JP4963284B2 - Standard data creation method - Google Patents

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Description

本発明は、検査対象物を検査する際に使用される基準データを作成する方法に関するものである。   The present invention relates to a method of creating reference data used when inspecting an inspection object.

一般に、プリント基板などの形成状態を検査する場合、カメラによってその表面画像を取得し、基準データと比較することによってプリント基板の形成状態を判定する。   Generally, when inspecting the formation state of a printed circuit board or the like, the surface image is acquired by a camera, and the formation state of the printed circuit board is determined by comparing with a reference data.

そして、このような自動外観検査装置で基準データを作成しておく場合、通常は、あらかじめ全体の形状や配線パターンなどの基準データを作成して記憶部に格納しておくとともに、共通する領域が多数出現する場合は、その領域に対応するライブラリを作成し、そのライブラリにその領域に対応する基準データを記憶部に格納する(特許文献1、特許文献2など)。なお、ここで「基準データ」とは、検査に際してあらかじめ記憶されるデータであって、検査対象となる検査対象物から得られたデータと比較されることによって使用されるデータである。この基準データは、目視検査や他の自動検査装置によって良品と判定されたプリント基板から生成され、あるいは、プリント基板を生成する際に用いられたCADデータなどから生成される。   When the reference data is created by such an automatic visual inspection apparatus, normally, reference data such as the entire shape and wiring pattern is created in advance and stored in the storage unit. When many appear, a library corresponding to the area is created, and reference data corresponding to the area is stored in the storage unit in the storage unit (Patent Document 1, Patent Document 2, etc.). Here, the “reference data” is data stored in advance at the time of inspection, and is used by comparing with data obtained from an inspection object to be inspected. The reference data is generated from a printed circuit board that is determined to be a non-defective product by visual inspection or other automatic inspection apparatus, or is generated from CAD data used when generating the printed circuit board.

図6に、従来の自動検査装置における基準データの構造を示す。図において符号41は、全体の基準データである。この全体の基準データは、プリント基板の大きさや外形の形状などの他、そのプリント基板において一度しか出現しない配線パターンやシルク、レジストなどに関する基準データである。また、符号42は、ライブラリであって、プリント基板中に同じ領域が多数出現する場合に共通して用いられる基準データである。このライブラリは、共通する領域ごとに独立して設けられ、全体領域の対応する領域に関連付けされて記憶される。   FIG. 6 shows the structure of reference data in a conventional automatic inspection apparatus. In the figure, reference numeral 41 denotes overall reference data. The entire reference data is reference data relating to a wiring pattern, silk, resist, and the like that appear only once on the printed circuit board, in addition to the size and outer shape of the printed circuit board. Reference numeral 42 denotes a library, which is reference data used in common when a large number of the same area appears in the printed circuit board. This library is provided independently for each common area, and is stored in association with the corresponding area of the entire area.

そして、検査対象物を検査する際には、カメラによってプリント基板の画像を取得し、全体の形状や配線パターンなどに関しては全体の基準データと比較することによって良否を判定する。このとき、何度も出現する共通の領域については、その領域と関連付けされたライブラリを参照し、そのライブラリに格納された基準データと比較することによってその領域の良否状態を判定する。
特開2006−330003号公報 特開2006−250610号公報
When the inspection object is inspected, an image of the printed circuit board is acquired by a camera, and the overall shape, wiring pattern, and the like are determined by comparing with the entire reference data. At this time, for a common area that appears many times, the library associated with the area is referred to, and the quality of the area is determined by comparing with the reference data stored in the library.
JP 2006-330003 A JP 2006-250610 A

しかしながら、このようにライブラリによって基準データを作成する場合、次のような問題を生ずる。   However, when the reference data is created by the library as described above, the following problems occur.

まず、第一に、共通する領域ごとにライブラリを作成して基準データを格納する方法では、ライブラリごとに基準データ作成のための画面を用意し、その画面に従って個別に基準データを作成(あるいは、編集)していかなければならない。しかしながら、このような方法では、ライブラリごとに基準データを作成するための画面を用意しなければならないために、コストや手間がかかってしまう。また、異なる領域ごとに他の基準データ作成用の画面を表示させて基準データを作成しなければならず、作業が煩雑になり、手間がかかってしまう。   First of all, in the method of creating a library for each common area and storing the reference data, prepare a reference data creation screen for each library and create the reference data individually according to the screen (or Edit). However, in such a method, since a screen for creating reference data must be prepared for each library, cost and labor are required. In addition, the reference data must be created by displaying another reference data creation screen for each different area, which complicates the work and takes time.

さらには、ライブラリごとに個別の画面を用いて基準データを作成する方法であると、そのライブラリに対応する領域が全体のどの位置に存在し、また、検査領域全体に対してどのような位置付けであるのかを感覚的に判断することが困難なため、基準データの全体像が把握しづらくなるといった問題を有する。   Furthermore, when the reference data is created using an individual screen for each library, the area corresponding to the library is located at any position in the whole, and at what position the entire inspection area is positioned. Since it is difficult to sensuously judge whether there is any, there is a problem that it is difficult to grasp the whole image of the reference data.

そこで、本発明は上記課題に着目してなされたもので、低コストで、かつ、簡単な操作で全体像を把握しながら、基準データを作成できるようにした基準データ作成方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention has been made paying attention to the above-mentioned problems, and provides a reference data creation method that enables creation of reference data while grasping the overall image at a low cost and with a simple operation. Objective.

すなわち、本発明は上記課題を解決するために、基準対象物から取得した画像に基づいて検査対象物の検査に使用される基準データを作成する基準データ作成方法において、ディスプレイに、基準対象物から取得された広域画像を表示させる第一表示領域と、当該広域画像の一部の領域を表示させる第二表示領域と、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データを作成するための基準データ作成領域とを備え、前記第二表示領域に表示された画像の一部の選択を受け付けることによって、第二表示領域に表示されていた画像を前記第一表示領域に表示させるとともに、当該選択された一部の領域の画像を前記第二表示領域に表示させ、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データの作成を受け付けるようにしたものである。   That is, in order to solve the above problems, the present invention provides a reference data creation method for creating reference data used for inspection of an inspection object based on an image acquired from the reference object. To create reference data based on the first display area for displaying the acquired wide area image, the second display area for displaying a partial area of the wide area image, and the image displayed in the second display area And receiving the selection of a part of the image displayed in the second display area to display the image displayed in the second display area in the first display area, An image of the selected partial area is displayed in the second display area, and creation of reference data is accepted based on the image displayed in the second display area A.

このようにすれば、広域画像から順次その一部分の画像に対する基準データまでを入れ子構造化し、これらの基準データを共通化された一の画面で作成することができるため、独立して基準データを作成する場合に比べて、容易に基準データを作成することができるようになる。しかも、全体画像の中における該当領域の位置付けを把握しながら基準データを作成することができるため、全体像を把握しながら基準データを作成することができるようになる。さらに、従来のようにライブラリごとに基準データを作成するための画面を立ち上げなくてよいため、入力作業が楽になり、基準データ作成のための時間も短縮化することができるようになる。   In this way, it is possible to create a nested structure from the wide area image to the reference data for a part of the image in order, and create these reference data on a common screen. Compared to the case, the reference data can be easily created. In addition, since the reference data can be created while grasping the position of the corresponding region in the whole image, the reference data can be created while grasping the whole image. Further, since it is not necessary to start up a screen for creating reference data for each library as in the prior art, the input work becomes easier and the time for creating reference data can be shortened.

そして、このような発明において、第二表示領域で選択された領域の画像を第二表示領域に表示させる場合、選択された領域を拡大して第二表示領域に表示させるようにする。   In such an invention, when the image of the area selected in the second display area is displayed in the second display area, the selected area is enlarged and displayed in the second display area.

このようにすれば、入れ子構造における下階に進むに従って画像が小さくなってしまい、基準データを作成できなくなるといった問題を解決することができ、また、画像を拡大表示させる際に、画像がぼやけるなどして基準データを作成することができないような場合は、解像度を上げて再度画像を取得するなどの作業に反映させることができるようになる。   In this way, it is possible to solve the problem that the image becomes smaller and the reference data cannot be created as it proceeds to the lower floor in the nested structure, and the image becomes blurred when the image is enlarged and displayed. If the reference data cannot be created, it can be reflected in work such as increasing the resolution and acquiring an image again.

さらには、第二表示領域に表示されている領域に対応する領域を、前記第一表示領域内で他の領域と区別して表示させるようにする。   Furthermore, an area corresponding to the area displayed in the second display area is displayed separately from the other areas in the first display area.

このようにすれば、第二表示領域に表示されている画像が広域画像の中のどこに位置しているかを容易に把握させることができ、全体における位置付けや重要度を判断して基準データを作成させることができるようになる。   In this way, it is possible to easily grasp where the image displayed in the second display area is located in the wide area image, and create the reference data by judging the overall positioning and importance To be able to.

本発明によれば、基準対象物から取得した画像から検査対象物の検査に使用される基準データを作成する基準データ作成方法において、ディスプレイに、基準対象物から取得された広域画像を表示させる第一表示領域と、当該広域画像の一部の領域を表示させる第二表示領域と、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データを作成するための基準データ作成領域とを備え、前記第二表示領域に表示された画像の一部の選択を受け付けることによって、第二表示領域に表示されていた画像を前記第一表示領域に表示させるとともに、当該選択された一部の領域の画像を前記第二表示領域に表示させ、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データの作成を受け付けるようにしたので、独立して基準データを作成する場合に比べて、容易に基準データを作成することができるようになる。しかも、全体画像の中における該当領域の位置付けを把握しながら基準データを作成していくことができるため、全体像を把握しながら基準データを作成することができるようになる。さらに、従来のようにライブラリごとに基準データを作成するための画面を立ち上げなくてよいため、入力作業が楽になり、基準データ作成のための時間も短縮化することができるようになる。   According to the present invention, in the reference data creation method for creating the reference data used for the inspection of the inspection object from the image acquired from the reference object, the display displays the wide area image acquired from the reference object. A display area, a second display area for displaying a partial area of the wide area image, and a reference data creation area for creating reference data based on the image displayed in the second display area, By accepting selection of a part of the image displayed in the second display area, the image displayed in the second display area is displayed in the first display area, and the selected part of the area is displayed. When displaying the image in the second display area and accepting the creation of the reference data based on the image displayed in the second display area. Compared to easily it is possible to create a reference data. In addition, since the reference data can be created while grasping the position of the corresponding region in the whole image, the reference data can be created while grasping the whole image. Further, since it is not necessary to start up a screen for creating reference data for each library as in the prior art, the input work becomes easier and the time for creating reference data can be shortened.

以下、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、この基準データ作成方法が使用される外観検査システム1の概要を示したものであり、基準データ作成装置2と、自動外観検査装置3を示したものである。また、図2は、この外観検査システム1の機能ブロックを示したものである。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an outline of an appearance inspection system 1 in which this reference data creation method is used, and shows a reference data creation device 2 and an automatic appearance inspection device 3. FIG. 2 shows functional blocks of the appearance inspection system 1.

外観検査システム1は、基準データ作成装置2と自動外観検査装置3を備えて構成されるもので、基準データ作成装置2で作成された基準データを記憶部27(図2参照)に格納し、その記憶された基準データと自動外観検査装置3で得られたデータとを比較して検査対象物4bの良否を判定できるようにしたものである。この外観検査システム1のうち、基準データ作成装置2は、良品となる基準対象物4aの表面画像を取得する画像取得部21と、この画像取得部21によって取得された画像に基づいて基準データを作成するコンピューター22とを備える。このコンピューター22は、汎用のパーソナルコンピューターであってもよく、あるいは、基準データを作成するためだけに用いられる専用コンピューターであってもよい。もしくは、自動外観検査装置3の表示部や入力部などを備えたコンピューターと兼用できるようにしてもよいが、少なくとも、ディスプレイ23やキーボード・マウスなどの入力装置24、CPU、ROMやRAMなどの記憶装置などを備えるようにする。そして、その画像取得部21から取得された基準対象物4aの画像に基づいて、領域ごとの基準データを作成し、これを記憶部27に格納させておく。   The appearance inspection system 1 includes a reference data creation device 2 and an automatic appearance inspection device 3, and stores reference data created by the reference data creation device 2 in a storage unit 27 (see FIG. 2). The stored reference data and the data obtained by the automatic visual inspection apparatus 3 are compared so that the quality of the inspection object 4b can be determined. In this appearance inspection system 1, the reference data creation device 2 includes an image acquisition unit 21 that acquires a surface image of a reference object 4 a that is a non-defective product, and reference data based on the image acquired by the image acquisition unit 21. And a computer 22 to be created. The computer 22 may be a general-purpose personal computer or a dedicated computer used only for creating reference data. Alternatively, the automatic visual inspection apparatus 3 may be used as a computer having a display unit, an input unit, etc., but at least a display 23, an input device 24 such as a keyboard / mouse, a CPU, a ROM, a RAM, etc. Provide equipment. Based on the image of the reference object 4 a acquired from the image acquisition unit 21, reference data for each region is created and stored in the storage unit 27.

一方、自動外観検査装置3は、検査対象物4bの形成状態を自動的に検査できるようにしたものであって、複数の検査対象物4bを集積するスタッカ31と、このスタッカ31から一枚ずつ検査対象物4bをステージに載置して画像取得部34まで搬送する移送機構32と、画像取得部34から取得された画像に基づいて判定を行い、その判定結果に基づいて検査対象物4bを振り分けて回収する回収機構33とを備えて構成される。そして、画像取得部34によって取得された検査対象物4bの画像に基づいて検査する際、その画像をA/D変換して各領域ごとに画像を分割して抽出し、その分割した画像から得られたデータとあらかじめ記憶部27に格納されていた基準データとを比較して良否判定を行えるようにする。   On the other hand, the automatic appearance inspection apparatus 3 is configured to automatically inspect the formation state of the inspection object 4b. The stacker 31 accumulates a plurality of inspection objects 4b and the stacker 31 one by one. Determination is performed based on the transfer mechanism 32 that places the inspection object 4b on the stage and conveys it to the image acquisition unit 34, and the image acquired from the image acquisition unit 34, and the inspection object 4b is determined based on the determination result. And a collection mechanism 33 for sorting and collecting. Then, when inspecting based on the image of the inspection object 4b acquired by the image acquisition unit 34, the image is A / D converted, and the image is divided and extracted for each region, and obtained from the divided image. By comparing the received data with the reference data stored in advance in the storage unit 27, it is possible to make a pass / fail judgment.

このような外観検査システム1において、基準データ作成装置2は、カメラやディスプレイ23、CPU、記憶装置、入力装置24などを協働させて、図2に示すような機能を実現させる。   In such an appearance inspection system 1, the reference data creation device 2 realizes the function shown in FIG. 2 by cooperating the camera, the display 23, the CPU, the storage device, the input device 24, and the like.

まず、画像取得部21は、カメラによって基準対象物4aからの表面画像を取得し、検査対象物4bに対して自動外観検査装置3で取得される条件とほぼ同じ条件で基準対象物4aの表面画像を取得する。すなわち、自動外観検査装置3で設定された光の照射角度や画像取得の解像度、検査対象物4bまでの距離などとほぼ同じ条件に設定して表面から画像を取得する。このカメラとしては、CCDラインセンサが用いられ、または、CMOSセンサなどが用いられる。これらのカメラで画像を取得する場合、白黒やフルカラーなどで画像を取得する。   First, the image acquisition unit 21 acquires a surface image from the reference object 4a with a camera, and the surface of the reference object 4a under substantially the same condition as that acquired by the automatic visual inspection apparatus 3 for the inspection object 4b. Get an image. That is, the image is acquired from the surface by setting the light irradiation angle, the image acquisition resolution, the distance to the inspection object 4b, and the like set by the automatic appearance inspection apparatus 3 to be substantially the same. As this camera, a CCD line sensor or a CMOS sensor or the like is used. When images are acquired with these cameras, images are acquired in black and white or full color.

この画像取得部21で取得された画像は、前処理部25にてA/D変換などの処理が行われ、輝度やRGBなどの情報を有する画像情報として記憶部27に格納される。   The image acquired by the image acquisition unit 21 is subjected to processing such as A / D conversion by the preprocessing unit 25 and stored in the storage unit 27 as image information having information such as luminance and RGB.

基準データ作成手段26は、この記憶部27に格納された画像データに基づいて各領域ごとに基準データを作成する。このとき、基準対象物4aとしてプリント基板を用いる場合は、その表面に形成されたパターンやパッド、レジスト、シルクなどごとに画像を分離し、各パターンやパッドごと、あるいは、レジストごと、シルクごとに基準データを作成する。各領域ごとに基準データを作成する場合は、まず、図3に示すように、ディスプレイ23に設けられた左側の第一表示領域231に、例えば、全体画像などのような広域画像を表示させ、マウスなどによってその広域画像内における一部の領域の選択を受け付ける。ここでは、「領域選択」のボタン235が押下された後、マウスなどによって広域画像内で矩形状の領域Aが選択されたものとする。この領域Aは、ICパッケージの4辺からリードピンを引き出した高密度表面実装用のパッケージ(QFP)を含む領域を示したものであり、一枚のプリント基板上で複数箇所出現する領域である。そして、このように領域Aが選択されると、その領域の拡大画像をディスプレイ23における第二表示領域232に拡大した状態で表示し、その第二表示領域232に表示された画像に基づいて基準データの作成を受け付ける。基準データを作成する場合は、選択された領域Aに対してユーザーが識別情報を割り当て、その割り当てられた領域に対して基準データ表示領域233内で個別の基準データを作成する。このとき、パッケージ(QFP)の領域Aに対しては、例えば、そのパッケージ(QFP)の大きさや形状、その領域内における画素の許容輝度幅などの基準データがユーザーによって設定される。次に、このQFPの基準データが作成された後、同様に、第二表示領域232に表示された画像の中から特定領域の画像の選択を受け付け、今まで第二表示領域232に表示されていた画像を第一表示領域231に表示させるとともに、図4に示すように、今回選択された領域の画像を第二表示領域232に拡大して表示させる。なお、図4は、図3における領域Bが選択され、領域選択のボタン236が押下された状態を示している。図3における領域Bは、パッケージ(QFP)のリードピンを示したものであり、その領域Bが選択されることによって、図4に示すように、選択されたリードピンの拡大画像を第二表示領域232に表示させる。そして、同様に、基準データ表示領域233内で、そのリードピンに対する形状や大きさなどに基づいて基準データを作成し、その基準データを記憶部27に格納させていく。また、この作業において、同じパターンが繰り返し出現する場合は、同じ領域について同じ基準データを割り当てる。この同じ基準データの割り当てを行う場合、同じ領域の選択を第一表示領域231内で受け付け、その受け付けた領域に対して同じ識別情報を割り当てていく。以下、同様に、第二表示領域232に表示された画像の中から特定領域の画像の選択を受け付け、今まで第二表示領域232に表示されていた画像を第一表示領域231に表示させるとともに、今回受け付けた領域を拡大処理して第二表示領域232に表示させる。そして、その第二表示領域232に表示された画像に基づいて基準データを作成する。すなわち、入れ子構造として広域画像に対する第一階層の基準データを作成し、また、その一部の画像に対して第二階層の基準データを作成し、さらに、その一部の画像に対して第三階層の基準データを作成していく。なお、ここでは第三階層までの基準データを作成する場合について説明しているが、以下、同様の操作を行うことによって更に下層の基準データを作成してもよい。   The reference data creation means 26 creates reference data for each area based on the image data stored in the storage unit 27. At this time, when a printed circuit board is used as the reference object 4a, an image is separated for each pattern, pad, resist, silk, or the like formed on the surface, and for each pattern, pad, resist, or silk. Create reference data. When creating the reference data for each area, first, as shown in FIG. 3, for example, a wide area image such as an entire image is displayed on the first display area 231 on the left side of the display 23. Selection of a part of the area in the wide area image is accepted by the mouse or the like. Here, it is assumed that a rectangular area A in the wide area image is selected by the mouse or the like after the “area selection” button 235 is pressed. This region A shows a region including a high-density surface mounting package (QFP) in which lead pins are drawn from four sides of the IC package, and is a region appearing at a plurality of locations on one printed board. When the area A is selected in this way, an enlarged image of the area is displayed in an enlarged state in the second display area 232 on the display 23, and a reference is made based on the image displayed in the second display area 232. Accept creation of data. When creating reference data, the user assigns identification information to the selected area A, and creates individual reference data in the reference data display area 233 for the assigned area. At this time, for the area A of the package (QFP), for example, reference data such as the size and shape of the package (QFP) and the allowable luminance width of the pixels in the area are set by the user. Next, after the QFP reference data is created, similarly, selection of an image in a specific area from the images displayed in the second display area 232 is accepted, and the data is displayed in the second display area 232 until now. The displayed image is displayed in the first display area 231, and the image of the area selected this time is enlarged and displayed in the second display area 232 as shown in FIG. FIG. 4 shows a state in which the region B in FIG. 3 is selected and the region selection button 236 is pressed. A region B in FIG. 3 shows a lead pin of the package (QFP). When the region B is selected, an enlarged image of the selected lead pin is displayed in the second display region 232 as shown in FIG. To display. Similarly, reference data is created in the reference data display area 233 based on the shape and size of the lead pin, and the reference data is stored in the storage unit 27. Further, in this work, when the same pattern repeatedly appears, the same reference data is assigned to the same region. When assigning the same reference data, selection of the same area is accepted in the first display area 231 and the same identification information is assigned to the accepted area. Hereinafter, similarly, the selection of the image of the specific area from the images displayed in the second display area 232 is accepted, and the image displayed in the second display area 232 so far is displayed in the first display area 231. The area received this time is enlarged and displayed in the second display area 232. Then, reference data is created based on the image displayed in the second display area 232. That is, first level reference data for a wide area image is created as a nested structure, second level reference data is created for a part of the image, and third part reference data is created for the part of the image. Create reference data for the hierarchy. Here, the case of creating the reference data up to the third hierarchy has been described. However, the lower level reference data may be created by performing the same operation below.

このように基準データ作成手段26によって作成された基準データは、図5に示すような入れ子構造を有する階層構造として記憶部27に格納され、事後的に基準データの編集を行う場合、あるいは、自動外観検査装置3で外観検査を行う場合に読み出される。   The reference data created by the reference data creating means 26 in this way is stored in the storage unit 27 as a hierarchical structure having a nested structure as shown in FIG. 5, and when the reference data is edited later or automatically This is read when the appearance inspection apparatus 3 performs an appearance inspection.

なお、すでに作成された基準データを編集する場合は、記憶部27に格納されていた広域画像を読み出して第一表示領域231に表示させ、その一部の領域の選択を受け付ける。そして、その選択された領域の拡大画像を第二表示領域232に表示させるとともに、その第二表示領域232に表示された領域の基準データを基準データ表示領域233に表示させる。このとき、第二表示領域232に表示された領域を第一表示領域231で特定できるようにすべく、例えば、矩形枠などを付けて第一表示領域231内に表示させる。また、この基準データに対応する領域が複数存在する場合は、第一表示領域231にその対応する領域に矩形枠を付けて表示させる。そして、この広域画像に対する基準データの編集が終了した後、第二表示領域232に表示された画像から更に下層の基準データを編集する場合は、第二表示領域232に表示された画像の中から一部の領域の選択を受け付け、その受け付けた領域に対応する拡大画像を第二表示領域232に表示させる。そして、今まで第二表示領域232に表示されていた画像を第一表示領域231に表示させ、その選択された領域に対応する基準データを記憶部27から読み出して基準データ作成画面に表示させる。このとき、その編集すべき基準データに対応する領域が複数存在する場合は、その対応する領域に矩形枠を付けて第一表示領域231に表示させる。   When editing the already created reference data, the wide area image stored in the storage unit 27 is read out and displayed in the first display area 231 and the selection of a part of the area is accepted. Then, the enlarged image of the selected area is displayed in the second display area 232 and the reference data of the area displayed in the second display area 232 is displayed in the reference data display area 233. At this time, in order to be able to specify the area displayed in the second display area 232 in the first display area 231, for example, a rectangular frame is attached and displayed in the first display area 231. When there are a plurality of areas corresponding to the reference data, the corresponding area is displayed in the first display area 231 with a rectangular frame. Then, after editing the reference data for the wide area image, when editing the reference data in the lower layer from the image displayed in the second display area 232, the image displayed in the second display area 232 is selected from the images displayed in the second display area 232. Selection of a part of the area is accepted, and an enlarged image corresponding to the accepted area is displayed in the second display area 232. Then, the image that has been displayed in the second display area 232 until now is displayed in the first display area 231, and the reference data corresponding to the selected area is read from the storage unit 27 and displayed on the reference data creation screen. At this time, if there are a plurality of areas corresponding to the reference data to be edited, a rectangular frame is attached to the corresponding area and displayed in the first display area 231.

次に、このように作成された基準データを用いて検査対象物4bを検査する自動外観検査装置3の構成について説明する。   Next, the configuration of the automatic visual inspection apparatus 3 that inspects the inspection object 4b using the reference data created in this way will be described.

まず、自動外観検査装置3の記憶部36は、基準データ作成装置2の記憶部27に格納さていた基準データを読み出して格納する。この基準データ作成装置2の記憶部27から基準データを読み出す場合は、携帯可能な記憶媒体に基準データを一旦記憶させ、その記憶媒体から基準データを読み出して記憶させるようにしてもよく、あるいは、インターネットやLANなどのネットワークを用いて読み出せるようにしてもよい。   First, the storage unit 36 of the automatic visual inspection apparatus 3 reads and stores the reference data stored in the storage unit 27 of the reference data creation apparatus 2. When the reference data is read from the storage unit 27 of the reference data creation device 2, the reference data may be temporarily stored in a portable storage medium, and the reference data may be read and stored from the storage medium. You may enable it to read using networks, such as the internet and LAN.

画像取得部34は、カメラによって検査対象物4bの表面画像を取得するもので、斜め方向から光を照射させ、真上に設けられたCCDラインセンサなどのカメラによって表面画像を取得する。この画像取得部34は、前述のように基準データ作成装置2の画像取得部21とほぼ同じ条件で検査対象物4bからの画像を取得する。   The image acquisition unit 34 acquires a surface image of the inspection object 4b by a camera, irradiates light from an oblique direction, and acquires a surface image by a camera such as a CCD line sensor provided directly above. As described above, the image acquisition unit 34 acquires an image from the inspection object 4b under substantially the same conditions as the image acquisition unit 21 of the reference data creation device 2.

前処理部35は、基準データ作成装置2の前処理部25と同様に、画像取得部34で取得された画像をA/D変換し、輝度やRGBなどを有する画像情報として記憶する。   Similar to the preprocessing unit 25 of the reference data creation device 2, the preprocessing unit 35 performs A / D conversion on the image acquired by the image acquisition unit 34 and stores it as image information having luminance, RGB, and the like.

判定部37は、このように取得された画像を特定領域ごとに分割処理し、その分割処理された領域ごとに形成状態の良否を判定する。このとき、例えば、プリント基板の形成状態を検査する場合は、高輝度領域から露出パッドや配線パターンの画像を抽出し、以下、低輝度領域に向かって、シルク、レジストなどの画像を抽出する。そして、その抽出された領域について、まず、全体領域についての形成状態の検査を行い、以下、順次検査領域を絞り込んで詳細な検査を行う。全体領域について検査を行う場合は、記憶部27に格納された第一階層の基準データを用いて検査を行い、また、絞り込まれた領域については、第二階層や第三階層の基準データを用いて検査を行う。   The determination unit 37 divides the acquired image for each specific area, and determines whether the formation state is good for each of the divided areas. At this time, for example, when inspecting the formation state of the printed circuit board, an image of an exposed pad or a wiring pattern is extracted from the high luminance area, and images such as silk and resist are extracted toward the low luminance area. And about the extracted area | region, first, the formation state test | inspection is performed about the whole area | region, and a detailed inspection is performed by narrowing down an inspection area | region sequentially below. When the entire area is inspected, the inspection is performed using the first layer reference data stored in the storage unit 27, and the second layer or third layer reference data is used for the narrowed area. Inspect.

判定結果出力部38は、この判定部37によって不良と判定された箇所が数カ所以上存在する場合は「不良」であるという旨の出力を行い、それ以外の検査対象物4bに対しては「良品」である旨の出力を行う。そして、この出力結果に基づいて移送機構32を駆動するとともに、検査対象物4bを良品や不良品ごとの回収ボックスに振り分けて回収する。   The determination result output unit 38 outputs that it is “defective” when there are several locations determined to be defective by the determination unit 37, and “non-defective product” is output for the other inspection objects 4b. Is output. Based on the output result, the transfer mechanism 32 is driven, and the inspection object 4b is sorted and collected in a collection box for each non-defective product or defective product.

このように、上記実施の形態によれば、広域画像に対する基準データから拡大領域に対する基準データを入れ子構造化し、これらの基準データの作成を共通化された一の画面で行えるようにしたため、ライブラリごとに独立して基準データを作成する場合に比べて、基準データ作成のための画面作成が容易になり、しかも、全体画像の中の位置付けを把握しながら拡大画像内における特定領域の基準データを作成することができるため、全体像を把握しながら基準データを作成することができるようになる。さらには、従来のようにライブラリごとに基準データ作成のための画面を立ち上げなくてよいため、入力作業が楽になり、基準データ作成のための時間も短縮化することができるようになる。   As described above, according to the above embodiment, the reference data for the enlarged region is nested from the reference data for the wide area image, and the creation of these reference data can be performed on a common screen. Compared to creating reference data independently, it is easier to create a screen for creating reference data, and create reference data for a specific area in the enlarged image while grasping the position in the entire image. Therefore, the reference data can be created while grasping the whole image. Furthermore, since it is not necessary to start up a screen for creating reference data for each library as in the prior art, the input work becomes easier and the time for creating reference data can be shortened.

また、第二表示領域232で選択された領域の画像を第二表示領域232に表示させる場合、選択された領域を拡大して第二表示領域232に表示させるようにしたので、入れ子構造において下階層に進むに従って画像が小さくなって基準データを作成しにくくなるといった問題を解決することができ、また、拡大表示させる際に、画像がぼやけるなどして基準データを作成することができない場合は、解像度を上げて画像を取得するなどの作業に反映させることができるようになる。   Further, when an image of the area selected in the second display area 232 is displayed in the second display area 232, the selected area is enlarged and displayed in the second display area 232. If you can not solve the problem that it becomes difficult to create the reference data because the image becomes smaller as you progress to the hierarchy, and if you can not create the reference data due to the image blurring when enlarged display, It becomes possible to reflect this in work such as obtaining an image with a higher resolution.

さらには、第二表示領域232に表示されている領域に対応する領域を、前記第一表示領域231内で他の領域と区別して表示させるようにしたので、第二表示領域232に表示されている画像が広域画像の中のどこに位置しているかを容易に把握させることができ、全体における位置付けや重要度を他と比べながら判断して基準データを作成させることができるようになる。   Furthermore, since the area corresponding to the area displayed in the second display area 232 is displayed separately from the other areas in the first display area 231, it is displayed in the second display area 232. It is possible to easily grasp where an existing image is located in the wide-area image, and it is possible to create reference data by judging the overall positioning and importance compared with others.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、種々の態様で実施することができる。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can implement in a various aspect.

例えば、上記実施の形態では、プリント基板のパッドや配線パターン、シルク、レジストなどの形成状態を検査する場合を例に挙げて説明したが、これに限らず、液晶基板、実装基板、半導体ウエハやチップ、文字や図形の印刷状態の検査など、多種多様な検査に用いることができる。   For example, in the above-described embodiment, the case of inspecting the formation state of a printed circuit board pad, wiring pattern, silk, resist, etc. has been described as an example. It can be used for a wide variety of inspections such as inspection of the printing state of chips, characters and figures.

また、上記実施の形態では、第一表示領域231と第二表示領域232とを同一画面上に表示させたが、ディスプレイ23が大きい場合は、第三階層までの画面を同時に表示させるようにしてもよい。このとき、第三階層以降もデータの入れ子構造の仕組みにより、同様に第三表示領域に表示させるようにしてもよい。   In the above embodiment, the first display area 231 and the second display area 232 are displayed on the same screen. However, when the display 23 is large, the screens up to the third layer are displayed simultaneously. Also good. At this time, the third and subsequent layers may be similarly displayed in the third display area by the data nesting structure.

さらに、上記実施の形態では、下層に進むに従って微小な領域を更に拡大していくようにしているが、拡大処理を重ねると画像がぼやけてしまう可能性がある。このような場合は、先に基準データを作成することなく下層までの画像を表示させていき、画像がぼやけるような場合は、解像度を上げて画像を撮り直すようにしてもよい。   Furthermore, in the above-described embodiment, a minute region is further enlarged as it proceeds to the lower layer, but if the enlargement process is repeated, the image may be blurred. In such a case, the image up to the lower layer may be displayed without creating the reference data first. If the image is blurred, the resolution may be increased and the image taken again.

加えて、上記実施の形態では、基準データ作成装置2と自動外観検査装置3とを分離して構成するようにしているが、自動外観検査装置3を用いて基準データを作成するようにしてもよい。この場合、本発明との関係において、基準データ作成装置2が自動外観検査装置3となる。   In addition, in the above embodiment, the reference data creation device 2 and the automatic appearance inspection device 3 are configured separately. However, the automatic appearance inspection device 3 may be used to create reference data. Good. In this case, the reference data creation device 2 becomes the automatic visual inspection device 3 in relation to the present invention.

本発明の一実施の形態における外観検査システムの概要を示す図The figure which shows the outline | summary of the external appearance inspection system in one embodiment of this invention 同形態における外観検査システムの機能ブロックを示す図The figure which shows the functional block of the external appearance inspection system in the form 同形態における基準データ作成装置の第一階層と第二階層の画像を表示した例を示す図The figure which shows the example which displayed the image of the 1st hierarchy and the 2nd hierarchy of the reference | standard data creation apparatus in the same form 同形態における基準データ作成装置の第二階層と第三階層の画像を表示した例を示す図The figure which shows the example which displayed the image of the 2nd hierarchy of the reference | standard data creation apparatus in the same form, and a 3rd hierarchy 同形態における基準データの階層構造を示す図The figure which shows the hierarchical structure of the reference data in the same form 従来例における基準データの構造を示す図The figure which shows the structure of the reference data in the conventional example

符号の説明Explanation of symbols

1・・・外観検査システム
2・・・基準データ作成装置
21・・・画像取得部
22・・・コンピューター
23・・・ディスプレイ
24・・・入力装置
25・・・前処理部
26・・・基準データ作成手段
27・・・記憶部
231・・・第一表示領域
232・・・第二表示領域
233・・・基準データ表示領域
3・・・自動外観検査装置
31・・・スタッカ
32・・・移送機構
33・・・回収機構
34・・・画像取得部
35・・・前処理部
36・・・記憶部
37・・・判定部
38・・・判定結果出力部
4a・・・基準対象物
4b・・・検査対象物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Appearance inspection system 2 ... Reference | standard data creation apparatus 21 ... Image acquisition part 22 ... Computer 23 ... Display 24 ... Input device 25 ... Pre-processing part 26 ... Reference | standard Data creation means 27 ... storage unit 231 ... first display area 232 ... second display area 233 ... reference data display area 3 ... automatic visual inspection device 31 ... stacker 32 ... Transfer mechanism 33 ... Recovery mechanism 34 ... Image acquisition unit 35 ... Pre-processing unit 36 ... Storage unit 37 ... Determination unit 38 ... Determination result output unit 4a ... Reference object 4b ... Inspection objects

Claims (3)

基準対象物から取得した画像に基づいて検査対象物の検査に使用される基準データを作成する基準データ作成方法において、
ディスプレイに、基準対象物から取得された広域画像を表示させる第一表示領域と、当該広域画像の一部の領域を表示させる第二表示領域と、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データを作成するための基準データ作成領域とを備え、
前記第二表示領域に表示された画像の一部の選択を受け付けることによって、第二表示領域に表示されていた画像を前記第一表示領域に表示させるとともに、当該選択された一部の領域の画像を前記第二表示領域に表示させ、当該第二表示領域に表示された画像に基づいて基準データの作成を受け付けるようにしたことを特徴とする基準データ作成方法。
In a reference data creation method for creating reference data used for inspection of an inspection object based on an image acquired from the reference object,
Based on a first display area for displaying a wide area image acquired from a reference object on the display, a second display area for displaying a partial area of the wide area image, and an image displayed in the second display area A reference data creation area for creating reference data
By accepting selection of a part of the image displayed in the second display area, the image displayed in the second display area is displayed in the first display area, and the selected part of the area is displayed. A reference data creation method, wherein an image is displayed in the second display area, and creation of reference data is received based on the image displayed in the second display area.
前記第二表示領域で選択された領域の画像を第二表示領域に表示させる際に、当該選択された領域を拡大して第二表示領域に表示させるようにした請求項1に記載の基準データ作成方法。   The reference data according to claim 1, wherein when the image of the area selected in the second display area is displayed in the second display area, the selected area is enlarged and displayed in the second display area. How to make. 第二表示領域に表示されている領域に対応する領域を、前記第一表示領域内で他の領域と区別して表示させるようにした請求項1に記載の基準データ作成方法。   The reference data creation method according to claim 1, wherein an area corresponding to an area displayed in the second display area is displayed separately from other areas in the first display area.
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Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2237486B (en) * 1989-10-25 1994-02-16 Apple Computer Method and apparatus for controlling computer displays by using a two dimensional scroll palette
JPH11258178A (en) * 1998-03-13 1999-09-24 Omron Corp Apparatus and method for inspection
JP4096533B2 (en) * 2001-08-31 2008-06-04 松下電工株式会社 Image processing inspection system
JP4405773B2 (en) * 2003-10-07 2010-01-27 東芝Itコントロールシステム株式会社 Radiation inspection apparatus and image operation program
JP4392392B2 (en) * 2005-08-29 2009-12-24 株式会社メガトレード Visual inspection device
JP4668059B2 (en) * 2005-12-26 2011-04-13 株式会社デジタル Visual inspection support device, visual inspection support program, and recording medium recording the program

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