JP5076031B2 - 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法 - Google Patents

製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5076031B2
JP5076031B2 JP2012011560A JP2012011560A JP5076031B2 JP 5076031 B2 JP5076031 B2 JP 5076031B2 JP 2012011560 A JP2012011560 A JP 2012011560A JP 2012011560 A JP2012011560 A JP 2012011560A JP 5076031 B2 JP5076031 B2 JP 5076031B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
model
parameter
storage unit
product life
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012011560A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012089162A (ja
Inventor
隆生 新垣
武一郎 西川
実 中津川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2012011560A priority Critical patent/JP5076031B2/ja
Publication of JP2012089162A publication Critical patent/JP2012089162A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5076031B2 publication Critical patent/JP5076031B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、モニタリングデータを活用した製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法に関す
る。
近年、製品ライフサイクルが短くなっていくなか、製品の品質を確保するために、メーカ
ーは、市場における製品の障害情報をいち早く入手して解析を行い、設計や品質、サービ
スなどの関連部門にフィードバックする必要性がますます高くなっている。
一方、個々の製品では使用状況を監視して故障につながる不調を感知するモニタリング技
術が広まりつつあり、個々の製品の使用状況を監視して得られるモニタリングデータから
、個々の製品の寿命を説明する製品寿命モデルを作成することにより、製品の使用状況に
応じた劣化度合いを評価する取り組みが行われている(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−323148号公報
ここで、近年では、市場での障害情報をいち早くフィードバックするために、新たにモ
ニタリングデータが取得される度に、最新の製品の使用状況に応じた製品全体の品質評価
を行うことが望まれている。しかし、従来の技術では、最新の製品の使用状況に応じた製
品寿命モデルのパラメータの値を推定するためには、新たなモニタリングデータを取得す
る度に、新たなモニタリングデータに加えて、過去に格納されたモニタリングデータを利
用して、製品寿命モデルを作成し直す必要があり、計算時間を要するという問題があった
また、従来の技術では、新たに取得されるデータのみを利用してモデルパラメータを更新
するオンライン推定アルゴリズムも各種提案されている。しかし、製品寿命モデルのよう
に、製品の使用状況によって、過去に保存していたモニタリングデータが随時更新されて
いくような場合には、新たなモニタリングデータのみを利用して、製品寿命モデルのパラ
メータの値を更新してしまうと、新たなモニタリングデータを取得する前に当該製品が故
障したという情報が含まれないために、製品寿命モデルのパラメータの値の推定値が偏っ
てしまうという問題があった。
そこで、本発明は、上記課題を鑑みたもので、新たに更新されたモニタリングデータと当
該製品の過去の故障データを用いて、製品の寿命のモデルのパラメータの値を更新するこ
とで、ユーザに製品の寿命を提示する製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法を提供する
ことを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明の製品寿命分析装置は、「ネットワークに接続される
製品の品質情報を管理する品質情報分析サーバと、前記品質情報管理サーバにネットワー
クを介して接続され、少なくとも前記製品の製造番号を含む故障データを格納する故障デ
ータベースと、前記品質情報管理サーバにネットワークを介して接続され、少なくとも製
造番号を含む前記製品のセンサーからのモニタリングデータを格納するモニタリング情報
データベースと、前記品質情報管理サーバにネットワークを介して接続され、分析対象条
件を入力する品質管理者用端末と、を備え、前記品質情報分析サーバは、前記モニタリン
グ情報データベースから新たに送信されたモニタリングデータのみを格納する更新データ
格納部と、前記品質管理者用端末から入力された入力情報に基づき、前記故障データベー
スから送信された前記故障データのうち、前記更新データ格納部に格納された新たに送信
されたモニタリングデータの製造番号を含む故障データのみを読み込んで格納する故障デ
ータ格納部と、前記更新データ格納部に格納しているモニタリングデータと、前記故障デ
ータ格納部に格納されている故障データに基づき、モデルパラメータ格納部に格納され、
製品寿命のモデルを表す関数のパラメータの値と、予め記憶され、前記パラメータの関数
である対数尤度が最大となるように、または前記パラメータの関数である負の対数尤度が
最小となるように前記パラメータの値を更新するための関数と、を用いて、前記パラメー
タの値を更新するとともに、前記更新されたパラメータの値と前記製品寿命のモデルを表
す関数とを前記品質管理者用端末に送信するモデルパラメータ更新部と、を備えた」こと
を特徴としている。
また、本発明の製品寿命分析方法は、「CPUがモニタリング情報データベースから新た
に送信されたモニタリングデータのみを更新データ格納部に格納する工程と、前記CPU
が故障データベースから送信され、前記モニタリングデータの製造番号を含む故障データ
を読み込んで故障データ格納部に格納する工程と、前記CPUが前記モニタリングデータ
と、前記故障データと、に基づき、予めモデルパラメータ格納部に格納され、製品寿命の
モデルを表す関数のパラメータの値と、モデルパラメータ更新部に予め記憶され、前記パ
ラメータの関数である対数尤度が最大となるように、または前記パラメータの関数である
負の対数尤度が最小となるように前記パラメータの値を更新するための関数と、を用いて
、前記パラメータの値を更新する工程と、前記CPUが前記更新されたパラメータの値と
前記製品寿命のモデルを表す関数とを品質管理者用端末に送信する工程と、を備えた」こ
とを特徴としている。
本発明によれば、新たに更新されたモニタリングデータと、当該製品の過去の故障デー
タを利用して、製品寿命モデルのパラメータの値を更新することから、過去に保存してい
るモニタリングデータ全てを利用して、製品寿命モデルパラメータの値を更新するよりも
、計算時間を短縮することができる。
本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置のブロック図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバのブロック図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバのフローチャート図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデルのパラメータの値の更新のフローチャート図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの稼働時間分布関数のグラフである。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデルのパラメータの値を複数回更新するフローチャート図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデルのパラメータの値の更新にて新規のモニタリングデータが分析時点までに一つも届いていない場合のフローチャート図である。 本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデルのパラメータの値の更新にてモデル更新方式の設定をモニタリングデータに応じて自動的に変更する場合のフローチャート図である。
以下、本発明の実施形態について、以下の図面を用いて説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の概略を示すブロック図である。
図1に示すように、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置は、故障データベース1、
モニタリング情報データベース2、品質管理者用端末3、複数台存在する稼動製品5、品
質情報分析サーバ6から構成されている。また、故障データベース1、モニタリング情報
データベース2、品質管理者用端末3、稼動製品5、品質情報分析サーバ6は、コンピュ
ータによって処理される装置であり、インターネットやLANなどのネットワーク4を介し
て、お互い通信可能に接続されている。
故障データベース1は、機器が故障した際に、お客様が機器の修理センターに持ち込ん
だ機器から抽出した故障データをデータベースに保存したものであり、具体的には、表1
のような形式にて、故障日、製造番号、機種、購入日、保証終了日、故障部品などの項目
を有する故障データが、予め登録されている。
Figure 0005076031

