JP5094006B2 - Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device - Google Patents
Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5094006B2 JP5094006B2 JP2005323674A JP2005323674A JP5094006B2 JP 5094006 B2 JP5094006 B2 JP 5094006B2 JP 2005323674 A JP2005323674 A JP 2005323674A JP 2005323674 A JP2005323674 A JP 2005323674A JP 5094006 B2 JP5094006 B2 JP 5094006B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- substrate
- film
- optical device
- crystal composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims description 204
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 80
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 151
- 239000004988 Nematic liquid crystal Substances 0.000 claims description 60
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 31
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 11
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 198
- 238000000034 method Methods 0.000 description 56
- RVZRBWKZFJCCIB-UHFFFAOYSA-N perfluorotributylamine Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)N(C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F RVZRBWKZFJCCIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 56
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 55
- 230000004044 response Effects 0.000 description 44
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 40
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 description 33
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 27
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 26
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 26
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 25
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 25
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 24
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 23
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 20
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 17
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 16
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 16
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 15
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 14
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 description 11
- 239000002585 base Substances 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 10
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 7
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 7
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 6
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 6
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 5
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 1,2-Divinylbenzene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1C=C MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 1,3-Diphenylbenzene Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 3
- CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N Pyrimidine Chemical compound C1=CN=CN=C1 CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 3
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 3
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 3
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 3
- JRXXLCKWQFKACW-UHFFFAOYSA-N biphenylacetylene Chemical compound C1=CC=CC=C1C#CC1=CC=CC=C1 JRXXLCKWQFKACW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 3
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- IGARGHRYKHJQSM-UHFFFAOYSA-N cyclohexylbenzene Chemical compound C1CCCCC1C1=CC=CC=C1 IGARGHRYKHJQSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000000016 photochemical curing Methods 0.000 description 3
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 3
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 3
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 3
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 2
- ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N diboron Chemical compound B#B ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000005262 ferroelectric liquid crystals (FLCs) Substances 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 2
- FYJQJMIEZVMYSD-UHFFFAOYSA-N perfluoro-2-butyltetrahydrofuran Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)OC(F)(F)C(F)(F)C1(F)F FYJQJMIEZVMYSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000010979 ruby Substances 0.000 description 2
- 229910001750 ruby Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 229910018125 Al-Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018520 Al—Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- UIZLQMLDSWKZGC-UHFFFAOYSA-N cadmium helium Chemical compound [He].[Cd] UIZLQMLDSWKZGC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 description 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007644 letterpress printing Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000002294 plasma sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 238000006479 redox reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal Substances (AREA)
Description
本発明は、液晶表示素子に使用される液晶組成物とその液晶組成物を用いた電気光学装置に関する。 The present invention relates to a liquid crystal composition used for a liquid crystal display element and an electro-optical device using the liquid crystal composition.
近年、液晶電気光学装置は、軽量化、小型化、薄型化などが可能で、各種の用途に使用されつつあり、フィールドシーケンシャルカラー方式といった高速応答液晶を用いた駆動方法の開発に伴い応答速度の改善が特に要求されるようになってきている。また、液晶の応答時間は粘度に比例していることが知られており、粘度が下がることが応答時間の短縮を表している。このことを用い2種類以上の液晶を混合する等の方法で液晶の粘度を下げる試みがなされている。(特許文献1)
しかしながら、上記のような2種類以上の液晶を混合する方法では、互いの液晶が影響し合い、電圧保持率や相転移温度等の液晶諸特性が変化してしまう。本発明が解決しようとする課題は、電圧保持率や相転移温度等の液晶諸特性を低下させることなく、応答速度の速い液晶組成物を提供することにある。 However, in the method of mixing two or more types of liquid crystals as described above, the liquid crystals influence each other, and various liquid crystal characteristics such as voltage holding ratio and phase transition temperature change. The problem to be solved by the present invention is to provide a liquid crystal composition having a high response speed without deteriorating various liquid crystal properties such as voltage holding ratio and phase transition temperature.
液晶材料としてネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)の液晶組成物を使用したことを特徴とするものであり、このことにより、液晶の応答速度の早い液晶組成物を得られる。このとき、ネマティック液晶としてはビフェニル系、ターフェニル系、フェニルシクロヘキサン系、ピリミジン系、フッ素系、トラン系またはエステル系等の材料を用いることができる。またフッ素系不活性溶液としては、パーフルオロ(2−ブチルテトラヒドロフラン)C8F16O、C8F18、C6F14などを用いることができる。ただしこれらには限定されない。フッ素を含む不活性液体の量は、液晶組成物の量に対して10〜60wt%、好ましくは20〜30wt%程度で良い。 This is characterized by using a liquid crystal composition of nematic liquid crystal and an inert liquid containing fluorine (C m F n or C m F n O, where m and n are natural numbers) as the liquid crystal material. Thus, a liquid crystal composition having a high liquid crystal response speed can be obtained. At this time, as the nematic liquid crystal, materials such as biphenyl, terphenyl, phenylcyclohexane, pyrimidine, fluorine, tolan or ester can be used. Examples of the fluorine-based inert solution can be perfluoro (2-butyl tetrahydrofuran) C 8 F 16 O, and C 8 F 18, C 6 F 14. However, it is not limited to these. The amount of the inert liquid containing fluorine may be about 10 to 60 wt%, preferably about 20 to 30 wt% with respect to the amount of the liquid crystal composition.
本発明を用いることにより、液晶の応答時間を速くする事が出来る。またネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)とを含有する液晶組成物を使用しているにも関わらず、電圧保持率の低下や、相転移温度の変化は見受けられない。 By using the present invention, the response time of the liquid crystal can be increased. The inert liquid containing a nematic liquid crystal and fluorine (C m F n, or C m F n O, where m, n are natural numbers) despite using a liquid crystal composition containing a voltage holding ratio No decrease in phase or change in phase transition temperature is observed.
以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。但し、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes, and those skilled in the art can easily understand that the modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Is done. Therefore, the present invention is not construed as being limited to the description of this embodiment mode. Note that in all the drawings for describing the embodiments, the same portions or portions having similar functions are denoted by the same reference numerals, and repetitive description thereof is omitted.
(実施の形態1)
以下に液晶電気光学装置の作製方法を示す。
図1(A)及び図1(B)に本発明の液晶電気光学装置の断面図を示す。ここでは最も簡単な液晶電気光学装置に本発明を適用した場合を例に説明する。101、102は透光性を有する基板である。103は透光性導電膜、104は配向膜、105はシール材、106aは柱状のスペーサ、106bは球状スペーサ、107は液晶組成物である。
(Embodiment 1)
A method for manufacturing a liquid crystal electro-optical device will be described below.
1A and 1B are cross-sectional views of the liquid crystal electro-optical device of the present invention. Here, a case where the present invention is applied to the simplest liquid crystal electro-optical device will be described as an example. 101 and 102 are translucent substrates.
透光性を有する基板101、102上に、透光性導電膜103が形成されている。基板としては無アルカリガラスや石英基板からなる。なお透光性を有する基板であれば可撓性を有する材料、例えばポリイミド、ポリカーボネートなどプラスチック材料でもよい。このように透光性の導電性膜としては公知の材料により公知の方法で形成されるものを利用することができる。例えばインジウムと錫の酸化膜(Indium Tin Oxide)、酸化スズ、酸化亜鉛等でも良い。
A light-transmitting
配向膜104はポリイミド、ポリアミドなど、一般的に液晶電気光学装置に利用されている材料を用いる事が出来る。配向膜の材料は利用する液晶の動作モードに対応して選択される。配向膜を基板上に塗布する場合には、印刷法によるもの、スピナーにより塗布するもの等を利用できる。
The
配向膜104には液晶を配向させるため配向処理が施されている。配向処理は利用する液晶の動作モードに対応して選択される。たとえばTNモードであれば基板に対して液晶分子の長軸が平行になるように処理される。また、紫外線等を利用した光配向処理を利用してもよい。
The
シール材105は基板間の液晶を最終的に封じこめ外部に漏れないようにすることと、一対の基板同士を接着することを目的として、接着性を有する材料を用いる。
The
シール材105としては接着性を有する材料としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂等が挙げられる。硬化方式としては熱硬化型、光硬化型いずれでもよい。
As the sealing
なお、基板の間隔を一定にするため、必要に応じてシール材に圧力に対する変形を受け難い添加剤を加えてもよい。これは基板の間隔がおおよそ3μm以上のときに用いると、液晶電気光学装置の基板の間隔について、基板の間隔のばらつきを低減するのに効果がある。このとき添加剤としては球状の形状を有し、且つ一定の直径を有するスペーサを用いる。前記添加剤にはSiO2等の無機材料、あるいはジビニルベンゼンを主成分とする有機材料を用いる事が出来る。 In addition, in order to make the space | interval of a board | substrate constant, you may add the additive which is hard to receive the deformation | transformation with respect to a sealing material as needed. When this is used when the distance between the substrates is approximately 3 μm or more, it is effective in reducing the variation in the distance between the substrates with respect to the distance between the substrates of the liquid crystal electro-optical device. At this time, a spacer having a spherical shape and a constant diameter is used as the additive. As the additive, an inorganic material such as SiO 2 or an organic material mainly composed of divinylbenzene can be used.
このとき添加するスペーサの直径は利用する液晶あるいは動作モードの違いにより適宜選択する。例としてTNモードでは2〜5μm前後、強誘電性液晶、反強誘電性液晶は0.5〜3μm前後である。 The diameter of the spacer added at this time is appropriately selected depending on the liquid crystal to be used or the operation mode. For example, in the TN mode, it is about 2 to 5 μm, and for the ferroelectric liquid crystal and antiferroelectric liquid crystal, it is about 0.5 to 3 μm.
シール材に対するスペーサの添加量は、使用するスペーサに依存するが、多くの場合3wt%程度でよい。あまり多く添加すると添加したスペーサ同士が重なり合って一定の基板の間隔が取れなくなってしまう。 The amount of spacer added to the sealing material depends on the spacer used, but in many cases it may be about 3 wt%. If too much is added, the added spacers overlap each other, and a certain distance between the substrates cannot be obtained.
また、柱状のスペーサ106aの高さは、シール材の画素部へのしみ出しが防止できるような高さが基本的には良いが、一対の基板に形成された対向する電極の間隔、つまり基板の間隔を所定の間隔とすることが出来るようにも設定できる。本実施の形態の場合、導電膜、配向膜などが形成されており、場合によってはこれらの構成物による段差が発生するので段差を考慮して高さを決める。つまり、たとえば基板の間隔を4μmにしたい場合、柱状のスペーサ106aを立てるべき場所に基板表面よりも0.2μm高く段差が出来ている場合、柱状のスペーサ106aの高さは3.8μmとすればよい。柱状のスペーサがギャップ保持材に相当する。
The height of the
また、スペーサは基板101、102のどちらに形成してもよく、さらに、両方の基板に形成してもよい。
The spacer may be formed on either of the
柱状のスペーサ106aを形成しない場合は、図1(B)のように基板上に球状スペーサ106bを散布する。球状スペーサ106bは、有機物あるいは無機物からなる球状の物質で、従来の液晶電気光学装置で利用されている物質と散布方法をそのまま利用できる。液晶電気光学装置内のスペーサの密度は一般的には20個〜200個/mm2であれば基板の間隔を一定に保持できる。
When the
このようにして透光性導電膜103、配向膜104、が形成された一対の基板101と102のいずれかにシール材105とスペーサ106を形成し、さらにその後、液晶電気光学装置を作製するために貼り合わせる。
In order to form the liquid crystal electro-optical device after forming the sealing
つぎに液晶組成物107について説明する。液晶組成物107はネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)とを含有する混合物である。ネマティック液晶としてはビフェニル系、ターフェニル系、フェニルシクロヘキサン系、ピリミジン系、フッ素系、トラン系またはエステル系等の材料を用いることができる。フッ素を含む不活性液体はフルオロカーボン系有機溶媒であり、化学式ではCmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数で表される。具体的にはパーフルオロ(2−ブチルテトラヒドロフラン)C8F16O、C8F18、C6F14を用いることができる。例えば住友3M社製FLUORINERT(登録商標)FC−77、FC−43、FC−70、アウジモント社製ガルデン(登録商標)、デュポン社製フレオン(登録商標)を用いることができる。ただしこれらに限定されるものではなく、上記化学式を満たすものを用いることができることはいうまでもない。また、フッ素を含む不活性液体の量は、液晶組成物の量に対して10〜60wt%、好ましくは20〜30wt%程度で良い。あまり多く添加するとネマティック液晶の割合が減ってしまいパネルで表示させたときにムラが出来てしまう。また添加量が少ないと、効果が得られない。
Next, the
ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)の混合方法について説明する。本実施の形態においては、これらの材料を混合してネマティック液晶の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)以上に加熱しながら1時間攪拌する。等方相−ネマティック相の転移点(NI点)以上で攪拌することにより、ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体が混ざり合う。この時、等方相−ネマティック相の転移点(NI点)付近で攪拌するのが望ましい。あまり温度が高すぎるとネマティック液晶の特性が変化してしまう。 A method of mixing the nematic liquid crystal and an inert liquid containing fluorine (C m F n or C m F n O, where m and n are natural numbers) will be described. In the present embodiment, these materials are mixed and stirred for 1 hour while heating above the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal. By stirring above the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point), the nematic liquid crystal and the inert liquid containing fluorine are mixed. At this time, it is desirable to stir near the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point). If the temperature is too high, the characteristics of the nematic liquid crystal will change.
前述の基板101と102により形成された液晶セルに前記液晶組成物107をネマティック液晶の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)よりも高温にして毛細管現象を利用して注入を行う。この時も、等方相−ネマティック相の転移点(NI点)付近で注入するのが望ましく、あまり温度が高すぎるとネマティック液晶の特性が変化してしまう。また、注入は真空注入法を用いても良い。注入後の配向状態をバックライト上で偏光板に挟んで確認したところ分離している様子は確認出来ない。
The
以上の工程により、ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)とを含有する混合物で構成される応答速度の速い液晶電気光学装置を作製することができる。 Through the above steps, the nematic liquid crystal and fluorine inert liquid containing (C m F n, or C m F n O, where m, n are natural numbers) liquid crystal electro-optical high response speed comprised of mixture containing A device can be made.
(実施の形態2)
図2(A)及び図2(B)に本発明の液晶電気光学装置の断面図を示す。ここではアクティブマトリクス型の液晶電気光学装置に本発明を適用した場合を例に説明する。なお、ここでは例としてアクティブマトリクス基板に駆動回路を同一基板に形成している。201はアクティブマトリクス基板、202は対向基板である。203は画素部、204は画素部203を制御する駆動回路(ゲートドライバー)、205aは柱状のスペーサ、205bは球状スペーサ、206はシール材、207は対向電極、208は配向膜、209は液晶組成物である。また、画素部は画素領域に相当する。
(Embodiment 2)
2A and 2B are cross-sectional views of the liquid crystal electro-optical device of the present invention. Here, a case where the present invention is applied to an active matrix type liquid crystal electro-optical device will be described as an example. Here, as an example, the drive circuit is formed on the same substrate in the active matrix substrate. 201 is an active matrix substrate, and 202 is a counter substrate.
アクティブマトリクス基板201には透光性を有する基板に画素電極、信号電極が形成されている。基板としては無アルカリガラスや石英基板からなる。なお透光性を有する基板であれば可撓性を有する材料、例えばポリイミド、ポリカーボネートなどプラスチック材料でもよい。このようにアクティブマトリクス基板としては公知の回路構成を有し、公知の材料により形成されるものを利用することができる。アクティブマトリクス基板としてはガラス基板上に形成するもののほか、Siウェーハ上に形成するものや金属基板上に形成するものも利用できる。
In the
アクティブマトリクス基板201については能動素子を利用した画素回路が形成された基板や、画素回路の周辺に駆動回路をも同一基板上に形成された基板を利用する事が出来る。
As the
また、対向基板202としては透光性を有する基板を利用する事が出来る。基板としては無アルカリガラス、石英基板からなる。基板としてはこのほかに可撓性を有する材料、例えばポリイミド、ポリカーボネートなどのプラスチック材料でもよい。
As the
対向基板202には、液晶電気光学装置としてカラー表示をするために基板上のカラーフィルタが所望の形状に加工されているもの、あるいは透明電極とブラックマトリクスのみのものなど、公知の技術により形成された基板を利用する事が出来る。
The
配向膜208はポリイミド、ポリアミドなど、一般的に液晶電気光学装置に利用されている材料を用いる事が出来る。配向膜の材料は利用する液晶の動作モードに対応して選択される。配向膜を基板上に塗布する場合には、印刷法によるもの、スピナーにより塗布するもの等を利用できる。
The
配向膜208は電気的に絶縁性を有する材料を用いることが一般的なため、基板上に形成された信号電極と外部電気回路との電気的接続が可能となるよう、電極表面を露出させるため所望の形状に加工する。配向膜を所望の形状に加工するためには印刷法による方法が望ましい。
Since the
配向膜208には液晶を配向させるため配向処理が施されている。配向処理は利用する液晶の動作モードに対応して選択される。たとえばTNモードであれば基板に対して液晶分子の長軸が平行になるように処理される。また、紫外線等を利用した光配向処理を利用してもよい。
The
シール材206は基板間の液晶を最終的に封じこめ外部に漏れないようにすることと、一対の基板同士を接着することを目的として、接着性を有する材料を用いる。
The
シール材206としては接着性を有する材料としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂等が挙げられる。硬化方式としては熱硬化型、光硬化型いずれでもよい。
As the sealing
なお、基板の間隔を一定にするため、必要に応じてシール材に圧力に対する変形を受け難い添加剤を加えてもよい。これは基板の間隔がおおよそ3μm以上のときに用いると、液晶電気光学装置の基板の間隔のばらつきを低減するのに効果がある。このとき添加剤としては球状の形状を有し、且つ一定の直径を有するスペーサを用いる。前記添加剤にはSiO2等の無機材料、あるいはジビニルベンゼンを主成分とする有機材料を用いる事が出来る。 In addition, in order to make the space | interval of a board | substrate constant, you may add the additive which is hard to receive the deformation | transformation with respect to a sealing material as needed. If this is used when the distance between the substrates is approximately 3 μm or more, it is effective in reducing variations in the distance between the substrates of the liquid crystal electro-optical device. At this time, a spacer having a spherical shape and a constant diameter is used as the additive. As the additive, an inorganic material such as SiO 2 or an organic material mainly composed of divinylbenzene can be used.
このとき添加するスペーサの直径は利用する液晶あるいは動作モードの違いにより適宜選択する。例としてTNモードでは2〜5μm前後、強誘電性液晶、反強誘電性液晶は0.5〜3μm前後である。 The diameter of the spacer added at this time is appropriately selected depending on the liquid crystal to be used or the operation mode. For example, in the TN mode, it is about 2 to 5 μm, and for the ferroelectric liquid crystal and antiferroelectric liquid crystal, it is about 0.5 to 3 μm.
シール材に対するスペーサの添加量は、使用するスペーサに依存するが、多くの場合3wt%程度でよい。あまり多く添加すると添加したスペーサ同士が重なり合って一定の基板の間隔が取れなくなってしまう。 The amount of spacer added to the sealing material depends on the spacer used, but in many cases it may be about 3 wt%. If too much is added, the added spacers overlap each other, and a certain distance between the substrates cannot be obtained.
また、柱状のスペーサ205aの高さは、シール材の画素部へのしみ出しが防止できるような高さが基本的には良いが、一対の基板に形成された対向する画素電極の間隔、つまり基板の間隔を所定の間隔とすることが出来るようにも設定できる。特にアクティブマトリクス基板201を利用する場合、信号配線、ブラックマトリクス、補助容量、層間絶縁膜などが形成されており、場合によってはこれらの構成物による段差が発生するので段差を考慮して高さを決める。つまり、たとえば基板の間隔を4μmにしたい場合、柱状のスペーサ205aを立てるべき場所に基板表面よりも0.2μm高く段差が出来ている場合、柱状のスペーサ205aの高さは3.8μmとすればよい。柱状のスペーサがギャップ保持材に相当する。
In addition, the height of the columnar spacer 205a is basically good enough to prevent the sealing material from seeping into the pixel portion, but the interval between the opposing pixel electrodes formed on the pair of substrates, that is, It can also be set so that the interval between the substrates can be a predetermined interval. In particular, when the
なお、柱状のスペーサを画素部内において表示に影響しない部分、たとえばソース配線、ゲート配線上やブラックマトリクス上に設けそれを基板の間隔保持用に利用してもよい。 Note that a columnar spacer may be provided in a portion that does not affect display in the pixel portion, for example, on a source wiring, a gate wiring, or a black matrix, and may be used for holding a gap between substrates.
また、スペーサをアクティブマトリクス基板201に形成する場合を例にしているが、これに限定するものではなく対向基板202に形成してもよく、さらに、両方の基板に形成してもよい。ただし、スペーサを画素部にも作製する場合、基板上に形成された画素とスペーサとのアライメント精度を高くするためには、フォトリソグラフィー法によってアクティブマトリクス基板にスペーサを形成することが望ましい。これは、マスクアライナーの方が貼り合わせ装置よりもアライメント精度が高いことが一般的であるためである。
Further, although the case where the spacer is formed on the
柱状のスペーサ205aを形成しない場合は、図2(B)のように基板上に球状スペーサ205bを散布する。球状スペーサは、有機物あるいは無機物からなる球状の物質で、従来の液晶電気光学装置で利用されている物質と散布方法をそのまま利用できる。液晶電気光学装置内のスペーサの密度は一般的には20個〜200個/mm2であれば基板の間隔を一定に保持できる。
When the
このようにして配向膜、シールパターン、アクティブマトリクス基板と対向基板のいずれかにスペーサを形成し、さらにその後、液晶電気光学装置を作製するために貼り合わせる。 In this manner, spacers are formed on any of the alignment film, the seal pattern, the active matrix substrate, and the counter substrate, and then bonded to form a liquid crystal electro-optical device.
つぎに液晶組成物209について説明する。液晶組成物209はネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)とを含有する混合物であり、実施の形態1に示したものを用いることができる。ネマティック液晶としてはビフェニル系、ターフェニル系、フェニルシクロヘキサン系、ピリミジン系、フッ素系、トラン系またはエステル系等の材料を用いることができる。フッ素を含む不活性液体の量は、液晶組成物の量に対して20〜30wt%程度で良い。あまり多く添加するとネマティック液晶の割合が減ってしまいパネルで表示させたときにムラが出来てしまう。また添加量が少なすぎると、効果が得られない。
Next, the
ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)の混合方法について説明する。本実施の形態においては、これらの材料を混合してネマティック液晶の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)以上に加熱しながら1時間攪拌する。等方相−ネマティック相の転移点(NI点)以上で攪拌することにより、ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体が混ざり合う。この時、等方相−ネマティック相の転移点(NI点)付近で攪拌するのが望ましい。あまり温度が高すぎるとネマティック液晶の特性が変質してしまう。 A method of mixing the nematic liquid crystal and an inert liquid containing fluorine (C m F n or C m F n O, where m and n are natural numbers) will be described. In the present embodiment, these materials are mixed and stirred for 1 hour while heating above the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal. By stirring above the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point), the nematic liquid crystal and the inert liquid containing fluorine are mixed. At this time, it is desirable to stir near the isotropic phase-nematic phase transition point (NI point). If the temperature is too high, the characteristics of the nematic liquid crystal will be altered.
前述の基板201と202により形成された液晶セルに前記液晶組成物209をネマティック液晶の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)よりも高温にして毛細管現象を利用して注入を行う。この時も、等方相−ネマティック相の転移点(NI点)付近で注入するのが望ましく、あまり温度が高すぎるとネマティック液晶の特性が変質してしまう。また、注入は真空注入法を用いても良い。注入後の配向状態をバックライト上で偏光板に挟んで確認したところ分離している様子は確認出来ない。
The
以上の工程により、ネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体(CmFn、又はCmFnO、但しm、nは自然数)の混合体で構成される応答速度の速い液晶電気光学装置を作製することができる。 Through the above steps, the nematic liquid crystal and fluorine inert liquid containing (C m F n, or C m F n O, where m, n are natural numbers) fast liquid crystal electro-optical device response speed consists of a mixture of Can be produced.
本実施の形態ではアクティブマトリクス型の液晶電気光学装置を例に説明したが、単純マトリクス型の液晶電気光学装置についても本発明を適用することできる。 Although an active matrix type liquid crystal electro-optical device has been described as an example in this embodiment mode, the present invention can also be applied to a simple matrix type liquid crystal electro-optical device.
本実施の形態で用いた液晶組成物209は、滴下注入法を用いた製造方法によって作製される液晶電気光学装置にも適用することできる。
The
以下に液晶電気光学装置の作製方法を示す。
ガラス基板上にスパッタリング法で透明導電膜(Indium Tin Oxide(以下、ITOとする))を100nm成膜する。レジストを塗布し仮焼きした後、電極マスクを用いて露光し、ウェットエッチング法でレジストの現像を行った。透明導電膜(ITO)のエッチングをウェットエッチング法で行い、剥離液でレジストの除去を行った。レジスト除去後、透明導電膜(ITO)の焼成を250℃1時間で行った。
A method for manufacturing a liquid crystal electro-optical device will be described below.
A transparent conductive film (Indium Tin Oxide (hereinafter referred to as ITO)) is formed to a thickness of 100 nm on a glass substrate by a sputtering method. After applying a resist and calcining, exposure was performed using an electrode mask, and the resist was developed by a wet etching method. The transparent conductive film (ITO) was etched by a wet etching method, and the resist was removed with a stripping solution. After removing the resist, the transparent conductive film (ITO) was baked at 250 ° C. for 1 hour.
透明導電膜(ITO)の電極が形成されたガラス基板の洗浄を行った。凸版印刷によりポリイミド樹脂を40nm程度の厚さに印刷し、ポリイミド樹脂の焼成を200℃90分で行った。焼成後、ラビング法によりポリイミド樹脂の配向処理を行い、ガラス基板の洗浄を行った。 The glass substrate on which the transparent conductive film (ITO) electrode was formed was cleaned. A polyimide resin was printed to a thickness of about 40 nm by letterpress printing, and the polyimide resin was baked at 200 ° C. for 90 minutes. After firing, the polyimide resin was aligned by a rubbing method, and the glass substrate was washed.
一方の透明導電膜(ITO)の電極が形成されたガラス基板に、2.2μmのギャップ保持材を混合した熱硬化型のシール材を、ディスペンサを用いて電極の外側を囲むようにパターンを形成した。 A glass substrate on which one transparent conductive film (ITO) electrode is formed is coated with a thermosetting sealing material mixed with a 2.2 μm gap retaining material, and a pattern is formed so as to surround the outside of the electrode using a dispenser. did.
もう一方の透明導電膜(ITO)の電極が形成されたガラス基板には、イソプロピルアルコールに2μmの球状スペーサを混合し湿式散布を、スピナーを用いて行った。 On the glass substrate on which the other transparent conductive film (ITO) electrode was formed, a 2 μm spherical spacer was mixed in isopropyl alcohol and wet spraying was performed using a spinner.
スペーサの散布を行ったガラス基板の対角に紫外線硬化型のシール材を滴下し、熱硬化型のシール材でパターンを形成したガラス基板と貼り合せを行った。1.0kgf/cm2の圧力で15分間プレスを行い、紫外線を1分間照射させ紫外線硬化型のシール材を硬化させた。プレス終了後、1.0kgf/cm2の圧力で熱プレスを行い、貼り合せた基板をパネルサイズに切り出した。 An ultraviolet curable sealant was dropped on the opposite side of the glass substrate on which the spacers were dispersed, and was bonded to a glass substrate on which a pattern was formed with a thermosetting sealant. Pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 for 15 minutes, and ultraviolet rays were irradiated for 1 minute to cure the ultraviolet curable sealing material. After completion of pressing, hot pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 , and the bonded substrate was cut into a panel size.
液晶組成物の作製には、ネマティック液晶であるメルク社製のTL215とフッ素を含む不活性液体である住友3M製のFLUORINERT(登録商標)FC−43を使用した。ネマティック液晶TL215の物性は、屈折率の異方性の値Δnは0.2程度、誘電率8.5である。FLUORINERT(登録商標)FC−43の物性は、沸点174℃、融点−50℃、密度1.88kg/m3、動粘度2.8cStである。ネマティック液晶TL215に対してFLUORINERT(登録商標)FC−43は0wt%,30wt%,60wt%の割合で混合し、液晶材料が等方相(液体)状態になるよう90℃で加熱しながら攪拌を1時間行うことで、液晶組成物を得た。 For the production of the liquid crystal composition, TL215 made by Merck Co., which is a nematic liquid crystal, and FLUORINERT (registered trademark) FC-43 made by Sumitomo 3M, which is an inert liquid containing fluorine, were used. As for the physical properties of the nematic liquid crystal TL215, the refractive index anisotropy value Δn is about 0.2 and the dielectric constant is 8.5. The physical properties of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 are a boiling point of 174 ° C., a melting point of −50 ° C., a density of 1.88 kg / m 3 , and a kinematic viscosity of 2.8 cSt. FLUORINERT (registered trademark) FC-43 is mixed with nematic liquid crystal TL215 at a ratio of 0 wt%, 30 wt%, and 60 wt%, and stirred while heating at 90 ° C so that the liquid crystal material is in an isotropic phase (liquid) state. By performing for 1 hour, the liquid-crystal composition was obtained.
切り出したパネルをホットプレート上で90℃に温めながらネマティック液晶とフッ素を含む不活性液体の液晶組成物の注入を行った。 A liquid crystal composition of an inert liquid containing nematic liquid crystal and fluorine was injected while the cut panel was heated to 90 ° C. on a hot plate.
ネマティック液晶TL215とFLUORINERT(登録商標)FC−43の液晶組成物を注入したセルにリード線を接続することで簡単な液晶電気光学装置を作製した(図1)。 A simple liquid crystal electro-optical device was manufactured by connecting lead wires to a cell into which a liquid crystal composition of nematic liquid crystal TL215 and FLUORINERT (registered trademark) FC-43 was injected (FIG. 1).
偏光顕微鏡を用いて、偏光板をクロスニコルにして液晶組成物の注入されたセルを挟んだ状態で、リード線に電圧を印可することにより、オシロスコープを用いて液晶の応答を観察した。任意波形発生器にて0V−10Vの矩形波、0.1Hzの周波数の電圧を印加した。液晶組成物の応答時間とネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−43の比率との関係を図3に示した。縦軸が液晶組成物の応答時間(ms)、横軸がネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−43の比率(wt%)である。なお、立ち上がり応答時間とは、表示をOFFの状態からONの状態に切り替わる時に必要な応答時間を指し、立ち下り応答時間とは、表示をONの状態からOFFの状態に切り替わる時に必要な応答時間を指す。また、図3に示したAVE.は立ち上がり時間と立ち下り時間の平均時間である。この結果から、ネマティック液晶TL215(比率0wt%の時、すなわち純粋なネマティック液晶TL215)の応答速度に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−43を添加した液晶組成物の応答速度が速くなる傾向が確認出来た。 A polarizing microscope was used to observe the response of the liquid crystal using an oscilloscope by applying a voltage to the lead wire with the polarizing plate crossed Nicol and sandwiching the cell into which the liquid crystal composition was injected. A rectangular wave of 0V-10V and a voltage of a frequency of 0.1 Hz were applied with an arbitrary waveform generator. The relationship between the response time of the liquid crystal composition and the ratio of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 added to the nematic liquid crystal is shown in FIG. The vertical axis represents the response time (ms) of the liquid crystal composition, and the horizontal axis represents the ratio (wt%) of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 added to the nematic liquid crystal. The rise response time refers to the response time required when the display is switched from the OFF state to the ON state, and the fall response time is the response time required when the display is switched from the ON state to the OFF state. Point to. In addition, the AVE. Is the average time of rise time and fall time. From this result, it is confirmed that the response speed of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-43 is added is higher than the response speed of nematic liquid crystal TL215 (when the ratio is 0 wt%, that is, pure nematic liquid crystal TL215). done.
ネマティック液晶TL215の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は83.3℃であり、FLUORINERT(登録商標)FC−43が添加された液晶組成物の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は30wt%で83.5℃、60wt%で83.3℃であった。このことから、FLUORINERT(登録商標)FC−43の添加量が増えても等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は変化しないことが確認出来た。 The isotropic phase-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal TL215 is 83.3 ° C., and the isotropic phase-nematic phase transition point of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-43 is added. The (NI point) was 83.5 ° C. at 30 wt% and 83.3 ° C. at 60 wt%. From this, it was confirmed that the transition point (NI point) of the isotropic phase-nematic phase did not change even when the addition amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 was increased.
次に電圧保持率の測定を行った。電界効果型トランジスタを用いて、64μsec、10Vのパルスを30msec毎に液晶セルに印加し、そのときの液晶電気光学装置セルの電位の低下率を実効値から求め、電圧保持率とした。ネマティック液晶TL215の電圧保持率99%に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−43の添加量が増えても電圧保持率は98〜99%と特に変化は見られなかった。 Next, the voltage holding ratio was measured. Using a field-effect transistor, a pulse of 64 μsec and 10 V was applied to the liquid crystal cell every 30 msec, and the rate of decrease in the potential of the liquid crystal electro-optical device cell at that time was obtained from the effective value to obtain the voltage holding ratio. Even though the amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 increased with respect to the voltage holding ratio of 99% of the nematic liquid crystal TL215, the voltage holding ratio was 98 to 99%, and no particular change was observed.
実施例1で用いたFLUORINERT(登録商標)FC−43の代わりに、フッ素を含む不活性液体である住友3M製のFLUORINERT(登録商標)FC−70を用いた以外は実施例1と同様にして実施例2の液晶電気光学装置を作製した。(図1)FLUORINERT(登録商標)FC−70の物性は、沸点215℃、融点−25℃、密度1.94kg/m3、動粘度14.0cStである。 Instead of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 used in Example 1, the same procedure as in Example 1 was used except that FLUORINERT (registered trademark) FC-70 manufactured by Sumitomo 3M, which is an inert liquid containing fluorine, was used. A liquid crystal electro-optical device of Example 2 was produced. (FIG. 1) The physical properties of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 are a boiling point of 215 ° C., a melting point of −25 ° C., a density of 1.94 kg / m 3 , and a kinematic viscosity of 14.0 cSt.
偏光顕微鏡を用いて、偏光板をクロスニコルにして液晶組成物の注入されたセルを挟んだ状態で、リード線に電圧を印可することにより、液晶の応答をオシロスコープを用いて観察した。任意波形発生器にて0V−10Vの矩形波、0.1Hzの周波数の電圧を印可した。液晶組成物の応答時間とネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−70の比率との関係を図4に示した。縦軸が液晶組成物の応答時間(ms)、横軸がネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−70の比率(wt%)である。この結果から、ネマティック液晶TL215(比率0wt%の時、すなわち純粋なネマティック液晶TL215)の応答速度に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−70を添加した液晶組成物の応答速度が速くなる傾向が確認出来た。 Using a polarizing microscope, the response of the liquid crystal was observed using an oscilloscope by applying a voltage to the lead wire in a state where the polarizing plate was crossed Nicol and the cell into which the liquid crystal composition was injected was sandwiched. A rectangular wave of 0V-10V and a voltage of a frequency of 0.1 Hz were applied with an arbitrary waveform generator. The relationship between the response time of the liquid crystal composition and the ratio of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 added to the nematic liquid crystal is shown in FIG. The vertical axis represents the response time (ms) of the liquid crystal composition, and the horizontal axis represents the ratio (wt%) of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 added to the nematic liquid crystal. From this result, it is confirmed that the response speed of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-70 is added becomes higher than the response speed of nematic liquid crystal TL215 (when the ratio is 0 wt%, that is, pure nematic liquid crystal TL215). done.
ネマティック液晶TL215の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は83.3℃であり、FLUORINERT(登録商標)FC−70が添加された液晶組成物の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は30wt%で83.5℃、60wt%で83.7℃であった。このことから、FLUORINERT(登録商標)FC−70の添加量が増えても等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は変化しないことが確認出来た。 The isotropic-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal TL215 is 83.3 ° C., and the isotropic phase-nematic phase transition point of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-70 is added. The (NI point) was 83.5 ° C. at 30 wt% and 83.7 ° C. at 60 wt%. From this, it was confirmed that the transition point (NI point) of the isotropic phase-nematic phase did not change even when the addition amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 was increased.
次に電圧保持率の測定を行った。電界効果型トランジスタを用いて、64μsec、10Vのパルスを30msec毎に液晶セルに印加し、そのときの液晶電気光学装置セルの電位の低下率を実効値から求め、電圧保持率とした。ネマティック液晶TL215の電圧保持率99%に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−70の添加量が増えても電圧保持率は98〜99%と特に変化は見られなかった。 Next, the voltage holding ratio was measured. Using a field-effect transistor, a pulse of 64 μsec and 10 V was applied to the liquid crystal cell every 30 msec, and the rate of decrease in the potential of the liquid crystal electro-optical device cell at that time was obtained from the effective value to obtain the voltage holding ratio. There was no particular change in the voltage holding ratio of 98 to 99% even when the amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 was increased with respect to the voltage holding ratio of 99% of the nematic liquid crystal TL215.
実施例1で用いたFLUORINERT(登録商標)FC−43の代わりに、フッ素を含む不活性液体である住友3M製のFLUORINERT(登録商標)FC−77を用いた以外は実施例1と同様にして実施例3の液晶電気光学装置を作製した。(図1)FLUORINERT(登録商標)FC−77の物性は、沸点97℃、融点−110℃、密度1.78kg/m3、動粘度0.8cStである。 Instead of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 used in Example 1, the same procedure as in Example 1 was used except that FLUORINERT (registered trademark) FC-77 made by Sumitomo 3M, which is an inert liquid containing fluorine, was used. A liquid crystal electro-optical device of Example 3 was produced. (FIG. 1) The physical properties of FLUORINERT (registered trademark) FC-77 are a boiling point of 97 ° C., a melting point of −110 ° C., a density of 1.78 kg / m 3 , and a kinematic viscosity of 0.8 cSt.
偏光顕微鏡を用いて、偏光板をクロスニコルにして液晶組成物の注入されたセルを挟んだ状態で、リード線に電圧を印可することにより、液晶の応答をオシロスコープを用いて観察した。任意波形発生器にて0V−10Vの矩形波、0.1Hzの周波数の電圧を印加した。液晶組成物の応答時間とネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−70の比率との関係を図5に示した。縦軸が液晶組成物の応答時間(ms)、横軸がネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−77の比率(wt%)である。この結果から、ネマティック液晶TL215(比率0wt%の時、すなわち純粋なネマティック液晶TL215)の応答速度に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−77を添加した液晶組成物の応答速度が速くなる傾向が確認出来た。 Using a polarizing microscope, the response of the liquid crystal was observed using an oscilloscope by applying a voltage to the lead wire in a state where the polarizing plate was crossed Nicol and the cell into which the liquid crystal composition was injected was sandwiched. A rectangular wave of 0V-10V and a voltage of a frequency of 0.1 Hz were applied with an arbitrary waveform generator. The relationship between the response time of the liquid crystal composition and the ratio of FLUORINERT (registered trademark) FC-70 added to the nematic liquid crystal is shown in FIG. The vertical axis represents the response time (ms) of the liquid crystal composition, and the horizontal axis represents the ratio (wt%) of FLUORINERT (registered trademark) FC-77 added to the nematic liquid crystal. From this result, it is confirmed that the response speed of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-77 is added becomes higher than the response speed of nematic liquid crystal TL215 (when the ratio is 0 wt%, that is, pure nematic liquid crystal TL215). done.
ネマティック液晶TL215の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は83.3℃であり、FLUORINERT(登録商標)FC−77が添加された液晶組成物の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は30wt%で82.8℃、60wt%で83.3℃であった。このことから、FLUORINERT(登録商標)FC−77の添加量が増えても等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は変化しないことが確認出来た。 The isotropic-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal TL215 is 83.3 ° C., and the isotropic phase-nematic phase transition point of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-77 is added. (NI point) was 82.8 ° C. at 30 wt% and 83.3 ° C. at 60 wt%. From this, it was confirmed that the transition point (NI point) of the isotropic phase-nematic phase did not change even when the addition amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-77 was increased.
次に電圧保持率の測定を行った。電界効果型トランジスタを用いて、64μsec、10Vのパルスを30msec毎に液晶セルに印加し、そのときの液晶電気光学装置セルの電位の低下率を実効値から求め、電圧保持率とした。ネマティック液晶TL215の電圧保持率99%に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−77の添加量が増えても電圧保持率は98〜99%と特に変化は見られなかった。 Next, the voltage holding ratio was measured. Using a field-effect transistor, a pulse of 64 μsec and 10 V was applied to the liquid crystal cell every 30 msec, and the rate of decrease in the potential of the liquid crystal electro-optical device cell at that time was obtained from the effective value to obtain the voltage holding ratio. Even though the amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-77 increased with respect to the voltage holding ratio of 99% of the nematic liquid crystal TL215, the voltage holding ratio was 98 to 99%, and no particular change was observed.
実施例1で用いたネマティック液晶(メルク社製のTL215)の代わりに、ネマティック液晶(メルク社製のZLI4792)を用い、ネマティック液晶ZLI4792に対してFLUORINERT(登録商標)FC−43は0wt%,10wt%,20wt%,30wt%,40wt%,50wt%,60wt%の割合で混合した以外は実施例1と同様にして実施例4の液晶電気光学装置を作製した。(図1)ネマティック液晶ZLI4792の物性は、屈折率の異方性の値Δn0.09程度、誘電率5.2である。 Instead of the nematic liquid crystal (TL215 manufactured by Merck) used in Example 1, nematic liquid crystal (ZLI4792 manufactured by Merck) was used, and FLUORINERT (registered trademark) FC-43 was 0 wt%, 10 wt% relative to the nematic liquid crystal ZLI4792. %, 20 wt%, 30 wt%, 40 wt%, 50 wt%, and 60 wt% were mixed in the same manner as in Example 1 to produce a liquid crystal electro-optical device of Example 4. (FIG. 1) The physical properties of nematic liquid crystal ZLI4792 are a refractive index anisotropy value Δn of about 0.09 and a dielectric constant of 5.2.
偏光顕微鏡を用いて、偏光板をクロスニコルにして液晶組成物の注入されたセルを挟んだ状態で、リード線に電圧を印可することにより、液晶の応答をオシロスコープを用いて観察した。任意波形発生器にて0V−10Vの矩形波、0.1Hzの周波数の電圧を印加した。液晶組成物の応答時間とネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−43の比率との関係を図6に示した。縦軸が液晶組成物の応答時間(ms)、横軸がネマティック液晶に添加したFLUORINERT(登録商標)FC−43の比率(wt%)である。この結果から、ネマティック液晶ZLI4792(比率0wt%の時、すなわち純粋なネマティック液晶ZLI4792)の応答速度に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−43を添加した液晶組成物の応答速度が速くなる傾向が確認出来た。 Using a polarizing microscope, the response of the liquid crystal was observed using an oscilloscope by applying a voltage to the lead wire in a state where the polarizing plate was crossed Nicol and the cell into which the liquid crystal composition was injected was sandwiched. A rectangular wave of 0V-10V and a voltage of a frequency of 0.1 Hz were applied with an arbitrary waveform generator. FIG. 6 shows the relationship between the response time of the liquid crystal composition and the ratio of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 added to the nematic liquid crystal. The vertical axis represents the response time (ms) of the liquid crystal composition, and the horizontal axis represents the ratio (wt%) of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 added to the nematic liquid crystal. From this result, it is confirmed that the response speed of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-43 is added is higher than the response speed of nematic liquid crystal ZLI4792 (when the ratio is 0 wt%, that is, pure nematic liquid crystal ZLI4792). done.
ネマティック液晶ZLI4792の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は97.6℃であり、FLUORINERT(登録商標)FC−43が添加された液晶組成物の等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は10wt%で97.5℃、20wt%で97.7℃、30wt%で97.3℃、40wt%で97.1℃、50wt%で97.4℃、60wt%で97.1℃であった。このことから、FLUORINERT(登録商標)FC−43の添加量が増えても等方相−ネマティック相の転移点(NI点)は変化しないことが確認出来た。 The isotropic-nematic phase transition point (NI point) of the nematic liquid crystal ZLI4792 is 97.6 ° C., and the isotropic phase-nematic phase transition point of the liquid crystal composition to which FLUORINERT (registered trademark) FC-43 is added. (NI point) is 97.5 ° C. at 10 wt%, 97.7 ° C. at 20 wt%, 97.3 ° C. at 30 wt%, 97.1 ° C. at 40 wt%, 97.4 ° C. at 50 wt%, and 97.000 at 60 wt%. It was 1 ° C. From this, it was confirmed that the transition point (NI point) of the isotropic phase-nematic phase did not change even when the addition amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 was increased.
次に電圧保持率の測定を行った。電界効果型トランジスタを用いて、64μsec、10Vのパルスを30msec毎に液晶セルに印加し、そのときの液晶電気光学装置セルの電位の低下率を実効値から求め、電圧保持率とした。ネマティック液晶ZLI4792の電圧保持率98%に対し、FLUORINERT(登録商標)FC−43の添加量が増えても電圧保持率は98〜99%と特に変化は見られなかった。 Next, the voltage holding ratio was measured. Using a field-effect transistor, a pulse of 64 μsec and 10 V was applied to the liquid crystal cell every 30 msec, and the rate of decrease in the potential of the liquid crystal electro-optical device cell at that time was obtained from the effective value to obtain the voltage holding ratio. The voltage holding ratio was 98 to 99% even when the addition amount of FLUORINERT (registered trademark) FC-43 was increased with respect to the voltage holding ratio of 98% of the nematic liquid crystal ZLI4792.
本実施例では本発明をアクティブマトリクス電気光学装置に適用する場合に画素に設けられるTFTの作製方法について説明する。 In this embodiment, a method for manufacturing a TFT provided in a pixel when the present invention is applied to an active matrix electro-optical device will be described.
まず図7(A)に示すように、基板500上に下地膜501を成膜する。基板500には、例えばバリウムホウケイ酸ガラスや、アルミノホウケイ酸ガラスなどのガラス基板、石英基板、ステンレス基板等を用いることができる。また、PET、PES、PENに代表されるプラスチックや、アクリル等の可撓性を有する合成樹脂からなる基板を用いることも可能である。
First, as shown in FIG. 7A, a
下地膜501は基板500中に含まれるNaなどのアルカリ金属やアルカリ土類金属が、半導体膜中に拡散し、半導体素子の特性に悪影響を及ぼすのを防ぐために設ける。よってアルカリ金属やアルカリ土類金属の半導体膜への拡散を抑えることができる窒化珪素、窒素を含む酸化珪素などの絶縁膜を用いて形成する。本実施例では、プラズマCVD法を用いて窒素を含む酸化珪素膜を10nm〜400nm(好ましくは50nm〜300nm)の膜厚になるように成膜する。
The
なお下地膜501は窒化珪素、窒素を含む酸化珪素、酸素を含む窒化珪素などの絶縁膜単層であっても、酸化珪素、窒化珪素、窒素を含む酸化珪素、酸素を含む窒化珪素などの絶縁膜を複数積層したものであっても良い。またガラス基板、ステンレス基板またはプラスチック基板のように、アルカリ金属やアルカリ土類金属が多少なりとも含まれている基板を用いる場合、不純物の拡散を防ぐという観点から下地膜を設けることは有効であるが、石英基板など不純物の拡散がさして問題とならない場合は、必ずしも設ける必要はない。
Note that even though the
次に下地膜501上に半導体膜502を形成する。半導体膜502の膜厚は25nm〜100nm(好ましくは30nm〜60nm)とする。なお半導体膜502は、非晶質半導体であっても良いし、多結晶半導体であっても良い。また半導体はシリコン(Si)だけではなくシリコンゲルマニウム(SiGe)も用いることができる。シリコンゲルマニウムを用いる場合、ゲルマニウムの濃度は0.01〜4.5atomic%程度であることが好ましい。
Next, a
次に図7(B)に示すように、半導体膜502に線状レーザ499を照射し、結晶化を行なう。レーザ結晶化を行なう場合、レーザ結晶化の前に、レーザに対する半導体膜502の耐性を高めるために、500℃、1時間の加熱処理を該半導体膜502に行ってもよい。
Next, as shown in FIG. 7B, the
レーザ結晶化は、連続発振のレーザ、または擬似CW(Continuous−Wave)レーザとして、発振周波数が10MHz以上、好ましくは80MHz以上のパルス発振レーザを用いることができる。 For laser crystallization, a pulsed laser having an oscillation frequency of 10 MHz or more, preferably 80 MHz or more can be used as a continuous wave laser or a pseudo CW (Continuous-Wave) laser.
具体的には、連続発振のレーザとして、Arレーザ、Krレーザ、CO2レーザ、YAGレーザ、YVO4レーザ、YLFレーザ、YAlO3レーザ、GdVO4レーザ、Y2O3レーザ、ルビーレーザ、アレキサンドライトレーザ、Ti:サファイアレーザ、ヘリウムカドミウムレーザなどが挙げられる。 Specifically, as a continuous wave laser, Ar laser, Kr laser, CO 2 laser, YAG laser, YVO 4 laser, YLF laser, YAlO 3 laser, GdVO 4 laser, Y 2 O 3 laser, ruby laser, alexandrite laser Ti: sapphire laser, helium cadmium laser, and the like.
また擬似CWレーザとして、発振周波数が10MHz以上、好ましくは80MHz以上のパルス発振させることができるのであれば、Arレーザ、Krレーザ、エキシマレーザ、CO2レーザ、YAGレーザ、YVO4レーザ、YLFレーザ、YAlO3レーザ、GdVO4レーザ、Y2O3レーザ、ルビーレーザ、アレキサンドライトレーザ、Ti:サファイアレーザ、銅蒸気レーザまたは金蒸気レーザのようなパルス発振レーザを用いることができる。 As a pseudo CW laser, an Ar laser, a Kr laser, an excimer laser, a CO 2 laser, a YAG laser, a YVO 4 laser, a YLF laser, if the oscillation frequency is 10 MHz or more, preferably 80 MHz or more can be oscillated. A pulsed laser such as YAlO 3 laser, GdVO 4 laser, Y 2 O 3 laser, ruby laser, alexandrite laser, Ti: sapphire laser, copper vapor laser, or gold vapor laser can be used.
このようなパルス発振レーザは、発振周波数を増加させていくと、いずれは連続発振レーザと同等の効果を示すものである。 Such a pulsed laser has an effect equivalent to that of a continuous wave laser as the oscillation frequency is increased.
例えば連続発振が可能な固体レーザを用いる場合、第2高調波〜第4高調波のレーザ光を照射することで、大粒径の結晶を得ることができる。代表的には、YAGレーザ(基本波1064nm)の第2高調波(532nm)や第3高調波(355nm)を用いるのが望ましい。例えば、連続発振のYAGレーザから射出されたレーザ光を非線形光学素子により高調波に変換して、半導体膜502に照射する。エネルギー密度は0.01〜100MW/cm2程度(好ましくは0.1〜10MW/cm2)とすれば良い。
For example, when a solid-state laser capable of continuous oscillation is used, a crystal having a large grain size can be obtained by irradiating laser light of second to fourth harmonics. Typically, it is desirable to use the second harmonic (532 nm) or the third harmonic (355 nm) of a YAG laser (fundamental wave 1064 nm). For example, laser light emitted from a continuous wave YAG laser is converted into a harmonic by a non-linear optical element, and irradiated to the
なお、希ガスや窒素などの不活性ガスを含む雰囲気中でレーザ光を照射するようにしても良い。これにより、レーザ光照射による半導体表面の荒れを抑えることができ、界面準位密度のばらつきによって生じる閾値電圧のばらつきを抑えることができる。 Note that laser light irradiation may be performed in an atmosphere containing an inert gas such as a rare gas or nitrogen. Thereby, roughness of the semiconductor surface due to laser light irradiation can be suppressed, and variation in threshold voltage caused by variation in interface state density can be suppressed.
上述した半導体膜502へのレーザ光の照射により、結晶性がより高められた結晶性半導体膜504が形成される。
By irradiating the
次に、図7(C)に示すように結晶性半導体膜504を所望の形状に加工することで、島状半導体膜507〜509が形成される。
Next, as illustrated in FIG. 7C, the
次に島状半導体膜にしきい値制御のための不純物を導入する。本実施例においてはジボラン(B2H6)をドープすることによってボロン(B)を島状半導体膜中に導入する。 Next, an impurity for threshold control is introduced into the island-shaped semiconductor film. In this embodiment, boron (B) is introduced into the island-shaped semiconductor film by doping diborane (B 2 H 6 ).
次に島状半導体膜507〜509を覆うように絶縁膜510を成膜する。絶縁膜510には、例えば酸化珪素(SiO)、窒化珪素(SiN)または窒素を含んだ酸化珪素(SiON)等を用いることができる。また成膜方法は、プラズマCVD法、スパッタ法などを用いることができる。
Next, an insulating
次に、絶縁膜510上に導電膜を成膜した後、導電膜を所望の形状に加工することで、ゲート電極570〜572を形成する。
Next, after a conductive film is formed over the insulating
ゲート電極570〜572は、導電膜を単層または2層以上積層させた構造を用いて形成する。導電膜を2層以上積層させている場合は、タンタル(Ta)、タングステン(W)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)から選ばれた元素、または前記元素を主成分とする合金材料、若しくは化合物材料を積層させてゲート電極570〜572を形成してもよい。また、リン(P)等の不純物元素をドーピングした多結晶シリコン膜に代表される半導体膜を用いてゲート電極を形成してもよい。
The
本実施例では、ゲート電極570〜572は以下のようにして形成される。まず第1の導電膜511として、例えば窒化タンタル(TaN)膜を10〜50nm、例えば30nmの膜厚で形成する。そして第1の導電膜511上に第2の導電膜512として、例えばタングステン(W)膜を200〜400nm、例えば370nmの膜厚で形成し、第1の導電膜511及び第2の導電膜512の積層膜を形成する(図7(D))。
In this embodiment, the
次に第2の導電膜512を異方性エッチングでエッチングし、上層ゲート電極560〜562を形成する(図8(A))。次いで第1の導電膜511を等方性エッチングでエッチングし、下層ゲート電極563〜565を形成する(図8(B))。以上よりゲート電極570〜572を形成する。
Next, the second
ゲート電極570〜572は、ゲート配線の一部として形成してもよいし、別にゲート配線を形成して、そのゲート配線にゲート電極570〜572を接続してもよい。
The
そして、ゲート電極570〜572や、あるいはレジストを成膜して所望の形状に加工したものをマスクとして用い、島状半導体膜507〜509それぞれに一導電性(n型またはp型の導電性)を付与する不純物を添加し、ソース領域、ドレイン領域、さらには低濃度不純物領域等を形成する。
Then, using the
まず、フォスフィン(PH3)を用いて、リン(P)を、加速電圧を60〜120keV、ドーズ量を1×1013〜1×1015cm−2として島状半導体膜中に導入する。この不純物導入の際にnチャネル型TFT550及び552のチャネル形成領域522及び527が形成される。
First, phosphorous (P) is introduced into the island-shaped semiconductor film using phosphine (PH 3 ) with an acceleration voltage of 60 to 120 keV and a dose of 1 × 10 13 to 1 × 10 15 cm −2 . When this impurity is introduced,
またpチャネル型TFT551を作製するために、ジボラン(B2H6)を印加電圧60〜100keV、例えば80keV、ドーズ量1×1013〜5×1015cm−2、例えば3×1015cm−2の条件で、島状半導体膜中にボロン(B)を導入する。これによりpチャネル型TFTのソース領域又はドレイン領域523、またこの不純物導入の際にチャネル形成領域524が形成される(図8(C))。
Further, in order to manufacture the p-
次に絶縁膜510を所望の形状に加工してゲート絶縁膜580〜582を形成する。
Next, the insulating
ゲート絶縁膜580〜582形成後、nチャネル型TFT550及び552となる島状半導体膜中に、フォスフィン(PH3)を用いて、印加電圧40〜80keV、例えば50keV、ドーズ量1.0×1015〜2.5×1016cm−2、例えば3.0×1015cm−2で、リン(P)を導入する。これによりnチャネル型TFTの低濃度不純物領域521、526、及びソース領域又はドレイン領域520、525が形成される(図9(A))。
After the
本実施例においては、nチャネル型TFT550及び552のソース領域又はドレイン領域520、525のそれぞれには、1×1019〜5×1021cm−3の濃度でリン(P)が含まれることとなる。またnチャネル型TFT550及び552の低濃度不純物領域521及び526のそれぞれには、1×1018〜5×1019cm−3の濃度でリン(P)が含まれる。さらに、pチャネル型TFT551のソース又はドレイン領域523には、1×1019〜5×1021cm−3の濃度でボロン(B)が含まれる。
In this embodiment, the source or drain
次に島状半導体膜507〜509、ゲート電極570〜572を覆って、第1層間絶縁膜530を形成する(図9(B))。
Next, a first
第1層間絶縁膜530としては、プラズマCVD法またはスパッタ法を用いて、シリコンを含む絶縁膜、例えば酸化珪素膜(SiO)、窒化珪素膜(SiN)、窒素を含む酸化珪素膜(SiON)、またはその積層膜で形成する。勿論、第1層間絶縁膜530は窒素を含む酸化珪素膜や窒化珪素膜、またはその積層膜に限定されるものでなく、他のシリコンを含む絶縁膜を単層または積層構造として用いても良い。
As the first
本実施例では、不純物を導入した後、窒素を含む酸化珪素膜(SiON膜)をプラズマCVD法により50nm形成し、レーザ照射又はRTA法によって不純物を活性化する。又は窒素を含む酸化珪素膜形成後、窒素雰囲気中550℃で4時間加熱して、不純物を活性化してもよい。 In this embodiment, after introducing impurities, a silicon oxide film containing nitrogen (SiON film) is formed to a thickness of 50 nm by plasma CVD, and the impurities are activated by laser irradiation or RTA. Alternatively, after forming a silicon oxide film containing nitrogen, the impurity may be activated by heating at 550 ° C. for 4 hours in a nitrogen atmosphere.
次にプラズマCVD法により窒化珪素膜(SiN膜)を50nm形成し、更に窒素を含む酸化珪素膜(SiON膜)を600nm形成する。この、窒素を含む酸化珪素膜、窒化珪素膜及び窒素を含む酸化珪素膜の積層膜が第1層間絶縁膜530である。
Next, a silicon nitride film (SiN film) is formed with a thickness of 50 nm by plasma CVD, and a silicon oxide film (SiON film) containing nitrogen is further formed with a thickness of 600 nm. The stacked film of the silicon oxide film containing nitrogen, the silicon nitride film, and the silicon oxide film containing nitrogen is the first
次に全体を410℃で1時間加熱し、窒化珪素膜から水素を放出させることにより水素化を行う。 Next, the whole is heated at 410 ° C. for 1 hour, and hydrogen is released by releasing hydrogen from the silicon nitride film.
次に第1層間絶縁膜530を覆って、平坦化膜として機能する第2層間絶縁膜531を形成する。
Next, a second
第2層間絶縁膜531としては、感光性または非感光性の有機材料(ポリイミド、アクリル、ポリアミド、ポリイミドアミド、レジストまたはベンゾシクロブテン)、シロキサン、及びそれらの積層構造を用いることができる。シロキサンは、シリコン(Si)と酸素(O)との結合で骨格構造が構成される。置換基として、少なくとも水素を含む有機基(例えばアルキル基、芳香族炭化水素)が用いられる。置換基として、フルオロ基を用いても良い。または、置換基として、少なくとも水素を含む有機基と、フルオロ基とを用いても良い。有機材料として、ポジ型感光性有機樹脂又はネガ型感光性有機樹脂を用いることができる。
As the second
本実施例では、第2層間絶縁膜531としてシロキサンをスピンコート法で形成する。
In this embodiment, siloxane is formed as the second
第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531をエッチングして、第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531に、島状半導体膜507〜509に到達するコンタクトホールを形成する。
The first
なお、第2層間絶縁膜531上に第3層間絶縁膜を形成し、第1層間絶縁膜〜第3層間絶縁膜にコンタクトホールを形成してもよい。第3の層間絶縁膜としては、水分や酸素などを他の絶縁膜と比較して透過させにくい膜を用いる。代表的には、スパッタ法またはCVD法により得られる窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸素を含む窒化珪素膜(SiNO膜(組成比N>O)またはSiON膜(組成比N<O))、炭素を主成分とする薄膜(例えばDLC膜、CN膜)などを用いることができる。
Note that a third interlayer insulating film may be formed on the second
第2層間絶縁膜531上にコンタクトホールを介して、第3の導電膜を形成し、第3の導電膜を所望の形状に加工して、電極又は配線540〜544を形成する。
A third conductive film is formed over the second
本実施例として、第3の導電膜は金属膜を用いる。該金属膜は、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)もしくはシリコン(Si)の元素からなる膜又はこれらの元素を用いた合金膜を用いればよい。本実施例では、チタン膜(Ti)、窒化チタン膜(TiN)、シリコン−アルミニウム合金膜(Al−Si)、チタン膜(Ti)をそれぞれ60nm、40nm、300nm、100nmに積層したのち、所望の形状にエッチングして電極又は配線540〜544を形成する。
In this embodiment, a metal film is used for the third conductive film. As the metal film, a film made of an element of aluminum (Al), titanium (Ti), molybdenum (Mo), tungsten (W), or silicon (Si) or an alloy film using these elements may be used. In this embodiment, a titanium film (Ti), a titanium nitride film (TiN), a silicon-aluminum alloy film (Al-Si), and a titanium film (Ti) are laminated to 60 nm, 40 nm, 300 nm, and 100 nm, respectively. Etching into a shape forms electrodes or
またこの電極又は配線540〜544を、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも1種の元素、及び炭素を含むアルミニウム合金膜で形成してもよい。このようなアルミニウム合金膜は、シリコンと接触してもシリコンとアルミニウムの相互拡散が防止できる。またこのようなアルミニウム合金膜は、透明導電膜、例えばITO(Indium Tin Oxide)膜と接触しても酸化還元反応が起こらないため、両者を直接接触させることができる。さらにこのようなアルミ合金膜は、比抵抗が低く耐熱性にも優れているので、配線材料としては有用である。
Alternatively, the electrodes or
また電極又は配線540〜544はそれぞれ、電極と配線を同時に形成してもよいし、電極と配線を別々に形成してそれらを接続させてもよい。
Each of the electrodes or
上記一連の工程によってnチャネル型TFT550及びpチャネル型TFT551を含むCMOS回路553、及びnチャネル型TFT552を含む半導体装置を形成することができる(図9(C))。なお本発明の半導体装置の作製方法は、島状半導体膜の形成以降の、上述した作製工程に限定されない。
Through the above series of steps, a
本実施例では、本発明を用いて液晶電気光学装置(Liquid Crystal Display(LCD))を作製する例を示す。 In this embodiment, an example in which a liquid crystal electro-optical device (Liquid Crystal Display (LCD)) is manufactured using the present invention will be described.
本実施例で説明する電気光学装置の作製方法は画素TFTを含む画素部とその周辺に設けられる駆動回路部のTFTを同時に作製する方法である。但し、説明を簡単にするために、駆動回路に関しては基本単位であるCMOS回路を図示することとする。 The manufacturing method of the electro-optical device described in this embodiment is a method of simultaneously manufacturing a pixel portion including a pixel TFT and a TFT of a driver circuit portion provided around the pixel portion. However, in order to simplify the explanation, a CMOS circuit which is a basic unit with respect to the drive circuit is illustrated.
まず実施例5に基づいて図9(C)における電極又は配線540〜544形成までを行う。なお、上記実施例と同じものは同じ符号で表す。
First, based on Example 5, the processes up to formation of electrodes or
次に第2層間絶縁膜531及び電極又は配線540〜544上に第3層間絶縁膜610を形成する。なお第3層間絶縁膜610は、第2層間絶縁膜531と同様の材料を用いて形成することが可能である。
Next, a third
次いで、フォトマスクを用いてレジストマスクを形成し、第3層間絶縁膜610の一部をドライエッチングにより除去して開孔(コンタクトホールを形成)する。このコンタクトホール形成においては、エッチングガスとして四フッ化炭素(CF4)、酸素(O2)、ヘリウム(He)を、CF4、O2、Heをそれぞれ50sccm、50sccm、30sccmの流量で用いた。なお、コンタクトホールの底部は電極又は配線544に達している。
Next, a resist mask is formed using a photomask, and a part of the third
次いで、レジストマスクを除去した後、全面に第2の導電膜を成膜する。次いでフォトマスクを用いて、第2の導電膜を所望の形状に加工し、電極又は配線544に電気的に接続される画素電極623を形成する(図10)。本実施例では、反射型の液晶表示パネルを作製するので、スパッタ法によりAg(銀)、Au(金)、Cu(銅)、W(タングステン)、Al(アルミニウム)等の光反射性を有する金属材料を用いて形成すればよい。
Next, after removing the resist mask, a second conductive film is formed over the entire surface. Next, using the photomask, the second conductive film is processed into a desired shape, so that the
また、透過型の液晶表示パネルを作製する場合は、インジウム錫酸化物(ITO)、酸化珪素を含むインジウム錫酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、酸化スズ(SnO2)などの透明導電膜を用い、画素電極623を形成する。
When a transmissive liquid crystal display panel is manufactured, a transparent conductive film such as indium tin oxide (ITO), indium tin oxide containing silicon oxide, zinc oxide (ZnO), or tin oxide (SnO 2 ) is used. A
図12に画素TFTを含む画素部650の一部を拡大した上面図を示す。図12において、実線A−A’で切断した図が、図10の画素部の断面と対応しており、図10と対応する箇所には同じ符号を用いている。
FIG. 12 shows an enlarged top view of a part of the
図12に示すように、ゲート電極572はゲート配線630に接続されている。また電極543はソース配線と一体形成されている。
As shown in FIG. 12, the
また、容量配線631が設けてあり、保持容量は、第1層間絶縁膜530を誘電体とし、画素電極623と、該画素電極と重なる容量配線631とで形成されている。
In addition, a
なお本実施例においては、画素電極623と容量配線631が重なる領域は、第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610をエッチングし、保持容量は画素電極623,第1層間絶縁膜530及び容量配線631によって形成されている。しかし第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610も誘電体として用いることが可能であれば、第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610をエッチングしなくてもよい。その場合第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610が誘電体として機能する。もしくは第3層間絶縁膜610のみをエッチングして、第1層間絶縁膜530と第2層間絶縁膜531を誘電体として用いてもよい。
In this embodiment, in the region where the
以上の工程により、基板500上にトップゲート型の画素TFT552、トップゲート型のnチャネル型TFT550及びpチャネル型TFT551からなるCMOS回路553および画素電極623が形成された液晶電気光学装置のTFT基板が完成する。本実施例では、トップゲート型TFTを形成したが、ボトムゲート型TFTを適宜用いることができる。
Through the above steps, the TFT substrate of the liquid crystal electro-optical device in which the
次いで、画素電極623を覆うように、配向膜624aを形成する。なお、配向膜624aは、液滴吐出法やスクリーン印刷法やオフセット印刷法を用いればよい。その後、配向膜624aの表面にラビング処理を行う。
Next, an
そして、対向基板625には、着色層626a、遮光層(ブラックマトリクス)626b、及びオーバーコート層627からなるカラーフィルタを設け、さらに透明電極もしくは反射電極からなる対向電極628と、その上に配向膜624bを形成する(図11)。そして、閉パターンであるシール材600を液滴吐出法により画素TFTを含む画素部650と重なる領域を囲むように形成する(図13(A))。ここでは液晶を滴下するため、閉パターンのシール材600を描画する例を示すが、開口部を有するシールパターンを設け、基板500を貼りあわせた後に毛細管現象を用いて液晶を注入するディップ式(汲み上げ式)を用いてもよい。
The
次いで、気泡が入らないように減圧下で液晶組成物629の滴下を行い(図13(B))、両方の基板500及び625を貼り合わせる(図13(C))。閉ループのシールパターン内に液晶を1回若しくは複数回滴下する。液晶組成物としては、実施例1〜4に示したものを液晶組成物を用いればよい。液晶組成物629の配向モードとしては、液晶分子の配列が光の入射から射出に向かって90°ツイスト配向したTNモードを用いる。そして基板のラビング方向が直交するように貼り合わせる。
Next, the
なお、一対の基板間隔は、球状のスペーサを散布したり、樹脂からなる柱状のスペーサを形成したり、シール材600にフィラーを含ませることによって維持すればよい。上記柱状のスペーサは、アクリル、ポリイミド、ポリイミドアミド、エポキシの少なくとも1つを主成分とする有機樹脂材料、もしくは酸化珪素、窒化珪素、窒素を含む酸化珪素のいずれか一種の材料、或いはこれらの積層膜からなる無機材料であることを特徴としている。
Note that the distance between the pair of substrates may be maintained by scattering spherical spacers, forming columnar spacers made of resin, or including a filler in the
次いで、基板の分断を行う。多面取りの場合、それぞれのパネルを分断する。また、1面取りの場合、予めカットされている対向基板を貼り合わせることによって、分断工程を省略することもできる(図13(D))。 Next, the substrate is divided. In case of multi-chamfering, each panel is divided. In the case of one-sided chamfering, the separation step can be omitted by attaching a counter substrate that has been cut in advance (FIG. 13D).
そして、異方性導電体層を介し、公知の技術を用いてFPC(Flexible Printed Circuit)を貼りつける。以上の工程で液晶電気光学装置が完成する。また、必要があれば光学フィルムを貼り付ける。透過型の液晶電気光学装置とする場合、偏光板は、TFT基板と対向基板の両方に貼り付ける。 Then, an FPC (Flexible Printed Circuit) is attached through an anisotropic conductor layer using a known technique. The liquid crystal electro-optical device is completed through the above steps. If necessary, an optical film is attached. In the case of a transmissive liquid crystal electro-optical device, the polarizing plate is attached to both the TFT substrate and the counter substrate.
以上の工程によって得られた液晶電気光学装置の上面図を図18(A)に示すとともに、他の液晶電気光学装置の上面図の例を図18(B)に示す。 FIG. 18A shows a top view of the liquid crystal electro-optical device obtained through the above steps, and FIG. 18B shows an example of a top view of another liquid crystal electro-optical device.
図18(A)中、500はTFT基板、625は対向基板、650は画素部、600はシール材、801はFPCである。なお、液晶組成物を液滴吐出法により吐出させ、減圧下で一対の基板500及び625をシール材600で貼り合わせている。
In FIG. 18A,
図18(B)中、500はTFT基板、625は対向基板、802はソース信号線駆動回路部、803はゲート信号線駆動回路部、650は画素部、600aは第1シール材、801はFPCである。なお、液晶組成物を液滴吐出法により吐出させ、一対の基板500及び625を第1シール材600aおよび第2シール材600bで貼り合わせている。駆動回路部802及び803には液晶は不要であるため、画素部650のみに液晶を保持させており、第2シール材600bはパネル全体の補強のために設けられている。
In FIG. 18B, 500 is a TFT substrate, 625 is a counter substrate, 802 is a source signal line driver circuit portion, 803 is a gate signal line driver circuit portion, 650 is a pixel portion, 600a is a first sealant, and 801 is an FPC. It is. Note that the liquid crystal composition is discharged by a droplet discharge method, and the pair of
以上示したように、本実施例では、本発明の液晶組成物を用い、結晶性半導体膜を有するTFTを用いて、液晶電気光学装置を作製することができる。これにより、作製時間、作製にかかるコストを削減することが可能になる。本実施例で作製される液晶電気光学装置は各種電子機器の表示部として用いることができる。 As described above, in this example, a liquid crystal electro-optical device can be manufactured using the liquid crystal composition of the present invention and a TFT having a crystalline semiconductor film. This makes it possible to reduce manufacturing time and manufacturing costs. The liquid crystal electro-optical device manufactured in this embodiment can be used as a display portion of various electronic devices.
なお、本実施例では、TFTをトップゲート型TFTとしたが、この構造に限定されるものではなく、適宜ボトムゲート型(逆スタガ型)TFTや、順スタガ型TFTを用いることが可能である。また、シングルゲート構造のTFTに限定されず、複数のチャネル形成領域を有するマルチゲート型TFT、例えばダブルゲート型TFTとしてもよい。 In this embodiment, the top gate type TFT is used as the TFT. However, the present invention is not limited to this structure, and a bottom gate type (reverse stagger type) TFT or a forward stagger type TFT can be used as appropriate. . Further, the TFT is not limited to a single-gate TFT, and may be a multi-gate TFT having a plurality of channel formation regions, for example, a double-gate TFT.
また、本実施例は、必要であれば上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載とも自由に組み合わせることが可能である。 Further, this embodiment can be freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments, if necessary.
本実施例では、液晶組成物を滴下する液滴吐出法を用いる例を示す。本実施例では、大面積基板1110を用い、パネル4枚取りの作製例を図14(A)〜図14(D)、図15(A)〜図15(B)、図16(A)〜図16(B)に示す。
In this example, an example of using a droplet discharge method in which a liquid crystal composition is dropped is shown. In this example, a large-
図14(A)は、ディスペンサ(またはインクジェット)による液晶層形成の途中の断面図を示しており、シール材1112で囲まれた画素部1111を覆うように液晶組成物1114を液滴吐出装置1116のノズル1118から吐出、噴射、または滴下させている。液滴吐出装置1116は、図14(A)中の矢印方向に移動させる。なお、ここではノズル1118を移動させた例を示したが、ノズルを固定し、基板を移動させることによって液晶層を形成してもよい。
FIG. 14A is a cross-sectional view in the middle of liquid crystal layer formation by a dispenser (or ink jet), and a
また、図14(B)には斜視図を示している。シール材1112で囲まれた領域のみに選択的に液晶組成物1114を吐出、噴射、または滴下させ、ノズル走査方向1113に合わせて滴下面1115が移動している様子を示している。
FIG. 14B is a perspective view. A state in which the
また、図14(A)の点線で囲まれた部分1119を拡大した断面図が図14(C)、図14(D)である。液晶組成物の粘性が高い場合は、連続的に吐出され、図14(C)のように繋がったまま付着される。一方、液晶組成物の粘性が低い場合には、間欠的に吐出され、図14(D)に示すように液滴が滴下される。
14C and 14D are enlarged cross-sectional views of a
なお、図14(C)中、1120はトップゲート型TFT、1121は画素電極をそれぞれ指している。画素部1111は、マトリクス状に配置された画素電極と、該画素電極と接続されているスイッチング素子、ここではトップゲート型TFTと、保持容量とで構成されている。
In FIG. 14C,
なお本実施例ではトップゲート型TFTを用いたが、ボトムゲート型TFTを用いてもよい。 Although a top gate TFT is used in this embodiment, a bottom gate TFT may be used.
ここで、図15(A)〜図15(B)及び図16(A)〜図16(B)を用いて、パネル作製の流れを以下に説明する。 Here, with reference to FIGS. 15A to 15B and FIGS. 16A to 16B, the flow of panel fabrication will be described below.
まず、絶縁表面に画素部1111が形成された第1基板1110を用意する。第1基板1110は、予め、配向膜の形成、ラビング処理、球状スペーサ散布、或いは柱状スペーサ形成、またはカラーフィルタの形成などを行っておく。次いで、図15(A)に示すように、不活性気体雰囲気または減圧下で第1基板1110上にディスペンサ装置またはインクジェット装置でシール材1112を所定の位置(画素部1111を囲むパターン)に形成する。半透明なシール材1112としてはフィラー(直径6μm〜24μm)を含み、且つ、粘度40〜400Pa・sのものを用いる。なお、後に接する液晶に溶解しない材料を選択することが好ましい。シール材1112としては、アクリル系光硬化樹脂やアクリル系熱硬化樹脂を用いればよい。また、簡単なシールパターンであるのでシール材1112は、印刷法で形成することもできる。
First, a
次いで、シール材1112に囲まれた領域に液晶組成物1114をインクジェット法により滴下する(図15(B))。液晶組成物1114としては、実施例1〜4に示したものを用いればよい。また、液晶組成物は温度を調節することによって粘度を設定することができるため、インクジェット法に適している。インクジェット法により無駄なく必要な量だけの液晶組成物1114をシール材1112に囲まれた領域に保持することができる。
Next, a
次いで、画素部1111が設けられた第1基板1110と、対向電極や配向膜が設けられた第2基板1031とを気泡が入らないように減圧下で貼りあわせる。(図16(A))ここでは、貼りあわせると同時に紫外線照射や熱処理を行って、シール材1112を硬化させる。なお、紫外線照射に加えて、熱処理を行ってもよい。
Next, the
また、図17(A)及び図17(B)に貼り合わせ時または貼り合わせ後に紫外線照射や熱処理が可能な貼り合わせ装置の例を示す。 FIGS. 17A and 17B illustrate an example of a bonding apparatus that can perform ultraviolet irradiation or heat treatment at the time of bonding or after bonding.
図17(A)及び図17(B)中、1041は第1基板支持台、1042は第2基板支持台、1044は透光性の窓、1048は下側定盤、1049は紫外光の光源である。なお、図17(A)〜図17(B)において、図14(A)〜図14(D)、図15(A)〜図15(B)及び図16(A)〜図16(B)と対応する部分は同一の符号を用いている。 17A and 17B, reference numeral 1041 denotes a first substrate support, 1042 a second substrate support, 1044 a translucent window, 1048 a lower surface plate, and 1049 an ultraviolet light source. It is. 17A to 17B, FIGS. 14A to 14D, 15A to 15B, and 16A to 16B. The same reference numerals are used for portions corresponding to.
下側定盤1048は加熱ヒータが内蔵されており、シール材1112を硬化させる。また、第2基板支持台1042には透光性の窓1044が設けられており、光源1049からの紫外光などを通過させるようになっている。ここでは図示していないが窓1044を通して基板の位置アライメントを行う。また、対向基板となる第2基板1031は予め、所望のサイズに切断しておき、第2基板支持台1042に真空チャックなどで固定しておく。図17(A)は貼り合わせ前の状態を示している。
The lower surface plate 1048 has a built-in heater, and cures the sealing
貼り合わせ時には、第1基板支持台1041と第2基板支持台1042とを下降させた後、圧力をかけて第1基板1110と第2基板1031を貼り合わせ、そのまま紫外光を照射することによって硬化させる。貼り合わせ後の状態を図17(B)に示す。
At the time of bonding, the first substrate support base 1041 and the second substrate support base 1042 are lowered, and then the
次いで、スクライバー装置、ブレイカー装置、ロールカッターなどの切断装置を用いて第1基板1110を切断する(図16(B))。こうして、1枚の基板から4つのパネルを作製することができる。そして、公知の技術を用いてFPCを貼りつける。
Next, the
なお、第1基板1110、第2基板1031としてはガラス基板、またはプラスチック基板を用いることができる。
Note that a glass substrate or a plastic substrate can be used as the
また、本実施例は、必要であれば上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載と自由に組み合わせることが可能である。 Further, this embodiment can be freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments, if necessary.
本発明が適用される液晶電気光学装置として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオコンポ等)、コンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。それらの液晶電気光学装置の具体例を図19、図20、図21(A)〜図21(B)、図22(A)〜図22(B)、図23、図24(A)〜図24(E)に示す。 As the liquid crystal electro-optical device to which the present invention is applied, a video camera, a digital camera, a goggle type display, a navigation system, an audio playback device (car audio component, etc.), a computer, a game machine, a portable information terminal (mobile computer, mobile phone, Portable game machines, electronic books, etc.), image playback devices equipped with recording media (specifically, devices equipped with a display capable of playing back recording media such as Digital Versatile Disc (DVD) and displaying the images), etc. Is mentioned. Specific examples of these liquid crystal electro-optical devices are shown in FIGS. 19, 20, 21A to 21B, 22A to 22B, 23, and 24A. 24 (E).
図19は表示パネル5001と、回路基板5011を組み合わせた液晶モジュールを示している。回路基板5011には、コントロール回路5012や信号分割回路5013などが形成されており、接続配線5014によって表示パネル5001と電気的に接続されている。
FIG. 19 shows a liquid crystal module in which a
この表示パネル5001には、複数の画素が設けられた画素部5002と、走査線駆動回路5003、選択された画素にビデオ信号を供給する信号線駆動回路5004を備えている。なお液晶モジュールを作製する場合は上記実施の形態および上記実施例を用いて表示パネル5001を作製すればよい。また、走査線駆動回路5003や信号線駆動回路5004等制御用駆動回路部を、上記実施例により形成されたTFTを用いて作製することが可能である。
The
図19に示す液晶モジュールにより液晶テレビ受像機を完成させることができる。図20は、液晶テレビ受像機の主要な構成を示すブロック図である。チューナ5101は映像信号と音声信号を受信する。映像信号は、映像信号増幅回路5102と、そこから出力される信号を赤、緑、青の各色に対応した色信号に変換する映像信号処理回路5103と、その映像信号をドライバICの入力仕様に変換するためのコントロール回路5012により処理される。コントロール回路5012は、走査線側と信号線側にそれぞれ信号が出力する。デジタル駆動する場合には、信号線側に信号分割回路5013を設け、入力デジタル信号をm個に分割して供給する構成としても良い。
A liquid crystal television receiver can be completed with the liquid crystal module shown in FIG. FIG. 20 is a block diagram showing a main configuration of the liquid crystal television receiver. A
チューナ5101で受信した信号のうち、音声信号は音声信号増幅回路5105に送られ、その出力は音声信号処理回路5106を経てスピーカー5107に供給される。制御回路5108は受信局(受信周波数)や音量の制御情報を入力部5109から受け、チューナ5101や音声信号処理回路5106に信号を送出する。
Of the signals received by the
図21(A)に示すように、液晶モジュールを筐体5201に組みこんで、テレビ受像機を完成させることができる。液晶モジュールにより、表示画面5202が形成される。また、スピーカー5203、操作スイッチ5204などが適宜備えられている。
As shown in FIG. 21A, a television receiver can be completed by incorporating a liquid crystal module into a
また図21(B)に、ワイヤレスでディスプレイのみを持ち運び可能なテレビ受像器を示す。筐体5212にはバッテリー及び信号受信器が内蔵されており、そのバッテリーで表示部5213やスピーカー部5217を駆動させる。バッテリーは充電器5210で繰り返し充電が可能となっている。また、充電器5210は映像信号を送受信することが可能で、その映像信号をディスプレイの信号受信器に送信することができる。筐体5212は操作キー5216によって制御する。また、図21(B)に示す装置は、操作キー5216を操作することによって、筐体5212から充電器5210に信号を送ることも可能であるため映像音声双方向通信装置とも言える。また、操作キー5216を操作することによって、筐体5212から充電器5210に信号を送り、さらに充電器5210が送信できる信号を他の電子機器に受信させることによって、他の電子機器の通信制御も可能であり、汎用遠隔制御装置とも言える。本発明は表示部5213及び制御用回路部等に適用することができる。
FIG. 21B shows a television receiver that can carry only a display wirelessly. A housing and a signal receiver are incorporated in the
本発明を図19、図20、図21(A)〜図21(B)に示すテレビ受像器に使用することにより、高速応答の表示部を有するテレビ受像器を作製することができる。 By using the present invention for the television receiver shown in FIGS. 19, 20, 21A to 21B, a television receiver having a display portion with high-speed response can be manufactured.
勿論、本発明はテレビ受像機に限定されず、パーソナルコンピュータのモニタをはじめ、鉄道の駅や空港などにおける情報表示盤や、街頭における広告表示盤など特に大面積の表示媒体として様々な用途に適用することができる。 Of course, the present invention is not limited to a television receiver, and is applied to various uses as a display medium of a particularly large area such as a monitor of a personal computer, an information display board in a railway station or airport, an advertisement display board in a street, etc. can do.
図22(A)は表示パネル5301とプリント配線基板5302を組み合わせたモジュールを示している。表示パネル5301は、複数の画素が設けられた画素部5303と、第1の走査線駆動回路5304、第2の走査線駆動回路5305と、選択された画素にビデオ信号を供給する信号線駆動回路5306を備えている。
FIG. 22A shows a module in which a display panel 5301 and a printed
プリント配線基板5302には、コントローラ5307、中央処理装置(CPU)5308、メモリ5309、電源回路5310、音声処理回路5311及び送受信回路5312などが備えられている。プリント配線基板5302と表示パネル5301は、フレキシブル配線基板(FPC)5313により接続されている。プリント配線基板5302には、容量素子、バッファ回路などを設け、電源電圧や信号にノイズがのったり、信号の立ち上がりが鈍ったりすることを防ぐ構成としても良い。また、コントローラ5307、音声処理回路5311、メモリ5309、CPU5308、電源回路5310などは、COG(Chip On Glass)方式を用いて表示パネル5301に実装することもできる。COG方式により、プリント配線基板5302の規模を縮小することができる。
The printed
プリント配線基板5302に備えられたインターフェース(I/F)部5314を介して、各種制御信号の入出力が行われる。また、アンテナとの間の信号の送受信を行なうためのアンテナ用ポート5315が、プリント配線基板5302に設けられている。
Various control signals are input and output through an interface (I / F)
図22(B)は、図22(A)に示したモジュールのブロック図を示す。このモジュールは、メモリ5309としてVRAM5316、DRAM5317、フラッシュメモリ5318などが含まれている。VRAM5316にはパネルに表示する画像のデータが、DRAM5317には画像データまたは音声データが、フラッシュメモリには各種プログラムが記憶されている。
FIG. 22B is a block diagram of the module shown in FIG. This module includes a
電源回路5310は、表示パネル5301、コントローラ5307、CPU5308、音声処理回路5311、メモリ5309、送受信回路5312を動作させる電力を供給する。またパネルの仕様によっては、電源回路5310に電流源が備えられている場合もある。
The
CPU5308は、制御信号生成回路5320、デコーダ5321、レジスタ5322、演算回路5323、RAM5324、CPU5308用のインターフェース5319などを有している。インターフェース5319を介してCPU5308に入力された各種信号は、一旦レジスタ5322に保持された後、演算回路5323、デコーダ5321などに入力される。演算回路5323では、入力された信号に基づき演算を行ない、各種命令を送る場所を指定する。一方デコーダ5321に入力された信号はデコードされ、制御信号生成回路5320に入力される。制御信号生成回路5320は入力された信号に基づき、各種命令を含む信号を生成し、演算回路5323において指定された場所、具体的にはメモリ5309、送受信回路5312、音声処理回路5311、コントローラ5307などに送る。
The
メモリ5309、送受信回路5312、音声処理回路5311、コントローラ5307は、それぞれ受けた命令に従って動作する。以下その動作について簡単に説明する。
The memory 5309, the transmission /
入力手段5325から入力された信号は、I/F部5314を介してプリント配線基板5302に実装されたCPU5308に送られる。制御信号生成回路5320は、ポインティングデバイスやキーボードなどの入力手段5325から送られてきた信号に従い、VRAM5316に格納してある画像データを所定のフォーマットに変換し、コントローラ5307に送付する。
A signal input from the
コントローラ5307は、パネルの仕様に合わせてCPU5308から送られてきた画像データを含む信号にデータ処理を施し、表示パネル5301に供給する。またコントローラ5307は、電源回路5310から入力された電源電圧やCPU5308から入力された各種信号をもとに、Hsync信号、Vsync信号、クロック信号CLK、交流電圧(AC Cont)、切り替え信号L/Rを生成し、表示パネル5301に供給する。
The
送受信回路5312では、アンテナ5328において電波として送受信される信号が処理されており、具体的にはアイソレータ、バンドパスフィルタ、VCO(Voltage Controlled Oscillator)、LPF(Low Pass Filter)、カプラ、バランなどの高周波回路を含んでいる。送受信回路5312において送受信される信号のうち音声情報を含む信号が、CPU5308からの命令に従って、音声処理回路5311に送られる。
In the transmission /
CPU5308の命令に従って送られてきた音声情報を含む信号は、音声処理回路5311において音声信号に復調され、スピーカー5327に送られる。またマイク5326から送られてきた音声信号は、音声処理回路5311において変調され、CPU5308からの命令に従って、送受信回路5312に送られる。
A signal including audio information sent in accordance with a command from the
コントローラ5307、CPU5308、電源回路5310、音声処理回路5311、メモリ5309を、本実施例のパッケージとして実装することができる。本実施例は、アイソレータ、バンドパスフィルタ、VCO(Voltage Controlled Oscillator)、LPF(Low Pass Filter)、カプラ、バランなどの高周波回路以外であれば、どのような回路にも応用することができる。
The
図23は、図22(A)〜図22(B)に示すモジュールを含む携帯電話機の一態様を示している。表示パネル5301はハウジング5330に脱着自在に組み込まれる。ハウジング5330は表示パネル5301のサイズに合わせて、形状や寸法を適宜変更することができる。表示パネル5301を固定したハウジング5330はプリント基板5331に嵌着されモジュールとして組み立てられる。 FIG. 23 illustrates one mode of a cellular phone including the module illustrated in FIGS. 22 (A) to 22 (B). The display panel 5301 is incorporated in a housing 5330 so as to be detachable. The shape and size of the housing 5330 can be changed as appropriate in accordance with the size of the display panel 5301. The housing 5330 to which the display panel 5301 is fixed is fitted to the printed board 5331 and assembled as a module.
表示パネル5301はFPC5313を介してプリント基板5331に接続される。プリント基板5331には、スピーカー5332、マイクロフォン5333、送受信回路5334、CPU及びコントローラなどを含む信号処理回路5335が形成されている。このようなモジュールと、入力手段5336、バッテリー5337、アンテナ5340を組み合わせ、筐体5339に収納する。表示パネル5301の画素部は筐体5339に形成された開口窓から視認できように配置する。
The display panel 5301 is connected to the printed board 5331 through the
本実施例に係る携帯電話機は、その機能や用途に応じてさまざまな態様に変容し得る。例えば、表示パネルを複数備えたり、筐体を適宜複数に分割して蝶番により開閉式とした構成としても、上記した作用効果を奏することができる。 The mobile phone according to the present embodiment can be transformed into various modes according to the function and application. For example, the above-described effects can be obtained even when a plurality of display panels are provided, or the housing is divided into a plurality of cases and is opened and closed by a hinge.
本発明を図22(A)〜図22(B)、図23に示す携帯電話に使用することにより、高速応答の表示部を有する携帯電話を作製することができる。 By using the present invention for the mobile phone shown in FIGS. 22A to 22B and FIG. 23, a mobile phone having a display portion with high-speed response can be manufactured.
図24(A)は液晶ディスプレイであり、筐体6001、支持台6002、表示部6003などによって構成されている。本発明は図19に示す液晶モジュール、図22(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6003に適用が可能である。
FIG. 24A illustrates a liquid crystal display which includes a
本発明を使用することにより、高速応答の表示部を有するディスプレイを作製することができる。 By using the present invention, a display having a display portion with high-speed response can be manufactured.
図24(B)はコンピュータであり、本体6101、筐体6102、表示部6103、キーボード6104、外部接続ポート6105、ポインティングマウス6106等を含む。本発明は図19に示す液晶モジュール、図22(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6103に適用することができる。
FIG. 24B illustrates a computer which includes a
本発明を使用することにより、高速応答の表示部を有するコンピュータを作製することができる。 By using the present invention, a computer having a high-speed response display portion can be manufactured.
図24(C)は携帯可能なコンピュータであり、本体6201、表示部6202、スイッチ6203、操作キー6204、赤外線ポート6205等を含む。本発明は図19に示す液晶モジュール、図22(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6202に適用することができる。
FIG. 24C illustrates a portable computer, which includes a
本発明を使用することにより、高速応答の表示部を有するコンピュータを作製することができる。 By using the present invention, a computer having a high-speed response display portion can be manufactured.
図24(D)は携帯型のゲーム機であり、筐体6301、表示部6302、スピーカー部6303、操作キー6304、記録媒体挿入部6305等を含む。本発明は図19に示す液晶モジュール、図22(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6302に適用することができる。
FIG. 24D illustrates a portable game machine including a housing 6301, a
本発明を使用することにより、高速応答の表示部を有するゲーム機を作製することができる。 By using the present invention, a game machine having a high-speed response display portion can be manufactured.
図24(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体6401、筐体6402、表示部A6403、表示部B6404、記録媒体(DVD等)読込部6405、操作キー6406、スピーカー部6407等を含む。表示部A6403は主として画像情報を表示し、表示部B6404は主として文字情報を表示する。本発明は図19に示す液晶モジュール、図22(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部A6403、表示部B6404及び制御用回路部等に適用することができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。
FIG. 24E shows a portable image reproducing device (specifically, a DVD reproducing device) provided with a recording medium, which includes a
本発明を使用することにより、高速応答の表示部を有する本画像再生装置を作製することができる。 By using the present invention, it is possible to manufacture the present image reproducing device having a display section with high-speed response.
これらの液晶電気光学装置に使われる表示装置は、大きさや強度、または使用目的に応じて、ガラス基板だけでなく耐熱性のプラスチック基板を用いることも可能である。それによってよりいっそうの軽量化を図ることができる。 Display devices used for these liquid crystal electro-optical devices can use not only a glass substrate but also a heat-resistant plastic substrate depending on the size, strength, or purpose of use. As a result, the weight can be further reduced.
なお、本実施例に示した例はごく一例であり、これらの用途に限定するものではないことを付記する。 It should be noted that the examples shown in the present embodiment are only examples and are not limited to these applications.
また本実施例は、上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載とも自由に組み合せて実施することが可能である。 This embodiment can be implemented by being freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments.
101 基板
102 基板
103 透光性導電膜
104 配向膜
105 シール材
106 スペーサ
106a 柱状のスペーサ
106b 球状スペーサ
107 液晶組成物
201 アクティブマトリクス基板
202 対向基板
203 画素部
204 駆動回路
205a 柱状のスペーサ
205b 球状スペーサ
206 シール材
207 対向電極
208 配向膜
209 液晶組成物
499 線状レーザ
500 基板
501 下地膜
502 半導体膜
504 結晶性半導体膜
507 島状半導体膜
508 島状半導体膜
509 島状半導体膜
510 絶縁膜
511 第1の導電膜
512 第2の導電膜
520 ソース領域又はドレイン領域
521 低濃度不純物領域
522 チャネル形成領域
523 ソース領域又はドレイン領域
524 チャネル形成領域
525 ソース領域又はドレイン領域
526 低濃度不純物領域
527 チャネル形成領域
530 第1層間絶縁膜
531 第2層間絶縁膜
540 電極又は配線
541 電極又は配線
542 電極又は配線
543 電極又は配線
544 電極又は配線
550 nチャネル型TFT
551 pチャネル型TFT
552 nチャネル型TFT
553 CMOS回路
560 上層ゲート電極
561 上層ゲート電極
562 上層ゲート電極
563 下層ゲート電極
564 下層ゲート電極
565 下層ゲート電極
570 ゲート電極
571 ゲート電極
572 ゲート電極
580 ゲート絶縁膜
581 ゲート絶縁膜
582 ゲート絶縁膜
600 シール材
600a 第1シール材
600b 第2シール材
610 第3層間絶縁膜
623 画素電極
624a 配向膜
624b 配向膜
625 対向基板
626a 着色層
626b 遮光層
627 オーバーコート層
628 対向電極
629 液晶組成物
630 ゲート配線
631 容量配線
650 画素部
801 FPC
802 ソース信号線駆動回路部
803 ゲート信号線駆動回路部
1031 第2基板
1041 第1基板支持台
1042 第2基板支持台
1044 窓
1048 下側定盤
1049 光源
1110 第1基板
1111 画素部
1112 シール材
1113 ノズル走査方向
1114 液晶組成物
1115 滴下面
1116 液滴吐出装置
1118 ノズル
1119 点線で囲まれた部分
1120 トップゲート型TFT
1121 画素電極
5001 表示パネル
5002 画素部
5003 走査線駆動回路
5004 信号線駆動回路
5011 回路基板
5012 コントロール回路
5013 信号分割回路
5014 接続配線
5101 チューナ
5102 映像信号増幅回路
5103 映像信号処理回路
5105 音声信号増幅回路
5106 音声信号処理回路
5107 スピーカー
5108 制御回路
5109 入力部
5201 筐体
5202 表示画面
5203 スピーカー
5204 操作スイッチ
5210 充電器
5212 筐体
5213 表示部
5216 操作キー
5217 スピーカー部
5301 表示パネル
5302 プリント配線基板
5303 画素部
5304 走査線駆動回路
5305 走査線駆動回路
5306 信号線駆動回路
5307 コントローラ
5308 CPU
5309 メモリ
5310 電源回路
5311 音声処理回路
5312 送受信回路
5313 FPC
5314 I/F部
5315 アンテナ用ポート
5316 VRAM
5317 DRAM
5318 フラッシュメモリ
5320 制御信号生成回路
5321 デコーダ
5322 レジスタ
5323 演算回路
5324 RAM
5325 入力手段
5326 マイク
5327 スピーカー
5328 アンテナ
5330 ハウジング
5331 プリント基板
5332 スピーカー
5333 マイクロフォン
5334 送受信回路
5335 信号処理回路
5336 入力手段
5337 バッテリー
5339 筐体
5340 アンテナ
6001 筐体
6002 支持台
6003 表示部
6101 本体
6102 筐体
6103 表示部
6104 キーボード
6105 外部接続ポート
6106 ポインティングマウス
6201 本体
6202 表示部
6203 スイッチ
6204 操作キー
6205 赤外線ポート
6301 筐体
6302 表示部
6303 スピーカー部
6304 操作キー
6305 記録媒体挿入部
6401 本体
6402 筐体
6403 表示部A
6404 表示部B
6405 記録媒体読込部
6406 操作キー
6407 スピーカー部
DESCRIPTION OF
551 p-channel TFT
552 n-channel TFT
553
802 Source signal line
1121
5309
5314 I /
5317 DRAM
5318
5325 Input means 5326 Microphone 5327
6404 Display portion B
6405 Recording
Claims (4)
前記不活性液体は、C 8 F 16 O、C 8 F 18 、C 6 F 14 のいずれかを前記液晶組成物に対して10wt%以上、60wt%以下で含有することを特徴とする液晶組成物。 A liquid crystal composition comprising a nematic liquid crystal and an inert liquid,
The inert liquid body, the liquid crystal composition, characterized in that C 8 F 16 O, C 8 F 18, 10wt% or more of any of C 6 F 14 to the liquid crystal composition, containing the following 60 wt% object.
前記不活性液体は、C 8 F 16 O、C 8 F 18 、C 6 F 14 のいずれかを前記液晶組成物に対して20wt%以上、30wt%以下で含有することを特徴とする液晶組成物。 A liquid crystal composition comprising a nematic liquid crystal and an inert liquid,
The inert liquid body, the liquid crystal composition, characterized in that C 8 F 16 O, C 8 F 18, C 6 20wt% or more of any of the F 14 to the liquid crystal composition, containing the following 30 wt% object.
前記不活性液体は、C 8 F 16 O、C 8 F 18 、C 6 F 14 のいずれかを前記液晶組成物に対して10wt%以上、60wt%以下で含有することを特徴とする液晶電気光学装置。 A liquid crystal electro-optical device having a liquid crystal composition containing a nematic liquid crystal and an inert liquid between a pair of substrates having a transparent electrode,
The inert liquid is a liquid crystal electro-optical, characterized in that C 8 F 16 O, C 8 F 18, 10wt% or more of any of C 6 F 14 to the liquid crystal composition, containing the following 60 wt% apparatus.
前記不活性液体は、C 8 F 16 O、C 8 F 18 、C 6 F 14 のいずれかを前記液晶組成物に対して20wt%以上、30wt%以下で含有することを特徴とする液晶電気光学装置。 A liquid crystal electro-optical device having a liquid crystal composition containing a nematic liquid crystal and an inert liquid between a pair of substrates having a transparent electrode,
The inert liquid is a liquid crystal electro-optical, characterized in that C 8 F 16 O, C 8 F 18, C 6 20wt% or more of any of the F 14 to the liquid crystal composition, containing the following 30 wt% apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005323674A JP5094006B2 (en) | 2004-11-09 | 2005-11-08 | Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004325112 | 2004-11-09 | ||
JP2004325112 | 2004-11-09 | ||
JP2005323674A JP5094006B2 (en) | 2004-11-09 | 2005-11-08 | Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006161034A JP2006161034A (en) | 2006-06-22 |
JP2006161034A5 JP2006161034A5 (en) | 2008-12-11 |
JP5094006B2 true JP5094006B2 (en) | 2012-12-12 |
Family
ID=36676035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005323674A Expired - Fee Related JP5094006B2 (en) | 2004-11-09 | 2005-11-08 | Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5094006B2 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD234278A1 (en) * | 1985-01-28 | 1986-03-26 | Univ Halle Wittenberg | SWITCHING TIME SCORING DOTATIONS FOR CRYSTALLINE-LIQUID MIXTURES |
JPH04168422A (en) * | 1990-10-31 | 1992-06-16 | Sharp Corp | Liquid crystal display device |
-
2005
- 2005-11-08 JP JP2005323674A patent/JP5094006B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006161034A (en) | 2006-06-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7018918B2 (en) | Semiconductor device | |
JP4663799B2 (en) | Active matrix display device | |
US7916263B2 (en) | Display device | |
US8049851B2 (en) | Method for manufacturing a liquid crystal display device having a second orientation film surrounding a first orientation film | |
JP5211145B2 (en) | Method for manufacturing liquid crystal display device | |
JP2007199687A (en) | Semiconductor device and method for manufacturing the same | |
US7329440B2 (en) | Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device | |
JP5210901B2 (en) | Liquid crystal display | |
JP5078326B2 (en) | Method for manufacturing liquid crystal display device | |
JP5094006B2 (en) | Liquid crystal composition and liquid crystal electro-optical device | |
JP2006143895A (en) | Liquid crystal composition and electrooptic device | |
JP2011170367A (en) | Liquid crystal composition | |
JP2004240418A (en) | Liquid crystal display and its manufacturing method | |
JP2004361937A (en) | Liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081024 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081024 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120911 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120918 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5094006 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150928 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150928 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |