JP5286266B2 - Preparation method of organic thin film on substrate - Google Patents

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Abstract

A clean organic thin film free from liquid stains and liquid-flow marks is formed on a surface of a substrate. The method of organic-thin-film formation is characterized by comprising (a) placing a substrate having a hydrophilic surface on a horizontal table or rotatable horizontal table and fixing the substrate to the table, (b) dropping a water-repellent-group-containing solution for organic-thin-film formation onto the substrate just in an amount sufficient for covering the substrate surface, and (c) allowing the covered table to stand for a time period sufficient to enable the solution to form an organic thin film on the substrate, and then tilting the table or rotating the table to remove the excess solution for organic-thin-film formation, and by optionally including (d) dropping a cleaning solvent onto the substrate, holding the table for a certain time period, and then tilting the table or rotating the table to remove the cleaning solvent.

Description

本発明は、基材上に有機薄膜を作製する方法に関するものであり、特にウェハーなどの基材上に単分子膜を作製するに適した方法に関する。   The present invention relates to a method for producing an organic thin film on a substrate, and more particularly to a method suitable for producing a monomolecular film on a substrate such as a wafer.

従来から、ガラス、金属、プラスチック、セラミックス等からなる基板の表面を目的に応じて改質することが様々な分野で行われている。例えば、ガラスやプラスチックスの表面に撥水性・撥油性を付与するために、シラン系カップリング剤をコーティングするものが挙げられる。
シラン系カップリング剤をコーティングする方法として、例えば、以下の方法がある。
未処理の基板を、純水、アルコール類などで洗浄した後、基材表面をUVオゾン処理などの方法により活性化させる。その後、基板をシラン系カップリング剤の入った槽に浸漬し、基板上にシラン系カップリング剤をコーティングする。
たとえば、シリコンウェハーなどの基材の表面にシラン系カップリング剤からなる単分子膜を作製する場合に、シリコンウェハーをシラン系カップリング剤の入った槽に浸漬し、引き上げてから液切りをするためにエアブローを行っている。
しかしながら、浸漬法(ディップ法)では、基板の裏面にも処理液が接触するため、液切りのためにエアブローを行うと、裏面に付着していた処理液が表面に廻りこんで、基板表面をきれいに仕上げることが困難であった。
Conventionally, the surface of a substrate made of glass, metal, plastic, ceramics or the like is modified in various fields according to the purpose. For example, in order to impart water repellency and oil repellency to the surface of glass or plastics, a coating with a silane coupling agent may be mentioned.
Examples of the method for coating the silane coupling agent include the following methods.
After washing the untreated substrate with pure water, alcohols, etc., the surface of the substrate is activated by a method such as UV ozone treatment. Thereafter, the substrate is immersed in a tank containing a silane coupling agent, and the substrate is coated with the silane coupling agent.
For example, when producing a monomolecular film made of a silane coupling agent on the surface of a substrate such as a silicon wafer, immerse the silicon wafer in a tank containing the silane coupling agent, pull it up, and drain the liquid. Air blow is performed for this purpose.
However, in the dipping method (dip method), the processing liquid also contacts the back surface of the substrate. Therefore, when air is blown to remove the liquid, the processing liquid attached to the back surface wraps around the surface, causing the substrate surface to reach the surface. It was difficult to finish cleanly.

一方、基材上に液体材料を塗布する方法としては、ディップ法、スプレー法、ロールコート法、スピンコート法、スリットダイ法、バー塗布法、インクジェット法、スピンレス法などがあるが、これらのうちの一部は、溶液をノズルから滴下させて行う方法である(特許文献1、2、3など)。
そこで、発明者らは、上記ディップ法の問題点を解決するため、液滴を滴下させて行う方法により対処することに取り組んだ。
液滴を滴下させて行う方法のうち、スピンコート法は、回転するステージにシリコンウェハーなどの基材を吸着させ、薄膜形成溶液を基材の中心部に滴下させて回転ステージを回転させるため、遠心力に起因する液流により膜表面にムラや凹凸が生じたりすることがあるなど、薄膜の作製法としては問題がある。
また、液滴を滴下させて行う方法のうち、基材を回転させずに行う方法としては、薄膜形成溶液を滴下するノズルを一列に並べて、これを移動させて基材上に溶液を滴下させる方法(例えば特許文献2)や、外側から中心部に向けてらせん状に滴下させる方法(例えば特許文献3)などがある。
しかしながら、これ等の方法はいずれも、品質の優れた単分子膜の作製法としては十分ではなかった。
On the other hand, methods for applying a liquid material on a substrate include a dipping method, a spray method, a roll coating method, a spin coating method, a slit die method, a bar coating method, an ink jet method, and a spinless method. Is a method in which a solution is dropped from a nozzle (Patent Documents 1, 2, 3, etc.).
In order to solve the problems of the above-described dip method, the inventors worked on coping with a method of dropping droplets.
Among the methods performed by dropping droplets, the spin coating method is to adsorb a substrate such as a silicon wafer on a rotating stage, and to drop the thin film forming solution on the center of the substrate and rotate the rotating stage. There is a problem as a method of manufacturing a thin film, such as unevenness or irregularities on the film surface caused by the liquid flow caused by centrifugal force.
Also, among the methods that are performed by dropping droplets, the method that is performed without rotating the substrate is to arrange the nozzles for dropping the thin film forming solution in a line and move the nozzles to drop the solution onto the substrate. There are a method (for example, Patent Document 2) and a method of dropping in a spiral shape from the outside toward the center (for example, Patent Document 3).
However, none of these methods is sufficient as a method for producing a monomolecular film having excellent quality.

特開2007−44691号公報JP 2007-44691 A 特開2003−124108号公報JP 2003-124108 A 特開2005−327879号公報JP 2005-327879 A

本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであって、基材の裏面に付着していた薄膜形成溶液が表面に廻りこむことなく、基材表面を液ジミ、液流れ跡のないきれいな薄膜に仕上げることを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and the thin film forming solution adhering to the back surface of the base material does not go around the surface, so that the surface of the base material is liquid and no clean film is present. The purpose is to finish.

発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、基材表面が親水性であって、薄膜が撥水性基を有する場合には、水平に置かれた基材表面を覆うだけの適量の薄膜形成溶液を滴下して静置し、その後、基材上の余剰な薄膜形成溶液を取り除くことにより、液ジミ、液流れ跡などが表面に発生しなくなることを見出し、本発明を完成させた。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the inventors have determined that when the substrate surface is hydrophilic and the thin film has a water-repellent group, an appropriate amount is sufficient to cover the horizontally placed substrate surface. The film formation solution was dropped and allowed to stand, and then the excess film formation solution on the substrate was removed to find that no liquid spots or liquid flow traces were generated on the surface, and the present invention was completed. It was.

すなわち、本発明は、
(1)(a)表面が親水性である基材を水平な台上に載置して固定した後、
(b) 撥水性基を有する有機薄膜形成溶液を、基材表面を覆うことのできる量だけ基材上に滴下し、
(c)基材上に有機薄膜を形成させるに足りる時間静置した後、台を傾けて余剰の有機薄膜形成溶液を取り除き、必要に応じて、
(d)洗浄用溶剤を基材上に滴下して一定時間保持した後、台を傾けて洗浄用溶剤を取り除く
ことを特徴とする有機薄膜の作製方法、又は、
(2)(a)表面が親水性である基材を水平で回転可能な台上に載置して固定した後、
(b)撥水性基を有する有機薄膜形成溶液を、基材表面を覆うことのできる量だけ基材上に滴下し、
(c)基材上に有機薄膜を形成させるに足りる時間静置した後、台を回転させて余剰の有機薄膜形成溶液を取り除き、必要に応じて、
(d)洗浄用溶剤を基材上に滴下して一定時間保持した後、台を回転させて洗浄用溶剤を取り除く
ことを特徴とする有機薄膜の作製方法に関する。
That is, the present invention
(1) (a) After a substrate having a hydrophilic surface is placed on a horizontal base and fixed,
(B) An organic thin film forming solution having a water-repellent group is dropped on the substrate in an amount capable of covering the substrate surface;
(C) After standing for a time sufficient to form an organic thin film on the substrate, the table is tilted to remove excess organic thin film forming solution, and if necessary,
(D) A method for producing an organic thin film characterized in that after the cleaning solvent is dropped on the substrate and held for a certain period of time, the cleaning solvent is removed by tilting the table, or
(2) (a) After the substrate having a hydrophilic surface is placed and fixed on a horizontally rotatable table,
(B) An organic thin film forming solution having a water repellent group is dropped on the substrate in an amount that can cover the substrate surface;
(C) After standing for a time sufficient to form an organic thin film on the substrate, the table is rotated to remove excess organic thin film forming solution, and if necessary,
(D) The present invention relates to a method for producing an organic thin film characterized in that a cleaning solvent is dropped on a substrate and held for a certain period of time, and then the cleaning solvent is removed by rotating a table.

(1)有機薄膜作製方法
本発明は、表面が親水性である基材を水平な台上に載置して固定し、撥水性基を有する有機薄膜形成用溶液を、基材表面に滴下して一定時間静置し、有機薄膜形成溶液を基材上に自力で拡散させることにより有機薄膜を形成させることを特徴としている。基材上に薄膜が形成された後は、基材を乗せた台を傾けるか、台を回転させて基材上の余剰の薄膜形成溶液を基材上から取り除く。本発明においては、撥水性薄膜であるため、基材上に撥水性薄膜を形成させた後は、単に基材を傾けただけでも、余分な薄膜形成溶液を除去することができる。
必要に応じて、その後、洗浄用溶剤を滴下して基材上に残った薄膜形成溶液や余剰の有機薄膜を溶解させ、台を傾けるか、台を回転させて洗浄用溶剤を基材上から取り除く。
洗浄に用いられる溶剤としては、例えば、パラフィン類、芳香族炭化水素、脂環式炭化水素、ハロゲン化合物、ケトン類等があり、具体的には、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、イソオクタン、ベンゼン、トルエン、キシレン、ジエチルベンゼン、ソルベッソ(登録商標)、シクロヘキサン、リグロイン、石油エーテル、クロロホルム、塩化メチレン、アセトン等が使用される。
本発明において、「基材表面を覆うことのできる有機薄膜形成溶液の量」は、本発明の適用できる基材の大きさにより異なるが、通常、本発明の適用できる基材の面積は1cm〜4mであるから、その面積を覆うことのできる量を意味する。
また、「基材上に有機薄膜を形成させるに足りる時間」は、有機薄膜形成溶液の種類や基材の大きさによって異なるが、通常、30秒〜3時間である。
また、「洗浄用溶剤を基材上に滴下して保持する時間」は、適宜設定可能であるが、通常、1分〜30分である。
(1) Organic thin film preparation method In the present invention, a substrate having a hydrophilic surface is placed on a horizontal base and fixed, and a solution for forming an organic thin film having a water-repellent group is dropped onto the surface of the substrate. The organic thin film is formed by allowing the organic thin film forming solution to diffuse by itself on the substrate. After the thin film is formed on the substrate, the table on which the substrate is placed is tilted or the table is rotated to remove the excess thin film forming solution on the substrate from the substrate. In this invention, since it is a water-repellent thin film, after forming a water-repellent thin film on a base material, an excess thin film formation solution can be removed only by inclining a base material.
If necessary, the cleaning solvent is then dropped to dissolve the remaining thin film forming solution or excess organic thin film on the substrate, and the table is tilted or the table is rotated to remove the cleaning solvent from the substrate. remove.
Examples of the solvent used for washing include paraffins, aromatic hydrocarbons, alicyclic hydrocarbons, halogen compounds, and ketones. Specifically, pentane, hexane, heptane, octane, isooctane, benzene, Toluene, xylene, diethylbenzene, Solvesso (registered trademark), cyclohexane, ligroin, petroleum ether, chloroform, methylene chloride, acetone and the like are used.
In the present invention, “the amount of the organic thin film forming solution that can cover the surface of the substrate” varies depending on the size of the substrate to which the present invention can be applied, but the area of the substrate to which the present invention can be applied is usually 1 cm 2. Since it is ˜4 m 2 , it means an amount that can cover the area.
The “time sufficient for forming the organic thin film on the base material” is usually 30 seconds to 3 hours, although it varies depending on the type of the organic thin film forming solution and the size of the base material.
In addition, the “time for dropping and holding the cleaning solvent on the substrate” can be appropriately set, but is usually 1 minute to 30 minutes.

