JP5064307B2 - Liquid reflow device - Google Patents

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Description

この発明は、ゲートで仕切られた複数の仕切り槽に加熱媒体としての液体が貯留され、表面と裏面との間の肉厚が不均等な金属ベースの該表面に回路パターンが形成された回路基板を前記液体で加熱することにより、前記回路基板に対するはんだ付け処理を行う液体リフロー装置に関する。   The present invention relates to a circuit board in which a liquid as a heating medium is stored in a plurality of partition tanks partitioned by gates, and a circuit pattern is formed on the front surface of a metal base with uneven thickness between the front surface and the back surface. It is related with the liquid reflow apparatus which performs the soldering process with respect to the said circuit board by heating this with the said liquid.

従来より、回路基板に電子部品を実装する際に、実装する電子部品の個数が比較的少ない場合には、作業者がはんだごてを用いてはんだ付け作業を行うが、互いに熱容量の異なる多数の電子部品を実装する場合には、大量生産を可能とするために、リフロー装置によるはんだ付け処理を行う。   Conventionally, when electronic components are mounted on a circuit board, when the number of electronic components to be mounted is relatively small, an operator performs a soldering operation using a soldering iron. When electronic parts are mounted, a soldering process is performed by a reflow device in order to enable mass production.

このようなリフロー装置には、回路基板に温風を吹き付けてはんだ付け処理を行う温風方式や、回路基板に赤外線を照射してはんだ付け処理を行う赤外線方式が知られているが、これらの方式では、はんだよりも先に熱容量の大きな電子部品が加熱されるおそれがある。   For such a reflow apparatus, there are known a hot air method for performing a soldering process by blowing hot air on a circuit board, and an infrared system for performing a soldering process by irradiating the circuit board with infrared rays. In the method, an electronic component having a large heat capacity may be heated before the solder.

そこで、図15A及び図15Bに示すように、回路基板200をホットプレート230で直接加熱してはんだ付け処理を行うリフロー方式が知られている。この場合、回路基板200には、金属ベース202の表面220(実装部)に形成された電気絶縁用の絶縁膜204上に回路パターン206が形成され、該回路パターン206上に各電子部品208、210と、はんだペースト212とが配置されている。一方、金属ベース202の裏面222側には、電子部品208、210が実装されない冷却フィン224(非実装部)が形成されており、該金属ベース202は、ヒートシンク226として機能する。なお、絶縁膜204及び回路パターン206により電子部品208、210を回路基板200に搭載するための電子部品搭載部205が構成される。   Therefore, as shown in FIGS. 15A and 15B, a reflow method is known in which a circuit board 200 is directly heated by a hot plate 230 to perform a soldering process. In this case, on the circuit board 200, a circuit pattern 206 is formed on the insulating film 204 for electrical insulation formed on the surface 220 (mounting portion) of the metal base 202, and each electronic component 208, 210 and solder paste 212 are arranged. On the other hand, cooling fins 224 (non-mounting portions) on which the electronic components 208 and 210 are not mounted are formed on the back surface 222 side of the metal base 202, and the metal base 202 functions as a heat sink 226. The insulating film 204 and the circuit pattern 206 constitute an electronic component mounting portion 205 for mounting the electronic components 208 and 210 on the circuit board 200.

ここで、波線の矢印で示すように、ホットプレート230上に配置された冷却フィン224を加熱し、ヒートシンク226、絶縁膜204及び回路パターン206を介してはんだペースト212を加熱溶融することにより、半導体部品等の熱容量の大きな電子部品208のリード214、216や、チップ抵抗器等の熱容量の小さな電子部品210が回路パターン206に対してはんだ付けされる。   Here, as indicated by the wavy arrow, the cooling fins 224 disposed on the hot plate 230 are heated, and the solder paste 212 is heated and melted through the heat sink 226, the insulating film 204, and the circuit pattern 206, thereby producing a semiconductor. The leads 214 and 216 of the electronic component 208 having a large heat capacity such as a component and the electronic component 210 having a small heat capacity such as a chip resistor are soldered to the circuit pattern 206.

しかしながら、図15Aでは、ホットプレート230と冷却フィン224との接触面積が小さいので、回路基板200に熱を効率よく伝達することが難しい。一方、図15Bに示すように、冷却フィン224とホットプレート230との間に該冷却フィン224に嵌合する熱伝導性の治具240を介挿し、ホットプレート230から治具240の突起部242を介してヒートシンク226を加熱することも考えられる。この場合、治具240を取り付ける工数が増える上に、ヒートシンク226の形状毎に治具240を製作する必要がある。   However, in FIG. 15A, since the contact area between the hot plate 230 and the cooling fin 224 is small, it is difficult to efficiently transfer heat to the circuit board 200. On the other hand, as shown in FIG. 15B, a heat conductive jig 240 fitted into the cooling fin 224 is interposed between the cooling fin 224 and the hot plate 230, and the protrusion 242 of the jig 240 is inserted from the hot plate 230. It is also conceivable to heat the heat sink 226 via In this case, the number of steps for attaching the jig 240 is increased, and it is necessary to manufacture the jig 240 for each shape of the heat sink 226.

そこで、図16に示す液体リフロー装置250(特許文献1参照)を用いて回路基板200に対するはんだ付け処理を行うことも考えられる。この場合、槽装置252内に貯留された液体262を複数のゲート264a〜264dで仕切ることにより、回路基板200の搬送方向上流側(X1方向側)から下流側(X2方向側)に向かって、投入仕切り槽260a、中間仕切り槽260b、加熱仕切り槽260c、中間仕切り槽260d及び取出仕切り槽260eが順に形成される。また、槽装置252のX1方向側の側面には、蓋254(矢印Z1方向)に向かって開口可能な搬入扉256が設けられ、X2方向側の側面には該蓋254に向かって開口可能な搬出扉258が設けられている。   Therefore, it is conceivable to perform a soldering process on the circuit board 200 using the liquid reflow apparatus 250 (see Patent Document 1) shown in FIG. In this case, by partitioning the liquid 262 stored in the tank device 252 with a plurality of gates 264a to 264d, from the upstream side (X1 direction side) of the circuit board 200 in the transport direction toward the downstream side (X2 direction side), An input partition tank 260a, an intermediate partition tank 260b, a heating partition tank 260c, an intermediate partition tank 260d, and an extraction partition tank 260e are sequentially formed. Further, a loading door 256 that can open toward the lid 254 (in the direction of arrow Z1) is provided on the side surface on the X1 direction side of the tank device 252 and can be opened toward the lid 254 on the side surface on the X2 direction side. A carry-out door 258 is provided.

この場合、搬入扉256が開口しているときにコンベア266の搬送作用下に回路基板200を槽装置252内に搬入し、搬入した回路基板200を液体262に浸漬することによりはんだ付け処理が開始される。すなわち、投入仕切り槽260aでは、液体262により回路基板200を予備加熱する。中間仕切り槽260bでは、ゲート264bが上昇した状態で、該中間仕切り槽260bの液体262と加熱仕切り槽260cの液体262とを混合することにより、回路基板200を所定温度にまで加熱する。加熱仕切り槽260cでは、液体262により回路基板200を前記所定温度で所定時間保持することによりはんだペースト212を溶融させてはんだ付けを行う。中間仕切り槽260dでは、ゲート264dが上昇した状態で、該中間仕切り槽260dの液体262と取出仕切り槽260eの液体262とを混合する。取出仕切り槽260eでは、回路基板200を冷却する。なお、液体262の温度は、複数の流路267の途中に設けられたポンプ268及び加熱器270によりそれぞれ調整され、液体リフロー装置250の全体の動作は、コントローラ272により制御される。   In this case, when the carry-in door 256 is open, the circuit board 200 is carried into the tank device 252 under the conveying action of the conveyor 266, and the carried-in circuit board 200 is immersed in the liquid 262 to start the soldering process. Is done. That is, the circuit board 200 is preheated by the liquid 262 in the input partition tank 260a. In the intermediate partition tank 260b, the circuit board 200 is heated to a predetermined temperature by mixing the liquid 262 in the intermediate partition tank 260b and the liquid 262 in the heating partition tank 260c with the gate 264b raised. In the heating partition tank 260c, the solder paste 212 is melted and soldered by holding the circuit board 200 with the liquid 262 at the predetermined temperature for a predetermined time. In the intermediate partition tank 260d, the liquid 262 in the intermediate partition tank 260d and the liquid 262 in the extraction partition tank 260e are mixed with the gate 264d raised. In the extraction partition tank 260e, the circuit board 200 is cooled. The temperature of the liquid 262 is adjusted by a pump 268 and a heater 270 provided in the middle of the plurality of flow paths 267, respectively, and the entire operation of the liquid reflow device 250 is controlled by the controller 272.

再公表WO2002/051221号Republished WO2002 / 051221

図16において、コンベア266による各槽260a〜260e間での回路基板200の搬送時には、ゲート264a〜264dが上昇して隣接する各槽260a〜260eの液体262が混合するので、混合状態における液体262の温度調整が必要になると共に、ゲート264a〜264dを閉じた後には、一旦混合した液体262の温度を元の温度に戻すための温度調整も必要となる。そのため、この液体リフロー装置250は、液体262の温度管理が難しく、回路基板200を大量生産する際のはんだ付け処理に適用することが困難である。従って、この液体リフロー装置250においても、上述した複雑な形状を有する回路基板200に対するはんだ付け処理を行うことが難しい。   In FIG. 16, when the circuit board 200 is conveyed between the tanks 260 a to 260 e by the conveyor 266, the gates 264 a to 264 d are raised and the liquid 262 of the adjacent tanks 260 a to 260 e is mixed, so the liquid 262 in the mixed state. In addition, after the gates 264a to 264d are closed, temperature adjustment for returning the temperature of the liquid 262 once mixed to the original temperature is also necessary. Therefore, this liquid reflow device 250 is difficult to control the temperature of the liquid 262 and is difficult to apply to the soldering process when the circuit board 200 is mass-produced. Therefore, it is difficult for the liquid reflow apparatus 250 to perform the soldering process on the circuit board 200 having the complicated shape described above.

この発明は、このような課題を考慮してなされたものであり、回路基板の形状に関わりなく、該回路基板に対するはんだ付け処理を効率よく行うことが可能となると共に、前記回路基板の生産性を高めることができる液体リフロー装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of such problems, and it is possible to efficiently perform the soldering process on the circuit board regardless of the shape of the circuit board, and the productivity of the circuit board. An object of the present invention is to provide a liquid reflow device capable of increasing the flow rate.

