JP5122034B1 - 水分濃度検出装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
図1は、本実施の形態に係る水分濃度検出装置の構成を示す図である。図1では、金属容器内に絶縁ガスが充填されたガス絶縁機器8と、このガス絶縁機器8に接続された水分濃度検出装置30と、ガス絶縁機器8の制御盤10とが示されている。ここで、絶縁ガスは例えばSF6ガスである。また、ガス絶縁機器8は、例えば遮断部を有するガス絶縁遮断器である。制御盤10はガス絶縁機器8の開閉制御等の制御を司る。
図5は、本実施の形態に係る水分濃度検出装置の構成を示す図である。図5に示すように、本実施の形態では、電極1に温度センサ11が設けられており、この温度センサ11は水分センサ20の温度を測定することができる。また、信号処理室32内には、温度センサ11と接続された温度測定回路12(温度測定部)が設けられている。温度測定回路12は、温度センサ11からの出力に応じた温度を演算器5に出力する。
2 固体電解質膜
3 ケース
4 インピーダンス測定回路
5 演算器
6 記憶装置
6a 遮断器動作回数記憶部
6b アーク電流値記憶部
6c インピーダンス補正情報記憶部
6d 換算情報記憶部
7 表示器
8 ガス絶縁機器
9 送風機
10 制御盤
11 温度センサ
12 温度測定回路
15 遮断情報取得部
17 ひだ状部
20 水分センサ
25 インピーダンス素子
30 水分濃度検出装置
31 ガス室
32 信号処理室
51 配管
Claims (4)
- ガス絶縁機器内に充填された絶縁ガス中の水分濃度を検出する水分濃度検出装置であって、
前記ガス絶縁機器内からの前記絶縁ガスが導入されるガス室と、
このガス室内で互いに対向して配置された多孔質性の1対の電極と、
これらの電極間に挟持され固着された固体電解質膜と、
前記1対の電極及び前記固体電解質膜を覆うとともに、表面にひだ状部が設けられたケースと、
前記1対の電極に交流電圧を印加して前記電極間の交流インピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
前記電極間の交流インピーダンスから前記絶縁ガス中の水分濃度への換算情報を記憶する記憶装置と、
前記インピーダンス測定部から入力された前記交流インピーダンスの測定値に対し、前記記憶装置に記憶された前記換算情報を参照して、当該交流インピーダンスの測定値から前記絶縁ガス中の水分濃度を求める水分濃度検出部と、
を備えることを特徴とする水分濃度検出装置。 - 前記ガス絶縁機器はガス絶縁遮断器であって、
前記記憶装置は、前記換算情報に加えて、前記ガス絶縁遮断器の動作時に発生するアークの電流値についてのアーク電流値情報と、前記ガス絶縁遮断器の累積動作回数についての累計遮断器動作回数情報と、前記アーク電流値情報及び前記累計遮断器動作回数情報に応じて前記電極間の交流インピーダンスの測定値を補正するためのインピーダンス補正情報を記憶し、
前記水分濃度検出部は、前記インピーダンス測定部から前記交流インピーダンスの測定値が入力されると、前記記憶装置を参照して前記アーク電流値情報及び前記累計遮断器動作回数情報を取得し、当該アーク電流値情報及び累計遮断器動作回数情報に応じたインピーダンス補正情報を前記記憶装置から取得した後、当該インピーダンス補正情報を用いて当該交流インピーダンスの測定値を補正し、この補正された交流インピーダンスの測定値に対し、前記記憶装置に記憶された前記換算情報を参照して、当該補正された交流インピーダンスの測定値から前記絶縁ガス中の水分濃度を求めることを特徴とする請求項1に記載の水分濃度検出装置。 - 前記ガス絶縁機器と前記ガス室とが2本の配管で接続され、
少なくとも一方の配管には当該配管内の前記絶縁ガスを送風させる送風機が設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の水分濃度検出装置。 - 前記固体電解質膜の温度を測定可能な温度センサが設けられ、
前記水分濃度検出部は、前記温度センサにより検出された温度が特定の温度範囲内にある場合にのみ前記絶縁ガス中の水分濃度を求めることを特徴とする請求項1に記載の水分濃度検出装置。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5433793A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-12 | Toshiba Corp | Moisture content detector of gas insulated electric device |
JP2006308502A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Mitsubishi Electric Corp | Sf6ガス中の水分濃度検出装置 |
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2012
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5433793A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-12 | Toshiba Corp | Moisture content detector of gas insulated electric device |
JP2006308502A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Mitsubishi Electric Corp | Sf6ガス中の水分濃度検出装置 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
JPN6012019850; 亀井光仁 他: 'GIS/GCB絶縁ガス中の水分検出センサに関する研究' 電気学会論文誌E Vol.130 No.11, 20101102, pp.531-536 * |
JPN6012020046; 永尾栄一 他: '固体電解質膜を用いたSF6ガス中水分濃度検出(2)' 平成17年電気学会 電力・エネルギー部門大会論文集 , 2005, pp.40-1〜40-2 * |
JPN6012020047; 永尾栄一 他: '固体電解質膜を用いたSF6ガス中水分濃度検出' 平成17年電気学会全国大会講演論文集 , 2005, pp.244-245 * |
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JPWO2013073213A1 (ja) | 2015-04-02 |
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