JP5336497B2 - リソグラフィスペクトルフィルタ、及びリソグラフィ装置 - Google Patents
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Description
ここで、λは用いられる放射の波長であり、NAPSはパターンをプリントするために用いられる投影システムの開口数であり、k1は、レイリー定数とも呼ばれる、プロセス依存型調節係数であり、CDはプリントされたフィーチャのフィーチャサイズ(またはクリティカルディメンション)である。式(1)から、フィーチャの最小プリント可能サイズの縮小は、3つの方法、すなわち、露光波長λを短くすること、開口数NAPSを大きくすること、またはk1の値を小さくすることによって得ることができることが分かる。
第1方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む第1フィルタ要素と、
第1および第2波長の放射の光路に沿って第1フィルタ要素に続く位置に配置された第2フィルタ要素であって、第1方向に対して横断する第2方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む、第2フィルタ要素と、
を含み、
スペクトルフィルタは、第1波長の放射は反射し、第2波長の放射は透過可能とするように構成され、第1波長は第2波長より大きい、リソグラフィスペクトルフィルタが提供される。
放射ビームを調整するように構成された照明システムと、
放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付き放射ビームを形成するパターニングデバイスを支持するように構成されたサポートと、
基板を保持するように構成された基板テーブルと、
パターン付き放射ビームを基板のターゲット部分上に投影するように構成された投影システムと、
リソグラフィスペクトルフィルタであって、
第1方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む第1フィルタ要素と、
第1および第2波長の放射の光路に沿って第1フィルタ要素に続く位置に配置された第2フィルタ要素であって、第1方向に対して横断する第2方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む、第2フィルタ要素と、
を含み、
スペクトルフィルタは、第1波長の放射は反射し、第2波長の放射は透過可能とするように構成され、第1波長は第2波長より大きい、リソグラフィスペクトルフィルタと、
を含む、リソグラフィ装置が提供される。
パターン付き放射ビームを基板のターゲット部分上に投影することと、
第1波長の放射を反射し、第2波長の放射はスペクトルフィルタアセンブリを透過可能とすることによって放射ビームのスペクトル純度を高めることと、
を含み、第1波長は第2波長より大きく、第1ステップでは、第1偏光を有する第1波長の放射が反射され、第2ステップでは、第1偏光に対して横断する第2偏光を有する第1波長の放射が反射される、方法が提供される。
パターン付き放射ビームを基板上に投影することと、
第1波長の放射を反射し、第2波長の放射はスペクトルフィルタアセンブリを透過可能とすることによって放射ビームのスペクトル純度を高めることと、
を含み、第1波長は第2波長より大きく、第1ステップでは、第1偏光を有する第1波長の放射が反射され、第2ステップでは、第1偏光に対して横断する第2偏光を有する第1波長の放射が反射される、デバイスが提供される。
Wmin=波長/(2*nmedium) (2)
このとき、λは真空内の波長であり、nmediumはスリットの前の媒体の屈折率である。
‐放射ビームB(例えばUV放射またはEUV放射)を調整するように構成された照明システム(イルミネータ)ILと、
‐パターニングデバイス(例えばマスク)MAを支持するように構成され、かつ特定のパラメータに従ってパターニングデバイスを正確に位置決めするように構成された第1ポジショナPMに連結されたサポート構造(例えばマスクテーブル)MTと、
‐基板(例えばレジストコートウェーハ)Wを保持するように構成され、かつ特定のパラメータに従って基板を正確に位置決めするように構成された第2ポジショナPWに連結された基板テーブル(例えばウェーハテーブル)WTと、
‐パターニングデバイスMAによって放射ビームBに付けられたパターンを基板Wのターゲット部分C(例えば1つ以上のダイを含む)上に投影するように構成された投影システム(例えば屈折投影レンズシステム)PSとを含む。
Claims (13)
- リソグラフィスペクトルフィルタであって、
第1方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む第1フィルタ要素と、
第1および第2波長の放射の光路に沿って前記第1フィルタ要素に続く位置に配置された第2フィルタ要素であって、前記第1方向に対して横断する第2方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む、第2フィルタ要素と、
を含み、
前記スペクトルフィルタは、第1波長の放射は反射し、第2波長の放射は透過可能とし、前記第1波長は前記第2波長より大きく、
第1および第2フィルタ要素の前記スリットは、前記第1放射波長により決められる回折限界より小さい最小面内アパーチャ寸法を有する、
リソグラフィスペクトルフィルタ。 - 前記第1フィルタ要素は、複数のスリットを含む、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第1フィルタ要素の前記スリットによって形成される面積と、前記第1フィルタ要素の総表面積とで形成されるアスペクト比は、約30%より大きい、請求項2に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第2フィルタ要素は、複数のスリットを含む、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第2フィルタ要素の前記スリットによって形成される面積と、前記第2フィルタ要素の総表面積とで形成されるアスペクト比は、約30%より大きい、請求項4に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第1および/または前記第2フィルタ要素の前記スリットは、0.5〜5μmの範囲から選択される幅を有する、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記スペクトルフィルタは、DUV放射、UV放射、可視光放射、およびIR放射の任意の組み合わせをフィルタリングする、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第1および/または前記第2フィルタ要素は、EUV放射導波管を更に含む、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第1および/または前記第2フィルタ要素は、パターン付き層とパターン無し層との組み合わせを含み、前記パターン付き層は前記スリットを含む、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 少なくとも1つのかすめ入射ミラーと組み合わされる、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記スペクトルフィルタは、約4〜20nmの範囲から選択される波長を有するEUV放射を透過する、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 前記第1および前記第2フィルタ要素は、前記光路に沿って続いて生じる位置で横断するように配置される、請求項1に記載のリソグラフィスペクトルフィルタ。
- 放射ビームを調整する照明システムと、
前記放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付き放射ビームを形成するパターニングデバイスを支持するサポートと、
基板を保持する基板テーブルと、
前記パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分上に投影する投影システムと、
リソグラフィスペクトルフィルタであって、
第1方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む第1フィルタ要素と、
第1および第2波長の放射の光路に沿って前記第1フィルタ要素に続く位置に配置された第2フィルタ要素であって、前記第1方向に対して横断する第2方向に配置された面内長さ寸法を有するスリットを含む、第2フィルタ要素と、
を含み、
前記スペクトルフィルタは、第1波長の放射は反射し、第2波長の放射は透過可能とし、前記第1波長は前記第2波長より大きく、
第1および第2フィルタ要素の前記スリットは、前記第1放射波長により決められる回折限界より小さい最小面内アパーチャ寸法を有する、リソグラフィスペクトルフィルタと、
を含む、リソグラフィ装置。
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