JP4984092B2 - Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method - Google Patents

Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
JP4984092B2
JP4984092B2 JP2008329008A JP2008329008A JP4984092B2 JP 4984092 B2 JP4984092 B2 JP 4984092B2 JP 2008329008 A JP2008329008 A JP 2008329008A JP 2008329008 A JP2008329008 A JP 2008329008A JP 4984092 B2 JP4984092 B2 JP 4984092B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling water
pressure
chamber
single crystal
flow rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008329008A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010150070A (en
Inventor
雅紀 高沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Handotai Co Ltd filed Critical Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority to JP2008329008A priority Critical patent/JP4984092B2/en
Publication of JP2010150070A publication Critical patent/JP2010150070A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4984092B2 publication Critical patent/JP4984092B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

本発明は、チョクラルスキー法によるシリコン等の単結晶の製造装置、並びに単結晶の製造方法に関する。   The present invention relates to an apparatus for producing a single crystal such as silicon by the Czochralski method, and a method for producing a single crystal.

従来、シリコン単結晶の育成方法として、黒鉛ルツボに支持された石英ルツボ内のシリコン融液から半導体用の高純度シリコン単結晶を成長させるチョクラルスキー法(Czochralski Method、CZ法)が知られている。この方法は、チャンバの上部に設けられた回転・引上げ機構からワイヤを介してルツボ上方のチャンバ内部に吊り下げられた種結晶用ホルダに種結晶を取付け、ワイヤを繰り出してその種結晶をシリコン融液に接触させ、ダッシュネッキング法や無転位種付け法等により種結晶を引上げてシリコン融液から種絞り部分等を作製し、その後目的とする直径まで結晶を徐々に太らせて成長させることにより、所望の面方位を有する無転位の単結晶インゴットを得ることができるものである。   Conventionally, a Czochralski method (CZ method) for growing a high-purity silicon single crystal for a semiconductor from a silicon melt in a quartz crucible supported by a graphite crucible is known as a method for growing a silicon single crystal. Yes. In this method, a seed crystal is attached to a seed crystal holder suspended inside the chamber above the crucible via a wire from a rotation / pull-up mechanism provided at the top of the chamber, the wire is drawn out, and the seed crystal is melted into silicon. By contacting the solution, pulling up the seed crystal by dash necking method or dislocation-free seeding method, etc., producing a seed drawn portion etc. from the silicon melt, and then gradually growing the crystal to the desired diameter, A dislocation-free single crystal ingot having a desired plane orientation can be obtained.

従来のワイヤを用いた単結晶製造装置の一般的な構成例を図7に示す。
単結晶製造装置101は、原料融液107を収容するルツボ108、109、多結晶原料を加熱、溶融するためのヒータ110などが、トップチャンバ103、ミドルチャンバ104、ボトムチャンバ105等から構成されたメインチャンバ内に格納されている。ルツボ108、109は、図示しない回転駆動機構によって回転昇降自在なルツボ回転軸121に支持されている。また、ルツボ108、109を取り囲むように原料融液107を加熱するためのヒータ110が配置されており、このヒータ110の外側には、ヒータ110からの熱がメインチャンバに直接輻射されるのを防止するための断熱部材122が周囲を取り囲むように設けられている。
FIG. 7 shows a general configuration example of a single crystal manufacturing apparatus using a conventional wire.
The single crystal manufacturing apparatus 101 includes a top chamber 103, a middle chamber 104, a bottom chamber 105, and the like, which include crucibles 108 and 109 for storing a raw material melt 107, a heater 110 for heating and melting a polycrystalline raw material, and the like. Stored in the main chamber. The crucibles 108 and 109 are supported by a crucible rotating shaft 121 that can be rotated up and down by a rotation drive mechanism (not shown). Further, a heater 110 for heating the raw material melt 107 is disposed so as to surround the crucibles 108 and 109, and heat from the heater 110 is directly radiated to the main chamber outside the heater 110. The heat insulation member 122 for preventing is provided so that the circumference | surroundings may be surrounded.

メインチャンバ上に連設されたプルチャンバ102の上部には、育成された単結晶棒106を引上げる引上げ機構120が設けられている。引上げ機構120からは引上げワイヤ119が巻き出されており、その先端には、種結晶117を取り付けるための種ホルダ118が接続され、種ホルダ118の先に取り付けられた種結晶117を原料融液107に浸漬し、引上げワイヤ119を引上げ機構120によって巻き取ることで種結晶117の下方に単結晶棒106を引き上げて育成する。   A pulling mechanism 120 for pulling up the grown single crystal rod 106 is provided on the upper portion of the pull chamber 102 provided continuously on the main chamber. A pulling wire 119 is unwound from the pulling mechanism 120, and a seed holder 118 for attaching the seed crystal 117 is connected to the tip of the pulling wire 119, and the seed crystal 117 attached to the tip of the seed holder 118 is used as a raw material melt. The single crystal rod 106 is pulled up and grown below the seed crystal 117 by immersing in 107 and winding the pulling wire 119 with the pulling mechanism 120.

また、プルチャンバ102及びメインチャンバ内部には、炉内に発生した不純物ガスを炉外に排出する等を目的とし、プルチャンバ102上部に設けられたガス導入口123からアルゴンガス等の不活性ガスが導入され、引上げ中の単結晶棒106、原料融液107上部を通過してメインチャンバ内部を流通し、ベースプレート127に設けられたガス流出口124から排出される。   Further, an inert gas such as argon gas is introduced into the pull chamber 102 and the main chamber from a gas inlet 123 provided on the upper portion of the pull chamber 102 for the purpose of discharging the impurity gas generated in the furnace to the outside of the furnace. Then, it passes through the upper part of the pulling single crystal rod 106 and the raw material melt 107 and flows through the main chamber, and is discharged from the gas outlet 124 provided in the base plate 127.

また、引き上げ中の単結晶棒106を効率良く冷却するために、メインチャンバ内部に引上げ中の単結晶棒106を取り囲むように冷却筒125及び冷却筒125より下方に延伸した冷却補助部材126等が設けられている。このような冷却筒の冷却水路の周囲に密閉空間を設けることによって、冷却筒に供給する冷却水がチャンバ内へ漏水するのを防止するとされた単結晶引上げ装置が開示されている(特許文献1参照)。   Further, in order to efficiently cool the single crystal rod 106 being pulled, a cooling cylinder 125 and a cooling auxiliary member 126 extending downward from the cooling cylinder 125 so as to surround the single crystal rod 106 being pulled inside the main chamber are provided. Is provided. A single crystal pulling device is disclosed in which a sealed space is provided around the cooling water channel of such a cooling cylinder to prevent the cooling water supplied to the cooling cylinder from leaking into the chamber (Patent Document 1). reference).

また、各々のチャンバには、図示しない冷却水流路が具備されており、冷却水流路内部には、該チャンバを冷却する冷却水を流通させる構造となっており、各チャンバを保護するとともに、チャンバの内部のヒータ110の輻射熱が単結晶製造装置101の外部に伝わらないように遮断している。   Each chamber is provided with a cooling water passage (not shown), and cooling water for cooling the chamber is circulated inside the cooling water passage to protect each chamber. Is blocked so that the radiant heat of the heater 110 inside is not transmitted to the outside of the single crystal manufacturing apparatus 101.

従来、この冷却水の供給圧力は工場の冷却水集中供給装置の一箇所で設定し、供給する冷却水の流量の異常検出は各チャンバの冷却水流路の出口側に設置されたフロースイッチにより行っていた。しかし、集中供給装置での圧力調整が不能になり冷却水圧がチャンバの設計圧力(例えば0.5MPa)を超えると、チャンバが破損して冷却水が炉内に侵入する恐れがあり、炉内に侵入した場合にはその冷却水が融解した原料融液と接触する可能性があった。   Conventionally, this cooling water supply pressure is set at one location in the factory's centralized cooling water supply system, and abnormalities in the flow rate of the cooling water supplied are detected by a flow switch installed on the outlet side of the cooling water flow path of each chamber. It was. However, if the pressure adjustment in the centralized supply device becomes impossible and the cooling water pressure exceeds the design pressure of the chamber (for example, 0.5 MPa), the chamber may be damaged and cooling water may enter the furnace. In case of intrusion, the cooling water may come into contact with the melted raw material melt.

また、冷却水が流れなくなった場合に警報を発報するが、フロースイッチはその構造が機械的(レバーとバネで構成)であり、冷却水の持つ圧力でスイッチが働くため、警報流量での警報発報設定が難しかった。また、冷却水は常に流されるため、フロースイッチの機構部品が劣化して誤動作、例えば設定警報流量で発報しない問題が発生し、流量管理が万全とは言えなかった。更に流量の減少を知らせる系統が故障した場合に冷却水の流量減少を確認できないため、二重の対策をする必要性があった。   Also, when the cooling water stops flowing, an alarm is issued, but the flow switch is mechanically structured (consisting of a lever and a spring), and the switch works with the pressure of the cooling water. It was difficult to set the alarm. In addition, since the cooling water is always flowed, the mechanical parts of the flow switch are deteriorated and a malfunction occurs, for example, a problem that the alarm is not generated at the set alarm flow rate occurs, and the flow rate management is not perfect. Furthermore, when the system that informs the decrease in the flow rate fails, it is not possible to confirm the decrease in the flow rate of the cooling water, so it is necessary to take a double measure.

