JP5036654B2 - Semiconductor chip compression molding method - Google Patents

Semiconductor chip compression molding method Download PDF

Info

Publication number
JP5036654B2
JP5036654B2 JP2008188273A JP2008188273A JP5036654B2 JP 5036654 B2 JP5036654 B2 JP 5036654B2 JP 2008188273 A JP2008188273 A JP 2008188273A JP 2008188273 A JP2008188273 A JP 2008188273A JP 5036654 B2 JP5036654 B2 JP 5036654B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
mold
lower mold
semiconductor chip
release film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008188273A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010027890A (en
Inventor
洋平 大西
一輝 川窪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Towa Corp filed Critical Towa Corp
Priority to JP2008188273A priority Critical patent/JP5036654B2/en
Publication of JP2010027890A publication Critical patent/JP2010027890A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5036654B2 publication Critical patent/JP5036654B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

本発明は、基板に装着したIC等の半導体チップを樹脂材料にて圧縮成形(樹脂封止成形)する半導体チップの圧縮成形方法及び金型の改良に関する。   The present invention relates to a semiconductor chip compression molding method in which a semiconductor chip such as an IC mounted on a substrate is compression molded (resin-sealed molding) with a resin material, and an improvement of a mold.

従来から、コンプレッションモールド法を用いて、基板に装着した半導体チップを圧縮成形することが行われているが、この方法は、次のようにして行われている。   Conventionally, a semiconductor chip mounted on a substrate is compression-molded using a compression molding method. This method is performed as follows.

即ち、半導体チップの圧縮成形用金型(上型、下型)を用いて、まず、上型の所要位置(基板セット部)に半導体チップを装着した基板を基板供給機構にて供給セットすると共に、離型フィルムを被覆した下型キャビティ内に樹脂材料を樹脂材料供給機構にて供給して加熱溶融化し、金型を型締めするようにしている。
このとき、基板に装着した半導体チップを下型キャビティ内の加熱溶融化された樹脂材料(溶融樹脂)内に浸漬することができる。
従って、次に、下型キャビティの底面に設けられたキャビティ底面部材を上動することにより、下型キャビティ内の樹脂に所要の樹脂圧を加えることができる。
硬化に必要な所要時間の経過後、金型を型開きすることにより、基板に装着した半導体チップをキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に圧縮成形(樹脂封止成形)することができる。
That is, using a semiconductor chip compression mold (upper mold, lower mold), first, a substrate with a semiconductor chip mounted on a required position (substrate set portion) of the upper mold is supplied and set by a substrate supply mechanism. A resin material is supplied into a lower mold cavity covered with a release film by a resin material supply mechanism and heated and melted, and the mold is clamped.
At this time, the semiconductor chip mounted on the substrate can be immersed in a heat-melted resin material (molten resin) in the lower mold cavity.
Therefore, next, the required resin pressure can be applied to the resin in the lower mold cavity by moving up the cavity bottom surface member provided on the bottom surface of the lower mold cavity.
After the elapse of the time necessary for curing, the mold is opened to compress the semiconductor chip mounted on the substrate into a resin molded body corresponding to the shape of the cavity (resin sealing molding).

なお、前記した上型と下型とから成る半導体チップの圧縮成形用金型に代えて、上型と下型と中間型とから成る半導体チップの圧縮成形用金型を用いる場合がある。
この場合、例えば、離型フィルムを下型側と中間型とで挟持し、下型キャビティ内に離型フィルムを被覆させることになる。
また、金型の型締時に、少なくとも、下型キャビティ内を外気遮断状態にして外気遮断空間部を形成すると共に、外気遮断空間部から外部に空気を強制的に吸引排出することにより、下型キャビティ内を所要の真空度に設定することができるように構成することがある。
In some cases, instead of the above-described mold for semiconductor chip compression molding comprising an upper mold and a lower mold, a semiconductor chip compression molding mold comprising an upper mold, a lower mold and an intermediate mold may be used.
In this case, for example, the release film is sandwiched between the lower mold side and the intermediate mold, and the release film is covered in the lower mold cavity.
Further, at the time of mold clamping, at least the inside of the lower mold cavity is shut off from outside air to form an outside air blocking space portion, and air is forcibly sucked and discharged to the outside from the outside air blocking space portion. There is a case where the inside of the cavity can be set to a required degree of vacuum.

特開2007−194287号JP 2007-194287 A

また、近年、例えば、半導体チップの圧縮成形用金型を用いて、透明性を有する樹脂材料にて基板に装着したLED(Light Emitting Diode)チップを圧縮成形してLED成形品を形成することが行われている。
この場合、下型キャビティを、大キャビティと、大キャビティ底面に設けた所要複数個の小キャビティとで構成すると共に、金型の型締時に、小キャビティの位置とLEDチップ(半導体チップ)の位置とを合致させるように構成されている。
更に、小キャビティとLEDチップとは両方とも極めて小さいため、上型の所要位置にLEDチップを装着した基板を基板供給機構にて供給セットする場合、位置ずれの許容範囲が極めて狭くなるので、基板の位置決めを効率良く(正確に)行うことが求められている。
Further, in recent years, for example, an LED (Light Emitting Diode) chip mounted on a substrate with a resin material having transparency can be compression-molded to form an LED molded product using a semiconductor chip compression-molding die. Has been done.
In this case, the lower mold cavity is composed of a large cavity and a plurality of required small cavities provided on the bottom surface of the large cavity, and at the time of mold clamping, the position of the small cavity and the position of the LED chip (semiconductor chip) Are configured to match.
Furthermore, since both the small cavity and the LED chip are extremely small, when a substrate with the LED chip mounted on the required position of the upper die is set by the substrate supply mechanism, the allowable range of displacement is extremely narrow. Is required to be efficiently (accurately) positioned.

しかしながら、半導体チップの圧縮成形用金型における上型の所要位置に半導体チップ(例えば、LEDチップ)を装着した基板を基板供給機構にて供給セットする場合、基板供給機構において、基板供給機構に載置される基板の位置が僅かではあるが、ずれ易いのが通例である。
従って、金型内(上型の下方位置)において、基板供給機構から基板を上動させることにより、上型の所要位置に基板を供給セットした場合、上型の所要位置に基板を効率良く位置決めして(正確に)供給セットすることができないと云う弊害がある。
なお、特に、上型の所要位置に基板を吸着して供給セットする場合、基板が吸引される空気(流体)にて揺れ易く、上型の所要位置に基板を効率良く位置決めして供給セットすることができない。
However, when a substrate having a semiconductor chip (for example, an LED chip) mounted on a required position of the upper die of a semiconductor chip compression molding die is supplied and set by the substrate supply mechanism, the substrate supply mechanism is mounted on the substrate supply mechanism. Although the position of the substrate to be placed is slight, it is usually easy to shift.
Therefore, when the substrate is supplied and set to the required position of the upper mold by moving the substrate from the substrate supply mechanism in the mold (lower position of the upper mold), the substrate is efficiently positioned at the required position of the upper mold. Thus, there is an adverse effect that the supply cannot be set (exactly).
In particular, when the substrate is sucked and set at the required position of the upper mold, the substrate is easily shaken by the air (fluid) sucked, and the substrate is efficiently positioned and set at the required position of the upper mold. I can't.

従って、本発明は、金型の所要位置に半導体チップを装着した基板を効率良く位置決めして供給セットすることができる半導体チップの圧縮成形方法及びその金型を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor chip compression molding method and its mold capable of efficiently positioning and setting a substrate on which a semiconductor chip is mounted at a required position of the mold.

前記技術的課題を解決するための本発明に係る半導体チップの圧縮成形方法は、上型と下型と前記した下型を遊嵌する貫通孔を有する中間型とから成る半導体チップの圧縮成形用金型を用いて、上型の基板セット部に半導体チップを装着した基板を供給セットし、且つ、前記した下型と中間型とで離型フィルムを挟持すると共に、前記した挟持された離型フィルムを被覆した下型キャビティ内に樹脂材料を供給セットして前記した金型を型締めすることにより、前記したキャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する半導体チップの圧縮成形方法であって、前記した中間型と前記した下型に設けた挟持部材とで離型フィルムを挟持する工程と、前記した下型の型面に設けた基板用の位置決めピンにて前記した挟持された離型フィルムに穴を開けて貫通させる工程と、前記した下型の型面に上下動自在に設けた可動支受ピンと下型キャビティとに前記した挟持された離型フィルムを被覆させる工程と、前記した離型フィルムを被覆したキャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化する工程と、前記した位置決めピンを基板に設けた位置決め孔に貫通させる工程と、前記した離型フィルムを介して前記した可動支受ピンで基板を支受することにより、前記した基板と前記した下型面との間に所要の間隔を設定する工程と、前記した金型を型締めする工程と、前記金型の型締時に、前記した上型の基板セット部に基板を供給セットする工程と、前記金型の型締時に、前記した可動支受ピンを基板で下方向に押圧することにより、前記した可動支受ピンを前記した下型内に収容する工程と、前記した下型キャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する工程とを備えたことを特徴とする。 The semiconductor chip compression molding method according to the present invention for solving the technical problem is for compression molding of a semiconductor chip comprising an upper mold, a lower mold, and an intermediate mold having a through hole for loosely fitting the lower mold. A mold is used to supply and set a substrate on which a semiconductor chip is mounted on an upper substrate set portion, and the release film is sandwiched between the lower mold and the intermediate mold, and the clamped mold release is performed as described above. A semiconductor chip mounted on a substrate in a resin molded body corresponding to the shape of the cavity in the cavity by supplying and setting a resin material in the lower mold cavity coated with the film and clamping the mold. A method of compression molding a semiconductor chip, wherein a mold release film is sandwiched between the intermediate mold and the clamping member provided on the lower mold, and a base provided on the mold surface of the lower mold. A step of making a hole in the released release film and penetrating it with a positioning pin for use, and a holding of the lower mold cavity with a movable support pin provided on the lower mold surface so as to be movable up and down A step of covering the released release film, a step of supplying a resin material into the cavity covered with the release film and heating and melting, and a step of passing the positioning pins through the positioning holes provided in the substrate And a step of setting a required interval between the substrate and the lower mold surface by supporting the substrate with the movable support pin through the release film, and the gold A step of clamping the mold, a step of supplying and setting a substrate to the substrate setting portion of the upper mold when the mold is clamped, and a movable supporting pin at the substrate when the mold is clamped Pressing downward More, the step of compression molding the steps of housing the above-mentioned movable支受pin into the lower mold described above, the semiconductor chips mounted on the substrate in the resin molded body corresponding to the shape of the cavity and the inside lower cavity described above It is characterized by comprising.

また、前記技術的課題を解決するための本発明に係る半導体チップの圧縮成形方法は、前記した中間型と下型に設けた挟持部材とで離型フィルムを挟持する工程と、前記した下型の型面に設けた基板用の位置決めピンにて前記した挟持された離型フィルムに穴を開けて貫通させる工程と、前記した下型の型面に上下動自在に設けた可動支受ピンと下型キャビティとに前記した挟持された離型フィルムを被覆させる工程と、前記した位置決めピンを基板に設けた位置決め孔に貫通させる工程と、前記した離型フィルムを介して前記した可動支受ピンで基板を支受することにより、前記した基板と前記した下型面との間に所要の間隔を設定する工程と、前記した金型を型締めする工程と、前記金型の型締時に、前記した上型の基板セット部に基板を供給セットする工程と、前記した金型を型開きする工程と、前記した離型フィルムを被覆したキャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化する工程と、前記した金型を型締めする工程と、前記金型の型締時に、前記した可動支受ピンを基板で下方向に押圧することにより、前記した可動支受ピンを前記した下型内に収容する工程と、前記した下型キャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する工程とを備えたことを特徴とする。 In addition, the semiconductor chip compression molding method according to the present invention for solving the technical problem includes a step of sandwiching a release film between the above-described intermediate mold and a clamping member provided in the lower mold, and the above-described lower mold A step of making a hole in the sandwiched release film by means of a positioning pin for a substrate provided on the mold surface of the mold, and a movable support pin provided below the mold surface of the lower mold so as to be movable up and down. A step of covering the mold cavity with the sandwiched release film, a step of passing the positioning pin through a positioning hole provided in the substrate, and the movable support pin described above via the release film. By supporting the substrate, the step of setting a required interval between the substrate and the lower mold surface, the step of clamping the mold, and the mold clamping of the mold Board on the upper mold board set part A step of supplying and setting, a step of opening the above-mentioned mold, a step of supplying a resin material into the cavity coated with the above-mentioned release film and heating and melting, and a step of clamping the above-mentioned mold A step of accommodating the movable support pin in the lower mold by pressing the movable support pin downward with a substrate when the mold is clamped; and the lower mold cavity described above And a step of compression-molding a semiconductor chip mounted on a substrate in a resin molded body corresponding to the shape of the cavity described above.

本発明によれば、金型の所要位置に半導体チップを装着した基板を効率良く位置決めして供給セットすることができる半導体チップの圧縮成形方法及びその金型を提供することができると云う優れた効果を奏する。   According to the present invention, it is possible to provide a semiconductor chip compression molding method capable of efficiently positioning and supplying and setting a substrate on which a semiconductor chip is mounted at a required position of the mold, and its mold. There is an effect.

本発明(実施例1)において、まず、中間型と下型挟持部材とで挟持された離型フィルムを下型位置決めピンにて穴を開けて貫通させ、且つ、挟持離型フィルムを上下動自在に設けた可動支受ピンと下型キャビティとに被覆させると共に、離型フィルムを被覆した下型キャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化する。
次に、位置決めピンを基板の位置決め孔に貫通させ、且つ、離型フィルムを介して可動支受ピンで基板を支受することにより、基板と下型の型面との間に所要の間隔を設定すると共に、金型を型締めすることにより、基板セット部に基板を供給セットする。
従って、下型の位置決めピンを基板の位置決め孔に貫通させることにより、半導体チップの圧縮成形用金型の所要位置に半導体チップを装着した基板を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
In the present invention (Example 1), first, a release film sandwiched between an intermediate mold and a lower mold clamping member is perforated with a lower mold positioning pin, and the sandwiching release film can be moved up and down. The movable support pin and the lower mold cavity provided on the lower mold cavity are coated, and a resin material is supplied into the lower mold cavity coated with the release film to melt by heating.
Next, by passing the positioning pin through the positioning hole of the substrate and supporting the substrate with the movable supporting pin through the release film, a required interval is provided between the substrate and the lower mold surface. In addition to setting, the mold is clamped to supply and set the substrate in the substrate setting unit.
Accordingly, by passing the lower die positioning pin through the positioning hole of the substrate, the substrate on which the semiconductor chip is mounted can be efficiently positioned and supplied and set at the required position of the compression molding die for the semiconductor chip.

本発明(実施例2)において、まず、基板セット部に基板を供給セットし、X基板寄せ機構とY基板寄せ機構とを連結機構で連動させて同時に開状態から閉状態とする。
次に、X基板寄せ機構にて押圧係止片を介して基板のC辺を押圧することにより、基板のA辺をX基準線(基準ピン)に当接・押圧して位置決めすると共に、Y基板寄せ機構にて押圧係止片を介して基板のD辺を押圧することにより、基板のB辺をY基準線(基準ピン)に当接・押圧して位置決めする。
即ち、X基板寄せ機構とY基板寄せ機構とを同時に閉状態に設定することにより、X基準線(基準ピン)とY基準線(基準ピン)とに対して同時に押圧して位置決めすることができる。
従って、半導体チップの圧縮成形用金型の所要位置に半導体チップを装着した基板を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
In the present invention (Embodiment 2), first, a substrate is supplied and set to the substrate setting unit, and the X substrate alignment mechanism and the Y substrate alignment mechanism are interlocked by the coupling mechanism to simultaneously change from the open state to the closed state.
Next, by pressing the C side of the substrate through the pressing locking piece by the X substrate shifting mechanism, the A side of the substrate is positioned in contact with and pressed against the X reference line (reference pin). By pressing the D side of the substrate through the pressing locking piece by the substrate shifting mechanism, the B side of the substrate is positioned in contact with and pressed against the Y reference line (reference pin).
In other words, by setting the X substrate alignment mechanism and the Y substrate alignment mechanism to the closed state at the same time, it is possible to position the X reference line (reference pin) and the Y reference line (reference pin) by simultaneously pressing them. .
Therefore, it is possible to efficiently position and set the substrate on which the semiconductor chip is mounted at the required position of the semiconductor chip compression molding die.

まず、実施例1を、図1、図2、図3、図4、図5に示す半導体チップの圧縮成形要金型を用いて、詳細に説明する。   First, Example 1 will be described in detail using the semiconductor chip compression molding die shown in FIGS. 1, 2, 3, 4, and 5. FIG.

(実施例1における半導体チップの圧縮成形用金型の構成について)
図1〜図5に示すように、半導体チップの圧縮成形用金型(半導体チップの樹脂封止成形用金型)1には、基本的な金型構造として、固定上型2と、上型2に対向配置した可動下型3とが設けられて構成されている。
また、上型2と下型3との間には中間型(フィルム挟持用の中間プレート)4が設けられて構成されと共に、中間型4には少なくとも下型2を遊嵌する遊嵌孔(貫通孔)5が設けられて構成されている。
また、上型2の型面には、半導体チップを装着した基板6を、半導体チップ側(半導体チップ装着面側)を下方に向けた状態で供給セットする基板セット部7(上型の所要位置)と、基板6を基板セット部7に供給する基板供給機構(図示なし)とが設けられて構成されている。
なお、上型2の基板セット部7には基板6を固定する適宜な手段、例えば、基板を吸着固定する基板吸着固定手段(図示なし)を設けて構成することができる。
(About the structure of the semiconductor chip compression molding die in Example 1)
As shown in FIGS. 1 to 5, a semiconductor chip compression mold (semiconductor chip resin mold) 1 includes a fixed upper mold 2 and an upper mold as a basic mold structure. 2 is provided with a movable lower mold 3 disposed opposite to the main body 2.
In addition, an intermediate mold (intermediate plate for film clamping) 4 is provided between the upper mold 2 and the lower mold 3, and at least a loose fitting hole (at least for the lower mold 2 is loosely fitted in the intermediate mold 4). A through-hole) 5 is provided.
Further, on the mold surface of the upper mold 2, a substrate setting unit 7 (required position of the upper mold) for supplying and setting the substrate 6 on which the semiconductor chip is mounted with the semiconductor chip side (semiconductor chip mounting surface side) facing downward. ) And a substrate supply mechanism (not shown) for supplying the substrate 6 to the substrate setting unit 7.
The substrate setting portion 7 of the upper mold 2 can be configured by providing an appropriate means for fixing the substrate 6, for example, a substrate suction fixing means (not shown) for suction fixing the substrate.

また、下型3の型面には、基板6に装着した半導体チップを圧縮成形(樹脂封止成形)する圧縮成形用のキャビティ8が設けられて構成されている。
また、中間型4と下型3との間には離型フィルム9を張架することができるように構成されると共に、下型キャビティ8内に離型フィルム9を吸着被覆することができるように構成されている。
また、図示はしていないが、前記した金型1(2、3、4)には、下型キャビティ8内に樹脂材料10を供給する樹脂材料供給機構と、金型1(2、3、4)を所要の温度にまで加熱する加熱手段とが設けられて構成されている。
また、上型2の型面には、金型1(2、3、4)の型締時に、少なくとも下型キャビティ8内を外気遮断状態にするOリング等の外気遮断部材11が設けられて構成されると共に、金型1(2、3、4)の所要個所には、図示はしていないが、適宜な外気遮断部材が設けられて構成されている。
従って、金型1(2、3、4)の型締時に、上型2における外気遮断部材11の先端に中間型4の上型側型面を当接することにより、上型2の基板セット部7に供給セットされた基板6の半導体チップ装着面と下型3の型面との間を所要の間隔(距離)12で保持する金型の中間的な型締めを行うことができるように構成されている(図4を参照)。
このとき、少なくとも下型キャビティ8内を外気遮断状態にして外気遮断空間部を設定することができるように構成されている。
また、金型1(2、3、4)には、図示はしていないが、金型1(2、3、4)に形成される外気遮断空間部から空気を強制的に吸引排出して外気遮断空間部を所要の真空度に設定する真空ポンプ等の真空引き機構が設けられて構成されている。
従って、金型1(2、3、4)の型締時に形成される外気遮断空間部から空気を強制的に吸引排出して外気遮断空間部を所要の真空度に設定することができるように構成されている。
Further, a cavity 8 for compression molding for compression molding (resin sealing molding) of a semiconductor chip mounted on the substrate 6 is provided on the mold surface of the lower mold 3.
Further, the release film 9 can be stretched between the intermediate mold 4 and the lower mold 3, and the release film 9 can be adsorbed and coated in the lower mold cavity 8. It is configured.
Although not shown, the mold 1 (2, 3, 4) includes a resin material supply mechanism for supplying the resin material 10 into the lower mold cavity 8, and the mold 1 (2, 3, 4). And heating means for heating 4) to a required temperature.
In addition, the mold surface of the upper mold 2 is provided with an outside air blocking member 11 such as an O-ring that brings at least the inside of the lower mold cavity 8 into an outside air blocking state when the mold 1 (2, 3, 4) is clamped. Although it is configured, an appropriate outside air blocking member is provided at a required portion of the mold 1 (2, 3, 4), although not illustrated.
Accordingly, when the mold 1 (2, 3, 4) is clamped, the upper mold side surface of the intermediate mold 4 is brought into contact with the tip of the outside air blocking member 11 in the upper mold 2 to thereby set the substrate setting portion of the upper mold 2 7 is configured so that intermediate mold clamping of a mold that holds the semiconductor chip mounting surface of the substrate 6 supplied and set to 7 and the mold surface of the lower mold 3 at a predetermined interval (distance) 12 can be performed. (See FIG. 4).
At this time, it is configured so that at least the inside of the lower mold cavity 8 can be set in the outside air blocking state and the outside air blocking space can be set.
In addition, although not shown in the mold 1 (2, 3, 4), air is forcibly sucked and discharged from the outside air blocking space formed in the mold 1 (2, 3, 4). A vacuum evacuation mechanism such as a vacuum pump for setting the outside air blocking space to a required degree of vacuum is provided.
Therefore, air can be forcibly sucked and discharged from the outside air blocking space formed when the mold 1 (2, 3, 4) is clamped so that the outside air blocking space can be set to a required degree of vacuum. It is configured.

(下型について)
また、下型3には、下型本体3と、下型キャビティ8内の樹脂(10)を所要の押圧力で押圧する(加圧する)キャビティ底面部材13と、キャビティ底面部材13の下方位置側に固設された基台14とが設けられて構成されている。
また、下型本体3に対して、キャビティ底面部材13を上下摺動自在に設けて構成されている。
従って、キャビティ底面部材13と基台14とを一体にして上動させることにより、下型キャビティ8内の樹脂(10)を押圧して圧縮成形することができるように構成されている。
また、下型3には、下型3と中間型4との間に張架した離型フィルム9を中間型4とで挟持する挟持部材15が下型本体3と基台14との夫々に対して上下摺動自在に設けられて構成されている。
従って、離型フィルム9を中間型4と挟持部材15とで挟持した状態で下動することにより、離型フィルム9を下型3の型面と下型キャビティ8内とに(吸着して)被覆させることができるように構成されている。
(About lower mold)
The lower mold 3 includes a lower mold body 3, a cavity bottom member 13 that presses (presses) the resin (10) in the lower mold cavity 8 with a required pressing force, and a lower position side of the cavity bottom member 13. And a base 14 fixedly provided.
Further, a cavity bottom member 13 is provided on the lower mold body 3 so as to be slidable in the vertical direction.
Accordingly, the cavity bottom member 13 and the base 14 are integrally moved upward so that the resin (10) in the lower mold cavity 8 can be pressed and compression-molded.
Further, the lower mold 3 includes a clamping member 15 for clamping a release film 9 stretched between the lower mold 3 and the intermediate mold 4 between the intermediate mold 4 and the lower mold main body 3 and the base 14. On the other hand, it is configured to be slidable up and down.
Therefore, the release film 9 is moved down with the intermediate mold 4 and the sandwiching member 15 sandwiched, so that the release film 9 is attracted to the mold surface of the lower mold 3 and the lower mold cavity 8. It is comprised so that it can coat | cover.

(位置決めピンについて)
また、下型(下型本体)3の型面には、上型2の基板セット部7に供給セットされる基板14の位置を位置決めする基板用の位置決めピン16が、所要数、立設して構成されている。
また、位置決めピン16は尖端を有し、その先端側(上端側)は尖端形状(尖がった形状)に形成されると共に、その基端側(下端側)は下型3の型面に固設されて構成されている。
また、基板6には、下型3の位置決めピン16に対応する基板の位置決め孔(基板の貫通孔)17が設けられて構成されている。
従って、基板の位置決め孔17に対して、下型3の位置決めピン16をその先端側から(貫通して)嵌装することにより、後述するように、その基端側(下型3の型面)に、或いは、その先端と基端との中間部に基板の位置決め孔17(基板6)を位置させることができるように構成されている(図3、図4、図5を参照)。
また、上型2の型面(基板セット部7)には、下型3の位置決めピン16に対応する位置決めピンの位置決め挿通孔18が設けられて構成されている。
従って、上型の位置決め挿通孔18に、基板の位置決め孔17に嵌装した位置決めピン16をその先端側から挿通して収容することができるように構成されている。
(About positioning pins)
In addition, a required number of board positioning pins 16 for positioning the position of the board 14 to be supplied and set to the board setting section 7 of the upper mold 2 are erected on the mold surface of the lower mold (lower mold main body) 3. Configured.
Further, the positioning pin 16 has a pointed end, the tip side (upper end side) is formed in a pointed shape (pointed shape), and the base end side (lower end side) is formed on the mold surface of the lower mold 3. It is fixed and configured.
The substrate 6 is configured by being provided with substrate positioning holes (substrate through holes) 17 corresponding to the positioning pins 16 of the lower mold 3.
Accordingly, the positioning pin 16 of the lower mold 3 is fitted (penetrated) into the positioning hole 17 of the substrate from the distal end side thereof so that the base end side (the mold surface of the lower mold 3 will be described later). Or the positioning hole 17 (substrate 6) of the substrate can be positioned at an intermediate portion between the distal end and the proximal end (see FIGS. 3, 4, and 5).
In addition, a positioning insertion hole 18 of a positioning pin corresponding to the positioning pin 16 of the lower mold 3 is provided on the mold surface (substrate set portion 7) of the upper mold 2.
Accordingly, the positioning pin 16 fitted in the positioning hole 17 of the substrate can be inserted into the positioning insertion hole 18 of the upper mold from the front end side and accommodated.

また、中間型4と下型3との間に張架された離型フィルム9を中間型4と挟持部材15とで挟持して下動することにより、尖端を有する位置決めピン16(の尖端)にて、挟持した離型フィルム9の所要個所を突き刺して貫通させて、離型フィルム9に穴(孔部19)を開けることができる。
このとき、孔部19を開けられた離型フィルム9をその孔部19の位置において、位置決めピン16の基端側(下型3の型面)に離型フィルム9(孔部19)を位置させることができるように構成されている。
また、このとき、離型フィルム9を下型キャビティ8の内面に被覆させることができるように構成されている。
また、離型フィルム9を貫通した(突き抜けた)位置決めピン16を基板6の位置決め孔17に嵌装させる(嵌め込む)ことにより、基板6の位置決め孔17の位置を位置決めピン16の位置に合致させることができるように構成されている。
また、金型1(2、3、4)の型締時に、離型フィルム9と基板位置決め孔17とを貫通(嵌装)した位置決めピン16を上型2における位置決めピンの位置決め挿通孔18に挿通して収容することができるように構成されている。
このとき、基板6を上型2の基板セット部7に供給セットすることができるように構成されている。
従って、基板6を上型2の基板セット部7(上型2の所要位置)に供給セットする場合において、下型3の位置決めピン16を基板の位置決め孔17に嵌装させて合致させることができるので、(また、基板の位置決め孔17に嵌装した位置決めピン16を上型の位置決めピンの挿通孔18に挿通して収容することができるので、)基板セット部7に基板6を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
Further, the release film 9 stretched between the intermediate die 4 and the lower die 3 is sandwiched between the intermediate die 4 and the sandwiching member 15 and moved downward, whereby the positioning pin 16 having a sharp tip (the sharp tip). Then, a required portion of the release film 9 that has been sandwiched can be pierced and penetrated to make a hole (hole 19) in the release film 9.
At this time, the release film 9 having the hole 19 is located at the position of the hole 19, and the release film 9 (hole 19) is positioned on the proximal end side of the positioning pin 16 (the mold surface of the lower mold 3). It is comprised so that it can be made to.
At this time, the release film 9 can be covered on the inner surface of the lower mold cavity 8.
Further, the positioning pin 16 penetrating (penetrating) through the release film 9 is fitted (fitted) into the positioning hole 17 of the substrate 6, thereby matching the position of the positioning hole 17 of the substrate 6 with the position of the positioning pin 16. It is comprised so that it can be made to.
Further, when the mold 1 (2, 3, 4) is clamped, the positioning pin 16 penetrating (fitting) the release film 9 and the substrate positioning hole 17 is used as the positioning insertion hole 18 of the positioning pin in the upper mold 2. It is comprised so that it can penetrate and accommodate.
At this time, the substrate 6 can be supplied and set to the substrate setting portion 7 of the upper mold 2.
Therefore, when the substrate 6 is supplied and set to the substrate setting portion 7 (required position of the upper die 2) of the upper die 2, the positioning pins 16 of the lower die 3 can be fitted into the positioning holes 17 of the substrate to be matched. (In addition, since the positioning pin 16 fitted in the positioning hole 17 of the substrate can be inserted and accommodated in the insertion hole 18 of the positioning pin of the upper mold), the substrate 6 can be efficiently stored in the substrate setting portion 7. It can be positioned and set.

(可動支受ピンについて)
また、下型(本体)3の型面には、基板6を支受した状態で弾性上下動する可動支受ピン20が、所要数、下型の型面から突出した状態で設けられて構成されている。
また、可動支受ピン20の基端側(下端側)には、圧縮スプリング等の弾性部材21が上方向に可動支受ピン20を弾性付勢することができるように構成されている。
また、離型フィルム9を下型3の型面と下型キャビティ8とに被覆させるとき、離型フィルム9にて、可動支受ピン20を下型3の型面から突設した状態で被覆することができるように構成されている。
従って、離型フィルム9で可動支受ピン20を被覆した状態で、即ち、離型フィルム9を介して可動支受ピン20で基板6を支受することができるように構成されている。
このとき、基板6を、可動支受ピン20で、所要の高さ(距離)22にて、即ち、下型3の型面位置から可動支受ピン20の先端位置までの距離(22)にて、保持することができるように構成されている(図3を参照)。
また、このとき、可動支受ピン20にて基板6を水平面状態で支受して保持することができるように構成されている。
(About movable support pins)
Further, the mold surface of the lower mold (main body) 3 is provided with a required number of movable support pins 20 that elastically move up and down while supporting the substrate 6 so as to protrude from the mold surface of the lower mold. Has been.
Further, an elastic member 21 such as a compression spring is configured to be able to elastically urge the movable support pin 20 upward on the base end side (lower end side) of the movable support pin 20.
Further, when the mold release film 9 is coated on the mold surface of the lower mold 3 and the lower mold cavity 8, the mold support film 20 is covered with the mold release film 9 in a state in which the movable support pins 20 protrude from the mold surface of the lower mold 3. It is configured to be able to.
Accordingly, the substrate 6 can be supported by the movable support pin 20 in a state where the movable support pin 20 is covered with the release film 9, that is, through the release film 9.
At this time, the substrate 6 is moved to the required height (distance) 22 with the movable support pin 20, that is, to the distance (22) from the mold surface position of the lower mold 3 to the tip position of the movable support pin 20. And can be held (see FIG. 3).
At this time, the movable support pin 20 is configured to be able to support and hold the substrate 6 in a horizontal plane state.

また、前述したように、可動支受ピン20を用いて、基板6を水平面状態で支受し、且つ、下型3の型面位置から所要の高さ22に保持することができるので、下型キャビティ8内で加熱溶融化した樹脂材料(10)の高さにばらつきがあったとしても、この加熱溶融化した樹脂材料(10)に基板6と半導体チップとが効率良く接触しないように構成されている。
また、基板セット部7に供給セットされた基板6の半導体チップ装着面と下型3の型面とを離型フィルム9を介して閉じ合わせることにより、金型1(2、3、4)を完全に型締めしたとき、可動支受ピン20は基板6(上型2)で下方向に押圧されることにより、下型3内に収容されるように構成されている。
Further, as described above, the movable support pin 20 can be used to support the substrate 6 in a horizontal plane state and hold it at a required height 22 from the mold surface position of the lower mold 3. Even if there is a variation in the height of the resin material (10) heated and melted in the mold cavity 8, the substrate 6 and the semiconductor chip are not efficiently contacted with the heat-melted resin material (10). Has been.
Further, by closing the semiconductor chip mounting surface of the substrate 6 supplied and set to the substrate setting unit 7 and the mold surface of the lower mold 3 through the release film 9, the mold 1 (2, 3, 4) is closed. When the mold is completely clamped, the movable support pin 20 is configured to be accommodated in the lower mold 3 by being pressed downward by the substrate 6 (upper mold 2).

(実施例1における半導体チップの圧縮成形方法について)
まず、図1に示すように、中間型4と下型3の挟持部材15との間に離型フィルム9を張架する。
次に、離型フィルム9を中間型4と挟持部材15とで挟持すると共に、離型フィルム9を中間型4と挟持部材15とで挟持した状態で下動させる。
従って、図2に示すように、下動した離型フィルム9を、下型3の型面と下型キャビティ8とに吸着被覆させることができる。
また、このとき、下型3型面に立設した位置決めピン16で、下動する離型フィルム9を突き刺して貫通させることにより、離型フィルム9に孔部19を開けて形成することができる。
また、このとき、可動支受ピン20を下型3の型面上に突設した状態で、可動支受ピン20に離型フィルム9を被覆させることができる。
また、このとき、下型本体3の型面位置を中間型4の遊嵌孔5内に遊嵌した状態で位置させることができる。
(About the compression molding method of the semiconductor chip in Example 1)
First, as shown in FIG. 1, a release film 9 is stretched between the intermediate mold 4 and the clamping member 15 of the lower mold 3.
Next, the release film 9 is sandwiched between the intermediate mold 4 and the sandwiching member 15, and the release film 9 is moved downward while being sandwiched between the intermediate mold 4 and the sandwiching member 15.
Therefore, as shown in FIG. 2, the release film 9 that has moved down can be adsorbed onto the mold surface of the lower mold 3 and the lower mold cavity 8.
At this time, the release film 9 can be formed by piercing and penetrating the downwardly moving release film 9 with the positioning pins 16 erected on the lower mold 3 surface. .
At this time, the movable supporting pin 20 can be covered with the release film 9 in a state where the movable supporting pin 20 protrudes from the mold surface of the lower mold 3.
Further, at this time, the mold surface position of the lower mold body 3 can be positioned in a loosely fitted state in the loose fitting hole 5 of the intermediate mold 4.

次に、離型フィルム9を被覆した下型キャビティ8内に樹脂材料10を供給して加熱溶融化することができる。
次に、中間型4の遊嵌孔5内にある下型3の所要位置に、基板6を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で供給セットする。
このとき、図3に示すように、基板の位置決め孔17に位置決めピン16を嵌装させて合致させることができる。
また、このとき、離型フィルム9を被覆した可動支受ピン20で、基板6を下型3の型面から所要の高さ(距離)22にて、且つ、水平面状態にて、保持することができる。
従って、基板6(及び半導体チップ)に下型キャビティ8内で加熱溶融化した樹脂材料(10)と接触することがないように構成されている。
Next, the resin material 10 can be supplied into the lower mold cavity 8 covered with the release film 9 and melted by heating.
Next, the substrate 6 is supplied and set at a required position of the lower die 3 in the loose fitting hole 5 of the intermediate die 4 with the semiconductor chip mounting surface side facing downward.
At this time, as shown in FIG. 3, the positioning pins 16 can be fitted into the positioning holes 17 of the substrate so as to be matched.
At this time, the substrate 6 is held at a required height (distance) 22 from the mold surface of the lower mold 3 and in a horizontal plane state with the movable support pin 20 covered with the release film 9. Can do.
Accordingly, the substrate 6 (and the semiconductor chip) is configured not to contact the resin material (10) heated and melted in the lower mold cavity 8.

次に、図4に示すように、離型フィルム9を介して可動受ピン20で基板6を所要の高さ(22)で支受した状態で、且つ、基板6の位置決め孔17に位置決めピン16を合致させた状態で、下型3と中間型4とを上動させることにより、基板6を上型の基板セット部7に供給セットすることができる。
このとき、例えば、図4に示すように、上型2の型面における外気遮断部材11の先端と中間型4の上型側型面とを当接させる金型を中間的に型締めする金型の中間的な型締めを行うことができる。
このとき、基板6の半導体チップ装着面と下型3の型面との間を所要の間隔(距離)12で保持することができる。
従って、基板6の表面(半導体チップ装着面)と半導体チップとを下型キャビティ8内で加熱溶融化された樹脂材料(10)に効率良く接触させないように構成することができる。
Next, as shown in FIG. 4, the substrate 6 is supported at the required height (22) by the movable receiving pin 20 through the release film 9, and the positioning pin is inserted into the positioning hole 17 of the substrate 6. By moving the lower mold 3 and the intermediate mold 4 up in a state where 16 is matched, the substrate 6 can be supplied and set to the substrate setting section 7 of the upper mold.
At this time, for example, as shown in FIG. 4, a mold for intermediately clamping a mold that abuts the tip of the outside air blocking member 11 on the mold surface of the upper mold 2 and the upper mold side mold surface of the intermediate mold 4. It is possible to perform intermediate mold clamping.
At this time, the space between the semiconductor chip mounting surface of the substrate 6 and the mold surface of the lower mold 3 can be held at a required interval (distance) 12.
Therefore, the surface of the substrate 6 (semiconductor chip mounting surface) and the semiconductor chip can be configured not to efficiently contact the resin material (10) heated and melted in the lower mold cavity 8.

また、前述したように、このとき、基板6を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で、上型2の基板セット部7に(吸着)供給セットすることができる。
また、このとき、上型2の型面に設けられた外気遮断部材11にて少なくとも下型キャビティ8内を外気遮断状態にして外気遮断空間部を形成することができる。
従って、外気遮断空間部から空気を強制的に吸引排出することにより、外気遮断空間部を所要の真空度に設定することができる。
また、このとき、基板6の位置決め孔17を嵌装した位置決めピン16は上型2の型面(基板セット部7)における位置決めピンの挿通孔18内に挿通して収容されることになる。
従って、基板6の位置決め孔17を嵌装して合致させた位置決めピン16を上型2の位置決めピンの挿通孔18に挿通して収容することにより、基板セット部7に基板6を効率良く位置決めして(正確に)供給セットすることができる。
Further, as described above, at this time, the substrate 6 can be supplied (adsorbed) to the substrate setting portion 7 of the upper mold 2 with the semiconductor chip mounting surface side facing downward.
At this time, at least the inside of the lower mold cavity 8 can be blocked by the outside air blocking member 11 provided on the mold surface of the upper mold 2 to form the outside air blocking space.
Therefore, by forcibly sucking and discharging air from the outside air blocking space, the outside air blocking space can be set to a required degree of vacuum.
At this time, the positioning pin 16 fitted with the positioning hole 17 of the substrate 6 is inserted and accommodated in the positioning pin insertion hole 18 in the mold surface (substrate setting portion 7) of the upper mold 2.
Therefore, the positioning pin 16 fitted and matched with the positioning hole 17 of the substrate 6 is inserted into the insertion hole 18 of the positioning pin of the upper mold 2 and accommodated, thereby efficiently positioning the substrate 6 in the substrate setting portion 7. (Accurate) can be set.

また、次に、図5に示すように、基板6の半導体チップ装着面と下型3の型面とを離型フィルム9を介して閉じ合わせることにより、金型1(2、3、4)を完全に型締めする金型の完全型締めを行うことができる。
このとき、上型2の型面と中間型4の上型側型面とを閉じ合わせることになる。
また、前述したように、このとき、基板6の位置決め孔17を嵌装して合致させた位置決めピン16は上型2の位置決めピンの挿通孔18内に挿通して収容されることになる。
また、このとき、離型フィルム9で被覆された可動支受ピン20は基板6(上型2)に下方向に押圧されるので、可動支受ピン20は下型3内に収容されることになる。
従って、次に、キャビティ底面部材13を上動させて下型キャビティ8内の樹脂(10)をキャビティ底面部材13にて押圧することにより、基板6に装着した半導体チップを下型キャビティ8内で圧縮成形することができる。
硬化に必要な所要時間の経過後、金型1(2、3、4)を型開きすることにより、下型キャビティ8内で下型キャビティ8の形状に対応した樹脂成形体内に基板6に装着した半導体チップを圧縮成形(樹脂封止成形)することができる。
Next, as shown in FIG. 5, the mold 1 (2, 3, 4) is formed by closing the semiconductor chip mounting surface of the substrate 6 and the mold surface of the lower mold 3 with a release film 9 therebetween. The mold can be completely clamped.
At this time, the mold surface of the upper mold 2 and the upper mold side mold surface of the intermediate mold 4 are closed.
Further, as described above, at this time, the positioning pin 16 fitted and matched with the positioning hole 17 of the substrate 6 is inserted and accommodated in the insertion hole 18 of the positioning pin of the upper mold 2.
At this time, since the movable support pin 20 covered with the release film 9 is pressed downward by the substrate 6 (upper mold 2), the movable support pin 20 is accommodated in the lower mold 3. become.
Therefore, next, the cavity bottom member 13 is moved upward to press the resin (10) in the lower mold cavity 8 with the cavity bottom member 13, so that the semiconductor chip mounted on the substrate 6 is brought into the lower mold cavity 8. It can be compression molded.
After the time required for curing has elapsed, the mold 1 (2, 3, 4) is opened to be mounted on the substrate 6 in the resin mold corresponding to the shape of the lower mold cavity 8 in the lower mold cavity 8. The formed semiconductor chip can be compression-molded (resin-sealed molding).

(実施例1の作用効果について)
即ち、実施例1において、図4に示すように、離型フィルム9を介して可動支受ピン20で基板6を支受した状態で、且つ、基板6の位置決め孔17に位置決めピン16を嵌装合致させた状態で、基板6を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で、上型2の基板セット部7に(吸着)供給セットすることができる。
従って、前述したように、基板セット部7に基板6を供給セットしたとき、基板6の位置決め孔17に嵌装して合致させた位置決めピン16を、上型2の位置決めピンの挿通孔18に挿通して収容することにより、基板セット部7に基板6を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
(About the effect of Example 1)
That is, in the first embodiment, as shown in FIG. 4, the positioning pin 16 is fitted in the positioning hole 17 of the substrate 6 while the substrate 6 is supported by the movable supporting pin 20 through the release film 9. The substrate 6 can be supplied (adsorbed) to the substrate setting portion 7 of the upper mold 2 with the semiconductor chip mounting surface facing downward while being fitted.
Therefore, as described above, when the substrate 6 is supplied and set to the substrate setting portion 7, the positioning pin 16 fitted and matched with the positioning hole 17 of the substrate 6 is inserted into the positioning pin insertion hole 18 of the upper mold 2. By inserting and accommodating, the substrate 6 can be efficiently positioned and set on the substrate setting portion 7.

また、実施例1において、図4に示すように、基板セット部7に基板6を供給セットしたとき、基板6の半導体チップ装着面と下型3の型面との間を所要の間隔12で保持することができる。
従って、基板6の表面(半導体チップ装着面)と半導体チップとを、下型キャビティ8内で加熱溶融化された樹脂材料(10)に効率良く接触させないように構成することができる。
In the first embodiment, as shown in FIG. 4, when the substrate 6 is supplied and set to the substrate setting unit 7, the gap between the semiconductor chip mounting surface of the substrate 6 and the mold surface of the lower mold 3 is set at a required interval 12. Can be held.
Therefore, the surface (semiconductor chip mounting surface) of the substrate 6 and the semiconductor chip can be configured not to efficiently contact the resin material (10) heated and melted in the lower mold cavity 8.

(実施例1における他の半導体チップの圧縮成形方法について)
また、実施例1において、離型フィルム9を被覆した下型キャビティ8内に樹脂材料10を供給する前に、まず、下型3側に基板6を供給して下型3と中間型4とを上動することにより、基板セット部7に基板6を供給セットし、次に、下型3と中間型4とを下動して離型フィルム9を被覆した下型キャビティ8内に樹脂材料10を供給する構成を採用することができる。
即ち、図2に示す状態で、即ち、離型フィルム9を被覆した下型キャビティ8内に樹脂材料10を供給しない状態で、先に、基板6を供給セットすることができる。
この場合、前述したように、離型フィルム9を位置決めピン16で突き刺して貫通することにより、離型フィルム9に孔部19を形成することができる。
また、この場合、前述したように、離型フィルム9を介して基板6を可動支受ピン20で支受することができる。
また、この場合、基板6の位置決め孔17を嵌装して合致させた位置決めピン16を、上型2の位置決めピンの挿通孔18に挿通して収容することにより、基板セット部7に基板6を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
(About the compression molding method of the other semiconductor chip in Example 1)
In Example 1, before supplying the resin material 10 into the lower mold cavity 8 covered with the release film 9, first, the substrate 6 is supplied to the lower mold 3 side, and the lower mold 3, the intermediate mold 4, The substrate 6 is supplied and set to the substrate setting unit 7, and then the lower mold 3 and the intermediate mold 4 are moved downward to cover the release film 9 with the resin material in the lower mold cavity 8. 10 may be employed.
That is, in the state shown in FIG. 2, that is, in a state where the resin material 10 is not supplied into the lower mold cavity 8 covered with the release film 9, the substrate 6 can be supplied and set first.
In this case, as described above, the hole 19 can be formed in the release film 9 by piercing and penetrating the release film 9 with the positioning pins 16.
In this case, as described above, the substrate 6 can be supported by the movable support pins 20 via the release film 9.
Further, in this case, the positioning pin 16 fitted and matched with the positioning hole 17 of the substrate 6 is inserted into the insertion hole 18 of the positioning pin of the upper mold 2 and accommodated therein, whereby the substrate 6 is accommodated in the substrate setting portion 7. Can be positioned and supplied efficiently.

次に、実施例2を、図6、図7(1)、図7(2)、図8(1)、図8(2)、図9(1)、図9(2)、図10(1)、図10(2)を用いて、詳細に説明する。
また、実施例2に用いられる半導体チップの圧縮成形用金型の基本的な構成は、実施例1と同様である。
Next, Example 2 is described with reference to FIGS. 6, 7 (1), 7 (2), 8 (1), 8 (2), 9 (1), 9 (2), and 10 ( 1) and will be described in detail with reference to FIG.
The basic configuration of the semiconductor chip compression mold used in the second embodiment is the same as that of the first embodiment.

(実施例2における半導体チップの圧縮成形用金型の構成について)
図6に示す実施例2における半導体チップの圧縮成形用金型31(半導体チップの樹脂封止成形用金型)は、実施例1と同様に、固定上型32と、上型32に対向配置した可動下型(図示なし)とが設けられて構成されている。
また、実施例2に用いられる金型31における上型32の型面には、半導体チップを装着した基板33を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で供給セットする基板セット部34が設けられて構成されている。
また、図示はしていないが、下型には、基板に装着した半導体チップを圧縮成形(樹脂封止成形)する圧縮成形用の下型キャビティと、下型キャビティの底面に設けられてキャビティ底面部材とが設けられて構成されている。
また、図示はしていないが、実施例1と同様に、下型キャビティに離型フィルムを被覆させることができるように構成されている。
なお、図示はしていないが、実施例1と同様に、離型フィルムを中間型と下型側(例えば、実施例1に示す挟持部材)とで挟持する構成を採用しても良い。
(About the structure of the semiconductor chip compression molding die in Example 2)
A semiconductor chip compression mold 31 (semiconductor chip resin mold) in the second embodiment shown in FIG. 6 is disposed opposite to the fixed upper mold 32 and the upper mold 32 as in the first embodiment. The movable lower mold (not shown) is provided.
In addition, on the mold surface of the upper mold 32 in the mold 31 used in the second embodiment, there is a substrate setting section 34 for supplying and setting the substrate 33 on which the semiconductor chip is mounted with the semiconductor chip mounting surface side facing downward. It is provided and configured.
Although not shown, the lower mold includes a lower mold cavity for compression molding (resin sealing molding) of a semiconductor chip mounted on a substrate, and a bottom surface of the cavity provided on the bottom surface of the lower mold cavity. And a member.
Further, although not shown in the figure, like the first embodiment, the lower mold cavity can be covered with the release film.
Although not shown, as in the first embodiment, a configuration in which the release film is sandwiched between the intermediate mold and the lower mold (for example, the clamping member shown in the first embodiment) may be employed.

また、図示はしていないが、金型31には、基板セット部34に半導体チップを装着した基板33を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で供給セットする基板供給機構と、下型キャビティ内に樹脂材料を供給する樹脂材料供給機構とが設けられて構成されている。
従って、基板供給機構にて、基板セット部34に、基板33を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で供給セットし、且つ、樹脂材料供給機構にて、樹脂材料を(離型フィルムを被覆した)下型キャビティ内に供給することができるように構成されている。
Although not shown, the mold 31 has a substrate supply mechanism for supplying and setting a substrate 33 with a semiconductor chip mounted on the substrate setting portion 34 with the semiconductor chip mounting surface facing downward, A resin material supply mechanism for supplying the resin material into the mold cavity is provided.
Accordingly, the substrate 33 is supplied and set to the substrate set portion 34 by the substrate supply mechanism with the semiconductor chip mounting surface side facing downward, and the resin material is released (release film) by the resin material supply mechanism. It is configured so that it can be fed into the lower mold cavity.

即ち、実施例2において、実施例1と同様に、まず、基板セット部34に、半導体チップを装着した基板33を、半導体チップ装着面側を下方に向けた状態で供給セットし、且つ、離型フィルムを被覆した下型キャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化すると共に、金型を型締めする。
このとき、半導体チップを下型キャビティ内で加熱溶融化された樹脂材料中に浸漬することができる。
次に、下型キャビティ内の加熱溶融化された樹脂材料をキャビティ底面部材で所要の押圧力にて押圧することになる。
従って、硬化に必要な所要時間の経過後、下型キャビティ内で下型キャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形(樹脂封止成形)することができる。
That is, in the second embodiment, as in the first embodiment, first, the substrate 33 on which the semiconductor chip is mounted is supplied and set to the substrate setting portion 34 with the semiconductor chip mounting surface side facing downward, and the separation is performed. A resin material is supplied into the lower mold cavity coated with the mold film to melt by heating, and the mold is clamped.
At this time, the semiconductor chip can be immersed in a resin material heated and melted in the lower mold cavity.
Next, the heat-melted resin material in the lower mold cavity is pressed with a required pressing force by the cavity bottom surface member.
Therefore, after the time required for curing has elapsed, the semiconductor chip mounted on the substrate can be compression-molded (resin-sealed molding) in the resin-molded body corresponding to the shape of the lower mold cavity in the lower mold cavity.

(位置決め用の基準ピンについて)
また、上型32の基板セット部34における所要個所には、基板33を供給セットする位置を決める位置決め用の基準ピンが設けられて構成されている。
即ち、図6に示す図例では、X方向に基準ピン35が2個、設けられて構成されると共に、X方向に配置した2個の基準ピン35にてX方向の基準線(X基準線)が形成されて構成されている。
また、図6に示す図例では、Y方向に基準ピン36が2個、設けられて構成されると共に、Y方向に配置した2個の基準ピン36にてY方向の基準線(Y基準線)が形成されて構成されている。
なお、通常、基板セット部34において、X基準線とY基準線とが形成する所要の角度は直角にて形成される。
(About positioning reference pins)
Further, a positioning reference pin for determining a position where the substrate 33 is supplied and set is provided at a required position in the substrate setting portion 34 of the upper mold 32.
That is, in the example shown in FIG. 6, two reference pins 35 are provided in the X direction, and the two reference pins 35 arranged in the X direction are used for the X-direction reference line (X reference line). ) Is formed.
Further, in the example shown in FIG. 6, two reference pins 36 are provided in the Y direction, and the two reference pins 36 arranged in the Y direction are used for the reference line in the Y direction (Y reference line). ) Is formed.
Normally, in the substrate setting part 34, the required angle formed by the X reference line and the Y reference line is formed at a right angle.

(基板における4つの辺について)
実施例2に用いられる基板33は、通常、4つの辺(線)を有する矩形状にて形成されると共に、図6に示すように、基板セット部34に供給セットされる基板33において、X基準線に対応する基板の辺をA辺とし、Y基準線に対応する基板の辺をB辺とし、A辺に対向配置し且つB辺に隣接する基板の辺をC辺とし、B辺に対向配置し且つA辺(C辺)に隣接する基板のD辺とする。
なお、通常、基板33は矩形状であるので、基板におけるA辺とB辺とが形成する所要の角度は直角にて形成されることになる。
また、基板セット部34に供給セットされる基板33におけるA辺、B辺、C辺、D辺の名称は、基板セット部34における位置に各別に対応して用い、基板セット部34におけるA辺、B辺、C辺、D辺と称する。
(About four sides on the board)
The substrate 33 used in the second embodiment is usually formed in a rectangular shape having four sides (lines), and as shown in FIG. The side of the substrate corresponding to the reference line is set as A side, the side of the substrate corresponding to the Y reference line is set as B side, the side of the substrate arranged opposite to the A side and adjacent to the B side is set as C side, Let it be the D side of the substrate that is oppositely disposed and is adjacent to the A side (C side).
Since the substrate 33 is usually rectangular, the required angle formed by the A side and the B side of the substrate is a right angle.
The names of the A side, the B side, the C side, and the D side in the substrate 33 supplied and set to the substrate setting unit 34 are used corresponding to the positions in the substrate setting unit 34, and the A side in the substrate setting unit 34 is used. , B side, C side, and D side.

(基準ピンと基板の辺との関係について)
即ち、後述するように、実施例2においては、基板33のC辺側を押圧することによって、基板33のA辺をX方向に配置された基準ピン35に押圧・当接してX基準線に合致させることができるように構成されている。
また、後述するように、基板33のD辺側を押圧することによって、基板33のB辺をY方向に配置された基準ピン36に押圧・当接してY基準線に合致させることができるように構成されている。
従って、後述するように、実施例2においては、X基準線とY基準線との夫々に対して基板33における対応する辺から各別に且つ同時に押圧して寄せることによって基板33を基板セット部34に位置決めするものである。
(About the relationship between the reference pin and the side of the board)
That is, as will be described later, in the second embodiment, by pressing the C side of the substrate 33, the A side of the substrate 33 is pressed and brought into contact with the reference pin 35 arranged in the X direction so that the X reference line is obtained. It is configured to be able to match.
Further, as will be described later, by pressing the D side of the substrate 33, the B side of the substrate 33 can be pressed and brought into contact with the reference pin 36 arranged in the Y direction so as to match the Y reference line. It is configured.
Therefore, as will be described later, in the second embodiment, the substrate set unit 34 is moved by pressing the substrate 33 separately and simultaneously from the corresponding sides of the substrate 33 against the X reference line and the Y reference line. Is to be positioned.

なお、後述するように、基板セット部34において、基板セット部34のA辺に対応する位置の外側には基板係止機構37が配置されている。
また、基板セット部34のC辺に対応する位置の外側にはX基準線への基板寄せ機構38が配置されている。
また、基板セット部34のD辺に対応する位置の外側にはY基準線への基板寄せ機構39が配置されて構成されている。
また、前述したように、基板セット部34のA辺に対応する位置側にはX基準線(X方向の2個の基準ピン35で形成される線)が配置されて構成されている。
また、前述したように、基板セット部34のB辺に対応する位置側にはY基準線(Y方向の2個の基準ピン36で形成される線)が配置されて構成されている。
As will be described later, a substrate locking mechanism 37 is disposed outside the position corresponding to the A side of the substrate setting portion 34 in the substrate setting portion 34.
Further, a substrate shifting mechanism 38 to the X reference line is disposed outside the position corresponding to the C side of the substrate setting portion 34.
Further, a substrate shifting mechanism 39 to the Y reference line is arranged outside the position corresponding to the D side of the substrate setting portion 34.
Further, as described above, an X reference line (a line formed by two reference pins 35 in the X direction) is arranged on the position side corresponding to the A side of the substrate setting unit 34.
Further, as described above, the Y reference line (line formed by the two reference pins 36 in the Y direction) is arranged on the position side corresponding to the B side of the substrate setting portion 34.

(基板寄せ機構について)
即ち、前述したように、上型32の型面における基板セット部34には、X方向の基準線(基準ピン35)に基板33を寄せて(押圧して)係止するX基準線への基板寄せ機構(X基板寄せ機構)38と、Y方向の基準線(基準ピン36)に基板33を寄せて(押圧して)係止するY基準線への基板寄せ機構(Y基板寄せ機構)39とが設けられて構成されている(図6を参照)。
従って、X基板寄せ機構38で基板33を寄せて基板33のA辺を基準ピン35に当接することができるように構成されると共に、Y基板寄せ機構39で基板33を寄せて基板33のB辺を基準ピン36に当接することができるように構成されている。
また、X基板寄せ機構38は基板セット部34におけるX方向の基準線(基準ピン35)とは反対側となる対向した位置に(基板セット部34におけるC辺の外側に)設けられて構成されると共に、Y基板寄せ機構39はY方向の基準線(基準ピン36)とは反対側となる対向した位置に(基板セット部34におけるD辺の外側に)設けられて構成されている。
また、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構37とは、後述する連結機構にて同時に連動して作動するように構成されている。
従って、後述するように、基板セット部34に基板33を供給セットする場合、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とで同時に作動させると共に、XとYとの基準線(基準ピン35、36)の夫々に基板33の各辺A、Bを各別に押圧することにより、基板セット部34で基板33を効率良く位置決めすることができるように構成されている。
(Regarding the board alignment mechanism)
That is, as described above, the substrate set portion 34 on the mold surface of the upper mold 32 is connected to the reference line (reference pin 35) in the X direction by moving (pressing) the substrate 33 to the X reference line. Substrate alignment mechanism (X substrate alignment mechanism) 38 and substrate alignment mechanism to the Y reference line (Y substrate alignment mechanism) that engages (presses) the substrate 33 with the reference line (reference pin 36) in the Y direction. 39 (see FIG. 6).
Accordingly, the substrate 33 is moved by the X substrate moving mechanism 38 so that the side A of the substrate 33 can be brought into contact with the reference pin 35, and the substrate 33 is moved by the Y substrate moving mechanism 39 to move the B of the substrate 33. The side can be brought into contact with the reference pin 36.
In addition, the X substrate shifting mechanism 38 is provided at a position opposite to the reference line (reference pin 35) in the X direction in the substrate setting portion 34 (outside the C side in the substrate setting portion 34). At the same time, the Y substrate shifting mechanism 39 is configured to be provided at a position opposite to the reference line (reference pin 36) in the Y direction (outside the D side in the substrate setting portion 34).
In addition, the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 37 are configured to operate simultaneously in conjunction with a connection mechanism described later.
Therefore, as will be described later, when the substrate 33 is supplied and set to the substrate setting unit 34, the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 are operated simultaneously, and the X and Y reference lines (reference pins 35, 36), each side A and B of the substrate 33 is pressed separately, so that the substrate 33 can be efficiently positioned by the substrate setting portion 34.

(X基準線への基板寄せ機構の構成について)
即ち、図6及び図7(1)に示すように、X基準線への基板寄せ機構(X基板寄せ機構)38は、基板セット部34におけるX方向の基準線(2個の基準ピン35で形成される線)に対向する位置側に(即ち、基板セット部34におけるC辺側に)設けられて構成されている。
また、X基板寄せ機構38には、基板33のC辺側を押圧してX基準線に寄せて係止する基板押圧係止用の押圧係止片(小片)40が設けられて構成されると共に、図例では、2個の押圧係止片40が基板セット部34におけるC辺に沿って設けられて構成されている。
即ち、基板33を押圧係止片40にて基準ピン35側の方向に押圧して寄せることにより、基準ピン35と押圧係止片40とが共働作用することになるので、基板33を基板セット部34に効率良く係止して供給セットすることができる。
従って、基板セット部34に基板33を効率良く係止し得て、基板セット部34に基板33を効率良く位置決めすることができるように構成されている。
なお、これらの2個の押圧係止片40はX基準線に(概ね)平行した状態で設けて構成することができる。
(Regarding the structure of the substrate alignment mechanism to the X reference line)
That is, as shown in FIGS. 6 and 7 (1), the substrate alignment mechanism (X substrate alignment mechanism) 38 to the X reference line is an X-direction reference line (two reference pins 35) in the substrate setting unit 34. It is configured to be provided on the position side facing the line to be formed) (that is, on the C side side in the substrate setting unit 34).
In addition, the X substrate abutting mechanism 38 is configured by being provided with a pressing latch piece (small piece) 40 for latching the substrate pressing that presses the C side of the substrate 33 and locks it toward the X reference line. In addition, in the illustrated example, two press locking pieces 40 are provided along the C side of the substrate setting portion 34.
That is, by pressing the substrate 33 in the direction toward the reference pin 35 with the pressing and locking piece 40, the reference pin 35 and the pressing and locking piece 40 work together. It can be efficiently locked to the set portion 34 and supplied and set.
Accordingly, the substrate 33 can be efficiently locked to the substrate setting portion 34, and the substrate 33 can be efficiently positioned on the substrate setting portion 34.
In addition, these two press locking pieces 40 can be provided and configured in a state (substantially) parallel to the X reference line.

また、X基板寄せ機構38には、2個の押圧係止片40を各別に押圧する押圧部材(押圧棒)41が2個、押圧係止片40の位置に対応して設けられて構成されている。
また、X基板寄せ機構38には、1本の回転軸(回動軸)42と、2個の支持台43とが設けられて構成されている。
また、2個の支持台43の間に1本の回転軸42が回転自在となるように支持された状態で設けられている。
また、支持台43に押圧部材41が回転軸42にて回転自在となるように装設されると共に、回転軸42は押圧部材41の中間部に設けられて構成されている。
従って、支持台43において、回転軸(回動軸)42にて、押圧部材41を所要の角度の間で往復回転させる(回動する)ことができるように構成されている。
また、回転軸42を回転の軸心として押圧部材41を回転することにより、押圧部材41の先端部41aを押圧係止片40に(回転)押圧して押圧係止片40を(その基端側を固定した状態で)基準ピン35(X基準線)の方向に傾かせて変形させる(押圧湾曲させる)ことができるように構成されている。
従って、押圧部材41で押圧された押圧係止片40で基板を基準ピン35(X基準線)に寄せて係止することができるので、基板33を基板セット部34に供給セットすることができるように構成されている。
また、支持台43には、押圧部材41を弾性付勢する弾性付勢部材として「ねじりばね44」が回転軸42に対して各別に軸装されて構成されている。
即ち、「ねじりばね(弾性付勢部材)44」にて押圧部材41の先端部41aを基板セット部34(上型32の型面)に弾性付勢して押圧することができるように構成されている。
従って、押圧部材41の先端部41aを基板セット部34に押圧した状態を、押圧部材の閉状態とすることができる。
なお、X基板寄せ機構38における押圧部材41の先端側41aとは反対側となる末端側にはシャフト45が設けられて構成され、押圧部材41において、基板セット部34側から、先端部41a、回転軸42(中間部)、シャフト45(末端部)の順に配置されて構成されている。
In addition, the X substrate moving mechanism 38 includes two pressing members (pressing rods) 41 that press the two pressing locking pieces 40 separately, corresponding to the positions of the pressing locking pieces 40. ing.
In addition, the X substrate alignment mechanism 38 is configured by being provided with one rotation shaft (rotation shaft) 42 and two support bases 43.
In addition, one rotating shaft 42 is provided between the two support bases 43 so as to be rotatable.
Further, the pressing member 41 is mounted on the support base 43 so as to be rotatable by the rotating shaft 42, and the rotating shaft 42 is provided at an intermediate portion of the pressing member 41.
Therefore, the support base 43 is configured such that the pressing member 41 can be reciprocally rotated (rotated) between the required angles by the rotation shaft (rotation shaft) 42.
Further, by rotating the pressing member 41 around the rotation shaft 42 as the rotation axis, the distal end portion 41a of the pressing member 41 is (rotated) pressed against the pressing locking piece 40, thereby pressing the pressing locking piece 40 (its base end). It is configured such that it can be deformed (pressed and curved) by tilting in the direction of the reference pin 35 (X reference line) with the side fixed.
Therefore, the substrate can be brought close to the reference pin 35 (X reference line) by the pressing locking piece 40 pressed by the pressing member 41 and locked, so that the substrate 33 can be supplied and set to the substrate setting portion 34. It is configured as follows.
In addition, the support base 43 is configured such that a “torsion spring 44” is mounted on the rotating shaft 42 as an elastic biasing member that elastically biases the pressing member 41.
That is, the “torsion spring (elastic urging member) 44” is configured to be able to elastically urge and press the front end portion 41a of the pressing member 41 to the substrate set portion 34 (the mold surface of the upper die 32). ing.
Therefore, the state in which the tip end portion 41a of the pressing member 41 is pressed against the substrate setting portion 34 can be set to the closed state of the pressing member.
In addition, a shaft 45 is provided on the terminal side opposite to the tip side 41a of the pressing member 41 in the X substrate shifting mechanism 38, and in the pressing member 41, the tip portion 41a, The rotating shaft 42 (intermediate portion) and the shaft 45 (terminal portion) are arranged in this order.

また、X基板寄せ機構38には、押圧部材41の末端部側のシャフト45を上型32の方向に(上方向に)押圧するプッシャ(図示なし)が設けられて構成されている。
従って、プッシャでシャフト45を上方向に押圧することにより、支持台43における押圧部材41の中間部に設けられた回転軸42を支点として、押圧部材41の先端部41aが下型の方向に(下方向に)所要の角度で回転する(回動する)ことになる。
このとき、押圧部材41の先端部41aを、押圧部材の閉状態から押圧部材の開状態に設定して構成することができる。
また、プッシャによるシャフト45への上方向の押圧を解除することにより、押圧部材41の先端部41aは「ねじりばね44」の弾性作用にて上方向に押圧され、押圧部材41の先端部41aを押圧部材の閉状態にして元の状態に戻すことができる。
即ち、回転軸42を支点として押圧部材41の先端部41aを上下方向に所要の角度で往復回転する(回動する)ことができるように構成されている。
In addition, the X substrate shifting mechanism 38 is provided with a pusher (not shown) that presses the shaft 45 on the distal end side of the pressing member 41 toward the upper mold 32 (upward).
Therefore, when the shaft 45 is pressed upward by the pusher, the distal end portion 41a of the pressing member 41 is directed in the direction of the lower mold with the rotating shaft 42 provided at the intermediate portion of the pressing member 41 in the support base 43 as a fulcrum ( It will rotate (turn down) at the required angle.
At this time, the front end portion 41a of the pressing member 41 can be configured from the closed state of the pressing member to the open state of the pressing member.
Further, by releasing the upward pressure on the shaft 45 by the pusher, the distal end portion 41 a of the pressing member 41 is pressed upward by the elastic action of the “torsion spring 44”, and the distal end portion 41 a of the pressing member 41 is It is possible to return to the original state by closing the pressing member.
That is, the distal end portion 41a of the pressing member 41 is reciprocally rotated (rotated) at a required angle in the vertical direction with the rotation shaft 42 as a fulcrum.

(Y基準線への基板寄せ機構の構成について)
即ち、Y基準線への基板寄せ機構(Y基板寄せ機構)39には、X基板寄せ機構38と同様に、2個の押圧係止片46が2個の基準ピン36で形成されるY基準線(基板セット部34のB辺側)に対応して基板セット部34のD辺の外側に配置されて構成されている。
また、Y基板寄せ機構39には、X基板寄せ機構38と同様に、押圧部材47と、押圧部材47を装設する支持台48と、押圧部材48の中間部に設けられた回転軸(回動軸)49と、支持台48で回転軸49に軸装した「ねじりばね50」と、押圧部材47の末端側に設けられたシャフト51とが設けられて構成されている。
また、Y基板寄せ機構39は、後述する連結機構にてX基板寄せ機構38と連動して押圧部材47の先端部47aを、押圧部材の閉状態から開状態に開いて設定することができるように構成されている。
即ち、Y基板寄せ機構39において、X基板寄せ機構38と同様に、押圧部材47の先端部47aは「ねじりばね50」の弾性作用にて上方向に押圧されているので、回転軸49を支点として押圧部材47の先端部47aを上下方向に所要の角度で往復回転する(回動する)ことができるように構成されている。
このとき、押圧部材47の先端部47aを、押圧部材の閉状態から開状態に開いて設定することができる。
なお、Y基板寄せ機構39には、X基板寄せ機構38と同様に、シャフトを押圧するプッシャ(図示なし)を設けて構成することができる。
(Regarding the configuration of the substrate alignment mechanism to the Y reference line)
In other words, the Y reference line has a substrate reference mechanism (Y substrate alignment mechanism) 39 in which two pressing locking pieces 46 are formed by two reference pins 36 as in the case of the X substrate alignment mechanism 38. Corresponding to the line (B side of the substrate setting part 34), it is arranged outside the D side of the substrate setting part 34.
Similarly to the X substrate shifting mechanism 38, the Y substrate shifting mechanism 39 includes a pressing member 47, a support base 48 on which the pressing member 47 is mounted, and a rotation shaft (rotation) provided at an intermediate portion of the pressing member 48. (Dynamic axis) 49, a “torsion spring 50” mounted on the rotary shaft 49 by the support base 48, and a shaft 51 provided on the terminal side of the pressing member 47 are provided.
Further, the Y substrate shifting mechanism 39 can be set by opening the distal end portion 47a of the pressing member 47 from the closed state of the pressing member to the open state in conjunction with the X substrate shifting mechanism 38 by a connecting mechanism described later. It is configured.
In other words, in the Y substrate shifting mechanism 39, as in the X substrate shifting mechanism 38, the tip end portion 47a of the pressing member 47 is pressed upward by the elastic action of the “torsion spring 50”. As described above, the front end portion 47a of the pressing member 47 can be reciprocally rotated (rotated) at a required angle in the vertical direction.
At this time, the front end portion 47a of the pressing member 47 can be set by opening from the closed state of the pressing member to the open state.
Note that, similarly to the X substrate alignment mechanism 38, the Y substrate alignment mechanism 39 can be configured with a pusher (not shown) that presses the shaft.

(押圧部材の押圧作用について)
次に、図8(1)、図8(2)を用いて、X基板寄せ機構38にて、基板セット部34に基板33を供給セットして押圧係止する場合に、押圧部材41の先端部41aが押圧係止片40を押圧する作用について説明する。
なお、図8(1)は基板の寄せ係止前の状態(基板寄せ機構の開状態)を示し、図8(2)は基板の寄せ係止時の状態(基板寄せ機構の閉状態)を示している。
(Pressing action of the pressing member)
Next, with reference to FIGS. 8A and 8B, when the substrate 33 is supplied and set to the substrate setting portion 34 and pressed and locked by the X substrate shifting mechanism 38, the tip of the pressing member 41 is used. The effect | action which the part 41a presses the press locking piece 40 is demonstrated.
8 (1) shows a state before the board is brought into engagement and locked (open state of the board approach mechanism), and FIG. 8 (2) shows a state when the board is brought in and out (closed state of the board approach mechanism). Show.

例えば、基板33を載置した基板供給機構から基板33を上動させて上型32の型面に設けられた基板セット部34に供給セットする。
このとき、図8(1)に示すように、押圧部材41の先端部41aと基板セット部34の押圧係止片40とは離間した状態にあり、図8(1)に示す図例では、基板33と、基準ピン35及び押圧係止片40とは接触しない状態で(隙間がある状態で)、基板セット部34に基板33が供給セットされて構成されている。
従って、次に、図8(2)に示すように、押圧部材41の先端部41aを基板セット部34側に回転させることにより、押圧部材(押圧棒)41を水平状態にして閉状態とし、押圧係止片40を押圧部材41の先端部41aで押圧することができる。
このとき、押圧部材41にて押圧係止片40を(その先端側から)基板33側に押圧湾曲させることができるように構成されている。
また、このとき、押圧部材41にて、基板33(のC辺)を、押圧係止片40を介して基準ピン35側に押圧することにより、基準ピン35に基板33(のA辺)を押圧係止し得て、基板33を基板セット部34に係止して供給セットすることができる。
For example, the substrate 33 is moved up from the substrate supply mechanism on which the substrate 33 is placed, and is supplied and set to the substrate setting unit 34 provided on the mold surface of the upper mold 32.
At this time, as shown in FIG. 8 (1), the tip end portion 41a of the pressing member 41 and the pressing locking piece 40 of the substrate set portion 34 are in a separated state. In the example shown in FIG. The substrate 33 is configured to be supplied and set to the substrate setting portion 34 in a state where the substrate 33 is not in contact with the reference pin 35 and the press locking piece 40 (with a gap).
Therefore, next, as shown in FIG. 8 (2), by rotating the tip 41a of the pressing member 41 toward the substrate setting portion 34, the pressing member (pressing bar) 41 is brought into a horizontal state to be in a closed state. The pressing locking piece 40 can be pressed by the tip portion 41 a of the pressing member 41.
At this time, the pressing member 41 is configured so that the pressing locking piece 40 can be pressed and bent toward the substrate 33 side (from the front end side).
At this time, the substrate 33 (the C side) is pressed by the pressing member 41 to the reference pin 35 side via the pressing locking piece 40, thereby bringing the substrate 33 (the A side) into the reference pin 35. The substrate 33 can be pressed and locked, and the substrate 33 can be locked to the substrate setting portion 34 and supplied and set.

例えば、まず、X基板寄せ機構38において、押圧部材41を回転させて押圧部材41を閉状態にすることにより、押圧部材41の先端部41aで押圧係止片40を押圧し、次に、押圧係止片40で基板のC辺を押圧することにより、基板のA辺をX基準線(X方向の基準ピン35)に押圧(当接)することができる。
また、このとき、同時に、Y基板寄せ機構39において、押圧部材47を回転させて押圧部材を閉状態にすることにより、押圧部材47の先端部47aで押圧係止片46を押圧し、次に、押圧係止片46で基板33のD辺を押圧することにより、基板33のB辺をY基準線(Y方向の基準ピン36)に押圧(当接)することができる。
従って、基板セット部34に供給セットした基板33を、X基準線(X方向の基準ピン35)とY基準線(Y方向の基準ピン36)とに対して各別に且つ同時に押圧して寄せることができるので、基板セット部34に供給セットされる基板33を効率良く位置決めすることができる。
For example, first, in the X substrate shifting mechanism 38, the pressing member 41 is rotated to close the pressing member 41, whereby the pressing locking piece 40 is pressed by the distal end portion 41a of the pressing member 41, and then the pressing member 41 is pressed. By pressing the C side of the substrate with the locking piece 40, the A side of the substrate can be pressed (contacted) with the X reference line (the reference pin 35 in the X direction).
At this time, at the same time, the pressing member 47 is rotated in the Y substrate shifting mechanism 39 to close the pressing member, thereby pressing the pressing locking piece 46 with the tip 47a of the pressing member 47, and then By pressing the D side of the substrate 33 with the pressing locking piece 46, the B side of the substrate 33 can be pressed (contacted) with the Y reference line (the reference pin 36 in the Y direction).
Therefore, the substrate 33 supplied and set to the substrate setting unit 34 is pressed against the X reference line (X direction reference pin 35) and the Y reference line (Y direction reference pin 36) separately and simultaneously. Therefore, the substrate 33 supplied and set to the substrate setting unit 34 can be positioned efficiently.

(押圧係止片の押圧作用とその反作用について)
即ち、押圧係止片40、46を、回転して閉状態となる押圧部材41、47にて押圧することにより、押圧係止片40、46を基板セット部34側に湾曲させた状態に構成することができる。
このとき、押圧係止片40、46は基板33の辺を押圧することになり、基準ピン35、36と押圧係止片40、46とは共働作用して基板33を基板セット部34に係止して供給セットさせることができる。
また、押圧部材41、47を回転させて開状態とすることにより、押圧部材41、47による押圧係止片40、46への押圧を解除することができる。
このとき、押圧係止片40、46(の先端部)は押圧部材41、47による押圧作用に対する反作用で元の状態に(元の形状及び位置に)戻るように構成されている。
なお、押圧係止片41、47が金属片で形成されている場合には、押圧部材41、47で押圧された押圧係止片40、46は、スプリングバック作用にて元の状態に戻ることになる。
(Regarding the pressing action and reaction of the pressing locking piece)
That is, the press locking pieces 40 and 46 are configured to be curved toward the substrate set portion 34 side by being pressed by the pressing members 41 and 47 that are rotated and closed. can do.
At this time, the pressing locking pieces 40 and 46 press the sides of the substrate 33, and the reference pins 35 and 36 and the pressing locking pieces 40 and 46 work together to bring the substrate 33 into the substrate setting portion 34. It can be locked and set for supply.
Moreover, by pressing the pressing members 41 and 47 to be in the open state, the pressing of the pressing locking pieces 40 and 46 by the pressing members 41 and 47 can be released.
At this time, the pressing locking pieces 40 and 46 (tip portions thereof) are configured to return to the original state (return to the original shape and position) by the reaction to the pressing action by the pressing members 41 and 47.
When the press locking pieces 41 and 47 are formed of metal pieces, the press locking pieces 40 and 46 pressed by the pressing members 41 and 47 return to the original state by the spring back action. become.

(連結機構について)
次に、図9(1)、図9(2)、図10(1)、図10(2)を用いて、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを同時に開閉することにより、基板を2方向から同時に押圧して基板の位置決めを行う連結機構52を説明する。
なお、図9(1)、図10(1)は、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とが閉状態となったときの連結機構52の状態を示している。
また、図9(2)、図10(2)は、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とが開状態となったときの連結機構の状態を示している。
(About connection mechanism)
Next, by using FIG. 9 (1), FIG. 9 (2), FIG. 10 (1), and FIG. The connecting mechanism 52 for positioning the substrate by simultaneously pressing in two directions will be described.
9 (1) and 10 (1) show the state of the coupling mechanism 52 when the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 are closed.
FIGS. 9 (2) and 10 (2) show the state of the coupling mechanism when the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 are in the open state.

即ち、図例に示すように、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを同時に開閉する連結機構52には、X基板寄せ機構38の回転軸42に軸方向に連設された回動部53と、回動部53に軸方向に平行状態で切り欠いて設けられた切欠平面部54とが設けられて構成されている。
従って、X基板寄せ機構38の回転軸42と切欠平面部54を有する回動部53とは同じ軸方向を回転の軸心として回転(回動)するように構成されている。
このとき、回動部53の切欠平面部54はその全体が回転軸42の軸芯を中心にして回転するように構成されている。
また、連結機構52には、Y基板寄せ機構39の回転軸49を回転(回動)させるアーム55が設けられて構成されている。
また、連結機構52においては、切欠平面部54の上に、回動部53の軸方向とは直角となる方向に差し渡されて載置された連結棒56が固定されない状態で設けられて構成されている。
That is, as shown in the figure, the connecting mechanism 52 that simultaneously opens and closes the X-substrate alignment mechanism 38 and the Y-substrate alignment mechanism 39 is connected to the rotation shaft 42 of the X-substrate alignment mechanism 38 in the axial direction. The part 53 and the notch plane part 54 provided by notching the rotating part 53 in a state parallel to the axial direction are provided.
Therefore, the rotating shaft 42 of the X substrate shifting mechanism 38 and the rotating portion 53 having the notched flat surface portion 54 are configured to rotate (turn) with the same axial direction as the axis of rotation.
At this time, the entire cutout flat surface portion 54 of the rotating portion 53 is configured to rotate about the axis of the rotation shaft 42.
The connection mechanism 52 is provided with an arm 55 that rotates (rotates) the rotation shaft 49 of the Y substrate shifting mechanism 39.
Further, the connecting mechanism 52 is configured such that the connecting rod 56 placed and placed on the notch plane portion 54 in a direction perpendicular to the axial direction of the rotating portion 53 is not fixed. Has been.

また、アーム55の一端側にはY基板寄せ機構39の回転軸49が直角方向に固設されると共に、アーム55の端側には連結棒56が直角方向に固設されて構成されている。
従って、X基板寄せ機構38の回転軸42(回動部53)を所要の角度で往復回転させる(回動させる)ことにより、回動部53の切欠平面部54にて連結棒56を、軸方向を水平状態にして上下方向に曲線を描いて移動させることができるように構成されている。
また、連結棒56を、軸方向を水平状態にして上下方向に曲線(円弧)を描いて移動させることにより、アーム55をY基板寄せ機構39の回転軸49を軸心として回動させることができるように構成されている。
従って、アーム55を回動させることにより、Y基板寄せ機構39の回転軸49を回動させることができるように構成されている。
In addition, a rotation shaft 49 of the Y substrate shifting mechanism 39 is fixed to one end side of the arm 55 in a right angle direction, and a connecting rod 56 is fixed to the end side of the arm 55 in a right angle direction. .
Accordingly, by rotating (rotating) the rotation shaft 42 (rotating portion 53) of the X substrate shifting mechanism 38 at a required angle, the connecting rod 56 is pivoted at the notch plane portion 54 of the rotating portion 53. It is configured such that it can be moved in a horizontal direction with a curved line drawn in the vertical direction.
Further, the arm 55 can be rotated about the rotation shaft 49 of the Y substrate shifting mechanism 39 by moving the connecting rod 56 in a horizontal direction with a curved line (arc). It is configured to be able to.
Accordingly, the rotation shaft 49 of the Y substrate shifting mechanism 39 can be rotated by rotating the arm 55.

即ち、図9(1)、図10(1)に示すように、切欠平面部54が水平面状態のとき、X基板寄せ機構38(回転軸42)とY基板寄せ機構39(回転軸49)とは閉状態にあり、軸方向が水平状態の連結棒56は、切欠平面部54に固設はされていないが、切欠平面部に接触して付着した状態にある。
また、図9(2)、図10(2)に示すように、X基板寄せ機構38の回転軸42を所要の角度で回転(回動)させた場合、回動した回動部53の切欠平面部54は基板セット部34とは反対側に傾いて傾斜面となり、連結棒56を上方向に曲線を描いて移動させて傾斜面の上方の縁辺に連結棒56を載置した状態に設定することができる。
このとき、連結棒56にてY基板寄せ機構39の回転軸49を所要の角度で回転(回動)させ、Y基板寄せ機構39を開状態に設定することができる。
従って、X基板寄せ機構38(における押圧部材41)を開閉することにより、連結機構52にて、同時に、Y基板寄せ機構39(における押圧部材46)を開閉することができるように構成されている。
なお、図9(2)、図10(2)において、符号62は、連結棒56が上下方向に曲線(円弧)を描いて移動する距離を示している。
また、図10(2)において、符号63は、アーム55が回転する角度を示している。
That is, as shown in FIGS. 9 (1) and 10 (1), when the notch plane portion 54 is in a horizontal plane state, the X substrate alignment mechanism 38 (rotary shaft 42), the Y substrate alignment mechanism 39 (rotational shaft 49), Is in a closed state and the connecting rod 56 in the horizontal state of the axial direction is not fixed to the notch plane portion 54 but is in contact with and attached to the notch plane portion.
Further, as shown in FIGS. 9 (2) and 10 (2), when the rotation shaft 42 of the X-substrate alignment mechanism 38 is rotated (rotated) at a required angle, the notch of the rotated rotating portion 53 is obtained. The flat surface portion 54 is inclined to the opposite side to the substrate setting portion 34 to become an inclined surface, and the connecting rod 56 is moved in a curved line upward to set the connecting rod 56 on the upper edge of the inclined surface. can do.
At this time, the rotation axis 49 of the Y substrate alignment mechanism 39 is rotated (rotated) by a required angle by the connecting rod 56, so that the Y substrate alignment mechanism 39 can be set in the open state.
Accordingly, by opening and closing the X substrate shifting mechanism 38 (the pressing member 41), the connecting mechanism 52 can simultaneously open and close the Y substrate shifting mechanism 39 (the pressing member 46). .
9 (2) and 10 (2), reference numeral 62 indicates the distance that the connecting rod 56 moves while drawing a curve (arc) in the vertical direction.
In FIG. 10B, reference numeral 63 indicates an angle at which the arm 55 rotates.

(基板係止機構について)
また、実施例2において、図6及び図7(2)に示すように、基板33を基板セット部34に係止する基板係止機構37が補助的に設けられて構成されている。
なお、基板係止機構37の基本的な構成は、前記した基板寄せ機構38、39と同様である。
即ち、図例に示すように、基板係止機構37には、回転(回動)して基板33を押圧(或いは解除)する基板押さえ部材(グリップ部材)57と、基板押さえ部材57を回転(回動)する回転軸(回動軸)58と、回転軸58を回転自在(回動自在)に支持し且つ基板押さえ部材57を回転自在(回動自在)に支持する支持台59と、支持台59位置で回転軸58に軸装し且つ基板押さえ部材57を基板セット部34側(上型32の型面側)に押圧付勢する「ねじりばね60」と、回転軸58を介して基板セット部34と反対側に設けられたシャフト61と、シャフト61を押圧するプッシャ(図示なし)とが設けられて構成されている。
なお、支持台59において、基板押さえ部材57が支持台59に支持された回転軸58を回転の中心に所要の角度で往復回転する(回動する)ように構成されている。
(About the board locking mechanism)
Further, in the second embodiment, as shown in FIGS. 6 and 7 (2), a substrate locking mechanism 37 for locking the substrate 33 to the substrate setting portion 34 is provided as an auxiliary.
The basic configuration of the board locking mechanism 37 is the same as that of the board shifting mechanisms 38 and 39 described above.
That is, as shown in the drawing, the substrate locking mechanism 37 is rotated (rotated) to rotate (rotate) the substrate pressing member (grip member) 57 that presses (or releases) the substrate 33 and the substrate pressing member 57 ( A rotating shaft 58 that rotates), a support base 59 that supports the rotating shaft 58 rotatably (rotatably) and supports the substrate pressing member 57 rotatably (rotatably), and a support A “torsion spring 60” that is mounted on the rotary shaft 58 at the position of the base 59 and presses and biases the substrate pressing member 57 toward the substrate set portion 34 (the mold surface side of the upper mold 32), and the substrate via the rotary shaft 58. A shaft 61 provided on the side opposite to the set portion 34 and a pusher (not shown) for pressing the shaft 61 are provided.
In the support base 59, the substrate pressing member 57 is configured to reciprocate (rotate) at a required angle around the rotation shaft 58 supported by the support base 59.

従って、プッシャにてシャフト61を上方向に押圧することにより、基板押さえ部材57の先端部57aを基板セット部34から離間して閉状態から開状態にすることができるように構成されている。
また、プッシャによるシャフト61への押圧を解除することにより、基板押さえ部材57の先端部57aを基板セット部34に押圧して基板33を(補助的に)係止することができるように構成されている。
なお、基板セット部34において、2個の基板押さえ部材57の先端部57aの間には2個のX方向の基準ピン35が配置されて構成されている。
Accordingly, the front end portion 57a of the substrate pressing member 57 can be separated from the substrate setting portion 34 and pressed from the closed state by pressing the shaft 61 upward with the pusher.
Further, by releasing the pressure on the shaft 61 by the pusher, the front end portion 57a of the substrate pressing member 57 is pressed against the substrate setting portion 34 so that the substrate 33 can be (supplementally) locked. ing.
In the substrate setting portion 34, two reference pins 35 in the X direction are arranged between the tip portions 57a of the two substrate pressing members 57.

(実施例2における半導体チップの圧縮成形方法について)
即ち、実施例2において、まず、半導体チップを装着した基板33を上型32の基板セット部34に半導体チップ装着側を下方に向けた状態で供給セットする。(なお、このとき、基板セット部34においては、基板33と、位置決め用の基準ピン35、36或いは押圧係止片40、46との間には隙間が存在するのが通例である。)
このとき、X基板寄せ機構38におけるシャフト45をプッシャにて上方向に押圧することにより、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とは連結機構52にて連動して同時に開状態となっている。
次に、X基板寄せ機構38におけるシャフト45をプッシャの押圧から解除することにより、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを連結機構52にて連動して同時に閉状態にすることができる。
このとき、X基板寄せ機構38(押圧部材41の先端部41a)にて押圧係止片40を押圧することにより、基板33のC辺を押圧して基板33のA辺をX基準線に押圧して(基板33のA辺を基準ピン35に当接して)位置決めすることができる。
また、このとき、Y基板寄せ機構39(押圧部材47の先端部47a)にて押圧係止片46を押圧することにより、基板33のD辺を押圧して基板33のB辺をY基準線に押圧して(基板33のB辺を基準ピン36に当接して)位置決めすることができる。
即ち、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを同時に閉状態に設定することにより、X基準線(基準ピン35)とY基準線(基準ピン36)とに対して同時に押圧して位置決めすることができる。
従って、実施例2におけるX基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とで基板セット部34に基板33を効率良く位置決めして供給セットすることができる。
(About the semiconductor chip compression molding method in Example 2)
That is, in the second embodiment, first, the substrate 33 on which the semiconductor chip is mounted is supplied and set on the substrate setting portion 34 of the upper mold 32 with the semiconductor chip mounting side facing downward. (At this time, in the board setting portion 34, it is usual that a gap exists between the board 33 and the positioning reference pins 35, 36 or the press locking pieces 40, 46.)
At this time, by pressing the shaft 45 in the X substrate abutting mechanism 38 upward with a pusher, the X substrate abutting mechanism 38 and the Y substrate abutting mechanism 39 are simultaneously opened in conjunction with the connecting mechanism 52. Yes.
Next, by releasing the shaft 45 in the X substrate abutting mechanism 38 from the pressing of the pusher, the X substrate abutting mechanism 38 and the Y substrate abutting mechanism 39 can be simultaneously interlocked by the connecting mechanism 52 to be closed. .
At this time, the C-side of the substrate 33 is pressed by pressing the pressing locking piece 40 with the X-board-feeding mechanism 38 (the tip 41a of the pressing member 41), and the A-side of the substrate 33 is pressed against the X reference line. Thus, positioning can be performed (the A side of the substrate 33 is in contact with the reference pin 35).
At this time, by pressing the pressing locking piece 46 with the Y substrate shifting mechanism 39 (the tip portion 47a of the pressing member 47), the D side of the substrate 33 is pressed, and the B side of the substrate 33 is set to the Y reference line. (The B side of the substrate 33 is brought into contact with the reference pin 36) for positioning.
That is, by simultaneously setting the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 to the closed state, the X substrate alignment mechanism 38 and the Y reference line (reference pin 36) are simultaneously pressed and positioned. can do.
Therefore, the substrate 33 can be efficiently positioned and set on the substrate setting portion 34 by the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 in the second embodiment.

なお、実施例2においては、基板33の位置決めに、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを用いる構成であるので、基板に位置決めピンに対応する位置決め孔を設ける必要はない。   In the second embodiment, since the X substrate alignment mechanism 38 and the Y substrate alignment mechanism 39 are used for positioning the substrate 33, it is not necessary to provide positioning holes corresponding to the alignment pins in the substrate.

また、実施例2において、X基板寄せ機構38とY基板寄せ機構39とを同時に閉状態とすると共に、更に、基板係止機構37にて補助的に基板33を係止することができる。   Further, in the second embodiment, the X substrate shifting mechanism 38 and the Y substrate shifting mechanism 39 are simultaneously closed, and the substrate 33 can be supplementarily locked by the substrate locking mechanism 37.

また、実施例2において、基板係止機構37と、X基板寄せ機構38及びY基板寄せ機構39と連動させて、基板係止機構37、X基板寄せ機構38、Y基板寄せ機構39の3者を同時に開閉する構成を採用することができる。   In the second embodiment, the substrate locking mechanism 37, the X substrate shifting mechanism 38, and the Y substrate shifting mechanism 39 are interlocked with each other, and the substrate locking mechanism 37, the X substrate shifting mechanism 38, and the Y substrate shifting mechanism 39 are combined. The structure which opens and closes simultaneously is employable.

また、実施例2においては、コンプレッションモールド法による半導体チェックの圧縮成形用金型31を用いて例示したが、本発明に係る位置決めの構成(基板寄せ機構38、39)は、トランスファモールド法に用いられる半導体チップの樹脂封止成形用金型(ポット、プランジャ、ランナ・ゲート等の樹脂通路、樹脂成形用キャビティを有する金型)に採用することができる。   In the second embodiment, the semiconductor check compression molding die 31 for compression check is used as an example. However, the positioning configuration (substrate shifting mechanisms 38 and 39) according to the present invention is used for the transfer molding method. It can be employed in a resin-sealing mold for semiconductor chips (molds having resin passages such as pots, plungers, runners and gates, and cavities for resin molding).

本発明は、前述した実施例のものに限定されるものでなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意且つ適宜に変更・選択して採用できるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be arbitrarily changed and selected as needed within a range not departing from the gist of the present invention.

図1は、本発明に係る半導体チップの圧縮成形用金型(半導体チップの樹脂封止成形用金型)を概略的に示す概略縦断面図であって、金型の型開状態を示している(実施例1)。FIG. 1 is a schematic longitudinal sectional view schematically showing a semiconductor chip compression molding die (semiconductor chip resin molding die) according to the present invention, showing the mold open state. (Example 1). 図2は、図1に対応する金型を概略的に示す概略縦断面図であって、離型フィルムを位置決めピンで突き刺して貫通した状態を示している(実施例1)。FIG. 2 is a schematic longitudinal sectional view schematically showing a mold corresponding to FIG. 1 and shows a state in which a release film is pierced with a positioning pin (Example 1). 図3は、図1に対応する金型を概略的に示す概略縦断面図であって、基板の位置決め孔に位置決めピンを貫通して合致させた状態と、基板を可動支受ピンで支受した状態とを示している(実施例1)。FIG. 3 is a schematic longitudinal sectional view schematically showing a mold corresponding to FIG. 1, in which a positioning pin is inserted through and aligned with a positioning hole of the substrate, and the substrate is supported by a movable supporting pin. (Example 1). 図4は、図1に対応する金型を概略的に示す概略縦断面図であって、上型の基板セット部に基板を供給セットした状態を示している(実施例1)。FIG. 4 is a schematic longitudinal sectional view schematically showing a mold corresponding to FIG. 1, and shows a state in which a substrate is supplied and set to an upper mold substrate setting portion (Example 1). 図5は、図1に対応する金型を概略的に示す概略縦断面図であって、金型の型締状態を示している(実施例1)。FIG. 5 is a schematic longitudinal sectional view schematically showing a mold corresponding to FIG. 1 and shows a mold clamping state of the mold (Example 1). 図6は、本発明に係る他の半導体チップの圧縮成形用金型(半導体チップの樹脂封止成形用金型)を概略的に示す概略平面図であって、上型の型面を示している(実施例2)。FIG. 6 is a schematic plan view schematically showing another semiconductor chip compression molding die (semiconductor chip resin molding die) according to the present invention, showing an upper die surface. (Example 2). 図7(1)、図7(2)は、図6に示す上型の要部を拡大して概略的に示す拡大概略たて断面図であって、図7(1)は上型の基板寄せ機構を示し、図7(2)は基板係止機構を示している(実施例2)。7 (1) and 7 (2) are enlarged schematic vertical sectional views schematically showing an enlarged main part of the upper die shown in FIG. 6, and FIG. 7 (1) is an upper die substrate. FIG. 7 (2) shows the board locking mechanism (Example 2). 図8(1)、図8(2)は、図7(1)に示す上型の基板寄せ機構の要部を拡大して概略的に示す拡大概略縦断面図であって、図8(1)は基板の寄せ係止前の状態(基板寄せ機構の開状態)を示し、図8(2)は基板の寄せ係止時の状態(基板寄せ機構の閉状態)を示している(実施例2)。8 (1) and FIG. 8 (2) are enlarged schematic longitudinal sectional views schematically showing an enlarged main part of the upper-type substrate shifting mechanism shown in FIG. 7 (1). ) Shows a state before the substrate is brought into engagement (open state of the substrate attachment mechanism), and FIG. 8 (2) shows a state when the substrate is brought in engagement (closed state). 2). 図9(1)、図9(2)は、上型の要部(連結機構)を拡大して概略的に示す拡大概略縦断面図であって、図9(1)は基板の寄せ機構の閉状態を示し、図9(2)は基板の寄せ機構の開状態を示している(実施例2)。FIGS. 9 (1) and 9 (2) are enlarged schematic longitudinal sectional views schematically showing an enlarged main part (coupling mechanism) of the upper mold, and FIG. The closed state is shown, and FIG. 9B shows the open state of the substrate shifting mechanism (Example 2). 図10(1)、図10(2)は、上型の要部(連結機構)を拡大して概略的に示す拡大概略縦断面図であって、図10(1)は図9(1)に対応し、図10(2)は図9(2)に対応している(実施例2)。FIGS. 10 (1) and 10 (2) are enlarged schematic longitudinal sectional views schematically showing an enlarged main part (coupling mechanism) of the upper die, and FIG. 10 (1) is FIG. 9 (1). 10 (2) corresponds to FIG. 9 (2) (Example 2).

1 半導体チップの圧縮成形用金型(半導体チップの樹脂封止成形用金型)
2 固定上型
3 可動下型
4 中間型
5 遊嵌孔(貫通孔)
6 基板
7 基板セット部
8 下型キャビティ
9 離型フィルム
10 樹脂材料
11 外気遮断部材
12 所要の間隔(距離)
13 キャビティ底面部材
14 基台
15 挟持部材
16 基板用の位置決めピン
17 基板の位置決め孔
18 位置決めピンの挿通孔
19 孔部(離型フィルム)
20 可動支受ピン
21 弾性部材
22 所要の高さ(距離)
31 半導体チップの圧縮成形用金型(半導体チップの樹脂封止成形用金型)
32 固定上型
33 基板
34 基板セット部
35 基準ピン(X方向)
36 基準ピン(Y方向)
37 基板係止機構
38 (X基準線への)基板寄せ機構
39 (Y基準線への)基板寄せ機構
40 押圧係止片
41 押圧部材
41a 先端部
42 回転軸
43 支持台
44 ねじりばね
45 シャフト
46 押圧係止片
47 押圧部材
47a 先端部
48 支持台
49 回転軸
50 ねじりばね
51 シャフト
52 連結機構
53 回動部
54 切欠平面部
55 アーム
56 連結棒
57 基板押さえ部材
57a 先端部
58 回転軸
59 支持台
60 ねじりばね
61 シャフト
62 距離
63 角度
1 Mold for compression molding of semiconductor chip (mold for resin sealing molding of semiconductor chip)
2 Fixed upper mold 3 Movable lower mold 4 Intermediate mold 5 Free fitting hole (through hole)
6 Substrate 7 Substrate setting portion 8 Lower mold cavity 9 Release film 10 Resin material 11 Outside air blocking member 12 Required interval (distance)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 13 Cavity bottom member 14 Base 15 Clamping member 16 Substrate positioning pin 17 Substrate positioning hole 18 Positioning pin insertion hole 19 Hole (release film)
20 Movable bearing pin 21 Elastic member 22 Required height (distance)
31. Mold for compression molding of semiconductor chip (mold for resin sealing molding of semiconductor chip)
32 Fixed upper mold 33 Substrate 34 Substrate setting part 35 Reference pin (X direction)
36 Reference pin (Y direction)
37 Substrate locking mechanism 38 Substrate alignment mechanism (to the X reference line) 39 Substrate alignment mechanism (to the Y reference line) 40 Press locking piece 41 Press member 41a Tip portion 42 Rotating shaft 43 Support base 44 Torsion spring 45 Shaft 46 Press locking piece 47 Press member 47a Tip portion 48 Support base 49 Rotating shaft 50 Torsion spring 51 Shaft 52 Connection mechanism 53 Rotating portion 54 Notch plane portion 55 Arm 56 Connecting rod 57 Substrate pressing member 57a Tip portion 58 Rotating shaft 59 Support base 60 Torsion spring 61 Shaft 62 Distance 63 Angle

Claims (2)

上型と下型と前記した下型を遊嵌する貫通孔を有する中間型とから成る半導体チップの圧縮成形用金型を用いて、上型の基板セット部に半導体チップを装着した基板を供給セットし、且つ、前記した下型と中間型とで離型フィルムを挟持すると共に、前記した挟持された離型フィルムを被覆した下型キャビティ内に樹脂材料を供給セットして前記した金型を型締めすることにより、前記したキャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する半導体チップの圧縮成形方法であって、
前記した中間型と前記した下型に設けた挟持部材とで離型フィルムを挟持する工程と、
前記した下型の型面に設けた基板用の位置決めピンにて前記した挟持された離型フィルムに穴を開けて貫通させる工程と、
前記した下型の型面に上下動自在に設けた可動支受ピンと下型キャビティとに前記した挟持された離型フィルムを被覆させる工程と、
前記した離型フィルムを被覆したキャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化する工程と、
前記した位置決めピンを基板に設けた位置決め孔に貫通させる工程と、
前記した離型フィルムを介して前記した可動支受ピンで基板を支受することにより、前記した基板と前記した下型面との間に所要の間隔を設定する工程と、
前記した金型を型締めする工程と、
前記金型の型締時に、前記した上型の基板セット部に基板を供給セットする工程と、
前記金型の型締時に、前記した可動支受ピンを基板で下方向に押圧することにより、前記した可動支受ピンを前記した下型内に収容する工程と、
前記した下型キャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する工程とを備えたことを特徴とする半導体チップの圧縮成形方法。
Supplying a substrate with a semiconductor chip mounted on the substrate set part of the upper die using a die for compression molding of a semiconductor chip comprising an upper die, a lower die, and an intermediate die having a through hole for loosely fitting the lower die. The mold is sandwiched between the lower mold and the intermediate mold, and a resin material is supplied and set in the lower mold cavity covering the sandwiched release film. A semiconductor chip compression molding method for compressing and molding a semiconductor chip mounted on a substrate in a resin molded body corresponding to the shape of the cavity in the cavity, by clamping the mold,
Clamping the release film between the intermediate mold and the clamping member provided in the lower mold,
A step of making a hole in the release film sandwiched by the positioning pin for the substrate provided on the mold surface of the lower mold and penetrating the mold,
A step of covering the mold release film sandwiched between the movable support pin provided on the mold surface of the lower mold so as to be vertically movable and the lower mold cavity;
Supplying a resin material into the cavity coated with the release film, and heating and melting;
A step of penetrating the positioning pin described above through a positioning hole provided in the substrate;
A step of setting a required interval between the above-described substrate and the above-described lower mold surface by supporting the substrate with the above-described movable support pin through the above-described release film;
A step of clamping the above-described mold;
A step of supplying and setting a substrate to the substrate setting portion of the upper mold when the mold is clamped;
A step of accommodating the movable support pin in the lower mold by pressing the movable support pin downward on the substrate when the mold is clamped; and
A compression molding method for a semiconductor chip, comprising: a step of compression molding a semiconductor chip mounted on a substrate in a resin molded body corresponding to the shape of the cavity in the lower mold cavity.
中間型と下型に設けた挟持部材とで離型フィルムを挟持する工程と、
前記した下型の型面に設けた基板用の位置決めピンにて前記した挟持された離型フィルムに穴を開けて貫通させる工程と、
前記した下型の型面に上下動自在に設けた可動支受ピンと下型キャビティとに前記した挟持された離型フィルムを被覆させる工程と、
前記した位置決めピンを基板に設けた位置決め孔に貫通させる工程と、
前記した離型フィルムを介して前記した可動支受ピンで基板を支受することにより、前記した基板と前記した下型面との間に所要の間隔を設定する工程と、
前記した金型を型締めする工程と、
前記金型の型締時に、前記した上型の基板セット部に基板を供給セットする工程と、
前記した金型を型開きする工程と、
前記した離型フィルムを被覆したキャビティ内に樹脂材料を供給して加熱溶融化する工程と、
前記した金型を型締めする工程と、
前記金型の型締時に、前記した可動支受ピンを基板で下方向に押圧することにより、前記した可動支受ピンを前記した下型内に収容する工程と、
前記した下型キャビティ内で前記したキャビティの形状に対応した樹脂成形体内に基板に装着した半導体チップを圧縮成形する工程とを備えたことを特徴とする請求項1に記載の半導体チップの圧縮成形方法。
Clamping the release film between the intermediate mold and the clamping member provided in the lower mold; and
A step of making a hole in the release film sandwiched by the positioning pin for the substrate provided on the mold surface of the lower mold and penetrating the mold,
A step of covering the mold release film sandwiched between the movable support pin provided on the mold surface of the lower mold so as to be vertically movable and the lower mold cavity;
A step of penetrating the positioning pin described above through a positioning hole provided in the substrate;
A step of setting a required interval between the above-described substrate and the above-described lower mold surface by supporting the substrate with the above-described movable support pin through the above-described release film;
A step of clamping the above-described mold;
A step of supplying and setting a substrate to the substrate setting portion of the upper mold when the mold is clamped;
Opening the mold as described above;
Supplying a resin material into the cavity coated with the release film, and heating and melting;
A step of clamping the above-described mold;
A step of accommodating the movable support pin in the lower mold by pressing the movable support pin downward on the substrate when the mold is clamped; and
2. The compression molding of a semiconductor chip according to claim 1, further comprising a step of compression molding a semiconductor chip mounted on a substrate in a resin molded body corresponding to the shape of the cavity in the lower mold cavity. Method.
JP2008188273A 2008-07-22 2008-07-22 Semiconductor chip compression molding method Active JP5036654B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008188273A JP5036654B2 (en) 2008-07-22 2008-07-22 Semiconductor chip compression molding method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008188273A JP5036654B2 (en) 2008-07-22 2008-07-22 Semiconductor chip compression molding method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010027890A JP2010027890A (en) 2010-02-04
JP5036654B2 true JP5036654B2 (en) 2012-09-26

Family

ID=41733425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008188273A Active JP5036654B2 (en) 2008-07-22 2008-07-22 Semiconductor chip compression molding method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5036654B2 (en)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG191479A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-31 Apic Yamada Corp Method for resin molding and resin molding apparatus
KR101241303B1 (en) 2012-03-22 2013-03-11 최직순 Manufacturing apparatus for front panel of display apparatus
JP5866398B2 (en) 2013-05-15 2016-02-17 東芝機械株式会社 Molding system and method for manufacturing molded article
JP5873887B2 (en) * 2013-05-15 2016-03-01 東芝機械株式会社 Molded product manufacturing apparatus and molded product manufacturing method
JP5694486B2 (en) * 2013-11-12 2015-04-01 アピックヤマダ株式会社 Resin sealing device
CN107038965A (en) * 2017-05-05 2017-08-11 深圳浩翔光电技术有限公司 LED display, shaping module and its production technology
CN107234771A (en) * 2017-07-07 2017-10-10 安徽宁国中鼎模具制造有限公司 A kind of mould of skin film
JP6854784B2 (en) * 2018-01-15 2021-04-07 Towa株式会社 Resin molding equipment and resin molded product manufacturing method
JP7104585B2 (en) * 2018-08-28 2022-07-21 株式会社イノアックコーポレーション Sound absorbing panel material for vehicles and its manufacturing method
JP7203778B2 (en) * 2020-01-21 2023-01-13 Towa株式会社 RESIN MOLDING APPARATUS AND RESIN MOLDED PRODUCT MANUFACTURING METHOD

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07183317A (en) * 1993-12-22 1995-07-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Equipment and method of manufacturing electronic part
JP3955215B2 (en) * 2002-02-12 2007-08-08 アピックヤマダ株式会社 Mold and resin molding method
JP4373237B2 (en) * 2004-02-13 2009-11-25 Towa株式会社 Semiconductor chip resin sealing molding method and resin sealing molding die

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010027890A (en) 2010-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5036654B2 (en) Semiconductor chip compression molding method
JP4836661B2 (en) Resin sealing molding method for electronic parts and mold for resin sealing molding
JP5174630B2 (en) Compression molding method for optical molded products
US6329224B1 (en) Encapsulation of microelectronic assemblies
KR20110099198A (en) Method of compression-molding electronic components and mold
US10730276B2 (en) System and method for vacuum film lamination
TW200836381A (en) Method of compression-molding light emitting elements
TWI688465B (en) Resin molding apparatus and method for manufacturing resin molded product
WO2020079954A1 (en) Conveyance device, resin molding device, conveyance method, and method for manufacture of resin mold product
JP6304517B1 (en) Resin sealing method and resin sealing device
KR100950250B1 (en) Apparatus for supporting chip for ejector
JP5953601B2 (en) Resin molding apparatus and resin molding method
TW201902658A (en) Resin molding mold and resin molding device
JP5364944B2 (en) Mold
JP7377189B2 (en) Conveyance device, resin molding device, and method for manufacturing resin molded products
JP7052102B2 (en) adapter
JP5419070B2 (en) Resin sealing device
JP2008041846A (en) Flip-chip resin injection molding method, and metal mold
KR20210045922A (en) Resin molded product manufacturing method and resin molding apparatus
JP2013043391A (en) Method and apparatus for compression molding of reflector for light emitting device
JP6693798B2 (en) Resin molding apparatus and resin molding method
US7156632B2 (en) Injection mold for display panel of washing machine
KR20090053300A (en) Vacuum suction apparatus of molding die
JP5694486B2 (en) Resin sealing device
KR940008556B1 (en) Clamper for bonder

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101227

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120112

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120626

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120703

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5036654

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250