JP5246933B2 - Film forming apparatus and film forming method - Google Patents

Film forming apparatus and film forming method Download PDF

Info

Publication number
JP5246933B2
JP5246933B2 JP2008227539A JP2008227539A JP5246933B2 JP 5246933 B2 JP5246933 B2 JP 5246933B2 JP 2008227539 A JP2008227539 A JP 2008227539A JP 2008227539 A JP2008227539 A JP 2008227539A JP 5246933 B2 JP5246933 B2 JP 5246933B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film forming
raw material
pressure
variable valve
conductance variable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008227539A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010059507A (en
Inventor
鋼 入倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP2008227539A priority Critical patent/JP5246933B2/en
Publication of JP2010059507A publication Critical patent/JP2010059507A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5246933B2 publication Critical patent/JP5246933B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、成膜装置及び成膜方法に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus and a film forming method.

従来、有機系薄膜の形成方法としては、湿式法、蒸着重合法等が用いられている。これらの方法のうち、湿式法は原料モノマーを適当な溶媒に溶かして重合させ、これを基板上に塗布する方法である。蒸着重合法は、原料モノマーを蒸発させ、これらを真空処理室内に導入し基体表面で重合させて高分子膜を形成するものであり、溶媒を用いずに成膜することができ、かつ、基板表面への膜の付きまわりがよいという利点を有する。このような蒸着重合法に用いる装置としては、真空中における蒸発源容器に供給された原料モノマーを加熱手段により蒸発させる蒸着重合装置において、前記加熱手段が、前記蒸発源容器の蒸発源貯蔵部に設けた第1加熱手段と、前記蒸発源噴出口部に設けた第2加熱手段とからなり、前記第2加熱手段の加熱温度は前記第1加熱手段の加熱温度より若干高く設定されているものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, as a method for forming an organic thin film, a wet method, a vapor deposition polymerization method, or the like is used. Among these methods, the wet method is a method in which a raw material monomer is dissolved in a suitable solvent, polymerized, and applied onto a substrate. The vapor deposition polymerization method is a method in which raw material monomers are evaporated, introduced into a vacuum processing chamber, polymerized on the surface of a substrate to form a polymer film, and can be formed without using a solvent. This has the advantage that the film is smoothly attached to the surface. As an apparatus used for such a vapor deposition polymerization method, in the vapor deposition polymerization apparatus that evaporates the raw material monomer supplied to the evaporation source container in a vacuum by a heating means, the heating means is provided in the evaporation source storage part of the evaporation source container. The first heating means provided and the second heating means provided at the evaporation source outlet, the heating temperature of the second heating means being set slightly higher than the heating temperature of the first heating means Is known (see, for example, Patent Document 1).

特開平5―65627号公報(請求項1、図1等)JP-A-5-65627 (Claim 1, FIG. 1, etc.)

かかる蒸着重合装置では、原料モノマーをそれぞれ加熱して、蒸発源内を飽和蒸気圧状態とし、蒸発源内(飽和蒸気圧状態)と成膜室内(低真空状態)との圧力差を利用して蒸発ガスを蒸発源から成膜室へと流入させ、基板上で重合させて化学量論比の高分子膜を形成する。従って、蒸着重合装置では、成膜レートは蒸発源と成膜室との間の圧力差に依存、即ち蒸発源の飽和蒸気圧を設定する加熱温度に依存するものである。   In such a vapor deposition polymerization apparatus, the raw material monomer is heated to bring the inside of the evaporation source into a saturated vapor pressure state, and the evaporation gas is utilized by utilizing the pressure difference between the inside of the evaporation source (saturated vapor pressure state) and the film forming chamber (low vacuum state). Is allowed to flow from the evaporation source into the film formation chamber and polymerized on the substrate to form a polymer film having a stoichiometric ratio. Therefore, in the vapor deposition polymerization apparatus, the film formation rate depends on the pressure difference between the evaporation source and the film formation chamber, that is, depends on the heating temperature for setting the saturation vapor pressure of the evaporation source.

しかしながら、一定の成膜レートとするために一定の加熱温度に設定したまま成膜を繰り返していると、時間経過に伴い原料モノマーが加熱により分解又は自己重合しオリゴマー化してしまう。これにより蒸発源内の飽和蒸気圧が低下し、その結果蒸発源と成膜室との圧力差が減少して成膜レートが低下する場合がある。また、2つの原料モノマーを用いて成膜する場合には、一方の原料モノマーのみ変質して飽和蒸気圧が低下し成膜レートが低下すると所望の化学量論比の高分子膜を形成できない場合があるという問題がある。   However, if the film formation is repeated with a constant heating temperature set to a constant film formation rate, the raw material monomers are decomposed or self-polymerized by heating and oligomerized over time. As a result, the saturated vapor pressure in the evaporation source decreases, and as a result, the pressure difference between the evaporation source and the film formation chamber decreases, and the film formation rate may decrease. In the case of film formation using two raw material monomers, when only one of the raw material monomers is altered and the saturated vapor pressure decreases and the film formation rate decreases, a polymer film having a desired stoichiometric ratio cannot be formed. There is a problem that there is.

この場合に、低下した成膜レートを元に戻すべく原料モノマーをより高い温度で加熱して飽和蒸気圧を高くしようとしても、原料モノマーの熱容量が高いために急激に元の成膜レートに戻すことができない。   In this case, even if an attempt is made to increase the saturated vapor pressure by heating the raw material monomer at a higher temperature in order to restore the lowered film formation rate, the original film formation rate is suddenly returned to the original film formation rate due to the high heat capacity of the raw material monomer. I can't.

そこで、本発明の目的は上記従来技術の問題点を解決することにあり、成膜室に流入される蒸発ガスの供給量を制御して成膜レートを一定に保ち、かつ、高品質な高分子膜を安定的に形成できる成膜装置及びその成膜方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and the supply rate of the evaporative gas flowing into the film forming chamber is controlled to keep the film forming rate constant, and the high quality and high quality. An object of the present invention is to provide a film forming apparatus capable of stably forming a molecular film and a film forming method therefor.

本発明の成膜装置は、成膜対象が設置される真空成膜室と、原料モノマーが封入されている蒸発源と、前記蒸発源に設けられた加熱手段とを備え、当該加熱手段により前記原料モノマーを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを前記真空成膜室内へ導入して前記成膜対象の表面で蒸着重合させて成膜する成膜装置であって、前記真空成膜室と前記蒸発源とを接続する原料管にコンダクタンス可変バルブ及び圧力計を設けると共に、当該コンダクタンス可変バルブには、前記圧力計で測定された圧力値が前記コンダクタンス可変バルブの設定された圧力値と等しくなるようにコンダクタンス可変バルブの開度を制御する制御部を設け、前記制御部は前記加熱手段にも接続されており、この制御部が、前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、前記加熱手段により原料モノマーの加熱温度を所定値上昇させるように構成されていることを特徴とする。 The film forming apparatus of the present invention includes a vacuum film forming chamber in which a film forming target is installed, an evaporation source in which a raw material monomer is sealed, and a heating unit provided in the evaporation source. A film forming apparatus for forming a film by introducing an evaporation gas obtained by heating and evaporating a raw material monomer into the vacuum film forming chamber and performing vapor deposition polymerization on the surface of the film forming target, The raw material pipe connected to the evaporation source is provided with a conductance variable valve and a pressure gauge, and the conductance variable valve has a pressure value measured by the pressure gauge equal to a set pressure value of the conductance variable valve. a control unit for controlling the opening of the conductance variable valve provided to the control unit is also connected to the heating means, the control unit, the opening degree of the variable conductance valve is a predetermined value If it becomes is characterized by being configured to the heating temperature of the raw material monomer is increased a predetermined value by the heating means.

本発明の成膜装置においては、コンダクタンス可変バルブ、圧力計及び制御部を有する
ことで、当該圧力計で測定された圧力値が前記コンダクタンス可変バルブで設定された圧
力値と等しくなるようにそのコンダクタンスを制御することができ、蒸発ガスの供給量を
一定となるように制御できる。また、制御部が、前記加熱手段により原料モノマーの加熱温度を所定値上昇させるように構成されていることで、前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、飽和蒸気圧を上げて圧力を確保することができる。
In the film forming apparatus of the present invention, the conductance variable valve, the pressure gauge, and the control unit are provided, and the conductance thereof is set so that the pressure value measured by the pressure gauge becomes equal to the pressure value set by the conductance variable valve. Can be controlled, and the supply amount of the evaporation gas can be controlled to be constant. Further, the control unit is configured to increase the heating temperature of the raw material monomer by the heating means by a predetermined value, so that when the opening of the conductance variable valve becomes a predetermined value, the saturated vapor pressure is reduced. Can be raised to ensure pressure.

ここで、前記圧力計は、前記原料管の前記コンダクタンス可変バルブと前記真空成膜室との間に設けられていることが好ましい。かかる位置に圧力計が設けられていることで、圧力計に原料モノマーが付着しにくいからである。   Here, the pressure gauge is preferably provided between the conductance variable valve of the raw material pipe and the vacuum film forming chamber. This is because the raw material monomer hardly adheres to the pressure gauge by providing the pressure gauge at such a position.

前記蒸発源は、一つの前記真空成膜室に対して二つ設けられており、前記二つの蒸発源のうち少なくとも一つの前記蒸発源に接続する前記原料管に、前記コンダクタンス可変バルブ及び前記圧力計が設けられていることが好ましい。二元以上の蒸着重合を行う場合には、そのうちの少なくとも一つの原料管に前記コンダクタンス可変バルブ及び前記圧力計が設けられていることで、より簡易に、かつコストを抑えて装置を構成することが可能である。   Two evaporation sources are provided for one vacuum film forming chamber, and the conductance variable valve and the pressure are connected to the material pipe connected to at least one of the two evaporation sources. A meter is preferably provided. When performing vapor deposition polymerization of two or more elements, the conductance variable valve and the pressure gauge are provided in at least one of the raw material pipes, so that the apparatus can be configured more easily and at a reduced cost. Is possible.

本発明の成膜方法は、蒸発源内の原料モノマーを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを真空成膜室内へ導入して成膜対象の表面で蒸着重合させて成膜する成膜方法であって、前記真空成膜室と前記蒸発源とを接続する原料管に設けられた圧力計により測定された圧力値と、前記原料管に設けられたコンダクタンス可変バルブの設定された圧力値とが等しくなるように前記コンダクタンス可変バルブの開度を調整し、前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、加熱手段により原料モノマーの加熱温度を所定値上昇させることを特徴とする。前記コンダクタンス可変バルブの開度を調整することで、成膜室から蒸発源へと供給される蒸発ガスの供給量を一定に保つことが可能である。また、このように前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、予め原料モノマーの加熱温度を所定値上昇させておくことで、前記コンダクタンス可変バルブの開度が100%になる前に飽和蒸気圧自体を上昇させておくことができるので蒸気供給量を一定に保つことが可能である。 The film forming method of the present invention is a film forming method in which an evaporation gas obtained by heating and evaporating a raw material monomer in an evaporation source is introduced into a vacuum film forming chamber and vapor-deposited and polymerized on the surface of the film forming target. A pressure value measured by a pressure gauge provided in a raw material pipe connecting the vacuum film forming chamber and the evaporation source, and a set pressure value of a conductance variable valve provided in the raw material pipe. The opening of the conductance variable valve is adjusted to be equal, and when the opening of the conductance variable valve reaches a predetermined value, the heating temperature of the raw material monomer is increased by a predetermined value by the heating means. . By adjusting the opening of the conductance variable valve, it is possible to keep the supply amount of the evaporation gas supplied from the film formation chamber to the evaporation source constant. Further, when the opening degree of the conductance variable valve reaches a predetermined value in this way, the opening degree of the variable conductance valve becomes 100% by increasing the heating temperature of the raw material monomer in advance by a predetermined value. Since the saturated vapor pressure itself can be raised in advance, it is possible to keep the vapor supply amount constant.

本発明の好適な実施としては、前記原料モノマーとしての1、12―ジアミノドデカンと1、3―ビス(イソシアナートメチル)シクロヘキサンとがそれぞれ別の前記蒸発源に封入されており、それぞれを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを、真空成膜室内へ導入して成膜対象の表面で蒸着させると同時に重合させて成膜するにあたり、少なくとも、前記1、3―ビス(イソシアナートメチル)シクロヘキサンが封入された前記蒸発源に接続する前記原料管に設けられた前記コンダクタンス可変バルブの開度を調整することが挙げられる。   In a preferred embodiment of the present invention, 1,12-diaminododecane and 1,3-bis (isocyanatomethyl) cyclohexane as the raw material monomers are sealed in separate evaporation sources, respectively. At least the 1,3-bis (isocyanatomethyl) cyclohexane is used for introducing the evaporated gas obtained by evaporation into the vacuum film forming chamber and depositing it on the surface of the film forming and simultaneously polymerizing the film. Adjusting the opening of the conductance variable valve provided in the raw material pipe connected to the evaporation source.

本発明の成膜装置によれば、真空成膜室に流入される蒸発ガスの供給量を制御して一定に保つことができるので、成膜レートを一定に保ち、かつ、高品質な高分子膜を安定的に形成できるという優れた効果を奏する。また、本発明の成膜方法によれば、真空成膜室に流入される蒸発ガスの供給量を制御して一定に保つことができるので、成膜レートを一定に保ち、かつ、高品質な高分子膜を安定的に形成できるという優れた効果を奏する。   According to the film forming apparatus of the present invention, since the supply amount of the evaporative gas flowing into the vacuum film forming chamber can be controlled and kept constant, the film forming rate is kept constant and the high-quality polymer is maintained. There is an excellent effect that the film can be stably formed. Further, according to the film forming method of the present invention, the supply amount of the evaporative gas flowing into the vacuum film forming chamber can be controlled and kept constant, so that the film forming rate is kept constant and high quality is achieved. There is an excellent effect that the polymer film can be stably formed.

本実施形態の成膜装置について、図1を用いて説明する。図1は、成膜装置の断面模式図である。   The film forming apparatus of this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a film forming apparatus.

成膜装置1は、成膜対象である基板Sを設置する成膜室10を有する。成膜室10には、真空排気手段11が設けられて、成膜室10内を所望の真空度(〜10Pa)にすることができるように構成されている。また、成膜室10には、基板Sに対向する位置に設けられた混合室12を介して原料ガス供給手段20a及び20bが設けられている。混合室12内部には、シャワープレート13が設置されている。   The film forming apparatus 1 has a film forming chamber 10 in which a substrate S to be formed is placed. The film forming chamber 10 is provided with a vacuum exhaust means 11 so that the inside of the film forming chamber 10 can be set to a desired degree of vacuum (-10 Pa). The film forming chamber 10 is provided with source gas supply means 20a and 20b via a mixing chamber 12 provided at a position facing the substrate S. A shower plate 13 is installed inside the mixing chamber 12.

原料ガス供給手段20a、20bは、互いに異なる原料モノマーMa、Mbが封入されている蒸発源(蒸発源容器)21a、21bを備えている。また、原料ガス供給手段20a、20bには、加熱手段22a、22bが設けてあり、この加熱手段22a、22bにより蒸発源21a、21b中の異なる原料モノマーMa、Mbを所望の温度で加熱することができるように構成されている。なお、本実施形態では蒸発源は二つ設けたが、少なくとも一つ設けてあればよい。   The raw material gas supply means 20a, 20b includes evaporation sources (evaporation source containers) 21a, 21b in which different raw material monomers Ma, Mb are sealed. The source gas supply means 20a and 20b are provided with heating means 22a and 22b, and the heating means 22a and 22b heat different source monomers Ma and Mb in the evaporation sources 21a and 21b at a desired temperature. It is configured to be able to. In this embodiment, two evaporation sources are provided, but at least one evaporation source may be provided.

蒸発源21a、21bは、供給量制御手段30a、30bが設けられた配管23a、23bを介して上述した混合室12に接続されている。供給量制御手段30a、30bは、蒸発源21a、21bで得られた蒸発ガスの成膜室10への流量を制御するためのものである。本実施形態では、このように供給量制御手段30a、30bを設けることで蒸発源21a、21bで形成された蒸発ガスの成膜室10への供給量を制御することができる。ここで、供給量制御手段30a、30bは、コンダクタンス可変バルブ31a、31bと圧力計32a、32bとからなる。コンダクタンス可変バルブ31a、31bはそれぞれ図示しない弁の開閉を行うことで開度を調整し、配管23a、23bのコンダクタンスを変化させることができるように構成されている。供給量制御手段30a、30bとして、加熱に弱く、またセンサー部分に原料が析出しやすいマスフローコントローラー等を用いるのではなく、耐熱性があり、原料が析出しにくいコンダクタンス可変バルブ31a、31bを用いることで、蒸着重合法をより効率的に行うことができる。   The evaporation sources 21a and 21b are connected to the mixing chamber 12 described above via pipes 23a and 23b provided with supply amount control means 30a and 30b. The supply amount control means 30a and 30b are for controlling the flow rate of the evaporation gas obtained by the evaporation sources 21a and 21b to the film forming chamber 10. In this embodiment, the supply amount control means 30a and 30b are provided in this way, so that the supply amount of the evaporation gas formed by the evaporation sources 21a and 21b to the film forming chamber 10 can be controlled. Here, the supply amount control means 30a, 30b includes conductance variable valves 31a, 31b and pressure gauges 32a, 32b. The conductance variable valves 31a and 31b are configured so as to be able to change the conductance of the pipes 23a and 23b by opening and closing valves (not shown) to adjust the opening. As the supply amount control means 30a and 30b, use of conductance variable valves 31a and 31b which are heat resistant and difficult to deposit the raw material, rather than using a mass flow controller which is weak against heating and in which the raw material is likely to precipitate. Thus, the vapor deposition polymerization method can be performed more efficiently.

また、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度の調整は、コンダクタンス可変バルブ31a、31bに設けられた制御部33a、33bによって行われる。制御部33a、33bは、圧力計32a、32bで測定された圧力値がコンダクタンス可変バルブ31a、31bの設定された圧力値(以下、設定圧力値という)と等しくなるようにコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度を制御するように構成されている。さらに、図示していないが、制御部33a、33bは加熱手段22a、22bにも接続されており、この制御部33a、33bが、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度が所定バルブ開度となった場合には、加熱手段22a、22bにより原料モノマーMa、Mbの加熱温度を一定の値上昇させるように構成されている。   Further, the adjustment of the opening degree of the conductance variable valves 31a and 31b is performed by the control units 33a and 33b provided in the conductance variable valves 31a and 31b. The control units 33a and 33b allow the conductance variable valves 31a and 31b so that the pressure values measured by the pressure gauges 32a and 32b are equal to the pressure values set by the conductance variable valves 31a and 31b (hereinafter referred to as set pressure values). The degree of opening is controlled. Further, although not shown, the control units 33a and 33b are also connected to the heating means 22a and 22b, and the control units 33a and 33b are configured such that the opening degrees of the conductance variable valves 31a and 31b become a predetermined valve opening degree. In such a case, the heating means 22a and 22b are configured to increase the heating temperature of the raw material monomers Ma and Mb by a certain value.

本実施形態においては、供給量制御手段30a、30bは、各配管23a、23bに設けたが、少なくとも加熱により飽和蒸気圧が低下しやすい原料モノマーが封入されている蒸発源に接続された配管に一つ設けられていればよい。   In the present embodiment, the supply amount control means 30a and 30b are provided in the pipes 23a and 23b, but at least pipes connected to an evaporation source in which a raw material monomer whose saturation vapor pressure is likely to decrease due to heating is enclosed. It is sufficient if one is provided.

本実施形態において、圧力計32a、32bを各配管23a、23bのコンダクタンス可変バルブ31a、31b及び混合室12の間に設けたのは、圧力計に付着する原料モノマーが少なく、圧力計32a、32bの損失が少ないからであり、圧力計32a、32bは少なくともこの位置に設けられていればよい。また、圧力計32a、32bを配管23a、23bのコンダクタンス可変バルブ31a、31bの両側に設けてもよい。   In the present embodiment, the pressure gauges 32a and 32b are provided between the conductance variable valves 31a and 31b of the pipes 23a and 23b and the mixing chamber 12 because the raw material monomer adhering to the pressure gauge is small, and the pressure gauges 32a and 32b. The pressure gauges 32a and 32b only need to be provided at least at this position. Further, the pressure gauges 32a and 32b may be provided on both sides of the conductance variable valves 31a and 31b of the pipes 23a and 23b.

成膜装置1の作動を説明する。初めに加熱手段22a、22bにより蒸発源21a、21bが加熱されて蒸発源21a、21b内がそれぞれ所望の飽和蒸気圧状態となる。この蒸発源21a、21b内で形成された蒸発ガスは、コンダクタンス可変バルブ31a、31bが開くと成膜室10と蒸発源21a、21bとの圧力差により配管23a、23bを介して混合室12に流入する。本実施形態においては、このコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度を制御部33a、33bにより調整することで、成膜室10内に供給される蒸発ガスの量を一定となるように制御することが可能である。即ち、本実施形態においては、成膜時間の経過により飽和蒸気圧が低下していく場合でも、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの設定圧力値と圧力計32a、32bの成膜中の圧力値が等しくなるようにコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度を制御部33a、33bにより上げることで、成膜室10内に供給される蒸発ガスの量を一定となるように制御することが可能である。また、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度が100%になってしまうとそれ以上流量を制御することができなくなるので、制御部33a、33bは、コンダクタンス可変バルブ31a、31bのバルブ開度が所定バルブ開度に達した場合には、加熱手段22a、22bにより加熱温度を上げて蒸発源21a、21bの飽和蒸気圧を高くして流量を予め補って、流量制御を可能とする。   The operation of the film forming apparatus 1 will be described. First, the evaporation sources 21a and 21b are heated by the heating means 22a and 22b, and the inside of the evaporation sources 21a and 21b is in a desired saturated vapor pressure state. When the conductance variable valves 31a and 31b are opened, the evaporation gas formed in the evaporation sources 21a and 21b is transferred to the mixing chamber 12 via the pipes 23a and 23b due to a pressure difference between the film forming chamber 10 and the evaporation sources 21a and 21b. Inflow. In this embodiment, the amount of evaporation gas supplied into the film forming chamber 10 is controlled to be constant by adjusting the opening of the conductance variable valves 31a and 31b by the control units 33a and 33b. Is possible. That is, in the present embodiment, even when the saturated vapor pressure decreases with the passage of the film formation time, the set pressure value of the conductance variable valves 31a and 31b and the pressure value during film formation of the pressure gauges 32a and 32b are equal. As described above, by increasing the opening of the conductance variable valves 31a and 31b by the control units 33a and 33b, the amount of evaporation gas supplied into the film forming chamber 10 can be controlled to be constant. Further, if the opening degree of the conductance variable valves 31a and 31b reaches 100%, the flow rate cannot be controlled any more. Therefore, the control units 33a and 33b have the predetermined opening degree of the conductance variable valves 31a and 31b. When the valve opening degree is reached, the heating temperature is raised by the heating means 22a and 22b to increase the saturated vapor pressure of the evaporation sources 21a and 21b to compensate the flow rate in advance, thereby enabling the flow rate control.

そして、蒸発ガスは混合室12に設けられたシャワープレート13を通過して均一化された後に、成膜室10内に流入して基板S上で蒸着重合し、原料モノマーMaとMbとの化学両論比の高分子膜が形成される。   The vaporized gas passes through the shower plate 13 provided in the mixing chamber 12 and is homogenized, and then flows into the film forming chamber 10 to undergo vapor deposition polymerization on the substrate S, and the chemistry of the raw material monomers Ma and Mb. An absorptive polymer film is formed.

この成膜工程を用いた成膜方法について、図2を用いて詳細に説明する。図2は、成膜方法を説明するためのフローチャートである。   A film forming method using this film forming process will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart for explaining the film forming method.

成膜方法がスタートすると、まず、ステップS1として、成膜室10内に基板Sを設置し、ステップS2として成膜室10内及び蒸発源21a及び21b内を真空排気し、所望の圧力とする。   When the film forming method starts, first, in step S1, the substrate S is set in the film forming chamber 10, and in step S2, the inside of the film forming chamber 10 and the evaporation sources 21a and 21b are evacuated to a desired pressure. .

次に、ステップS3において、加熱手段22a、22bにより、蒸発源21a、21bを加熱して、蒸発源21a、21b内をそれぞれ原料モノマーMa、Mbの飽和蒸気圧状態とする。この場合の加熱温度は、所望の飽和蒸気圧を得られる温度に設定されている。次いで、ステップS4において、各コンダクタンス可変バルブ31a、31bに設定圧力を入力する。この設定圧力は、配管23a、23bのコンダクタンス、飽和蒸気圧等を考慮して適宜設定されるものである。即ち、高分子膜の組成、その成膜時間に応じて必要な流量を設定すると、これに基づいて成膜室10と蒸発源21a、21bとの間の必要な圧力差が求まる。この圧力差に基づいて飽和蒸気圧、設定圧力等が求まるので、この設定圧力を各コンダクタンス可変バルブ31a、31bに入力する。   Next, in step S3, the evaporation sources 21a and 21b are heated by the heating means 22a and 22b, and the evaporation sources 21a and 21b are brought into saturated vapor pressure states of the raw material monomers Ma and Mb, respectively. The heating temperature in this case is set to a temperature at which a desired saturated vapor pressure can be obtained. Next, in step S4, a set pressure is input to each conductance variable valve 31a, 31b. This set pressure is appropriately set in consideration of conductance, saturation vapor pressure, and the like of the pipes 23a and 23b. That is, when a necessary flow rate is set according to the composition of the polymer film and the deposition time, a necessary pressure difference between the deposition chamber 10 and the evaporation sources 21a and 21b can be obtained based on this. Since the saturated vapor pressure, the set pressure, and the like are obtained based on this pressure difference, the set pressure is input to the conductance variable valves 31a and 31b.

ステップS4終了後、ステップS5においてコンダクタンス可変バルブ31a及び31bを上記設定圧力となるように所定の開度に開き、成膜を開始する。   After step S4 ends, in step S5, the conductance variable valves 31a and 31b are opened to a predetermined opening so as to reach the set pressure, and film formation is started.

ステップS6では、圧力計32a、32bによりそれぞれ圧力を測定し、この圧力がステップS5において各コンダクタンス可変バルブ31a、31bに設定された設定圧力よりも小さいかどうかを判断する。大きい場合(N)にはステップS7へすすむ。小さい場合(Y)には、ステップS8へすすむ。ステップS8では、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度を、所定の圧力となるように所定の割合で開く。即ち、ステップS6及びS8では、時間経過により原料モノマーMa、Mbが変質して飽和蒸気圧が下がってきているために圧力が設定圧力よりも小さいので、流量を一定に保つべくコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度をより大きくしている。   In step S6, pressures are measured by the pressure gauges 32a and 32b, respectively, and it is determined whether or not the pressures are smaller than the set pressures set in the conductance variable valves 31a and 31b in step S5. If larger (N), the process proceeds to step S7. If it is smaller (Y), the process proceeds to step S8. In step S8, the opening of the conductance variable valves 31a and 31b is opened at a predetermined ratio so as to be a predetermined pressure. That is, in steps S6 and S8, since the raw material monomers Ma and Mb are altered over time and the saturated vapor pressure is decreasing, the pressure is lower than the set pressure. Therefore, in order to keep the flow rate constant, the conductance variable valve 31a, The opening degree of 31b is made larger.

次いで、ステップS9では、このステップS8で開いたことによるコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度が所定バルブ開度を上回ったかどうかを判断する。なお、所定バルブ開度は予め設定してある。上回った場合(Y)には、ステップS10へ進む。下回った場合(N)には、ステップS7へ進む。ステップS10においては、加熱手段22a、22bを調整して、蒸発源21a、21bの加熱温度を上昇させる。これは、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度が所定バルブ開度を上回っているので、バルブの開度が100%になる前に、蒸発源21a、21bの加熱温度を一定値上昇させて流量を一定とするためである。即ち、開度の調整ができない状態で加熱温度のみで流量を一定に保つことは難しいので、ステップS9及びS10では、予め開度の調整ができなくなる前に加熱温度を一定値上昇させることで、飽和蒸気圧を上げて圧力を確保しておくのである。このように制御部33a、33bを加熱手段22a、22bに接続していることで、バルブ開度を常に制御可能とし、流量を制御することが可能である。この一定値は、原料モノマーの組成及び熱容量、成膜時間等によって適宜設定される。   Next, in step S9, it is determined whether or not the opening of the conductance variable valves 31a and 31b due to opening in step S8 exceeds a predetermined valve opening. The predetermined valve opening is set in advance. If it exceeds (Y), the process proceeds to step S10. If it falls below (N), the process proceeds to step S7. In step S10, the heating means 22a and 22b are adjusted to increase the heating temperature of the evaporation sources 21a and 21b. This is because the opening of the variable conductance valves 31a and 31b exceeds the predetermined valve opening, so that the heating temperature of the evaporation sources 21a and 21b is increased by a certain value before the opening of the valves reaches 100%. This is to keep the constant. That is, since it is difficult to keep the flow rate constant only with the heating temperature in a state where the opening degree cannot be adjusted, in steps S9 and S10, the heating temperature is increased by a certain value before the opening degree cannot be adjusted in advance. The saturated vapor pressure is raised to ensure the pressure. By connecting the control units 33a and 33b to the heating means 22a and 22b in this way, the valve opening can be controlled at all times and the flow rate can be controlled. This constant value is appropriately set depending on the composition and heat capacity of the raw material monomer, the film formation time, and the like.

ステップS7では、成膜時間が経過したかどうかを判断する。経過している場合(Y)には、成膜は終了したとしてステップS11へ進む。経過していない場合(N)には、ステップS6へ戻る。   In step S7, it is determined whether the film formation time has elapsed. If it has elapsed (Y), it is determined that the film formation has ended, and the process proceeds to step S11. If not (N), the process returns to step S6.

ステップS11では、成膜が終了したのでコンダクタンス可変バルブ31a、31bを閉じる。そして、ステップS12で(成膜室内及び)蒸発源21a及び21b内を大気開放し、ステップS13で基板Sを取り出して成膜工程が終了する。   In step S11, since the film formation is completed, the conductance variable valves 31a and 31b are closed. In step S12, the evaporation sources 21a and 21b are opened to the atmosphere (in the film forming chamber and), and the substrate S is taken out in step S13 to complete the film forming process.

上述したように、本実施形態の成膜方法においては、ステップS6及びステップS8を実行することで、即ち、圧力計32a、32bにより測定された圧力が設定圧力よりも小さいかどうかを判断して、小さい場合にはコンダクタンス可変バルブ31a、31bの開度を上げる(調整する)ことで、成膜室10内への流入量を一定に保持することができる。さらに、ステップ9及びステップ10を実行することで、即ち、開度が一定の開度まで到達した場合には、加熱温度を調整することで、長時間の成膜であっても成膜室内への流入量を一定に保持することができる。以下、実施例及び比較例によって本発明を詳細に説明する。   As described above, in the film forming method according to the present embodiment, it is determined whether or not the pressure measured by the pressure gauges 32a and 32b is smaller than the set pressure by executing Step S6 and Step S8. In the case where it is small, the amount of inflow into the film forming chamber 10 can be kept constant by increasing (adjusting) the opening of the conductance variable valves 31a and 31b. Furthermore, by performing Step 9 and Step 10, that is, when the opening degree reaches a certain opening degree, the heating temperature is adjusted so that even in the case of long-time film formation, The inflow amount of can be kept constant. Hereinafter, the present invention will be described in detail by way of examples and comparative examples.

成膜装置1の蒸発源21a、21b内に、原料モノマーMaとして1、12−ジアミノドデカン、原料モノマーMbとして1、3−ビス(イソシアナートメチル)シクロヘキサンをそれぞれ封入した。コンダクタンス可変バルブ31a、31bとしては、開度調整式ベローズバルブを用いた。また、圧力計32a、32bとしては、サファイヤ製隔膜圧力計を用いた。そして、成膜室10内の圧力を1Paとし、蒸発源21a、21bを95℃、85℃で加熱し、蒸発源21a、21b内をそれぞれ所望の飽和蒸気圧状態(24Pa、26Pa)とした。そして、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの設定圧力を3Paとして、ポリ尿素膜の成膜を開始した。成膜中、バルブの開度を測定すると共に、成膜速度を測定した。また、成膜対象表面に対してFTIR測定を行い、膜組成を測定した。これらの測定結果を図3〜5に示す。なお、コンダクタンス可変バルブ31a、31bの所定バルブ開度は、80%とした。   1,12-diaminododecane as the raw material monomer Ma and 1,3-bis (isocyanatomethyl) cyclohexane as the raw material monomer Mb were sealed in the evaporation sources 21a and 21b of the film forming apparatus 1, respectively. As the conductance variable valves 31a and 31b, opening-adjustable bellows valves were used. As the pressure gauges 32a and 32b, sapphire diaphragm pressure gauges were used. Then, the pressure in the film forming chamber 10 was set to 1 Pa, the evaporation sources 21a and 21b were heated at 95 ° C. and 85 ° C., and the inside of the evaporation sources 21a and 21b was set to desired saturated vapor pressure states (24 Pa and 26 Pa), respectively. Then, the polyurea film formation was started by setting the set pressure of the conductance variable valves 31a and 31b to 3 Pa. During film formation, the valve opening was measured and the film formation rate was also measured. Further, FTIR measurement was performed on the film formation target surface to measure the film composition. These measurement results are shown in FIGS. In addition, the predetermined valve opening degree of the conductance variable valves 31a and 31b was 80%.

図3は、コンダクタンス可変バルブ31bの開度と圧力との関係を示すグラフであり、15分前後でバルブ開度が所定バルブ開度80%を超えたので、原料加熱温度を一定値(5℃)上げた。これにより、蒸発源内の飽和蒸気圧は徐々に上昇したのでバルブ開度はその後徐々に減少した(20分〜35分)。そして、加熱温度が上がった状態で原料モノマーの変質が起こりだしたので、35分前後から徐々にバルブ開度が上がった。この場合に、圧力は3Paで一定となっていた。   FIG. 3 is a graph showing the relationship between the opening and the pressure of the conductance variable valve 31b. Since the valve opening exceeded a predetermined valve opening 80% around 15 minutes, the raw material heating temperature was kept at a constant value (5 ° C. ) Raised. Thereby, since the saturated vapor pressure in the evaporation source gradually increased, the valve opening gradually decreased thereafter (20 to 35 minutes). Then, since the raw material monomer started to change with the heating temperature raised, the valve opening gradually increased from around 35 minutes. In this case, the pressure was constant at 3 Pa.

図4は成膜速度の測定結果を示すものであり、圧力は3Paで一定であり、かつ、成膜速度も常に同一であり、成膜時間中同一の成膜速度で膜を形成できたことが分かった。また、図5はFTIR測定の結果を示すものであり、圧力が3Paで一定であり、かつ、FTIR測定による2275cm−1ピークも一定となっており、成膜時間中安定して同一組成の膜を形成できたことが分かった。
(比較例)
従来の供給量制御手段30a、30bを備えていない装置を用いた点以外は、実施例と同一の成膜装置を用いて、同一の成膜方法で成膜を行った。結果を図6,7に示す。図6は成膜速度の測定結果を示すものであり、圧力が時間経過とともに徐々に下がっていくにつれて、成膜速度も下がり、成膜時間中同一の成膜速度で膜を形成できなかったことが分かった。また、図7は、FTIR測定の結果を示すものであり、圧力が時間経過とともに徐々に下がっていくにつれて、FTIR測定による2275cm−1ピークも徐々に下がり、成膜時間中同一組成の膜を形成できなかったことが分かった。
FIG. 4 shows the measurement result of the film formation rate. The pressure was constant at 3 Pa, the film formation rate was always the same, and the film could be formed at the same film formation rate during the film formation time. I understood. FIG. 5 shows the results of FTIR measurement. The pressure is constant at 3 Pa, and the 2275 cm −1 peak by FTIR measurement is also constant. It was found that could be formed.
(Comparative example)
Except for using an apparatus that does not include the conventional supply amount control means 30a and 30b, film formation was performed by the same film formation method using the same film formation apparatus as in the examples. The results are shown in FIGS. FIG. 6 shows the measurement results of the film formation rate. As the pressure gradually decreased with time, the film formation rate also decreased, and the film could not be formed at the same film formation rate during the film formation time. I understood. FIG. 7 shows the results of FTIR measurement. As the pressure gradually decreases with time, the 2275 cm −1 peak by FTIR measurement gradually decreases, and a film having the same composition is formed during the film formation time. I realized that I couldn't.

本発明の成膜装置及び成膜方法によれば、真空成膜室に流入される蒸発ガスの供給量を制御して成膜速度を一定に保ち、かつ、高品質な高分子膜を安定的に形成できる。従って、半導体製造分野において利用可能である。   According to the film forming apparatus and the film forming method of the present invention, the supply rate of the evaporative gas flowing into the vacuum film forming chamber is controlled to keep the film forming speed constant, and a high quality polymer film can be stably formed. Can be formed. Therefore, it can be used in the semiconductor manufacturing field.

本実施形態の成膜装置の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the film-forming apparatus of this embodiment. 本実施形態の成膜方法を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the film-forming method of this embodiment. コンダクタンス可変バルブの開度と圧力との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the opening degree of a conductance variable valve, and a pressure. 実施例での成膜時間に対する圧力と成膜速度の変化を示すグラフである。It is a graph which shows the change of the pressure and the film-forming speed with respect to the film-forming time in an Example. 実施例での成膜時間に対する圧力とFTIR測定の結果を示すグラフである。It is a graph which shows the pressure with respect to the film-forming time in an Example, and the result of FTIR measurement. 比較例での成膜時間に対する圧力と成膜速度の変化を示すグラフである。It is a graph which shows the change of the pressure and the film-forming speed with respect to the film-forming time in a comparative example. 比較例での成膜時間に対する圧力とFTIR測定の結果を示すグラフである。It is a graph which shows the pressure with respect to the film-forming time in a comparative example, and the result of FTIR measurement.

符号の説明Explanation of symbols

10 成膜室
11 真空排気手段
12 混合室
13 シャワープレート
20a、20b 原料ガス供給手段
21a、21b 蒸発源
22a、22b 加熱手段
23a、23b 配管
30a、30b 供給量制御手段
31a、31b コンダクタンス可変バルブ
32a、32b 圧力計
33a、33b 制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Deposition chamber 11 Vacuum exhaust means 12 Mixing chamber 13 Shower plates 20a, 20b Source gas supply means 21a, 21b Evaporation sources 22a, 22b Heating means 23a, 23b Pipes 30a, 30b Supply amount control means 31a, 31b Conductance variable valve 32a, 32b Pressure gauge 33a, 33b Control unit

Claims (5)

成膜対象が設置される真空成膜室と、原料モノマーが封入されている蒸発源と、前記蒸発源に設けられた加熱手段とを備え、当該加熱手段により前記原料モノマーを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを前記真空成膜室内へ導入して前記成膜対象の表面で蒸着重合させて成膜する成膜装置であって、
前記真空成膜室と前記蒸発源とを接続する原料管にコンダクタンス可変バルブ及び圧力計を設けると共に、当該コンダクタンス可変バルブには、前記圧力計で測定された圧力値が前記コンダクタンス可変バルブの設定された圧力値と等しくなるようにコンダクタンス可変バルブの開度を制御する制御部を設け
前記制御部は前記加熱手段にも接続されており、この制御部が、前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、前記加熱手段により原料モノマーの加熱温度を所定値上昇させるように構成されていることを特徴とする成膜装置。
A vacuum film formation chamber in which a film formation target is installed; an evaporation source in which a raw material monomer is sealed; and a heating unit provided in the evaporation source, and the raw material monomer is heated and evaporated by the heating unit. A film forming apparatus that introduces the obtained evaporation gas into the vacuum film forming chamber and deposits the evaporated gas on the surface of the film forming target to form a film;
A conductance variable valve and a pressure gauge are provided in a raw material pipe connecting the vacuum film formation chamber and the evaporation source, and a pressure value measured by the pressure gauge is set in the conductance variable valve. A control unit for controlling the opening of the conductance variable valve so as to be equal to the measured pressure value ,
The control unit is also connected to the heating unit. When the opening of the conductance variable valve reaches a predetermined value, the control unit increases the heating temperature of the raw material monomer by the heating unit by a predetermined value. It is comprised so that the film-forming apparatus characterized by the above-mentioned .
前記圧力計は、前記原料管の前記コンダクタンス可変バルブと前記真空成膜室との間に設けられていることを特徴とする請求項1記載の成膜装置。   The film forming apparatus according to claim 1, wherein the pressure gauge is provided between the conductance variable valve of the raw material pipe and the vacuum film forming chamber. 前記蒸発源は、一つの前記真空成膜室に対して二つ設けられており、前記二つの蒸発源のうち少なくとも一つの前記蒸発源に接続する前記原料管に、前記コンダクタンス可変バルブ及び前記圧力計が設けられていることを特徴とする請求項1又は2記載の成膜装置。   Two evaporation sources are provided for one vacuum film forming chamber, and the conductance variable valve and the pressure are connected to the material pipe connected to at least one of the two evaporation sources. The film forming apparatus according to claim 1, wherein a total is provided. 蒸発源内の原料モノマーを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを真空成膜室内へ導入して成膜対象の表面で蒸着重合させて成膜する成膜方法であって、
前記真空成膜室と前記蒸発源とを接続する原料管に設けられた圧力計により測定された圧力値と、前記原料管に設けられたコンダクタンス可変バルブの設定された圧力値とが等しくなるように前記コンダクタンス可変バルブの開度を調整し、
前記コンダクタンス可変バルブの開度が所定値となった場合には、加熱手段により原
料モノマーの加熱温度を所定値上昇させることを特徴とする成膜方法。
A film forming method in which an evaporation gas obtained by heating and evaporating a raw material monomer in an evaporation source is introduced into a vacuum film forming chamber and vapor-deposited on the surface of the film forming target to form a film,
A pressure value measured by a pressure gauge provided in a raw material pipe connecting the vacuum film forming chamber and the evaporation source is equal to a pressure value set by a conductance variable valve provided in the raw material pipe. To adjust the opening of the conductance variable valve ,
When the opening of the conductance variable valve reaches a predetermined value, the heating means
A film forming method, wherein the heating temperature of the monomer is increased by a predetermined value .
前記原料モノマーとしての1、12―ジアミノドデカンと1、3―ビス(イソシアナートメチル)シクロヘキサンとがそれぞれ別の前記蒸発源に封入されており、それぞれを加熱し蒸発させて得られた蒸発ガスを、真空成膜室内へ導入して成膜対象の表面で蒸着させると同時に重合させて成膜するにあたり、
少なくとも、前記1、3―ビス(イソシアナートメチル)シクロヘキサンが封入された前記蒸発源に接続する前記原料管に設けられた前記コンダクタンス可変バルブの開度を調整することを特徴とする請求項記載の成膜方法。
1,12-Diaminododecane and 1,3-bis (isocyanatomethyl) cyclohexane as the raw material monomers are sealed in different evaporation sources, respectively, and evaporating gas obtained by heating and evaporating each is used. When introducing into a vacuum film formation chamber and vapor-depositing on the surface of the film formation target, and polymerizing at the same time,
At least, according to claim 4, wherein the adjusting the opening of the variable conductance valve provided in the feed pipe to be connected to the 1,3-bis said evaporation source (isocyanatomethyl) cyclohexane is sealed The film forming method.
JP2008227539A 2008-09-04 2008-09-04 Film forming apparatus and film forming method Active JP5246933B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008227539A JP5246933B2 (en) 2008-09-04 2008-09-04 Film forming apparatus and film forming method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008227539A JP5246933B2 (en) 2008-09-04 2008-09-04 Film forming apparatus and film forming method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010059507A JP2010059507A (en) 2010-03-18
JP5246933B2 true JP5246933B2 (en) 2013-07-24

Family

ID=42186622

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008227539A Active JP5246933B2 (en) 2008-09-04 2008-09-04 Film forming apparatus and film forming method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5246933B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014029005A (en) * 2012-07-05 2014-02-13 Tokyo Electron Ltd Film deposition apparatus
JP6116290B2 (en) * 2013-02-27 2017-04-19 日立造船株式会社 Vapor deposition apparatus and vapor deposition method
CN114622163B (en) * 2020-12-10 2022-12-27 中国科学院大连化学物理研究所 Simple and controllable molecular evaporation method

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01270595A (en) * 1988-04-19 1989-10-27 Hikari Gijutsu Kenkyu Kaihatsu Kk Apparatus for feeding gaseous raw material
JPH06122962A (en) * 1992-10-09 1994-05-06 Shincron:Kk Surface treatment of body
JP4283910B2 (en) * 1998-07-07 2009-06-24 株式会社アルバック Semiconductor manufacturing apparatus and method for forming polyimide film
JP2008056790A (en) * 2006-08-31 2008-03-13 Soken:Kk Vacuum treatment device and vacuum treatment process

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010059507A (en) 2010-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6135475B2 (en) Gas supply apparatus, film forming apparatus, gas supply method, and storage medium
US7335396B2 (en) Methods for controlling mass flow rates and pressures in passageways coupled to reaction chambers and systems for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
US20140308822A1 (en) Deposition technique for depositing a coating on a device
JP5036516B2 (en) Vapor deposition method and vapor deposition apparatus for organic and inorganic composite thin film comprising organic substance and / or inorganic substance in multiple components
JP5246933B2 (en) Film forming apparatus and film forming method
JP4966028B2 (en) Vacuum deposition equipment
JP2017179397A (en) Substrate treatment apparatus, supply method of gas, substrate treatment method, and film deposition method
TWI564427B (en) Method for forming parylene film
JP4074574B2 (en) Organic vapor deposition equipment
CN101235487A (en) Material gas supply device
CN107779840A (en) The evaporation equipment and its application method of a kind of perovskite thin film and application
CN104911561A (en) Method for producing nano / submicron SiO2 film with high thickness uniformity
Alf et al. Initiated chemical vapor deposition of responsive polymeric surfaces
JP5246936B2 (en) Deposition equipment
JP2011063865A (en) Polyurea film and method for depositing the same
TWI643975B (en) Method for controlling a gas supply and controller and apparatus using the same
US20160312355A1 (en) Apparatus for stably evaporation depositing uniform thin films
JP5265460B2 (en) Film forming method and film forming apparatus
KR101087069B1 (en) Method For Supplying Source Gas
JP2005213545A (en) Surface hydrophilization method for polyurea membrane
JP5570471B2 (en) Monomer evaporation control apparatus, vapor deposition polymerization apparatus, and monomer evaporation control method
JP2008506617A5 (en)
CN104032264A (en) Film Coating System Capable Of Performing Thin Film Deposition In Rigorous Evaporation Environment
JP2008156726A (en) Vacuum deposition system
JP2005213310A (en) Method for hydrophilizing surface of polyimide membrane

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110520

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120918

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121128

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130327

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130408

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5246933

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160419

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250