JP4919737B2 - Board inspection equipment - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 135
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 8
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 125000002066 L-histidyl group Chemical group [H]N1C([H])=NC(C([H])([H])[C@](C(=O)[*])([H])N([H])[H])=C1[H] 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
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Description
本発明は、電子回路基板の電気的導通や実装部品の性能、誤装着等を検査する基板検査装置に係り、特に作業性能の向上と作業の安全性の向上とを図った基板検査装置に関するものである。 The present invention relates to a circuit board inspection apparatus for inspecting electrical continuity of electronic circuit boards, performance of mounted components, erroneous mounting, and the like, and more particularly to a circuit board inspection apparatus for improving work performance and work safety. It is.
電子回路基板を電子機器等に装着するのに先立って、電子回路基板の電気的特性や実装部品の性能、誤装着等を検査することが一般に行われている。そしてこのような検査には下記の特許文献1に開示されているような電子回路基板の検査装置が使用されている。
当該電子回路基板の検査装置は電子回路基板をセットするセットボックスの上方に押圧手段としてのプレス台が位置している。したがって電子回路基板のセット及び取り外しに際しては上記プレス台とセットボックスとの間の狭い空間を利用しなければならず、作業を能率的に遂行できないという問題を抱えていた。
Prior to mounting an electronic circuit board on an electronic device or the like, it is a common practice to inspect the electrical characteristics of the electronic circuit board, the performance of mounted components, incorrect mounting, and the like. For such inspection, an electronic circuit board inspection apparatus as disclosed in
In the electronic circuit board inspection apparatus, a press stand as a pressing means is positioned above a set box for setting the electronic circuit board. Therefore, when setting and removing the electronic circuit board, a narrow space between the press stand and the set box has to be used, which has a problem that the work cannot be efficiently performed.
又、上記プレス台とセットボックスとの間の狭い空間を利用しての電子回路基板のセット時及び取り外し時に検査ピン等に作業者の手が触れて怪我をする可能性があった。
又、電子回路基板の検査装置は量産品ではなく、検査対象となる当該電子回路基板単位で個別に製作される少量製作品であるため、できるだけ構造を簡単にして信頼性を向上させ、且つ、製作コストを引き下げることが求められている。
Further, when the electronic circuit board is set and removed using the narrow space between the press stand and the set box, there is a possibility that the operator's hand touches the inspection pin or the like to get injured.
In addition, the electronic circuit board inspection device is not a mass-produced product, but is a small-scale work manufactured individually for each electronic circuit board to be inspected, so that the structure is simplified as much as possible, and the reliability is improved. There is a need to reduce production costs.
上記背景技術及び背景技術が抱えていた問題点を踏まえて本発明が解決しようとする課題を整理すると、作業者が従来行っていた作業能率の悪い作業を見直して作業能率を改善すると共に、安全な作業環境を提供することである。
本発明はこのような点に基づいてなされたものでその目的とするところは、電子回路基板の検査作業を円滑に行えるようにすると共に、作業に要する労力を軽減して作業能率を向上させ、安全で構造が簡単且つ低コストの基板検査装置を提供することを目的とする。
When the problems to be solved by the present invention are arranged based on the above-mentioned background technology and the problems that the background technology has, the work efficiency that the worker has been working on has been reviewed to improve the work efficiency and safety is improved. Is to provide a comfortable working environment.
The present invention has been made based on such points, the purpose of which is to facilitate the inspection work of the electronic circuit board, improve the work efficiency by reducing the labor required for the work, An object of the present invention is to provide a substrate inspection apparatus that is safe, simple in structure, and low in cost.
