JP5270225B2 - Cutting blade detection mechanism of cutting equipment - Google Patents
Cutting blade detection mechanism of cutting equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP5270225B2 JP5270225B2 JP2008151642A JP2008151642A JP5270225B2 JP 5270225 B2 JP5270225 B2 JP 5270225B2 JP 2008151642 A JP2008151642 A JP 2008151642A JP 2008151642 A JP2008151642 A JP 2008151642A JP 5270225 B2 JP5270225 B2 JP 5270225B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adjustment rod
- cutting
- cutting blade
- guide
- sliding member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、半導体ウエーハ等のウエーハを切削する切削装置に装備される切削ブレードの状態を検出するための切削ブレード検出機構に関する。 The present invention relates to a cutting blade detection mechanism for detecting the state of a cutting blade provided in a cutting apparatus for cutting a wafer such as a semiconductor wafer.
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。 In the semiconductor device manufacturing process, a plurality of regions are partitioned by dividing lines called streets arranged in a lattice pattern on the surface of a substantially wafer-shaped semiconductor wafer, and devices such as ICs, LSIs, etc. are partitioned in the partitioned regions. Form. Then, the semiconductor wafer is cut along the streets to divide the region in which the device is formed to manufacture individual semiconductor chips. In addition, optical device wafers with gallium nitride compound semiconductors laminated on the surface of a sapphire substrate are also divided into individual optical devices such as light emitting diodes and laser diodes by cutting along the streets, and are widely used in electrical equipment. ing.
上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のストリートに沿った切断は、通常、ダイサーと呼ばれる切削装置によって行われている。この切削装置は、磨耗して直径が減少した切削ブレードの環状の切れ刃の交換時期および環状の切れ刃の欠けを検出するための切削ブレード検出機構を備えている。 Cutting along the streets of the above-described semiconductor wafer, optical device wafer or the like is usually performed by a cutting device called a dicer. This cutting apparatus is provided with a cutting blade detection mechanism for detecting the replacement time of an annular cutting edge of a cutting blade whose diameter has been reduced due to wear, and chipping of the annular cutting edge.
上記切削ブレードの検出機構は、切削ブレードを覆うブレードカバーに配設され切削ブレードの中心方向に向けて延びる案内部を備えたガイドブロックと、該ガイドブロックの案内部に沿って案内される被案内部を備えるとともに切削ブレードの環状の切れ刃が侵入するブレード侵入部を有し該ブレード侵入部に対向して配設される発光体および受光体を備えた検出ブロックと、上記ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴に挿通して配設され検出ブロックに設けられた雌ネジ穴に螺合する調整ロッドからなっており、該調整ロッドを一方向または他方向に回動することにより検出ブロックをガイドブロックの案内部に沿って移動するように構成されている。そして、検出ブロックが振動に起因して調整した位置から移動するのを防止するために、検出ブロックを調整した位置でガイドブロックに固定するための固定部材と締結ネジとからなる固定手段を備えている。(例えば、特許文献1参照)
而して、上記特許文献1に開示された切削ブレードの検出機構は、検出ブロックの位置を調整する都度、検出ブロックを調整した位置でガイドブロックに固定するための固定手段を構成する締結ネジを弛める操作と締め付ける操作を実施しなければならず、作業性が悪いという問題がある。また、締結ネジを締め忘れると、検出ブロックが移動して誤検出をするという問題がある。
Thus, the cutting blade detection mechanism disclosed in
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術的課題は、調整ロッドを作動して検出ブロックの位置を調整することにより、検出ブロックを調整した位置に確実に保持することができる切削装置の切削ブレード検出機構を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above facts, and the main technical problem thereof is to reliably hold the detection block at the adjusted position by operating the adjustment rod to adjust the position of the detection block. Another object of the present invention is to provide a cutting blade detection mechanism of a cutting device that can be used.
