric motor as the load and the PWM signal for PWM control as the input signal. And
The power conversion device according to claim 7, wherein the specified time is 87 μs or less.
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