JP5150370B2 - Mass spectrometry system and mass spectrometry method - Google Patents

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Description

本発明は質量分析システムおよび質量分析方法に係わり、質量分析により得られたスペクトルを用いて同定を行う技術に関する。   The present invention relates to a mass spectrometry system and a mass spectrometry method, and relates to a technique for performing identification using a spectrum obtained by mass spectrometry.

一般的な質量分析方法では、対象となる試料をイオン化して、それらのイオンを質量分析装置へ送る。質量分析装置では、送られてきたイオンに対して質量(m)と価数(z)の比からなる質量対電荷比(m/z)ごとにイオン強度を測定する。この結果として、横軸がm/z、縦軸がイオン強度からなるマススペクトルを得ることができる。   In a general mass spectrometry method, a target sample is ionized and the ions are sent to a mass spectrometer. In the mass spectrometer, the ion intensity is measured for each mass-to-charge ratio (m / z) comprising the ratio of mass (m) to valence (z) with respect to the transmitted ions. As a result, a mass spectrum in which the horizontal axis is m / z and the vertical axis is ionic strength can be obtained.

試料中に含まれる各成分は、質量分析装置で測定された結果、マススペクトル上においてイオン強度のピークとして出現する。試料中に複数の成分が含まれる場合、マススペクトル上には複数のピークが出現する。これらのピークにおいて重心点を求める処理はセントロイド化と呼ばれ、一般的にこの重心点をピークに対応する試料成分の質量数とされる。   Each component contained in the sample appears as a peak of ionic strength on the mass spectrum as a result of being measured by the mass spectrometer. When a sample contains a plurality of components, a plurality of peaks appear on the mass spectrum. The process of obtaining the centroid point at these peaks is called centroiding, and this centroid point is generally used as the mass number of the sample component corresponding to the peak.

質量分析方法には、試料をイオン化しそのまま測定するMS分析法と試料をイオン化し測定したあと、ある特定のイオンを選択して解離させ生成したイオンを測定するタンデム質量分析法がある。タンデム質量分析法において解離の対象となるイオンを親イオンと呼ぶ。タンデム質量分析法では、解離させたイオンから更に親イオンを選択して解離させて生成したイオンを質量分析するといったように、多段に解離と質量分析を行う機能がある。以降、n段目の質量分析をMSnと呼ぶ。タンデム質量分析法は、試料の質量数情報のほかに試料の構造情報を取得することを目的として実施される。タンデム質量分析を行った結果をデータベースと照合することにより試料中に含まれる成分の同定を行うことが可能となる。 As the mass spectrometry method, there are an MS analysis method in which a sample is ionized and measured as it is, and a tandem mass spectrometry method in which a specific ion is selectively dissociated and then generated ions are measured after the sample is ionized and measured. In tandem mass spectrometry, ions that are the targets of dissociation are called parent ions. Tandem mass spectrometry has a function of performing dissociation and mass analysis in multiple stages, such as mass analysis of ions generated by further selecting and dissociating a parent ion from dissociated ions. Hereinafter, the n-th stage mass spectrometry is referred to as MS n . Tandem mass spectrometry is carried out for the purpose of acquiring sample structure information in addition to sample mass number information. By comparing the result of tandem mass spectrometry with the database, it becomes possible to identify the components contained in the sample.

タンパク質や糖などの生体試料のように様々な成分を多く含む試料に対しては、クロマトグラフと質量分析装置を組み合わせたシステムが多用される。クロマトグラフにおいて物質のカラムへの吸着度の違い等から試料中の成分が時間的に分離されることにより,質量分析装置では分離が困難なイオン種の分離が可能となる。   A system that combines a chromatograph and a mass spectrometer is often used for a sample containing a large amount of various components such as a biological sample such as protein or sugar. In the chromatograph, the components in the sample are separated in time due to the difference in the degree of adsorption of substances on the column, etc., so that it is possible to separate ion species that are difficult to separate with a mass spectrometer.

クロマトグラフを使用した質量分析では、クロマトグラフで試料の分離を開始してからすべての試料がクロマトグラフから流出するまでの間、質量分析装置において質量分析やタンデム質量分析を繰り返し実施する。分析の対象とする試料が既知である場合、タンデム質量分析を行うイオンの質量数を直接指定することが可能である。しかしながら、対象が未知試料である場合は、一度質量分析を行い、タンデム質量分析を行うイオンを選定することが必須であり、質量分析とタンデム質量分析を1回のセッションとして繰り返す手法がとられる。   In mass spectrometry using a chromatograph, mass spectrometry and tandem mass spectrometry are repeatedly performed in a mass spectrometer from the start of sample separation in the chromatograph until all the samples flow out of the chromatograph. When the sample to be analyzed is known, it is possible to directly specify the mass number of the ion to be subjected to tandem mass spectrometry. However, if the target is an unknown sample, it is essential to perform mass analysis once and select ions for tandem mass analysis, and a method of repeating mass analysis and tandem mass analysis as one session is used.

未知試料に対する同定を目的とした質量分析とタンデム質量分析の手法に関して、例えば、特許文献1及び特許文献2が挙げられる。
(1)特許文献1では、データベースを利用することでタンデム質量分析を優先的に行うイオンとタンデム質量分析が不必要なイオンを選定する手法について述べられている。
(2)特許文献2では、質量分析したマススペクトルの取得後に内部データベースを検索し、親イオン候補数等に応じて親イオンを幾つかのグループに分類して、グループ毎にタンデム質量分析を行う手法について述べられている。
Regarding techniques of mass spectrometry and tandem mass spectrometry for the purpose of identifying an unknown sample, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2 can be cited.
(1) Patent Document 1 describes a technique for selecting ions that preferentially perform tandem mass spectrometry and ions that do not require tandem mass spectrometry by using a database.
(2) In Patent Document 2, an internal database is searched after obtaining a mass spectrum obtained by mass analysis, and parent ions are classified into several groups according to the number of parent ion candidates and the like, and tandem mass spectrometry is performed for each group. The method is described.

特開2004−71420号公報JP 2004-71420 A 特開2007−46966号公報JP 2007-46966 A

未知試料に対してそこに含まれる成分の同定を目的とした場合、1回の測定、すなわちクロマトグラフで試料が流出し始めてから終わるまでの間に多くの成分についての構造情報を取得することが同定の精度を上げるうえで望ましい。そのため、特許文献1のような、同定をする上で意味のある成分イオンを選択的にタンデム質量分析を実施する手法や、特許文献2のような多くの成分イオンを高効率でタンデム質量分析を実施する手法が考案されている。   For the purpose of identifying the components contained in an unknown sample, it is possible to obtain structural information about many components during a single measurement, that is, from the start to the end of the sample flow through the chromatograph. It is desirable to increase the accuracy of identification. Therefore, a technique for selectively performing tandem mass spectrometry on component ions that are meaningful in identification, such as Patent Document 1, and a high-efficiency tandem mass analysis for many component ions, such as Patent Document 2. Techniques to implement have been devised.

試料中に含まれる成分に対して多くの構造情報を取得するためには、測定中に構造情報を得ることができるタンデム質量分析の回数を増加させることが大きな要因となっている。しかしながら、従来、未知の試料に対してタンデム質量分析を行うには、事前に質量分析を行い、タンデム質量分析のためのイオンの選定を実施することが必要である。クロマトグラフを使用した試料の測定では、通常、数時間を要し、その間に数千回の質量分析とタンデム質量分析が実施されることとなり、測定全体に対する質量分析のために要する時間も大きい。すなわち、タンデム質量分析を実施するにあたり事前に質量分析を実施する必要性が、測定におけるタンデム質量分析の回数を増加させる上での課題となっている。   In order to acquire a lot of structural information for components contained in a sample, increasing the number of tandem mass spectrometry that can obtain structural information during measurement is a major factor. However, conventionally, in order to perform tandem mass spectrometry on an unknown sample, it is necessary to perform mass analysis in advance and select ions for tandem mass spectrometry. The measurement of a sample using a chromatograph usually requires several hours, and during that time, thousands of mass analysis and tandem mass analysis are performed, and the time required for mass analysis of the entire measurement is large. That is, the necessity of performing mass spectrometry in advance for performing tandem mass spectrometry is a problem in increasing the number of tandem mass spectrometry in measurement.

本発明では、1測定におけるタンデム質量分析の回数が増加する質量分析システムの提供を1つの目的とする。   An object of the present invention is to provide a mass spectrometry system in which the number of tandem mass analyzes in one measurement is increased.

本発明では、試料の分離手段と質量分析装置から構成される質量分析システムにおいて、既に得られている質量分析のマススペクトルから、そこに出現している各ピークの強度変化を予測することで、タンデム質量分析の回数を決定することを1つの特徴とする。   In the present invention, in the mass spectrometry system composed of the sample separation means and the mass spectrometer, by predicting the intensity change of each peak appearing from the mass spectrum of the mass spectrometry already obtained, One feature is determining the number of tandem mass analyses.

本発明によれば、1測定中におけるタンデム質量分析の回数が増加することにより、試料における成分の多くの構造情報を取得可能となり、同定の精度が向上する。   According to the present invention, by increasing the number of tandem mass analyzes during one measurement, it is possible to acquire a lot of structural information of components in a sample, and the accuracy of identification is improved.

以下に本発明の実施例を示す。   Examples of the present invention are shown below.

図1に、本発明における第1の実施形態を適用する質量分析システムを示す。図1のシステムは、未知の試料に対して質量分析を行うことで試料中に含まれる成分を同定することを目的としたシステムであり、入力部1,表示部2,データ処理部3,制御部4,試料分離部5,イオン化部6,質量分析部7,イオン検出部8およびデータベース9を備える。   FIG. 1 shows a mass spectrometry system to which the first embodiment of the present invention is applied. The system in FIG. 1 is a system for identifying components contained in a sample by performing mass spectrometry on an unknown sample, and includes an input unit 1, a display unit 2, a data processing unit 3, and a control. 4, a sample separation unit 5, an ionization unit 6, a mass analysis unit 7, an ion detection unit 8, and a database 9.

図1では、まず分析の対象となる未知試料を試料分離部5に導入する。試料分離部5では、未知試料中の成分を時間的に分離を行う。試料分離を行う装置としては液体クロマトグラフ(LC)やガスクロマトグラフ(LC)などを適用することが望ましい。   In FIG. 1, first, an unknown sample to be analyzed is introduced into the sample separation unit 5. The sample separation unit 5 temporally separates components in the unknown sample. It is desirable to apply a liquid chromatograph (LC), a gas chromatograph (LC) or the like as an apparatus for performing sample separation.

分離が行われた試料は、イオン化部6においてイオン化が行われる。イオン化の方法には、エレクトロスプレーイオン化(ESI),大気圧化学イオン化(APCI)、電子イオン化(EI)や化学イオン化(CI)などが考えられ、分析の対象とする試料や分析の目的に応じたイオン化法が選択される。   The sample that has been separated is ionized in the ionization section 6. Ionization methods include electrospray ionization (ESI), atmospheric pressure chemical ionization (APCI), electron ionization (EI), and chemical ionization (CI), depending on the sample to be analyzed and the purpose of the analysis. An ionization method is selected.

イオン化が行われた試料中の成分は、質量分析部7にてイオンの質量対電荷比(m/z)に応じて分離される。ここで、mはイオン質量、zはイオンの帯電価数である。質量分析部には、様々な質量分析装置が適用可能であるが、四重極型質量分析装置,イオントラップ型質量分析装置などのタンデム質量分析が可能な質量分析装置が望ましい。質量分析方法には、試料をイオン化してそのまま分析する方法(MS)の他に、特定の試料イオン(親イオン)を質量選択して、それを解離して生成した解離イオンを質量分析するタンデム質量分析法(MS2)がある。タンデム質量分析法では、解離したイオンの中から更に親イオンを選択して解離,質量分析を行うといったように、解離,質量分析を多段(MSn)に行う場合もある。タンデム質量分析を行うことで親イオンの分子構造情報を取得され、この情報を利用して未知試料の同定が行われる。 The components in the ionized sample are separated by the mass analyzer 7 according to the ion mass-to-charge ratio (m / z). Here, m is the ion mass, and z is the charge valence of the ion. Various mass spectrometers can be applied to the mass analyzer, but a mass spectrometer capable of tandem mass analysis, such as a quadrupole mass spectrometer and an ion trap mass spectrometer, is desirable. In addition to the method (MS) in which a sample is ionized and analyzed as it is, the mass spectrometric method includes a tandem that selects a specific sample ion (parent ion) by mass and dissociates it to generate dissociated ions. There is mass spectrometry (MS 2 ). In tandem mass spectrometry, dissociation and mass analysis may be performed in multiple stages (MS n ), such as dissociation and mass analysis by further selecting a parent ion from the dissociated ions. The molecular structure information of the parent ion is acquired by performing tandem mass spectrometry, and the unknown sample is identified using this information.

親イオンの解離方法としては衝突解離(Collision Induced Dissociation)法や電子捕獲解離(Electron Capture Dissociation)法などがある。衝突解離法はヘリウムなどのバッファーガスをイオンに衝突させて解離する方法であり、電子捕解離法は、低エネルギーの電子を照射し、親イオンに多量に低エネルギー電子を捕獲させることにより解離する方法である。   Examples of parent ion dissociation methods include a collision induced dissociation method and an electron capture dissociation method. The collision dissociation method is a method in which a buffer gas such as helium collides with ions to dissociate, and the electron capture / dissociation method dissociates by irradiating low energy electrons and capturing a large amount of low energy electrons in the parent ion. Is the method.

質量分析部7において分離されたイオンはイオン検出部8にて検出され、データ処理部3にて検出したデータの処理と解析が実施される。解析された結果は、マススペクトルとして表示部2にて表示される。試料を分離し、イオンとして検出し、マススペクトルとして表示するという一連の分析過程は、制御部4にて制御される。また、ユーザーが分析処理や装置を制御するためのインターフェースとして入力部1を備える。   The ions separated in the mass analysis unit 7 are detected by the ion detection unit 8, and processing and analysis of the data detected by the data processing unit 3 are performed. The analyzed result is displayed on the display unit 2 as a mass spectrum. A series of analysis processes of separating the sample, detecting it as ions, and displaying it as a mass spectrum is controlled by the control unit 4. Further, the input unit 1 is provided as an interface for the user to control the analysis process and the apparatus.

データ処理部3では、取得したマススペクトルに対してノイズ除去,ピーク判定、及び同位体ピーク除去等の後処理を実施する。このように得られたマススペクトルをデータベース9の情報と照合することにより、試料中に含まれる成分が同定される。   The data processing unit 3 performs post-processing such as noise removal, peak determination, and isotope peak removal on the acquired mass spectrum. By comparing the mass spectrum obtained in this way with the information in the database 9, components contained in the sample are identified.

試料の同定に使用するデータベース9は、既知試料のマススペクトルが蓄えられたデータベースである。インターネット上で公開されているデータベースなどが用いられる。   A database 9 used for sample identification is a database in which mass spectra of known samples are stored. A database published on the Internet is used.

図2に、タンデム質量分析による未知試料中の成分を同定する場合の一般的な処理フローを示す。図2の処理フローは、試料導入10,試料分離11,イオン化12,質量分析(MS)13,親イオンの解離14,質量分析(MS2)15により構成される。まず、同定の対象となる未知試料に対して試料導入10を行い、試料分離11を実施する。試料中の成分は、LCやGCなどのクロマトグラフにより時間ごとに分離され、時間ごとにクロマトグラフから流出する。クロマトグラフから送られてくる成分は、順次イオン化12される。その後、イオン化12されて送られてくる試料成分に対して、質量分析(MS)13,親イオンの解離14,質量分析(MS2)15という一連の処理を繰り返し実施する。まず、質量分析(MS)13を行うことにより、試料中に含まれる成分を分析し、親イオンの選択を行う。親イオンの選択は、イオン強度が大きいものを選択する方法が一般的に用いられる。その他、一度、解離を行ったイオンを選択除外するなどの方法が用いられ場合もある。次に親イオンとして選択されたイオンを解離し、解離により生成したイオンを、質量分析(MS2)15する。質量分析(MS2)15により得られたマススペクトル(MS2スペクトル)は親イオンの分子構造情報を有しており、試料中に含まれる各成分の同定に使用されるものである。質量分析(MS)13,親イオンの解離14,質量分析(MS2)15の処理を繰り返し実施することで、未知試料中の様々な成分に対してMS2スペクトルを取得し試料情報として蓄積する。一般に、質量分析(MS)13に要する時間及び親イオンの解離14を行い質量分析(MS2)15を実施するのに要する時間は、それぞれ0.5〜2.0秒程度である。一方、試料の分析を行う場合において試料がクロマトグラムから流出し終えるまでの時間は、LCやGCの試料分離部5における装置条件等に依存するが、一般的に要する時間は数時間程度となり、クロマトグラムより試料が流出し終える間に質量分析(MS)13から質量分析(MS2)15の一連の処理は数千回繰り返されることとなる場合が多い。このようにして取得したMS2スペクトルをデータベース9と照合することで未知試料中に含まれる成分の同定が行われることとなる。 FIG. 2 shows a general processing flow for identifying a component in an unknown sample by tandem mass spectrometry. The processing flow of FIG. 2 includes a sample introduction 10, a sample separation 11, an ionization 12, a mass analysis (MS) 13, a dissociation 14 of a parent ion, and a mass analysis (MS 2 ) 15. First, sample introduction 10 is performed on an unknown sample to be identified, and sample separation 11 is performed. The components in the sample are separated by time by a chromatograph such as LC or GC, and flow out of the chromatograph every time. The components sent from the chromatograph are sequentially ionized 12. Thereafter, a series of processes of mass analysis (MS) 13, parent ion dissociation 14, and mass analysis (MS 2 ) 15 are repeatedly performed on the sample components that are ionized and sent. First, by performing mass spectrometry (MS) 13, the components contained in the sample are analyzed, and the parent ion is selected. For the selection of the parent ion, a method of selecting one having a high ionic strength is generally used. In addition, there are cases where methods such as selective exclusion of ions once dissociated are used. Next, ions selected as parent ions are dissociated, and ions generated by the dissociation are subjected to mass spectrometry (MS 2 ) 15. The mass spectrum (MS 2 spectrum) obtained by mass spectrometry (MS 2 ) 15 has the molecular structure information of the parent ion, and is used for identification of each component contained in the sample. By repeatedly performing the processes of mass spectrometry (MS) 13, dissociation of parent ions 14, and mass analysis (MS 2 ) 15, MS 2 spectra are acquired for various components in the unknown sample and accumulated as sample information. . In general, the time required for the mass analysis (MS) 13 and the time required for performing the mass analysis (MS 2 ) 15 by performing the dissociation 14 of the parent ion are about 0.5 to 2.0 seconds, respectively. On the other hand, in the case of analyzing the sample, the time until the sample finishes flowing out of the chromatogram depends on the apparatus conditions in the sample separation unit 5 of LC or GC, but generally the time required is about several hours, In many cases, a series of processes from mass spectrometry (MS) 13 to mass spectrometry (MS 2 ) 15 is repeated thousands of times while the sample has finished flowing out of the chromatogram. By collating the MS 2 spectrum acquired in this way with the database 9, the components contained in the unknown sample are identified.

図3に、本発明の第一の実施例における質量分析フローの概略図を示す。本発明の第一の実施例の処理フローは、主には、試料導入10,試料分離11,イオン化12,質量分析(MS)13,MS2回数の決定16,親イオンの解離14,質量分析(MS2)15、および所定回数終了判定17により構成される。本発明の第一の実施例の主な特徴は、質量分析(MS)13を行った後に、MS2回数の決定16の処理を備える点である。以下に本発明の第一の実施例による処理フローの詳細を示す。 In FIG. 3, the schematic of the mass spectrometry flow in the 1st Example of this invention is shown. The processing flow of the first embodiment of the present invention mainly includes sample introduction 10, sample separation 11, ionization 12, mass analysis (MS) 13, determination of MS 2 times 16, dissociation of parent ions 14, and mass analysis. (MS 2 ) 15 and a predetermined number of times end determination 17. The main feature of the first embodiment of the present invention is that it comprises the process of determining 16 times of MS 2 after performing mass spectrometry (MS) 13. Details of the processing flow according to the first embodiment of the present invention will be described below.

まず、同定の対象となる未知試料に対して試料導入10を行い、試料分離11を実施する。クロマトグラムにより分離された試料中の成分に対してイオン化を行い、質量分析(MS)13を実施する。ここで、本発明では、質量分析(MS)13して得られたマススペクトルから、この後に実施する親イオンの解離14と質量分析(MS2)15を行う回数、およびその際に解離を行う親イオンの決定を行う。以下、この親イオンの解離14と質量分析(MS2)15の一連の処理をMS2分析と呼ぶこととする。この処理において決定された回数、MS2分析を実施し、所定回数が終了した場合に再び、質量分析(MS)13の処理を行う。クロマトグラムより試料が流出する間この処理を繰り返し、MS2スペクトルを蓄積させる。このように、質量分析(MS)13の後にMS2回数の決定16により実施するMS2分析の回数を決定することで、1回の質量分析(MS)13に対して複数回数のMS2分析を実施される。これにより、従来の処理フローに比べてクロマトグラフより試料が流出する間に行う質量分析(MS)13が減少し、MS2分析の回数が増加することとなる。結果として、従来処理フローに比べて、多くのMS2スペクトルを取得することが可能となり、データベース9を用いて同定を行った際に精度の向上や同定する成分数の向上に繋がる。MS2回数の決定16では、MS2分析を行うべき最適な回数を決定する。 First, sample introduction 10 is performed on an unknown sample to be identified, and sample separation 11 is performed. Ionization is performed on the components in the sample separated by the chromatogram, and mass spectrometry (MS) 13 is performed. Here, in the present invention, from the mass spectrum obtained by mass spectrometry (MS) 13, the number of parent ion dissociation 14 and mass analysis (MS 2 ) 15 to be performed later, and the dissociation at that time are performed. Determine the parent ion. Hereinafter, a series of processes of dissociation 14 of parent ions and mass spectrometry (MS 2 ) 15 will be referred to as MS 2 analysis. The MS 2 analysis is performed for the number of times determined in this process, and when the predetermined number of times is completed, the process of the mass spectrometry (MS) 13 is performed again. This process is repeated while the sample flows out of the chromatogram, and the MS 2 spectrum is accumulated. In this way, by determining the number of MS 2 analyzes to be performed by the determination 16 of the number of MS 2 after the mass analysis (MS) 13, a plurality of times of MS 2 analysis is performed for one mass analysis (MS) 13. Will be implemented. Thereby, compared with the conventional process flow, the mass analysis (MS) 13 performed while a sample flows out from a chromatograph decreases, and the number of times of MS 2 analysis increases. As a result, more MS 2 spectra can be acquired than in the conventional processing flow, which leads to an improvement in accuracy and an increase in the number of components to be identified when identification is performed using the database 9. In the MS 2 times determination 16, the optimum number of times to perform the MS 2 analysis is determined.

図4に、本発明の第一の実施例におけるMS2回数決定のフローの概略図を示す。MS2回数の決定16は、ピーク抽出処理18,ピーク強度変化計算19,MS2回数決定20,ピーク情報データベース21から成る。ピーク抽出処理18では、質量分析(MS)を行うことで得られたマススペクトルに対してピーク判定処理を実施する。ピーク判定においては、前処理としてスムージングなどのノイズ除去を行うことが望ましい。ピーク判定後は、同位体ピークを除き、主同位体ピークのみを抽出する。結果として、m/zとイオン強度と保持時間から成るピークリストが生成される。 FIG. 4 shows a schematic diagram of the flow of determining the MS 2 times in the first embodiment of the present invention. The MS 2 frequency determination 16 includes a peak extraction process 18, a peak intensity change calculation 19, an MS 2 frequency determination 20, and a peak information database 21. In the peak extraction process 18, a peak determination process is performed on a mass spectrum obtained by performing mass spectrometry (MS). In peak determination, it is desirable to perform noise removal such as smoothing as preprocessing. After peak determination, only the main isotope peak is extracted except for the isotope peak. As a result, a peak list consisting of m / z, ionic strength, and retention time is generated.

図5に、本発明の第一の実施例におけるピークリストの説明図を示す。ピークリストには、符号22で示すピークリストピークNo.に、それぞれ対応した、符号23で示すピークリストm/zと、符号24で示すピークリストイオン強度、符号25で示すピークリスト保持時間(分)が示される。ピークリスト保持時間(分)25は、試料分離11の開始時間から質量分析(MS)13が実施されるまでの時間であり、同じ質量分析(MS)13で得られたピークにおいては等しい値となる。ピークリストの内容は、ピーク情報としてピーク情報データベース21へ登録する。ピーク情報データベース21には、過去に質量分析(MS)を行った際に得られたピーク情報が保存されることとなる。   FIG. 5 is an explanatory diagram of the peak list in the first embodiment of the present invention. The peak list includes a peak list m / z indicated by reference numeral 23, a peak list ion intensity indicated by reference numeral 24, and a peak list holding time indicated by reference numeral 25 (minutes) corresponding to the peak list peak No. indicated by reference numeral 22, respectively. ) Is displayed. The peak list retention time (minutes) 25 is the time from the start time of the sample separation 11 to the time when the mass analysis (MS) 13 is performed, and is equal in the peaks obtained by the same mass analysis (MS) 13. Become. The contents of the peak list are registered in the peak information database 21 as peak information. The peak information database 21 stores peak information obtained when mass spectrometry (MS) is performed in the past.

ピーク抽出処理18の次のピーク強度変化計算19では、ピークリストとして得られている各ピークについて、ピーク情報データベース21に保存されている過去のピーク情報を使用することにより、以降のイオン強度の変化を推定する。ピークリスト上に存在するある1ピークについてのイオン強度変化の推定方法は以下のとおりである。   In the next peak intensity change calculation 19 of the peak extraction process 18, by using the past peak information stored in the peak information database 21 for each peak obtained as a peak list, the subsequent change in ion intensity is performed. Is estimated. The method for estimating the ionic strength change for one peak existing on the peak list is as follows.

まず、ピーク情報データベース21を参照して、過去の質量分析(MS)13の結果で得られたピークリストより対象となるピークを検索する。検索では、m/zが一致するピークを探索する。ノイズや条件等により同じ成分のイオンに対してもm/zが全く一致することはないため、ある裕度Δm/zで一致するピークを同じピークとして抽出する。ここでΔm/zは予め設定された値かユーザーが任意に設定できる値であることが望ましい。   First, referring to the peak information database 21, a target peak is searched from a peak list obtained as a result of past mass spectrometry (MS) 13. In the search, a peak with a matching m / z is searched. Since m / z does not match at all for ions of the same component due to noise, conditions, or the like, peaks matching at a certain tolerance Δm / z are extracted as the same peak. Here, Δm / z is desirably a preset value or a value that can be arbitrarily set by the user.

図6に、検索を行った結果として得られたピークの例を示す。検索結果には、符号26で示す探索結果ピークNo.と、符号27で示す探索結果m/zと、符号28で示す探索結果イオン強度と、符号29で示す探索結果保持時間(分)が含まれる。図6では結果として3つのピーク(ピークNo.1,2,3)が見つかった例である。   FIG. 6 shows an example of peaks obtained as a result of the search. The search result includes a search result peak No. indicated by reference numeral 26, a search result m / z indicated by reference numeral 27, a search result ion intensity indicated by reference numeral 28, and a search result holding time (minute) indicated by reference numeral 29. It is. FIG. 6 shows an example in which three peaks (peaks No. 1, 2, 3) are found as a result.

次に探索を行った結果における探索結果イオン強度28と探索結果保持時間(分)29から対象となるピークのイオン強度変化について予測を行う。保持時間を横軸、イオン強度を縦軸として探索して得られたピークを座標軸にプロットする。   Next, a change in the ion intensity of the target peak is predicted from the search result ion intensity 28 and the search result holding time (minute) 29 in the search result. The peak obtained by searching the retention time on the horizontal axis and the ionic strength on the vertical axis is plotted on the coordinate axis.

図7に、一例として図6の結果をプロットしたものを示す。すなわち、図7は、本発明の第一の実施例におけるイオン強度の保持時間の説明図である。ピークP1(符号30),ピークP2(符号31),ピークP3(符号32)は、図6におけるピークNo.(符号26)と一致するものである。図6における探索結果保持時間(分)29と探索結果イオン強度28の関係から今後の保持時間に対してイオン強度がどのように変化するかを予測する。   FIG. 7 shows a plot of the results of FIG. 6 as an example. That is, FIG. 7 is an explanatory diagram of the ionic strength retention time in the first embodiment of the present invention. The peak P1 (reference numeral 30), the peak P2 (reference numeral 31), and the peak P3 (reference numeral 32) coincide with the peak No. (reference numeral 26) in FIG. Based on the relationship between the search result holding time (minutes) 29 and the search result ion intensity 28 in FIG. 6, how the ion intensity changes with respect to the future holding time is predicted.

通常、試料中に含まれる成分は、試料分離を行い、質量分析をした結果、イオン強度は、保持時間に対してガウス関数曲線に類似する形状で変化する。そこで、現在までに得られているイオン強度と保持時間の関係に対して、ガウス関数でフィッティングをすることで今後のイオン強度変化を予測する。   Usually, components contained in a sample are subjected to sample separation and subjected to mass spectrometry. As a result, the ionic strength changes in a shape similar to a Gaussian function curve with respect to the retention time. Therefore, a future change in ion intensity is predicted by fitting the relationship between the ion intensity and the retention time obtained so far with a Gaussian function.

図8に、図7のイオン強度と保持時間の関係に対してフィッティングを適用した場合の結果を示す。ピークP1(符号33),ピークP2(符号34),ピークP3(符号35)の各点に対して誤差が少なくなるよう、最適な形状のガウス関数が適用される。このガウス関数曲線36を今後のイオン強度の変化と考える。   FIG. 8 shows the results when fitting is applied to the relationship between the ion intensity and the retention time in FIG. A Gaussian function having an optimal shape is applied so that the error is reduced at each point of the peak P1 (reference numeral 33), the peak P2 (reference numeral 34), and the peak P3 (reference numeral 35). This Gaussian function curve 36 is considered as a future change in ionic strength.

既に得られたイオン強度と保持時間からガウス関数曲線を求める方法を以下に示す。まず、ガウス関数曲線は、Iをイオン強度、tを保持時間として以下の式により表される。   A method for obtaining a Gaussian function curve from the already obtained ionic strength and retention time is shown below. First, the Gaussian function curve is expressed by the following equation, where I is the ionic strength and t is the retention time.

Figure 0005150370
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ここでa,b,cはガウス関数曲線の形状を決定するためのパラメータである。これらのパラメータを既に取得した、イオン強度,保持時間より決定する。決定を行うにあたり上記の式の両辺に対して自然対数に変換すると以下のようになる。   Here, a, b, and c are parameters for determining the shape of the Gaussian function curve. These parameters are determined from the already acquired ionic strength and retention time. When making a decision, the natural logarithm of both sides of the above equation is converted as follows.

Figure 0005150370
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この式をtについての多項式とみなし以下のように変形する。   This equation is regarded as a polynomial for t and is transformed as follows.

Figure 0005150370
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ここで、新たに変数A,B,Cを以下のように定義する。   Here, variables A, B, and C are newly defined as follows.

Figure 0005150370
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Figure 0005150370
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Figure 0005150370
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上記の式は、A,B,Cの変数を用いると以下のような2次元多項式となる。   The above equation becomes the following two-dimensional polynomial when variables A, B, and C are used.

Figure 0005150370
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この2次元多項式に対して、既に得られたイオン強度Iと保持時間tを用いて、最小2乗法を適用することにより、A,B,Cの値を決定する。A,B,Cの値が得られたら、それぞれの値を用いて、(式4)(式5)(式6)から以下の式により、a,b,cを決定する。   The values of A, B, and C are determined by applying the least square method to the two-dimensional polynomial, using the already obtained ion intensity I and holding time t. When the values of A, B, and C are obtained, a, b, and c are determined by the following equations from (Equation 4), (Equation 5), and (Equation 6) using the respective values.

Figure 0005150370
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Figure 0005150370
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Figure 0005150370
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図9は、本発明の第一の実施例におけるピーク探索結果の代表例の説明図である。本実施例では、ピーク情報データベースを検索した結果として、あるピークのイオン強度と保持時間が図9となる場合の例を示す。   FIG. 9 is an explanatory diagram of a representative example of peak search results in the first embodiment of the present invention. In this embodiment, an example in which the ion intensity and retention time of a certain peak is shown in FIG. 9 as a result of searching the peak information database.

まず、各ピークにイオン強度39に対して自然対数をとる。その結果を図10における対数イオン強度41に示す。次に4つの対数イオン強度と保持時間の組を用い、最小2乗法を行うことでA,B,Cの値を決定する。その結果として、A=−1.15,B=6.83,C=−6.76となる。これらを(式8)(式9)(式10)に代入することで、a=28.89,b=2.96,c=0.657と決定される。   First, a natural logarithm is taken with respect to the ion intensity 39 for each peak. The result is shown as logarithmic ionic strength 41 in FIG. Next, the values of A, B, and C are determined by performing the least square method using a set of four logarithmic ionic strengths and holding times. As a result, A = −1.15, B = 6.83, and C = −6.76. By substituting these into (Expression 8), (Expression 9), and (Expression 10), it is determined that a = 28.89, b = 2.96, and c = 0.657.

図11に、これらのパラメータによりガウス関数曲線を描いた図を示す。実点42が得られているイオン強度と保持時間のデータであり、点線が上記手段により決定した実演算ガウス関数曲線43であり、イオン強度変化の予測を示すものである。   FIG. 11 shows a diagram in which a Gaussian function curve is drawn using these parameters. The actual point 42 is obtained data of ion intensity and holding time, and the dotted line is an actual calculation Gaussian function curve 43 determined by the above means, and indicates prediction of change in ion intensity.

続いて、上記手段により得られたイオン強度変化より、対象ピークが今後の存在時間を求める。図12に、本発明の第一の実施例における存在時間の説明図を示す。図12に示すように、存在時間を求めるにあたっては、イオン強度変化に対して、ある閾値44を適用し、イオン強度がその閾値44以上であればイオンが存在するものとして、現在時刻からイオン強度が閾値44より小さくなるまでの時間を対象となるピークの存在時間とする。図12は、図8に対して存在時間45を求めたものである。閾値44の設定方法としては、固定値もしくはユーザーが入力部より指定する方法などがある。また、閾値44の指定方法には、直接イオン強度を指定する。また、最大イオン強度に対する相対値(%)で指定する方法でもよく、質量分析(MS2)を行うのに最低限必要な強度が設定されていることが望ましい。 Subsequently, the future existence time of the target peak is obtained from the change in ionic strength obtained by the above means. FIG. 12 is an explanatory diagram of the existence time in the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 12, in obtaining the existence time, a certain threshold value 44 is applied to the ion intensity change, and if the ion intensity is equal to or greater than the threshold value 44, it is assumed that an ion exists and the ion intensity from the current time. The time until the value becomes smaller than the threshold 44 is defined as the existence time of the target peak. FIG. 12 shows the existence time 45 obtained with respect to FIG. As a setting method of the threshold value 44, there are a fixed value or a method that the user designates from the input unit. In addition, the ion intensity is directly specified as a method for specifying the threshold 44. Moreover, the method of designating by the relative value (%) with respect to the maximum ion intensity may be used, and it is desirable that the minimum intensity required for performing mass spectrometry (MS 2 ) is set.

次に、対象ピークに対して、存在時間45の間に行えるMS2分析の回数(MS2回数)を決定する。親イオンの解離と質量分析(MS2)に要する時間で存在時間を割った商を回数とする。 Next, the number of MS 2 analyzes (MS 2 times) that can be performed during the existence time 45 is determined for the target peak. The quotient obtained by dividing the existence time by the time required for dissociation of the parent ion and mass spectrometry (MS 2 ) is defined as the number of times.

以上、ピーク情報データベース21からピークを探索する処理からMS2回数を求めるまでの処理を、現在の質量分析(MS)で得られたピークに対して実施する。対象とするピークを選ぶにあたっては、ある閾値を設定するなどピークの絞りこみを行うことも可能である。 As described above, the process from the peak searching process in the peak information database 21 until the MS 2 count is obtained is performed for the peak obtained by the current mass spectrometry (MS). In selecting a target peak, it is also possible to narrow down the peak by setting a certain threshold value.

以上の結果として質量分析(MS)で得られた各ピーク対してMS2回数を求めたMS2回数リストを生成する。図13に、MS2回数リストの例を示す。このMS2回数リストを元にして、実施すべきMS2分析の回数と親イオンを決定する。MS2分析の実施回数には、MS2回数リストのピークにおいて最大のMS2回数を用いる。ただし、MS2回数が大きくなるような場合に対応するため、ユーザーが事前に最大数を設定しておくことも可能である。以上の処理により、質量分析(MS)で得られた結果から次に行うべきMS2分析の回数が決定される。 As a result of the above, an MS 2 times list in which MS 2 times are obtained for each peak obtained by mass spectrometry (MS) is generated. FIG. 13 shows an example of the MS 2 times list. Based on this MS 2 times list, the number of MS 2 analyzes to be performed and the parent ions are determined. The number of times of execution of MS 2 analysis, using the maximum of the MS 2 times at the peak of the MS 2 times list. However, in order to cope with a case where the number of times of MS 2 becomes large, the user can set the maximum number in advance. With the above processing, the number of MS 2 analyzes to be performed next is determined from the results obtained by mass spectrometry (MS).

図3においてMS2回数の決定16を行った後、決定された回数の親イオン解離14と質量分析(MS2)15を行う。親イオン解離14と質量分析(MS2)15を繰り返し、所定回数に達した場合に質量分析(MS)13を行い、再びMS2回数の決定16を行うという処理を試料分離11が行われている間繰り返す。 In FIG. 3, after determining 16 times of MS 2 , the determined number of parent ion dissociations 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15 are performed. When the sample separation 11 is performed, the parent ion dissociation 14 and the mass analysis (MS 2 ) 15 are repeated, the mass analysis (MS) 13 is performed when the predetermined number of times is reached, and the MS 2 times determination 16 is performed again. Repeat as long as you are.

親イオン解離14と質量分析(MS2)15における親イオンの選択にあたっては、MS2回数の決定により得られたMS2回数リスト中のピークから選択を行う。ピークの選択にあたっては、現在の親イオン解離と質量分析(MS2)の繰り返し数とMS2回数リストMS2回数50が一致するピークを選択する。 In selecting the parent ion in the parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2) 15, make a selection from the peak of the MS 2 in the number list obtained by the determination of the MS 2 times. In selecting a peak, a peak in which the current number of repetitions of parent ion dissociation and mass spectrometry (MS 2 ) and the MS 2 times list MS 2 times 50 coincide is selected.

図14のMS2回数リストを用いて、ピークの選択方法について説明を行う。まず、MS2回数リストにおける最大のMS2回数リストMS2回数50である「5」が親イオン解離14と質量分析(MS2)15の実施回数となる。まず、1回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15では、MS2回数リストのMS2回数リストMS2回数50が「1」のピークの中から選択を行う。ここでは、MS2回数リストピークNo.46が「2」と「4」のピークが該当する。このように複数のピークが存在する場合は、イオン強度が高いものを選択する方法や質量数が大きいほうを選択する方法などがある。本実施例では、複数のピークが存在する場合は、イオン強度が高いピークを選択することとする。したがって、本実施例においてはMS2回数リストピークNo.46が「4」のピークを、1回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15の親イオンとする。次に、2回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15の親イオンでは、MS2回数リストMS2回数50が「2」のピークの中から選択する。ここでも、MS2回数リストピークNo.46が「1」と「7」の2つのピークが該当するが、イオン強度の大きいMS2回数リストピークNo.46が「7」のピークを2回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15における親イオンとして選択する。次に、3回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15については、MS2回数リストにおいてMS2回数が3のピークは存在しない。そのような場合、対象とするMS2回数リストMS2回数50を1増加させて、MS2回数リストMS2回数50が「4」のピークの中から親イオンの選択を行う。ここでは、MS2回数リストピークNo.46が、「3」と「6」のピークが該当し、イオン強度が高いMS2回数リストピークNo.46が「6」のピークを親イオンとして選択する。 The peak selection method will be described using the MS 2 times list in FIG. First, the largest MS 2 times Listing MS 2 times 50 in MS 2 times List "5" is the number of times of execution of the parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2) 15. First, the first parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2) 15, MS 2 times MS 2 times Listing MS 2 times 50 list makes a selection from among the peaks of "1". Here, the MS 2 times list peak No. 46 corresponds to the peaks of “2” and “4”. When there are a plurality of peaks as described above, there are a method for selecting one having a high ionic strength and a method for selecting one having a larger mass number. In this embodiment, when there are a plurality of peaks, a peak having a high ionic strength is selected. Therefore, in this example, the peak having the MS 2 times list peak No. 46 of “4” is set as the parent ion of the first parent ion dissociation 14 and mass analysis (MS 2 ) 15. Next, in the second parent ion dissociation 14 and the parent ion of mass spectrometry (MS 2 ) 15, the MS 2 frequency list MS 2 frequency 50 is selected from the peaks of “2”. Again, the MS 2 times list peak No. 46 corresponds to the two peaks “1” and “7”, but the MS 2 times list peak No. 46 having a large ionic strength is the second peak. Select as parent ion in parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15. Next, for the parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15 for the third time, there is no peak with the MS 2 frequency of 3 in the MS 2 frequency list. In such a case, the target MS 2 times list MS 2 times 50 is incremented by 1, and the parent ion is selected from the peaks in which the MS 2 times list MS 2 times 50 is “4”. Here, the MS 2 times list peak No. 46 corresponds to the peaks of “3” and “6”, and the peak of MS 2 times list peak No. 46 having a high ionic strength is selected as the parent ion. .

ここで、MS2回数リストMS2回数50が「4」のピークも存在しないような場合には、更にMS2回数リストMS2回数50を1増加させ、MS2回数リストMS2回数50が「5」のピークの中から探すというように、ピークが見つかるまでMS2回数リストMS2回数50を増加させていく。MS2回数リストMS2回数50を増加させて実施回数まで到達した場合には、親イオン解離14と質量分析(MS2)15の処理を終了して、再び質量分析(MS)13を行う。次に、4回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15では、同様にしてMS2回数リストMS2回数50が「4」のピークから選択する。MS2回数リストMS2回数50が「4」のピークは、MS2回数リストピークNo.46が「3」と「6」のピークが該当するが、MS2回数リストピークNo.46が「6」のピークは3回目のときに既に選択されているため、これを除外する。条件を設定により繰り返してMS2回数リストピークNo.46が「6」のピークを選択することも可能であるが、本実施例では除外することで、できるだけ多くの種のピークに対して親イオン解離14と質量分析(MS2)15を行う。最後に5回目の親イオン解離14と質量分析(MS2)15では、MS2回数リストMS2回数50が「5」であるMS2回数リストピークNo.46が「5」のピークを選択する。上記の方法により、1回目から5回目までの親イオン解離14と質量分析(MS2)15における親イオンは、それぞれピークNo.が「4」,「7」,「6」,「3」,「5」のピークが順に選択される。 Here, MS 2 when the peak of the number list MS 2 times 50 is "4" is also such as not to exist, further increases 1 MS 2 times Listing MS 2 times 50, MS 2 times Listing MS 2 times 50 ' The MS 2 times list MS 2 times 50 is increased until a peak is found, such as searching from the peaks of “5”. MS 2 times list When the number of MS 2 times 50 is increased to reach the number of times of execution, the processes of the parent ion dissociation 14 and the mass analysis (MS 2 ) 15 are finished, and the mass analysis (MS) 13 is performed again. Next, in the fourth parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15, the MS 2 frequency list MS 2 frequency 50 is similarly selected from the peaks of “4”. MS peaks of 2 number list MS 2 times 50 is "4" is MS 2 times list peak No.46 corresponds the peak of "6" and "3", MS 2 times list peak No.46 is "6 ”Is excluded because it is already selected at the third time. Although it is possible to select a peak with MS 2 times list peak No. 46 of “6” by repeating the setting according to the setting, by excluding it in this embodiment, the parent ion can be applied to as many species as possible. Dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15 are performed. Finally, in the fifth parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15, the MS 2 times list peak No. 46 in which the MS 2 times list MS 2 times 50 is “5” is selected as the peak. . By the above method, the parent ions in the first to fifth parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15 have peaks No. of “4”, “7”, “6”, “3”, The peak “5” is selected in order.

以上、質量分析(MS)13を行いMS2回数の決定16を行い、決定された回数の親イオンの解離14と質量分析(MS2)15を実施するという処理を繰り返すことにより、1回の質量分析(MS)13に対して複数回の質量分析(MS2)15を実施可能となり従来の手法に比べて多くのMS2スペクトルを得ることが可能となる。 As described above, by repeating the process of performing mass spectrometry (MS) 13 and determining 16 times of MS 2 and performing the determined number of times of dissociation 14 of parent ions and mass analysis (MS 2 ) 15, Multiple mass analysis (MS 2 ) 15 can be performed on the mass analysis (MS) 13, and more MS 2 spectra can be obtained compared to the conventional method.

次に、図15に本実施例におけるUI(ユーザーインターフェース)の例を示す。強度予測条件52では、イオン強度の予測に係わる条件の設定を行う。本実施例においては、設定項目として、一致裕度(m/z)の設定欄53および閾値を備えている。一致裕度(m/z)の設定欄53は、ピーク情報データベースよりピークを探索するのに用いられるもので、本実施例では質量数(m/z)で指定を行う。また、直接、質量数(m/z)で指定する他に、ピークの質量数のパーセンテージ(%)で指定する方法も考えられる。閾値の設定欄54は、ガウス関数曲線において存在時間を求める際に用いる値である。本実施例では、直接イオン強度で指定を行う。また、その他に、得られたガウス関数曲線の最大のイオン強度に対するパーセンテージ(%)で指定する方法も考えられる。   Next, FIG. 15 shows an example of a UI (user interface) in the present embodiment. In the intensity prediction condition 52, conditions related to the prediction of ion intensity are set. In the present embodiment, as setting items, a matching margin (m / z) setting field 53 and a threshold value are provided. The coincidence tolerance (m / z) setting field 53 is used for searching for a peak from the peak information database, and in this embodiment, designation is made by the mass number (m / z). In addition to the direct designation by the mass number (m / z), a method of designating by the percentage (%) of the mass number of the peak is also conceivable. The threshold setting column 54 is a value used when obtaining the existence time in the Gaussian function curve. In this embodiment, the direct ion intensity is designated. In addition, a method of designating a percentage (%) with respect to the maximum ionic strength of the obtained Gaussian function curve is also conceivable.

MS2実施条件55は、MS2分析の実施に関する条件を設定するものである。本実施例においては、最大回数の設定欄56と優先条件を備える。最大回数は、親イオン解離14と質量分析(MS2)15の実施回数を制限するものである。MS2実施回数は自動的に決定されるため、予めユーザーがその回数を制限させたい場合に使用される。優先条件の設定部57は、複数のピークが実施の候補となった場合に使用される。本実施例では、質量数と強度の2つの選択肢より成る。質量数が選択された場合は、質量数が大きいほうのピークを親イオンとして選択する。また、強度が選択された場合には、強度が大きいほうのピークを親イオンとして選択する。 The MS 2 execution condition 55 sets conditions regarding the execution of the MS 2 analysis. In the present embodiment, a maximum number setting field 56 and a priority condition are provided. The maximum number of times limits the number of times the parent ion dissociation 14 and mass spectrometry (MS 2 ) 15 are performed. Since the number of times of MS 2 execution is automatically determined, it is used when the user wants to limit the number of times in advance. The priority condition setting unit 57 is used when a plurality of peaks are candidates for implementation. In this embodiment, it consists of two options of mass number and strength. When the mass number is selected, the peak with the larger mass number is selected as the parent ion. When the intensity is selected, the peak having the higher intensity is selected as the parent ion.

本発明の第一の実施例における質量分析システムの全体の概念図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The conceptual diagram of the whole mass spectrometry system in the 1st Example of this invention. 従来の質量分析フローの概略図。Schematic of the conventional mass spectrometry flow. 本発明の第一の実施例における質量分析フローの概略図。The schematic of the mass spectrometry flow in the 1st example of the present invention. 本発明の第一の実施例におけるMS2回数決定のフローの概略図。The schematic of the flow of MS 2 times determination in the 1st example of the present invention. 本発明の第一の実施例におけるピークリストの説明図。Explanatory drawing of the peak list | wrist in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるピーク探索結果の説明図。Explanatory drawing of the peak search result in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるイオン強度の保持時間の説明図。Explanatory drawing of the retention time of the ionic strength in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるガウス関数曲線の説明図。Explanatory drawing of the Gaussian function curve in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるピーク探索結果の代表例の説明図。Explanatory drawing of the typical example of the peak search result in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例における対数イオン強度の説明図。Explanatory drawing of the logarithmic ionic strength in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるガウス関数曲線の実算結果の説明図。Explanatory drawing of the actual calculation result of the Gaussian function curve in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例における存在時間の説明図。Explanatory drawing of the presence time in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるMS2回数リストの説明図。Explanatory drawing of MS 2 times list | wrist in the 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例におけるMS2回数リストの代表例の説明図。Explanatory drawing of the typical example of MS 2 times list | wrist in 1st Example of this invention. 本発明の第一の実施例における入力を行うUIの概略図。FIG. 3 is a schematic diagram of a UI for inputting in the first embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 入力部
2 表示部
3 データ処理部
4 制御部
5 試料分離部
6 イオン化部
7 質量分析部
8 イオン検出部
9 データベース
10 試料導入
11 試料分離
12 イオン化
13 質量分析(MS)
14 親イオンの解離
15 質量分析(MS2
16 MS2回数の決定
17 所定回数終了判定
18 ピーク抽出処理
19 ピーク強度変化計算
20 MS2回数決定
21 ピーク情報データベース
22 ピークリストピークNo.
23 ピークリストm/z
24 ピークリストイオン強度
25 ピークリスト保持時間(分)
26 探索結果ピークNo.
27 探索結果m/z
28 探索結果イオン強度
29 探索結果保持時間(分)
30,33 ピークP1
31,34 ピークP2
32,35 ピークP3
36 ガウス関数曲線
37 探索結果の代表例におけるピークNo.
38 探索結果の代表例におけるm/z
39 探索結果の代表例におけるイオン強度
40 探索結果の代表例における保持時間(分)
41 探索結果の代表例における対数イオン強度
42 実取得値
43 実演算ガウス関数曲線
44 閾値
45 存在時間
46 MS2回数リストピークNo.
47 MS2回数リストm/z
48 MS2回数リストイオン強度
49 MS2回数リスト保持時間(分)
50 MS2回数リストMS2回数
51 MS2分析条件の設定画面
52 強度予測条件設定欄
53 一致裕度(m/z)の設定欄
54 閾値の設定欄
55 MS2実施条件の設定欄
56 最大回数の設定欄
57 優先条件の設定部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Input part 2 Display part 3 Data processing part 4 Control part 5 Sample separation part 6 Ionization part 7 Mass analysis part 8 Ion detection part 9 Database 10 Sample introduction 11 Sample separation 12 Ionization 13 Mass spectrometry (MS)
14 Dissociation of parent ion 15 Mass spectrometry (MS 2 )
16 MS 2 times determination 17 Predetermined number end determination 18 Peak extraction process 19 Peak intensity change calculation 20 MS 2 times determination 21 Peak information database 22 Peak list peak No.
23 Peak list m / z
24 Peak list ionic strength 25 Peak list retention time (min)
26 Search result peak No.
27 Search result m / z
28 Search result ionic strength 29 Search result retention time (minutes)
30,33 Peak P1
31, 34 Peak P2
32,35 Peak P3
36 Gaussian function curve 37 Peak No. in typical example of search results.
38 m / z in representative examples of search results
39 Ion intensity in a representative example of search results 40 Retention time (minutes) in a representative example of search results
41 Logarithmic ionic strength 42 in a representative example of the search result 42 Actual acquired value 43 Actual calculation Gaussian function curve 44 Threshold value 45 Time 46 MS 2 times list peak No.
47 MS 2 times list m / z
48 MS 2 times list ionic strength 49 MS 2 times list holding time (min)
50 MS 2 times list MS 2 times 51 MS 2 analysis condition setting screen 52 Strength prediction condition setting field 53 Matching margin (m / z) setting field 54 Threshold setting field 55 MS 2 execution condition setting field 56 Maximum number of times Setting field 57 Priority condition setting section

Claims (2)

試料を分離する試料分離部と、前記試料分離部を備えた質量分析部と、前記質量分析部
に関する条件を設定する入力部からなる質量分析システムにおいて、
試料導入後の第一の質量分析の測定中に次の(a)〜(f)を行うことを特徴とする質量分析システム。
(a) 第一の質量分析で所定の親イオンピークが得られた時刻までに、既に得られたマススペクトルからタンデム分析の対象となり得る親イオンピークを求め、
(b) 求めた親イオンピークの保持時間、求めた親イオンピークのm/z、および求めた親イオンピークのイオン強度の情報を含むピーク情報をデータベースに登録し、
(c)解離を行う親イオンのピークと、該ピークのm/zと所定の裕度の範囲内のm/zを持つピークのピーク情報をデータベースから抽出し、
(d) データベースから抽出したピークを、マスクロマトグラムにプロットし、これらのプロットをガウス関数を用いてフィッティングすることで解離を行う親イオンの今後のイオン強度変化を予測し、
(e) このガウス関数でフィッティングしたカーブにおいて、イオン強度が所定の閾値以上となる時間を求め、
(f) この時間と、親イオンの解離とこの分析に要する時間から親イオンの1測定中の最大解離回数を決定する。
In a mass spectrometry system comprising a sample separation section for separating a sample, a mass analysis section provided with the sample separation section, and an input section for setting conditions relating to the mass analysis section,
A mass spectrometry system, wherein the following (a) to (f) are performed during measurement of the first mass spectrometry after sample introduction.
(a) By the time when the predetermined parent ion peak is obtained in the first mass analysis , a parent ion peak that can be a target of tandem analysis is obtained from the already obtained mass spectrum,
(b) Register the peak information including the obtained parent ion peak retention time, the obtained parent ion peak m / z, and the obtained parent ion peak ion intensity information in the database,
(c) Extracting from the database the peak information of the peak of the parent ion to be dissociated and the peak having m / z of the peak and m / z within a predetermined tolerance range,
(d) Peaks extracted from the database are plotted on a mass chromatogram, and these plots are fitted using a Gaussian function to predict future ionic strength changes of the dissociated parent ions,
(e) In the curve fitted with this Gaussian function, find the time when the ion intensity is above a predetermined threshold,
(f) The maximum number of dissociations during one measurement of the parent ion is determined from this time, the dissociation of the parent ion, and the time required for this analysis.
試料導入後の第一の質量分析の測定中に次の(a)〜(f)を行うことを特徴とする質量分析方法。
(a) 第一の質量分析で所定の親イオンピークが得られた時刻までに、既に得られたマススペクトルからタンデム分析の対象となり得る親イオンピークを求め、
(b) 求めた親イオンピークの保持時間、求めた親イオンピークのm/z、および求めた親イオンピークのイオン強度の情報を含むピーク情報をデータベースに登録し、
(c)解離を行う親イオンのピークと、該ピークのm/zと所定の裕度の範囲内のm/zを持つピークのピーク情報をデータベースから抽出し、
(d) データベースから抽出したピークを、マスクロマトグラムにプロットし、これらのプロットをガウス関数を用いてフィッティングすることで解離を行う親イオンの今後のイオン強度変化を予測し、
(e) このガウス関数でフィッティングしたカーブにおいて、イオン強度が所定の閾値以上となる時間を求め、
(f) この時間と、親イオンの解離とこの分析に要する時間から親イオンの1測定中の最大解離回数を決定する。
A mass spectrometry method comprising performing the following (a) to (f) during the measurement of the first mass spectrometry after sample introduction.
(a) By the time when the predetermined parent ion peak is obtained in the first mass analysis , a parent ion peak that can be a target of tandem analysis is obtained from the already obtained mass spectrum,
(b) Register the peak information including the obtained parent ion peak retention time, the obtained parent ion peak m / z, and the obtained parent ion peak ion intensity information in the database,
(c) Extracting from the database the peak information of the peak of the parent ion to be dissociated and the peak having m / z of the peak and m / z within a predetermined tolerance range,
(d) Peaks extracted from the database are plotted on a mass chromatogram, and these plots are fitted using a Gaussian function to predict future ionic strength changes of the dissociated parent ions,
(e) In the curve fitted with this Gaussian function, find the time when the ion intensity is above a predetermined threshold,
(f) The maximum number of dissociations during one measurement of the parent ion is determined from this time, the dissociation of the parent ion, and the time required for this analysis.
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