JP5282653B2 - Multilayer electronic component and manufacturing method thereof - Google Patents

Multilayer electronic component and manufacturing method thereof

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JP5282653B2 JP2009116095A JP2009116095A JP5282653B2 JP 5282653 B2 JP5282653 B2 JP 5282653B2 JP 2009116095 A JP2009116095 A JP 2009116095A JP 2009116095 A JP2009116095 A JP 2009116095A JP 5282653 B2 JP5282653 B2 JP 5282653B2
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the formation step for a nickel plating film though, in a laminated electronic part having an external terminal electrode that is substantially formed by using plating, a copper plating film is formed as a base of the external terminal electrode and a nickel plating film is necessary to be formed as a barrier layer thereon. <P>SOLUTION: Nickel is used as an electric conduction component for inner electrodes 3 and 4, and copper plating films 10 and 11 are formed on the exposed surfaces of the inner electrodes 3 and 4 in a part 2. Then, the part is heated at 600&deg;C or higher to segregate an oxide of the nickel on the surface of the copper plating films 10 and 11. The segregated oxide of the nickel is reduced to form metal films 12 and 13 made of nickel along the surfaces of the copper plating films 10 and 11. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&amp;INPIT

Description

この発明は、積層型電子部品およびその製造方法に関するもので、特に、外部端子電極が複数の内部導体と電気的に接続されるようにして直接めっきにより形成された積層型電子部品およびその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a multilayer electronic component and a method for manufacturing the same, and in particular, a multilayer electronic component formed by direct plating so that an external terminal electrode is electrically connected to a plurality of internal conductors and a method for manufacturing the same. It is about.

近年、携帯電話、ノートパソコン、デジタルカメラ、デジタルオーディオ機器等の小型携帯電子機器の市場が拡大している。これらの携帯電子機器では、小型化が進んでいる一方で、高性能化も同時に進んでいる。携帯電子機器には多数の積層セラミック電子部品のような積層型電子部品が搭載されているが、積層型電子部品についても、小型化・高性能化が要求されており、積層型電子部品の一例としての、たとえば積層セラミックコンデンサにおいては、小型化・大容量化が要求されている。   In recent years, the market for small portable electronic devices such as mobile phones, notebook computers, digital cameras, and digital audio devices is expanding. In these portable electronic devices, while miniaturization is progressing, high performance is also progressing at the same time. Many types of multilayer electronic components such as multilayer ceramic electronic components are mounted on portable electronic devices. However, there is a demand for miniaturization and high performance of multilayer electronic components. For example, in a multilayer ceramic capacitor, downsizing and large capacity are required.

積層セラミックコンデンサを小型化・大容量化する手段としては、誘電体セラミック層を薄層化することに加えて、内部電極の有効面積を広くすることが有効である。しかし、積層セラミックコンデンサを量産する際には、内部電極とセラミック素体側面とのサイドマージンや、内部電極とセラミック素体端面とのエンドマージンをある程度確保する必要があるため、内部電極の有効面積を広げることには制約がある。   As a means for reducing the size and increasing the capacity of the multilayer ceramic capacitor, it is effective to widen the effective area of the internal electrode in addition to thinning the dielectric ceramic layer. However, when mass-producing multilayer ceramic capacitors, it is necessary to secure a certain amount of side margin between the internal electrode and the side surface of the ceramic body and end margin between the internal electrode and the end surface of the ceramic body. There are restrictions on expanding the range.

所定のマージンを確保しながら内部電極の有効面積を広げるためには、誘電体セラミック層の面積を広くする必要がある。しかし、決められた寸法規格内で誘電体セラミック層の面積を広げることには限界があり、その上、外部端子電極の厚みが妨げとなる。   In order to increase the effective area of the internal electrode while ensuring a predetermined margin, it is necessary to increase the area of the dielectric ceramic layer. However, there is a limit to increasing the area of the dielectric ceramic layer within the determined dimensional standard, and the thickness of the external terminal electrode is hindered.