上記目的を達成するべく本願発明の請求項1による基板検査装置は、電子回路基板の検査接点に対して検査ピンを所定の圧接力で押し当てることによって、電子回路基板の電気的特性や実装部品の性能、誤装着等の検査を可能にする検査ピンユニットと、上記検査接点に検査ピンを所定の圧接力で押し当てるための押圧手段と、上記電子回路基板がセットされるセットポジションと上記電子回路基板に所定の検査を施す検査ポジションとの間で移動する可動ステージと、上記押圧手段の押込み動作と機械的に連動させて上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させる引込み手段と、を具備し、上記検査ピンユニットを上記押圧手段又は上記可動ステージに別体に又は一体に設置し、上記引込み手段は上記押圧手段側に設けられる押込み板と該押込み板の端部に当接する従動板とを備えることによって構成されており、上記押込み板と従動板の少なくとも何れか一方に傾斜ガイド面を設け、上記押込み板を所定ストローク移動させることによって検査接点に対する検査ピンの圧接と、可動ステージの検査ポジションに向けての引込み動作とを関連させて実行できるようにし、上記検査ピンユニットに対して所定の位置に上記電子回路基板をセットし、その状態で上記押圧手段の押込み動作により上記引込み手段を介して上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させるようにしたことを特徴とするものである。
又、請求項2による基板検査装置は、請求項1記載の基板検査装置において、上記検査ポジション側に移動した可動ステージを電子回路基板をセットするセットポジション側に戻す復帰手段が設けられていることを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, a substrate inspection apparatus according to
The substrate inspection apparatus according to claim 2 is provided with return means for returning the movable stage moved to the inspection position side to the set position side for setting the electronic circuit board in the substrate inspection apparatus according to
したがって、本発明による基板検査装置によると、電子回路基板の検査接点に対して検査ピンを所定の圧接力で押し当てることによって、電子回路基板の電気的特性や実装部品の性能、誤装着等の検査を可能にする検査ピンユニットと、上記検査接点に検査ピンを所定の圧接力で押し当てるための押圧手段と、上記電子回路基板がセットされるセットポジションと上記電子回路基板に所定の検査を施す検査ポジションとの間で移動する可動ステージと、上記押圧手段の押込み動作と機械的に連動させて上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させる引込み手段と、を具備し、上記検査ピンユニットを上記押圧手段又は上記可動ステージに別体に又は一体に設置し、上記検査ピンユニットに対して所定の位置に上記電子回路基板をセットし、その状態で上記押込手段の押込み動作により上記引込み手段を介して上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させるようにしたので、検査ピンユニットのみを当該電子回路基板に対応して交換するだけでよく、電子回路基板の検査装置の他の構成は電子回路基板の種類に関係なく、そのまま利用できるため電子回路基板の検査装置の製作コストを低く抑えることができる。又、前後方向に移動する可動ステージを設けることによって電子回路基板をセットしたり、取り外す場合には可動ステージを手前に引き出した状態で作業でき、電子回路基板の検査時には電子回路基板を奥部側に移動させた状態で作業できるから作業の安全性が向上する。又、引込み手段の採用によって押圧手段の押込み動作を実行することによって同時に可動ステージを奥部側に移動させることができるから、作業の省力化も図られている。
又、上記引込み手段は上記押圧手段側に設けられる押込み板と該押込み板の端部に当接する従動板とを備えることによって構成されており、上記押込み板と従動板の少なくとも何れか一方に傾斜ガイド面を設け、上記押込み板を所定ストローク下方に移動させることによって検査接点に対する検査ピンの圧接と、可動ステージの検査ポジションに向けての引込み動作とを関連させて実行できるようにした場合には、比較的簡単で、狭い設置スペースにも設置可能な引込み手段が提供できるようになる。
又、上記検査ポジション側に移動した可動ステージを電子回路基板をセットするセットポジション側に戻す復帰手段を設けた場合には、奥部の検査ポジション側に位置している可動ステージを手前のセットポジション側に移動させるための操作が不用となり、作業能率が一層向上する。
Therefore, according to the board inspection apparatus of the present invention, by pressing the inspection pin against the inspection contact of the electronic circuit board with a predetermined pressure contact force, the electrical characteristics of the electronic circuit board, the performance of the mounted component, the erroneous mounting, etc. An inspection pin unit that enables inspection, a pressing means for pressing the inspection pin against the inspection contact with a predetermined pressure contact force, a set position where the electronic circuit board is set, and a predetermined inspection on the electronic circuit board A movable stage that moves between the inspection position to be applied, and a retracting means that moves the movable stage from the set position toward the inspection position mechanically interlocked with the pushing operation of the pressing means, The inspection pin unit is installed separately or integrally with the pressing means or the movable stage, and a predetermined amount is provided with respect to the inspection pin unit. Since the electronic circuit board is set in a position and the movable stage is moved from the set position toward the inspection position via the retracting means by the pushing operation of the pushing means in that state, the inspection pin unit The other configuration of the electronic circuit board inspection apparatus can be used as it is regardless of the type of the electronic circuit board, thereby reducing the production cost of the electronic circuit board inspection apparatus. It can be kept low. In addition, when the electronic circuit board is set or removed by providing a movable stage that moves in the front-rear direction, the movable stage can be pulled out to the front, and when inspecting the electronic circuit board, the electronic circuit board is placed on the back side. The work safety is improved because the work can be performed in the state of being moved to. Moreover, since the movable stage can be moved to the back side at the same time by performing the pushing operation of the pushing means by employing the pulling means, labor saving is also achieved.
The retracting means includes a pushing plate provided on the pressing means side and a driven plate that comes into contact with an end of the pushing plate, and is inclined to at least one of the pushing plate and the driven plate. When a guide surface is provided and the push plate is moved downward by a predetermined stroke so that the contact of the inspection pin against the inspection contact and the retracting operation toward the inspection position of the movable stage can be performed in association with each other. This makes it possible to provide a retracting means that is relatively simple and can be installed in a narrow installation space.
In addition, when a return means is provided to return the movable stage moved to the inspection position side to the set position side where the electronic circuit board is set, the movable stage located on the back inspection position side is set to the front set position. The operation for moving to the side becomes unnecessary, and the work efficiency is further improved.
以下、図1乃至図5に示す実施の形態を例にとって本発明の基板検査装置1の構成と、当該基板検査装置1を使用して行う電子回路基板の検査手順と併せて本発明の基板検査装置1の作動態様について具体的に説明する。
本発明の基板検査装置1は基台3とカバー5とから構成される検査装置本体7を備えている。そして当該検査装置本体7内には実質的に電子回路基板9の検査を実行する検査ピンユニット11と、電子回路基板9の検査接点13、13、13・・・に検査ピン15、15、15・・・を所定の圧接力で押し当てるための押圧手段17と、上記検査ピンユニット11をセットし、前後方向Aに移動する可動ステージ19と、上記押圧手段17の押込み動作と連動させて上記可動ステージ19を奥部側の検査ポジション21に向けて移動させる引込み手段23とが基本的に備えられている。
Hereinafter, the substrate inspection of the present invention will be described together with the configuration of the
The
又、本実施の形態にあっては、上記検査ポジション21側に移動した可動ステージ19を電子回路基板9をセットするセットポジション25側に戻す復帰手段27が設けられている。
電子回路基板9は合成樹脂等によって形成され、IC、LSI、抵抗、コイル、コンデンサ、LED等の実装部品31が実装される側の面に位置する絶縁層29と、上記絶縁層29の裏面側に積層され、上記実装部品31をつなぐ回路パターンが形成された導電層33とによって構成されるプリント配線基板等と称されている板状の電子部品である。
そして上記導電層33には多数の検査接点13、13、13・・・が設けられており、上記検査接点13、13、13・・・間の電圧等を測定することによって電子回路基板9の検査が実行される。
Further, in the present embodiment, there is provided return means 27 for returning the
The
The
検査ピンユニット11は上記電子回路基板9の検査接点13、13、13・・・に対して検査ピン15、15、15・・・を所定の圧接力で押し当てることによって、電子回路基板9の電気的導通や実装部品31の性能、誤装着等の検査を直接実行するユニットである。
具体的には可動ステージ19側に設けられ、多数本の検査ピン15、15、15・・・が上方に向けて植設されている電子回路基板9をセットするセットボックス35と、押圧手段17側に設けられ、複数本の押圧ピン37、37、37・・・が下方に向けて設けられている押圧プレート39とを備えることによって検査ピンユニット11は構成されている。
The
Specifically, a
セットボックス35は比較的偏平な角箱状の部材であり、上面41には上記多数本の検査ピン15、15、15・・・が設けられる他、電子回路基板9をセットする位置を設定するセットピン43と、押圧プレート39の下面に設けられているガイドピン45を受け入れるガイドポスト47が設けられている。
又、検査ピン15、15、15・・・は図示しないスプリングが組み込まれた伸縮可能なピンでその下端に設けられる端子49にはリード線51が接続されている。又、上記リード線51はセットボックス35の例えば側板に形成された開口を通ってセットボックス35の外方に引き出され、図示しない計測機器や実装装置等に接続されている。
The
The
押圧プレート39は電子回路基板9より一回り大きな矩形平板状の部材で、後述する押圧手段17の構成部材である押圧ベース53の下面に取り付けられて使用される。押圧プレート39の下面には電子回路基板9の上面を押圧する上記複数の押圧ピン37、37、37・・・と、上記ガイドピン45が鉛直方向に延びるように設けられている。
そしてこのようにして構成される検査ピンユニット11は検査する電子回路基板9に対応して個別に製作され、電子回路基板9の切替え時には当該電子回路基板9に対応した別途の検査ピンユニット11に交換される。
The
The
押圧手段17は検査装置本体7の左右の側板間に水平に架け渡された揺動軸55と、該揺動軸55における検査装置本体7の外方に張り出した一方の端部に取り付けられている操作ハンドル57と、上記揺動軸55の中間位置に設けられ、揺動軸55と一体になって揺動軸55を中心に約90°の範囲に亘って揺動する揺動アーム59と、該揺動アーム59の自由端側において遊転自在に設けられる押圧ローラ61と、該押圧ローラ61に当接し、押圧ローラ61からの押圧力を受けて下方に向けて移動する押圧ベース53と、該押圧ベース53の上下動を案内する垂直ガイド機構63とを備えることによって構成されている。
The pressing
揺動軸55は丸棒状の部材であり、検査装置本体7の天板部に取り付けられている複数の軸受部材65、65、65、65によって揺動自在に支承されている。
押圧ベース53は前面に矩形状の大きな切欠き部67が形成されている矩形平板状の部材である。又、押圧ベース53の後部コーナ部と、前部コーナ部寄りの上記切欠き部67の奥部コーナ部側方には計4個のシャフトホルダ69が設けられている。そして押圧ベース53の下面には上記押圧プレート39が押圧ピン37側を下にして上述のように取り付けられている。
The
The
又、押圧ベース53の後部下面には電子回路基板9のセットや検査の邪魔にならない検査装置本体7における左右の側方空間を利用して1枚ずつ押込み板71が設けられている。押込み板71は一例として矩形平板状の部材で、後述する従動板73と組み合わさって直動カムのような動きをする。
そして上記押込み板71は後述する従動板73と共に引込み手段23の構成部材になっている。
Further, on the lower surface of the rear portion of the
The pushing
可動ステージ19は上記押圧ベース53と同じくらいの大きさの矩形平板状のスライドテーブル75と、該スライドテーブル75の一例として左右の下面に取り付けられているスライダ77とによって構成されている。そして上記スライダ77は検査装置本体7の基台3の上面に敷設されている前後方向Aに延びる2本のガイドレール79、79と係合し、当該ガイドレール79、79上を前後に滑らかにスライドできるようになっている。
又、上記スライドテーブル75の後部上面には電子回路基板9のセットや検査の邪魔にならない検査装置本体7における左右の側方空間を利用して1枚ずつ従動板73が設けられている。
The
Further, on the upper surface of the rear part of the slide table 75, a driven
従動板73は上面が前下がり傾斜のガイド面81になっている側面視台形を横に倒した形状の平板状の部材である。そして従動板73は上記押込み板71と共に上述のように引込み手段23を構成しており、上記押込み板71を所定ストローク下方に移動させることによって従動板73との当接位置を徐々に変化させて検査接点13、13、13・・・に対する検査ピン15、15、15・・・の圧接力の設定と、可動ステージ19の検査ポジション21に向けての引込み動作とを同時に実行できるようになっている。
The
復帰手段27は上記従動板73の背面83に作用する圧縮コイルバネ85によって構成されている。したがって、可動ステージ19は圧縮コイルバネ85から常時セットポジション25側に移動しようとする付勢力を受けており、作業者が操作ハンドル57から手を離すことによって可動ステージ19は自動的に手前に移動してセットポジション25に戻るようになっている。
この他、検査装置本体7の天板部と基台3との間には上記シャフトホルダ69と嵌合する4本のガイドシャフト87が垂直に立ち上げられている。当該ガイドシャフト87と上記シャフトホルダ69は押圧ベース53からの水平姿勢を維持して押圧ベース53を上下動させるための垂直ガイド機構63を構成している。
又、シャフトホルダ69の下面と基台3の上面との間には上記ガイドシャフト87に外嵌する圧縮コイルバネ89が設けられている。当該圧縮コイルバネ89は操作ハンドル57を操作することによって押し下げられた押圧ベース53を当初の位置まで自動的に戻るように押し上げる作用を有している。
The return means 27 is constituted by a
In addition, four
A
次に本発明の電子回路基板の検査装置1の作動態様を電子回路基板9の検査の手順と併せて説明する。
作業者は導電層33を下にしてセットピン43に合わせて電子回路基板9をセットボックス35上にセットする。そしてこの状態では検査接点13、13、13・・・には検査ピン15、15、15・・・が軽く触れただけの状態になっている。
次に作業者は操作ハンドル57を握って、例えば手前に操作ハンドル57を倒して揺動軸55を所定の角度回動させる。揺動軸55の回転に伴って揺動アーム59が揺動を開始し、揺動軸55の回転角度と揺動アーム59の作用長によって設定される所定ストロークだけ押圧ベース53が下方に押し下げられる。
Next, the operation mode of the electronic circuit
The operator sets the
Next, the operator holds the operation handle 57 and tilts the operation handle 57 forward, for example, to rotate the
押圧ベース53が下方に移動すると、押圧ベース53に取り付けられている押込み板71も下方に移動する。そして押込み板71に当接している従動板73のガイド面81の傾斜によって、従動板73、可動ステージ19及び検査ピンユニット11は一体になって奥部側の検査ポジション21に向けて移動を開始する。そして検査ピンユニット11が図3に示すように検査ポジション21に達したところで従動板73、可動ステージ19及び検査ピンユニット11の移動は停止する。
又、押圧ベース53の下方への移動に伴って、押圧ベース53に取り付けられている押圧プレート39も下方に移動するようになり、押圧プレート39の下面に取り付けられている複数本の押圧ピン37、37、37・・・は電子回路基板9の上面に当接し、電子回路基板9を下方に押し下げる。
When the
As the
そして上記押圧ピン37、37、37・・・からの押圧力によって検査接点13、13、13・・・には所定の圧接力で検査ピン15、15、15・・・が圧接するようになり、電子回路基板9の所定の検査が実行される。
又、検査終了後、作業者が操作ハンドル57から手を離すと、可動ステージ19、検査ピンユニット11及び従動板73は圧縮コイルバネ85の付勢力によって前方への移動を自動的に開始し、検査ピンユニット11が図4に示すセットポジション25に達したところで当該移動が停止される。
The inspection pins 15, 15, 15... Are brought into pressure contact with the
When the operator removes his / her hand from the operation handle 57 after the inspection is completed, the
又、上記従動板73の前方への移動と、圧縮コイルバネ89の上方への付勢力によって押圧ベース53は上方へ移動し、押圧ローラ61を上方へ押し上げて揺動アーム59は当初の位置まで揺動する。
そしてセットボックス35から検査の終わった電子回路基板9を取り外し、次に検査を行う新たな電子回路基板9をセットボックス35上にセットし、上記手順に従って次に検査を開始する。
このように本発明では操作ハンドル57の押下げ動作等を行うだけで検査ピンユニット11のセットポジション25から検査ポジション21への移動と、検査接点13、13、13・・・に対する検査ピン15、15、15・・・の圧接力の設定とが同時に実行されるから安全で能率的な電子回路基板9の検査が実行される。
The
Then, the
As described above, in the present invention, the
尚、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではない。例えば揺動軸55の回転は操作ハンドル57を使用した手動によるものの他、モータを使用して自動的に回転し得るように構成することも可能である。又、押込み板71と従動板73の構成を逆にして押込み板71側に前下がり傾斜姿勢のガイド面81を形成するようにすることも可能である。
又、ガイド面81の傾斜角度や形状は種々変更でき、直線的に傾斜するものの他、凸状あるいは凹状に湾曲しながら曲線的に傾斜角度を変化させるものであってもよい。
The present invention is not limited to the embodiment described above. For example, the rotation of the
Further, the inclination angle and shape of the
又、引込み手段23の構成は上記押込み板71と従動板73とによる直動カムを模した構成の他、リンク機構やラック・ピニオン機構等、他の機構を取り入れた構成とすることも可能である。
又、引込み手段23は検査装置本体7の左右の側方空間の双方に設ける他、これらの何れか一方のみに設けることが可能であり、電子回路基板9のセットや検査の邪魔にならない他の部位に設けることも可能である。
又、押圧ローラ61及び揺動アーム59は1組のみ設ける他、複数組設けることも可能であり、その場合には揺動軸55の中間部のみではなく、左右に振り分けて適宜バランス良く揺動アーム59と押圧ローラ61を配置することが可能である。
The retracting means 23 may be configured to incorporate other mechanisms such as a link mechanism and a rack and pinion mechanism in addition to a structure imitating a linear cam formed by the pushing
Further, the retracting means 23 can be provided in both of the left and right side spaces of the inspection apparatus
In addition to providing only one set of the
本発明は、電子回路基板の電気的導通や実装部品の性能、誤装着等を検査する基板検査装置の製造、使用分野等で利用でき、特に作業能率の向上と作業の安全性の向上とを図りたい場合に利用可能性を有する。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used in the manufacture and use fields of board inspection devices that inspect the electrical continuity of electronic circuit boards, the performance of mounted components, incorrect mounting, etc., and in particular, the improvement of work efficiency and the improvement of work safety. It has applicability when you want to plan.
1 基板検査装置
3 基台
5 カバー
7 検査装置本体
9 電子回路基板
11 検査ピンユニット
13 検査接点
15 検査ピン
17 押圧手段
19 可動ステージ
21 検査ポジション
23 引込み手段
25 セットポジション
27 復帰手段
29 絶縁層
31 実装部品
33 導電層
35 セットボックス
37 押圧ピン
39 押圧プレート
41 上面
43 セットピン
45 ガイドピン
47 ガイドポスト
49 端子
51 リード線
53 押圧ベース
55 揺動軸
57 操作ハンドル
59 揺動アーム
61 押圧ローラ
63 垂直ガイド機構
65 軸受部材
67 切欠き部
69 シャフトホルダ
71 押込み板
73 従動板
75 スライドテーブル
77 スライダ
79 ガイドレール
81 ガイド面
83 背面
85 圧縮コイルバネ
87 ガイドシャフト
89 圧縮コイルバネ
A 前後方向
DESCRIPTION OF
Claims (2)
上記検査接点に検査ピンを所定の圧接力で押し当てるための押圧手段と、
上記電子回路基板がセットされるセットポジションと上記電子回路基板に所定の検査を施す検査ポジションとの間で移動する可動ステージと、
上記押圧手段の押込み動作と機械的に連動させて上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させる引込み手段と、を具備し、
上記検査ピンユニットを上記押圧手段又は上記可動ステージに別体に又は一体に設置し、
上記引込み手段は上記押圧手段側に設けられる押込み板と該押込み板の端部に当接する従動板とを備えることによって構成されており、上記押込み板と従動板の少なくとも何れか一方に傾斜ガイド面を設け、上記押込み板を所定ストローク移動させることによって検査接点に対する検査ピンの圧接と、可動ステージの検査ポジションに向けての引込み動作とを関連させて実行できるようにし、
上記検査ピンユニットに対して所定の位置に上記電子回路基板をセットし、その状態で上記押圧手段の押込み動作により上記引込み手段を介して上記可動ステージを上記セットポジションから上記検査ポジションに向けて移動させるようにしたことを特徴とする基板検査装置。 An inspection pin unit that enables inspection of the electrical characteristics of the electronic circuit board, the performance of the mounted component, erroneous mounting, etc. by pressing the inspection pin against the inspection contact of the electronic circuit board with a predetermined pressure contact force,
A pressing means for pressing the inspection pin against the inspection contact with a predetermined pressure contact force;
A movable stage that moves between a set position where the electronic circuit board is set and an inspection position for performing a predetermined inspection on the electronic circuit board;
Retraction means for moving the movable stage from the set position toward the inspection position mechanically interlocked with the pushing operation of the pressing means;
The inspection pin unit is installed separately or integrally with the pressing means or the movable stage,
The retracting means includes a pushing plate provided on the pressing means side and a driven plate that contacts the end of the pushing plate, and an inclined guide surface is provided on at least one of the pushing plate and the driven plate. By moving the push plate by a predetermined stroke, the pressure contact of the inspection pin with respect to the inspection contact and the retraction operation toward the inspection position of the movable stage can be performed in association with each other,
The electronic circuit board is set at a predetermined position with respect to the inspection pin unit, and in this state, the movable stage is moved from the set position toward the inspection position via the retracting means by the pushing operation of the pressing means. A substrate inspection apparatus characterized by being made to perform.
上記検査ポジション側に移動した可動ステージを電子回路基板をセットするセットポジション側に戻す復帰手段が設けられていることを特徴とする基板検査装置。 The board inspection apparatus according to claim 1,
A substrate inspection apparatus, comprising a return means for returning the movable stage moved to the inspection position side to a set position side for setting an electronic circuit board .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006231649A JP4919737B2 (en) | 2006-08-29 | 2006-08-29 | Board inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006231649A JP4919737B2 (en) | 2006-08-29 | 2006-08-29 | Board inspection equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008057986A JP2008057986A (en) | 2008-03-13 |
JP4919737B2 true JP4919737B2 (en) | 2012-04-18 |
Family
ID=39240919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006231649A Active JP4919737B2 (en) | 2006-08-29 | 2006-08-29 | Board inspection equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4919737B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101896873B1 (en) * | 2018-05-02 | 2018-09-10 | 주식회사 프로이천 | Pin board |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0726998B2 (en) * | 1989-05-31 | 1995-03-29 | ファーイーストエンジニアリング株式会社 | Connection inspection device for soldered boards |
JPH09203762A (en) * | 1996-01-29 | 1997-08-05 | Sharp Corp | Substrate inspecting device |
JP2003322670A (en) * | 2002-04-30 | 2003-11-14 | Kyoritsu Denki Kk | Printed board inspection device |
-
2006
- 2006-08-29 JP JP2006231649A patent/JP4919737B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008057986A (en) | 2008-03-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110525 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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