JP4934594B2 - 質量分析計 - Google Patents
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Claims (22)
- イオンガイドであって、
壁を有する中空、管状、または網状の装置と、
前記壁の一部分内、前記壁の一部分に沿って、前記壁の一部分上に、または前記壁の一部分に実質的に隣接して配置された1以上の電極と、
前記壁の一部分に設けられた、または配置された、操作モードにおいてイオンが通り前記イオンガイドから流出するようになっている1以上の開口と、
前記壁の少なくとも一部分と前記1以上の電極の一部または全部との間にDC電位差を保持するように配置および適合させた手段と、
前記1以上の電極の少なくとも一部または全部にACまたはRF電圧を印加するように配置および適合させたACまたはRF電圧手段とを備えているイオンガイド。 - 前記中空、管状、もしくは網状の装置が、前記中空、管状、もしくは網状の装置の中心もしくは中間に配設されるか、または前記中心もしくは中間に沿って配設される中心軸を有し、前記1以上の電極が、前記中心軸の一方の側から、もしくは一方の側へとずらして配置または配設されている、請求項1に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の電極が、前記中心軸と実質的に平行である1以上の軸に沿って配置されている、請求項2に記載のイオンガイド。
- 少なくとも一部のイオンが前記1以上の電極にぶつかる、衝突する、または近付くことを妨げる、または実質的に防止するため、前記ACまたはRF電圧手段を、前記1以上の電極の少なくとも5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、または100%にACまたはRF電圧を印加するように配置および適合させた、請求項1、2または3に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の電極のうち直接隣接した電極には、互いに逆の位相の前記ACまたはRF電圧を供給する、請求項1〜4のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記DC電位差が、(i)<1V、(ii)1〜5V、(iii)5〜10V、(iv)10〜15V、(v)15〜20V、(vi)20〜25V、(vii)25〜30V、(viii)30〜35V、(ix)35〜40V、(x)40〜45V、(xi)45〜50V、および(xii)>50Vからなる群から選択される、請求項1〜5のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の電極のうちの少なくとも1個、2個、3個、4個、5個、6個、7個、8個、9個、10個、11個、12個、13個、14個、15個、16個、17個、18個、19個、20個、または20個を超える電極が、前記中空、管状、または網状の装置に設けられた前記1以上の開口をループ状に囲むか、または少なくとも部分的にループ状に囲むように構成されている、請求項1〜6のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記電極のうちの少なくとも1個、2個、3個、4個、5個、6個、7個、8個、9個、10個、11個、12個、13個、14個、15個、16個、17個、18個、19個、20個、または20個を超える電極が、前記中空、管状、または網状の装置に設けられた前記1以上の開口またはその上流で終端するように構成されている、請求項1〜7のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、または100%に沿って少なくとも一部のイオンを進めるために、1以上の過渡DC電圧もしくは電位、または1以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を前記1以上の電極の一部または全部に印加する手段をさらに備えている、請求項1〜8のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、または100%に沿って少なくとも一部のイオンを進めるために、前記1以上の電極の一部または全部に2以上の位相シフトACまたはRF電圧を印加する手段をさらに備えている、請求項1〜9のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、または100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を保持するDC電圧手段をさらに備えている、請求項1〜10のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の電極の少なくとも一部が、プリント回路基板内またはプリント回路基板上に設置、蒸着、または取り付けされている、請求項1〜11のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の電極の少なくとも一部が、プラスチック製、セラミック製、積層型、絶縁性、もしくは半導電性の基板内またはこれら基板上に設置、蒸着、または取り付けされている、請求項1〜12のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記中空、管状、または網状の装置内に存在するイオンのうち、少なくとも一部、または少なくとも0.1%、0.5%、1%、2%、3%、4%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、もしくは100%が、使用時に、前記1以上の開口を通して前記中空、管状、または網状の装置内から流出するか、または抽出されるようになっている、請求項1〜13のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記中空、管状、または網状の装置内に存在する、気体分子および/もしくは中性粒子および/もしくは液滴の少なくとも一部、または前記気体分子および/もしくは中性粒子および/もしくは液滴の少なくとも0.1%、0.5%、1%、2%、3%、4%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、もしくは100%が、使用時に、前記1以上の開口を通って前記中空、管状、または網状の装置内から流出または抽出されることなく、前記中空、管状、または網状の装置に沿って移動し続けるようになっている、請求項1〜14のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 前記1以上の開口に隣接するか、またはその後方に位置するように配置された抽出レンズまたは電極配列と、
前記1以上の電極および/または前記中空、管状、もしくは網状の装置の壁と前記抽出レンズまたは電極配列との間に、電位または電圧差を保持するように配置および適合させた手段とをさらに備えている、請求項1〜15のいずれか一項に記載のイオンガイド。 - 前記イオンガイドの少なくとも一部分を、(i)>0.001mbar、(ii)>0.01mbar、(iii)>0.1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)0.001〜100mbar、(viii)0.01〜10mbar、および(ix)0.1〜1mbarからなる群から選択される圧力に保持するように配置および適合させた手段をさらに備えている、請求項1〜16のいずれか一項に記載のイオンガイド。
- 請求項1〜17のいずれか一項に記載のイオンガイドを1以上備えた質量分析計。