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、切削ブレードを覆うブレードカバーに配設され切削ブレードの中心方向に向けて延びる案内部を備えたガイドブロックと、該ガイドブロックの該案内部に沿って案内される被案内部を備えるとともに該切削ブレードの切れ刃が侵入するブレード侵入部を有し該ブレード侵入部に対向して配設される発光体および受光体を備えた検出ブロックと、該ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴に挿通して配設され該検出ブロックに設けられた雌ネジ穴に螺合する雄ネジを一端部に備えた調整ロッドからなり、該調整ロッドを一方向または他方向に回動することにより該検出ブロックを該ガイドブロックの該案内部に沿って移動するように構成されている切削装置の切削ブレード検出機構において、
該ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴には該調整ロッドを摩擦係止する摩擦係止手段が配設され、
該摩擦係止手段は、該ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴に配設され該調整ロッドの外周面と摩擦係合する摩擦リングと、該調整ロッド挿通穴に両側からそれぞれ嵌合される第1の摺動部材および第2の摺動部材とからなり、該第1の摺動部材および該第2の摺動部材は該摩擦リングを押圧した状態で配置されており、
該調整ロッドには該第1の摺動部材が当接する係止フランジ部が設けられているとともに他端部に調整ツマミが装着され、該係止フランジ部と該調整ツマミの間に該第1の摺動部材および該第2の摺動部材を該摩擦リングを押圧した状態で挟持する、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構が提供される。
In order to solve the above-mentioned main technical problem, according to the present invention, a guide block provided with a guide portion disposed on a blade cover covering the cutting blade and extending toward the center of the cutting blade, and the guide portion of the guide block And a detection block including a light-emitting body and a light-receiving body provided with a guided portion that is guided along the blade and having a blade intrusion portion into which the cutting blade of the cutting blade enters, An adjustment rod provided at one end with a male screw that is inserted into an adjustment rod insertion hole provided in the guide block and is screwed into a female screw hole provided in the detection block. Cutting blade detection mechanism of a cutting device configured to move the detection block along the guide portion of the guide block by rotating in one direction or the other direction Oite,
Friction locking means for frictionally locking the adjustment rod is disposed in the adjustment rod insertion hole provided in the guide block ,
The friction locking means is disposed in an adjustment rod insertion hole provided in the guide block, and is fitted into the adjustment rod insertion hole from both sides, and a friction ring that frictionally engages with the outer peripheral surface of the adjustment rod. The first sliding member and the second sliding member, the first sliding member and the second sliding member are arranged in a state of pressing the friction ring,
The adjustment rod is provided with a locking flange portion with which the first sliding member abuts, and an adjustment knob is attached to the other end portion, and the first knob is disposed between the locking flange portion and the adjustment knob. Holding the sliding member and the second sliding member while pressing the friction ring,
A cutting blade detection mechanism for a cutting apparatus is provided.
本発明による切削装置の切削ブレード検出機構は、切削ブレードを覆うブレードカバーに取り付けられたガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴には調整ロッドを摩擦係止する摩擦係止手段が配設され、該摩擦係止手段は、ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴に配設され調整ロッドの外周面と摩擦係合する摩擦リングと、調整ロッド挿通穴に両側からそれぞれ嵌合される第1の摺動部材および第2の摺動部材とからなり、第1の摺動部材および第2の摺動部材は摩擦リングを押圧した状態で配置されており、調整ロッドには第1の摺動部材が当接する係止フランジ部が設けられているとともに他端部に調整ツマミが装着され、係止フランジ部と調整ツマミの間に第1の摺動部材および第2の摺動部材を摩擦リングを押圧した状態で挟持するように構成したので、振動等によって調整ロッドが回動することはない。従って、調整ロッドを作動して検出ブロックの位置を調整することにより、検出ブロックを調整した位置に確実に保持することができる。 In the cutting blade detection mechanism of the cutting device according to the present invention, a friction locking means for frictionally locking the adjustment rod is disposed in the adjustment rod insertion hole provided in the guide block attached to the blade cover covering the cutting blade , The friction locking means is disposed in an adjustment rod insertion hole provided in the guide block, and a friction ring that frictionally engages with the outer peripheral surface of the adjustment rod; and a first that is fitted into the adjustment rod insertion hole from both sides. The sliding member and the second sliding member are arranged, the first sliding member and the second sliding member are arranged in a state where the friction ring is pressed, and the adjustment rod has the first sliding member. Is provided with an engaging flange at the other end, and an adjustment knob is mounted on the other end, and the first sliding member and the second sliding member are interposed between the engaging flange and the adjustment knob. Pressed And then, it is sandwiched state, the adjustment rod by vibration does not rotate. Therefore, by operating the adjustment rod to adjust the position of the detection block, the detection block can be reliably held at the adjusted position.
