JP5307476B2 - Surface-treated ceramic member and manufacturing method thereof - Google Patents

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本発明は、表面処理を施したセラミックス部材およびその製造方法に係り、より詳しくは、例えば、半導体デバイス製造装置、液晶ディスプレイ製造装置、精密分析機器の加熱ユニットなどにおいて、加熱処理に供される部材、または、処理ガス雰囲気プラズマ雰囲気もしくは熱処理時の真空雰囲気に曝される部材に用いるのに適した表面処理セラミックス部材およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a surface-treated ceramic member and a method for manufacturing the same, and more specifically, for example, a member to be subjected to heat treatment in a semiconductor device manufacturing apparatus, a liquid crystal display manufacturing apparatus, a heating unit of a precision analytical instrument, or the like. Alternatively, the present invention relates to a surface-treated ceramic member suitable for use in a member exposed to a processing gas atmosphere plasma atmosphere or a vacuum atmosphere during heat treatment, and a method of manufacturing the same.

半導体デバイス製造装置などのプラズマチャンバー用部材などの腐食性ガスに曝される部材には、耐食性に優れるセラミックスが用いられている。これは、耐食性に劣る材料では、装置寿命が短いという問題があると共に、腐食性ガスとの反応生成物がパーティクルとしてデバイスに付着し、デバイスの品質劣化をもたらす場合があるからである。このような用途には、アルミナなどの一般的なセラミックス材料の他、AlN、Y23などのより耐食性に優れる材料が用いられる。 Ceramics having excellent corrosion resistance are used for members exposed to corrosive gases such as plasma chamber members for semiconductor device manufacturing apparatuses. This is because a material with poor corrosion resistance has a problem that the device life is short, and a reaction product with a corrosive gas adheres to the device as particles, which may cause deterioration of the quality of the device. For such applications, in addition to general ceramic materials such as alumina, materials having higher corrosion resistance such as AlN and Y 2 O 3 are used.

しかしながら、材料の変更だけではパーティクルを完全に防止するには至らない。すなわち、セラミックス部材は脆性材料の加工品であるため、必ず表層には凹部(気孔、マイクロクラック、加工傷など)が存在するが、凹部内に表面研削工程などにおいて発生した微粒子が入り込む場合がある。このような凹部内微粒子は、通常の洗浄工程を経ても完全に除去するのは難しい。また、セラミックス部材の製造工程中にはマイクロクラックが発生する場合もある。このような微粒子やマイクロクラックが高温雰囲気、処理ガス雰囲気、プラズマ雰囲気もしくは熱処理時の真空雰囲気などに曝されると、パーティクルとして飛散する。   However, changing the material alone does not completely prevent the particles. That is, since the ceramic member is a processed product of a brittle material, the surface layer always has recesses (pores, microcracks, processing flaws, etc.), but fine particles generated in the surface grinding process may enter the recesses. . It is difficult to completely remove such fine particles in the recess even after a normal cleaning process. In addition, micro cracks may occur during the manufacturing process of the ceramic member. When such fine particles and microcracks are exposed to a high temperature atmosphere, a processing gas atmosphere, a plasma atmosphere, a vacuum atmosphere during heat treatment, or the like, they are scattered as particles.

従来、セラミックス部材のパーティクルの飛散を防止する方法についての提案がいくつかなされている。   Conventionally, several proposals have been made on methods for preventing scattering of particles of ceramic members.

特許文献1には、「セラミックス製品を洗浄する方法であって、前記セラミックス製品の被洗浄面に溶剤を塗布し、次いでこの溶剤に可溶性の材料からなるフィルムを前記被洗浄面に接触させ、前記フィルムを前記被洗浄面から剥離させることによって前記被洗浄面を洗浄することを特徴とする、セラミックス製品の洗浄方法」に関する発明が開示されている。この発明では、溶剤によってフィルムの被洗浄面に対する接触部分が溶融し、被洗浄面の形態の凹凸に対して追従するため、被洗浄面に存在するパーティクルが、フィルムの溶融した部分に包み込まれる。その結果、フィルムを被洗浄面から剥離させると、フィルムの接触面側にパーティクルが固定化され、被洗浄面から取り除かれるとされている。   In Patent Document 1, “a method for cleaning a ceramic product, in which a solvent is applied to the surface to be cleaned of the ceramic product, and then a film made of a material soluble in the solvent is brought into contact with the surface to be cleaned, An invention relating to “a method for cleaning a ceramic product, wherein the surface to be cleaned is cleaned by peeling the film from the surface to be cleaned” is disclosed. In this invention, the contact portion of the film to the surface to be cleaned is melted by the solvent and follows the unevenness of the shape of the surface to be cleaned, so that the particles present on the surface to be cleaned are wrapped in the melted portion of the film. As a result, when the film is peeled off from the surface to be cleaned, particles are fixed on the contact surface side of the film and removed from the surface to be cleaned.

特許文献2には、「99.2重量%以上、99.99重量%以下の酸化アルミニウムと残部がアルミニウム以外の金属の酸化物からなり、平均粒子径が0.5μm以上、15μm以下で、かつ密度が3.88 g/cm3以上、3.97 g/cm3以下である焼結体、または研削加工した焼結体を、1000℃以上、1550℃以下の温度で0.1時間以上、6時間以下にわたり加熱処理したことを特徴とするアルミナセラミックス焼結体」に関する発明が開示されている。 Patent Document 2 discloses that “99.2% by weight or more and 99.99% by weight or less of aluminum oxide and the balance is an oxide of a metal other than aluminum, the average particle diameter is 0.5 μm or more and 15 μm or less, and A sintered body having a density of 3.88 g / cm 3 or more and 3.97 g / cm 3 or less, or a sintered sintered body at a temperature of 1000 ° C. or more and 1550 ° C. or less for 0.1 hour or more, An invention relating to an “alumina ceramic sintered body characterized by being heat-treated for 6 hours or less” is disclosed.

また、セラミックス材料の耐食性を向上させる方法として、主として溶射セラミックスについて、耐食性の高い皮膜を形成する発明も提案されている。   Further, as a method for improving the corrosion resistance of ceramic materials, an invention has been proposed in which a coating having high corrosion resistance is formed mainly for sprayed ceramics.

特許文献3には「ハロゲン系腐食ガス環境下またはハロゲン系腐食ガスのプラズマの環境下で用いられる耐食性複合部材であって、基材と、基材上の少なくともハロゲン系腐食ガスまたはハロゲン系腐食ガスのプラズマに曝される部位に設けられたセラミックスゾル/ゲルにより形成された被膜とを有することを特徴とする耐食性複合部材」に関する発明が開示されている。   Patent Document 3 states that “a corrosion-resistant composite member used in a halogen-based corrosive gas environment or in a plasma environment of a halogen-based corrosive gas, the base material and at least a halogen-based corrosive gas or a halogen-based corrosive gas on the base material. And a coating formed of a ceramic sol / gel provided at a portion exposed to the plasma of the above, an invention relating to a “corrosion resistant composite member” is disclosed.

特許文献4には「溶射用の前加工をした基材表面に、単一金属または合金またはサーメットあるいはセラミックスを溶射し、その後溶射皮膜内の気孔中で封孔物を形成する浸透性の良い封孔液を塗布または含浸し、時効または熱処理を行って封孔処理をした後、ガラス質形成成分を溶解または懸濁した液を刷毛塗りまたは噴霧により塗布し、常温乾燥または900℃以下の温度で焼成することによりガラス質表層皮膜を形成することを特徴とする耐食性を有し、長期間使用に耐える複合皮膜の形成方法」に関する発明が開示されている。   Patent Document 4 states that “a single metal, alloy, cermet, or ceramic is sprayed on the surface of a base material that has been pre-processed for thermal spraying, and then a sealed material is formed in the pores in the thermal spray coating. After applying or impregnating the pore liquid, performing aging or heat treatment and sealing treatment, a solution in which the vitreous forming component is dissolved or suspended is applied by brushing or spraying, and dried at room temperature or at a temperature of 900 ° C. or lower. An invention relating to “a method of forming a composite film having corrosion resistance, characterized by forming a glassy surface film by firing and having a long-term use” is disclosed.

特許文献5には「セラミック部材上に設けられる複合コーティング材料であって、開気孔を有するセラミック多孔体と、前記開気孔に含浸されている樹脂とを備えていることを特徴とする、複合コーティング材料」に関する発明が開示されており、その実施例では、セラミック多孔体が溶射法によって形成されているもののみが記載されている。   Patent Document 5 states that “a composite coating material provided on a ceramic member, comprising: a ceramic porous body having open pores; and a resin impregnated in the open pores. The invention relating to “material” is disclosed, and in the examples, only the ceramic porous body formed by the thermal spraying method is described.

特許文献6には「溶射によって得られたセラミックス絶縁層において、気体と樹脂との温度差による収縮率の違いを利用して、このセラミックス絶縁層に発生した気孔の入口に熱硬化性樹脂からなる封孔体を形成したことを特徴とする封孔処理セラミックス絶縁層」に関する発明が記載されている。   In Patent Document 6, “a ceramic insulating layer obtained by thermal spraying is made of a thermosetting resin at the entrance of pores generated in the ceramic insulating layer by utilizing the difference in shrinkage due to the temperature difference between the gas and the resin. An invention relating to a “sealing treated ceramic insulating layer characterized in that a sealing body is formed” is described.

特開平11−21187JP-A-11-21187 特開平8−81258JP-A-8-81258 特開2003−335589JP 2003-335589 A 特開2001−152307JP2001-152307 特開2003−119087JP2003-119087 特開2002−180233JP 2002-180233 A

特許文献1に記載の発明では、セラミックスの表面にフィルムを形成し、そのフィルムを被洗浄面から剥離させることによりパーティクルの原因となる微粒子を除去するものであるが、粒界、気孔内に入り込んだ微粒子の除去は困難である。   In the invention described in Patent Document 1, a film is formed on the surface of the ceramic and the fine particles that cause particles are removed by peeling the film from the surface to be cleaned. It is difficult to remove fine particles.

特許文献2に記載の発明は、1000〜1550℃の熱処理によってパーティクルの原因となるマイクロクラックを修復することとしているが、粒界、気孔内に入り込んだ微粒子の除去はできない。   In the invention described in Patent Document 2, microcracks that cause particles are repaired by heat treatment at 1000 to 1550 ° C., but the fine particles that enter the grain boundaries and pores cannot be removed.

特許文献3〜6に記載の発明は、いずれも溶射セラミックスへの皮膜形成を目的とするものであり、そもそもパーティクルの問題を解決するものではない。また、特許文献3〜5は、セラミックス表面の全面に皮膜を形成させるものであるから、セラミックスの機能を発揮できない。   The inventions described in Patent Documents 3 to 6 are all for the purpose of forming a film on thermal sprayed ceramics, and do not solve the problem of particles in the first place. Moreover, since patent documents 3 to 5 form a film on the entire surface of the ceramic surface, the function of the ceramic cannot be exhibited.

本発明者らは、上記の問題を解決するために、セラミックス焼結体が有する優れた耐食性を維持しつつ、恒久的にパーティクルの発生を防止する方法について鋭意研究を行った結果、下記の知見を得た。   In order to solve the above problems, the present inventors conducted extensive research on a method for permanently preventing the generation of particles while maintaining the excellent corrosion resistance of the ceramic sintered body. Got.

(A)セラミックス焼結体の全面を皮膜で覆ったのではセラミックス焼結体が本来有する機能を発揮できず、耐食性部材としての機能が皮膜の性能によって左右されることになる。また、全面被覆の場合、剥離等の耐久性の問題がある。従って、セラミックス焼結体の全面(処理雰囲気と接触する面の全面)を覆わない構成とするのが望ましい。   (A) If the entire surface of the ceramic sintered body is covered with a film, the function inherent to the ceramic sintered body cannot be exhibited, and the function as a corrosion-resistant member depends on the performance of the film. Further, in the case of full-surface coating, there is a problem of durability such as peeling. Therefore, it is desirable to have a configuration that does not cover the entire surface of the ceramic sintered body (the entire surface in contact with the processing atmosphere).

