JP5326931B2 - Thin film balun - Google Patents

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Description

本発明は、不平衡−平衡の信号変換を行なうバラン(バラントランス)に関し、特に、小型薄型化に有利な薄膜プロセスにより形成された薄膜バランに関する。   The present invention relates to a balun (balun transformer) that performs unbalanced-balanced signal conversion, and more particularly to a thin film balun formed by a thin film process that is advantageous for miniaturization and thinning.

無線通信機器は、アンテナ、フィルタ、RFスイッチ、パワーアンプ、RF−IC、バラン等の各種高周波素子によって構成される。これらのなかで、アンテナやフィルタ等の共振素子は、接地電位を基準とした不平衡型の信号を取り扱う(信号伝送を行う)が、高周波信号の生成や処理を行なうRF−ICは、平衡型の信号を取り扱う(信号伝送を行う)ため、両者を電磁気的に接続する場合には、不平衡−平衡変換器として機能するバランが使用される。   The wireless communication device includes various high frequency elements such as an antenna, a filter, an RF switch, a power amplifier, an RF-IC, and a balun. Among these, resonant elements such as antennas and filters handle unbalanced signals based on the ground potential (perform signal transmission), but RF-ICs that generate and process high-frequency signals are balanced types. Therefore, when the two are electromagnetically connected, a balun that functions as an unbalanced-balanced converter is used.

近時、携帯電話や携帯端末等の移動体通信機や無線LAN機器等に用いられるバランとして、更なる小型薄型化が切望されている。このようなバランの1つとして、不平衡回路及び平衡回路のうち少なくとも一方にキャパシタを接続した構成を有するもの(特許文献1)が提案されている。   Recently, as a balun used in mobile communication devices such as mobile phones and mobile terminals, wireless LAN devices, and the like, further downsizing and thinning are desired. As one of such baluns, one having a configuration in which a capacitor is connected to at least one of an unbalanced circuit and a balanced circuit (Patent Document 1) has been proposed.

特開2001−168607号公報JP 2001-168607 A

ところで、無線通信等で使用されるバランの周波数の通過特性(所定周波数の減衰特性)は、それが搭載される通信機器やシステムの構成、規格、仕様等から要求仕様が定められており、バランの特性として特に重要である。具体的には、例えば、通過特性として共振周波数frのピーク値が2400〜2500MHz(2.4GHz帯域)といった数値が指定され、かかる周波数帯域での減衰量を十分に低く抑えるような仕様設計がなされる。しかしながら、上記特許文献1に記載されたチップ型バランのような構成では、かかる要求仕様を満足することが未だ困難な状況にある。   By the way, the pass characteristics (attenuation characteristics of a predetermined frequency) of the frequency of a balun used in wireless communication or the like are required specifications based on the configuration, standards, specifications, etc. of the communication equipment and system in which the balun is mounted. It is particularly important as a property. Specifically, for example, a numerical value such that the peak value of the resonance frequency fr is 2400 to 2500 MHz (2.4 GHz band) is specified as the pass characteristic, and the specification design is performed so that the attenuation in the frequency band is sufficiently low. The However, with the configuration like the chip type balun described in Patent Document 1, it is still difficult to satisfy the required specifications.

そこで、本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、要求されるバランの諸特性を維持しつつ、小型薄型化することができる薄膜バランを提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a thin film balun that can be reduced in size and thickness while maintaining the required characteristics of the balun.

上記課題を解決するため、本発明の薄膜バランは、不平衡伝送線路と、不平衡伝送線路に対向し且つ電磁結合する平衡伝送線路と、平衡伝送線路の一部と対向してキャパシタを構成し、且つ、接地端子に接続されたキャパシタ電極とを備える。   In order to solve the above-described problems, the thin film balun of the present invention comprises an unbalanced transmission line, a balanced transmission line facing the unbalanced transmission line and electromagnetically coupled, and a capacitor facing a part of the balanced transmission line. And a capacitor electrode connected to the ground terminal.

このような構成では、平衡伝送線路の一部と対向するキャパシタ電極により、平衡伝送線路における不平衡伝送線路とのカップリング状態が有意に変化し得る。すなわち、平衡伝送線路の所定の位置にキャパシタ(キャパシタンス)を導入することにより、平衡伝送線路における不平衡伝送線路とのカップリングに寄与する部位自体が変化し得る。さらに、このようにキャパシタを導入することにより、伝送線路全体の特性インピーダンスが変化し得る。そして、かかるカップリングに寄与する部位の変化及び特性インピーダンスの変化に起因して、薄膜バランの通過特性が好適に改善されるものと推定される。ただし、作用はこれに限定されない。   In such a configuration, the coupling state of the balanced transmission line with the unbalanced transmission line can be significantly changed by the capacitor electrode facing a part of the balanced transmission line. That is, by introducing a capacitor (capacitance) at a predetermined position of the balanced transmission line, the part itself that contributes to coupling with the unbalanced transmission line in the balanced transmission line can be changed. Further, by introducing the capacitor in this way, the characteristic impedance of the entire transmission line can be changed. And it is estimated that the passage characteristic of a thin film balun is suitably improved due to the change of the site | part which contributes to this coupling, and the change of characteristic impedance. However, the action is not limited to this.

なお、上記の本願発明の構成には、平衡伝送線路の一部とそれに対向するキャパシタ電極との間に、平衡伝送線路に接続する他方のキャパシタ電極が配置される場合も含まれるが、好ましくは、平衡伝送線路の一部が他方のキャパシタ電極を兼ねる方が有用である。これにより、他方のキャパシタ電極の配置のための新たな層を必要としないので、製造プロセスの工数を削減することにも繋がり、生産性の向上及び工程管理の簡素化が可能となる。   The above-described configuration of the present invention includes a case in which the other capacitor electrode connected to the balanced transmission line is disposed between a part of the balanced transmission line and the capacitor electrode facing the part. It is useful that a part of the balanced transmission line also serves as the other capacitor electrode. This eliminates the need for a new layer for disposing the other capacitor electrode, leading to a reduction in the number of man-hours in the manufacturing process, thereby improving productivity and simplifying process management.

また、上記課題を解決するため、本発明の薄膜バランは、第1の線路部及び第2の線路部を有する不平衡伝送線路と、第1の線路部及び第2の線路部のそれぞれに対向し且つ電磁結合する第3の線路部及び第4の線路部を有する平衡伝送線路と、第3の線路部又は第4の線路部のうち少なくとも一方の一部と対向してキャパシタを構成し、且つ、接地端子に接続されたキャパシタ電極とを備える。このようにしても、上述したのと同様の作用が奏される。   Moreover, in order to solve the said subject, the thin film balun of this invention is opposite to each of the unbalanced transmission line which has a 1st line part and a 2nd line part, and a 1st line part and a 2nd line part. And a balanced transmission line having a third line part and a fourth line part that are electromagnetically coupled, and a capacitor that is opposed to at least one part of the third line part or the fourth line part, And a capacitor electrode connected to the ground terminal. Even if it does in this way, the effect | action similar to having mentioned above is show | played.

