JP5073975B2 - IC card destruction device - Google Patents

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Description

この発明は、金銭取引の記録や個人情報等を記憶したICカードを廃棄する際における、カードに記憶された情報を確実に破壊するICカード破壊装置に関する。   The present invention relates to an IC card destruction device that reliably destroys information stored in a card when discarding an IC card that stores a record of money transactions or personal information.

近年、非接触ICカードの本格的な普及時期が到来しつつある。非接触ICカードは、カード内にICモジュールの他にコイル状のアンテナを内蔵しており、電波で電力供給と情報の授受を行なう。カード表面は、通常、樹脂で覆われており接触端子は設けられていない。電気的接点がないため、耐久性に優れ、読取装置のメンテナンスコストが低減できるという利点がある。このような非接触ICカードは、たとえば、社員証、交通カード、電子マネーカード等に用いられている。   In recent years, a full-scale spread of non-contact IC cards has come. The non-contact IC card incorporates a coiled antenna in addition to the IC module in the card, and supplies power and exchanges information with radio waves. The card surface is usually covered with resin and no contact terminals are provided. Since there is no electrical contact, there is an advantage that the durability is excellent and the maintenance cost of the reading apparatus can be reduced. Such non-contact IC cards are used for employee cards, transportation cards, electronic money cards, and the like.

他方、近年しばしば個人情報の流出が社会的な問題となることがある。非接触ICカードについても、使用しなくなったカードを廃棄する際に、カードから個人情報が第三者に流出しないように措置を講ずる必要がある。   On the other hand, leakage of personal information often becomes a social problem in recent years. Regarding non-contact IC cards, when discarding cards that are no longer used, it is necessary to take measures to prevent personal information from leaking to third parties.

特開2003−132307号公報(特許文献1)は、非接触ICカードを破壊して使用できないようにする非接触ICカード破壊装置を開示する。この非接触ICカード破壊装置は、非接触ICカードに内蔵するループアンテナまたは回路の一部を切断することによりカードを使用不能にするものであった。
特開2003−132307号公報 特開2003−157411号公報 特開2004−141854号公報
Japanese Patent Laying-Open No. 2003-132307 (Patent Document 1) discloses a non-contact IC card destruction device that breaks a non-contact IC card so that it cannot be used. This non-contact IC card destruction apparatus disables the card by cutting a part of a loop antenna or a circuit built in the non-contact IC card.
JP 2003-132307 A JP 2003-157411 A JP 2004-141854 A

上記のICカード破壊方法ではICチップは破壊されず、アンテナ切断後でもほぼ完全な形で残る。したがって、このICチップに作為的にループアンテナを付加したり、若しくは回路を修復したりすれば再び通信が可能になり、カードに記録されたデータの破棄を保証出来ないという問題があった。   In the above IC card destruction method, the IC chip is not destroyed and remains in an almost perfect form even after the antenna is cut. Therefore, if a loop antenna is intentionally added to the IC chip or the circuit is repaired, communication can be performed again, and there is a problem that it is not possible to guarantee destruction of data recorded on the card.

これに対し、特開2003−157411号公報(特許文献2)は、カードの破棄時にカード内部のICを破壊する非接触型ICカードの破壊装置を開示する。この破壊装置は、非接触型ICカードがリーダ・ライタとの間で行なう電力伝送および情報通信に用いる搬送周波数と同じ周期の交番磁界によってカードのICを破壊に至らしめる強磁界発生部を備える。   In contrast, Japanese Patent Laid-Open No. 2003-157411 (Patent Document 2) discloses a non-contact type IC card destruction apparatus that destroys an IC inside a card when the card is discarded. This destruction device includes a strong magnetic field generation unit that causes destruction of the IC of the card by an alternating magnetic field having the same cycle as the carrier frequency used for power transmission and information communication performed by the non-contact type IC card with the reader / writer.

しかしながら、この非接触型ICカードの破壊装置は、強磁界をカードに放射した後、実際にカードのICが破壊されて読出し不能となっているか否か不明であり、個人情報等の流出を確実に防止するために改善の余地があった。   However, this non-contact type IC card destruction device, after radiating a strong magnetic field to the card, is unclear whether or not the card IC is actually destroyed and cannot be read out. There was room for improvement to prevent.

この発明の目的は、非接触ICカードに記憶された情報を読み取り不能にし、カードの再生、複製や改ざんを防止でき、カード廃棄後に第三者に情報が漏洩することなく機密の保持が担保され、安心してカードを破棄することができるICカード破壊装置を提供することである。   The object of the present invention is to make it impossible to read information stored in a contactless IC card, prevent card reproduction, duplication, and falsification, and to maintain confidentiality without leaking information to a third party after the card is discarded. It is to provide an IC card destruction device that can discard a card with peace of mind.

この発明は、要約すると、半導体装置を内蔵するICカードを破壊するICカード破壊装置であって、ICカードに電磁波を放射する放射部と、電磁波を放射する際に半導体装置の電気的特性の変化を検知する検知部と、検知部の出力に応じてICカードの破壊の成否を判断する制御装置とを備える。   In summary, the present invention is an IC card destruction device for destroying an IC card containing a semiconductor device, and a radiation portion that radiates electromagnetic waves to the IC card, and a change in electrical characteristics of the semiconductor device when the electromagnetic waves are radiated. And a control device that determines success or failure of the destruction of the IC card according to the output of the detection unit.

好ましくは、ICカードは、電磁波を受けて半導体装置に電力を供給する受電部をさらに内蔵する。放射部は、ICカードの定格入力電力を超える電力を受電部に発生させる電磁波を放射する。検知部は、電気的特性としてICカードの高周波インピーダンスの変化を検知する。   Preferably, the IC card further includes a power receiving unit that receives electromagnetic waves and supplies power to the semiconductor device. The radiating unit radiates electromagnetic waves that cause the power receiving unit to generate electric power that exceeds the rated input power of the IC card. A detection part detects the change of the high frequency impedance of an IC card as an electrical property.

より好ましくは、放射部は、ループコイルを含む。検知部は、ループコイルに供給する高周波電流を検知する電流検知部を含む。制御装置は、検知された高周波電流に基づいてICカードの高周波インピーダンスの変化の有無を判断する。   More preferably, the radiating portion includes a loop coil. The detection unit includes a current detection unit that detects a high-frequency current supplied to the loop coil. The control device determines whether or not there is a change in the high frequency impedance of the IC card based on the detected high frequency current.

好ましくは、ICカード破壊装置は、制御装置の出力に応じて、ICカードを挿入した後に破壊に成功した場合とICカードを破壊しなかった場合とで、排出方法を切換えるカード排出部をさらに備える。   Preferably, the IC card destruction device further includes a card discharge unit that switches a discharge method between when the destruction is successful after insertion of the IC card and when the IC card is not destroyed according to the output of the control device. .

より好ましくは、カード排出部は、放射部がICカードに電磁波を放射する際にICカードの位置決めを行なう爪部を含む。爪部はICカードの破壊が成功した場合にICカードを開放して排出し、ICカードの破壊を行なわなかった場合にはカードを排出せずに保持する。   More preferably, the card ejection part includes a claw part for positioning the IC card when the radiation part radiates electromagnetic waves to the IC card. The claw portion opens and ejects the IC card when the destruction of the IC card is successful, and holds the card without ejecting when the IC card is not destroyed.

この発明の他の局面に従うと、半導体装置と電磁波を受けて半導体装置に電力を供給する受電部とを内蔵するカードを破壊するICカード破壊装置であって、ICカードの定格入力電力を超える電力を受電部に発生させる複数の周波数の電磁波を放射する放射部と、放射部に対して周波数の切換えを指示する制御装置とを備える。   According to another aspect of the present invention, there is provided an IC card destroying device for destroying a card including a semiconductor device and a power receiving unit that receives electromagnetic waves and supplies power to the semiconductor device, wherein the power exceeds the rated input power of the IC card. A radiation unit that radiates electromagnetic waves of a plurality of frequencies that cause the power reception unit to generate, and a control device that instructs the radiation unit to switch frequencies.

好ましくは、ICカード破壊装置は、ICカードがICカード破壊装置にセットされたことを検知するカード検知部をさらに備える。制御装置は、カード検知部の出力に応じて複数の周波数の電磁波を順次放射するように放射部を制御する。   Preferably, the IC card destruction device further includes a card detection unit that detects that the IC card is set in the IC card destruction device. The control device controls the radiation unit to sequentially radiate electromagnetic waves having a plurality of frequencies in accordance with the output of the card detection unit.

好ましくは、放射部は、発振器と、発振器の出力を受ける増幅回路と、増幅回路の出力側の容量を調整するためのコンデンサと、コンデンサを増幅回路の出力側に結合するスイッチと、増幅回路の出力に応じて電流が流れるループコイルとを含む。制御装置は、スイッチの結合状態と非結合状態との切換えを行なう。   Preferably, the radiating unit includes an oscillator, an amplifier circuit that receives the output of the oscillator, a capacitor for adjusting the capacitance on the output side of the amplifier circuit, a switch that couples the capacitor to the output side of the amplifier circuit, And a loop coil through which a current flows according to the output. The control device switches between the coupled state and the uncoupled state of the switch.

本発明によれば、ICチップを破壊されたICカードは、データの読み取りが不可能になり、第三者に情報が漏洩することなく機密の保持が担保され、安心してカードを破棄することができるようになる。   According to the present invention, an IC card whose IC chip has been destroyed becomes impossible to read data, confidentiality is ensured without leaking information to a third party, and the card can be destroyed with peace of mind. become able to.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will not be repeated.

図1は、本実施の形態に係るICカード破壊装置100の構成を示した回路図である。
図1を参照して、ICカード破壊装置100は、半導体装置(ICチップ)を内蔵するICカード20を破壊するものであり、ICカードに電磁波を放射する放射部6と、電磁波を放射する際に半導体装置の電気的特性の変化を検知する検知部8と、検知部8の出力に応じてICカード20の破壊の成否を判断する制御装置(Micro Processor Unit)10とを含む。制御装置10は、後に説明するように、破壊の成否に応じて異なる処理を行なう。放射部6は、ICカード20がリーダ・ライタとの間で行なう電力伝送および情報通信に用いる搬送周波数(たとえば13.56MHz)と同じ周期の交番磁界によってカードのICを破壊に至らしめる。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an IC card destruction apparatus 100 according to the present embodiment.
Referring to FIG. 1, an IC card destruction device 100 destroys an IC card 20 containing a semiconductor device (IC chip). When the electromagnetic wave is emitted to the IC card, the radiation unit 6 emits the electromagnetic wave. In addition, a detection unit 8 that detects a change in electrical characteristics of the semiconductor device and a control unit (Micro Processor Unit) 10 that determines whether the IC card 20 has been destroyed or not according to the output of the detection unit 8 are included. As will be described later, the control device 10 performs different processes depending on the success or failure of the destruction. The radiation unit 6 causes the IC of the card to be destroyed by an alternating magnetic field having the same cycle as the carrier frequency (for example, 13.56 MHz) used for power transmission and information communication performed by the IC card 20 with the reader / writer.

ICカード破壊装置100は、さらに、電源スイッチ2と、電源装置4と、動作表示ランプ12と、電源ランプ14と、カード排出部15とを含む。カード排出部15は、後に図で説明するカード挿入口と、ソレノイド16と、ソレノイド16によって動く爪部とで構成される。電源装置4は、AC100Vの商用電源から電源電圧VCC1,VCC2を出力し、過負荷となったときに過電流が流れるのを防止する保護装置5を含む。   The IC card destruction apparatus 100 further includes a power switch 2, a power supply apparatus 4, an operation display lamp 12, a power lamp 14, and a card discharge unit 15. The card discharge unit 15 includes a card insertion slot, which will be described later with reference to the drawings, a solenoid 16, and a claw portion that is moved by the solenoid 16. The power supply device 4 includes a protection device 5 that outputs power supply voltages VCC1 and VCC2 from a commercial power supply of AC 100V and prevents an overcurrent from flowing when an overload occurs.

図2は、ICカード20の構成を示す図である。
図2を参照して、ICカード20は、半導体装置112と、電磁波を受けて半導体装置に電力を供給する受電部であるコイル111と、コイル111および半導体装置112を密閉支持する樹脂製のカード基材110とを含む。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the IC card 20.
Referring to FIG. 2, an IC card 20 includes a semiconductor device 112, a coil 111 that is a power receiving unit that receives electromagnetic waves and supplies power to the semiconductor device, and a resin card that hermetically supports the coil 111 and the semiconductor device 112. Substrate 110.

再び図1を参照して、放射部6は、ICカード20の定格入力電力を超える電力をその受電部であるコイル111に発生させる電磁波を放射する。検知部8は、電気的特性としてICカード20の高周波インピーダンスの変化を検知する。   Referring again to FIG. 1, the radiating unit 6 radiates an electromagnetic wave that generates power exceeding the rated input power of the IC card 20 in the coil 111 that is the power receiving unit. The detection unit 8 detects a change in high-frequency impedance of the IC card 20 as an electrical characteristic.

放射部6は、PLLシンセサイザ22と、スイッチ24,32と、増幅回路26と、トランス27と、コンデンサ28,30と、ループコイル34とを含む。   The radiating unit 6 includes a PLL synthesizer 22, switches 24 and 32, an amplifier circuit 26, a transformer 27, capacitors 28 and 30, and a loop coil 34.

検知部8は、ループコイル34に供給する高周波電流を検知する電流検知部42と、電流検知部42の出力の振幅を検出する検波回路41と、検波回路41が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器40とを含む。   The detection unit 8 includes a current detection unit 42 that detects a high-frequency current supplied to the loop coil 34, a detection circuit 41 that detects the amplitude of the output of the current detection unit 42, and an analog signal output by the detection circuit 41 as a digital signal. A / D converter 40 for conversion.

検知部8は、さらに、ループコイル34に供給する高周波電圧を検知する電圧検知部38と、電圧検知部38の出力の振幅を検出する検波回路37と、検波回路37が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器36とを含む。A/D変換器36,40が出力するデジタル信号は、制御装置10に与えられる。   The detection unit 8 further digitally converts an analog signal output from the detection circuit 37, a voltage detection unit 38 that detects a high-frequency voltage supplied to the loop coil 34, a detection circuit 37 that detects the amplitude of the output of the voltage detection unit 38, and the like. And an A / D converter 36 for converting the signal. Digital signals output from the A / D converters 36 and 40 are given to the control device 10.

制御装置10は、電流検知部42で検知された高周波電流に基づいてICカード20の高周波インピーダンスの変化の有無を判断し、ICカードに搭載されたICチップが破壊されたか否かを判断する。   The control device 10 determines whether or not the high frequency impedance of the IC card 20 has changed based on the high frequency current detected by the current detection unit 42, and determines whether or not the IC chip mounted on the IC card has been destroyed.

図3は、ICカード破壊装置の各要素の配置例を説明するための斜視図である。
図3では、ICカード破壊装置の内部について説明するために、筐体52の一部分が除去された状態が示される。
FIG. 3 is a perspective view for explaining an arrangement example of each element of the IC card destruction apparatus.
FIG. 3 shows a state where a part of the casing 52 is removed in order to explain the inside of the IC card destruction apparatus.

筐体52の上部にはカード挿入口50が設けられ、ソレノイド16で動く爪部によってループコイル34の真横でカードが保持され、強磁界がカードに向けて放射される。ループコイル34の周辺には、制御装置10が搭載されたプリント配線基板54と電源装置4とが配置されている。そして、筐体52の底部には、破壊されたICカードを受けるカード受け箱56が設けられている。   A card insertion slot 50 is provided in the upper part of the housing 52, and the card is held just beside the loop coil 34 by the claw portion moved by the solenoid 16, and a strong magnetic field is radiated toward the card. A printed wiring board 54 on which the control device 10 is mounted and the power supply device 4 are disposed around the loop coil 34. A card receiving box 56 for receiving the destroyed IC card is provided at the bottom of the housing 52.

なお、電源装置4は、図1の電源電圧VCC1を発生させる装置と電源電圧VCC2を発生させる装置に分割して配置しても良い。   The power supply device 4 may be divided into a device for generating the power supply voltage VCC1 and a device for generating the power supply voltage VCC2 in FIG.

筐体52の背面には、電源スイッチ2と、AC100Vの商用電源から電力供給を受けるためのプラグ58の配線出口とが設けられている。   On the rear surface of the housing 52, a power switch 2 and a wiring outlet of a plug 58 for receiving power supply from a commercial power supply of AC 100V are provided.

図4は、ループコイル34の側方から挿入された状態のカードを見た図である。
図1、図4を参照して、ICカード破壊装置100は、制御装置10の出力に応じて、ICカード20を挿入した後に破壊に成功した場合とICカードを破壊しなかった場合とで、排出方法を切換えるカード排出部15を構成するカード挿入口50、ソレノイド16、およびソレノイド16で動く爪部62をさらに含む。制御装置10は、カードの破壊の成否に応じて異なる処理としてカード排出方法の切換えを行なう。
FIG. 4 is a view of the card inserted from the side of the loop coil 34.
With reference to FIG. 1 and FIG. 4, the IC card destruction device 100, depending on the output of the control device 10, when the destruction is successful after inserting the IC card 20 and when the IC card is not destroyed, It further includes a card insertion slot 50, a solenoid 16, and a claw 62 that moves with the solenoid 16, constituting the card discharge unit 15 for switching the discharge method. The control device 10 switches the card discharge method as a different process depending on the success or failure of the card destruction.

すなわち、電磁波放射時や電源OFF時には、爪部62は62Aで示す位置にある。そして、制御装置10は、破壊成功時には爪部62を62Bで示す位置に移動させてカードを排出し、破壊しなかった場合には爪部62を62Aで示す位置に停止させてカードを保持したまま排出しない。   That is, when electromagnetic waves are emitted or the power is turned off, the claw portion 62 is in the position indicated by 62A. Then, when the destruction is successful, the control device 10 moves the claw 62 to the position indicated by 62B to discharge the card, and when it is not destroyed, the control device 10 stops the claw 62 at the position indicated by 62A and holds the card. Do not discharge.

また、後に説明するように、制御装置10は、カードの破壊の成否に応じて異なる処理として、動作表示ランプ12の点灯方法を変化させる。すなわち、制御装置10は、カード非破壊時には、動作表示ランプ12を点滅させる。   Further, as will be described later, the control device 10 changes the lighting method of the operation display lamp 12 as a different process depending on the success or failure of the card destruction. That is, the control device 10 blinks the operation display lamp 12 when the card is not destroyed.

これらの異なる処理により、使用者は、カードの破壊が正常に終了したか否かを知ることができる。   By these different processes, the user can know whether or not the destruction of the card has been completed normally.

図5は、ソレノイド16および爪部62の形状を示した斜視図である。
図4、図5を参照して、爪部62は、放射部6がICカード20に電磁波を放射する際にICカード20の位置決めを行なう。爪部62はICカード20の破壊が成功した場合にICカード20を62Bの位置に示すように開放して排出し、ICカード20の破壊を行なわなかった場合には62Aの位置に示すようにカード20を排出せずに保持する。すなわち、ソレノイドの磁力をオン/オフさせることにより、内部の鉄片が吸引されたり解放されたりして爪部62を矢印A2で示す方向に動かす。解放されたICカード20は、自重で矢印A1に示す向きに落下する。
FIG. 5 is a perspective view showing the shapes of the solenoid 16 and the claw portion 62.
With reference to FIGS. 4 and 5, the claw portion 62 positions the IC card 20 when the radiating portion 6 radiates electromagnetic waves to the IC card 20. When the destruction of the IC card 20 is successful, the claw portion 62 opens and ejects the IC card 20 as shown at the position 62B. When the IC card 20 is not destroyed, the claw part 62 shows as shown at the position 62A. The card 20 is held without being discharged. That is, by turning on / off the magnetic force of the solenoid, the iron piece inside is attracted or released to move the claw portion 62 in the direction indicated by the arrow A2. The released IC card 20 falls by its own weight in the direction indicated by the arrow A1.

図6は、カードの挿入を検知するセンサの形状を説明するための斜視図である。
図4、図6を参照して、スリットが設けられたカード検知センサ18が爪部62の上方かつカード20の側方に配置される。カード20が挿入され爪部62で保持された状態では、カード検知センサ18のスリットにちょうどカード20の一部が差し込まれる形になる。
FIG. 6 is a perspective view for explaining the shape of a sensor that detects insertion of a card.
4 and 6, the card detection sensor 18 provided with the slit is disposed above the claw portion 62 and on the side of the card 20. In a state where the card 20 is inserted and held by the claw portion 62, a part of the card 20 is inserted into the slit of the card detection sensor 18.

カード検知センサ18は、矢印A3に示す向きに光を放射する発光ダイオード等の発光素子と、その光を受光する光センサとを含む。カード20が挿入され保持されると、その光が遮られて光センサが光を検知しなくなる。これにより、カード20が挿入されていることを検知できる。なお、光に限らず他の近接センサ等を用いてカードの挿入を検知しても良い。   The card detection sensor 18 includes a light emitting element such as a light emitting diode that emits light in the direction indicated by the arrow A3, and an optical sensor that receives the light. When the card 20 is inserted and held, the light is blocked and the optical sensor does not detect the light. Thereby, it can be detected that the card 20 is inserted. The insertion of the card may be detected using not only light but other proximity sensors.

再び図1、図3を参照して、ICカード破壊装置100の動作を説明する。PLLシンセサイザ22は制御装置10からの制御によって周波数を可変することが可能であり、高周波を発生する。この高周波はスイッチ24を経て増幅回路26によりカードを破壊するのに十分な電力に増幅される。増幅回路26の出力はトランス27の一次側を駆動する。トランス27の二次側の出力は、共振用コンデンサ28,30とループコイル34を含んで構成される直列共振回路に印加される。   The operation of the IC card destruction apparatus 100 will be described with reference to FIGS. 1 and 3 again. The PLL synthesizer 22 can vary the frequency under the control of the control device 10 and generates a high frequency. This high frequency is amplified to an electric power sufficient to destroy the card by the amplifier circuit 26 via the switch 24. The output of the amplifier circuit 26 drives the primary side of the transformer 27. The output on the secondary side of the transformer 27 is applied to a series resonance circuit including the resonance capacitors 28 and 30 and the loop coil 34.

スイッチ32はコンデンサ30を共振回路に追加して共振周波数を補正するのに使用する。スイッチ32が導通するとコンデンサ30は共振回路に付加されない状態となり、スイッチ32が非導通状態となるとコンデンサ30は共振回路に付加される。   Switch 32 is used to add a capacitor 30 to the resonant circuit to correct the resonant frequency. When the switch 32 is turned on, the capacitor 30 is not added to the resonance circuit, and when the switch 32 is turned off, the capacitor 30 is added to the resonance circuit.

カード挿入口50から挿入されたICカード20は、カード側面に設置されたループコイル34と電磁結合するように挿入経路が構成される。また、カードの経路に設けたカード検知センサ18によってICカード20が挿入されたことが検知される。   The insertion path is configured so that the IC card 20 inserted from the card insertion slot 50 is electromagnetically coupled to the loop coil 34 installed on the side of the card. Further, it is detected that the IC card 20 is inserted by the card detection sensor 18 provided in the card path.

制御装置10は、スイッチ24を導通させることによりループコイル34に高周波の印加を開始し、カード20に電磁波を照射する。同時に、制御装置10は、ループコイル34に供給する高周波の電圧と電流を電圧検知部38(電圧トランス)、検波回路37およびA/D変換器36ならびに電流検知部42(電流トランス)、検波回路41およびA/D変換器40によって計測して、カード20を含むループコイル34の負荷インピーダンスを監視する。   The control device 10 starts applying high frequency to the loop coil 34 by turning on the switch 24 and irradiates the card 20 with electromagnetic waves. At the same time, the control device 10 supplies the high-frequency voltage and current supplied to the loop coil 34 to the voltage detection unit 38 (voltage transformer), the detection circuit 37 and the A / D converter 36, the current detection unit 42 (current transformer), and the detection circuit. 41 and the A / D converter 40, and the load impedance of the loop coil 34 including the card 20 is monitored.

この実施の形態は、他の局面では、半導体装置と電磁波を受けて半導体装置に電力を供給する受電部とを内蔵するカードを破壊するICカード破壊装置100であって、ICカードの定格入力電力を超える電力を受電部に発生させる複数の周波数の電磁波を放射する放射部6と、放射部6に対して周波数の切換えを指示する制御装置10とを含むものでもある。   In another aspect, this embodiment is an IC card destruction apparatus 100 that destroys a card containing a semiconductor device and a power receiving unit that receives electromagnetic waves and supplies power to the semiconductor device, and is a rated input power of the IC card. The radiation part 6 which radiates | emits the electromagnetic wave of the several frequency which generates the electric power which exceeds this in a power receiving part, and the control apparatus 10 which instruct | indicates switching of a frequency with respect to the radiation part 6 are also included.

好ましくは、ICカード破壊装置100は、ICカード20がICカード破壊装置にセットされたことを検知するカード検知センサ18をさらに備える。制御装置10は、カード検知センサ18の出力に応じて複数の周波数の電磁波を順次放射するように放射部6を制御する。   Preferably, the IC card destruction apparatus 100 further includes a card detection sensor 18 that detects that the IC card 20 is set in the IC card destruction apparatus. The control device 10 controls the radiation unit 6 so as to sequentially radiate electromagnetic waves having a plurality of frequencies according to the output of the card detection sensor 18.

また、好ましくは、放射部6は、発振器であるPLLシンセサイザ22と、発振器の出力を受ける増幅回路26と、増幅回路26の出力側の容量を調整するためのコンデンサ30と、コンデンサ30を増幅回路26の出力側に結合するスイッチ32と、増幅回路26の出力に応じて電流が流れるループコイル34とを含み、制御装置10は、スイッチ32の結合状態と非結合状態との切換えを行なう。スイッチ32を開放するとコンデンサ30の容量が増幅回路26に結合される結合状態となり、スイッチ32を閉じるとコンデンサ30の容量が増幅回路26に非結合となる非結合状態になる。   Preferably, the radiating unit 6 includes a PLL synthesizer 22 that is an oscillator, an amplifier circuit 26 that receives the output of the oscillator, a capacitor 30 for adjusting the capacitance on the output side of the amplifier circuit 26, and the capacitor 30 as an amplifier circuit. 26 includes a switch 32 coupled to the output side of 26 and a loop coil 34 through which a current flows in accordance with the output of the amplifier circuit 26. The control device 10 switches between a coupled state and a non-coupled state of the switch 32. When the switch 32 is opened, the capacitance of the capacitor 30 is coupled to the amplifier circuit 26, and when the switch 32 is closed, the capacitor 30 is coupled to the amplifier circuit 26 in a non-coupled state.

つまり、ICカード20の負荷容量の違いによる共振周波数のずれを考慮し、直列共振コンデンサの容量をスイッチ32で切換えてインピーダンスの整合を取りつつ高周波を複数回印加することにより、高周波が有効にカードに照射され、カードの破壊を効率よく行なえるように構成する。   That is, considering the resonance frequency shift due to the difference in the load capacity of the IC card 20, the high frequency is effectively applied by switching the capacitance of the series resonance capacitor with the switch 32 to apply impedance multiple times while matching the impedance. It is configured so that the card can be efficiently destroyed.

制御装置10は、電磁波の放射後にICカード20のインピーダンスが初期値よりも低くなった場合は図2のカード20内の半導体装置112が焼損してコイル111が短絡したものと判断し、電磁波の印加を停止してカードを排出する。   When the impedance of the IC card 20 becomes lower than the initial value after the electromagnetic wave is radiated, the control device 10 determines that the semiconductor device 112 in the card 20 of FIG. Stop applying and eject the card.

一方、制御装置10は、インピーダンスの値に有意な変化がない場合は、挿入されているものが破壊された非接触ICカードではない異物であると判断し、電磁波の印加を停止してカードを排出せずに保持する。   On the other hand, if there is no significant change in the impedance value, the control device 10 determines that the inserted object is not a destroyed non-contact IC card, stops the application of electromagnetic waves, and removes the card. Hold without discharging.

なお、電磁波の照射は連続的であっても、パルス状に断続的に繰り返すものであっても良い。   The electromagnetic wave irradiation may be continuous or intermittently repeated in a pulse shape.

図7は、制御装置10が実行するプログラムの制御構造を示したフローチャートである。   FIG. 7 is a flowchart showing a control structure of a program executed by the control device 10.

図1、図7を参照して、まず処理が開始されると、ステップS1、S2において電源スイッチの投入に応じて残留カードの排出が行なわれる。ソレノイド16に通電されることにより、爪部62(ストッパ)が一旦図4の62Bに示す位置に保持され、カードが自重で落下する。カードの排出が終わると再びソレノイド16の通電が解除されバネ等による弾性力で爪部62が62Aに示す位置に戻る。そして制御装置10は、カードの挿入を待つ。   Referring to FIGS. 1 and 7, when the process is started, the remaining cards are discharged in steps S1 and S2 in response to the power switch being turned on. When the solenoid 16 is energized, the claw portion 62 (stopper) is temporarily held at the position indicated by 62B in FIG. 4, and the card falls by its own weight. When the card is completely discharged, the energization of the solenoid 16 is released again, and the claw portion 62 returns to the position indicated by 62A by the elastic force of a spring or the like. And the control apparatus 10 waits for insertion of a card | curd.

図4に示すように、カード挿入口50から挿入されたICカードは、爪部62によって落下が阻止され、カード側面に近接させたループコイル34と密に電磁結合する位置に保持される。   As shown in FIG. 4, the IC card inserted from the card insertion slot 50 is prevented from dropping by the claw portion 62 and is held at a position where it is electromagnetically coupled with the loop coil 34 close to the side surface of the card.

カードが通過する経路にはスリットが設けられたカード検知センサ18(インタラプタ)が設けられている。制御装置10は、カード検知センサ18の出力を受けて破壊対象となるカードが挿入されたことを検知する。   A card detection sensor 18 (interrupter) provided with a slit is provided in a path through which the card passes. The control device 10 receives the output of the card detection sensor 18 and detects that a card to be destroyed is inserted.

カードが未挿入の間は、カードの検出待ち状態となる(ステップS3)。そして、カードが挿入されるとステップS4に処理が進み、制御装置10は、スイッチ24を導通させて、PLLシンセサイザ22の源発振信号を増幅回路26に伝達しループコイルに高周波の印加を開始する。ループコイル34からは通常のデータ書き込みよりも強力な電磁波がICカード20に照射される。電磁波の照射は連続的であっても、パルス状に断続的に繰り返すものであっても良い。同時に、制御装置10は、動作表示ランプ12を点灯して、破壊動作中であることを表示する。   While the card is not inserted, the card detection wait state is entered (step S3). When the card is inserted, the process proceeds to step S4, and the control device 10 turns on the switch 24, transmits the source oscillation signal of the PLL synthesizer 22 to the amplifier circuit 26, and starts applying a high frequency to the loop coil. . The loop coil 34 irradiates the IC card 20 with an electromagnetic wave stronger than normal data writing. Irradiation with electromagnetic waves may be continuous or intermittently repeated in pulses. At the same time, the control device 10 lights the operation display lamp 12 to display that the destructive operation is being performed.

ステップS4では、制御装置10は、高周波の印加と同時に、ループコイルに供給する高周波の電圧と電流を計測してカードを含むループコイルの負荷インピーダンスを監視する。即ち、高周波電圧を高周波電流で除した値を負荷インピーダンスとする。   In step S4, simultaneously with the application of the high frequency, the control device 10 measures the high frequency voltage and current supplied to the loop coil and monitors the load impedance of the loop coil including the card. That is, the value obtained by dividing the high-frequency voltage by the high-frequency current is defined as the load impedance.

ステップS5では、ステップS4で開始された電磁波の照射が一定時間行なわれたか否かを制御装置10が判断し、一定時間に達するまで電磁波の照射が継続される。   In step S5, the control device 10 determines whether or not the electromagnetic wave irradiation started in step S4 has been performed for a predetermined time, and the electromagnetic wave irradiation is continued until the predetermined time is reached.

ステップS5において一定時間が経過した場合には、処理はステップS6に進む。ステップS6では、制御装置10は、カードの負荷容量の違いによって生じる共振周波数のずれを考慮し、ループコイルと直列共振回路を構成する共振コンデンサの値を切換えて周波数をずらして電磁波の照射を続行する。カードの負荷容量によっては、反射が低減されカードに有効に電磁波が照射される。このように、共振周波数のバラツキに対応させて複数の周波数を印加することで、あまり大きくない電力でかつ短時間でカードを破壊できる。   If the predetermined time has elapsed in step S5, the process proceeds to step S6. In step S6, the control device 10 considers the shift of the resonance frequency caused by the difference in the load capacity of the card, and switches the value of the resonance capacitor that constitutes the loop coil and the series resonance circuit to shift the frequency to continue the electromagnetic wave irradiation. To do. Depending on the load capacity of the card, reflection is reduced and the card is effectively irradiated with electromagnetic waves. In this way, by applying a plurality of frequencies corresponding to the variation in the resonance frequency, the card can be destroyed in a short time with less power.

ステップS7では、ステップS6で共振周波数をずらした電磁波の照射が一定時間行なわれたか否かを制御装置10が判断し、一定時間に達するまで電磁波の照射が継続される。このときも、電磁波の照射は連続的であっても、パルス状に断続的に繰り返すものであっても良い。   In step S7, the control device 10 determines whether or not the irradiation of the electromagnetic wave whose resonance frequency is shifted in step S6 has been performed for a predetermined time, and the irradiation of the electromagnetic wave is continued until the predetermined time is reached. Also at this time, the irradiation of electromagnetic waves may be continuous or intermittently repeated in a pulse shape.

ステップS7において一定時間が経過した場合には、処理はステップS8に進む。ステップS8では、制御装置10は、スイッチ24を解放し、ループコイル34からの電磁波の照射を停止する。同時に、制御装置10は、動作表示ランプを消灯して電磁波の照射の停止を報知する。   If the predetermined time has elapsed in step S7, the process proceeds to step S8. In step S <b> 8, the control device 10 releases the switch 24 and stops the irradiation of the electromagnetic wave from the loop coil 34. At the same time, the control device 10 turns off the operation display lamp and notifies the stop of the electromagnetic wave irradiation.

続いてステップS9において、制御装置10は、電磁波を照射している間に監視していた負荷インピーダンスにしきい値を超える変化が生じたか否かを判断する。負荷インピーダンスに変化があればカードを破壊できたものと判断し、ステップS10に処理が進み制御装置10は、ソレノイド16を駆動してストッパを解除してカード20を排出する。   Subsequently, in step S9, the control device 10 determines whether or not a change exceeding a threshold value has occurred in the load impedance monitored while irradiating the electromagnetic wave. If there is a change in the load impedance, it is determined that the card has been destroyed, the process proceeds to step S10, and the control device 10 drives the solenoid 16 to release the stopper and eject the card 20.

一方、ステップS9でインピーダンスの変化が検出されない場合には、破壊対象ではないカード(異物)または破壊できなかったICカード等であると考えられるので、ステップS11に処理が進み制御装置10はソレノイド16に通電せずにカードを保持したまま動作表示ランプ12を点滅させてカードの破壊が完了しなかったことを報知し、処理が終了する。   On the other hand, when no change in impedance is detected in step S9, it is considered that the card is not a destruction target (foreign matter) or an IC card that could not be destroyed. The operation display lamp 12 is blinked while the card is held without energizing the card to notify that the destruction of the card has not been completed, and the process ends.

この場合は、使用者は、それまでに破壊処理されたカードを一旦カード受け箱56から取り出した後に、電源スイッチ2を一旦切断して、(10秒程度経過してから)再投入することによってステップS2に処理が戻り当該カードを排出する。使用者は、このようにして破壊されなかったカードをそれまでの破壊済みのカードと区別することができる。   In this case, the user once removes the card that has been destroyed so far from the card receiving box 56, and then once turns off the power switch 2 and turns it on again (after about 10 seconds). The process returns to step S2 and the card is discharged. The user can distinguish a card that has not been destroyed in this way from a card that has been destroyed.

次に、図7のステップS9のインピーダンス変化を判定する方法について詳細に説明する。   Next, the method for determining the impedance change in step S9 in FIG. 7 will be described in detail.

出願人が行なった実験によれば、正常なカードに過大な電磁波を照射するとICチップはICカード内部で発生する過大電圧によって瞬時に破壊して短絡し、負荷のインピーダンスが下がり高周波電流が増大するので、カードが破壊したか否かを判断することが可能である。   According to an experiment conducted by the applicant, when an excessive electromagnetic wave is irradiated to a normal card, the IC chip is instantaneously destroyed and short-circuited by an excessive voltage generated inside the IC card, and the impedance of the load is lowered and the high-frequency current is increased. Therefore, it is possible to determine whether or not the card is destroyed.

図8は、カードが破壊されない場合の検出電流および検出電圧の変化を示す図である。
図9は、カードが破壊された場合の検出電流および検出電圧の変化を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating changes in the detection current and the detection voltage when the card is not destroyed.
FIG. 9 is a diagram illustrating changes in the detection current and the detection voltage when the card is destroyed.

図8、図9は、ともに縦軸が電圧や電流の値をA/Dコンバータで取り込んだときのサンプル値を示し、横軸は時間を示す。図8に示されるように未破壊の状態では電流値が20未満、電圧値が100〜120の間で安定している。これに対し、図9の状態では電流値はピーク時では250を超え、電圧値も200位になっている。なお、図9では、電流値と電圧値が時間経過とともに減少しているのは、電源装置4に内蔵されている過電流から保護する保護装置5(または電圧を安定化する装置)の働きによる。時間が経過すると電圧については図8に示した場合と同様な値(100〜120の間)に落ち着いている。   8 and 9, the vertical axis indicates the sample value when the voltage / current value is taken in by the A / D converter, and the horizontal axis indicates the time. As shown in FIG. 8, in an undestructed state, the current value is less than 20 and the voltage value is stable between 100 and 120. On the other hand, in the state of FIG. 9, the current value exceeds 250 at the peak time, and the voltage value is about 200th. In FIG. 9, the current value and the voltage value decrease with time due to the function of the protective device 5 (or the device that stabilizes the voltage) that protects against the overcurrent built in the power supply device 4. . As time passes, the voltage settles to the same value (between 100 and 120) as shown in FIG.

カードの破壊をインピーダンスの変化により検出する方法は、いくつか考えられるがいずれの方法を採用しても良い。たとえば、実際に電圧値を電流値で除してインピーダンスを算出してしきい値と比較しても良い。また制御装置10の処理能力が低い場合には、電流値のみで判断しても良い。また、最初にICカードの定格内の電力を供給する電磁波を照射しそのときのインピーダンスを求めてその値を制御装置に記憶しておき、その後定格を超える電磁波を照射した後のインピーダンスを求めて記憶した値と比較して所定量以上の変化が認められた場合にカードの破壊と判断しても良い。   There are several possible methods for detecting card destruction based on impedance change, but any method may be adopted. For example, the impedance may be calculated by actually dividing the voltage value by the current value and compared with the threshold value. Further, when the processing capacity of the control device 10 is low, it may be determined only by the current value. First, irradiate an electromagnetic wave that supplies power within the rating of the IC card, obtain the impedance at that time, store the value in the control device, and then obtain the impedance after irradiating the electromagnetic wave exceeding the rating. When a change of a predetermined amount or more is recognized as compared with the stored value, it may be determined that the card is destroyed.

なお、本実施の形態では垂直にループコイルを設置し、コイルの上方からカードを挿入するようにして、排出時にはカードの自重で落下するように構成してあるが、他の例として、適当な駆動搬送手段(ゴムローラー、ベルト等)を使用してカードを移動・保持し、水平あるいは斜めにループコイルを設置しても良い。あるいは、トレイを使用してカードを出し入れしても良い。また、破壊できなかったカードを保持して排出しないようにする代わりに別の排出口から排出するようにしても良い。   In the present embodiment, a loop coil is installed vertically and a card is inserted from above the coil so that it is dropped by its own weight when ejected. The card may be moved and held using a driving conveyance means (rubber roller, belt, etc.), and the loop coil may be installed horizontally or diagonally. Or you may put in and out a card using a tray. Further, instead of holding a card that could not be destroyed and not discharging it, it may be discharged from another outlet.

また好適には、ICチップが破壊処理されたICカードを更にカッターで裁断して、カード表面に印刷された文字、画像や、バーコード、磁気ストライプ、エンボス等の情報を破壊処理しても良い。   Preferably, the IC card on which the IC chip has been destroyed may be further cut with a cutter to destroy information on characters, images, barcodes, magnetic stripes, embosses, etc. printed on the card surface. .

さらには、本発明は非接触型のICカードを破壊する装置に好適に適用可能であるが、磁気等の接触読み取り媒体と複合されたカードであっても適用できる。   Furthermore, the present invention can be suitably applied to an apparatus for destroying a non-contact type IC card, but can also be applied to a card combined with a contact reading medium such as magnetism.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本実施の形態に係るICカード破壊装置100の構成を示した回路図である。It is the circuit diagram which showed the structure of the IC card destruction apparatus 100 which concerns on this Embodiment. ICカード20の構成を示す図である。2 is a diagram showing a configuration of an IC card 20. FIG. ICカード破壊装置の各要素の配置例を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating the example of arrangement | positioning of each element of an IC card destruction apparatus. ループコイル34の側方から挿入された状態のカードを見た図である。It is the figure which looked at the card | curd of the state inserted from the side of the loop coil 34. FIG. ソレノイド16および爪部62の形状を示した斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing shapes of a solenoid 16 and a claw portion 62. カードの挿入を検知するセンサの形状を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating the shape of the sensor which detects insertion of a card | curd. 制御装置10が実行するプログラムの制御構造を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the control structure of the program which the control apparatus 10 performs. カードが破壊されない場合の検出電流および検出電圧の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the detection current and detection voltage when a card | curd is not destroyed. カードが破壊された場合の検出電流および検出電圧の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the detection current and detection voltage when a card | curd is destroyed.

符号の説明Explanation of symbols

2 電源スイッチ、4 電源装置、5 保護装置、6 放射部、8 検知部、10 制御装置、12 動作表示ランプ、14 電源ランプ、15 カード排出部、16 ソレノイド、18 カード検知センサ、20 ICカード、22 PLLシンセサイザ、24,32 スイッチ、26 増幅回路、27 トランス、28,30 コンデンサ、34 ループコイル、36,40 A/D変換器、37,41 検波回路、38 電圧検知部、42 電流検知部、50 カード挿入口、52 筐体、54 プリント配線基板、56 カード受け箱、58 プラグ、62 爪部、100 カード破壊装置、110 カード基材、111 コイル、112 チップ、112 半導体装置。   2 Power switch, 4 Power supply device, 5 Protection device, 6 Radiation unit, 8 Detection unit, 10 Control device, 12 Operation indicator lamp, 14 Power supply lamp, 15 Card ejection unit, 16 Solenoid, 18 Card detection sensor, 20 IC card, 22 PLL synthesizer, 24, 32 switch, 26 amplifier circuit, 27 transformer, 28, 30 capacitor, 34 loop coil, 36, 40 A / D converter, 37, 41 detector circuit, 38 voltage detector, 42 current detector, 50 card insertion slot, 52 housing, 54 printed wiring board, 56 card receiving box, 58 plug, 62 claw part, 100 card destruction device, 110 card base material, 111 coil, 112 chip, 112 semiconductor device.

Claims (8)

半導体装置を内蔵するICカードを破壊するICカード破壊装置であって、
前記ICカードに電磁波を放射する放射手段と、
前記電磁波を放射する際に前記半導体装置が焼損したことによる電気的特性の変化を検知する検知手段と、
前記検知手段の出力に応じて前記半導体装置の焼損の成否を判断する制御手段とを備える、ICカード破壊装置。
An IC card destruction device for destroying an IC card containing a semiconductor device,
Radiation means for radiating electromagnetic waves to the IC card;
Detecting means for detecting a change in electrical characteristics due to burning of the semiconductor device when emitting the electromagnetic wave;
An IC card destruction apparatus comprising: control means for determining whether the semiconductor device is burned or not according to the output of the detection means.
前記ICカードは、電磁波を受けて前記半導体装置に電力を供給する受電手段をさらに内蔵し、
前記放射手段は、前記ICカードの定格入力電力を超える電力を前記受電手段に発生させる電磁波を放射し、
前記検知手段は、前記電気的特性として前記受電手段と前記半導体装置によって構成される回路の高周波インピーダンスの変化を検知する、請求項1に記載のICカード破壊装置。
The IC card further includes power receiving means for receiving electromagnetic waves and supplying power to the semiconductor device,
The radiating means radiates electromagnetic waves that cause the power receiving means to generate power exceeding the rated input power of the IC card,
The IC card destruction apparatus according to claim 1, wherein the detection unit detects a change in high-frequency impedance of a circuit configured by the power reception unit and the semiconductor device as the electrical characteristic.
前記放射手段は、
ループコイルを含み、
前記検知手段は、
前記ループコイルに供給する高周波電流を検知する電流検知手段を含み、
前記制御手段は、検知された前記高周波電流に基づいて前記受電手段と前記半導体装置によって構成される回路の前記高周波インピーダンスの変化の有無を判断する、請求項2に記載のICカード破壊装置。
The radiating means is
Including a loop coil,
The detection means includes
Current detection means for detecting a high-frequency current supplied to the loop coil,
The IC card destruction apparatus according to claim 2, wherein the control means determines whether or not there is a change in the high-frequency impedance of a circuit configured by the power receiving means and the semiconductor device based on the detected high-frequency current.
前記制御手段の出力に応じて、前記ICカードを挿入した後に前記半導体装置が焼損した場合と前記半導体装置が焼損しなかった場合とで、排出方法を切換えるカード排出手段をさらに備える、請求項1に記載のICカード破壊装置。 In response to the output of said control means, in the case where the the case where the semiconductor device is burned after inserting the IC card semiconductor device does not burn, further comprising a card discharge means for switching the discharging method, according to claim 1 IC card destruction apparatus as described in. 前記カード排出手段は、前記放射手段が前記ICカードに電磁波を放射する際に前記ICカードの位置決めを行なう爪部を含み、前記爪部は前記半導体装置が焼損した場合に前記ICカードを開放して排出し、前記半導体装置が焼損しなかった場合にはカードを排出せずに保持する、請求項4に記載のICカード破壊装置。 The card ejecting means includes a claw portion for positioning the IC card when the radiation means radiates electromagnetic waves to the IC card, and the claw portion opens the IC card when the semiconductor device is burned out. The IC card destruction apparatus according to claim 4, wherein the card is held without being discharged when the semiconductor device is not burned out . 前記ICカードは、電磁波を受けて前記半導体装置に電力を供給する受電手段をさらに内蔵し、
前記ICカードの定格入力電力を超える電力を前記受電手段に発生させる複数の周波数の電磁波を放射する放射手段をさらに備え
前記制御手段は、前記放射手段に対して周波数の切換えを指示する、請求項1に記載のICカード破壊装置。
The IC card further includes power receiving means for receiving electromagnetic waves and supplying power to the semiconductor device ,
Radiation means for radiating electromagnetic waves of a plurality of frequencies that cause the power receiving means to generate power exceeding the rated input power of the IC card;
The IC card destruction apparatus according to claim 1, wherein the control means instructs the radiation means to switch a frequency.
前記ICカードが前記ICカード破壊装置にセットされたことを検知するカード検知手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記カード検知手段の出力に応じて前記複数の周波数の電磁波を順次放射するように前記放射手段を制御する、請求項6に記載のICカード破壊装置。
Card detecting means for detecting that the IC card is set in the IC card destruction device;
The IC card destruction apparatus according to claim 6, wherein the control unit controls the radiating unit to sequentially radiate the electromagnetic waves having the plurality of frequencies in accordance with an output of the card detecting unit.
前記放射手段は、
発振器と、
前記発振器の出力を受ける増幅回路と、
前記増幅回路の出力側の容量を調整するためのコンデンサと、
前記コンデンサを前記増幅回路の出力側に結合するスイッチと、
前記増幅回路の出力に応じて電流が流れるループコイルとを含み、
前記制御手段は、前記スイッチの結合状態と非結合状態との切換えを行なう、請求項6または7に記載のICカード破壊装置。
The radiating means is
An oscillator,
An amplifier circuit receiving the output of the oscillator;
A capacitor for adjusting the capacitance on the output side of the amplifier circuit;
A switch for coupling the capacitor to the output side of the amplifier circuit;
A loop coil through which a current flows according to the output of the amplifier circuit,
The IC card destruction apparatus according to claim 6 or 7, wherein the control means switches between a coupled state and a non-coupled state of the switch.
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