特開2005−145764号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-145762

本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、各チャンバに異常な水圧が働かないよう制御し、適切な流量で冷却水を供給し、冷却水の異常の検知を容易にすることができ、異常検知時間を改善することができる単結晶製造装置及び単結晶製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and controls the abnormal water pressure so as not to act on each chamber, supplies cooling water at an appropriate flow rate, and facilitates detection of cooling water abnormality. An object of the present invention is to provide a single crystal manufacturing apparatus and a single crystal manufacturing method capable of improving the abnormality detection time.

上記目的を達成するために、本発明によれば、チャンバ内に収容されたルツボ内の原料をヒータにより加熱して原料融液とし、前記加熱された原料融液に種結晶を着液して下方に単結晶を育成するチョクラルスキー法による単結晶製造装置であって、前記チャンバが複数に分割され、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を有し、該それぞれの冷却水経路上に、前記チャンバに供給する冷却水の供給圧力を調整する圧力調整弁と、流量を調整する流量調整弁及び流量計と、前記冷却水の供給圧力を開放する圧力開放弁と、前記チャンバから排出される冷却水の流量を測定するデジタル流量計とを有し、前記分割されたそれぞれのチャンバに供給する冷却水の流量及び圧力を前記それぞれの冷却水経路毎の前記圧力調整弁及び前記流量調整弁に設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を前記デジタル流量計で定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記圧力開放弁により前記冷却水の供給圧力を開放するものであることを特徴とする単結晶製造装置を提供する(請求項1)。   In order to achieve the above object, according to the present invention, a raw material in a crucible accommodated in a chamber is heated by a heater to form a raw material melt, and a seed crystal is poured into the heated raw material melt. An apparatus for producing a single crystal by a Czochralski method for growing a single crystal below, wherein the chamber is divided into a plurality of parts, and each of the divided chambers is cooled by supplying and discharging cooling water. A cooling water path, and on each of the cooling water paths, a pressure adjusting valve for adjusting a supply pressure of cooling water supplied to the chamber, a flow rate adjusting valve and a flow meter for adjusting a flow rate, and the cooling water A pressure release valve for releasing the supply pressure, and a digital flow meter for measuring the flow rate of the cooling water discharged from the chamber. The flow rate and pressure of the cooling water supplied to each of the divided chambers are Set the pressure regulating valve and flow rate regulating valve for each cooling water path, and periodically measure and record the flow rate of cooling water discharged from each of the divided chambers with the digital flow meter. When the recorded flow rate is smaller than a predetermined value, an alarm is issued, and the cooling water supply pressure for each cooling water path is measured, and when the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water path A single crystal manufacturing apparatus is provided, wherein the cooling water supply pressure is released by the pressure release valve (Claim 1).

このように、前記チャンバが複数に分割され、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を有し、該それぞれの冷却水経路上に、前記チャンバに供給する冷却水の供給圧力を調整する圧力調整弁と、流量を調整する流量調整弁及び流量計と、前記冷却水の供給圧力を開放する圧力開放弁と、前記チャンバから排出される冷却水の流量を測定するデジタル流量計とを有し、前記分割されたそれぞれのチャンバに供給する冷却水の流量及び圧力を前記それぞれの冷却水経路毎の前記圧力調整弁及び前記流量調整弁に設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を前記デジタル流量計で定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記圧力開放弁により前記冷却水の供給圧力を開放するものであれば、それぞれのチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができ過剰圧力によるチャンバの破損を防ぐことができる。また、それぞれのチャンバに適切な流量の冷却水を供給してチャンバを効率良く冷却することができ、局所的に高温化するのを防ぐことができる。さらに、流量の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることができ、異常検知時間を改善することができる。   As described above, the chamber is divided into a plurality of parts, each of the divided chambers has an individual cooling water path for cooling by supplying and discharging cooling water, and on each of the cooling water paths, A pressure adjusting valve for adjusting the supply pressure of the cooling water supplied to the chamber, a flow rate adjusting valve and a flow meter for adjusting the flow rate, a pressure release valve for releasing the supply pressure of the cooling water, and discharged from the chamber A digital flow meter for measuring the flow rate of cooling water, and supplying the flow rate and pressure of cooling water supplied to each of the divided chambers to the pressure adjusting valve and the flow rate adjusting valve for each of the cooling water paths. Set, periodically measure and record the flow rate of cooling water discharged from each of the divided chambers with the digital flow meter, and alert if the recorded flow rate is less than a predetermined value The cooling water supply pressure for each of the cooling water paths is measured, and when the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water supply pressure is released by the pressure release valve of the cooling water path If so, control can be performed so that abnormal water pressure does not act on each chamber, and damage to the chamber due to excessive pressure can be prevented. In addition, it is possible to efficiently cool the chambers by supplying cooling water having an appropriate flow rate to the respective chambers, and to prevent local increase in temperature. Furthermore, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in the flow rate, and the abnormality detection time can be improved.

このとき、前記設定する冷却水の供給圧力が0.1〜0.5MPaであることが好ましい(請求項2)。
このように、前記設定する冷却水の供給圧力が0.1〜0.5MPaであれば、チャンバに適切な供給圧力の冷却水を供給して、より確実にチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができる。
At this time, it is preferable that the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa.
As described above, when the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa, the cooling water having an appropriate supply pressure is supplied to the chamber so that the abnormal water pressure does not act on the chamber more reliably. Can be controlled.

またこのとき、前記圧力開放弁により圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値が0.5MPaであることが好ましい(請求項3)。
このように、前記圧力開放弁により圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値が0.5MPaであれば、チャンバに過剰圧力が働くのをより確実に防ぐことができる。
At this time, it is preferable that the predetermined value of the supply pressure of the cooling water when the pressure is released by the pressure release valve is 0.5 MPa (Claim 3).
Thus, if the predetermined value of the supply pressure of the cooling water when the pressure is released by the pressure release valve is 0.5 MPa, it is possible to more reliably prevent the excessive pressure from acting on the chamber.

またこのとき、前記供給された冷却水の温度を測定する温度センサーを有し、前記冷却水の温度を前記温度センサーで定期的に測定して記録し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発するものとすることができる(請求項4)。
このように、前記供給された冷却水の温度を測定する温度センサーを有し、前記冷却水の温度を前記温度センサーで定期的に測定して記録し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発するものであれば、温度の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることもでき、異常検知時間をより確実に改善することができる。
Also, at this time, it has a temperature sensor for measuring the temperature of the supplied cooling water, and the temperature of the cooling water is periodically measured and recorded by the temperature sensor, and the recorded temperature is larger than the allowable maximum temperature. In such a case, an alarm can be issued (claim 4).
In this way, it has a temperature sensor for measuring the temperature of the supplied cooling water, periodically measures and records the temperature of the cooling water with the temperature sensor, and the recorded temperature is larger than the allowable maximum temperature. If an alarm is issued in this case, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in temperature, and the abnormality detection time can be improved more reliably.

また、本発明は、チャンバ内に収容されたルツボ内の原料をヒータにより加熱して原料融液とし、前記加熱された原料融液に種結晶を着液して下方に単結晶を育成するチョクラルスキー法による単結晶製造方法であって、前記チャンバを複数に分割し、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を設け、該それぞれの冷却水経路毎に供給する冷却水の流量及び圧力を設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記冷却水の供給圧力を開放することを特徴とする単結晶製造方法を提供する(請求項5)。   In addition, the present invention is a method for heating a raw material in a crucible accommodated in a chamber with a heater to form a raw material melt, depositing a seed crystal in the heated raw material melt, and growing a single crystal below. A method for producing a single crystal by a Larsky method, wherein the chamber is divided into a plurality of chambers, and individual cooling water paths are provided for cooling by supplying and discharging cooling water for each of the divided chambers, The flow rate and pressure of cooling water to be supplied for each cooling water path are set, the flow rate of cooling water discharged from each of the divided chambers is periodically measured and recorded, and the recorded flow rate is predetermined. When the pressure is smaller than the value, an alarm is issued, and the cooling water supply pressure for each of the cooling water paths is measured, and when the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water supply pressure of the cooling water path is released. To be characterized by That provides a single-crystal manufacturing method (claim 5).

このように、前記チャンバを複数に分割し、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を設け、該それぞれの冷却水経路毎に供給する冷却水の流量及び圧力を設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を定期的に測定して記録し、該記録した流量が前記設定した流量より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記冷却水の供給圧力を開放すれば、それぞれのチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができ過剰圧力によるチャンバの破損を防ぐことができる。また、それぞれのチャンバに適切な流量の冷却水を供給してチャンバを効率良く冷却することができ、局所的に高温化するのを防ぐことができる。さらに、流量の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることができ、異常検知時間を改善することができる。   In this manner, the chamber is divided into a plurality of parts, and individual cooling water paths are provided for cooling by supplying and discharging cooling water for each of the divided chambers, and the cooling water paths are supplied to the respective cooling water paths. Set the flow rate and pressure of the cooling water, periodically measure and record the flow rate of the cooling water discharged from each of the divided chambers, and alert when the recorded flow rate is smaller than the set flow rate If the cooling water supply pressure for each cooling water path is measured and the cooling water supply pressure in the cooling water path is released when the pressure exceeds a predetermined value, Control can be performed so that abnormal water pressure does not work, and damage to the chamber due to excessive pressure can be prevented. In addition, it is possible to efficiently cool the chambers by supplying cooling water having an appropriate flow rate to the respective chambers, and to prevent local increase in temperature. Furthermore, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in the flow rate, and the abnormality detection time can be improved.

このとき、前記設定する冷却水の供給圧力を0.1〜0.5MPaとすることが好ましい(請求項6)。
このように、前記設定する冷却水の供給圧力を0.1〜0.5MPaとすれば、チャンバに適切な供給圧力の冷却水を供給して、より確実にチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができる。
At this time, it is preferable that the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa.
Thus, if the cooling water supply pressure to be set is set to 0.1 to 0.5 MPa, cooling water with an appropriate supply pressure is supplied to the chamber so that the abnormal water pressure does not act on the chamber more reliably. Can be controlled.

またこのとき、前記圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値を0.5MPaとすることが好ましい(請求項7)。
このように、前記圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値を0.5MPaとすれば、チャンバに過剰圧力が働くのをより確実に防ぐことができる。
At this time, it is preferable that a predetermined value of the supply pressure of the cooling water when releasing the pressure is 0.5 MPa (Claim 7).
Thus, if the predetermined value of the supply pressure of the cooling water at the time of releasing the pressure is 0.5 MPa, it is possible to more reliably prevent the excessive pressure from acting on the chamber.

またこのとき、前記供給された冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度と許容最高温度とを比較し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合、警報を発することができる(請求項8)。
このように、前記供給された冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度と許容最高温度とを比較し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合、警報を発すれば、温度の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることもでき、異常検知時間をより確実に改善することができる。
At this time, the temperature of the supplied cooling water is periodically measured and recorded, the recorded temperature is compared with the allowable maximum temperature, and an alarm is issued if the recorded temperature is higher than the allowable maximum temperature. (Claim 8).
In this way, the temperature of the supplied cooling water is periodically measured and recorded, the recorded temperature is compared with the allowable maximum temperature, and an alarm is issued if the recorded temperature is greater than the allowable maximum temperature. If so, it is possible to easily detect an abnormality in the cooling water due to a change in temperature, and the abnormality detection time can be improved more reliably.

本発明では、単結晶製造装置において、分割されたそれぞれのチャンバに供給する冷却水の流量及び圧力をそれぞれの冷却水経路毎の圧力調整弁及び流量調整弁に設定し、分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量をデジタル流量計で定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記圧力開放弁により前記冷却水の供給圧力を開放するので、それぞれのチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができ過剰圧力によるチャンバの破損を防ぐことができる。また、それぞれのチャンバに適切な流量の冷却水を供給してチャンバを効率良く冷却することができ、局所的に高温化するのを防ぐことができる。さらに、流量の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることができ、異常検知時間を改善することができる。   In the present invention, in the single crystal manufacturing apparatus, the flow rate and pressure of the cooling water supplied to each divided chamber are set in the pressure adjustment valve and the flow rate adjustment valve for each cooling water path, and the divided chambers are set. The flow rate of cooling water discharged from the system is periodically measured and recorded with a digital flow meter, and an alarm is issued when the recorded flow rate is smaller than a predetermined value, and the cooling water supply pressure for each cooling water path When the pressure exceeds a predetermined value, the supply pressure of the cooling water is released by the pressure release valve of the cooling water path, so that control is performed so that abnormal water pressure does not work in each chamber. The chamber can be prevented from being damaged by excessive pressure. In addition, it is possible to efficiently cool the chambers by supplying cooling water having an appropriate flow rate to the respective chambers, and to prevent local increase in temperature. Furthermore, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in the flow rate, and the abnormality detection time can be improved.

以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
従来、分割されたそれぞれのチャンバへの冷却水の供給圧力は工場の集中供給装置を用いて一箇所で集中的に管理していた。しかし、集中供給装置での圧力調整が不能になり冷却水圧がチャンバの設計圧力を越えると、チャンバが破損して冷却水が炉内に侵入し、その冷却水が融解した原料融液と接触する可能性があり、従来の圧力管理では不十分であった。
Hereinafter, although an embodiment is described about the present invention, the present invention is not limited to this.
Conventionally, the supply pressure of cooling water to each of the divided chambers has been centrally managed at a single location using a centralized supply device in a factory. However, if the pressure cannot be adjusted with the centralized supply device and the cooling water pressure exceeds the design pressure of the chamber, the chamber is damaged and the cooling water enters the furnace, and the cooling water contacts the melted raw material melt. There is a possibility, and conventional pressure management was insufficient.

また、冷却水が流れなくなった場合に警報を発報するが、冷却水の持つ圧力で異常検知のスイッチが働く構造となっていたため、警報流量での警報発報の設定が難しく流量管理が万全とは言えなかった。   In addition, an alarm is issued when the cooling water stops flowing. However, because the switch for detecting an abnormality is activated by the pressure of the cooling water, it is difficult to set the alarm reporting at the alarm flow rate, and the flow control is thorough. I couldn't say that.

そこで、本発明者はこのような問題を解決すべく鋭意検討を重ねた。その結果、分割されたそれぞれのチャンバ毎に個別の冷却水経路を設け、それぞれの冷却水経路上で圧力調整を行えば、集中管理による圧力調整が不能になった場合でも各チャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができることに想到した。また、それぞれの冷却水経路毎に冷却水の流量を調整し、流量及び温度の変化を監視することで冷却水の異常を容易に早急に検知することができることに想到し、本発明を完成させた。   Therefore, the present inventor has intensively studied to solve such problems. As a result, if a separate cooling water path is provided for each of the divided chambers, and pressure adjustment is performed on each cooling water path, abnormal water pressure is applied to each chamber even when pressure adjustment by centralized control becomes impossible. I thought that it can be controlled so that does not work. In addition, the inventors have completed the present invention by conceiving that an abnormality in cooling water can be easily and quickly detected by adjusting the flow rate of cooling water for each cooling water path and monitoring changes in the flow rate and temperature. It was.

図1に本発明に係る単結晶製造装置の一例の概略図を示す。また、図2にその断面概略図を示す。
図2に示すように、チャンバが複数に分割されており、プルチャンバ2、トップチャンバ3、メインチャンバ4により構成されている。そして、原料融液7を収容するルツボ8、9、多結晶原料を加熱、溶融するためのヒータ10などがメインチャンバ4、トップチャンバ3内に格納される。図1、2に示す単結晶製造装置の例ではチャンバは3つに分割されているが、分割数は特に限定されず、例えばメインチャンバ4がさらにミドルチャンバとボトムチャンバに分割されていても良い。
FIG. 1 shows a schematic diagram of an example of a single crystal manufacturing apparatus according to the present invention. Moreover, the cross-sectional schematic is shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the chamber is divided into a plurality of parts, and includes a pull chamber 2, a top chamber 3, and a main chamber 4. The crucibles 8 and 9 for storing the raw material melt 7, the heater 10 for heating and melting the polycrystalline raw material, and the like are stored in the main chamber 4 and the top chamber 3. In the example of the single crystal manufacturing apparatus shown in FIGS. 1 and 2, the chamber is divided into three, but the number of divisions is not particularly limited. For example, the main chamber 4 may be further divided into a middle chamber and a bottom chamber. .

プルチャンバ2はトップチャンバ3上に連設されており、プルチャンバ2の上部には育成された単結晶を引上げる引上げ機構20が設けられている。この引上げ機構20からはワイヤ19が巻き出されており、その先端には、種結晶17を取り付けるための種ホルダ18が接続され、種ホルダ18の先に取り付けられた種結晶17を原料融液7に浸漬し、ワイヤ19を引上げ機構20によって巻き取ることで種結晶17の下方に単結晶棒6を引き上げて育成するものとなっている。この場合、プルチャンバ2とトップチャンバ3との間には、育成された単結晶の取り出し時等にプルチャンバ2とトップチャンバ3とを遮断するためアイソレーションバルブ28が設けられている。   The pull chamber 2 is connected to the top chamber 3, and a pulling mechanism 20 for pulling the grown single crystal is provided above the pull chamber 2. A wire 19 is unwound from the pulling mechanism 20, and a seed holder 18 for attaching the seed crystal 17 is connected to the tip of the wire 19. The seed crystal 17 attached to the tip of the seed holder 18 is used as a raw material melt. 7, the single crystal rod 6 is pulled up and grown below the seed crystal 17 by winding the wire 19 by the pulling mechanism 20. In this case, an isolation valve 28 is provided between the pull chamber 2 and the top chamber 3 to shut off the pull chamber 2 and the top chamber 3 when the grown single crystal is taken out.

また、ルツボ8、9は、内側に原料融液7を直接収容する石英ルツボ8と、石英ルツボ8を支持するための黒鉛ルツボ9とから構成される。ルツボ8、9は、単結晶製造装置1の下部に取り付けられた回転駆動機構(図示せず)によって回転昇降自在なルツボ回転軸21に支持されている。ルツボ回転軸21は、単結晶製造装置1中の原料融液7の表面の位置変化によって結晶品質が変わることがないよう、融液面を一定位置に保つため、単結晶棒6と逆方向に回転させながら単結晶棒6の引き上げに応じて原料融液7が減少した分だけルツボ8、9を上昇させるようになっている。   The crucibles 8 and 9 are composed of a quartz crucible 8 that directly accommodates the raw material melt 7 inside, and a graphite crucible 9 for supporting the quartz crucible 8. The crucibles 8 and 9 are supported on a crucible rotating shaft 21 that can be rotated up and down by a rotation drive mechanism (not shown) attached to the lower part of the single crystal manufacturing apparatus 1. The crucible rotating shaft 21 is opposite to the single crystal rod 6 in order to keep the melt surface at a certain position so that the crystal quality does not change due to the change in the surface position of the raw material melt 7 in the single crystal production apparatus 1. The crucibles 8 and 9 are raised as much as the raw material melt 7 decreases in accordance with the pulling up of the single crystal rod 6 while rotating.

また、ルツボ8、9を取り囲むようにヒータ10が配置されており、このヒータ10の外側には、ヒータ10からの熱がメインチャンバ4、トップチャンバ3に直接輻射されるのを防止するための断熱部材22が周囲を取り囲むように設けられている。
また、プルチャンバ2、トップチャンバ3及びメインチャンバ4内部には、炉内に発生した不純物ガスを炉外に排出する等を目的とし、プルチャンバ2上部に設けられたガス導入口23からアルゴンガス等の不活性ガスが導入され、引上げ中の単結晶棒6、融液7上部を通過してトップチャンバ3及びメインチャンバ4内部を流通し、ベースプレート5に設けられたガス流出口24から排出される。
In addition, a heater 10 is disposed so as to surround the crucibles 8 and 9, and heat from the heater 10 is prevented from being directly radiated to the main chamber 4 and the top chamber 3 outside the heater 10. A heat insulating member 22 is provided so as to surround the periphery.
The pull chamber 2, the top chamber 3, and the main chamber 4 are filled with an argon gas or the like from a gas inlet 23 provided at the top of the pull chamber 2 for the purpose of discharging impurity gas generated in the furnace to the outside of the furnace. An inert gas is introduced, passes through the upper part of the single crystal rod 6 and the melt 7 that are being pulled up, flows through the top chamber 3 and the main chamber 4, and is discharged from a gas outlet 24 provided in the base plate 5.

さらに、成長している単結晶をより効果的に冷却させるため、引上げ中の単結晶を取り
囲むようにトップチャンバ3の天井部から原料融液7表面に向かって延伸し、冷却媒体導入口から導入された冷却媒体で強制冷却される冷却筒25と該冷却筒25より下方に延伸した冷却補助部材26を設けても良い。
Furthermore, in order to cool the growing single crystal more effectively, it extends from the ceiling of the top chamber 3 toward the surface of the raw material melt 7 so as to surround the single crystal being pulled, and is introduced from the cooling medium inlet. A cooling cylinder 25 forcibly cooled by the cooled cooling medium and a cooling auxiliary member 26 extending downward from the cooling cylinder 25 may be provided.

これら各チャンバの内部は、チャンバを冷却する冷却水を流通させる構造となっており、各チャンバを保護するとともに、チャンバの内部のヒータ10の輻射熱が単結晶製造装置1の外部に伝わらないように遮断することができるようになっている。ここで、プルチャンバ2、トップチャンバ3、メインチャンバ4、ベースプレート5及び冷却筒25は、ステンレス等の耐熱性、熱伝導性に優れた金属から製作することができる。
また、図1に示すように、分割されたそれぞれのチャンバ毎(プルチャンバ2、トップチャンバ3、メインチャンバ4)に個別の冷却水経路が設けられている。それぞれの冷却水経路は、その経路の入口に冷却水入口主管を有し、次いで各チャンバを経て、経路の出口に冷却水出口主管を有している。ここで、例えば図1に示すように、メインチャンバ4の底部にあるベースプレート5又はプルチャンバ2とトップチャンバ3の間のアイソレーションバルブ28についても冷却されるので、本発明の冷却水経路を設けることができる。
Each of these chambers has a structure in which cooling water for cooling the chamber is circulated to protect each chamber and prevent the radiant heat of the heater 10 inside the chamber from being transmitted to the outside of the single crystal manufacturing apparatus 1. It can be blocked. Here, the pull chamber 2, the top chamber 3, the main chamber 4, the base plate 5, and the cooling cylinder 25 can be manufactured from a metal excellent in heat resistance and heat conductivity such as stainless steel.
Further, as shown in FIG. 1, individual cooling water paths are provided for each of the divided chambers (the pull chamber 2, the top chamber 3, and the main chamber 4). Each cooling water path has a cooling water inlet main pipe at the inlet of the path, and then has a cooling water outlet main pipe through each chamber and at the outlet of the path. Here, for example, as shown in FIG. 1, the base plate 5 at the bottom of the main chamber 4 or the isolation valve 28 between the pull chamber 2 and the top chamber 3 is also cooled, so that the cooling water path of the present invention is provided. Can do.

そして、それぞれの冷却水経路上に、各チャンバに供給する冷却水の供給圧力を調整する圧力調整弁11と、流量を調整する流量調整弁12及び流量計13と、冷却水の供給圧力を開放する圧力開放弁14と、チャンバから排出される冷却水の流量を測定するデジタル流量計15とを有している。
また、図1に示すように、これらの部材は冷却水経路の入口から順に、圧力調整弁11、流量調整弁12、流量計13、チャンバ、圧力開放弁14、デジタル流量計15という順番で配設することができる。
Then, on each cooling water path, the pressure adjusting valve 11 for adjusting the supply pressure of the cooling water supplied to each chamber, the flow rate adjusting valve 12 and the flow meter 13 for adjusting the flow rate, and the supply pressure of the cooling water are released. And a digital flow meter 15 for measuring the flow rate of the cooling water discharged from the chamber.
Further, as shown in FIG. 1, these members are arranged in the order of the pressure regulating valve 11, the flow regulating valve 12, the flow meter 13, the chamber, the pressure release valve 14, and the digital flow meter 15 in this order from the inlet of the cooling water path. Can be set.

ここで特に限定されることはないが、例えば、流量計13を面積式のものとすることができ、流量調整弁12をボールバルブとすることができる。
そして、それぞれのチャンバに供給する冷却水の流量及び圧力をそれぞれの冷却水経路毎の圧力調整弁11及び流量調整弁12に設定することができるものとなっている。
また、それぞれのチャンバから排出される冷却水の流量をデジタル流量計15で定期的に測定して記録を行い、記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発することができるようになっている。ここで、所定の値を例えば流量調整弁12に設定した流量とすることができる。
Although not particularly limited here, for example, the flow meter 13 can be an area type, and the flow rate adjustment valve 12 can be a ball valve.
And the flow volume and pressure of the cooling water supplied to each chamber can be set to the pressure regulating valve 11 and the flow regulating valve 12 for each cooling water path.
Further, the flow rate of the cooling water discharged from each chamber is periodically measured and recorded by the digital flow meter 15, and an alarm can be issued when the recorded flow rate is smaller than a predetermined value. Yes. Here, the predetermined value can be set to a flow rate set in the flow rate adjustment valve 12, for example.

またここで、デジタル流量計15は、流量測定精度が測定可能範囲の±1%以内であるものが好ましい。また、特に限定されることはないが、冷却水の流量を定期的に測定して記録を行う間隔を例えば1秒毎とすることができる。
また、それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の圧力開放弁14により冷却水の供給圧力を開放するものとなっている。
Here, the digital flow meter 15 preferably has a flow measurement accuracy within ± 1% of the measurable range. Further, although not particularly limited, the interval at which the flow rate of the coolant is periodically measured and recorded can be set, for example, every second.
Further, when the cooling water supply pressure for each cooling water path is measured and the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water supply pressure is released by the pressure release valve 14 of the cooling water path. ing.

本発明の単結晶製造装置では、このようにすることで、例えば冷却水の圧力を集中管理している装置に異常が発生したというような場合においても、それぞれのチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができ、過剰圧力によるチャンバの破損を防ぐことができるものとなっている。また、それぞれのチャンバに適切な流量の冷却水を供給して各チャンバを効率良く冷却して局所的に高温化するのを防ぐことができ、各チャンバ自身の変形やチャンバに設置されているOリング等の部材の変形、変質を防ぐことができるものとなっている。さらに、流量の変化により冷却水の異常の検知を容易に行うことができるものとなっている。また、異常検知時間を改善することができ、チャンバが高温になる前にオペレータが対処することができるのでチャンバの損傷を防ぐことができるものとなっている。   In the single crystal manufacturing apparatus of the present invention, in this way, for example, even when an abnormality occurs in an apparatus that centrally manages the pressure of cooling water, abnormal water pressure does not work in each chamber. Thus, the chamber can be prevented from being damaged by excessive pressure. Further, it is possible to prevent each chamber from being heated by supplying an appropriate flow rate of cooling water to each chamber efficiently to prevent local increase in temperature. It is possible to prevent deformation and alteration of a member such as a ring. Furthermore, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in the flow rate. In addition, the abnormality detection time can be improved, and the operator can deal with it before the temperature of the chamber becomes high, so that damage to the chamber can be prevented.

上記した流量調整弁12に設定する冷却水の流量の設定値を、図3に示すような設定手順により求めた値とすることができる。すなわち、図3に示すように、まず、冷却水の除熱量を推算し(図3a)、仮の設定値を決定しておく(図3b)。次に、実機にて流量を仮の設定値に設定して加熱テストを行う。この際、チャンバへ供給する冷却水の温度とチャンバから排出される冷却水の温度を測定し、それら入出力温度差が15℃となるように流量を調整する(図3c)。そして、その調整した流量を設定値として決定する(図3d)。   The set value of the flow rate of the cooling water set in the flow rate adjusting valve 12 can be a value obtained by the setting procedure as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 3, first, the heat removal amount of the cooling water is estimated (FIG. 3a), and a provisional set value is determined (FIG. 3b). Next, a heating test is performed with the actual flow rate set to a temporary set value. At this time, the temperature of the cooling water supplied to the chamber and the temperature of the cooling water discharged from the chamber are measured, and the flow rate is adjusted so that the input / output temperature difference becomes 15 ° C. (FIG. 3c). Then, the adjusted flow rate is determined as a set value (FIG. 3d).

また、図3に示すように、冷却水の除熱量を推算して仮の警報流量を決定し(図3b)、上記と同様にして入出力温度差が20℃となるように調整したときの流量を求め(図3e)、その流量を設定警報流量として求めておくことができる(図3f)。そして、流量調整弁12にて設定する流量を前記の手順で決定した設定値として設定した場合に、デジタル流量計15で測定するチャンバから排出された冷却水の流量がこの設定警報流量より小さい場合に警報を発するようにすることもできる。   Further, as shown in FIG. 3, the amount of heat removal from the cooling water is estimated to determine a provisional alarm flow rate (FIG. 3b), and when the input / output temperature difference is adjusted to 20 ° C. in the same manner as described above. The flow rate can be obtained (FIG. 3e), and the flow rate can be obtained as the set alarm flow rate (FIG. 3f). When the flow rate set by the flow rate adjusting valve 12 is set as the set value determined in the above procedure, the flow rate of the cooling water discharged from the chamber measured by the digital flow meter 15 is smaller than the set alarm flow rate. An alarm can be issued.

このとき、設定する冷却水の供給圧力が0.1〜0.5MPaであることが好ましい。
このように、設定する冷却水の供給圧力が0.1〜0.5MPaであれば、それぞれのチャンバに適切な供給圧力の冷却水を供給して、より確実にチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができる。
At this time, it is preferable that the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa.
Thus, if the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa, the cooling water having an appropriate supply pressure is supplied to each chamber, and the abnormal water pressure does not work on the chamber more reliably. Can be controlled.

またこのとき、圧力開放弁14により圧力開放する際の冷却水の供給圧力の所定値が0.5MPaであることが好ましい。
このように、冷却水の供給圧力が0.5MPaを越えた場合に圧力開放弁14により圧力開放すれば、チャンバに過剰圧力が働くのをより確実に防ぐことができる。
At this time, it is preferable that the predetermined value of the supply pressure of the cooling water when the pressure is released by the pressure release valve 14 is 0.5 MPa.
Thus, if the pressure is released by the pressure release valve 14 when the supply pressure of the cooling water exceeds 0.5 MPa, it is possible to more reliably prevent the excessive pressure from acting on the chamber.

またこのとき、デジタル流量計15を、冷却水経路の抵抗により最も流量が小さくなる冷却水の出口付近、すなわち冷却水出口主管付近に配設することが好ましい。
このようにして経路上の最少の流量を測定して冷却水を監視すれば、冷却水の異常をより確実に早急に検知することができる。
At this time, the digital flow meter 15 is preferably disposed in the vicinity of the cooling water outlet where the flow rate becomes the smallest due to the resistance of the cooling water path, that is, in the vicinity of the cooling water outlet main pipe.
Thus, if the minimum flow rate on the path is measured and the cooling water is monitored, the abnormality of the cooling water can be detected more reliably and quickly.

またこのとき、供給された冷却水の温度を測定する温度センサー16を有し、その温度センサー16で冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発するものとすることができる。ここで、許容最高温度を例えば60℃とすることができる。
このように、供給された冷却水の温度を測定する温度センサー16を有し、その温度センサー16で冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発するものであれば、流量に加えて温度の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることもでき、異常検知時間をより確実に改善することができる。また、流量を計測するデジタル流量計15が故障した場合にも、温度の変化により冷却水の異常を検知することができる。
At this time, it has a temperature sensor 16 for measuring the temperature of the supplied cooling water, and the temperature sensor 16 periodically measures and records the temperature of the cooling water, and the recorded temperature is higher than the allowable maximum temperature. An alarm may be issued in case. Here, the allowable maximum temperature can be set to 60 ° C., for example.
In this way, the temperature sensor 16 that measures the temperature of the supplied cooling water is provided, and the temperature sensor 16 periodically measures and records the temperature of the cooling water, and the recorded temperature is higher than the allowable maximum temperature. If an alarm is issued in this case, it is possible to easily detect the abnormality of the cooling water by changing the temperature in addition to the flow rate, and the abnormality detection time can be improved more reliably. Further, even when the digital flow meter 15 that measures the flow rate fails, an abnormality of the cooling water can be detected by a change in temperature.

ここで、温度センサー16を、各チャンバから冷却水を排出する排出口の近くのフランジ27(図1の黒点)付近に配設することができる。
このようにしてチャンバ内で最も冷却水の温度が高くなる排出口の近くのフランジ27付近で温度を測定して冷却水を監視すれば、冷却水の異常をより確実に早急に検知することができる。
Here, the temperature sensor 16 can be disposed in the vicinity of the flange 27 (black dot in FIG. 1) near the discharge port for discharging the cooling water from each chamber.
In this way, if the temperature is measured in the vicinity of the flange 27 near the discharge port where the temperature of the cooling water is highest in the chamber and the cooling water is monitored, the abnormality of the cooling water can be detected more reliably and quickly. it can.

次に本発明に係る単結晶製造方法について説明する。
ここでは図1に示すような本発明に係る単結晶製造装置を用いた場合について図1及び図2を用いて説明する。上述したように、図1に示す単結晶製造装置1は、チャンバが複数に分割され、分割されたそれぞれのチャンバ毎に個別の冷却水経路が設けられている。
まず、図2に示すように、ルツボ8、9内でシリコンの高純度多結晶原料を融点(約1420℃)以上に加熱して融解して原料融液7とする。
Next, the method for producing a single crystal according to the present invention will be described.
Here, the case where the single crystal manufacturing apparatus according to the present invention as shown in FIG. 1 is used will be described with reference to FIGS. As described above, in the single crystal manufacturing apparatus 1 shown in FIG. 1, the chamber is divided into a plurality of parts, and an individual cooling water path is provided for each of the divided chambers.
First, as shown in FIG. 2, a high-purity polycrystalline silicon raw material of silicon is heated to a melting point (about 1420 ° C.) or higher in a crucible 8 or 9 to be a raw material melt 7.

このとき、個別に設けられた冷却水経路からそれぞれのチャンバに冷却水が供給される。この際、それぞれの冷却水経路毎に供給する冷却水の圧力及び流量を圧力調整弁11、流量調整弁12、流量計13を用いて所望の値に設定する。
ここで設定する流量の値は、例えば上記したような図3に示す設定手順で求めた値とすることができる。
そして、冷却水の監視を行うために、分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量をデジタル流量計15で定期的に測定して記録し、その記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発するようにする。ここで、冷却水の流量を定期的に測定して記録を行う間隔を例えば1秒毎とすることができる。また、所定の値を流量調整弁12に設定した流量とすることができる。又は所定の値を図3に示す設定手順で求めた設定警報流量とすることもできる。
また、それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の冷却水の供給圧力を開放するようにする。
At this time, the cooling water is supplied to the respective chambers from the individually provided cooling water paths. At this time, the pressure and flow rate of the cooling water supplied for each cooling water path are set to desired values using the pressure adjustment valve 11, the flow rate adjustment valve 12, and the flow meter 13.
The value of the flow rate set here can be a value obtained by the setting procedure shown in FIG. 3 as described above, for example.
In order to monitor the cooling water, the flow rate of the cooling water discharged from each of the divided chambers is periodically measured and recorded by the digital flow meter 15, and the recorded flow rate is smaller than a predetermined value. Alarm in case. Here, the interval at which the flow rate of the coolant is periodically measured and recorded can be set, for example, every second. Further, the predetermined value can be a flow rate set in the flow rate adjustment valve 12. Alternatively, the predetermined alarm flow rate obtained by the setting procedure shown in FIG.
Also, the cooling water supply pressure for each cooling water path is measured, and when the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water supply pressure of the cooling water path is released.

本発明に係る単結晶製造方法では、このようにすることで、それぞれのチャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができ、過剰圧力によるチャンバの破損を防ぐことができる。また、それぞれのチャンバに適切な流量の冷却水を供給して各チャンバを効率良く冷却することができ、局所的に高温化するのを防ぐことができる。さらに、流量の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることができ、異常検知時間を改善することができる。   In the method for producing a single crystal according to the present invention, by doing so, it is possible to control the abnormal water pressure from acting on each chamber, and it is possible to prevent damage to the chamber due to excessive pressure. In addition, each chamber can be efficiently cooled by supplying cooling water at an appropriate flow rate to each chamber, and local temperature rise can be prevented. Furthermore, the abnormality of the cooling water can be easily detected by the change in the flow rate, and the abnormality detection time can be improved.

このとき、設定する冷却水の供給圧力を0.1〜0.5MPaとすることが好ましい。
このように、設定する冷却水の供給圧力を0.1〜0.5MPaとすれば、チャンバに適切な供給圧力の冷却水を供給して、より確実に適正流量を確保できるとともに、チャンバに異常な水圧が働かないよう制御することができる。
At this time, it is preferable that the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa.
Thus, if the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa, it is possible to supply the cooling water with an appropriate supply pressure to the chamber, to ensure an appropriate flow rate more reliably, and to cause abnormalities in the chamber. It is possible to control so that no water pressure works.

またこのとき、圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値を0.5MPaとすることが好ましい。
このように、圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値を0.5MPaとすれば、チャンバに過剰圧力が働くのをより確実に防ぐことができる。
At this time, it is preferable that the predetermined value of the supply pressure of the cooling water when releasing the pressure is 0.5 MPa.
Thus, if the predetermined value of the supply pressure of the cooling water when releasing the pressure is 0.5 MPa, it is possible to more reliably prevent the excessive pressure from acting on the chamber.

またこのとき、供給された冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度と許容最高温度とを比較し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合、警報を発することができる。ここで、許容最高温度を例えば60℃とすることができる。
このように、供給された冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度と許容最高温度とを比較し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合、警報を発すれば、流量に加えて温度の変化により冷却水の異常の検知を容易にすることもでき、異常検知時間をより確実に改善することができる。また、流量を計測するデジタル流量計15が故障した場合にも、温度の変化により冷却水の異常を検知することができる。
At this time, the temperature of the supplied cooling water is periodically measured and recorded, the recorded temperature is compared with the allowable maximum temperature, and an alarm is issued if the recorded temperature is higher than the allowable maximum temperature. Can do. Here, the allowable maximum temperature can be set to 60 ° C., for example.
In this way, the temperature of the supplied cooling water is periodically measured and recorded, the recorded temperature is compared with the maximum allowable temperature, and if the recorded temperature is greater than the maximum allowable temperature, an alarm is issued. For example, it is possible to easily detect the abnormality of the cooling water by changing the temperature in addition to the flow rate, and the abnormality detection time can be improved more reliably. Further, even when the digital flow meter 15 that measures the flow rate fails, an abnormality of the cooling water can be detected by a change in temperature.

次に、ワイヤ19を巻き出すことにより湯面の略中心部に種結晶17の先端を着液させる。そして、径を所望の直径まで拡大して目的とする品質の単結晶棒6を成長させていく。その後、ルツボ保持軸21を適宜の方向に回転させるとともに、ワイヤ19を回転させながら巻き取り、種結晶17を引上げることにより、単結晶棒6を製造することができる。   Next, the wire 19 is unwound so that the tip of the seed crystal 17 is deposited on the approximate center of the molten metal surface. Then, the single crystal rod 6 having a desired quality is grown by expanding the diameter to a desired diameter. Thereafter, the single crystal rod 6 can be manufactured by rotating the crucible holding shaft 21 in an appropriate direction, winding the wire 19 while rotating it, and pulling up the seed crystal 17.

以下、本発明の実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples of the present invention, but the present invention is not limited to these.

(実施例1)
図1に示すような本発明に係る単結晶製造装置のメインチャンバがさらにミドルチャンバとボトムチャンバに分割されている単結晶製造装置を用いて直径200mmのシリコン単結晶を育成した。ここで、単結晶製造装置に冷却水供給元として工場の冷却水集中供給装置を接続し、冷却水集中供給装置で加圧された冷却水が冷却水経路の入口の冷却水入口主管から導入される構成とした。そして、単結晶育成中に冷却水集中供給装置での供給圧力を変更した際の各チャンバへ供給する冷却水の供給圧力を圧力計により測定し評価した。
Example 1
A silicon single crystal having a diameter of 200 mm was grown using a single crystal manufacturing apparatus in which the main chamber of the single crystal manufacturing apparatus according to the present invention as shown in FIG. 1 is further divided into a middle chamber and a bottom chamber. Here, a cooling water concentration supply device of a factory is connected to the single crystal manufacturing device as a cooling water supply source, and the cooling water pressurized by the cooling water concentration supply device is introduced from the cooling water inlet main pipe at the inlet of the cooling water path. The configuration is as follows. And the supply pressure of the cooling water supplied to each chamber at the time of changing the supply pressure in the cooling water concentration supply apparatus during single crystal growth was measured and evaluated with a pressure gauge.

ここで、単結晶製造装置の設定圧力は0.3MPaとし、冷却水集中供給装置での供給圧力を初期値の0.3MPaから0.4MPaに原料溶融終了後に変更するようにした。
結果を表1に示す。表1に示すように、冷却水集中供給装置での供給圧力が変化しても各チャンバーに働く圧力は変化せず、設定圧力通りの圧力が働いていることが分かる。
このことにより、本発明に係る単結晶製造装置及び単結晶製造方法は、適切な量の流量を供給し、工場供給側の圧力が設定圧力より高くなっても、チャンバに働く圧力を一定に制御することができ、過剰圧力によるチャンバの破損を防止することができることが確認できた。
Here, the set pressure of the single crystal manufacturing apparatus was set to 0.3 MPa, and the supply pressure in the cooling water concentrated supply apparatus was changed from the initial value of 0.3 MPa to 0.4 MPa after the raw material was melted.
The results are shown in Table 1. As shown in Table 1, it can be seen that even if the supply pressure in the cooling water concentration supply device changes, the pressure acting on each chamber does not change, and the pressure according to the set pressure works.
As a result, the single crystal manufacturing apparatus and the single crystal manufacturing method according to the present invention supply an appropriate amount of flow rate, and control the pressure acting on the chamber to be constant even when the pressure on the factory supply side becomes higher than the set pressure. It was confirmed that the chamber could be prevented from being damaged by excessive pressure.

(実施例2)
実施例1と同様の単結晶製造装置を用いて直径200mmのシリコン単結晶を育成し、育成中にミドルチャンバへの冷却水の流量を減少させた時の警報を発するまでの時間を評価した。ここで、設定流量を55L/minとし、育成中に10L/minまで流量を減少させた。また、警報を発する際、デジタル流量計で測定した流量が流量調整弁に設定した流量、すなわち55L/minより小さくなった場合に警報を発するようにした。
(Example 2)
A silicon single crystal having a diameter of 200 mm was grown using the same single crystal manufacturing apparatus as in Example 1, and the time until an alarm was issued when the flow rate of cooling water to the middle chamber was reduced during the growth was evaluated. Here, the set flow rate was 55 L / min, and the flow rate was reduced to 10 L / min during the growth. Further, when an alarm is issued, an alarm is issued when the flow rate measured by the digital flow meter becomes smaller than the flow rate set in the flow rate adjustment valve, that is, 55 L / min.

結果を表2に示す。表2に示すように、後述する比較例2の結果と比べ短時間で流量減少を感知し、警報を発していることが分かる。
このことにより、本発明に係る単結晶製造装置及び単結晶製造方法は、冷却水の異常検知時間を改善することができることが確認できた。
The results are shown in Table 2. As shown in Table 2, it can be seen that a decrease in the flow rate is sensed and a warning is issued in a shorter time than the result of Comparative Example 2 described later.
Accordingly, it was confirmed that the single crystal manufacturing apparatus and the single crystal manufacturing method according to the present invention can improve the cooling water abnormality detection time.

(実施例3)
ミドルチャンバへの冷却水の流量を減少させた量を変化させた以外、実施例2と同様にしてシリコン単結晶を育成し、警報を発するまでの最長時間、警報を発したときのチャンバのフランジの温度及び警報を発したときの冷却水の温度を評価した。
警報を発するまでの時間の結果を図4に示す。図4に示すように、警報を発するまでの時間はほぼ一定であることが分かる。それに対して後述する比較例3では、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発するまでの最長時間が増加していくことが分かる。
Example 3
Except for changing the amount by which the flow rate of cooling water to the middle chamber was reduced, the longest time to grow a silicon single crystal and issue an alarm in the same manner as in Example 2, and the flange of the chamber when the alarm was issued The temperature of the cooling water and the temperature of the cooling water when an alarm was issued were evaluated.
The result of the time until the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 4, it can be seen that the time until the alarm is issued is substantially constant. On the other hand, in Comparative Example 3 to be described later, it can be seen that the longest time until the alarm is issued increases as the amount of decreased flow increases.

警報を発したときのチャンバのフランジの温度の結果を図5に示す。図5に示すように、警報を発したときのチャンバのフランジの温度はほぼ一定であることが分かる。それに対して後述する比較例3では、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発したときのチャンバのフランジの温度が高くなることが分かる。   The result of the temperature of the chamber flange when the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 5, it can be seen that the temperature of the flange of the chamber when the alarm is issued is substantially constant. On the other hand, in Comparative Example 3 to be described later, it can be seen that the temperature of the flange of the chamber increases when the alarm is issued as the amount of decrease in the flow rate increases.

警報を発したときの冷却水の温度の結果を図6に示す。図6に示すように、警報を発したときの冷却水の温度はほぼ一定であることが分かる。それに対して後述する比較例3では、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発したときの冷却水の温度が高くなることが分かる。   The result of the temperature of the cooling water when the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 6, it can be seen that the temperature of the cooling water when the alarm is issued is substantially constant. On the other hand, in the comparative example 3 mentioned later, it turns out that the temperature of the cooling water at the time of issuing a warning becomes high, so that the quantity which reduced the flow volume increases.

(比較例1)
図7に示すような、分割された各チャンバの冷却水経路は、圧力調整弁、圧力開放弁、デジタル流量計を有さず、冷却水の供給圧力は工場全体の一括集中供給装置で制御する従来の単結晶製造装置及び製造方法を用いた以外、実施例1と同様な条件でシリコン単結晶を製造し、実施例1と同様な方法で冷却水の供給圧力を評価した。
結果を表3に示す。表3に示すように、冷却水集中供給装置での供給圧力が変化すると同様にチャンバに働く圧力が変化することが分かる。工場側の供給圧力がチャンバの設計圧力より大きくなれば、その圧力がチャンバに作用してチャンバが破損することがここから容易に推察される。また、設定流量、設定警報流量に対し、実際流量、発報時の流量はフロースイッチの不安定さにより実施例1の表1に比較して変動していることが分かる。
(Comparative Example 1)
The cooling water path of each divided chamber as shown in FIG. 7 does not have a pressure regulating valve, a pressure release valve, and a digital flow meter, and the cooling water supply pressure is controlled by a collective centralized supply device of the entire factory. A silicon single crystal was produced under the same conditions as in Example 1 except that the conventional single crystal production apparatus and production method were used, and the supply pressure of cooling water was evaluated in the same manner as in Example 1.
The results are shown in Table 3. As shown in Table 3, it can be seen that the pressure acting on the chamber changes as the supply pressure in the cooling water concentration supply device changes. If the supply pressure on the factory side becomes larger than the design pressure of the chamber, it is easily inferred from this that the pressure acts on the chamber and the chamber is damaged. In addition, it can be seen that the actual flow rate and the flow rate at the time of alarming change with respect to the set flow rate and the set alarm flow rate as compared with Table 1 of Example 1 due to the instability of the flow switch.

(比較例2)
比較例1と同様の従来の単結晶製造装置及び製造方法を用いた以外、実施例2と同様な条件でシリコン単結晶を製造し、実施例2と同様な方法で警報を発するまでの時間を評価した。
結果を表4に示す。表4に示すように、実施例2と比較して警報を発するまでの時間がかかっていることが分かる。
(Comparative Example 2)
Except for using the same conventional single crystal manufacturing apparatus and manufacturing method as in Comparative Example 1, a silicon single crystal was manufactured under the same conditions as in Example 2, and the time until an alarm was issued in the same manner as in Example 2 was set. evaluated.
The results are shown in Table 4. As shown in Table 4, it can be seen that it takes time to issue an alarm as compared with Example 2.

(比較例3)
比較例1と同様の従来の単結晶製造装置及び製造方法を用いた以外、実施例3と同様な条件でシリコン単結晶を製造し、実施例3と同様な方法で警報を発するまでの最長時間、警報を発したときのチャンバのフランジの温度及び警報を発したときの冷却水の温度を評価した。
(Comparative Example 3)
The maximum time until a silicon single crystal is produced under the same conditions as in Example 3 and an alarm is issued in the same manner as in Example 3 except that the conventional single crystal production apparatus and production method similar to those in Comparative Example 1 are used. The temperature of the flange of the chamber when the alarm was issued and the temperature of the cooling water when the alarm was issued were evaluated.

警報を発するまでの時間の結果を図4に示す。図4に示すように、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発するまでの最長時間が増加していくことが分かる。
警報を発したときのチャンバのフランジの温度の結果を図5に示す。図5に示すように、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発したときのチャンバのフランジの温度が高くなることが分かる。
警報を発したときの冷却水の温度の結果を図6に示す。図6に示すように、流量を減少させた量が多くなるほど警報を発したときの冷却水の温度が高くなることが分かる。
The result of the time until the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 4, it can be seen that the longer the amount of decrease in the flow rate, the longer the longest time until an alarm is issued.
The result of the temperature of the chamber flange when the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 5, it can be seen that the greater the amount by which the flow rate is reduced, the higher the temperature of the flange of the chamber when the alarm is issued.
The result of the temperature of the cooling water when the alarm is issued is shown in FIG. As shown in FIG. 6, it can be seen that the temperature of the cooling water when the alarm is issued increases as the amount of decrease in the flow rate increases.

Figure 0004984092
Figure 0004984092

Figure 0004984092
Figure 0004984092

Figure 0004984092
Figure 0004984092

Figure 0004984092
Figure 0004984092

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.

本発明に係る単結晶製造装置の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the single crystal manufacturing apparatus which concerns on this invention. 図1に示す単結晶製造装置の断面概略図である。It is the cross-sectional schematic of the single crystal manufacturing apparatus shown in FIG. 本発明に係る単結晶製造装置及び単結晶製造方法で用いることができる冷却水の流量の設定値と設定警報流量の設定手順の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting procedure of the setting value of the flow volume of the cooling water which can be used with the single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method which concern on this invention, and a setting alarm flow volume. 実施例3、比較例3の警報を発するまでの時間の結果を示す図である。It is a figure which shows the result of the time until issuing the alarm of Example 3 and the comparative example 3. FIG. 実施例3、比較例3の警報を発したときのチャンバのフランジの温度の結果を示す図である。It is a figure which shows the result of the temperature of the flange of a chamber when issuing the alarm of Example 3 and the comparative example 3. FIG. 実施例3、比較例3の警報を発したときの冷却水の温度の結果を示す図である。It is a figure which shows the result of the temperature of the cooling water when the alarm of Example 3 and the comparative example 3 was issued. 従来の単結晶製造装置の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the conventional single crystal manufacturing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1…単結晶製造装置、2…プルチャンバ、3…トップチャンバ、
4…メインチャンバ、5…ベースプレート、6…単結晶棒、
7…原料融液、8、9…ルツボ、10…ヒータ、11…圧力調整弁、
12…流量調整弁、13…流量計、14…圧力開放弁、15…デジタル流量計、
16…温度センサー、17…種結晶、18…種ホルダ、19…ワイヤ、
20…引上げ機構、21…ルツボ回転軸、22…断熱部材、23…ガス導入口、
24…ガス流出口、25…冷却筒、26…冷却補助部材、27…フランジ、
28…アイソレーションバルブ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Single crystal manufacturing apparatus, 2 ... Pull chamber, 3 ... Top chamber,
4 ... main chamber, 5 ... base plate, 6 ... single crystal rod,
7 ... Raw material melt, 8, 9 ... Crucible, 10 ... Heater, 11 ... Pressure regulating valve,
12 ... Flow control valve, 13 ... Flow meter, 14 ... Pressure release valve, 15 ... Digital flow meter,
16 ... Temperature sensor, 17 ... Seed crystal, 18 ... Seed holder, 19 ... Wire,
20 ... Pulling mechanism, 21 ... Crucible rotating shaft, 22 ... Heat insulation member, 23 ... Gas inlet,
24 ... Gas outlet, 25 ... Cooling cylinder, 26 ... Cooling auxiliary member, 27 ... Flange,
28 ... Isolation valve.

Claims (8)

チャンバ内に収容されたルツボ内の原料をヒータにより加熱して原料融液とし、前記加熱された原料融液に種結晶を着液して下方に単結晶を育成するチョクラルスキー法による単結晶製造装置であって、
前記チャンバが複数に分割され、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を有し、該それぞれの冷却水経路上に、前記チャンバに供給する冷却水の供給圧力を調整する圧力調整弁と、流量を調整する流量調整弁及び流量計と、前記冷却水の供給圧力を開放する圧力開放弁と、前記チャンバから排出される冷却水の流量を測定するデジタル流量計とを有し、
前記分割されたそれぞれのチャンバに供給する冷却水の流量及び圧力を前記それぞれの冷却水経路毎の前記圧力調整弁及び前記流量調整弁に設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を前記デジタル流量計で定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記圧力開放弁により前記冷却水の供給圧力を開放するものであることを特徴とする単結晶製造装置。
A single crystal by the Czochralski method in which the raw material in the crucible accommodated in the chamber is heated by a heater to form a raw material melt, a seed crystal is deposited in the heated raw material melt, and a single crystal is grown below. Manufacturing equipment,
The chamber is divided into a plurality of parts, each of the divided chambers has an individual cooling water path for cooling by supplying and discharging cooling water, and the chamber is supplied to the chamber on each cooling water path A pressure adjusting valve for adjusting the supply pressure of the cooling water, a flow rate adjusting valve and a flow meter for adjusting the flow rate, a pressure release valve for releasing the supply pressure of the cooling water, and a flow rate of the cooling water discharged from the chamber A digital flow meter to measure
The flow rate and pressure of the cooling water supplied to each of the divided chambers are set in the pressure adjustment valve and the flow rate adjustment valve for each of the cooling water paths, and the cooling water discharged from each of the divided chambers. The water flow rate is periodically measured and recorded by the digital flow meter, an alarm is issued when the recorded flow rate is smaller than a predetermined value, and the cooling water supply pressure for each of the cooling water paths is measured. When the pressure exceeds a predetermined value, the cooling water supply pressure is released by the pressure release valve in the cooling water path.
前記設定する冷却水の供給圧力が0.1〜0.5MPaであることを特徴とする請求項1に記載の単結晶製造装置。   The apparatus for producing a single crystal according to claim 1, wherein the cooling water supply pressure to be set is 0.1 to 0.5 MPa. 前記圧力開放弁により圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値が0.5MPaであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の単結晶製造装置。   The single crystal manufacturing apparatus according to claim 1 or 2, wherein a predetermined value of a supply pressure of the cooling water when the pressure is released by the pressure release valve is 0.5 MPa. 前記供給された冷却水の温度を測定する温度センサーを有し、前記冷却水の温度を前記温度センサーで定期的に測定して記録し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発するものであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の単結晶製造装置。   A temperature sensor for measuring the temperature of the supplied cooling water, periodically measuring and recording the temperature of the cooling water with the temperature sensor, and providing an alarm when the recorded temperature is greater than the allowable maximum temperature. The single crystal manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the single crystal manufacturing apparatus is a device that emits light. チャンバ内に収容されたルツボ内の原料をヒータにより加熱して原料融液とし、前記加熱された原料融液に種結晶を着液して下方に単結晶を育成するチョクラルスキー法による単結晶製造方法であって、
前記チャンバを複数に分割し、該分割されたチャンバ毎に冷却水を供給及び排出することによって冷却するための個別の冷却水経路を設け、該それぞれの冷却水経路毎に供給する冷却水の流量及び圧力を設定し、前記分割されたそれぞれのチャンバから排出される冷却水の流量を定期的に測定して記録し、該記録した流量が所定の値より小さい場合に警報を発し、前記それぞれの冷却水経路毎の冷却水の供給圧力を測定して該圧力が所定の値を越えた場合にその冷却水経路の前記冷却水の供給圧力を開放することを特徴とする単結晶製造方法。
A single crystal by the Czochralski method in which the raw material in the crucible accommodated in the chamber is heated by a heater to form a raw material melt, a seed crystal is deposited in the heated raw material melt, and a single crystal is grown below. A manufacturing method comprising:
The chamber is divided into a plurality of parts, and individual cooling water paths are provided for cooling by supplying and discharging the cooling water for each of the divided chambers, and the flow rate of the cooling water supplied for each of the cooling water paths And set the pressure, periodically measure and record the flow rate of the cooling water discharged from each of the divided chambers, and issue an alarm when the recorded flow rate is smaller than a predetermined value, A method for producing a single crystal, comprising: measuring a cooling water supply pressure for each cooling water path and releasing the cooling water supply pressure in the cooling water path when the pressure exceeds a predetermined value.
前記設定する冷却水の供給圧力を0.1〜0.5MPaとすることを特徴とする請求項5に記載の単結晶製造方法。   6. The method for producing a single crystal according to claim 5, wherein the supply pressure of the cooling water to be set is 0.1 to 0.5 MPa. 前記圧力開放する際の前記冷却水の供給圧力の所定値を0.5MPaとすることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の単結晶製造方法。   The method for producing a single crystal according to claim 5 or 6, wherein a predetermined value of a supply pressure of the cooling water when releasing the pressure is 0.5 MPa. 前記供給された冷却水の温度を定期的に測定して記録し、該記録した温度と許容最高温度とを比較し、該記録した温度が許容最高温度より大きい場合に警報を発することを特徴とする請求項5乃至請求項7のいずれか1項に記載の単結晶製造方法。
The temperature of the supplied cooling water is periodically measured and recorded, the recorded temperature is compared with an allowable maximum temperature, and an alarm is issued when the recorded temperature is higher than the allowable maximum temperature. The method for producing a single crystal according to any one of claims 5 to 7.
JP2008329008A 2008-12-25 2008-12-25 Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method Active JP4984092B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008329008A JP4984092B2 (en) 2008-12-25 2008-12-25 Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008329008A JP4984092B2 (en) 2008-12-25 2008-12-25 Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010150070A JP2010150070A (en) 2010-07-08
JP4984092B2 true JP4984092B2 (en) 2012-07-25

Family

ID=42569590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008329008A Active JP4984092B2 (en) 2008-12-25 2008-12-25 Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4984092B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020177375A1 (en) * 2019-03-07 2020-09-10 隆基绿能科技股份有限公司 Furnace pressure abnormality processing method and device, and storage medium

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS544207A (en) * 1977-06-13 1979-01-12 Nippon Kokan Kk <Nkk> Detecting and controlling apparatus for leakage of water in cooling system for furnace wall
JPH0248783Y2 (en) * 1984-08-31 1990-12-20
JPH07144992A (en) * 1993-11-22 1995-06-06 Komatsu Electron Metals Co Ltd Production of semiconductor single crystal
JP4983354B2 (en) * 2007-04-06 2012-07-25 株式会社Sumco Single crystal growth equipment
JP2008275512A (en) * 2007-05-01 2008-11-13 Espec Corp Aging device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020177375A1 (en) * 2019-03-07 2020-09-10 隆基绿能科技股份有限公司 Furnace pressure abnormality processing method and device, and storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010150070A (en) 2010-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101279736B1 (en) System for continuous growing of monocrystalline silicon
KR101385997B1 (en) Apparatus for producing single crystal and method for producing single crystal
KR20120070080A (en) Single crystal growth device
JP4984092B2 (en) Single crystal manufacturing apparatus and single crystal manufacturing method
CN104651938A (en) Method for producing SiC single crystal
JPH10158088A (en) Production of solid material and device therefor
US6740160B2 (en) Crystal growing apparatus
JP4672579B2 (en) Method for recharging solid raw materials
KR101279390B1 (en) Apparatus for growing single crystal ingot and method for spraying gas in ingot growing apparatus
JP7398702B2 (en) Single crystal growth equipment and single crystal growth equipment protection method
JP6263999B2 (en) Method for growing silicon single crystal
TWI471463B (en) Measurement and compensation system for ingot growth and method thereof
JP4983354B2 (en) Single crystal growth equipment
KR101679071B1 (en) Melt Gap Controlling System, Method of Manufacturing Single Crystal including the Melt Gap Controlling System
JP6777908B1 (en) Single crystal growth device, how to use the single crystal growth device, and single crystal growth method
JP5181171B2 (en) Semiconductor single crystal manufacturing method
JP2014091656A (en) Molten liquid leakage detector of single crystal producing device
KR20210001300A (en) Manufacturing apparatus for siliconcarbide single crystal
KR102429973B1 (en) Crucible lift bellows chiller for single crystal ingot grower
US9476141B2 (en) Weir for inhibiting melt contamination
JP2013256424A (en) Apparatus for growing sapphire single crystal
JP2012240865A (en) Single crystal pulling apparatus, and method for controlling the same
US20240003044A1 (en) Silicon single crystal growing method
JP2005082433A (en) Apparatus for manufacturing single crystal and solidification contact monitoring method
JP2006273642A (en) Silicon single crystal pulling device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120312

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120328

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120410

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4984092

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250