(2)上記方法を実施するに必要な装置
1)段落0007の(1)に記載の方法の場合
基材が載置される台と基材の表面に薄膜形成溶液を滴下する装置を必要とする。台は基材を載置できる広さを有し、かつ、傾斜可能である限り特に制限はない。
滴下装置は、ビュレットなどの手動の滴下手段や、スピンコート用などで用いられる自動滴下装置を使用することができる。
また、台の面は水平であることが必要であり、基材を固定することができる手段を有することが必要である。
2)段落0007の(2)に記載の方法の場合
基材が載置される回転可能な台と、これを回転させる回転手段と、基材の表面に薄膜形成溶液を滴下する装置を必要とする。
本発明における回転可能な台とは、基材を載置できる広さを有する台であって、回転させることのできる台であり、例えばスピンコート用のターンテーブル、マグネティックスターラーなどを使用することができる。
滴下装置は、上記1)の場合と同様、ビュレットなどの手動の滴下手段や、スピンコート用などで用いられる自動滴下装置を使用することができる。
また、台の平面は水平であることが必要であり、基材を固定することができる手段を有することが必要である。
(2) Apparatus required for carrying out the above method 1) In the case of the method described in paragraph (0007 ) (1) , a device on which the substrate is placed and a device for dropping the thin film forming solution on the surface of the substrate are required. To do. The platform is not particularly limited as long as it has a width on which the substrate can be placed and can be tilted.
As the dropping device, a manual dropping means such as a burette or an automatic dropping device used for spin coating or the like can be used.
Further, the surface of the table needs to be horizontal, and it is necessary to have means for fixing the substrate.
2) In the case of the method described in paragraph 0007 (2) , a rotatable table on which the substrate is placed, a rotating means for rotating the substrate, and a device for dropping the thin film forming solution on the surface of the substrate are required. To do.
The rotatable base in the present invention is a base having a width on which a substrate can be placed and can be rotated. For example, a spin coat turntable, a magnetic stirrer, or the like can be used. it can.
As in the case of 1), the dropping device can be a manual dropping means such as a burette or an automatic dropping device used for spin coating or the like.
Further, the plane of the table needs to be horizontal, and it is necessary to have means for fixing the substrate.

(3)基材
本発明においては、基材表面を親水性にしたものを用いる。
本発明の有機薄膜の製造方法に用いる基材としては、材質、形状等は特に制限されないが、本発明の有機溶媒溶液中の有機薄膜を形成する分子と相互作用し得る官能基を表面に有する基材が好ましく、特に活性水素を表面に有する基材が好ましい。活性水素を表面に有する基材を用いると、基材表面の活性水素と、本発明の有機溶媒溶液中の分子が、化学結合し基材表面に容易に化学吸着膜を形成することができる。
(3) Substrate In the present invention, a substrate having a hydrophilic surface is used.
The base material used in the method for producing an organic thin film of the present invention is not particularly limited in material, shape, etc., but has a functional group on the surface that can interact with molecules forming the organic thin film in the organic solvent solution of the present invention. A substrate is preferred, and a substrate having active hydrogen on the surface is particularly preferred. When a substrate having active hydrogen on the surface is used, the active hydrogen on the surface of the substrate and the molecules in the organic solvent solution of the present invention are chemically bonded, and a chemisorbed film can be easily formed on the substrate surface.

活性水素を含む官能基としては、水酸基(−OH)、カルボキシル基(−COOH)、ホルミル基(−CHO)、イミノ基(=NH)、アミノ基(−NH)、チオール基(−SH)等が挙げられ、なかでも、水酸基が好ましい。As functional groups containing active hydrogen, hydroxyl group (—OH), carboxyl group (—COOH), formyl group (—CHO), imino group (═NH), amino group (—NH 2 ), thiol group (—SH) Among them, a hydroxyl group is preferable.

基材表面に水酸基を有する基材として、具体的には、アルミニウム、銅、ステンレス等の金属;ガラス;シリコンウェハー;セラミックス;紙;天然繊維;皮革;その他親水性の物質;等からなる基材が挙げられる。
なお、プラスチックや合成繊維のように表面に水酸基を持たない材質からなる基材であっても、酸素を含むプラズマ雰囲気中で予め基材表面を処理(例えば100Wで20分)したり、コロナ処理、UVオゾン処理、過酸化水素水による処理、過酸化水素水と硫酸による処理などを行って親水性基を導入することにより、好ましく使用することができる。ポリアミド樹脂又はポリウレタン樹脂等からなる基材は、表面にイミノ基が存在しており、このイミノ基の活性水素と金属系界面活性剤のアルコキシシリル基等とが脱アルコール反応し、シロキサン結合(−SiO−)を形成するのでとくに表面処理を必要としない。
本発明の有機薄膜の製造方法に用いる基材としては、金属、ガラス、シリコンウェハー、セラミックス、及びプラスチックからなる群から選ばれる少なくとも1つから構成されている基材が好ましい。
Specifically, as a base material having a hydroxyl group on the surface of the base material, a base material made of metal such as aluminum, copper, stainless steel, glass, silicon wafer, ceramics, paper, natural fiber, leather, other hydrophilic substance, etc. Is mentioned.
Even if the substrate is made of a material having no hydroxyl group on its surface, such as plastic or synthetic fiber, the substrate surface is treated in advance in a plasma atmosphere containing oxygen (for example, 100 W for 20 minutes) or corona treatment. It can be preferably used by introducing a hydrophilic group by performing UV ozone treatment, treatment with hydrogen peroxide solution, treatment with hydrogen peroxide solution and sulfuric acid, or the like. A substrate made of a polyamide resin or a polyurethane resin has an imino group on the surface, and the active hydrogen of the imino group and the alkoxysilyl group of the metal-based surfactant undergo a dealcoholization reaction to form a siloxane bond (- Since SiO-) is formed, no surface treatment is required.
As a base material used for the manufacturing method of the organic thin film of this invention, the base material comprised from at least 1 chosen from the group which consists of a metal, glass, a silicon wafer, ceramics, and a plastic is preferable.

また、表面に活性水素を持たない基材を用いる場合、この基材の表面に、予めSiCl、SiHCl、SiHCl、Cl−(SiClO)−SiCl(式中、bは自然数)から選ばれる少なくとも一つの化合物を接触させた後、脱塩化水素反応させることにより、表面に活性水素を有するシリカ下地層を形成しておくこともできる。
なお、基材はあらかじめ純水、アルコールなどによる洗浄を行っても構わない。
また、本発明に適用できる基材の大きさは、本発明の方法が適用できる限り制限はないが、通常1cm〜4mである。
In the case of using a substrate that has no active hydrogen on the surface, the surface of the substrate, previously SiCl 4, SiHCl 3, SiH 2 Cl 2, Cl- (SiCl 2 O) b -SiCl 3 ( wherein, b It is also possible to form a silica underlayer having active hydrogen on the surface thereof by contacting with at least one compound selected from (natural number) and then dehydrochlorinating.
Note that the substrate may be previously cleaned with pure water, alcohol, or the like.
The size of the substrate applicable to the present invention, a method of the present invention is not limited as long as applicable, is generally 1cm 2 ~4m 2.

(4)有機薄膜及び有機薄膜形成溶液
本発明でいう有機薄膜は、撥水性基を有する金属系界面活性剤からなる有機薄膜であり、単分子膜及び多層膜を含むが、本発明の方法は特に単分子膜の作製に適している。また、自己集合膜であっても良い。ここで自己集合膜とは、外部からの強制力なしに秩序だった構造を形成してなる膜を意味する。
本発明で作製される有機薄膜について以下に説明する。
(4) Organic thin film and organic thin film forming solution The organic thin film referred to in the present invention is an organic thin film composed of a metal surfactant having a water-repellent group, and includes a monomolecular film and a multilayer film. It is particularly suitable for the production of monomolecular films. A self-assembled film may also be used. Here, the self-assembled film means a film formed with an ordered structure without external forcing.
The organic thin film produced by this invention is demonstrated below.

有機薄膜は、有機溶媒中に、少なくとも1以上の加水分解性基又は水酸基及び撥水性基を有する金属系界面活性剤、及び該金属系界面活性剤と相互作用し得る触媒を含む有機薄膜形成溶液に、基材を接触させることにより製造される。
金属系界面活性剤が基材表面に吸着される機構の詳細は明らかではないが、表面に活性水素を有する基材の場合には次のように考えることができる。すなわち、有機薄膜形成用溶液中においては、金属系界面活性剤の加水分解性基が水により加水分解された状態となっている。この状態の金属系界面活性剤が基材表面の活性水素と反応して、基板と強固な化学結合を形成してなる薄膜が形成される。
本発明に用いる有機薄膜形成用溶液中の金属系界面活性剤の含有量は、特に制限はないが、緻密な単分子膜を製造するためには、0.1〜30重量%の範囲が好ましい。
また、金属系界面活性剤と相互作用し得る触媒の使用量は、形成する単分子の有機薄膜の物性に影響を与えない量であれば特に制限されないが、金属系界面活性剤1モルに対して酸化物換算モル数で、通常0.001〜1モルの範囲内、好ましくは0.001〜0.2モルの範囲内である。
ここで使用される、有機溶媒、金属界面活性剤、触媒及び基材等について、以下に説明する。
The organic thin film is an organic thin film forming solution containing, in an organic solvent, a metal-based surfactant having at least one hydrolyzable group or hydroxyl group and water-repellent group, and a catalyst capable of interacting with the metal-based surfactant. To the substrate.
The details of the mechanism by which the metal surfactant is adsorbed on the surface of the substrate are not clear, but in the case of a substrate having active hydrogen on the surface, it can be considered as follows. That is, in the solution for forming an organic thin film, the hydrolyzable group of the metal surfactant is hydrolyzed with water. The metal surfactant in this state reacts with active hydrogen on the surface of the base material to form a thin film that forms a strong chemical bond with the substrate.
Although there is no restriction | limiting in particular in content of the metal-type surfactant in the solution for organic thin film formation used for this invention, In order to manufacture a dense monomolecular film, the range of 0.1 to 30 weight% is preferable. .
The amount of the catalyst that can interact with the metal-based surfactant is not particularly limited as long as it does not affect the physical properties of the monomolecular organic thin film to be formed, but with respect to 1 mol of the metal-based surfactant. The number of moles in terms of oxide is usually within the range of 0.001 to 1 mole, preferably within the range of 0.001 to 0.2 mole.
The organic solvent, metal surfactant, catalyst, base material and the like used here will be described below.

(金属系界面活性剤)
有機薄膜形成溶液に含まれる、少なくとも1以上の加水分解性基又は水酸基を有する金属系界面活性剤としては、少なくとも1以上の加水分解可能な官能基又は水酸基と撥水性基とを同一分子内に有するものであれば、特に制限されないが、基材表面上の活性水素と反応して結合を形成することができる加水分解性基や水酸基を有するものが好ましい。ここで、撥水性基とは炭化水素基、ハロゲン化炭化水素基などを意味する。
このような金属系界面活性剤として、具体的には、式(II)で表される化合物を好ましく例示することができる。
MXm−n ・・・(II)
式中、Rは、置換基を有していてもよい炭化水素基、置換基を有していてもよいハロゲン化炭化水素基、連結基を含む炭化水素基、又は連結基を含むハロゲン化炭化水素基を表し、Mは、ケイ素原子、ゲルマニウム原子、スズ原子、チタン原子、及びジルコニウム原子からなる群から選ばれる少なくとも1種の金属原子を表し、Xは、水酸基又は加水分解性基を表し、nは、1〜(m−1)のいずれかの整数を表し、mはMの原子価を表し、nが2以上の場合、Rは、同一または相異なっていてもよく、(m−n)が2以上の場合、Xは同一であっても、相異なっていてもよい。
(Metal surfactant)
As the metal surfactant having at least one or more hydrolyzable groups or hydroxyl groups contained in the organic thin film forming solution, at least one or more hydrolyzable functional groups or hydroxyl groups and water-repellent groups are contained in the same molecule. If it has, it will not be restrict | limited especially, However, The thing which has a hydrolyzable group and hydroxyl group which can react with the active hydrogen on the base-material surface and can form a bond is preferable. Here, the water repellent group means a hydrocarbon group, a halogenated hydrocarbon group or the like.
Specific examples of such a metal surfactant include compounds represented by the formula (II).
R 1 n MX mn (II)
In the formula, R 1 is a hydrocarbon group which may have a substituent, a halogenated hydrocarbon group which may have a substituent, a hydrocarbon group including a linking group, or a halogenated group including a linking group. Represents a hydrocarbon group, M represents at least one metal atom selected from the group consisting of a silicon atom, a germanium atom, a tin atom, a titanium atom, and a zirconium atom, and X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. , N represents an integer of 1 to (m−1), m represents a valence of M, and when n is 2 or more, R 1 may be the same or different, and (m When -n) is 2 or more, X may be the same or different.

前記置換基を有していてもよい炭化水素基の炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、t−ペンチル基、n−へキシル基、イソへキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−デシル基等の炭素数1〜30のアルキル基;ビニル基、プロペニル基、ブテニル基、ペンテニル基等の炭素数2〜30のアルケニル基;フェニル基、ナフチル基等のアリール基;等が挙げられる。   Examples of the hydrocarbon group that may have a substituent include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, and a t-butyl group. Group, n-pentyl group, isopentyl group, neopentyl group, t-pentyl group, n-hexyl group, isohexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n-decyl group and the like. An alkenyl group having 2 to 30 carbon atoms such as a vinyl group, a propenyl group, a butenyl group or a pentenyl group; an aryl group such as a phenyl group or a naphthyl group;

前記置換基を有していてもよいハロゲン化炭化水素基のハロゲン化炭化水素基としては、炭素数1〜30のハロゲン化アルキル基、炭素数2〜30のハロゲン化アルケニル基、ハロゲン化アリール基等が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。具体的には、上記例示した炭化水素基中の水素原子の1個以上がフッ素原子、塩素原子又は臭素原子等のハロゲン原子に置換された基が挙げられる。   Examples of the halogenated hydrocarbon group of the halogenated hydrocarbon group which may have a substituent include a halogenated alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, a halogenated alkenyl group having 2 to 30 carbon atoms, and a halogenated aryl group. Etc. As a halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable. Specific examples include groups in which one or more of the hydrogen atoms in the hydrocarbon groups exemplified above are substituted with a halogen atom such as a fluorine atom, a chlorine atom or a bromine atom.

これらの中でも、前記ハロゲン化炭化水素基としては、炭素数1〜30のアルキル基中の水素原子の2個以上がハロゲン原子に置換された基が好ましく、炭素数1〜30のアルキル基中の水素原子の2個以上がフッ素原子に置換されたフッ素化アルキル基がより好ましい。また、フッ素化アルキル基が分岐構造を有する場合には、分岐部分は炭素数1〜4、好ましくは炭素数1〜2の短鎖であるのが好ましい。   Among these, the halogenated hydrocarbon group is preferably a group in which two or more of the hydrogen atoms in the alkyl group having 1 to 30 carbon atoms are substituted with halogen atoms, and in the alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, More preferred is a fluorinated alkyl group in which two or more of the hydrogen atoms are substituted with fluorine atoms. In addition, when the fluorinated alkyl group has a branched structure, the branched portion is preferably a short chain having 1 to 4 carbon atoms, preferably 1 to 2 carbon atoms.

フッ素化アルキル基としては、末端炭素原子にフッ素原子が1個以上結合した基が好ましく、末端炭素原子にフッ素原子が3個結合したCF基部分を有する基がより好ましく、末端が、フッ素原子が置換しない炭化水素基で内部の炭素鎖にフッ素原子が置換した炭素鎖であってもよい。末端部分に、アルキル基の全ての水素原子がフッ素原子に置換されたペルフルオロアルキル部分を有し、かつ後述する金属原子Mとの間に、−(CH−(式中、hは1〜6の整数を表し、好ましくは2〜4の整数である。)で表されるアルキレン基を有する基が特に好ましい。The fluorinated alkyl group is preferably a group in which one or more fluorine atoms are bonded to the terminal carbon atom, more preferably a group having a CF 3 group part in which three fluorine atoms are bonded to the terminal carbon atom, and the terminal is a fluorine atom. May be a carbon chain in which a fluorine atom is substituted on an internal carbon chain with a hydrocarbon group that is not substituted. The terminal portion has a perfluoroalkyl portion in which all the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with fluorine atoms, and-(CH 2 ) h- (wherein h is 1) with the metal atom M described later. Represents an integer of ˜6, preferably an integer of 2 to 4.), and particularly preferred is a group having an alkylene group.

フッ素化アルキル基中のフッ素原子数は、[(フッ素化アルキル基中のフッ素原子数)/(フッ素化アルキル基中のフッ素原子数+フッ素化アルキル基中の水素原子数)]×100%で表現したときに、60%以上であるのが好ましく、80%以上であるのがより好ましい。   The number of fluorine atoms in the fluorinated alkyl group is [(number of fluorine atoms in fluorinated alkyl group) / (number of fluorine atoms in fluorinated alkyl group + number of hydrogen atoms in fluorinated alkyl group)] × 100%. When expressed, it is preferably 60% or more, and more preferably 80% or more.

前記置換基を有していてもよい炭化水素基又は置換基を有していてもよいハロゲン化炭化水素基の置換基としては、カルボキシル基;アミド基;イミド基;エステル基;メトキシ基、エトキシ基等のアルコキシ基;又は水酸基等が挙げられる。これらの置換基の数は0〜3であるのが好ましい。   Examples of the substituent of the hydrocarbon group that may have a substituent or the halogenated hydrocarbon group that may have a substituent include a carboxyl group; an amide group; an imide group; an ester group; a methoxy group, and an ethoxy group. An alkoxy group such as a group; or a hydroxyl group. The number of these substituents is preferably 0-3.

連結基を含む炭化水素基の炭化水素基としては、具体的には、前記置換基を有していてもよい炭化水素基の炭化水素基として挙げたものと同様のものが挙げられる。   Specific examples of the hydrocarbon group including a linking group include the same hydrocarbon groups as those described above as the hydrocarbon group of the hydrocarbon group which may have a substituent.

また、連結基を含むハロゲン化炭化水素基のハロゲン化炭化水素基としては、具体的には、前記置換基を有していてもよいハロゲン化炭化水素基のハロゲン化炭化水素基として挙げたものと同様のものが挙げられる。   In addition, as the halogenated hydrocarbon group of the halogenated hydrocarbon group containing a linking group, specifically, those listed as the halogenated hydrocarbon group of the halogenated hydrocarbon group which may have the above substituent The same thing is mentioned.

前記連結基は、炭化水素基若しくはハロゲン化炭化水素基の炭素−炭素結合間、又は炭化水素基の炭素と後述する金属原子Mとの間に存在するのが好ましい。
連結基の具体例としては、−O−、−S−、−SO−、−CO−、−C(=O)O−又は−C(=O)NR51−(式中、R51は、水素原子;メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基等のアルキル基を表す。)等が挙げられる。
The linking group is preferably present between carbon-carbon bonds of a hydrocarbon group or a halogenated hydrocarbon group, or between carbon of the hydrocarbon group and a metal atom M described later.
Specific examples of the linking group include —O—, —S—, —SO 2 —, —CO—, —C (═O) O— or —C (═O) NR 51 — (wherein R 51 represents A hydrogen atom; an alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group or an isopropyl group).

これらの中でも、Rとしては、撥水性、耐久性の観点から、炭素数1〜30のアルキル基、炭素数1〜30のフッ素化アルキル基、又は連結基を含む炭素数1〜30フッ素化アルキル基であるのが好ましい。Among these, as R 1 , from the viewpoint of water repellency and durability, an alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, a fluorinated alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, or a fluorinated group having 1 to 30 carbon atoms including a linking group. An alkyl group is preferred.

Mは、ケイ素原子、ゲルマニウム原子、スズ原子、チタン原子、及びジルコニウム原子からなる群から選ばれる1種の原子を表す。これらの中でも、原料の入手容易性、反応性等の観点からケイ素原子が特に好ましい。   M represents one kind of atom selected from the group consisting of a silicon atom, a germanium atom, a tin atom, a titanium atom, and a zirconium atom. Among these, a silicon atom is particularly preferable from the viewpoints of availability of raw materials and reactivity.

Xは、水酸基又は加水分解性基を表し、加水分解性基としては、水と反応して分解する基であれば特に制約されない。具体的には、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルコキシ基、置換基を有していてもよい脂環式炭化水素オキシ基、置換基を有していてもよい芳香族炭化水素オキシ基、置換基を有していてもよいアルケニルオキシ基、置換基を有していてもよいアルキニルオキシ基、置換基を有していてもよいアラルキルオキシ基等の置換基を有していてもよい炭化水素オキシ基;置換基を有していてもよいアシルオキシ基;フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等のハロゲン原子;イソシアネート基;シアノ基;アミノ基;又はアミド基等を例示することができる。   X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group, and the hydrolyzable group is not particularly limited as long as it is a group that reacts with water and decomposes. Specifically, the C1-C6 alkoxy group which may have a substituent, the alicyclic hydrocarbon oxy group which may have a substituent, and the aromatic which may have a substituent. Having a substituent such as an aromatic hydrocarbonoxy group, an alkenyloxy group which may have a substituent, an alkynyloxy group which may have a substituent, an aralkyloxy group which may have a substituent. Optionally substituted hydrocarbonoxy group; acyloxy group optionally having substituent; halogen atom such as fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, iodine atom; isocyanate group; cyano group; amino group; or amide group Etc. can be illustrated.

炭素数1〜6のアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、イソプロポキシ基、n−ブトキシ基、sec−ブトキシ基、t−ブトキシ基、n−ペンチルオキシ基、n−へキシルオキシ基等が挙げられる。   Examples of the alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms include methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, isopropoxy group, n-butoxy group, sec-butoxy group, t-butoxy group, n-pentyloxy group, and n-to. A xyloxy group etc. are mentioned.

脂環式炭化水素オキシ基としては、シクロプロピルオキシ基、シクロプロピルメチルオキシ、シクロヘキシル基、ノルボニルオキシ基等が挙げられる。
芳香族炭化水素オキシ基としては、フェノキシ基、ナフチルオキシ基等が挙げられる。
アルケニルオキシ基としては、ビニルオキシ基、アリルオキシ基等が挙げられる。
アルキニルオキシ基としては、プロパ−1−イン−1−イルオキシ基、ブタ−1−イン−1−イルオキシ基等が挙げられる。
アラルキルオキシ基としては、ベンジルオキシ基、フェネチルオキシ基等が挙げられる。
アシルオキシ基としては、アセトキシ基、プロピオニルオキシ基、n−プロピルカルボニルオキシ基、イソプロピルカルボニルオキシ基、n−ブチルカルボニルオキシ基等が挙げられる。
Examples of the alicyclic hydrocarbon oxy group include cyclopropyloxy group, cyclopropylmethyloxy, cyclohexyl group, norbornyloxy group and the like.
Examples of the aromatic hydrocarbon oxy group include a phenoxy group and a naphthyloxy group.
Examples of the alkenyloxy group include a vinyloxy group and an allyloxy group.
Examples of the alkynyloxy group include a prop-1-in-1-yloxy group and a but-1-in-1-yloxy group.
Examples of the aralkyloxy group include a benzyloxy group and a phenethyloxy group.
Examples of the acyloxy group include an acetoxy group, a propionyloxy group, an n-propylcarbonyloxy group, an isopropylcarbonyloxy group, and an n-butylcarbonyloxy group.

これらの置換基としては、カルボキシル基、アミド基、イミド基、エステル基、水酸基等が挙げられる。
これらの中でも、Xとしては、水酸基、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルコキシ基、アシルオキシ基、又はイソシアネート基が好ましく、炭素数1〜4のアルコキシ基又はアシルオキシ基がより好ましい。
Examples of these substituents include a carboxyl group, an amide group, an imide group, an ester group, and a hydroxyl group.
Among these, X is preferably a hydroxyl group, a halogen atom, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an acyloxy group, or an isocyanate group, and more preferably an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms or an acyloxy group.

mは、金属原子Mの原子価を表す。
nは、1〜(m−1)のいずれかの整数を表す。高密度の有機薄膜を製造する上では、nは1であるのが好ましい。
nが2以上のとき、Rは同一であっても相異なっていてもよい。
また、(m−n)が2以上のとき、Xは同一であっても相異なっていてもよい。
m represents the valence of the metal atom M.
n represents any integer of 1 to (m−1). In producing a high-density organic thin film, n is preferably 1.
When n is 2 or more, R 1 may be the same or different.
When (mn) is 2 or more, Xs may be the same or different.

(金属系界面活性剤と相互作用し得る触媒)
有機薄膜形成溶液に含まれる、前記金属系界面活性剤と相互作用し得る触媒としては、金属系界面活性剤の金属部分又は加水分解性基部分等と、配位結合や水素結合等を介して相互作用をすることにより、加水分解性基又は水酸基を活性化させ、縮合を促進させる作用を有する触媒であれば、特に制限されない。なかでも、金属酸化物;金属水酸化物;金属アルコキシド類;キレート化又は配位化された金属化合物;金属アルコキシド類部分加水分解生成物;金属アルコキシド類を2倍当量以上の水で処理して得られた加水分解生成物;有機酸;シラノール縮合触媒、及び酸触媒からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物が好ましく、金属アルコキシド類、金属アルコキシド類部分加水分解生成物がより好ましい。
(Catalyst that can interact with metal surfactant)
The catalyst contained in the organic thin film forming solution and capable of interacting with the metal-based surfactant includes a metal part or a hydrolyzable group part of the metal-based surfactant, via a coordination bond, a hydrogen bond, etc. The catalyst is not particularly limited as long as it is a catalyst having an action of activating a hydrolyzable group or hydroxyl group and promoting condensation by interacting. Among them, a metal oxide; a metal hydroxide; a metal alkoxide; a chelated or coordinated metal compound; a metal alkoxide partial hydrolysis product; and a metal alkoxide treated with two or more equivalents of water. The obtained hydrolysis product; organic acid; at least one compound selected from the group consisting of a silanol condensation catalyst and an acid catalyst is preferable, and metal alkoxides and metal alkoxide partial hydrolysis products are more preferable.

(有機薄膜形成溶液に用いる有機溶媒)
有機薄膜形成溶液に用いる有機溶媒としては、その有機溶媒中で、金属アルコキシド類の加水分解生成物が、分散質となって分散できるものであるのが好ましく、金属系界面活性剤を水で処理する反応を低温で行うことができることから、水の溶解度が大きく、低温で凝固しない溶媒がより好ましい。
(Organic solvent used for organic thin film forming solution)
As the organic solvent used in the organic thin film forming solution, it is preferable that the hydrolysis product of the metal alkoxide is dispersed in the organic solvent, and the metal surfactant is treated with water. Therefore, a solvent that has high water solubility and does not solidify at a low temperature is more preferable.

用いる有機溶媒の具体例としては、メタノール、エタノール、イソプロパノール等のアルコール系溶媒;塩化メチレン、クロロホルム、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒;ヘキサン、シクロヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素系溶媒;テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル、ジオキサン等のエーテル系溶媒;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系溶媒;ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶媒;ジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶媒;メチルポリシロキサン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、デカメチルシクロペンタンシロキサン、メチルフェニルポリシロキサン等のシリコーン(特開平9−208438号公報等)等;が挙げられる。   Specific examples of the organic solvent used include alcohol solvents such as methanol, ethanol and isopropanol; halogenated hydrocarbon solvents such as methylene chloride, chloroform and chlorobenzene; hydrocarbon solvents such as hexane, cyclohexane, benzene, toluene and xylene. Ether solvents such as tetrahydrofuran, diethyl ether and dioxane; ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone; amide solvents such as dimethylformamide and N-methylpyrrolidone; sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide; methyl polysiloxane , Silicones such as octamethylcyclotetrasiloxane, decamethylcyclopentanesiloxane, and methylphenylpolysiloxane (JP-A-9-208438). .

これらの溶媒は1種単独で、あるいは2種以上を混合して用いることができる。
混合溶媒として用いる場合には、トルエン、キシレン等の炭化水素系溶媒と、メタノール、エタノール、イソプロパノ−ル、t−ブタノール等の低級アルコール溶媒系の組み合わせが好ましい。この場合の低級アルコール系溶媒としては、イソプロパノ−ル、t−ブタノール等の2級以上のアルコール系溶媒を用いるのがより好ましい。混合溶媒の混合比は特に制限されないが、炭化水素系溶媒と低級アルコール系溶媒を、体積比で、99/1〜50/50の範囲で用いるのが好ましい。
These solvents can be used alone or in combination of two or more.
When used as a mixed solvent, a combination of a hydrocarbon solvent such as toluene or xylene and a lower alcohol solvent system such as methanol, ethanol, isopropanol, or t-butanol is preferable. In this case, the lower alcohol solvent is more preferably a secondary or higher alcohol solvent such as isopropanol or t-butanol. The mixing ratio of the mixed solvent is not particularly limited, but it is preferable to use a hydrocarbon solvent and a lower alcohol solvent in a volume ratio of 99/1 to 50/50.

(5)基材上への溶液の滴下法
本発明の滴下方法としては、小規模の場合はビュレットなど手動操作可能な器具でも可能であり、工業的には滴下量を制御可能で、連続的に滴下できる自動式滴下装置を使用することができる。
薄膜形成溶液を基材上に適量滴下するには、たとえば、特開平8−318200号公報に示されるように、台上にセンサーを数箇所配置し、センサーが滴下された薄膜形成溶液を検知すると薄膜形成溶液の滴下を停止するようにすることもできる。
また、連続的に、滴下装置下部に、コンベアベルトなどの手段により回転可能な台を移送しながら、一定量だけ滴下させることができる。又、逆に滴下口を移動させてもよい。
滴下量は、少なくとも、基材上の必要部分をコーティングするに足る量を使用する。
滴下口は1個でも複数個でも設置可能であり、複数個設ける場合には、基材ごとに滴下口1個となるように設けても良いし、基材1枚に対して、複数個設けるようにしても良い。
基材1枚に対して滴下口1個の場合は、基材の中心に滴下口の先端が来るように位置決めする。また、基材1枚に対して滴下口を複数個設ける場合には、滴下した溶液が等しくコーティングされるように滴下口の位置を設定する。
(5) Method of dropping a solution onto a substrate As a dropping method of the present invention, in the case of a small scale, a manually operable instrument such as a bullet can be used, and the dropping amount can be controlled industrially and continuously. It is possible to use an automatic dripping apparatus capable of dripping.
In order to drop an appropriate amount of the thin film forming solution onto the base material, for example, as shown in JP-A-8-318200, several sensors are arranged on the table, and the thin film forming solution on which the sensor has been dropped is detected. The dripping of the thin film forming solution can also be stopped.
Moreover, it can be dripped only a fixed amount continuously, transferring the base which can be rotated by means, such as a conveyor belt, to the lower part of a dripping apparatus. Conversely, the dropping port may be moved.
The dripping amount is at least an amount sufficient to coat a necessary portion on the substrate.
One or a plurality of dripping ports can be installed. When a plurality of dripping ports are provided, one drip port may be provided for each substrate, or a plurality of dripping ports may be provided for one substrate. You may do it.
In the case of one dripping port with respect to one base material, it positions so that the front-end | tip of a dripping port may come to the center of a base material. Further, when a plurality of dropping ports are provided for one base material, the position of the dropping port is set so that the dropped solution is equally coated.

以下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明の技術的範囲はこれらの例示に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention more concretely, the technical scope of this invention is not limited to these illustrations.

[実施例1]
十字型スターラーチップ上に固定用の両面テープを貼り、1LのSUS容器内に置く。SUS容器をマグネチックスターラー上に置いた後、10分間UV/O洗浄処理した直径:2inch(50mm)Siウェハーを両面テープで十字型スターラーチップ上に固定した。
Siウェハー上の全面に有機薄膜形成溶液(日本曹達社製SAMLAY(登録商標))をウェハー上からこぼれないよう静かに張り、1分間そのまま保持した。1分後、マグネチックスターラーを稼動してSiウェハーを回転させ、Siウェハー上の有機薄膜形成溶液を振り切った。
その後、Siウェハー上に洗浄用溶剤(日鉱石油化学社製NSクリーン100(登録商標))を静かに張り、1分間そのまま保持した。1分後、マグネチックスターラーを稼動してSiウェハーを回転させ、Siウェハー上の洗浄用溶剤を振り切った。
振り切ったSiウェハーを60℃の乾燥器内に入れて、基材上の溶媒を乾燥して、有機薄膜をSiウェハー上に作製した。
[Example 1]
A double-sided tape for fixing is stuck on the cross-shaped stirrer chip and placed in a 1 L SUS container. After placing the SUS container on a magnetic stirrer, a diameter: 2 inch (50 mm) Si wafer subjected to UV / O 3 cleaning treatment for 10 minutes was fixed on a cross-shaped stirrer chip with double-sided tape.
An organic thin film forming solution (SAMLAY (registered trademark) manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) was gently spread over the entire surface of the Si wafer so as not to spill from the wafer, and held for 1 minute. After 1 minute, the magnetic stirrer was operated to rotate the Si wafer, and the organic thin film forming solution on the Si wafer was shaken off.
Thereafter, a cleaning solvent (NS Clean 100 (registered trademark) manufactured by Nikko Petrochemical Co., Ltd.) was gently spread on the Si wafer and held for 1 minute. After 1 minute, the magnetic stirrer was operated to rotate the Si wafer, and the cleaning solvent on the Si wafer was shaken off.
The shaken Si wafer was placed in a dryer at 60 ° C., the solvent on the substrate was dried, and an organic thin film was produced on the Si wafer.

[実施例2]
スピンコーターの中央固定位置にSiウェハーを固定するための両面テープを貼り、10分間UV/O洗浄処理した直径:8inch(200mm)Siウェハーを両面テープ上に固定した。
Siウェハー上の全面に有機薄膜形成溶液(日本曹達社製SAMLAY(登録商標))をウェハー上からこぼれないよう静かに張り、1分間そのまま保持した。1分後、スピンコーターを稼動してSiウェハーを回転させ、Siウェハー上の有機薄膜形成溶液を振り切った。
その後、Siウェハー上に洗浄用溶剤(日鉱石油化学社製NSクリーン100(登録商標))静かに張り、1分間そのまま保持した。1分後、スピンコーターを稼動してSiウェハーを回転させ、Siウェハー上の洗浄用溶剤を振り切った。
振り切ったSiウェハーを60℃の乾燥器内に入れて、基材上の溶媒を乾燥して、有機薄膜をSiウェハー上に作製した。
[Example 2]
A double-sided tape for fixing the Si wafer was attached to the center fixing position of the spin coater, and a diameter / 8 inch (200 mm) Si wafer subjected to UV / O 3 cleaning treatment for 10 minutes was fixed on the double-sided tape.
An organic thin film forming solution (SAMLAY (registered trademark) manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) was gently spread over the entire surface of the Si wafer so as not to spill from the wafer, and held for 1 minute. After 1 minute, the spin coater was operated to rotate the Si wafer, and the organic thin film forming solution on the Si wafer was shaken off.
Thereafter, the cleaning solvent (NS Clean 100 (registered trademark) manufactured by Nikko Petrochemical Co., Ltd.) was gently spread on the Si wafer and held for 1 minute. After 1 minute, the spin coater was operated to rotate the Si wafer, and the cleaning solvent on the Si wafer was shaken off.
The shaken Si wafer was placed in a dryer at 60 ° C., the solvent on the substrate was dried, and an organic thin film was produced on the Si wafer.

本発明の方法を使用することにより、基材の裏面に処理液が付着することがなく、また基材の裏面に付着していた有機薄膜形成溶液が表面に廻りこむこともないため、液ジミ、液流れ跡のないきれいな薄膜を作製することができる。また、本発明の方法は、親水性基材上において撥水性基を有する有機薄膜を作製するため、台を回転させたり、滴下口を移動させたりする必要がなく、簡易に有機薄膜を作製することができる。   By using the method of the present invention, the treatment liquid does not adhere to the back surface of the base material, and the organic thin film forming solution attached to the back surface of the base material does not wrap around the surface. A clean thin film with no trace of liquid flow can be produced. Moreover, since the method of the present invention produces an organic thin film having a water-repellent group on a hydrophilic substrate, it is not necessary to rotate the stage or move the dropping port, and the organic thin film is easily produced. be able to.

Claims (2)

(a)表面が親水性である基材を水平な台上に載置して固定した後、
(b)撥水性基を有する有機薄膜形成溶液を、基材表面を覆うことのできる量だけ基材
上に滴下し、
(c)基材上に有機薄膜を形成させるに足りる時間静置した後、台を傾けて余剰の有機薄膜形成溶液を取り除く
ことを特徴とする有機薄膜の作製方法。
(A) After the substrate having a hydrophilic surface is placed and fixed on a horizontal table,
(B) An organic thin film forming solution having a water repellent group is dropped on the substrate in an amount that can cover the substrate surface;
(C) A method for producing an organic thin film, wherein the organic thin film is allowed to stand for a period of time sufficient to form an organic thin film on a substrate, and then the excess organic thin film forming solution is removed by tilting the table.
有機薄膜が単分子膜であることを特徴とする請求項記載の有機薄膜の作製方法。
2. The method for producing an organic thin film according to claim 1 , wherein the organic thin film is a monomolecular film.
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