また、品質管理者用端末3は、CPU31、主記憶装置32、補助記憶装置33、通信装
置34、入力装置35、および表示装置36から構成されている。
ここで、品質管理者によって入力装置35から分析対象製造期間、分析日、分析対象機種
などの情報が入力されると、CPU31の制御に基づいて、品質管理者から入力された上
述した情報が、通信装置34からネットワーク4に接続している品質情報分析サーバ6に
送信される。
なお、分析日は、原則として品質管理者が分析を行う日が設定されるが、過去の日付も分
析日として設定可能である。また、品質管理者用端末3は、品質情報分析サーバ6から送
信される情報を通信装置34で受信し、CPU31の制御に基づいて表示装置36に表示
する。
また、補助記憶装置33は、演算に必要な各種のプログラムを格納している。
また、主記憶装置32は、補助記憶装置33に記憶された各種のプログラムを読み込み
、各種の演算を行なう。
さらに、稼動製品5は複数台存在しており、各々の稼動製品5は、CPU51、主記憶装
置52、補助記憶装置53、通信装置54、センサー55から構成されている。センサー
55は、複数個存在している。また、稼動製品5は、ネットワーク4を介して、モニタリ
ングデータベース2と通信可能に接続されている。
ここで、センサー55は稼動製品5の各々の稼動状況を測るもので、稼動製品5の各部の
温度を測る温度センサーや加速度センサーのほか、HDDのS.M.A.R.T (Self-Monitoring, A
nalysis and Reporting Technology)や起動ログを取得するBIOSなどが想定される。
また、モニタリング情報データベース2は、複数台存在している稼動製品5の各々のセン
サー55で取得されたモニタリングデータを格納しており、当該モニタリングデータは、
所定のタイミングで、CPU51の制御に基づいて、通信装置54からネットワーク4を
介して、モニタリング情報データベース2に、表2のような形式で送信される。
Figure 0005076031

さらに、品質情報分析サーバ6は、CPU61、主記憶装置62、補助記憶装置63、通
信装置64から構成されている。
品質情報分析サーバ6は、ネットワーク4に接続されたモニタリングデータベース2の記
憶内容を管理し、稼働製品5の各々から送信されるモニタリングデータが通信装置64で
受信された場合は、CPU61の制御に基づいて、モニタリングデータベース2に受信し
たモニタリングデータを、上述した表2のような形式で格納する。
また、品質情報分析サーバ6は、品質管理者用端末3から送信された入力情報を通信装置
64で受信した場合は、CPU61の制御に基づいて、補助記憶装置63に格納されてい
る各種のプログラムを主記憶装置62内に読み込む。さらに、品質情報分析サーバ6は、
品質管理者用端末3から送信された分析対象製造期間、分析日、分析対象機種などの情報
に基づいて、故障データベース1およびモニタリングデータベース2から、製造データお
よび故障データを抽出し、加工および統計処理を行った結果を、通信装置64によって、
ネットワーク4に接続されている品質管理者用端末3に送信する。
図2は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの詳細を示すブ
ロック図である。
図2に示すように、品質管理者が、品質管理者用端末3にて入力した故障モデル作成対象
機種等の情報は、品質情報分析サーバ6の通信装置64で受信される。そして、品質情報
分析サーバ6のCPU61は、補助記憶装置63に格納されている各種のプログラムを主
記憶装置62内に読み込む。
また、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、更新データ格納部62a、故障データ
格納部62b、モデルパラメータ更新部62c、モデルパラメータ格納部62d、モデル
更新方式格納部62eを備えている。
ここで、主記憶装置62の更新データ格納部62aは、モニタリング情報データベース2
から、更新されたモニタリングデータもしくは新たに追加されたモニタリングデータを読
み込んで格納している。具体的には、前述した表2のような形式にて、データを格納して
いる。
また、主記憶装置62の故障データ格納部62bは、故障データベース1に登録されてい
る故障データのうち、品質管理者用端末3から入力された分析対象製造期間、分析日、分
析対象機種などの情報に基づき、更新データ格納部62aに格納されているモニタリング
データの“製造番号”と同一の“製造番号”の故障データを読み込んで格納する。具体的
には、主記憶装置62の故障データ格納部62bは、更新データ格納部62aが格納して
いる表2のモニタリングデータの項目“製造番号”が、“0100000”の場合、故障
データベース1が格納している表1の故障データの項目“製造番号”が、“010000
0”の故障データを読み込んで格納する。
さらに、主記憶装置62のモデルパラメータ格納部62dは、後述するモデルパラメータ
更新部62cが記憶している製品寿命モデルを表す関数のパラメータの値を格納している
。具体的には、モデルパラメータ格納部62dは、表3のような形式でパラメータの値を
格納している。
Figure 0005076031

また、主記憶装置62のモデルパラメータ更新部62cは、前述したように、製品寿命モ
デルを表す関数を内部に記憶している。ここで、製品寿命モデルを表す関数とは、製品寿
命を説明するために用いる関数であり、具体的には、後述する(式1)のことである。また
、モデルパラメータ更新部62cは、モデルパラメータ格納部62dに格納している製品
寿命モデルのパラメータの値を更新するための関数も内部に記憶している。具体的には、
後述する(式4)〜(式9)のことである。
さらに、モデルパラメータ格納部62cは、更新データ格納部62aに格納しているモニ
タリングデータと、故障データ格納部62bに格納されている故障データに基づき、内部
に記憶している製品寿命モデルを表す関数と、製品寿命モデルのパラメータの値を更新す
るための関数と、モデルパラメータ格納部62dに格納されているパラメータの値と、を
読み込んで、パラメータが最適な値となるように、当該パラメータの値を更新する。具体
的には、後述する(式2)である対数尤度を最大とするように、当該パラメータの値を更新
する。
その後、モデルパラメータ格納部62cは、更新したパラメータの値を、モデルパラメー
タ格納部62dに格納する。
さらに、主記憶装置62のモデルパラメータ更新方式格納部62eは、モデルパラメータ
更新部62cにてモデルパラメータ格納部62dに格納されたパラメータの値を更新する
際に、どのような方式にて、当該パラメータの値を更新するかの方式を格納する。具体的
には、モデルパラメータ更新方式格納部62eは、表4のようなデータ形式にて、“全デ
ータ利用方式”又は“差分データ方式”の2種類の方式を選択肢として格納している。
Figure 0005076031

ここで、図2に示した各構成要素の詳細な動作について、以下、図3のフローチャートを
通して説明する。
図3は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバ6で行われる工
程を説明したフローチャート図である。
図3に示すように、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、モニタリング情報データ
ベース2から、更新データ格納部62aに新規のモニタリングデータを読み込んで格納す
る(ステップ101)。仮に、過去のモニタリングデータが格納されている場合には、新規
のモニタリングデータを追記せずに上書きすればよい。
次に、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、更新データ格納部62aに格納された
新規のモニタリングデータと同一の製造番号である故障データが、故障データベース1に
存在するかどうかを判定する。もし、更新データ格納部62aに当該故障データがあれば
、当該故障データを故障データ格納部62bに読みこんで格納する(ステップ102)。こ
こで、過去の故障データが格納されている場合には、前述した更新データ格納部62aと
は異なり、過去の故障データを随時追記していく必要がある。
さらに、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、更新データ格納部62aに格納され
ているモニタリングデータと、故障データ格納部62bに格納されている故障データと、
モデルパラメータ格納部62dに格納されているパラメータの値と、をモデルパラメータ
更新部62cが読み込む。
また、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、モデルパラメータ更新部62cがモデ
ル更新方式格納部62eに格納されているモデル更新方式に基づき、当該モニタリングデ
ータと、当該故障データと、当該モデルパラメータに基づき、内部に記憶している製品寿
命モデルを表す関数と、品寿命モデルのパラメータの値を更新するための関数と、を用い
て、当該性品寿命モデルのパラメータの値が最適となるように、モデルパラメータ格納部
62dに格納しているパラメータの値を更新し、更新されたパラメータの値を、再びモデ
ルパラメータ格納部62dに格納する(ステップ103)。
ここで、ステップ103にて更新された当該パラメータの値は、品質情報分析サーバ6か
ら品質管理者用端末3に送信され、CPU31の制御に基づいて、表示装置36に当該パ
ラメータの値と後述する図5に示す稼働時間分布関数のグラフが表示される。
ここで、後述する図5で示す稼働時間分布関数は、稼働時間に対する稼動確率を表してお
り、品質管理者用端末3を操作しているユーザは、稼働時間及び稼動確率に基づいて、当
該製品寿命がどのくらい残っているかを知ることができる。
なお、稼動製品5の各々のセンサー55で取得されたモニタリングデータは、所定のタ
イミングでモニタリングデータベース2に格納されるが、ユーザが電源を落としたり、ネ
ットワークに接続できない状態になっていたりする場合には、各々のセンサー55で取得
されたモニタリングデータが送信可能な状態になってから、モニタリングデータベース2
に格納される。よって、モニタリングデータベース2には、各々のセンサー55で取得さ
れたモニタリングデータが最新状態に更新された製品と、最新の状態に更新されていない
製品が混在している場合がある。
この場合、ステップ101において、モニタリングデータベース2から新規のモニタリン
グデータを抽出するには、表2の形式にある更新日を読み取って判断し、前回のモニタリ
ングデータの抽出日から、新しく更新されたモニタリングデータを新規のモニタリングデ
ータと判断すればよい。
さらに、ステップ101において、品質情報分析サーバ6に送信される新規のモニタリン
グデータは、1個とは限らず、複数個のモニタリングデータが送信されてもよく、各々の
モニタリングデータについて、ステップ101において、当該モニタリングデータの製造
番号と同一の製造番号を有している故障データかどうかを判断すればよい。
次に、図3のステップ103の製品寿命モデルのパラメータの値の更新処理について、以
下詳細に説明する。図4は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サ
ーバ6の製品寿命モデルのパラメータの値の更新処理のフローチャート図である。
ここで、本発明の実施形態では、モデルパラメータ更新部62dは、製品nの製品寿命モ
デルを表す関数として、(式1)のようなワイブルモデルを内部に記憶している。
Figure 0005076031

なお、上記(式1)のうち、tnは製品nの製品寿命、θn=(θ1,...,θp)は製品nのモニタ
リングデータから算出される単位時間当たりの累積負荷を表し、例えば、単位時間あたり
のバッテリー電源稼働率や強制終了回数,HDD書込み回数などを考えればよい。また、a
とbは、それぞれワイブル分布のパラメータを表し、βn=(β1,..., βp)は製品nのモニ
タリングデータから算出される累積負荷tnθnで回帰したときの回帰係数ベクトルを表し
ている。なおθn’はθnの転置を表す。
ここで、品質情報分析サーバ6の更新データ格納部62aは、モニタリング情報データベ
ース2に基づき、観測時間内に故障したかどうかを表す二値データδn (∈{0,1})、累積
負荷tnθnを、稼動製品5の各々のセンサー55から受け取る。分析対象製品全てのデー
タ(t11, θ1),..., (tNN, θN)が取得できるとき、対数尤度
Figure 0005076031

を最大にするパラメータβとa,bを求める。ここでX=(x1,...,xN)は観測されるデータで、
x1 =(t11, θ1),..., xN = (tNN, θN)のように表せる。Nは分析対象製品数を表す
まず、図3のステップ101にて、分析対象製品のデータx1,...,xNのうちxn_1,...,xn_M
が更新されて更新データ格納部62aに格納された後、モデルパラメータ更新部62cは
、更新データ格納部62aに格納されているxn_1,...,xn_Mを受け取る(ステップ201)
。以下、xn_1,...,xn_Mからなる集合をC1={xn_1,...,xn_M}で表す。
次に、図3のステップ102にて、更新データ格納部62aに格納されているxn_1,...,x
n_Mのうち、故障データベース1から故障していると判断されるxn_m_!,...,xn_m_Lが故障
データ格納部62bに追記されて、故障データ格納部62bに格納されている故障データ
を改めてxn_{M+1},...,xn_{M+K}とした後、モデルパラメータ更新部62cは、故障デー
タ格納部62bに格納されているxn_{M+1},...,xn_{M+K}を受け取る(ステップ202)。
以下、xn_{M+1},...,xn_{M+K}からなる集合をC0={xn_{M+1},...,xn_{M+K}}で表す。
次に、モデルパラメータ更新部62cは、ステップ202にて受け取った故障データ集合
C1={xn_1,...,xn_M}から、(式3)で与えられる回数だけサンプリングを行い、得られた
サンプリング故障データ集合を改めてC0’={xn_{M+1},...,xn_{M+K’}}とする(ステップ
203)。
Figure 0005076031

但しは(式3)の右辺は(M/N)Kの整数部分を表す。
さらに、モデルパラメータ更新部62cは、モデルパラメータ格納部62dに格納されて
いるモデルパラメータの値であるβ(n_0), a(n_0),b(n_0)を受け取り、ステップ201に
て受け取った更新データC1={xn_1,...,xn_M}と、ステップ203にて得られたサンプリン
グ故障データC0’={xn_{M+1},...,xn_{M+K’}}を用いて、内部に記憶されているパラメ
ータの値を更新する関数である(式4)、(式5)、(式6)に基づいて、当該パラメー
タの値の最適な値を算出して更新する。その後、更新されたパラメータの値であるβ(n_K
’), a(n_K’),b(n_K’)を、再びモデルパラメータ格納部62dに格納する(ステップ2
04)。
Figure 0005076031

Figure 0005076031

Figure 0005076031

但し、(式4)、(式5)、(式6)の右辺第二項は次の(式7)、(式8)、(式9)
で計算される。
Figure 0005076031

Figure 0005076031

Figure 0005076031

以上、図4のステップ201〜204を行うことによって、モニタリングデータの割合に
応じた故障データベース2に格納された故障データを利用することで、製品寿命モデルの
パラメータの値であるβ(n_0), a(n_0),b(n_0)を偏りなく更新することが可能となる。
また、製品寿命モデルを表す関数(式1)に、更新されたパラメータの値であるβ(n_0),
a(n_0),b(n_0)を代入することによって、モニタリングデータから算出される累積負荷θ
n=(θ1,...,θp)が与えられたときの製品寿命分布を表す稼動時間分布関数を、図5に示
すように、品質管理者用端末3に表示することで、特定のモニタリングデータに達したと
きの製品寿命分布を把握することが可能となる。
また、(式10)を用いて、モニタリングデータから算出される累積負荷がθn=(θ1,...
p)であったときの製品寿命の期待値を算出し、品質管理者用端末3に出力して確認す
ることができる。
Figure 0005076031

ここでΓ(・)は(式11)で与えられるガンマ関数を表す。
Figure 0005076031

なお、図4では、ステップ204における製品寿命モデルのパラメータの値の更新を1回
だけ行っているが、複数回、製品寿命モデルのパラメータの値を更新して、当該パラメー
タの値の安定化を行ってもよい。
図6は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデ
ルのパラメータの値を複数回更新するフローチャート図である。ステップ201〜204
までは同様のステップのため、説明は省略する。
まず、モデルパラメータ更新部62cは、ステップ201〜204までのステップを実行
した後、製品寿命モデルのパラメータの値が収束したかどうかを(式12)によって判定
する(ステップ305)。もし、製品寿命モデルのパラメータの値が収束していれば、モデ
ルパラメータ更新部62cは、収束したパラメータの値β(n_0), a(n_0),b(n_0)を、一時
点前の製品寿命のモデルのパラメータの推定値として、モデルパラメータ格納部62dに
格納し、ステップを終了する。
もし、製品寿命モデルのパラメータの値が収束していなければ、ステップ206に進む。
ステップ206では、モデルパラメータ更新部62cは、β(n_0)(n_K’), a(n_0)=a(
n_K’) ,b(n_0) =b(n_K’)として、ステップ203に戻る。その後、モデルパラメータ更
新部62cは、ステップ203〜305を繰り返し行なう。
Figure 0005076031

ここで、ステップ305では、モデルパラメータ更新部62cは、εを、例えばε=10-6
などと設定しておく。なお、‖・‖は、成分の中の最大値を表す最大値ノルムを表して
いるが、他のノルムを用いたり、a(n_0),a(n_K’) ,b(n_0) ,b(n_K’)にも依存するノル
ムを用いたりしても良い。
ここで、上述した図4、図6では、予め、品質情報分析サーバ6のモデルパラメータ格納
部62dに、既にパラメータの値が格納されている場合について説明したが、モニタリン
グデータを、稼動製品5から分析時点までに1つも受信していない場合には、モデルパラ
メータ格納部62dにパラメータの値が格納されていないため、予めパラメータの初期値
を設定しておく必要がある。
よって、稼動製品5から分析時点までに、少数のモニタリングデータしか集まっていない
場合の製品寿命モデルのパラメータの値の更新処理について、図7を参照して説明する。
図7は、本発明の実施形態に係る製品寿命分析装置の品質情報分析サーバの製品寿命モデ
ルのパラメータの値の更新にてモニタリングデータが分析時点までに1つも届いていない
場合のフローチャート図である。
まず、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、更新データ格納部62aに格納されて
いるX=(x1,...,xN)を受け取り、ループカウントをi=1と設定する(ステップ401)。
次に、品質情報分析モデルサーバ6の主記憶装置62は、モデルパラメータ格納部62d
に格納されている製品寿命モデルのパラメータの値であるβ(i-1), a(i-1),b(i-1)を受け
取り、更新データ格納部62aに格納されているX=(x1,...,xN)を用いて、(式13)、
(式14)、(式15)により更新して得られる更新モデルパラメータβ(i), a(i),b(i)
を受け取る(ステップ402)。
さらに、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、製品寿命モデルのパラメータの値が
収束したかどうかを(式19)によって判定する(ステップ403)。もし、製品寿命モデ
ルのパラメータの値が収束していれば、収束したパラメータの値であるβ(i), a(i),b(i)
をモデルパラメータ格納部62dに格納して、ステップを終了する。もし、製品寿命モデ
ルのパラメータの値が収束していなければ、ステップ404に進む。
ここで、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、i=i+1と設定して、ステップ4
02に戻る(ステップ404)。その後、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、ステ
ップ402〜403を繰り返し行う。
Figure 0005076031

Figure 0005076031

Figure 0005076031

但し、(式13)、(式14)、(式15)の右辺第二項は次の(式16)、(式17)
、(式18)で計算される。
Figure 0005076031

Figure 0005076031

Figure 0005076031

Figure 0005076031

ここで、品質情報分析サーバ6の主記憶装置62は、εを、例えばε=10-6などと設定し
ておく(ステップ403)。なお、‖・‖は成分の中の最大値を表す最大値ノルムを表し
ているが、他のノルムを用いたりa(i-1),a(i) ,b(i-1) ,b(i)にも依存するノルムを用い
たりしても良い。
図7に示すように、分析時点までに稼動製品5から少数のモニタリングデータしか集まっ
ていないようであれば、図4、図6のように、逐次更新手続きを実行するよりも、モデル
更新方式格納部62eのモデル更新方式を、“全データ利用方式”に設定し、すべてのデ
ータを用いて、製品寿命モデルのパラメータの値を推定する方が、製品寿命のパラメータ
値の推定精度は高く、少数のモニタリングデータしか集まっていないため、計算時間もか
からない。
次に、モデル更新方式格納部62eのモデル更新方式の設定を、モニタリングデータに応
じて自動的に変更する方法について説明する。図8は、モデル更新方式格納部62eのモ
デル更新方式の設定をモニタリングデータに応じて変更する場合の、製品寿命モデルのパ
ラメータの値の更新処理を具体的に説明したフローチャート図である。
まず、モデルパラメータ更新部62cは、モデル更新方式を“全データ利用方式”に設定
する(ステップ501)。次に、モデルパラメータ更新部62cは、図7のように、C1={
xn_1,...,xn_M}だけでなく、過去のモニタリングデータ{x1,...,xN}\C1も用いて、製品
寿命モデルのパラメータの値であるβ(i)を推定する(ステップ502)。
さらに、モデルパラメータ更新部62cは、図7のように、全データ利用方式でモデルパ
ラメータβ(i)を推定したときの製品寿命モデルのパラメータの値の推定精度を(式20
)から算出する(ステップ503)。
Figure 0005076031


ここで‖・‖はユークリッドノルムを表している。
また、モデルパラメータ更新部62cは、図4または図6のように、モデル更新方式格納
部62eに格納された表4の形式のうち、“差分データ方式”を選択し、モニタリングデ
ータC1={xn_1,...,xn_M}とステップ203において得られたサンプリング故障データC0
={xn_{M+1},...,xn_{M+K’}}を用いて、製品寿命モデルのパラメータの値であるβ(n_K)
を推定する(ステップ504)。
さらに、モデルパラメータ更新部62cは、図4または図6のように、モデル更新方式格
納部62eに格納された表4のデータ形式のうち、“差分データ”利用方式を選択し、モ
デルのパラメータの値であるβ(n_K)を推定したときの推定精度を(式21)から算出す
る(ステップ505)。
Figure 0005076031


ここで‖・‖はユークリッドノルムを表している。
また、モデルパラメータ更新部62cは、モデル更新方式格納部62eのモデル更新方式
の設定が“差分データ利用方式”かどうかを判定する(ステップ506)。もし、図8のよ
うに、製品寿命モデルのパラメータの値を初めて更新する場合には、モデル更新方式の設
定は、初期値が全データ利用方式となっているため、ステップ507に進む。
さらに、モデルパラメータ更新部62cは、(式21)の“全データ利用方式”を設定し
た場合の製品寿命モデルのパラメータの値の推定精度と、(式20)の“差分データ利用
方式”を設定した場合の製品寿命モデルのパラメータの推定精度の差U-Vが(式22)を
満たすかどうかを判定する(ステップ507)。もし、(式22)を満たせば、モデルパラ
メータ更新部62cは、モデル更新方式格納部62eのモデル更新方式の設定を、“差分
データ利用方式”に切り替える(ステップ508)。そして、次のモニタリングデータを
稼動製品5から取得した際には、ステップ504に戻って、図4または図6の処理に従っ
て、製品寿命のモデルのパラメータの値を更新していく。
ここで、一度、モデル更新方式格納部62eのモデル更新方式の設定が“差分データ利用
方式”に切り替わると、次回以降のステップ506の“差分データ利用方式”であるかの
判定を通過するので、モデルパラメータ更新部62cは、次回以降のモニタリングデータ
を取得した際には、ステップ504から処理を実行する。
また、モデルパラメータ更新部62cは、(式22)を満たさなければ、モニタリングデ
ータを取得した際には、ステップ502から、同様の処理を再度実行する(ステップ50
7)。
Figure 0005076031

ここでφは正の数で,例えば0.1Nとすればよい。
なお、本発明は、上記した各実施の形態には限定されず、種々変形して実施できること
は言うまでもない。例えば、(式2)で示される対数尤度の符号を反転させたものを負の
対数尤度と定義し、モデルパラメータ更新部62cは、この負の対数尤度を最小にするβ
とa,bを求めるものであってもよい。
要するに、本発明は上記各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではそ
の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記各実施形態に開
示されている複数の構成要素の適宜な組合せにより、種々の形態を形成できる。例えば、
実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を省略してもよい。さらに、異なる
実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
1…故障データベース
2…モニタリング情報データベース
3…品質管理者用端末
4…ネットワーク
5…稼動製品
6…品質情報分析サーバ
31…CPU
32…主記憶装置
33…補助記憶装置
34…通信装置
35…入力装置
36…表示装置
51…CPU
52…主記憶装置
53…補助記憶装置
54…通信装置
55…センサー
61…CPU
62…主記憶装置
62a…更新データ格納部
62b…故障データ格納部
62c…モデルパラメータ更新部
62d…モデルパラメータ格納部
62e…モデル更新方式格納部
63…補助記憶装置
64…通信装置

Claims (3)

  1. ネットワークに接続される製品の品質情報を管理する品質情報分析サーバと、
    前記品質情報管理サーバにネットワークを介して接続され、少なくとも前記製品の製造番
    号を含む故障データを格納する故障データベースと、
    前記品質情報管理サーバにネットワークを介して接続され、少なくとも製造番号を含む
    前記製品のセンサーからのモニタリングデータを格納するモニタリング情報データベース
    と、
    前記品質情報管理サーバにネットワークを介して接続され、分析対象条件を入力する品
    質管理者用端末と、を備え、
    前記品質情報分析サーバは、
    前記モニタリング情報データベースから新たに送信されたモニタリングデータのみを格
    納する更新データ格納部と、
    前記品質管理者用端末から入力された入力情報に基づき、前記故障データベースから送
    信された前記故障データのうち、前記更新データ格納部に格納された新たに送信されたモ
    ニタリングデータの製造番号を含む故障データのみを読み込んで格納する故障データ格納
    部と、
    前記更新データ格納部に格納しているモニタリングデータと、前記故障データ格納部に
    格納されている故障データに基づき、モデルパラメータ格納部に格納され、製品寿命のモ
    デルを表す関数のパラメータの値と、予め記憶され、前記パラメータの関数である対数尤
    度が最大となるように、または前記パラメータの関数である負の対数尤度が最小となるよ
    うに前記パラメータの値を更新するための関数と、を用いて、前記パラメータの値を更新
    するとともに、前記更新されたパラメータの値と前記製品寿命のモデルを表す関数とを前
    記品質管理者用端末に送信するモデルパラメータ更新部と、
    を備えたことを特徴とする製品寿命分析装置。
  2. 前記品質情報分析サーバは、
    前記製品寿命モデルの前記パラメータの値を更新する方式である全データ利用方式及び
    差分データ利用方式を格納するモデル更新方式格納部と、を備え、
    前記モデルパラメータ更新部は、前記モデル更新格納部に格納された全データ利用方式
    を設定して、前記新たに送信されたモニタリングデータと過去に保存していたモニタリン
    グデータのいずれも用いて、第1の更新されたパラメータの値を算出するとともに、前記
    モデル更新格納部に格納された差分データ利用方式を設定して、第2の更新されたパラメ
    ータの値を算出し、前記第1の更新されたパラメータの値と前記第2の更新されたパラメ
    ータの値の差分値が予め設定していた値の範囲の場合には、前記パラメータ更新格納部に
    格納された方式を差分データ利用方式に固定して設定し、前記パラメータの値を更新する
    ことを特徴とする請求項1に記載の製品寿命分析装置。
  3. CPUがモニタリング情報データベースから新たに送信されたモニタリングデータのみ
    を更新データ格納部に格納する工程と、
    前記CPUが故障データベースから送信され、前記モニタリングデータの製造番号を含
    む故障データを読み込んで故障データ格納部に格納する工程と、
    前記CPUが前記モニタリングデータと、前記故障データと、に基づき、予めモデルパ
    ラメータ格納部に格納され、製品寿命のモデルを表す関数のパラメータの値と、モデルパ
    ラメータ更新部に予め記憶され、前記パラメータの関数である対数尤度が最大となるよう
    に、または前記パラメータの関数である負の対数尤度が最小となるように前記パラメータ
    の値を更新するための関数と、を用いて、前記パラメータの値を更新する工程と、
    前記CPUが前記更新されたパラメータの値と前記製品寿命のモデルを表す関数と
    を品質管理者用端末に送信する工程と、
    を備えたことを特徴とする製品寿命分析方法。
JP2012011560A 2012-01-23 2012-01-23 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法 Expired - Fee Related JP5076031B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012011560A JP5076031B2 (ja) 2012-01-23 2012-01-23 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012011560A JP5076031B2 (ja) 2012-01-23 2012-01-23 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010084322A Division JP2011215948A (ja) 2010-03-31 2010-03-31 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012089162A JP2012089162A (ja) 2012-05-10
JP5076031B2 true JP5076031B2 (ja) 2012-11-21

Family

ID=46260639

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012011560A Expired - Fee Related JP5076031B2 (ja) 2012-01-23 2012-01-23 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5076031B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104633848B (zh) * 2014-12-31 2017-02-22 小米科技有限责任公司 剩余使用时长的确定方法及装置
JP6770905B2 (ja) * 2017-02-03 2020-10-21 ソフトバンク株式会社 情報処理装置及び情報処理システム
CN111213162B (zh) * 2017-10-17 2023-08-25 三菱电机株式会社 数据处理装置、数据处理系统、数据处理方法及存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030033170A1 (en) * 2001-08-09 2003-02-13 Vivek Bhatt Economic impact analysis tool for equipment under warranty

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012089162A (ja) 2012-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111078479B (zh) 一种内存检测模型训练的方法、内存检测的方法及装置
US8676818B2 (en) Dynamic storage and retrieval of process graphs representative of business processes and extraction of formal process models therefrom
KR100858770B1 (ko) 프로세스 이상 분석 장치 및 프로그램 기록매체
US20150269120A1 (en) Model parameter calculation device, model parameter calculating method and non-transitory computer readable medium
JP2019519027A (ja) 履歴ログからの学習と、etlツール内のデータアセットに関するデータベースオペレーションの推奨
US11720820B2 (en) Operational support system and method
JP5509210B2 (ja) 故障率を算出する装置、システムおよび方法
WO2020173136A1 (zh) 应用系统的监控方法、装置、设备及存储介质
JP5076031B2 (ja) 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法
US8036922B2 (en) Apparatus and computer-readable program for estimating man-hours for software tests
JP5895174B2 (ja) 保証期限決定装置および保証期限決定方法
JP2019121162A (ja) 監視装置、監視方法および監視プログラム
CN110795260A (zh) 一种智能客户关怀系统
CN109783459A (zh) 从日志中提取数据的方法、装置及计算机可读存储介质
JP2016099938A (ja) イベント分析システムおよび方法
CN114202256B (zh) 架构升级预警方法、装置、智能终端及可读存储介质
JP6704089B2 (ja) ライブラリ検索装置、ライブラリ検索システム、及びライブラリ検索方法
CN107943666A (zh) 客户端性能趋势监测方法、装置及计算机可读存储介质
WO2022134353A1 (zh) 硬件状态检测方法、装置、计算机设备及存储介质
JP2020047078A (ja) データ処理方法、データ処理装置、およびデータ処理プログラム
JP2011215948A (ja) 製品寿命分析装置及び製品寿命分析方法
JP6021193B2 (ja) 管理システム、端末装置、情報管理方法、及び情報管理プログラム
JP2011065337A (ja) トレーサビリティシステムおよび製造工程異常検出方法
JP2020047847A (ja) データ処理方法、データ処理装置、およびデータ処理プログラム
JP6844113B2 (ja) 情報処理装置、情報処理システム、制御方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120612

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20120612

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20120626

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120827

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150831

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees