JP5190211B2 - 抵抗型限流器 - Google Patents
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Description
超伝導層は、技術的理由により、通常は1以上の電気的に絶縁な緩衝層により金属基体テープから分離されている。制限する状態の間において、局部的に大きな電圧降下が発生し得る結果、超伝導体と基体との間にかなりの電位差が生じ、これが非常に薄い絶縁性緩衝層の絶縁破壊(dielectric breakdown)につながる。従って、HTS層と基体テープとの間の適切な電位等化体が設けられなければならない。スイッチングの場合に基体への電流の転移を可能にするために、連続した又は離れたスポットの複数の接触子配置が例えばDE19836860、EP1042820又はDE10225935に記載されている。
超伝導体のスイッチングレベルは、その臨界電流に依存する。これは、スポット(点)からスポットへと典型的には20%〜50%変化し得る材料の特性である。従って、スイッチングレベルは、低い臨界電流を持つ弱いスポットにおいては当該導電体の残部におけるよりも早く到達される。過電流が生じると、これらのスポットは最初に通常状態になり抵抗値を獲得する。これらの弱いスポットは限られた寸法のものであるので、これらスポットの抵抗値は電流を効率的に制限するには低すぎる。従って、これらはジュール加熱で熱くなり、当該導電体の残部が通常状態になる前に自身で壊れる。このようなホットスポットは他のタイプのSFCLにおいても発生し得る。しかしながら、CC−SFCLの場合は、DE10225935に記載されているように、従来技術による斯かる問題に対する固有の解決策が存在する。
HTSは脆いセラミック材料であり、従って強い変形に敏感である。応力がεmax=0.2%を超えると、恐らくはマイクロ破壊により最初の劣化が生じることが良く知られている。これは、Rmin=d/(2εmax)に従いテープ厚dに依存するような最小曲げ半径を意味する。例えば、100μmのテープ厚においては、最小曲げ半径は25mmとなり、これは全ての設計に対して考慮されねばならない。超伝導体は引張り応力に対してよりも圧縮応力に対して余り敏感でないので、超伝導体層は優先的に帯湾曲の内側上にある。
常伝導領域における強い熱の発生は、例えば液体窒素又は他の流体等の低温流体の強い沸騰につながる。泡の形成により、そこにはテープに作用するかなりの力が存在し、斯かる力がテープを曲げると共に超伝導層に亀裂を生じさせ得るか、又は斯かる力が異なるテープ区域の間の接触及び短絡を生じさせ得る。EP1217666に記載されているような超伝導体板の間の振動減衰エレメントは、長尺のCCテープには適用可能ではない。
自身を加熱することにより、CCは自身の長さに沿って膨張する。更に、当該テープの前側と後側との間の温度差は、バイメタルと同様の曲げにつながる(熱変形)。この結果、テープが適切に装着されていないと大きな力が生じ得る。その結果は、ガスの発生と同様のもの、即ち当該超伝導体の破壊及び異なるテープ区域の間の短絡である。
テープの電流の結果、異なるテープ区域の間に磁力が生じる。斯かる力は電流の自乗で増加する。電流は交番するので、テープは不適切に取り付けられていると振動し得る。斯かる力は過電流が生じると過度になり得る。結果としての問題は、ガスの発生及び熱膨張と同様である。
テープに対する冷却剤の接近(アクセス)は、テープの小さなスポットでさえ取付エレメント又は他の部品により接触されると妨害される。結果として、斯様な領域は残部よりも速く熱くなる。これは、数十ミリ秒の尺度での長期的動作にとり有害である。何故なら、これらの領域はSFCLと直列の機械式スイッチが引き継ぐ前に焼損するからである。同様のことが、何層もの巻線を持つコイルについても言える。この様な構造においても、冷却剤の接近は妨害される。EP1042820に記載された層間の波型分離体でさえも、接触点において冷却剤の妨害につながる。
SFCLは高電圧設備に適用されるので、電気放電、スパーク及び部分放電は高信頼度で防止されねばならない。例えば液体窒素は非常に高い絶縁耐力(dielectric strength)を有しているが、斯かる絶縁耐力は気泡が存在すると著しく劣化される。従って、冷却剤が沸騰するような正に制限する状態の間においては、異なる電位レベルの部分間での電気的降伏の危険性がある。
超伝導体の臨界電流は、磁場内で減少する。SFCLの不適切な設定により、制限されるべき電流は、自身で、SFCLのスイッチングレベルを大幅に低下させ、かくして当該装置のスイッチング能力を減少させるのに十分なほど高い場を形成し得る。所謂BSCCO導体に対する対策として、従来技術によればバイファイラ巻線を使用することが推奨されている(EP1042820、DE19720397又はEP0935261)。しかしながら、巻線間に要する空間のために、CCにとっては状況が異なり、他の補償対策がとられなければならない。
テープは可撓性であり、従って機械的安定性を有さない。それにも拘わらず、構造は、当該構成が数十年にわたり可能な限り無故障及び高信頼度で動作するように上述した力に耐えなければならない。
HTS:ここでは薄膜の形態の高温超伝導体、
CC:被覆された導体、HTSにより被覆された金属テープ、
SFCL:超伝導故障電流限流器、
テープ導体:ここでは、導体テープ、テープ及びCCと同義、
主表面:主要な又は主たる表面;超伝導体により被覆されたCCの表面又は反対の表面、
縁領域:テープの側部の表面であり、縁及びHTS被覆を有さない可能性のある余白部を含む、
前側表面:HTS被覆を持つ主表面(片面HTS被覆の場合)、
後側表面:HTS被覆を持たない主表面(片面HTS被覆の場合)、
テープ区域:互いに接触するか又は互いに干渉する可能性のあるテープの異なる区域、
熱変形:テープの前側及び後側の差動的熱膨張により生じる弾性的又は塑性的曲がり、
支持構造:テープを固定フレーム(例えば、モジュール又は低温維持装置、下記参照)に機械的に連結する、
取付エレメント:上記支持構造におけるテープを保持する部分、
固定装置:上記支持装置の残部;上記取付エレメント(又は複数のエレメント)を固定フレーム(例えば、モジュール又は低温維持装置、下記参照)に連結する、
限流器コンポーネント:固定装置を伴うテープ又は幾つかの接続されたテープの最小単位、
モジュール:固定フレームに組み立てられた1以上の限流器コンポーネント、
CC−SFCL:低温維持装置に組み立てられた1以上のモジュールで、一緒に被覆された導体に基づく限流器を形成する、
全体のシステム:冷却機並びに測定、制御及びスイッチング装置を含む1以上の低温維持装置(例えば、三相構成の)、
GRP:ガラス繊維強化プラスチック、
スイッチング:テープ導体の超伝導状態から(少なくとも部分的な)常伝動状態への移行、
制限状態:スイッチングから通常の直列スイッチの開成までの時間間隔における限流器の状態。
テープの長さに沿って、例えば薄い板(図4a)、長方形のスタッド及び丸められた縁を備えるもの(図4b、4c)、真っ直ぐな筒状片(図4d)若しくは接続されたトランペット体を備えるチューブ(図4e)、又は丸められた支柱(図4f)等の異なる好ましい形状のものが存在する。接続されたトランペット体の場合、及び丸められた支柱の場合においては、長手方向の曲率半径は好ましくは当該テープの許容される曲率半径よりも小さくないものとする。このようにして、テープは過度な曲げ又は座屈から保護される。
図4〜7におけるように、窪んだ取付エレメントがテープを緩くのみ保持しているなら、該テープは或る程度の遊びを依然として有し、長手方向に自身を変位させると共に、限られた程度に、自身の方向を変化させて、該テープに作用する力に対して道を譲ることができる。この様にして、当該テープ導体を損傷しかねない強い変形が回避される。しかしながら、基本的に、上記実施例の幾つかは、例えば前記対状の配置又は目状のエレメントのようにテープの相対的に固定的な取り付けにも使用することができ、これによれば、テープと取付エレメントとの間の当接(fitting)は、テープはクランプされるが損傷はされないように調整されねばならない。これは、好ましくは、バネにより負荷が掛けられた当接により達成することができる。
図2におけるテープ21と分路部23との間の接触は、好ましくは、クランプにより、例えばインジウム、銀、ビスマス若しくは錫に基づく低融解ハンダにより、押圧接触子により、導通する銀ペーストにより、例えば銀により充填されたエポキシ樹脂に基づく導通するグルー(glue)により達成することができる。好ましいものは、軟金属箔の象眼を備える押圧接触子である。軟金属箔は、好ましくは、テープの周りに巻かれると共に、インジウム、鉛、銀又は銅からなる。更に好ましいものは、例えば銀により充填されたエポキシ樹脂に基づく導通するグルーである。エポキシ樹脂の間で特に好ましいのは、冷反応2成分エポキシ樹脂である。何故なら、これらは好ましい低温特性を示すからである。
限流器コンポーネントのためのテープ構造の好ましい実施例は、図8〜12に例示されている。全ての場合において、前述した好ましい最小半径に注意が払われねばならない。
高い電圧においては、より小型及び安価な設計のために大きな安全距離に取って代えるために、好ましくは電位差が1kVを超える場合、特に好ましくは2kVを超える場合に、異なる電位のコンポーネントを分離するために隔壁を使用するのが有利である。図13は好ましい配置を示している。一例として、パンケーキ型コイルとして図示された3つの限流器コンポーネント85が存在する。各コンポーネント85は、隔壁86により形成された別個のチェンバ内に配置されている。各チェンバは、好ましくは上部まで延長され、そこでは、冷却面88を持つ共通ガス容器につながる泡チャンネル又は煙突87として作用する。上記泡チャンネルは、ガス内でのスパークが安全に排除されるように十分に長く選定されるべきである。上記ガス容器には、好ましくは、サージタンク(図示略)が取り付けられる。
12,32,42,52,62,72:取付エレメント
23:分路部
24:支持部
85:限流器コンポーネント
86:隔壁
87:気泡を伴う泡チャンネル又は煙突
88:冷却面
89:泡障壁としての網
90:相互接続部
91:高電圧貫通を備える電流リード線
92:低温維持装置又はモジュール壁
93:冷却液のレベル
100:隣接するテープ区域
200:捻れを伴う直線テープ区域
Claims (8)
- a.高温超伝導体により被覆されたテープ導体(11,41,51,61,71)と、
b.前記テープ導体(11,41,51,61,71)を保持する少なくとも1つの取付エレメント(12,42,52,62,72)と、
を有し、前記少なくとも1つの取付エレメントが前記テープ導体を、1以上の縁領域のみにおいて前記テープの主表面が前記取付エレメントと接触し得ないように保持するような限流器であって、
c.前記取付エレメント(12,42,52,62,72)が窪んだ形状を有し、前記テープ導体(11,41,51,61,71)が前記窪んだ形状の内部に延在する、
ことを特徴とする限流器。 - 請求項1に記載の限流器において、前記取付エレメント(12,42,52,62,72)の窪んだ形状が、前記テープ(11,41,51,61,71)に面する側において凹状断面の少なくとも1つの区域を呈するような限流器。
- 請求項2に記載の限流器において、前記テープ導体(11,41,51,61,71)が幅wを有し、前記窪んだ形状が平均曲率半径rを有し、0.5w≦r≦10wであるような限流器。
- 請求項1ないし3の何れか一項に記載の限流器において、前記取付エレメントが、前記テープの少なくとも1つの区域が延伸して貫通する窪んだ断面を有するチューブ(42)又は板の凹み(42)若しくは開口(62)であるような限流器。
- 請求項1ないし4の何れか一項に記載の限流器において、前記テープ導体が、該テープ導体の縁領域においてテープ導体と前記取付エレメント(12,42,52,62,72)との間のテープ導体の幅wの5%ないし50%の間隙で、前記取付エレメント(12,42,52,62,72)により保持されるような限流器。
- 請求項1ないし5の何れか一項に記載の限流器において、前記取付エレメントが前記テープ導体に対してバネ負荷が掛けられた当接を有するような限流器。
- 請求項1ないし6の何れか一項に記載の限流器において、
a.テープ導体(11,41,51,61,71)が、少なくとも2つの隣接するテープ区域(100)を伴う少なくとも1つの領域を有し、
b.前記テープ導体(11,41,51,61,71)の隣接するテープ導体区域(100)のお互いの距離が、前記テープ導体(11,41,51,61,71)のテープ幅の10%より大きい、
限流器。 - 請求項7に記載の限流器において、前記テープ導体(11,41,51,61,71)が、コイル状、螺旋状、または蛇行体状の形状を有するような限流器。
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