JP5251705B2 - Analyzer control system - Google Patents
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 139
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 14
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
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Description
本発明は、ネットワーク接続型分析装置制御システムに関する。 The present invention relates to a network connection type analyzer control system.
クロマトグラフ装置、分光光度計、質量分析装置といった分析装置は通常、その分析装置を制御したりデータ収集を行ったりするための分析装置制御サーバと接続される。
従来、分析装置と分析装置制御サーバは非ネットワークインターフェース等によって一対一に接続される接続形態が一般的であったが、これには、分析装置毎に分析装置制御サーバを用意しなければならないためにコストがかかるという問題や、分析装置毎に物理的に配置されている位置が異なる分析装置制御サーバに足を運んで操作・制御しなければならないという不便さが伴っていた。
Analyzers such as chromatographs, spectrophotometers, and mass spectrometers are usually connected to an analyzer control server for controlling the analyzer and collecting data.
Conventionally, a connection form in which the analyzer and the analyzer control server are connected one-to-one by a non-network interface or the like is common, but this requires that an analyzer control server be prepared for each analyzer. In addition, there is a problem that it is expensive, and there is an inconvenience that it is necessary to visit and operate the analyzer control server having a different physical location for each analyzer.
そこで近年では、分析装置及び分析装置制御サーバなどにネットワーク通信モジュールを組み込むことにより、ネットワークを通じて遠隔端末から分析装置の監視や制御を行うシステムが一般的となっている。 Therefore, in recent years, a system that monitors and controls an analysis apparatus from a remote terminal through a network by incorporating a network communication module into an analysis apparatus and an analysis apparatus control server has become common.
このようなネットワーク接続型分析装置制御システム(以下、適宜「システム」と略称する。)では通常、分析装置、分析装置制御サーバの他、分析装置に対する分析指示及び分析結果表示を行うための端末コンピュータ、システム全体の制御を行うためのシステムサーバ、分析や測定の結果出力される分析データを保存するためのデータベースサーバなどが互いに接続され、各種のデータがネットワークを介してやり取りされる。
このように全ての装置が一つのネットワークに接続され、相互に依存しているため、システムの一箇所に不具合が発生しただけで、他の複数の分析やデータ処理に影響が生じてしまうおそれがある。そのため、そのような場合でもシステム全体に不具合が生じないように構成しておくだけでなく、障害が発生してしまった際には、可能な限り迅速に障害復旧できるようなシステムを構築しておくことが重要である。
In such a network connection type analysis apparatus control system (hereinafter abbreviated as “system” as appropriate), a terminal computer for performing analysis instructions and analysis result display for the analysis apparatus in addition to the analysis apparatus and the analysis apparatus control server. A system server for controlling the entire system, a database server for storing analysis data output as a result of analysis and measurement, and the like are connected to each other, and various data are exchanged via a network.
Since all devices are connected to one network and depend on each other in this way, there is a risk that a failure in one part of the system will affect other multiple analyzes and data processing. is there. Therefore, in such a case, not only is the system configured so that it does not cause problems, but a system that can recover from the failure as quickly as possible should be constructed in the event of a failure. It is important to keep
こういった障害からの復旧を迅速に行うためのシステムの一例として、特許文献1に記載の分析装置制御システムがある。この分析装置制御システムでは、分析装置制御サーバから、分析や測定に必要なバッチファイルやメソッドファイルをはじめとする各種の分析用内部情報である分析条件情報を定期的にデータを管理するサーバに対して送信する。分析装置制御サーバに障害が発生した際には、データ管理サーバ側に保存されていた分析条件情報を利用することで、他の利用可能な分析装置制御サーバ、又は障害から復旧した分析装置制御サーバによる分析を速やかに再開することが可能である。
As an example of a system for quickly recovering from such a failure, there is an analyzer control system described in
特許文献1が開示しているようなシステムを利用することで、分析装置制御サーバの障害からの復旧を迅速に行うことが可能となる。しかし、これと同時に、復旧が迅速に可能であることに加えて、障害自体が発生し難く、より信頼性の高い分析システムを得たいという要求がある。
By using a system as disclosed in
本発明は上記の課題を解決するためになされた。即ち、本発明が解決しようとする課題は、上述したようなネットワーク接続型分析装置制御システムにおいて、より高いシステム信頼性を実現することにある。 The present invention has been made to solve the above problems. That is, the problem to be solved by the present invention is to realize higher system reliability in the network connection type analyzer control system as described above.
