JP5218084B2 - 検査方法 - Google Patents
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Description
図1(a)は、本発明の実施の形態1における官能検査装置の擬似サンプル発生システムを示すブロック図であり、図1(b)は、実施の形態1における官能検査装置の検査システムを示すブロック図である。
図7(a)は、本発明の実施の形態2における特徴量空間の第1の結果を示す図であり、図7(b)は、実施の形態2における特徴量空間の第2の結果を示す図であり、図7(c)は、実施の形態2における特徴量空間の第3の結果を示す図であり、図7(d)は、実施の形態2における特徴量空間の第4の結果を示す図である。
2 特徴量抽出部
3 特徴量空間作成部
4 特徴量空間記憶部
5 初期サンプル特徴量生成部
6 擬似サンプル作成部
7 乱数発生部
8 擬似サンプル表示部
9 判定入力部
10 擬似サンプル特徴量生成部
11 検出部
12 特徴量抽出部
13 パターン認識部
14 判定結果入力部
15 検査結果表示部
16 良品画像入力部
17 平均画像作成部
18 特徴量入力部
19 特徴量変換部
20 乱数入力部
21 パラメータ決定部
22 画像合成部
Claims (5)
- 複数種類の特徴量を座標軸として定義された特徴量空間に第1擬似サンプルを生成する工程と、
前記第1擬似サンプルに対して作業者が良否を判定した結果を記憶する工程と、
第2擬似サンプルを、良品と判定された前記第1擬似サンプルの特徴量よりも原点に近い位置に生成する方法、不良品と判定された前記第1擬似サンプルの特徴量よりも前記原点から遠い位置に生成する方法、のいずれかで生成する工程と、
前記第2擬似サンプルに対して前記作業者が良否を判定した結果を記憶する工程と、
前記第1及び第2擬似サンプルの良否が異なる場合に、前記第1及び前記第2擬似サンプルの間に良品と不良品の境界を決定し、該境界の決定された前記特徴量空間を用いて検査対象の良否判定を行なう工程と、を含むこと
を特徴とする検査方法。 - 前記第1擬似サンプルは、前記原点からの距離がマハラノビス距離かつ一定値となるように複数配置されること
を特徴とする請求項1記載の検査方法。 - 複数の前記第1擬似サンプルは、前記原点からの距離が前記検査対象を製造する際の不良率となる標準偏差の倍数となるように配置されること
を特徴とする請求項2記載の検査方法。 - 前記第1及び第2擬似サンプルの良否は、良品,境界付近の良品,境界付近の不良品,不良品の4段階に分かれていること
を特徴とする請求項1から3いずれか記載の検査方法。 - 複数の前記第1擬似サンプルは、等間隔に配置されること
を特徴とする請求項2から4いずれか記載の検査方法。
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