好ましくは、第3の線路部及び第4の線路部を電気的に接続する連結部及びキャパシタ電極が第1層に形成され、平衡伝送線路の第3の線路部及び第4の線路部が第2層に形成され、不平衡伝送線路の第1の線路部及び第2の線路部が第3層に形成されている。連結部と同じ層にキャパシタ電極を形成することにより、他方のキャパシタ電極の配置のための新たな層を全く必要としないので、小型薄型化に優れた薄膜バランを提供できる。また、製造プロセスの工数を削減することにも繋がり、生産性の向上及び工程管理の簡素化が可能となる。   Preferably, a connection part and a capacitor electrode for electrically connecting the third line part and the fourth line part are formed in the first layer, and the third line part and the fourth line part of the balanced transmission line are the first line part. The first line portion and the second line portion of the unbalanced transmission line are formed on the third layer. By forming the capacitor electrode in the same layer as the connecting portion, a new layer for disposing the other capacitor electrode is not required at all, so that a thin film balun excellent in miniaturization and thinning can be provided. Moreover, it leads to reduction of the man-hour of a manufacturing process, and it becomes possible to improve productivity and simplify process management.

さらに、上記課題を解決するため、本発明の薄膜バランは、不平衡回路と、前記不平衡回路に電磁結合する平衡回路と、接地端子と、を備え、前記平衡回路の一部にキャパシタが接続され、前記キャパシタは前記接地端子にも接続されているものである。   Furthermore, in order to solve the above problems, the thin film balun of the present invention includes an unbalanced circuit, a balanced circuit electromagnetically coupled to the unbalanced circuit, and a ground terminal, and a capacitor is connected to a part of the balanced circuit. The capacitor is also connected to the ground terminal.

このような構成では、平衡回路の一部にキャパシタを接続することにより、平衡回路における不平衡回路とのカップリング状態が有意に変化し得る。すなわち、平衡回路の所定の位置にキャパシタ(キャパシタンス)を導入することにより、平衡回路における不平衡回路とのカップリングに寄与する部位自体が変化し得る。さらに、このようにキャパシタを導入することにより、回路全体の特性インピーダンスが変化し得る。そして、かかるカップリングに寄与する部位の変化及び特性インピーダンスの変化に起因して、薄膜バランの通過特性が好適に改善されるものと推定される。ただし、作用はこれに限定されない。   In such a configuration, the coupling state with the unbalanced circuit in the balanced circuit can be significantly changed by connecting a capacitor to a part of the balanced circuit. That is, by introducing a capacitor (capacitance) at a predetermined position of the balanced circuit, the part itself contributing to the coupling with the unbalanced circuit in the balanced circuit can be changed. Furthermore, by introducing a capacitor in this way, the characteristic impedance of the entire circuit can change. And it is estimated that the passage characteristic of a thin film balun is suitably improved due to the change of the site | part which contributes to this coupling, and the change of characteristic impedance. However, the action is not limited to this.

本発明によれば、平衡伝送線路の一部と接地端子との間にキャパシタを導入することによって、小型薄型化した薄膜バランについても優れた通過特性を達成することが可能となる。   According to the present invention, by introducing a capacitor between a part of a balanced transmission line and a ground terminal, it is possible to achieve excellent pass characteristics even for a thin and thin thin film balun.

本発明の薄膜バランの第1実施形態の構成を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram which shows the structure of 1st Embodiment of the thin film balun of this invention. 薄膜バランの第1実施形態の構成を示す垂直断面図である。It is a vertical sectional view showing the configuration of the first embodiment of the thin film balun. 薄膜バラン1Aの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1A. 薄膜バラン1Aの配線層M1における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M1 of thin film balun 1A. 薄膜バラン1Aの配線層M2における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M2 of thin film balun 1A. 薄膜バラン1Bの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1B. 薄膜バラン1R(比較例)の構成を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram which shows the structure of thin film balun 1R (comparative example). 薄膜バラン1Rの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1R. 薄膜バラン1Rの配線層M1における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M1 of thin film balun 1R. 通過特性の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of a passage characteristic. 位相差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of phase difference. 振幅差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of an amplitude difference. 薄膜バラン1Cの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1C. 通過特性の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of a passage characteristic. 位相差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of phase difference. 振幅差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of an amplitude difference. 薄膜バラン1Dの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1D. 薄膜バラン1Eの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 1E. 通過特性の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of a passage characteristic. 位相差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of phase difference. 振幅差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of an amplitude difference. 本発明の薄膜バランの第2実施形態の構成を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit schematic which shows the structure of 2nd Embodiment of the thin film balun of this invention. 薄膜バラン2Aの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 2A. 薄膜バラン2Bの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 2B. 薄膜バラン2R(比較例)の構成を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram which shows the structure of thin film balun 2R (comparative example). 薄膜バラン2Rの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 2R. 薄膜バラン2Rの配線層M1における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M1 of thin film balun 2R. 通過特性の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of a passage characteristic. 位相差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of phase difference. 振幅差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of an amplitude difference. 本発明の薄膜バランの第3実施形態の構成を示す等価回路図である。It is an equivalent circuit schematic which shows the structure of 3rd Embodiment of the thin film balun of this invention. 薄膜バラン3Aの配線層M0における水平断面図である。It is a horizontal sectional view in wiring layer M0 of thin film balun 3A. 通過特性の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of a passage characteristic. 位相差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of phase difference. 振幅差の評価結果を示すグラフである。It is a graph which shows the evaluation result of an amplitude difference.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、図面中、同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、上下左右などの位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。さらに、図面の寸法比率は、図示の比率に限定されるものではない。また、以下の実施の形態は、本発明を説明するための例示であり、本発明をその実施の形態のみに限定する趣旨ではない。さらに、本発明は、その要旨を逸脱しない限り、さまざまな変形が可能である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, positional relationships such as up, down, left and right are based on the positional relationships shown in the drawings unless otherwise specified. Furthermore, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the illustrated ratios. Further, the following embodiments are exemplifications for explaining the present invention, and are not intended to limit the present invention only to the embodiments. Furthermore, the present invention can be variously modified without departing from the gist thereof.

(第1実施形態)
図1は、本発明の薄膜バランに係る第1実施形態の構成を示す等価回路図である。薄膜バラン1は、線路部L1(第1の線路部)及び線路部L2(第2の線路部)が直列に接続された不平衡伝送線路(不平衡回路)ULと、線路部L3(第3の線路部)及び線路部L4(第4の線路部)が直列に接続された平衡伝送線路(平衡回路)BLとを備えており、線路部L1及び線路部L3、並びに、線路部L2及び線路部L4によって、それぞれ電磁結合が形成されている。
(First embodiment)
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing the configuration of the first embodiment according to the thin film balun of the present invention. The thin film balun 1 includes an unbalanced transmission line (unbalanced circuit) UL in which a line portion L1 (first line portion) and a line portion L2 (second line portion) are connected in series, and a line portion L3 (third Line portion) and a line portion L4 (fourth line portion) and a balanced transmission line (balanced circuit) BL connected in series. The line portion L1, the line portion L3, and the line portion L2, the line portion. The portions L4 form electromagnetic couplings.

この薄膜バラン1においては、線路部L1における線路部L2との結合端の他端が不平衡端子UTに接続されている。また、線路部L2における線路部L1との結合端の他端は開放端となっている。また、線路部L3及び線路部L4におけるそれぞれの結合端との他端は、平衡端子BT1及び平衡端子BT2に接続されている。さらに、線路部L3及び線路部L4の結合端が、接地端子Gに接続されている。さらに、本実施形態では、接地端子Gは、平衡伝送線路BLを構成する線路部L4の一部にキャパシタD1を介して電気的に接続されている。   In the thin film balun 1, the other end of the coupling end of the line portion L1 with the line portion L2 is connected to the unbalanced terminal UT. Further, the other end of the coupling end with the line portion L1 in the line portion L2 is an open end. Further, the other ends of the coupling portions in the line portion L3 and the line portion L4 are connected to the balanced terminal BT1 and the balanced terminal BT2. Furthermore, the coupling end of the line portion L3 and the line portion L4 is connected to the ground terminal G. Furthermore, in the present embodiment, the ground terminal G is electrically connected to a part of the line portion L4 constituting the balanced transmission line BL via the capacitor D1.

上述した線路部L1〜L4の長さは、薄膜バラン1の仕様に応じて異なり、例えば、変換対象となる伝送信号の1/4波長(λ/4)共振器回路となるよう設定することができる。また、線路部L1〜L4の形状は、上述した電磁結合が形成されれば、任意の形状とすることができ、例えば、渦巻状(コイル状)、蛇行状、直線状、曲線状等の形態が挙げられる。   The lengths of the line portions L1 to L4 described above vary depending on the specifications of the thin film balun 1, and may be set to be a 1/4 wavelength (λ / 4) resonator circuit of a transmission signal to be converted, for example. it can. In addition, the shape of the line portions L1 to L4 can be any shape as long as the above-described electromagnetic coupling is formed, for example, a spiral shape (coil shape), a meandering shape, a linear shape, a curved shape, or the like. Is mentioned.

以下に、同図を参照して薄膜バラン1の基本的な動作について説明する。不平衡端子UTに不平衡信号が入力されると、不平衡信号は線路部L1及び線路部L2を伝播する。そして、線路部L1と線路部L3とが電磁結合(第1の電磁結合)し、線路部L2と線路部L4とが電磁結合(第2の電磁結合)することにより、入力された不平衡信号は当該不平衡信号と同じ周波数で位相が180°(π)異なる2つの平衡信号に変換され、これら2つ平衡信号が平衡端子BT1,BT2からそれぞれ出力される。逆に、互いに同じ大きさで180°の位相差を有する所定周波数の2つの平衡信号が平衡端子BT1,BT2に入力されると、不平衡端子UTから平衡信号と同一周波数の不平衡信号が出力される。   The basic operation of the thin film balun 1 will be described below with reference to FIG. When an unbalanced signal is input to the unbalanced terminal UT, the unbalanced signal propagates through the line portion L1 and the line portion L2. Then, the line portion L1 and the line portion L3 are electromagnetically coupled (first electromagnetic coupling), and the line portion L2 and the line portion L4 are electromagnetically coupled (second electromagnetic coupling), whereby the input unbalanced signal is input. Is converted into two balanced signals having the same frequency as that of the unbalanced signal and a phase different by 180 ° (π), and these two balanced signals are output from the balanced terminals BT1 and BT2, respectively. Conversely, when two balanced signals having the same magnitude and a phase difference of 180 ° and having a predetermined frequency are input to the balanced terminals BT1 and BT2, an unbalanced signal having the same frequency as the balanced signal is output from the unbalanced terminal UT. Is done.

次に、上記の薄膜バランの一実施形態における配線構造について説明する。図2は、薄膜バラン1の配線構造を概略的に示す垂直断面図である。図2に示すように、例えばアルミナ等の絶縁性基板100側から順に配線層M0,M1,M2が形成されている。例えば、平衡伝送線路BL及び不平衡伝送線路UL内における線路部同士を接続する接続配線(連結部)並びにキャパシタ電極DE1は配線層M0により形成され、平衡伝送線路BLは配線層M1により形成され、不平衡伝送線路ULは配線層M2により形成されている。同一の配線層における配線間、及び異なる配線層間には誘電体層101〜105が形成されている。キャパシタD1が形成される配線層M0と配線層M1との間の誘電体層102、及び不平衡伝送線路ULと平衡伝送線路BLとの電磁結合が形成される配線層M1と配線層M2の間の誘電体層104には、例えば窒化シリコンが用いられる。配線層M0及び配線層M1を被覆する誘電体層101,103として、例えばアルミナが用いられる。さらに、配線層M2を被覆する誘電体層105として、例えばポリイミドが用いられる。これら各層の材料は上述のものに限定されず、窒化シリコン、アルミナ、シリカ、等の無機系絶縁体のみならず、ポリイミド、エポキシ樹脂等の有機系絶縁体でもよく適宜選択できる。不平衡端子UT、平衡端子BT1,BT2、接地端子Gは、全ての誘電体層を貫通するように形成されている。このように、薄膜バラン1は、絶縁性基板100上に形成された薄膜多層構造から構成されている。   Next, the wiring structure in one embodiment of the thin film balun will be described. FIG. 2 is a vertical sectional view schematically showing the wiring structure of the thin film balun 1. As shown in FIG. 2, wiring layers M0, M1, and M2 are formed in order from the insulating substrate 100 side such as alumina. For example, the connection wiring (connecting portion) for connecting the line portions in the balanced transmission line BL and the unbalanced transmission line UL and the capacitor electrode DE1 are formed by the wiring layer M0, and the balanced transmission line BL is formed by the wiring layer M1. The unbalanced transmission line UL is formed by the wiring layer M2. Dielectric layers 101 to 105 are formed between the wirings in the same wiring layer and between different wiring layers. The dielectric layer 102 between the wiring layer M0 and the wiring layer M1 where the capacitor D1 is formed, and between the wiring layer M1 and the wiring layer M2 where electromagnetic coupling between the unbalanced transmission line UL and the balanced transmission line BL is formed. For example, silicon nitride is used for the dielectric layer 104. As the dielectric layers 101 and 103 covering the wiring layer M0 and the wiring layer M1, for example, alumina is used. Further, for example, polyimide is used as the dielectric layer 105 covering the wiring layer M2. The materials of these layers are not limited to those described above, and may be selected as appropriate from organic insulators such as polyimide and epoxy resins as well as inorganic insulators such as silicon nitride, alumina, and silica. The unbalanced terminal UT, the balanced terminals BT1 and BT2, and the ground terminal G are formed so as to penetrate all the dielectric layers. Thus, the thin film balun 1 is composed of a thin film multilayer structure formed on the insulating substrate 100.

