JP5319567B2 - Epoxy resin composition for optical semiconductor device, cured product thereof, and optical semiconductor device obtained using the same - Google Patents

Epoxy resin composition for optical semiconductor device, cured product thereof, and optical semiconductor device obtained using the same Download PDF

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Description

発光素子や受光素子等の光半導体素子の樹脂封止に用いられる光半導体装置用エポキシ樹脂組成物およびその硬化体、ならびにそれを用いて得られる光半導体装置に関するものである。   The present invention relates to an epoxy resin composition for an optical semiconductor device used for resin sealing of an optical semiconductor element such as a light emitting element or a light receiving element, a cured product thereof, and an optical semiconductor device obtained using the epoxy resin composition.

従来から、発光素子や受光素子等を有する光半導体装置において樹脂封止する際に用いられる光半導体装置用樹脂組成物としては、樹脂封止部分となる硬化体に対して透明性が要求されることから、ビスフェノールA型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂と酸無水物等の硬化剤とを用いて得られるエポキシ樹脂組成物が汎用されている。   Conventionally, as a resin composition for an optical semiconductor device used when resin-sealing in an optical semiconductor device having a light-emitting element, a light-receiving element, etc., transparency is required for a cured body that becomes a resin-sealed portion. Therefore, an epoxy resin composition obtained by using an epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin and a curing agent such as an acid anhydride is widely used.

しかしながら、近年、発光素子では高輝度化が進み、一方、受光センサーでは車載用途やブルーレイ(登録商標)ディスク対応機器のピックアップとしての普及が広まりつつあることから、従来よりも高い耐熱変色性あるいは耐光性を有する封止用樹脂材料が求められている。   However, in recent years, the brightness of light-emitting elements has been increasing, and on the other hand, the light-receiving sensor has become widespread as a pickup for in-vehicle applications and Blu-ray (registered trademark) disc compatible devices. There is a need for a sealing resin material having high performance.

上記光半導体装置用エポキシ樹脂組成物において、耐熱性あるいは耐光性を向上させる手法として、多官能のエポキシ樹脂を用いて得られる硬化体のガラス転移温度(以下「Tg」ともいう)を高くする手法や、脂環式エポキシ樹脂を用いて光の吸収による光劣化を抑制する手法(例えば特許文献1参照)が従来から採用されている。   In the above epoxy resin composition for optical semiconductor devices, as a technique for improving heat resistance or light resistance, a technique for increasing the glass transition temperature (hereinafter also referred to as “Tg”) of a cured product obtained using a polyfunctional epoxy resin. In addition, a technique for suppressing light deterioration due to light absorption using an alicyclic epoxy resin (for example, see Patent Document 1) has been conventionally employed.

さらに、耐熱性および透明性に優れ、かつ破断靱性と耐クラック性に優れた封止材料を提供する目的で、酸無水物とポリエステルポリオールを特定の割合の混合比率で含有するエポキシ樹脂組成物を用いることが提案されている(特許文献2参照)。   Furthermore, an epoxy resin composition containing an acid anhydride and a polyester polyol in a specific mixing ratio is provided for the purpose of providing a sealing material excellent in heat resistance and transparency, and excellent in fracture toughness and crack resistance. It has been proposed to use (see Patent Document 2).

特開平5−32866号公報JP-A-5-32866 特開2007−308683号公報JP 2007-308683 A

しかしながら、一般に、上記のように、耐熱性および耐光性の向上を図るために、多官能エポキシ樹脂や脂環式エポキシ樹脂等を用いた場合、封止樹脂として強度低下を引き起こすことから、例えば、光半導体素子を樹脂封止した際に、熱収縮により封止樹脂にクラックが発生するという問題が生じる恐れがあった。   However, generally, as described above, when a polyfunctional epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, or the like is used to improve heat resistance and light resistance, it causes a decrease in strength as a sealing resin. When the optical semiconductor element is resin-sealed, there is a possibility that a problem occurs in that the sealing resin cracks due to thermal contraction.

また、上記特許文献2のエポキシ樹脂組成物では、充分な耐光性が得られないという問題が生じる恐れがあった。   Further, the epoxy resin composition of Patent Document 2 may cause a problem that sufficient light resistance cannot be obtained.

本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、光半導体装置製造時における樹脂クラックの発生が抑制され、耐熱変色性および耐光性に優れた光半導体装置用エポキシ樹脂組成物およびその硬化体、ならびにそれを用いて得られる光半導体装置の提供をその目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an epoxy resin composition for an optical semiconductor device, which is excellent in heat discoloration and light resistance, in which the occurrence of resin cracks during production of the optical semiconductor device is suppressed, and a cured product thereof. And an optical semiconductor device obtained using the same.

上記の目的を達成するために、本発明は、下記の(A)〜(E)成分を含有する光半導体装置用エポキシ樹脂組成物であって、(A)成分と(B)成分との配合割合が、(A)成分中のエポキシ基1当量に対して、(B)成分中におけるエポキシ基と反応可能な活性基(酸無水物基または水酸基)が0.5〜1.5当量であり、(D)成分の含有量が、エポキシ樹脂組成物中の樹脂成分全体の5〜20重量%であり、(E)成分の含有量が、エポキシ樹脂組成物全体の5〜60重量%である光半導体装置用エポキシ樹脂組成物を第1の要旨とする。
(A)1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂。
(B)酸無水物系硬化剤。
(C)硬化促進剤。
(D)ポリラクトンポリオール。
(E)下記の一般式(1)で表されるポリオルガノシロキサン。
〔化1〕
m (OR 1 n SiO (4-m-n)/2 ・・・(1)
〔式(1)中、Rは炭素数1〜18の置換または未置換の飽和一価炭化水素基であり、同じであっても異なっていてもよい。また、R 1 は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基であり、同じであっても異なっていてもよい。さらに、m,nは各々0〜3の整数である。〕
In order to achieve the above object, the present invention provides an epoxy resin composition for an optical semiconductor device containing the following components (A) to (E) , comprising a combination of the components (A) and (B): The ratio is 0.5 to 1.5 equivalents of the active group (an acid anhydride group or hydroxyl group) that can react with the epoxy group in the component (B) with respect to 1 equivalent of the epoxy group in the component (A). The content of the component (D) is 5 to 20% by weight of the entire resin component in the epoxy resin composition, and the content of the component (E) is 5 to 60% by weight of the entire epoxy resin composition. Let the epoxy resin composition for optical semiconductor devices be a 1st summary.
(A) An epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule.
(B) An acid anhydride curing agent.
(C) A curing accelerator.
(D) Polylactone polyol.
(E) Polyorganosiloxane represented by the following general formula (1) .
[Chemical formula 1]
R m (OR 1 ) n SiO (4-mn) / 2 (1)
[In Formula (1), R is a C1-C18 substituted or unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group, and may be the same or different. R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and may be the same or different. Further, m and n are each an integer of 0 to 3. ]

また、本発明は、上記光半導体装置用エポキシ樹脂組成物を加熱硬化してなる光半導体装置用エポキシ樹脂組成物硬化体を第2の要旨とする。   Moreover, this invention makes the 2nd summary the epoxy resin composition hardening body for optical semiconductor devices formed by heat-curing the said epoxy resin composition for optical semiconductor devices.

そして、本発明は、上記光半導体装置用エポキシ樹脂組成物を用いて、光半導体素子を樹脂封止してなる光半導体装置を第3の要旨とする。   And this invention makes the 3rd summary the optical semiconductor device formed by resin-sealing an optical semiconductor element using the said epoxy resin composition for optical semiconductor devices.

すなわち、本発明者らは、多官能エポキシ樹脂や脂環式エポキシ樹脂を用いた封止材料によって樹脂封止した際に生じるクラックの発生が効果的に抑制され、耐熱変色性および耐光性に優れた半導体装置用エポキシ樹脂組成物を得るべく鋭意検討を重ねた。その結果、ポリラクトンポリオール〔(D)成分〕および特定のポリオルガノシロキサン〔(E)成分〕を特定の割合にて併用すると、上記ポリラクトンポリオールの有する可撓性に加えて、上記特定のポリオルガノシロキサンの有する優れた耐光性および耐熱性が付与され、両者の併用による相乗効果によって高い耐熱変色性および耐光劣化性が付与されることとなり、所期の目的が達成されることを見出し本発明に到達した。 That is, the present inventors effectively suppress the generation of cracks that occur when resin-sealing with a sealing material using polyfunctional epoxy resin or alicyclic epoxy resin, and are excellent in heat discoloration and light resistance. In order to obtain an epoxy resin composition for semiconductor devices, intensive studies were repeated. As a result, when combined polylactone polyol [component (D)] and a specific polyorganosiloxane [the component (E)] at a specific ratio, in addition to the flexibility possessed by the polylactone polyol, the specific poly The present invention finds that the excellent light resistance and heat resistance possessed by the organosiloxane are imparted, and that the synergistic effect of the combination of both imparts high heat discoloration and light degradation resistance, thereby achieving the intended purpose. Reached.

このように、本発明は、エポキシ樹脂〔(A)成分〕と、酸無水物系硬化剤〔(B)成分〕と、硬化促進剤〔(C)成分〕とともに、ポリラクトンポリオール〔(D)成分〕および特定のポリオルガノシロキサン〔(E)成分〕を特定の割合にて含有する光半導体装置用エポキシ樹脂組成物である。このため、高いガラス転移温度(Tg)を維持し、かつ優れた強度および撓み性を備えた透明な硬化体を形成することが可能となり、さらに優れた耐熱変色性および耐光性を備えたものが得られる。したがって、このエポキシ樹脂組成物を用いて光半導体素子を樹脂封止することにより、優れた機械的強度、耐熱性、耐光性を併せ持つ、高い信頼性を備えた光半導体装置が得られる。 Thus, the present invention includes a polylactone polyol [(D) together with an epoxy resin [(A) component], an acid anhydride curing agent [(B) component], and a curing accelerator [(C) component]. Component] and a specific polyorganosiloxane [component (E)] in a specific ratio are epoxy resin compositions for optical semiconductor devices. For this reason, it becomes possible to form a transparent cured body that maintains a high glass transition temperature (Tg) and has excellent strength and flexibility, and that has excellent heat discoloration resistance and light resistance. can get. Therefore, by encapsulating an optical semiconductor element with this epoxy resin composition, an optical semiconductor device having excellent mechanical strength, heat resistance, and light resistance and having high reliability can be obtained.

そして、上記(D)成分であるポリラクトンポリオールの含有量が、エポキシ樹脂組成物中の樹脂成分全体の5〜20重量%の範囲であるため、より一層の低応力化が実現するとともに、ガラス転移温度(Tg)の低下が実現する。 Then, the content of the polylactone polyol is the component (D), since the range of 5 to 20% by weight of the total resin components in the epoxy resin composition, as well as provides a more further stress reduction, Glass A decrease in the transition temperature (Tg) is realized.

また、上記(E)成分である特定のポリオルガノシロキサンの含有量が、エポキシ樹脂組成物全体の5〜60重量%の範囲であるため、より一層耐熱変色性および耐光性に優れ、かつ強靱なエポキシ樹脂組成物硬化体が得られるようになる。 The content of the specific polyorganosiloxane is the (E) component, since the range of 5 to 60 wt% of the total epoxy resin composition, excellent in more heat discoloration resistance and light resistance, and tough A cured epoxy resin composition can be obtained.

本発明の光半導体装置用エポキシ樹脂組成物(以下「エポキシ樹脂組成物」ともいう)は、エポキシ樹脂(A成分)と、酸無水物系硬化剤(B成分)と、硬化促進剤(C成分)と、ポリラクトンポリオール(D成分)と、特定のポリオルガノシロキサン(E成分)とを用いて得られるものであり、通常、液状、あるいは粉末状、もしくはその粉末を打錠したタブレット状にして封止材料に供される。 The epoxy resin composition for optical semiconductor devices of the present invention (hereinafter also referred to as “epoxy resin composition”) comprises an epoxy resin (A component), an acid anhydride curing agent (B component), and a curing accelerator (C component). ), Polylactone polyol (component D), and a specific polyorganosiloxane (component E), usually in the form of a liquid or powder, or a tablet obtained by compressing the powder. It is used for the sealing material.

上記エポキシ樹脂(A成分)としては、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するものであり、例えば、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールF型エポキシ樹脂、水添ナフタレン型エポキシ樹脂等、エポキシ樹脂の各水添エポキシ樹脂や、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート、ヒダントインエポキシ樹脂等の含窒素環エポキシ樹脂等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて使用される。さらには、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂等と併用してもよい。これらエポキシ樹脂の中でも、硬化体の透明性および耐変色性の観点から、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレートを単独でもしくは併せて用いることが好ましい。   As said epoxy resin (A component), it has 2 or more epoxy groups in 1 molecule, for example, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, hydrogenated bisphenol F type epoxy resin, hydrogenated naphthalene type epoxy resin Examples thereof include hydrogenated epoxy resins such as epoxy resins, and nitrogen-containing ring epoxy resins such as alicyclic epoxy resins, triglycidyl isocyanurates, and hydantoin epoxy resins. These may be used alone or in combination of two or more. Furthermore, you may use together with a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, a phenol novolac type epoxy resin, etc. Among these epoxy resins, it is preferable to use an alicyclic epoxy resin and triglycidyl isocyanurate alone or in combination from the viewpoint of transparency of the cured product and discoloration resistance.

上記エポキシ樹脂(A成分)としては、常温で固形であっても液状であってもよいが、一般に、使用するエポキシ樹脂の平均エポキシ当量が90〜1000のものが好ましく、また、固形の場合には、軟化点が160℃以下のものが好ましい。すなわち、エポキシ当量が小さすぎると、エポキシ樹脂組成物硬化体が脆くなる場合がある。また、エポキシ当量が大きすぎると、エポキシ樹脂組成物硬化体のガラス転移温度(Tg)が低くなる傾向がみられるからである。   The epoxy resin (component A) may be solid or liquid at normal temperature, but in general, the epoxy resin used preferably has an average epoxy equivalent of 90 to 1,000. Preferably has a softening point of 160 ° C. or lower. That is, if the epoxy equivalent is too small, the cured epoxy resin composition may become brittle. Moreover, it is because the glass transition temperature (Tg) of an epoxy resin composition hardening body will become low when an epoxy equivalent is too large.

上記エポキシ樹脂(A成分)とともに用いられる酸無水物系硬化剤(B成分)としては、例えば、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いることができる。これら酸無水物系硬化剤の中でも、無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸を単独でもしくは2種以上併せて用いることが好ましい。さらに、酸無水物系硬化剤(B成分)としては、その分子量が、140〜200程度のものが好ましく、また、無色ないし淡黄色の酸無水物系硬化剤が好ましい。   Examples of the acid anhydride curing agent (B component) used together with the epoxy resin (component A) include, for example, phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, and tetrahydro anhydride. Examples thereof include phthalic acid, methyl nadic anhydride, nadic anhydride, glutaric anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, and methyltetrahydrophthalic anhydride. These may be used alone or in combination of two or more. Among these acid anhydride curing agents, it is preferable to use phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, or methylhexahydrophthalic anhydride alone or in combination. Further, the acid anhydride curing agent (component B) preferably has a molecular weight of about 140 to 200, and is preferably a colorless or light yellow acid anhydride curing agent.

上記エポキシ樹脂(A成分)と酸無水物系硬化剤(B成分)との配合割合は、エポキシ樹脂(A成分)中のエポキシ基1当量に対して、酸無水物系硬化剤(B成分)中におけるエポキシ基と反応可能な活性基(酸無水物基または水酸基)が0.5〜1.5当量となるよう設定する必要がある。より好ましくは0.7〜1.2当量である。すなわち、活性基が少なすぎると、エポキシ樹脂組成物の硬化速度が遅くなるとともに、その硬化体のガラス転移温度(Tg)が低くなる傾向がみられ、活性基が多すぎると耐湿性が低下する傾向がみられるからである。 The blending ratio of the epoxy resin (component A) and the acid anhydride curing agent (component B) is based on 1 equivalent of epoxy group in the epoxy resin (component A), and the acid anhydride curing agent (component B). It is necessary to set the active group (acid anhydride group or hydroxyl group) capable of reacting with the epoxy group in the inside to be 0.5 to 1.5 equivalents . More preferably, it is 0.7-1.2 equivalent. That is, when there are too few active groups, the curing rate of the epoxy resin composition becomes slow and the glass transition temperature (Tg) of the cured product tends to be low, and when there are too many active groups, moisture resistance decreases. This is because there is a tendency.

また、上記酸無水物系硬化剤(B成分)としては、その目的および用途に応じて、上記酸無水物系硬化剤以外の他のエポキシ樹脂の硬化剤、例えば、フェノール系硬化剤、アミン系硬化剤、上記酸無水物系硬化剤をアルコールで部分エステル化したもの、または、ヘキサヒドロフタル酸、テトラヒドロフタル酸、メチルヘキサヒドロフタル酸等のカルボン酸類の硬化剤を、単独で、もしくは上記酸無水物系硬化剤およびフェノール系硬化剤と併せて用いてもよい。例えば、カルボン酸類の硬化剤を併用した場合には、硬化速度を速めることができ、生産性を向上させることができる。なお、これら硬化剤を用いる場合においても、その配合割合は、上記酸無水物系硬化剤を用いた場合の配合割合(当量比)に準じればよい。   Moreover, as said acid anhydride type hardening | curing agent (B component), according to the objective and use, the hardening | curing agent of other epoxy resins other than the said acid anhydride type hardening | curing agent, for example, a phenol type hardening | curing agent, an amine type | system | group Curing agents, those obtained by partial esterification of the above acid anhydride curing agents with alcohol, or curing agents for carboxylic acids such as hexahydrophthalic acid, tetrahydrophthalic acid, and methylhexahydrophthalic acid, alone or with the above acid You may use together with an anhydride type hardening | curing agent and a phenol type hardening | curing agent. For example, when a carboxylic acid curing agent is used in combination, the curing rate can be increased and the productivity can be improved. In addition, also when using these hardening | curing agents, the mixing | blending ratio should just follow the mixing | blending ratio (equivalent ratio) at the time of using the said acid anhydride type hardening | curing agent.

上記A成分およびB成分とともに用いられる硬化促進剤(C成分)としては、例えば、1,8−ジアザ−ビシクロ〔5.4.0〕ウンデセン−7、トリエチレンジアミン、トリ−2,4,6−ジメチルアミノメチルフェノール等の3級アミン類、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−メチルイミダゾール等のイミダゾール類、トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロンジチオエート等のリン化合物、4級アンモニウム塩、有機金属塩類、およびこれらの誘導体等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いられる。これら硬化促進剤の中では、トリ−2,4,6−ジメチルアミノメチルフェノール等の3級アミン類のオクチル酸塩、あるいはスルホニウム塩等が好適に用いられる。具体的には、ジメチルベンジルアミン等が用いられる。   Examples of the curing accelerator (C component) used together with the A component and the B component include 1,8-diaza-bicyclo [5.4.0] undecene-7, triethylenediamine, tri-2,4,6- Tertiary amines such as dimethylaminomethylphenol, imidazoles such as 2-ethyl-4-methylimidazole and 2-methylimidazole, triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetra-n-butylphosphonium-o, o -Phosphorus compounds such as diethyl phosphorone dithioate, quaternary ammonium salts, organometallic salts, and derivatives thereof. These may be used alone or in combination of two or more. Among these curing accelerators, octylates or sulfonium salts of tertiary amines such as tri-2,4,6-dimethylaminomethylphenol are preferably used. Specifically, dimethylbenzylamine or the like is used.

上記硬化促進剤(C成分)の含有量は、上記エポキシ樹脂(A成分)100重量部に対して0.01〜8.0重量部に設定することが好ましく、より好ましくは0.1〜3.0重量部である。すなわち、硬化促進剤の含有量が少なすぎると、充分な硬化促進効果を得られない場合があり、また硬化促進剤の含有量が多すぎると、得られる硬化体に変色がみられる傾向があるからである。   The content of the curing accelerator (component C) is preferably set to 0.01 to 8.0 parts by weight, more preferably 0.1 to 3 parts per 100 parts by weight of the epoxy resin (component A). 0.0 part by weight. That is, if the content of the curing accelerator is too small, a sufficient curing acceleration effect may not be obtained, and if the content of the curing accelerator is too large, the resulting cured product tends to be discolored. Because.

上記A〜C成分とともに用いられるポリラクトンポリオール(D成分)としては、例えば、2官能以上のポリカプロラクトンポリオールであることが好ましく、詳しくは、ポリカプロラクトンジオール、ポリカプロラクトントリオール、4官能以上のポリカプロラクトンポリオール等を用いることができる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いることができる。   The polylactone polyol (D component) used together with the components A to C is preferably a bi- or higher functional polycaprolactone polyol, and more specifically, polycaprolactone diol, polycaprolactone triol, and 4- or higher functional polycaprolactone. A polyol or the like can be used. These may be used alone or in combination of two or more.

これらポリカプロラクトンポリオールの中でも、低応力化およびガラス転移温度(Tg)低下という観点から、分子量300〜2000の範囲であることが好ましく、また水酸基価80〜500(KOH・mg/g)の範囲であることが好ましい。そして、ポリカプロラクトンポリオールの中でも、上記物性を備えたポリカプロラクトントリオールを用いることが好ましく、さらに上記物性を備えたポリカプロラクトントリオールとして、具体的には、ダイセル化学工業社製の「プラクセル305」や「プラクセルL320AL」等が好適に用いられる。   Among these polycaprolactone polyols, from the viewpoint of lowering stress and lowering the glass transition temperature (Tg), the molecular weight is preferably in the range of 300 to 2000, and the hydroxyl value is in the range of 80 to 500 (KOH · mg / g). Preferably there is. Among the polycaprolactone polyols, it is preferable to use polycaprolactone triol having the above physical properties, and as polycaprolactone triol further having the above physical properties, specifically, “Placcel 305” and “ “Placcel L320AL” or the like is preferably used.

上記ポリラクトンポリオール(D成分)の含有量は、エポキシ樹脂組成物中の樹脂成分全体の5〜20重量%の範囲に設定する必要がある。より好ましくは7〜15重量%である。すなわち、ポリラクトンポリオール(D成分)の含有量が少なすぎると、充分な低応力化およびガラス転移温度(Tg)の充分な低下作用が得られ難い傾向がみられ、含有量が多すぎると、ガラス転移温度(Tg)が低下しすぎるために耐熱性が低下する傾向がみられるからである。 Content of the said polylactone polyol (D component) needs to be set to the range of 5-20 weight% of the whole resin component in an epoxy resin composition . More preferably, it is 7 to 15% by weight. That is, if the content of the polylactone polyol (component D) is too small, there is a tendency that sufficient stress reduction and a sufficient lowering effect of the glass transition temperature (Tg) are difficult to obtain, and if the content is too large, This is because the glass transition temperature (Tg) is excessively decreased and thus the heat resistance tends to decrease.

さらに、本発明においては、上記A〜D成分とともに、耐光性および耐熱性の向上を図るため、特定のポリオルガノシロキサン(E成分)が用いられる。 Furthermore, in the present invention, a specific polyorganosiloxane (E component) is used together with the above-mentioned components A to D in order to improve light resistance and heat resistance.

上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)は、上記エポキシ樹脂(A成分)と溶融混合可能なもので、無溶剤で固形または常温で液状のポリオルガノシロキサン用いられる。このように、本発明において用いられるポリオルガノシロキサンは、エポキシ樹脂組成物硬化体中に、ナノ単位で均一に分散可能なものであればよい。 The specific polyorganosiloxane (E component), since the epoxy resin (A component) and the molten mixture can be, polyorganosiloxane liquid is Ru is used in solid or ambient solventless. Thus, the polyorganosiloxane used in the present invention only needs to be capable of being uniformly dispersed in nano units in the cured epoxy resin composition.

このようなポリオルガノシロキサン(E成分)としては、そのポリオルガノシロキサンの構成成分となるシロキサン単位が、下記の一般式(1)で表されるものがあげられる。そして、一分子中に少なくとも一個のケイ素原子に結合した水酸基またはアルコキシ基を有し、ケイ素原子に結合した一価の炭化水素基(R)中、10モル%以上が置換または未置換の芳香族炭化水素基であるものがあげられる。 Such polyorganosiloxane (E component), siloxane units as a polyorganosiloxane component of that is, those represented by the following general formula (1) are exemplified. In addition, a monovalent hydrocarbon group (R) having a hydroxyl group or an alkoxy group bonded to at least one silicon atom in one molecule, and 10 mol% or more of the monovalent hydrocarbon group (R) bonded to the silicon atom is a substituted or unsubstituted aromatic. The thing which is a hydrocarbon group is mention | raise | lifted.

〔化
m(OR1nSiO(4-m-n)/2 ・・・(1)
〔式(1)中、Rは炭素数1〜18の置換または未置換の飽和一価炭化水素基であり、同じであっても異なっていてもよい。また、R1は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基であり、同じであっても異なっていてもよい。さらに、m,nは各々0〜3の整数である。〕
[Chemical 2 ]
R m (OR 1 ) n SiO (4-mn) / 2 (1)
[In Formula (1), R is a C1-C18 substituted or unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group, and may be the same or different. R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and may be the same or different. Further, m and n are each an integer of 0 to 3. ]

上記式(1)において、炭素数1〜18の置換または未置換の飽和一価炭化水素基であるRのうち、未置換の飽和一価炭化水素基としては、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ヘキシル基、イソヘキシル基、ヘプチル基、イソヘプチル基、オクチル基、イソオクチル基、ノニル基、デシル基等の直鎖状または分岐状のアルキル基や、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロオクチル基、ジシクロペンチル基、デカヒドロナフチル基等のシクロアルキル基、さらに芳香族基として、フェニル基、ナフチル基、テトラヒドロナフチル基、トリル基、エチルフェニル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、メチルベンジル基等のアラルキル基等があげられる。   In the above formula (1), among R, which is a substituted or unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, the unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group is specifically a methyl group, Ethyl, propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, t-butyl, pentyl, isopentyl, hexyl, isohexyl, heptyl, isoheptyl, octyl, isooctyl, nonyl, decyl A linear or branched alkyl group such as a group, a cycloalkyl group such as a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cyclooctyl group, a dicyclopentyl group, a decahydronaphthyl group, and an aromatic group such as a phenyl group, a naphthyl group, Aryl groups such as tetrahydronaphthyl group, tolyl group, ethylphenyl group, benzyl group, phenylethyl group, phenyl Group, aralkyl groups such as a methyl benzyl group.

一方、上記式(1)のRにおいて、置換された飽和一価炭化水素基としては、具体的には、炭化水素基中の水素原子の一部または全部がハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、エポキシ基等によって置換されたものがあげられ、具体的には、クロロメチル基、2−ブロモエチル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、3−クロロプロピル基、クロロフェニル基、ジブロモフェニル基、ジフルオロフェニル基、β−シアノエチル基、γ−シアノプロピル基、β−シアノプロピル基等の置換炭化水素基等があげられる。   On the other hand, in R of the above formula (1), as the substituted saturated monovalent hydrocarbon group, specifically, a part or all of the hydrogen atoms in the hydrocarbon group are halogen atoms, cyano groups, amino groups, Examples thereof include those substituted by an epoxy group, and specifically include chloromethyl group, 2-bromoethyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group, 3-chloropropyl group, chlorophenyl group, dibromophenyl group, Examples thereof include substituted hydrocarbon groups such as a difluorophenyl group, a β-cyanoethyl group, a γ-cyanopropyl group, and a β-cyanopropyl group.

そして、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)として、先のエポキシ樹脂(A成分)との親和性および得られるエポキシ樹脂組成物の特性の点から、上記式(1)中のRとして好ましいものは、アルキル基またはアリール基であり、上記アルキル基の場合、より好ましくは炭素数1〜3のアルキル基として先に例示したものであり、特に好ましいのはメチル基である。また、アリール基として特に好ましいのはフェニル基である。上記式(1)中のRとして選択されるこれら基は、同一のシロキサン単位の中で、またはシロキサン単位の間で同一であってもよいし、異なっていてもよい。 And as said specific polyorganosiloxane (E component), what is preferable as R in said Formula (1) from the point of the affinity with the previous epoxy resin (A component) and the characteristic of the epoxy resin composition obtained. Is an alkyl group or an aryl group, and in the case of the above-mentioned alkyl group, more preferably those exemplified above as an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and particularly preferred is a methyl group. A particularly preferred aryl group is a phenyl group. These groups selected as R in the formula (1) may be the same or different in the same siloxane unit or between siloxane units.

上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)では、上記式(1)で表されるその構造において、ケイ素原子に結合した一価の炭化水素基(R)は、その10モル%以上が芳香族炭化水素基から選択されることが好ましい。すなわち、芳香族炭化水素基が少なすぎると、エポキシ樹脂との親和性が不充分であるためにポリオルガノシロキサンをエポキシ樹脂中に溶解,分散させた場合に不透明となり、得られるエポキシ樹脂組成物の硬化物においても耐光劣化性および物理的な特性において充分な効果が得られないという傾向がみられるからである。このような芳香族炭化水素基の含有量は、より好ましくは30モル%以上であり、特に好ましくは40モル%以上である。なお、上記芳香族炭化水素基の含有量の上限は、100モル%である。 In the specific polyorganosiloxane (E component), in its structure represented by the above following formula (1), monovalent hydrocarbon groups bonded to silicon atoms (R), the 10 mol% or more aromatic It is preferably selected from hydrocarbon groups. That is, if there are too few aromatic hydrocarbon groups, since the affinity with the epoxy resin is insufficient, it becomes opaque when the polyorganosiloxane is dissolved and dispersed in the epoxy resin, and the resulting epoxy resin composition This is because even in the cured product, there is a tendency that sufficient effects cannot be obtained in terms of light resistance and physical properties. The content of such an aromatic hydrocarbon group is more preferably 30 mol% or more, and particularly preferably 40 mol% or more. In addition, the upper limit of content of the said aromatic hydrocarbon group is 100 mol%.

また、上記式(1)の(OR1)は、水酸基またはアルコキシ基であって、(OR1)がアルコキシ基である場合のR1としては、具体的には、前述のRについて例示したアルキル基において炭素数1〜6のものである。より具体的には、R1としては、メチル基、エチル基、イソプロピル基があげられる。これらの基は、同一のシロキサン単位の中で、またはシロキサン単位の間で同一であってもよいし、異なっていてもよい。 In the above formula (1), (OR 1 ) is a hydroxyl group or an alkoxy group, and when (OR 1 ) is an alkoxy group, as R 1 , specifically, the alkyl exemplified above for R The group has 1 to 6 carbon atoms. More specifically, examples of R 1 include a methyl group, an ethyl group, and an isopropyl group. These groups may be the same or different in the same siloxane unit or between siloxane units.

さらに、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)は、その1分子中に少なくとも1個のケイ素原子に結合した水酸基またはアルコキシ基、すなわち、ポリオルガノシロキサンを構成するシロキサン単位の少なくとも一個に式(1)の(OR1)基を有することが好ましい。すなわち、上記水酸基またはアルコキシ基を有しない場合には、エポキシ樹脂との親和性が不充分となり、またその機構は定かではないもののこれら水酸基またはアルコキシ基がエポキシ樹脂の硬化反応のなかで何らかの形で作用するためと考えられるが、得られるエポキシ樹脂組成物により形成される硬化物の物理的特性も充分なものが得られ難い。そして、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)において、ケイ素原子に結合した水酸基またはアルコキシ基の量は、好ましくは、OH基に換算して0.1〜15重量%の範囲に設定され、より好ましくは1〜10重量%である。すなわち、水酸基またはアルコキシ基の量が上記範囲を外れると、エポキシ樹脂(A成分)との親和性に乏しくなり、特に多すぎると(例えば、15重量%を超える)、自己脱水反応や脱アルコール反応を生じる可能性があるからである。 Further, the specific polyorganosiloxane (component E) has a hydroxyl group or alkoxy group bonded to at least one silicon atom in one molecule, that is, at least one of the siloxane units constituting the polyorganosiloxane is represented by the formula (1 It is preferable to have an (OR 1 ) group. That is, when the hydroxyl group or alkoxy group is not present, the affinity with the epoxy resin is insufficient, and although the mechanism is not clear, the hydroxyl group or alkoxy group is in some form in the curing reaction of the epoxy resin. Although it is thought that it acts, it is difficult to obtain a cured product having sufficient physical properties formed by the resulting epoxy resin composition. In the specific polyorganosiloxane (component E), the amount of hydroxyl group or alkoxy group bonded to the silicon atom is preferably set in the range of 0.1 to 15% by weight in terms of OH group, and more Preferably it is 1 to 10% by weight. That is, when the amount of the hydroxyl group or alkoxy group is out of the above range, the affinity with the epoxy resin (component A) becomes poor, and particularly when it is too much (for example, more than 15% by weight), self-dehydration reaction or dealcoholization reaction This is because it may cause

上記式(1)において、繰り返し数mおよびnは、それぞれ0〜3の整数である。そして、上記繰り返し数mおよびnがとりうる数は、シロキサン単位毎に異なるものであり、上記ポリオルガノシロキサンを構成するシロキサン単位を、より詳細に説明すると、下記の一般式(2)〜(5)で表されるA1〜A4単位があげられる。   In the above formula (1), the repeating numbers m and n are each an integer of 0 to 3. The number of repetitions m and n that can be taken is different for each siloxane unit. The siloxane units constituting the polyorganosiloxane will be described in more detail. The following general formulas (2) to (5) ) Units represented by A1 to A4.

〔化
A1単位:(R)3SiO1/2 ・・・(2)
A2単位:(R)2(OR1nSiO(2-n)/2 ・・・(3)
〔式(3)において、nは0または1である。〕
A3単位:(R)(OR1nSiO(3-n)/2 ・・・(4)
〔式(4)において、nは0,1または2である。〕
A4単位:(OR1nSiO(4-n)/2 ・・・(5)
〔式(5)において、nは0〜3の整数である。〕
〔上記式(2)〜(5)において、Rは炭素数1〜18の置換または未置換の飽和一価炭化水素基であり、同じであっても異なっていてもよい。また、R1は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基であり、同じであっても異なっていてもよい。〕
[Chemical 3 ]
A1 unit: (R) 3 SiO 1/2 (2)
A2 unit: (R) 2 (OR 1 ) n SiO (2-n) / 2 (3)
[In Formula (3), n is 0 or 1. ]
A3 unit: (R) (OR 1 ) n SiO (3-n) / 2 (4)
[In Formula (4), n is 0, 1 or 2. ]
A4 unit: (OR 1 ) n SiO (4-n) / 2 (5)
[In Formula (5), n is an integer of 0-3. ]
[In the above formulas (2) to (5), R is a substituted or unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, which may be the same or different. R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and may be the same or different. ]

すなわち、前記式(1)のmにおいて、m=3の場合が上記式(2)で表されるA1単位に、m=2の場合が上記式(3)で表されるA2単位に、m=1の場合が上記式(4)で表されるA3単位に、m=0の場合が上記式(5)で表されるA4単位にそれぞれ相当する。このなかで、上記式(2)で表されるA1単位は1個のシロキサン結合のみであって末端基を構成する構造単位であり、上記式(3)で表されるA2単位は、nが0の場合には2個のシロキサン結合を有し線状のシロキサン結合を構成する構造単位であり、上記式(4)で表されるA3単位においてnが0の場合、および上記式(5)で表されるA4単位においてnが0または1の場合には、3個または4個のシロキサン結合を有することができ、分岐構造または架橋構造に寄与する構造単位である。   That is, in m of the formula (1), when m = 3, the A1 unit represented by the formula (2) is represented, and when m = 2, the A2 unit represented by the formula (3) is represented by m. The case of = 1 corresponds to the A3 unit represented by the above formula (4), and the case of m = 0 corresponds to the A4 unit represented by the above formula (5). Among these, the A1 unit represented by the above formula (2) is a structural unit that comprises only one siloxane bond and constitutes a terminal group, and the A2 unit represented by the above formula (3) has n of In the case of 0, it is a structural unit having two siloxane bonds and constituting a linear siloxane bond, and in the case where n is 0 in the A3 unit represented by the above formula (4), and the above formula (5) When n is 0 or 1 in the A4 unit represented by the formula, it is a structural unit that can have 3 or 4 siloxane bonds and contributes to a branched structure or a crosslinked structure.

さらに、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)において、上記式(2)〜(5)で表される各A1〜A4単位の構成割合が、下記の(a)〜(d)の割合に設定されていることが好ましい。
(a)A1単位が0〜30モル%
(b)A2単位が0〜80モル%
(c)A3単位が20〜100モル%
(d)A4単位が0〜30モル%
Furthermore, in the specific polyorganosiloxane (component E), the constituent ratio of each of the A1 to A4 units represented by the above formulas (2) to (5) is set to the following ratios (a) to (d). It is preferable that
(A) 0 to 30 mol% of A1 unit
(B) A2 unit is 0 to 80 mol%
(C) A3 unit is 20 to 100 mol%
(D) A4 unit is 0-30 mol%

より好ましくはA1単位およびA4単位が0モル%、A2単位が5〜70モル%、A3単位が30〜100モル%である。すなわち、各A1〜A4単位の構成割合を上記範囲に設定することにより、硬化体に適度な硬度や弾性率を付与(維持)することができるという効果が得られるようになり一層好ましい。   More preferably, the A1 unit and the A4 unit are 0 mol%, the A2 unit is 5 to 70 mol%, and the A3 unit is 30 to 100 mol%. That is, by setting the constituent ratio of each of the A1 to A4 units in the above range, it is more preferable because an effect that appropriate hardness and elastic modulus can be imparted (maintained) to the cured body can be obtained.

上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)は、上記各構成単位が相互にまたは連なって結合しているものであって、そのシロキサン単位の重合度は、6〜10,000の範囲であることが好ましい。そして、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)の性状は、重合度および架橋度によって異なり、液状または固体状のいずれであってもよい。 The specific polyorganosiloxane (E component) is one in which the above structural units are bonded to each other or continuously, and the degree of polymerization of the siloxane units is in the range of 6 to 10,000. preferable. The properties of the specific polyorganosiloxane (E component) vary depending on the degree of polymerization and the degree of crosslinking, and may be either liquid or solid.

このような式(1)で表されるシロキサン単位を有する特定のポリオルガノシロキサン(E成分)は、つぎのようにして製造することができる。例えば、オルガノシラン類およびオルガノシロキサン類の少なくとも一方を、トルエン等の溶媒存在下で加水分解する等の反応によって得られる。特に、オルガノクロロシラン類またはオルガノアルコキシシランを加水分解縮合する方法が一般的に用いられる。ここで、オルガノ基は、アルキル基やアリール基等の前記式(1)中のRに相当する基である。前記式(2)〜(5)で表されるA1〜A4単位は、それぞれ原料として用いるシラン類の構造と相関関係にあり、例えば、クロロシランの場合は、トリオルガノクロロシランを用いると前記式(2)で表されるA1単位が、ジオルガノジクロロシランを用いると前記式(3)で表されるA2単位が、オルガノクロロシランを用いると前記式(4)で表されるA3単位が、テトラクロロシランを用いると前記式(5)で表されるA4単位がそれぞれ得られる。また、上記式(1),(3)〜(5)において、(OR1)として示されるケイ素原子の置換基は、縮合されなかった加水分解の残基である。 The specific polyorganosiloxane (E component) having such a siloxane unit represented by the formula (1) can be produced as follows. For example, it can be obtained by a reaction such as hydrolysis of at least one of organosilanes and organosiloxanes in the presence of a solvent such as toluene. In particular, a method of hydrolytic condensation of organochlorosilanes or organoalkoxysilanes is generally used. Here, the organo group is a group corresponding to R in the formula (1) such as an alkyl group or an aryl group. The A1 to A4 units represented by the above formulas (2) to (5) have a correlation with the structure of silanes used as raw materials. For example, in the case of chlorosilane, when triorganochlorosilane is used, the above formula (2 When the A1 unit represented by formula (3) uses diorganodichlorosilane, the A2 unit represented by formula (3) uses the organochlorosilane, and the A3 unit represented by formula (4) represents tetrachlorosilane. When used, A4 units represented by the formula (5) are obtained. In the above formulas (1) and (3) to (5), the substituent of the silicon atom shown as (OR 1 ) is a hydrolysis residue that has not been condensed.

また、上記特定のポリオルガノシロキサン(E成分)が、常温で固形を示す場合は、軟化点(流動点)はエポキシ樹脂組成物との溶融混合の観点から、150℃以下であることが好ましく、特に好ましくは120℃以下である。 When the specific polyorganosiloxane (component E) is solid at room temperature, the softening point (pour point) is preferably 150 ° C. or lower from the viewpoint of melt mixing with the epoxy resin composition, Especially preferably, it is 120 degrees C or less.

上記ポリオルガノシロキサン(E成分)の含有量は、エポキシ樹脂組成物全体の5〜60重量%の範囲に設定する必要がある。特に好ましくは、その線膨張係数が大きくなることを考慮して、10〜40重量%の範囲である。すなわち、E成分の含有量が少なすぎると、耐熱性および耐光劣化性が低下する傾向がみられ、E成分の含有量が多すぎると、得られるエポキシ樹脂組成物硬化体自身の脆さが顕著となる傾向がみられるからである。 Content of the said polyorganosiloxane (E component) needs to set to the range of 5 to 60 weight% of the whole epoxy resin composition . Particularly preferably, it is in the range of 10 to 40% by weight in consideration of an increase in the linear expansion coefficient. That is, when the content of the E component is too small, the heat resistance and light deterioration resistance tend to be reduced, and when the content of the E component is too large, the brittleness of the resulting cured epoxy resin composition itself is significant. This is because there is a tendency to become.

さらに、本発明のエポキシ樹脂組成物には、上記A〜E成分以外に、必要に応じて、酸化防止剤、変性剤、シランカップリング剤、脱泡剤、レベリング剤、離型剤、染料、顔料、蛍光体、ガラス粉末、酸化チタン、銀粒子等の各種添加剤を適宜配合することができる。   Furthermore, in addition to the above components A to E, the epoxy resin composition of the present invention includes, as necessary, an antioxidant, a modifier, a silane coupling agent, a defoaming agent, a leveling agent, a release agent, a dye, Various additives such as pigments, phosphors, glass powders, titanium oxides, and silver particles can be appropriately blended.

上記酸化防止剤としては、例えば、フェノール系化合物、アミン系化合物、有機硫黄系化合物、ホスフィン系化合物等の酸化防止剤があげられる。上記変性剤としては、例えば、グリコール類、シリコーン類、アルコール類等の各種変性剤があげられる。上記シランカップリング剤としては、例えば、シラン系、チタネート系等の各種シランカップリング剤が用いられる。また、上記脱泡剤としては、例えば、シリコーン系等の各種脱泡剤があげられる。   Examples of the antioxidant include antioxidants such as phenol compounds, amine compounds, organic sulfur compounds, and phosphine compounds. Examples of the modifying agent include various modifying agents such as glycols, silicones, and alcohols. As said silane coupling agent, various silane coupling agents, such as a silane type and a titanate type, are used, for example. Moreover, as said defoaming agent, various defoaming agents, such as a silicone type, are mention | raise | lifted, for example.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、例えば、つぎのようにして製造することができる。すなわち、上記A〜E成分、さらには必要に応じて各種添加剤を適宜配合した後、これを混練機を用いて混練して溶融混合する。ついで、これを室温まで冷却固化し、熟成工程を経由して粉砕することにより粉末状のエポキシ樹脂組成物を製造することができる。さらに、必要に応じて、上記粉末状のエポキシ樹脂組成物を打錠しタブレット状にすることも可能である。   The epoxy resin composition of the present invention can be produced, for example, as follows. That is, the above components A to E, and various additives as necessary are blended as appropriate, and then kneaded and melt mixed using a kneader. Next, this is cooled and solidified to room temperature, and pulverized via an aging step, whereby a powdery epoxy resin composition can be produced. Furthermore, if necessary, the powdery epoxy resin composition can be tableted to form a tablet.

このようにして得られる本発明のエポキシ樹脂組成物は、発光ダイオード(LED)、各種センサー、電荷結合素子(CCD)等の光半導体素子の封止材料として用いることが可能であり、また上記LEDのリフレクター等の反射板形成材料として用いることも可能である。   The epoxy resin composition of the present invention thus obtained can be used as a sealing material for optical semiconductor elements such as light emitting diodes (LEDs), various sensors, and charge coupled devices (CCDs). It is also possible to use it as a reflector forming material such as a reflector.

本発明のエポキシ樹脂組成物を用いてなる光半導体装置は、例えば、通常のトランスファー成形や注型等の各種モールド方法を用いて光半導体素子を樹脂封止することにより製造することができる。このようにして光半導体素子が樹脂封止されてなる光半導体装置が得られる。なお、上記成形条件(エポキシ樹脂組成物の硬化条件)としては、例えば、130〜180℃×2〜8分の加熱硬化後、130〜180℃×1〜5時間の後硬化があげられる。   An optical semiconductor device using the epoxy resin composition of the present invention can be produced by, for example, resin-sealing an optical semiconductor element using various molding methods such as ordinary transfer molding and casting. In this way, an optical semiconductor device in which the optical semiconductor element is resin-sealed is obtained. The molding conditions (curing conditions for the epoxy resin composition) include, for example, 130-180 ° C. × 2-8 minutes after heat curing and 130-180 ° C. × 1-5 hours post-curing.

つぎに、実施例について比較例と併せて説明する。ただし、本発明は、これら実施例に限定されるものではない。   Next, examples will be described together with comparative examples. However, the present invention is not limited to these examples.

まず、エポキシ樹脂組成物の作製に先立って下記に示す各成分を準備した。   First, each component shown below was prepared prior to the preparation of the epoxy resin composition.

〔エポキシ樹脂〕
トリグリシジルイソシアヌレート(融点:100℃、エポキシ当量:100g/eq)
〔Epoxy resin〕
Triglycidyl isocyanurate (melting point: 100 ° C., epoxy equivalent: 100 g / eq)

〔酸無水物〕
3−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸:ヘキサヒドロ無水フタル酸=3:7(重量比)の混合物(酸当量:168g/eq)
[Acid anhydride]
Mixture of 3-methylhexahydrophthalic anhydride: hexahydrophthalic anhydride = 3: 7 (weight ratio) (acid equivalent: 168 g / eq)

〔硬化促進剤〕
ジメチルベンジルアミン
[Curing accelerator]
Dimethylbenzylamine

〔変性剤〕
変性剤a:ダイセル化学工業社製、プラクセル305
変性剤b:ダイセル化学工業社製、プラクセルL320AL
変性剤c:エチレングリコール
[Modifier]
Denaturant a: manufactured by Daicel Chemical Industries, Plaxel 305
Denaturant b: Daicel Chemical Industries, Plaxel L320AL
Denaturing agent c: ethylene glycol

〔ポリオルガノシロキサンe1〕
フェニルトリメトキシシラン206g(50mol%)およびジメチルジメトキシシラン126g(50mol%)をフラスコ内に投入し、これに1.2gの20%のHCl水溶液と40gの水との混合物を滴下した。滴下終了後、1時間還流を続けた。ついで、室温(25℃)まで冷却した後、炭酸水素ナトリウムで溶液を中和した。得られたオルガノシロキサン溶液を濾過して不純物を除去した後、ロータリーエバポレータを用いて低沸物を減圧留去することによって、液状のポリオルガノシロキサンe1を得た。得られたポリオルガノシロキサンe1は、水酸基(OH基)を6重量%含有するものであった。さらに、得られたポリオルガノシロキサンe1は、前記A2単位が0モル%、A3単位が0モル%からなり、フェニル基が60%、メチル基が40%、OH基が6重量%含有するものであった。
[Polyorganosiloxane e1]
206 g (50 mol%) of phenyltrimethoxysilane and 126 g (50 mol%) of dimethyldimethoxysilane were charged into the flask, and a mixture of 1.2 g of 20% HCl aqueous solution and 40 g of water was added dropwise thereto. After completion of the dropwise addition, refluxing was continued for 1 hour. Subsequently, after cooling to room temperature (25 degreeC), the solution was neutralized with sodium hydrogencarbonate. The obtained organosiloxane solution was filtered to remove impurities, and then a low-boiling product was distilled off under reduced pressure using a rotary evaporator to obtain a liquid polyorganosiloxane e1. The obtained polyorganosiloxane e1 contained 6% by weight of a hydroxyl group (OH group). Furthermore, the resulting polyorganosiloxane e1, the A2 unit 5 0 mol%, the unit A3 from 5 0 mol%, 60% phenyl, 40% methyl group, OH group contains 6 wt% It was a thing.

〔ポリオルガノシロキサンe2〕
メチルトリクロロシラン182.5g(90mol%)、ジメチルジクロロシラン17.5g(10mol%)およびトルエン215gの混合物を、予めフラスコ内に用意した水550g、メタノール150gおよびトルエン150gの混合溶媒に激しく撹拌しながら5分かけて滴下した。フラスコ内の温度は75℃まで上昇し、そのまま10分間撹拌を続けた。この溶液を静置し、室温(25℃)まで冷却した後、分離した水層を除去し、引き続き水を混合して撹拌後静置し、水層を除去するという水洗浄操作をトルエン層が中性になるまで行なった。残った有機層は30分還流を続け、水およびトルエンの一部を留去した。得られたオルガノシロキサンのトルエン溶液を濾過して不純物を除去した後、さらに残ったトルエンをロータリーエバポレータを用いて減圧留去することによって、固形のポリオルガノシロキサンe2を得た。得られたポリオルガノシロキサンe2は、水酸基(OH基)を6重量%含むものであった。なお、使用した上記原料クロロシランは全て反応しており、得られたポリオルガノシロキサンe2は、前記A2単位が10モル%、A3単位が90モル%からなり、メチル基が100%のものであった。
[Polyorganosiloxane e2]
A mixture of 182.5 g (90 mol%) of methyltrichlorosilane, 17.5 g (10 mol%) of dimethyldichlorosilane and 215 g of toluene was vigorously stirred in a mixed solvent of 550 g of water, 150 g of methanol and 150 g of toluene prepared in advance in the flask. It was added dropwise over 5 minutes. The temperature in the flask rose to 75 ° C., and stirring was continued for 10 minutes. This solution was allowed to stand, cooled to room temperature (25 ° C.), the separated aqueous layer was removed, water was then mixed, stirred and left to stand, and the water layer was removed. This was done until neutral. The remaining organic layer was refluxed for 30 minutes, and a part of water and toluene was distilled off. The obtained toluene solution of organosiloxane was filtered to remove impurities, and the remaining toluene was distilled off under reduced pressure using a rotary evaporator to obtain solid polyorganosiloxane e2. The obtained polyorganosiloxane e2 contained 6% by weight of a hydroxyl group (OH group). The raw material chlorosilane used had all reacted, and the obtained polyorganosiloxane e2 was composed of 10 mol% of the A2 unit, 90 mol% of the A3 unit, and 100% of the methyl group. .

〔酸化防止剤〕
三井化学社製、サンコーエポクリーン
〔Antioxidant〕
Made by Mitsui Chemicals, Sanko Epoch Clean

〔実施例1〜8、比較例1〜5〕
後記の表1〜表2に示す各成分を同表に示す割合で配合し混練して、溶融混合を行なった。ついで、熟成した後、室温まで冷却し固化して粉砕することにより目的とする粉末状のエポキシ樹脂組成物を作製した。
[Examples 1-8, Comparative Examples 1-5]
The components shown in Tables 1 and 2 to be described later were blended and kneaded in the proportions shown in the same table, and melt mixed. Subsequently, after aging, the target powdery epoxy resin composition was produced by cooling to room temperature, solidifying and pulverizing.

このようにして得られた実施例および比較例の各エポキシ樹脂組成物を用い、下記の方法に従って各種特性評価を行なった。その結果を後記の表1〜表2に併せて示す。   Using the epoxy resin compositions of Examples and Comparative Examples thus obtained, various properties were evaluated according to the following methods. The results are also shown in Tables 1 and 2 below.

〔光透過率〕
上記各エポキシ樹脂組成物を用い、厚み1mmの試験片を所定の硬化条件(条件:150℃×4分間の成形+150℃×3時間キュア)にて作製し、この試験片(硬化体)を用いて、流動パラフィン浸漬中にて測定した。測定装置には、島津製作所社製の分光光度計UV3101を使用して、波長400nmでの光透過率を室温(25℃)にて測定した。
(Light transmittance)
Using each of the above epoxy resin compositions, a test piece having a thickness of 1 mm was prepared under predetermined curing conditions (conditions: 150 ° C. × 4 minutes molding + 150 ° C. × 3 hours cure), and this test piece (cured body) was used. Then, it was measured during liquid paraffin immersion. A spectrophotometer UV3101 manufactured by Shimadzu Corporation was used as the measuring device, and the light transmittance at a wavelength of 400 nm was measured at room temperature (25 ° C.).

〔ガラス転移温度(Tg)〕
上記各エポキシ樹脂組成物を用い、所定の硬化条件(条件:150℃×4分間の成形+150℃×3時間キュア)にて10〜20mgの硬化体を作製した。そして、この硬化体を用いて、示差走査熱量計(パーキンエルマー社製、PYRIS1)にて、昇温速度10℃/分にて測定を行ない、ガラス転移温度(Tg)を測定した。
[Glass transition temperature (Tg)]
Using each of the epoxy resin compositions described above, 10 to 20 mg of a cured body was produced under predetermined curing conditions (conditions: 150 ° C. × 4 minutes molding + 150 ° C. × 3 hours curing). And using this hardening body, it measured with the temperature increase rate of 10 degree-C / min with the differential scanning calorimeter (the Perkin Elmer company make, PYRIS1), and measured the glass transition temperature (Tg).

〔曲げ強度・撓み量〕
上記各エポキシ樹脂組成物を用い、長さ90mm×幅10mm×厚み4mmの試験片を所定の硬化条件(条件:150℃×4分間の成形+150℃×3時間キュア)にて作製した。そして、この試験片(硬化体)を用い、JIS K6911に準じて、島津製作所社製のオートグラフにより、支点間距離64mm、5mm/分の速度にて曲げ強度および撓み量を測定した。
[Bending strength and deflection]
Using each of the above epoxy resin compositions, a test piece having a length of 90 mm, a width of 10 mm and a thickness of 4 mm was prepared under predetermined curing conditions (conditions: 150 ° C. × 4 minutes molding + 150 ° C. × 3 hours curing). And using this test piece (hardened body), according to JISK6911, the bending strength and the amount of deflection | deviations were measured by the speed | rate of 64 mm of distance between fulcrums, and 5 mm / min by the autograph made from Shimadzu Corporation.

〔耐光性寿命〕
上記各エポキシ樹脂組成物を用い、厚み1mmの試験片を所定の硬化条件(条件:150℃×4分間の成形+150℃×3時間キュア)にて作製した。そして、この試験片(硬化体)に波長405nmの短波長レーザー(日亜化学社製、NDHV310APC)を25mWで20μm(80W/mm2)にて照射し、硬化体を透過して得られる光の強度をパワーメーター(コヒレント社製、OP−2VIS)にて受光し測定した。その結果、受光強度が初期の50%に達するまでに要した時間(分)を測定し、この測定結果を耐光性寿命として評価した。
[Light resistance life]
Using each of the above epoxy resin compositions, a test piece having a thickness of 1 mm was produced under predetermined curing conditions (conditions: 150 ° C. × 4 minutes molding + 150 ° C. × 3 hours cure). The test piece (cured body) is irradiated with a short wavelength laser (NDHV 310APC, manufactured by Nichia Chemical Co., Ltd.) with a wavelength of 405 nm at 25 mW at 20 μm (80 W / mm 2 ), and the light obtained through the cured body is transmitted. The intensity was measured by receiving light with a power meter (manufactured by Coherent, OP-2VIS). As a result, the time (minutes) required for the received light intensity to reach 50% of the initial value was measured, and the measurement result was evaluated as the light fastness.

Figure 0005319567
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Figure 0005319567
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上記結果から、全ての実施例は、光透過率が高く透明性に優れており、また曲げ強度が高く撓み量も大きいものであり、かつ耐光性寿命も長いものであった。   From the above results, all the examples had high light transmittance, excellent transparency, high bending strength, large deflection, and long light resistance life.

これに対して、変性剤を用いなかった比較例1は、耐光性寿命は長かったが、曲げ強度が低く撓み量の小さいものであった。比較例2は、ポリオルガノシロキサンを用いず、かつポリラクトンポリオールではないエチレングリコールを変性剤として用いることから、光透過率、曲げ強度および撓み量の測定結果に関しては問題なかったが、耐光性寿命が著しく短く、耐光劣化性に劣るものであった。比較例3は、ポリオルガノシロキサンを用い、かつポリラクトンポリオールではないエチレングリコールを変性剤として用いることから、光透過率、曲げ強度および撓み量の測定結果に関しては問題なかったが、耐光性寿命が短く、耐光劣化性に劣る結果となった。比較例4は、ポリオルガノシロキサンを用い、かつポリラクトンポリオールではないエチレングリコールを多く用いることから、曲げ強度が低く撓み量の小さいものであった。また、耐光性寿命も短い評価結果となった。比較例5は、ポリラクトンポリオールを用いてはいるが、ポリオルガノシロキサンを用いていないため、耐光性寿命が短いという評価結果となった。   On the other hand, Comparative Example 1 in which no modifier was used had a long light resistance life, but had a low bending strength and a small amount of deflection. In Comparative Example 2, polyorganosiloxane was not used, and ethylene glycol, which is not a polylactone polyol, was used as a modifier. Therefore, there was no problem with respect to the measurement results of light transmittance, bending strength, and deflection amount. Was extremely short and inferior in light deterioration resistance. Comparative Example 3 uses polyorganosiloxane and uses ethylene glycol, which is not a polylactone polyol, as a modifier, so there was no problem with the measurement results of light transmittance, bending strength, and amount of deflection, but the light resistance life was The result was short and inferior in light resistance. In Comparative Example 4, polyorganosiloxane was used and a large amount of ethylene glycol that was not a polylactone polyol was used, so that the bending strength was low and the amount of deflection was small. Moreover, the light-resistant lifetime was also a short evaluation result. In Comparative Example 5, although polylactone polyol was used, polyorganosiloxane was not used, and thus the evaluation result was that the light resistance life was short.

〔光半導体装置の作製〕
つぎに、上記実施例品である粉末状の各エポキシ樹脂組成物を用いて、光半導体装置を製造した。すなわち、上記各エポキシ樹脂組成物(実施例品)を用い、専用金型を使用したトランスファー成形(150℃×4分間成形、150℃×3時間後硬化)を行ない、光半導体素子(SiNフォトダイオード:1.8mm×2.3mm×厚み0.25mm)を樹脂封止することにより表面実装型光半導体装置を作製した。この表面実装型光半導体装置は、8ピンのスモールアウトラインパッケージ〔SOP−8:4.9mm×3.9mm×厚み1.5mm、リードフレーム:42アロイ合金素体の表面全面に銀メッキ層(厚み0.5μm)〕である。得られた光半導体装置は樹脂封止部分にクラックも形成されず良好なものが得られた。
[Production of optical semiconductor devices]
Next, the optical semiconductor device was manufactured using each powdery epoxy resin composition which is the product of the above example. That is, transfer molding (molding at 150 ° C. for 4 minutes, post-curing at 150 ° C. for 3 hours) using a special mold is performed using each of the epoxy resin compositions (example products), and an optical semiconductor element (SiN photodiode). : 1.8 mm × 2.3 mm × thickness 0.25 mm) was resin-sealed to produce a surface-mount type optical semiconductor device. This surface-mount type optical semiconductor device has an 8-pin small outline package [SOP-8: 4.9 mm × 3.9 mm × thickness 1.5 mm, lead frame: silver alloy layer (thickness) on the entire surface of a 42 alloy alloy body. 0.5 μm)]. The obtained optical semiconductor device was good because no crack was formed in the resin-encapsulated portion.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、発光ダイオード(LED)、各種センサー、電荷結合素子(CCD)等の光半導体素子の封止材料として有用であり、さらに上記LEDのリフレクター等のような反射板形成材料として用いることも可能である。   The epoxy resin composition of the present invention is useful as a sealing material for optical semiconductor elements such as light emitting diodes (LEDs), various sensors, and charge coupled devices (CCDs), and further, for forming reflectors such as the above-mentioned LED reflectors. It can also be used as a material.

Claims (4)

下記の(A)〜(E)成分を含有する光半導体装置用エポキシ樹脂組成物であって、(A)成分と(B)成分との配合割合が、(A)成分中のエポキシ基1当量に対して、(B)成分中におけるエポキシ基と反応可能な活性基(酸無水物基または水酸基)が0.5〜1.5当量であり、(D)成分の含有量が、エポキシ樹脂組成物中の樹脂成分全体の5〜20重量%であり、(E)成分の含有量が、エポキシ樹脂組成物全体の5〜60重量%であることを特徴とする光半導体装置用エポキシ樹脂組成物。
(A)1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂。
(B)酸無水物系硬化剤。
(C)硬化促進剤。
(D)ポリラクトンポリオール。
(E)下記の一般式(1)で表されるポリオルガノシロキサン。
〔化1〕
m (OR 1 n SiO (4-m-n)/2 ・・・(1)
〔式(1)中、Rは炭素数1〜18の置換または未置換の飽和一価炭化水素基であり、同じであっても異なっていてもよい。また、R 1 は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基であり、同じであっても異なっていてもよい。さらに、m,nは各々0〜3の整数である。〕
An epoxy resin composition for an optical semiconductor device containing the following components (A) to (E), wherein the blending ratio of the component (A) and the component (B) is 1 equivalent of the epoxy group in the component (A) On the other hand, the active group (acid anhydride group or hydroxyl group) capable of reacting with the epoxy group in component (B) is 0.5 to 1.5 equivalents, and the content of component (D) is the epoxy resin composition. 5 to 20% by weight of the total resin component in the product, and the content of the component (E) is 5 to 60% by weight of the entire epoxy resin composition. .
(A) An epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule.
(B) An acid anhydride curing agent.
(C) A curing accelerator.
(D) Polylactone polyol.
(E) Polyorganosiloxane represented by the following general formula (1) .
[Chemical formula 1]
R m (OR 1 ) n SiO (4-mn) / 2 (1)
[In Formula (1), R is a C1-C18 substituted or unsubstituted saturated monovalent hydrocarbon group, and may be the same or different. R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and may be the same or different. Further, m and n are each an integer of 0 to 3. ]
上記()成分の含有量が、(A)成分100重量部に対して0.01〜8.0重量部である請求項1記載の光半導体装置用エポキシ樹脂組成物 The epoxy resin composition for an optical semiconductor device according to claim 1 , wherein the content of the component ( C ) is 0.01 to 8.0 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the component (A) . 請求項1または2記載の光半導体装置用エポキシ樹脂組成物を加熱硬化してなることを特徴とする光半導体装置用エポキシ樹脂組成物硬化体。 A cured epoxy resin composition for an optical semiconductor device, which is obtained by heat-curing the epoxy resin composition for an optical semiconductor device according to claim 1 or 2 . 請求項1または2記載の光半導体装置用エポキシ樹脂組成物を用いて、光半導体素子を樹脂封止してなる光半導体装置。 An optical semiconductor device obtained by resin-sealing an optical semiconductor element using the epoxy resin composition for an optical semiconductor device according to claim 1 or 2 .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014148595A (en) * 2013-01-31 2014-08-21 Nippon Shokubai Co Ltd Resin composition for sealing optical semiconductor, optical semiconductor sealing material, and optical semiconductor device

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03160061A (en) * 1989-11-17 1991-07-10 Nippon Paint Co Ltd Amic acid modified resin
JP5329043B2 (en) * 2004-12-16 2013-10-30 株式会社ダイセル Thermosetting epoxy resin composition and use thereof
JP4799883B2 (en) * 2005-03-01 2011-10-26 日東電工株式会社 Epoxy resin composition cured body, method for producing the same, and optical semiconductor device using the same
MY143212A (en) * 2005-03-01 2011-03-31 Nitto Denko Corp Photosemiconductor encapsulant of epoxy resin, anhydride and aromatic silicone resin
JP4969095B2 (en) * 2005-12-19 2012-07-04 株式会社ダイセル Curable resin composition and method for producing the same
JP4926505B2 (en) * 2006-03-13 2012-05-09 株式会社ダイセル Optical three-dimensional resin composition
JP2007308683A (en) * 2006-04-17 2007-11-29 Hitachi Chem Co Ltd Epoxy resin curing agent, epoxy resin composition, epoxy resin cured product and optical member using the same
JP2010144015A (en) * 2008-12-17 2010-07-01 Nitto Denko Corp Epoxy resin composition for sealing optical semiconductor element, and optical semiconductor device using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3118235A1 (en) 2015-07-14 2017-01-18 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Heat-curable epoxy resin composition for optical semiconductor element encapsulation and optical semiconductor device using same
US10008646B2 (en) 2015-07-14 2018-06-26 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Heat-curable epoxy resin composition for optical semiconductor element encapsulation and optical semiconductor device using same

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