JP5177633B2 - Material identification inspection apparatus and method - Google Patents
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Description
本発明は、X線により被検査物の材質識別を行う材質識別検査装置および方法に関する。 The present invention relates to a material identification inspection apparatus and method for performing material identification of an object to be inspected by X-rays.
税関や空港における手荷物検査等において、X線を被検査物に照射し、透過したX線の強度分布を画像化して内部の危険物(銃器等)を検出するX線検査装置が従来から広く用いられている。
さらに、近年になって、被検査物の材質を識別する手段が種々提案されている(例えば特許文献1〜4)。
Conventionally, X-ray inspection equipment that detects X-ray intensity distribution of transmitted X-rays and detects internal dangerous objects (firearms, etc.) in inspection of baggage at customs and airports has been widely used. It has been.
Furthermore, in recent years, various means for identifying the material of the inspection object have been proposed (for example, Patent Documents 1 to 4).
特許文献1の「材質特定X線検査装置」は、被測定物に含まれる対象物の元素を特定して、材質を特定することを目的とする。
そのため、この発明では、図6に模式的に示すように、予め元素が既知の対象物にX線を照射して、透過X線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを、照射X線のエネルギー別および元素別に求めて特性データとして特性データ格納手段(特性データメモリ50)に格納しておき、X線源(第1,2X線管52H,52L)からエネルギーの異なる2つのX線を被測定物51に照射し、各X線に対する透過X線を検出器(第1,2ラインセンサX線管56H,56L)で検出して検出出力レベルを求める。材質特定手段(画像メモリ54a,演算,比較回路54b,制御回路54c)は、特性データを用いて2つの検出出力レベルに対応する対象物の厚みを求め、厚みが一致する元素を求める。異なるX線エネルギーによる検出出力レベルに対する厚みの一致から、被測定物中に含まれる対象物の元素を特定し、被測定物の材質を特定するものである。
The “material-specific X-ray inspection apparatus” of Patent Document 1 is intended to specify an element of an object included in an object to be measured and specify a material.
Therefore, in the present invention, as schematically shown in FIG. 6, X-rays are irradiated to an object whose element is known in advance, and the characteristic data of the detected output of transmitted X-rays and the thickness of the object are expressed as irradiation X Two X-rays having different energies from the X-ray sources (first and
特許文献2の「内容物識別装置および内容物識別方法」は、容器,袋あるいは機器の中に存在する内容物を簡便にかつ正確に表示してその識別を行うことを目的とする。
そのため、この発明の装置は、X線透視画像信号を作成する手段、中性子画像信号を作成する手段、これらの信号を基にX線透視画像の中に中性子透視画像を合成して表示する手段からなるものである。
The “content identification device and content identification method” of
Therefore, the apparatus of the present invention comprises means for creating an X-ray fluoroscopic image signal, means for generating a neutron image signal, and means for synthesizing and displaying the neutron fluoroscopic image in the X-ray fluoroscopic image based on these signals. It will be.
特許文献3のX線CT装置は、端部効果によるアーチファクトを軽減し、診断能の高い再構成画像を得ることを目的とする。
そのため、この発明の装置は、図7に示すように、被検体60のある断面に、その周囲の多数の角度方向からX線源61によりX線を照射し、透過したX線を多数のX線検出素子を配列してなる多チャンネルX線検出器62で検出し、デジタルデータとして測定すると共に、測定したデジタルデータから被検体60の断面の像を再構成するX線CT装置において、計測したX線強度値であるデジタルデータあるいはそれに相当する値のうち、隣接する複数の値から補間操作によって1X線検出素子内を細分化した後、細分化したX線強度値のそれぞれをログ変換し、ログ変換した値の加重平均値を1X線検出素子でのX線吸収係数の線積分値あるいはそれに相当する値として出力する補正処理手段を具備し、補正処理手段の出力値を用いて画像再構成するものである。
The X-ray CT apparatus of
Therefore, as shown in FIG. 7, the apparatus of the present invention irradiates a cross section of a
特許文献4の「高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別する方法及びその装置」は、高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線による材料識別の方法と装置を提供することを目的とする。
そのため、この発明では、図8に模式的に示すように、(a)高速中性子源71及び連続エネルギー・スペクトルX線源74でそれぞれ産生された高速中性子ビーム72及び連続エネルギー・スペクトルX線ビーム75を被検対象77に照射する;(b)X線検出器アレー76及び中性子検出器アレー73にて、透過したX線ビーム75及び高速中性子ビーム72の強度を直接計測する;(c)被検対象77の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う;ステップを含む。高速中性子と連続エネルギー・スペクトルX線との透過減衰強度が異なるように構成され、被検対象の厚さと無関係に被検対象の等効原子番号Zとのみ関係するn−X曲線を利用して材料識別を行うものである。
An object of the “method and apparatus for identifying materials by fast neutrons and continuous energy spectrum X-rays” in Patent Document 4 is to provide a method and apparatus for identifying materials by fast neutrons and continuous energy spectrum X-rays.
Therefore, in the present invention, as schematically shown in FIG. 8, (a) a
上述した特許文献3のようなX線CT装置(X線断層撮影装置)では、検査対象物の周囲を180度回転させて対象物の断層データを取得し、これからコンピュータによって画像を再構築して二次元断面像を得ることができる。さらに内部にある物質を識別することもできる。
しかし、X線CT装置では、検査対象物の周囲、180度分のデータを取得する必要上X線と検出器を回転させるための回転機構を有するため、検査速度が遅い。さらにX線エネルギーもスペクトルが連続であるため、物質識別の精度が低かった。
In the X-ray CT apparatus (X-ray tomography apparatus) as in
However, since the X-ray CT apparatus has a rotation mechanism for rotating the X-ray and the detector around the inspection object, it is necessary to acquire data for 180 degrees, so the inspection speed is slow. Furthermore, since the spectrum of the X-ray energy is continuous, the accuracy of substance identification is low.
また、上述した特許文献1では、材質識別はできるが予め元素が既知の対象物に関して、X線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求めておく必要があり、特許文献2と特許文献4では、中性子ビームを用いた中性子透視画像が別途必要となる問題点があった。 Further, in Patent Document 1 described above, it is necessary to obtain characteristic data on the detection output of the X-ray and the thickness of the object with respect to the object whose element can be identified but whose element is already known. In Reference 4, there is a problem that a neutron fluoroscopic image using a neutron beam is separately required.
本発明は、上述した問題点を解決するために創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、税関や空港における手荷物検査等において、被検査物を連続的に検査して、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない材質識別検査装置および方法を提供することにある。 The present invention has been developed to solve the above-described problems. That is, it is an object of the present invention to continuously inspect an object to be inspected in customs or baggage inspection at an airport, etc., to identify the material in a short time, and to detect an X-ray detection output and an object in advance. It is an object of the present invention to provide a material identification inspection apparatus and method that do not require to obtain characteristic data on the thickness of the material.
本発明によれば、被検査物を内部に有する荷物を搬送する搬送装置と、
該荷物の搬送方向に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線を、同時又は時間をずらして照射するX線照射装置と、
前記荷物の複数の断面に対する複数の照射方向のそれぞれについて、透過X線強度分布を2以上のエネルギー領域に弁別して計測し記憶するX線計測装置と、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各断面の擬似断層像を作成する擬似断層像作成手段と、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各照射方向の透過像を作成する透過像作成手段と、
前記擬似断層像と前記透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去する偽画像除去手段と、
偽画像を除去した前記擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、前記被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する識別演算装置と、を備えたことを特徴とする材質識別検査装置が提供される。
According to the present invention, a transport device for transporting a load having an inspection object inside,
An X-ray irradiation apparatus that irradiates linear incident X-rays having a predetermined energy distribution at the same time or at different times from a plurality of irradiation directions orthogonal to the load carrying direction;
And X-ray measuring device for each of the radiation directions, to measure and discriminate the transmitted X-ray intensity distribution into two or more energy area storage for a plurality of cross-section of the cargo,
A pseudo tomographic image creating means for creating a pseudo tomographic image of each cross section from a transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections;
A transmission image creating means for creating a transmission image in each irradiation direction from a transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections;
A false image removing unit that combines the pseudo tomographic image and the transmission image, and removes the false image included in the pseudo tomographic image from the presence / absence information of the object by the transmission image;
With respect to the inspection object in the pseudo tomographic image from which the false image has been removed, the effective atomic number and electron density of the inspection object are calculated from the intensities of incident X-rays and transmission X-rays in two or more energy regions, and from this, There is provided a material identification inspection device comprising an identification operation device for identifying a material of an inspection object.
本発明の好ましい実施形態によれば、前記識別演算装置は、偽画像を除去した前記擬似断層像から、前記複数の照射方向の被検査物の厚さxを特定し、
前記2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度と前記厚さから、各エネルギー領域における2以上の減弱係数μを求め、
光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係から実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物の材質を識別する。
According to a preferred embodiment of the present invention, the identification calculation device specifies the thickness x of the inspection object in the plurality of irradiation directions from the pseudo tomographic image from which the false image is removed,
From the intensity of incident X-rays and transmitted X-rays in the two or more energy regions and the thickness, obtain an attenuation coefficient μ of two or more in each energy region,
The effective atomic number Z eff and the electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient, and the material of the object to be inspected is identified therefrom.
また本発明によれば、被検査物を内部に有する荷物を搬送し、
該荷物の搬送方向に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線を、同時又は時間をずらして照射し、
前記荷物の複数の断面に対する複数の照射方向のそれぞれについて、透過X線強度分布を2以上のエネルギー領域に弁別して計測し記憶し、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各断面の擬似断層像を作成し、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各照射方向の透過像を作成し、
前記擬似断層像と前記透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去し、
偽画像を除去した前記擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、前記被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する、ことを特徴とする材質識別検査方法が提供される。
Further, according to the present invention, a load having an inspection object inside is transported,
Irradiate linear incident X-rays having a predetermined energy distribution simultaneously or at different times from a plurality of irradiation directions orthogonal to the carrying direction of the luggage,
For each of a plurality of irradiation directions for a plurality of cross sections of the luggage , the transmitted X-ray intensity distribution is measured and stored in two or more energy regions,
From the transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections, a pseudo tomographic image of each cross section is created,
From the transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions for the plurality of cross-sections, create a transmission image in each irradiation direction,
Combining the pseudo tomogram and the transmission image, removing the false image included in the pseudo tomogram from the presence / absence information of the object by the transmission image,
With respect to the inspection object in the pseudo tomographic image from which the false image has been removed, the effective atomic number and electron density of the inspection object are calculated from the intensities of incident X-rays and transmission X-rays in two or more energy regions, and from this, There is provided a material identification inspection method characterized by identifying a material of an inspection object.
本発明の好ましい実施形態によれば、偽画像を除去した前記擬似断層像から、前記複数の照射方向の被検査物の厚さxを特定し、
前記2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度と前記厚さから、各エネルギー領域における2以上の減弱係数μを求め、
光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係から実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物の材質を識別する。
According to a preferred embodiment of the present invention, the thickness x of the inspection object in the plurality of irradiation directions is specified from the pseudo tomographic image from which the false image is removed,
From the intensity of incident X-rays and transmitted X-rays in the two or more energy regions and the thickness, obtain an attenuation coefficient μ of two or more in each energy region,
The effective atomic number Z eff and the electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient, and the material of the object to be inspected is identified therefrom.
上述した本発明の装置と方法によれば、搬送装置、X線照射装置およびX線計測装置により、被検査物を内部に有する荷物を搬送しながら、搬送方向に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線を、同時又は時間をずらして照射し、前記荷物の複数の断面に対する複数方向の透過X線強度分布を2以上のエネルギー領域に弁別して計測し記憶するので、被検査物を連続的に検査して、短時間に結果を得ることができる。 According to the apparatus and method of the present invention described above, while transporting a load having an object to be inspected by a transport device, an X-ray irradiation device, and an X-ray measurement device, from a plurality of irradiation directions orthogonal to the transport direction, Irradiate linear incident X-rays having a predetermined energy distribution simultaneously or at different times, and measure and store transmission X-ray intensity distributions in a plurality of directions with respect to a plurality of cross sections of the load into two or more energy regions. Therefore, the inspection object can be continuously inspected and the result can be obtained in a short time.
また、擬似断層像作成手段、透過像作成手段および偽画像除去手段により、前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各断面の擬似断層像と、前記各照射方向の透過像とを作成し、擬似断層像と透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去するので、検査速度を落とさずに偽画像を除去して、擬似断層像の検出精度を高めることができる。 Further, the pseudo tomographic image creating means, the transmission image creating means, and the pseudo image removing means are configured to obtain a pseudo tomographic image of each cross section from the transmission X-ray intensity distribution in the plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections, and each irradiation direction. Create a transmission image, combine the pseudo tomographic image and the transmission image, and remove the false image included in the pseudo tomographic image from the presence or absence information of the object by the transmission image, so remove the false image without slowing down the inspection speed, The detection accuracy of the pseudo tomogram can be improved.
さらに、識別演算装置により、偽画像を除去した前記擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、前記被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別するので、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない。 Furthermore, the effective atomic number and the electron of the inspection object are obtained from the intensities of incident X-rays and transmission X-rays in two or more energy regions with respect to the inspection object in the pseudo tomographic image from which the false image is removed by the identification arithmetic unit. Since the density is calculated and the material of the object to be inspected is identified from the density, the material can be identified in a short time, and there is no need to obtain characteristic data of the X-ray detection output and the thickness of the object in advance.
以下、本発明の好ましい実施形態を図面を参照して説明する。なお各図において、共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明は省略する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In each figure, common portions are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
はじめに本発明の原理について説明する。
図1は、本発明で使用するX線管とX線検出器のスペクトル図である。
この図において、横軸はX線のエネルギー、1はX線管から放射される入射X線の強度分布、2はエネルギー弁別機能付きX線検出器による入射X線の検出強度分布、3はある物質を透過した透過X線のX線検出器による検出強度分布である。
First, the principle of the present invention will be described.
FIG. 1 is a spectrum diagram of an X-ray tube and an X-ray detector used in the present invention.
In this figure, the horizontal axis is X-ray energy, 1 is the intensity distribution of incident X-rays emitted from the X-ray tube, 2 is the intensity distribution of incident X-rays detected by the X-ray detector with energy discrimination function, and 3 is It is a detection intensity distribution by the X-ray detector of the transmission X-ray which permeate | transmitted the substance.
この図から明らかなように、X線管から放射されるX線の強度分布1は、ある波長領域において、連続した連続X線である。
X線の波長は、約0.01〜100Å(10-12〜10-8m)程度であり、波長λ[Å]とX線エネルギーE[keV]との間には、式(1)の関係がある。
E=12.4/λ・・・(1)
従って、波長λ[Å]と光量子エネルギーE[keV]は1対1で対応している。
As is apparent from this figure, the intensity distribution 1 of X-rays emitted from the X-ray tube is continuous X-rays in a certain wavelength region.
The wavelength of the X-ray is about 0.01 to 100 Å (10 −12 to 10 −8 m), and between the wavelength λ [Å] and the X-ray energy E [keV], the equation (1) There is a relationship.
E = 12.4 / λ (1)
Therefore, there is a one-to-one correspondence between the wavelength λ [V] and the photon energy E [keV].
図1において、X線エネルギーE1,E2の2種の入射X線(強度I10,I20)を厚さxの物質に照射し、その透過X線の強度I1,I2を計測すると、以下の関係がある。
I1=I10exp(−μ1x)・・・(2a)
I2=I20exp(−μ2x)・・・(2b)
ここで、μ1,μ2はX線エネルギーE1,E2における減弱係数(又は線吸収係数)である。
In FIG. 1, two types of incident X-rays (intensities I 10 and I 20 ) of X-ray energies E 1 and E 2 are irradiated onto a substance having a thickness x, and the intensities I 1 and I 2 of the transmitted X-rays are measured. Then, there is the following relationship.
I 1 = I 10 exp (−μ 1 x) (2a)
I 2 = I 20 exp (−μ 2 x) (2b)
Here, μ 1 and μ 2 are attenuation coefficients (or linear absorption coefficients) in the X-ray energies E 1 and E 2 .
上記(2a)(2b)の式から、厚さxが既知であれば、入射X線(強度I10,I20)と透過X線強度(I1,I2)から減弱係数μ1,μ2を求めることができる。 From the above equations (2a) and (2b), if the thickness x is known, the attenuation coefficient μ 1 , μ is determined from the incident X-ray (intensities I 10 , I 20 ) and the transmitted X-ray intensity (I 1 , I 2 ). 2 can be obtained.
また、減弱係数μ1,μ2は、光電効果とコンプトン効果の和であり、以下の関係がある。
μ1=ρeZeff 4A1+ρeB1・・・(3a)
μ2=ρeZeff 4A2+ρeB2・・・(3b)
The attenuation coefficients μ 1 and μ 2 are the sum of the photoelectric effect and the Compton effect, and have the following relationship.
μ 1 = ρ e Z eff 4 A 1 + ρ e B 1 (3a)
μ 2 = ρ e Z eff 4 A 2 + ρ e B 2 (3b)
ここで、Zeffは物質の実効原子番号、ρeは物質の電子密度、A1,A2,B1,B2は、実効原子番号によって決まる比例定数である。
減弱係数μ1,μ2を実験的に求めることにより、上記式(3a)(3b)において、A1,A2,B1,B2は理論的に求まるため、2つの未知数Zeff,ρeを求めることができる。
Here, Z eff is the effective atomic number of the substance, ρ e is the electron density of the substance, and A 1 , A 2 , B 1 , and B 2 are proportional constants determined by the effective atomic number.
By experimentally determining the attenuation coefficients μ 1 and μ 2 , A 1 , A 2 , B 1 , and B 2 are theoretically determined in the above formulas (3a) and (3b), so two unknowns Z eff and ρ e can be obtained.
図2は、本発明による材質識別検査装置の第1実施形態を示す構成図である。この図において、本発明の材質識別検査装置10は、搬送装置12、X線照射装置14、X線計測装置16、擬似断層像作成手段18、透過像作成手段19、偽画像除去手段20及び識別演算装置22を備える。
FIG. 2 is a block diagram showing a first embodiment of the material identification inspection apparatus according to the present invention. In this figure, the material
搬送装置12は、例えばベルトコンベアであり、被検査物5を内部に有する荷物6(例えば旅行用ケース)を水平(この図でZ方向)に搬送する。
The
X線照射装置14は、荷物6の搬送方向(Z方向)に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線7を、同時又は時間をずらして照射する。入射X線7のエネルギー分布は、例えば図1に1で示した入射X線の連続した強度分布であるのがよい。
The
またこの例において、X線照射装置14は、垂直下向き、斜め上向き、及び斜め下向きに固定配置された3台のX線管15a,15b,15cであり、搬送方向に直交する断面内で荷物6に対し所定のエネルギー分布の入射X線7を線状かつ扇状に照射するようになっている。
なお、3台のX線管15a,15b,15cのZ方向位置は、この例では異なるが、同一の断面内に配置してもよい。
In this example, the
The X-direction positions of the three
X線計測装置16は、上述したエネルギー弁別機能付きX線検出器であり、荷物6の複数の断面に対する複数の照射方向(この例では3つの照射方向)のそれぞれについて、透過X線の強度分布I1,I2を2以上のエネルギー領域E1,E2に弁別して計測し、所定の記憶装置(例えばPCのハードディスク)に記憶する。
またこの例において、X線計測装置16は、3台のX線管15a,15b,15cに対向するように水平方向と垂直方向に固定配置された3台の線状検出器17a,17b,17cである。各線状検出器17a,17b,17cの分解能は高いほどよく、例えば、長さ1.2mの場合に、4mmピッチで256点の独立したX線検出器を備えることにより、X線管1台当たり256点の透過X線の強度分布I1,I2を同時に計測することができる。
The
In this example, the
擬似断層像作成手段18、透過像作成手段19、偽画像除去手段20及び識別演算装置22は、1台又は複数のコンピュータ(PC)で構成され、入力装置23(例えば、キーボード、マウス等)、出力装置24(例えば、画像表示装置、プリンタ等)および共通の記憶装置25(例えばハードディスク)を備える。
The pseudo tomographic image creating means 18, the transmission image creating means 19, the false
擬似断層像作成手段18は、複数の断面に対する複数(この例で3)の照射方向の透過X線強度分布I1,I2から、荷物6の各断面の擬似断層像を作成する。
透過像作成手段19は、複数の断面に対する複数(この例で3)の照射方向の透過X線強度分布から、各照射方向の荷物6の透過像を作成する。
偽画像除去手段20は、擬似断層像と透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去する。
The pseudo tomographic image creating means 18 creates a pseudo tomographic image of each cross section of the
The transmission image creating means 19 creates a transmission image of the
The false
識別演算装置22は、偽画像を除去した擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域E1,E2における入射X線7と透過X線の強度I10,I20、I1,I2から、被検査物5の実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物5の材質を識別する。
The
識別演算装置22は、偽画像を除去した擬似断層像から、複数(この例で3)の照射方向の被検査物の厚さxを特定する。この特定は、擬似断層像の画像から容易にできる。
次いで、2以上のエネルギー領域E1,E2における入射X線7と透過X線8の強度と厚さxから、上述した式(2a)(2b)により、各エネルギー領域E1,E2における2以上の減弱係数μ1,μ2を求める。
次に、光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係(上記(3a)(3b)の式)から、実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出する。被検査物5の材質は、実効原子番号Zeffと電子密度ρeから一般的に容易に特定でき識別が完了する。
The
Then, two or more energy region E 1, strength and thickness x of the
Next, the effective atomic number Z eff and the electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient (the expressions (3a) and (3b) above). The material of the inspected
図3は、本発明の材質識別検査方法を示す全体フロー図であり、図4は、本発明の方法の模式的説明図である。
図3に示すように、本発明の材質識別検査方法は、上述した装置を用い、搬送ステップS1、照射ステップS2、計測ステップS3、擬似断層像作成ステップS4、透過像作成ステップS5、偽画像除去ステップS6および材質識別ステップS7からなる。
FIG. 3 is an overall flowchart showing the material identification inspection method of the present invention, and FIG. 4 is a schematic explanatory view of the method of the present invention.
As shown in FIG. 3, the material identification inspection method of the present invention uses the above-described apparatus, and includes a transport step S1, an irradiation step S2, a measurement step S3, a pseudo tomographic image creation step S4, a transmission image creation step S5, and a false image removal. It consists of step S6 and material identification step S7.
搬送ステップS1では、例えばベルトコンベアにより被検査物5を内部に有する荷物6を水平に搬送する。図4(A)は、被検査物5が、直方体5a,5b、円柱5cおよび球5dである場合を示している、
In the transport step S1, the
照射ステップS2では、荷物6の搬送方向(Z方向)に直交する複数(この例で3)の照射方向から、所定のエネルギー分布1を有する線状の入射X線7を、同時又は時間をずらして照射する。
計測ステップS3では、荷物6の複数の断面(この例では4断面)に対する複数方向の透過X線の強度分布I1,I2を2以上のエネルギー領域E1,E2に弁別して計測し、所定の記憶装置(例えばPCのハードディスク)に記憶する。
In the irradiation step S2,
In the measurement step S3, the intensity distributions I 1 and I 2 of transmitted X-rays in a plurality of directions with respect to a plurality of cross sections (4 cross sections in this example) of the
擬似断層像作成ステップS4では、複数の断面(この例では4断面)に対する複数の照射方向の透過X線強度分布I1,I2から、各断面の擬似断層像を作成する。
この擬似断層像の作成手段は、従来のX線CT装置における断面像を再構成方法と同一である。しかし、本発明では、X線CT装置と相違し、X線照射装置14が固定されているため、X線計測装置16で得られる透過X線の強度分布I1,I2の点数が相対的に少なく(例えば、4mmピッチで256点×3=768点)、かつX線の照射方向も限られている。
そのため、図4(B)に示すように、擬似断層像作成ステップS4で得られる擬似断層像31は、被検査物5の正確な形状を再現することが難しく、被検査物5の周辺や被検査物5の存在しない位置に偽画像32を含む場合が多い。
In the pseudo tomographic image creation step S4, a pseudo tomographic image of each cross section is created from the transmitted X-ray intensity distributions I 1 and I 2 in a plurality of irradiation directions with respect to a plurality of cross sections (four cross sections in this example).
This pseudo tomographic image creating means is the same as the method for reconstructing a cross-sectional image in a conventional X-ray CT apparatus. However, in the present invention, unlike the X-ray CT apparatus, since the
Therefore, as shown in FIG. 4B, the pseudo
この偽画像32を含む擬似断層像31に基づき、後述する材質識別ステップS7で材質を識別すると、偽画像32により本来存在しないような材質を検出してしまい材質識別の精度が低下する可能性がある。
そこで、本発明では、透過像作成ステップS5において、複数の断面に対する複数(この例で3)の照射方向の透過X線強度分布I1,I2から、X線照射装置14による各照射方向の荷物6の透過像33を作成する。図4(C)に示すように、この透過像33は、直方体5a,5b、円柱5c、球5dにそれぞれ対応する透過像34a、34b、34c、34dからなる。透過像33は、荷物6を透過した透過X線8の強度分布そのままであるため、被検査物5の存在しない部分に偽画像は発生しない。
次いで、本発明では、偽画像除去ステップS6において、擬似断層像31と透過像33(34a、34b、34c、34d)を組み合わせ、透過像33による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像32を除去する。これにより、図4(D)に模式的に示すように、被検査物5の存在しない部分の偽画像をなくし、かつ被検査物5の周囲の偽画像も除去して被検査物5の断面形状をより正確に再現した擬似断層像31を得ることができる。
If a material is identified in the material identification step S7 described later based on the
Therefore, in the present invention, in the transmission image creation step S5, the transmission X-ray intensity distributions I 1 and I 2 in a plurality of (3 in this example) irradiation directions with respect to a plurality of cross-sections are measured in the respective irradiation directions. A
Next, in the present invention, in the false image removal step S6, the pseudo
材質識別ステップS7では、偽画像を除去した擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域E1,E2における入射X線7と透過X線の強度I10,I20、I1,I2から、被検査物5の実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物5の材質を識別する。
In the material identification step S7, the intensities of
図3において、材質識別ステップS7は、厚さ特定ステップS71、減弱係数算出ステップS72、実効原子番号・電子密度算出ステップS73、および材質識別ステップS74からなる。
厚さ特定ステップS71では、偽画像32を除去した擬似断層像31から、複数の方向の被検査物5の厚さxを特定する。この特定は、擬似断層像31から画像処理、又はマウス等を用いて容易にできる。
減弱係数算出ステップS72では、2以上のエネルギー領域における入射X線7と透過X線8の強度と被検査物5の厚さxから、各エネルギー領域E1,E2における2以上の減弱係数μ1,μ2を求める。
実効原子番号・電子密度算出ステップS73では、光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係から実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出する。
材質識別ステップS74では、実効原子番号Zeffと電子密度ρeから被検査物の材質を決定する。
In FIG. 3, the material identification step S7 includes a thickness identification step S71, an attenuation coefficient calculation step S72, an effective atomic number / electron density calculation step S73, and a material identification step S74.
In the thickness specifying step S71, the thickness x of the
In the attenuation coefficient calculation step S72, from the intensity of the
In the effective atomic number / electron density calculation step S73, the effective atomic number Z eff and the electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient.
In the material identification step S74, the material of the object to be inspected is determined from the effective atomic number Z eff and the electron density ρ e .
上述した本発明の装置と方法によれば、搬送装置12、X線照射装置14およびX線計測装置16により、被検査物5を内部に有する荷物6を搬送しながら、搬送方向に直交する複数の方向から、所定のエネルギー分布1を有する線状の入射X線7を、同時又は時間をずらして照射し、荷物6の複数の断面に対する複数方向の透過X線強度分布I1,I2を2以上のエネルギー領域E1,E2に弁別して計測し記憶するので、被検査物5を連続的に検査して、短時間に結果を得ることができる。
According to the above-described apparatus and method of the present invention, a plurality of devices orthogonal to the transport direction are transported by the
また、擬似断層像作成手段18、透過像作成手段19および偽画像除去手段20により、計測した各断面の擬似断層像31をその断面に対する複数方向の透過X線強度分布から作成し、複数の方向に対する荷物の透過像33を作成し、擬似断層像31と透過像33を組み合わせ、透過像33による物体の有無情報を追加して擬似断層像に含まれる偽画像32を除去するので、検査速度を落とさずに偽画像32を除去して、擬似断層像31の検出精度を高めることができる。
Further, the pseudo
さらに、識別演算装置22により、偽画像32を除去した擬似断層像31内の被検査物5に関して、2以上のエネルギー領域E1,E2における入射X線7と透過X線8の強度から、被検査物5の実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物5の材質を識別するので、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない。
Furthermore, regarding the inspected
すなわち、本発明は、X線を用いて複数方向からの透過X線の強度(又は強度分布)とX線のエネルギー弁別によって取得した情報を利用して、物質を正確に識別することができる。 That is, according to the present invention, a substance can be accurately identified by using X-rays and using information acquired by intensity (or intensity distribution) of transmitted X-rays from a plurality of directions and energy discrimination of X-rays.
図5は、本発明による材質識別検査装置の第2実施形態を示す構成図である。この図は、図2のZ方向から見た別の図である。この図において、本発明の材質識別検査装置10は、図2と同様に、搬送装置12、X線照射装置14、及びX線計測装置16と図示しない擬似断層像作成手段、透過像作成手段、偽画像除去手段及び識別演算装置を備える。図示しない擬似断層像作成手段、透過像作成手段、偽画像除去手段及び識別演算装置は、上述した第1実施形態における擬似断層像作成手段18、透過像作成手段19、偽画像除去手段20及び識別演算装置22と同一である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the material identification inspection apparatus according to the present invention. This figure is another figure seen from the Z direction of FIG. In this figure, the material
この例において、X線照射装置14は、荷物6を中心として互いに120°の周方向間隔で配置された3台のX線管15a,15b,15cであり、搬送方向に直交する同一断面内で被検査物5を内部に有する荷物6に対し所定のエネルギー分布1の入射X線7を線状かつ扇状に照射するようになっている。
In this example, the
またこの例において、X線検出装置16は、3台のX線管15a,15b,15cに対向するように互いに120°の周方向間隔で配置された3台の線状検出器17a,17b,17cであり、被検査物5を内部に有する荷物6を透過した線状のX線から2以上のエネルギー領域E1,E2の強度分布I1,I2を弁別して計測するようになっている。
第2実施形態では、同一の平面内に3組のX線照射装置14とX線検出装置16が配置されている点で、第1実施形態と相違する。その他の構成は第1実施形態と同様である。
In this example, the
The second embodiment is different from the first embodiment in that three sets of the
上述した構成により、3台のX線管15a,15b,15cと3台の線状検出器17a,17b,17cが、被検査物5およびその容器6を同一平面内で囲むことにより、3つの照射方向から、所定のエネルギー分布1の入射X線7を、同時又は時間をずらして照射し、透過した透過X線8から2以上のエネルギー領域E1,E2のX線強度I1,I2を弁別して計測するので、第1実施形態と比較して、計測時間を短縮することができる。なおその他の効果は、第1実施形態と同様である。
With the above-described configuration, the three
また、図5に示したX線照射装置14とX線計測装置16の構成を搬送方向(Z方向)に直交する断面内で、周方向に任意の角度範囲で揺動させて、同一断面に対して、6方向以上の多数の照射方向から線状の入射X線7を照射し透過した透過X線8を計測してもよい。
さらに、図5に示したX線照射装置14とX線計測装置16の構成をZ方向の異なる位置に周方向に角度をずらして複数設置して、同一断面に対して、6以上の多数の照射方向から線状の入射X線7を照射し透過した透過X線8を計測してもよい。
これらの手段によっても、第1実施形態と同様に、被検査物を連続的に検査して、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がないという効果が得られる。
In addition, the configurations of the
Further, a plurality of configurations of the
Also by these means, as in the first embodiment, it is possible to inspect the inspection object continuously, identify the material in a short time, and to detect the X-ray detection output and the thickness of the object in advance. It is possible to obtain an effect that it is not necessary to obtain the characteristic data.
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々に変更することができることは勿論である。 In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, Of course, it can change variously in the range which does not deviate from the summary of this invention.
1 入射X線の強度分布、
2 入射X線の検出強度分布、
3 透過X線の検出強度分布、
5 被検査物、6 荷物、7 入射X線、8 透過X線、
10 材質識別検査装置、12 搬送装置、
14 X線照射装置、15a,15b,15c X線管、
16 X線検出装置、17a,17b,17c 線状検出器、
18 擬似断層像作成手段、19 透過像作成手段、
20 偽画像除去手段、22 識別演算装置、
23 入力装置、24 出力装置、25 記憶装置、
31 擬似断層像、32 偽画像、33 透過像
1 Incident X-ray intensity distribution,
2 Incident X-ray detection intensity distribution,
3 Detection intensity distribution of transmitted X-ray,
5 inspection object, 6 luggage, 7 incident X-ray, 8 transmitted X-ray,
10 material identification inspection device, 12 transport device,
14 X-ray irradiation device, 15a, 15b, 15c X-ray tube,
16 X-ray detectors, 17a, 17b, 17c linear detectors,
18 pseudo tomographic image creation means, 19 transmission image creation means,
20 fake image removal means, 22 identification calculation device,
23 input devices, 24 output devices, 25 storage devices,
31 pseudo tomographic image, 32 pseudo image, 33 transmission image
Claims (4)
該荷物の搬送方向に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線を、同時又は時間をずらして照射するX線照射装置と、
前記荷物の複数の断面に対する複数の照射方向のそれぞれについて、透過X線強度分布を2以上のエネルギー領域に弁別して計測し記憶するX線計測装置と、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各断面の擬似断層像を作成する擬似断層像作成手段と、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各照射方向の透過像を作成する透過像作成手段と、
前記擬似断層像と前記透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去する偽画像除去手段と、
偽画像を除去した前記擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、前記被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する識別演算装置と、を備えたことを特徴とする材質識別検査装置。 A transport device for transporting a load having an inspection object inside;
An X-ray irradiation apparatus that irradiates linear incident X-rays having a predetermined energy distribution at the same time or at different times from a plurality of irradiation directions orthogonal to the load carrying direction;
And X-ray measuring device for each of the radiation directions, to measure and discriminate the transmitted X-ray intensity distribution into two or more energy area storage for a plurality of cross-section of the cargo,
A pseudo tomographic image creating means for creating a pseudo tomographic image of each cross section from a transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections;
A transmission image creating means for creating a transmission image in each irradiation direction from a transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections;
A false image removing unit that combines the pseudo tomographic image and the transmission image, and removes the false image included in the pseudo tomographic image from the presence / absence information of the object by the transmission image;
With respect to the inspection object in the pseudo tomographic image from which the false image has been removed, the effective atomic number and electron density of the inspection object are calculated from the intensities of incident X-rays and transmission X-rays in two or more energy regions, and from this, A material identification inspection device comprising: an identification operation device for identifying a material of an inspection object.
前記2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度と前記厚さから、各エネルギー領域における2以上の減弱係数μを求め、
光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係から実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物の材質を識別する、ことを特徴とする請求項1に記載の材質識別検査装置。 The identification calculation device identifies the thickness x of the object to be inspected in the plurality of irradiation directions from the pseudo tomographic image from which the false image is removed,
From the intensity of incident X-rays and transmitted X-rays in the two or more energy regions and the thickness, obtain an attenuation coefficient μ of two or more in each energy region,
The material identification inspection apparatus according to claim 1, wherein an effective atomic number Z eff and an electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient, and the material of the object to be inspected is identified from the effective atomic number Z eff. .
該荷物の搬送方向に直交する複数の照射方向から、所定のエネルギー分布を有する線状の入射X線を、同時又は時間をずらして照射し、
前記荷物の複数の断面に対する複数の照射方向のそれぞれについて、透過X線強度分布を2以上のエネルギー領域に弁別して計測し記憶し、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各断面の擬似断層像を作成し、
前記複数の断面に対する複数の照射方向の透過X線強度分布から、前記各照射方向の透過像を作成し、
前記擬似断層像と前記透過像を組み合わせ、透過像による物体の有無情報から擬似断層像に含まれる偽画像を除去し、
偽画像を除去した前記擬似断層像内の被検査物に関して、2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度から、前記被検査物の実効原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する、ことを特徴とする材質識別検査方法。 Carrying luggage with the inspection object inside,
Irradiate linear incident X-rays having a predetermined energy distribution simultaneously or at different times from a plurality of irradiation directions orthogonal to the carrying direction of the luggage,
For each of a plurality of irradiation directions for a plurality of cross sections of the luggage , the transmitted X-ray intensity distribution is measured and stored in two or more energy regions,
From the transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions with respect to the plurality of cross sections, a pseudo tomographic image of each cross section is created,
From the transmission X-ray intensity distribution in a plurality of irradiation directions for the plurality of cross-sections, create a transmission image in each irradiation direction,
Combining the pseudo tomogram and the transmission image, removing the false image included in the pseudo tomogram from the presence / absence information of the object by the transmission image,
With respect to the inspection object in the pseudo tomographic image from which the false image has been removed, the effective atomic number and electron density of the inspection object are calculated from the intensities of incident X-rays and transmission X-rays in two or more energy regions, and from this, A material identification inspection method characterized by identifying a material of an inspection object.
前記2以上のエネルギー領域における入射X線と透過X線の強度と前記厚さから、各エネルギー領域における2以上の減弱係数μを求め、
光電効果、コンプトン効果及び減弱係数の関係から実効原子番号Zeffと電子密度ρeを算出し、これから被検査物の材質を識別する、ことを特徴とする請求項3に記載の材質識別検査方法。 From the pseudo tomographic image from which the false image is removed, the thickness x of the inspection object in the plurality of irradiation directions is specified,
From the intensity of incident X-rays and transmitted X-rays in the two or more energy regions and the thickness, obtain an attenuation coefficient μ of two or more in each energy region,
4. The material identification inspection method according to claim 3, wherein the effective atomic number Z eff and the electron density ρ e are calculated from the relationship between the photoelectric effect, the Compton effect, and the attenuation coefficient, and the material of the inspection object is identified from the effective atomic number Z eff. .
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