JP4905960B2 - Relay inspection device and board inspection device - Google Patents
Relay inspection device and board inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4905960B2 JP4905960B2 JP2007003469A JP2007003469A JP4905960B2 JP 4905960 B2 JP4905960 B2 JP 4905960B2 JP 2007003469 A JP2007003469 A JP 2007003469A JP 2007003469 A JP2007003469 A JP 2007003469A JP 4905960 B2 JP4905960 B2 JP 4905960B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relay
- current value
- current
- voltage
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
本発明は、回路基板に実装された検査対象リレーの誤実装を検査可能なリレー検査装置および基板検査装置に関するものである。 The present invention relates to a relay inspection apparatus and a board inspection apparatus capable of inspecting erroneous mounting of a relay to be inspected mounted on a circuit board.
リレー検査装置として、特開2006−153619号公報において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置では、検査部が、回路基板に実装されたリレーなどの電子部品に対して検査信号を出力して、その電子部品の抵抗値を測定する。また、検査部は、測定した抵抗値と検査用の基準値とを比較することによって電子部品の良否を判定する。この場合、例えば、検査対象リレーが故障しているときには、そのコイル部に駆動電圧を供給したとしても接点部が正常に作動せずに非接触の状態を維持する。このため、その際には、測定された接点部の抵抗値が基準値を上回ることとなる。したがって、この回路基板検査装置では、正常に作動している接点部の許容される上限抵抗値を予め基準値として定めておくことで、例えば、リレーの故障を検出することが可能となっている。
ところが、この回路基板検査装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この回路基板検査装置では、検査対象のリレーの良否が、接点部の抵抗値に基づいて判定される。一方、リレーには、同一形状であってもコイル部の定格電圧が異なる複数のタイプ(仕様)が存在する。このため、異なる仕様のリレーが回路基板に誤って実装されることがある。この際に、例えば、検査時にコイル部に供給する駆動電圧の電圧値よりも定格電圧の低いリレーが誤実装されているときには、コイル部に電流が余分に流れるものの接点部は正常に作動する。このため、この際には、測定された接点部の抵抗値が基準値を下回る結果、検査対象リレーとして、良品のリレーが正しく実装されていると判定される。したがって、この回路基板検査装置には、仕様の異なるリレーが誤実装されているときに、その誤実装を見逃すおそれがあり、この点を改善するのが好ましい。 However, this circuit board inspection apparatus has the following problems to be improved. That is, in this circuit board inspection apparatus, the quality of the relay to be inspected is determined based on the resistance value of the contact portion. On the other hand, there are a plurality of types (specifications) of relays that have the same shape but different rated voltages of the coil portions. For this reason, relays with different specifications may be erroneously mounted on the circuit board. At this time, for example, when a relay having a rated voltage lower than the voltage value of the drive voltage supplied to the coil portion during inspection is erroneously mounted, the contact portion operates normally even though an extra current flows in the coil portion. For this reason, in this case, as a result of the measured resistance value of the contact portion being lower than the reference value, it is determined that a non-defective relay is correctly mounted as the inspection target relay. Therefore, in this circuit board inspection apparatus, when a relay having a different specification is erroneously mounted, there is a possibility that the erroneous mounting may be missed, and it is preferable to improve this point.
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、仕様が異なるリレーについての誤実装を検査し得るリレー検査装置および基板検査装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem to be improved, and a main object of the present invention is to provide a relay inspection apparatus and a board inspection apparatus that can inspect for erroneous mounting of relays having different specifications.
上記目的を達成すべく請求項1記載のリレー検査装置は、回路基板に実装されている検査対象リレーのコイル部に電圧を供給する電源部と、前記電圧が前記コイル部に供給されているときに当該コイル部に流れる電流を検出する電流検出部と、前記検出された電流の電流値と予め規定された基準電流値とを比較すると共に当該比較結果に基づいて前記検査対象リレーの実装を不良と判定する判定部とを備えている。
In order to achieve the above object, the relay inspection apparatus according to
請求項2記載のリレー検査装置は、請求項1記載のリレー検査装置において、前記判定部は、前記検出された電流の電流値が前記基準電流値として予め規定された上限電流値を超えているときに前記検査対象リレーの実装を不良と判定する。
The relay inspection apparatus according to
請求項3記載のリレー検査装置は、請求項1または2記載のリレー検査装置において、前記判定部は、前記検出された電流の電流値が前記基準電流値として予め規定された下限電流値を下回っているときに前記検査対象リレーの実装を不良と判定する。
The relay inspection apparatus according to
請求項4記載のリレー検査装置は、請求項1記載のリレー検査装置において、前記検査対象リレーの一対の接点部間の抵抗値を検出する抵抗値検出部を備え、前記判定部は、前記電圧が前記コイル部に供給されているときに、前記検出された電流の電流値が前記基準電流値としてそれぞれ予め規定された上限電流値および下限電流値の範囲内であって前記検出された抵抗値が予め規定された基準抵抗値以下のときに前記検査対象リレーが良品と判定する請求項1記載のリレー検査装置。
A relay inspection device according to
請求項5記載の基板検査装置は、請求項1から4のいずれかに記載のリレー検査装置を備えている。 A substrate inspection apparatus according to a fifth aspect includes the relay inspection apparatus according to any one of the first to fourth aspects.
請求項1記載のリレー検査装置によれば、判定部が、検査対象リレーのコイル部を流れる電流の電流値と予め規定された基準電流値とを比較すると共にその比較結果に基づいて検査対象リレーの実装を不良と判定することにより、仕様の異なるリレーの誤実装を確実に検査することができる。
According to the relay inspection apparatus of
請求項2記載のリレー検査装置によれば、判定部が、検査対象リレーのコイル部を流れる電流の電流値が上限電流値を超えているときに検査対象リレーの実装を不良と判定することにより、実装されるべきリレーよりも定格電圧が低いリレーの誤実装を確実に検査することができる。
According to the relay inspection apparatus of
請求項3記載のリレー検査装置によれば、判定部が、検査対象リレーのコイル部を流れる電流の電流値が下限電流値を下回っているときに検査対象リレーの実装を不良と判定することにより、実装されるべきリレーよりも定格電圧が高いリレーの誤実装を確実に検査することができる。
According to the relay inspection apparatus of
請求項4記載のリレー検査装置によれば、判定部が、検査対象リレーのコイル部を流れる電流の電流値が上限電流値および下限電流値の範囲内であって検出された抵抗値が基準抵抗値以下のときに検査対象リレーが良品と判定することにより、リレー自体の良否を確実に検査することができる。
According to the relay inspection apparatus of
請求項5記載の基板検査装置によれば、上記したリレー検査装置と同様の効果を奏することができる。 According to the board inspection apparatus of the fifth aspect, the same effect as the above-described relay inspection apparatus can be obtained.
以下、本発明に係るリレー検査装置および基板検査装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。 The best mode of a relay inspection apparatus and a board inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
最初に、本発明に係るリレー検査装置および基板検査装置を適用した基板検査装置1の構成について、添付図面を参照して説明する。
First, the configuration of the
この基板検査装置1は、図1に示すように、一対のプローブP1,P1、一対のプローブP2,P2、一対のプローブP3,P3、電圧源2、電流検出部3、電流源4、電圧検出部5、記憶部6、表示部7、操作部8およびCPU9を備え、回路基板200に実装されている検査対象としてのリレー100の良否および実装の良否(以下、両者を総称して単に「良否」ともいう)を検査可能に構成されている。リレー100は、コイル部101および接点部102を備えて構成されている。この場合、リレー100としては、形状が同一であっても定格電圧が異なる複数の仕様のリレーがあり、各リレー毎のコイル部101のコイル抵抗値Rmは、例えば、定格電圧が5Vのリレーであれば150Ω、12Vのリレーであれば700Ω、および24Vのリレーであれば2900Ωに規定されており、定格電圧の高いリレーほど大きい値となっている。
As shown in FIG. 1, the
一対のプローブP1,P1は、リレー100のコイル部101に直流の電圧Vtを供給するために用いられるプローブであり、リレー100の検査時において、コイル部101の一端101a(または一端101aに接続される回路パターン)および他端101b(または他端101bに接続される回路パターン)にそれぞれ接触させられる。一対のプローブP2,P2は、接点部102に直流の電流Itを供給するために用いられるプローブであり、リレー100の検査時において、接点部102の一端102a(または一端102aに接続される回路パターン)および他端102b(または他端102bに接続される回路パターン)にそれぞれ接触させられる。一対のプローブP3,P3は、接点部102の電圧を検出するために用いられるプローブであり、リレー100の検査時において、接点部102の一端102a(または一端102aに接続される回路パターン)および他端102b(または他端102bに接続される回路パターン)にそれぞれ接触させられる。
The pair of probes P1 and P1 are probes used to supply a DC voltage Vt to the
電圧源2は、本発明における電源部に相当し、CPU9の制御に従い、例えば、5V、12Vおよび24Vの中から設定された電圧値の電圧Vtを生成して出力する。電流検出部3は、検出抵抗およびA/D変換回路(図示せず)等を備えて構成され、電圧Vtがリレー100のコイル部101に供給されているときに、コイル部101に流れる電流Idを検出して電流データDiを出力する。電流源4は、CPU9の制御に従い、リレー100の接点部102に電流Itを供給すると共にその電流値を設定された一定値(例えば20mA)に維持する。電圧検出部5は、A/D変換回路(図示せず)等を備えており、接点部102に電流Itが供給されているときに、接点部102の両端102a,102bの間に発生する電圧Vdを検出して電圧データDvを出力する。
The
記憶部6は、CPU9の動作プログラムを記憶すると共に、リレー100の実装についての良否判定に用いる基準電流値Is1(本発明における上限電流値)と基準電流値Is2(本発明における下限電流値)との組を複数記憶する。この場合、両基準電流値Is1,Is2はリレー100の種類および定格電圧に応じて予め規定されている。基準電流値Is1は、リレー100の定格電圧と等しい電圧値の電圧Vtがコイル部101に供給されたときにそのコイル部101に流れる電流として許容される上限電流値を意味し、基準電流値Is1は、その際にコイル部101に流れる電流として許容される下限電流値を意味する。さらに、記憶部6は、実装されているリレー100自体の良否判定に用いられる基準抵抗値Rs(例えば10Ω)を記憶する。表示部7は、一例として、LCD(Liquid Crystal Dispray)パネルを備えて構成され、リレー100自体および実装の良否を示す各種画像、並びに接点部102の両端102a,102bの間の抵抗値RrをCPU9の制御に従って表示する。操作部8は、検査を開始するためのスタートスイッチ、電圧Vtの電圧値を設定するための電圧値設定スイッチ、基準電流値Is1,Is2を設定するための基準電流値設定スイッチ、電流Itの電流値を設定するための電流値設定スイッチ、および基準抵抗値Rsを設定するための基準抵抗値設定スイッチ等の各種スイッチが配設され、それぞれのスイッチ操作に対応した操作信号SoをCPU9に出力する。
The
CPU9は、本発明における判定部に相当し、リレー100についての良否を判定すると共に、表示部7に対して画像データDgを出力して各種画像を表示させる。また、CPU9は、電圧源2に対して、制御信号Sc1を出力して、設定された電圧値の電圧Vtを出力させると共に、電流源4に対して、制御信号Sc2を出力して、設定された電流値の電流Itを出力させる。また、CPU9は、電圧検出部5から出力された電圧データDvと、電流源4に出力させている電流Itの電流値とに基づいて接点部102の抵抗値Rrを測定する。さらに、CPU9は、操作部8のスタートスイッチに対応する操作信号Soが出力されたときに、図2に示す判定処理20を実行する。
The
次に、基板検査装置1を用いて実行するリレー100についての良否判定方法について、図面を参照して説明する。
Next, a quality determination method for the
まず、検査対象のリレー100の仕様(定格電圧)に合致するように、操作部8の電圧値設定スイッチを操作して電圧Vtの電圧値を設定すると共に、基準電流値設定スイッチを操作して基準電流値Is1,Is2を設定する。この際には、CPU9が、操作部8から出力される設定内容に応じた操作信号Soに基づいて基準電流値Is1,Is2を特定して記憶部6に記憶させる。次いで、スタートスイッチを操作することで、CPU9が、記憶部6に記憶されている動作プログラムに従い、図2に示す判定処理(検査処理)20を実行する。
First, the voltage value setting switch of the operation unit 8 is operated to set the voltage value of the voltage Vt so as to match the specification (rated voltage) of the
この判定処理20では、CPU9は、最初に、一対のプローブP1,P1をコイル部101の両端101a,101bに接触させると共に、一対のプローブP2,P2および一対のプローブP3,P3を接点部102の両端102a,102bに接触させる。この後、CPU9は、電圧源2に対して、制御信号Sc1を出力することによって設定された電圧値の電圧Vtを出力させる(ステップ21)。これにより、一対のプローブP1,P1を介してコイル部101に電圧Vtが供給される。この際には、電流検出部3が、コイル部101に流れる電流Idを検出して電流データDiを出力する。次いで、CPU9は、電流データDiに基づいて電流Idの電流値Imを特定する(ステップ22)。続いて、CPU9は、設定された基準電流値Is1,Is2を記憶部6から読み出し(ステップ23)、電流値Imが基準電流値Is1を超えているか否かを判別する(ステップ24)。この場合、実装されているべき仕様のリレー100(つまり電圧Vtの電圧値と等しい定格電圧のリレー100)が回路基板200に正しく実装されているときには(例えば、12Vの電圧Vtに対して12Vの定格電圧のリレー100が回路基板200に実装されているときには)、電流値Imが基準電流値Is1以下となる。電流値Imが基準電流値Is1以下のときには、CPU9は、電流値Imが基準電流値Is2未満であるか否かを判別する(ステップ25)。この場合、実装されているべき仕様のリレー100が回路基板200に実装されているときには、電流値Imが基準電流値Is2以上となる。電流値Imが基準電流値Is2以上のときには、CPU9は、電流源4に対して制御信号Sc2を出力して設定された電流値の電流Itを出力させる(ステップ26)。これにより、一対のプローブP2,P2を介して接点部102に電流Itが供給される。この際に、電圧検出部5が、一対のプローブP3,P3を介して接点部102の両端102a,102b間の電圧Vdを検出して電圧データDvを出力する。次いで、CPU9は、電圧データDvおよび電流Itの電流値に基づいて接点部102の抵抗値Rrを算出する(ステップ27)。
In this
次いで、CPU9は、操作信号Soによって設定された基準抵抗値Rsを記憶部6から読み出し(ステップ28)、抵抗値Rrが基準抵抗値Rsを超えているか否かを判別する(ステップ29)。この場合、リレー100が正常に作動しているときには、接点部102が接触状態となって抵抗値Rrが基準抵抗値Rs以下となる。抵抗値Rrが基準抵抗値Rs以下のときには、CPU9は、リレー100を良品と判定する(ステップ30)。次いで、CPU9は、表示部7に対して画像データDgを出力して、判定結果を示す例えば「良品」の文字と共に抵抗値Rrを表示させる(ステップ31)。なお、リレー100が良品と判定されたときであっても接点部102の接触が不十分なときには、抵抗値Rrは、例えば、接触が十分であるときの抵抗値の10mΩよりも大きな数百mΩ程度の抵抗値となることがある。したがって、使用者は、表示された抵抗値Rrを確認することにより、接点部102の接触が不十分であること(リレー100が不良になりかけていること)を認識することが可能となる。なお、ステップ29において、リレー100が故障しているときには、接点部102が非接触状態となって抵抗値Rrが基準抵抗値Rsよりも大きくなる。このときには、CPU9は、リレー100を不良品と判定し(ステップ32)、表示部7に対して画像データDgを出力して、判定結果を示す例えば「不良品」の文字を表示させる(ステップ33)。
Next, the
一方、ステップ24において、実装されているべき定格電圧よりも低い定格電圧のリレー100(つまり電圧Vtの電圧値よりも低い定格電圧のリレー100)が回路基板200に実装されているときには(例えば、12Vの電圧Vtに対して5Vの定格電圧のリレー100が回路基板200に誤実装されているときには)、コイル部101のコイル抵抗値Rmが小さいため、電流値Imが基準電流値Is1を超えることとなる。このときには、CPU9は、電圧源2に対して、制御信号Sc1の出力を停止して電圧Vtの出力を直ちに停止させる(ステップ34)と共に、仕様(定格電圧)が異なるリレー100が回路基板200に誤実装されている(実装不良)と判定する(ステップ35)。続いて、CPU9は、表示部7に対して画像データDgを出力し、判定結果を示す例えば「実装不良」の文字を表示させる(ステップ36)。
On the other hand, when the
また、ステップ25において、実装されているべき定格電圧よりも高い定格電圧のリレー100(つまり電圧Vtの電圧値よりも高い定格電圧のリレー100)が回路基板200に実装されているときには(例えば、12Vの電圧Vtに対して24Vの定格電圧のリレー100が回路基板200に誤実装されているときには)、コイル部101のコイル抵抗値Rmが大きいため、電流値Imが基準電流値Is2未満となる。このときには、CPU9は、電圧源2に対して、制御信号Sc1の出力を停止して電圧Vtの出力を直ちに停止させる(ステップ37)と共に、仕様(定格電圧)が異なるリレー100が回路基板200に誤実装されている(実装不良)と判定する(ステップ38)。続いて、CPU9は、表示部7に対して画像データDgを出力し、判定結果を示す例えば「実装不良」の文字を表示させる(ステップ36)。以上により、判定処理20が終了する。
In
このように、この基板検査装置1によれば、CPU9が、コイル部101を流れる電流Idの電流値Imと基準電流値Is1,Is2とを比較すると共にその比較結果に基づいてリレー100の実装を不良と判定することにより、仕様の異なるリレー100の誤実装を確実に検査することができる。
Thus, according to this
また、この基板検査装置1によれば、CPU9が、電流Idの電流値Imが基準電流値Is1を超えているときにリレー100の実装を不良と判定することにより、実装されるべきリレー100よりも定格電圧が低いリレー100の誤実装を確実に検査することができる。
Further, according to the
また、この基板検査装置1によれば、CPU9が、電流Idの電流値Imが基準電流値Is2を下回っているときにリレー100の実装を不良と判定することにより、実装されるべきリレー100よりも定格電圧が高いリレー100の誤実装を確実に検査することができる。
Further, according to the
さらに、この基板検査装置1によれば、CPU9が、電流Idの電流値Imが基準電流値Is1以下基準電流値Is2以下の範囲内であって抵抗値Rrが基準抵抗値Rs以下のときにリレー100が良品と判定することにより、リレー100自体の良否を確実に検査することができる。
Further, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、コイル部101に流れる電流Idを検出する電流検出部については、基準電流値Is1を超える電流値の電流Idが流れていることや、基準電流値Is2を下回る電流値の電流Idが流れていることを検出する比較器(コンパレータ)で構成することもできる。また、各種設定スイッチによって電圧Vtの電圧値などを検査時に設定する構成について説明したが、電圧Vtの電圧値、基準電流値Is1,Is2、電流Itの電流値および基準抵抗値Rsを検査に先立って記憶部6に予め記憶させておき、検査対象リレーの仕様(例えば定格電圧)を操作部8で設定したり、CPU9の動作プログラムに予め組み込んだりしておくことにより、CPU9が検査対象のリレー100の仕様に合致するように電圧Vtの電圧値の設定や、基準電流値Is1,Is2に基づく検査を自動的に行う構成を採用することもできる。また、CPU9に対して、電圧Vtがリレー100のコイル部101に供給されているときに、検出された電流Idの電流値Imが基準電流値Is1および基準電流値Is2の範囲内であって検出された抵抗値Rrが基準抵抗値Rsを超えるときにリレー100が不良品と判定させ、電流値Imが基準電流値Is1を超えるときや基準電流値Is2未満のときにもリレー100が不良品と判定させることもできる。
In addition, this invention is not limited to said structure. For example, with respect to the current detection unit that detects the current Id flowing through the
1 基板検査装置
2 電圧源
3 電流検出部
9 CPU
100 リレー
101 コイル部
102 接点部
200 回路基板
Id 電流
Im 電流値
Is1,Is2 基準電流値
Rr 抵抗値
Rs 基準抵抗値
Vt 電圧
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007003469A JP4905960B2 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | Relay inspection device and board inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007003469A JP4905960B2 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | Relay inspection device and board inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008170266A JP2008170266A (en) | 2008-07-24 |
JP4905960B2 true JP4905960B2 (en) | 2012-03-28 |
Family
ID=39698504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007003469A Active JP4905960B2 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | Relay inspection device and board inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4905960B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102301218B1 (en) * | 2018-01-30 | 2021-09-10 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | Apparatus for diagnosing relay drive circuit |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0479272A (en) * | 1990-07-20 | 1992-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | Anode junction apparatus |
JPH04208876A (en) * | 1990-11-30 | 1992-07-30 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Testing relay |
JPH04315068A (en) * | 1991-04-11 | 1992-11-06 | Mitsubishi Electric Corp | Apparatus for inspecting printed circuit board |
-
2007
- 2007-01-11 JP JP2007003469A patent/JP4905960B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008170266A (en) | 2008-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009204329A (en) | Circuit board inspecting system and inspection method | |
US6958619B2 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board | |
JP6046404B2 (en) | Display device | |
US20150067378A1 (en) | Measuring apparatus, measuring method, and measuring system | |
US20030001562A1 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board | |
JP4346318B2 (en) | Pressure tester | |
JP5085275B2 (en) | Insulation inspection equipment | |
JP4905960B2 (en) | Relay inspection device and board inspection device | |
JP2007171069A (en) | Insulation withstand voltage tester | |
JP5507363B2 (en) | Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method | |
KR20140146535A (en) | Circuit board inspection apparatus | |
JP2009002857A (en) | Circuit element measuring apparatus | |
JP2008215832A (en) | Harness failure position detection device | |
JP2010014508A (en) | Measuring apparatus and method | |
JP2010066050A (en) | Apparatus and method for insulation test | |
JP5944121B2 (en) | Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method | |
US20130124902A1 (en) | Monitoring gpu socket degradation | |
JP5306575B2 (en) | Electronic device testing apparatus and electronic device testing method | |
KR20150131007A (en) | Insulation inspection method and insulation inspection apparatus | |
KR101474740B1 (en) | Device for testing connection between PC card and printed cricuit board | |
JP2004286669A (en) | Device for inspecting substrate | |
JP6965110B2 (en) | Inspection equipment and inspection method | |
KR101578917B1 (en) | Tester apparatus for instant short circuit and method thereof | |
JP2009294074A (en) | Display panel inspection device and inspection method | |
JP4987591B2 (en) | Circuit board inspection equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091224 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120104 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120105 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4905960 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |