JP5027321B2 - Semiconductor processing tape - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体ウエハを半導体素子に切断分離するダイシング工程に使用される半導体加工用テープに関する。また、本発明は、ダイシング工程において接着剤層付き半導体素子を得て、その後のダイボンディング工程やマウント工程に使用できる半導体素子を得るのに使用される半導体加工用テープに関する。 The present invention relates to a semiconductor processing tape used in a dicing process for cutting and separating a semiconductor wafer into semiconductor elements. The present invention also relates to a semiconductor processing tape used for obtaining a semiconductor element with an adhesive layer in a dicing process and obtaining a semiconductor element that can be used in a subsequent die bonding process or mounting process.
ICなどの半導体装置の製造工程では、回路パターンが形成された半導体ウエハの裏面に粘着性及び伸縮性のある半導体加工用テープを貼り付けた後、半導体ウエハをチップ単位に切断(ダイシング)する工程、切断されたチップをピックアップする工程、さらにピックアップされたチップをリードフレームやパッケージ基板等に接着する、あるいは、スタックドパッケージにおいては、半導体チップ同士を積層、接着するダイボンディング(マウント)工程が実施される。 In a manufacturing process of a semiconductor device such as an IC, a process of attaching a sticky and stretchable semiconductor processing tape to the back surface of a semiconductor wafer on which a circuit pattern is formed, and then cutting (dicing) the semiconductor wafer into chips. In addition, a process for picking up the cut chip, and a die bonding (mounting) process for bonding the picked-up chip to a lead frame, a package substrate, etc., or stacking and bonding semiconductor chips together in a stacked package Is done.
前記半導体加工用テープとしては、半導体ウエハをダイシングする工程で、切断された半導体素子(チップ)が飛び散らないように半導体ウエハやチップを強力に固定する高い粘着力を必要とする一方で、チップをピックアップする工程では、チップから容易に剥がれるような低い粘着力が求められる。
例えば特許文献1では、放射線硬化性の粘着剤層を用いることで、ダイシング後に放射線を照射して、前記粘着剤層の粘性を低下させてからピックアップ工程に供することによって、ダイシング時に要求される高い粘着力と、ピックアップ時に要求される低い粘着力の双方を両立させた半導体ウエハ固定用粘着テープが提案されている。
また、放射線硬化性の粘着剤層に、エポキシ樹脂成分を含む熱硬化性の接着剤層が積層されたダイシング・ダイボンディングテープ(例えば、特許文献2、3)が提案されている。
As the semiconductor processing tape, in the process of dicing the semiconductor wafer, the semiconductor wafer (chip) requires a high adhesive force to firmly fix the semiconductor wafer and the chip so that the cut semiconductor element (chip) is not scattered. In the process of picking up, low adhesive strength that can be easily peeled off from the chip is required.
For example, in Patent Document 1, by using a radiation curable pressure-sensitive adhesive layer, radiation is applied after dicing, and the viscosity of the pressure-sensitive adhesive layer is reduced before being subjected to a pick-up process. An adhesive tape for fixing a semiconductor wafer that has both adhesive strength and low adhesive strength required at the time of pickup has been proposed.
In addition, dicing die bonding tapes (for example,
ICなどの半導体装置の組立工程においては、パターン形成後の半導体ウエハ等を個々のチップに切断分離(ダイシング)する工程と、チップを基板等にマウントする工程と、さらに樹脂等で封止する工程とからなっている。前記のダイシング・ダイボンディングテープを用いた場合には、ダイシング工程では、半導体ウエハをあらかじめ半導体加工用テープの接着剤層に貼り付けて固定した後、スクライブラインに沿ってダイシングが行われる。その後のマウント工程では、接着剤層と粘着テープが剥離可能に構成され、接着剤付きのチップを粘着テープから剥離(ピックアップ)し、チップに付着した接着固定用の接着剤で基板等に固定する。
しかしながら、特許文献1、2に記載のものは、ダイシングする際にはウエハが剥離しない十分な粘着力を必要とし、ピックアップの際には容易に剥離できるという要求を十分に満たすことができないことがあった。これは、放射線照射により粘着剤の硬化反応が進行し、粘着力が十分低下していたとしても、チップに個片化する際のダイシング工程で用いるブレードによりスクライブライン上に半導体ウエハ、接着剤、粘着剤、基材フィルムなどの切削屑が接着剤と絡み合い、剥離の妨げとなることがあるためである。さらには、例え、チップをピックアップ可能であったとしても、接着剤層に付着した切削屑が基板に付着することでパッケージクラックなどの工程不具合が発生することがあった。
また、接着剤層が積層されていない半導体加工用テープにおいても、同様に、チップに個片化する際のダイシング工程で用いるブレードによりスクライブライン上に半導体ウエハ、粘着剤、基材フィルムなどの切削屑が粘着剤と絡み合い、剥離の妨げとなり、チップ表面にこれらの切削屑などを原因とした汚染物が付着して、剥離不良となることがあった。
In an assembly process of a semiconductor device such as an IC, a process of cutting and separating (dicing) a semiconductor wafer after pattern formation into individual chips, a process of mounting the chips on a substrate, and a process of sealing with a resin or the like It is made up of. When the dicing die-bonding tape is used, in the dicing step, the semiconductor wafer is previously attached and fixed to the adhesive layer of the semiconductor processing tape, and then dicing is performed along the scribe line. In the subsequent mounting process, the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive tape are configured to be peelable, and the chip with the adhesive is peeled off (pick-up) from the pressure-sensitive adhesive tape and fixed to the substrate or the like with the adhesive for fixing the adhesive attached to the chip. .
However, those described in
Similarly, for semiconductor processing tapes that are not laminated with an adhesive layer, similarly, cutting of semiconductor wafers, adhesives, base films, etc. on the scribe line by means of a blade used in the dicing process when dividing into chips. Debris entangled with the pressure-sensitive adhesive and hindered peeling, and contaminants caused by these cutting wastes or the like adhered to the chip surface, resulting in peeling failure.
本発明の課題は、ダイシング時のチップ飛びを防止できる程度に十分な粘着力を維持しながら、ピックアップ工程におけるエキスパンド時に、接着剤層に切削屑の付着が低減され、その後のダイボンド工程において基板との十分な接着力を有し、パッケージクラックなどの工程不具合が著しく低減できる半導体加工用テープを提供することにある。
また、本発明の課題は、ダイシング時のチップ飛びを防止できる程度に十分な粘着力を維持しながら、ピックアップ工程におけるエキスパンド時に、粘着剤層への切削屑の付着が低減され、汚染物の付着が著しく低減できる半導体加工用テープを提供することにある。
The object of the present invention is to reduce the adhesion of cutting waste to the adhesive layer during expansion in the pickup process while maintaining sufficient adhesive strength to prevent chip skipping during dicing, and in the subsequent die bonding process, It is an object of the present invention to provide a semiconductor processing tape that has sufficient adhesive strength and can significantly reduce process defects such as package cracks.
Further, an object of the present invention is to reduce the adhesion of cutting waste to the adhesive layer during expansion in the pickup process while maintaining sufficient adhesive strength to prevent chip skipping during dicing, and to adhere contaminants. An object of the present invention is to provide a semiconductor processing tape capable of significantly reducing the above.
本発明者等は、上記課題に鑑み鋭意検討した結果、基材樹脂フィルム上に粘着剤層を有する半導体加工用テープであって、前記粘着剤層が、アクリル系共重合体に対し、分子内に少なくとも1つ以上の(メタ)アクリロイル基と少なくとも1つ以上のビニルエーテル基を有する特定の構造の化合物を含有する放射線硬化性樹脂組成物で構成されている半導体加工用テープが、ピックアップ時にスクライブライン上の切削屑を粘着剤層や粘着剤層上に形成された接着剤層に取り込むことなく、半導体チップと剥離できることを見出した。本発明はこの知見に基づきなされたものである。
本発明の課題は、以下の手段によって達成された。
As a result of intensive studies in view of the above problems, the inventors of the present invention are semiconductor processing tapes having a pressure-sensitive adhesive layer on a base resin film, wherein the pressure-sensitive adhesive layer is intramolecular with respect to the acrylic copolymer. A semiconductor processing tape comprising a radiation curable resin composition containing a compound having a specific structure having at least one (meth) acryloyl group and at least one vinyl ether group is The present inventors have found that the upper cutting waste can be peeled off from the semiconductor chip without being taken into the pressure-sensitive adhesive layer or the adhesive layer formed on the pressure-sensitive adhesive layer. The present invention has been made based on this finding.
The object of the present invention has been achieved by the following means.
<1>基材樹脂フィルム上に粘着剤層を有する半導体加工用テープであって、
該半導体加工用テープは、半導体製造装置を製造するにあたり、半導体ウエハを固定し、ダイシングし、その後、紫外線照射により該粘着剤層の粘着力を低下させ、半導体チップをピックアップする工程に使用されるものであり、
該粘着剤層が、アクリル系粘着剤100質量部に対し、下記一般式(1)で表される構造の化合物または下記一般式(1)で表される化合物(B)を構成成分として有する重合体(X)0.1〜50質量部を含有する放射線硬化性樹脂組成物を用いて構成されていることを特徴とする半導体加工用テープ。
CH2=CR1−COO−R2−O−CH=CHR3 ・・・・・(1)
[一般式(1)において、R1は水素原子又はメチルを表す。R2は炭素数2〜20の有機残基を表す。R3は水素原子又は炭素数1〜11の有機残基を表す。]
<2>前記重合体(X)の分子量が5,000〜100,000であることを特徴とする<1>記載の半導体加工用テープ。
<3>前記重合体(X)が、前記化合物(B)からの構成成分以外の構成成分としてラジカル重合性化合物C1を、前記重合体中に90質量%以下含むことを特徴とする<1>又は<2>記載の半導体加工用テープ。
<4>前記重合体(X)が、前記化合物(B)からの構成成分以外の構成成分としてカチオン重合性化合物C2を、前記重合体中に90質量%以下含むことを特徴とする<1>又は<2>記載の半導体加工用テープ。
<5><1>〜<4>のいずれか1項記載の重合体(X)を、アクリル系粘着剤100質量部に対し、3〜30質量部含むことを特徴とする半導体加工用テープ。
<6>前記アクリル系粘着剤のヨウ素価が10以下の放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する化合物を含有することを特徴とする<1>〜<5>のいずれか1項記載の半導体加工用テープ。
<7>前記粘着剤層の樹脂組成物のゲル分率が50%以上であることを特徴とする<1>〜<6>のいずれか1項記載の半導体加工用テープ。
<8><1>〜<7>のいずれか1項記載の半導体加工用テープの粘着剤層上にさらに接着剤層を有することを特徴とする半導体加工用テープ。
<9><8>に記載の半導体加工用テープであって、
該半導体加工用テープは、半導体製造装置を製造するにあたり、半導体ウエハを固定し、ダイシングし、その後、紫外線照射により該粘着剤層の粘着力を低下させ、半導体チップをピックアップしてリードフレームや半導体チップに接着するために使用されるものであり、
該半導体加工用テープは基材樹脂フィルム上に粘着剤層及び接着剤層がこの順に設けられ、半導体ウエハをスクライブラインに沿って個片化するダイシング工程後のピックアップ工程において、エキスパンド後の個片化された半導体チップ上の接着剤層と粘着剤層との接触面積(a)が、エキスパンド前の接着剤層と粘着剤層との接触面積(b)より小さいことを特徴とする半導体加工用テープ。
<10>前記個片化された半導体チップに付着した接着剤層が、前記スクライブラインよりも内側にあることを特徴とする<9>記載の半導体加工用テープ。
<11>前記接着剤層が半導体ウエハの貼合される部位の粘着剤層上に積層され、半導体ウエハの貼合されない部位の粘着剤層上には接着剤層を有しないことを特徴とする<9>又は<10>記載の半導体加工用テープ。
<12><1>〜<11>のいずれか1項に記載の半導体加工用テープが貼合された半導体ウェハをダイシングする工程、粘着剤層に紫外線を照射して粘着剤層の粘着力を低下させる工程、及び、半導体チップをピックアップする工程を含む、半導体装置の製造方法。
<13>ピックアップした半導体チップをリードフレームや半導体チップと接着する工程を含む、<12>に記載の半導体装置の製造方法。
<1> A semiconductor processing tape having an adhesive layer on a base resin film,
The semiconductor processing tape is used in a process of picking up a semiconductor chip by fixing and dicing a semiconductor wafer and then reducing the adhesive strength of the adhesive layer by irradiating ultraviolet rays when manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus. Is,
The pressure-sensitive adhesive layer has, as a constituent component, a compound having a structure represented by the following general formula (1) or a compound (B) represented by the following general formula (1) with respect to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive. A semiconductor processing tape comprising a radiation curable resin composition containing 0.1 to 50 parts by mass of coalesced (X).
CH 2 = CR 1 -COO-R 2 -O-CH = CHR 3 ····· (1)
[In General Formula (1), R 1 represents a hydrogen atom or methyl. R 2 represents an organic residue having 2 to 20 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an organic residue having 1 to 11 carbon atoms. ]
<2> The semiconductor processing tape according to <1>, wherein the polymer (X) has a molecular weight of 5,000 to 100,000.
<3> The polymer (X) contains a radical polymerizable compound C1 as a constituent other than the constituent from the compound (B) in an amount of 90% by mass or less in the polymer <1> Or the tape for semiconductor processing of <2> description.
<4> The polymer (X) contains 90% by mass or less of the cationic polymerizable compound C2 as a constituent component other than the constituent component from the compound (B). <1> Or the tape for semiconductor processing of <2> description.
<5> The tape for semiconductor processing characterized by including 3-30 mass parts of polymers (X) of any one of <1>-<4> with respect to 100 mass parts of acrylic adhesives.
<6> The semiconductor according to any one of <1> to <5>, wherein the acrylic pressure-sensitive adhesive contains a compound having a radiation-curable carbon-carbon double bond having an iodine value of 10 or less. Tape for processing.
<7> The semiconductor processing tape according to any one of <1> to <6>, wherein the resin composition of the pressure-sensitive adhesive layer has a gel fraction of 50% or more.
<8> A tape for semiconductor processing, further comprising an adhesive layer on the pressure-sensitive adhesive layer of the tape for semiconductor processing according to any one of <1> to <7>.
<9> The semiconductor processing tape according to <8>,
When manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus , the semiconductor processing tape fixes and dices a semiconductor wafer, and then reduces the adhesive strength of the adhesive layer by irradiating with ultraviolet rays, picks up a semiconductor chip, and leads to a lead frame or semiconductor. Used to adhere to the chip ,
In the tape for semiconductor processing, an adhesive layer and an adhesive layer are provided in this order on a base resin film, and in the pick-up process after the dicing process that separates the semiconductor wafer along the scribe line, the individual pieces after expansion For semiconductor processing, wherein the contact area (a) between the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer on the formed semiconductor chip is smaller than the contact area (b) between the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer before expansion tape.
<10> The semiconductor processing tape according to <9>, wherein an adhesive layer attached to the separated semiconductor chip is on an inner side than the scribe line.
<11> The adhesive layer is laminated on a pressure-sensitive adhesive layer where a semiconductor wafer is bonded, and has no adhesive layer on a pressure-sensitive adhesive layer where a semiconductor wafer is not bonded. The tape for semiconductor processing as described in <9> or <10> .
<12> The step of dicing the semiconductor wafer to which the semiconductor processing tape according to any one of <1> to <11> is bonded, the adhesive layer is irradiated with ultraviolet rays, and the adhesive strength of the adhesive layer is increased. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising a step of reducing and a step of picking up a semiconductor chip.
<13> The method for manufacturing a semiconductor device according to <12>, including a step of bonding the picked-up semiconductor chip to a lead frame or a semiconductor chip.
本発明によれば、ダイシング時のチップ飛びを防止できる程度に十分な粘着力を維持しながらも、ピックアップ時には、スクライブライン上の切削屑と、接着剤及び粘着剤が絡み合うことがなくチップを容易に剥離することができる。 According to the present invention, while maintaining sufficient adhesive force to prevent chip skipping during dicing, the chip can be easily removed without being entangled with the cutting waste on the scribe line and the adhesive and adhesive during pickup. Can be peeled off.
以下、図面を参照しながら本発明の好ましい実施形態について説明する。
[半導体加工用テープ]
(1)ダイシング・ダイボンディングテープ
図1に示すように、本発明の半導体加工用テープの一実施態様であるダイシング・ダイボンディングテープ10は、基材樹脂フィルム12a上に粘着剤層12bを有し、さらに該粘着剤層上に接着剤層13bを有している。粘着剤層12bと接着剤層13bを覆うように、剥離ライナー13aが設けられている。該剥離ライナーは、粘着剤層12bと接着剤層13bを保護するため、使用することが好ましい。
ダイシング・ダイボンディングテープ10は、使用工程や装置にあわせて予め所定形状に切断(プリカット)されていてもよいし、半導体ウエハ1枚分ごとに切断されていてもよいし、長尺のロール状を呈していてもよい。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[Tape for semiconductor processing]
(1) Dicing die bonding tape As shown in FIG. 1, the dicing die
The dicing / die
(2)ダイシングテープ
本発明の半導体加工用テープには、ほかの実施態様であるダイシングテープも含まれる。ダイシングテープは、図6に示すように、基材樹脂フィルム12a’上に、粘着剤層12b’が設けられている。この粘着剤層に直接半導体ウエハを密着させ、ダイシング工程、エキスパンド工程、ピックアップ工程を経ることにより、半導体チップを得ることができる。得られた半導体チップに接着剤層は積層されていないため、ダイボンディング工程において、接着剤を使用するなどの処理が必要である。
(2) Dicing tape The semiconductor processing tape of the present invention includes a dicing tape which is another embodiment. As shown in FIG. 6, the dicing tape is provided with a pressure-
[ダイシング・ダイボンディングテープの使用方法]
半導体装置の製造にあたり、本発明の半導体加工用テープの一実施態様であるダイシング・ダイボンディングテープ10を使用することができる。
まず、ダイシング・ダイボンディングテープ10から剥離ライナー13aを取り除き、図2に示すとおり、半導体ウエハ1に接着剤層13bを貼り付けて粘着テープ12の側部をリングフレーム20で固定する。リングフレーム20はダイシング用フレームの一例である。接着剤層13bは、ダイシング・ダイボンディングテープ10の半導体ウエハ1が貼合される部位に積層されている。ダイシング・ダイボンディングテープ10がリングフレーム20と接する部位には接着フィルム13はないことが好ましい。
その後、図3に示すとおり、ダイシング・ダイボンディングテープ10の下面を吸着テーブル22で吸着・固定しながら、薄型砥石21を用いて半導体ウエハ1を所定サイズにダイシングし、複数の半導体チップ2を製造する。
その後、図4に示すとおり、リングフレーム20によりダイシング・ダイボンディングテープ10を固定した状態で、突き上げ部材30を上昇させ、該テープ12の中央部を上方に撓ませるとともに、紫外線などの放射線を該テープ10(粘着剤層12b)に照射し、粘着剤層12bの粘着力を弱める。
その後、図5に示すとおり、半導体チップ2ごとにこれに対応した位置で突き上げピン31を上昇させ、半導体チップ2を吸着コレット32によりピックアップする。
その後は、ピックアップした半導体チップ2を、リードフレームなど支持部材や他の半導体チップ2に接着(ダイボンド)し、金ワイヤの付設や、加熱硬化等の工程を経ることにより、半導体装置を得る。
[How to use dicing die bonding tape]
In manufacturing a semiconductor device, a dicing die
First, the
Thereafter, as shown in FIG. 3, the semiconductor wafer 1 is diced into a predetermined size using a
Thereafter, as shown in FIG. 4, with the dicing die
Thereafter, as shown in FIG. 5, the push-up
Thereafter, the picked-up
本発明の半導体加工用テープは、粘着剤層が、アクリル系共重合体に対し、分子内に少なくとも1つ以上の(メタ)アクリロイル基と少なくとも1つ以上のビニルエーテル基を有する特定の構造の化合物を含有する放射線硬化性樹脂組成物で構成されている。このため、本発明のダイシング・ダイボンディングテープは、ダイシング工程で半導体ウエハ1を切断して半導体チップ2を得る場合でも、チップ飛びを防止できる程度に十分に固定する粘着力を有する。その一方で、放射線照射後には粘着剤層12bが三次元網状構造をとりなおかつ可撓性を有するために、半導体ウエハ1の表面性状にかかわらず安定して粘着力を低下させることができる。さらにピックアップ工程において、ダイシング工程で発生した切削屑が残っていても、該切削屑が接着剤層に取り込まれて切削屑が半導体チップに付着することがない。このため、スクライブライン上に溜まった切削屑の影響をうけることなくチップを容易に剥離することができ、その後のダイボンド工程において良好な接着力を有することができるという優れた効果を奏する。
The semiconductor processing tape of the present invention is a compound having a specific structure in which the pressure-sensitive adhesive layer has at least one (meth) acryloyl group and at least one vinyl ether group in the molecule with respect to the acrylic copolymer. It is comprised with the radiation-curable resin composition containing this. For this reason, the dicing die-bonding tape of the present invention has an adhesive force enough to prevent chip jumping even when the
本発明の半導体加工用テープを用いると、半導体ウエハをスクライブラインに沿って個片化するダイシング工程後にさらに放射線照射を行ったピックアップ工程において、エキスパンド後の個片化された半導体チップ上の接着剤層の接触面積(a)が、エキスパンド前の接着剤層の接触面積(b)より小さくすることができる。
本発明の半導体加工用テープを用い、ダイシング加工を行った各半導体チップについて、エキスパンド前の接着剤層と粘着剤層との接触面積(b)と、エキスパンド後の接着剤層と粘着剤層との接触面積(a)との大小関係が、a<b、すなわち、接着剤層/粘着剤層の界面での剥離の有無を観察することができる。
この理由は定かではないが、本発明の半導体加工用テープを用いることにより、紫外線などの放射線照射線の硬化収縮が、従来の放射線硬化性樹脂組成物を粘着剤層に用いた場合と比較して小さく、粘着剤層のアンカー効果を小さくできるためと考えられる。
When the semiconductor processing tape of the present invention is used, the adhesive on the separated semiconductor chip after expansion in the pick-up process in which radiation irradiation is further performed after the dicing process for dividing the semiconductor wafer along the scribe line The contact area (a) of the layer can be made smaller than the contact area (b) of the adhesive layer before expanding.
For each semiconductor chip that has been diced using the semiconductor processing tape of the present invention, the contact area (b) between the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer before expansion, the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer after expansion, It can be observed that the size of the contact area (a) is a <b, that is, the presence or absence of peeling at the adhesive layer / pressure-sensitive adhesive layer interface.
The reason for this is not clear, but by using the semiconductor processing tape of the present invention, the curing shrinkage of radiation rays such as ultraviolet rays is smaller than when a conventional radiation curable resin composition is used for the pressure-sensitive adhesive layer. This is because the anchor effect of the pressure-sensitive adhesive layer can be reduced.
以下、説明するように、ダイシング・ダイボンディングテープとダイシングテープについては、接着剤層以外の構成は、同様に使用することができる。そこで、ダイシング・ダイボンディングテープ10の各構成について順に説明する。
Hereinafter, as will be described, with respect to the dicing die bonding tape and the dicing tape, configurations other than the adhesive layer can be similarly used. Then, each structure of the dicing die
[基材樹脂フィルム(12a)]
基材樹脂フィルム12aとしては、放射線透過性であることが好ましく、具体的には、通常、放射線透過性のプラスチックやゴムなどを用いることができる。紫外線照射によって粘着剤を硬化させる場合には、基材樹脂フィルムとしては光透過性のよいものを選択することができる。
[Base resin film (12a)]
The
このような基材として選択し得るポリマーの例としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、ポリブテン−1、ポリ−4−メチルペンテン−1、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸エチル共重合体、エチレン−アクリル酸メチル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、アイオノマーなどのα−オレフィンの単独重合体または共重合体あるいはこれらの混合物、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート等のエンジニアリングプラスチック、ポリウレタン、スチレン−エチレン−ブテンもしくはペンテン系共重合体、ポリアミド−ポリオール共重合体等の熱可塑性エラストマー、およびこれらの混合物を列挙することができる。 Examples of polymers that can be selected as such a substrate include polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, polybutene-1, poly-4-methylpentene-1, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic. Homopolymer or copolymer of α-olefin such as ethyl acid copolymer, ethylene-methyl acrylate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ionomer, or a mixture thereof, polyethylene terephthalate, polycarbonate, polymethyl methacrylate Engineering plastics such as polyurethane, thermoplastic elastomers such as polyurethane, styrene-ethylene-butene or pentene copolymers, polyamide-polyol copolymers, and mixtures thereof.
エキスパンド工程において、ダイシング工程によって得られた半導体チップ間の間隙を大きくするためには、ネッキング(基材フィルム12aを放射状延伸したときに起こる力の伝播性不良による部分的な伸びの発生)ができるだけ少ないものが好ましい。例えば、基材樹脂フィルムとして、ポリウレタン、特定の範囲の分子量とスチレン含有量を有するスチレン−エチレン−ブテン又はペンテン系共重合体等を挙げることができる。ダイシング時の伸びあるいはたわみを防止するには架橋した基材樹脂フィルムを用いることが好ましい。基材樹脂フィルム12aの厚みは、強伸度特性、放射線透過性の観点から、30〜300μmが好ましい。
基材樹脂フィルム12a上の粘着剤層12bを有する面と反対側の表面をシボ加工もしくは滑剤コーティングすることにより、ブロッキング防止を図ることができる。また、これらの加工を行うことにより、ダイシングダイボンディングテープ10をエキスパンド工程において放射状に延伸して、半導体チップ間の間隙を拡げる際に、該テープ10と治具との摩擦を減少することによる基材樹脂フィルム12aのネッキング防止を行うことができる。
In the expanding process, in order to increase the gap between the semiconductor chips obtained by the dicing process, necking (occurrence of partial elongation due to poor force propagation when the
Blocking can be prevented by subjecting the surface of the
[粘着剤層(12b)]
(1)アクリル系粘着剤(A)
粘着剤層12bは、アクリル系粘着剤を含有する。詳しくは、粘着剤層12bは、アクリル系粘着剤100質量部に対し、下記一般式(1)で表される化合物(B)又は下記一般式(1)で表される化合物(B)を構成成分として有する重合体(X)0.1〜50質量部を含有する放射線硬化性樹脂組成物を用いて構成されている。重合体(X)は、分子量が5,000〜100,000であることが好ましい。重合体(X)は、アクリル系粘着剤100質量部に対し、3〜30質量部を含有することが好ましい。
CH2=CR1−COO−R2−O−CH=CHR3 ・・・・・(1)
[ 一般式(1)において、R1は水素原子又はメチルを表す。R2は炭素数2〜20の有機残基を表す。R3は水素原子又は炭素数1〜11の有機残基を表す。]
[Adhesive layer (12b)]
(1) Acrylic adhesive (A)
The pressure-
CH 2 = CR 1 -COO-R 2 -O-CH = CHR 3 ····· (1)
[In General Formula (1), R 1 represents a hydrogen atom or methyl. R 2 represents an organic residue having 2 to 20 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an organic residue having 1 to 11 carbon atoms. ]
粘着剤層12bに含まれるアクリル系粘着剤(A)としては、アクリル酸若しくはメタクリル酸のエステルを主な構成単位とする単独重合体や、アクリル酸、メタクリル酸あるいはそのエステルあるいはその酸アミドなどとその他の単量体との共重合体又はこれら重合体の混合物などを挙げることができる。該共重合体の構成成分である単量体としては、例えば、アクリル酸若しくはメタクリル酸のアルキルエステル、例えば、メチルエステル、エチルエステル、ブチルエステル、2−エチルヘキシルエステル、オクチルエステル、ラウリルエステル、グリシジルエステル、ヒドロキシメチルエステル、2−ヒドロキシエチルエステル、ヒドロキシプロピルエステル、アクリル酸若しくはメタクリル酸のアミド及びN−置換アミド(例えば、N−ヒドロキシメチルアクリル酸アミド又はメタクリル酸アミド)などが挙げられる。
Examples of the acrylic pressure-sensitive adhesive (A) contained in the pressure-
(2)放射性炭素−炭素二重結合を有する化合物
前記アクリル系粘着剤(A)には、分子中にヨウ素価10以下の放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する化合物を有していてもよい。ここで放射線とは、紫外線のような光線、または電子線などの電離性放射線をいう。放射線硬化性炭素−炭素二重結合の導入量はヨウ素価で10以下、好ましくは5以下、より好ましくは3以下、さらに好ましくは0である。ヨウ素価が10以上の化合物を用いると硬化反応が過剰に進むことで凝集力が高まり、放射線照射後の粘着力が逆に上昇してしまうことがある。
(2) Compound having a radioactive carbon-carbon double bond The acrylic pressure-sensitive adhesive (A) may have a compound having a radiation-curable carbon-carbon double bond having an iodine value of 10 or less in the molecule. Good. Here, the radiation refers to light rays such as ultraviolet rays or ionizing radiations such as electron beams. The introduction amount of the radiation curable carbon-carbon double bond is 10 or less, preferably 5 or less, more preferably 3 or less, and still more preferably 0 in terms of iodine value. When a compound having an iodine value of 10 or more is used, the curing reaction proceeds excessively, so that the cohesive force is increased, and the adhesive force after irradiation may be increased.
前記放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する化合物は、ガラス転移点が−70℃〜0℃であることが好ましく、−66℃〜−28℃であることがより好ましい。ガラス転移点(以下、「Tg」とも言う。)が−70℃以上であれば、放射線照射に伴う熱に対する耐熱性が十分であり、0℃以下であれば、表面状態が粗いウエハにおけるダイシング後の素子の飛散防止効果が十分得られる。 The compound having a radiation curable carbon-carbon double bond preferably has a glass transition point of -70 ° C to 0 ° C, more preferably -66 ° C to -28 ° C. If the glass transition point (hereinafter also referred to as “Tg”) is −70 ° C. or higher, the heat resistance against heat associated with radiation irradiation is sufficient, and if it is 0 ° C. or lower, after dicing on a wafer having a rough surface state. The effect of preventing scattering of the element is sufficiently obtained.
前記放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する化合物はどのようにして製造されたものでもよい。該化合物としては、主鎖の繰り返し単位に対して放射線硬化性炭素−炭素二重結合含有基を有する(メタ)アクリル系単量体部を有する残基を結合したアクリル系共重合体(Aa)が好ましい。この(メタ)アクリル系共重合体は、例えば、アクリル系共重合体又はメタクリル系共重合体などの放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有し、かつ、官能基をもつ化合物(Aa−1)と、その官能基と反応し得る官能基をもつ化合物(Aa−2)とを反応させて得ることができる。放射線硬化性炭素−炭素二重結合及び官能基を有する化合物(Aa−1)は、アクリル酸アルキルエステル又はメタクリル酸アルキルエステルなどの放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する単量体(Aa−1−1)と、官能基を有する単量体(Aa−1−2)とを共重合させて得ることができる。 The compound having a radiation curable carbon-carbon double bond may be produced by any method. As the compound, an acrylic copolymer (Aa) in which a residue having a (meth) acrylic monomer part having a radiation-curable carbon-carbon double bond-containing group is bonded to a repeating unit of the main chain. Is preferred. This (meth) acrylic copolymer is, for example, a compound having a radiation curable carbon-carbon double bond such as an acrylic copolymer or a methacrylic copolymer and having a functional group (Aa-1 ) And a compound (Aa-2) having a functional group capable of reacting with the functional group. The compound (Aa-1) having a radiation curable carbon-carbon double bond and a functional group is a monomer having a radiation curable carbon-carbon double bond such as an alkyl acrylate ester or an alkyl methacrylate ester (Aa- 1-1) and a monomer (Aa-1-2) having a functional group can be copolymerized.
単量体(Aa−1−1)としては、炭素数6〜12のヘキシルアクリレート、n−オクチルアクリレート、イソオクチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、ドデシルアクリレート、デシルアクリレート、ラウリルアクリレートまたは炭素数5以下の単量体である、ペンチルアクリレート、n−ブチルアクリレート、イソブチルアクリレート、エチルアクリレート、メチルアクリレート、またはこれらと同様のメタクリレートなどを列挙することができる。 As a monomer (Aa-1-1), it is C6-C12 hexyl acrylate, n-octyl acrylate, isooctyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, dodecyl acrylate, decyl acrylate, lauryl acrylate, or carbon number 5 or less. Examples of the monomer include pentyl acrylate, n-butyl acrylate, isobutyl acrylate, ethyl acrylate, methyl acrylate, and methacrylates similar to these.
単量体(Aa−1−1)として、炭素数の大きな単量体を使用するほどガラス転移点は低くなるので、所望のガラス転移点のものを作製することができる。また、ガラス転移点の他、相溶性と各種性能を上げる目的で酢酸ビニル、スチレン、アクリロニトリルなどの炭素−炭素二重結合をもつ低分子化合物を配合することも単量体(Aa−1−1)の総質量の5質量%以下の範囲内で可能である。 As the monomer (Aa-1-1) is used, the glass transition point becomes lower as the monomer having a larger carbon number is used, so that the desired glass transition point can be produced. In addition to the glass transition point, a monomer (Aa-1-1) may be blended with a low molecular compound having a carbon-carbon double bond such as vinyl acetate, styrene, or acrylonitrile for the purpose of improving compatibility and various performances. ) In the range of 5% by mass or less of the total mass.
単量体(Aa−1−2)が有する官能基としては、カルボキシル基、水酸基、アミノ基、環状酸無水基、エポキシ基、イソシアネート基などを挙げることができ、単量体(Aa−1−2)の具体例としては、アクリル酸、メタクリル酸、けい皮酸、イタコン酸、フマル酸、フタル酸、2−ヒドロキシアルキルアクリレート類、2−ヒドロキシアルキルメタクリレート類、グリコールモノアクリレート類、グリコールモノメタクリレート類、N−メチロールアクリルアミド、N−メチロールメタクリルアミド、アリルアルコール、N−アルキルアミノエチルアクリレート類、N−アルキルアミノエチルメタクリレート類、アクリルアミド類、メタクリルアミド類、無水マレイン酸、無水イタコン酸、無水フマル酸、無水フタル酸、グリシジルアクリレート、グリシジルメタクリレート、アリルグリシジルエーテル、ポリイソシアネート化合物のイソシアネート基の一部を水酸基またはカルボキシル基および放射線硬化性炭素−炭素二重結合を有する単量体でウレタン化したものなどを列挙することができる。 Examples of the functional group that the monomer (Aa-1-2) has include a carboxyl group, a hydroxyl group, an amino group, a cyclic acid anhydride group, an epoxy group, and an isocyanate group, and the monomer (Aa-1- Specific examples of 2) include acrylic acid, methacrylic acid, cinnamic acid, itaconic acid, fumaric acid, phthalic acid, 2-hydroxyalkyl acrylates, 2-hydroxyalkyl methacrylates, glycol monoacrylates, glycol monomethacrylates. N-methylolacrylamide, N-methylolmethacrylamide, allyl alcohol, N-alkylaminoethyl acrylates, N-alkylaminoethyl methacrylates, acrylamides, methacrylamides, maleic anhydride, itaconic anhydride, fumaric anhydride, Phthalic anhydride, glycidyl anhydride Listed are lylate, glycidyl methacrylate, allyl glycidyl ether, and those obtained by urethanizing a part of the isocyanate group of a polyisocyanate compound with a monomer having a hydroxyl group or a carboxyl group and a radiation-curable carbon-carbon double bond. .
化合物(Aa−2)において、用いられる官能基としては、化合物(Aa−1)、つまり単量体(Aa−1−2)の有する官能基が、カルボキシル基または環状酸無水基である場合には、水酸基、エポキシ基、イソシアネート基などを挙げることができ、水酸基である場合には、環状酸無水基、イソシアネート基などを挙げることができ、アミノ基である場合には、エポキシ基、イソシアネート基などを挙げることができ、エポキシ基である場合には、カルボキシル基、環状酸無水基、アミノ基などを挙げることができ、具体例としては、単量体(Aa−1−2)の具体例で列挙したものと同様のものを列挙することができる。 In the compound (Aa-2), the functional group used is the compound (Aa-1), that is, when the functional group of the monomer (Aa-1-2) is a carboxyl group or a cyclic acid anhydride group. Can include a hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group, and in the case of a hydroxyl group, it can include a cyclic acid anhydride group, an isocyanate group, and the like, and in the case of an amino group, an epoxy group, an isocyanate group In the case of an epoxy group, a carboxyl group, a cyclic acid anhydride group, an amino group, and the like can be mentioned. Specific examples of the monomer (Aa-1-2) The same thing as what was enumerated by can be enumerated.
化合物(Aa−1)と化合物(Aa−2)の反応において、未反応の官能基を残すことにより、酸価または水酸基価などの特性に関して、本発明で規定するものを製造することができる。 In the reaction of the compound (Aa-1) and the compound (Aa-2), by leaving an unreacted functional group, what is prescribed in the present invention can be produced with respect to characteristics such as acid value or hydroxyl value.
上記化合物(Aa)の合成において、反応を溶液重合で行う場合の有機溶剤としては、ケトン系、エステル系、アルコール系、芳香族系のものを使用することができるが、中でもトルエン、酢酸エチル、イソプロピルアルコール、ベンゼン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、アセトン、メチルエチルケトンなどの、一般にアクリル系ポリマーの良溶媒で、沸点60〜120℃の溶剤が好ましく、重合開始剤としては、α,α’−アゾビスイソブチルニトリルなどのアゾビス系、ベンゾイルペルオキシドなどの有機過酸化物系などのラジカル発生剤を通常用いる。この際、必要に応じて触媒、重合禁止剤を併用するこ
とができ、重合温度および重合時間を調節することにより、所望の分子量の化合物(A)を得ることができる。また、分子量を調節することに関しては、メルカプタン、四塩化炭素系の溶剤を用いることが好ましい。なお、この反応は溶液重合に限定されるものではなく、塊状重合、懸濁重合など別の方法でもさしつかえない。
In the synthesis of the compound (Aa), as the organic solvent when the reaction is carried out by solution polymerization, ketone, ester, alcohol, and aromatic solvents can be used, among which toluene, ethyl acetate, A good solvent for an acrylic polymer such as isopropyl alcohol, benzene, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, acetone, methyl ethyl ketone, and the like, and preferably a solvent having a boiling point of 60 to 120 ° C. The polymerization initiator is α, α′-azobisisobutyl. A radical generator such as an azobis type such as nitrile or an organic peroxide type such as benzoyl peroxide is usually used. At this time, a catalyst and a polymerization inhibitor can be used together as necessary, and the compound (A) having a desired molecular weight can be obtained by adjusting the polymerization temperature and the polymerization time. In terms of adjusting the molecular weight, it is preferable to use a mercaptan or carbon tetrachloride solvent. This reaction is not limited to solution polymerization, and other methods such as bulk polymerization and suspension polymerization may be used.
以上のようにして、化合物(Aa)を得ることができるが、本発明において、化合物(Aa)の分子量は、20万〜200万程度が好ましい。20万未満では、放射線照射による凝集力が小さくなって、ウエハをダイシングする時に、素子のずれが生じやすくなり、画像認識が困難となることがある。この素子のずれを、極力防止するためには、分子量が、40万以上である方が好ましい。また、分子量が200万を越えると、合成時および塗工時にゲル化する可能性がある。なお、本発明における分子量とは、ポリスチレン換算の重量平均分子量である。 As described above, the compound (Aa) can be obtained. In the present invention, the molecular weight of the compound (Aa) is preferably about 200,000 to 2,000,000. If it is less than 200,000, the cohesive force due to radiation irradiation becomes small, and when the wafer is diced, the element is likely to be displaced, and image recognition may be difficult. In order to prevent the deviation of the element as much as possible, the molecular weight is preferably 400,000 or more. Further, if the molecular weight exceeds 2 million, there is a possibility of gelation during synthesis and coating. In addition, the molecular weight in this invention is a weight average molecular weight of polystyrene conversion.
なお、化合物(Aa)が、水酸基価5〜100mgKOH/gとなるOH基を有すると、放射線照射後の粘着力を減少することによりピックアップミスの危険性をさらに低減することができるので好ましい。また、化合物(Aa)が、酸価0.5〜30mgKOH/gとなるCOOH基を有することが好ましい。 In addition, it is preferable that the compound (Aa) has an OH group having a hydroxyl value of 5 to 100 mgKOH / g because the risk of pick-up mistakes can be further reduced by reducing the adhesive strength after radiation irradiation. Moreover, it is preferable that a compound (Aa) has a COOH group used as the acid value of 0.5-30 mgKOH / g.
ここで、化合物(Aa)の水酸基価が低すぎると、放射線照射後の粘着力の低減効果が十分でなく、高すぎると、放射線照射後の粘着剤の流動性を損なう傾向がある。また酸価が低すぎると、テープ復元性の改善効果が十分でなく、高すぎると粘着剤の流動性を損なう傾向がある。 Here, if the hydroxyl value of the compound (Aa) is too low, the effect of reducing the adhesive strength after irradiation is not sufficient, and if it is too high, the fluidity of the adhesive after irradiation tends to be impaired. If the acid value is too low, the effect of improving the tape restoring property is not sufficient, and if it is too high, the fluidity of the pressure-sensitive adhesive tends to be impaired.
(3)化合物(B)、重合体(X)
粘着剤層12bは、前記アクリル系粘着剤(A)100質量部に対し、下記一般式(1)で表される化合物(B)又は下記一般式(1)で表される化合物(B)を構成成分として有する重合体(X)0.1〜50質量部を含有する放射線硬化性樹脂組成物を用いて構成されている。重合体の場合は、分子量が5,000〜100,000のものを3〜30質量部を含有することが好ましい。
CH2=CR1−COO−R2−O−CH=CHR3 ・・・・・(1)
[ 一般式(1)において、R1は水素原子又はメチルを表す。R2は炭素数2〜20の有機残基を表す。R3は水素原子又は炭素数1〜11の有機残基を表す。]
上記一般式(1)中のR2で示される炭素数2〜20の有機残基としては、炭素数2〜20の直鎖状、分枝状又は環状のアルキレン基、構造中にエーテル結合及び/又はエステル結合により酸素原子を有する炭素数2〜20のアルキレン基、炭素数6〜11の置換されていてもよい芳香族基が好ましい。これらの中でも、炭素数2〜6のアルキレン基、構造中にエーテル結合により酸素原子を有する炭素数2〜9のアルキレン基がさらに好ましい。
(3) Compound (B), polymer (X)
The pressure-
CH 2 = CR 1 -COO-R 2 -O-CH = CHR 3 ····· (1)
[In General Formula (1), R 1 represents a hydrogen atom or methyl. R 2 represents an organic residue having 2 to 20 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an organic residue having 1 to 11 carbon atoms. ]
Examples of the organic residue having 2 to 20 carbon atoms represented by R 2 in the general formula (1) include a linear, branched or cyclic alkylene group having 2 to 20 carbon atoms, an ether bond in the structure, and An alkylene group having 2 to 20 carbon atoms having an oxygen atom by an ester bond and an optionally substituted aromatic group having 6 to 11 carbon atoms are preferable. Among these, an alkylene group having 2 to 6 carbon atoms and an alkylene group having 2 to 9 carbon atoms having an oxygen atom by an ether bond in the structure are more preferable.
上記一般式(1)中のR3で示される炭素数1〜11の有機残基としては、炭素数1〜10の直鎖状、分枝状又は環状のアルキル基、炭素数6〜11の置換されていてもよい芳香族基が好ましい。これらの中でも、炭素数1〜2のアルキル基、炭素数6〜8の芳香族基がさらに好ましい。 Examples of the organic residue having 1 to 11 carbon atoms represented by R 3 in the general formula (1) include a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and 6 to 11 carbon atoms. An aromatic group which may be substituted is preferred. Among these, an alkyl group having 1 to 2 carbon atoms and an aromatic group having 6 to 8 carbon atoms are more preferable.
上記一般式(1)で表される化合物(B)としては、以下のものを挙げることができる。(メタ)アクリル酸2−ビニロキシエチル、(メタ)アクリル酸3−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸1−メチル−2−ビニロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシブチル、(メタ)アクリル酸1−メチル−3−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸1−ビニロキシメチルプロピル、(メタ)アクリル酸2−メチル−3−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−メチル−3−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸1,1−ジメチル−2−ビニロキシエチル、(メタ)アクリル酸3−ビニロキシブチル、(メタ)アクリル酸1−メチル−2−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸2−ビニロキシブチル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシシクロヘキシル、(メタ)アクリル酸5−ビニロキシペンチル、(メタ)アクリル酸6−ビニロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシメチルシクロヘキシルメチル、(メタ)アクリル酸p−ビニロキシメチルフェニルメチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシイソプロポキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)プロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)イソプロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシイソプロポキシ)プロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシイソプロポキシ)イソプロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシエトキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシイソプロポキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシイソプロポキシ)プロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシエトキシ)イソプロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシイソプロポキシ)イソプロピル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシエトキシエトキシ)エチル、(メタ)アクリル酸ポリエチレングリコールモノビニルエーテル、(メタ)アクリル酸ポリプロピレングリコールモノビニルエーテル。 Examples of the compound (B) represented by the general formula (1) include the following. (Meth) acrylic acid 2-vinyloxyethyl, (meth) acrylic acid 3-vinyloxypropyl, (meth) acrylic acid 1-methyl-2-vinyloxyethyl, (meth) acrylic acid 2-vinyloxypropyl, (meth) acrylic acid 4 -Vinyloxybutyl, 1-methyl-3-vinyloxypropyl (meth) acrylate, 1-vinyloxymethylpropyl (meth) acrylate, 2-methyl-3-vinyloxypropyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid 3-methyl-3-vinyloxypropyl, 1,1-dimethyl-2-vinyloxyethyl (meth) acrylate, 3-vinyloxybutyl (meth) acrylate, 1-methyl-2-vinyloxypropyl (meth) acrylate, ( (Meth) acrylic acid 2-vinyloxybutyl, (meth) acrylic acid 4-vinyloxycyclohexyl, (Meth) acrylic acid 5-vinyloxypentyl, (meth) acrylic acid 6-vinyloxyhexyl, (meth) acrylic acid 4-vinyloxymethylcyclohexylmethyl, (meth) acrylic acid p-vinyloxymethylphenylmethyl, (meth) 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, 2- (vinyloxyisopropoxy) ethyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxy) propyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxy) (meth) acrylate (Ethoxy) isopropyl, 2- (vinyloxyisopropoxy) propyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyisopropoxy) isopropyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxyethoxy) ethyl (meth) acrylate, ( (Meth) acrylic acid 2- (vinyloxyethoxyisopropoxy) ethyl 2- (vinyloxyethoxyisopropoxy) propyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxyethoxy) isopropyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxyisopropoxy) isopropyl (meth) acrylate, (meta ) 2- (vinyloxyethoxyethoxyethoxy) ethyl acrylate, polyethylene glycol monovinyl ether (meth) acrylate, polypropylene glycol monovinyl ether (meth) acrylate.
これらの中でも、(メタ)アクリル酸2−ビニロキシエチル、(メタ)アクリル酸3−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸1−メチル−2−ビニロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ビニロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシブチル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシシクロヘキシル、(メタ)アクリル酸5−ビニロキシペンチル、(メタ)アクリル酸6−ビニロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸4−ビニロキシメチルシクロヘキシルメチル、(メタ)アクリル酸p−ビニロキシメチルフェニルメチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシエトキシ)エチル、(メタ)アクリル酸2−(ビニロキシエトキシエトキシエトキシ)エチルがさらに好ましい。 Among these, 2-vinyloxyethyl (meth) acrylate, 3-vinyloxypropyl (meth) acrylate, 1-methyl-2-vinyloxyethyl (meth) acrylate, 2-vinyloxypropyl (meth) acrylate, (meth ) 4-vinyloxybutyl acrylate, 4-vinyloxycyclohexyl (meth) acrylate, 5-vinyloxypentyl (meth) acrylate, 6-vinyloxyhexyl (meth) acrylate, 4-vinyloxymethyl (meth) acrylate Cyclohexylmethyl, p-vinyloxymethyl phenylmethyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxy) ethyl (meth) acrylate, 2- (vinyloxyethoxyethoxy) ethyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid 2- (vinyloxyethoxyethoxyethoxy) ethyl is more preferred Arbitrariness.
前記の化合物(B)を構成成分として有する重合体(X)の合成法としては、従来の方法で得ることができる。(B)は、アクリロイル基やビニルエーテル基の部分で重合し、例えば、アクリロイル基が重合した場合、ビニルエーテル基がペンダント状にぶら下がって配したような構造の重合体(X)を得ることができる。また、ビニルエーテル基が重合した場合、アクリロイル基がペンダント状にぶら下がって配したような構造の重合体(X)を得ることができる。これらの重合体(X)は、後述のとおり、放射線を照射することにより、分子中のアクリロイル基がラジカル反応するとともに、ビニルエーテル基がカチオン重合して、さらに高分子量化する。
前記重合体(X)は、カチオン重合、ラジカル重合などにより合成することができる。また他のカチオン重合性を有する他の単量体やラジカル重合性を有する他の単量体と共重合させることができる。
As a synthesis method of the polymer (X) having the compound (B) as a constituent component, it can be obtained by a conventional method. (B) is polymerized at the portion of acryloyl group or vinyl ether group. For example, when the acryloyl group is polymerized, a polymer (X) having a structure in which the vinyl ether group is suspended in a pendant form can be obtained. Further, when the vinyl ether group is polymerized, a polymer (X) having a structure in which the acryloyl group is arranged pendant can be obtained. As will be described later, when these polymers (X) are irradiated with radiation, the acryloyl group in the molecule undergoes a radical reaction, and the vinyl ether group undergoes cationic polymerization to further increase the molecular weight.
The polymer (X) can be synthesized by cationic polymerization, radical polymerization, or the like. Further, it can be copolymerized with other monomers having other cationic polymerization properties and other monomers having radical polymerization properties.
前記重合体(X)は、前記化合物(B)からの構成成分以外の構成成分としてラジカル重合性化合物(C1)を共重合させて、構成成分として(C1)成分を90質量%以下含ませることができる。(C1)成分としては、例えば、炭素数6〜12のヘキシルアクリレート、n−オクチルアクリレート、イソオクチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、ドデシルアクリレート、デシルアクリレート、ラウリルアクリレートまたは炭素数5以下の単量体である、ペンチルアクリレート、n−ブチルアクリレート、イソブチルアクリレート、エチルアクリレート、メチルアクリレート、またはこれらと同様のメタクリレートなどを列挙することができる。この中でも前記アクリル系粘着剤との相溶性の点から、n−ブチルアクリレート、エチルアクリレートが好ましい。
重合体(X)中に構成成分として(C1)成分を有する共重合体を用いることにより、前記アクリル系粘着剤との相溶性が向上することで、接着剤側への移行が抑制され、経時安定性に優れるなどの効果を奏することができる。(C1)成分は、必ずしも用いなくてもよいが、用いる場合は、好ましくは、5〜90質量%、さらに好ましくは、10〜50質量%である。(C1)成分が多すぎると、放射線照射後の粘着力低下に対して十分な効果が得られなくなる。
The polymer (X) is obtained by copolymerizing the radically polymerizable compound (C1) as a constituent component other than the constituent components from the compound (B), and containing the component (C1) as 90% by mass or less. Can do. As the component (C1), for example, hexyl acrylate having 6 to 12 carbon atoms, n-octyl acrylate, isooctyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, dodecyl acrylate, decyl acrylate, lauryl acrylate, or a monomer having 5 or less carbon atoms. There can be listed pentyl acrylate, n-butyl acrylate, isobutyl acrylate, ethyl acrylate, methyl acrylate, or similar methacrylates. Among these, n-butyl acrylate and ethyl acrylate are preferable from the viewpoint of compatibility with the acrylic pressure-sensitive adhesive.
By using the copolymer having the component (C1) as a constituent component in the polymer (X), the compatibility with the acrylic pressure-sensitive adhesive is improved, so that the transition to the adhesive side is suppressed, Effects such as excellent stability can be obtained. The component (C1) is not necessarily used, but when used, it is preferably 5 to 90% by mass, and more preferably 10 to 50% by mass. When there are too many (C1) components, sufficient effect will not be acquired with respect to the adhesive force fall after radiation irradiation.
前記重合体(X)は、前記化合物(B)からの構成成分以外の構成成分としてカチオン重合性化合物(C2)を共重合させて、構成成分として(C2)成分を90質量%以下含ませることができる。(C2)成分としては、例えば、炭素数6〜12のヘキシルビニルエーテル、n−オクチルビニルエーテル、イソオクチルビニルエーテル、2−エチルヘキシルビニルエーテル、ドデシルビニルエーテル、デシルビニルエーテル、ラウリルビニルエーテルまたは炭素数5以下の単量体である、ペンチルビニルエーテル、n−ブチルビニルエーテル、イソブチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、メチルビニルエーテルなどを列挙することができる。この中でも前記アクリル系粘着剤との相溶性の点から、n−ブチルビニルエーテル、エチルビニルエーテルが好ましい。
重合体(X)中に構成成分として(C2)成分を有する共重合体を用いることにより、前記アクリル系粘着剤との相溶性が向上することで、接着剤側への移行が抑制され、経時安定性に優れるなどの効果を奏することができる。(C2)成分は、必ずしも用いなくてもよいが、用いる場合は、好ましくは、5 〜90質量%、さらに好ましくは、10〜50質量%である。(C2)成分が多すぎると、放射線照射後の粘着力低下に対して十分な効果が得られなくなる。
The polymer (X) is obtained by copolymerizing the cationically polymerizable compound (C2) as a constituent component other than the constituent components from the compound (B) and containing the component (C2) as 90% by mass or less. Can do. As the component (C2), for example, a hexyl vinyl ether having 6 to 12 carbon atoms, n-octyl vinyl ether, isooctyl vinyl ether, 2-ethylhexyl vinyl ether, dodecyl vinyl ether, decyl vinyl ether, lauryl vinyl ether or a monomer having 5 or less carbon atoms. Specific examples include pentyl vinyl ether, n-butyl vinyl ether, isobutyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, methyl vinyl ether, and the like. Among these, n-butyl vinyl ether and ethyl vinyl ether are preferable from the viewpoint of compatibility with the acrylic pressure-sensitive adhesive.
By using the copolymer having the component (C2) as a constituent component in the polymer (X), the compatibility with the acrylic pressure-sensitive adhesive is improved, so that the shift to the adhesive side is suppressed, Effects such as excellent stability can be obtained. The component (C2) is not necessarily used, but when used, it is preferably 5 to 90% by mass, more preferably 10 to 50% by mass. When there are too many (C2) components, sufficient effect will not be acquired with respect to the adhesive force fall after radiation irradiation.
上記の重合体(X)の分子量は、重量平均分子量が5000以上10万以下であることが好ましく、1万以上8万以下であることがより好ましく、2万以上5万以下であることが特に好ましい。重合体の重量平均分子量が高すぎると、前記アクリル系粘着剤との相溶性が悪くなり、重量平均分子量は低くすぎると、ブリードアウトにより粘着剤表層に析出し、接着剤のパッケージ信頼性に悪影響を与える。
ここで、重合体の重量平均分子量は、例えば以下の方法で、ポリスチレン換算の重量平均分子量として求めた値のものをいう。
(重量平均分子量の測定条件)
GPC装置:HLC−8120GPC(商品名、東ソー社製)
カラム:TSK gel SuperHM−H/H4000/H3000/H2000、(商品名、東ソー社製)
流量:0.6mL/min、
濃度:0.3質量%、
注入量:20μL、
カラム温度:40℃
展開溶媒:クロロホルム
The molecular weight of the polymer (X) is preferably a weight average molecular weight of 5,000 to 100,000, more preferably 10,000 to 80,000, and particularly preferably 20,000 to 50,000. preferable. If the weight average molecular weight of the polymer is too high, the compatibility with the acrylic pressure-sensitive adhesive will deteriorate, and if the weight average molecular weight is too low, it will precipitate on the surface of the pressure-sensitive adhesive due to bleed-out, adversely affecting the package reliability of the adhesive. give.
Here, the weight average molecular weight of the polymer refers to a value obtained as a weight average molecular weight in terms of polystyrene, for example, by the following method.
(Measurement conditions for weight average molecular weight)
GPC device: HLC-8120GPC (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSK gel SuperHM-H / H4000 / H3000 / H2000 (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Flow rate: 0.6 mL / min,
Concentration: 0.3% by mass
Injection volume: 20 μL,
Column temperature: 40 ° C
Developing solvent: Chloroform
上記化合物(B)や重合体(X)は、放射線を照射することにより、分子中のアクリロイル基がラジカル反応するとともに、ビニルエーテル基がカチオン重合して、さらに高分子量化する。アクリル系粘着剤に重合体を用い、放射線を照射することにより、粘着剤層の凝集力を向上させて、粘着剤層の剥離を容易に行うことができる。
化合物(B)や重合体(X)の添加量としては、アクリル系粘着剤100質量部に対し、3〜30質量部とすることが好ましく、5〜20質量部とすることがより好ましく、10〜15質量部とすることがさらに好ましい。その量が少なすぎると放射線照射後の粘着力低下に対して十分な効果が得られなくなるので好ましくなく、配合量が多すぎると粘着剤の凝集力が高くなるため硬化収縮量が大きくなり、アンカー効果により逆に粘着力が上昇してしまったり、硬化反応により粘着剤が脆くなりすぎ、粘着剤層が割れたり、基材樹脂フィルムから粘着剤層が剥離することがあり、半導体チップに粘着剤層に起因する汚染物が付着するので好ましくない。
When the compound (B) or the polymer (X) is irradiated with radiation, the acryloyl group in the molecule undergoes a radical reaction, and the vinyl ether group undergoes cationic polymerization to further increase the molecular weight. By using a polymer for the acrylic pressure-sensitive adhesive and irradiating with radiation, the cohesive force of the pressure-sensitive adhesive layer can be improved and the pressure-sensitive adhesive layer can be easily peeled off.
As addition amount of a compound (B) or polymer (X), it is preferable to set it as 3-30 mass parts with respect to 100 mass parts of acrylic adhesives, and it is more preferable to set it as 5-20 mass parts. More preferably, it is made into 15 mass parts. If the amount is too small, it is not preferable because a sufficient effect cannot be obtained with respect to the decrease in adhesive strength after radiation irradiation. If the amount is too large, the cohesive force of the adhesive increases and the amount of cure shrinkage increases, and the anchor On the contrary, the adhesive force may increase due to the effect, the adhesive may become too brittle due to the curing reaction, the adhesive layer may be cracked, or the adhesive layer may be peeled off from the base resin film. It is not preferable because contaminants due to the layer adhere.
(4)硬化剤(D)
本発明の粘着剤層を構成する放射線硬化性樹脂組成物に硬化剤(D)を配合することができる。硬化剤(D)としては、前記アクリル系粘着剤や、放射性炭素−炭素二重結合を有する化合物中の官能基と反応する官能基を有する硬化剤を適宜選定して配合することができる。例えば、ポリイソシアネート類、メラミン・ホルムアルデヒド樹脂、およびエポキシ樹脂から少なくとも1種選ばれる化合物(D)を、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。この化合物(D)は架橋剤として働き、前記アクリル系粘着剤や、放射性炭素−炭素二重結合を有する化合物と反応した結果、粘着剤層12bは3次元網状構造を形成する。硬化剤(D)は、前記アクリル系粘着剤、放射性炭素−炭素二重結合を有する化合物又は基材樹脂フィルム12aと反応した結果できる架橋構造により、粘着剤の凝集力を、粘着剤塗布後に向上させることができる。
(4) Curing agent (D)
A hardening agent (D) can be mix | blended with the radiation-curable resin composition which comprises the adhesive layer of this invention. As a hardening | curing agent (D), the acrylic adhesive and the hardening | curing agent which has a functional group which reacts with the functional group in the compound which has a radioactive carbon-carbon double bond can be selected suitably, and can be mix | blended. For example, at least one compound (D) selected from polyisocyanates, melamine / formaldehyde resins, and epoxy resins can be used alone or in combination of two or more. This compound (D) acts as a crosslinking agent, and as a result of reacting with the acrylic pressure-sensitive adhesive or a compound having a radioactive carbon-carbon double bond, the pressure-
ポリイソシアネート類としては、特に制限がなく、例えば、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルエーテルジイソシアネート、4,4’−〔2,2−ビス(4−フェノキシフェニル)プロパン〕ジイソシアネート等の芳香族イソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、2,2,4−トリメチル−ヘキサメチレンジイソシアネート、イソフォロンジイソシアネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、2,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、リジンジイソシアネート、リジントリイソシアネート等が挙げられる。具体的には、市販品として、コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製商品名)等を用いることができる。
また、メラミン・ホルムアルデヒド樹脂としては、具体的には、市販品として、ニカラックMX−45(三和ケミカル社製商品名)、メラン(日立化成工業株式会社製商品名)等を用いることができる。
さらに、エポキシ樹脂としては、TETRAD−X(登録商標、三菱化学株式会社製)等を用いることができる。
本発明においては、特にポリイソシアネート類を用いることが好ましい。
The polyisocyanates are not particularly limited, and examples thereof include 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, tolylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, 4,4′-diphenyl ether diisocyanate, 4,4 ′-[2,2-bis (4 -Phenoxyphenyl) propane] aromatic isocyanate such as diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, 2,2,4-trimethyl-hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, 4,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate, 2,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate Lysine diisocyanate, lysine triisocyanate and the like. Specifically, Coronate L (Nippon Polyurethane Co., Ltd. product name) etc. can be used as a commercial item.
As the melamine / formaldehyde resin, specifically, Nicalac MX-45 (trade name, manufactured by Sanwa Chemical Co., Ltd.), Melan (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) and the like can be used as commercially available products.
Furthermore, as the epoxy resin, TETRAD-X (registered trademark, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) or the like can be used.
In the present invention, it is particularly preferable to use polyisocyanates.
硬化剤(D)の添加量としては、アクリル系粘着剤100質量部に対し、0.01〜20質量部とすることが好ましく、さらに0.1〜10質量部とすることがより好ましく、特に好ましくは0.4〜3質量部である。硬化剤の量が少なすぎると凝集力向上効果が十分でなく、硬化剤の量が多すぎると粘着剤の配合および塗布作業中に硬化反応が急速に進行し、架橋構造が形成されるため、作業性が損なわれることがある。 As addition amount of a hardening | curing agent (D), it is preferable to set it as 0.01-20 mass parts with respect to 100 mass parts of acrylic adhesives, and it is more preferable to set it as 0.1-10 mass parts, especially. Preferably it is 0.4-3 mass parts. If the amount of the curing agent is too small, the cohesive force improving effect is not sufficient, and if the amount of the curing agent is too large, the curing reaction proceeds rapidly during the blending and coating operation of the adhesive, and a crosslinked structure is formed. Workability may be impaired.
(5)重合開始剤(E)
粘着剤層12bには、熱重合開始剤、光重合開始剤の少なくとも1種を含有することが好ましい。また、熱重合促進剤、光増感剤、光重合促進剤等を添加することも好ましい。
熱重合開始剤としては、特に制限はなく、従来から知られているものを用いることができる。例えば、上記熱重合開始剤としては、メチルエチルケトンパーオキサイド、シクロヘキサノンパーオキサイド、クメンハイドロパーオキサイド、t−ブチルパーオキシベンゾエート、ベンゾイルパーオキサイド等の金属石鹸及び/又はアミン化合物等の触媒作用により効率的にラジカルを発生させることができる化合物や2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビス(2、4−ジメチルバレロニトリル)が好ましい。
(5) Polymerization initiator (E)
The pressure-
There is no restriction | limiting in particular as a thermal-polymerization initiator, A conventionally well-known thing can be used. For example, as the thermal polymerization initiator, metal soap such as methyl ethyl ketone peroxide, cyclohexanone peroxide, cumene hydroperoxide, t-butyl peroxybenzoate, benzoyl peroxide, and / or the catalytic action of amine compounds and the like are effective. A compound capable of generating a radical, 2,2′-azobisisobutyronitrile, and 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) are preferable.
熱カチオン重合開始剤としては、例えば、以下の化合物を使用することができる。ルイス酸(例えば、三フッ化ホウ素、塩化第一チタン、塩化第一鉄、塩化第二鉄、塩化亜鉛、塩化第一スズ、塩化第二スズ、二塩化ジブチル第二スズ、テトラブチルスズ、トリエチルアルミニウム、塩化ジエチルアルミニウム等)と電子供与性化合物(例えば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ヘキサメチルリン酸トリアミド、ジメチルスルホキシド、リン酸トリメチル、リン酸トリエチル等)との錯体;プロトン酸(例えば、ハロゲノカルボン酸類、スルホン酸類、硫酸モノエステル類、リン酸モノエステル類、リン酸ジエステル類、ポリリン酸エステル類、ホウ酸モノエステル類、ホウ酸ジエステル類等)を塩基(例えば、アンモニア、モノエチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ピリジン、ピペリジン、アニリン、モルホリン、シクロヘキシルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ブチルアミン等)により中和した化合物。
これらの中でも、各種プロトン酸のアミン錯体が、良好なポットライフが確保できるので好ましい。
As the thermal cationic polymerization initiator, for example, the following compounds can be used. Lewis acids (eg, boron trifluoride, titanium chloride, ferrous chloride, ferric chloride, zinc chloride, stannous chloride, stannic chloride, dibutylstannic dichloride, tetrabutyltin, triethylaluminum , Diethylaluminum chloride, etc.) and electron donating compounds (for example, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, hexamethylphosphoric triamide, dimethyl sulfoxide, trimethyl phosphate, triethyl phosphate, etc. ); Complex acids; protonic acids (eg, halogenocarboxylic acids, sulfonic acids, sulfuric monoesters, phosphoric monoesters, phosphoric diesters, polyphosphoric esters, boric monoesters, boric diesters, etc.) Base (e.g., ammonia, monoethylamine, diethylamine, tri Ethylamine, pyridine, piperidine, aniline, morpholine, cyclohexylamine, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, compounds neutralized with butylamine).
Among these, amine complexes of various protonic acids are preferable because a good pot life can be secured.
光重合開始剤としては、例えば、以下の化合物を使用することができる。ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、ベンジルジメチルケタール、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル−(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−2−モルホリノ(4−チオメチルフェニル)プロパン−1−オン、2−ベンジルー2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)ブタノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−[4−(1−メチルビニル)フェニル]プロパノンオリゴマー等のアセトフェノン類;ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル等のベンゾイン類;ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、4−フェニルベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4’−メチル−ジフェニルサルファイド、3,3’,4,4’−テトラ(t−ブチルパーオキシルカルボニル)ベンゾフェノン、2,4,6−トリメチルベンゾフェノン、4−ベンゾイル−N,N−ジメチル−N−[2−(1−オキソ−2−プロペニルオキシ)エチル]ベンゼンメタナミニウムブロミド、(4−ベンゾイルベンジル)トリメチルアンモニウムクロリド等のベンゾフェノン類;2−イソプロピルチオキサントン、4−イソプロピルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2,4−ジクロロチオキサントン、1−クロロ−4−プロポキシチオキサントン、2−(3−ジメチルアミノ−2−ヒドロキシ)−3,4−ジメチル−9H−チオキサントン−9−オンメソクロリド等のチオキサントン類。 As the photopolymerization initiator, for example, the following compounds can be used. Diethoxyacetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, benzyldimethyl ketal, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl- (2-hydroxy-2-propyl) ketone, 1-hydroxycyclohexyl Phenylketone, 2-methyl-2-morpholino (4-thiomethylphenyl) propan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) butanone, 2-hydroxy-2-methyl-1 Acetophenones such as [4- (1-methylvinyl) phenyl] propanone oligomer; benzoins such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether; benzophenone, o-benzoyl Methyl perfume, 4-phenylbenzophenone, 4-benzoyl-4'-methyl-diphenyl sulfide, 3,3 ', 4,4'-tetra (t-butylperoxylcarbonyl) benzophenone, 2,4,6-trimethylbenzophenone Benzophenones such as 4-benzoyl-N, N-dimethyl-N- [2- (1-oxo-2-propenyloxy) ethyl] benzenemethananium bromide, (4-benzoylbenzyl) trimethylammonium chloride; Isopropylthioxanthone, 4-isopropylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2,4-dichlorothioxanthone, 1-chloro-4-propoxythioxanthone, 2- (3-dimethylamino-2-hydroxy) -3,4-dimethyl- 9H-thioxanthone-9 Thioxanthones such as Onmesokurorido.
これらの光重合開始剤の中でも、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、アシルフォスフィンオキサイド類が好適である。特に2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、2−メチル2−モルホリノ(4−チオメチルフェニル)プロパン−1オンが好ましい。 Among these photopolymerization initiators, acetophenones, benzophenones, and acylphosphine oxides are preferable. In particular, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one and 2-methyl-2-morpholino (4-thiomethylphenyl) propan-1one are preferable.
上記光カチオン重合開始剤としては、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロホスフェート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート等のアリールスルフォニウム塩;ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート、(トリルクミル)ヨードニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート等のアリールヨウドニウム塩;フェニルジアゾニウムテトラフルオロボレート等のアリールジアゾニウム塩。
これらの中でも、アリールスルフォニウム塩、ジアゾニウム塩が好適である。特に、(トリルクミル)ヨードニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートが好ましい。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
Examples of the photocationic polymerization initiator include arylsulfonium salts such as triphenylsulfonium hexafluorophosphate and triphenylsulfonium hexafluoroantimonate; diphenyliodonium hexafluoroantimonate, diphenyliodonium hexafluorophosphate, (tolylcumyl) iodonium tetrakis ( Aryliodonium salts such as pentafluorophenyl) borate; aryldiazonium salts such as phenyldiazonium tetrafluoroborate.
Of these, arylsulfonium salts and diazonium salts are preferred. In particular, (tolylcumyl) iodonium tetrakis (pentafluorophenyl) borate is preferable. These can be used alone or in combination of two or more.
重合開始剤(E)の添加量としては、上記重合体100質量部に対して0.01〜20質量部とすることが好ましく、0.01〜10質量部とすることがより好ましい。 As addition amount of a polymerization initiator (E), it is preferable to set it as 0.01-20 mass parts with respect to 100 mass parts of said polymers, and it is more preferable to set it as 0.01-10 mass parts.
さらに本発明に用いられる放射線硬化性の粘着剤には必要に応じて粘着付与剤、粘着調整剤、界面活性剤など、あるいはその他の改質剤および慣用成分を配合することができる。粘着剤層12bの厚さは特に制限されるものではないが、通常2〜50μmである。
Furthermore, the radiation-curable pressure-sensitive adhesive used in the present invention can be blended with a tackifier, a tackiness modifier, a surfactant, etc., as required, or other modifiers and conventional components. The thickness of the pressure-
本発明において、粘着剤層のゲル分率は、アクリル系粘着剤や放射性炭素−炭素二重結合を有する化合物の重量平均分子量、硬化剤配合量により調整することが可能であるが、ゲル分率は50%以上であることが好ましく、80%以上であることがさらに好ましい。ゲル分率が小さすぎる場合には、粘着剤成分が接着界面で僅かに流動しやすく剥離力の経時安定性が得られにくい。 In the present invention, the gel fraction of the pressure-sensitive adhesive layer can be adjusted by the weight-average molecular weight of the acrylic pressure-sensitive adhesive or the compound having a radioactive carbon-carbon double bond, and the curing agent content, but the gel fraction. Is preferably 50% or more, and more preferably 80% or more. When the gel fraction is too small, the pressure-sensitive adhesive component tends to flow slightly at the adhesion interface, and it is difficult to obtain stability over time of the peeling force.
[接着フィルム(13)]
接着フィルム13は、剥離ライナー13aに対し、例えば、エポキシ樹脂を主成分とするフィルム状接着剤などのダイ接着用として通常用いられる接着剤を塗布したものを用いることができる。接着フィルムには、導電性、熱伝導性の付与を目的として金属製微粉末やその他導電性もしくは熱伝導性に優れる材料を添加することができる。接着フィルムには、熱安定性向上を目的として金属酸化物やガラス等の微粉末を添加することもできる。さらに詳しくは、エポキシ樹脂(a)、水酸基当量150g/eq以上のフェノール樹脂(b)、グリシジルアクリレート又はグリシジルメタクリレートを0.5〜6重量%を含む重量平均分子量が10万以上のエポキシ基含有アクリル共重合体(c)、フィラー(d)及び硬化促進剤(e)を含有する組成物による接着剤層13bを形成したものを使用することができる。接着剤層13bを構成する各成分の詳細や接着フィルム13の特性などは特開2005−303275号公報(段落0034〜0068など)に記載されているものを使用することができる。
[Adhesive film (13)]
As the adhesive film 13, for example, a film obtained by applying an adhesive usually used for die bonding, such as a film adhesive mainly composed of an epoxy resin, to the
接着剤層13bは、接着剤層13bに含まれる材料を溶剤に溶解あるいは分散してワニスとし、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、表面を離型処理したポリエチレンテレフタレートフィルムなどの剥離ライナー13a上に塗布、加熱、乾燥し、溶剤を除去することにより、剥離ライナー13a上に形成される。この際の加熱条件としては、例えば、80〜250℃で、10分間〜20時間程度であることが好ましい。
The
剥離ライナー13aとしては、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリイミドフィルムなどのプラスチックフィルムを使用することができ、これらプラスチックフィルムは表面を離型処理して使用することもできる。
As the
接着フィルム13は、使用時に剥離ライナー13aを剥離して接着剤層13bのみを使用することもできるし、剥離ライナー13aとともに使用し、後で除去することもできる。
The adhesive film 13 can be peeled off the
剥離ライナー13aへのワニスの塗布方法としては、公知の方法を用いることができ、例えば、ナイフコート法、ロールコート法、スプレーコート法、グラビアコート法、バーコート法、カーテンコート法等が挙げられる。
As a method for applying the varnish to the
接着剤層13bの厚さは、特に制限されるものではないが、3〜300μmであることが好ましく、5〜250μmであることがより好ましく、10〜200μmであることが更に好ましく、20〜100μmであることが特に好ましい。3μmより薄いと応力緩和効果が乏しくなる傾向があり、300μmより厚いと経済的でなくなる。
The thickness of the
上記ワニス化の溶剤としては、特に制限は無いが、フィルム作製時の揮発性等を考慮し、メチルエチルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン、2−エトキシエタノール、トルエン、キシレン、ブチルセルソルブ、メタノール、エタノール、2−メトキシエタノールなど比較的低沸点の溶媒を使用するのが好ましい。また、塗膜性を向上させるなどの目的で、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、シクロヘキサノンなど比較的高沸点の溶媒を加えることもできる。 The solvent for varnishing is not particularly limited, but in consideration of volatility during film production, methyl ethyl ketone, acetone, methyl isobutyl ketone, 2-ethoxyethanol, toluene, xylene, butyl cellosolve, methanol, ethanol, It is preferable to use a solvent having a relatively low boiling point such as 2-methoxyethanol. For the purpose of improving the coating properties, a solvent having a relatively high boiling point such as dimethylacetamide, dimethylformamide, N-methylpyrrolidone, cyclohexanone can be added.
接着剤層13bの形成にあたっては、特に、フィラー(d)の分散性を考慮して、らいかい機、3本ロール、ボールミル及びビーズミルなどを使用するのが好ましく、これらを組み合わせて使用することもできる。また、フィラーと低分子化合物をあらかじめ混合した後、高分子化合物を配合することによって、混合する時間を短縮することも可能となる。また、ワニスとした後、真空脱気等によってワニス中の気泡を除去することが好ましい。また、本発明においては、エポキシ樹脂(a)及びフェノール樹脂(b)とフィラー(d)を混合した後、それらの混合物にエポキシ基含有アクリル共重合体(c)及び硬化促進剤(e)を混合することにより接着剤組成物を製造する方法を採用することが好ましい。また、本発明の接着剤層13bは、所望の厚さを得るために、2枚以上を貼り合わせることもできる。この場合には、接着剤層13b同士の剥離が発生しないように貼り合わせる。
In forming the
[ダイシング・ダイボンディングテープの製造方法]
粘着テープ12の製造にあたっては、例えば、基材フィルム12a上に直接、粘着剤組成物を塗布して乾燥させ、基材フィルム12a上に粘着剤層12bを形成する。塗布・乾燥は、接着フィルム13において剥離ライナー13aに接着剤層13bを形成する際の方法と同様に行うことができる。
[Manufacturing method of dicing die bonding tape]
In producing the pressure-sensitive adhesive tape 12, for example, the pressure-sensitive adhesive composition is directly applied onto the
その後、粘着剤層12b上に接着フィルム13(接着剤層13b)を積層する。この場合、例えば、予め接着剤層13bを形成した剥離ライナー13a(接着フィルム13)と、粘着剤層12bが形成された基材フィルム12a(粘着テープ12)とを、粘着剤層12b面と接着剤層13b面とが接するようにラミネートする。ラミネートの条件は、10〜100℃で0.1〜100kgf/cmの線圧をかけることが好ましい。
さらに、接着剤層の硬化が進行しない様に低温環境下で保管することが好ましい。保管条件としては、0±5℃の冷蔵保管とすることが好ましい。それ以上の環境下では硬化が進行し、基盤への埋め込み性の低下によりパッケージ信頼性試験において剥離が生じるためで、それ以下では大幅な温度変化に伴う接着剤の収縮・膨張により粘着剤層/接着剤層界面での剥離が生じることがある。
Then, the adhesive film 13 (
Further, it is preferable to store in a low temperature environment so that the curing of the adhesive layer does not proceed. As storage conditions, refrigerated storage at 0 ± 5 ° C. is preferable. This is because the curing progresses in an environment higher than that, and peeling occurs in the package reliability test due to a decrease in embedding on the substrate. Below that, the adhesive layer / Peeling at the adhesive layer interface may occur.
以下、本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
(1)半導体加工用テープの作製
表1−1〜1−3に示す半導体加工用テープを作製し、その性能についての試験を行い、その性能について評価した。評価結果を表2−1、2−2に示す。
(1.1)実施例1
n−ブチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、メチルメタアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、メタクリル酸、重合開始剤としてベンゾイルペルオキシドの混合液を、適宜、滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整し、質量平均分子量70万、ガラス転移温度−40℃を有するアクリル系共重合体(アクリル系粘着剤A1を作製した。
その後、このアクリル系粘着剤100質量部に対し、一般式(1)で表される構造の化合物(B1)として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル(B1Aとする)を30質量部加え、硬化剤としてポリイソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製、商品名)5質量部、さらに光重合開始剤として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル100質量部に対しイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5重量部を加えて、放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤を得た。
EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated further in detail based on an Example, this invention is not limited to these Examples.
(1) Production of Tape for Semiconductor Processing The tape for semiconductor processing shown in Tables 1-1 to 1-3 was produced, the performance test was performed, and the performance was evaluated. The evaluation results are shown in Tables 2-1 and 2-2.
(1.1) Example 1
n-Butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, methyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, methacrylic acid, a mixture of benzoyl peroxide as a polymerization initiator, adjust the dropping amount appropriately, adjust the reaction temperature and reaction time An acrylic copolymer (acrylic pressure-sensitive adhesive A1 having a mass average molecular weight of 700,000 and a glass transition temperature of −40 ° C. was prepared.
Thereafter, 30 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate (referred to as B1A) is added as a compound (B1) having a structure represented by the general formula (1) to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive. , Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy) against 5 parts by mass of polyisocyanate compound Coronate L (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd., trade name) as a curing agent and 100 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a photopolymerization initiator. 5 parts by weight, manufactured by Co., Ltd., was added to obtain a radiation curable resin composition pressure-sensitive adhesive.
また、エチレン−アイオノマー共重合体(三井デュポン・ケミカル社製 商品名ハイミラン1706)を溶融混練して成形し、厚さ100μm、幅300mmの基材樹脂フィルムを得た。 Further, an ethylene-ionomer copolymer (trade name HiMilan 1706 manufactured by Mitsui DuPont Chemical Co., Ltd.) was melt-kneaded and molded to obtain a base resin film having a thickness of 100 μm and a width of 300 mm.
その後、この基材樹脂フィルムに対し、前記粘着剤をグラビアコーターで塗工し、熱風乾燥炉で乾燥し、乾燥後の厚さが10μmの粘着剤層と基材フィルムとの積層体である実施例1のダイシングテープを得た。その後、下記のとおりに予め作製した厚さ20μmの接着フィルム(13−1)を、粘着テープの粘着剤層上に貼り合わせ、実施例1のダイシング・ダイボンディングテープを作製した。 Thereafter, the adhesive is applied to the base resin film with a gravure coater, dried in a hot air drying furnace, and a laminated body of an adhesive layer having a thickness of 10 μm after drying and a base film. The dicing tape of Example 1 was obtained. Then, the 20-micrometer-thick adhesive film (13-1) produced beforehand as follows was bonded together on the adhesive layer of an adhesive tape, and the dicing die-bonding tape of Example 1 was produced.
(接着フィルム(13−1)の作製)
エポキシ樹脂としてクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量197、分子量1200、軟化点70℃)50質量部、シランカップリング剤としてγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン1.5質量部、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン3質量部、平均粒径16nmのシリカフィラー30質量部からなる組成物に、シクロヘキサノンを加えて攪拌混合し、更にビーズミルを用いて90分間混練した。
これにアクリル樹脂(質量平均分子量:80万、ガラス転移温度−17℃)100質量部、6官能アクリレートモノマーとしてジペンタエリスリトールヘキサアクリレート5部、硬化剤としてヘキサメチレンジイソシアネートのアダクト体0.5部、キュアゾール2PZ(四国化成(株)製商品名、2−フェニルイミダゾール)2.5部を加え、攪拌混合し、真空脱気し、接着剤を得た。
この接着剤を厚さ25μmの離型処理したポリエチレンテレフタレートフィルム上に塗布し、110℃で1分間加熱乾燥して、膜厚が20μmの塗膜を形成し、キャリアフィルムを備えた接着フィルム(13−1)を作製した。
(Preparation of adhesive film (13-1))
50 parts by mass of a cresol novolac type epoxy resin (epoxy equivalent 197, molecular weight 1200, softening point 70 ° C.) as an epoxy resin, 1.5 parts by mass of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane as a silane coupling agent, γ-ureidopropyltriethoxysilane Cyclohexanone was added to a composition composed of 3 parts by mass and 30 parts by mass of silica filler having an average particle size of 16 nm, and the mixture was stirred and mixed, and further kneaded for 90 minutes using a bead mill.
To this, 100 parts by mass of acrylic resin (mass average molecular weight: 800,000, glass transition temperature-17 ° C), 5 parts of dipentaerythritol hexaacrylate as a hexafunctional acrylate monomer, 0.5 part of an adduct of hexamethylene diisocyanate as a curing agent, 2.5 parts of Cureazole 2PZ (trade name, 2-phenylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.) was added, mixed with stirring and vacuum degassed to obtain an adhesive.
This adhesive was applied onto a 25 μm thick release-treated polyethylene terephthalate film, dried by heating at 110 ° C. for 1 minute to form a coating film having a thickness of 20 μm, and an adhesive film (13 -1) was produced.
(1.2)実施例2
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルの添加量を0.1質量部に変更した以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例2のダイシングテープと実施例2のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.2) Example 2
In the sample preparation of Example 1, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above except that the addition amount of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate was changed to 0.1 parts by mass. These were used as the dicing tape of Example 2 and the dicing die bonding tape of Example 2, respectively.
(1.3)実施例3
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルの添加量を50質量部に変更した以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例3のダイシングテープと実施例3のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.3) Example 3
In the sample preparation of Example 1, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above except that the addition amount of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate was changed to 50 parts by mass. Were used as the dicing tape of Example 3 and the dicing die bonding tape of Example 3, respectively.
(1.4)実施例4
実施例1のサンプル作製において、イルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)に換えて、光カチオン重合開始剤として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル100質量部に対し光カチオン重合開始剤ESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例4のダイシングテープと実施例4のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.4) Example 4
In the sample preparation of Example 1, in place of Irgacure 184 (trade name, manufactured by Ciba Geigy Japan, Inc.), photocationic polymerization was initiated with respect to 100 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a photocationic polymerization initiator. 5 parts by mass of the agent ESACURE 1064 (trade name, manufactured by Nippon Shibel Hegner) was added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 4 and the dicing die bonding tape of Example 4, respectively.
(1.5)実施例5
実施例1のサンプル作製において、光カチオン重合開始剤として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル100質量部に対し光カチオン重合開始剤ESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例5のダイシングテープと実施例5のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.5) Example 5
In the sample preparation of Example 1, as a photocationic polymerization initiator, 5 parts by mass of a photocationic polymerization initiator ESACURE 1064 (trade name, manufactured by Nippon Siebel Hegner) was added to 100 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate. It was. Except for this, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 5 and the dicing die bonding tape of Example 5, respectively.
(1.6)実施例6
単量体成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて重合体(B2AO)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は3000、分散度は1.5であった。ここで分子量、分散度は、以下の方法で、ポリスチレン換算の重量平均分子量、分散度として求めた値のものをいう。
(測定条件)
GPC装置:HLC−8120GPC(商品名、東ソー社製)
カラム:TSK gel SuperHM−H/H4000/H3000/H2000、(商品名、東ソー社製)
流量:0.6ml/min、
濃度:0.3質量%、
注入量:20μl、
カラム温度:40℃
展開溶媒:クロロホルム
以下の実施例、比較例においても、同様の方法で重合体(X)の分子量と分散度を測定した。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2AO)を20質量部加え、上記重合体(B2AO)100質量部に対し、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5重量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法で上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例6のダイシングテープと実施例6のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.6) Example 6
A polymer (B2AO) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a monomer component. The molecular weight of the polymer was 3000, and the degree of dispersion was 1.5. Here, the molecular weight and the degree of dispersion refer to values obtained as polystyrene-reduced weight average molecular weight and degree of dispersion by the following methods.
(Measurement condition)
GPC device: HLC-8120GPC (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSK gel SuperHM-H / H4000 / H3000 / H2000 (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Flow rate: 0.6 ml / min,
Concentration: 0.3% by mass
Injection volume: 20 μl,
Column temperature: 40 ° C
Developing solvent: chloroform In the following Examples and Comparative Examples, the molecular weight and the degree of dispersion of the polymer (X) were measured in the same manner.
In the sample preparation of Example 1, 20 parts by mass of the polymer (B2AO) was added instead of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, and the photopolymerization initiator was added to 100 parts by mass of the polymer (B2AO). 5 parts by weight of Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy Co., Ltd., trade name) was added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in exactly the same manner as described above, and these were prepared as the dicing tape of Example 6 and the dicing die bonding tape of Example 6, respectively. did.
(1.7)実施例7
単量体成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて重合体(B2BO)をラジカル重合で得た。重合体の分子量は3000、分散度は1.6であった。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2BO)を20質量部加え、上記重合体(B2BO)100質量部に対し、光カチオン重合開始剤としてESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例7のダイシングテープと実施例7のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.7) Example 7
A polymer (B2BO) was obtained by radical polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a monomer component. The molecular weight of the polymer was 3000, and the degree of dispersion was 1.6.
In the sample preparation of Example 1, in place of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, 20 parts by mass of the polymer (B2BO) was added, and photocationic polymerization was started with respect to 100 parts by mass of the polymer (B2BO). As an agent, 5 parts by mass of ESACURE 1064 (trade name, manufactured by Nippon Shibel Hegner) was added. Except for this, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 7 and the dicing die bonding tape of Example 7, respectively.
(1.8)実施例8
単量体成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて重合体(B2AP)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は10万、分散度は2.5であった。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2AP)を20質量部加え、上記重合体(B2AP)100質量部に対し、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例8のダイシングテープと実施例8のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.8) Example 8
A polymer (B2AP) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a monomer component. The polymer had a molecular weight of 100,000 and a dispersity of 2.5.
In the sample preparation of Example 1, 20 parts by mass of the polymer (B2AP) was added instead of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, and the photopolymerization initiator was added to 100 parts by mass of the polymer (B2AP). 5 parts by mass of Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy Co., Ltd., trade name) was added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 8 and the dicing die bonding tape of Example 8, respectively.
(1.9)実施例9
単量体成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて重合体(B2BP)をラジカル重合で得た。重合体の分子量は10万、分散度は2.7であった。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2BP)を20質量部加え、上記重合体(B2AP)100質量部に対し、光カチオン重合開始剤としてESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例9のダイシングテープと実施例9のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.9) Example 9
A polymer (B2BP) was obtained by radical polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as a monomer component. The polymer had a molecular weight of 100,000 and a dispersity of 2.7.
In the sample preparation of Example 1, 20 parts by mass of the polymer (B2BP) was added instead of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, and photocationic polymerization was started with respect to 100 parts by mass of the polymer (B2AP). As an agent, 5 parts by mass of ESACURE 1064 (trade name, manufactured by Nippon Shibel Hegner) was added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 9 and the dicing die bonding tape of Example 9, respectively.
(1.10)実施例10
単量体成分として、アクリル酸2-(ビニロキシエトキシ)エチル80質量部とn−ブチルビニルエーテル20質量部を用いて重合体(B2AQ)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は8万、分散度は2.6であった。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2AQ)を20質量部加え、上記重合体(B2AQ)100質量部に対し、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例10のダイシングテープと実施例10のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.10) Example 10
A polymer (B2AQ) was obtained by cationic polymerization using 80 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and 20 parts by mass of n-butyl vinyl ether as monomer components. The molecular weight of the polymer was 80,000, and the degree of dispersion was 2.6.
In the sample preparation of Example 1, 20 parts by mass of the polymer (B2AQ) was added instead of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, and the photopolymerization initiator was added to 100 parts by mass of the polymer (B2AQ). 5 parts by mass of Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy Co., Ltd., trade name) was added. Except for this, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 10 and the dicing die bonding tape of Example 10, respectively.
(1.11)実施例11
単量体成分として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル80質量部とn−ブチルアクリレート20質量部を用いて、重合体(B2BQ)をラジカル重合で得た。重合体の分子量は10万、分散度は2.8であった。
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルに換えて、上記重合体(B2BQ)を20質量部加え、上記重合体(B2BQ)100質量部に対し、光カチオン重合開始剤としてESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例11のダイシングテープと実施例11のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.11) Example 11
A polymer (B2BQ) was obtained by radical polymerization using 80 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and 20 parts by mass of n-butyl acrylate as monomer components. The polymer had a molecular weight of 100,000 and a dispersity of 2.8.
In the sample preparation of Example 1, in place of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate, 20 parts by mass of the polymer (B2BQ) was added, and photocationic polymerization was started with respect to 100 parts by mass of the polymer (B2BQ). As an agent, 5 parts by mass of ESACURE 1064 (trade name, manufactured by Nippon Shibel Hegner) was added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 11 and the dicing die bonding tape of Example 11, respectively.
(1.12)実施例12
n−ブチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、メチルメタアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、メタクリル酸、重合開始剤としてベンゾイルペルオキシドの混合液を、適宜、滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整し、官能基を有する化合物(A2−1)を作製した。
次にこのポリマー溶液に、放射線硬化性炭素−炭素二重結合および官能基を有する化合物として、別にメタクリル酸とエチレングリコールから合成した2−ヒドロキシエチルメタクリレート、重合禁止剤としてハイドロキノンをA2−1に適宜滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整して、質量平均分子量65万、ガラス転移温度−35℃、ヨウ素価5の、放射線硬化性炭素−炭素二重結合含有基を有するアクリル系共重合体A2を得た。
その後、このアクリル系粘着剤100質量部に対し、一般式(1)で表される構造の化合物(B1)として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル(B1A)を30質量部加え、硬化剤としてポリイソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製、商品名)5質量部、さらに光重合開始剤として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル(B1A)100質量部に対しイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えて、放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤を得た。
それ以外は上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例12のダイシングテープと実施例12のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.12) Example 12
n-Butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, methyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, methacrylic acid, a mixture of benzoyl peroxide as a polymerization initiator, adjust the dropping amount appropriately, adjust the reaction temperature and reaction time The compound (A2-1) which has a functional group was produced.
Next, in this polymer solution, 2-hydroxyethyl methacrylate separately synthesized from methacrylic acid and ethylene glycol as a compound having a radiation curable carbon-carbon double bond and a functional group, hydroquinone as a polymerization inhibitor is appropriately converted into A2-1. Acrylic copolymer having a radiation-curable carbon-carbon double bond-containing group having a mass average molecular weight of 650,000, a glass transition temperature of −35 ° C., and an iodine value of 5 by adjusting the dropping amount and the reaction temperature and reaction time. Polymer A2 was obtained.
Then, 30 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate (B1A) as a compound (B1) having a structure represented by the general formula (1) is added to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive and cured. 5 parts by mass of polyisocyanate compound Coronate L (trade name, manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) as an agent, and Irgacure 184 (Japan) as a photopolymerization initiator with respect to 100 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate (B1A). Ciba Geigy Co., Ltd., trade name) 5 parts by mass was added to obtain a radiation curable resin composition pressure-sensitive adhesive.
Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above, and these were used as the dicing tape of Example 12 and the dicing die bonding tape of Example 12, respectively.
(1.13)実施例13
実施例12で得たA2−1のポリマー溶液に、2−ヒドロキシエチルメタクリレート及び重合禁止剤としてハイドロキノンの滴下量を適宜調整して加え、反応温度および反応時間を調整して、質量平均分子量70万、ガラス転移温度−35℃、ヨウ素価10を有するアクリル系共重合体化合物A3を作製した。
実施例12において、A2に代えてA3を用いた以外は、実施例12と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例13のダイシングテープと実施例13のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.13) Example 13
To the polymer solution of A2-1 obtained in Example 12, 2-hydroxyethyl methacrylate and the amount of hydroquinone added as a polymerization inhibitor were adjusted as appropriate, the reaction temperature and reaction time were adjusted, and the mass average molecular weight was 700,000. An acrylic copolymer compound A3 having a glass transition temperature of −35 ° C. and an iodine value of 10 was produced.
In Example 12, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 12 except that A3 was used instead of A2, and these were respectively used as the dicing tape of Example 13 and Example. 13 dicing die bonding tapes were obtained.
(1.14)実施例14
実施例12で得たA2−1のポリマー溶液に、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、重合禁止剤としてハイドロキノンの滴下量を適宜調整して加え、反応温度および反応時間を調整して、質量平均分子量72万、ガラス転移温度−40℃、ヨウ素価20を有するアクリル系共重合体化合物A4を作製した。
実施例12において、A2に代えてA4を用いた以外は、実施例12と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例14のダイシングテープと実施例14のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.14) Example 14
To the polymer solution of A2-1 obtained in Example 12, 2-hydroxyethyl methacrylate and a dropwise addition amount of hydroquinone as a polymerization inhibitor were added as appropriate, the reaction temperature and reaction time were adjusted, and the mass average molecular weight was 720,000. An acrylic copolymer compound A4 having a glass transition temperature of −40 ° C. and an iodine value of 20 was produced.
In Example 12, a dicing tape and a dicing die bonding tape were produced in the same manner as in Example 12 except that A4 was used in place of A2, and these were respectively used as the dicing tape of Example 14 and Example. 14 dicing die bonding tapes were obtained.
(1.15)実施例15
実施例1のサンプル作製において、アクリル系粘着剤A1に対して、光重合性硬化剤としてトリメチロールプロパントリアクリレートを加え、ヨウ素価10の放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤A5を得た。
その後、このアクリル系粘着剤100質量部に対し、一般式(1)で表される構造の化合物(B1)として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル(B1A)を30質量部加え、硬化剤としてポリイソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製、商品名)5質量部、さらに光重合開始剤として、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル100質量部に対しイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5重量部を加えて、放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤を得た。
それ以外は実施例1と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例15のダイシングテープと実施例15のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.15) Example 15
In the sample preparation of Example 1, trimethylolpropane triacrylate was added as a photopolymerizable curing agent to the acrylic pressure-sensitive adhesive A1 to obtain a pressure-sensitive adhesive A5 of a radiation curable resin composition having an iodine value of 10.
Then, 30 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate (B1A) as a compound (B1) having a structure represented by the general formula (1) is added to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive and cured. 5 parts by mass of polyisocyanate compound coronate L (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd., trade name) as an agent, and Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy Corporation) as a photopolymerization initiator with respect to 100 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate Product, trade name) 5 parts by weight were added to obtain a pressure-sensitive adhesive for the radiation curable resin composition.
Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were produced in the same manner as in Example 1, and these were used as the dicing tape of Example 15 and the dicing die bonding tape of Example 15, respectively.
(1.16)実施例16
実施例1のサンプル作製において、接着フィルム13−2に変更した以外は実施例1と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例16のダイシングテープと実施例16のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.16) Example 16
In the sample preparation of Example 1, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 1 except that the adhesive film 13-2 was changed. The dicing die bonding tape of Example 16 was obtained.
(1.17)実施例21
n−ブチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、メチルメタアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、メタクリル酸、重合開始剤としてベンゾイルペルオキシドの混合液を、適宜、滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整し、重量平均分子量60万、ガラス転移温度−35℃のアクリル系共重合体(アクリル系粘着剤A1)を作製した。
その後、一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて、重合体(X)(B1AP)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は2万、分散度は2.4であった。ここで分子量、分散度は、以下の方法で、ポリスチレン換算の重量平均分子量、分散度として求めた値のものをいう。以下の実施例、比較例においても、前記と同様の方法で重合体の分子量と分散度を測定した。
(測定条件)
GPC装置:HLC−8120GPC(商品名、東ソー社製)
カラム:TSK gel SuperHM−H/H4000/H3000/H2000、(商品名、東ソー社製)
流量:0.6mL/min、
濃度:0.3質量%、
注入量:20μL、
カラム温度:40℃
展開溶媒:クロロホルム
(1.17) Example 21
n-Butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, methyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, methacrylic acid, a mixture of benzoyl peroxide as a polymerization initiator, adjust the dropping amount appropriately, adjust the reaction temperature and reaction time An acrylic copolymer (acrylic pressure-sensitive adhesive A1) having a weight average molecular weight of 600,000 and a glass transition temperature of −35 ° C. was produced.
Thereafter, polymer (X) (B1AP) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as the component (B) in the general formula (1). The polymer had a molecular weight of 20,000 and a dispersity of 2.4. Here, the molecular weight and the degree of dispersion refer to values obtained as polystyrene-reduced weight average molecular weight and degree of dispersion by the following methods. Also in the following examples and comparative examples, the molecular weight and the degree of dispersion of the polymer were measured by the same method as described above.
(Measurement condition)
GPC device: HLC-8120GPC (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSK gel SuperHM-H / H4000 / H3000 / H2000 (trade name, manufactured by Tosoh Corporation)
Flow rate: 0.6 mL / min,
Concentration: 0.3% by mass
Injection volume: 20 μL,
Column temperature: 40 ° C
Developing solvent: Chloroform
前記アクリル系粘着剤(A1)100質量部に対し、前記重合体(B1AP)15質量部を加え、硬化剤としてポリイソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製、商品名)6質量部、さらに光重合開始剤として、前記重合体(B1AP)100質量部当り、イルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えて、放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤を得た。 15 parts by mass of the polymer (B1AP) is added to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive (A1), 6 parts by mass of a polyisocyanate compound coronate L (trade name, manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) as a curing agent, and light. As a polymerization initiator, 5 parts by mass of Irgacure 184 (trade name, manufactured by Nippon Ciba Geigy Co., Ltd.) was added per 100 parts by mass of the polymer (B1AP) to obtain a pressure-sensitive adhesive for the radiation curable resin composition.
また、エチレン−アイオノマー共重合体(三井デュポン・ケミカル社製 商品名ハイミラン1706)を溶融混練して成形し、厚さ100μm、幅300mmの基材樹脂フィルムを得た。 Further, an ethylene-ionomer copolymer (trade name HiMilan 1706 manufactured by Mitsui DuPont Chemical Co., Ltd.) was melt-kneaded and molded to obtain a base resin film having a thickness of 100 μm and a width of 300 mm.
その後、この基材樹脂フィルムに対し、前記粘着剤をグラビアコーターで塗工し、熱風乾燥炉で乾燥し、乾燥後の厚さが10μmの粘着剤層と基材フィルムとの積層体である実施例21のダイシングテープを得た。
その後、下記のとおりに予め作製した厚さ20μmの接着フィルム(13−1)を、粘着テープの粘着剤層上に貼り合わせ、実施例21のダイシング・ダイボンディングテープを作製した。
エポキシ樹脂としてクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量197、分子量1300、軟化点70℃)50質量部、シランカップリング剤としてγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン1.5質量部、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン3質量部、平均粒径16nmのシリカフィラー30質量部からなる組成物に、シクロヘキサノンを加えて攪拌混合し、更にビーズミルを用いて90分間混練した。
これにアクリル樹脂(質量平均分子量:80万、ガラス転移温度−17℃)100質量部、6官能アクリレートモノマーとしてジペンタエリスリトールヘキサアクリレート6部、硬化剤としてヘキサメチレンジイソシアネートのアダクト体0.5部、キュアゾール2PZ(四国化成(株)製商品名、2−フェニルイミダゾール)3部を加え、攪拌混合し、真空脱気し、接着剤を得た。
この接着剤を厚さ25μmの離型処理したポリエチレンテレフタレートフィルム上に塗布し、110℃で1分間加熱乾燥して、膜厚が20μmの塗膜を形成し、キャリアフィルムを備えた接着フィルム(13−1)を作製した。
Thereafter, the adhesive is applied to the base resin film with a gravure coater, dried in a hot air drying furnace, and a laminated body of an adhesive layer having a thickness of 10 μm after drying and a base film. The dicing tape of Example 21 was obtained.
Then, the 20-micrometer-thick adhesive film (13-1) produced previously as follows was bonded on the adhesive layer of an adhesive tape, and the dicing die-bonding tape of Example 21 was produced.
50 parts by mass of cresol novolac type epoxy resin (epoxy equivalent 197, molecular weight 1300, softening point 70 ° C.) as an epoxy resin, 1.5 parts by mass of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane as a silane coupling agent Cyclohexanone was added to a composition composed of 3 parts by mass and 30 parts by mass of silica filler having an average particle size of 16 nm, and the mixture was stirred and mixed, and further kneaded for 90 minutes using a bead mill.
100 parts by mass of acrylic resin (mass average molecular weight: 800,000, glass transition temperature-17 ° C), 6 parts of dipentaerythritol hexaacrylate as a hexafunctional acrylate monomer, 0.5 part of an adduct of hexamethylene diisocyanate as a curing agent, 3 parts of Curazole 2PZ (trade name, 2-phenylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.) were added, mixed by stirring, and vacuum degassed to obtain an adhesive.
This adhesive was applied onto a 25 μm thick release-treated polyethylene terephthalate film, dried by heating at 110 ° C. for 1 minute to form a coating film having a thickness of 20 μm, and an adhesive film (13 -1) was produced.
(1.18)実施例22
実施例21のサンプル作製において、B1APの添加量を3質量部に変更した以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例22のダイシングテープと実施例22のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.18) Example 22
In the sample preparation of Example 21, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 21 except that the addition amount of B1AP was changed to 3 parts by mass. The dicing tape and the dicing die-bonding tape of Example 22 were used.
(1.19)実施例23
実施例21のサンプル作製において、B1APの添加量を30質量部に変更した以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例23のダイシングテープと実施例23のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.19) Example 23
In the sample preparation of Example 21, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 21 except that the addition amount of B1AP was changed to 30 parts by mass. The dicing tape and the dicing die bonding tape of Example 23 were used.
(1.20)実施例24
実施例21のサンプル作製において、光重合開始剤として、重合体(X)(B1AP)100質量部当り、イルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部と、光カチオン重合開始剤ESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例24のダイシングテープと実施例24のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.20) Example 24
In the sample preparation of Example 21, as a photopolymerization initiator, 5 parts by mass of Irgacure 184 (trade name, manufactured by Ciba Geigy Co., Ltd.) per 100 parts by mass of the polymer (X) (B1AP) and a photocationic polymerization initiator ESACURE 1064 5 parts by mass (trade name, manufactured by Nippon Shibel Hegner) was added. Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 24 and the dicing die bonding tape of Example 24, respectively.
(1.21)実施例25
一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて、重合体(X)(B1AO)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は5,000、分散度は1.6であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B1AO)を30質量部加え、上記重合体(B1AO)100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法で上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例25のダイシングテープと実施例25のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.21) Example 25
Polymer (X) (B1AO) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as the component (B) in the general formula (1). The molecular weight of the polymer was 5,000, and the degree of dispersion was 1.6.
In the sample preparation of Example 21, in place of B1AP, 30 parts by mass of the polymer (B1AO) was added, and Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy Japan Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B1AO). Product name) 5 parts by mass were added. Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in exactly the same manner as in Example 21, and the dicing tape and dicing die bonding tape in Example 25 and Dicing die bonding in Example 25, respectively. Tape.
(1.22)実施例26
一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて、重合体(X)(B1AP2)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は10万、分散度は2.7であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B1AP2)を15質量部加え、上記重合体(B1AP2)100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例1と全く同様の方法で上記と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例26のダイシングテープと実施例26のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.22) Example 26
Polymer (X) (B1AP2) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate as the component (B) in the general formula (1). The polymer had a molecular weight of 100,000 and a dispersity of 2.7.
In the sample preparation of Example 21, in place of B1AP, 15 parts by mass of the polymer (B1AP2) was added, and Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy Japan) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B1AP2). Product name) 5 parts by mass were added. Except for this, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in exactly the same manner as in Example 1, and the dicing tape and dicing die bonding tape in Example 26 were produced respectively. Tape.
(1.23)実施例27
一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル10質量%とn−ブチルビニルエーテル90質量%を用いて重合体(X)(B2AQ)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は3万、分散度は2.6であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B2AQ)を15質量部加え、上記重合体(B2AQ)100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例27のダイシングテープと実施例27のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.23) Example 27
Polymer (X) (B2AQ) was obtained by cationic polymerization using 10% by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and 90% by mass of n-butyl vinyl ether as the component (B) of the general formula (1). The molecular weight of the polymer was 30,000, and the degree of dispersion was 2.6.
In the sample preparation of Example 21, instead of B1AP, 15 parts by mass of the polymer (B2AQ) was added, and Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy Japan Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B2AQ). Product name) 5 parts by mass were added. Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were produced in the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 27 and the dicing die bonding tape of Example 27, respectively.
(1.24)実施例28
一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル10質量部とn−ブチルアクリレート90質量部を用いて、重合体(X)(B2BQ)をラジカル重合で得た。重合体の分子量は3万、分散度は2.8であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B2BQ)を15質量部加え、上記重合体(B2BQ)100質量部当り、光カチオン重合開始剤としてESACURE1064(日本シイベルヘグナー社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例28のダイシングテープと実施例28のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.24) Example 28
Polymer (X) (B2BQ) was obtained by radical polymerization using 10 parts by mass of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and 90 parts by mass of n-butyl acrylate as the component (B) in the general formula (1). . The molecular weight of the polymer was 30,000, and the degree of dispersion was 2.8.
In the preparation of the sample of Example 21, instead of B1AP, 15 parts by mass of the polymer (B2BQ) was added, and ESACURE 1064 (manufactured by Nippon Sebel Hegner, Inc., product) as a photocationic polymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B2BQ). Name) 5 parts by mass were added. Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were produced in the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 28 and the dicing die bonding tape of Example 28, respectively.
(1.25)実施例29
一般式(1)の(B)成分としてメタアクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを用いて、重合体(X)(B3AP)をラジカル重合で得た。重合体の分子量は2万、分散度は2.7であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B3AP)を15質量部加え、上記重合体(B3AP)100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例29のダイシングテープと実施例29のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.25) Example 29
Polymer (X) (B3AP) was obtained by radical polymerization using 2- (vinyloxyethoxy) ethyl methacrylate as the component (B) in the general formula (1). The molecular weight of the polymer was 20,000, and the degree of dispersion was 2.7.
In the sample preparation of Example 21, instead of B1AP, 15 parts by mass of the polymer (B3AP) was added, and Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy Japan Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B3AP). Product name) 5 parts by mass were added. Otherwise, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 29 and the dicing die bonding tape of Example 29, respectively.
(1.26)実施例30
一般式(1)の(B)成分としてアクリル酸2−(ビニロキシイソプロポキシ)プロピルを用いて、重合体(X)(B4AP)をカチオン重合で得た。重合体の分子量は2万、分散度は2.6であった。
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、上記重合体(B4AP)を15質量部加え、上記重合体(B4AP)100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例30のダイシングテープと実施例30のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.26) Example 30
Polymer (X) (B4AP) was obtained by cationic polymerization using 2- (vinyloxyisopropoxy) propyl acrylate as the component (B) in the general formula (1). The polymer had a molecular weight of 20,000 and a dispersity of 2.6.
In the sample preparation of Example 21, instead of B1AP, 15 parts by mass of the polymer (B4AP) was added, and Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy Japan Co., Ltd.) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of the polymer (B4AP). Product name) 5 parts by mass were added. Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in exactly the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 30 and the dicing die bonding tape of Example 30, respectively.
(1.27)実施例31
n−ブチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、メチルメタアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、メタクリル酸、重合開始剤としてベンゾイルペルオキシドの混合液を、適宜、滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整し、官能基を有する化合物(A7−1)を作製した。
次にこのポリマー溶液に、放射線硬化性炭素−炭素二重結合および官能基を有する化合物として、別にメタクリル酸とエチレングリコールから合成した2−ヒドロキシエチルメタクリレート、重合禁止剤としてハイドロキノンをA7−1に適宜滴下量を調整し、反応温度および反応時間を調整して、質量平均分子量65万、ガラス転移温度−35℃、ヨウ素価10の、放射線硬化性炭素−炭素二重結合含有基を有するアクリル系共重合体A7を得た。
その後、前記アクリル系粘着剤(A7)100質量部に対し、実施例21で調製した重合体(X)(B1AP)15質量部を加え、硬化剤としてポリイソシアネート化合物コロネートL(日本ポリウレタン株式会社製、商品名)6質量部、さらに光重合開始剤として、前記重合体(B1AP)100質量部当り、イルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5質量部を加えて、放射線硬化性樹脂組成物の粘着剤を得た。
それ以外は上記と実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例31のダイシングテープと実施例31のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.27) Example 31
n-Butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, methyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, methacrylic acid, a mixture of benzoyl peroxide as a polymerization initiator, adjust the dropping amount appropriately, adjust the reaction temperature and reaction time The compound (A7-1) which has a functional group was produced.
Next, in this polymer solution, 2-hydroxyethyl methacrylate separately synthesized from methacrylic acid and ethylene glycol as a compound having a radiation curable carbon-carbon double bond and a functional group, hydroquinone as a polymerization inhibitor is appropriately added to A7-1. Acrylic copolymer having a radiation-curable carbon-carbon double bond-containing group having a mass average molecular weight of 650,000, a glass transition temperature of −35 ° C., and an iodine value of 10 by adjusting the dropping amount and the reaction temperature and reaction time. Polymer A7 was obtained.
Thereafter, 15 parts by mass of the polymer (X) (B1AP) prepared in Example 21 was added to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive (A7), and a polyisocyanate compound coronate L (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) was used as a curing agent. (Trade name) 6 parts by mass, and further, as a photopolymerization initiator, 5 parts by mass of Irgacure 184 (trade name, manufactured by Nippon Ciba-Geigy Co., Ltd.) is added per 100 parts by mass of the polymer (B1AP). A product adhesive was obtained.
Other than that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as described above and in Example 21, and these were used as the dicing tape of Example 31 and the dicing die bonding tape of Example 31, respectively.
(1.28)実施例32
実施例21のサンプル作製において、以下のように、接着フィルム(13−2)を用いた以外は全く同様の方法で、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、実施例32のダイシングテープと実施例32のダイシング・ダイボンディングテープとした。
接着フィルム(13−2):
エポキシ樹脂としてクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量197、分子量1300、軟化点70℃)50質量部、硬化剤としてヘキサメチレンジイソシアネートのアダクト体1部とした以外は前記接着フィルム(13−1)の作製と全く同様の操作を行い、接着フィルム(13−2)を作製した。
(1.28) Example 32
In the sample preparation of Example 21, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in exactly the same manner except that the adhesive film (13-2) was used as follows. And the dicing die bonding tape of Example 32.
Adhesive film (13-2):
Production of the adhesive film (13-1) except that 50 parts by mass of a cresol novolac type epoxy resin (epoxy equivalent 197, molecular weight 1300, softening point 70 ° C.) as an epoxy resin and 1 part of an adduct of hexamethylene diisocyanate as a curing agent The adhesive film (13-2) was produced in exactly the same manner as in Example 1.
(1.34)比較例1
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチル、イルガキュア184を粘着剤に全く添加せずに、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例1のダイシングテープと比較例1のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.34) Comparative Example 1
In the sample preparation of Example 1, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared without adding 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate and Irgacure 184 to the pressure-sensitive adhesive. And a dicing die bonding tape of Comparative Example 1.
(1.35)比較例2
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルの添加量を0.08質量部に変えて、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例2のダイシングテープと比較例2のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.35) Comparative Example 2
In the sample preparation of Example 1, the addition amount of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate was changed to 0.08 parts by mass to prepare a dicing tape and a dicing die bonding tape. And a dicing die bonding tape of Comparative Example 2.
(1.36)比較例3
実施例1のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルの添加量を60質量部に変えて、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例3のダイシングテープと比較例3のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.36) Comparative Example 3
In the sample preparation of Example 1, the addition amount of 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate was changed to 60 parts by mass to prepare a dicing tape and a dicing die bonding tape. The tape and the dicing die bonding tape of Comparative Example 3 were used.
(1.37)比較例4
実施例12のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを全く添加せずに、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例4のダイシングテープと比較例4のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.37) Comparative Example 4
In the sample preparation of Example 12, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared without adding 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate at all, and these were respectively compared with the dicing tape of Comparative Example 4 and the Comparative Example. No. 4 dicing die bonding tape.
(1.38)比較例5
実施例15のサンプル作製において、アクリル酸2−(ビニロキシエトキシ)エチルを全く添加せずに、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例5のダイシングテープと比較例5のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.38) Comparative Example 5
In the sample preparation of Example 15, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared without adding 2- (vinyloxyethoxy) ethyl acrylate at all, and these were respectively compared with the dicing tape of Comparative Example 5 and the Comparative Example. No. 5 dicing die bonding tape.
(1.39)比較例21
実施例21のサンプル作製において、B1AP、イルガキュア184を粘着剤に全く添加せずに、ダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例21のダイシングテープと比較例21のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.39) Comparative Example 21
In the sample preparation of Example 21, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared without adding B1AP and Irgacure 184 to the adhesive, and the dicing tape of Comparative Example 21 and the dicing of Comparative Example 21, respectively, were prepared. -Die bonding tape.
(1.40)比較例22
実施例21のサンプル作製において、B1APに換えて、光重合性硬化剤としてトリメチロールプロパントリアクリレートを15質量部加え、トリメチロールプロパントリアクリレート100質量部当り、光重合開始剤としてイルガキュア184(日本チバガイギー株式会社製、商品名)5重量部を加えた。それ以外は実施例21と全く同様の方法でダイシングテープとダイシング・ダイボンディングテープを作製し、これらをそれぞれ、比較例22のダイシングテープと比較例22のダイシング・ダイボンディングテープとした。
(1.40) Comparative Example 22
In the sample preparation of Example 21, instead of B1AP, 15 parts by mass of trimethylolpropane triacrylate was added as a photopolymerizable curing agent, and Irgacure 184 (Nippon Ciba Geigy) as a photopolymerization initiator per 100 parts by mass of trimethylolpropane triacrylate. 5 parts by weight (trade name, manufactured by Co., Ltd.) Except that, a dicing tape and a dicing die bonding tape were prepared in the same manner as in Example 21, and these were used as the dicing tape of Comparative Example 22 and the dicing die bonding tape of Comparative Example 22, respectively.
(2)サンプルの評価
(2.1)粘着強度の測定
各サンプルのダイシング・ダイボンディングテープにおいて、初期もしくは0±5℃環境下で6ヶ月間冷蔵保管したダイシング・ダイボンディングテープに対し紫外線を照射し、紫外線照射前後の粘着力をJIS−Z0237に基づき測定した。測定は90°剥離,剥離速度50mm/minとした。紫外線ランプはとして高圧水銀灯(80mw/cm2,照射距離10cm)を使用し、照射強度を200mJ/cm2とした。測定結果を表2−1、2−2に示す。
(2) Sample evaluation (2.1) Measurement of adhesive strength In the dicing die bonding tape of each sample, ultraviolet rays were irradiated to the dicing die bonding tape initially or refrigerated for 6 months in an environment of 0 ± 5 ° C. Then, the adhesive strength before and after UV irradiation was measured based on JIS-Z0237. Measurement was performed at 90 ° peeling and a peeling speed of 50 mm / min. A high-pressure mercury lamp (80 mw / cm 2 ,
(2.2)ゲル分率
粘着剤層約0.05gを秤取し、キシレン50mLに120℃で24時間浸漬した後、200メッシュのステンレス製金網で濾過し、金網上の不溶解分を110℃にて120分間乾燥する。次に、乾燥した不溶解分の質量を秤量し、下記に示す式にてゲル分率を算出した。その結果を表2−1、2−2に示す。
ゲル分率(%)=(不溶解分の質量/秤取した粘着剤層の質量)×100
(2.2) Gel fraction About 0.05 g of the pressure-sensitive adhesive layer was weighed and immersed in 50 mL of xylene at 120 ° C. for 24 hours, and then filtered through a 200-mesh stainless steel wire mesh to remove the insoluble matter on the wire mesh by 110. Dry at 120 ° C. for 120 minutes. Next, the mass of the dried insoluble matter was weighed, and the gel fraction was calculated by the following formula. The results are shown in Tables 2-1 and 2-2.
Gel fraction (%) = (mass of insoluble matter / mass of weighed pressure-sensitive adhesive layer) × 100
(2.3)チップ飛びの発生の有無
各サンプルのダイシングテープを70℃で1分間シリコンウエハへ加熱貼合した後、ウエハを5mm×5mmにダイシングした。その後、ダイシング後のチップを観察し、ダイシング時のチップ飛びの有無を観察し、チップ飛びのないものを合格とした。その評価結果を表2−1、2−2に示す。
(2.3) Presence / absence of chip jumping The dicing tape of each sample was heat bonded to a silicon wafer at 70 ° C. for 1 minute, and then the wafer was diced to 5 mm × 5 mm. Then, the chip | tip after dicing was observed, the presence or absence of the chip | tip jump at the time of dicing was observed, and the thing without a chip | tip jump was set as the pass. The evaluation results are shown in Tables 2-1 and 2-2.
(2.4)接着剤層と粘着剤層の接触面積
各サンプルのダイシング・ダイボンディングテープに対し厚み50μmのシリコンウエハを70℃で10秒間加熱貼合した後、10mm×10mmにダイシングした。
その後、粘着剤層に紫外線を空冷式高圧水銀灯(80mw/cm2、照射距離10cm)により200mJ/cm2照射した後、ダイスピッカー装置(キヤノンマシナリー社製、商品名CAP−300II)のエキスパンドリングにより押し下げ、ウエハ加工用テープのウエハ貼合部位外周のウエハに重ならない部分を円形の突き上げ部材に押し付けることでエキスパンド量(突き上げ量)3、5、8mmを実施した。なお、エキスパンド量とは、押下げ前と押下げ後のリングフレームと突き上げ部材の相対位置の変化量である。その際、各シリコンチップについて、エキスパンド前の接着剤層と粘着剤層との接触面積(b)と、エキスパンド後の接着剤層と粘着剤層との接触面積(a)との大小関係が、a<b、すなわち、接着剤層/粘着剤層の界面での剥離の有無を観察した。その結果、a<bとなるものを合格とした。表2−1、2−2に、合格を○、不合格を×として示す。
(2.4) Contact Area between Adhesive Layer and Adhesive Layer A silicon wafer having a thickness of 50 μm was heat bonded to the dicing die bonding tape of each sample at 70 ° C. for 10 seconds, and then diced to 10 mm × 10 mm.
Thereafter, the adhesive layer was irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ / cm 2 by an air-cooled high-pressure mercury lamp (80 mw / cm 2 ,
(2.5)ピックアップ性
各サンプルのダイシング・ダイボンディングテープにおいて、初期もしくは0±5℃環境下で1、3、5、6か月間冷蔵保管したダイシング・ダイボンディングテープに対し厚み50μmのシリコンウエハを70℃で10秒間加熱貼合した後、10mm×10mmにダイシングした。
その後、粘着剤層に紫外線を空冷式高圧水銀灯(80mw/cm2、照射距離10cm)により200mJ/cm2照射した後、シリコンウエハ中央部のチップ50個についてダイスピッカー装置(キヤノンマシナリー社製、商品名CAP−300II)によるピックアップ試験を行い、ピックアップチップ個数でのピックアップ成功率を求めた。
その際、ピックアップされた素子において、粘着剤層から剥離した接着剤層が保持されているものをピックアップが成功したものとし、ピックアップ成功率を算出した。その算出結果を表2−1、2−2に示す。◎,○,△,×、××の基準(ピックアップ性の基準)は下記のとおりとし、◎と○を合格とし、その結果を表2−1、2−2に示す。
(2.5) Pick-up property A silicon wafer having a thickness of 50 μm with respect to the dicing die bonding tape of each sample, which was refrigerated for 1, 3, 5, or 6 months in an initial or 0 ± 5 ° C. environment. Was bonded by heating at 70 ° C. for 10 seconds, and then diced to 10 mm × 10 mm.
After that, the adhesive layer was irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ / cm 2 with an air-cooled high-pressure mercury lamp (80 mw / cm 2 ,
At that time, in the picked-up element, the pick-up success rate was calculated by assuming that the pick-up was successful when the adhesive layer peeled from the pressure-sensitive adhesive layer was retained. The calculation results are shown in Tables 2-1 and 2-2. ◎, ○, △, ×, XX criteria (pickup property criteria) are as follows, ◎ and ○ are accepted, and the results are shown in Tables 2-1 and 2-2.
「◎」…突き上げピンによる突き上げ高さ0.7mm、0.5mm、0.3mm、0.1mmにおけるピックアップ成功率が100%である
「○」…突き上げ高さ0.7mm、0.5mm、0.3mmにおけるピックアップ成功率が100%で、且つ、突き上げ高さ0.1mmにおけるピックアップ成功率が100%未満である
「△」…突き上げ高さ0.7mm、0.5mmにおけるピックアップ成功率が100%で、且つ、突き上げ高さ0.3mm、0.1mmにおけるピックアップ成功率が100%未満である
「×」…突き上げ高さ0.7mm、0.5mm、0.3mmにおけるピックアップ成功率が100%未満である
「××」…突き上げ高さ0.7mm、0.5mm、0.3mm、0.1mmにおけるピックアップ成功率が100%未満である
“◎”: The success rate of pick-up at the push-up heights of 0.7 mm, 0.5 mm, 0.3 mm, and 0.1 mm by the push-up pin is 100%. “◯” ... Push-up height 0.7 mm, 0.5 mm, 0 The pickup success rate at 3 mm is 100%, and the pickup success rate at a push-up height of 0.1 mm is less than 100%. “△”… The pickup success rate at a push-up height of 0.7 mm and 0.5 mm is 100%. In addition, the pickup success rate is less than 100% at a push-up height of 0.3 mm and 0.1 mm. “X”: The pickup success rate is less than 100% at a push-up height of 0.7 mm, 0.5 mm, and 0.3 mm. "XX" ... Pickup success rate is not 100% at push-up heights of 0.7mm, 0.5mm, 0.3mm, 0.1mm Be
(2.6)パッケージ信頼性
各サンプルのダイシング・ダイボンディングテープにおいて、初期もしくは0±5℃環境下で1、3、5、6か月間冷蔵保管したダイシング・ダイボンディングテープに対し70℃で1分間ウエハへ加熱貼合した後、ウエハを10mm×10mmにダイシングした。その後、粘着剤層に紫外線を空冷式高圧水銀灯(80mW/cm2、照射距離10cm)により200mJ/cm2照射した後、ダイボンダー装置(NECマシナリー製、商品名CPS−100FM)によるピックアップ試験を行い、ピックアップした接着剤付きチップのシリコンチップ上にアルミ配線を形成した模擬素子を、シート状接着剤を介して、銀メッキされたFR4基板上にダイボンディングし、175℃、70kgf/cm2、成形時間120秒の条件で、1.0mm厚のBGAパッケージ20個を成形し、180℃、4時間ポストキュアし、これを評価パッケージとして用いた。
その後、得られたパッケージを、予め260℃に調整したハンダ浴に10秒間浸けた後、超音波探査装置(日立建機(株)製 Hyper)を用いて、透過法にてパッケージクラックの有無を評価した。その評価結果を表2−1、2−2に示す。ここでは、20個の評価パッケージ中、クラックのある不良パッケージがいくつかあるかの個数で評価した。20個の評価パッケージ中、クラックのある不良パッケージが1つでもあるものを不合格とした。
(2.6) Package Reliability The dicing die bonding tape of each sample is 1 at 70 ° C. compared to the dicing die bonding tape initially or refrigerated for 1, 3, 5, or 6 months in an environment of 0 ± 5 ° C. After heat bonding to the wafer for 1 minute, the wafer was diced to 10 mm × 10 mm. Thereafter, the adhesive layer was irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ / cm 2 with an air-cooled high-pressure mercury lamp (80 mW / cm 2 ,
Then, after immersing the obtained package in a solder bath adjusted to 260 ° C. for 10 seconds in advance, the presence or absence of package cracks was confirmed by a transmission method using an ultrasonic exploration device (Hyper manufactured by Hitachi Construction Machinery Co., Ltd.). evaluated. The evaluation results are shown in Tables 2-1 and 2-2. Here, the evaluation was made based on the number of cracked defective packages among the 20 evaluation packages. Of the 20 evaluation packages, any defective package with one crack was rejected.
(3)まとめ
表2−1、2−2の結果から、実施例のサンプルでは、いずれも紫外線照射前はきわめて高い粘着強度を有する一方、紫外線照射後にはきわめて低い粘着強度を示しており、チップ飛びの発生がなく、さらには個片化されたチップおよび接着剤層とダイシングテープとの接触面積がエキスパンド前後で、エキスパンド前接触面積(b)>エキスパンド後接触面積(a)となることことから経時6ヶ月後においてもピックアップ性,パッケージ信頼性に優れていた。
これに対し、前記一般式(1)で表される構造の化合物または前記一般式(1)で表される化合物を構成成分として有する重合体を含まないか、配合量の少ない比較例1、2では、紫外線照射後の粘着強度が十分に低下せず、ピックアップ性に劣っていた。また、上記の化合物または重合体を含まない比較例4および5では、紫外線照射後の粘着強度は低下したが、切削屑が接着剤層と絡み合い、剥離の妨げとなり、ピックアップ性が劣るとともに、例えピックアップ可能であったとしても、ダイボンド時に接着剤層に切削屑が付着することでパッケージクラックなどの工程不具合が発生していた。上記化合物の配合量が多すぎる比較例3では、硬化反応により粘着剤が脆くなりすぎ、糊割れや基材フィルムからの剥離等が発生しチップを汚染した結果、パッケージクラックが生じパッケージ信頼性が著しく低下した。
また、前記一般式(1)で表される化合物を構成成分として有する重合体を含まない比較例21では、紫外線照射後の粘着強度が十分に低下せず、ピックアップ性に劣っていた。
以上から、粘着剤層に前記一般式(1)で表される化合物を構成成分として有する重合体を特定量配合したアクリル系粘着剤を用いた半導体加工用テープは、チップ飛びの防止,ピックアップ特性,パッケージ信頼性の観点において、有用であることがわかる。
(3) Summary From the results of Tables 2-1 and 2-2, the samples of the examples all have extremely high adhesive strength before ultraviolet irradiation, and very low adhesive strength after ultraviolet irradiation. There is no occurrence of flying, and further, the contact area between the chip and the adhesive layer and the dicing tape divided into pieces before and after the expansion is such that the contact area before the expansion (b)> the contact area after the expansion (a). Even after 6 months, the pickup and package reliability were excellent.
On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 containing a compound having a structure represented by the general formula (1) or a polymer having the compound represented by the general formula (1) as a constituent component or a small amount Then, the adhesive strength after ultraviolet irradiation was not sufficiently lowered, and the pickup property was inferior. Further, in Comparative Examples 4 and 5 not containing the above-described compound or polymer, the adhesive strength after ultraviolet irradiation was reduced, but the cutting waste was entangled with the adhesive layer, hindering peeling, and the pick-up property was inferior. Even if it could be picked up, process defects such as package cracks occurred due to the attachment of cutting waste to the adhesive layer during die bonding. In Comparative Example 3 in which the compounding amount of the compound is too large, the pressure-sensitive adhesive becomes too brittle due to the curing reaction, and as a result of the occurrence of glue cracking, peeling from the base film, etc., contaminating the chip, package cracking occurs and package reliability is improved. Remarkably reduced.
Moreover, in the comparative example 21 which does not contain the polymer which has a compound represented by the said General formula (1) as a structural component, the adhesive strength after ultraviolet irradiation did not fully fall, but was inferior to pick-up property.
From the above, the tape for semiconductor processing using the acrylic pressure-sensitive adhesive in which a specific amount of the polymer having the compound represented by the general formula (1) as a constituent component is mixed in the pressure-sensitive adhesive layer is used to prevent chip skipping and pickup characteristics. This proves useful in terms of package reliability.
1 半導体ウエハ
2 半導体チップ
10 ダイシング・ダイボンディングテープ
11 ダイシングテープ
12a、12a’ 基材樹脂フィルム
12b、12b’ 粘着剤層
13 接着フィルム
13a 剥離ライナー
13b 接着剤層
20 リングフレーム
21 薄型砥石
22 吸着テーブル
30 突き上げ部材
31 突き上げピン
32 吸着コレット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (13)
該半導体加工用テープは、半導体製造装置を製造するにあたり、半導体ウエハを固定し、ダイシングし、その後、紫外線照射により該粘着剤層の粘着力を低下させ、半導体チップをピックアップする工程に使用されるものであり、
該粘着剤層が、アクリル系粘着剤100質量部に対し、下記一般式(1)で表される構造の化合物または下記一般式(1)で表される化合物(B)を構成成分として有する重合体(X)0.1〜50質量部を含有する放射線硬化性樹脂組成物を用いて構成されていることを特徴とする半導体加工用テープ。
CH2=CR1−COO−R2−O−CH=CHR3 ・・・・・(1)
[一般式(1)において、R1は水素原子又はメチルを表す。R2は炭素数2〜20の有機残基を表す。R3は水素原子又は炭素数1〜11の有機残基を表す。] A semiconductor processing tape having an adhesive layer on a base resin film,
The semiconductor processing tape is used in a process of picking up a semiconductor chip by fixing and dicing a semiconductor wafer and then reducing the adhesive strength of the adhesive layer by irradiating ultraviolet rays when manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus. Is,
The pressure-sensitive adhesive layer has, as a constituent component, a compound having a structure represented by the following general formula (1) or a compound (B) represented by the following general formula (1) with respect to 100 parts by mass of the acrylic pressure-sensitive adhesive. A semiconductor processing tape comprising a radiation curable resin composition containing 0.1 to 50 parts by mass of coalesced (X).
CH 2 = CR 1 -COO-R 2 -O-CH = CHR 3 ····· (1)
[In General Formula (1), R 1 represents a hydrogen atom or methyl. R 2 represents an organic residue having 2 to 20 carbon atoms. R 3 represents a hydrogen atom or an organic residue having 1 to 11 carbon atoms. ]
該半導体加工用テープは、半導体製造装置を製造するにあたり、半導体ウエハを固定し、ダイシングし、その後、紫外線照射により該粘着剤層の粘着力を低下させ、半導体チップをピックアップしてリードフレームや半導体チップに接着するために使用されるものであり、
該半導体加工用テープは基材樹脂フィルム上に粘着剤層及び接着剤層がこの順に設けられ、半導体ウエハをスクライブラインに沿って個片化するダイシング工程後のピックアップ工程において、エキスパンド後の個片化された半導体チップ上の接着剤層と粘着剤層との接触面積(a)が、エキスパンド前の接着剤層と粘着剤層との接触面積(b)より小さいことを特徴とする半導体加工用テープ。 The semiconductor processing tape according to claim 8,
When manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus , the semiconductor processing tape fixes and dices a semiconductor wafer, and then reduces the adhesive strength of the adhesive layer by irradiating with ultraviolet rays, picks up a semiconductor chip, and leads to a lead frame or semiconductor. Used to adhere to the chip ,
In the tape for semiconductor processing, an adhesive layer and an adhesive layer are provided in this order on a base resin film, and in the pick-up process after the dicing process that separates the semiconductor wafer along the scribe line, the individual pieces after expansion For semiconductor processing, wherein the contact area (a) between the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer on the formed semiconductor chip is smaller than the contact area (b) between the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive layer before expansion tape.
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