JP5277430B2 - Zinc oxide based light emitting device - Google Patents

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本発明は、酸化亜鉛系発光素子に関し、特に、窒素ドープされた安価に製造できるp型酸化亜鉛結晶粒子を用いた発光素子に関する。 The present invention relates to a zinc oxide-based light emitting device, and more particularly, to a light emitting device using nitrogen-doped p-type zinc oxide crystal particles that can be manufactured at low cost.

照明装置の主流である蛍光灯は、放電管の中の水銀からの紫外光を蛍光体に照射して光らせるものであり、環境面や寿命に問題がある。これを解決するために窒化ガリウム系pn接合発光ダイオードと蛍光体を組み合わせた白色発光ダイオードの高効率化の研究が行われている。しかしながら、高価な単結晶基板を用いる必要があるために高コストとなり蛍光灯の置き換えは望めない。また、MIS型(Metal
Insulator Semiconductor)型の無機エレクトロルミネッセンス素子は大面積化が容易であるが高電圧が必要で寿命が短く、輝度が低くいために照明装置等に用いることはできなかった。
Fluorescent lamps, which are the mainstream of lighting devices, illuminate phosphors with ultraviolet light from mercury in a discharge tube, and have problems in terms of environment and life. In order to solve this problem, research on increasing the efficiency of white light emitting diodes combining a gallium nitride pn junction light emitting diode and a phosphor has been conducted. However, since it is necessary to use an expensive single crystal substrate, the cost becomes high and replacement of a fluorescent lamp cannot be expected. Also, MIS type (Metal
Insulator Semiconductor) type inorganic electroluminescent elements are easy to increase in area, but require a high voltage, have a short lifetime, and have a low luminance. Therefore, they cannot be used for lighting devices or the like.

一方、材料として安価である酸化亜鉛(ZnO)を用いた発光ダイオードも研究されている。ZnOは室温で他の半導体と異なり励起子(電子とホールが互いに束縛した状態)が存在できるため、励起子の再結合による近紫外域(約380nm)での極めて高効率な発光が可能である。しかし、p型ZnO薄膜の成長が難しいために実用的な発光素子は開発されていない。ZnOを用いた発光素子としては、たとえば、特開2001―210865号公報「発光素子およびその製造方法」では、ZnO微粒子を用いた発光素子に関する技術開示がある。この発明によれば、素子を低電圧の直流電流で容易に動作させることが可能となり、また、基板を任意に選択することもできるという利点がある。 On the other hand, light-emitting diodes using inexpensive zinc oxide (ZnO) as a material have also been studied. ZnO, unlike other semiconductors, can have excitons (a state in which electrons and holes are bound to each other) at room temperature. Therefore, it can emit light with extremely high efficiency in the near ultraviolet region (about 380 nm) due to recombination of excitons. . However, since it is difficult to grow a p-type ZnO thin film, a practical light emitting device has not been developed. As a light emitting element using ZnO, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-210865 “Light emitting element and manufacturing method thereof” has a technical disclosure regarding a light emitting element using ZnO fine particles. According to the present invention, it is possible to easily operate the element with a low-voltage direct current, and there is an advantage that a substrate can be arbitrarily selected.

特開2001―210865号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-210865 特開2005−307151号公報JP 2005-307151 A 特開2006−348244号公報JP 2006-348244 A 特開2004−079518号公報JP 2004-079518 A 特開2005−060145号公報JP-A-2005-060145 D.C.Look,D.C.Reynilds,C.W.Litton,R.L.Jones,D.B.Easonand G.Cantwell: APPLIED PHYSICS LETTERS Vol.81,No.10 02/09/2002D.C.Look, D.C.Reynilds, C.W.Litton, R.L.Jones, D.B.Easonand G.Cantwell: APPLIED PHYSICS LETTERS Vol.81, No.10 02/09/2002

しかしながら、従来の技術では以下の問題点があった。
特開2001―210865号公報に開示される技術は、ZnO微粒子を用いるものであるが、これは、酸素欠損によるn型ZnO微粒子、または、n型不純物を含むZnO微粒子に基づくものである。n型ZnO微粒子では、発光素子に適したキャリア濃度と発光特性を持つような結晶性のよいものを作成することは困難であり、発光強度の強い発光素子を得にくいという問題点があった。
However, the conventional technique has the following problems.
The technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-210865 uses ZnO fine particles, which are based on n-type ZnO fine particles due to oxygen deficiency or ZnO fine particles containing n-type impurities. In the case of n-type ZnO fine particles, it is difficult to produce a crystal with good crystallinity having a carrier concentration and light emission characteristics suitable for the light emitting element, and there is a problem that it is difficult to obtain a light emitting element with high emission intensity.

