JP5260315B2 - 半導体ロットをディスパッチするシステムおよび方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 29
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 13
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G07F17/326—Game play aspects of gaming systems
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- G07F17/3286—Type of games
- G07F17/3295—Games involving skill, e.g. dexterity, memory, thinking
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32247—Real time scheduler
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- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/35—Nc in input of data, input till input file format
- G05B2219/35532—Comment, work directive, message to operator and control signals together
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45031—Manufacturing semiconductor wafers
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
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Description
フィルタを有するディスパッチ・サーバ・マネージャを準備するステップと、
フィルタの関数として、複数のディスパッチャの少なくとも1つにおいて半導体ロットをディスパッチするかどうかを判断するステップと、
ディスパッチ・サーバ・マネージャが半導体ロットをディスパッチしない場合には、所定の時間枠内で理由コードを出力するステップと、
をコンピュータに実行させる、コンピュータ・プログラムを含む。
105:説明インフラストラクチャ
110:ディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイ・デバイス
115:ディスパッチ要求
120:ディスパッチ・サーバ・マネージャ
125:ディスパッチ・リスト
130、135、140:ディスパッチャ
155、160:半導体ロット
170:ファイル・コレクタ
175:説明ファイル
Claims (19)
- 複数のツールにおける複数の半導体ロット(155、160)をディスパッチするシステム(100)であって、
ディスパッチ・サーバ・マネージャ(120)と、
ディスパッチ要求(115)を前記マネージャに伝達し、ディスパッチ・リスト(125)を前記マネージャから受信するためのディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイ・デバイス(110)と、
を含み、
前記マネージャは、前記複数の半導体ロットの処理状況を照会し、前記処理状況に応じてディスパッチ・リストを表示し、前記ディスパッチ・リストは、前記処理状況に関する関連理由又はコードもしくはその両方を含み、
さらに、前記マネージャが、ディスパッチ・ルールを適用して、意図的に特定のロットを処理されないようにすることができ、かつ、特定のロットに関するエラー条件が感知されたことを検出することができ、
前記関連理由又はコードもしくはその両方のリアルタイム表示によって特定のロットをディスパッチされない理由の理解を可能とし、かつ、意図的な処理遅延とエラー条件を感知したことによる処理遅延との区別を可能とする、システム。 - 前記マネージャに結合した説明インフラストラクチャ(105)をさらに含み、前記説明インフラストラクチャは、前記マネージャから前記処理状況についての判断を収集するファイル・コレクタ(170)を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記ファイル・コレクタは、説明ファイル(175)内に前記関連理由又はコードもしくはその両方を保存する、請求項2に記載のシステム。
- 前記説明ファイルは、前記複数のツールのセンサの読み取り値を含む、請求項3に記載のシステム。
- 前記説明インフラストラクチャは、説明報告出口(180)を介して、前記説明ファイルを前記ディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイ・デバイスにエクスポートする、請求項3に記載のシステム。
- 前記説明報告出口は、JAVA(R)でプログラムされた出口を含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記説明ファイルは、ディスパッチ・ツール識別子情報、ロット識別子情報、ディスパッチ時間情報、説明コード情報、説明理由情報、ロット詳細情報、及びそれらのいずれかの組み合わせからなる群から選択されるデータを含む、請求項3に記載のシステム。
- 複数の半導体ロット(155、160)をディスパッチするシステム(100)であって、
ディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイ(110)と、
前記複数の半導体ロットを複数のディスパッチャ(130、135、140)にディスパッチし、前記ディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイと電気的に通信する、ディスパッチ・サービス・マネージャ(120)と、
前記ディスパッチ・サービス・マネージャと通信し、前記ディスパッチ・サービス・マネージャから前記ディスパッチ・インテグレータ及びディスプレイに情報(175)をエクスポートする説明インフラストラクチャ(105)であって、前記情報は、複数の前記半導体ロットのディスパッチ状態を含む、説明インフラストラクチャを含み、
さらに、前記マネージャが、ディスパッチ・ルールを適用して、意図的に特定のロットを処理されないようにすることができ、かつ、特定のロットに関するエラー条件が感知されたことを検出することができ、
前記情報のリアルタイム表示によって特定のロットをディスパッチすることができない理由の理解を可能とし、かつ、意図的な処理遅延とエラー条件を感知したこととの区別を可能とする、システム。 - ユーザ入力に応答して、前記ディスパッチ・サービス・マネージャが前記情報の関数として更新される、請求項8に記載のシステム。
- 前記情報は、ディスパッチ・ツール識別子情報、ロット識別子情報、ディスパッチ時間情報、説明コード情報、説明理由情報、ロット詳細情報、及びそれらのいずれかの組み合わせからなる群から選択されるデータを含む、請求項8に記載のシステム。
- 半導体ロット(155、160)を処理するための方法であって、
フィルタ(310、315、320)を有するディスパッチ・サーバ・マネージャ(120)を準備するステップと、
前記フィルタの関数として、複数のディスパッチャ(130、135、140)の少なくとも1つにおいて前記半導体ロットをディスパッチするかどうかを判断するステップと、
前記ディスパッチ・サーバ・マネージャが前記半導体ロットをディスパッチしない場合には、所定の時間枠内で理由コードを出力するステップを含み、
さらに、前記マネージャが、ディスパッチ・ルールを適用して、意図的に特定のロットを処理されないようにすることができ、かつ、特定のロットに関するエラー条件が感知されたことを検出することができ、
前記理由コードのリアルタイム表示によって特定のロットをディスパッチすることができない理由の理解を可能とし、かつ、意図的な処理遅延とエラー条件を感知したこととの区別を可能とする、方法。 - 前記理由コード(180)をディスプレイ(110)に出力するステップをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- ユーザ入力に応答して前記理由コードを評価するステップと、
ユーザ入力に応答して前記理由コードの関数として前記フィルタを変更するステップと、をさらに含む請求項11に記載の方法。 - 前記フィルタを変更するステップは、前記フィルタを削除するステップを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記理由コードは、ディスパッチ・ツール識別子情報、ロット識別子情報、ディスパッチ時間情報、説明コード情報、説明理由情報、ロット詳細情報、及びそれらのいずれかの組み合わせからなる群から選択されるデータを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記ディスパッチ・サーバ・マネージャがディスパッチ要求(115)を受信するステップをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 前記ディスパッチ・サーバ・マネージャが前記理由コードを出力するステップの前に、ファイル内に前記理由コードを格納するステップをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 半導体ロット(155、160)を処理するために、
フィルタ(310、315、320)を有するディスパッチ・サーバ・マネージャ(120)を準備するステップと、
前記フィルタの関数として、複数のディスパッチャ(130、135、140)の少なくとも1つにおいて前記半導体ロットをディスパッチするかどうかを判断するステップと、
前記ディスパッチ・サーバ・マネージャが前記半導体ロットをディスパッチしない場合には、所定の時間枠内で理由コード(180)を出力するステップをコンピュータに実行させ、
さらに、前記マネージャが、ディスパッチ・ルールを適用して、意図的に特定のロットを処理されないようにすることができ、かつ、特定のロットに関するエラー条件が感知されたことを検出することができ、
前記理由コードのリアルタイム表示によって特定のロットをディスパッチすることができない理由の理解を可能とし、かつ、意図的な処理遅延とエラー条件を感知したこととの区別を可能とする、コンピュータ・プログラム。 - さらに、前記理由コードをディスプレイ(110)に出力するステップを含む、請求項18に記載のコンピュータ・プログラム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/307,288 US7426420B2 (en) | 2003-09-15 | 2006-01-31 | System for dispatching semiconductors lots |
US11/307,288 | 2006-01-31 | ||
PCT/US2007/061207 WO2007090077A2 (en) | 2006-01-31 | 2007-01-29 | System for dispatching semiconductors lots |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009525598A JP2009525598A (ja) | 2009-07-09 |
JP5260315B2 true JP5260315B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=38328114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008552609A Expired - Fee Related JP5260315B2 (ja) | 2006-01-31 | 2007-01-29 | 半導体ロットをディスパッチするシステムおよび方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7426420B2 (ja) |
EP (1) | EP1999664A4 (ja) |
JP (1) | JP5260315B2 (ja) |
CN (1) | CN101361075B (ja) |
TW (1) | TW200818246A (ja) |
WO (1) | WO2007090077A2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005035475B4 (de) * | 2005-07-28 | 2019-08-08 | Institut Straumann Ag | Verfahren, computerlesbares Medium, Computerprogramm die Herstellung von Zahnersatzteilen betreffend |
TW200910229A (en) * | 2007-08-29 | 2009-03-01 | Promos Technologies Inc | Method and system for auto-dispatching lots in photolithography process |
CN102393687B (zh) * | 2011-09-15 | 2013-05-22 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种解决改机问题的限定分配调度方法 |
CN103439885B (zh) * | 2013-07-26 | 2016-08-17 | 同济大学 | 半导体生产线优化调度装置 |
CN103439886B (zh) * | 2013-07-26 | 2016-01-20 | 同济大学 | 一种半导体生产线自适应动态调度装置 |
CN104576441B (zh) * | 2013-10-29 | 2017-07-07 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 基于作业区域的半导体封装线lot多规则调度方法 |
US10157741B1 (en) * | 2017-07-31 | 2018-12-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor structure |
US11042148B2 (en) * | 2017-11-23 | 2021-06-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | System and method for scheduling semiconductor lot to fabrication tool |
WO2021163986A1 (en) * | 2020-02-21 | 2021-08-26 | Yangtze Memory Technologies Co., Ltd. | Method and system for scheduling semiconductor fabrication |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5548535A (en) * | 1994-11-08 | 1996-08-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Monitor utility for use in manufacturing environment |
US6128588A (en) * | 1997-10-01 | 2000-10-03 | Sony Corporation | Integrated wafer fab time standard (machine tact) database |
JP2000077289A (ja) * | 1998-08-27 | 2000-03-14 | Fujitsu Ltd | 製造予測管理システム |
US6308107B1 (en) | 1999-08-31 | 2001-10-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Realtime decision making system for reduction of time delays in an automated material handling system |
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-
2006
- 2006-01-31 US US11/307,288 patent/US7426420B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-01-26 TW TW096103029A patent/TW200818246A/zh unknown
- 2007-01-29 JP JP2008552609A patent/JP5260315B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-29 EP EP07717461A patent/EP1999664A4/en not_active Withdrawn
- 2007-01-29 WO PCT/US2007/061207 patent/WO2007090077A2/en active Application Filing
- 2007-01-29 CN CN2007800017212A patent/CN101361075B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007090077A2 (en) | 2007-08-09 |
CN101361075B (zh) | 2010-06-23 |
US7426420B2 (en) | 2008-09-16 |
EP1999664A4 (en) | 2009-05-27 |
TW200818246A (en) | 2008-04-16 |
EP1999664A2 (en) | 2008-12-10 |
WO2007090077A3 (en) | 2008-04-10 |
JP2009525598A (ja) | 2009-07-09 |
US20060282187A1 (en) | 2006-12-14 |
CN101361075A (zh) | 2009-02-04 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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