JP5291642B2 - グラフ状態生成装置及び方法 - Google Patents
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Description
〔参考文献〕徳永裕己,“光量子もつれクラスター状態を用いた量子演算の実装実験”,光学,第37巻,第12号,pp.706−711.
(1)頂点kの次数が4で割り切れる場合
(i)uk=1の場合⇒頂点kに対応する量子ビットに何も適用しない。
(2)頂点kの次数が4で割って1余る場合
(i)tk=1の場合⇒頂点kに対応する量子ビットに何も適用しない。
(3)頂点kの次数が4で割って2余る場合
(i)uk=1の場合⇒補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対して、Y観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行する。
(4)頂点kの次数が4で割って3余る場合
(i)tk=1の場合⇒補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対して、Y観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行する。
対象量子ビットとして任意の入力量子状態|φ〉が与えられ、補助量子ビットとして使われる状態|ψ〉が与えられたとする。σz|φ〉を出力する観測ベース量子回路は次のように構成される。
対象量子ビットとして任意の入力量子状態|φ〉が与えられ、補助量子ビットとして使われる状態|ψ〉が与えられたとする。σx|φ〉を出力する観測ベース量子回路は次のように構成される。
対象量子ビットとして任意の入力量子状態|φ〉が与えられ、補助量子ビットとして使われる状態|ψ〉が与えられたとする。H|φ〉を出力する観測ベース量子回路は次のように構成される。
第一対象量子ビットと第二対象量子ビットに任意の入力量子状態|φ〉が与えられ、補助量子ビットとして使われる状態|ψ〉が与えられたとする。(P−1(×)PHPH)ΛZ(I(×)H)|φ〉を出力する観測ベース量子回路は次のように構成される。
HPHPH=eiπ/4P−1であるから、(I(×)H)(P−1(×)PHPH)ΛZ(I(×)H)(I(×)H)=eiπ/4(P−1(×)P−1)ΛZとなる。グローバル位相eiπ/4は無視できるので、Hと(P−1(×)PHPH)ΛZ(I(×)H)を組み合わせることにより、図13に例示するように、(P−1(×)P−1)ΛZを実行する観測ベース量子回路が構成できる。
以下、この発明の理解を容易にするために、射影測定について説明する。
すなわち、m=1,−1であり、P1=|0〉〈0|,P−1=|1〉〈1|である。システムの状態が|ψ〉=α|0〉+β|1〉であるとし、Z観測を行うと、観測量の固有値1が確率
Y=1・|+y〉〈 +y| + (−1)・|−y〉〈−y|
ただし、
2 初期状態生成部
3 第一頂点演算部
4 辺演算部
5 第二頂点演算部
6 量子操作部
7 量子ビット
8 制御部
Claims (3)
- 頂点の集合V={1,…,n}と、辺の集合E={e1,…,em}とから構成されるグラフG=(V,E)に対応するグラフ状態を生成するグラフ状態生成装置において、
n個の頂点にそれぞれ対応する初期状態の量子ビットを|0>1|0>2…|0>nとし、補助量子ビットを|0>n+1として、
頂点の次数をその頂点に接続している辺の数として、k=1,2,…,n−1について昇順で、頂点kの次数をカウントし、頂点kの次数が奇数の場合には頂点kに対応する量子ビットをY観測しその観測結果をtkとし、頂点kの次数が偶数の場合には頂点k+1に対応する量子ビットをY観測し頂点k及び頂点k+1に対応する量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をukとし、頂点kに対応する量子ビットをY観測する第一頂点演算部と、
P−1とΛZをそれぞれ下記の行列で表現されるオペレータとし、
k=1,2,…,mについて、上記補助量子ビットを用いて、辺efを結ぶ2つの頂点に対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成される(P−1(×)P−1)ΛZを実行する辺演算部と、
k=1,2,…,n−1について、頂点kの次数を4で割った余りが0であり上記観測結果uk=−1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが1であり上記観測結果tk=−1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが2であり上記観測結果uk=1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが3であり上記観測結果tk=1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行する第二頂点演算部と、
を含むグラフ状態生成装置。 - 請求項1のグラフ状態生成装置において、
上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsz1とし、対象量子ビット及び上記補助量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をsz2とし、上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsz3とする操作を、観測結果の組(sz1,sz2,sz3)が(1,1,−1),(1,−1,−1),(−1,1,1),(−1,−1,1)の何れかになるまで、繰り返すことにより上記補助量子ビットを用いた対象量子ビットに対するσzが実行されるとし、
上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsx1とし、上記補助量子ビット及び対象量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をsx2とし、上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsx3とする操作を、観測結果の組(sx1,sx2,sx3)が(1,1,−1),(1,−1,−1),(−1,1,1),(−1,−1,1)の何れかになるまで、繰り返すことにより上記補助量子ビットを用いた対象量子ビットに対するσxが実行されるとし、
上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsh1とし、対象量子ビット及び上記補助量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をsh2とし、対象量子ビットをY観測しその観測結果をsh3とし、観測結果の組(sh1,sh2,sh3)が(1,−1,1)又は(−1,−1,−1)である場合には上記補助量子ビットに対してσzを実行し、観測結果の組(sh1,sh2,sh3)が(1,1,1)又は(−1,1,−1)である場合には上記補助量子ビットに対してσxを実行し、観測結果の組(sh1,sh2,sh3)が(1,1,−1)又は(−1,1,−1)である場合には、上記対象量子ビットを用いて上記補助量子ビットに対してσzσxを実行することにより、上記補助量子ビットを用いた対象量子ビットに対するHが実行されるとし、
上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsp1とし、第一対象量子ビット及び上記補助量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をsp2とし、上記補助量子ビット及び第二対象量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をsp3とし、上記補助量子ビットをY観測しその観測結果をsp4とし、観測結果の組(sp1,sp2,sp3,sp4)が(1,1,−1,−1),(1,−1,1,−1),(−1,1,1,1),(−1,−1,−1,1)の何れかである場合には上記補助量子ビットを用いて第一対象量子ビットに対してσzを実行し、観測結果の組(sp1,sp2,sp3,sp4)が(1,1,1,−1),(1,−1,−1,−1),(−1,1,−1,1),(−1,−1,1,1)の何れかである場合には上記補助量子ビットを用いて第二対象量子ビットにσxを実行し、観測結果の組(sp1,sp2,sp3,sp4)が(1,1,−1,1),(1,−1,1,1),(−1,1,1,−1),(−1,−1,−1,−1)の何れかである場合には上記補助量子ビットを用いて第一対象量子ビットにσzを実行し第二対象量子ビットにσxを実行することにより、上記補助量子ビットを用いた第一対象量子ビット及び第二対象量子ビットに対するP−1(×)PHPHAZ(I(×)H)が実行されるとし、
上記補助量子ビットを用いて第二対象量子ビットに対してHを実行し、上記第二対象量子ビットを用いて上記第一対象量子ビット及び上記補助量子ビットに対してP−1(×)PHPHAZ(I(×)H)を実行し、上記第二対象量子ビットを用いて上記補助量子ビットに対してHを実行することにより、補助量子ビットを用いた第一対象量子ビット及び第二対象量子ビットに対する(P−1(×)P−1)ΛZが実行される、
ことを特徴とするグラフ状態生成装置。 - 頂点の集合V={1,…,n}と、辺の集合E={e1,…,em}とから構成されるグラフG=(V,E)に対応するグラフ状態を生成するグラフ状態生成装置において、
n個の頂点にそれぞれ対応する初期状態の量子ビットを|0>1|0>2…|0>nとし、補助量子ビットを|0>n+1として、
第一頂点演算部が、頂点の次数をその頂点に接続している辺の数として、k=1,2,…,n−1について昇順で、頂点kの次数をカウントし、頂点kの次数が奇数の場合には頂点kに対応する量子ビットをY観測しその観測結果をtkとし、頂点kの次数が偶数の場合には頂点k+1に対応する量子ビットをY観測し頂点k及び頂点k+1に対応する量子ビットをZ(×)X観測しその観測結果をukとし、頂点kに対応する量子ビットをY観測する第一頂点演算ステップと、
辺演算部が、P−1とΛZをそれぞれ下記の行列で表現されるオペレータとし、
k=1,2,…,mについて、上記補助量子ビットを用いて、辺efを結ぶ2つの頂点に対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成される(P−1(×)P−1)ΛZを実行する辺演算ステップと、
第二頂点演算部が、k=1,2,…,n−1について、頂点kの次数を4で割った余りが0であり上記観測結果uk=−1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが1であり上記観測結果tk=−1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが2であり上記観測結果uk=1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行し、頂点kの次数を4で割った余りが3であり上記観測結果tk=1の場合には上記補助量子ビットを用いて頂点kに対応する量子ビットに対してY観測及びZ(×)X観測で構成されるσzを実行する第二頂点演算ステップと、
を含むグラフ状態生成方法。
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JP2010013437A JP5291642B2 (ja) | 2010-01-25 | 2010-01-25 | グラフ状態生成装置及び方法 |
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JP2011150655A JP2011150655A (ja) | 2011-08-04 |
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