また、上記特許は電子輸送層にZnO(n型ZnO)を使うことが前提であり、pn接合を形成してZnO微粒子で光らせるためにはZnOよりバンドギャップの大きなホール輸送層(たとえばp型GaN)が必要となる。ここで、p型GaN等のバンドギャップの大きなp型半導体は実際には単結晶基板上に高温で成長させる必要があり、コスト高を招来してしまう。また、n型ZnO微粒子は基本的に欠陥から電子を供給するため、結晶性が悪く、発光層には適さないといった原理的な問題点があった。 The above-mentioned patent is based on the premise that ZnO (n-type ZnO) is used for the electron transport layer, and a hole transport layer (for example, p-type GaN) having a larger band gap than ZnO in order to form a pn junction and emit light with ZnO fine particles. )Is required. Here, a p-type semiconductor having a large band gap, such as p-type GaN, actually needs to be grown on a single crystal substrate at a high temperature, resulting in high costs. In addition, since n-type ZnO fine particles basically supply electrons from defects, there is a problem in principle that crystallinity is poor and it is not suitable for a light emitting layer.

本発明は上記に鑑みてなされたものであって、低コストで大面積の発光素子を容易に作成できることを目的とする。すなわち、p型層に結晶性の良い窒素ドープされたZnO微粒子を用いて、スパッタ等で簡単に作出できるn型薄膜とともに、純粋なZnO系のLEDを安価に提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to easily produce a light-emitting element having a large area at low cost. That is, it is an object to provide a pure ZnO-based LED at low cost together with an n-type thin film that can be easily produced by sputtering or the like using ZnO fine particles doped with good crystallinity in a p-type layer.

上記の目的を達成するために、請求項1に記載の酸化亜鉛系発光素子は、n型酸化亜鉛系薄膜と、酸化亜鉛粒子層と、が接合した構造を有し、酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする。 To achieve the above object, a zinc oxide-based light emitting device according to claim 1, and n-type zinc oxide-based thin film, an acid zinc particle layer has a structure bonded, the zinc oxide particles layer And a layer constituted by sintering zinc oxide crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm.

なお、この大きさのZnO粒子であれば、構造はアモルファスでなく、結晶粒子は単結晶であるため、単に微粒子と呼ぶこともできる。以降では、適宜、微粒子または結晶粒子と称することとする。   In addition, since the structure is not amorphous and the crystal particle is a single crystal, it can be simply referred to as a fine particle. Hereinafter, these will be referred to as fine particles or crystal particles as appropriate.

また、請求項2に記載の酸化亜鉛系発光素子は、基板上に、第1の導電膜、n型酸化亜鉛系薄膜、酸化亜鉛粒子層、第2の導電膜が順に積層した構造を有し、酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする。 Further, zinc oxide-based light emitting device according to claim 2, chromatic onto the substrate, the first conductive film, n-type zinc oxide-based thin film, oxidation of zinc particles layer, a structure in which the second conductive film are laminated in this order The zinc oxide particle layer is a layer formed by sintering zinc oxide crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. It is characterized by.

また、請求項3に記載の酸化亜鉛系発光素子は、基板上に、第1の導電膜、n型酸化亜鉛系薄膜、酸化亜鉛粒子層、p型MgZn1−xO薄膜(ただしX=0〜0.3)、第2の導電膜が順に積層した構造を有し、酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする。 Further, zinc oxide-based light emitting device according to claim 3, on a substrate, a first conductive film, n-type zinc oxide-based thin film, oxidation of zinc particles layer, p-type Mg x Zn 1-x O thin film (although X = 0 to 0.3), and the second conductive film is sequentially laminated. The zinc oxide particle layer has a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to The layer is formed by sintering zinc oxide crystal particles having a thickness of 500 nm.

また、請求項4に記載の酸化亜鉛系発光素子は、請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子において、基板が近紫外光または可視光に対して透明であり、第1の導電膜がn型酸化亜鉛系透明導電膜であり、第2の導電膜が金属膜であることを特徴とする。 The zinc oxide light-emitting element according to claim 4 is the zinc oxide light-emitting element according to claim 2 or 3 , wherein the substrate is transparent to near-ultraviolet light or visible light, and the first conductive film Is an n-type zinc oxide-based transparent conductive film, and the second conductive film is a metal film.

また、請求項5に記載の酸化亜鉛系発光素子は、請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子において、基板が近紫外光または可視光に対して透明であり、第1の導電膜がn型酸化亜鉛系透明導電膜であり、第2の導電膜が酸化インジウム錫系透明導電膜であることを特徴とする。 The zinc oxide light-emitting element according to claim 5 is the zinc oxide light-emitting element according to claim 2 or 3 , wherein the substrate is transparent to near-ultraviolet light or visible light, and the first conductive film Is an n-type zinc oxide-based transparent conductive film, and the second conductive film is an indium tin oxide-based transparent conductive film.

また、請求項6に記載の酸化亜鉛系発光素子は、請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子において、第1の導電膜が金属膜であり、第2の導電膜が酸化インジウム錫系透明導電膜であることを特徴とする。 The zinc oxide light-emitting element according to claim 6 is the zinc oxide light-emitting element according to claim 2 or 3 , wherein the first conductive film is a metal film and the second conductive film is indium tin oxide. It is a system transparent conductive film, It is characterized by the above-mentioned.

また、請求項7に記載の酸化亜鉛系発光素子は、請求項1〜6のいずれか一つに記載の酸化亜鉛系発光素子において、n型酸化亜鉛系薄膜がn型MgZn1−xO薄膜(ただしX=0〜0.3)であることを特徴とする。 The zinc oxide light emitting device according to claim 7 is the zinc oxide light emitting device according to any one of claims 1 to 6, wherein the n-type zinc oxide thin film is an n-type Mg x Zn 1-x. It is an O thin film (where X = 0 to 0.3).

また、請求項8に記載の酸化亜鉛系発光素子は、請求項1〜のいずれか一つに記載の酸化亜鉛系発光素子において、酸化亜鉛粒子は、酸素ガスと窒素ガスとを含む混合ガスを雰囲気ガスとし、その中で亜鉛をアーク放電を用いて蒸発させることにより製造されたものであることを特徴とする。なお、この技術は本願発明者による特開2005-60145に詳細に記述されている。 Moreover, the zinc oxide light emitting element according to claim 8 is the zinc oxide light emitting element according to any one of claims 1 to 7 , wherein the zinc oxide particles are a mixed gas containing oxygen gas and nitrogen gas. Is produced by evaporating zinc using arc discharge in the atmosphere gas. This technique is described in detail in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-60145 by the present inventor.

本発明によれば、ガラス等の基板上に、安価なp型のZnO結晶粒子とn型薄膜とによりpn接合を形成し、高輝度かつ大面積な近紫外−青色発光素子を提供できる。従来の高輝度発光ダイオードのように高価な単結晶基板が不要となるため安価であって、大面積化が容易であるため、一般照明装置の用途に対して、その効果は絶大である。 According to the present invention, a pn junction is formed on a substrate such as glass with inexpensive p-type ZnO crystal particles and an n-type thin film, and a near-ultraviolet-blue light-emitting element with high brightness and large area can be provided. Since an expensive single crystal substrate is not required like a conventional high-intensity light emitting diode, the cost is low and the area can be easily increased. Therefore, the effect is great for the use of a general lighting device.

本発明者は、従来の緑色発光する結晶性の悪いZnO粒子が酸素欠損に起因してn型になることに着目し、高品質ZnO粒子の生成に取り組んだ。その結果、酸素ガスと窒素ガスとを含む混合ガスの雰囲気下で亜鉛をアーク放電により蒸発させると、粒子中に窒素をアクセプタとして取り込み、かつ、発光特性が単結晶薄膜に匹敵する高品質なZnO微粒子が生成できることを見出した。そして、この微粒子を用いた発光素子について鋭意検討した結果、高輝度で発光する発光素子の構造を見出した。本発明は、こうした知見に基づいて成されたものである The present inventor has focused on the generation of high-quality ZnO particles, focusing on the fact that conventional ZnO particles with poor crystallinity that emit green light become n-type due to oxygen deficiency. As a result, when zinc is evaporated by arc discharge in an atmosphere of a mixed gas containing oxygen gas and nitrogen gas, nitrogen is incorporated into the particles as an acceptor, and high-quality ZnO whose emission characteristics are comparable to a single crystal thin film It has been found that fine particles can be produced. As a result of intensive studies on a light-emitting element using the fine particles, a structure of a light-emitting element that emits light with high luminance was found. The present invention has been made based on these findings.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の一構成例を示した発光素子の模式図である。図において、発光素子100は、透明な基板101の上にZnO系透明導電膜102が形成され、その上にn型ZnO薄膜103が形成された構造を有している。そして、さらに、n型ZnO系薄膜103の上に、p型ZnO微粒子を単層並べ、これを焼結してZnO粒子層104が形成されている。ZnO系透明導電膜102とZnO粒子層104には電極105と電極106を設けている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic view of a light-emitting element showing an example of the configuration of the present invention. In the figure, the light emitting device 100 has a structure in which a ZnO-based transparent conductive film 102 is formed on a transparent substrate 101 and an n-type ZnO thin film 103 is formed thereon. Further, a single layer of p-type ZnO fine particles is arranged on the n-type ZnO-based thin film 103 and sintered to form a ZnO particle layer 104. An electrode 105 and an electrode 106 are provided on the ZnO-based transparent conductive film 102 and the ZnO particle layer 104.

発光素子100は、図示したように、基板101側が透明であるので面発光が可能である。 As shown in the drawing, the light emitting element 100 is capable of surface light emission because the substrate 101 side is transparent.

ここで、透明な基板101としては、たとえば、ガラス基板や、樹脂基板を挙げることができる。本発明では、基板101とn型ZnO薄膜103の間に、低温形成可能なZnO系透明導電膜102を設けている。このため、基板の選択肢を広げることも可能となる。 Here, examples of the transparent substrate 101 include a glass substrate and a resin substrate. In the present invention, a ZnO-based transparent conductive film 102 that can be formed at a low temperature is provided between the substrate 101 and the n-type ZnO thin film 103. For this reason, it becomes possible to expand the choice of a board | substrate.

ZnO系透明導電膜102の例としては、ガリウムドープZnO膜を挙げることができ、電極105の形成のし易さと光の透過性の観点からその厚みは、たとえば、5%ガリウムドープZnO膜を用いる場合には、50〜200nmとするのが好ましい。 As an example of the ZnO-based transparent conductive film 102, a gallium-doped ZnO film can be cited. From the viewpoint of easy formation of the electrode 105 and light transmittance, for example, a 5% gallium-doped ZnO film is used. In some cases, the thickness is preferably 50 to 200 nm.

また、ZnO系透明導電膜102に入れる不純物としてはアルミニウム等のIII族元素やフッ素等のVII族元素(ハロゲン)であっても良い。また、ZnO系透明導電膜102として上記不純物を含んだMgZn1−xO混晶薄膜(ただしX=0〜0.3)を用いることもできる。Mgの添加により透明導電膜102の吸収端が短波長側にシフトするためZnO粒子層104からの発光が吸収の吸収が少なくなる。なお、透明な基板101上へのZnO系透明導電膜102の形成方法は、マグネトロンスパッタリング法やCVD法を挙げることができるが、従来の既知の方法を種々採用することができる。 In addition, the impurities put into the ZnO-based transparent conductive film 102 may be a group III element such as aluminum or a group VII element (halogen) such as fluorine. Further, as the ZnO-based transparent conductive film 102, an Mg x Zn 1-x O mixed crystal thin film (where X = 0 to 0.3) containing the above impurities can also be used. Since the absorption edge of the transparent conductive film 102 is shifted to the short wavelength side due to the addition of Mg, light emission from the ZnO particle layer 104 is less absorbed. The formation method of the ZnO-based transparent conductive film 102 on the transparent substrate 101 can include a magnetron sputtering method and a CVD method, but various conventional known methods can be employed.

n型ZnO系薄膜103の例としては、ガリウムまたはアルミニウムをドープしたZnOを用いることができる。本デバイスでは結晶性の良いZnO粒子層104が主な発光層として働くためn型ZnO系薄膜103は単結晶である必要はなく薄膜の形成方法としては、マグネトロンスパッタリング法やCVD法などの安価な方法で製造できる。n型ZnO薄膜は、単結晶、多結晶、非晶質、微粒子あるいはこれらを複合したもののうちのいずれをも用いることができる(他の例においても同様である)。 As an example of the n-type ZnO-based thin film 103, ZnO doped with gallium or aluminum can be used. In this device, the ZnO particle layer 104 having good crystallinity serves as a main light emitting layer, so the n-type ZnO-based thin film 103 does not have to be a single crystal, and a thin film can be formed by an inexpensive method such as a magnetron sputtering method or a CVD method. It can be manufactured by the method. As the n-type ZnO thin film, any of single crystal, polycrystal, amorphous, fine particles, or a composite of these can be used (the same applies to other examples).

また、n型ZnO系薄膜103としては、マグネトロンスパッタリング法やCVD法、あるいはZnO微粒子とMgO微粒子の混合粒子を塗布して焼結して成膜できるn型MgZn1−xO混晶薄膜(ただしX=0〜0.3)を用いることもできる。ここでX=0の場合はn型ZnOとなる。 The n-type ZnO-based thin film 103 is an n-type Mg x Zn 1-x O mixed crystal thin film that can be formed by magnetron sputtering, CVD, or a mixture of ZnO fine particles and MgO fine particles and sintered. (However, X = 0 to 0.3) can also be used. Here, when X = 0, n-type ZnO is obtained.

一方、X=0でない場合にはn型ZnO系薄膜が、ZnOよりも禁制体幅の大きなもの(n型MgZn1−xOの薄膜)となり、ヘテロ接合が形成される。したがって、結晶性の良いZnO粒子層で電子とホールが再結合し、より発光効率を高くすることができる。なお、Xが0.3より大きくなるとZnO(ウルツ鉱型)、MgO(岩塩型)の結晶構造の違いから混晶が成り立たなくなるため発光素子としては不適である。 On the other hand, when X is not 0, the n-type ZnO-based thin film has a larger forbidden body width than ZnO (n-type Mg x Zn 1-x O thin film), and a heterojunction is formed. Therefore, electrons and holes are recombined in the ZnO particle layer having good crystallinity, and the luminous efficiency can be further increased. Note that if X is larger than 0.3, a mixed crystal does not hold due to the difference in crystal structure between ZnO (wurtzite type) and MgO (rock salt type), which is not suitable as a light emitting device.

ZnO粒子層104は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmであるp型ZnOの結晶粒子が焼結した半導体層である。この半導体層は、単層、すなわち、ZnO微粒子が最密に一層充填されて焼結されているが、粒子が総て同一形状でなく、径にもばらつきが生じているのが通常であるため、おおよそ単層と見なせることをも含むものとする。なお、単層(または単層と見なせる層)であるほうが、欠陥が少なくなるため好適な発光特性を有する。また、ZnO微粒子同士は必ずしも最密に接合している必要はなく、離散的に分布していても、n型ZnO薄膜と焼結されていればpn接合として働く。 The ZnO particle layer 104 is a semiconductor layer obtained by sintering p-type ZnO crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. This semiconductor layer is a single layer, that is, ZnO fine particles are packed in a close-packed layer and sintered. However, since the particles are not all of the same shape, the diameters usually vary. , Including what can be considered as a single layer. Note that a single layer (or a layer that can be regarded as a single layer) has more preferable light emission characteristics because defects are reduced. Further, the ZnO fine particles do not necessarily need to be closely packed, and even if they are distributed discretely, they function as a pn junction if they are sintered with an n-type ZnO thin film.

このZnO微粒子は、酸素ガスと窒素ガスとを含む混合ガスを雰囲気ガスとし、その中で亜鉛を加熱して蒸発させることにより製造することができる。酸素ガスと窒素ガスを含む混合ガスは、たとえば空気と同様の4:1のモル比のガスを用いることができる。加熱して蒸発させる方法としては、たとえばアーク放電を用いる方法を挙げることができる。混合ガスの総圧は、ガス中蒸発法による場合にはアーク放電を生じ易くするため、たとえば、20×10[Pa]とすることができる。原料としては、濃度の高くない亜鉛インゴット、たとえば4N(純度99.99%)を用いることができ、このような純度の低い安価なインゴットであっても、高品質なp型ZnO粒子結晶が得られる。 The ZnO fine particles can be produced by using a mixed gas containing oxygen gas and nitrogen gas as an atmospheric gas and heating and evaporating zinc therein. As the mixed gas containing oxygen gas and nitrogen gas, for example, a gas having a molar ratio of 4: 1 similar to air can be used. As a method of evaporating by heating, for example, a method using arc discharge can be mentioned. The total pressure of the mixed gas can be set to, for example, 20 × 10 3 [Pa] in order to easily generate arc discharge in the case of the gas evaporation method. As a raw material, a zinc ingot having a low concentration, for example, 4N (purity 99.99%) can be used. Even with such an inexpensive ingot having a low purity, a high-quality p-type ZnO particle crystal can be obtained. It is done.

上記の方法により窒素ドープされたZnO結晶粒子が生成されるが、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmとなるように、適宜製造条件を設定するものとする。なお、単分散、すなわち、粒径が概ね揃うように制御して製造されたものであることが好ましい。窒素濃度を上記範囲とするのは、窒素濃度が1016cm−3未満であると、ホールの輸送が不十分となり、また、1020cm−3以上であると、欠陥を生成し、発光特性が悪化するからである。また、粒子サイズを上記範囲とするのは、粒子サイズが50nmを下回ると結晶表面が欠陥として働き発光特性が劣化し、500nm以上では、多結晶体になり、粒子の内部に欠陥を含むようになるため発光特性が悪化するためである。好ましくは100nm〜500nmである。図2は、このようにして製造された窒素ドープ型ZnO結晶粒子の電子顕微鏡写真を示した図である。上記製法による結晶粒子は結晶性が極めてよく、MBE法(分子線エピタキシャル成長法)により窒素をドープした超高品質なZnO単結晶薄膜の発光特性(非特許文献1)と同程度の特性が得られる。 Nitrogen-doped ZnO crystal particles are generated by the above method, but the manufacturing conditions are appropriately set so that the nitrogen concentration is 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and the particle size is 50 nm to 500 nm. Shall. In addition, it is preferable that it is monodispersed, that is, manufactured by controlling so that the particle diameters are substantially uniform. When the nitrogen concentration is within the above range, when the nitrogen concentration is less than 10 16 cm −3 , hole transport becomes insufficient, and when the nitrogen concentration is 10 20 cm −3 or more, defects are generated and light emission characteristics are obtained. This is because it gets worse. In addition, the particle size is in the above range so that when the particle size is less than 50 nm, the crystal surface acts as a defect and the light emission characteristics deteriorate, and when the particle size is 500 nm or more, it becomes a polycrystal and contains defects inside the particle. This is because the light emission characteristics deteriorate. Preferably it is 100 nm-500 nm. FIG. 2 is a view showing an electron micrograph of the nitrogen-doped ZnO crystal particles manufactured as described above. The crystal grains produced by the above manufacturing method have very good crystallinity, and the same characteristics as the emission characteristics (Non-Patent Document 1) of ultra-high quality ZnO single crystal thin film doped with nitrogen by MBE method (molecular beam epitaxial growth method) can be obtained. .

ZnO粒子層104は、窒素ドープ型ZnO微粒子の分散液を用いて、n型ZnO薄膜103の上で塗布して焼結する。ZnO結晶粒子は通常は凝集した状態であるため、各種アルコール等の有機溶媒にボールミル法等を用いて分散させる。塗布に関しては、たとえば、ディップコート法やスピンコート法、印刷法、インクジェット法等を用いることができる。また、焼結温度としては、空気中で600℃×10minとすることができる。耐熱性のない基板を用いる場合には、パルスレーザで表面のみ焼結することもできる。 The ZnO particle layer 104 is applied and sintered on the n-type ZnO thin film 103 using a dispersion of nitrogen-doped ZnO fine particles. Since the ZnO crystal particles are usually in an aggregated state, they are dispersed in an organic solvent such as various alcohols using a ball mill method or the like. For application, for example, a dip coating method, a spin coating method, a printing method, an ink jet method, or the like can be used. The sintering temperature can be 600 ° C. × 10 min in air. When a substrate having no heat resistance is used, only the surface can be sintered with a pulse laser.

電極として用いる金属は、金、アルミニウム、白金、チタン、ニッケルあるいはこれらの複合膜であってもよいし合金であってもよい。 The metal used as the electrode may be gold, aluminum, platinum, titanium, nickel, a composite film thereof, or an alloy thereof.