- (i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザー脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザー脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコン基板上脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝撃(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン化イオン源、および(xviii)サーモスプレーイオン源からなる群から選択されるイオン源をさらに備えている、請求項18に記載の質量分析計。
- イオンガイド法であって、
壁を有する中空、管状、または網状の装置と、前記壁の一部分内、前記壁の一部分に沿って、前記壁の一部分上に、または前記壁の一部分に実質的に隣接して配置された1以上の電極と、前記壁の一部分に配置された1以上の開口とを準備することと、
前記中空、管状、または網状の装置内にイオンを流入させ、前記装置に沿ってイオンを通過させることと、
前記壁の少なくとも一部分と前記1以上の電極の一部または全部との間にDC電位差を保持することと、
ACまたはRF電圧を、前記1以上の電極の少なくとも一部または全部に印加することと、
前記1以上の開口を通して前記中空、管状、または網状の装置からイオンを流出させることとを含むイオンガイド法。 - 請求項20に記載のイオンガイド法を含む質量分析法。
- イオンガイド作製法であって、
基板を準備することと、
前記基板の一部分に、前記基板の一部分に沿って、前記基板の一部分上に、または前記基板の一部分に実質的に隣接して1以上の電極を配置することと、
使用時に、前記基板の一部と前記1以上の電極との間にDC電位差を保持する手段を準備することと、
使用時に、前記1以上の電極の少なくとも一部または全部にACまたはRF電圧を印加するための手段を準備することと、
使用時にイオンが通過して搬送される1以上の開口を前記基板に形成することと、
前記基板を中空、管状、または網状のイオンガイドへと成形することとを含む、イオンガイド作製法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB0427634.1A GB0427634D0 (en) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | Mass spectrometer |
GB0427634.1 | 2004-12-17 | ||
US64220705P | 2005-01-07 | 2005-01-07 | |
US60/642,207 | 2005-01-07 | ||
PCT/GB2005/004902 WO2006064274A2 (en) | 2004-12-17 | 2005-12-16 | Mass spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008524788A JP2008524788A (ja) | 2008-07-10 |
JP4934594B2 true JP4934594B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=34090197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007546192A Expired - Fee Related JP4934594B2 (ja) | 2004-12-17 | 2005-12-16 | 質量分析計 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9620346B2 (ja) |
EP (1) | EP1825495B1 (ja) |
JP (1) | JP4934594B2 (ja) |
AT (1) | ATE534136T1 (ja) |
CA (1) | CA2590100C (ja) |
GB (2) | GB0427634D0 (ja) |
WO (1) | WO2006064274A2 (ja) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7863558B2 (en) * | 2006-02-08 | 2011-01-04 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Radio frequency ion guide |
DE102007017055B4 (de) * | 2007-04-11 | 2011-06-22 | Bruker Daltonik GmbH, 28359 | Messung der Mobilität massenselektierter Ionen |
US8067730B2 (en) | 2007-07-20 | 2011-11-29 | The George Washington University | Laser ablation electrospray ionization (LAESI) for atmospheric pressure, In vivo, and imaging mass spectrometry |
US7964843B2 (en) | 2008-07-18 | 2011-06-21 | The George Washington University | Three-dimensional molecular imaging by infrared laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
US8901487B2 (en) | 2007-07-20 | 2014-12-02 | George Washington University | Subcellular analysis by laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
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FR2971360B1 (fr) | 2011-02-07 | 2014-05-16 | Commissariat Energie Atomique | Micro-reflectron pour spectrometre de masse a temps de vol |
GB201104220D0 (en) | 2011-03-14 | 2011-04-27 | Micromass Ltd | Ion guide with orthogonal sampling |
GB201104665D0 (en) | 2011-03-18 | 2011-05-04 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Ion analysis apparatus and methods |
US8829426B2 (en) | 2011-07-14 | 2014-09-09 | The George Washington University | Plume collimation for laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
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US9812311B2 (en) | 2013-04-08 | 2017-11-07 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation method and device |
US8835839B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-09-16 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device |
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US9704701B2 (en) | 2015-09-11 | 2017-07-11 | Battelle Memorial Institute | Method and device for ion mobility separations |
CA3000341C (en) | 2015-10-07 | 2019-04-16 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
US10018592B2 (en) | 2016-05-17 | 2018-07-10 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for spatial compression and increased mobility resolution of ions |
US10224194B2 (en) | 2016-09-08 | 2019-03-05 | Battelle Memorial Institute | Device to manipulate ions of same or different polarities |
US10497552B2 (en) | 2017-08-16 | 2019-12-03 | Battelle Memorial Institute | Methods and systems for ion manipulation |
US10692710B2 (en) | 2017-08-16 | 2020-06-23 | Battelle Memorial Institute | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation |
EP3692564A1 (en) | 2017-10-04 | 2020-08-12 | Battelle Memorial Institute | Methods and systems for integrating ion manipulation devices |
US10332723B1 (en) | 2017-12-20 | 2019-06-25 | Battelle Memorial Institute | Ion focusing device |
US11219393B2 (en) | 2018-07-12 | 2022-01-11 | Trace Matters Scientific Llc | Mass spectrometry system and method for analyzing biological samples |
US10840077B2 (en) | 2018-06-05 | 2020-11-17 | Trace Matters Scientific Llc | Reconfigureable sequentially-packed ion (SPION) transfer device |
US10720315B2 (en) | 2018-06-05 | 2020-07-21 | Trace Matters Scientific Llc | Reconfigurable sequentially-packed ion (SPION) transfer device |
US10460920B1 (en) | 2018-06-26 | 2019-10-29 | Battelle Memorial Institute | Flexible ion conduit |
GB202102368D0 (en) | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
GB202102365D0 (en) | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
GB202102367D0 (en) | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
EP4348697A1 (en) * | 2021-05-28 | 2024-04-10 | Purdue Research Foundation | Ion focusing and manipulation |
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-
2004
- 2004-12-17 GB GBGB0427634.1A patent/GB0427634D0/en not_active Ceased
-
2005
- 2005-12-16 EP EP05820479A patent/EP1825495B1/en not_active Not-in-force
- 2005-12-16 WO PCT/GB2005/004902 patent/WO2006064274A2/en active Application Filing
- 2005-12-16 US US11/721,729 patent/US9620346B2/en active Active
- 2005-12-16 JP JP2007546192A patent/JP4934594B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-16 AT AT05820479T patent/ATE534136T1/de active
- 2005-12-16 GB GB0525670A patent/GB2421845B/en active Active
- 2005-12-16 CA CA2590100A patent/CA2590100C/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2590100A1 (en) | 2006-06-22 |
EP1825495A2 (en) | 2007-08-29 |
US20090272891A1 (en) | 2009-11-05 |
GB0427634D0 (en) | 2005-01-19 |
US9620346B2 (en) | 2017-04-11 |
GB2421845B (en) | 2009-06-24 |
GB0525670D0 (en) | 2006-01-25 |
CA2590100C (en) | 2014-02-18 |
WO2006064274A2 (en) | 2006-06-22 |
ATE534136T1 (de) | 2011-12-15 |
JP2008524788A (ja) | 2008-07-10 |
WO2006064274A3 (en) | 2007-05-31 |
GB2421845A (en) | 2006-07-05 |
EP1825495B1 (en) | 2011-11-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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