図2に示すように、本実施形態では、上述したキャパシタD1が、平衡伝送線路BLを含む配線層M1と、配線層M1に誘電体層102を介して対向配置されたキャパシタ電極DE1を含む配線層M0との間に形成されている。   As shown in FIG. 2, in the present embodiment, the capacitor D1 described above includes a wiring layer M1 including the balanced transmission line BL, and a wiring including the capacitor electrode DE1 disposed to face the wiring layer M1 via the dielectric layer 102. It is formed between the layer M0.

(実施例1A)
次に、薄膜バランの一実施例における各配線層M0,M1,M2のパターンについて詳細に説明する。以下の実施例では、線路部L1〜L4としてコイル部を用いたものである。
Example 1A
Next, the patterns of the wiring layers M0, M1, and M2 in one embodiment of the thin film balun will be described in detail. In the following embodiments, coil portions are used as the line portions L1 to L4.

図3〜図5は、薄膜バラン1Aにおける各配線層を概略的に示す水平断面図である。図3〜図5に示す如く、配線層M0〜M2の全ての層に、不平衡端子UT、平衡端子BT1,BT2、及び、接地端子Gが形成されており、各端子UT,BT1,BT2,GはスルーホールPを介して異なる層間において電気的に接続されている。なお、図3〜図5に示す全てのスルーホールPには、上下各層を電気的に導通させるための金属導体がめっきにて形成されている。以下、各配線層の構成について詳細に説明する。   3 to 5 are horizontal sectional views schematically showing each wiring layer in the thin film balun 1A. As shown in FIGS. 3 to 5, unbalanced terminals UT, balanced terminals BT1 and BT2, and ground terminals G are formed in all of the wiring layers M0 to M2, and the terminals UT, BT1, BT2, and so on are formed. G is electrically connected between different layers via through holes P. In addition, in all the through holes P shown in FIGS. 3 to 5, metal conductors for electrically connecting the upper and lower layers are formed by plating. Hereinafter, the configuration of each wiring layer will be described in detail.

図3に示すように、絶縁性基板100上の配線層M0には、平衡伝送線路BLのコイル部C3とコイル部C4を接地端子Gに接続するための配線31、及び、不平衡伝送線路ULのコイル部C1とコイル部C2を接続するための配線32が形成されている。配線31は、2つのスルーホールPと接地端子Gとを接続するように形成された分岐配線である。そして、さらに、キャパシタD1のキャパシタ電極DE1が、配線層M1のコイル部C4の一部と対向する位置に形成されている。キャパシタ電極DE1は、接地端子Gに接続されている。より詳細には、キャパシタD1のキャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4のコイル導体のうち右から2列目及び1列目の半分の部位に対向するように上下方向に延在して配置されている。   As shown in FIG. 3, the wiring layer M0 on the insulating substrate 100 includes the wiring 31 for connecting the coil part C3 and the coil part C4 of the balanced transmission line BL to the ground terminal G, and the unbalanced transmission line UL. A wiring 32 for connecting the coil part C1 and the coil part C2 is formed. The wiring 31 is a branch wiring formed so as to connect the two through holes P and the ground terminal G. Further, the capacitor electrode DE1 of the capacitor D1 is formed at a position facing a part of the coil portion C4 of the wiring layer M1. The capacitor electrode DE1 is connected to the ground terminal G. More specifically, the capacitor electrode DE1 of the capacitor D1 extends in the vertical direction so as to face half of the second row and the first row from the right of the coil conductor of the coil portion C4 in plan view. Has been placed.

また、図4に示すように、配線層M1には、平衡伝送線路BLを構成するコイル部C3(第3の線路部)及びコイル部C4(第4の線路部)が隣接して形成されている。各コイル部C3,C4は、1/4波長(λ/4)共振器に相当するものを構成する。コイル部C3を構成するコイル導体21の外側の端部21aは平衡端子BT1に接続されており、コイル導体21の内側の端部21bはスルーホールPに接続されている。一方、コイル部C4を構成するコイル導体22の外側の端部22aは平衡端子BT2に接続されており、コイル導体22の内側の端部22bはスルーホールPに接続されている。コイル導体21及びコイル導体22は、配線層M0の配線31を介して互いに接続され、且つ、接地端子Gに接続されている。コイル部C4のコイル導体22の一部はキャパシタD1のキャパシタ電極を兼ねており、配線層M0のキャパシタ電極DE1と対向している。なお、コイル導体22及びコイル導体21の幅や巻回数に限定はなく、コイル導体22及びコイル導体21の幅や巻回数を同じにしても、異ならせてもよい。   As shown in FIG. 4, the wiring layer M1 is formed with a coil part C3 (third line part) and a coil part C4 (fourth line part) constituting the balanced transmission line BL adjacent to each other. Yes. Each coil part C3, C4 comprises what is corresponded to a quarter wavelength ((lambda) / 4) resonator. The outer end portion 21a of the coil conductor 21 constituting the coil portion C3 is connected to the balanced terminal BT1, and the inner end portion 21b of the coil conductor 21 is connected to the through hole P. On the other hand, the outer end 22a of the coil conductor 22 constituting the coil portion C4 is connected to the balanced terminal BT2, and the inner end 22b of the coil conductor 22 is connected to the through hole P. The coil conductor 21 and the coil conductor 22 are connected to each other via the wiring 31 of the wiring layer M0 and are connected to the ground terminal G. A part of the coil conductor 22 of the coil portion C4 also serves as a capacitor electrode of the capacitor D1, and faces the capacitor electrode DE1 of the wiring layer M0. The width and the number of turns of the coil conductor 22 and the coil conductor 21 are not limited, and the width and the number of turns of the coil conductor 22 and the coil conductor 21 may be the same or different.

さらにまた、図5に示す如く、配線層M2には、不平衡伝送線路ULを構成するコイル部C1(第1の線路部)及びコイル部C2(第2の線路部)が隣接して形成されている。各コイル部C1,C2は、1/4波長(λ/4)共振器に相当するものを構成する。不平衡伝送線路ULのこれらコイル部C1,C2は、それぞれ、平衡伝送線路BLのコイル部C3,C4に対向配置されており、対向している部分で電磁結合して結合器を構成する。コイル部C1を構成するコイル導体11の外側の端部11aは不平衡端子UTに接続されており、コイル導体11の内側の端部11bはスルーホールPに接続されている。一方、コイル部C2を構成するコイル導体12の内側の端部12bはスルーホールPに接続されており、コイル導体12の外側の端部12a(開放端)は開放されている。コイル導体11及びコイル導体12は、配線層M0の配線32を介して互いに接続されている。なお、コイル導体12及びコイル導体11の幅や巻回数に限定はなく、コイル導体12及びコイル導体11の幅や巻回数を同じにしても、異ならせてもよい。   Furthermore, as shown in FIG. 5, in the wiring layer M2, a coil part C1 (first line part) and a coil part C2 (second line part) constituting the unbalanced transmission line UL are formed adjacent to each other. ing. Each coil part C1, C2 comprises what is corresponded to a 1/4 wavelength ((lambda) / 4) resonator. These coil parts C1 and C2 of the unbalanced transmission line UL are respectively arranged to face the coil parts C3 and C4 of the balanced transmission line BL, and electromagnetically couple at the opposed parts to constitute a coupler. The outer end portion 11a of the coil conductor 11 constituting the coil portion C1 is connected to the unbalanced terminal UT, and the inner end portion 11b of the coil conductor 11 is connected to the through hole P. On the other hand, the inner end portion 12b of the coil conductor 12 constituting the coil portion C2 is connected to the through hole P, and the outer end portion 12a (open end) of the coil conductor 12 is opened. The coil conductor 11 and the coil conductor 12 are connected to each other via the wiring 32 of the wiring layer M0. The width and the number of turns of the coil conductor 12 and the coil conductor 11 are not limited, and the width and the number of turns of the coil conductor 12 and the coil conductor 11 may be the same or different.

このように、本実施例においては、一の階層である配線層M1に平衡伝送線路BLを構成する2つのコイル部C3,C4が形成され、それに隣り合う別の階層である配線層M2に不平衡伝送線路ULを構成する2つのコイル部C1,C2が形成され、さらに、それら配線層M2に隣り合う配線層M1とは逆側の別の階層である配線層M0にコイル部C1,C2を接続する配線32、及び、コイル部C3,C4を接続する配線31とともに、コイル部C4におけるコイル導体22の一部と対向してキャパシタD1を構成するためのキャパシタ電極DE1が形成された多層配線構造により、図1に示す等価回路を構成する薄膜バラン1Aが得られる。   As described above, in the present embodiment, two coil portions C3 and C4 constituting the balanced transmission line BL are formed in the wiring layer M1 which is one layer, and the wiring layer M2 which is another layer adjacent thereto is not formed. Two coil portions C1 and C2 constituting the balanced transmission line UL are formed, and the coil portions C1 and C2 are connected to the wiring layer M0 which is another layer opposite to the wiring layer M1 adjacent to the wiring layer M2. A multilayer wiring structure in which a capacitor electrode DE1 for forming a capacitor D1 is formed so as to face a part of the coil conductor 22 in the coil portion C4 together with the wiring 32 to be connected and the wiring 31 to connect the coil portions C3 and C4. Thus, the thin film balun 1A constituting the equivalent circuit shown in FIG. 1 is obtained.

(実施例1B)
図6は、本発明の実施例1Bの薄膜バラン1Bにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図6に示す薄膜バラン1Bでは、キャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4のコイル導体22のうち右から2列目及び3列目の半分の部位に対向するように上下方向に延在して配置されている。
(Example 1B)
FIG. 6 is a horizontal sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 1B of Example 1B of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 1B shown in FIG. 6, the capacitor electrode DE1 extends in the vertical direction so as to face half of the second and third rows from the right of the coil conductor 22 of the coil portion C4 in plan view. Are arranged.

(比較例1R)
図7は比較例の薄膜バラン1Rの構成を示す等価回路図であり、図8,9は比較例1Rの薄膜バラン1Rにおける配線層M0,M1を概略的に示す水平断面図である。配線層M0,M1以外の構成は、実施例1Aと同様である。
(Comparative Example 1R)
FIG. 7 is an equivalent circuit diagram showing the configuration of the thin film balun 1R of the comparative example, and FIGS. 8 and 9 are horizontal sectional views schematically showing the wiring layers M0 and M1 in the thin film balun 1R of the comparative example 1R. The configuration other than the wiring layers M0 and M1 is the same as that in Example 1A.

図7に示すように、比較例の薄膜バラン1Rでは、接地端子G及び平衡端子BT2の間に、線路部L4と分岐し独立した形でキャパシタD1が接続されている。そして、図8に示すように、配線層M0には接地端子Gに接続するキャパシタ電極DE11が設けられており、このキャパシタ電極DE11は配線層M1のコイル部C4の外側の領域に対向するように配置されている。そして、図9に示すように、配線層M1には、キャパシタ電極DE11に対向するキャパシタ電極DE12が形成されている。キャパシタ電極DE12は、平衡伝送線路BLを構成するコイル部C4とは独立して設けられており、その一端が平衡端子BT2に接続されている。   As shown in FIG. 7, in the thin film balun 1R of the comparative example, a capacitor D1 is connected between the ground terminal G and the balanced terminal BT2 so as to be branched and independent from the line portion L4. As shown in FIG. 8, the wiring layer M0 is provided with a capacitor electrode DE11 connected to the ground terminal G, and the capacitor electrode DE11 is opposed to a region outside the coil portion C4 of the wiring layer M1. Has been placed. As shown in FIG. 9, the wiring layer M1 is provided with a capacitor electrode DE12 facing the capacitor electrode DE11. The capacitor electrode DE12 is provided independently of the coil part C4 constituting the balanced transmission line BL, and one end thereof is connected to the balanced terminal BT2.

(特性評価)
以上説明した薄膜バラン1A,1B,1Rについて、通過特性(挿入損失)及び平衡特性(平衡信号の位相差及び振幅差)をシミュレーションにより求めた。伝送信号の評価対象周波数(共振周波数fr)を2400〜2500MHzとした。図10は、通過特性の評価結果を示す図であり、図11は位相差の評価結果を示す図であり、図12は振幅差の評価結果を示す図である。各図において、曲線E1A,E1B,E1Rが、それぞれ、薄膜バラン1A,1B,1Rの評価結果を示す。
(Characteristic evaluation)
With respect to the thin film baluns 1A, 1B, and 1R described above, the pass characteristics (insertion loss) and the balance characteristics (phase difference and amplitude difference of the balanced signals) were obtained by simulation. The evaluation target frequency (resonance frequency fr) of the transmission signal was set to 2400 to 2500 MHz. FIG. 10 is a diagram showing the evaluation result of the pass characteristic, FIG. 11 is a diagram showing the evaluation result of the phase difference, and FIG. 12 is a diagram showing the evaluation result of the amplitude difference. In each figure, curves E1A, E1B, and E1R indicate the evaluation results of the thin film baluns 1A, 1B, and 1R, respectively.

通過特性は、評価対象周波数領域において信号をどれだけ損失させずに通過させているかを示すものであり、評価対象周波数領域において0dBが理想的な通過特性となる。位相差は、平衡端子BT1と平衡端子BT2から出力される2つの平衡信号の位相差であることから180degがより理想的な位相バランスとなる。振幅差は、平衡端子BT1と平衡端子BT2から出力される2つの平衡信号の振幅差であることから0dBがより理想的な出力バランスとなる。   The pass characteristic indicates how much the signal is allowed to pass without being lost in the evaluation target frequency region, and 0 dB is an ideal pass characteristic in the evaluation target frequency region. Since the phase difference is the phase difference between the two balanced signals output from the balanced terminal BT1 and the balanced terminal BT2, 180 deg is a more ideal phase balance. Since the amplitude difference is an amplitude difference between two balanced signals output from the balanced terminal BT1 and the balanced terminal BT2, 0 dB is a more ideal output balance.

これらの結果より、実施例1A,1Bの薄膜バランは、比較例1Rの薄膜バランに比べて、通過特性及び平衡特性の両面において優れた特性を維持していることが確認された。また、実施例1A,1Bの結果を参照すると、キャパシタD1の配置を調整することにより、優れた通過特性を維持しつつ、平衡特性を調整することができることが確認された。   From these results, it was confirmed that the thin film baluns of Examples 1A and 1B maintained excellent characteristics in both passage characteristics and equilibrium characteristics as compared with the thin film balun of Comparative Example 1R. Further, referring to the results of Examples 1A and 1B, it was confirmed that the balance characteristic can be adjusted while maintaining excellent pass characteristics by adjusting the arrangement of the capacitor D1.

(実施例1C)
図13は、本発明の実施例1Cの薄膜バラン1Cにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図13に示す薄膜バラン1Cでは、キャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4の下から2列目のコイル導体22に対向するように、左右方向に延在して配置されている。
(Example 1C)
FIG. 13 is a horizontal cross-sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 1C of Example 1C of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 1C shown in FIG. 13, the capacitor electrode DE1 is arranged extending in the left-right direction so as to face the coil conductors 22 in the second row from the bottom of the coil part C4 in plan view.

(特性評価)
以上説明した薄膜バラン1Cについて、通過特性(挿入損失)及び平衡特性(平衡信号の位相差及び振幅差)をシミュレーションにより求めた。伝送信号の評価対象周波数(共振周波数fr)を2400〜2500MHzとした。図14は、通過特性の評価結果を示す図であり、図15は位相差の評価結果を示す図であり、図16は振幅差の評価結果を示す図である。各図において、曲線E1C,E1Rは、それぞれ、薄膜バラン1C,1Rの評価結果を示す。
(Characteristic evaluation)
With respect to the thin film balun 1C described above, the pass characteristic (insertion loss) and the balance characteristic (phase difference and amplitude difference of the balanced signal) were obtained by simulation. The evaluation target frequency (resonance frequency fr) of the transmission signal was set to 2400 to 2500 MHz. FIG. 14 is a diagram showing evaluation results of pass characteristics, FIG. 15 is a diagram showing evaluation results of phase differences, and FIG. 16 is a diagram showing evaluation results of amplitude differences. In each figure, curves E1C and E1R show the evaluation results of the thin film baluns 1C and 1R, respectively.

これらの結果より、実施例1Cの薄膜バランは、比較例1Rの薄膜バランに比べて、通過特性及び平衡特性の両面において優れた特性を維持していることが確認された。   From these results, it was confirmed that the thin film balun of Example 1C maintained excellent characteristics in both passage characteristics and equilibrium characteristics as compared with the thin film balun of Comparative Example 1R.

(実施例1D)
図17は、本発明の実施例1Dの薄膜バラン1Dにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図17に示す薄膜バラン1Dでは、キャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4の上から2列目のコイル導体22に対向するように、左右方向に延在して配置されている。
(Example 1D)
FIG. 17 is a horizontal sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 1D of Example 1D of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 1D shown in FIG. 17, the capacitor electrode DE1 is arranged to extend in the left-right direction so as to face the second row of coil conductors 22 from above the coil portion C4 in plan view.

(実施例1E)
図18は、本発明の実施例1Eの薄膜バラン1Eにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図18に示す薄膜バラン1Eでは、キャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4の上から2列目及び右から2列目のコイル導体22に対向するように、左右方向及び上下方向に延在して配置されている。
(Example 1E)
FIG. 18 is a horizontal sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 1E of Example 1E of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 1E shown in FIG. 18, the capacitor electrode DE1 extends in the left-right direction and the up-down direction so as to face the coil conductors 22 in the second row from the top and the second row from the right in the plan view. Is located.

(特性評価)
以上説明した薄膜バラン1D,1Eについて、通過特性(挿入損失)及び平衡特性(平衡信号の位相差及び振幅差)をシミュレーションにより求めた。伝送信号の評価対象周波数(共振周波数fr)を2400〜2500MHzとした。図19は、通過特性の評価結果を示す図であり、図20は位相差の評価結果を示す図であり、図21は振幅差の評価結果を示す図である。各図において、曲線E1D,E1E,E1Rは、それぞれ、薄膜バラン1D,1E,1Rの評価結果を示す。
(Characteristic evaluation)
With respect to the thin film baluns 1D and 1E described above, the passage characteristics (insertion loss) and the balance characteristics (phase difference and amplitude difference of the balanced signal) were obtained by simulation. The evaluation target frequency (resonance frequency fr) of the transmission signal was set to 2400 to 2500 MHz. FIG. 19 is a diagram showing the evaluation result of the pass characteristics, FIG. 20 is a diagram showing the evaluation result of the phase difference, and FIG. 21 is a diagram showing the evaluation result of the amplitude difference. In each figure, curves E1D, E1E, and E1R indicate the evaluation results of the thin film baluns 1D, 1E, and 1R, respectively.

これらの結果より、本発明の実施例1D,1Eの薄膜バランは、いずれも、比較例1Rの薄膜バランに比べて、通過特性及び平衡特性の両面において優れた特性を維持していることが確認された。   From these results, it is confirmed that the thin film baluns of Examples 1D and 1E of the present invention maintain excellent characteristics in both pass characteristics and equilibrium characteristics as compared with the thin film balun of Comparative Example 1R. It was done.

(第2実施形態)
図22は、本発明の薄膜バランに係る第2実施形態の構成を示す等価回路図である。第2実施形態の薄膜バラン2は、平衡伝送線路BLを構成する線路部L3と接地端子Gとの間にキャパシタD2が導入されたものである。
(Second Embodiment)
FIG. 22 is an equivalent circuit diagram showing a configuration of the second embodiment according to the thin film balun of the present invention. In the thin film balun 2 of the second embodiment, a capacitor D2 is introduced between a line portion L3 constituting the balanced transmission line BL and a ground terminal G.

(実施例2A)
次に、図22に示す回路構成を備える薄膜バランの一実施例における配線層M0のパターンについて詳細に説明する。図23は、本発明の実施例2Aの薄膜バラン2Aにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図23に示す薄膜バラン2Aでは、キャパシタ電極DE2は、平面視において、平衡伝送線路BLを構成するコイル部C3の下から2列目のコイル導体21に対向するように、左右方向に延在して配置されている。
(Example 2A)
Next, the pattern of the wiring layer M0 in one embodiment of the thin film balun having the circuit configuration shown in FIG. 22 will be described in detail. FIG. 23 is a horizontal sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 2A of the embodiment 2A of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 2A shown in FIG. 23, the capacitor electrode DE2 extends in the left-right direction so as to face the second row of coil conductors 21 from below the coil portion C3 constituting the balanced transmission line BL in plan view. Are arranged.

(実施例2B)
図24は、本発明の実施例2Bの薄膜バラン2Bにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図24に示す薄膜バラン2Bでは、キャパシタ電極DE2は、平面視において、コイル部C3の上から2列目のコイル導体21に対向するように、左右方向に延在して配置されている。
(Example 2B)
FIG. 24 is a horizontal sectional view schematically showing the wiring layer M0 in the thin film balun 2B of the embodiment 2B of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 2B shown in FIG. 24, the capacitor electrode DE2 is arranged extending in the left-right direction so as to face the second row of coil conductors 21 from above the coil portion C3 in plan view.

(比較例2R)
図25は比較例の薄膜バラン2Rの構成を示す等価回路図であり、図26,27は比較例2Rの薄膜バラン2Rにおける配線層M0,M1を概略的に示す水平断面図である。配線層M0,M1以外の構成は、実施例1Aと同様である。
(Comparative Example 2R)
FIG. 25 is an equivalent circuit diagram showing the configuration of the thin film balun 2R of the comparative example, and FIGS. 26 and 27 are horizontal sectional views schematically showing the wiring layers M0 and M1 in the thin film balun 2R of the comparative example 2R. The configuration other than the wiring layers M0 and M1 is the same as that in Example 1A.

図25に示すように、比較例の薄膜バラン2Rでは、接地端子及び平衡端子BT1の間に、線路部L3と分岐し独立した形でキャパシタD2が接続されている。そして、図26に示すように、配線層M0には接地端子Gに接続するキャパシタ電極DE21が設けられており、このキャパシタ電極DE21は配線層M1のコイル部C3の外側の領域に対向するように配置されている。そして、図27に示すように、配線層M1には、キャパシタ電極DE21に対向するキャパシタ電極DE22が形成されている。キャパシタ電極DE22は、平衡伝送線路BLを構成するコイル部C3とは独立して設けられており、その一端が平衡端子BT1に接続されている。   As shown in FIG. 25, in the thin film balun 2R of the comparative example, a capacitor D2 is branched and independent from the line portion L3 between the ground terminal and the balanced terminal BT1. As shown in FIG. 26, the wiring layer M0 is provided with a capacitor electrode DE21 connected to the ground terminal G. The capacitor electrode DE21 is opposed to a region outside the coil portion C3 of the wiring layer M1. Has been placed. As shown in FIG. 27, a capacitor electrode DE22 facing the capacitor electrode DE21 is formed in the wiring layer M1. The capacitor electrode DE22 is provided independently of the coil part C3 constituting the balanced transmission line BL, and one end thereof is connected to the balanced terminal BT1.

(特性評価)
以上説明した薄膜バラン2A,2B,2Rについて、通過特性(挿入損失)及び平衡特性(平衡信号の位相差及び振幅差)をシミュレーションにより求めた。伝送信号の評価対象周波数(共振周波数fr)を2400〜2500MHzとした。図28は、通過特性の評価結果を示す図であり、図29は位相差の評価結果を示す図であり、図30は振幅差の評価結果を示す図である。各図において、曲線E2A,E2B,E2Rが、それぞれ、薄膜バラン2A,2B,2Rの評価結果を示す。
(Characteristic evaluation)
With respect to the thin film baluns 2A, 2B, and 2R described above, pass characteristics (insertion loss) and balance characteristics (phase difference and amplitude difference of balanced signals) were obtained by simulation. The evaluation target frequency (resonance frequency fr) of the transmission signal was set to 2400 to 2500 MHz. FIG. 28 is a diagram showing evaluation results of pass characteristics, FIG. 29 is a diagram showing evaluation results of phase differences, and FIG. 30 is a diagram showing evaluation results of amplitude differences. In each figure, curves E2A, E2B, and E2R indicate the evaluation results of the thin film baluns 2A, 2B, and 2R, respectively.

これらの結果より、実施例2A,2Bの薄膜バランは、比較例2Rの薄膜バランに比べて、通過特性及び平衡特性の両面において優れた特性を維持していることが確認された。   From these results, it was confirmed that the thin film baluns of Examples 2A and 2B maintained excellent characteristics in both passage characteristics and equilibrium characteristics as compared with the thin film balun of Comparative Example 2R.

(第3実施形態)
図31は、本発明の薄膜バランに係る第3実施形態の構成を示す等価回路図である。第3実施形態の薄膜バラン3は、平衡伝送線路BLを構成する線路部L4と接地端子Gとの間にキャパシタD1が導入されることに加えて、線路部L3と接地端子Gとの間にキャパシタD2が導入されたものである。
(Third embodiment)
FIG. 31 is an equivalent circuit diagram showing a configuration of the third embodiment according to the thin film balun of the present invention. In the thin film balun 3 of the third embodiment, the capacitor D1 is introduced between the line portion L4 and the ground terminal G constituting the balanced transmission line BL, and the thin film balun 3 is interposed between the line portion L3 and the ground terminal G. A capacitor D2 is introduced.

(実施例3A)
次に、図31に示す回路構成を備える薄膜バランの一実施例における配線層M0のパターンについて詳細に説明する。図32は、本発明の実施例3Aの薄膜バラン3Aにおける配線層M0を概略的に示す水平断面図である。配線層M0以外の構成は、実施例1Aと同様である。図32に示す薄膜バラン3Aでは、接地端子Gに接続する2つのキャパシタ電極DE1,DE2が形成されている。一方のキャパシタ電極DE1は、平面視において、コイル部C4の右から2列目のコイル導体22に対向するように、上下方向に延在して配置されている。他方のキャパシタ電極DE2は、平面視において、コイル部C3の下から2列目のコイル導体21に対向するように、左右方向に延在して配置されている。
(Example 3A)
Next, the pattern of the wiring layer M0 in one embodiment of the thin film balun having the circuit configuration shown in FIG. 31 will be described in detail. FIG. 32 is a horizontal sectional view schematically showing a wiring layer M0 in the thin film balun 3A of the embodiment 3A of the present invention. Configurations other than the wiring layer M0 are the same as in Example 1A. In the thin film balun 3A shown in FIG. 32, two capacitor electrodes DE1 and DE2 connected to the ground terminal G are formed. One capacitor electrode DE1 extends in the vertical direction so as to face the coil conductors 22 in the second row from the right of the coil portion C4 in plan view. The other capacitor electrode DE2 extends in the left-right direction so as to face the coil conductor 21 in the second row from the bottom of the coil portion C3 in plan view.

(特性評価)
以上説明した薄膜バラン3Aについて、通過特性(挿入損失)及び平衡特性(平衡信号の位相差及び振幅差)をシミュレーションにより求めた。伝送信号の評価対象周波数(共振周波数fr)を2400〜2500MHzとした。図33は、通過特性の評価結果を示す図であり、図34は位相差の評価結果を示す図であり、図35は振幅差の評価結果を示す図である。各図において、曲線E3Aが、薄膜バラン3Aの評価結果を示す。なお、各図における曲線E1R,E2Rは、キャパシタが独立して設けられた比較例の薄膜バラン1R,2Rの評価結果を示す。
(Characteristic evaluation)
With respect to the thin film balun 3A described above, the pass characteristic (insertion loss) and the balance characteristic (phase difference and amplitude difference of the balanced signal) were obtained by simulation. The evaluation target frequency (resonance frequency fr) of the transmission signal was set to 2400 to 2500 MHz. FIG. 33 is a diagram showing the pass characteristic evaluation results, FIG. 34 is a diagram showing the phase difference evaluation results, and FIG. 35 is a diagram showing the amplitude difference evaluation results. In each figure, the curve E3A shows the evaluation result of the thin film balun 3A. In addition, the curves E1R and E2R in each figure show the evaluation results of the thin film baluns 1R and 2R of the comparative example in which the capacitors are provided independently.

これらの結果より、実施例の薄膜バラン3Aは、比較例の薄膜バラン1R,2Rに比べて、通過特性及び平衡特性の双方において優れた特性を発揮することが確認された。   From these results, it was confirmed that the thin film balun 3A of the example exhibited excellent characteristics in both pass characteristics and equilibrium characteristics as compared with the thin film baluns 1R and 2R of the comparative example.

なお、上述したとおり、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を変更しない限度において様々な変形が可能である。例えば、本実施例では、平衡伝送線路BLを構成するコイル部C3,C4の一部がキャパシタ電極を兼ねる例について説明したが、コイル部C3,C4とキャパシタ電極DE1,DE2との間に、コイル部C3,C4に接続する別個のキャパシタ電極の層を形成してもよい。また、例えば、不平衡端子UT、平衡端子BT1,BT2、及び接地端子Gの配置は、図示の位置に限定されない。また絶縁性基板100上の配線層の順序が逆になった構造であってももちろんよい。さらに、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々のコイル配置を採用することが可能である。   In addition, as above-mentioned, this invention is not limited to said each embodiment, A various deformation | transformation is possible in the limit which does not change the summary. For example, in the present embodiment, an example in which part of the coil portions C3 and C4 constituting the balanced transmission line BL also serves as a capacitor electrode has been described. However, a coil is interposed between the coil portions C3 and C4 and the capacitor electrodes DE1 and DE2. Separate capacitor electrode layers connected to the portions C3 and C4 may be formed. Further, for example, the arrangement of the unbalanced terminal UT, the balanced terminals BT1 and BT2, and the ground terminal G is not limited to the illustrated position. Of course, the order of the wiring layers on the insulating substrate 100 may be reversed. Furthermore, various coil arrangements can be employed without departing from the scope of the present invention.

本発明の薄膜バランによれば、平衡伝送線路の一部と接地端子との間にキャパシタを導入することによって、要求されるバランの諸特性を維持しつつ小型薄型化することができるので、特に、小型薄型化が要求される無線通信機器、装置、モジュール、及びシステム、並びにそれらを備える設備、さらには、それらの製造に広く適用することが可能である。   According to the thin film balun of the present invention, by introducing a capacitor between a part of the balanced transmission line and the ground terminal, it is possible to reduce the size and thickness while maintaining the required characteristics of the balun. The present invention can be widely applied to wireless communication devices, apparatuses, modules, and systems that are required to be reduced in size and thickness, equipment including the devices, and manufacturing thereof.

1,1A,1B,1C,1D,1E,1R,2,2A,2B,2R,3,3A…薄膜バラン、11,12,21,22…コイル導体、11a,11b,12a,12b,21a,21b,22a,22b…端部、31,32…配線、M0,M1,M2…配線層、C1…コイル部(第1の線路部)、C2…コイル部(第2の線路部)、C3…コイル部(第3の線路部)、C4…コイル部(第4の線路部)、D1,D2…キャパシタ、DE1,DE2,DE11,DE12,DE21,DE22…キャパシタ電極、G…接地端子、L1…線路部(第1の線路部)、L2…線路部(第2の線路部)、L3…線路部(第3の線路部)、L4…線路部(第4の線路部)、P…スルーホール、UL…不平衡伝送線路(不平衡回路)、BL…平衡伝送線路(平衡回路)、UT…不平衡端子、BT1…平衡端子、BT2…平衡端子。   1, 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1R, 2, 2A, 2B, 2R, 3, 3A ... thin film baluns, 11, 12, 21, 22 ... coil conductors, 11a, 11b, 12a, 12b, 21a, 21b, 22a, 22b ... end, 31, 32 ... wiring, M0, M1, M2 ... wiring layer, C1 ... coil part (first line part), C2 ... coil part (second line part), C3 ... Coil part (third line part), C4 ... Coil part (fourth line part), D1, D2 ... Capacitor, DE1, DE2, DE11, DE12, DE21, DE22 ... Capacitor electrode, G ... Ground terminal, L1 ... Line part (first line part), L2 ... Line part (second line part), L3 ... Line part (third line part), L4 ... Line part (fourth line part), P ... Through hole , UL ... unbalanced transmission line (unbalanced circuit), BL ... balanced transmission line (衡回 path), UT ... unbalanced terminal, BT1 ... balanced terminals, BT2 ... balanced terminals.

Claims (1)

第1の線路部及び第2の線路部を有する不平衡伝送線路と、
前記第1の線路部及び前記第2の線路部のそれぞれに対向し且つ電磁結合する第3の線路部及び第4の線路部を有する平衡伝送線路と、
前記第3の線路部又は前記第4の線路部のうち少なくとも一方の一部と対向してキャパシタを構成し、且つ、接地端子に接続されたキャパシタ電極と、
を備え
前記第3の線路部及び前記第4の線路部を電気的に接続する連結部及び前記キャパシタ電極が第1層に形成され、
前記平衡伝送線路の前記第3の線路部及び前記第4の線路部が第2層に形成され、
前記不平衡伝送線路の前記第1の線路部及び前記第2の線路部が第3層に形成されている、
薄膜バラン。
An unbalanced transmission line having a first line portion and a second line portion;
A balanced transmission line having a third line part and a fourth line part facing and electromagnetically coupling to each of the first line part and the second line part;
A capacitor is configured to face a part of at least one of the third line portion or the fourth line portion, and the capacitor electrode is connected to a ground terminal;
Equipped with a,
The connection part and the capacitor electrode that electrically connect the third line part and the fourth line part are formed in the first layer,
The third line portion and the fourth line portion of the balanced transmission line are formed in the second layer,
The first line portion and the second line portion of the unbalanced transmission line are formed in a third layer;
Thin film balun.
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