図3は、図1で説明した型の発光素子の発光の様子を示した図である。発光素子100(および後述する発光素子200、300、400、500では)はpn接合型の発光素子であり、紫外域にピークを持ち、図では可視光部分の青色として観測されている。図4は、その電気特性を示したグラフである。図では横軸が電圧を示し、縦軸は電流を示す。図示したように、発光素子100は、pn接合による整流性を有することがわかる。 FIG. 3 is a view showing a light emission state of the light emitting element of the type described in FIG. The light-emitting element 100 (and light-emitting elements 200, 300, 400, and 500 described later) is a pn junction type light-emitting element, has a peak in the ultraviolet region, and is observed as blue in the visible light portion in the drawing. FIG. 4 is a graph showing the electrical characteristics. In the figure, the horizontal axis represents voltage, and the vertical axis represents current. As shown in the figure, it can be seen that the light emitting element 100 has a rectifying property by a pn junction.

なお、図5に、ZnO微粒子を複数層に形成したZnO粒子層104’を有する発光素子100’の構成例を示す。層の厚みとしては、0.1μm〜500μm程度が好ましい。 FIG. 5 shows a configuration example of a light emitting element 100 ′ having a ZnO particle layer 104 ′ in which ZnO fine particles are formed in a plurality of layers. The thickness of the layer is preferably about 0.1 μm to 500 μm.

この他、ZnO粒子層104と電極106との間に透明導電膜を介在させることができる。これにより、両面発光が可能となる。図6は、ZnO粒子層104と電極106との間に透明導電膜を介在させた発光素子200の例を示した図である。ここで、透明導電膜として、酸化インジウム錫(ITO)系透明導電膜108を挙げることができる。これは、p型であり陽極側に用いられる。酸化インジウム錫系透明導電膜108は、印刷により成膜できるので低コストで済み、廃材も削減できるというメリットを有する。 In addition, a transparent conductive film can be interposed between the ZnO particle layer 104 and the electrode 106. Thereby, double-sided light emission becomes possible. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a light emitting element 200 in which a transparent conductive film is interposed between the ZnO particle layer 104 and the electrode 106. Here, as the transparent conductive film, an indium tin oxide (ITO) -based transparent conductive film 108 can be exemplified. This is p-type and is used on the anode side. The indium tin oxide-based transparent conductive film 108 can be formed by printing, so that it can be manufactured at a low cost and has a merit that waste materials can be reduced.

また、同様にZnO粒子層104を挟み込む型として、ZnO粒子層104の下面にn型MgZnO薄膜層112、上面にp型MgZnO薄膜層107を設けることもできる(図7参照)。図では、発光素子300は、電極106のため、基板101側から発光する。このとき、一方または両方の薄膜層において、MgZn1−xO(0<x≦0.3)とすることができる。この場合、ダブルへテロ構造を形成して電子とホールがZnO粒子層104に閉じ込められて再結合するため極めて効率の良い発光が可能となる。 Similarly, an n-type MgZnO thin film layer 112 may be provided on the lower surface of the ZnO particle layer 104 and a p-type MgZnO thin film layer 107 may be provided on the upper surface as a mold sandwiching the ZnO particle layer 104 (see FIG. 7). In the figure, the light emitting element 300 emits light from the substrate 101 side because of the electrode 106. At this time, in one or both of the thin film layers, Mg x Zn 1-x O (0 <x ≦ 0.3) can be satisfied. In this case, since a double hetero structure is formed and electrons and holes are confined in the ZnO particle layer 104 and recombined, extremely efficient light emission is possible.

また、基板101上を導電膜として電極105で被覆し、この上にn型ZnO薄膜103を設ける場合には、反対側(図でいう上側)に発光面を設けるようにする。図8は、透明の基板101上を導電膜とした場合の発光素子400の例を示した図である。この例では、基板が透明である必要がないので、ZnO系透明導電膜102は不要であり、また、基板101も透明である必要はない。なお、図9に示したように、透明な基板109上に酸化インジウム錫系透明導電膜108を形成し、n型ZnO薄膜103との間にp型ZnO粒子層104を挟み込み焼結させた発光素子500の態様であってもよい。 When the substrate 101 is covered with the electrode 105 as a conductive film and the n-type ZnO thin film 103 is provided thereon, the light emitting surface is provided on the opposite side (the upper side in the drawing). FIG. 8 is a diagram showing an example of the light emitting element 400 when the transparent substrate 101 is a conductive film. In this example, since the substrate does not need to be transparent, the ZnO-based transparent conductive film 102 is not necessary, and the substrate 101 does not need to be transparent. As shown in FIG. 9, light emission in which an indium tin oxide-based transparent conductive film 108 is formed on a transparent substrate 109 and a p-type ZnO particle layer 104 is sandwiched between the n-type ZnO thin film 103 and sintered. The aspect of the element 500 may be sufficient.

