JP5007224B2 - 加速度計の感度を較正する方法 - Google Patents

加速度計の感度を較正する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5007224B2
JP5007224B2 JP2007516491A JP2007516491A JP5007224B2 JP 5007224 B2 JP5007224 B2 JP 5007224B2 JP 2007516491 A JP2007516491 A JP 2007516491A JP 2007516491 A JP2007516491 A JP 2007516491A JP 5007224 B2 JP5007224 B2 JP 5007224B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
accelerometer
actuator
mass
substrate
finger
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007516491A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008503717A (ja
Inventor
ケビン エイチ.−エル. チャウ,
ハワード アール. サミュエルズ,
Original Assignee
アナログ デバイシス, インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アナログ デバイシス, インコーポレイテッド filed Critical アナログ デバイシス, インコーポレイテッド
Publication of JP2008503717A publication Critical patent/JP2008503717A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5007224B2 publication Critical patent/JP5007224B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

本発明は、容量性の加速度計の感度を較正する方法に関し、特に、マイクロマシンの差動可変キャパシタ型加速度計に関する。
マイクロマシン構造は、センサまたはアクチュエータとして、頻繁に用いられており、特に、マイクロマシンの加速度計は、加速度、傾斜、または、振動を検出および測定するために、多くのアプリケーションに幅広く用いられている。マイクロマシンの加速度計の中でも、差動可変キャパシタ型が典型的に用いられている。
典型的に、差動可変キャパシタベースの加速度計は、マイクロマシンのセンサと、その励起および読み出し用電子装置とを含んでいる。典型的に、マイクロマシンのセンサは、いくつかの主要なマイクロマシンの要素、例えば、移動可能なマス(mass)、支持用バネ、および、移動可能なマスの移動を感知するためのキャパシタプレートを含んでいる。自己診断機能を実施するために、しばしば追加的なアクチュエータプレートが提供される。図1は、従来技術の例示的な差動可変キャパシタ型加速度計センサ300を示している。バネ314,316,318,320によって支持される移動可能なマス302は、2つのプレートの中間に配置され、その結果、第1のキャパシタは、第1のプレートとマスとによって形成され、第2の(そして等価な)キャパシタは、第2のプレートとマスとによって形成される。これらは共に、移動可能なマスの移動を感知するための差動可変キャパシタを形成している。加速度計の容量を最大化するために、マスは、多数のフィンガー(finger)350を含み得、上記フィンガーは、2つのプレート348,352から複数のフィンガーの間に交互配置される。アクチュエータプレート360,362の構成も同様である。これらのプレートは、例えば、アクチュエータプレート360とマス302のフィンガー358との間に印加される電圧を介することにより、静電気力を生成するように用いられる。静電気力は、マス302を歪ませ、自己診断またはその他の診断目的(例えば、移動可能なバネ−マス系の共振周波数の測定)に用いられ得る出力応答を生成する。
マイクロマシンの加速度計の感度は、バネ定数、特定の要素のマス(例えば、プルーフマス)、感応性または寄生性のキャパシタ、および、電子的なゲインを含む、様々な因子によって決定され得る。要求される寸法が小さい(マイクロメータ単位である)結果、マイクロマシンの加速度計の感度は、加速度計内のマイクロマシン構造の寸法を変化させる製造の変動に起因して、顕著に変動し得る。これらの中でも、バネ定数と感応性の容量とが、最も大きな変動を見る。したがって、典型的には、製造後の較正が、いくつか必要とされる。効果的な較正は、正確な感度の決定の後、必要に応じて、EPROMプログラミング、レーザトリミング、または、回路要素の電気的融合といった形態の電子的なゲイン調整を要求することにより、標的に感度をもたらす。
一般に、これら加速度計の感度は、ウェハまたは製造段階のパッケージデバイスのいずれか一方において加速度計を振盪(shake)するデバイスを用いて測定される。代替的に、加速度計の方向は、例えば回転子を用いることにより、重力場に関して変化し得、その後、出力応答は、重力に対して較正され得る。機械的な正確な励起を含む診断は、特にある温度以上で実行することが要求される場合に、非常にコストがかかる。このことは、マイクロマシンの加速度計を安価で標準的なIC診断の実現から遠ざける主な障壁である。これらのデバイスを機械的に操作する(例えば、振盪させる)装置を要求せずにこれら加速度計の感度を正確に測定する方法は、製造コストを顕著に低減し得る。
(要約)
本発明の一実施形態において、ある温度以上でマイクロマシンの差動可変型の加速度計の感度を較正するための方法が提供される。提供される加速度計は、基板と、支持用バネによって基板上に懸垂される移動可能なマスとを含む。移動可能なマスは、移動可能な電極を含む。第1および第2の固定された電極は、基板上に懸垂され、基板に対して移動不可能である。移動可能な電極および第1および第2の固定された電極は、差動可変キャパシタを形成する。励起および信号調整回路は、移動可能なマスの移動に比例する増幅信号を生成するために提供される。アクチュエータは、作動されたときに、電気的な手段によって、マスを移動させるために提供される。寸法の関係は、アクチュエータの電極の間隔とバネの幅との間に確立され、その結果、アクチュエータとバネとの動作特性が結びつけられる。方法は、移動可能なバネ−マス系の共振周波数を測定することと、マスをアクチュエータを用いて移動させることと、増幅信号の変化を測定することと、加速度計の感度を計算することとを含む。本発明の特定の実施形態において、加速度計の感度を計算することは、移動可能なマスをアクチュエータを用いて移動させることに相当する加速度を計算することを含む。本発明の特定の実施形態において、電子的なゲインは、その後、EPROMプログラミング、レーザトリミング、回路要素の電気的な融合、または、類似した方法によって調整され、標的値の感度をもたらす。
本発明の別の実施形態において、自己較正式の加速度計が提供され、上記加速度計は、本発明の上記の実施形態の方法を実行するロジックまたは電子装置を含む。
本発明の上述の特徴は、以下の詳細な記述を添付の図面を参酌しながら参照することにより、より容易に理解され得る。
(特定の実施形態の詳細な記述)
本発明の特定の実施形態において、マイクロマシンの差動可変キャパシタ型加速度計の感度は、外部の機械的な励起(例えば、振盪させること)なしに、決定され得る。そのために、加速度計の移動可能なバネ−マス系の共振周波数が、測定される。移動可能なマスが静電気力によって移動させされる際の加速度計の出力電圧もまた、測定される。その後、デバイスの感度が計算される。これらの実施形態において、外部の機械的な励起なしに、デバイスのコンポーネントの間の寸法の関係を利用することにより、感度が決定される。これらの関係は、加速度計に形成される寸法制御構造により、または、コンポーネントを一様な間隔で間隔付けることにより、提供され得る。本明細書においてその全体を参照するために援用される米国特許第5,880,369号および6,282,960号は、加速度計におけるそのような寸法制御構造を含む方法を開示している。
オープンループ式の加速度計は、典型的に、入力の加速度に応答して移動するバネ−マス系と、移動可能なマスの動きを電気的な出力に変換する移動センサとを備える。典型的な加速度計はまた、加速度計のフィンガーをも備え、上記フィンガーは、静電気力を生成して、移動可能なマスを外部の電気的な入力の上に移動させる。典型的に、そのような加速度計は、加速度計に対する自己診断特徴を提供するために採用される。
図1は、本発明の実施形態に用いられる従来のマイクロマシンのセンサ300を示している。移動可能なマス302は、下地基板301内に配置されたブートストラップの拡散層(図示されず)の上に懸垂されたポリシリコン構造である。マス302は、約467マイクロメータの長さであり、約57マイクロメータの幅である。(本明細書において提供される寸法は、単に例示のためのものであり、決して限定のためのものではない。)ブートストラップの拡散層は、n+にドープされた基板内のエミッタ拡散領域から形成される。マス302は、基板301の表面とほぼ平行である。
マス302は、折り畳まれたバネ314,316および318,320をそれぞれ介して、アンカー304および306に接続されている。バネ314〜320は、ポリシリコンから形成されている。アンカー304,306は、「T」字型をしており、垂直部分322は、約28.7マイクロメータの長さと、約9.7マイクロメータの幅とをそれぞれ有しており、水平に交差する部分324は、約21.7マイクロメータの長さと約4.7マイクロメータの幅とをそれぞれ有している。アンカー304および306は、小さな長方形領域を介して、ブートストラップの拡散層の外側の基板上の「T」の下部に搭載されている(Tの残りは、基板301上に懸垂されている)。
バネ314〜320は、レッグ308,310および312から構成され、それらのすべては、幅が約2.2マイクロメータである。長いレッグ308および310は、互いに平行であり、短いレッグ312により、一方の(すなわち、「外側」の)端部に接続されている。長いレッグ308および310の他方の(すなわち、「内側」の)端部は、それぞれ、アンカー(例えば、304または306)およびマス302に接続されている。長いレッグ308および310は、フレキシブルであり、内側の長いセグメント308および310が互いに近づいたり離れたりする際に、X軸(アンカー304および306を通過する)に沿った力に応答して、マス302がX軸に沿って動くことを可能にする。長いセグメント308および310は、それぞれ約116.7マイクロメータおよび約98.2マイクロメータの長さであり、約1.3マイクロメータの間隔によって隔てられている。代替的に、バネに対し、その他の形状も用いられ得る。
図1に示されているように、第1の寸法制御構造(すなわち、寸法制御フィンガー)は、各バネ314〜320の左および右に配置される。特に、内側の寸法制御フィンガー332,336(マス302に接続されている)は、それぞれバネ314,316の左に配置されている。さらに、第2の寸法制御フィンガー334,338(アンカー304に接続されている)の組は、それぞれバネ314,316の右に配置されている。同じ関係は、バネ318および320に対しても存在し、そこでは、左に配置された外側の寸法制御フィンガー(すなわち、それぞれ342および326)は、アンカー306に接続されており、その一方、右に配置された内側の寸法制御フィンガー(すなわち、それぞれ340および344)は、マス302に接続されている。
各寸法制御フィンガーと関連するバネとの間の距離は、約1.3マイクロメータであり、各寸法制御フィンガーの幅は、約3.7マイクロメータである。フィンガー332,336,340および344の長さは、約94.5マイクロメータであり、フィンガー344,338,342および346の長さは、約118マイクロメータである。
平行なポリシリコンの感知フィンガー350は、マス302の側(side)からY軸に沿って延伸している。センサ300において、感知フィンガー350は、実質的に同様なものであり(すなわち、実質的に同じ形状と寸法である)、各々は、約3.4マイクロメータの幅であり、約109マイクロメータの長さである。図1に示されているように、マス302の側には、21個の感知フィンガーが存在する。
左に固定されたフィンガー348、および、右に固定されたフィンガー352は、各感知フィンガー350の左および右(X軸に沿って)にそれぞれ存在しており、マス302には接続されていない。これら固定されたフィンガーは、ポリシリコンから形成され、基板301に固着されている。マス302の各側における内側の固定されたフィンガーの組、および、外側の固定されたフィンガーの組は、それぞれ約124マイクロメータおよび144マイクロメータの長さである。各フィンガー348,352は、約3.4マイクロメータの幅であり、各々は隣接する感知フィンガー350から、約1.3マイクロメータの間隔だけ隔てられている。隣接する左および右に固定されたフィンガー348および352もまた、約1.3マイクロメータだけ隔てられているが、この寸法は、フィンガー350のいずれの側の寸法ほどには臨界的(critical)ではない。フィンガー348と352との間の距離は、寸法の制御によって制限されるよりももしろ、電気的なパラメータによって制御される。すなわち、この距離は、フィンガー350〜348および350〜352の間の間隔の内側に存在する電場に影響を与えるほどには決して大きくはならない。
マス302の各側の左に固定されたフィンガー348のすべては、n+に十分にドープされたポリシリコン領域を介することにより、互いに接続されており、右に固定されたフィンガー352(領域は示されていない)のすべてもまた、同様である。マス302の各側における内側の固定されたフィンガーの組への電気的な接続は、ポリシリコンのブリッジ326および328を用いて形成される。同様に、マス302の各側における外側の固定されたフィンガーの組への電気的な接続は、ポリシリコンのブリッジ329および330を用いて形成される。
図1を参照すると、感知フィンガー350(移動可能なマス302との単一の電気的なノードを形成している)は、差動可変キャパシタの中央の電極を共同で(collectively)形成する。左に固定されたフィンガー348は、差動可変キャパシタの左の電極を形成し、右に固定されたフィンガー352は、差動可変キャパシタの右の電極を形成する。左のキャパシタおよび右のキャパシタは、好ましくは、同じ容量を有する。1個の感知フィンガー350と、それに隣接する左に固定されたフィンガー348と、右に固定されたフィンガー352との各組は、差動可変キャパシタの「セル(cell)」を1個形成し、すべてのセルは、実質的に同様であり、並列に接続される。
マス302が、(X軸に沿って加えられた力に応答して)固定されたフィンガー348および352に対して右に移動するとき、同じセルの各感知フィンガー350と右に固定されたフィンガー352との間の距離は減少し、これにより、右のキャパシタの容量が増大する。同時に、各感知フィンガー350と左に固定されたフィンガー348との間の距離が増大すると、左のキャパシタの容量が減少する。
マス302は、n+に十分にドープされたポリシリコン領域を介することにより、アンカー304から延伸している分解回路(resolving circuity)に接続される。分解回路および加速度センサの動作の議論に関する例は、米国特許第5,345,824号に提供されており、上記特許は、参照のため本明細書に援用される。
マス302の各側における最も左の、左に固定されたフィンガー348の左には、右のダミーフィンガー354が存在する。同様に、マス302の各側における最も右の、右に固定されたフィンガー352の右には、左のダミーフィンガー356が存在する。これらダミーフィンガーは、それらに対応する固定されたフィンガーに接続されている(すなわち、右のダミーフィンガー354は、右に固定されたフィンガー352に接続され、左のダミーフィンガー356は、左に固定されたフィンガー348に接続されている)。このことは、差動可変キャパシタの端部のセルが中央のセルと同様に振舞うことを保証している。さらに具体的には、ダミーフィンガー354および356は、最も左の、左に固定されたフィンガー348と、最も右の、右に固定されたフィンガー352とにそれぞれ存在する電場が、「中央」の左および右に固定されたフィンガー348,352に見出される電場と同じになることを保証するように、取り付けられる(例えば、マイクロブリッジ326または328および330の間に)。
(1)右のダミーフィンガー354と最も左に固定されたフィンガー348との間の距離、(2)左のダミーフィンガー356と最も右に固定されたフィンガー352との間の距離は、同じ制限を被る。特に、これらの距離は、フィンガー350〜348および350〜352の間の間隔の内側に存在する電場に影響を与えるほどには決して大きくならない。
マス302の両端には、6個(全部で12個)のポリシリコンの自己診断フィンガー358が存在する。これらフィンガーは、約3.7マイクロメータの幅であり、約109マイクロメータの長さである。自己診断フィンガー358は、感知ノード350、および、マス302のボディと同じ電気的ノードの一部である。左および右のポリシリコンのアクチュエータフィンガー360および362は、各自己診断フィンガー358の側にそれぞれ存在しており、マス302には接続されていない。マス302になんらの力も加えられないとき、自己診断フィンガー358は、アクチュエータフィンガー360および362の中間に存在し、結果として、フィンガー358と、隣接するアクチュエータフィンガー360,362との間の距離は、約1.3マイクロメータとなる。
内側のアクチュエータフィンガー360,362の組は、約124マイクロメータの長さである。加えて、外側のアクチュエータフィンガー360,362の組は、約144マイクロメータの長さである。両フィンガーは、約3.7マイクロメータの幅であり、基板に固着されている。アクチュエータフィンガー360は、n+に十分にドープされたポリシリコン領域(図示されず)を介することにより、互いに接続され、ポリシリコンのマイクロブリッジ360’および360’’を介することにより、電気的に接続されている。同様に、アクチュエータフィンガー362は、n+に十分にドープされたポリシリコン領域(図示されず)を介することにより、互いに接続され、ポリシリコンのマイクロブリッジ362’および362’’を介することにより、電気的に接続されている。
アクチュエータフィンガー360,362は、自己診断フィンガー358への静電気力を生成し、自己診断またはその他の診断目的(例えば、移動可能なバネ−マス系の共振周波数の測定)のために、移動可能なマス302を歪ませるように用いられる。特に、静電電圧は、アクチュエータフィンガー360と自己診断フィンガー358との間に印加され、このようにして生成された静電引力は、マス302をアクチュエータフィンガー360に向かって歪ませる。同様に、アクチュエータフィンガー362と自己診断フィンガー358との間に印加される静電電圧は、マス302をアクチュエータフィンガー362に向かって歪ませる。いずれの場合においても、静電気的な出力応答は、あたかもマス302が入力の加速度によって歪まされたかのように、読み出し電子装置により、生成される。出力応答の符号(sign)および大きさは、センサが適切に動作していることを示す役目を担い得る。代替的に、例えば矩形波または正弦波形の電圧のような、代替的な電圧は、アクチュエータフィンガー(例えば、360)に印加され得、代替的な電圧の周波数は、バネ−マスの共振周波数の隣にスウィープされ得る。移動可能なマスの歪み、および、したがって、出力応答は、共振周波数でピークに達し得る。したがって、このピーク応答を検出することは、バネ−マス系の共振周波数を正確に決定し得る方法を提供する。
キャパシタ348〜362およびバネ314〜320は、「動作」構造である。すなわち、これらは、(例えば、電気的または機械的な)動作機能を提供し、一定の間隔を介することにより、寸法の制御をも提供し得る。対照的に、フィンガー332〜346は、寸法の制御構造である。すなわち、これらの唯一の目的は、デバイス内の選択された位置に(例えば、電気的な動作構造、機械的な動作構造、等の隣)に一定の間隔を生成することを介することにより、寸法の制御を提供することである。センサ300は、特定の臨界的な間隔、すなわち、アクチュエータと自己診断フィンガーとの間(すなわち、フィンガー358〜360および358〜362)の間隔の寸法、ならびに、隣接し合うバネのレッグ308および310の間の間隔の寸法が、所定の距離に一様に維持されるように構成され得る。このことは、現存する動作構造(例えば、フィンガー358〜362およびバネのレッグ308,310)が、互いの間で一様な間隔を維持するように構成されることを保証すること(例えば、レッグ308および310の間の距離をフィンガー358〜360および358〜362の間の距離とほとんど同じ距離にまで縮小することによる)によって、ならびに、これらの同じ一様な距離をセンサ内の選択された位置に確立する特定の寸法制御構造(例えば、フィンガー332〜346)を追加することによって、達成される。
センサ300内の寸法制御構造は、構造(すなわち、内側および外側のフィンガー332〜346)を用いることにより、従来のその他の構造とは異なる間隔に関する環境(すなわち、隣接するレッグ308,310の間隔)を形成する。これらの構造は、機能的および物理的に異なるマイクロマシン構造(すなわち、フィンガーおよびバネ)の間の寸法の関係(すなわち、一様な間隔)を確立する。上述のように、アクチュエータと自己診断フィンガー358〜362との間の一様な間隔、ならびに、折り畳まれたバネのレッグ308,310の間の一様な間隔は、両方とも約1.3マイクロメータである。この一様な間隔の寸法は、設計者によって選択された所定の距離を表しており、約1.0マイクロメータのマスク間隔から形成される。
図1を参照すると、すべての自己診断フィンガー358は、左のアクチュエータフィンガー360と右のアクチュエータフィンガー362とにより、長手方向に隣接されている。したがって、各自己診断フィンガー358は、約1.3マイクロメータの一様な空間または間隔により、長手方向に隣接されている。したがって、すべてのバネのレッグ308および310は、互いに隣接して配置され、約1.3マイクロメータの同じ一様な距離を維持している。これらレッグは、内側の寸法制御フィンガー(すなわち、332,336,340または344)と外側の寸法制御フィンガー(すなわち、334,338,342または346)により、長手方向に隣接されている。したがって、各バネのレッグ308または310は、約1.3マイクロメータの一様な空間または間隔により、長手方向に隣接されている。
センサ300内に一様に維持された間隔は、このデバイス内に配置された構造の間の有利な寸法の関係を表している。この関係は、機能的および/または物理的に異なるマイクロマシン構造の間の寸法の変動を相関させることを容易にする。物理的に異なる構造は、異なる寸法および/または形状を有する構造である(例えば、フィンガー358とバネ314〜320)。同様に、この関係は、機能的および/または物理的に同様なマイクロマシン構造の間の寸法の変動を相関させることを容易にする。物理的に同様な構造は、実質的に同様な寸法と形状とを有する構造である(例えば、複数のフィンガー358)。
複数のアクチュエータの間、複数の自己診断フィンガーの間、および、アクチュエータと自己診断フィンガーとの間に一様な間隔を維持することにより(例えば、折り畳まれたバネのレッグの間の一様な間隔を維持することにより)、両構造に適用される製造工程(例えば、エッチングまたはフォトリソグラフィ)、および、そのような工程の変動(例えば、エッチングの間の変動)は、これら構造の物理的な寸法(例えば、バネの幅およびフィンガーの幅)に、非常に高い相関で影響を与える。
図1におけるマイクロマシンのセンサ300によって示される寸法制御特徴は、適用可能な構成の一例を表したものに過ぎない。これら特徴はまた、例えば、一連の折り畳み状のバネ(米国特許出願5,880,369号および6,282,960号における図4を参照されたい)のような、1つ以上の複雑な形で構成され得る。この場合では、移動可能なマスは、一方向に動くように拘束されず、センサは、複数の軸方向の加速を感知することが可能な加速度計として構成され得る。
本発明の一実施形態において、外部の電気的な命令のもと、静電気力が、アクチュエータのフィンガーにより、移動可能なマスの上に生成される。この力Fの表示は、
Figure 0005007224
である。ここに、εは、移動可能なマスとアクチュエータフィンガーとを取り囲むガスの誘電率であり、Kは容量フリンジング因子(fringing factor)、hはアクチュエータフィンガーの厚さ、Lはアクチュエータフィンガーの長さ、dはアクチュエータフィンガーの間隔、Vは間隔にわたって印加される作動電圧である。
この力は、外部の加速度によって生成される力aに等しく、移動可能なマスmに関しては、
Figure 0005007224
によって与えられる。
マスは、さらに、
Figure 0005007224
のように表される。ここに、ρは密度であり、hは厚さ、Aは移動可能なマスの領域である。ここに、移動可能なマスの厚さ、および、アクチュエータフィンガーの厚さは、設計により、一致する。このことは、等式1および3を等式2に代入することによって得られる等価な加速度に対する表示
Figure 0005007224
が、厚さの変動に無関係であるために、望ましい。
等価な加速度は、上記加速度を感度の較正に用いるのに適切な2つの望ましい性質を有する。まず第1に、上記加速度は、作動電圧Vにしたがう正確な平方的関係(squared relationship)を有し、上記関係は、特定の加速度計に対して適切な加速度レベルを生成するように調整され得る。実際、Vは、正確に制御され得る外部の供給電圧の定数関数、例えば、50%に設計され得る。第2に、等価な加速度aは、実質的に温度にしたがって変化しない。これは、等価な加速度に対する表示において、寸法に関係する項の熱膨張の温度係数、すなわち、L,A,dおよびρが、互いにキャンセルし合うためである。上記表示における残りの項は、無視し得る温度の変動を有する。結果として、等価な加速度aは、例えば100℃の温度範囲にわたって1%未満の変化をし得るので、幅広い温度範囲にわたる加速度計の感度の較正に適合し得ることがわかる。
しかしながら、等価な加速度aは、製造工程の変動に非常に敏感であるという顕著な欠点を被る。マイクロマシン加工の性質により、典型的には1.3マイクロメータのサイズであるアクチュエータの間隔dは、部分ごとに±0.2マイクロメータ程度変動し得る。等式4におけるdの関係の結果として、等価な加速度における製造の変動は、±30%程度であり得る。同じ±0.2マイクロメータの変動はまた、その他の2次元パラメータLおよびAにおいても発生する。しかしながら、これらの変動は数百マイクロメータのサイズであるため、LおよびAは、等価な加速度aにおける製造の変動の影響が無視し得る場合、定数として考えられ得る。等価な加速度a(主にアクチュエータフィンガーの間隔dにおける変動を介する)における極めて大きな製造の変動の結果として、アクチュエータの主な使用は、自己診断機能に制限され得る。このことは、加速度計が動作可能であることを示す役割のみを担い得、感度の正確な較正には全く不十分である。
加速度計の設計において、少なくともアクチュエータとバネとに対して、寸法制御構造を含めることにより、アクチュエータフィンガーの間隔と移動可能なマスのバネのサスペンションの幅との間で寸法の関係が設定され得る。このことは、加速度計のレイアウトにおいて、既知の関係によってバネの全長に平行するアクチュエータフィンガーに一様な間隔をもたらすことにより、達成される。アクチュエータフィンガーの間隔に関する製造の変動は、バネのサスペンションの幅に関する反対の変動(しかし、強く相関する)を伴い得る。図1は、そのような寸法制御構造を有する例示的な加速度計を示している。
移動可能なバネ−マスの共振周波数fは、第一義的にはバネのサスペンションの幅の関数である。寸法制御構造の結果、アクチュエータフィンガーの間隔dおよび共振周波数は、製造の変動の存在下で互いに相関し得る。結果として、アクチュエータフィンガーの間隔d、および、第一義にはdの関数である容量フリンジング因子Kは、共振周波数の関数となる。等式4におけるその他の項に関して、ρおよびεは、加速度計の製造工程の材料定数であり、顕著には変動しない。LおよびAは、それらは比較的大きいために、上記で記述されたような加速度計の製造工程の定数として考えられ得る。結果として、等式4は、さらに
Figure 0005007224
に還元され得る。ここで、等式4における定数、および、共振周波数に依存する項は、関数G(f)に組み込まれている。G(f)の完全な形は、加速度センサの構造の有限個の要素の解析によって、または、経験的な手段によって決定され得る。例えば、ある特定の設計において、
Figure 0005007224
である。ここに、G(f)およびfの単位は、それぞれgV−2およびHzであり、gは重力加速度であり、これは9.81ms−2に等しい。この方法により、等価な加速度aは、当初の製造の変動に起因する部分ごとの±30%の変動とはうってかわり、±5%以上の精度で決定され得る。このことは、ほとんどのアプリケーションに対する感度の較正に適している。また、任意の所定の部分に対し、等価な加速度は、上記で記述されたような幅広い温度範囲にわたっても実質的に変化しない。
本明細書に添付された請求の範囲において用いられているように、文脈上特に断りがない限り、「加速度のゲイン(acceleration gain)」という用語は、等式5において用いられている関数G(f)またはその等価物を意味し得る。
加速度計(210)の感度の較正(200)の方法に関する流れ図は、図2に示されている。一旦、共振周波数が、上記で記述されたような外部の電気的な手段によって測定されると(220)、作動に起因する等価な加速度は、等式5および等式6から決定され得る。その後、この加速度に起因する加速度計の出力の変化ΔVが測定される(230,240)。最後に、加速度計の感度が
Figure 0005007224
のように計算される(250,260)。
加速度計の感度を決定するには、2つの測定のみがなされる必要があることに注意されたい。感度は、以下ように、共振周波数fと加速度の出力の変化ΔVとの汎関数F(f,ΔV)として表示され得る。
Figure 0005007224
ここに、F(f,ΔV)の完全な形は、加速度センサの構造の有限個の要素の解析によって、または、経験的な手段(測定された感度と測定された共振周波数と測定された作動出力とにフィットする曲線)によって決定され得る。このようにして、本発明の別の実施形態において、加速度計の感度は、上述のような加速度のゲインと等価な加速度との中間的な評価を用いずに決定され得る。
一旦、加速度計の感度が決定されると、読み出し用電子装置の電子的なゲインは、必要に応じてEPROMプログラミング、レーザトリミング、または、回路要素の電気的な融合の形態で調整され、標的に加速度計の感度をもたらし得る。このようにして、加速度計の感度は、振盪器(shaker)、回転子、または、その他任意の励起手段を用いることなしに、外部の電気的な励起によって、較正され得る。さらに、この較正は、幅広い温度にわたって実行され得る。
感度が較正された後、必要に応じて感度を任意にシフトさせたり再度較正するように作動させるために、加速度計の出力の変化ΔVをモニタすることが望ましい。
本発明の他の実施形態において、自己較正式の加速度計が提供される。上述のような加速度計は、上述のような方法のうちの1つを実行するためのロジックと電子装置とを含み、これらステップを容易にする寸法制御構造を含む。加速度計は、モノリシックに製造され得、あるいは、自己較正式のロジックおよび電子装置は、加速度を測定するデバイスとは異なるデバイスに実装され得る。そのような配置のすべては、添付の請求の範囲に記述されているような本発明の範囲内に存在するように意図されている。
本明細書で用いられている流れ図は、本発明の様々な局面を示しており、本発明を任意の特定のロジックの流れまたはロジックの実施に制限するものとして考えられるべきではないことに注意されたい。記述されたロジックは、全体的な結果を変化させることなしに、または、本発明の範囲から逸れることなしに、異なるロジックブロック(例えば、プログラム、モジュール、機能、またはサブルーチン)に分割され得る。しばしば、ロジック要素は、追加され、改変され、省略され、異なる順序で実行され、または、本発明の全体的な結果を変化させることなしに、または、本発明の正しい範囲から逸れることなしに、異なるロジック構成(例えば、ロジックゲート、ルーピングプリミティブ、条件付きロジック、および、その他のロジック構成)を用いて実施され得る。
本発明は、プロセッサと共に用いるコンピュータプログラムロジック(例えば、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、デジタル信号プロセッサ、または、汎用コンピュータ)、プログラム可能なロジックデバイスと共に用いるプログラム可能なロジック
(例えば、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)またはその他のPLD)、離散型コンポーネント、集積回路(例えば、特定用途向け集積回路(ASIC))、または、これらの任意の組み合わせを含むその他任意の手段を含む異なる多くの形態で実施され得るが、それらには限定されない。
本明細書において既に記述された機能のすべてまたは一部を実施するコンピュータプログラムロジックは、ソースコード形式、コンピュータ実行可能形式、および、その他の中間的な形式(例えば、アセンブラ、コンパイラ、リンカ、または、ローケータ)を含む様々な形態で実施され得るが、それらには限定されない。ソースコードは、様々なオペレーティングシステムまたはオペレーティング環境と共に用いる様々なプログラミング言語(例えば、オブジェクトコード、アセンブリ言語、または、例えばFortran,C,C++,JAVA(登録商標)またはHTMLのような高レベル言語)のうち任意のプログラム言語で実施される一連のコンピュータプログラム命令を含み得る。ソースコードは、様々なデータ構造と通信メッセージとを定義し、使用し得る。ソースコードは、コンピュータ実行可能形式(例えば、インタープリタを介したもの)であり得、あるいは、ソースコードは、コンピュータ実行可能形式に(例えば、トランスレータ、アセンブラ、または、コンパイラを介して)変換され得る。
コンピュータプログラムは、任意の形態(例えば、ソースコード形式、コンピュータ実行可能形式、または、中間的な形式)で実体的な格納媒体に永続的または一時的に固定され得る。上記格納媒体は、例えば、半導体メモリデバイス(例えば、RAM,ROM,PROM,EEPROM、または、フラッシュプログラマブルRAM)、磁気メモリデバイス(例えば、ディスクまたは固定ディスク)、光学メモリデバイス(例えば、CD−ROM)、PCカード(例えば、PCMCIAカード)、または、その他のメモリデバイスであり得る。コンピュータプログラムは、任意の様々な通信技術を用いることにより、コンピュータに伝送することが可能な任意の形態の信号に固定され得る。上記通信技術は、アナログ技術、デジタル技術、光学技術、無線技術、ネットワーク技術、および、インターネット技術を含むが、それらには限定されない。コンピュータプログラムは、移動可能な格納媒体として任意の形態で配信され得る。上記移動可能な格納媒体は、印刷文書または電子文書(例えば、収縮包装されたソフトウェアまたは磁気テープ)を伴い、コンピュータシステムを用いて(例えば、システムROMまたは固定されたディスクの上に)プレロードされたり、あるいは、通信システム(例えば、インターネットまたはWorld Wide Web)を介することにより、サーバまたは電子掲示板から配信され得る。
本明細書において既に記述された機能のすべてまたは一部を実施するハードウェアロジック(プログラム可能なロジックデバイスと共に用いるプログラム可能ロジックを含む)は、伝統的な手動方法を用いて設計され得るか、あるいは、例えば、コンピュータ支援設計(CAD)、ハードウェア記述言語(例えば、VHDLまたはAHDL)、または、PLDプログラミング言語(例えば、PALASM,ABELまたはCUPL)のような様々なツールを用いることにより、電子的に設計、キャプチャ、シュミレート、または、文書化され得る。
上記で記述された実施形態のその他のバリエーションおよび改変は、添付の請求の範囲で定義されるような本発明の範囲内に存在することが意図される。
図1は、従来の加速度計の図である。 図2は、本発明の実施形態にしたがって加速度計を較正する方法の流れ図である。

Claims (13)

  1. 加速度計を較正する方法であって、
    a.加速度計を提供することであって、該加速度計は、
    i.基板と、
    ii.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動可能なマスであって、該マスは、移動可能な電極を有している、マスと、
    iii.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動不可能な第1の固定された電極と、
    iv.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動不可能な第2の固定された電極であって、移動可能な電極および該第1および第2の固定された電極は、差動キャパシタを形成している、第2の固定された電極と、
    v.該移動可能な電極および該固定された電極に接続され、増幅信号を提供する、励起および読み出し回路と、
    vi.アクチュエータであって、該アクチュエータは、アクチュエータフィンガーと自己診断フィンガーとを有し、該アクチュエータフィンガーと該自己診断フィンガーとは、アクチュエータフィンガー間隔によって隔てられており、該アクチュエータは、該基板上に懸垂されており、該アクチュエータは、作動されたときに、電気的な手段によって、該マスを移動させる、アクチュエータと、
    vii.該基板上に懸垂され、該マスに接続されたバネであって、該バネは、幅を有し、該バネおよび該アクチュエータは、該アクチュエータと該バネとの間で寸法の関係が確立されるように配置されている、バネと
    を含む、ことと、
    b.該マスの共振周波数を測定することと、
    c.該マスを該アクチュエータを用いて移動させることと、
    d.該増幅信号の変化を測定することと、
    e.該加速度計の感度を計算することと
    を含み、
    該加速度計の感度を計算することは、等価な加速度を計算することを含み、
    等価な加速度を計算することは、該共振周波数の関数を計算することを含み、
    等価な加速度は、印加される作動電圧の2乗によって乗算された該共振周波数の関数に等しく、
    該加速度計の感度は、該増幅信号および該等価な加速度の関数であり、
    該アクチュエータと該バネとの間での寸法の関係は、該アクチュエータフィンガー間隔の製造の変動が該バネの幅の反対の製造の変動に相関されるように構成されており、
    該等価な加速度は、該製造の変動を測定することなく、該製造の変動に起因する部品ごとの当初の±30%の変動にかかわらず、±5%以上の精度で決定されることが可能である、方法。
  2. 前記加速度計の感度を計算することは、
    前記増幅信号の変化を前記等価な加速度によって割ることにより、該感度を計算すること
    をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記加速度計は、機械的な励起を用いずに較正される、請求項1に記載の方法。
  4. 前記共振周波数の関数は、有限要素解析によって決定される、請求項1に記載の方法。
  5. 前記共振周波数の関数は、経験的に決定される、請求項1に記載の方法。
  6. 前記共振周波数の関数は、前記マスの共振周波数の2次関数である、請求項1に記載の方法。
  7. 自己較正式の加速度計であって、
    a.基板と、
    b.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動可能なマスであって、該マスは、移動可能な電極を含んでいる、マスと、
    c.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動不可能な第1の固定された電極と、
    d.該基板上に懸垂され、該基板に対して移動不可能な第2の固定された電極であって、移動可能な電極および該第1および第2の固定された電極は、差動キャパシタを形成している、第2の固定された電極と、
    e.該移動可能な電極および該固定された電極に接続され、増幅信号を提供する、励起および読み出し回路と、
    f.アクチュエータであって、該アクチュエータは、アクチュエータフィンガーと自己診断フィンガーとを有し、該アクチュエータフィンガーと該自己診断フィンガーとは、アクチュエータフィンガー間隔によって隔てられており、該アクチュエータは、該基板上に懸垂されており、該アクチュエータは、作動されたときに、電気的な手段によって、該マスを移動させる、アクチュエータと、
    g.該基板上に懸垂され、該マスに接続されたバネであって、該バネは、幅を有し、該バネおよびアクチュエータは、該アクチュエータと該バネとの間で寸法の関係が確立されるように配置されている、バネと
    h.ロジックであって、
    i.該マスの共振周波数を測定し、
    ii.該マスを該アクチュエータを用いて移動させ、
    iii.該増幅信号の変化を測定し、
    iv.該加速度計の感度を計算する
    ロジックと
    を含み、
    該加速度計の感度を計算することは、等価な加速度を計算することを含み、
    等価な加速度を計算することは、該共振周波数の関数を計算することを含み、
    等価な加速度は、印加される作動電圧の2乗によって乗算された該共振周波数の関数に等しく、
    該加速度計の感度は、該増幅信号および該等価な加速度の関数であり、
    該アクチュエータと該バネとの間での寸法の関係は、該アクチュエータフィンガー間隔の製造の変動が該バネの幅の反対の製造の変動に相関されるように構成されており、
    該等価な加速度は、該製造の変動を測定することなく、該製造の変動に起因する部品ごとの当初の±30%の変動にかかわらず、±5%以上の精度で決定されることが可能である、自己較正式の加速度計。
  8. 前記加速度計の感度を計算することは、
    前記増幅信号の変化を前記等価な加速度によって割ることにより、該感度を計算すること
    をさらに含む、請求項7に記載の加速度計。
  9. 前記加速度計は、モノリシックデバイスとして製造される、請求項7に記載の加速度計。
  10. 前記ロジックの少なくとも一部分は、前記差動キャパシタとは別個のデバイス内に実装されている、請求項8に記載の加速度計。
  11. 前記共振周波数の関数は、有限要素解析によって決定される、請求項7に記載の加速度計。
  12. 前記共振周波数の関数は、経験的に決定される、請求項7に記載の加速度計。
  13. 前記共振周波数の関数は、前記マスの共振周波数の2次関数である、請求項7に記載の加速度計。
JP2007516491A 2004-07-08 2005-05-05 加速度計の感度を較正する方法 Expired - Fee Related JP5007224B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/887,290 US7093478B2 (en) 2004-07-08 2004-07-08 Method for calibrating accelerometer sensitivity
US10/887,290 2004-07-08
PCT/US2005/015626 WO2006016922A1 (en) 2004-07-08 2005-05-05 Method for calibrating accelerometer sensitivity

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008503717A JP2008503717A (ja) 2008-02-07
JP5007224B2 true JP5007224B2 (ja) 2012-08-22

Family

ID=34967799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007516491A Expired - Fee Related JP5007224B2 (ja) 2004-07-08 2005-05-05 加速度計の感度を較正する方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7093478B2 (ja)
EP (1) EP1763675B1 (ja)
JP (1) JP5007224B2 (ja)
TW (1) TWI290227B (ja)
WO (1) WO2006016922A1 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0423780D0 (en) * 2004-10-26 2004-12-01 Trade & Industry Sec Dep For Lateral calibration device
US20090090183A1 (en) * 2007-10-05 2009-04-09 Imu Methods for compensating parameters of operating accelerometer for temperature variations
US7792395B2 (en) * 2008-02-05 2010-09-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Fiber optic acceleration and displacement sensors
US20090241634A1 (en) * 2008-03-28 2009-10-01 Cenk Acar Micromachined accelerometer and method with continuous self-testing
US8646308B2 (en) * 2009-04-03 2014-02-11 Analog Devices, Inc. Robust self testing of a motion sensor system
US8195013B2 (en) * 2009-08-19 2012-06-05 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy Miniature fiber optic temperature sensors
DE102009046807B4 (de) * 2009-11-18 2023-01-05 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Empfindlichkeitsbestimmung eines Beschleunigungs- oder Magnetfeldsensors
DE102009047018B4 (de) * 2009-11-23 2023-02-09 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Abgleich eines Beschleunigungssensors und Beschleunigungssensor
TWI525411B (zh) * 2010-04-21 2016-03-11 三角設計公司 加速一裝置之系統及方法
WO2012153105A1 (en) * 2011-05-10 2012-11-15 Bae Systems Plc Calibrating rotational accelerometers
WO2013002809A1 (en) * 2011-06-30 2013-01-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Calibration of mems sensor
US9027403B2 (en) * 2012-04-04 2015-05-12 Analog Devices, Inc. Wide G range accelerometer
US9228916B2 (en) * 2012-04-13 2016-01-05 The Regents Of The University Of California Self calibrating micro-fabricated load cells
US9128136B2 (en) 2013-03-15 2015-09-08 Infineon Technologies Ag Apparatus and method for determining the sensitivity of a capacitive sensing device
US9285404B2 (en) 2013-08-15 2016-03-15 Freescale Semiconductor, Inc. Test structure and methodology for estimating sensitivity of pressure sensors
GB201410038D0 (en) * 2014-06-06 2014-07-16 Atlantic Inertial Systems Ltd Accelerometers
US10073115B1 (en) 2016-04-18 2018-09-11 The United States Of America As Represented By The Administrator Of National Aeronautics And Space Administration Self diagnostic accelerometer field programmable gate array (SDA FPGA)
US10578641B2 (en) 2016-08-22 2020-03-03 Nxp Usa, Inc. Methods and systems for electrically calibrating transducers
US10895457B2 (en) * 2018-03-08 2021-01-19 Analog Devices, Inc. Differential z-axis resonant accelerometry
US11525941B2 (en) 2018-03-28 2022-12-13 Halliburton Energy Services, Inc. In-situ calibration of borehole gravimeters
US11275099B1 (en) * 2018-07-20 2022-03-15 Hrl Laboratories, Llc Navigational grade resonant MicroElectroMechanical Systems (mems) accelerometer and method of operation
US11307218B2 (en) * 2020-05-22 2022-04-19 Invensense, Inc. Real-time isolation of self-test and linear acceleration signals
DE102021200479A1 (de) 2021-01-20 2022-07-21 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Vorhersage und/oder Korrektur eines Verhaltens eines Sensors, System

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5103667A (en) * 1989-06-22 1992-04-14 Ic Sensors, Inc. Self-testable micro-accelerometer and method
JPH0644008B2 (ja) * 1990-08-17 1994-06-08 アナログ・ディバイセス・インコーポレーテッド モノリシック加速度計
US5621157A (en) * 1995-06-07 1997-04-15 Analog Devices, Inc. Method and circuitry for calibrating a micromachined sensor
US5880369A (en) * 1996-03-15 1999-03-09 Analog Devices, Inc. Micromachined device with enhanced dimensional control
DE19819458A1 (de) * 1998-04-30 1999-11-04 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements und mikromechanisches Bauelement
JP2000260105A (ja) * 1999-03-10 2000-09-22 Fujitsu Ltd 記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法
JP2001264355A (ja) * 2000-03-17 2001-09-26 Aisin Seiki Co Ltd 加速度センサ
JP2001330621A (ja) * 2000-05-19 2001-11-30 Denso Corp 半導体力学量センサの製造方法
US6698269B2 (en) * 2001-04-27 2004-03-02 Oceana Sensor Technologies, Inc. Transducer in-situ testing apparatus and method

Also Published As

Publication number Publication date
EP1763675B1 (en) 2014-11-12
US7093478B2 (en) 2006-08-22
WO2006016922A1 (en) 2006-02-16
EP1763675A1 (en) 2007-03-21
JP2008503717A (ja) 2008-02-07
US20060005603A1 (en) 2006-01-12
TW200613735A (en) 2006-05-01
TWI290227B (en) 2007-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5007224B2 (ja) 加速度計の感度を較正する方法
EP0886781B1 (en) Micromachined device with enhanced dimensional control
EP3156804B1 (en) Microelectromechanical sensor device with reduced stress sensitivity
US6286369B1 (en) Single-side microelectromechanical capacitive acclerometer and method of making same
US6718605B2 (en) Single-side microelectromechanical capacitive accelerometer and method of making same
US20160169931A1 (en) Z-axis microelectromechanical detection structure with reduced drifts
US9300227B2 (en) Monolithic body MEMS devices
KR102115504B1 (ko) 센서의 댐핑
Rocha et al. Auto-calibration of capacitive MEMS accelerometers based on pull-in voltage
EP3186664B1 (en) Measurement of acceleration
TWI616656B (zh) 微機電系統感測器和半導體封裝
JP2009133862A (ja) ひずみ増幅セルを有する吊るされたピエゾ抵抗のひずみゲージによる検出器を有する装置
Gupta et al. Design and fabrication of SOI technology based MEMS differential capacitive accelerometer structure
Alves et al. High-resolution MEMS inclinometer based on pull-in voltage
US20090150029A1 (en) Capacitive integrated mems multi-sensor
Zhou et al. Analytical study of temperature coefficients of bulk MEMS capacitive accelerometers operating in closed-loop mode
Mukherjee et al. Sensitivity improvement of a dual axis thermal accelerometer with modified cavity structure
TW201841818A (zh) 電極層分區
CN111071982B (zh) 微机械惯性传感器
EP2455327B1 (en) A mems vertical comb structure with linear drive / pickoff
Aoyagi et al. Development of surface micromachinable capacitive accelerometer using fringe electrical field
KR20140016898A (ko) 선형 특성을 나타내는 미소 전자 기계 시스템 장치
JP4568997B2 (ja) 加加速度センサ
KR100687467B1 (ko) 경사각 측정 센서 및 그 제조방법
van der Velden et al. Reconfigurable multivariable MEMS sensor array

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100506

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110218

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110509

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110516

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111007

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120106

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120409

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120501

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120528

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5007224

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees