JP5049896B2 - き裂進展試験方法及び装置 - Google Patents
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Description
(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態を図1により説明する。
特許文献1に記載の試験方法と同様、片側にき裂2を形成した均一な板厚の帯板からなる平板状の試験片1を用いる。試験片1は試験槽8に封入された試験環境中に配置される。試験環境を実機と同じ環境とすることが好ましいため、試験槽8には試験液として高温高圧水を封入する。
試験中にき裂の長さを測定する。き裂の長さの測定は電位差法に行ってもよいし、予め、試験環境と同じ温度の大気中において試験片の端部に一定の変位を付与したときのき裂長さと荷重の関係を取得しておき、その関係に基づき、試験中に測定した荷重から、時々刻々変化するき裂長さを間接的に求めるようにしてもよい。
本発明の第2の実施形態を図2により説明する。
試験片1及び試験槽8については、第1の実施形態と同じである。
第1の実施形態と同様、試験片1の上端は天板6に固定する。試験片1の下端は充分に剛性の高い固定ブロック10に固定し、さらに固定ブロック10は試験槽8を貫通して、クロスヘッド11に固定する。固定ブロック10が試験槽8を貫通する部分にシール部材9を設ける。シール部材9はOリングでもよいし、ベローズでもよい。
また、試験中にき裂の長さを測定するが、き裂の長さの測定法は第1の実施形態で説明したとおりである。
本発明の第3の実施形態を図3により説明する。
全く同じ寸法の平板状の試験片1を二体準備する。夫々の試験片1、1には片側にき裂2、2を形成する。き裂は全く同じ長さあるいはほぼ同じ長さであることが好ましい。図3に示すように、二体の試験片1、1は互いのき裂2、2の始点が対向するように対称配置となるよう、それぞれの一端を天板6に固定する。なお、図3に示すように試験体1、1の天板6への固定はつかみ具5を介してもよいし、直接固定してもよい。それぞれの試験体1、1の他端を共通の厚板ブロック15からなる治具に固定し、厚板ブロック15を中央の対称軸上でプルロッド7に固定する。
試験中、試験片1、1の下端に付与した強制変位4を一定に保持してき裂進展試験を行う。このとき、振幅が一定の繰返し変位を与えるようにしてもよい。また、試験中のき裂の測定法は電位差法で行うとよい。
Claims (6)
- 片側にき裂を形成した平板状の試験片のき裂進展試験方法において、片側にき裂を形成した同じ寸法の2体の試験片の一端を、それぞれのき裂を対向させて天板に固定するとともに、前記2体の試験片の他端を同一の治具に固定し、前記治具を下降させ、前記2体の試験片に一定の変位を付与することにより、応力拡大係数を一定に維持して前記2体の試験片のき裂を進展させることを特徴とするき裂進展試験方法。
- 請求項1記載のき裂進展試験方法において、予め、試験温度と同一温度の大気中において、前記試験片の端部に一定の変位を付与したときのき裂長さと荷重の関係を取得しておき、この関係に基づき試験中に測定された荷重からき裂長さを間接的に求めることを特徴とするき裂進展試験方法。
- 請求項1又は2記載のき裂進展試験方法において、前記試験片の他端部の変位を測定し、変位信号をフィードバックして前記試験片に加えられる変位を一定に維持するよう制御することを特徴とするき裂進展試験方法。
- 片側にき裂を形成した平板状の試験片のき裂進展試験装置において、片側にき裂を形成した同じ寸法の2体の試験片と、前記2体の試験片のき裂が対向するように配置し、その2体の試験片の一端を固定する天板と、前記2体の試験片の他端を固定する治具と、前記治具に固定され前記治具を下方に移動させる手段とを備え、前記2体の試験片に一定の変位を付与することにより、応力拡大係数を一定に維持して前記2体の試験片のき裂を進展させることを特徴とするき裂進展試験装置。
- 請求項4記載のき裂進展試験装置において、前記試験片の他端部の変位を測定する手段と、前記測定手段が測定した変位信号をボールネジ回転手段にフィードバックして前記試験片に加えられる変位を一定に維持するように制御する制御手段とを有することを特徴とするき裂進展試験装置。
- 請求項4又は5記載のき裂進展試験装置において、内部に封入された高温高圧水中に前記試験片を配置する試験槽を備えたことを特徴とするき裂進展試験装置。
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