(B)パーティクルの発生原因の一つは、焼成時、研削加工時などに生じるセラミックスの微粒子の飛散によるものである。即ち、焼成炉内に飛散したセラミックス微粒子、研削加工時に発生したセラミックス微粒子などは、セラミックス焼結体表面に付着するが、超音波洗浄等の従来知られている様々な洗浄方法を用いたとしても、結晶粒界の隙間、微小気孔内、加工傷内などに入り込んだ微粒子を完全に除去することは困難である。従って、これらの微小空間に残存したセラミックス微粒子を除去するのではなく、セラミックス微粒子を微小空間内に固定することが必要である。   (B) One of the causes of generation of particles is due to scattering of ceramic fine particles generated during firing or grinding. That is, the ceramic fine particles scattered in the firing furnace and the ceramic fine particles generated during the grinding process adhere to the surface of the ceramic sintered body, but even if various conventionally known cleaning methods such as ultrasonic cleaning are used. It is difficult to completely remove the fine particles that have entered the gaps between the crystal grain boundaries, the micropores, the processing flaws, and the like. Therefore, it is necessary to fix the ceramic fine particles in the minute space instead of removing the ceramic fine particles remaining in the minute space.

(C)パーティクルの発生原因のもう一つは、セラミックス部材に生じたマイクロクラックにより発生した微小片が装置運転中に脱落することによるものである。従って、セラミックス部材の表面には、マイクロクラックによる微小片の脱落を防止するための定着材を存在させることが必要である。   (C) Another cause of the generation of particles is that microscopic pieces generated by microcracks generated in the ceramic member fall off during operation of the apparatus. Therefore, it is necessary that a fixing material for preventing the micro-pieces from dropping off due to micro cracks is present on the surface of the ceramic member.

本発明は、上記の知見に基づいてなされたものであり、セラミックス焼結体が本来有する機能を発揮しつつ、パーティクルの飛散が発生しないセラミックス部材およびその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made on the basis of the above knowledge, and an object of the present invention is to provide a ceramic member that exhibits the function originally possessed by a ceramic sintered body and that does not cause particle scattering and a method for manufacturing the same.

本発明は、下記に示す表面処理セラミックス部材および表面処理セラミックス部材の製造方法を要旨とする。
The present invention is summarized as a method for producing a surface-treated ceramic member and Table surfaces treated ceramic member shown below SL.

(1)気孔率が1%以下のセラミックス焼結体基材の少なくとも一部に皮膜形成表面を有するセラミックス部材であって、皮膜形成表面が、ゾルゲル膜、樹脂膜又はこれらの複合膜で構成される皮膜(ケイ素アルコキシド化合物重合体のゾルゲル膜のみからなる皮膜を除く。)と基材表面とが混在してなり、皮膜の面積率が、皮膜形成表面全体の5〜80%であり、セラミックス焼結体表面の凹部が選択的に皮膜によって被覆されている表面処理セラミックス部材。 (1) A ceramic member having a film-forming surface on at least a part of a ceramic sintered body substrate having a porosity of 1% or less, wherein the film-forming surface is composed of a sol-gel film, a resin film, or a composite film thereof. Film (excluding a film consisting only of a sol-gel film of a silicon alkoxide compound polymer) and the substrate surface, and the area ratio of the film is 5 to 80% of the entire film-forming surface, A surface-treated ceramic member in which concave portions on the surface of the bonded body are selectively covered with a film.

(2)皮膜の面積率が、表面処理面全体の5〜80%である上記(1)に記載の表面処理セラミックス部材。   (2) The surface-treated ceramic member according to (1), wherein the area ratio of the film is 5 to 80% of the entire surface-treated surface.

(2)ゾルゲル膜が、金属アルコキシド化合物重合体で構成される上記(1)に記載の表面処理セラミックス部材。
(2) The surface-treated ceramic member according to (1) , wherein the sol-gel film is composed of a metal alkoxide compound polymer.

(3)樹脂膜が、ガラス転移点100℃以上の樹脂組成物で構成される上記(1)または(2)のいずれかに記載の表面処理セラミックス部材。
(3) The surface-treated ceramic member according to either (1) or (2) , wherein the resin film is composed of a resin composition having a glass transition point of 100 ° C. or higher.

(4)半導体または電子デバイス製造装置に用いられる上記(1)〜(3)のいずれかに記載の表面処理セラミックス部材。
(4) The surface-treated ceramic member according to any one of (1) to (3) , which is used in a semiconductor or electronic device manufacturing apparatus.

(5)気孔率が1%以下のセラミックス焼結体基体の表面にゾルゲル膜、樹脂膜又はこれらの複合膜で構成される皮膜材(ケイ素アルコキシド化合物重合体のゾルゲル膜のみからなる皮膜材を除く。)を塗布した後、硬化前の皮膜材がセラミックス焼結体表面の凹部に残存するような条件で、皮膜の面積率が皮膜形成表面全体の5〜80%となるように皮膜材の一部を除去し、セラミックス焼結体表面の凹部に残存した皮膜材を硬化させることを特徴とする表面処理セラミックス部材の製造方法。
(5) Coating material composed of a sol-gel film, a resin film, or a composite film thereof on the surface of a ceramic sintered body base with a porosity of 1% or less (excluding a coating material consisting only of a sol-gel film of a silicon alkoxide compound polymer) .) Is applied, and the film material before curing is left in the recesses on the surface of the ceramic sintered body so that the area ratio of the film becomes 5 to 80% of the entire film forming surface. A method for producing a surface-treated ceramic member, comprising removing the portion and curing the coating material remaining in the concave portion on the surface of the ceramic sintered body.

(6)皮膜材の一部の除去が、拭き取りにより行われる上記(5)に記載の表面処理セラミックス部材の製造方法。
(6) The method for producing a surface-treated ceramic member according to (5) , wherein part of the coating material is removed by wiping.

本発明によれば、セラミックス焼結体が本来有する機能、即ち、優れた耐食性を発揮しつつ、焼結時、研削加工時などに発生し、セラミックス焼結体表面の気孔内などの微小空間に残存した微粒子またはマイクロクラックに起因して発生するパーティクルの飛散を防止することができる。   According to the present invention, the ceramic sintered body originally has the function, that is, exhibits excellent corrosion resistance, occurs during sintering, grinding, etc., and is formed in a minute space such as a pore on the surface of the ceramic sintered body. It is possible to prevent scattering of particles generated due to the remaining fine particles or microcracks.

1.セラミックス焼結体
セラミックス焼結体としては、本来の化学的に安定な機能を発現させるために、気孔率が1%以下の緻密質で微小組織を呈するものを用いる。気孔率が1%を超えると、機械的特性及び耐食性が低下するからである。また、セラミックス溶射被膜の場合は、緻密に焼結した焼結体と比較すると多孔質であり、さらに機械的強度が弱いとともに、比表面積が大きいので、耐食性も劣る。このため、脱粒などによるパーティクルが発生しやすい材料であるため、本発明の表面処理セラミックス部材には用いることができない。
1. Ceramic sintered body As the ceramic sintered body, in order to express the original chemically stable function, a ceramic sintered body having a fine structure with a porosity of 1% or less is used. This is because if the porosity exceeds 1%, the mechanical properties and corrosion resistance deteriorate. Further, in the case of a ceramic sprayed coating, it is more porous than a sintered body that is densely sintered, and has a low mechanical strength and a large specific surface area, and therefore has poor corrosion resistance. For this reason, since it is a material which easily generates particles due to degranulation, it cannot be used for the surface-treated ceramic member of the present invention.

本発明に用いるセラミックス材料には、特に制限はないが、アルミナ、イットリア、ジルコニア、ムライト、コーディエライト、炭化珪素、窒化珪素、窒化アルミニウム、サイアロン等の一般的なセラミックス材料を用いることができる。このうち、特に、耐食性及び耐熱性に優れるアルミナ、窒化アルミニウム、イットリアなどを用いるのが望ましい。   The ceramic material used in the present invention is not particularly limited, and general ceramic materials such as alumina, yttria, zirconia, mullite, cordierite, silicon carbide, silicon nitride, aluminum nitride, and sialon can be used. Among these, it is particularly desirable to use alumina, aluminum nitride, yttria, etc., which are excellent in corrosion resistance and heat resistance.

セラミックス焼結体の製造方法には、特に制限はなく、一般的な製造方法を採用すればよい。例えば、平均粒径で0.01〜1μm程度の粉末原料に、公知の成形バインダーを添加し、スプレードライ法などの公知の方法により造粒した後、金型プレス、CIP(冷間静水圧成形)により得られた成形体を焼成して製造することができる。粉末原料には、必要に応じて公知の焼結助剤を添加してもよい。このとき、酸化物系セラミックスであれば、大気炉を用いることができる。また、非酸化物系セラミックスであれば、真空炉のほか、窒素、アルゴン等の雰囲気焼成炉を用いることができる。   There is no restriction | limiting in particular in the manufacturing method of a ceramic sintered compact, What is necessary is just to employ | adopt a general manufacturing method. For example, after adding a known molding binder to a powder raw material having an average particle diameter of about 0.01 to 1 μm and granulating it by a known method such as a spray drying method, a die press, CIP (cold isostatic pressing) ) Can be produced by firing. A known sintering aid may be added to the powder raw material as necessary. At this time, an atmospheric furnace can be used as long as it is an oxide-based ceramic. For non-oxide ceramics, an atmosphere firing furnace such as nitrogen or argon can be used in addition to a vacuum furnace.

2.皮膜材料
本発明の表面処理セラミックス部材は、上記のセラミックス焼結体の表面に皮膜を形成したものである。この皮膜材としては、例えば、酸化物懸濁物の有機樹脂溶液、クロム酸溶液、無機コロイド液等を用いることもできるが、これらの皮膜材では、本発明で用いられる緻密質のセラミックス焼結体に塗布したところで、パーティクルを完全に防止するのは難しい。また、固形物を含まない樹脂溶液であれば、塗布、拭き取り、硬化を容易に行うことができるが、例えば、ポリスチレンは、アセトンなどの有機溶剤で簡単に溶解できるが、膜自体の耐熱性が劣るため、装置の運転温度である100℃以上の環境では、脱落しやすい。従って、固形分を含まない樹脂溶液は、耐熱性があるものを用いるのが望ましい。
本発明に用いる皮膜材としては、ゾルゲル、樹脂またはこれらの混合材料を用いるのがより望ましい。これらの材料は、室温で液状であり、その後、縮重合、加水分解反応等により硬化し、スパッタリング等のデバイス処理装置における運転温度(100℃以上)において安定に存在する材料だからである。
2. Film Material The surface-treated ceramic member of the present invention is obtained by forming a film on the surface of the ceramic sintered body. As the coating material, for example, an organic resin solution of an oxide suspension, a chromic acid solution, an inorganic colloidal solution, and the like can be used. In these coating materials, the dense ceramic sintered material used in the present invention is used. Once applied to the body, it is difficult to completely prevent particles. In addition, if the resin solution does not contain solids, it can be easily applied, wiped off, and cured. For example, polystyrene can be easily dissolved in an organic solvent such as acetone, but the heat resistance of the film itself is low. Since it is inferior, it is easy to drop off in an environment where the operating temperature of the apparatus is 100 ° C or higher. Therefore, it is desirable to use a heat-resistant resin solution that does not contain solids.
As the film material used in the present invention, it is more desirable to use sol-gel, resin or a mixed material thereof. This is because these materials are liquid at room temperature, and then cured by condensation polymerization, hydrolysis reaction, or the like, and exist stably at the operating temperature (100 ° C. or higher) in a device processing apparatus such as sputtering.

ゾルゲル膜としては、Al、Zr、Ti、Y系のアルコキシド化合物を、加水分解により硬化し、金属酸化物を形成する化合物を用いるのが望ましい。また、これらとSi系アルコキシド化合物との複合膜としてもよい。これらのアルコキシド化合物は、室温で容易に硬化し、その融点が使用温度の上限である150℃を遙かに上回るため、運転中も安定的に存在するからである。ゾルゲル膜は、溶液を用いて膜を形成できる点で簡便である。   As the sol-gel film, it is desirable to use a compound that forms a metal oxide by curing an Al, Zr, Ti, Y-based alkoxide compound by hydrolysis. Moreover, it is good also as a composite film of these and Si type | system | group alkoxide compounds. This is because these alkoxide compounds are easily cured at room temperature and have a melting point far exceeding 150 ° C., which is the upper limit of the use temperature, and thus exist stably during operation. The sol-gel film is simple in that a film can be formed using a solution.

樹脂膜としては、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、フッ素樹脂、シリコン樹脂等の室温または加熱により硬化する樹脂を用いるのが望ましい。特に、ガラス転移点が100℃以上の重合体で構成されることが望ましい。これは、デバイス処理装置の使用時の熱負荷に耐えうる耐熱性を付与するためである。ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、フッ素樹脂などは、溶剤に殆ど不溶で液状化するのが困難であるため、前駆物質の溶液を塗布し、熱硬化、硬化剤等の添加、紫外線照射、吸湿による経時硬化等により架橋・重合反応を進行させることで、硬化させる方法を採用するのが好ましい。前駆物質は未重合で低分子であるため、溶剤による溶液化が容易だからである。また、加温融解する樹脂の場合、樹脂体の微粉末を分散させた懸濁・コロイド溶液の形態で塗布し、これを拭き取った後、加温溶着により膜化してもよい。   As the resin film, it is desirable to use a resin that is cured at room temperature or by heating, such as polyimide resin, phenol resin, epoxy resin, fluororesin, or silicon resin. In particular, it is desirable to be composed of a polymer having a glass transition point of 100 ° C. or higher. This is to provide heat resistance that can withstand the heat load during use of the device processing apparatus. Since polyimide resins, epoxy resins, fluororesins, etc. are almost insoluble in solvents and difficult to liquefy, apply precursor solutions, heat cure, add curing agents, etc., cure with time by UV irradiation, moisture absorption It is preferable to employ a method of curing by allowing the crosslinking / polymerization reaction to proceed. This is because the precursor is unpolymerized and has a low molecular weight, so that it can be easily dissolved in a solvent. Further, in the case of a resin that is heated and melted, it may be applied in the form of a suspension / colloid solution in which fine powder of a resin body is dispersed, wiped off, and then formed into a film by warm welding.

具体的には、ポリイミド樹脂では、芳香族系の前駆体を加熱反応させて硬化させればよく、フェノール樹脂では、フェノール系化合物、ホルムアルデヒド等を加熱反応させて硬化させればよい。また、エポキシ樹脂の場合、前駆体であり、混合することで重合反応を起こす低分子エポキシ化合物とアミン系化合物とを混合し、硬化前に塗布、拭き取りするのがよい。エポキシ樹脂では紫外線等を照射することで架橋・硬化反応を進行させる光硬化系の材料を選択してもよい。フッ素樹脂の場合、微粉末化した樹脂体を使用し、この懸濁液を塗布し、拭き取った後、溶着可能な温度まで加温して膜化するのがよい。   Specifically, with a polyimide resin, an aromatic precursor may be cured by heating, and with a phenol resin, a phenolic compound, formaldehyde, or the like may be cured by heating. Moreover, in the case of an epoxy resin, it is a precursor and it is good to mix the low molecular epoxy compound which raise | generates a polymerization reaction by mixing, and an amine compound, and to apply | coat and wipe off before hardening. For the epoxy resin, a photo-curing material that allows the crosslinking / curing reaction to proceed by irradiation with ultraviolet rays or the like may be selected. In the case of a fluororesin, it is preferable to use a finely powdered resin body, apply this suspension, wipe off, and then heat to a temperature capable of welding to form a film.

上記の皮膜は、セラミックス焼結体の少なくとも半導体製造装置などにおいて処理雰囲気に曝される表面に存在する凹部(結晶粒界の隙間、微小気孔、加工傷など)に選択的に埋め込まれ、凹部以外の部分にはセラミックス焼結体が露出するように形成させ、セラミックス焼結体の処理表面がセラミックス焼結体基材の表面と皮膜の表面とが混在している必要がある。ここで処理雰囲気とは、処理ガス雰囲気(アルゴンガス、水素ガス、ハロゲン等の腐食ガスなど)、プラズマ雰囲気、熱処理時の真空雰囲気などである。   The above film is selectively embedded in recesses (clearance of crystal grain boundaries, micropores, processing flaws, etc.) existing on the surface of ceramic sintered body exposed to the processing atmosphere in at least semiconductor manufacturing equipment, etc. In this part, the ceramic sintered body is formed to be exposed, and the surface of the ceramic sintered body needs to be mixed with the surface of the ceramic sintered body substrate and the surface of the film. Here, the processing atmosphere includes a processing gas atmosphere (such as a corrosive gas such as argon gas, hydrogen gas, and halogen), a plasma atmosphere, and a vacuum atmosphere during heat treatment.

これは、前掲のように、セラミックス焼結体の凹部には微粒子などが残存しており、また、焼成工程、加工工程などにおいてマイクロクラックが形成されている場合がある。上記の皮膜は、凹部を選択的に被覆し、そこに存在する微粒子を捕捉して飛散を防止すると共に、マイクロクラックにより生じた微小片の脱落をも防止する役割を担う。その一方で、耐食性に優れるセラミックス焼結体が露出している。このセラミックス焼結体が露出した面は、もともと凹みがない平滑な部分であるので、洗浄等により微粒子を除去しやすく、パーティクルが発生しにくいため、この部分は、セラミックス焼結体を露出させて、本来の機能を発揮させるべき部位である。   This is because, as described above, fine particles or the like remain in the concave portions of the ceramic sintered body, and microcracks may be formed in the firing step, the processing step, or the like. The above-mentioned film selectively covers the recesses, captures the fine particles present therein, prevents scattering, and also plays a role of preventing the falling off of the fine pieces caused by the microcracks. On the other hand, the ceramic sintered body excellent in corrosion resistance is exposed. The surface on which this ceramic sintered body is exposed is a smooth part that is originally free of dents. Therefore, it is easy to remove fine particles by washing, etc., and particles are not easily generated. It is a part that should exhibit its original function.

セラミックス焼結体の処理表面における皮膜の面積率は、表面処理面全体の5〜80%を占めることが望ましい。即ち、皮膜の面積率が5%未満の場合には、上記の微粒子等の捕捉効果が不十分となり、パーティクルの飛散を防止できないおそれがあり、一方、その面積率が80%を超えると、セラミックス焼結体の本来の機能を発揮できないおそれがある。   The area ratio of the coating on the treated surface of the ceramic sintered body desirably occupies 5 to 80% of the entire surface treated surface. That is, when the area ratio of the film is less than 5%, the effect of capturing the above-mentioned fine particles and the like is insufficient, and the scattering of the particles may not be prevented. On the other hand, when the area ratio exceeds 80%, the ceramics There is a possibility that the original function of the sintered body cannot be exhibited.

皮膜の面積率は、以下の方法により求めることができる。
(1)表面処理セラミックス部材の任意箇所を波長分散型の電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)にて皮膜材由来の主要元素(例えば、ポリイミド樹脂の場合、主要元素はCである)の分布比率をマッピングする。
(2)上記(1)と同様の方法でセラミックス基材由来の主要元素(例えば、アルミナの場合、主要元素はAlである。)の分布比率をマッピングし、補完関係になっていることを確認する。
(3)検出されたX線検出強度とその面積比から、皮膜材由来の主要元素の面積率を求めこれを皮膜の面積率とする。具体的には、X線散乱、表面性状によるノイズの影響を除外するため、X線検出強度の最大値の0.20倍となる値を閾値として、X線検出強度を2区分に分け、X線検出強度が閾値以上となる領域における面積率を皮膜の面積率とする。
The area ratio of the film can be determined by the following method.
(1) Mapping the distribution ratio of the main element derived from the coating material (for example, in the case of polyimide resin, the main element is C) with a wavelength dispersion type electronic probe microanalyzer (EPMA) at any part of the surface-treated ceramic member To do.
(2) The distribution ratio of the main element derived from the ceramic substrate (for example, in the case of alumina, the main element is Al) is mapped by the same method as in (1) above, and it is confirmed that there is a complementary relationship. To do.
(3) From the detected X-ray detection intensity and the area ratio, the area ratio of the main element derived from the film material is obtained and this is used as the area ratio of the film. Specifically, in order to exclude the influence of noise due to X-ray scattering and surface properties, the X-ray detection intensity is divided into two categories using a value that is 0.20 times the maximum value of the X-ray detection intensity as a threshold value. The area ratio in the region where the line detection intensity is equal to or greater than the threshold is defined as the area ratio of the film.

尚、表面処理セラミックス部材と被覆材の構成元素種が類似しているなどEPMAでの被覆率の判別が難しい場合では、EPMAを補完する調査手段として顕微ラマン分光法が好適である。ラマン分光法では材料の化学結合状態の違いを検出し、セラミックスと被覆材の識別を可能にできる。   In the case where it is difficult to discriminate the coverage with EPMA, for example, the constituent elements of the surface-treated ceramic member and the covering material are similar, micro-Raman spectroscopy is suitable as an investigation means for complementing EPMA. Raman spectroscopy can detect differences in the chemical bonding state of materials and make it possible to distinguish between ceramics and coating materials.

処理表面に基材表面と皮膜表面とを混在させるためには、前掲の皮膜材をセラミックス焼結体に塗布し、これが完全に硬化する前にウエスなどで拭き取り、乾燥、硬化させるのが有用である。この作業は、1回でも効果が発揮されるが、2回以上行うのがより望ましい。基材表面としては、研削面のほか、焼成面、熱処理面、ブラスト面などであってもよい。   In order to mix the substrate surface and the coating surface on the treated surface, it is useful to apply the coating material described above to the ceramic sintered body, wipe it with a waste cloth, etc., dry and cure it before it completely cures. is there. This operation is effective even once, but it is more desirable to perform this operation twice or more. The substrate surface may be a ground surface, a fired surface, a heat-treated surface, a blast surface, or the like.

ここで、比較的平滑な面(この面には、微粒子が残存しにくい)においては、皮膜液は容易に除去できるが、凹部(気孔等)には皮膜液が残存し、これが乾燥、硬化してセラミックス焼結体の凹部が被覆される。凹部に形成された皮膜は、アンカー効果により強固に被覆されるため、脱落の心配はない。   Here, the coating liquid can be easily removed on a relatively smooth surface (fine particles do not easily remain on this surface), but the coating liquid remains in the recesses (pores, etc.), and this is dried and cured. Thus, the concave portion of the ceramic sintered body is covered. Since the film formed in the recess is firmly covered by the anchor effect, there is no fear of dropping off.

表1に掲げる組成および気孔率を有する種々のセラミックス基材(面粗さRa:0.7±0.1μm、寸法:30mm×30mm×2.5mm)を作製し、これらに表1に示す皮膜材を塗布し、ウエスで拭き取ったものを試験片とした。各種試験片について、その皮膜の面積率およびパーティクルの発生個数を求めた。また、一部の実施例については、実際に半導体製造装置のセラミックスチャンバー部品の形状に成形し、装置に実装し、使用状況を調査した。   Various ceramic substrates (surface roughness Ra: 0.7 ± 0.1 μm, dimensions: 30 mm × 30 mm × 2.5 mm) having the compositions and porosity listed in Table 1 were prepared, and the coating films shown in Table 1 were prepared on these ceramic substrates. A test piece was prepared by applying the material and wiping with a waste cloth. For various test pieces, the area ratio of the coating and the number of particles generated were determined. Moreover, about some Examples, it shape | molded in the shape of the ceramic chamber components of a semiconductor manufacturing apparatus, and mounted in the apparatus, and the use condition was investigated.

<皮膜の面積率>
SEM試験用スパッタ成膜装置(サンユー電子製、SC−704)を用いて、試験片に予め金蒸着し、導電膜を形成し、分析装置(日本電子製、JXA−8100)により、100μm×100μm視野、加速電圧15kVの条件によって、SEM像と、基材由来の元素および皮膜材由来の元素の分布をスキャニングして、マップ表示した。これにより、基材由来の元素および皮膜材由来の元素の分布が補完関係になっていることを確認した。その後、検出されたX線検出強度の最大値の0.20倍となる値を閾値として2区分に分け、X線検出強度が閾値以上となる領域における面積率を皮膜の面積率とした。
<Area ratio of film>
Using a sputter deposition apparatus for SEM testing (Sanyu Denshi, SC-704), gold was vapor-deposited on the test piece in advance to form a conductive film. The SEM image and the distribution of the element derived from the substrate and the element derived from the coating material were scanned and displayed in a map according to the conditions of the visual field and the acceleration voltage of 15 kV. Thereby, it confirmed that distribution of the element derived from a base material and the element derived from a film | membrane material had a complementary relationship. Thereafter, the detected value of 0.20 times the maximum value of the detected X-ray intensity was divided into two categories as threshold values, and the area ratio in the region where the detected X-ray intensity was equal to or greater than the threshold value was defined as the film area ratio.

<パーティクル数>
純水を入れたビーカーの中に各試験片を挿入し、このビーカーを、超音波発信機を備えた槽の中に装着した後、室温で104kHzの超音波を1分間負荷し、ビーカーの純水中に飛散したパーティクルの数を液中パーティクルカウンター(測定範囲0.5〜20μm)で測定し、1μm以上のパーティクルの数を表1に示す。
<Number of particles>
Each test piece is inserted into a beaker containing pure water, and the beaker is mounted in a tank equipped with an ultrasonic transmitter, and then ultrasonic waves of 104 kHz are loaded for 1 minute at room temperature, The number of particles scattered in water was measured with a liquid particle counter (measurement range: 0.5 to 20 μm), and the number of particles of 1 μm or more is shown in Table 1.

Figure 0005307476
Figure 0005307476

なお、実施例で用いた各樹脂のガラス転移点は、下記のとおりであった。
エポキシ樹脂:180℃
ポリイミド樹脂:280℃
フッ素樹脂:250℃
ポリスチレン樹脂:80℃
フェノール樹脂:150℃
In addition, the glass transition point of each resin used in the Example was as follows.
Epoxy resin: 180 ° C
Polyimide resin: 280 ° C
Fluororesin: 250 ° C
Polystyrene resin: 80 ° C
Phenolic resin: 150 ° C

表1に示すように、本発明例1〜7では、パーティクル数が20〜53個/mlと良好であった。但し、皮膜材にポリスチレン樹脂を用いた本発明例4は、ガラス転移温度が80℃と低かったため、半導体製造装置のチャンバー部品として長時間使用すると熱劣化し、パーティクル数が増加した。以下、本発明例2についてのSEM像ならびに基材由来の元素および皮膜由来の元素の分布を示すと共に、皮膜由来の元素の分布から皮膜の面積率を求める手法を具体的に説明する。   As shown in Table 1, in Examples 1 to 7 of the present invention, the number of particles was as good as 20 to 53 particles / ml. However, Example 4 of the present invention using polystyrene resin as the coating material had a glass transition temperature as low as 80 ° C., and therefore, when used for a long time as a chamber part of a semiconductor manufacturing apparatus, it thermally deteriorated and the number of particles increased. Hereinafter, a method for obtaining the area ratio of the film from the distribution of the elements derived from the SEM image, the base material-derived element and the film-derived element of the invention example 2 will be described in detail.

図1には、本発明例2のSEM像ならびにAl(基材由来の元素)およびC(皮膜由来の元素)のX線検出強度の最大値を基準とした分布を示し、図2には、本発明例2のSEM像と、上記の手法に従って2区分化したSi(皮膜由来の元素)の分布とを示している。なお、図中SLがSEM像であり、CがCの分布、AlがAlの分布を示している。図1および2において、SEM像並びにAlおよびCの分布図は、同一部位かつ1:1で対応しているため、それぞれ重ね合わせが可能である。   FIG. 1 shows the SEM image of Example 2 of the present invention and the distribution based on the maximum value of the X-ray detection intensity of Al (element derived from the base material) and C (element derived from the film), and FIG. The SEM image of Example 2 of this invention and the distribution of Si (element derived from a film) divided into two sections according to the above-described method are shown. In the figure, SL is an SEM image, C is a C distribution, and Al is an Al distribution. 1 and 2, the SEM image and Al and C distribution maps correspond to each other at the same site and 1: 1, and thus can be superimposed.

図1に示すように、本発明例2では、AlとCとが補完関係となっており、基材表面と皮膜表面とが混在していることがわかる。また、図2に示すように、Cの分布におけるX線検出強度の最大値は1200であり、その0.20倍である240を閾値として2区分に分けたとき、X線検出強度が閾値以上となる領域における面積率(皮膜の面積率)は43.7%である。   As shown in FIG. 1, in Example 2 of the present invention, it can be seen that Al and C are in a complementary relationship, and the substrate surface and the coating surface are mixed. In addition, as shown in FIG. 2, the maximum value of the X-ray detection intensity in the C distribution is 1200, and the X-ray detection intensity is equal to or greater than the threshold when 240, which is 0.20 times, is divided into two categories. The area ratio (area ratio of the film) in the region to be 43.7%.

一方、比較例1および2は、皮膜を形成していない例であり、パーティクル数が多かった。また、全面に皮膜を形成した比較例3では、当初のパーティクル数は少ないものの、半導体製造装置のチャンバー部品として2時間使用すると剥離し、パーティクル数が急増した。比較例4〜6は、いずれも基材に溶射セラミックスを用いたものであるが、いずれも気孔率が大きく、皮膜を形成させてもパーティクル数を減少させるには至らなかった。   On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 were examples in which no film was formed, and the number of particles was large. Further, in Comparative Example 3 in which a film was formed on the entire surface, although the initial number of particles was small, peeling occurred when used as a chamber part of a semiconductor manufacturing apparatus for 2 hours, and the number of particles increased rapidly. Comparative Examples 4 to 6 all use thermal sprayed ceramics as the base material, but all have a high porosity, and even when a film is formed, the number of particles has not been reduced.

本発明によれば、セラミックス焼結体が本来有する機能、即ち、優れた耐食性を発揮しつつ、焼成時、研削加工時などに発生し、セラミックス焼結体表面の気孔内などの微小空間に残存した微粒子またはマイクロクラックに起因して発生するパーティクルの飛散を防止することができる。従って、本発明の表面処理セラミックス部材は、例えば、半導体デバイス製造装置、液晶ディスプレイ製造装置などにおいて、高温雰囲気、腐食性ガス雰囲気またはプラズマ雰囲気に曝される部材に用いるのに最適である。   According to the present invention, the ceramic sintered body originally has a function, that is, excellent corrosion resistance, occurs during firing, grinding, etc., and remains in a minute space such as a pore on the surface of the ceramic sintered body. Scattering of particles generated due to the generated fine particles or microcracks can be prevented. Therefore, the surface-treated ceramic member of the present invention is optimally used for a member exposed to a high temperature atmosphere, a corrosive gas atmosphere, or a plasma atmosphere in, for example, a semiconductor device manufacturing apparatus, a liquid crystal display manufacturing apparatus, and the like.

本発明例2のSEM像ならびにAl(基材由来の元素)およびC(皮膜由来の元素)の分布SEM image of Invention Example 2 and distribution of Al (element derived from base material) and C (element derived from film) 本発明例2のSEM像と、上記の手法に従って2区分化したC(皮膜由来の元素)の分布SEM image of Invention Example 2 and distribution of C (element derived from film) divided into two according to the above method

Claims (6)

気孔率が1%以下のセラミックス焼結体基材の少なくとも一部に皮膜形成表面を有するセラミックス部材であって、
皮膜形成表面が、ゾルゲル膜、樹脂膜又はこれらの複合膜で構成される皮膜(ケイ素アルコキシド化合物重合体のゾルゲル膜のみからなる皮膜を除く。)と基材表面とが混在してなり、皮膜の面積率が、皮膜形成表面全体の5〜80%であり、セラミックス焼結体表面の凹部が選択的に皮膜によって被覆されていることを特徴とする表面処理セラミックス部材。
A ceramic member having a film-forming surface on at least a part of a ceramic sintered body substrate having a porosity of 1% or less,
Film-forming surface, sol-gel film, (except sol-gel film consisting only film of silicon alkoxide compound polymer.) Resin film, or a composite film composed of the film and the substrate surface is mixed, the film A surface-treated ceramic member having an area ratio of 5 to 80% of the entire film-forming surface, wherein the concave portion of the surface of the ceramic sintered body is selectively covered with a film.
ゾルゲル膜が、金属アルコキシド化合物重合体で構成されることを特徴とする請求項1に記載の表面処理セラミックス部材。 The surface-treated ceramic member according to claim 1 , wherein the sol-gel film is composed of a metal alkoxide compound polymer. 樹脂膜が、ガラス転移点100℃以上の樹脂組成物で構成されることを特徴とする請求項1または2に記載の表面処理セラミックス部材。 The surface-treated ceramic member according to claim 1 or 2 , wherein the resin film is composed of a resin composition having a glass transition point of 100 ° C or higher. 半導体または電子デバイス製造装置に用いられることを特徴とする請求項1からまでのいずれかに記載の表面処理セラミックス部材。 Surface treatment ceramics member according to any one of claims 1 to 3, characterized in that for use in the semiconductor or electronic device manufacturing apparatus. 気孔率が1%以下のセラミックス焼結体基体の表面にゾルゲル膜、樹脂膜又はこれらの複合膜で構成される皮膜材(ケイ素アルコキシド化合物重合体のゾルゲル膜のみからなる皮膜材を除く。)を塗布した後、硬化前の皮膜材がセラミックス焼結体表面の凹部に残存するような条件で、皮膜の面積率が皮膜形成表面全体の5〜80%となるように皮膜材の一部を除去し、セラミックス焼結体表面の凹部に残存した皮膜材を硬化させることを特徴とする表面処理セラミックス部材の製造方法。 A coating material composed of a sol-gel film, a resin film, or a composite film thereof (excluding a coating material composed only of a sol-gel film of a silicon alkoxide compound polymer) on the surface of a ceramic sintered body substrate having a porosity of 1% or less. After coating, a part of the coating material is removed so that the area ratio of the coating is 5 to 80% of the entire coating forming surface under the condition that the coating material before curing remains in the concave portion of the ceramic sintered body surface. And curing the film material remaining in the recesses on the surface of the ceramic sintered body. 皮膜材の一部の除去が、拭き取りにより行われることを特徴とする請求項に記載の表面処理セラミックス部材の製造方法。
The method for producing a surface-treated ceramic member according to claim 5 , wherein part of the coating material is removed by wiping.
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