従来、積層セラミックコンデンサの外部端子電極は、典型的には、セラミック素体端部に導電性ペーストを塗布し、焼き付けることにより形成されてきた。導電性ペーストの塗布方法としては、ペースト槽にセラミック素体端部を浸漬して引き上げるというものが主流であるが、この方法では、導電性ペーストの粘性が影響して、セラミック素体端面中央部に導電性ペーストが厚く付着しやすい。このため、外部端子電極が部分的に厚くなる分、誘電体セラミック層の面積を小さくせざるを得なかった。   Conventionally, the external terminal electrode of a multilayer ceramic capacitor has typically been formed by applying a conductive paste to the end of a ceramic body and baking it. As a method for applying the conductive paste, the main part is to immerse and pull up the end of the ceramic body in a paste tank. However, in this method, the viscosity of the conductive paste affects the central part of the end face of the ceramic body. The conductive paste is thick and easy to adhere to. For this reason, the area of the dielectric ceramic layer has to be reduced as the external terminal electrode is partially thickened.

これを受けて、外部端子電極を直接めっきにより形成する方法が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。この方法では、セラミック素体端面における内部電極の露出部を核としてめっき膜が析出し、このめっき膜が成長すること、すなわち、めっき膜のつきまわりにより、隣り合う内部電極の露出部同士が接続される。この方法によれば、従来の導電性ペーストによる方法に比べて、薄くフラットな電極膜を形成することが可能となる。   In response to this, a method of directly forming the external terminal electrode by plating has been proposed (for example, see Patent Document 1). In this method, a plating film is deposited with the exposed portion of the internal electrode on the end face of the ceramic body as a nucleus, and this plating film grows, that is, the exposed portion of the adjacent internal electrode is connected to each other by the surrounding of the plating film. Is done. According to this method, it is possible to form a thin and flat electrode film as compared with the conventional method using a conductive paste.

上述したように、外部端子電極を直接めっきにより形成する場合、めっき膜を構成する金属としては、つきまわり性を考慮すると、銅を用いることが好ましい。   As described above, when the external terminal electrode is directly formed by plating, it is preferable to use copper as the metal constituting the plating film in consideration of throwing power.

他方、はんだを用いて積層セラミックコンデンサを実装するにあたっては、上述の銅めっき膜の上に、バリア層としてのニッケルめっき膜を形成し、さらに、はんだ濡れ性確保のための錫または金を主成分とするめっき膜を形成することが必要になるため、外部端子電極は合計3層以上のめっき膜から構成されることになり、その結果、厚みを増してしまうという不都合を招く。   On the other hand, when mounting a multilayer ceramic capacitor using solder, a nickel plating film as a barrier layer is formed on the copper plating film, and tin or gold as a main component for ensuring solder wettability is formed. Therefore, the external terminal electrode is composed of a total of three or more plating films, and as a result, the thickness is increased.

なお、上述した1層目を銅めっき膜に代えてニッケルめっき膜で構成すると、合計2層で済むが、以下の問題を招く。   If the first layer is composed of a nickel plating film instead of the copper plating film, a total of two layers are sufficient, but the following problems are caused.

ニッケルは、つきまわり性に劣り、銅に比べて固着力が劣る。また、積層セラミックコンデンサの内部電極の導電成分としてニッケルがよく使われるが、この場合、熱処理を施しても、外部端子電極側のめっき膜を構成する金属と内部電極の導電成分とが同元素であるので、拡散現象がほとんど生じない。よって、外部端子電極と内部電極との界面での封止性に劣り、水分等の浸入を許容することになる。   Nickel is inferior in throwing power and inferior in adhesion compared to copper. In addition, nickel is often used as the conductive component of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor. In this case, even if heat treatment is performed, the metal constituting the plating film on the external terminal electrode side and the conductive component of the internal electrode are the same element. There is almost no diffusion phenomenon. Therefore, the sealing property at the interface between the external terminal electrode and the internal electrode is inferior, and entry of moisture or the like is allowed.

国際公開第2007/049456号パンフレットInternational Publication No. 2007/049456 Pamphlet

そこで、この発明の目的は、上述した問題を解決し得る、積層型電子部品およびその製造方法を提供しようとすることである。   Therefore, an object of the present invention is to provide a multilayer electronic component and a method for manufacturing the same, which can solve the above-described problems.

この発明は、導電成分として第1の金属を含む複数の内部電極が内部に形成され、かつ内部電極の各一部が露出している、積層構造の部品本体を用意する工程と、内部電極と電気的に接続される外部端子電極を部品本体の外表面上に形成する工程とを備える、積層型電子部品の製造方法にまず向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、次のような構成を備えることを特徴としている。   The present invention includes a step of preparing a component body having a laminated structure in which a plurality of internal electrodes including a first metal as a conductive component are formed therein, and each part of the internal electrodes is exposed, In order to solve the technical problem described above, first directed to a method for manufacturing a multilayer electronic component, comprising a step of forming an external terminal electrode to be electrically connected on an outer surface of a component main body. It is characterized by having the following configuration.

すなわち、外部端子電極を形成する工程は、部品本体における内部電極の露出面上に、第1の金属とは異なる第2の金属のめっきを施すことにより、めっき膜を形成する工程と、めっき膜が形成された部品本体を600℃以上の温度で熱処理することにより、めっき膜の表面に第1の金属の酸化物を偏析させる工程と、偏析した第1の金属の酸化物を還元することによって、第1の金属からなる金属層をめっき膜の表面に沿って形成する工程とを備え、第1の金属の主成分がニッケルであり、第2の金属の主成分が銅であることを特徴としているThat is, the step of forming the external terminal electrode includes a step of forming a plating film by plating a second metal different from the first metal on the exposed surface of the internal electrode in the component main body, and a plating film. By heat-treating the component main body formed with a temperature of 600 ° C. or higher, the step of segregating the first metal oxide on the surface of the plating film and reducing the segregated first metal oxide And a step of forming a metal layer made of the first metal along the surface of the plating film, wherein the main component of the first metal is nickel and the main component of the second metal is copper. It is said .

この発明に係る積層型電子部品の製造方法において、熱処理する工程では、1000〜1100℃の温度、および100〜200ppmの酸素濃度が適用されることが好ましい。 The method of manufacturing a multilayer electronic component according to the present invention, the step of heat treatment, it is preferable that the temperature of 1000 to 1100 ° C., and the oxygen concentration of 100~200ppm applied.

この発明は、また、導電成分として第1の金属を含む複数の内部電極が内部に形成され、かつ内部電極の各一部が露出している、積層構造の部品本体と、内部電極と電気的に接続され、かつ部品本体の外表面上に形成される、外部端子電極とを備える、積層型電子部品にも向けられる。   The present invention also provides a component body having a laminated structure in which a plurality of internal electrodes including a first metal as a conductive component are formed therein, and a part of each internal electrode is exposed, and the internal electrode and the electrical And an external terminal electrode formed on the outer surface of the component main body.

この発明に係る積層型電子部品において、外部端子電極は、部品本体における内部電極の露出面上に直接めっきにより形成された、第1の金属とは異なる第2の金属からなるめっき膜と、めっき膜の表面に沿って偏析した第1の金属からなる金属層とを備え、第1の金属の主成分がニッケルであり、第2の金属の主成分が銅であることを特徴としている。 In the multilayer electronic component according to the present invention, the external terminal electrode is formed by plating directly on the exposed surface of the internal electrode in the component main body, and a plating film made of a second metal different from the first metal, and plating And a metal layer made of a first metal segregated along the surface of the film, wherein the main component of the first metal is nickel and the main component of the second metal is copper .

この発明によれば、外部端子電極の1層目となる第2の金属からなるめっき膜の表面に沿って、内部電極の導電成分となる第1の金属からなる金属層を形成することができる。したがって、外部端子電極を、たとえば銅めっき膜、その上のニッケルめっき膜、およびその上の錫または金めっき膜から構成したい場合、内部電極の導電成分としてニッケルを用いるので、中間のニッケルめっき膜を形成するための工程を省くことができ、また、外部端子電極全体としての厚みの低減にも寄与し得る。 According to this invention, the metal layer made of the first metal that becomes the conductive component of the internal electrode can be formed along the surface of the plating film made of the second metal that becomes the first layer of the external terminal electrode. . Therefore, the external terminal electrodes, for example, copper plating film, a nickel plated film thereon, and if you want to configure tin or gold-plated film thereon, so nickel is used as the conductive component of the internal electrode, an intermediate nickel plating film The process for forming can be omitted, and the thickness of the external terminal electrode as a whole can be reduced.

第1の金属の主成分がニッケルであり、第2の金属の主成分が銅であるので、1000〜1100℃の温度、および100〜200ppmの酸素濃度を適用して熱処理を施せば、内部電極の導電成分としてのニッケルが外部端子電極を構成する銅めっき膜の表面に効果的に偏析するとともに、この銅めっき膜と内部電極との間で相互拡散が効果的に生じるようにすることができる。 The main component of the first metal is nickel, the main component of the second metal is copper, if Hodokose heat treatment by applying an oxygen concentration of temperatures, and 100~200ppm of 1000 to 1100 ° C., the internal electrodes As a conductive component, nickel is effectively segregated on the surface of the copper plating film constituting the external terminal electrode, and mutual diffusion can be effectively generated between the copper plating film and the internal electrode. .

この発明の一実施形態による製造方法によって製造された積層型電子部品を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the multilayer electronic component manufactured by the manufacturing method by one Embodiment of this invention. 図1に示した積層型電子部品の製造過程の途中であって、外部端子電極を形成するため、めっき膜を部品本体上に形成した後の状態を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state after a plating film is formed on a component main body in order to form an external terminal electrode in the course of the manufacturing process of the multilayer electronic component shown in FIG. 1. 図1に示した積層型電子部品の製造過程の途中であって、外部端子電極を形成するため、上記めっき膜が形成された部品本体に熱処理を施した後の状態を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a state after a heat treatment is performed on a component main body on which the plating film is formed in order to form an external terminal electrode during the manufacturing process of the multilayer electronic component illustrated in FIG. 1.

図1を参照して、この発明の一実施形態による製造方法によって製造された積層型電子部品1の構造について説明する。   With reference to FIG. 1, the structure of the multilayer electronic component 1 manufactured by the manufacturing method according to the embodiment of the present invention will be described.

積層型電子部品1は、積層構造の部品本体2を備えている。部品本体2は、その内部に複数の内部電極3および4を形成している。より詳細には、部品本体2は、積層された複数の絶縁体層5と、絶縁体層5間の界面に沿って形成された複数の層状の内部電極3および4とを備えている。   The multilayer electronic component 1 includes a component body 2 having a multilayer structure. The component body 2 has a plurality of internal electrodes 3 and 4 formed therein. More specifically, the component main body 2 includes a plurality of laminated insulator layers 5 and a plurality of layered internal electrodes 3 and 4 formed along an interface between the insulator layers 5.

積層型電子部品1が積層セラミックコンデンサを構成するとき、絶縁体層5は、誘電体セラミックから構成される。なお、積層型電子部品1は、その他、インダクタ、サーミスタ、圧電部品などを構成するものであってもよい。したがって、積層型電子部品1の機能に応じて、絶縁体層5は、誘電体セラミックの他、磁性体セラミック、半導体セラミック、圧電体セラミックなどから構成されても、さらには、樹脂を含む材料から構成されてもよい。   When the multilayer electronic component 1 constitutes a multilayer ceramic capacitor, the insulator layer 5 is composed of a dielectric ceramic. In addition, the multilayer electronic component 1 may constitute an inductor, a thermistor, a piezoelectric component, or the like. Therefore, depending on the function of the multilayer electronic component 1, the insulator layer 5 may be composed of a dielectric ceramic, a magnetic ceramic, a semiconductor ceramic, a piezoelectric ceramic, or the like, or a material containing a resin. It may be configured.

部品本体2の一方および他方端面6および7には、それぞれ、複数の内部電極3および複数の内部電極4の各端部が露出していて、これら内部電極3の各端部および内部電極4の各端部を、それぞれ、互いに電気的に接続するように、外部端子電極8および9が形成されている。   The ends of the plurality of internal electrodes 3 and the plurality of internal electrodes 4 are exposed at one and the other end surfaces 6 and 7 of the component body 2, respectively. External terminal electrodes 8 and 9 are formed so that each end is electrically connected to each other.

なお、図示した積層型電子部品1は、2個の外部端子電極8および9を備える2端子型のものであるが、この発明は多端子型の積層型電子部品にも適用することができる。   The illustrated multilayer electronic component 1 is a two-terminal type including two external terminal electrodes 8 and 9, but the present invention can also be applied to a multi-terminal multilayer electronic component.

外部端子電極8および9の各々は、部品本体2における内部電極3および4の露出面、すなわち端面6および7上に直接めっきにより形成されためっき膜10および11と、めっき膜10および11の表面に沿って偏析した金属層12および13とをそれぞれ備えている。   Each of external terminal electrodes 8 and 9 includes plating films 10 and 11 formed by direct plating on exposed surfaces of internal electrodes 3 and 4 in component body 2, that is, end faces 6 and 7, and surfaces of plating films 10 and 11. And metal layers 12 and 13 segregated along the line.

内部電極3および4の導電成分となる金属、めっき膜10および11を構成する金属ならびに金属層12および13を構成する金属は、次のように選ばれる。すなわち、内部電極3および4の導電成分となる金属を第1の金属としたとき、めっき膜10および11を構成する金属は、第1の金属とは異なる第2の金属とされ、金属層12および13を構成する金属は第1の金属とされる。   The metal constituting the conductive component of the internal electrodes 3 and 4, the metal constituting the plating films 10 and 11, and the metal constituting the metal layers 12 and 13 are selected as follows. That is, when the metal serving as the conductive component of the internal electrodes 3 and 4 is the first metal, the metal constituting the plating films 10 and 11 is a second metal different from the first metal, and the metal layer 12 And the metal which comprises 13 is made into the 1st metal.

より具体的には、上述した第1の金属の主成分はニッケルとされ、第2の金属の主成分は銅とされる。めっき膜10および11の主成分を銅とすることにより、めっき膜10および11のつきまわり性を良好なものとすることができ、めっき膜10および11において十分な固着力を得ることができる。また、金属層12および13の主成分をニッケルとすることにより、はんだを用いた実装時に、金属層12および13をバリア層として機能させることができる。 More specifically, the main component of the first metal described above is nickel, and the main component of the second metal is copper. By using copper as the main component of the plating films 10 and 11, the throwing power of the plating films 10 and 11 can be improved, and a sufficient fixing force can be obtained in the plating films 10 and 11. Further, by using nickel as the main component of the metal layers 12 and 13, the metal layers 12 and 13 can function as a barrier layer during mounting using solder.

図1では図示されないが、めっき膜10および11ならびに金属層12および13とからなる外部端子電極8および9には、さらに、錫または金めっきが施され、外部端子電極8および9に対して良好なはんだ濡れ性が与えられることが好ましい。   Although not shown in FIG. 1, the external terminal electrodes 8 and 9 made of the plating films 10 and 11 and the metal layers 12 and 13 are further plated with tin or gold, which is good for the external terminal electrodes 8 and 9. It is preferable that good solder wettability is provided.

次に、図1に示した積層型電子部品1の製造方法、特に、外部端子電極8および9の形成方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the multilayer electronic component 1 shown in FIG. 1, particularly a method for forming the external terminal electrodes 8 and 9 will be described.

まず、周知の方法により、部品本体2が作製される。次に、外部端子電極8および9が、内部電極3および4と電気的に接続されるように、部品本体2の端面6および7上に形成される。   First, the component main body 2 is produced by a known method. Next, the external terminal electrodes 8 and 9 are formed on the end faces 6 and 7 of the component body 2 so as to be electrically connected to the internal electrodes 3 and 4.

この外部端子電極8および9の形成にあたっては、まず、図2に示すように、部品本体2の端面6および7上に、めっき膜10および11が形成される。めっき膜10および11の形成のためのめっきは、電解めっきおよび無電解めっきのいずれでもよい。   In forming the external terminal electrodes 8 and 9, first, plating films 10 and 11 are formed on the end faces 6 and 7 of the component body 2 as shown in FIG. 2. The plating for forming the plating films 10 and 11 may be either electrolytic plating or electroless plating.

次に、上記のようにめっき膜10および11が形成された部品本体2が、600℃以上の温度で熱処理される。これによって、めっき膜10および11の表面に、内部電極3および4の導電成分としての第1の金属の酸化物が偏析し、図3に示すように、第1の金属の酸化物からなる偏析層14および15が形成される。   Next, the component body 2 on which the plating films 10 and 11 are formed as described above is heat-treated at a temperature of 600 ° C. or higher. As a result, the oxide of the first metal as the conductive component of the internal electrodes 3 and 4 is segregated on the surfaces of the plating films 10 and 11, and as shown in FIG. 3, the segregation made of the oxide of the first metal. Layers 14 and 15 are formed.

前述したように、第1の金属の主成分がニッケルであり、めっき膜10および11を構成する第2の金属の主成分が銅であるので、上述の熱処理工程では、1000〜1100℃の温度および100〜200ppmの酸素濃度といった条件が適用されることが好ましい。このような条件を適用すれば、内部電極3および4に含まれるニッケルが銅を主成分とするめっき膜10および11の表面に効果的に偏析するとともに、めっき膜10および11と内部電極3および4との間で相互拡散が効果的に生じるようにすることができるからである。 As described above, the major component of the first metal is nickel, the main component of the second metal constituting the plating film 10 and 11 is a copper, in the above heat treatment step, the temperature of 1000 to 1100 ° C. And conditions such as 100-200 ppm oxygen concentration are preferably applied. When such conditions are applied, nickel contained in the internal electrodes 3 and 4 is effectively segregated on the surfaces of the plating films 10 and 11 mainly composed of copper, and the plating films 10 and 11 and the internal electrodes 3 and This is because interdiffusion can effectively occur between the four.

次に、偏析層14および15を構成する第1の金属の酸化物が還元される。これによって、図1に示すように、第1の金属からなる金属層12および13がめっき膜10および11の表面に沿って形成される。この還元処理は、たとえば、300〜450℃の温度で、1〜60分間程度、水素を含む還元性雰囲気(たとえばNとHとの混合雰囲気)中で実施されることが好ましい。 Next, the oxide of the first metal constituting the segregation layers 14 and 15 is reduced. As a result, as shown in FIG. 1, metal layers 12 and 13 made of the first metal are formed along the surfaces of the plating films 10 and 11. This reduction treatment is preferably performed, for example, at a temperature of 300 to 450 ° C. for about 1 to 60 minutes in a reducing atmosphere containing hydrogen (for example, a mixed atmosphere of N 2 and H 2 ).

次に、この発明による効果を確認するために実施した実験例について説明する。   Next, experimental examples carried out to confirm the effects of the present invention will be described.

まず、部品本体として、長さ1.9mm、幅1.05mmおよび高さ1.05mmであって、絶縁体層がチタン酸バリウム系誘電体セラミックからなり、内部電極の導電成分の主成分がニッケルであり、内部電極の積層数が416であり、絶縁体層の厚みが1.9μmのものを用意した。   First, as a component body, the length is 1.9 mm, the width is 1.05 mm, and the height is 1.05 mm. The insulator layer is made of a barium titanate dielectric ceramic, and the main component of the conductive component of the internal electrode is nickel. The number of stacked internal electrodes was 416, and the thickness of the insulator layer was 1.9 μm.

次に、上記部品本体に対して電解めっきを施し、内部電極と電気的に接続される外部端子電極の下地となる厚み7μmの銅めっき膜を形成した。ここで、めっき浴としては、上村工業社製「ピロブライトプロセス」を用い、浴温を55℃、pHを8.8に調整した。また、めっき処理において、バレル容積が300mlの水平回転バレルを用い、バレル回転数を12rpmとし、直径1.8mmの導電性メディアを用い、0.30A/dmの電流密度で60分間処理した。 Next, electrolytic plating was applied to the component main body to form a copper plating film having a thickness of 7 μm serving as a base for the external terminal electrode electrically connected to the internal electrode. Here, as the plating bath, “Pyrobrite Process” manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd. was used, and the bath temperature was adjusted to 55 ° C. and the pH was adjusted to 8.8. In the plating process, a horizontal rotating barrel having a barrel volume of 300 ml was used, the barrel rotation speed was set to 12 rpm, and a conductive medium having a diameter of 1.8 mm was used for 60 minutes at a current density of 0.30 A / dm 2 .

次に、上記のように銅めっき膜が形成された部品本体を、表1に示す温度および酸素濃度とした熱処理条件にて熱処理した。   Next, the component main body on which the copper plating film was formed as described above was heat-treated under the heat treatment conditions shown in Table 1 with the temperature and oxygen concentration.

次に、部品本体を還元処理した。この還元処理は、400℃の温度で、10分間、NとHの混合雰囲気中で実施した。 Next, the component main body was reduced. This reduction treatment was performed at a temperature of 400 ° C. for 10 minutes in a mixed atmosphere of N 2 and H 2 .

次に、錫めっき処理を施し、外部端子電極の表面層を形成する厚み4μmの錫めっき膜を形成した。この錫めっきでは、めっき浴として、ディップソール社製「Sn‐235」を用い、浴温を30℃とし、pHを5.0に調整した。また、バレル容積が300mlの水平回転バレルを用い、バレル回転数を12rpmとし、直径1.8mmの導電性メディアを用い、0.10A/dmの電流密度で60分間処理した。 Next, a tin plating process was performed to form a 4 μm thick tin plating film that forms the surface layer of the external terminal electrode. In this tin plating, “Sn-235” manufactured by Dipsol was used as a plating bath, the bath temperature was 30 ° C., and the pH was adjusted to 5.0. Further, a horizontal rotating barrel having a barrel volume of 300 ml was used, the barrel rotation speed was set to 12 rpm, and a conductive medium having a diameter of 1.8 mm was used for 60 minutes at a current density of 0.10 A / dm 2 .

このようにして得られた各試料に係る積層型電子部品を樹脂に埋め、研磨して断面を露出させた。そして、露出面に対し5度の角度でFIB加工し、加工断面の銅/ニッケル拡散状態をEDXでマッピング分析した。なお、この拡散状態の解析については、特にニッケル成分の拡散挙動に着目した。その結果が表1の「銅/ニッケル拡散状態」の欄に示されている。   The multilayer electronic component according to each sample thus obtained was embedded in resin and polished to expose the cross section. Then, FIB processing was performed at an angle of 5 degrees with respect to the exposed surface, and the copper / nickel diffusion state of the processed cross section was subjected to mapping analysis by EDX. For the analysis of the diffusion state, the diffusion behavior of the nickel component was particularly focused. The result is shown in the column of “copper / nickel diffusion state” in Table 1.

Figure 0005282653
Figure 0005282653

表1からわかるように、熱処理条件として、温度が1000〜1100℃という条件と酸素濃度が100〜200ppmという条件との双方を満たす試料1および2によれば、銅めっき膜の表面近傍にニッケル成分を偏析させることができ、還元処理を行なうことにより、ニッケルからなる金属層を銅めっき膜の表面に沿って形成することができた。   As can be seen from Table 1, according to Samples 1 and 2 that satisfy both the conditions of a temperature of 1000 to 1100 ° C. and an oxygen concentration of 100 to 200 ppm as heat treatment conditions, a nickel component is present in the vicinity of the surface of the copper plating film. The metal layer made of nickel could be formed along the surface of the copper plating film by performing the reduction treatment.

他方、試料3〜5では、銅めっき膜に均一にニッケル成分が拡散しており、還元処理を行なっても、ニッケルからなる金属層を銅めっき膜の表面に沿って十分に形成することができなかった。   On the other hand, in Samples 3 to 5, the nickel component is uniformly diffused in the copper plating film, and even if reduction treatment is performed, a metal layer made of nickel can be sufficiently formed along the surface of the copper plating film. There wasn't.

1 積層型電子部品
2 部品本体
3,4 内部電極
8,9 外部端子電極
10,11 めっき膜
12,13 金属層
14,15 偏析層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laminated type electronic component 2 Component main body 3, 4 Internal electrode 8, 9 External terminal electrode 10, 11 Plating film 12, 13 Metal layer 14, 15 Segregation layer

Claims (3)

導電成分として第1の金属を含む複数の内部電極が内部に形成され、かつ前記内部電極の各一部が露出している、積層構造の部品本体を用意する工程と、
前記内部電極と電気的に接続される外部端子電極を前記部品本体の外表面上に形成する工程と
を備え、
前記外部端子電極を形成する工程は、
前記部品本体における前記内部電極の露出面上に、前記第1の金属とは異なる第2の金属のめっきを施すことにより、めっき膜を形成する工程と、
前記めっき膜が形成された前記部品本体を600℃以上の温度で熱処理することにより、前記めっき膜の表面に前記第1の金属の酸化物を偏析させる工程と、
偏析した前記第1の金属の酸化物を還元することによって、第1の金属からなる金属層を前記めっき膜の表面に沿って形成する工程と
を備え
前記第1の金属の主成分がニッケルであり、前記第2の金属の主成分が銅である、積層型電子部品の製造方法。
A step of preparing a component body having a laminated structure in which a plurality of internal electrodes including a first metal as a conductive component are formed therein, and each part of the internal electrodes is exposed;
Forming an external terminal electrode electrically connected to the internal electrode on the outer surface of the component body,
The step of forming the external terminal electrode includes:
Forming a plating film on the exposed surface of the internal electrode in the component body by plating a second metal different from the first metal;
A step of segregating the oxide of the first metal on the surface of the plating film by heat-treating the component main body on which the plating film is formed at a temperature of 600 ° C. or higher;
Forming a metal layer made of the first metal along the surface of the plating film by reducing the segregated oxide of the first metal ,
The manufacturing method of a multilayer electronic component , wherein the main component of the first metal is nickel and the main component of the second metal is copper .
前記熱処理する工程において、1000〜1100℃の温度、および100〜200ppmの酸素濃度が適用される、請求項に記載の積層型電子部品の製造方法。 The method for manufacturing a multilayer electronic component according to claim 1 , wherein a temperature of 1000 to 1100 ° C. and an oxygen concentration of 100 to 200 ppm are applied in the heat treatment step. 導電成分として第1の金属を含む複数の内部電極が内部に形成され、かつ前記内部電極の各一部が露出している、積層構造の部品本体と、
前記内部電極と電気的に接続され、かつ前記部品本体の外表面上に形成される、外部端子電極と
を備え、
前記外部端子電極は、前記部品本体における前記内部電極の露出面上に直接めっきにより形成された、前記第1の金属とは異なる第2の金属からなるめっき膜と、前記めっき膜の表面に沿って偏析した前記第1の金属からなる金属層とを備え
前記第1の金属の主成分がニッケルであり、前記第2の金属の主成分が銅である、積層型電子部品。
A plurality of internal electrodes including a first metal as a conductive component are formed therein, and each of the internal electrodes is exposed, a component body having a laminated structure,
An external terminal electrode electrically connected to the internal electrode and formed on the outer surface of the component body;
The external terminal electrode is formed by direct plating on the exposed surface of the internal electrode in the component main body, and is formed of a second metal different from the first metal, along the surface of the plating film. and a metal layer made of the first metal segregated Te,
A multilayer electronic component , wherein the main component of the first metal is nickel and the main component of the second metal is copper .
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