以下、本発明に従って構成された切削装置の切削ブレード検出機構の好適な実施形態について、添付図面を参照して、更に詳細に説明する。 Hereinafter, a preferred embodiment of a cutting blade detection mechanism of a cutting device configured according to the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
図1には、本発明に従って構成された切削ブレード検出機構を装備した切削装置の斜視図が示されている。図1に示す切削装置1は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。この装置ハウジング2内には、被加工物を保持するチャックテーブル3が矢印Xで示す切削送り方向に移動可能に配設されている。チャックテーブル3は、吸着チャック支持台31と、該吸着チャック支持台31上に配設された吸着チャック32を具備しており、該吸着チャック32の上面である保持面上に被加工物を図示しない吸引手段を作動することによって吸引保持するようになっている。また、チャックテーブル3は、図示しない回転機構によって回転可能に構成されている。なお、チャックテーブル31には、被加工物として後述するウエーハをダイシングテープを介して支持する環状のフレームを固定するためのクランプ33が配設されている。このように構成されたチャックテーブル3は、図示しない切削送り手段によって、矢印Xで示す切削送り方向に移動せしめられるようになっている。
FIG. 1 is a perspective view of a cutting apparatus equipped with a cutting blade detection mechanism constructed according to the present invention. A
図1に示す切削装置1は、切削手段としてのスピンドルユニット4を具備している。スピンドルユニット4は、図示しない割り出し送り手段によって図1において矢印Yで示す割り出し送り方向(矢印Xで示す切削送り方向と直交する方向)に移動せしめられるとともに、図示しない切り込み送り手段によって図1において矢印Zで示す切り込み送り方向(チャックテーブル3の保持面に対して垂直な方向)に移動せしめられるようになっている。このスピンドルユニット4は、図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転自在に支持された回転スピンドル42と、該回転スピンドル42の前端部に装着された切削ブレード43とを具備している。切削ブレード43は、例えば図2に示すようにアルミニウムによって形成された円盤状の基台431と、該基台431の外周部側面にダイヤモンド砥粒をニッケルメッキで固めて厚さが15〜30μmに形成された円環状の切れ刃432からなっている。
A
図2を参照して説明を続けると、上記スピンドルハウジング41の前端部には、切削ブレード43の上半部を覆うブレードカバー44が取り付けられている。ブレードカバー44は、図示の実施形態においてはスピンドルハウジング41に装着された第1のカバー部材441と、該第1のカバー部材441に装着される第2のカバー部材442とからなっている。第1のカバー部材441の側面には雌ネジ穴441aと2個の位置決めピン441bが設けられており、第2のカバー部材442には上記雌ネジ穴441aと対応する位置に挿通穴442aが設けられている。また、第2のカバー部材442の第1のカバー部材441と対向する面には、上記2個の位置決めピン441bが嵌合する図示しない2個の凹部が形成されている。このように構成された第1のカバー部材441と第2のカバー部材442は、第2のカバー部材442に形成された図示しない2個の凹部を第1のカバー部材441に設けられた2個の位置決めピン441bに嵌合することによって位置決めする。そして、締結ボルト443を第2のカバー部材442の挿通穴442aに挿通し、第1のカバー部材441に設けられた雌ネジ穴441aと螺合することにより、第2のカバー部材442を第1のカバー部材441に装着する。
Continuing with reference to FIG. 2, a
上記ブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441と第2のカバー部材442には、それぞれ切削水供給管451、452が配設されている。この切削水供給管451、452の下端には、それぞれ切削ブレード43の円環状の切れ刃432の両側にそれぞれ配設され円環状の切れ刃432の両側面に向けて切削水を噴射する切削水供給ノズル461、462が接続されている。なお、上記切削水供給管451、452は、図示しない切削水供給手段に接続されている。
Cutting
図示の実施形態におけるスピンドルユニット4のブレードカバー44を構成する第1のカバー部材441には、上記切削ブレード43の円環状の切れ刃432の磨耗や欠けを検出するための切削ブレード検出機構5が配設されている。この切削ブレード検出機構5について図3乃至図6を参照して説明する。図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は、図3および図6に示すように上記第1のカバー部材441に取り付けられるガイドブロック51と、該ガイドブロック51に設けられた後述する案内部に沿って移動可能に配設される検出ブロック52と、該検出ブロック52をガイドブロック51の後述する案内部に沿って移動調整する調整手段53とを具備している。
The
ガイドブロック51は、ステンレス鋼やアルミニウム等の金属材によって形成されており、図3の(a)に示すように案内部511と調整部512および取り付け部513とからなっている。案内部511は、案内面511aが平坦面に形成されており、この案内面511aには図2に示すガイドブロック51の取り付け状態において上記切削ブレード43の中心方向に向けて延びる案内溝511bが設けられている。調整部512は、図2に示すガイドブロック51の取り付け状態において案内部511の上側に案内部511の案内面511aより突出して設けられている。この調整部512には、上記案内部511の案内面511aに設けられた案内溝511bと平行に調整ロッド挿通穴512aが設けられているとともに、該調整ロッド挿通穴512aの両側に後述する光ファイバーが挿通する2個の光ファイバー挿通穴512b、512cが設けられている。上記取り付け部513は図2に示すガイドブロック51の取り付け状態において調整部512の上端部から突出して形成されており、この取り付け部513にはボルト挿通穴513aが形成されている。このように構成されたガイドブロック51は、取り付け部513に形成されたボルト挿通穴513aに締結ボルト54を挿通し、上記第1のカバー部材441に設けられた図示しない雌ネジ穴に螺合することにより、図2に示すように第1のカバー部材441に取り付けられる。
The
上記検出ブロック52は、ステンレス鋼やアルミニウム等の金属材によって形成されており、支持部521と検出部522とからなっている。支持部521は、図3の(b)に示すように被案内面521aに上記ガイドブロック51の案内部511に設けられた案内溝511bと嵌合する被案内レール521bが形成されている。また、支持部521には、雌ネジ穴521cが設けられている。検出部522は、図5に示す取り付け状態において支持部521の下端から互いに所定の間隔を置いて突出する発光体取り付け部522aと受光体取り付け部522bとからなっており、発光体取り付け部522aと受光体取り付け部522bとの間が上記切削ブレード43の円環状の切れ刃432が侵入するブレード侵入部523が形成される。このように構成された検出部522の発光体取り付け部522aと受光体取り付け部522bには、発光体55aと受光体55bが互いに対向して装着される。なお、発光体55aと受光体55bには図5に示すようにそれぞれ光ファイバー56aと56bが接続されており、この光ファイバー56aと56bはそれぞれ上記ガイドブロック51の調整部512に設けられた光ファイバー挿通穴512bと512cを挿通して図示しない制御手段に接続される。なお、この明細書においては、発光体とは発光ダイオード等の発光素子に接続された光ファイバーの発光部を含み、受光体とはホトダイオード等の受光素子に接続された光ファイバーの受光部を含むものとする。
The
上記調整手段53は、図3の(a)および図6に示すように調整ロッド531と調整ツマミ532と締結ピン533とからなっている。調整ロッド531は、一端部に上記検出ブロック52の支持部521に形成された雌ネジ穴521cと螺合する雄ネジ531aが形成されている。また、調整ロッド531は、中間部に支持フランジ531bが設けられているとともに、他端部にピン挿通穴531cが設けられている。上記調整ツマミ532は、調整ロッド531の他端部に嵌合する貫通穴532aが設けられているととともに、該貫通穴532aと直交するピン挿通穴532bが設けられている。この調整ツマミ532は、調整ロッド531の他端部に貫通穴532aを嵌合し、ピン挿通穴532bおよび調整ロッド531の他端部に設けられたピン挿通穴531cに締結ピン533を挿通することにより、調整ロッド531に装着される。
The adjusting means 53 includes an adjusting
上述した調整ロッド531は、上記ガイドブロック51の調整部512に設けられた調整ロッド挿通穴512aに摩擦係止手段57を介して配設される。摩擦係止手段57は、図3の(a)および図6に示すように摩擦リング571と、該摩擦リング571の下側に配設される第1の摺動部材572と、摩擦リング571の上側に配設される第2の摺動部材573とからなっている。摩擦リング571はフッ素ゴム等の弾性部材によって円環状に形成されており、その内径は上記調整ロッド531における他端部の外径より僅かに小さい寸法に形成され、その外径は調整ロッド挿通穴512aと略同径に形成されている。従って、摩擦リング571は、調整ロッド531の他端部に嵌合すると調整ロッド531の外周面と摩擦係合し、調整ロッド挿通穴512aに嵌合すると調整ロッド挿通穴512aの内周面と摩擦係合する。上記第1の摺動部材572および第2の摺動部材573は、それぞれポリアセタール等の摩擦係数が小さい合成樹脂によって形成されており、上記調整ロッド挿通穴512aに嵌合する嵌合部572aおよび573a と、該嵌合部572aおよび573a の一端に形成され調整ロッド挿通穴512aの内径より大きい外径を有する係止フランジ部572bおよび573bとからなっている。このように形成された第1の摺動部材572および第2の摺動部材573には、それぞれ上記調整ロッド531が挿通する挿通穴572cおよび573cが設けられている。なお、摩擦リング571の厚みと第1の摺動部材572および第2の摺動部材573の嵌合部572aおよび573aの長さの和は、ガイドブロック51の調整部512の厚みより僅かに大きい寸法に形成されている。
The adjusting
上述した検出ブロック52の支持部521に形成された雌ネジ穴521cに一端部が螺合された調整ロッド531を、上記ガイドブロック51の調整部512に設けられた調整ロッド挿通穴512aに摩擦係止手段57を介して配設する手順について、図6を参照して説明する。先ず、調整ロッド531の他端から第1の摺動部材572を嵌合して係止フランジ部752bを支持フランジ531bに当接させるとともに、摩擦リング571を調整ロッド531の他端から嵌合して装着する。次に、調整ロッド531に装着された摩擦リング571および係止フランジ部752bをガイドブロック51の調整部512に設けられた調整ロッド挿通穴512aに下側から挿入して嵌合する。そして、第2の摺動部材573をガイドブロック51の調整部512に設けられた調整ロッド挿通穴512aに上側から挿入して嵌合する。次に、調整ロッド531の他端から調整ツマミ532の貫通穴532aを嵌合し、該調整ツマミ532に設けられたピン挿通穴532bおよび調整ロッド531の他端部に設けられたピン挿通穴531cに割りピン等の締結ピン533を挿通する。なお、上記、調整ロッド531に設けられた支持フランジ531bの上面と調整ロッド531に締結ピン533によって装着された調整ツマミ532の下面との間隔は、摩擦リング571の厚みと第1の摺動部材572および第2の摺動部材573の長さの和より小さい寸法に形成されている。そして、上述したように摩擦リング571の厚みと第1の摺動部材572および第2の摺動部材573の嵌合部572aおよび573aの長さの和がガイドブロック51の調整部512の厚みより僅かに大きい寸法に形成されているので、調整ツマミ532を調整ロッド531に装着することにより、摩擦リング571は僅かに圧縮された状態となる。従って、摩擦リング571の内周面と調整ロッド531の外周面との摩擦力が大きくなる。このため、振動等によって調整ロッド531が回動することはない。
The
図示の実施形態における切削ブレード検出機構5は以上のように構成されており、以下その作用について図5を参照して説明する。
切削ブレード43が回転している状態において発光体55aから受光体55bに向けて光が照射される。そして、受光体55bによって受光された光は図示しない制御手段に送られる。図示しない制御手段は、受光体55bから送られた光の光量に基づいて切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達したか、或いは切削ブレード43の円環状の切れ刃432に欠けが発生しているか否を判定する。そして、切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達したり、切削ブレード43の円環状の切れ刃432に欠けが発生している場合には、切削ブレード43を交換する。このようにして切削ブレード43を交換した場合には、切削ブレード検出機構5の発光体55aと受光体55bが配設されている検出ブロック52の位置を交換した切削ブレード43の円環状の切れ刃432に対して最適な位置に調整する。この調整は、上記調整ツマミ532を一方向または他方向に回動して調整ロッド531を一方向または他方向に回動することにより実施することができる。即ち、調整ロッド531が一方向または他方向に回動すると、調整ロッド531の一端部に形成された雄ネジ531aが螺合されている検出ブロック52は上記ガイドブロック51の案内部511に設けられた案内溝511bに沿って上方または下方に移動せしめられる。そして、検出ブロック52に配設された発光体55aと受光体55bが適正対置に達したとき、調整ロッド531の回動を停止する。調整ロッド531の回動を停止すると、調整ロッド531は上述したように摩擦リング571の内周面と摩擦係合しているので、振動等によって調整ロッド531が回動することはない。なお、調整ツマミ532を回動して調整ロッド531を回動する際には、調整ツマミ532の下面と係止フランジ部573bおよび調整ロッド531の支持フランジ531bと第1の摺動部材572の係止フランジ部752bが接触しているが、第1の摺動部材572および第2の摺動部材573がポリアセタール等の摩擦係数が小さい合成樹脂によって形成されているので、大きな摩擦抵抗とはならない。
The cutting
In the state where the
図1に戻って説明を続けると、切削装置1は、上記チャックテーブル3上に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレード43によって切削すべき領域を検出するための撮像手段11を具備している。この撮像手段11は、顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっている。また、切削装置1は、撮像手段11によって撮像された画像等を表示する表示手段12を具備している。
Referring back to FIG. 1, the description will be continued. The
上記装置ハウジング2におけるカセット載置領域13aには、被加工物を収容するカセットを載置するカセット載置テーブル13が配設されている。このカセット載置テーブル13は、図示しない昇降手段によって上下方向に移動可能に構成されている。カセット載置テーブル13上には、被加工物としての半導体ウエーハ10を収容するカセット14が載置される。カセット14に収容される半導体ウエーハ10は、表面に格子状のストリートが形成されており、この格子状のストリートによって区画された複数の矩形領域にIC、LSI等のデバイスが形成されている。このように形成された半導体ウエーハ10は、環状の支持フレームFに装着されたダイシングテープTの表面に裏面が貼着された状態でカセット14に収容される。
In the
また、図示の実施形態における切削装置は、カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)を仮置きテーブル15に搬出する搬出・搬入手段16と、仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10を上記チャックテーブル3上に搬送する第1の搬送手段17と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄する洗浄手段18と、チャックテーブル3上で切削加工された半導体ウエーハ10を洗浄手段18へ搬送する第2の搬送手段19を具備している。
Further, the cutting device in the illustrated embodiment is a
次に、上述した切削装置1を用いて半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断する切削作業について説明する。
カセット載置テーブル13上に載置されたカセット14の所定位置に収容されている半導体ウエーハ10(環状のフレームFにダイシングテープTを介して支持されている状態)は、図示しない昇降手段によってカセット載置テーブル13が上下動することにより搬出位置に位置付けられる。次に、搬出・搬入手段16が進退作動して搬出位置に位置付けられた半導体ウエーハ10を仮置きテーブル15上に搬出する。仮置きテーブル15に搬出された半導体ウエーハ10は、第1の搬送手段17の旋回動作によって上記チャックテーブル3上に搬送される。
Next, a cutting operation for cutting the
The semiconductor wafer 10 (supported by the annular frame F via the dicing tape T) accommodated in a predetermined position of the
チャックテーブル3上に半導体ウエーハ10が載置されたならば、図示しない吸引手段が作動して半導体ウエーハ10をチャックテーブル3上に吸引保持する。また、半導体ウエーハ10をダイシングテープTを介して支持する環状のフレームFは、上記クランプ33によって固定される。このようにして半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は、撮像手段11の直下まで移動せしめられる。チャックテーブル3が撮像手段11の直下に位置付けられると、撮像手段11によって半導体ウエーハ10に形成されているストリートが検出され、スピンドルユニット4を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節してストリートと切削ブレード43との精密位置合わせ作業が行われる。
When the
その後、チャックテーブル3を切削ブレード43の下方である切削加工領域に移動し、切削ブレード43を所定方向に回転せしめるとともに、矢印Zで示す方向に所定量切り込み送りし、切削ブレード43の最下端がダイシングテープTに達する位置に位置付ける。そして、半導体ウエーハ10を吸引保持したチャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す方向に所定の切削送り速度で移動する。この結果、チャックテーブル3上に保持された半導体ウエーハ10は、切削ブレード43により所定のストリートに沿って切断される(切削工程)。この切削工程を実施する際には、切削水供給ノズル462から切削水が切削ブレード43の側面に向けて噴射される。
Thereafter, the chuck table 3 is moved to a cutting region below the
以上のようにして、半導体ウエーハ10を所定のストリートに沿って切断したら、スピンドルユニット4を図1において矢印Yで示す方向にストリートの間隔だけ割り出し送りし、上記切削工程を実施する。そして、半導体ウエーハ10の所定方向に延在するストリートの全てに沿って切削工程を実施したならば、チャックテーブル3を90度回転させて、半導体ウエーハ10の所定方向と直交する方向に延在するストリートに沿って切削工程を実行することにより、半導体ウエーハ10に格子状に形成された全てのストリートが切削されて個々のデバイスに分割される。なお、分割された個々のデバイスは、ダイシングテープTの作用によってバラバラにはならず、環状のフレームFに支持されたウエーハの状態が維持されている。
When the
上述したように半導体ウエーハ10のストリートに沿って切削工程が終了したら、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル3は最初に半導体ウエーハ10を吸引保持した位置に戻される。そして、半導体ウエーハ10の吸引保持を解除する。次に、半導体ウエーハ10は第2の搬送手段19によって洗浄手段18に搬送される。洗浄手段18に搬送された半導体ウエーハ10は、ここで洗浄される。このようにして洗浄された半導体ウエーハ10は、乾燥後に第1の搬送手段17によって仮置きテーブル15に搬送される。そして、半導体ウエーハ10は、搬出・搬入手段16によってカセット14の所定位置に収納される。
As described above, when the cutting process is completed along the street of the
上述した切削工程を実施している際に上記切削ブレード検出機構5も作動しており、上述したように切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達したか、或いは切削ブレード43の円環状の切れ刃432に欠けが発生しているか否を検出している。そして、切削ブレード43の円環状の切れ刃432が使用限界に達したり、切削ブレード43の円環状の切れ刃432に欠けが発生している場合には、切削ブレード43を交換する。このようにして切削ブレード43を交換した場合には、上述したように切削ブレード検出機構5の調整ツマミ532を回動して発光体55aと受光体55bが配設された検出ブロック52の位置を交換した切削ブレード43の円環状の切れ刃432に対して最適な位置に調整する。
The cutting
1:切削装置
2:装置ハウジング
3:チャックテーブ
4:スピンドルユニット
41:回転スピンドル
43:切削ブレード
44:ブレードカバー
461,462:切削水供給ノズル
5:切削ブレード検出機構
51:ガイドブロック
52:検出ブロック
55a:発光体
55b:受光体
53:調整手段
531:調整ロッド
532:調整ツマミ
533:締結ピン
57:摩擦係止手段
571:摩擦リング
572:第1の摺動部材
573:第2の摺動部材
10:半導体ウエーハ
11:撮像手段
12:表示手段
13:カセット載置テーブル
14:カセット
15:仮置きテーブル
16:搬出・搬入手段
17:第1の搬送手段
18:洗浄手段
19:第2の搬送手段
1: Cutting device 2: Device housing 3: Chuck table 4: Spindle unit 41: Rotating spindle 43: Cutting blade 44:
Claims (1)
該ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴には該調整ロッドを摩擦係止する摩擦係止手段が配設され、
該摩擦係止手段は、該ガイドブロックに設けられた調整ロッド挿通穴に配設され該調整ロッドの外周面と摩擦係合する摩擦リングと、該調整ロッド挿通穴に両側からそれぞれ嵌合される第1の摺動部材および第2の摺動部材とからなり、該第1の摺動部材および該第2の摺動部材は該摩擦リングを押圧した状態で配置されており、
該調整ロッドには該第1の摺動部材が当接する係止フランジ部が設けられているとともに他端部に調整ツマミが装着され、該係止フランジ部と該調整ツマミの間に該第1の摺動部材および該第2の摺動部材を該摩擦リングを押圧した状態で挟持する、
ことを特徴とする切削装置の切削ブレード検出機構。 A guide block provided with a guide portion disposed on a blade cover covering the cutting blade and extending toward the center of the cutting blade, and a guided portion guided along the guide portion of the guide block, and the cutting blade A detection block having a light-emitting body and a light-receiving body that has a blade intrusion portion into which the cutting blade enters and is opposed to the blade intrusion portion, and is inserted into an adjustment rod insertion hole provided in the guide block The adjustment block is provided with a male screw at one end that is screwed into a female screw hole provided in the detection block, and the detection block is rotated by rotating the adjustment rod in one direction or the other direction. In a cutting blade detection mechanism of a cutting device configured to move along the guide portion of the guide block,
Friction locking means for frictionally locking the adjustment rod is disposed in the adjustment rod insertion hole provided in the guide block ,
The friction locking means is disposed in an adjustment rod insertion hole provided in the guide block, and is fitted into the adjustment rod insertion hole from both sides, and a friction ring that frictionally engages with the outer peripheral surface of the adjustment rod. The first sliding member and the second sliding member, the first sliding member and the second sliding member are arranged in a state of pressing the friction ring,
The adjustment rod is provided with a locking flange portion with which the first sliding member abuts, and an adjustment knob is attached to the other end portion, and the first knob is disposed between the locking flange portion and the adjustment knob. Holding the sliding member and the second sliding member while pressing the friction ring,
A cutting blade detection mechanism for a cutting apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008151642A JP5270225B2 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008151642A JP5270225B2 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009297794A JP2009297794A (en) | 2009-12-24 |
JP5270225B2 true JP5270225B2 (en) | 2013-08-21 |
Family
ID=41545229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008151642A Active JP5270225B2 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5270225B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011167800A (en) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Disco Corp | Cutting device |
JP2012080029A (en) * | 2010-10-06 | 2012-04-19 | Disco Abrasive Syst Ltd | Cutting device |
JP2013033802A (en) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | Cutting device |
JP6625007B2 (en) * | 2016-04-27 | 2019-12-25 | 株式会社ディスコ | Measurement jig |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5842698Y2 (en) * | 1977-06-16 | 1983-09-27 | 富士金属工作株式会社 | Valve stem locking mechanism |
JPS57136079U (en) * | 1981-02-21 | 1982-08-25 | ||
JPS61186877U (en) * | 1985-05-14 | 1986-11-21 | ||
JP4679209B2 (en) * | 2005-04-04 | 2011-04-27 | 株式会社ディスコ | Cutting apparatus and blade state detection method |
-
2008
- 2008-06-10 JP JP2008151642A patent/JP5270225B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009297794A (en) | 2009-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5236918B2 (en) | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment | |
JP2007214201A (en) | Cutting apparatus | |
JP4731241B2 (en) | Wafer division method | |
CN109037027B (en) | Wafer generating device | |
JP5270225B2 (en) | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment | |
JP2014108463A (en) | Cutting device | |
JP2011054715A (en) | Laser beam machining apparatus | |
US20120137847A1 (en) | Cutting apparatus | |
JP5236917B2 (en) | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment | |
JP4456421B2 (en) | Processing equipment | |
JP5442979B2 (en) | Cutting equipment | |
JP5603175B2 (en) | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment | |
JP4408399B2 (en) | Manufacturing method of cutting blade | |
JP4634820B2 (en) | Cutting equipment | |
JP2007059802A (en) | Machining method of wafer, and pressure-sensitive adhesive tape used for the same | |
JP6151609B2 (en) | Cutting equipment | |
JP2010141009A (en) | Cutting blade detecting mechanism of cutting device | |
JP5872799B2 (en) | Laser processing equipment | |
JP5086015B2 (en) | Cutting blade detection mechanism of cutting equipment | |
JP5101979B2 (en) | Blade case | |
JP2009059749A (en) | Wafer cutting method | |
JP6013934B2 (en) | Marking jig and marking method | |
JP5384258B2 (en) | Cutting method | |
JP2009010160A (en) | Cutter | |
JP5362480B2 (en) | Hard wafer grinding method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110525 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130327 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130509 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5270225 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |