JP2006143895A - Liquid crystal composition and electrooptic device - Google Patents

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Akio Yamashita
晃央 山下
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal composition designed to have a higher response speed in a TN mode and to provide an electrooptic device. <P>SOLUTION: The liquid crystal composition is characterized in that it is prepared by adding a chiral material and an ultraviolet-curing liquid crystal to a nematic liquid crystal. The composition is embodied by one characterized in that it is prepared by adding a chiral material and an ultraviolet-curing liquid crystal to a nematic liquid crystal and the amount of the ultraviolet-curing liquid crystal is 5 to 10 wt.% based on the nematic liquid crystal. These compositions may be ones characterized in that the nematic liquid crystal has positive dielectric anisotropy. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、カイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体からなる液晶組成物及びカイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体で構成される調光層を持ち、ツイステッドネマティックモードで動作させる液晶電気光学装置に関するものである。   The present invention provides a liquid crystal composition comprising a mixture of a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal, and a light control layer comprising a mixture of a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal. The present invention relates to a liquid crystal electro-optical device that is held and operated in a twisted nematic mode.

現在、液晶電気光学装置は投影型テレビジョン、小型テレビジョンをはじめパーソナルコンピュータ・ワードプロセッサ・EWSなどのOA用機器の表示装置、電卓・携帯電話・電子ブック・電子手帳など携帯用情報端末の表示装置など多方面にわたって用いられており、一般的に上下基板のラビング方向が90°に位置するようにずらしてあるツイステッドネマティックモード(以下TNモード)が広く採用されている。   Currently, liquid crystal electro-optic devices are display devices for OA equipment such as projection televisions, small televisions, personal computers, word processors, EWS, and display devices for portable information terminals such as calculators, mobile phones, electronic books, electronic notebooks, etc. In general, a twisted nematic mode (hereinafter referred to as TN mode) in which the rubbing directions of the upper and lower substrates are shifted so as to be positioned at 90 ° is widely used.

TNモードは、基板上に電極を有する第1の基板及び第2の基板によって、液晶組成物を挟持しており、前記基板上の電極によって、液晶組成物に電界を加え、液晶材料自身の誘電率の異方性によって、液晶分子の状態を変化させ、液晶分子の状態の変化に伴う電気光学効果を利用するものである。   In the TN mode, the liquid crystal composition is sandwiched between the first substrate and the second substrate having electrodes on the substrate, and an electric field is applied to the liquid crystal composition by the electrodes on the substrate, and the dielectric of the liquid crystal material itself. The state of the liquid crystal molecules is changed by the anisotropy of the rate, and the electro-optic effect accompanying the change of the state of the liquid crystal molecules is utilized.

液晶電気光学装置で広く採用されているネマティック液晶を使用したTNモードでは、液晶の応答時間は数十msecであり、動画表示やフィールドシーケンシャル方式等の高速応答が必要な場合には、液晶の応答速度が不十分となることから、更なる高速応答が可能な液晶材料が必要とされている。   In the TN mode using nematic liquid crystal widely used in liquid crystal electro-optical devices, the response time of the liquid crystal is several tens of msec. If high-speed response such as video display or field sequential method is required, the response of the liquid crystal Since the speed becomes insufficient, a liquid crystal material capable of a further high-speed response is required.

また、ネマティック液晶材料と重合可能なモノマーとの複合により形成される液晶組成物は、電界に沿って揃えられた状態でモノマーが重合硬化されることにより、重合硬化後において電圧が印加されないときにも液晶分子の配向状態が揃えられた状態を維持することが知られている。(特許文献1)
特開平10−239676号公報
In addition, a liquid crystal composition formed by a composite of a nematic liquid crystal material and a polymerizable monomer is polymerized and cured in a state aligned along an electric field, so that no voltage is applied after polymerization and curing. It is also known that the alignment state of liquid crystal molecules is maintained. (Patent Document 1)
JP-A-10-239676

しかしながら特許文献1に記載の技術では、液晶の応答速度が不十分であるため、動画表示を行う場合や、フィールドシーケンシャル方式等の高速応答が必要な動作モードを、TNモードで駆動させると液晶の応答が追いつかなくなる。
本発明は上記のような従来技術の問題点に鑑みて、TNモードの応答速度を速くするようにした液晶電気光学装置を提供することを目的とする。
However, in the technique described in Patent Document 1, since the response speed of the liquid crystal is insufficient, when an operation mode that requires a high-speed response such as a moving image display or a field sequential method is driven in the TN mode, The response cannot keep up.
An object of the present invention is to provide a liquid crystal electro-optical device in which the response speed of the TN mode is increased in view of the above-described problems of the prior art.

カイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体からなることを特徴とする液晶組成物及び電極を有する一対の基板間に支持された調光層を有し、前記調光層はカイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体を有していることを特徴とする液晶電気光学装置であり、このことにより、液晶の応答を速め、液晶電気光学装置としての問題を解決したものである。   A liquid crystal composition comprising a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal, and a light control layer supported between a pair of substrates having electrodes, the light control layer comprising: A liquid crystal electro-optical device characterized by having a mixture of a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal, and this speeds up the response of the liquid crystal and causes a problem as a liquid crystal electro-optical device. Is a solution.

ネマティック液晶はビフェニル系、ターフェニル系、フェニシクロヘキサン系、ビリミジン系、フッ素系、トラン系、フッ素系等の化合物で、正の誘電異方性を有する材料を用いればよい。また、TNモードにおいて上下基板のラビング方向を90°に位置するようにずらすことにより、液晶分子の配向方向を上下基板間で90°捩れた状態を得るが、ネマティック液晶単体では安定な捩れ状態を得ることは不十分となり、
コントラストの低減等の表示品位に影響する。従って、液晶分子に右方向もしくは左方向のどちらか一方の回転を与えられるように、キラル化合物を有するシアノビフェニル誘導体、ビスアリール誘導体、エステル誘導体等から成る初めから捩れた分子構造を持つカイラル材を、材料によって異なるが0.05%から0.5%添加したネマティック液晶を用いればよい。但し、プレチルトの傾き方向とカイラル材による捩れの方向を一致させる必要があることは言うまでもない。
The nematic liquid crystal may be a biphenyl compound, a terphenyl compound, a phencyclohexane compound, a birimidine compound, a fluorine compound, a tolan compound, a fluorine compound, or the like, and a material having positive dielectric anisotropy may be used. In addition, by shifting the rubbing direction of the upper and lower substrates so as to be positioned at 90 ° in the TN mode, the orientation direction of the liquid crystal molecules is obtained by being twisted by 90 ° between the upper and lower substrates, but the nematic liquid crystal alone has a stable twisted state. To get inadequate,
Affects display quality such as contrast reduction. Therefore, a chiral material having a twisted molecular structure composed of a cyanobiphenyl derivative, a bisaryl derivative, an ester derivative, etc. having a chiral compound so that the liquid crystal molecule can be rotated in either the right direction or the left direction, Depending on the material, nematic liquid crystal added with 0.05% to 0.5% may be used. However, it goes without saying that the tilt direction of the pretilt and the twist direction of the chiral material need to coincide with each other.

紫外線硬化型液晶はアクリレート、メタクリレート等の化合物を含有し、液晶相発現温度が高いと熱重合を起こし易いなど取り扱いが困難となるため、室温付近において液晶相を有する材料を用いればよい。紫外線硬化型液晶の添加量が少ない場合、応答速度が遅くなり、また添加量が多い場合、コントラストが低下するため、材料によって異なるが5wt%から10wt%の添加量で使用することが望ましい。   The ultraviolet curable liquid crystal contains a compound such as acrylate or methacrylate, and if the liquid crystal phase expression temperature is high, it is difficult to handle because it easily causes thermal polymerization. Therefore, a material having a liquid crystal phase near room temperature may be used. When the addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal is small, the response speed is slow, and when the addition amount is large, the contrast is lowered. Therefore, it is desirable to use the addition amount of 5 wt% to 10 wt% although it varies depending on the material.

上記のように構成された本発明の液晶電気光学装置によれば、TNモードで液晶を駆動させた場合の応答を速くできるので、動画表示を行う場合や、フィールドシーケンシャル方式等の高速応答が必要な動作モードでの、液晶の応答速度を向上させることができる。   According to the liquid crystal electro-optical device of the present invention configured as described above, the response when the liquid crystal is driven in the TN mode can be accelerated, so that a high-speed response such as a moving image display or a field sequential method is required. The response speed of the liquid crystal can be improved in various operation modes.

以下に発明を実施するための最良の形態について図面を参照しながら説明する。但し、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は本実施例の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。また、各図面において共通の部分は同じ符号を付して詳しい説明を省略する。   The best mode for carrying out the invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes, and those skilled in the art can easily understand that the modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Is done. Therefore, the present invention should not be construed as being limited to the description of the embodiments. In the drawings, common portions are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

(第1実施形態)
本実施形態においては、カイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体で構成される液晶電気光学装置の作製方法を、図1を用いて示す。
(First embodiment)
In this embodiment, a manufacturing method of a liquid crystal electro-optical device including a mixture of a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal is shown with reference to FIGS.

始めに、図1(A)に示すようにガラス基板、石英基板、プラスチック基板等の透光性を有する基板101、102上に透明導電膜103をスパッタリング法または蒸着法で成膜する。透明導電膜103としては、インジウムと錫の酸化膜(Indium−Tin−Oxide)、酸化錫、酸化亜鉛等を用いればよい。   First, as illustrated in FIG. 1A, a transparent conductive film 103 is formed by a sputtering method or an evaporation method over a light-transmitting substrate 101 or 102 such as a glass substrate, a quartz substrate, or a plastic substrate. As the transparent conductive film 103, an oxide film of indium and tin (Indium-Tin-Oxide), tin oxide, zinc oxide, or the like may be used.

次に、透明導電膜103の上にレジスト樹脂104(紫外線感光性樹脂)をスピンコート法にて塗布し仮焼きした後、公知の露光機で電極マスクを用いてレジスト樹脂104の露光を行い、アルカリ現像液で現像、流水洗浄を行う。アルカリ現像液としては、トリメチルアンモニウムハイドライドやテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドなどの有機アルカリや炭酸ナトリウム等を用いればよい。   Next, a resist resin 104 (ultraviolet photosensitive resin) is applied onto the transparent conductive film 103 by spin coating and calcined, and then the resist resin 104 is exposed using an electrode mask with a known exposure machine, Development with alkaline developer and washing with running water. As the alkali developer, an organic alkali such as trimethylammonium hydride or tetramethylammonium hydroxide, sodium carbonate, or the like may be used.

次いで、図1(B)に示すように透明導電膜103の非被覆部のエッチングをエッチャントにより行い、電極のパターンを形成する。エッチャントとしては塩酸水溶液、塩酸と硝酸の水溶液、塩化第2鉄等を用いて、必要に応じて加熱を行い、反応性を高めてもよい。また、ガスプラズマを用いるケミカルドライエッチング方式を用いてもよい。エッチング後、図1(C)に示すように剥離液を用いてレジスト樹脂104の除去を行い、透明導電膜103の透過率を上げ、抵抗率を下げるため焼成を行う。ここでは、透明導電膜103の電極を形成した基板101、102をそれぞれ、電極を有する基板110、111という。   Next, as shown in FIG. 1B, etching of the uncovered portion of the transparent conductive film 103 is performed with an etchant to form an electrode pattern. As the etchant, an aqueous hydrochloric acid solution, an aqueous solution of hydrochloric acid and nitric acid, ferric chloride, or the like may be used to increase the reactivity by heating as necessary. Further, a chemical dry etching method using gas plasma may be used. After etching, the resist resin 104 is removed using a stripping solution as shown in FIG. 1C, and baking is performed to increase the transmittance of the transparent conductive film 103 and to decrease the resistivity. Here, the substrates 101 and 102 on which the electrodes of the transparent conductive film 103 are formed are referred to as substrates 110 and 111 having electrodes, respectively.

図1(D)に示すように、電極を有する基板110、111の洗浄を行い、電極上にポリイミド樹脂105をオフセット印刷にて印刷または、スピナーにてスピン塗布し、焼成を行う。焼成後、ポリイミド樹脂105の膜表面をフェルトや木綿等のラビング布で擦るラビング法、光配向等を用いて配向処理を行い、洗浄を行う。ポリイミド樹脂105としては、N−メチル−2−ピロリドンなどとセロソルブアセテートなどを混ぜた溶媒にポリアミック酸を溶解させたポリイミド樹脂、ポリアミック酸をイミド化させて溶媒に溶かしたポリイミド樹脂等を用いればよい。   As shown in FIG. 1D, the substrates 110 and 111 having electrodes are washed, and polyimide resin 105 is printed on the electrodes by offset printing or spin-coated by a spinner, and then baked. After baking, the film surface of the polyimide resin 105 is subjected to an alignment treatment using a rubbing method in which the surface of the polyimide resin 105 is rubbed with a rubbing cloth such as felt or cotton, or photo-alignment, and then washed. As the polyimide resin 105, a polyimide resin in which polyamic acid is dissolved in a solvent in which N-methyl-2-pyrrolidone or the like and cellosolve acetate are mixed, polyimide resin in which polyamic acid is imidized and dissolved in the solvent, or the like may be used. .

次に、円柱状または球状のシリカ系のギャップ保持材を混合したシール材106を一方の電極を有する基板110に、ディスペンサー又は、スクリーン印刷にて電極の外側にシール材106でパターンを形成する。シール材106としてはエポキシ樹脂系、フェノール樹脂系、アクリル樹脂系の熱硬化性または、紫外線硬化性の材料を用いればよい。   Next, the sealing material 106 mixed with a cylindrical or spherical silica-based gap holding material is formed on the substrate 110 having one electrode by a dispenser or screen printing with the sealing material 106 on the outside of the electrode. As the sealant 106, an epoxy resin-based, phenol resin-based, or acrylic resin-based thermosetting or ultraviolet curable material may be used.

アルコール系の溶媒にセル内のギャップを保持するためのスペーサーの混合を行う。溶媒は、水/アルコール系の混合溶媒を用いてもよい。この混合した溶媒を、もう一方の電極を有する基板111上にスピンコート法を用いてスペーサー(図示しない。)の散布を行う。散布するスペーサーは球状タイプであれば樹脂系スペーサーでもシリカ系スペーサーでも良い。散布は前記湿式散布に限らず、ドライエアーや圧搾ドライ窒素などの気流で粉体状のスペーサーを基板上に散布するドライ式散布でも構わない。また、基板上に公知の方法でフォトスペーサーを形成しても構わない。   A spacer for maintaining a gap in the cell is mixed with an alcohol-based solvent. As the solvent, a water / alcohol mixed solvent may be used. The mixed solvent is sprayed with a spacer (not shown) on the substrate 111 having the other electrode by a spin coating method. The spacer to be dispersed may be a resin type spacer or a silica type spacer as long as it is a spherical type. The spraying is not limited to the wet spraying but may be a dry spraying in which a powdery spacer is sprayed on the substrate with an air flow such as dry air or compressed dry nitrogen. Further, a photo spacer may be formed on the substrate by a known method.

次に、シール材106のパターンを形成した電極を有する基板110と、スペーサーを散布した電極を有する基板111のラビング方向が90°ずれるように貼り合わせを行い、液晶パネルシール焼成治具にて圧力をかけながら、クリーンオーブンにて熱プレスを行う。または、ホットプレート上で圧力をかけながら熱プレスを行う。熱プレス後の基板を、電極を取り出せるようにパネルサイズに切り出す。   Next, bonding is performed so that the rubbing direction of the substrate 110 having the electrode on which the pattern of the sealant 106 is formed and the substrate 111 having the electrode on which the spacer is dispersed is shifted by 90 °, and pressure is applied with a liquid crystal panel seal firing jig. While doing, heat press in a clean oven. Alternatively, hot pressing is performed while applying pressure on a hot plate. The substrate after hot pressing is cut into a panel size so that the electrodes can be taken out.

カイラル材が添加されたネマティック液晶に紫外線硬化型液晶の添加し、液晶組成物112を作製する。紫外線硬化型液晶の添加量が少ない場合、応答速度が遅くなることが確認されており、添加量が多い場合、コントラストがとれなくなることが確認されていることから、材料によって異なるが5wt%から10wt%の添加量で使用することが望ましい。   An ultraviolet curable liquid crystal is added to the nematic liquid crystal to which the chiral material is added, and the liquid crystal composition 112 is manufactured. It is confirmed that the response speed becomes slow when the addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal is small, and it is confirmed that the contrast cannot be obtained when the addition amount is large. It is desirable to use with the addition amount of%.

ネマティック液晶はビフェニル系、ターフェニル系、フェニシクロヘキサン系、ビリミジン系、フッ素系、トラン系、フッ素系等の化合物で、正の誘電異方性を有する材料を用いればよい。また、TNモードにおいて上下基板のラビング方向を90°に位置するようにずらすことにより、液晶分子の配向方向を上下基板間で90°捩れた状態を得るが、ネマティック液晶単体では安定な捩れ状態を得ることは不十分となり、コントラストの低減等の表示品位に影響する。従って、液晶分子に右方向もしくは左方向のどちらか一方の回転を与えられるように、キラル化合物を有するシアノビフェニル誘導体、ビスアリール誘導体、エステル誘導体等から成る初めから捩れた分子構造を持つカイラル材を、材料によって異なるが0.05%から0.5%添加したネマティック液晶を用いればよい。但し、プレチルトの傾き方向とカイラル材による捩れの方向を一致させる必要がある。   The nematic liquid crystal may be a biphenyl compound, a terphenyl compound, a phencyclohexane compound, a birimidine compound, a fluorine compound, a tolan compound, a fluorine compound, or the like, and a material having positive dielectric anisotropy may be used. In addition, by shifting the rubbing direction of the upper and lower substrates so as to be positioned at 90 ° in the TN mode, the orientation direction of the liquid crystal molecules is obtained by being twisted by 90 ° between the upper and lower substrates, but the nematic liquid crystal alone has a stable twisted state. It is insufficient to obtain and affects display quality such as a reduction in contrast. Therefore, a chiral material having a twisted molecular structure composed of a cyanobiphenyl derivative, a bisaryl derivative, an ester derivative, etc. having a chiral compound so that the liquid crystal molecule can be rotated in either the right direction or the left direction, Depending on the material, nematic liquid crystal added with 0.05% to 0.5% may be used. However, the tilt direction of the pretilt and the twist direction of the chiral material must be matched.

紫外線硬化型液晶はアクリレート、メタクリレート等の化合物を含有し、液晶相発現温度が高いと熱重合を起こし易いなど取り扱いが困難となるため、室温付近において液晶相を有する材料を用いればよい。   The ultraviolet curable liquid crystal contains a compound such as acrylate or methacrylate, and if the liquid crystal phase expression temperature is high, it is difficult to handle because it easily causes thermal polymerization. Therefore, a material having a liquid crystal phase near room temperature may be used.

液晶組成物112のN−I転移温度以上に加熱しながら攪拌することにより、カイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶が混合し易くなる。また、超音波を加えることも混合に有効である。前記パネルに前記液晶組成物112をN−I転移温度以上に加熱しながら毛細管現象を利用して注入を行う。または、真空注入法、液晶滴下法を用いても構わない。   By stirring while heating above the NI transition temperature of the liquid crystal composition 112, the nematic liquid crystal to which the chiral material is added and the ultraviolet curable liquid crystal are easily mixed. In addition, adding ultrasonic waves is also effective for mixing. The liquid crystal composition 112 is injected into the panel by utilizing capillary action while heating the liquid crystal composition 112 to a temperature higher than the NI transition temperature. Alternatively, a vacuum injection method or a liquid crystal dropping method may be used.

次に、液晶分子の長軸が基板に対して垂直に並ぶよう電極間に直流の電圧を印加しながら、紫外光を照射し紫外線硬化型液晶の光重合硬化を行う。   Next, while applying a DC voltage between the electrodes so that the long axes of the liquid crystal molecules are aligned perpendicularly to the substrate, UV polymerization is performed to irradiate ultraviolet light to perform photopolymerization and curing of the ultraviolet curable liquid crystal.

以上の工程により、カイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶の混合体で構成される液晶電気光学装置を作製することができ、TNモードで液晶を駆動させた場合の応答を速くできる。   Through the above steps, a liquid crystal electro-optical device composed of a mixture of a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal can be manufactured, and the response when the liquid crystal is driven in the TN mode can be accelerated. .

本発明を用いて、カイラル材の添加された屈折率1.7243、Δn0.2042のネマティック液晶TL215と紫外線硬化型液晶の混合体で構成される液晶電気光学装置について、図1を用いて説明する。   A liquid crystal electro-optical device composed of a mixture of nematic liquid crystal TL 215 having a refractive index of 1.7243 and Δn of 0.204 to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal will be described with reference to FIG. .

図1(A)に示すようにガラス基板101、102上に、透明導電膜103をスパッタリング法で1000Å成膜を行った。本実施例では透明導電膜103の材料にITO(Indium−Tin−Oxide)を使用した。レジスト樹脂104を塗布し仮焼きした後、電極マスクを用いて露光し、現像液でレジスト樹脂の現像を行った。次に、図1(B)に示すように、透明導電膜103の非被覆部のエッチングをウェットエッチング法で行った。エッチング後、図1(C)に示すように、剥離液でレジスト樹脂104の除去を行った。レジスト樹脂104の除去後、透明導電膜103の焼成を250℃1時間で行い、電極を有する基板110、111を得た。   As shown in FIG. 1A, a transparent conductive film 103 was formed on a glass substrate 101 or 102 by a sputtering method with a thickness of 1000 mm. In this embodiment, ITO (Indium-Tin-Oxide) is used as the material of the transparent conductive film 103. The resist resin 104 was applied and calcined, then exposed using an electrode mask, and the resist resin was developed with a developer. Next, as shown in FIG. 1B, the non-covered portion of the transparent conductive film 103 was etched by a wet etching method. After the etching, as shown in FIG. 1C, the resist resin 104 was removed with a stripping solution. After removing the resist resin 104, the transparent conductive film 103 was baked at 250 ° C. for 1 hour to obtain substrates 110 and 111 having electrodes.

次に、電極を有する基板110,111の洗浄を行い、ポリイミド樹脂105(日産化学工業製SE7792)をオフセット印刷により400から500Åの厚さに印刷し、焼成を200℃90分で行った。ポリイミド樹脂105の焼成後、ラビング法によりポリイミド樹脂105の配向処理を行い、洗浄を行った。   Next, the substrates 110 and 111 having electrodes were washed, polyimide resin 105 (SE7792 manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) was printed to a thickness of 400 to 500 mm by offset printing, and firing was performed at 200 ° C. for 90 minutes. After the polyimide resin 105 was baked, the polyimide resin 105 was subjected to an orientation treatment by a rubbing method and washed.

次に、電極を有する基板110上に、2.2μmのギャップ保持材を1.5wt%混合した熱硬化型のシール材106で、電極の外側にパターンの形成を、ディスペンサーを用いて行った。もう一方の電極を有する基板111には、イソプロピルアルコール50gに2μmのスペーサーを20g混合して、30分超音波にかけた水溶液を、スピナーを用いて湿式散布を行った。   Next, a pattern was formed on the outside of the electrode using a dispenser with a thermosetting sealing material 106 in which 1.5 wt% of a 2.2 μm gap holding material was mixed on the substrate 110 having the electrode. On the substrate 111 having the other electrode, 20 g of a 2 μm spacer was mixed with 50 g of isopropyl alcohol, and an aqueous solution subjected to ultrasonic waves for 30 minutes was wet-sprayed using a spinner.

次に、スペーサーの散布を行った電極を有する基板111の対角に、プレス時に基板がずれるのを防止するための紫外線硬化型のシール材(図示しない。)を滴下し、熱硬化型のシール材106でパターンの形成を行った電極を有する基板110とラビング方向が90°ずれるように貼り合せを行った。次に、1.0kgf/cm2の圧力で15分間プレスを行い、紫外光を1分間照射させ紫外線硬化型のシール材の硬化を行った。プレス後、液晶パネルシール焼成治具にて1.0kgf/cm2の圧力で熱プレスを行い、貼り合せた基板を、スクライバーを用いてパネルサイズに切り出した。熱プレス後にセルギャップの測定を行った結果、セルギャップは2.0から2.5μmとなっていた。 Next, an ultraviolet curable sealing material (not shown) for preventing the substrate from being displaced at the time of pressing is dropped on the diagonal of the substrate 111 having the electrodes on which the spacers are dispersed, and a thermosetting seal is applied. Bonding was performed so that the rubbing direction was shifted by 90 ° from the substrate 110 having the electrode on which the pattern was formed with the material 106. Next, pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 for 15 minutes, and ultraviolet light was irradiated for 1 minute to cure the ultraviolet curable sealing material. After pressing, heat pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 with a liquid crystal panel seal firing jig, and the bonded substrate was cut into a panel size using a scriber. As a result of measuring the cell gap after hot pressing, the cell gap was 2.0 to 2.5 μm.

液晶組成物112の作製には、カイラル材が添加されたネマティック液晶TL215(メルク製)と紫外線硬化型液晶を使用した。本実施例では、屈折率1.655、Δnが0.142のアクリレート化合物から成る紫外線硬化型液晶を使用した。カイラル材が添加されたネマティック液晶に対して紫外線硬化型液晶を2.5,5.0,7.5,10wt%の割合で混合し、液晶材料が等方相(液体)状態になるよう100℃で加熱しながら1時間攪拌を行い、液晶組成物112を得た。   For production of the liquid crystal composition 112, nematic liquid crystal TL215 (made by Merck) to which a chiral material was added and ultraviolet curable liquid crystal were used. In this example, an ultraviolet curable liquid crystal composed of an acrylate compound having a refractive index of 1.655 and Δn of 0.142 was used. An ultraviolet curable liquid crystal is mixed with a nematic liquid crystal to which a chiral material is added at a ratio of 2.5, 5.0, 7.5, and 10 wt% so that the liquid crystal material is in an isotropic phase (liquid) state. The liquid crystal composition 112 was obtained by stirring for 1 hour while heating at ° C.

前記パネルを100℃のホットプレート上で加熱しながら、毛細管現象を利用して液晶組成物112の注入を行った。注入後、電極間に5Vの直流電圧を印加しながら、約8mW/cm2のUV照射強度で180秒間紫外光の照射を行い、パネルの電極に半田でリード線の接続を行った。 While the panel was heated on a hot plate at 100 ° C., the liquid crystal composition 112 was injected using a capillary phenomenon. After the injection, ultraviolet light was irradiated for 180 seconds at a UV irradiation intensity of about 8 mW / cm 2 while applying a DC voltage of 5 V between the electrodes, and lead wires were connected to the panel electrodes with solder.

液晶組成物112の注入されたパネルを、偏光板をクロスニコルにした偏光顕微鏡に挟み、リード線を通して電極間に電圧を印加した状態で、液晶の応答の観察をオシロスコープで行った。電極間には0V−10V、周波数100mHzの矩形波の電圧を波形発生装置で発生させ印加を行った。カイラル材が添加されたネマティック液晶TL215の応答に対し、紫外線硬化型液晶の添加量が5.0,7.5wt%の場合、入力電圧がOFFからONに切り替わった時の液晶の応答に変化はないが、入力電圧がONからOFFに切り替わった時の液晶の応答は速くなり、前記2つの応答速度の平均値が速くなっていることから、全体の応答速度が速くなることが確認された。(図2)   The panel into which the liquid crystal composition 112 was injected was sandwiched between polarizing microscopes having a polarizing plate made of crossed Nicols, and the response of the liquid crystal was observed with an oscilloscope in a state where a voltage was applied between the electrodes through lead wires. Between the electrodes, a rectangular wave voltage of 0V-10V and a frequency of 100 mHz was generated by a waveform generator and applied. In contrast to the response of the nematic liquid crystal TL215 to which the chiral material is added, when the addition amount of the UV curable liquid crystal is 5.0 and 7.5 wt%, the change in the response of the liquid crystal when the input voltage is switched from OFF to ON is However, it was confirmed that the response speed of the liquid crystal when the input voltage was switched from ON to OFF was fast, and the average value of the two response speeds was fast, so that the overall response speed was fast. (Figure 2)

本発明を用いて、カイラル材の添加された屈折率1.513、Δn0.094のネマティック液晶ZLI−4792と紫外線硬化型液晶の混合体で構成される液晶電気光学装置について、図1を用いて説明する。   A liquid crystal electro-optical device composed of a mixture of nematic liquid crystal ZLI-4792 having a refractive index of 1.513 and Δn 0.094 and a UV curable liquid crystal to which a chiral material is added will be described with reference to FIG. explain.

図1(A)に示すように、ガラス基板101、102上に、透明導電膜103をスパッタリング法で1000Å成膜を行った。本実施例では透明導電膜材料にITO(Indium−Tin−Oxide)を使用した。レジスト樹脂104を塗布し仮焼きした後、電極マスクを用いて露光し、現像液でレジスト樹脂の現像を行った。次に、図1(B)に示すように、透明導電膜103の非被覆部のエッチングをウェットエッチング法で行った。エッチング後、図1(C)に示すように剥離液でレジスト樹脂104の除去を行った。レジスト樹脂104の除去後、透明導電膜103の焼成を250℃1時間で行い、電極を有する基板110、111を得た。   As shown in FIG. 1A, a transparent conductive film 103 was formed on a glass substrate 101 or 102 with a thickness of 1000 mm by a sputtering method. In this example, ITO (Indium-Tin-Oxide) was used as the transparent conductive film material. The resist resin 104 was applied and calcined, then exposed using an electrode mask, and the resist resin was developed with a developer. Next, as shown in FIG. 1B, the non-covered portion of the transparent conductive film 103 was etched by a wet etching method. After etching, the resist resin 104 was removed with a stripping solution as shown in FIG. After removing the resist resin 104, the transparent conductive film 103 was baked at 250 ° C. for 1 hour to obtain substrates 110 and 111 having electrodes.

次に、電極を有する基板110,111の洗浄を行い、ポリイミド樹脂105(日産化学工業製SE7792)をオフセット印刷により400から500Åの厚さに印刷し、焼成を200℃90分で行った。ポリイミド樹脂105焼成後、ラビング法によりポリイミド樹脂105の配向処理を行い、洗浄を行った。   Next, the substrates 110 and 111 having electrodes were washed, polyimide resin 105 (SE7792 manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) was printed to a thickness of 400 to 500 mm by offset printing, and firing was performed at 200 ° C. for 90 minutes. After firing the polyimide resin 105, the polyimide resin 105 was subjected to an orientation treatment by a rubbing method and washed.

次に、電極を有する基板110に、2.2μmのギャップ保持材を1.5wt%混合した熱硬化型のシール材で、電極の外側にパターンの形成を、ディスペンサーを用いて行った。もう一方の電極を有する基板111には、イソプロピルアルコール50gに2μmのスペーサーを20g混合して、30分超音波にかけた水溶液を、スピナーを用いて湿式散布を行った。   Next, a pattern was formed on the outside of the electrode using a dispenser with a thermosetting sealing material in which 1.5 wt% of a 2.2 μm gap holding material was mixed with the substrate 110 having the electrode. On the substrate 111 having the other electrode, 20 g of a 2 μm spacer was mixed with 50 g of isopropyl alcohol, and an aqueous solution subjected to ultrasonic waves for 30 minutes was wet-sprayed using a spinner.

次に、スペーサーの散布を行った電極を有する基板111の対角に、プレス時に基板がずれるのを防止するための紫外線硬化型のシール材(図示しない。)を滴下し、熱硬化型のシール材106でパターンの形成を行った電極を有する基板110とラビング方向が90°ずれるように貼り合せを行った。次に、1.0kgf/cm2の圧力で15分間プレスを行い、紫外光を1分間照射させ紫外線硬化型のシール材の硬化を行った。プレス後、液晶パネルシール焼成治具にて1.0kgf/cm2の圧力で熱プレスを行い、貼り合せた基板を、スクライバーを用いてパネルサイズに切り出した。熱プレス後にセルギャップの測定を行った結果、セルギャップは2.0から2.5μmとなっていた。 Next, an ultraviolet curable sealing material (not shown) for preventing the substrate from being displaced at the time of pressing is dropped on the diagonal of the substrate 111 having the electrodes on which the spacers are dispersed, and a thermosetting seal is applied. Bonding was performed so that the rubbing direction was shifted by 90 ° from the substrate 110 having the electrode on which the pattern was formed with the material 106. Next, pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 for 15 minutes, and ultraviolet light was irradiated for 1 minute to cure the ultraviolet curable sealing material. After pressing, heat pressing was performed at a pressure of 1.0 kgf / cm 2 with a liquid crystal panel seal firing jig, and the bonded substrate was cut into a panel size using a scriber. As a result of measuring the cell gap after hot pressing, the cell gap was 2.0 to 2.5 μm.

液晶組成物112の作製には、カイラル材が添加されたネマティック液晶ZLI−4792(メルク製)と紫外線硬化型液晶を使用した。本実施例では、屈折率1.655、Δnが0.142のアクリレート化合物から成る紫外線硬化型液晶を使用した。カイラル材が添加されたネマティック液晶に対して紫外線硬化型液晶を2.5,5,7.5,10wt%の割合で混合し、液晶材料が等方相(液体)状態になるよう100℃で加熱しながら1時間攪拌を行い、液晶組成物112を得た。   For the production of the liquid crystal composition 112, nematic liquid crystal ZLI-4792 (manufactured by Merck) to which a chiral material was added and an ultraviolet curable liquid crystal were used. In this example, an ultraviolet curable liquid crystal composed of an acrylate compound having a refractive index of 1.655 and Δn of 0.142 was used. The nematic liquid crystal to which the chiral material is added is mixed with an ultraviolet curable liquid crystal at a ratio of 2.5, 5, 7.5, and 10 wt% at 100 ° C. so that the liquid crystal material is in an isotropic phase (liquid) state. The liquid crystal composition 112 was obtained by stirring for 1 hour while heating.

前記パネルを100℃のホットプレート上で加熱しながら、毛細管現象を利用して液晶組成物112の注入を行った。注入後、電極間に5Vの直流電圧を印加しながら、約8mW/cm2のUV照射強度で180秒間紫外光の照射を行い、パネルの電極に半田でリード線の接続を行った。 While the panel was heated on a hot plate at 100 ° C., the liquid crystal composition 112 was injected using a capillary phenomenon. After the injection, ultraviolet light was irradiated for 180 seconds at a UV irradiation intensity of about 8 mW / cm 2 while applying a DC voltage of 5 V between the electrodes, and lead wires were connected to the panel electrodes with solder.

液晶組成物112の注入されたパネルを、偏光板をクロスニコルにした偏光顕微鏡に挟み、リード線を通して電極間に電圧を印加した状態で、液晶の応答の観察をオシロスコープで行った。電極間には0V−10V、周波数100mHzの矩形波の電圧を波形発生装置で発生させ印加を行った。カイラル材が添加されたネマティック液晶ZLI−4792の応答に対し、紫外線硬化型液晶の添加量が5.0,7.5,10wt%の場合、入力電圧がOFFからONに切り替わった時の液晶の応答は若干遅くなるが、入力電圧がONからOFFに切り替わった時の液晶の応答は速くなり、前記2つの応答速度の平均値が速くなっていることから、全体の応答速度が速くなることが確認された。(図3)   The panel into which the liquid crystal composition 112 was injected was sandwiched between polarizing microscopes having a polarizing plate made of crossed Nicols, and the response of the liquid crystal was observed with an oscilloscope in a state where a voltage was applied between the electrodes through lead wires. Between the electrodes, a rectangular wave voltage of 0V-10V and a frequency of 100 mHz was generated by a waveform generator and applied. In response to the response of the nematic liquid crystal ZLI-4792 to which the chiral material is added, when the addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal is 5.0, 7.5, 10 wt%, the liquid crystal of the liquid crystal when the input voltage is switched from OFF to ON Although the response is slightly delayed, the response of the liquid crystal is faster when the input voltage is switched from ON to OFF, and the average value of the two response speeds is faster, so the overall response speed may be faster. confirmed. (Figure 3)

本実施例では本発明をアクティブマトリクス表示装置に適用する場合に画素に設けられるTFTの作製方法について説明する。 In this embodiment, a method for manufacturing a TFT provided in a pixel when the present invention is applied to an active matrix display device will be described.

まず図4(A)に示すように、基板500上に下地膜501を成膜する。基板500には、例えばバリウムホウケイ酸ガラスや、アルミノホウケイ酸ガラスなどのガラス基板、石英基板、ステンレス基板等を用いることができる。また、PET、PES、PENに代表されるプラスチックや、アクリル等の可撓性を有する合成樹脂からなる基板を用いることも可能である。 First, as shown in FIG. 4A, a base film 501 is formed over a substrate 500. As the substrate 500, for example, a glass substrate such as barium borosilicate glass or alumino borosilicate glass, a quartz substrate, a stainless steel substrate, or the like can be used. It is also possible to use a substrate made of a plastic such as PET, PES, or PEN, or a flexible synthetic resin such as acrylic.

下地膜501は基板500中に含まれるNaなどのアルカリ金属やアルカリ土類金属が、半導体膜中に拡散し、半導体素子の特性に悪影響を及ぼすのを防ぐために設ける。よってアルカリ金属やアルカリ土類金属の半導体膜への拡散を抑えることができる窒化珪素、窒素を含む酸化珪素などの絶縁膜を用いて形成する。本実施例では、プラズマCVD法を用いて窒素を含む酸化珪素膜を10nm〜400nm(好ましくは50nm〜300nm)の膜厚になるように成膜する。 The base film 501 is provided to prevent an alkali metal such as Na or an alkaline earth metal contained in the substrate 500 from diffusing into the semiconductor film and adversely affecting the characteristics of the semiconductor element. Therefore, an insulating film such as silicon nitride or silicon oxide containing nitrogen that can suppress diffusion of alkali metal or alkaline earth metal into the semiconductor film is used. In this embodiment, a silicon oxide film containing nitrogen is formed by a plasma CVD method so as to have a thickness of 10 nm to 400 nm (preferably 50 nm to 300 nm).

なお下地膜501は窒化珪素、窒素を含む酸化珪素、酸素を含む窒化珪素などの絶縁膜単層であっても、酸化珪素、窒化珪素、窒素を含む酸化珪素、酸素を含む窒化珪素などの絶縁膜を複数積層したものであっても良い。またガラス基板、ステンレス基板またはプラスチック基板のように、アルカリ金属やアルカリ土類金属が多少なりとも含まれている基板を用いる場合、不純物の拡散を防ぐという観点から下地膜を設けることは有効であるが、石英基板など不純物の拡散がさして問題とならない場合は、必ずしも設ける必要はない。 Note that even though the base film 501 is a single layer of an insulating film such as silicon nitride, silicon oxide containing nitrogen, or silicon nitride containing oxygen, insulation such as silicon oxide, silicon nitride, silicon oxide containing nitrogen, or silicon nitride containing oxygen is used. A plurality of laminated films may be used. In addition, when using a substrate that contains alkali metal or alkaline earth metal, such as a glass substrate, stainless steel substrate, or plastic substrate, it is effective to provide a base film from the viewpoint of preventing impurity diffusion. However, when diffusion of impurities does not cause any problem, such as a quartz substrate, it is not necessarily provided.

次に下地膜501上に半導体膜502を形成する。半導体膜502の膜厚は25nm〜100nm(好ましくは30nm〜60nm)とする。なお半導体膜502は、非晶質半導体であっても良いし、多結晶半導体であっても良い。また半導体はシリコン(Si)だけではなくシリコンゲルマニウム(SiGe)も用いることができる。シリコンゲルマニウムを用いる場合、ゲルマニウムの濃度は0.01〜4.5atomic%程度であることが好ましい。   Next, a semiconductor film 502 is formed over the base film 501. The thickness of the semiconductor film 502 is 25 nm to 100 nm (preferably 30 nm to 60 nm). Note that the semiconductor film 502 may be an amorphous semiconductor or a polycrystalline semiconductor. As the semiconductor, not only silicon (Si) but also silicon germanium (SiGe) can be used. When silicon germanium is used, the concentration of germanium is preferably about 0.01 to 4.5 atomic%.

次に図4(B)に示すように、半導体膜502に線状レーザ499を照射し、結晶化を行なう。レーザ結晶化を行なう場合、レーザ結晶化の前に、レーザに対する半導体膜502の耐性を高めるために、500℃、1時間の加熱処理を該半導体膜502に加えてもよい。 Next, as shown in FIG. 4B, the semiconductor film 502 is irradiated with a linear laser 499 to be crystallized. In the case of performing laser crystallization, heat treatment for one hour at 500 ° C. may be added to the semiconductor film 502 in order to increase the resistance of the semiconductor film 502 to the laser before laser crystallization.

レーザ結晶化は、連続発振のレーザ、または擬似CWレーザとして、発振周波数が10MHz以上、好ましくは80MHz以上のパルス発振レーザを用いることができる。 For laser crystallization, a pulsed laser having an oscillation frequency of 10 MHz or more, preferably 80 MHz or more can be used as a continuous wave laser or a pseudo CW laser.

具体的には、連続発振のレーザとして、Arレーザ、Krレーザ、CO2レーザ、YAGレーザ、YVO4レーザ、YLFレーザ、YAlO3レーザ、GdVO4レーザ、Y23レーザ、ルビーレーザ、アレキサンドライドレーザ、Ti:サファイアレーザ、ヘリウムカドミウムレーザなどが挙げられる。 Specifically, as a continuous wave laser, an Ar laser, a Kr laser, a CO 2 laser, a YAG laser, a YVO 4 laser, a YLF laser, a YAlO 3 laser, a GdVO 4 laser, a Y 2 O 3 laser, a ruby laser, an alexandride A laser, a Ti: sapphire laser, a helium cadmium laser, and the like can be given.

また擬似CWレーザとして、発振周波数が10MHz以上、好ましくは80MHz以上のパルス発振させることができるのであれば、Arレーザ、Krレーザ、エキシマレーザ、CO2レーザ、YAGレーザ、YVO4レーザ、YLFレーザ、YAlO3レーザ、GdVO4レーザ、Y23レーザ、ルビーレーザ、アレキサンドライドレーザ、Ti:サファイアレーザ、銅蒸気レーザまたは金蒸気レーザのようなパルス発振レーザを用いることができる。 As a pseudo CW laser, an Ar laser, a Kr laser, an excimer laser, a CO 2 laser, a YAG laser, a YVO 4 laser, a YLF laser can be used as long as it can oscillate a pulse having an oscillation frequency of 10 MHz or more, preferably 80 MHz or more. A pulsed laser such as a YAlO 3 laser, a GdVO 4 laser, a Y 2 O 3 laser, a ruby laser, an alexandride laser, a Ti: sapphire laser, a copper vapor laser, or a gold vapor laser can be used.

このようなパルス発振レーザは、発振周波数を増加させていくと、いずれは連続発振レーザと同等の効果を示すものである。 Such a pulsed laser has an effect equivalent to that of a continuous wave laser as the oscillation frequency is increased.

例えば連続発振が可能な固体レーザを用いる場合、第2高調波〜第4高調波のレーザ光を照射することで、大粒径の結晶を得ることができる。代表的には、YAGレーザ(基本波1064nm)の第2高調波(532nm)や第3高調波(355nm)を用いるのが望ましい。例えば、連続発振のYAGレーザから射出されたレーザ光を非線形光学素子により高調波に変換して、半導体膜502に照射する。エネルギー密度は0.01〜100MW/cm2程度(好ましくは0.1〜10MW/cm2)とすれば良い。 For example, when a solid-state laser capable of continuous oscillation is used, a crystal having a large grain size can be obtained by irradiating laser light of second to fourth harmonics. Typically, it is desirable to use the second harmonic (532 nm) or the third harmonic (355 nm) of a YAG laser (fundamental wave 1064 nm). For example, laser light emitted from a continuous wave YAG laser is converted into a harmonic by a non-linear optical element, and irradiated to the semiconductor film 502. Energy density may be about 0.01 to 100 MW / cm 2 (preferably 0.1~10MW / cm 2).

なお、希ガスや窒素などの不活性ガスを含む雰囲気中でレーザ光を照射するようにしても良い。これにより、レーザ光照射による半導体表面の荒れを抑えることができ、界面準位密度のばらつきによって生じる閾値電圧のばらつきを抑えることができる。 Note that laser light irradiation may be performed in an atmosphere containing an inert gas such as a rare gas or nitrogen. Thereby, roughness of the semiconductor surface due to laser light irradiation can be suppressed, and variation in threshold voltage caused by variation in interface state density can be suppressed.

上述した半導体膜502へのレーザ光の照射により、結晶性がより高められた結晶性半導体膜504が形成される。 By irradiating the semiconductor film 502 with laser light, the crystalline semiconductor film 504 with higher crystallinity is formed.

次に、図4(C)に示すように結晶性半導体膜504をパターニングすることで、島状半導体膜507〜509が形成される。この島状半導体膜507〜509には、以降の工程でTFTのソース領域、ドレイン領域、チャネル形成領域等が形成される。 Next, as shown in FIG. 4C, the crystalline semiconductor film 504 is patterned, so that island-shaped semiconductor films 507 to 509 are formed. In the island-like semiconductor films 507 to 509, a TFT source region, drain region, channel formation region, and the like are formed in the following steps.

次に島状半導体膜にしきい値制御のための不純物を導入する。本実施例においてはジボラン(B26)をドープすることによってボロン(B)を島状半導体膜中に導入する。 Next, an impurity for threshold control is introduced into the island-shaped semiconductor film. In this embodiment, boron (B) is introduced into the island-like semiconductor film by doping with diborane (B 2 H 6 ).

次に島状半導体膜507〜509を覆うように絶縁膜510を成膜する。絶縁膜510には、例えば酸化珪素(SiO)、窒化珪素(SiN)または窒素を含んだ酸化珪素(SiON)等を用いることができる。また成膜方法は、プラズマCVD法、スパッタ法などを用いることができる。 Next, an insulating film 510 is formed so as to cover the island-shaped semiconductor films 507 to 509. For the insulating film 510, for example, silicon oxide (SiO), silicon nitride (SiN), silicon oxide containing nitrogen (SiON), or the like can be used. As a film formation method, a plasma CVD method, a sputtering method, or the like can be used.

次に、絶縁膜510上に導電膜を成膜した後、導電膜をパターニングすることで、ゲート電極570〜572を形成する。 Next, after a conductive film is formed over the insulating film 510, the conductive film is patterned to form gate electrodes 570 to 572.

ゲート電極570〜572は、導電膜を単層または2層以上積層させた構造を用いて形成する。導電膜を2層以上積層させている場合は、タンタル(Ta)、タングステン(W)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)から選ばれた元素、または前記元素を主成分とする合金材料、若しくは化合物材料を積層させてゲート電極570〜572を形成してもよい。また、リン(P)等の不純物元素をドーピングした多結晶シリコン膜に代表される半導体膜を用いてゲート電極を形成してもよい。 The gate electrodes 570 to 572 are formed using a structure in which a single conductive film or two or more conductive films are stacked. In the case where two or more conductive films are stacked, an element selected from tantalum (Ta), tungsten (W), titanium (Ti), molybdenum (Mo), and aluminum (Al), or the element as a main component The gate electrodes 570 to 572 may be formed by stacking alloy materials or compound materials to be stacked. Alternatively, the gate electrode may be formed using a semiconductor film typified by a polycrystalline silicon film doped with an impurity element such as phosphorus (P).

本実施例では、ゲート電極570〜572は以下のようにして形成される。まず第1の導電膜511として、例えば窒化タンタル(TaN)膜を10〜50nm、例えば30nmの膜厚で形成する。そして第1の導電膜511上に第2の導電膜512として、例えばタングステン(W)膜を200〜400nm、例えば370nmの膜厚で形成し、第1の導電膜511及び第2の導電膜512の積層膜を形成する(図4(D))。 In this embodiment, the gate electrodes 570 to 572 are formed as follows. First, as the first conductive film 511, for example, a tantalum nitride (TaN) film is formed with a thickness of 10 to 50 nm, for example, 30 nm. Then, as the second conductive film 512, for example, a tungsten (W) film is formed with a thickness of 200 to 400 nm, for example, 370 nm, over the first conductive film 511, and the first conductive film 511 and the second conductive film 512 are formed. Is formed (FIG. 4D).

次に第2の導電膜512を異方性エッチングでエッチングし、上層ゲート電極560〜562を形成する(図5(A))。次いで第1の導電膜511を等方性エッチングでエッチングし、下層ゲート電極563〜565を形成する(図5(B))。以上よりゲート電極570〜572を形成する。 Next, the second conductive film 512 is etched by anisotropic etching to form upper gate electrodes 560 to 562 (FIG. 5A). Next, the first conductive film 511 is etched by isotropic etching to form lower gate electrodes 563 to 565 (FIG. 5B). Thus, gate electrodes 570 to 572 are formed.

ゲート電極570〜572は、ゲート配線の一部として形成してもよいし、別にゲート配線を形成して、そのゲート配線にゲート電極570〜572を接続してもよい。 The gate electrodes 570 to 572 may be formed as part of the gate wiring, or another gate wiring may be formed and the gate electrodes 570 to 572 may be connected to the gate wiring.

そして、ゲート電極570〜572や、あるいはレジストを成膜してパターニングしたものをマスクとして用い、島状半導体膜507〜509それぞれに一導電性(n型またはp型の導電性)を付与する不純物を添加し、ソース領域、ドレイン領域、さらには低濃度不純物領域等を形成する。 Then, an impurity imparting one conductivity (n-type or p-type conductivity) to each of the island-shaped semiconductor films 507 to 509 using the gate electrodes 570 to 572 or a resist film formed and patterned as a mask. To form a source region, a drain region, a low-concentration impurity region, and the like.

まず、フォスフィン(PH3)を用いて、リン(P)を、加速電圧を60〜120keV、ドーズ量を1×1013〜1×1015cm-2として島状半導体膜中に導入する。この不純物導入の際にnチャネル型TFT550及び552のチャネル形成領域522及び527が形成される。 First, phosphorous (P) is introduced into the island-shaped semiconductor film using phosphine (PH 3 ) with an acceleration voltage of 60 to 120 keV and a dose of 1 × 10 13 to 1 × 10 15 cm −2 . When this impurity is introduced, channel formation regions 522 and 527 of n-channel TFTs 550 and 552 are formed.

またpチャネル型TFT551を作製するために、ジボラン(B26)を印加電圧60〜100keV、例えば80keV、ドーズ量1×1013〜5×1015cm-2、例えば3×1015cm-2の条件で、島状半導体膜中にボロン(B)を導入する。これによりpチャネル型TFTのソース領域又はドレイン領域523、またこの不純物導入の際にチャネル形成領域524が形成される(図5(C))。 In order to fabricate the p-channel TFT 551, diborane (B 2 H 6 ) is applied with an applied voltage of 60 to 100 keV, for example, 80 keV, and a dose amount of 1 × 10 13 to 5 × 10 15 cm −2 , for example, 3 × 10 15 cm −. Under the condition 2 , boron (B) is introduced into the island-like semiconductor film. Accordingly, a source region or a drain region 523 of the p-channel TFT and a channel formation region 524 are formed when this impurity is introduced (FIG. 5C).

次に絶縁膜510をパターニングしてゲート絶縁膜580〜582を形成する。 Next, the insulating film 510 is patterned to form gate insulating films 580 to 582.

ゲート絶縁膜580〜582形成後、nチャネル型TFTと550及び552なる島状半導体膜中に、フォスフィン(PH3)を用いて、印加電圧40〜80keV、例えば50keV、ドーズ量1.0×1015〜2.5×1016cm-2、例えば3.0×1015cm-2で、リン(P)を導入する。これによりnチャネル型TFTの低濃度不純物領域521、526、及びソース領域又はドレイン領域520、525が形成される(図6(A))。 After the gate insulating films 580 to 582 are formed, phosphine (PH 3 ) is used in the n-channel TFT and the island-like semiconductor films 550 and 552, and the applied voltage is 40 to 80 keV, for example 50 keV, and the dose amount is 1.0 × 10. Phosphorus (P) is introduced at 15 to 2.5 × 10 16 cm −2 , for example, 3.0 × 10 15 cm −2 . Thus, low-concentration impurity regions 521 and 526 and source or drain regions 520 and 525 of the n-channel TFT are formed (FIG. 6A).

本実施例においては、nチャネル型TFT550及び552のソース領域又はドレイン領域520、525のそれぞれには、1×1019〜5×1021cm-3の濃度でリン(P)が含まれることとなる。またnチャネル型TFT550及び552の低濃度不純物領域521及び526のそれぞれには、1×1018〜5×1019cm-3の濃度でリン(P)が含まれる。さらに、pチャネル型TFT551のソース又はドレイン領域523には、1×1019〜5×1021cm-3の濃度でボロン(B)が含まれる。 In this embodiment, each of the source or drain regions 520 and 525 of the n-channel TFTs 550 and 552 contains phosphorus (P) at a concentration of 1 × 10 19 to 5 × 10 21 cm −3. Become. Each of the low-concentration impurity regions 521 and 526 of the n-channel TFTs 550 and 552 contains phosphorus (P) at a concentration of 1 × 10 18 to 5 × 10 19 cm −3 . Further, the source or drain region 523 of the p-channel TFT 551 contains boron (B) at a concentration of 1 × 10 19 to 5 × 10 21 cm −3 .

次に島状半導体膜507〜509、ゲート電極570〜572を覆って、第1層間絶縁膜530を形成する(図6(B))。 Next, a first interlayer insulating film 530 is formed to cover the island-shaped semiconductor films 507 to 509 and the gate electrodes 570 to 572 (FIG. 6B).

第1層間絶縁膜530としては、プラズマCVD法またはスパッタ法を用いて、シリコンを含む絶縁膜、例えば酸化珪素膜(SiO)、窒化珪素膜(SiN)、窒素を含む酸化珪素膜(SiON)、またはその積層膜で形成する。勿論、第1層間絶縁膜530は窒素を含む酸化珪素膜や窒化珪素膜、またはその積層膜に限定されるものでなく、他のシリコンを含む絶縁膜を単層または積層構造として用いても良い。 As the first interlayer insulating film 530, an insulating film containing silicon, for example, a silicon oxide film (SiO), a silicon nitride film (SiN), a silicon oxide film containing nitrogen (SiON), using plasma CVD or sputtering, Or it forms with the laminated film. Needless to say, the first interlayer insulating film 530 is not limited to a silicon oxide film or silicon nitride film containing nitrogen, or a laminated film thereof, and other insulating films containing silicon may be used as a single layer or a laminated structure. .

本実施例では、不純物を導入した後、窒素を含む酸化珪素膜(SiON膜)をプラズマCVD法により50nm形成し、レーザ照射方法によって不純物を活性化する。又は窒素を含む酸化珪素膜形成後、窒素雰囲気中550℃で4時間加熱して、不純物を活性化してもよい。 In this embodiment, after introducing impurities, a silicon oxide film containing nitrogen (SiON film) is formed to a thickness of 50 nm by a plasma CVD method, and the impurities are activated by a laser irradiation method. Alternatively, after forming a silicon oxide film containing nitrogen, the impurity may be activated by heating at 550 ° C. for 4 hours in a nitrogen atmosphere.

次にプラズマCVD法により窒化珪素膜(SiN膜)を50nm形成し、更に窒素を含む酸化珪素膜(SiON膜)を600nm形成する。この、窒素を含む酸化珪素膜、窒化珪素膜及び窒素を含む酸化珪素膜の積層膜が第1層間絶縁膜530である。 Next, a silicon nitride film (SiN film) is formed with a thickness of 50 nm by plasma CVD, and a silicon oxide film (SiON film) containing nitrogen is further formed with a thickness of 600 nm. The stacked film of the silicon oxide film containing nitrogen, the silicon nitride film, and the silicon oxide film containing nitrogen is the first interlayer insulating film 530.

次に全体を410℃で1時間加熱し、窒化珪素膜から水素を放出させることにより水素化を行う。 Next, the whole is heated at 410 ° C. for 1 hour, and hydrogen is released by releasing hydrogen from the silicon nitride film.

次に第1層間絶縁膜530を覆って、平坦化膜として機能する第2層間絶縁膜531を形成する。 Next, a second interlayer insulating film 531 that functions as a planarization film is formed so as to cover the first interlayer insulating film 530.

第2層間絶縁膜531としては、感光性または非感光性の有機材料(ポリイミド、アクリル、ポリアミド、ポリイミドアミド、レジストまたはベンゾシクロブテン)、珪素(Si)と酸素(O)との結合(Si−O−Si結合)で骨格構造が構成され、置換基に少なくとも水素を含む、または置換基にフッ素、アルキル基、または芳香族炭化水素のうち少なくとも1種を有する材料、いわゆるシロキサン、及びそれらの積層構造を用いることができる。有機材料として、ポジ型感光性有機樹脂又はネガ型感光性有機樹脂を用いることができる。 As the second interlayer insulating film 531, a photosensitive or non-photosensitive organic material (polyimide, acrylic, polyamide, polyimide amide, resist or benzocyclobutene), a bond of silicon (Si) and oxygen (O) (Si- A material having a skeletal structure composed of (O—Si bond) and containing at least hydrogen as a substituent, or having at least one of fluorine, alkyl group, and aromatic hydrocarbon as a substituent, a so-called siloxane, and a laminate thereof A structure can be used. As the organic material, a positive photosensitive organic resin or a negative photosensitive organic resin can be used.

本実施例では、第2層間絶縁膜531としてシロキサンをスピンコート法で形成する。   In this embodiment, siloxane is formed as the second interlayer insulating film 531 by a spin coating method.

第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531をエッチングして、第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531に、島状半導体膜507〜509に到達するコンタクトホールを形成する。   The first interlayer insulating film 530 and the second interlayer insulating film 531 are etched to form contact holes reaching the island-shaped semiconductor films 507 to 509 in the first interlayer insulating film 530 and the second interlayer insulating film 531.

なお、第2層間絶縁膜531上に第3層間絶縁膜を形成し、第1層間絶縁膜〜第3層間絶縁膜にコンタクトホールを形成してもよい。第3の層間絶縁膜としては、水分や酸素などを他の絶縁膜と比較して透過させにくい膜を用いる。代表的には、スパッタ法またはCVD法により得られる窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸素を含む窒化珪素膜(SiNO膜(組成比N>O)またはSiON膜(組成比N<O))、炭素を主成分とする薄膜(例えばDLC膜、CN膜)などを用いることができる。 Note that a third interlayer insulating film may be formed on the second interlayer insulating film 531, and contact holes may be formed in the first to third interlayer insulating films. As the third interlayer insulating film, a film that hardly transmits moisture, oxygen, or the like as compared with other insulating films is used. Typically, a silicon nitride film, a silicon oxide film, a silicon nitride film containing oxygen (SiNO film (composition ratio N> O) or SiON film (composition ratio N <O)) obtained by sputtering or CVD, carbon A thin film (for example, a DLC film or a CN film) whose main component is can be used.

第2層間絶縁膜531上にコンタクトホールを介して、第3の導電膜を形成し、第1の導電膜をパターニングして、電極又は配線540〜544を形成する。 A third conductive film is formed over the second interlayer insulating film 531 through a contact hole, and the first conductive film is patterned to form electrodes or wirings 540 to 544.

本実施例として、第3の導電膜は金属膜を用いる。該金属膜は、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)もしくはシリコン(Si)の元素からなる膜又はこれらの元素を用いた合金膜を用いればよい。本実施例では、チタン膜(Ti)、窒化チタン膜(TiN)、シリコン−アルミニウム合金膜(Al−Si)、チタン膜(Ti)をそれぞれ60nm、40nm、300nm、100nmに積層したのち、所望の形状にパターニング及びエッチングして電極又は配線540〜544を形成する。 In this embodiment, a metal film is used for the third conductive film. As the metal film, a film made of an element of aluminum (Al), titanium (Ti), molybdenum (Mo), tungsten (W), or silicon (Si) or an alloy film using these elements may be used. In this embodiment, a titanium film (Ti), a titanium nitride film (TiN), a silicon-aluminum alloy film (Al-Si), and a titanium film (Ti) are laminated to 60 nm, 40 nm, 300 nm, and 100 nm, respectively. Electrodes or wirings 540 to 544 are formed by patterning and etching into a shape.

またこの電極又は配線540〜544を、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも1種の元素、及び炭素を含むアルミニウム合金膜で形成してもよい。このようなアルミニウム合金膜は、シリコンと接触してもシリコンとアルミニウムの相互拡散が防止できる。またこのようなアルミニウム合金膜は、透明導電膜、例えばITO(Indium Tin Oxide)膜と接触しても酸化還元反応が起こらないため、両者を直接接触させることができる。さらにこのようなアルミ合金膜は、比抵抗が低く耐熱性にも優れているので、配線材料としては有用である。 Alternatively, the electrodes or wirings 540 to 544 may be formed of an aluminum alloy film containing at least one element selected from nickel, cobalt, and iron, and carbon. Such an aluminum alloy film can prevent mutual diffusion of silicon and aluminum even when it comes into contact with silicon. In addition, since such an aluminum alloy film does not cause an oxidation-reduction reaction even when it comes into contact with a transparent conductive film, for example, an ITO (Indium Tin Oxide) film, both can be brought into direct contact with each other. Furthermore, such an aluminum alloy film is useful as a wiring material because of its low specific resistance and excellent heat resistance.

また電極又は配線540〜544はそれぞれ、電極と配線を一体化して形成してもよいし、電極と配線を別々に形成してそれらを接続させてもよい。 Each of the electrodes or wirings 540 to 544 may be formed by integrating the electrode and the wiring, or the electrode and the wiring may be separately formed and connected.

上記一連の工程によってnチャネル型TFT550及びpチャネル型TFT551を含むCMOS回路553、及びnチャネル型TFT552を含む半導体装置を形成することができる(図6(C))。なお半導体装置の作製方法は上述した作製工程に限定されないことはいうまでもない。 Through the above series of steps, a CMOS circuit 553 including the n-channel TFT 550 and the p-channel TFT 551 and a semiconductor device including the n-channel TFT 552 can be formed (FIG. 6C). Needless to say, the method for manufacturing the semiconductor device is not limited to the above-described manufacturing process.

本実施例では、本発明を用いて液晶表示装置(Liquid Crystal Display(LCD))を作製する例を示す。 In this embodiment, an example in which a liquid crystal display device (Liquid Crystal Display (LCD)) is manufactured using the present invention will be described.

本実施例で説明する表示装置の作製方法は画素TFTを含む画素部とその周辺に設けられる駆動回路部のTFTを同時に作製する方法である。但し、説明を簡単にするために、駆動回路に関しては基本単位であるCMOS回路を図示することとする。 A manufacturing method of a display device described in this embodiment is a method of manufacturing a pixel portion including a pixel TFT and a TFT of a driver circuit portion provided around the pixel portion at the same time. However, in order to simplify the explanation, a CMOS circuit which is a basic unit with respect to the drive circuit is illustrated.

まず実施例3に基づいて図6(C)における電極又は配線540〜544形成までを行う。なお、上記実施例と同じものは同じ符号で表す。 First, based on Example 3, the process up to formation of electrodes or wirings 540 to 544 in FIG. In addition, the same thing as the said Example is represented with the same code | symbol.

次に第2層間絶縁膜531及び電極又は配線540〜544上に第3層間絶縁膜610を形成する。なお第3層間絶縁膜610は、第2層間絶縁膜531と同様の材料を用いて形成することが可能である。 Next, a third interlayer insulating film 610 is formed over the second interlayer insulating film 531 and the electrodes or wirings 540 to 544. Note that the third interlayer insulating film 610 can be formed using a material similar to that of the second interlayer insulating film 531.

次いで、フォトマスクを用いてレジストマスクを形成し、第3層間絶縁膜610の一部をドライエッチングにより除去して開孔(コンタクトホールを形成)する。このコンタクトホール形成においては、エッチングガスとして四フッ化炭素(CF4)、酸素(O2)、ヘリウム(He)を、CF4、O2、Heをそれぞれ50sccm、50sccm、30sccmの流量で用いた。なお、コンタクトホールの底部は電極又は配線544に達している。 Next, a resist mask is formed using a photomask, and a part of the third interlayer insulating film 610 is removed by dry etching to form an opening (a contact hole is formed). In this contact hole formation, carbon tetrafluoride (CF 4 ), oxygen (O 2 ), and helium (He) were used as etching gases, and CF 4 , O 2 , and He were used at flow rates of 50 sccm, 50 sccm, and 30 sccm, respectively. . Note that the bottom of the contact hole reaches the electrode or wiring 544.

次いで、レジストマスクを除去した後、全面に第2の導電膜を成膜する。次いでフォトマスクを用いて、第2の導電膜のパターニングを行い、電極又は配線544に電気的に接続される画素電極623を形成する(図7)。本実施例では、反射型の液晶表示パネルを作製するので、画素電極623スパッタ法によりAg(銀)、Au(金)、Cu(銅)、W(タングステン)、Al(アルミニウム)等の光反射性を有する金属材料を用いて形成すればよい。 Next, after removing the resist mask, a second conductive film is formed over the entire surface. Next, patterning of the second conductive film is performed using a photomask, so that the pixel electrode 623 electrically connected to the electrode or the wiring 544 is formed (FIG. 7). In this embodiment, since a reflective liquid crystal display panel is manufactured, light reflection of Ag (silver), Au (gold), Cu (copper), W (tungsten), Al (aluminum), etc. is performed by the pixel electrode 623 sputtering method. It may be formed using a metal material having properties.

また、透過型の液晶表示パネルを作製する場合は、インジウム錫酸化物(ITO)、酸化珪素を含むインジウム錫酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、酸化スズ(SnO2)などの透明導電膜を用い、画素電極623を形成する。 When a transmissive liquid crystal display panel is manufactured, a transparent conductive film such as indium tin oxide (ITO), indium tin oxide containing silicon oxide, zinc oxide (ZnO), or tin oxide (SnO 2 ) is used. A pixel electrode 623 is formed.

なお、図9に画素TFTを含む画素部650の一部を拡大した上面図を示す。また、図9は画素電極の形成途中を示しており、左側の画素においては画素電極が形成されているが、右側の画素においては画素電極を形成していない状態を示している。図9において、実線A−A’で切断した図が、図7の画素部の断面と対応しており、図7と対応する箇所には同じ符号を用いている。 FIG. 9 shows an enlarged top view of a part of the pixel portion 650 including the pixel TFT. Further, FIG. 9 shows a state in which the pixel electrode is being formed, and shows a state in which the pixel electrode is formed in the left pixel, but the pixel electrode is not formed in the right pixel. In FIG. 9, a diagram cut along a solid line A-A ′ corresponds to the cross section of the pixel portion in FIG. 7, and the same reference numerals are used for portions corresponding to FIG. 7.

図9に示すように、ゲート電極572はゲート配線630に接続されている。また電極543はソース配線と一体形成されている。   As shown in FIG. 9, the gate electrode 572 is connected to the gate wiring 630. The electrode 543 is integrally formed with the source wiring.

また、容量配線631が設けてあり、保持容量は、第1層間絶縁膜530を誘電体とし、画素電極623と、該画素電極と重なる容量配線631とで形成されている。   In addition, a capacitor wiring 631 is provided, and the storage capacitor is formed of the pixel electrode 623 and the capacitor wiring 631 overlapping the pixel electrode, using the first interlayer insulating film 530 as a dielectric.

なお本実施例においては、画素電極623と容量配線631が重なる領域は、第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610をエッチングし、保持容量は画素電極623,第1層間絶縁膜530及び容量配線631によって形成されている。しかし第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610も誘電体として用いることが可能であれば、第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610をエッチングしなくてもよい。その場合第1層間絶縁膜530及び第2層間絶縁膜531及び第3層間絶縁膜610が誘電体として機能する。もしくは第3層間絶縁膜610のみをエッチングして、第1層間絶縁膜530と第2層間絶縁膜531を誘電体として用いてもよい。   In this embodiment, in the region where the pixel electrode 623 and the capacitor wiring 631 overlap, the second interlayer insulating film 531 and the third interlayer insulating film 610 are etched, and the storage capacitor has the pixel electrode 623, the first interlayer insulating film 530, and A capacitor wiring 631 is formed. However, if the second interlayer insulating film 531 and the third interlayer insulating film 610 can also be used as a dielectric, the second interlayer insulating film 531 and the third interlayer insulating film 610 need not be etched. In that case, the first interlayer insulating film 530, the second interlayer insulating film 531 and the third interlayer insulating film 610 function as a dielectric. Alternatively, only the third interlayer insulating film 610 may be etched, and the first interlayer insulating film 530 and the second interlayer insulating film 531 may be used as a dielectric.

以上の工程により、基板500上にトップゲート型の画素TFT552、トップゲイト型TFT550及び551からなるCMOS回路553および画素電極623が形成された液晶表示装置のTFT基板が完成する。本実施例では、トップゲート型TFTを形成したが、ボトムゲート型TFTを適宜用いることができる。   Through the above process, a TFT substrate of a liquid crystal display device in which the top gate pixel TFT 552, the CMOS circuit 553 including the top gate TFTs 550 and 551, and the pixel electrode 623 are formed on the substrate 500 is completed. In this embodiment, a top gate type TFT is formed, but a bottom gate type TFT can be used as appropriate.

次いで、画素電極623を覆うように、配向膜624aを形成する。なお、配向膜624aは、液滴吐出法やスクリーン印刷法やオフセット印刷法を用いればよい。その後、配向膜624aの表面にラビング処理を行う。   Next, an alignment film 624 a is formed so as to cover the pixel electrode 623. Note that the alignment film 624a may be formed using a droplet discharge method, a screen printing method, or an offset printing method. Thereafter, a rubbing process is performed on the surface of the alignment film 624a.

そして、対向基板625には、着色層626a、遮光層(ブラックマトリクス)626b、及びオーバーコート層627からなるカラーフィルタを設け、さらに透明電極もしくは反射電極からなる対向電極628と、その上に配向膜624bを形成する(図8)。そして、閉パターンであるシール材600を液滴吐出法により画素TFTを含む画素部650と重なる領域を囲むように形成する(図10(A))。ここでは液晶を滴下するため、閉パターンのシール材600を描画する例を示すが、開口部を有するシールパターンを設け、基板500を貼りあわせた後に毛細管現象を用いて液晶を注入するディップ式(汲み上げ式)を用いてもよい。   The counter substrate 625 is provided with a color filter composed of a colored layer 626a, a light shielding layer (black matrix) 626b, and an overcoat layer 627, a counter electrode 628 composed of a transparent electrode or a reflective electrode, and an alignment film thereon. 624b is formed (FIG. 8). Then, a sealing material 600 having a closed pattern is formed so as to surround a region overlapping with the pixel portion 650 including the pixel TFT by a droplet discharge method (FIG. 10A). Here, an example in which a sealing material 600 having a closed pattern is drawn in order to drop liquid crystal is shown. However, a dip type (in which liquid crystal is injected by using a capillary phenomenon after providing a sealing pattern having an opening and bonding the substrate 500 together) A pumping type) may be used.

次いで、気泡が入らないように減圧下で液晶組成物629の滴下を行い(図10(B))、両方の基板500及び625を貼り合わせる(図10(C))。閉ループのシールパターン内に液晶を1回若しくは複数回滴下する。液晶組成物としては、上記実施形態および上記実施例に示したものを用いればよい。液晶組成物629の配向モードとしては、液晶分子の配列が光の入射から出射に向かって90°ツイスト配向したTNモードを用いる。そして基板のラビング方向が直交するように貼り合わせる。   Next, the liquid crystal composition 629 is dropped under reduced pressure so that bubbles do not enter (FIG. 10B), and both the substrates 500 and 625 are attached (FIG. 10C). The liquid crystal is dropped once or a plurality of times in the closed loop seal pattern. What is necessary is just to use what was shown to the said embodiment and the said Example as a liquid-crystal composition. As an alignment mode of the liquid crystal composition 629, a TN mode in which the alignment of liquid crystal molecules is twisted by 90 ° from incident light to outgoing light is used. And it bonds so that the rubbing direction of a board | substrate may orthogonally cross.

なお、一対の基板間隔は、球状のスペーサを散布したり、樹脂からなる柱状のスペーサを形成したり、シール材600にフィラーを含ませることによって維持すればよい。上記柱状のスペーサは、アクリル、ポリイミド、ポリイミドアミド、エポキシの少なくとも1つを主成分とする有機樹脂材料、もしくは酸化珪素、窒化珪素、窒素を含む酸化珪素のいずれか一種の材料、或いはこれらの積層膜からなる無機材料であることを特徴としている。   Note that the distance between the pair of substrates may be maintained by scattering spherical spacers, forming columnar spacers made of resin, or including a filler in the sealant 600. The columnar spacer is an organic resin material mainly containing at least one of acrylic, polyimide, polyimide amide, and epoxy, or any one material of silicon oxide, silicon nitride, and silicon oxide containing nitrogen, or a laminate thereof. It is an inorganic material made of a film.

次いで、基板の分断を行う。多面取りの場合、それぞれのパネルを分断する。また、1面取りの場合、予めカットされている対向基板を貼り合わせることによって、分断工程を省略することもできる(図10(D))。   Next, the substrate is divided. In case of multi-chamfering, each panel is divided. In the case of one-sided chamfering, the dividing step can be omitted by attaching a counter substrate that has been cut in advance (FIG. 10D).

そして、異方性導電体層を介し、公知の技術を用いてFPC(Flexible Printed Circuit)を貼りつける。以上の工程で液晶表示装置が完成する。また、必要があれば光学フィルムを貼り付ける。透過型の液晶表示装置とする場合、偏光板は、TFT基板と対向基板の両方に貼り付ける。   Then, an FPC (Flexible Printed Circuit) is attached through an anisotropic conductor layer using a known technique. The liquid crystal display device is completed through the above steps. If necessary, an optical film is attached. In the case of a transmissive liquid crystal display device, the polarizing plate is attached to both the TFT substrate and the counter substrate.

以上の工程によって得られた液晶表示装置の上面図を図15(A)に示すとともに、他の液晶表示装置の上面図の例を図15(B)に示す。   FIG. 15A shows a top view of the liquid crystal display device obtained through the above steps, and FIG. 15B shows an example of a top view of another liquid crystal display device.

図15(A)中、500はTFT基板、625は対向基板、650は画素部、600はシール材、801はFPCである。なお、液晶組成物を液滴吐出法により吐出させ、減圧下で一対の基板500及び625をシール材600で貼り合わせている。   In FIG. 15A, 500 is a TFT substrate, 625 is a counter substrate, 650 is a pixel portion, 600 is a sealing material, and 801 is an FPC. Note that the liquid crystal composition is discharged by a droplet discharge method, and the pair of substrates 500 and 625 is bonded to each other with the sealant 600 under reduced pressure.

図15(B)中、500はTFT基板、625は対向基板、802はソース信号線駆動回路、803はゲート信号線駆動回路、650は画素部、600aは第1シール材、801はFPCである。なお、液晶組成物を液滴吐出法により吐出させ、一対の基板500及び625を第1シール材600aおよび第2シール材600bで貼り合わせている。駆動回路部802及び803には液晶は不要であるため、画素部650のみに液晶を保持させており、第2シール材600bはパネル全体の補強のために設けられている。   In FIG. 15B, 500 is a TFT substrate, 625 is a counter substrate, 802 is a source signal line driver circuit, 803 is a gate signal line driver circuit, 650 is a pixel portion, 600a is a first sealant, and 801 is an FPC. . Note that the liquid crystal composition is discharged by a droplet discharge method, and the pair of substrates 500 and 625 are bonded to each other with the first sealant 600a and the second sealant 600b. Since the driving circuit portions 802 and 803 do not require liquid crystal, only the pixel portion 650 holds the liquid crystal, and the second sealant 600b is provided to reinforce the entire panel.

以上示したように、本実施例では、本発明の液晶組成物を用い、結晶性半導体膜を有するTFTを用いて、応答速度の速い液晶表示装置を作製することができる。本実施例で作製される液晶表示装置は各種電子機器の表示部として用いることができる。   As described above, in this example, a liquid crystal display device with a high response speed can be manufactured using the liquid crystal composition of the present invention and a TFT having a crystalline semiconductor film. The liquid crystal display device manufactured in this embodiment can be used as a display portion of various electronic devices.

なお、本実施例では、TFTをトップゲート型TFTとしたが、この構造に限定されるものではなく、適宜ボトムゲート型(逆スタガ型)TFTや、順スタガ型TFTを用いることが可能である。また、シングルゲート構造のTFTに限定されず、複数のチャネル形成領域を有するマルチゲート型TFT、例えばダブルゲート型TFTとしてもよい。   In this embodiment, the top gate type TFT is used as the TFT. However, the present invention is not limited to this structure, and a bottom gate type (reverse stagger type) TFT or a forward stagger type TFT can be used as appropriate. . Further, the TFT is not limited to a single-gate TFT, and may be a multi-gate TFT having a plurality of channel formation regions, for example, a double-gate TFT.

また、本実施例は、必要であれば上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載とも自由に組み合わせることが可能である。   Further, this embodiment can be freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments, if necessary.

本実施例では、液晶滴下に液滴吐出法を用いる例を示す。本実施例では、大面積基板1110を用い、パネル4枚取りの作製例を示す。   In this embodiment, an example in which a droplet discharge method is used for liquid crystal dropping is described. In this embodiment, an example of manufacturing four panels using a large area substrate 1110 is shown.

図11(A)は、ディスペンサ(またはインクジェット)による液晶層形成の途中の断面図を示しており、シール材1112で囲まれた画素部1111を覆うように液晶組成物1114を液滴吐出装置1116のノズル1118から吐出、噴射、または滴下させている。液滴吐出装置1116は、図11(A)中の矢印方向に移動させる。なお、ここではノズル1118を移動させた例を示したが、ノズルを固定し、基板を移動させることによって液晶層を形成してもよい。   FIG. 11A is a cross-sectional view in the middle of liquid crystal layer formation by a dispenser (or ink jet), and a liquid crystal composition 1114 is applied to a droplet discharge device 1116 so as to cover a pixel portion 1111 surrounded by a sealant 1112. Nozzle 1118 is discharged, jetted, or dropped. The droplet discharge device 1116 is moved in the direction of the arrow in FIG. Although the example in which the nozzle 1118 is moved is shown here, the liquid crystal layer may be formed by fixing the nozzle and moving the substrate.

また、図11(B)には斜視図を示している。シール材1112で囲まれた領域のみに選択的に液晶組成物1114を吐出、噴射、または滴下させ、ノズル走査方向1113に合わせて滴下面1115が移動している様子を示している。   FIG. 11B shows a perspective view. A state in which the liquid crystal composition 1114 is selectively ejected, jetted, or dropped only in a region surrounded by the sealant 1112 and the dropping surface 1115 moves in accordance with the nozzle scanning direction 1113 is shown.

また、図11(A)の点線で囲まれた部分1119を拡大した断面図が図11(C)、図11(D)である。液晶組成物の粘性が高い場合は、連続的に吐出され、図11(C)のように繋がったまま付着される。一方、液晶組成物の粘性が低い場合には、間欠的に吐出され、図11(D)に示すように液滴が滴下される。   11C and 11D are enlarged cross-sectional views of a portion 1119 surrounded by a dotted line in FIG. When the viscosity of the liquid crystal composition is high, the liquid crystal composition is continuously discharged and attached while being connected as shown in FIG. On the other hand, when the viscosity of the liquid crystal composition is low, the liquid crystal composition is discharged intermittently, and droplets are dropped as shown in FIG.

なお、図11(C)中、1120はトップゲート型TFT、1121は画素電極をそれぞれ指している。画素部1111は、マトリクス状に配置された画素電極と、該画素電極と接続されているスイッチング素子、ここではトップゲート型TFTと、保持容量とで構成されている。   Note that in FIG. 11C, reference numeral 1120 denotes a top gate TFT, and 1121 denotes a pixel electrode. The pixel portion 1111 includes pixel electrodes arranged in a matrix, switching elements connected to the pixel electrodes, here, top gate TFTs, and storage capacitors.

なお本実施例ではトップゲート型TFTを用いたが、ボトムゲート型TFTを用いてもよい。   Although a top gate TFT is used in this embodiment, a bottom gate TFT may be used.

ここで、図12及び図13を用いて、パネル作製の流れを以下に説明する。   Here, the flow of panel fabrication will be described below with reference to FIGS.

まず、絶縁表面に画素部1111が形成された第1基板1110を用意する。第1基板1110は、予め、配向膜の形成、ラビング処理、球状スペーサ散布、或いは柱状スペーサ形成、またはカラーフィルタの形成などを行っておく。次いで、図12(A)に示すように、不活性気体雰囲気または減圧下で第1基板1110上にディスペンサ装置またはインクジェット装置でシール材1112を所定の位置(画素部1111を囲むパターン)に形成する。半透明なシール材1112としてはフィラー(直径6μm〜24μm)を含み、且つ、粘度40〜400Pa・sのものを用いる。なお、後に接する液晶に溶解しない材料を選択することが好ましい。シール材1112としては、アクリル系光硬化樹脂やアクリル系熱硬化樹脂を用いればよい。また、簡単なシールパターンであるのでシール材1112は、印刷法で形成することもできる。   First, a first substrate 1110 having a pixel portion 1111 formed on an insulating surface is prepared. The first substrate 1110 is previously subjected to formation of an alignment film, rubbing treatment, spherical spacer dispersion, columnar spacer formation, or color filter formation. Next, as illustrated in FIG. 12A, a sealant 1112 is formed at a predetermined position (a pattern surrounding the pixel portion 1111) on the first substrate 1110 with a dispenser device or an inkjet device under an inert gas atmosphere or under reduced pressure. . The translucent sealing material 1112 includes a filler (diameter 6 μm to 24 μm) and a viscosity of 40 to 400 Pa · s. It is preferable to select a material that does not dissolve in the liquid crystal that comes into contact later. As the sealing material 1112, an acrylic photo-curing resin or an acrylic thermosetting resin may be used. In addition, since the sealing pattern is simple, the sealing material 1112 can be formed by a printing method.

次いで、シール材1112に囲まれた領域に液晶組成物1114をインクジェット法により滴下する(図12(B))。液晶組成物1114としては、上記実施例に示したものを液晶組成物を用いればよい。また、液晶組成物は温度を調節することによって粘度を設定することができるため、インクジェット法に適している。インクジェット法により無駄なく必要な量だけの液晶組成物1114をシール材1112に囲まれた領域に保持することができる。   Next, a liquid crystal composition 1114 is dropped by an inkjet method into a region surrounded by the sealant 1112 (FIG. 12B). As the liquid crystal composition 1114, the liquid crystal composition shown in the above embodiment may be used. In addition, since the viscosity of the liquid crystal composition can be set by adjusting the temperature, it is suitable for the ink jet method. A necessary amount of the liquid crystal composition 1114 can be held in a region surrounded by the sealant 1112 without waste by an inkjet method.

次いで、画素部1111が設けられた第1基板1110と、対向電極や配向膜が設けられた第2基板1031とを気泡が入らないように減圧下で貼りあわせる。(図13(A))ここでは、貼りあわせると同時に紫外線照射や熱処理を行って、シール材1112を硬化させる。なお、紫外線照射に加えて、熱処理を行ってもよい。   Next, the first substrate 1110 provided with the pixel portion 1111 and the second substrate 1031 provided with the counter electrode and the alignment film are bonded together under reduced pressure so that bubbles do not enter. Here, the sealing material 1112 is cured by performing ultraviolet irradiation and heat treatment at the same time as bonding. In addition to ultraviolet irradiation, heat treatment may be performed.

また、図14に貼り合わせ時または貼り合わせ後に紫外線照射や熱処理が可能な貼り合わせ装置の例を示す。   FIG. 14 shows an example of a bonding apparatus capable of performing ultraviolet irradiation or heat treatment at the time of bonding or after bonding.

図14(A)及び図14(B)中、1041は第1基板支持台、1042は第2基板支持台、1044は透光性の窓、1048は下側定盤、1049は紫外光の光源である。なお、図14(A)〜図14(B)において、図11(A)〜図11(D)、図12(A)〜図12(B)及び図13(A)〜図13(B)と対応する部分は同一の符号を用いている。   14A and 14B, reference numeral 1041 denotes a first substrate support base, 1042 denotes a second substrate support base, 1044 denotes a translucent window, 1048 denotes a lower surface plate, and 1049 denotes an ultraviolet light source. It is. 14A to 14B, FIGS. 11A to 11D, FIGS. 12A to 12B, and FIGS. 13A to 13B. The same reference numerals are used for portions corresponding to.

下側定盤1048は加熱ヒータが内蔵されており、シール材1112を硬化させる。また、第2基板支持台1042には透光性の窓1044が設けられており、光源1049からの紫外光などを通過させるようになっている。ここでは図示していないが窓1044を通して基板の位置アライメントを行う。また、対向基板となる第2基板1031は予め、所望のサイズに切断しておき、第2基板支持台1042に真空チャックなどで固定しておく。図14(A)は貼り合わせ前の状態を示している。   The lower surface plate 1048 has a built-in heater, and cures the sealing material 1112. The second substrate support 1042 is provided with a light-transmitting window 1044 so that ultraviolet light from the light source 1049 can pass therethrough. Although not shown here, the substrate is aligned through the window 1044. In addition, the second substrate 1031 to be the counter substrate is cut into a desired size in advance, and is fixed to the second substrate support 1042 with a vacuum chuck or the like. FIG. 14A shows a state before bonding.

貼り合わせ時には、第1基板支持台1041と第2基板支持台1042とを下降させた後、圧力をかけて第1基板1110と第2基板1031を貼り合わせ、そのまま紫外光を照射することによって硬化させる。貼り合わせ後の状態を図14(B)に示す。   At the time of bonding, after the first substrate support base 1041 and the second substrate support base 1042 are lowered, the first substrate 1110 and the second substrate 1031 are bonded together by applying pressure and cured by irradiating ultraviolet light as it is. Let The state after bonding is shown in FIG.

次いで、スクライバー装置、ブレイカー装置、ロールカッターなどの切断装置を用いて第1基板1110を切断する(図13(B))。こうして、1枚の基板から4つのパネルを作製することができる。そして、公知の技術を用いてFPCを貼りつける。   Next, the first substrate 1110 is cut using a cutting device such as a scriber device, a breaker device, or a roll cutter (FIG. 13B). Thus, four panels can be manufactured from one substrate. Then, the FPC is pasted using a known technique.

なお、第1基板1110、第2基板1031としてはガラス基板、またはプラスチック基板を用いることができる。   Note that a glass substrate or a plastic substrate can be used as the first substrate 1110 and the second substrate 1031.

また、本実施例は、必要であれば上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載と自由に組み合わせることが可能である。   Further, this embodiment can be freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments, if necessary.

本発明が適用される電子機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオコンポ等)、コンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。それらの電子機器の具体例を図16、図17、図18(A)〜図18(B)、図19(A)〜図19(B)、図20、図21(A)〜図21(E)に示す。   As an electronic device to which the present invention is applied, a video camera, a digital camera, a goggle type display, a navigation system, a sound reproduction device (car audio component, etc.), a computer, a game device, a portable information terminal (mobile computer, cellular phone, portable type) A game machine or an electronic book), an image playback device provided with a recording medium (specifically, a device provided with a display capable of playing back a recording medium such as a Digital Versatile Disc (DVD) and displaying the image). It is done. Specific examples of these electronic devices are shown in FIGS. 16, 17, 18A to 18B, 19A to 19B, 20, 21A to 21 (). E).

図16は表示パネル5001と、回路基板5011を組み合わせた液晶モジュールを示している。回路基板5011には、コントロール回路5012や信号分割回路5013などが形成されており、接続配線5014によって表示パネル5001と電気的に接続されている。   FIG. 16 shows a liquid crystal module in which a display panel 5001 and a circuit board 5011 are combined. A circuit board 5011 is provided with a control circuit 5012, a signal dividing circuit 5013, and the like, and is electrically connected to the display panel 5001 through a connection wiring 5014.

この表示パネル5001には、複数の画素が設けられた画素部5002と、走査線駆動回路5003、選択された画素にビデオ信号を供給する信号線駆動回路5004を備えている。なお液晶モジュールを作製する場合は上記実施の形態および上記実施例を用いて表示パネル5001を作製すればよい。また、走査線駆動回路5003や信号線駆動回路5004等制御用駆動回路部を、上記実施例形成されたTFTを用いて作製することが可能である。   The display panel 5001 includes a pixel portion 5002 provided with a plurality of pixels, a scanning line driver circuit 5003, and a signal line driver circuit 5004 for supplying a video signal to the selected pixel. Note that in the case of manufacturing a liquid crystal module, the display panel 5001 may be manufactured by using the above embodiment modes and examples. In addition, a control driver circuit portion such as the scan line driver circuit 5003 and the signal line driver circuit 5004 can be manufactured using the TFTs formed in the above embodiments.

図16に示す液晶モジュールにより液晶テレビ受像機を完成させることができる。図17は、液晶テレビ受像機の主要な構成を示すブロック図である。チューナ5101は映像信号と音声信号を受信する。映像信号は、映像信号増幅回路5102と、そこから出力される信号を赤、緑、青の各色に対応した色信号に変換する映像信号処理回路5103と、その映像信号をドライバICの入力仕様に変換するためのコントロール回路5012により処理される。コントロール回路5012は、走査線側と信号線側にそれぞれ信号が出力する。デジタル駆動する場合には、信号線側に信号分割回路5013を設け、入力デジタル信号をm個に分割して供給する構成としても良い。   A liquid crystal television receiver can be completed with the liquid crystal module shown in FIG. FIG. 17 is a block diagram showing a main configuration of the liquid crystal television receiver. A tuner 5101 receives a video signal and an audio signal. The video signal includes a video signal amplifying circuit 5102, a video signal processing circuit 5103 that converts a signal output from the video signal into a color signal corresponding to each color of red, green, and blue, and the video signal as input specifications of the driver IC. Processing is performed by a control circuit 5012 for conversion. The control circuit 5012 outputs a signal to each of the scanning line side and the signal line side. In the case of digital driving, a signal dividing circuit 5013 may be provided on the signal line side so that an input digital signal is divided into m pieces and supplied.

チューナ5101で受信した信号のうち、音声信号は音声信号増幅回路5105に送られ、その出力は音声信号処理回路5106を経てスピーカ5107に供給される。制御回路5108は受信局(受信周波数)や音量の制御情報を入力部5109から受け、チューナ5101や音声信号処理回路5106に信号を送出する。   Of the signals received by the tuner 5101, the audio signal is sent to the audio signal amplifier circuit 5105, and the output is supplied to the speaker 5107 through the audio signal processing circuit 5106. The control circuit 5108 receives control information on the receiving station (reception frequency) and volume from the input unit 5109 and sends a signal to the tuner 5101 and the audio signal processing circuit 5106.

図18(A)に示すように、液晶モジュールを筐体5201に組みこんで、テレビ受像機を完成させることができる。液晶モジュールにより、表示画面5202が形成される。また、スピーカー5203、操作スイッチ5204などが適宜備えられている。   As shown in FIG. 18A, a television receiver can be completed by incorporating a liquid crystal module into a housing 5201. A display screen 5202 is formed by the liquid crystal module. In addition, a speaker 5203, an operation switch 5204, and the like are provided as appropriate.

また図18(B)に、ワイヤレスでディスプレイのみを持ち運び可能なテレビ受像器を示す。筐体5212にはバッテリー及び信号受信器が内蔵されており、そのバッテリーで表示部5213やスピーカ部5217を駆動させる。バッテリーは充電器5210で繰り返し充電が可能となっている。また、充電器5210は映像信号を送受信することが可能で、その映像信号をディスプレイの信号受信器に送信することでができる。筐体5212は操作キー5216によって制御する。また、図18(B)に示す装置は、操作キー5216を操作することによって、筐体5212から充電器5210に信号を送ることも可能であるため映像音声双方向通信装置とも言える。また、操作キー5216を操作することによって、筐体5212から充電器5210に信号を送り、さらに充電器5210が送信できる信号を他の電子機器に受信させることによって、他の電子機器の通信制御も可能であり、汎用遠隔制御装置とも言える。本発明は表示部5213及び制御用回路部等に適用することができる。   FIG. 18B shows a television receiver that can carry only a display wirelessly. A housing and a signal receiver are incorporated in the housing 5212, and the display portion 5213 and the speaker portion 5217 are driven by the battery. The battery can be repeatedly charged by a charger 5210. The charger 5210 can transmit and receive a video signal, and can transmit the video signal to a signal receiver of the display. The housing 5212 is controlled by operation keys 5216. The device illustrated in FIG. 18B can also be referred to as a video / audio two-way communication device because a signal can be sent from the housing 5212 to the charger 5210 by operating the operation key 5216. In addition, by operating the operation key 5216, a signal is transmitted from the housing 5212 to the charger 5210, and further, a signal that can be transmitted by the charger 5210 is received by another electronic device, thereby controlling communication of the other electronic device. It can be said to be a general-purpose remote control device. The present invention can be applied to the display portion 5213, a control circuit portion, and the like.

本発明を図16、図17、図18(A)〜図18(B)に示すテレビ受像器使用することにより、高速応答速度を有する本テレビ受像器を作製することができる。   By using the television receiver shown in FIGS. 16, 17, 18A to 18B according to the present invention, this television receiver having a high response speed can be manufactured.

勿論、本発明はテレビ受像機に限定されず、パーソナルコンピュータのモニタをはじめ、鉄道の駅や空港などにおける情報表示盤や、街頭における広告表示盤など特に大面積の表示媒体として様々な用途に適用することができる。   Of course, the present invention is not limited to a television receiver, and is applied to various uses as a display medium of a particularly large area such as a monitor of a personal computer, an information display board in a railway station or airport, an advertisement display board in a street, etc. can do.

図19(A)は表示パネル5301とプリント配線基板5302を組み合わせたモジュールを示している。表示パネル5301は、複数の画素が設けられた画素部5303と、第1の走査線駆動回路5304、第2の走査線駆動回路5305と、選択された画素にビデオ信号を供給する信号線駆動回路5306を備えている。   FIG. 19A shows a module in which a display panel 5301 and a printed wiring board 5302 are combined. The display panel 5301 includes a pixel portion 5303 provided with a plurality of pixels, a first scan line driver circuit 5304, a second scan line driver circuit 5305, and a signal line driver circuit that supplies a video signal to the selected pixel. 5306 is provided.

プリント配線基板5302には、コントローラ5307、中央処理装置(CPU)5308、メモリ5309、電源回路5310、音声処理回路5311及び送受信回路5312などが備えられている。プリント配線基板5302と表示パネル5301は、フレキシブル配線基板(FPC)5313により接続されている。プリント配線基板5302には、容量素子、バッファ回路などを設け、電源電圧や信号にノイズがのったり、信号の立ち上がりが鈍ったりすることを防ぐ構成としても良い。また、コントローラ5307、音声処理回路5311、メモリ5309、CPU5308、電源回路5310などは、COG(Chip On Glass)方式を用いて表示パネル5301に実装することもできる。COG方式により、プリント配線基板5302の規模を縮小することができる。   The printed wiring board 5302 is provided with a controller 5307, a central processing unit (CPU) 5308, a memory 5309, a power supply circuit 5310, an audio processing circuit 5311, a transmission / reception circuit 5312, and the like. The printed wiring board 5302 and the display panel 5301 are connected by a flexible wiring board (FPC) 5313. The printed wiring board 5302 may be provided with a capacitor, a buffer circuit, or the like so that noise is added to the power supply voltage or the signal or the rise of the signal is not slowed. The controller 5307, the audio processing circuit 5311, the memory 5309, the CPU 5308, the power supply circuit 5310, and the like can be mounted on the display panel 5301 using a COG (Chip On Glass) method. The scale of the printed wiring board 5302 can be reduced by the COG method.

プリント配線基板5302に備えられたインターフェース(I/F)部5314を介して、各種制御信号の入出力が行われる。また、アンテナとの間の信号の送受信を行なうためのアンテナ用ポート5315が、プリント配線基板5302に設けられている。   Various control signals are input and output through an interface (I / F) unit 5314 provided in the printed wiring board 5302. An antenna port 5315 for transmitting and receiving signals to and from the antenna is provided on the printed wiring board 5302.

図19(B)は、図19(A)に示したモジュールのブロック図を示す。このモジュールは、メモリ5309としてVRAM5316、DRAM5317、フラッシュメモリ5318などが含まれている。VRAM5316にはパネルに表示する画像のデータが、DRAM5317には画像データまたは音声データが、フラッシュメモリには各種プログラムが記憶されている。   FIG. 19B shows a block diagram of the module shown in FIG. This module includes a VRAM 5316, a DRAM 5317, a flash memory 5318, and the like as the memory 5309. The VRAM 5316 stores image data to be displayed on the panel, the DRAM 5317 stores image data or audio data, and the flash memory stores various programs.

電源回路5310は、表示パネル5301、コントローラ5307、CPU5308、音声処理回路5311、メモリ5309、送受信回路5312を動作させる電力を供給する。またパネルの仕様によっては、電源回路5310に電流源が備えられている場合もある。   The power supply circuit 5310 supplies power for operating the display panel 5301, the controller 5307, the CPU 5308, the sound processing circuit 5311, the memory 5309, and the transmission / reception circuit 5312. Depending on the specifications of the panel, the power supply circuit 5310 may be provided with a current source.

CPU5308は、制御信号生成回路5320、デコーダ5321、レジスタ5322、演算回路5323、RAM5324、CPU5308用のインターフェース5366などを有している。インターフェース5366を介してCPU5308に入力された各種信号は、一旦レジスタ5322に保持された後、演算回路5323、デコーダ5321などに入力される。演算回路5323では、入力された信号に基づき演算を行ない、各種命令を送る場所を指定する。一方デコーダ5321に入力された信号はデコードされ、制御信号生成回路5320に入力される。制御信号生成回路5320は入力された信号に基づき、各種命令を含む信号を生成し、演算回路5323において指定された場所、具体的にはメモリ5309、送受信回路5312、音声処理回路5311、コントローラ5307などに送る。   The CPU 5308 includes a control signal generation circuit 5320, a decoder 5321, a register 5322, an arithmetic circuit 5323, a RAM 5324, an interface 5366 for the CPU 5308, and the like. Various signals input to the CPU 5308 through the interface 5366 are temporarily held in the register 5322 and then input to the arithmetic circuit 5323, the decoder 5321, and the like. The arithmetic circuit 5323 performs an operation based on the input signal and designates a place to send various commands. On the other hand, the signal input to the decoder 5321 is decoded and input to the control signal generation circuit 5320. The control signal generation circuit 5320 generates a signal including various instructions based on the input signal, and a location designated by the arithmetic circuit 5323, specifically, a memory 5309, a transmission / reception circuit 5312, an audio processing circuit 5311, a controller 5307, and the like. Send to.

メモリ5309、送受信回路5312、音声処理回路5311、コントローラ5307は、それぞれ受けた命令に従って動作する。以下その動作について簡単に説明する。   The memory 5309, the transmission / reception circuit 5312, the sound processing circuit 5311, and the controller 5307 operate according to the received commands. The operation will be briefly described below.

入力手段5325から入力された信号は、I/F部5314を介してプリント配線基板5302に実装されたCPU5308に送られる。制御信号生成回路5320は、ポインティングデバイスやキーボードなどの入力手段5325から送られてきた信号に従い、VRAM5316に格納してある画像データを所定のフォーマットに変換し、コントローラ5307に送付する。   A signal input from the input unit 5325 is sent to the CPU 5308 mounted on the printed wiring board 5302 via the I / F unit 5314. The control signal generation circuit 5320 converts the image data stored in the VRAM 5316 into a predetermined format according to a signal sent from the input unit 5325 such as a pointing device or a keyboard, and sends the image data to the controller 5307.

コントローラ5307は、パネルの仕様に合わせてCPU5308から送られてきた画像データを含む信号にデータ処理を施し、表示パネル5301に供給する。またコントローラ5307は、電源回路5310から入力された電源電圧やCPU5308から入力された各種信号をもとに、Hsync信号、Vsync信号、クロック信号CLK、交流電圧(AC Cont)、切り替え信号L/Rを生成し、表示パネル5301に供給する。   The controller 5307 performs data processing on a signal including image data sent from the CPU 5308 in accordance with the specifications of the panel, and supplies the processed signal to the display panel 5301. Further, the controller 5307 generates an Hsync signal, a Vsync signal, a clock signal CLK, an AC voltage (AC Cont), and a switching signal L / R based on the power supply voltage input from the power supply circuit 5310 and various signals input from the CPU 5308. Generated and supplied to the display panel 5301.

送受信回路5312では、アンテナ5328において電波として送受信される信号が処理されており、具体的にはアイソレータ、バンドパスフィルタ、VCO(Voltage Controlled Oscillator)、LPF(Low Pass Filter)、カプラ、バランなどの高周波回路を含んでいる。送受信回路5312において送受信される信号のうち音声情報を含む信号が、CPU5308からの命令に従って、音声処理回路5311に送られる。   In the transmission / reception circuit 5312, signals transmitted / received as radio waves in the antenna 5328 are processed. Specifically, high-frequency signals such as an isolator, a band-pass filter, a VCO (Voltage Controlled Oscillator), an LPF (Low Pass Filter), a coupler, and a balun. Includes circuitry. A signal including audio information among signals transmitted and received in the transmission / reception circuit 5312 is sent to the audio processing circuit 5311 in accordance with a command from the CPU 5308.

CPU5308の命令に従って送られてきた音声情報を含む信号は、音声処理回路5311において音声信号に復調され、スピーカー5327に送られる。またマイク5326から送られてきた音声信号は、音声処理回路5311において変調され、CPU5308からの命令に従って、送受信回路5312に送られる。   A signal including audio information sent in accordance with a command from the CPU 5308 is demodulated into an audio signal by the audio processing circuit 5311 and sent to the speaker 5327. An audio signal sent from the microphone 5326 is modulated in the audio processing circuit 5311 and sent to the transmission / reception circuit 5312 in accordance with a command from the CPU 5308.

コントローラ5307、CPU5308、電源回路5310、音声処理回路5311、メモリ5309を、本実施例のパッケージとして実装することができる。本実施例は、アイソレータ、バンドパスフィルタ、VCO(Voltage Controlled Oscillator)、LPF(Low Pass Filter)、カプラ、バランなどの高周波回路以外であれば、どのような回路にも応用することができる。   The controller 5307, the CPU 5308, the power supply circuit 5310, the sound processing circuit 5311, and the memory 5309 can be mounted as a package of this embodiment. This embodiment can be applied to any circuit other than a high-frequency circuit such as an isolator, a band pass filter, a VCO (Voltage Controlled Oscillator), an LPF (Low Pass Filter), a coupler, and a balun.

図20は、図19(A)〜図19(B)に示すモジュールを含む携帯電話機の一態様を示している。表示パネル5301はハウジング5330に脱着自在に組み込まれる。ハウジング5330は表示パネル5301のサイズに合わせて、形状や寸法を適宜変更することができる。表示パネル5301を固定したハウジング5330はプリント基板5331に嵌着されモジュールとして組み立てられる。   20 illustrates one mode of a mobile phone including the module illustrated in FIGS. 19A to 19B. The display panel 5301 is incorporated in a housing 5330 so as to be detachable. The shape and size of the housing 5330 can be changed as appropriate in accordance with the size of the display panel 5301. The housing 5330 to which the display panel 5301 is fixed is fitted to the printed board 5331 and assembled as a module.

表示パネル5301はFPC5313を介してプリント基板5331に接続される。プリント基板5331には、スピーカー5332、マイクロフォン5333、送受信回路5334、CPU及びコントローラなどを含む信号処理回路5335が形成されている。このようなモジュールと、入力手段5336、バッテリ5337、アンテナ5340を組み合わせ、筐体5339に収納する。表示パネル5301の画素部は筐体5339に形成された開口窓から視認できように配置する。   The display panel 5301 is connected to the printed board 5331 through the FPC 5313. A signal processing circuit 5335 including a speaker 5332, a microphone 5333, a transmission / reception circuit 5334, a CPU, a controller, and the like is formed over the printed board 5331. Such a module is combined with the input means 5336, the battery 5337, and the antenna 5340 and stored in the housing 5339. The pixel portion of the display panel 5301 is arranged so that it can be seen from an opening window formed in the housing 5339.

本実施例に係る携帯電話機は、その機能や用途に応じてさまざまな態様に変容し得る。例えば、表示パネルを複数備えたり、筐体を適宜複数に分割して蝶番により開閉式とした構成としても、上記した作用効果を奏することができる。
できる。
The mobile phone according to the present embodiment can be transformed into various modes according to the function and application. For example, the above-described effects can be obtained even when a plurality of display panels are provided, or the housing is divided into a plurality of cases and is opened and closed by a hinge.
it can.

本発明を図19(A)〜図19(B)、図20に示す携帯電話に使用することにより、高速応答の携帯電話を作製することができる。   By using the present invention for the mobile phone shown in FIGS. 19A to 19B and FIG. 20, a mobile phone with high-speed response can be manufactured.

図21(A)は液晶ディスプレイであり、筐体6001、支持台6002、表示部6003などによって構成されている。本発明は図16に示す液晶モジュール、図19(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6003に適用が可能である。また、本発明を制御用回路部等に用いることも可能である。   FIG. 21A illustrates a liquid crystal display which includes a housing 6001, a support base 6002, a display portion 6003, and the like. The present invention can be applied to the display portion 6003 by using the structure of the liquid crystal module shown in FIG. 16 and the display panel shown in FIG. Further, the present invention can also be used for a control circuit unit or the like.

本発明を使用することにより、高速応答のディスプレイを作製することができる。   By using the present invention, a display with a high response speed can be manufactured.

図21(B)はコンピュータであり、本体6101、筐体6102、表示部6103、キーボード6104、外部接続ポート6105、ポインティングマウス6106等を含む。本発明は図16に示す液晶モジュール、図19(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6103に適用することができる。また、本発明を制御用回路部等に用いることも可能である。   FIG. 21B illustrates a computer, which includes a main body 6101, a housing 6102, a display portion 6103, a keyboard 6104, an external connection port 6105, a pointing mouse 6106, and the like. The present invention can be applied to the display portion 6103 by using the liquid crystal module shown in FIG. 16 and the structure of the display panel shown in FIG. Further, the present invention can also be used for a control circuit unit or the like.

本発明を使用することにより、高速応答速度を有する本コンピュータを作製することができる。   By using the present invention, the computer having a high response speed can be manufactured.

図21(C)は携帯可能なコンピュータであり、本体6201、表示部6202、スイッチ6203、操作キー6204、赤外線ポート6205等を含む。本発明は図16に示す液晶モジュール、図19(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6202に適用することができる。また、本発明を制御用回路部等に用いることも可能である。   FIG. 21C illustrates a portable computer, which includes a main body 6201, a display portion 6202, a switch 6203, operation keys 6204, an infrared port 6205, and the like. The present invention can be applied to the display portion 6202 by using the liquid crystal module shown in FIG. 16 and the structure of the display panel shown in FIG. Further, the present invention can also be used for a control circuit unit or the like.

本発明を使用することにより、高速応答速度を有する本コンピュータを作製することができる。   By using the present invention, the computer having a high response speed can be manufactured.

図21(D)は携帯型のゲーム機であり、筐体6301、表示部6302、スピーカー部6303、操作キー6304、記録媒体挿入部6305等を含む。本発明は図16に示す液晶モジュール、図19(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部6302に適用することができる。   FIG. 21D illustrates a portable game machine including a housing 6301, a display portion 6302, speaker portions 6303, operation keys 6304, a recording medium insertion portion 6305, and the like. The present invention can be applied to the display portion 6302 using the structure of the liquid crystal module shown in FIG. 16 and the display panel shown in FIG.

本発明を使用することにより、高速応答速度を有する本ゲーム機を作製することができる。     By using the present invention, this game machine having a high response speed can be manufactured.

図21(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体6401、筐体6402、表示部A6403、表示部B6404、記録媒体(DVD等)読込部6405、操作キー6406、スピーカー部6407等を含む。表示部A6403は主として画像情報を表示し、表示部B6404は主として文字情報を表示する。本発明は図16に示す液晶モジュール、図19(A)に示す表示パネルの構成を用いて、表示部A6403、表示部B6404及び制御用回路部等に適用することができる。また、本発明を制御用回路部等に用いることも可能である。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。   FIG. 21E illustrates a portable image reproducing device (specifically, a DVD reproducing device) provided with a recording medium. A reading unit 6405, operation keys 6406, a speaker unit 6407, and the like are included. The display portion A 6403 mainly displays image information, and the display portion B 6404 mainly displays character information. The present invention can be applied to the display portion A 6403, the display portion B 6404, the control circuit portion, and the like by using the structure of the liquid crystal module shown in FIG. 16 and the display panel shown in FIG. Further, the present invention can also be used for a control circuit unit or the like. Note that an image reproducing device provided with a recording medium includes a home game machine and the like.

本発明を使用することにより、高速応答速度を有する本画像再生装置を作製することができる。   By using the present invention, it is possible to manufacture the image reproducing device having a high response speed.

これらの電子機器に使われる表示装置は、大きさや強度、または使用目的に応じて、ガラス基板だけでなく耐熱性のプラスチック基板を用いることも可能である。それによってよりいっそうの軽量化を図ることができる。   Display devices used in these electronic devices can use not only a glass substrate but also a heat-resistant plastic substrate depending on the size, strength, or purpose of use. As a result, the weight can be further reduced.

なお、本実施例に示した例はごく一例であり、これらの用途に限定するものではないことを付記する。   It should be noted that the examples shown in the present embodiment are only examples and are not limited to these applications.

また本実施例は、上記実施の形態及び上記実施例のいかなる記載とも自由に組み合せて実施することが可能である。   This embodiment can be implemented by being freely combined with any description of the above embodiment modes and embodiments.

本発明の液晶電気光学装置の作製工程を説明する断面図。Sectional drawing explaining the manufacturing process of the liquid-crystal electro-optical apparatus of this invention. 本発明の実施例1における液晶電気光学装置の紫外線硬化型液晶添加量に対する応答時間特性を示す。The response time characteristic with respect to the addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal of the liquid crystal electro-optical device in Example 1 of the present invention is shown. 本発明の実施例2における液晶電気光学装置の紫外線硬化型液晶添加量に対する応答時間特性を示す。The response time characteristic with respect to the addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal of the liquid crystal electro-optical device in Example 2 of the present invention is shown. 半導体装置の作製工程を示す図。10A and 10B illustrate a manufacturing process of a semiconductor device. 半導体装置の作製工程を示す図。10A and 10B illustrate a manufacturing process of a semiconductor device. 半導体装置の作製工程を示す図。10A and 10B illustrate a manufacturing process of a semiconductor device. 本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention. 本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention. 本発明の液晶表示装置の1つの画素を示す図。FIG. 5 shows one pixel of a liquid crystal display device of the present invention. 本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention. 液晶滴下方法を用いた本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention using a liquid crystal dropping method. 液晶滴下方法を用いた本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention using a liquid crystal dropping method. 液晶滴下方法を用いた本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention using a liquid crystal dropping method. 液晶滴下方法を用いた本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention using a liquid crystal dropping method. 本発明の液晶表示装置の作製工程を示す図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied. 本発明が適用される電子機器の例を示す図。FIG. 11 illustrates an example of an electronic device to which the present invention is applied.

符号の説明Explanation of symbols

101 基板
102 基板
103 透明導電膜
104 レジスト樹脂
105 ポリイミド樹脂
106 シール材
110 電極を有する基板
111 電極を有する基板
112 液晶組成物
499 線状レーザ
500 基板
501 下地膜
502 半導体膜
504 結晶性半導体膜
507 島状半導体膜
508 島状半導体膜
509 島状半導体膜
510 絶縁膜
511 導電膜
512 導電膜
520 ドレイン領域
521 低濃度不純物領域
522 チャネル形成領域
523 ドレイン領域
524 チャネル形成領域
525 ドレイン領域
526 低濃度不純物領域
527 チャネル形成領域
530 層間絶縁膜
531 層間絶縁膜
540 配線
541 配線
542 配線
543 配線
544 配線
550 nチャネル型TFT
551 pチャネル型TFT
552 nチャネル型TFT
553 CMOS回路
560 上層ゲート電極
561 上層ゲート電極
562 上層ゲート電極
563 下層ゲート電極
564 下層ゲート電極
565 下層ゲート電極
570 ゲート電極
571 ゲート電極
572 ゲート電極
580 ゲート絶縁膜
581 ゲート絶縁膜
582 ゲート絶縁膜
600 シール材
600a シール材
600b シール材
610 層間絶縁膜
623 画素電極
624a 配向膜
624b 配向膜
625 対向基板
626a 着色層
626b 遮光層
627 オーバーコート層
628 対向電極
629 液晶組成物
630 ゲート配線
631 容量配線
650 画素部
801 FPC
802 駆動回路部
803 ゲート信号線駆動回路
1031 基板
1041 基板支持台
1042 基板支持台
1044 窓
1048 下側定盤
1049 光源
1110 基板
1111 画素部
1112 シール材
1113 ノズル走査方向
1114 液晶組成物
1115 滴下面
1116 液滴吐出装置
1118 ノズル
1119 点線で囲まれた部分
1120 トップゲート型TFT
1121 画素電極
5001 表示パネル
5002 画素部
5003 走査線駆動回路
5004 信号線駆動回路
5011 回路基板
5012 コントロール回路
5013 信号分割回路
5014 接続配線
5101 チューナ
5102 映像信号増幅回路
5103 映像信号処理回路
5105 音声信号増幅回路
5106 音声信号処理回路
5107 スピーカ
5108 制御回路
5109 入力部
5201 筐体
5202 表示画面
5203 スピーカー
5204 操作スイッチ
5210 充電器
5212 筐体
5213 表示部
5216 操作キー
5217 スピーカ部
5301 表示パネル
5302 プリント配線基板
5303 画素部
5304 走査線駆動回路
5305 走査線駆動回路
5306 信号線駆動回路
5307 コントローラ
5308 CPU
5309 メモリ
5310 電源回路
5311 音声処理回路
5312 送受信回路
5313 FPC
5314 I/F部
5315 アンテナ用ポート
5316 VRAM
5317 DRAM
5318 フラッシュメモリ
5320 制御信号生成回路
5321 デコーダ
5322 レジスタ
5323 演算回路
5324 RAM
5325 入力手段
5326 マイク
5327 スピーカー
5328 アンテナ
5330 ハウジング
5331 プリント基板
5332 スピーカー
5333 マイクロフォン
5334 送受信回路
5335 信号処理回路
5336 入力手段
5337 バッテリ
5339 筐体
5340 アンテナ
5366 インターフェース
6001 筐体
6002 支持台
6003 表示部
6101 本体
6102 筐体
6103 表示部
6104 キーボード
6105 外部接続ポート
6106 ポインティングマウス
6201 本体
6202 表示部
6203 スイッチ
6204 操作キー
6205 赤外線ポート
6301 筐体
6302 表示部
6303 スピーカー部
6304 操作キー
6305 記録媒体挿入部
6401 本体
6402 筐体
6403 表示部A
6404 表示部B
6405 記録媒体読込部
6406 操作キー
6407 スピーカー部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Substrate 102 Substrate 103 Transparent conductive film 104 Resist resin 105 Polyimide resin 106 Sealing material 110 Substrate having electrode 111 Substrate having electrode 112 Liquid crystal composition 499 Linear laser 500 Substrate 501 Base film 502 Semiconductor film 504 Crystalline semiconductor film 507 Island Island-like semiconductor film 508 island-like semiconductor film 509 island-like semiconductor film 510 insulating film 511 conductive film 512 conductive film 520 drain region 521 low-concentration impurity region 522 channel formation region 523 drain region 524 channel formation region 525 drain region 526 low-concentration impurity region 527 Channel formation region 530 Interlayer insulating film 531 Interlayer insulating film 540 Wiring 541 Wiring 542 Wiring 543 Wiring 544 Wiring 550 n-channel TFT
551 p-channel TFT
552 n-channel TFT
553 CMOS circuit 560 Upper gate electrode 561 Upper gate electrode 562 Upper gate electrode 563 Lower gate electrode 564 Lower gate electrode 565 Lower gate electrode 570 Gate electrode 571 Gate electrode 572 Gate electrode 580 Gate insulating film 581 Gate insulating film 582 Gate insulating film 600 Seal Material 600a Sealing material 600b Sealing material 610 Interlayer insulating film 623 Pixel electrode 624a Alignment film 624b Alignment film 625 Counter substrate 626a Colored layer 626b Light shielding layer 627 Overcoat layer 628 Counter electrode 629 Liquid crystal composition 630 Gate wiring 631 Capacitor wiring 650 Pixel portion 801 FPC
802 Drive circuit portion 803 Gate signal line drive circuit 1031 Substrate 1041 Substrate support base 1042 Substrate support base 1044 Window 1048 Lower surface plate 1049 Light source 1110 Substrate 1111 Pixel portion 1112 Sealing material 1113 Nozzle scanning direction 1114 Liquid crystal composition 1115 Dropping surface 1116 Liquid Droplet discharge device 1118 Nozzle 1119 Portion surrounded by dotted line 1120 Top gate type TFT
1121 Pixel electrode 5001 Display panel 5002 Pixel unit 5003 Scan line driver circuit 5004 Signal line driver circuit 5011 Circuit board 5012 Control circuit 5013 Signal dividing circuit 5014 Connection wiring 5101 Tuner 5102 Video signal amplifier circuit 5103 Video signal processing circuit 5105 Audio signal amplifier circuit 5106 Audio signal processing circuit 5107 Speaker 5108 Control circuit 5109 Input unit 5201 Case 5202 Display screen 5203 Speaker 5204 Operation switch 5210 Battery charger 5212 Case 5213 Display unit 5216 Operation key 5217 Speaker unit 5301 Display panel 5302 Printed wiring board 5303 Pixel unit 5304 Scanning Line drive circuit 5305 Scanning line drive circuit 5306 Signal line drive circuit 5307 Controller 5308 CPU
5309 Memory 5310 Power supply circuit 5311 Audio processing circuit 5312 Transmission / reception circuit 5313 FPC
5314 I / F Unit 5315 Antenna Port 5316 VRAM
5317 DRAM
5318 Flash memory 5320 Control signal generation circuit 5321 Decoder 5322 Register 5323 Arithmetic circuit 5324 RAM
5325 Input means 5326 Microphone 5327 Speaker 5328 Antenna 5330 Housing 5331 Printed circuit board 5332 Speaker 5333 Microphone 5334 Transceiver circuit 5335 Signal processing circuit 5336 Input means 5337 Battery 5339 Case 5340 Antenna 5366 Interface 6001 Case 6002 Support base 6003 Display unit 6101 Main body 6102 Case Body 6103 Display unit 6104 Keyboard 6105 External connection port 6106 Pointing mouse 6201 Main body 6202 Display unit 6203 Switch 6204 Operation key 6205 Infrared port 6301 Case 6302 Display unit 6303 Speaker unit 6304 Operation key 6305 Recording medium insertion unit 6401 Main body 6402 Case 6403 Display Part A
6404 Display portion B
6405 Recording medium reading unit 6406 Operation key 6407 Speaker unit

Claims (6)

ネマティック液晶にカイラル材及び紫外線硬化型液晶を添加したことを特徴とする液晶組成物。   A liquid crystal composition comprising a nematic liquid crystal and a chiral material and an ultraviolet curable liquid crystal added thereto. ネマティック液晶にカイラル材及び紫外線硬化型液晶が添加され、
前記紫外線硬化型液晶の前記ネマティック液晶に対する添加量は5wt%から10wt%であることを特徴とする液晶組成物。
A chiral material and an ultraviolet curable liquid crystal are added to the nematic liquid crystal,
The liquid crystal composition, wherein an addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal to the nematic liquid crystal is 5 wt% to 10 wt%.
請求項1又は2において前記ネマティック液晶は正の誘電異方性を有することを特徴とする液晶組成物。   3. The liquid crystal composition according to claim 1, wherein the nematic liquid crystal has positive dielectric anisotropy. 電極を有し、少なくとも一方が透光性を持つ一対の基板と前記基板間に支持された調光層を有し、前記調光層はカイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶を有していることを特徴とする電気光学装置。   A pair of substrates having electrodes, at least one of which is translucent, and a light control layer supported between the substrates, the light control layer comprising a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal An electro-optical device comprising: 電極を有し、少なくとも一方が透光性を持つ一対の基板と前記基板間に支持された調光層を有し、前記調光層はカイラル材が添加されたネマティック液晶と紫外線硬化型液晶を有し、
前記紫外線硬化型液晶の前記ネマティック液晶に対する添加量は5wt%から10wt%とすることを特徴とする電気光学装置。
A pair of substrates having electrodes, at least one of which is translucent, and a light control layer supported between the substrates, the light control layer comprising a nematic liquid crystal to which a chiral material is added and an ultraviolet curable liquid crystal Have
An electro-optical device, wherein an addition amount of the ultraviolet curable liquid crystal to the nematic liquid crystal is 5 wt% to 10 wt%.
請求項4又は5において、前記ネマティック液晶は正の誘電異方性を有することを特徴とする電気光学装置。

6. The electro-optical device according to claim 4, wherein the nematic liquid crystal has a positive dielectric anisotropy.

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