JP5218429B2 - 3次元形状測定装置および方法、並びに、プログラム - Google Patents

3次元形状測定装置および方法、並びに、プログラム Download PDF

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Description

本発明は、3次元形状測定装置および方法、並びに、プログラムに関し、特に、3次元形状の測定精度を向上させるようにした3次元形状測定装置および方法、並びに、プログラムに関する。
従来、2次元の画像を用いて物体の3次元形状を測定する方法として、SFF(Shape From Focus)法が知られている(例えば、非特許文献1参照)。SFF法は、測定対象物の表面にテクスチャを有する場合に有効な方式である。SFF法では、測定対象物に対して撮像装置を移動させながら焦点位置の異なる複数の画像を撮影し、得られた画像の画素ごとに微分演算を行い、焦点が合っている度合いを表す合焦測度を算出する。そして、各画素の合焦測度が最大になるときの焦点位置に基づいて、測定対象物の3次元形状が測定される。
また、従来、測定対象物に所定のテクスチャパターンを照射することにより、表面にテクスチャを有しない測定対象物の3次元形状をSFF法を用いて測定することが提案されている。(例えば、特許文献1参照)。
特許第3321866号公報 S.K.Nayar, Shape from Focus, tech. report CMU-RI-TR-89-27, Robotics Institute, Carnegie Mellon University, November, 1989
ところで、測定対象物の焦点が合っていない範囲においては、明るい部分が膨張して撮影される傾向にあり、焦点のズレが大きくなるほど、その傾向は強くなる。そのため、測定対象物の輝度または色が大きく変化する境界部分において、本来暗い部分が明るく撮影されしまうときがある。SFF法では、この現象により、各画素において焦点が合っている位置(以下、合焦位置と称する)の誤検出が発生し、測定精度が低下してしまう場合があった。
本発明は、このような状況を鑑みてなされたものであり、3次元形状の測定精度を向上させるようにするものである。
本発明の一側面の3次元形状測定装置は、測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置において、輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出手段と、抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出手段と、前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出手段とを備える。
本発明の一側面の3次元形状測定方法は、測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置の3次元形状測定方法において、輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出ステップと、抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出ステップと、前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出ステップとを含む。
本発明の一側面のプログラムは、測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する処理を、コンピュータに実行させるプログラムにおいて、輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出ステップと、抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出ステップと、前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出ステップとを含む処理をコンピュータに実行させる。
本発明の一側面においては、輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素が抽出され、抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度が算出され、前記合焦測度がピークとなる焦点位置が前記合焦位置として検出される。
本発明によれば、3次元形状の測定精度が向上する。