この発明は、加熱媒体としての液体を貯留する複数の仕切り槽がゲートにより仕切られ、表面と裏面との間の肉厚が不均等な金属ベースの前記表面に回路パターンが形成された回路基板を前記液体で加熱することにより該回路基板に対するはんだ付け処理を行う液体リフロー装置であって、
前記液体により前記金属ベースを予備加熱する予備加熱槽を有する予備加熱室と、前記液体により前記金属ベースをプリヒートするプリヒート槽を有するプリヒート室と、前記液体により前記金属ベースを本加熱する本加熱槽を有する本加熱室と、前記液体により前記金属ベースを冷却する冷却槽を有する冷却室とを備え、
前記各室は、室内の雰囲気の温度を調整するための温風炉と、該室と外部との間又は隣接する室の間を仕切るための前記ゲートとをそれぞれ備え、
前記各ゲートは、前記複数の仕切り槽としての前記各槽の間を前記回路基板が移動可能となるように、前記各室における前記雰囲気の部分を開口するように構成され、
前記各槽は、前記回路パターンが前記液体の液面よりも上になるように前記金属ベースを前記液体に浸漬することを特徴としている。
According to the present invention, there is provided a circuit board in which a plurality of partition tanks that store liquid as a heating medium are partitioned by a gate, and a circuit pattern is formed on the front surface of a metal base having uneven thickness between the front surface and the back surface. A liquid reflow apparatus for performing a soldering process on the circuit board by heating with the liquid,
A preheating chamber having a preheating tank for preheating the metal base with the liquid; a preheating chamber having a preheating tank for preheating the metal base with the liquid; and a main heating tank for main heating the metal base with the liquid. And a cooling chamber having a cooling tank for cooling the metal base with the liquid,
Each of the chambers includes a hot air furnace for adjusting the temperature of the indoor atmosphere, and the gate for partitioning between the chamber and the outside or between adjacent chambers,
Each of the gates is configured to open a portion of the atmosphere in each of the chambers so that the circuit board can move between the tanks as the plurality of partition tanks.
Each of the tanks is characterized in that the metal base is immersed in the liquid so that the circuit pattern is above the liquid level of the liquid.

この発明によれば、前記回路基板のうち、複雑な形状の前記金属ベースが前記液体に浸漬し、一方で、前記回路パターンが前記雰囲気中に配置される。この場合、前記金属ベースが前記液体により前記金属ベースの前記表面(前記回路パターン)側の方向以外の方位から加熱され、一方で、前記温風炉による前記雰囲気の温度調整により、前記回路パターンは、前記金属ベースの前記裏面側の方向以外の方位から加熱される。これにより、前記回路基板は、前記各室内において、全方位から加熱されることになる。   According to the present invention, the metal base having a complicated shape in the circuit board is immersed in the liquid, while the circuit pattern is disposed in the atmosphere. In this case, the metal base is heated from the orientation other than the direction of the surface (the circuit pattern) of the metal base by the liquid, while the circuit pattern is adjusted by adjusting the temperature of the atmosphere by the hot air furnace. The metal base is heated from a direction other than the direction of the back side. Thereby, the circuit board is heated from all directions in each room.

従って、この発明では、前記金属ベースの前記裏面側が複雑な形状であっても、前記回路基板を確実に加熱することができるので、該回路基板の形状に関わりなく、前記回路基板に対するはんだ付け処理を効率よく行うことが可能となると共に、前記回路基板の生産性を高めることができ、この結果、該回路基板を大量生産する際のはんだ付け処理に適用することも可能となる。   Therefore, in the present invention, the circuit board can be surely heated even if the back side of the metal base has a complicated shape. Therefore, the soldering process for the circuit board is possible regardless of the shape of the circuit board. Can be efficiently performed, and the productivity of the circuit board can be increased. As a result, the circuit board can be applied to a soldering process in mass production.

また、全方位から前記回路基板を加熱することができるので、熱容量の大きな金属ベース基板を有する回路基板や、より複雑な形状の金属ベースを有する回路基板に対するはんだ付け処理にも適用可能である。   Further, since the circuit board can be heated from all directions, it can be applied to a soldering process for a circuit board having a metal base substrate having a large heat capacity or a circuit board having a metal base having a more complicated shape.

さらに、前記各ゲートは、前記各室の雰囲気の部分のみ開口し、前記液体の部分で開口しないように構成されているので、特許文献1と比較して、前記各槽における液体の温度調整(温度管理)が容易となる。すなわち、特許文献1の液体リフロー装置250のように、隣接する槽間で液体を混合する必要がないので、前記各槽毎に前記液体の温度管理を行うことができる。これにより、前記はんだ付け処理における前記回路基板の温度プロファイルを容易に作成することが可能となり、該はんだ付け処理に対する信頼性を確保することができる。また、図15Bのような治具240を用いることなく前記回路基板を加熱することが可能となるので、前記はんだ付け処理における工数を削減することができる。   Furthermore, each gate is configured to open only in the atmosphere portion of each chamber and not in the liquid portion. Therefore, compared with Patent Document 1, the temperature adjustment of the liquid in each tank ( (Temperature management) becomes easy. That is, unlike the liquid reflow device 250 of Patent Document 1, it is not necessary to mix liquid between adjacent tanks, so that the temperature of the liquid can be controlled for each tank. As a result, the temperature profile of the circuit board in the soldering process can be easily created, and the reliability for the soldering process can be ensured. Further, since the circuit board can be heated without using the jig 240 as shown in FIG. 15B, the number of steps in the soldering process can be reduced.

さらにまた、前記雰囲気の温度を調整可能とすることで、前記回路パターン側からの前記回路基板の加熱を促進することが可能になると共に、前記液体に浸漬している前記回路基板を引き上げた際に、該回路基板の温度が急激に低下することを確実に防止することができる。また、前記液体と前記雰囲気との温度差に起因した該液体の温度低下を抑制することも可能となる。   Furthermore, by making the temperature of the atmosphere adjustable, heating of the circuit board from the circuit pattern side can be promoted, and the circuit board immersed in the liquid is pulled up In addition, it is possible to reliably prevent the temperature of the circuit board from rapidly decreasing. It is also possible to suppress a temperature drop of the liquid due to a temperature difference between the liquid and the atmosphere.

ここで、前記金属ベースは、電子部品が実装される前記表面側の実装部と、該電子部品が実装されない前記裏面側の非実装部とに分けられ、前記実装部としての前記表面に絶縁膜が形成され、該絶縁膜上に前記回路パターンが形成され、前記絶縁膜及び前記回路パターンにより前記回路基板に前記電子部品を搭載するための電子部品搭載部が構成され、前記各槽は、前記絶縁膜と前記表面との境界が前記液面に位置するように前記金属ベースを前記液体に浸漬することが好ましい。   Here, the metal base is divided into a mounting portion on the front surface side where the electronic component is mounted and a non-mounting portion on the back surface side where the electronic component is not mounted, and an insulating film is formed on the surface as the mounting portion Is formed, and the circuit pattern is formed on the insulating film, and the insulating film and the circuit pattern constitute an electronic component mounting portion for mounting the electronic component on the circuit board. It is preferable that the metal base is immersed in the liquid so that a boundary between the insulating film and the surface is located on the liquid surface.

これにより、前記金属ベース及び前記雰囲気を介して、前記電子部品が搭載された前記回路基板を確実に且つ効率よく加熱することができる。また、前記電子部品搭載部が前記液体に浸漬しないので、前記回路パターン及び前記電子部品に前記液体が付着することを確実に防止することができる。   Accordingly, the circuit board on which the electronic component is mounted can be reliably and efficiently heated through the metal base and the atmosphere. Further, since the electronic component mounting portion is not immersed in the liquid, it is possible to reliably prevent the liquid from adhering to the circuit pattern and the electronic component.

また、前記液体リフロー装置では、前記予備加熱室、前記プリヒート室、前記本加熱室及び前記冷却室の順に配置され、外部から前記予備加熱槽に前記回路基板を搬送し、前記各槽及び該各槽間に前記回路基板を搬送し、且つ、前記冷却槽から外部に前記はんだ付け処理後の前記回路基板を搬送する搬送手段をさらに備える。   Further, in the liquid reflow device, the preheating chamber, the preheating chamber, the main heating chamber, and the cooling chamber are arranged in this order, and the circuit board is transferred from the outside to the preheating bath, The apparatus further includes conveying means for conveying the circuit board between the tanks and conveying the soldered circuit board to the outside from the cooling tank.

前記予備加熱室、前記プリヒート室、前記本加熱室及び前記冷却室を直列的(バッチ式)に配置して、前記搬送手段により前記回路基板を順次搬送することで、前記はんだ付け処理を効率よく行うことが可能となり、前記回路基板の大量生産化を容易に実現することができる。   The preheating chamber, the preheating chamber, the main heating chamber, and the cooling chamber are arranged in series (batch type), and the circuit board is sequentially transported by the transporting means, thereby efficiently performing the soldering process. Therefore, mass production of the circuit board can be easily realized.

この場合、前記搬送手段は、前記回路パターンが前記液体の液面よりも上になるように前記回路基板を搬送すれば、搬送中に前記回路パターン(前記電子部品搭載部)が前記液体に浸漬することがないので、前記回路パターン及び前記電子部品に前記液体が付着することを確実に防止することができる。   In this case, if the transport means transports the circuit board so that the circuit pattern is above the liquid level, the circuit pattern (the electronic component mounting portion) is immersed in the liquid during transport. Therefore, the liquid can be reliably prevented from adhering to the circuit pattern and the electronic component.

また、前記各温風炉は、前記回路基板の大きさに応じて前記雰囲気の温度を調整することが好ましい。   Moreover, it is preferable that each said warm air oven adjusts the temperature of the said atmosphere according to the magnitude | size of the said circuit board.

これにより、熱容量の大きな金属ベースを備える回路基板や、小型の回路基板に対するはんだ付け処理にも対応可能な液体リフロー装置を提供することが可能となる。   As a result, it is possible to provide a liquid reflow apparatus that can cope with a circuit board having a metal base having a large heat capacity and a soldering process for a small circuit board.

この発明によれば、回路基板のうち、複雑な形状の金属ベースが液体に浸漬し、一方で、回路パターンが雰囲気中に配置される。この場合、前記金属ベースが前記液体により前記金属ベースの表面(前記回路パターン)側の方向以外の方位から加熱され、一方で、温風炉による前記雰囲気の温度調整により、前記回路パターンは、前記金属ベースの裏面側の方向以外の方位から加熱される。これにより、前記回路基板は、各室内において、全方位から加熱されることになる。   According to this invention, among the circuit boards, the metal base having a complicated shape is immersed in the liquid, while the circuit pattern is arranged in the atmosphere. In this case, the metal base is heated by the liquid from an orientation other than the direction on the surface (the circuit pattern) side of the metal base. On the other hand, by adjusting the temperature of the atmosphere by a hot air furnace, the circuit pattern is Heated from an orientation other than the direction of the back side of the base. Thereby, the circuit board is heated from all directions in each room.

従って、この発明では、前記金属ベースの前記裏面側が複雑な形状であっても、前記回路基板を確実に加熱することができるので、該回路基板の形状に関わりなく、前記回路基板に対するはんだ付け処理を効率よく行うことが可能となると共に、前記回路基板の生産性を高めることができ、この結果、該回路基板を大量生産する際のはんだ付け処理に適用することも可能となる。   Therefore, in the present invention, the circuit board can be surely heated even if the back side of the metal base has a complicated shape. Therefore, the soldering process for the circuit board is possible regardless of the shape of the circuit board. Can be efficiently performed, and the productivity of the circuit board can be increased. As a result, the circuit board can be applied to a soldering process in mass production.

この発明の一実施形態に係る液体リフロー装置10について、図1〜図14を参照しながら説明する。   A liquid reflow apparatus 10 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図1に示すように、液体リフロー装置10は、回路基板200に対して所定のはんだ付け処理を行うリフロー炉12と、矢印X方向に沿って配置され且つ外部からリフロー炉12に回路基板200を搬入するコンベア14と、矢印X方向に沿って配置され且つはんだ付け処理後の回路基板200をリフロー炉12から外部に搬出するコンベア16と、リフロー炉12を含む液体リフロー装置10全体を制御するコントローラ18とを有する。なお、この実施形態では、回路基板200の搬送に関し、矢印X1方向を上流側、矢印X2方向を下流側とする。   As shown in FIG. 1, the liquid reflow apparatus 10 includes a reflow furnace 12 that performs a predetermined soldering process on the circuit board 200, and the circuit board 200 that is disposed along the arrow X direction and is externally attached to the reflow furnace 12. A controller for controlling the entire liquid reflow apparatus 10 including the conveyor 14 to be carried in, the conveyor 16 arranged along the arrow X direction and carrying out the soldered circuit board 200 from the reflow furnace 12, and the reflow furnace 12. 18. In this embodiment, regarding the conveyance of the circuit board 200, the arrow X1 direction is the upstream side, and the arrow X2 direction is the downstream side.

リフロー炉12は、矢印X方向に沿って断面略長方形状に構成され、矢印X1方向側の側面22と矢印X2方向側の側面30との間には、所定間隔で矢印Z方向に延在する仕切り板24〜28がそれぞれ設けられている。従って、底板20、天板32、側面22、30及び仕切り板24〜28により、リフロー炉12内には、矢印X1方向から矢印X2方向に向かって順に、予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dが形成される。   The reflow furnace 12 has a substantially rectangular cross section along the arrow X direction, and extends in the arrow Z direction at a predetermined interval between the side surface 22 on the arrow X1 direction side and the side surface 30 on the arrow X2 direction side. Partition plates 24 to 28 are respectively provided. Accordingly, the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main plate are sequentially formed in the reflow furnace 12 from the arrow X1 direction to the arrow X2 direction by the bottom plate 20, the top plate 32, the side surfaces 22 and 30, and the partition plates 24 to 28. A heating chamber 54c and a cooling chamber 54d are formed.

また、側面22、仕切り板24〜28及び側面30の各中央部には、開口34〜42がそれぞれ形成されている。各開口34〜42には、側面22、仕切り板24〜28及び側面30(矢印Z方向)に沿って上下動可能なゲート44〜52がそれぞれ設けられている。従って、各ゲート44〜52により、隣接する各室54a〜54d間が仕切られると共に、外部と予備加熱室54a及び外部と冷却室54dとの間が仕切られる。   In addition, openings 34 to 42 are formed in the central portions of the side surface 22, the partition plates 24 to 28 and the side surface 30, respectively. The openings 34 to 42 are provided with gates 44 to 52 that can move up and down along the side surface 22, the partition plates 24 to 28, and the side surface 30 (in the direction of arrow Z), respectively. Therefore, the gates 44 to 52 partition the adjacent chambers 54a to 54d, and partition the outside and the preheating chamber 54a and the outside and the cooling chamber 54d.

また、各室54a〜54d内には、各開口34〜42より僅かに下方の位置まで液体56a〜56dが貯留され、該液体56a〜56dの液面80a〜80dより上方は、天板32に固定された温風炉74a〜74dによって温度調整される雰囲気82a〜82dとされる。温風炉74a〜74dは、ヒータ70a〜70dと、ヒータ70a〜70dにより加熱された気体を下方に向けて送風するファン72a〜72dとから構成される。   Further, in each of the chambers 54a to 54d, the liquids 56a to 56d are stored up to positions slightly below the openings 34 to 42, and the liquid levels 80a to 80d of the liquids 56a to 56d are above the top plate 32. The atmospheres 82a to 82d are adjusted in temperature by the fixed hot air furnaces 74a to 74d. The hot air furnaces 74a to 74d are composed of heaters 70a to 70d and fans 72a to 72d for blowing the gas heated by the heaters 70a to 70d downward.

前述したように、液面80a〜80dは、各開口34〜42の下に位置しているので、ゲート44〜52は、各室54a〜54dにおける雰囲気82a〜82dの箇所(部分)で上下動することになる。また、各室54a〜54dに液体56a〜56dが貯留されているので、予備加熱室54aは、液体56aが貯留された予備加熱槽(仕切り槽)55aとして機能し(を有し)、プリヒート室54bは、液体56bが貯留されたプリヒート槽(仕切り槽)55bとして機能し(を有し)、本加熱室54cは、液体56cが貯留された本加熱槽(仕切り槽)55cとして機能し(を有し)、冷却室54dは、液体56dが貯留された冷却槽(仕切り槽)55dとして機能する(を有する)。   As described above, since the liquid levels 80a to 80d are located below the openings 34 to 42, the gates 44 to 52 move up and down at the locations (parts) of the atmospheres 82a to 82d in the chambers 54a to 54d. Will do. Further, since the liquids 56a to 56d are stored in the respective chambers 54a to 54d, the preheating chamber 54a functions (has) a preheating tank (partition tank) 55a in which the liquid 56a is stored, and the preheating chamber. 54b functions as a preheat tank (partition tank) 55b in which the liquid 56b is stored, and the main heating chamber 54c functions as a main heating tank (partition tank) 55c in which the liquid 56c is stored. The cooling chamber 54d functions (has) a cooling tank (partition tank) 55d in which the liquid 56d is stored.

ここで、後述するように、予備加熱室54a(予備加熱槽55a)は、回路基板200を常温T0(図6参照)から所定の予備加熱温度T1にまで予備加熱し、プリヒート室54b(プリヒート槽55b)は、回路基板200を予備加熱温度T1から本加熱温度T2近傍の温度にまでプリヒートし、本加熱室54c(本加熱槽55c)は、回路基板200を本加熱温度T2に所定時間保持(本加熱)してはんだペースト212を加熱溶融させることによりはんだ付けを行い、冷却室54d(冷却槽55d)は、回路基板200を冷却することにより加熱溶融したはんだペースト212を凝固させてはんだ付け処理を完了させる。   Here, as will be described later, the preheating chamber 54a (preheating bath 55a) preheats the circuit board 200 from room temperature T0 (see FIG. 6) to a predetermined preheating temperature T1, and the preheating chamber 54b (preheating bath). 55b) preheats the circuit board 200 from the preheating temperature T1 to a temperature in the vicinity of the main heating temperature T2, and the main heating chamber 54c (main heating tank 55c) holds the circuit board 200 at the main heating temperature T2 for a predetermined time ( Soldering is performed by heating and melting the solder paste 212 and the cooling chamber 54d (cooling tank 55d) solidifies the solder paste 212 that has been heated and melted by cooling the circuit board 200 to perform soldering processing. To complete.

なお、これらの液体56a〜56dは、はんだペースト212(図15A及び図15B参照)の溶融温度よりも沸点が高く、且つ、該はんだペースト212及び金属ベース202を含む金属を溶解しない液体であり、例えば、潤滑油として用いられる炭化水素系液体、フェニルエーテル系液体又はフッ素系の不活性液体が採用される。   These liquids 56a to 56d are liquids having a boiling point higher than the melting temperature of the solder paste 212 (see FIGS. 15A and 15B) and do not dissolve the metal including the solder paste 212 and the metal base 202. For example, a hydrocarbon-based liquid, a phenyl ether-based liquid, or a fluorine-based inert liquid used as a lubricating oil is employed.

また、各室54a〜54dは、流路58a〜58dとそれぞれ連通し、該流路58a〜58dの途中には、液体56a〜56dを各室54a〜54d及び各流路58a〜58dで循環させるポンプ60a〜60dと、液体56a〜56dの温度調整を行う加熱器62a〜62dとがそれぞれ配置されている。すなわち、液体56aの温度は、ポンプ60a及び加熱器62aによって調整(管理)され、液体56bの温度は、ポンプ60b及び加熱器62bによって調整され、液体56cの温度は、ポンプ60c及び加熱器62cによって調整され、液体56dの温度は、ポンプ60d及び加熱器62dによって調整される。   The chambers 54a to 54d communicate with the channels 58a to 58d, respectively, and the liquids 56a to 56d are circulated in the chambers 54a to 54d and the channels 58a to 58d in the middle of the channels 58a to 58d. Pumps 60a to 60d and heaters 62a to 62d for adjusting the temperature of the liquids 56a to 56d are arranged, respectively. That is, the temperature of the liquid 56a is adjusted (managed) by the pump 60a and the heater 62a, the temperature of the liquid 56b is adjusted by the pump 60b and the heater 62b, and the temperature of the liquid 56c is adjusted by the pump 60c and the heater 62c. The temperature of the liquid 56d is adjusted and adjusted by the pump 60d and the heater 62d.

さらに、各室54a〜54dには、コンベア14、16と略同一構成のコンベア64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dがそれぞれ配置されている。この場合、コンベア64a〜64dは、上流側(矢印X1方向側)の一端部が雰囲気82a〜82d内で開口34〜40(ゲート44〜50)に指向し、且つ下流側(矢印X2方向側)の他端部が液体56a〜56dに浸漬するように、傾斜した状態で配置されている。また、コンベア66a〜66dは、矢印X方向に沿って液体56a〜56d中に浸漬されている。さらに、コンベア68a〜68dは、上流側(矢印X1方向側)の一端部が液体56a〜56dに浸漬し、且つ下流側(矢印X2方向側)の他端部が雰囲気82a〜82d内で開口36〜42(ゲート46〜52)に指向するように、傾斜した状態で配置されている。なお、各コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dは、絶縁膜204及び回路パターン206から構成される電子部品搭載部205(図5、図15A及び図15B参照)が液面80a〜80dより上になるように回路基板200を搬送する。   Furthermore, conveyors 64a to 64d, 66a to 66d, and 68a to 68d having substantially the same configuration as the conveyors 14 and 16 are disposed in the respective chambers 54a to 54d. In this case, in the conveyors 64a to 64d, one end on the upstream side (arrow X1 direction side) is directed to the openings 34 to 40 (gates 44 to 50) in the atmosphere 82a to 82d, and the downstream side (arrow X2 direction side). Are arranged in an inclined state so that the other end of each is immersed in the liquids 56a to 56d. Further, the conveyors 66a to 66d are immersed in the liquids 56a to 56d along the arrow X direction. Further, the conveyors 68a to 68d have one end on the upstream side (arrow X1 direction side) immersed in the liquids 56a to 56d, and the other end on the downstream side (arrow X2 direction side) opened in the atmosphere 82a to 82d. It arrange | positions in the inclined state so that it may face -42 (gates 46-52). The conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, and 68a to 68d are liquidated by the electronic component mounting portion 205 (see FIGS. 5, 15A, and 15B) composed of the insulating film 204 and the circuit pattern 206. The circuit board 200 is conveyed so as to be above the surfaces 80a to 80d.

さらに、各コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dには、所定間隔で回路基板200を位置決めするためのピン76がそれぞれ設けられている。なお、参照数字78は、各コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dを構成するローラである。   Further, each conveyor 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, 68a to 68d is provided with pins 76 for positioning the circuit board 200 at predetermined intervals. Reference numeral 78 is a roller constituting each conveyor 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, 68a to 68d.

次に、以上のように構成される液体リフロー装置10の動作について説明する。   Next, the operation of the liquid reflow apparatus 10 configured as described above will be described.

図1〜図4及び図7〜図14は、回路基板200をリフロー炉12に搬入して該回路基板200に対するはんだ付け処理を行い、前記はんだ付け処理後の回路基板200をリフロー炉12から外部に搬出するまでの一連の動作を示す説明図であり、図5は、液体56a〜56dに金属ベース202を浸漬した状態を示す要部説明図であり、図6は、前記はんだ付け処理における回路基板200の温度プロファイル(はんだペースト212の温度の時間経過)の一例を示すグラフである。   1 to 4 and 7 to 14, the circuit board 200 is carried into the reflow furnace 12 and soldered to the circuit board 200, and the circuit board 200 after the soldering process is externally connected from the reflow furnace 12. FIG. 5 is an explanatory view showing a series of operations until it is unloaded, FIG. 5 is an explanatory view of a main part showing a state in which the metal base 202 is immersed in the liquids 56a to 56d, and FIG. It is a graph which shows an example of the temperature profile (time progress of the temperature of the solder paste 212) of the board | substrate 200. FIG.

なお、図6において、実線110は、前記温度プロファイルにおける回路基板200の温度の上限値を示し、一方で、実線112は、回路基板200の温度の下限値を示し、従って、リフロー炉12は、コントローラ18により実線110と実線112との間の温度範囲で回路基板200を加熱するように制御される。   In FIG. 6, the solid line 110 indicates the upper limit value of the temperature of the circuit board 200 in the temperature profile, while the solid line 112 indicates the lower limit value of the temperature of the circuit board 200. The controller 18 is controlled to heat the circuit board 200 in a temperature range between the solid line 110 and the solid line 112.

先ず、電子部品208、210及びはんだペースト212が載置された回路基板200(図15A及び図15B参照)を、図1に示すコンベア14に配置した後に、コントローラ18の制御作用下にコンベア14を駆動させて、リフロー炉12への回路基板200の搬入を開始する。より詳細には、図2に示すように、コントローラ18の制御作用下にゲート44を上昇させて、外部及び予備加熱室54aを連通すると共に、各コンベア14、64a、66aを動作させて、回路基板200を予備加熱槽55aに搬入する。   First, after the circuit board 200 (see FIGS. 15A and 15B) on which the electronic components 208 and 210 and the solder paste 212 are placed is arranged on the conveyor 14 shown in FIG. 1, the conveyor 14 is moved under the control action of the controller 18. Driven to start loading the circuit board 200 into the reflow furnace 12. More specifically, as shown in FIG. 2, the gate 44 is raised under the control action of the controller 18, the external and preheating chambers 54a are communicated, and the conveyors 14, 64a, 66a are operated to operate the circuit. The substrate 200 is carried into the preheating tank 55a.

この場合、コンベア14により開口34にまで搬送された回路基板200は、該コンベア14からコンベア64aに受け渡されることにより予備加熱室54aに搬入され(図3参照)、コンベア64a、66aの搬送作用下に回路基板200が液体56aに浸漬されると(図4参照)、コントローラ18の制御作用下に各コンベア14、64a、66aは動作を停止し、ゲート44が下降する。この結果、予備加熱室54aは密閉状態となり、温風炉74aは、ヒータ70aにより加熱した気体をファン72aによって回路基板200に吹き付けることで、該回路基板200を上方から加熱すると共に、雰囲気82aを所定温度に調整する。   In this case, the circuit board 200 conveyed to the opening 34 by the conveyer 14 is transferred from the conveyer 14 to the conveyer 64a and is carried into the preheating chamber 54a (see FIG. 3), and the convey operation of the conveyers 64a and 66a. When the circuit board 200 is immersed in the liquid 56a (see FIG. 4), the conveyors 14, 64a, 66a stop operating under the control action of the controller 18, and the gate 44 is lowered. As a result, the preheating chamber 54a is hermetically sealed, and the hot air furnace 74a blows the gas heated by the heater 70a onto the circuit board 200 by the fan 72a, thereby heating the circuit board 200 from above and setting the atmosphere 82a to a predetermined level. Adjust to temperature.

この場合、図5に示すように、回路基板200のうち、金属ベース202(ヒートシンク226)が、図6に示す所定時間(予備加熱槽55aでの加熱時間)だけ液体56aに浸漬される。なお、図5では、絶縁膜204と金属ベース202との境界である該金属ベース202の表面220よりも僅かに下に液面80aが位置するように図示されているが、この実施形態では、金属ベース202よりも上の部分(絶縁膜204)が液面80aよりも上になるように金属ベース202を液体56aに浸漬してもよい(図4参照)。   In this case, as shown in FIG. 5, the metal base 202 (heat sink 226) of the circuit board 200 is immersed in the liquid 56a for a predetermined time (heating time in the preheating tank 55a) shown in FIG. In FIG. 5, the liquid level 80 a is illustrated slightly below the surface 220 of the metal base 202, which is the boundary between the insulating film 204 and the metal base 202, but in this embodiment, The metal base 202 may be immersed in the liquid 56a so that the portion above the metal base 202 (insulating film 204) is above the liquid level 80a (see FIG. 4).

ここで、液体56aは、ポンプ60a及び加熱器62aによって所定温度に調整されるので、図5の波線の矢印に示すように、液体56aから冷却フィン224に熱が伝達されることにより、該冷却フィン224(金属ベース202)、絶縁膜204及び回路パターン206を介してはんだペースト212が加熱される。すなわち、はんだペースト212を含む回路基板200は、液体56aによって雰囲気82a以外の方向(矢印Z2方向)から加熱され、一方で、温風炉74a(雰囲気82a)によって液体56a以外の方向(矢印Z1方向)から加熱される。つまり、回路基板200は、予備加熱室54a(予備加熱槽55a)内の全方位から予備加熱されることになる。この結果、はんだペースト212は、上述した全方位からの予備加熱により、図6に示すように、常温T0から予備加熱温度T1(予備加熱温度T1の上限値T1uと下限値T1dとの間の温度範囲)にまで予備加熱される。   Here, since the liquid 56a is adjusted to a predetermined temperature by the pump 60a and the heater 62a, the heat is transferred from the liquid 56a to the cooling fins 224 as shown by the wavy arrow in FIG. The solder paste 212 is heated through the fins 224 (metal base 202), the insulating film 204, and the circuit pattern 206. That is, the circuit board 200 including the solder paste 212 is heated from the direction other than the atmosphere 82a (the direction of the arrow Z2) by the liquid 56a, while the direction other than the liquid 56a (the direction of the arrow Z1) by the hot air furnace 74a (the atmosphere 82a). Is heated from. That is, the circuit board 200 is preheated from all directions in the preheating chamber 54a (preheating tank 55a). As a result, as shown in FIG. 6, the solder paste 212 is preheated from all directions, as shown in FIG. 6, from the normal temperature T0 to the preheating temperature T1 (temperature between the upper limit value T1u and the lower limit value T1d of the preheating temperature T1). Range).

次に、液体56a及び雰囲気82aによるはんだペースト212の予備加熱が完了すると、コントローラ18からの制御によりコンベア66a、68a、64b、66bを動作させ且つゲート46を上昇させて、前記予備加熱された回路基板200を予備加熱室54aからプリヒート室54bに搬送する。   Next, when the preheating of the solder paste 212 by the liquid 56a and the atmosphere 82a is completed, the conveyors 66a, 68a, 64b, 66b are operated and the gate 46 is moved up by the control from the controller 18, and the preheated circuit The substrate 200 is transferred from the preheating chamber 54a to the preheating chamber 54b.

より詳細には、図4に示すように、次に予備加熱室54aに搬入される回路基板200がコンベア14に配置されているので、図4、図7及び図8に示すように、コントローラ18の制御に起因してゲート44、46を上昇させて、外部及び予備加熱室54aと、予備加熱室54a及びプリヒート室54bとをそれぞれ連通させると共に、コンベア14、64a、66a、68a、64b、66bを動作させる。   More specifically, as shown in FIG. 4, the circuit board 200 to be subsequently carried into the preheating chamber 54 a is disposed on the conveyor 14, so that the controller 18 as shown in FIGS. 4, 7, and 8. The gates 44 and 46 are raised due to the control of the control unit, and the external and preheating chambers 54a are communicated with the preheating chambers 54a and 54b, respectively, and the conveyors 14, 64a, 66a, 68a, 64b, and 66b are connected. To work.

これにより、前記予備加熱された回路基板200は、コンベア66aからコンベア68a、64bを介してコンベア66bに搬送され、その金属ベース202がプリヒート室54b(プリヒート槽55b)の液体56bに浸漬される(図7及び図8参照)。一方、コンベア14に配置された回路基板200は、前述した搬入動作と同様に、コンベア14、64aを介してコンベア66aに搬送され、その金属ベース202が液体56aに浸漬される。   As a result, the preheated circuit board 200 is transferred from the conveyor 66a to the conveyor 66b via the conveyors 68a and 64b, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56b in the preheat chamber 54b (preheat tank 55b) ( (See FIGS. 7 and 8). On the other hand, the circuit board 200 disposed on the conveyor 14 is conveyed to the conveyor 66a via the conveyors 14 and 64a, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56a, similarly to the above-described carrying-in operation.

そして、各回路基板200が液体56a、56bにそれぞれ浸漬されると(図8参照)、コントローラ18の制御作用下に各コンベア14、64a、66a、68a、64b、66bは搬送動作を停止し、ゲート44、46が下降する。この結果、予備加熱室54a及びプリヒート室54bはそれぞれ密閉状態となる。   When each circuit board 200 is immersed in the liquids 56a and 56b (see FIG. 8), the conveyors 14, 64a, 66a, 68a, 64b, and 66b stop the conveying operation under the control action of the controller 18, The gates 44 and 46 are lowered. As a result, the preheating chamber 54a and the preheating chamber 54b are sealed.

この場合、予備加熱室54aに搬入され且つ金属ベース202が液体56aに浸漬された回路基板200に対する処理(予備加熱)は、既に述べたので、その詳細な説明については省略する。従って、ここでは、プリヒート室54bの液体56bに金属ベース202が浸漬された回路基板200に対する処理について説明する。   In this case, since the processing (preheating) for the circuit board 200 carried into the preheating chamber 54a and the metal base 202 immersed in the liquid 56a has already been described, a detailed description thereof will be omitted. Therefore, here, a process for the circuit board 200 in which the metal base 202 is immersed in the liquid 56b of the preheat chamber 54b will be described.

密閉状態となったプリヒート室54b内において、温風炉74bは、ヒータ70bにより加熱した気体をファン72bによって回路基板200に吹き付けることで、該回路基板200を上方から加熱すると共に、雰囲気82bを所定温度に調整する。   In the preheat chamber 54b in the sealed state, the hot air furnace 74b blows the gas heated by the heater 70b onto the circuit board 200 by the fan 72b, thereby heating the circuit board 200 from above and setting the atmosphere 82b at a predetermined temperature. Adjust to.

また、この回路基板200のうち、金属ベース202が、図6に示すプリヒート槽55bでの加熱時間だけ液体56bに浸漬される。この場合、液体56bは、ポンプ60b及び加熱器62bにより時間経過に伴って徐々に加熱されるので、液体56bから冷却フィン224(金属ベース202)、絶縁膜204及び回路パターン206を介してはんだペースト212も徐々に加熱される。   Further, in the circuit board 200, the metal base 202 is immersed in the liquid 56b for the heating time in the preheating tank 55b shown in FIG. In this case, since the liquid 56b is gradually heated with time by the pump 60b and the heater 62b, the solder paste is supplied from the liquid 56b through the cooling fin 224 (metal base 202), the insulating film 204, and the circuit pattern 206. 212 is also gradually heated.

従って、回路基板200は、液体56bによって雰囲気82b以外の方向から加熱(プリヒート)され、一方で、温風炉74bによって液体56b以外の方向から加熱(プリヒート)されて、プリヒート室54b内の全方位からプリヒートされる。この結果、はんだペースト212は、図6に示すように、予備加熱温度T1から本加熱温度T2近傍にまでプリヒートされる。   Accordingly, the circuit board 200 is heated (preheated) from the direction other than the atmosphere 82b by the liquid 56b, and on the other hand, heated (preheated) from the direction other than the liquid 56b by the hot air furnace 74b, from all directions in the preheat chamber 54b. Preheated. As a result, as shown in FIG. 6, the solder paste 212 is preheated from the preheating temperature T1 to the vicinity of the main heating temperature T2.

次に、液体56b及び雰囲気82bによるプリヒート室54b内での回路基板200のプリヒートが完了し、且つ、液体56a及び雰囲気82aによる予備加熱室54a内での回路基板200の予備加熱が完了すると、図8〜図10に示すように、コントローラ18からの制御によって、前記プリヒート後の回路基板200をプリヒート室54bから本加熱室54cに搬送すると共に、前記予備加熱後の回路基板200を予備加熱室54aからプリヒート室54bに搬送する。   Next, when the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54b by the liquid 56b and the atmosphere 82b is completed, and the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54a by the liquid 56a and the atmosphere 82a is completed, FIG. As shown in FIGS. 8 to 10, under the control of the controller 18, the preheated circuit board 200 is transferred from the preheat chamber 54b to the main heating chamber 54c, and the preheated circuit board 200 is transferred to the preheating chamber 54a. To the preheat chamber 54b.

この場合、図8に示すように、次に予備加熱室54aに搬入される回路基板200がコンベア14に配置されているので、実際には、コントローラ18の制御に起因してゲート44、46、48を上昇させて、外部及び予備加熱室54aと、予備加熱室54a及びプリヒート室54bと、プリヒート室54b及び本加熱室54cとをそれぞれ連通させると共に、コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66cを動作させる。   In this case, as shown in FIG. 8, since the circuit board 200 to be subsequently carried into the preheating chamber 54 a is disposed on the conveyor 14, the gates 44, 46, 48, the external and preheating chamber 54a, the preheating chamber 54a and the preheating chamber 54b, the preheating chamber 54b and the main heating chamber 54c are communicated with each other, and the conveyors 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c are operated.

これにより、前記プリヒートされた回路基板200は、コンベア66bからコンベア68b、64cを介してコンベア66cに搬送され、その金属ベース202が本加熱室54c(本加熱槽55c)の液体56cに浸漬される(図9及び図10参照)。また、前記予備加熱された回路基板200は、前述した予備加熱室54aからプリヒート室54bへの搬送動作と同様に、コンベア68a、64bを介してコンベア66bに搬送され、その金属ベース202が液体56bに浸漬される。さらに、コンベア14に配置された回路基板200は、前述した搬入動作と同様に、コンベア14、64aを介してコンベア66aに搬送され、その金属ベース202が液体56aに浸漬される。   As a result, the preheated circuit board 200 is transferred from the conveyor 66b to the conveyor 66c via the conveyors 68b and 64c, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56c in the main heating chamber 54c (main heating tank 55c). (See FIGS. 9 and 10). The preheated circuit board 200 is transported to the conveyor 66b via the conveyors 68a and 64b in the same manner as the transport operation from the preheating chamber 54a to the preheat chamber 54b, and the metal base 202 is liquid 56b. Soaked in. Further, the circuit board 200 disposed on the conveyor 14 is transported to the conveyor 66a via the conveyors 14 and 64a, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56a, as in the above-described carry-in operation.

そして、各回路基板200が液体56a、56b、56cにそれぞれ浸漬されると(図10参照)、コントローラ18の制御作用下に各コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66cは搬送動作を停止すると共に、ゲート44、46、48は下降して、予備加熱室54a、プリヒート室54b及び本加熱室54cはそれぞれ密閉状態となる。   When each circuit board 200 is immersed in the liquids 56a, 56b, and 56c (see FIG. 10), the conveyors 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c stops the conveying operation, and the gates 44, 46, and 48 are lowered, and the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, and the main heating chamber 54c are respectively sealed.

この場合、予備加熱室54aに搬入され且つ金属ベース202が液体56aに浸漬された回路基板200に対する処理(予備加熱)や、プリヒート室54bに搬入され且つ金属ベース202が液体56bに浸漬された回路基板200に対する処理(プリヒート)は、既に説明したので、ここでは、本加熱室54cの液体56cに金属ベース202が浸漬された回路基板200に対する処理について説明する。   In this case, processing (preheating) for the circuit board 200 carried into the preheating chamber 54a and the metal base 202 immersed in the liquid 56a, or a circuit carried into the preheating chamber 54b and the metal base 202 immersed in the liquid 56b. Since the processing (preheating) for the substrate 200 has already been described, here, the processing for the circuit substrate 200 in which the metal base 202 is immersed in the liquid 56c of the main heating chamber 54c will be described.

密閉状態となった本加熱室54c内において、温風炉74cは、ヒータ70cにより加熱した気体をファン72cによって回路基板200に吹き付けることで、該回路基板200を上方から加熱すると共に、雰囲気82cを所定温度に調整する。   In the main heating chamber 54c in a sealed state, the hot air furnace 74c heats the circuit board 200 from above by blowing the gas heated by the heater 70c onto the circuit board 200 by the fan 72c, and also creates an atmosphere 82c. Adjust to temperature.

また、この回路基板200のうち、金属ベース202が、図6に示す本加熱槽55cでの加熱時間だけ液体56cに浸漬される。この場合、液体56cは、ポンプ60c及び加熱器62cにより所定温度に保持される。これにより、回路基板200は、液体56cによって雰囲気82c以外の方向から本加熱され、一方で、温風炉74cによって液体56c以外の方向から本加熱されて、本加熱室54c内の全方位から本加熱される。この結果、はんだペースト212は、図6に示すように、本加熱温度T2(本加熱温度T2の上限値T2uと下限値T2dとの間の温度範囲)で所定時間だけ本加熱される。   Further, in the circuit board 200, the metal base 202 is immersed in the liquid 56c for the heating time in the main heating tank 55c shown in FIG. In this case, the liquid 56c is maintained at a predetermined temperature by the pump 60c and the heater 62c. As a result, the circuit board 200 is heated by the liquid 56c from a direction other than the atmosphere 82c, and is heated by the hot air furnace 74c from a direction other than the liquid 56c, and is heated from all directions in the main heating chamber 54c. Is done. As a result, as shown in FIG. 6, the solder paste 212 is fully heated for a predetermined time at a main heating temperature T2 (temperature range between the upper limit value T2u and the lower limit value T2d of the main heating temperature T2).

この場合、前記本加熱温度T2は、はんだペースト212の溶融温度よりも高く且つ液体56a〜56dの沸点よりも低い温度である。従って、前記本加熱によって、はんだペースト212が加熱溶融され、この結果、電子部品208のリード214、216や電子部品210が回路パターン206に対してはんだ付けされる。   In this case, the main heating temperature T2 is higher than the melting temperature of the solder paste 212 and lower than the boiling points of the liquids 56a to 56d. Accordingly, the solder paste 212 is heated and melted by the main heating, and as a result, the leads 214 and 216 of the electronic component 208 and the electronic component 210 are soldered to the circuit pattern 206.

次に、液体56c及び雰囲気82cによる本加熱室54c内での回路基板200の本加熱(はんだ付け)が完了し、液体56b及び雰囲気82bによるプリヒート室54b内での回路基板200のプリヒートが完了し、且つ、液体56a及び雰囲気82aによる予備加熱室54a内での回路基板200の予備加熱が完了すると、図10〜図12に示すように、コントローラ18からの制御によって、前記本加熱後の回路基板200を本加熱室54cから冷却室54dに搬送し、前記プリヒート後の回路基板200をプリヒート室54bから本加熱室54cに搬送すると共に、前記予備加熱後の回路基板200を予備加熱室54aからプリヒート室54bに搬送する。   Next, the main heating (soldering) of the circuit board 200 in the main heating chamber 54c by the liquid 56c and the atmosphere 82c is completed, and the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54b by the liquid 56b and the atmosphere 82b is completed. When the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54a by the liquid 56a and the atmosphere 82a is completed, the circuit board after the main heating is controlled by the controller 18 as shown in FIGS. 200 is transferred from the main heating chamber 54c to the cooling chamber 54d, the preheated circuit board 200 is transferred from the preheat chamber 54b to the main heating chamber 54c, and the preheated circuit board 200 is preheated from the preheating chamber 54a. It is conveyed to the chamber 54b.

この場合、図10に示すように、次に予備加熱室54aに搬入される回路基板200がコンベア14に配置されているので、実際には、コントローラ18の制御に起因してゲート44〜50を上昇させて、外部及び予備加熱室54aと、予備加熱室54a及びプリヒート室54bと、プリヒート室54b及び本加熱室54cと、本加熱室54c及び冷却室54dとをそれぞれ連通させると共に、コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66c、68c、64d、66dを動作させる。   In this case, as shown in FIG. 10, the circuit board 200 to be subsequently loaded into the preheating chamber 54 a is disposed on the conveyor 14, so in practice the gates 44 to 50 are caused by the control of the controller 18. The external and preheating chamber 54a, the preheating chamber 54a and the preheating chamber 54b, the preheating chamber 54b and the main heating chamber 54c, the main heating chamber 54c and the cooling chamber 54d, and the conveyor 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c, 68c, 64d, 66d are operated.

これにより、前記本加熱された回路基板200は、コンベア66cからコンベア68c、64dを介してコンベア66dに搬送され、その金属ベース202が冷却室54d(冷却槽55d)の液体56dに浸漬される(図11及び図12参照)。また、前記プリヒートされた回路基板200は、前述したプリヒート室54bから本加熱室54cへの搬送動作と同様に、コンベア68b、64cを介してコンベア66cに搬送され、その金属ベース202が液体56cに浸漬される。さらに、前記予備加熱された回路基板200は、前述した予備加熱室54aからプリヒート室54bへの搬送動作と同様に、コンベア68a、64bを介してコンベア66bに搬送され、その金属ベース202が液体56bに浸漬される。さらにまた、コンベア14に配置された回路基板200は、前述した搬入動作と同様に、コンベア14、64aを介してコンベア66aに搬送され、その金属ベース202が液体56aに浸漬される。   As a result, the main heated circuit board 200 is transferred from the conveyor 66c to the conveyor 66d via the conveyors 68c and 64d, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56d in the cooling chamber 54d (cooling tank 55d) ( 11 and 12). The preheated circuit board 200 is transported to the conveyor 66c via the conveyors 68b and 64c in the same manner as the transport operation from the preheat chamber 54b to the main heating chamber 54c described above, and the metal base 202 is transferred to the liquid 56c. Soaked. Further, the preheated circuit board 200 is transferred to the conveyor 66b via the conveyors 68a and 64b in the same manner as the transfer operation from the preheating chamber 54a to the preheat chamber 54b, and the metal base 202 is transferred to the liquid 56b. Soaked in. Furthermore, the circuit board 200 disposed on the conveyor 14 is conveyed to the conveyor 66a via the conveyors 14 and 64a, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56a, as in the above-described carry-in operation.

そして、各回路基板200が液体56a〜56dにそれぞれ浸漬されると(図10参照)、コントローラ18の制御作用下に各コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66c、68c、64d、66dは搬送動作を停止し、ゲート44〜50が下降する。予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dはそれぞれ密閉状態となる。   When each circuit board 200 is immersed in each of the liquids 56a to 56d (see FIG. 10), each conveyor 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c, 68c, 64d and 66d stop the carrying operation, and the gates 44 to 50 are lowered. The preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main heating chamber 54c, and the cooling chamber 54d are sealed.

この場合、予備加熱室54aに搬入され且つ金属ベース202が液体56aに浸漬された回路基板200に対する処理(予備加熱)や、プリヒート室54bに搬送され且つ金属ベース202が液体56bに浸漬された回路基板200に対する処理(プリヒート)や、本加熱室54cに搬送され且つ金属ベース202が液体56cに浸漬された回路基板200に対する処理(本加熱)は、既に説明したので、ここでは、冷却室54dの液体56dに金属ベース202が浸漬された回路基板200に対する処理について説明する。   In this case, processing (preheating) on the circuit board 200 carried into the preheating chamber 54a and the metal base 202 immersed in the liquid 56a, or a circuit conveyed to the preheating chamber 54b and immersed in the liquid 56b. Since the processing (preheating) for the substrate 200 and the processing (main heating) for the circuit board 200 which is transported to the main heating chamber 54c and the metal base 202 is immersed in the liquid 56c have already been described, here, the processing in the cooling chamber 54d is performed. Processing for the circuit board 200 in which the metal base 202 is immersed in the liquid 56d will be described.

密閉状態となった冷却室54d内において、温風炉74dは、ヒータ70dにより加熱した気体をファン72dによって回路基板200に吹き付けることで、該回路基板200を上方から加熱すると共に、雰囲気82dを所定温度に調整する。   In the sealed cooling chamber 54d, the hot air furnace 74d blows the gas heated by the heater 70d onto the circuit board 200 by the fan 72d, thereby heating the circuit board 200 from above and setting the atmosphere 82d at a predetermined temperature. Adjust to.

また、この回路基板200のうち、金属ベース202が、図6に示す冷却槽55dでの加熱時間だけ液体56dに浸漬される。この場合、液体56dの温度は、ポンプ60d及び加熱器62dにより時間経過に伴って徐々に低下する。これにより、回路基板200は、液体56dによって雰囲気82d以外の方向から冷却され、一方で、温風炉74dによって液体56d以外の方向から冷却されて、冷却室54d内の全方位から冷却される。この結果、はんだペースト212は、図6に示すように、本加熱温度T2(本加熱温度T2の上限値T2uと下限値T2dとの間の温度範囲)から時間経過に伴って徐々に冷却する。これにより、はんだペースト212は凝固し、はんだ付けが完了するに至る。   Further, in the circuit board 200, the metal base 202 is immersed in the liquid 56d for the heating time in the cooling bath 55d shown in FIG. In this case, the temperature of the liquid 56d gradually decreases with the passage of time by the pump 60d and the heater 62d. Thereby, the circuit board 200 is cooled from the direction other than the atmosphere 82d by the liquid 56d, while being cooled from the direction other than the liquid 56d by the hot air furnace 74d and cooled from all directions in the cooling chamber 54d. As a result, as shown in FIG. 6, the solder paste 212 is gradually cooled with time from the main heating temperature T2 (temperature range between the upper limit value T2u and the lower limit value T2d of the main heating temperature T2). As a result, the solder paste 212 is solidified and the soldering is completed.

次に、液体56d及び雰囲気82dによる冷却室54d内での回路基板200の冷却が完了し、液体56c及び雰囲気82cによる本加熱室54c内での回路基板200の本加熱が完了し、液体56b及び雰囲気82bによるプリヒート室54b内での回路基板200のプリヒートが完了し、且つ、液体56a及び雰囲気82aによる予備加熱室54a内での回路基板200の予備加熱が完了すると、図12〜図14に示すように、コントローラ18からの制御によって、前記冷却後の回路基板200を冷却室54dからコンベア16により外部に搬出し、前記本加熱後の回路基板200を本加熱室54cから冷却室54dに搬送し、前記プリヒート後の回路基板200をプリヒート室54bから本加熱室54cに搬送すると共に、前記予備加熱後の回路基板200を予備加熱室54aからプリヒート室54bに搬送する。   Next, the cooling of the circuit board 200 in the cooling chamber 54d by the liquid 56d and the atmosphere 82d is completed, and the main heating of the circuit board 200 in the main heating chamber 54c by the liquid 56c and the atmosphere 82c is completed. When the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54b by the atmosphere 82b is completed, and the preheating of the circuit board 200 in the preheating chamber 54a by the liquid 56a and the atmosphere 82a is completed, FIGS. As described above, under the control of the controller 18, the cooled circuit board 200 is carried out from the cooling chamber 54d to the outside by the conveyor 16, and the circuit board 200 after the main heating is transferred from the main heating chamber 54c to the cooling chamber 54d. The preheated circuit board 200 is transported from the preheat chamber 54b to the main heating chamber 54c, and the spare Transporting the circuit board 200 after the heat from the preheating chamber 54a to preheat chamber 54b.

この場合、図12に示すように、次に予備加熱室54aに搬入される回路基板200がコンベア14に配置されているので、実際には、コントローラ18の制御に起因してゲート44〜52を上昇させて、外部及び予備加熱室54aと、予備加熱室54a及びプリヒート室54bと、プリヒート室54b及び本加熱室54cと、本加熱室54c及び冷却室54dと、冷却室54d及び外部とをそれぞれ連通させると共に、コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66c、68c、64d、66d、68d、16を動作させる。   In this case, as shown in FIG. 12, since the circuit board 200 to be subsequently carried into the preheating chamber 54 a is disposed on the conveyor 14, in practice, the gates 44 to 52 are caused by the control of the controller 18. The preheating chamber 54a and the preheating chamber 54b, the preheating chamber 54b and the main heating chamber 54c, the main heating chamber 54c and the cooling chamber 54d, and the cooling chamber 54d and the outside are respectively raised. At the same time, the conveyors 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c, 68c, 64d, 66d, 68d, 16 are operated.

これにより、前記冷却された回路基板200は、コンベア66dからコンベア68d、16を介して外部に搬出される(図13及び図14参照)。また、前記本加熱された回路基板200は、前述した本加熱室54cから冷却室54dへの搬送動作と同様に、コンベア68c、64dを介してコンベア66dに搬送され、その金属ベース202が冷却室54dの液体56dに浸漬される。さらに、前記プリヒートされた回路基板200は、前述したプリヒート室54bから本加熱室54cへの搬送動作と同様に、コンベア68b、64cを介してコンベア66cに搬送され、その金属ベース202が液体56cに浸漬される。さらにまた、前記予備加熱された回路基板200は、前述した予備加熱室54aからプリヒート室54bへの搬送動作と同様に、コンベア68a、64bを介してコンベア66bに搬送され、その金属ベース202が液体56bに浸漬される。さらにまた、コンベア14に配置された回路基板200は、前述した搬入動作と同様に、コンベア14、64aを介してコンベア66aに搬送され、その金属ベース202が液体56aに浸漬される。   As a result, the cooled circuit board 200 is carried out of the conveyor 66d via the conveyors 68d and 16 (see FIGS. 13 and 14). Similarly to the transfer operation from the main heating chamber 54c to the cooling chamber 54d described above, the circuit board 200 that has been subjected to the main heating is transferred to the conveyor 66d via the conveyors 68c and 64d, and the metal base 202 is transferred to the cooling chamber. It is immersed in the liquid 56d of 54d. Further, the preheated circuit board 200 is transferred to the conveyor 66c via the conveyors 68b and 64c in the same manner as the transfer operation from the preheat chamber 54b to the main heating chamber 54c described above, and the metal base 202 is transferred to the liquid 56c. Soaked. Further, the preheated circuit board 200 is transferred to the conveyor 66b via the conveyors 68a and 64b, as in the transfer operation from the preheating chamber 54a to the preheat chamber 54b, and the metal base 202 is liquid. It is immersed in 56b. Furthermore, the circuit board 200 disposed on the conveyor 14 is conveyed to the conveyor 66a via the conveyors 14 and 64a, and the metal base 202 is immersed in the liquid 56a, as in the above-described carry-in operation.

そして、外部に搬出された前記はんだ付け処理後の回路基板200以外の各回路基板200が液体56a〜56dにそれぞれ浸漬されると(図14参照)、コントローラ18の制御作用下に各コンベア14、64a、66a、68a、64b、66b、68b、64c、66c、68c、64d、66d、68d、16は搬送動作を停止し、ゲート44〜52が下降する。この結果、予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dはそれぞれ密閉状態となる。この結果、予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dにおいて、液体56a〜56dに浸漬された回路基板200に対する上述した各処理が行われる。   And when each circuit board 200 other than the circuit board 200 after the soldering process carried out to the outside is immersed in the liquids 56a to 56d (see FIG. 14), each conveyor 14, 64a, 66a, 68a, 64b, 66b, 68b, 64c, 66c, 68c, 64d, 66d, 68d, 16 stop the carrying operation, and the gates 44 to 52 are lowered. As a result, the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main heating chamber 54c, and the cooling chamber 54d are sealed. As a result, in the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main heating chamber 54c, and the cooling chamber 54d, the above-described processes are performed on the circuit board 200 immersed in the liquids 56a to 56d.

以上説明したように、この実施形態に係る液体リフロー装置10は、加熱媒体としての液体56a〜56dを貯留する複数の槽55a〜55dがゲート44〜52により仕切られ、表面220と裏面222との間の肉厚が不均等な金属ベース202の表面220に回路パターン206が形成された回路基板200を液体56a〜56dで加熱することにより該回路基板200に対するはんだ付け処理を行う液体リフロー装置10である。   As described above, in the liquid reflow apparatus 10 according to this embodiment, the plurality of tanks 55a to 55d that store the liquids 56a to 56d as heating media are partitioned by the gates 44 to 52, and the front surface 220 and the back surface 222 are separated. In the liquid reflow apparatus 10 for performing the soldering process on the circuit board 200 by heating the circuit board 200 having the circuit pattern 206 formed on the surface 220 of the metal base 202 with uneven thickness between the liquids 56a to 56d. is there.

そして、液体リフロー装置10は、液体56aにより金属ベース202を予備加熱する予備加熱槽55aを有する予備加熱室54aと、液体56bにより金属ベース202をプリヒートするプリヒート槽55bを有するプリヒート室54bと、液体56cにより金属ベース202を本加熱する本加熱槽55cを有する本加熱室54cと、液体56dにより金属ベース202を冷却する冷却槽55dを有する冷却室54dとを備えている。   The liquid reflow apparatus 10 includes a preheating chamber 54a having a preheating tank 55a for preheating the metal base 202 with the liquid 56a, a preheating chamber 54b having a preheating tank 55b for preheating the metal base 202 with the liquid 56b, and a liquid. A main heating chamber 54c having a main heating tank 55c for main heating the metal base 202 by 56c and a cooling chamber 54d having a cooling tank 55d for cooling the metal base 202 by liquid 56d are provided.

この場合、各室54a〜54dは、室内の雰囲気82a〜82dの温度を調整するための温風炉74a〜74dと、該室54a〜54dと外部との間又は隣接する室54a〜54dの間を仕切るためのゲート44〜52とをそれぞれ備えている。また、各ゲート44〜52は、各槽55a〜55dの間を回路基板200が移動可能となるように、各室54a〜54dにおける雰囲気82a〜82dの部分を開口するように構成されている。さらに、各槽55a〜55dは、回路パターン206が液体56a〜56dの液面80a〜80dよりも上になるように金属ベース202を液体56a〜56dに浸漬する。   In this case, each of the chambers 54a to 54d is provided between the hot air furnaces 74a to 74d for adjusting the temperature of the indoor atmospheres 82a to 82d and between the chambers 54a to 54d and the outside or between the adjacent chambers 54a to 54d. Gates 44 to 52 for partitioning are provided. Moreover, each gate 44-52 is comprised so that the part of atmosphere 82a-82d in each chamber 54a-54d may be opened so that the circuit board 200 can move between each tank 55a-55d. Furthermore, each tank 55a-55d immerses the metal base 202 in the liquids 56a-56d so that the circuit pattern 206 is above the liquid levels 80a-80d of the liquids 56a-56d.

これにより、回路基板200のうち、複雑な形状の金属ベース202が液体56a〜56dに浸漬し、一方で、回路パターン206が雰囲気82a〜82dに配置される。この場合、金属ベース202が液体56a〜56dにより表面220(回路パターン206)側の方向以外の方位から加熱され、一方で、温風炉74a〜74dによる雰囲気82a〜82dの温度調整により、回路パターン206は、裏面222(金属ベース202)側の方向以外の方位から加熱される。これにより、回路基板200は、各室54a〜54d内において、全方位から加熱されることになる。   Thereby, in the circuit board 200, the metal base 202 having a complicated shape is immersed in the liquids 56a to 56d, while the circuit pattern 206 is arranged in the atmospheres 82a to 82d. In this case, the metal base 202 is heated by the liquids 56a to 56d from an orientation other than the direction on the surface 220 (circuit pattern 206) side, while the circuit pattern 206 is adjusted by adjusting the temperature of the atmospheres 82a to 82d by the hot air furnaces 74a to 74d. Is heated from an orientation other than the direction on the back surface 222 (metal base 202) side. As a result, the circuit board 200 is heated from all directions in each of the chambers 54a to 54d.

従って、この実施形態では、金属ベース202の裏面222側が複雑な形状であっても、回路基板200を確実に加熱することができるので、該回路基板200の形状に関わりなく、回路基板200に対するはんだ付け処理を効率よく行うことが可能となると共に、回路基板200の生産性を高めることができ、この結果、該回路基板200を大量生産する際のはんだ付け処理に適用することも可能となる。   Therefore, in this embodiment, even if the back surface 222 side of the metal base 202 has a complicated shape, the circuit board 200 can be surely heated. Therefore, regardless of the shape of the circuit board 200, the solder for the circuit board 200 can be used. The attaching process can be performed efficiently and the productivity of the circuit board 200 can be increased. As a result, the circuit board 200 can be applied to a soldering process in mass production.

また、全方位から回路基板200を加熱することができるので、熱容量の大きな金属ベースを有する回路基板や、より複雑な形状の金属ベースを有する回路基板に対するはんだ付け処理にも適用可能である。   Further, since the circuit board 200 can be heated from all directions, it can be applied to a soldering process for a circuit board having a metal base having a large heat capacity or a circuit board having a metal base having a more complicated shape.

さらに、各ゲート44〜52は、各室54a〜54dの雰囲気82a〜82dの部分のみ開口し、液体56a〜56dの部分で開口しないように構成されているので、特許文献1と比較して、各槽55a〜55dにおける液体56a〜56dの温度調整(温度管理)が容易となる。すなわち、特許文献1の液体リフロー装置250のように、隣接する槽間で液体を混合する必要がないので、各槽55a〜55d毎に液体56a〜56dの温度管理を行うことができる。これにより、はんだ付け処理における回路基板200の温度プロファイルを容易に作成することが可能となり、該はんだ付け処理に対する信頼性を確保することができる。また、図15Bのような治具240を用いることなく回路基板200を加熱することが可能となるので、はんだ付け処理における工数を削減することができる。   Furthermore, each of the gates 44 to 52 is configured so as to open only the portions of the atmospheres 82a to 82d of the chambers 54a to 54d and not open at the portions of the liquids 56a to 56d. Temperature adjustment (temperature management) of the liquids 56a to 56d in the tanks 55a to 55d is facilitated. That is, unlike the liquid reflow device 250 of Patent Document 1, it is not necessary to mix liquid between adjacent tanks, so that the temperature management of the liquids 56a to 56d can be performed for each of the tanks 55a to 55d. Thereby, the temperature profile of the circuit board 200 in the soldering process can be easily created, and the reliability for the soldering process can be ensured. In addition, since the circuit board 200 can be heated without using the jig 240 as shown in FIG. 15B, the number of steps in the soldering process can be reduced.

さらにまた、雰囲気82a〜82dの温度を調整可能とすることで、回路パターン206側からの回路基板200の加熱を促進することが可能になると共に、液体56a〜56dに浸漬している回路基板200を引き上げた際に、該回路基板200の温度が急激に低下することを確実に防止することができる。また、液体56a〜56dと雰囲気82a〜82dとの温度差に起因した該液体56a〜56dの温度低下を抑制することも可能となる。   Furthermore, by making it possible to adjust the temperature of the atmospheres 82a to 82d, it is possible to promote heating of the circuit board 200 from the circuit pattern 206 side, and the circuit board 200 immersed in the liquids 56a to 56d. It is possible to reliably prevent the temperature of the circuit board 200 from drastically decreasing when the temperature is raised. In addition, it is possible to suppress the temperature drop of the liquids 56a to 56d caused by the temperature difference between the liquids 56a to 56d and the atmospheres 82a to 82d.

また、金属ベース202がヒートシンク226として機能し、該ヒートシンク226は、電子部品208、210が実装される表面220(実装部)側と、電子部品208、210が実装されない裏面222側の冷却フィン224(非実装部)とに分けられ、この表面220に絶縁膜204が形成され、該絶縁膜204上に回路パターン206が形成され、絶縁膜204及び回路パターン206により回路基板200に電子部品208、210を搭載するための電子部品搭載部205が構成され、各槽55a〜55dは、絶縁膜204とヒートシンク226の表面220との境界が液面80a〜80dに位置するようにヒートシンク226を液体56a〜56dに浸漬してもよい。   The metal base 202 functions as a heat sink 226. The heat sink 226 includes cooling fins 224 on the front surface 220 (mounting portion) side on which the electronic components 208 and 210 are mounted and on the back surface 222 side on which the electronic components 208 and 210 are not mounted. (Non-mounting portion), an insulating film 204 is formed on the surface 220, a circuit pattern 206 is formed on the insulating film 204, and the electronic component 208 and the circuit board 200 are formed on the insulating film 204 and the circuit pattern 206. An electronic component mounting unit 205 for mounting 210 is configured, and each of the tanks 55a to 55d is configured to transfer the heat sink 226 to the liquid 56a so that the boundary between the insulating film 204 and the surface 220 of the heat sink 226 is located at the liquid level 80a to 80d. It may be immersed in -56d.

これにより、ヒートシンク226及び雰囲気82a〜82dを介して、電子部品208、210が搭載された回路基板200を確実に且つ効率よく加熱することができる。また、電子部品搭載部205が液体56a〜56dに浸漬しないので、回路パターン206及び電子部品208、210に液体56a〜56dが付着することを確実に防止することができる。   Thus, the circuit board 200 on which the electronic components 208 and 210 are mounted can be reliably and efficiently heated via the heat sink 226 and the atmospheres 82a to 82d. Moreover, since the electronic component mounting part 205 is not immersed in the liquids 56a to 56d, the liquids 56a to 56d can be reliably prevented from adhering to the circuit pattern 206 and the electronic components 208 and 210.

また、液体リフロー装置10では、予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dの順に配置され、外部から予備加熱槽55aに回路基板200を搬送し、各槽55a〜55d及び該各槽55a〜55d間に回路基板200を搬送し、且つ、冷却槽55dから外部にはんだ付け処理後の回路基板200を搬送するコンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dをさらに備えている。   Further, in the liquid reflow apparatus 10, the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main heating chamber 54c, and the cooling chamber 54d are arranged in this order, and the circuit board 200 is conveyed from the outside to the preheating tank 55a, and each of the tanks 55a to 55d and Conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, 68a to 68d for transporting the circuit board 200 between the tanks 55a to 55d and transporting the circuit board 200 after the soldering process from the cooling tank 55d to the outside. Is further provided.

このように、予備加熱室54a、プリヒート室54b、本加熱室54c及び冷却室54dを直列的(バッチ式)に配置して、コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dにより回路基板200を順次搬送することで、はんだ付け処理を効率よく行うことが可能となり、回路基板200の大量生産化を容易に実現することができる。   In this way, the preheating chamber 54a, the preheating chamber 54b, the main heating chamber 54c, and the cooling chamber 54d are arranged in series (batch type), and are conveyed by the conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, and 68a to 68d. By sequentially transporting the circuit boards 200, the soldering process can be performed efficiently, and mass production of the circuit boards 200 can be easily realized.

この場合、コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dは、回路パターン206が液体56a〜56dの液面80a〜80dよりも上になるように回路基板200を搬送すれば、搬送中に電子部品搭載部205が液体56a〜56dに浸漬することがないので、回路パターン206及び電子部品208、210に液体56a〜56dが付着することを確実に防止することができる。   In this case, if the conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, 68a to 68d convey the circuit board 200 so that the circuit pattern 206 is above the liquid levels 80a to 80d of the liquids 56a to 56d, Since the electronic component mounting unit 205 is not immersed in the liquids 56a to 56d during conveyance, it is possible to reliably prevent the liquids 56a to 56d from adhering to the circuit pattern 206 and the electronic components 208 and 210.

その際、コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68d上に回路基板200を位置決めするためのピン76を所定間隔で設けることにより、はんだ付け処理を精度よく行うことが可能となり、はんだ付け処理に対する信頼性がさらに向上すると共に、該はんだ付け処理後の回路基板200の品質を一層向上することができる。   At that time, by providing pins 76 for positioning the circuit board 200 at predetermined intervals on the conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, and 68a to 68d, the soldering process can be performed with high accuracy. Further, the reliability of the soldering process can be further improved, and the quality of the circuit board 200 after the soldering process can be further improved.

また、各温風炉74a〜74dは、回路基板200の大きさに応じて雰囲気82a〜82dの温度を調整してもよい。これにより、熱容量の大きな金属ベースを備える回路基板や、小型の回路基板に対するはんだ付け処理にも対応可能な液体リフロー装置を提供することが可能となる。   Moreover, each warm air furnace 74a-74d may adjust the temperature of atmosphere 82a-82d according to the magnitude | size of the circuit board 200. FIG. As a result, it is possible to provide a liquid reflow apparatus that can cope with a circuit board having a metal base having a large heat capacity and a soldering process for a small circuit board.

上述した実施形態では、コンベア14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68dにより回路基板200を搬送しているが、この構成に代えて、ロボットアームにより回路基板200を搬送しても、上述した効果が得られる。   In the embodiment described above, the circuit board 200 is conveyed by the conveyors 14, 16, 64a to 64d, 66a to 66d, and 68a to 68d. However, instead of this configuration, the circuit board 200 may be conveyed by a robot arm. The effects described above can be obtained.

また、この実施形態では、ヒートシンク226の裏面222側に均一に冷却フィン224が形成されている場合について説明したが、電子部品208、210の実装状態(例えば、実装密度の大小)に応じて冷却フィン224が不均一又は局部的に形成された回路基板200に対しても適用可能である。すなわち、この実施形態では、表面220側に電子部品208、210が搭載され、一方で、裏面222側に冷却フィン224が形成されている回路基板200であれば、いかなる形状のヒートシンク226(冷却フィン224)であっても、液体リフロー装置10によるはんだ付け処理が可能である。   In this embodiment, the case where the cooling fins 224 are uniformly formed on the back surface 222 side of the heat sink 226 has been described. However, the cooling is performed according to the mounting state (for example, the mounting density) of the electronic components 208 and 210. The present invention can also be applied to the circuit board 200 in which the fins 224 are unevenly or locally formed. That is, in this embodiment, any shape of the heat sink 226 (cooling fins) can be used as long as the circuit board 200 has the electronic components 208 and 210 mounted on the front surface 220 side and the cooling fins 224 formed on the back surface 222 side. 224), the soldering process by the liquid reflow apparatus 10 is possible.

さらに、ヒートシンク226の裏面222側に一方向に沿って冷却フィン224が形成されている場合に、X2方向に回路基板200を搬送する際、回路基板200の搬送方向(X2方向)と、冷却フィン224の形成方向(長手方向)とを略一致させると、各冷却フィン224間を液体56a〜56dがスムーズに流れるので、回路基板200を均一に且つ効率よく加熱することができる。すなわち、前記搬送方向と、冷却フィン224の形成方向(回路基板200の向き)との関係によっては、液体56a〜56dの流れる方向が変わって回路基板200の加熱温度が変化するので、冷却フィン224の形成方向に応じて、前記搬送方向に対する回路基板200の向きを調整することで、より効果的な加熱処理を実現することが可能となる。   Further, when the cooling fin 224 is formed along one direction on the back surface 222 side of the heat sink 226, when the circuit board 200 is transported in the X2 direction, the transport direction (X2 direction) of the circuit board 200 and the cooling fin When the formation direction (longitudinal direction) of 224 is substantially matched, the liquids 56a to 56d flow smoothly between the cooling fins 224, so that the circuit board 200 can be heated uniformly and efficiently. That is, depending on the relationship between the transport direction and the direction in which the cooling fins 224 are formed (the direction of the circuit board 200), the flow direction of the liquids 56a to 56d changes and the heating temperature of the circuit board 200 changes. By adjusting the direction of the circuit board 200 with respect to the transport direction in accordance with the forming direction, more effective heat treatment can be realized.

さらにまた、この実施形態では、金属ベース202がヒートシンク226として機能し、電子部品208、210の搭載されない裏面222側の非実装部が冷却フィン224である場合について説明したが、金属ベース202がモータハウジング(の一部)であり、且つ、裏面222側の形状を図示しないモータとの直結を想定して凹凸形状に形成した場合(例えば、特開2004−319734号公報参照)において、前記凹凸形状の箇所を非実装部としても、この実施形態の効果が容易に得られる。すなわち、この実施形態に係る液体リフロー装置10は、ヒートシンク226以外の金属ベース202にも適用可能である。   Furthermore, in this embodiment, the case where the metal base 202 functions as the heat sink 226 and the non-mounting portion on the back surface 222 side where the electronic components 208 and 210 are not mounted is the cooling fin 224 is described. In the case where the shape on the back surface 222 side is formed in a concavo-convex shape assuming a direct connection with a motor (not shown) (see, for example, JP-A-2004-319734), the concavo-convex shape Even if this part is a non-mounting part, the effect of this embodiment can be easily obtained. That is, the liquid reflow apparatus 10 according to this embodiment can be applied to the metal base 202 other than the heat sink 226.

なお、この発明は、上述の実施形態に限らず、この明細書の記載内容に基づき、種々の構成を採り得ることは勿論である。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it is needless to say that various configurations can be adopted based on the content described in this specification.

この実施形態に係る液体リフロー装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the liquid reflow apparatus which concerns on this embodiment. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体に金属ベースが浸漬された回路基板を説明するための要部構成図である。It is a principal part block diagram for demonstrating the circuit board by which the metal base was immersed in the liquid. 回路基板の温度プロファイルを説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the temperature profile of a circuit board. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 液体リフロー装置の動作を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating operation | movement of a liquid reflow apparatus. 図15A及び図15Bは、回路基板をホットプレートで直接加熱してはんだ付け処理を行うリフロー方式の説明図である。15A and 15B are explanatory diagrams of a reflow method in which a circuit board is directly heated by a hot plate to perform a soldering process. 特許文献1の液体リフロー装置を説明するための要部構成図である。It is a principal part block diagram for demonstrating the liquid reflow apparatus of patent document 1. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10…液体リフロー装置 12…リフロー炉
14、16、64a〜64d、66a〜66d、68a〜68d…コンベア
44〜52…ゲート 54a…予備加熱室
54b…プリヒート室 54c…本加熱室
54d…冷却室 55a…予備加熱槽
55b…プリヒート槽 55c…本加熱槽
55d…冷却槽 56a〜56d…液体
74a〜74d…温風炉 76…ピン
80a〜80d…液面 82a〜82d…雰囲気
200…回路基板 202…金属ベース
204…絶縁膜 205…電子部品搭載部
206…回路パターン 208、210…電子部品
212…はんだペースト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Liquid reflow apparatus 12 ... Reflow furnace 14, 16, 64a-64d, 66a-66d, 68a-68d ... Conveyor 44-52 ... Gate 54a ... Preheating chamber 54b ... Preheating chamber 54c ... Main heating chamber 54d ... Cooling chamber 55a ... Preheating tank 55b ... Preheating tank 55c ... Main heating tank 55d ... Cooling tanks 56a to 56d ... Liquids 74a to 74d ... Hot air furnace 76 ... Pins 80a to 80d ... Liquid level 82a to 82d ... Atmosphere 200 ... Circuit board 202 ... Metal base 204 ... Insulating film 205 ... Electronic component mounting part 206 ... Circuit pattern 208, 210 ... Electronic component 212 ... Solder paste

Claims (4)

加熱媒体としての液体を貯留する複数の仕切り槽がゲートにより仕切られ、表面と裏面との間の肉厚が不均等な金属ベースの前記表面に回路パターンが形成された回路基板を前記液体で加熱することにより該回路基板に対するはんだ付け処理を行う液体リフロー装置であって、
前記液体により前記金属ベースを予備加熱する予備加熱槽を有する予備加熱室と、
前記液体により前記金属ベースをプリヒートするプリヒート槽を有するプリヒート室と、
前記液体により前記金属ベースを本加熱する本加熱槽を有する本加熱室と、
前記液体により前記金属ベースを冷却する冷却槽を有する冷却室と、
を備え、
前記金属ベースは、電子部品が実装される前記表面側の実装部と、該電子部品が実装されない前記裏面側の非実装部とに分けられ、
前記実装部としての前記表面に絶縁膜が形成され、該絶縁膜上に前記回路パターンが形成され、前記絶縁膜及び前記回路パターンにより前記回路基板に前記電子部品を搭載するための電子部品搭載部が構成され、
前記各室は、室内の雰囲気の温度を調整するための温風炉と、該室と外部との間又は隣接する室の間を仕切るための前記ゲートとをそれぞれ備え、
前記各ゲートは、前記複数の仕切り槽としての前記各槽の間を前記回路基板が移動可能となるように、前記各室における前記雰囲気の部分を開口するように構成され、
前記各槽は、前記絶縁膜と前記表面との境界が前記液体の液面に位置するように前記金属ベースを前記液体に浸漬する
ことを特徴とする液体リフロー装置。
A plurality of partition tanks that store liquid as a heating medium are partitioned by a gate, and a circuit board having a circuit pattern formed on the front surface of a metal base with uneven thickness between the front surface and the back surface is heated with the liquid. A liquid reflow apparatus for performing a soldering process on the circuit board by
A preheating chamber having a preheating tank for preheating the metal base with the liquid;
A preheating chamber having a preheating tank for preheating the metal base with the liquid;
A main heating chamber having a main heating tank for main heating the metal base with the liquid;
A cooling chamber having a cooling tank for cooling the metal base with the liquid;
With
The metal base is divided into a mounting portion on the front surface side where electronic components are mounted and a non-mounting portion on the back surface side where the electronic components are not mounted,
An electronic component mounting portion for forming an insulating film on the surface as the mounting portion, forming the circuit pattern on the insulating film, and mounting the electronic component on the circuit board by the insulating film and the circuit pattern Is configured,
Each of the chambers includes a hot air furnace for adjusting the temperature of the indoor atmosphere, and the gate for partitioning between the chamber and the outside or between adjacent chambers,
Each of the gates is configured to open a portion of the atmosphere in each of the chambers so that the circuit board can move between the tanks as the plurality of partition tanks.
Wherein each vessel has a liquid reflow and wherein the boundary between the insulating film and the surface immersing the metal base into the liquid so that to position the liquid surface of the liquid.
請求項記載の液体リフロー装置において、
前記予備加熱室、前記プリヒート室、前記本加熱室及び前記冷却室の順に配置され、
外部から前記予備加熱槽に前記回路基板を搬送し、前記各槽及び該各槽間に前記回路基板を搬送し、且つ、前記冷却槽から外部に前記はんだ付け処理後の前記回路基板を搬送する搬送手段をさらに備える
ことを特徴とする液体リフロー装置。
The liquid reflow device according to claim 1 .
The preheating chamber, the preheating chamber, the main heating chamber and the cooling chamber are arranged in this order,
The circuit board is transferred from the outside to the preheating tank, the circuit board is transferred between the tanks and the tanks, and the soldered circuit board is transferred from the cooling tank to the outside. A liquid reflow apparatus, further comprising a conveying unit.
請求項記載の液体リフロー装置において、
前記搬送手段は、前記回路パターンが前記液体の液面よりも上になるように前記回路基板を搬送する
ことを特徴とする液体リフロー装置。
The liquid reflow apparatus according to claim 2 .
The liquid reflow apparatus, wherein the transfer means transfers the circuit board so that the circuit pattern is above the liquid level of the liquid.
請求項1〜のいずれか1項に記載の液体リフロー装置において、
前記各温風炉は、前記回路基板の大きさに応じて前記雰囲気の温度を調整する
ことを特徴とする液体リフロー装置。
In the liquid reflow apparatus of any one of Claims 1-3 ,
Each said hot air furnace adjusts the temperature of the said atmosphere according to the magnitude | size of the said circuit board. The liquid reflow apparatus characterized by the above-mentioned.
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KR101298707B1 (en) * 2011-03-23 2013-08-21 주식회사 동화엔텍 Vacuum brazing furnace with block
CN102728919B (en) * 2012-07-03 2016-12-21 杨勇平 Eutectic machine and eutectic method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6110297A (en) * 1984-06-25 1986-01-17 三菱電機株式会社 Method of soldering circuit board
JPH06177529A (en) * 1992-12-07 1994-06-24 Hitachi Telecom Technol Ltd Soldering method of printed board
JPH06226440A (en) * 1993-02-05 1994-08-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Reflow soldering device
JPH0715120A (en) * 1993-06-25 1995-01-17 Matsushita Electric Works Ltd Reflow soldering method
JP2000114711A (en) * 1998-10-07 2000-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Reflow device and heating method for solder connection
DE60042983D1 (en) * 2000-12-21 2009-10-29 Fujitsu Ltd DISPENSING LUBRICATING DEVICE AND MELTING SOLDERING PROCESS
JP2004025274A (en) * 2002-06-27 2004-01-29 Aisin Aw Co Ltd Heating furnace
JP2004286713A (en) * 2003-03-25 2004-10-14 Sony Corp Reflow heating testing device and reflow heating testing method
JP2005197688A (en) * 2003-12-29 2005-07-21 Siemens Ag Electronic unit

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