上記課題を解決するために成された分析装置制御システムは、
複数の分析装置と、各分析装置の設定に関するデータである分析条件情報に基づき、分析装置を制御したりデータ収集を行ったりする複数の分析装置制御サーバと、システム全体を統御するシステムサーバと、がネットワークを介して接続されて成るネットワーク接続型分析装置制御システムであって、
前記システムサーバが、
前記複数の分析装置制御サーバのそれぞれの稼働状況を監視する稼働状況監視部と、
或る分析装置の使用要求を受けた際に、前記稼働状況監視部によって監視されている各分析装置制御サーバの稼働状況に基づき、その時点で最適な分析装置制御サーバを選択し、該選択された分析装置制御サーバを該分析装置と接続する制御サーバ選択部と、
を備えることを特徴としている。
An analyzer control system made to solve the above problems is as follows.
A plurality of analyzers, a plurality of analyzer control servers that control the analyzer and collect data based on analysis condition information that is data relating to settings of each analyzer, a system server that controls the entire system, Is a network-connected analyzer control system formed by being connected via a network,
The system server is
An operating status monitoring unit that monitors the operating status of each of the plurality of analyzer control servers;
When a usage request for an analyzer is received, an optimal analyzer control server at that time is selected based on the operating status of each analyzer control server monitored by the operating status monitoring unit. A control server selection unit for connecting the analyzer control server connected to the analyzer,
It is characterized by having.
前記「最適な」分析装置制御サーバを選択するための基準として最も典型的なものは、その時点で最も負荷が小さい分析装置制御サーバである。その他に、使用要求が出た分析装置の分析予想時間と、予め集積された各分析装置のスケジュールを勘案して、所定の期間内で負荷が平均化されるようにしてもよい。 The most typical criterion for selecting the “optimal” analyzer control server is the analyzer control server with the smallest load at that time. In addition, the load may be averaged within a predetermined period in consideration of the expected analysis time of the analyzer that has requested use and the schedule of each analyzer accumulated in advance.
また、本発明に係る分析装置制御システムは、好適には、
前記分析装置制御サーバが、
分析装置の分析条件情報を前記システムサーバに所定のタイミングで送信する分析条件情報送信部を備え、
前記システムサーバが更に、
前記分析装置制御サーバより送信された分析条件情報を保存するための分析条件情報保存部と、
或る分析装置制御サーバに障害が発生した後、分析を再開する際に、該分析装置制御サーバによって制御されていた分析装置に関し、前記分析条件情報保存部に保存されている分析条件情報を、前記制御サーバ選択部によって選択された分析装置制御サーバに対して送信する分析条件復旧部と、
を備えるようにすることが望ましい。
The analyzer control system according to the present invention preferably has
The analyzer control server is
An analysis condition information transmitting unit that transmits analysis condition information of the analyzer to the system server at a predetermined timing,
The system server further includes:
An analysis condition information storage unit for storing analysis condition information transmitted from the analyzer control server;
The analysis condition information stored in the analysis condition information storage unit is related to the analysis apparatus controlled by the analysis apparatus control server when the analysis is resumed after a failure occurs in a certain analysis apparatus control server. An analysis condition recovery unit for transmitting to the analyzer control server selected by the control server selection unit;
It is desirable to have
本発明に係る分析装置制御システムによれば、ネットワークに接続されている複数の分析装置制御サーバのそれぞれの稼働状況をシステムサーバが常時監視し、分析装置の使用要求があった際には、その時点で最適な分析装置制御サーバにその分析装置を制御させるように設定する。従って、特定の分析装置制御サーバに過度の負荷が掛かる等の不具合を防止することが可能となり、システム自体の信頼性が向上するとともに、負荷の分散化によりシステム全体の稼働効率が向上する。また、使用者の側からすれば、各分析装置制御サーバの稼働状況や負荷の掛かり具合を逐一確認する必要がなくなるから、分析開始時に必要であった負担と手間が軽減される。 According to the analyzer control system of the present invention, the system server constantly monitors the operating status of each of the plurality of analyzer control servers connected to the network, and when there is a request to use the analyzer, A setting is made so that the analysis apparatus control server optimal at the time controls the analysis apparatus. Therefore, it is possible to prevent problems such as excessive load on a specific analyzer control server, improving the reliability of the system itself and improving the operating efficiency of the entire system by distributing the load. Further, from the user's side, it is not necessary to check the operating status of each analysis device control server and the load applied one by one, thereby reducing the burden and effort required at the start of analysis.
また、本発明に係る分析装置制御システムにおいて分析装置制御サーバが分析条件情報送信部を備え、システムサーバが分析条件情報保存部と分析条件復旧部とを更に備えることにより、万一、分析装置制御サーバに障害が発生してしまった場合であっても、迅速かつ確実に、最適な分析装置制御サーバを利用して分析を再開することが可能となる。 Further, in the analyzer control system according to the present invention, the analyzer control server includes an analysis condition information transmission unit, and the system server further includes an analysis condition information storage unit and an analysis condition recovery unit, so that the analyzer control should be performed. Even when a failure occurs in the server, the analysis can be resumed quickly and reliably using the optimum analyzer control server.
以下、本発明に係る分析装置制御システムの実施形態の例を図面を参照しつつ詳細に説明する。 Hereinafter, an example of an embodiment of an analyzer control system according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、本発明に係る分析装置制御システムの一実施形態の概略構成を示す図である。本実施形態の分析装置制御システム1(以下、適宜「本システム」と略称する)は、以下に説明するような構成を有している。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an embodiment of an analyzer control system according to the present invention. The
LAN等のシステムネットワークNW1には、使用者が操作することにより各種の指示を入力したり種々の情報を確認したりするためのクライアントコンピュータT1及びT2が接続されている。システムネットワークNW1には更に、本システム1の全体を統括制御するシステムサーバSSが接続されている。また、図示しないが、システムネットワークNW1には分析の結果出力される分析データを管理し、また保存するためのデータ管理サーバも接続されている。このデータ管理サーバは、システムサーバSSと一体であっても良い。
Connected to a system network NW1 such as a LAN are client computers T1 and T2 for inputting various instructions and confirming various information by a user operation. Further connected to the system network NW1 is a system server SS that performs overall control of the
また、システムネットワークNW1とは別に、LAN等から成る装置ネットワークNW2が設けられており、この装置ネットワークNW2には分析装置A1、A2、A3、A4のそれぞれが接続されている。 In addition to the system network NW1, a device network NW2 including a LAN or the like is provided, and each of the analysis devices A1, A2, A3, and A4 is connected to the device network NW2.
システムネットワークNW1及び装置ネットワークNW2の間には、両ネットワークNW1及びNW2をつなぐようにして、分析装置制御サーバAS1、AS2、AS3が接続されている。 Between the system network NW1 and the device network NW2, analytical device control servers AS1, AS2, and AS3 are connected so as to connect both networks NW1 and NW2.
クライアントコンピュータT1、T2、システムサーバSS、分析装置制御サーバAS1〜AS3はいずれも、CPU、メモリ、ハードディスクやフラッシュメモリなどから成る記憶部を含んで成るコンピュータである。 Each of the client computers T1, T2, the system server SS, and the analyzer control servers AS1 to AS3 is a computer including a storage unit including a CPU, a memory, a hard disk, a flash memory, and the like.
このうち、システムサーバSSの記憶部には予めシステムサーバSS用のプログラムがインストールされており、CPUがこのプログラムを実行することにより、稼働状況監視部2、制御サーバ選択部3、分析条件復旧部5がソフトウエア的に具現化される。また、システムサーバSSの記憶部の一部には、分析条件情報保存部4が設けられている。
Among these, a program for the system server SS is installed in advance in the storage unit of the system server SS, and when the CPU executes this program, the operation
また、分析装置制御サーバAS1、AS2の記憶部には予め分析装置制御サーバ用のプログラムがインストールされており、CPUがこのプログラムを実行することにより、分析条件情報送信部6がソフトウエア的に具現化される。
Also, a program for the analyzer control server is installed in advance in the storage unit of the analyzer control server AS1, AS2, and the analysis condition
分析装置制御サーバAS1〜AS3の記憶部には更に、分析装置A1〜A4のそれぞれにおいて実行される分析に関する分析条件情報F1、F2、F3、F4が保存されている。分析条件情報とは分析装置の設定に関する種々のデータであり、例えば以下のものが含まれる。
・バッチ分析の内容を指示するためのバッチファイル
・各分析の条件(分析装置の設定条件、取得されたデータの演算方法等)を指示するためのメソッドファイル
・分析の進行状況を示す進行状況ファイル
・接続されている分析装置の状況等を示す環境設定ファイル
・バッチ分析等の判定に用いられる、各分析の可否を記録するための結果ファイル
Analysis condition information F1, F2, F3, and F4 relating to analysis executed in each of the analysis devices A1 to A4 is further stored in the storage units of the analysis device control servers AS1 to AS3. The analysis condition information is various data relating to the setting of the analyzer, and includes, for example, the following.
-Batch file for instructing the contents of batch analysis-Method file for instructing each analysis condition (analyzer setting conditions, calculation method of acquired data, etc.)-Progress file showing analysis progress・ Environment setting file indicating the status of the connected analyzer ・ Result file used to record the availability of each analysis used for batch analysis etc.
分析装置制御サーバに保存されているこれらの分析条件情報F1、F2、F3、F4は使用者の操作によってクライアントコンピュータT1、T2を通して与えられる各種命令により書き換えられたり、分析装置からの命令によって自動的に書き換えられたりすることにより、その一部若しくは全体が更新される。 These analysis condition information F1, F2, F3 , and F4 stored in the analyzer control server can be rewritten by various commands given through the client computers T1 and T2 by the user's operation, or automatically by commands from the analyzer A part or the whole is updated by being rewritten.
本発明において分析装置は、各種のネットワーク接続型の分析装置や計測・測定装置であり、その種類は何ら限定されない。また、システムネットワークNW1及び装置ネットワークNW2に接続される装置、機器、サーバ、コンピュータなどの各種機器の種類や台数は、本実施形態において示すものには何ら限定されない。 In the present invention, the analysis device is various network connection type analysis devices and measurement / measurement devices, and the types thereof are not limited at all. Further, the types and the number of various devices such as devices, devices, servers, and computers connected to the system network NW1 and the device network NW2 are not limited to those shown in the present embodiment.
以下、本システム1において新たに分析を開始する場合の処理について、図2を参照しつつ説明する。図2は、本発明の一実施形態における分析装置制御システムにおいて、分析を開始する際の処理を示す概念図である。
Hereinafter, a process when a new analysis is started in the
まず、現時点では分析装置A1は分析装置制御サーバAS1による制御の下で分析を実行しており、分析装置A2及びA3は分析装置制御サーバAS2による制御の下で分析を実行しているものとする。システムサーバSSの稼働状況監視部2は常に分析装置制御サーバAS1、AS2、AS3のそれぞれの稼働状況を監視する。
First, it is assumed that the analysis device A1 is currently performing analysis under the control of the analysis device control server AS1, and the analysis devices A2 and A3 are performing analysis under the control of the analysis device control server AS2. . The operating
ここで使用者がクライアントコンピュータT1を操作し、分析装置A4を用いた分析を実行するという使用要求を入力したとする(使用要求は必ずしも使用者から入力されるものに限らず、予め設定されている条件等に従って自動的に与えられることもあり得る。)。この使用要求を受けたシステムサーバSSの制御サーバ選択部3は、稼働状況監視部2が監視している各分析装置制御サーバの稼働状況を参照し、最も負荷が小さい分析装置制御サーバが(現時点で分析装置の制御を行っていない)分析装置制御サーバAS3であることを特定し、この分析装置制御サーバAS3を分析装置A4と接続する。すなわち、分析装置A4を分析装置制御サーバAS3によって制御させるように設定する。
Here, it is assumed that the user operates the client computer T1 and inputs a use request for executing an analysis using the analyzer A4 (the use request is not necessarily input from the user, but is set in advance. It may be given automatically according to the conditions.) Upon receiving this use request, the control
分析装置制御サーバの負荷は、例えば、各分析装置制御サーバのCPUやメモリの稼働状況、接続している(すなわち制御している)分析装置の数、制御している分析装置の分析の進行状況などに基づいて求めればよい。制御下にある分析装置で実行中の分析の進行状況を考慮に入れる場合には、予め集積された各分析装置のスケジュールを考慮して、一定時間経過後の負荷や分析終了時刻なども予想することで、全体的に負荷が最も低くなるような仕方で最適な分析装置制御サーバを選択するとよい。 The load on the analyzer control server includes, for example, the operating status of the CPU and memory of each analyzer control server, the number of connected (ie, controlling) analyzers, and the analysis progress of the controlling analyzer It may be obtained based on the above. When taking into account the progress of the analysis being performed by the analyzer under control, the load after a certain period of time, the analysis end time, etc. are also predicted in consideration of the schedule of each analyzer accumulated in advance. Thus, the optimal analyzer control server may be selected in such a way that the load is the lowest overall.
次に、本システム1において分析装置制御サーバの一つに障害が発生した際の処理について、図3及び図4を参照しつつ説明する。図3は本発明の一実施形態における分析装置制御システムにおいて、分析条件情報送信部の処理を示す概念図であり、図4は分析装置制御サーバに不具合が生じた際の処理を示す概念図である。
Next, processing when a failure occurs in one of the analyzer control servers in the
まず、図3に示すように現時点で分析装置A1は分析装置制御サーバAS1の制御の下、分析装置A2は分析装置制御サーバAS2の制御の下、分析装置A3及びA4は分析装置制御サーバAS3の制御の下でそれぞれ分析を実行しているものとする。 First, as shown in FIG. 3, the analyzer A1 is currently under the control of the analyzer control server AS1, the analyzer A2 is under the control of the analyzer control server AS2, and the analyzers A3 and A4 are under the control of the analyzer control server AS3. Assume that each analysis is performed under control.
この間にも、分析装置制御サーバAS1〜AS3の分析条件情報送信部6は、それぞれが制御している分析装置の分析条件情報F1〜F4をシステムサーバSSに対して一定時間毎および分析条件情報に変化があった時点など、所定のタイミングで送信する。他方、システムサーバSSは、各分析装置制御サーバAS1〜AS3から送られてきた分析条件情報F1〜F4を分析条件情報保存部4に随時保存する。
In the meantime, the analysis condition
このとき、図4に示すように、分析装置制御サーバAS2に不具合が生じたとする。これにより、分析装置A2における分析は停止する。一方、システムサーバSSの分析条件復旧部5は、分析装置制御サーバAS2に障害が発生したことを検知する。使用者による指示に基づき、又は予め設定されている自動復旧開始指示などに基づいて自動的に分析を再開する際には、制御サーバ選択部3が、稼働状況監視部2の監視に基づき、使用可能な分析装置制御サーバAS1及びAS3のうち、どちらの方が負荷が小さいかを判断する。本実施形態の場合には、1つの分析装置しか制御していない分析装置制御サーバAS1の方が、2つの分析装置を制御している分析装置制御サーバAS3よりも負荷が小さいと判断される。
At this time, as shown in FIG. 4, it is assumed that a problem has occurred in the analyzer control server AS2. Thereby, the analysis in analyzer A2 stops. On the other hand, the analysis
この判断に基づき分析条件復旧部5は、分析装置制御サーバAS2によって制御されていた分析装置A2に関して分析条件情報保存部4に保存されている分析条件情報F2を、制御サーバ選択部3によって選択された分析装置制御サーバAS1に対して送信する。分析条件情報保存部4に保存されている分析条件情報F2は、分析装置制御サーバAS2に不具合が生じる直前の情報であるから、分析装置制御サーバAS1は迅速に分析装置A2における分析を再開することができる。
Based on this determination, the analysis
以上、本発明に係る分析装置制御システムについて実施例を用いて説明したが、上記は例に過ぎないことは明らかであり、本発明の趣旨の範囲内で適宜に変更や修正、又は追加を行っても構わない。 As mentioned above, although the analyzer control system according to the present invention has been described using the embodiments, it is clear that the above is only an example, and changes, modifications, or additions are made as appropriate within the scope of the present invention. It doesn't matter.
例えば、一般的な分析装置制御システムにおいては、システム全体を制御統括するシステムサーバに不具合が生じた場合、実行中の分析を含めてシステム全体が停止してしまうことがある。しかしながら、本発明に係る分析装置制御システムにおいては、分析装置制御サーバが、前記システムサーバに障害が発生したことを検知したとしても、その時点で制御している分析装置において実行中の分析を継続して実行するようにすると良い。これにより、システム全体の安定性の向上を図ることができる。また、システムサーバの二重化を行う必要も無くなるため、コストの低下も図ることができる。 For example, in a general analyzer control system, when a problem occurs in a system server that controls and controls the entire system, the entire system including the analysis being executed may stop. However, in the analysis apparatus control system according to the present invention, even if the analysis apparatus control server detects that a failure has occurred in the system server, it continues the analysis being performed in the analysis apparatus controlled at that time. And then run it. Thereby, the stability of the whole system can be improved. Further, since it is not necessary to duplicate system servers, the cost can be reduced.
また、上記実施形態ではシステムネットワークNW1及び装置ネットワークNW2の二つのネットワークを設けていたが、これはシステムの安定性を高めるための構成であって、全ての装置やサーバが一つのネットワーク内で接続されるネットワークシステム形態を採用したとしてももちろん構わない。 In the above embodiment, the two networks of the system network NW1 and the device network NW2 are provided. However, this is a configuration for improving the stability of the system, and all devices and servers are connected within one network. Of course, it does not matter even if the network system form is adopted.
1…分析装置制御システム
2…稼働状況監視部
3…制御サーバ選択部
4…分析条件情報保存部
5…分析条件復旧部
6…分析条件情報送信部
NW1…システムネットワーク
NW2…装置ネットワーク
A1〜A4…分析装置
AS1〜AS3…分析装置制御サーバ
SS…システムサーバ
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記システムサーバが、
前記複数の分析装置制御サーバのそれぞれの稼働状況を監視する稼働状況監視部と、
或る分析装置の使用要求を受けた際に、前記稼働状況監視部によって監視されている各分析装置制御サーバの稼働状況に基づき、その時点で最も負荷が小さい分析装置制御サーバを選択し、該選択された分析装置制御サーバを、該分析装置の制御及び該分析装置からのデータの収集を行なう分析装置制御サーバとして対応付ける制御サーバ選択部と、
を備えることを特徴とする分析装置制御システム。 A plurality of analyzers, a plurality of analyzer control servers that control the analyzer and collect data based on analysis condition information that is data relating to settings of each analyzer, a system server that controls the entire system, Is a network-connected analyzer control system formed by being connected via a network,
The system server is
An operating status monitoring unit that monitors the operating status of each of the plurality of analyzer control servers;
When receiving a request for use of a certain analyzer, the analyzer control server having the smallest load at that time is selected based on the operation status of each analyzer control server monitored by the operating status monitoring unit, A control server selection unit that associates the selected analyzer control server as an analyzer control server that controls the analyzer and collects data from the analyzer ;
An analyzer control system comprising:
分析装置の分析条件情報を前記システムサーバに所定のタイミングで送信する分析条件情報送信部を備え、
前記システムサーバが更に、
前記分析装置制御サーバより送信された分析条件情報を保存するための分析条件情報保存部と、
或る分析装置制御サーバに障害が発生した後、該障害が発生した分析装置制御サーバによって制御されていた分析装置で分析を再開する際に、該分析装置に関し、前記分析条件情報保存部に保存されている分析条件情報を、前記制御サーバ選択部によって選択された、前記障害が発生した分析装置制御サーバとは別の使用可能な分析装置制御サーバのうち、負荷が小さいものを選択し、当該選択をした分析装置制御サーバに対して、分析条件情報保存部に保存されている析条件情報を送信する分析条件復旧部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の分析装置制御システム。 The analyzer control server is
An analysis condition information transmitting unit that transmits analysis condition information of the analyzer to the system server at a predetermined timing,
The system server further includes:
An analysis condition information storage unit for storing analysis condition information transmitted from the analyzer control server;
After a failure occurs in a certain analysis device control server, when the analysis is resumed by the analysis device controlled by the failure analysis device control server, the analysis device is stored in the analysis condition information storage unit. The analysis condition information that has been selected is selected by the control server selection unit, and the available analysis device control server different from the failed analysis device control server is selected. An analysis condition recovery unit that transmits analysis condition information stored in the analysis condition information storage unit to the selected analyzer control server ;
The analyzer control system according to claim 1 , further comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009108265A JP5251705B2 (en) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | Analyzer control system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009108265A JP5251705B2 (en) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | Analyzer control system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010257332A JP2010257332A (en) | 2010-11-11 |
JP2010257332A5 JP2010257332A5 (en) | 2011-08-25 |
JP5251705B2 true JP5251705B2 (en) | 2013-07-31 |
Family
ID=43318143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009108265A Active JP5251705B2 (en) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | Analyzer control system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5251705B2 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8629069B2 (en) | 2005-09-29 | 2014-01-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8680529B2 (en) | 2011-05-05 | 2014-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
US8730186B2 (en) | 2009-05-28 | 2014-05-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Touch panel |
US8785990B2 (en) | 2005-10-14 | 2014-07-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device including first and second or drain electrodes and manufacturing method thereof |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012208578A (en) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Shimadzu Corp | Analyzer control system |
JP6303300B2 (en) * | 2013-06-25 | 2018-04-04 | 富士通株式会社 | Control request method, information processing apparatus, system, and program |
US10511501B2 (en) * | 2014-11-06 | 2019-12-17 | Shimadzu Corporation | Analyzing device system and program for the system |
EP3729077B1 (en) * | 2017-12-19 | 2024-03-27 | Beckman Coulter, Inc. | Integrated sample processing system with variable workflows |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH11338836A (en) * | 1998-05-25 | 1999-12-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Load distribution system for computer network |
JP2007249491A (en) * | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Fujitsu Ltd | Program, device and method for distributing batch job in multi-server environment |
JP5029004B2 (en) * | 2006-12-26 | 2012-09-19 | 株式会社島津製作所 | Analyzer control system |
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2009
- 2009-04-27 JP JP2009108265A patent/JP5251705B2/en active Active
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US8790959B2 (en) | 2005-09-29 | 2014-07-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8796069B2 (en) | 2005-09-29 | 2014-08-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010257332A (en) | 2010-11-11 |
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Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
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A621 | Written request for application examination |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
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|
A521 | Written amendment |
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|
A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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