本発明を適用した3次元形状測定システムの一実施の形態を示す模式図である。 コンピュータにより実現される機能の構成の例を示す図である。 3次元形状測定システムにより実行される3次元形状測定処理を説明するためのフローチャートである。 3次元形状測定システムにより実行される3次元形状測定処理を説明するためのフローチャートである。 焦点位置の例を示す図である。 原画像における焦点位置の例を示す図である。 注目範囲の例を示す図である。 注目範囲の輝度の分布の例を示す図である。 注目範囲の色相または彩度の分布の例を示す図である。 合焦測度の分布の例を示すグラフである。 合焦測度の補間処理を説明するためのグラフである。
符号の説明
1 3次元形状測定システム, 2 測定対象物, 11 撮像装置, 12 コンピュータ, 51 3次元形状測定部, 61 撮影制御部, 62 測定部, 71 前処理部, 72 有効画素抽出部, 73 合焦測度算出部, 74 合焦位置検出部, 75 3次元形状データ生成部
以下、図面を参照して本発明を適用した実施の形態について説明する。
図1は、本発明を適用した3次元形状測定システムの一実施の形態を示す図である。図1の3次元形状測定システム1は、撮像装置11、コンピュータ12、および、ディスプレイ13を含むように構成され、撮像装置11とコンピュータ12はケーブル14を介して接続され、コンピュータ12とディスプレイ13はケーブル15を介して接続されている。また、図1において模式的に示されている撮像装置11は、少なくとも光学レンズ21、および、CCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子などからなる光検出器22を含むように構成される。
3次元形状測定システム1においては、図3および図4などを参照して後述するように、撮像装置11が、測定顕微鏡のステージ3に設置された測定対象物2に対する高さ(Z軸方向の位置)を変えながら、測定対象物2に対して焦点位置の異なる複数の画像を撮影し、コンピュータ12が、その複数の画像を用いて、測定対象物2の3次元形状を測定する。
図2は、コンピュータ12のプロセッサ(例えば、CPU(Central Processing Unit)、DSP(Digital Signal Processor)など)が所定のプログラムを実行することにより実現される機能の構成の例を示すブロック図である。コンピュータ12のプロセッサが所定のプログラムを実行することにより、3次元形状測定部51が実現される。また、3次元形状測定部51は、撮影制御部61および測定部62により構成される。
撮影制御部61は、撮像装置11を制御して、焦点位置を変化させながら測定対象物2を撮影させる。撮影制御部61は、撮影された画像(以下、原画像と称する)を撮像装置11から取得し、測定部62の前処理部71に供給する。また、撮影制御部61は、全ての焦点位置における測定対象物2の撮影が終了したとき、撮影の終了を前処理部71に通知する。
測定部62は、焦点位置の異なる複数の原画像を用いて、測定対象物2の3次元形状を測定する。測定部62は、前処理部71、有効画素抽出部72、合焦測度算出部73、合焦位置検出部74、および、3次元形状データ生成部75により構成される。
前処理部71は、図3および図4などを参照して後述するように、原画像に対して所定の前処理を行い、その結果生成された画像(以下、前処理画像とも称する)をメモリ52に記憶させる。また、前処理部71は、撮影制御部61から撮影の終了が通知されたとき、その通知を有効画素抽出部72に転送する。
有効画素抽出部72は、図3および図4などを参照して後述するように、合焦測度を算出する対象となる注目画素の近傍の所定の範囲(以下、注目範囲と称する)内の画素から、ユーザにより設定される輝度、色相、または、彩度の許容値を用いて、注目画素における合焦測度の算出に用いる有効画素を抽出し、前処理画像から有効画素の輝度値を抽出する。有効画素抽出部72は、抽出した有効画素の輝度値を示す情報を合焦測度算出部73に供給する。
合焦測度算出部73は、図3および図4などを参照して後述するように、抽出された有効画素の輝度値を用いて、注目画素の合焦測度を算出し、算出した合焦測度を示す情報を合焦位置検出部74に供給する。
合焦位置検出部74は、図3および図4などを参照して後述するように、算出された合焦測度に基づいて、ユーザにより設定される輝度の許容値を用いて、注目画素の合焦位置を検出し、検出した合焦位置をメモリ52に記憶させる。また、合焦位置検出部74は、全ての画素の合焦位置を検出したとき、合焦位置の検出の終了を3次元形状データ生成部75に通知する。
3次元形状データ生成部75は、メモリ52に記憶されている各画素の合焦位置に基づいて、3次元形状データを生成し、後段に出力する。
次に、図3および図4のフローチャートを参照して、3次元形状測定システム1により実行される3次元形状測定処理について説明する。なお、この処理は、例えば、ユーザが、コンピュータ12の図示せぬ入力部を介して、ステージ3上の測定対象物2の3次元形状の測定の指令を入力したとき開始される。
ステップS1において、有効画素抽出部72および合焦位置検出部74は、各種の許容値を取得する。具体的には、例えば、ユーザは、コンピュータ12の図示せぬ入力部を介して、有効画素の抽出に用いる判定値として、輝度、色相および彩度のうちどれを用いるかを設定するとともに、判定に用いる輝度、色相、彩度の許容値をコンピュータ12に入力する。有効画素抽出部72は、入力された許容値を取得する。なお、判定値には、輝度、色相、彩度のうちいずれか1種類を用いるようにしてもよいし、2種類以上を組み合わせて用いるようにしてもよい。
また、例えば、ユーザは、コンピュータ12の図示せぬ入力部を介して、合焦測度の最大値の判定に用いる輝度の許容値をコンピュータ12に入力し、合焦位置検出部74は、その許容値を取得する。
ステップS2において、撮像装置11は、撮影制御部61の制御の基に、測定対象物を撮影する。撮像装置11は、撮影の結果得られた、RGBの3原色で表される原画像を、ケーブル14を介して撮影制御部61に供給する。撮影制御部61は、取得した原画像を前処理部71に供給する。
ステップS3において、前処理部71は、画像の前処理を行う。具体的には、前処理部71は、取得した原画像をフーリエ変換し、所定の周波数以下の低周波成分、および、所定の周波数の範囲内のノイズ成分を除去した後、逆フーリエ変換する。これにより、原画像から低周波成分およびノイズ成分が除去され、中高周波成分が抽出されたRGB画像(以下、前処理RGB画像と称する)が生成される。前処理部71は、生成した前処理RGB画像をメモリ52に記憶させる。さらに、前処理部71は、生成した前処理RGB画像をYPbPr画像に変換し、変換した画像(以下、前処理YPbPr画像と称する)をメモリ52に記憶させる。
ステップS4において、撮影制御部61は、全ての焦点位置において撮影したかを判定する。まだ全ての焦点位置において撮影していないと判定された場合、処理はステップS5に進む。
ステップS5において、撮影制御部61は、焦点位置を変更する。すなわち、撮影制御部61は、焦点位置が次の値になるように、撮像装置11をZ軸方向に移動させる。
その後、処理はステップS2に戻り、ステップS4において、全ての焦点位置において撮影したと判定されるまで、ステップS2乃至S5の処理が繰り返し実行される。これにより、例えば、図5に示されるように、測定対象物2の最下端から最上端まで焦点位置を所定の間隔で移動させながら、N枚の原画像が撮影され、各原画像から前処理RGB画像および前処理YPbPr画像が生成され、メモリ52に記憶される。なお、図5において、縦軸は焦点位置を表し、縦軸上には焦点位置の値の代わりに、焦点位置の設定順を表すインデックスが示されている。
図6は、図5のk番目の焦点位置において撮影された原画像の例を示している。なお、図6内の四角の各マスは画素を示している。また、図6の測定対象物2のうち領域Rfは、撮像装置11の焦点が合っている領域を示し、領域Rinは、焦点が合っている領域より内側の領域を示し、領域Routは、焦点が合っている領域より外側の領域を示している。すなわち、領域Rinおよび領域Rout内の画像は、焦点がずれた、いわゆるピンぼけ画像となる。
図3に戻り、一方、ステップS4において、撮影制御部61は、全ての焦点位置において撮影したと判定した場合、前処理部71を介して、有効画素抽出部72に撮影の終了を通知し、処理はステップS6に進む。
ステップS6において、測定部62は、合焦位置を求めてない画素のうち1つを選択し、注目画素に設定する。なお、注目画素は、例えば、ラスタスキャン順に設定される。
ステップS7において、測定部62は、現在の注目画素における合焦測度を求めていない画像のうち1つを選択し、注目画像に設定する。なお、注目画像は、例えば、撮影された順(インデックス順)に設定される。
ステップS8において、有効画素抽出部72は、注目範囲内の画素から処理対象の画素を1つ選択する。すなわち、有効画素抽出部72は、注目範囲内の画素のうち、有効画素であるか否かを判定していない画素の1つを処理対象の画素として選択する。
なお、図7は、図6の画素PA1が注目画素に設定されている場合の注目範囲の例を示している。図7の例においては、注目画素PA1を中心とする5×5画素の範囲RA1が、注目範囲に設定されている。
ステップS9において、有効画素抽出部72は、注目画素と処理対象の画素の判定値の差が許容範囲内であるかを判定する。具体的には、有効画素抽出部72は、メモリ52に記憶されている、注目画像の前処理RGB画像および前処理YPbPr画像から、注目画素および処理対象の画素の判定値を求める。有効画素抽出部72は、注目画素と処理対象の画素の判定値の差分をとり、その差分値の絶対値と、ステップS1において設定された許容値とを比較する。有効画素抽出部72は、差分値の絶対値が許容値以下である場合、注目画素と処理対象の画素の判定値の差が許容範囲内であると判定し、すなわち、処理対象の画素が有効画素であると判定し、処理はステップS10に進む。
なお、2種類以上の判定値を用いるように設定されている場合、全ての種類の判定値の差分値の絶対値が許容値以下であるとき、注目画素と処理対象の画素の判定値の差が許容範囲内であると判定される。例えば、輝度、色相、彩度の3種類の判定値を用いるように設定されている場合、輝度、色相、彩度の全てについて、注目画素と処理対象の画素の差分値の絶対値が許容値以下であるとき、注目画素と処理対象の画素の判定値の差が許容範囲内であると判定される。
ステップS10において、有効画素抽出部72は、処理対象の画素の輝度値を抽出する。すなわち、有効画素抽出部72は、現在の処理対象の画素の輝度値を、メモリ52に記憶されている注目画像の前処理YPbPr画像から抽出する。
一方、ステップS9において、少なくとも1種類の判定値の差分値の絶対値が許容値を超えている場合、注目画素と処理対象の画素の判定値の差が許容範囲を超えていると判定され、ステップS10の処理はスキップされ、処理はステップS11に進む。
ステップS11において、有効画素抽出部72は、注目範囲内の全ての画素の判定を行ったかを判定する。まだ注目範囲内の全ての画素の判定を行っていないと判定された場合、処理はステップS8に戻る。その後、ステップS11において、注目範囲内の全ての画素の判定を行ったと判定されるまで、ステップS8乃至S11の処理が繰り返し実行され、注目範囲内の画素から、注目画素との判定値の差が許容範囲内である判定値を有する有効画素が抽出され、さらに、その有効画素の輝度値が抽出される。
一方、ステップS11において、注目範囲内の全ての画素の判定を行ったと判定された場合、処理はステップS12に進む。
ステップS12において、合焦測度算出部73は、注目画像の注目画素における合焦測度を算出する。具体的には、有効画素抽出部72は、抽出した有効画素の輝度値を示す情報を合焦測度算出部73に供給する。合焦測度算出部73は、以下の式(1)により、注目画像の注目画素における合焦測度を算出する。
合焦測度=(Σ|注目画素の輝度値−有効画素の輝度値|)÷有効画素の数 ・・・(1)
すなわち、合焦測度は、注目画素の輝度値と注目範囲内の有効画素の輝度値との差分値の絶対値の平均値である。従って、合焦測度は、注目画素と有効画素との輝度値の差が大きいほど、すなわち、注目画素と有効画素との間のコントラストが強いほど、値が大きくなる。
合焦測度算出部73は、算出した合焦測度を合焦位置検出部74に供給する。また、合焦測度算出部73は、算出した合焦測度、現在の注目画像の注目画素の輝度値、並びに、現在の注目画像の焦点位置を関連づけてメモリ52に記憶させる。
例えば、図8に示されるように、注目範囲RA1において、注目画素PA1を含む範囲RA1a(右斜め下方向の斜線の部分)と範囲RA1b(左斜め下方向の斜線の部分)との間で、測定対象物2に段差がある場合、範囲RA1a内と範囲RA1b内とでは輝度が大きく異なる。従って、注目範囲RA1内の全ての画素を用いて合焦測度を求めた場合、高さが異なる範囲RA1aと範囲RA1bの両方の影響を受け、範囲RA1aと範囲RA1bの間の高さに対応した合焦測度が算出されてしまう。
一方、上述したように、注目範囲から有効画素を抽出し、有効画素のみを用いて合焦測度を算出することにより、例えば、図8の例の場合、範囲RA1a内の画素の輝度のみを用いて、注目画素PA1における合焦測度をより正確に算出することができる。
また、図9は、範囲RA1a内の色相または彩度の分布の様子を模式的に表しているが、図9に示されるように、範囲RA1a内と範囲RB1b内とでは、色相または彩度も大きく異なる可能性が高い。従って、判定値として色相または彩度を用いても、範囲RA1aまたはそれに近い範囲内の画素の輝度のみを用いて、注目画素PA1における合焦測度をより正確に算出することができる。なお、輝度、色相、または、彩度をそれぞれ用いて抽出した有効画素は、必ずしも一致しないため、3種類全てを判定値として用いることにより、より正確に合焦測度を算出することが可能となる。
ステップS13において、合焦位置検出部74は、合焦測度が最大であるかを判定する。具体的には、合焦位置検出部74は、ステップS13において算出された合焦測度が、メモリ52に記憶されているこれまでの合焦測度の最大値より大きい場合、合焦測度が最大であると判定し、処理はステップS14に進む。なお、現在の注目画素について最初の合焦測度が算出されたとき、メモリ52に合焦測度の最大値がまだ記憶されていないので、算出された合焦測度が無条件で最大であると判定される。
ステップS14において、合焦位置検出部74は、注目画素の輝度値が許容範囲内であるかを判定する。具体的には、合焦位置検出部74は、現在の焦点位置における注目画素の輝度値(現在の注目画像の注目画素の輝度値)と、メモリ52に記憶されている、これまでに合焦測度が最大になった焦点位置における輝度値(これまでに合焦測度が最大になった画像の注目画素の輝度値)との差分をとり、その差分値と、ステップS1において設定された許容値とを比較する。合焦位置検出部74は、差分値が許容値以下である場合、注目画素の輝度値が許容範囲内であると判定し、処理はステップS15に進む。
ステップS15において、合焦位置検出部74は、現在の合焦測度を最大値として記憶する。すなわち、合焦位置検出部74は、現在の注目画像の注目画素における合焦測度を合焦測度の最大値として、現在の注目画像の注目画素の輝度値、および、現在の注目画像の焦点位置と関連づけて、メモリ52に記憶させる。
一方、ステップS14において、算出した差分値が許容値を超える場合、注目画素の輝度値が許容範囲を超えていると判定され、ステップS15の処理はスキップされ、処理はステップS16に進む。すなわち、現在の焦点位置における合焦測度は、最大値として記憶されない。
図10は、測定対象物の輝度または色が大きく変化する境界部分の注目画素PA11における、焦点位置と合焦測度の関係の例を示すグラフである。上述したように、測定対象物の輝度または色が大きく変化する境界部分においては、焦点がずれるに従って、明るい部分が膨張し、本来暗い部分が明るく撮影されしまう場合がある。従って、図10に示されるように、注目画素PA11に対応する測定対象物の点に焦点が合い、注目画素PA11が本来の暗い輝度で撮影されたときに、合焦測度のピークPK11が現れた後、注目画素PA11に対応する測定対象物の点に対する焦点がずれるに従って、注目画素PA11の輝度が明るくなり、再び合焦測度のピークPK12が現れる場合がある。
これに対して、ステップS14の判定処理により、合焦測度がピークPK11となる焦点位置における注目画素PA11の輝度と、合焦測度がピークPK12となる焦点位置における注目画素PA11の輝度との差が大きい場合、合焦測度がピークPK12となる焦点位置、および、その付近の焦点位置は、合焦測度の最大値の検出対象から除外される。
これにより、焦点が合っていない焦点位置で合焦測度のピークが検出され、合焦位置が誤検出されることが防止される。
ステップS16において、合焦速度算出部73は、全ての画像について処理したかを判定する。まだ全ての画像について処理していないと判定された場合、処理はステップS7に戻る。その後、ステップS16において、全ての画像について処理したと判定されるまで、ステップS7乃至S16の処理が繰り返し実行され、注目画素について、全ての焦点位置における合焦測度が求められるとともに、合焦測度の最大値が検出される。
一方、ステップS16において、全ての画像について処理したと判定された場合、処理はステップS17に進む。
ステップS17において、合焦位置検出部74は、合焦位置を検出する。具体的には、合焦位置検出部74は、注目画素について、合焦測度が最大となる焦点位置およびその前後の焦点位置における合焦測度をメモリ52から読み出す。例えば、k+1番目の焦点位置において合焦測度が最大となった場合、k乃至k+2番目の焦点位置における合焦測度がメモリ52から読み出される。合焦位置検出部74は、読み出した3点の焦点位置と合焦測度から、焦点位置と合焦測度の関係をガウス関数でモデル化することにより、3点間のデータの補間を行う。そして、合焦位置検出部74は、補間したデータに基づいて、合焦測度がピークとなる焦点位置を注目画素における合焦位置として検出する。合焦位置検出部74は、検出した合焦位置をメモリ52に記憶させる。
図11は、1乃至N点における焦点位置と合焦測度の関係をガウス関数でモデル化した場合のグラフの例を示している。このように、焦点位置と合焦測度の関係をガウス関数でモデル化することにより、実際に画像を撮影した焦点位置の間隔より詳細な精度で、注目画素における合焦位置を検出することが可能となり、例えば、図11のピークPK21に対応するk+1番目とk+2番目の間の焦点位置を合焦位置として検出することができる。
なお、4点以上のデータを用いて、焦点位置と合焦測度の関係をガウス関数によりモデル化するようにしてもよい。また、ガウス関数の代わりに、2次関数補間演算により、データの補間を行うようにしてもよい。さらに、画像を撮影する焦点位置の間隔が十分小さい場合、合焦測度の移動平均をとることにより、データの補間を行うようにしてもよい。
ステップS18において、合焦位置検出部74は、全ての画素の合焦位置を検出したかを判定する。まだ全ての画素の合焦位置を検出していないと判定された場合、処理はステップS6に戻り、ステップS18において、全ての画素の合焦位置を検出したと判定されるまで、ステップS6乃至S18の処理が繰り返し実行される。
一方、ステップS18において、合焦位置検出部74は、全ての画素の合焦位置を検出したと判定した場合、合焦位置の検出の終了を3次元形状データ生成部75に通知し、処理はステップS19に進む。
ステップS19において、3次元形状データ生成部75は、メモリ52に記憶されている各画素の合焦位置に基づいて、3次元形状データを生成し、後段に出力する。例えば、3次元形状データは、各画素の合焦位置、または、合焦位置に基づいて算出される、ある基準点から各画素までの距離により表される。そして、3次元形状測定部51の後段の装置または処理部は、例えば、3次元形状データに基づいて、測定対象物2の3次元画像をディスプレイ13に表示する。その後、3次元形状計測処理は終了する。
このようにして、より正確に合焦測度を算出し、かつ、合焦測度の偽のピークを合焦位置をして検出することを防止することにより、3次元形状の測定精度を向上させることができる。
なお、3次元形状測定部51においては、許容値を調整することにより、ステップS14およびS15の処理において、輝度が暗い方および明るい方のピークのうちどちらを合焦測度の最大値として選択するかを設定したり、合焦測度がピークとなる焦点位置が3つ以上ある場合、その焦点位置における注目画素の輝度値に基づいて、どのピークを合焦測度の最大値として選択するかを設定することが可能である。これにより、合焦測度がピークとなる焦点位置が複数存在する場合、各焦点位置における注目画素の輝度値に基づいて、合焦測度がピークとなる焦点位置の中から合焦位置が選択されるようになる。
また、以上の説明では、画素に着目して合焦測度を求めたが、複数の画素からなる領域を単位として合焦測度を求めるようにしてもよい。
さらに、以上の説明では、画像の前処理において、フーリエ変換を行った後、低周波成分およびノイズ成分を除去し、逆フーリエ変換を行う例を示したが、例えば、ウェーブレット変換を行った後、低周波成分およびノイズ成分を除去し、逆ウェーブレット変換を行うようにしてもよい。
また、従来のSFF法と同様に、注目範囲内の有効画素、および、ラプラシアンフィルタを用いて、合焦測度を求めるようにしてもよい。
さらに、以上の説明では、一連の処理を、コンピュータ12を用いてソフトウエアにより実行する例を示したが、ハードウエア、または、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータにより実行することも可能である。
また、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
なお、本明細書において、システムの用語は、複数の装置、手段などより構成される全体的な装置を意味するものとする。
また、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。

Claims (5)

  1. 測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置において、
    輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出手段と、
    抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出手段と、
    前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出手段と
    を備えることを特徴とする3次元形状測定装置。
  2. 前記合焦位置検出手段は、前記合焦測度がピークとなる焦点位置が複数存在する場合、各焦点位置における前記注目画素の輝度値に基づいて、前記合焦測度がピークとなる複数の焦点位置の中から前記合焦位置を選択する
    ことを特徴とする請求項1に記載の3次元形状測定装置。
  3. 前記画像をフーリエ変換し、所定の周波数範囲の低周波成分およびノイズ成分を除去した後、逆フーリエ変換することにより前記画像の中高周波成分を抽出した前処理画像を生成する前処理手段を
    さらに備え、
    前記画素抽出手段は、前記前処理画像の前記所定の範囲内の画素から前記有効画素を抽出し、
    前記合焦測度算出手段は、前記前処理画像における前記注目画素と前記有効画素との輝度値の差に基づいて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の3次元形状測定装置。
  4. 測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置の3次元形状測定方法において、
    輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出ステップと、
    抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出ステップと、
    前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出ステップと
    を含むことを特徴とする3次元形状測定方法。
  5. 測定対象物に対して焦点位置の異なる複数の画像の各画素について焦点が合っている度合いを示す合焦測度を算出し、前記合焦測度に基づいて合焦位置を検出することにより前記測定対象物の3次元形状を測定する処理を、コンピュータに実行させるプログラムにおいて、
    輝度、色相および彩度のうち少なくとも1つを判定値として用い、注目画素における前記合焦測度の算出に用いる前記注目画素の近傍の所定の範囲内の画素から、前記注目画素の前記判定値との差が許容範囲内である前記判定値を有する有効画素を抽出する有効画素抽出ステップと、
    抽出された前記有効画素を用いて、前記注目画素における前記合焦測度を算出する合焦測度算出ステップと、
    前記合焦測度がピークとなる焦点位置を前記合焦位置として検出する合焦位置検出ステップと
    を含む処理をコンピュータに実行させるプログラム。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011085647A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Hitachi Chem Co Ltd 光導波路基板及びその製造方法
JP5655557B2 (ja) * 2010-07-12 2015-01-21 ソニー株式会社 顕微鏡制御装置、画像表示装置、画像管理サーバ、合焦位置情報生成方法、画像表示方法、画像管理方法及び顕微鏡画像管理システム
EP2634530B1 (en) 2010-10-27 2022-05-04 Nikon Corporation Shape measuring device, shape measuring method, and structure manufacturing method
JP6044125B2 (ja) * 2012-06-11 2016-12-14 株式会社リコー 検出装置および多色画像形成装置
US9675430B2 (en) 2014-08-15 2017-06-13 Align Technology, Inc. Confocal imaging apparatus with curved focal surface
JP7071088B2 (ja) * 2017-10-24 2022-05-18 キヤノン株式会社 距離検出装置、撮像装置、距離検出方法、及びプログラム
JPWO2023074684A1 (ja) * 2021-10-28 2023-05-04

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0926312A (ja) * 1996-08-02 1997-01-28 Hitachi Ltd 立体形状検出方法及びその装置
JP2001066112A (ja) * 1999-06-25 2001-03-16 Mitsutoyo Corp 画像計測方法及び装置
JP2001074422A (ja) * 1999-08-31 2001-03-23 Hitachi Ltd 立体形状検出装置及びハンダ付検査装置並びにそれらの方法
JP2006258444A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Opcell Co Ltd 物体表面形状測定装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0926312A (ja) * 1996-08-02 1997-01-28 Hitachi Ltd 立体形状検出方法及びその装置
JP2001066112A (ja) * 1999-06-25 2001-03-16 Mitsutoyo Corp 画像計測方法及び装置
JP2001074422A (ja) * 1999-08-31 2001-03-23 Hitachi Ltd 立体形状検出装置及びハンダ付検査装置並びにそれらの方法
JP2006258444A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Opcell Co Ltd 物体表面形状測定装置

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