以上の例はpn接合によるものであるが、npn接合にして発光させることもできる。すなわち、MIS型エレクトロルミネッセンス素子においても結晶性の良いZnO微粒子を用いることにより、低電圧で高輝度な素子を提供することができる。
基板上に、金属膜、n型酸化亜鉛薄膜または絶縁膜、酸化亜鉛粒子層、n型酸化亜鉛系透明導電膜または絶縁膜が順に積層した構造を有し、
酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が10 16 cm −3 〜10 20 cm −3 であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させた層により形成されていることを特徴とする酸化亜鉛系発光素子とすればよい。これにより、また、安価なZnO結晶粒子からMIS型のエレクトロルミネッセンス素子を形成することにより低電圧で発光する高輝度な平面型の白色照明装置を提供できる。この酸化亜鉛系発光素子において、酸化亜鉛粒子層が単層の粒子からなることを特徴とするようにしてもよい。
Although the above example is based on a pn junction, the npn junction can also emit light. In other words, by using ZnO fine particles having good crystallinity in the MIS type electroluminescence element, it is possible to provide an element having a low voltage and high luminance.
A structure in which a metal film, an n-type zinc oxide thin film or insulating film, a zinc oxide particle layer, an n-type zinc oxide-based transparent conductive film or an insulating film are sequentially laminated on a substrate,
The zinc oxide particle layer is formed of a layer obtained by sintering crystal grains of zinc oxide having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. What is necessary is just to set it as the zinc oxide type light emitting element which carries out. Thereby, it is possible to provide a high-luminance flat-type white illumination device that emits light at a low voltage by forming a MIS type electroluminescence element from inexpensive ZnO crystal particles. In this zinc oxide-based light emitting device, the zinc oxide particle layer may be composed of a single layer of particles.

図10は、発光素子600の構成例を示した図である。図において、発光素子600は、基板101上に、金属膜(電極105)、n型ZnO薄膜103、ZnO粒子層110、n型ZnO系透明導電膜111、透明な基板109を、順に積層させた構造を有する。npn接合では、高電界がかかるために白色光が観測される。この発光は、高電界がかかるために、欠陥や不純物順位が励起されたものと推定される。なお、このnpn接合の場合は、必ずしもZnO粒子層104では焼結は必要ないが、焼結により上下の層との結合が形成され、密着性や耐久性に優れたものにすることができる。また、n型半導体の代わりに10nm〜100nm程度の厚さの絶縁膜を用いてMIS構造を形成しても電流が流れないため同様の効果が得られる。従来の粉体を用いたMIS構造の無機エレクトロルミネッセンス素子では、100V〜200Vの高電圧が必要で、輝度も低く、寿命が短いのが欠点であったが、図10に示したデバイスは、10Vでも高輝度な発光が可能であり、長寿命も期待できるため、照明装置などへの応用範囲が広がる。 FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration example of the light emitting element 600. In the figure, a light emitting element 600 has a metal film (electrode 105), an n-type ZnO thin film 103, a ZnO particle layer 110, an n-type ZnO-based transparent conductive film 111, and a transparent substrate 109 laminated in this order on a substrate 101. It has a structure. In the npn junction, white light is observed because a high electric field is applied. This light emission is presumed to be caused by excitation of defects and impurity order because a high electric field is applied. In the case of this npn junction, the ZnO particle layer 104 does not necessarily need to be sintered, but a bond with the upper and lower layers is formed by the sintering, and the adhesion and durability can be improved. Further, even if the MIS structure is formed using an insulating film having a thickness of about 10 nm to 100 nm instead of the n-type semiconductor, the same effect can be obtained because no current flows. The conventional MIS structure inorganic electroluminescent element using powder requires a high voltage of 100V to 200V, low brightness, and short lifetime, but the device shown in FIG. However, it can emit light with high brightness and can be expected to have a long lifetime, so its application range to lighting devices and the like is expanded.

本発明によれば、単結晶基板を用いずに高輝度な紫外光または白色光の発光素子が得られるため、大面積な紫外または白色の発光ダイオードやエレクトロルミネッセンスデバイスを安価に提供できるようになる。 According to the present invention, a high-luminance ultraviolet light or white light emitting element can be obtained without using a single crystal substrate, so that a large area ultraviolet or white light emitting diode or electroluminescence device can be provided at low cost. .

本発明の一構成例を示した発光素子の模式図である。It is a schematic diagram of a light emitting element showing one structural example of the present invention. 窒素ドープ型ZnO結晶粒子の電子顕微鏡写真を示した図である。It is the figure which showed the electron micrograph of nitrogen dope type ZnO crystal particle. 図1で説明した型の発光素子の発光の様子を示した図である。It is the figure which showed the mode of light emission of the light emitting element of the type demonstrated in FIG. 図1で説明した型の発光素子の電気特性を示したグラフである。2 is a graph showing electrical characteristics of the light emitting device of the type described in FIG. 1. ZnO微粒子を複数層に形成したZnO粒子層を有する発光素子の構成例を示す。An example of a structure of a light-emitting element having a ZnO particle layer in which ZnO fine particles are formed in a plurality of layers is shown. p型ZnO粒子層と電極との間に透明導電膜を介在させた発光素子の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the light emitting element which interposed the transparent conductive film between the p-type ZnO particle layer and the electrode. p型ZnO粒子層を挟み込む型として、p型ZnO粒子層の上面にp型MgZnO薄膜層を設けた発光素子の構成例である。This is a configuration example of a light-emitting element in which a p-type MgZnO thin film layer is provided on an upper surface of a p-type ZnO particle layer as a mold sandwiching a p-type ZnO particle layer. 透明の基板上を導電膜とした場合の発光素子の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the light emitting element at the time of making a conductive film on the transparent substrate. 透明な基板上に酸化インジウム錫系透明導電膜を形成し、n型ZnO薄膜との間にp型ZnO粒子層を挟み込み焼結させた発光素子の構成例を示した図である。It is the figure which showed the structural example of the light emitting element which formed the indium tin oxide type transparent conductive film on the transparent board | substrate, inserted and sintered the p-type ZnO particle layer between the n-type ZnO thin films. npn型発光素子の構成例を示した図である。It is the figure which showed the structural example of the npn type light emitting element.

100、100’、200、300、400、500、600 発光素子
101 基板
102 ZnO系透明導電膜
103 n型ZnO(系)薄膜
104 ZnO粒子層(p型)
105 電極
106 電極
107 p型MgZnO薄膜層
108 酸化インジウム錫系透明導電膜(ITO)
109 基板
110 ZnO粒子層
111 n型ZnO系透明導電膜

100, 100 ′, 200, 300, 400, 500, 600 Light-emitting element 101 Substrate 102 ZnO-based transparent conductive film 103 n-type ZnO (based) thin film 104 ZnO particle layer (p-type)
105 electrode 106 electrode 107 p-type MgZnO thin film layer 108 indium tin oxide transparent conductive film (ITO)
109 substrate 110 ZnO particle layer 111 n-type ZnO-based transparent conductive film

Claims (8)

n型酸化亜鉛系薄膜と、酸化亜鉛粒子層と、が接合した構造を有し、
酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする酸化亜鉛系発光素子。
It has a n-type zinc oxide-based thin film, an acid zinc particle layer, the bonding structure,
The zinc oxide particle layer is a layer constituted by sintering zinc oxide crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. A zinc oxide-based light emitting device.
基板上に、第1の導電膜、n型酸化亜鉛系薄膜、酸化亜鉛粒子層、第2の導電膜が順に積層した構造を有し、
酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする酸化亜鉛系発光素子。
On a substrate, a first conductive film, n-type zinc oxide-based thin film, oxidation of zinc particles layer, a structure in which the second conductive film are laminated in this order,
The zinc oxide particle layer is a layer constituted by sintering zinc oxide crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. A zinc oxide-based light emitting device.
基板上に、第1の導電膜、n型酸化亜鉛系薄膜、酸化亜鉛粒子層、p型MgZn1−xO薄膜(ただしX=0〜0.3)、第2の導電膜が順に積層した構造を有し、
酸化亜鉛粒子層は、窒素濃度が1016cm−3〜1020cm−3であり粒子サイズが50nm〜500nmである酸化亜鉛の結晶粒子を焼結させることにより構成される層であることを特徴とする酸化亜鉛系発光素子。
On a substrate, a first conductive film, n-type zinc oxide-based thin film, oxidation of zinc particles layer, p-type Mg x Zn 1-x O thin film (where X = 0 to 0.3), a second conductive film It has a laminated structure in order,
The zinc oxide particle layer is a layer constituted by sintering zinc oxide crystal particles having a nitrogen concentration of 10 16 cm −3 to 10 20 cm −3 and a particle size of 50 nm to 500 nm. A zinc oxide-based light emitting device.
基板が近紫外光または可視光に対して透明であり、第1の導電膜がn型酸化亜鉛系透明導電膜であり、第2の導電膜が金属膜であることを特徴とする請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子。   The substrate is transparent to near-ultraviolet light or visible light, the first conductive film is an n-type zinc oxide-based transparent conductive film, and the second conductive film is a metal film. Or the zinc oxide-based light-emitting device according to 3; 基板が近紫外光または可視光に対して透明であり、第1の導電膜がn型酸化亜鉛系透明導電膜であり、第2の導電膜が酸化インジウム錫系透明導電膜であることを特徴とする請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子。   The substrate is transparent to near ultraviolet light or visible light, the first conductive film is an n-type zinc oxide-based transparent conductive film, and the second conductive film is an indium tin oxide-based transparent conductive film. The zinc oxide light emitting device according to claim 2 or 3. 第1の導電膜が金属膜であり、第2の導電膜が酸化インジウム錫系透明導電膜であることを特徴とする請求項2または3に記載の酸化亜鉛系発光素子。   The zinc oxide-based light-emitting element according to claim 2 or 3, wherein the first conductive film is a metal film, and the second conductive film is an indium tin oxide-based transparent conductive film. n型酸化亜鉛系薄膜がn型MgZn1−xO薄膜(ただしX=0〜0.3)であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の酸化亜鉛系発光素子。 The zinc oxide-based thin film according to claim 1, wherein the n-type zinc oxide-based thin film is an n-type Mg x Zn 1-x O thin film (where X = 0 to 0.3). Light emitting element. 酸化亜鉛粒子は、酸素ガスと窒素ガスとを含む混合ガスを雰囲気ガスとし、その中で亜鉛をアーク放電を用いて蒸発させることにより製造されたものであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載の酸化亜鉛系発光素子。
The zinc oxide particles are produced by using a mixed gas containing oxygen gas and nitrogen gas as an atmospheric gas, and evaporating zinc therein using arc discharge. The zinc oxide light emitting element as described in any one of these.
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