JP5248083B2 - 別個の入射エネルギ・スペクトルによる検出 - Google Patents
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Description
12 ガントリ
18 検出器構成及び/又は検出アセンブリ
14 X線源
16 X線ビーム
20 複数の検出器
22 患者
24 回転中心
26 制御機構
28 X線制御器
30 ガントリ・モータ制御器
32 データ取得システム(DAS)
34 画像再構成器
36 コンピュータ
38 大容量記憶装置
40 コンソールを介した操作者
42 陰極線管表示器
44 テーブル・モータ制御器
46 電動テーブル
48 ガントリ開口
302 エネルギ識別型(ED)検出器
304 エネルギ積算型(EI)検出器
402 例示的なプロット
404、406 X線スペクトル
604、606、608、610、612、614、616 ステップ
100 小荷物/手荷物検査システム
702 回転式ガントリ
704 開口
706 X線及び/又は高周波電磁エネルギの発生源
708 検出器アセンブリ
710 コンベヤ・システム
712 コンベヤ・ベルト
714 構造
716 小荷物又は手荷物
Claims (8)
- 撮像対象(22)に向けて1又は複数の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)を放出する1又は複数の高周波電磁エネルギ源(14)と、
同じ投影経路にあり複数の別個の入射エネルギ・スペクトルに対応する複数の投影データを測定することが可能な検出アセンブリ(18)であって、前記1又は複数の高周波電磁エネルギ源(14)により放出される高周波電磁エネルギを受光する1若しくは複数のエネルギ識別型(ED)検出器(302)及び1若しくは複数のエネルギ積算型(EI)検出器(304)を含んでいる検出アセンブリ(18)と、
前記1若しくは複数のエネルギ識別型検出器(302)及び/又は前記1若しくは複数のエネルギ積算型検出器(304)に接続されて動作するデータ取得システム(DAS)(32)と、
前記データ取得システム(32)に接続されて動作するコンピュータ(36)と
を備え、
前記コンピュータ(36)は、
異なるスペクトルにおいて取得された2以上の投影の間の相関関数の利用を介して前記同じ投影経路にある前記複数の投影データの欠落データをパッチ修正し、
前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)により受光された高周波電磁エネルギ・スペクトル及び前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)により受光された高周波電磁エネルギ・スペクトルからスペクトル補正を施した対数型投影を決定し、
前記同じ投影経路にあり異なる入射エネルギ・スペクトルによる前記スペクトル補正を施した対数型投影の間の投影データ相関関数を確立し、
対数型投影、及び特定の物質に対応する基底物質分解密度投影を前記投影データ相関関数への入力として用い、
一つの入射スペクトルにある投影、又は一つの入射エネルギ・スペクトルにある投影の大部分及び異なる入射エネルギ・スペクトルにある投影の小部分により、再構成された計算機式断層写真法画像を切り取って、切り取られた画像を得て、
該切り取られた画像を順投影して前記特定の物質についての投影を形成することにより前記基底物質分解密度投影を得るようにプログラムされている、
計算機式断層写真法(CT)システム。 - 前記同じ投影経路にある前記複数の投影データの中で、前記複数の別個の入射エネルギ・スペクトルの特定の入射エネルギ・スペクトルに対応する前記投影データの少なくとも一つは、前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)により得られたか前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)により得られたかを問わず有効となる、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。
- 前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)及び前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)は、実質的に隣接しており、前記1又は複数の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の1本の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の受光について同じ広がりを有する、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。
- 前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)及び前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)は、前記1又は複数の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の1本の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の実質的に同時の測定を実行する、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。
- 前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)は、前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)が前記高周波電磁エネルギ・ビーム(16)を受光する前に前記1又は複数の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の1本の高周波電磁エネルギ・ビーム(16)の低エネルギ部をフィルタリングする、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。
- 前記コンピュータ(36)は、予め決められたエネルギ・ビンにある前記1若しくは複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)、又は前記1若しくは複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)により受光される高周波電磁エネルギ・スペクトルからの対数型投影をスペクトル的に補正し、
前記1又は複数のエネルギ識別型検出器(302)の一つのエネルギ識別型検出器(302)により受光される高周波電磁エネルギ・スペクトル及び前記1又は複数エネルギ積算型検出器(304)の一つのエネルギ積算型検出器(304)により受光される高周波電磁エネルギ・スペクトルからスペクトル補正を施した対数型投影を決定し、
二つの別個の入射スペクトルにある前記スペクトル補正を施した対数型投影に基づいて前記撮像対象(22)について基底物質分解(BMD)を実行するようにプログラムされている、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。 - 前記コンピュータ(36)は、前記複数の別個の入射エネルギ・スペクトルの一つのエネルギ・スペクトルにあり前記同じ投影経路にある前記複数の投影データの一つの投影データ、及び前記特定の物質に対応する前記基底物質分解密度投影を入力とした前記投影データ相関関数を用いて、前記複数の別個の入射エネルギ・スペクトルのもう一つのエネルギ・スペクトルにある欠落した投影データをデータ復元のために算出し、
前記欠落した投影データを前記同じ投影経路について投影空間における既存の投影データと滑らかに繋ぎ合わせるように前記欠落した投影データを補正するようにプログラムされている、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。 - 前記コンピュータ(36)は、相関関数の利用を介して一つのエネルギ・スペクトルにある実質的に全ての欠落した投影データを得た後に、基底物質分解アルゴリズムを二つの別個の入射エネルギ・スペクトルにあるデータ対に施して特定の物質密度に対応する初期投影集合を得、
前記特定の物質密度に対応する前記初期投影集合を用いて前記対象(22)の画像を再構成し、
前記コンピュータ(36)は、前記対象(22)の前記画像を順投影して前記特定の物質密度の新たな投影集合を形成し、
前記初期投影集合に代わる前記新たな投影集合の代用を介して前記欠落データを復元し、
前記初期投影集合及び前記新たな投影集合について値を得ることを少なくとも2回繰り返すようにプログラムされている、請求項1に記載の計算機式断層写真法システム。
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