JP4866315B2 - Mounting table - Google Patents
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Description
本発明は、半導体ウエハ(以下、単に基板と称する)等の基板を周囲雰囲気から遮断して収容可能なFOUP(Front Opening Unified Pod)と呼ばれる容器を載置するための載置台に関する。 The present invention relates to a mounting table for mounting a container called a FOUP (Front Opening Unified Pod) capable of receiving a substrate such as a semiconductor wafer (hereinafter simply referred to as a substrate) from a surrounding atmosphere.
従来、この種の装置として、FOUP(Front Opening Unified Pod)の搬入出口に取り付けられた蓋を着脱する着脱機構と、蓋が開放された状態で基板の積層方向に昇降して、FOUPに収納された基板の枚数及び位置を検出するマッピングアームとを備えた載置台がある(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, as this type of equipment, an attachment / detachment mechanism that attaches / detaches the lid attached to the carry-in / out port of the FOUP (Front Opening Unified Pod), and ascends and descends in the stacking direction of the substrate with the lid open, and is stored in the FOUP There is a mounting table provided with a mapping arm for detecting the number and position of the substrates (for example, see Patent Document 1).
この載置台は、そのマッピングアームのFOUP側の先端部に、FOUP内の正規位置に収まった状態の基板の端縁を検出する検出器を備え、さらに、正規位置から大きくずれ、FOUPの搬入出口から基板が飛び出したことを検出する飛び出し検出器を備えている。そして、飛び出し検出器が基板を検知した場合には、マッピングアームを昇降させると基板の破損等の問題が生じる恐れがあるので、警報を報知して処理を停止させ、オペレータが手動で蓋を閉止させるなどの例外的な処理を行わせる。
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、飛び出し検出器で検出されるほど基板の位置がずれてはいないものの、その位置が正規位置からずれている場合には、警報等が報知されることがなく処理が継続されるので、搬出処理の際に基板の取りこぼしが生じる恐れがある。
However, the conventional example having such a configuration has the following problems.
In other words, the conventional apparatus does not shift the position of the substrate as detected by the pop-up detector, but if the position deviates from the normal position, the process continues without alarming. As a result, the substrate may be missed during the unloading process.
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板の中間的な位置ずれを検出可能にすることにより、基板の取りこぼしを防止することができる載置台を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a mounting table that can prevent the substrate from being missed by making it possible to detect an intermediate displacement of the substrate. And
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を処理部で処理する基板処理装置に配備され、複数枚の基板を収納するためのFOUP(Front Opening Unified Pod)を載置する載置台において、前記FOUPの搬入出口に取り付けられる蓋を前記FOUPに対して着脱する着脱手段と、前記FOUPに収納されている基板の枚数を計数する計数手段と、前記FOUPに収納されている基板がずれて搬入出口から飛び出していることを検出する第1の検出手段と、平面視にて前記計数手段で検出される正規位置と、前記第1の検出手段で検出されるずれ位置との間で、前記FOUPから基板が飛び出して中間位置にあることを検出する第2の検出手段と、前記第1の検出手段が基板を検出している場合には、異常発生を報知し、前記第1の検出手段が基板を検出しておらず前記第2の検出手段が基板を検出している場合には、前記着脱手段を操作して蓋を着脱させ、前記計数手段だけが基板を検出している場合には、計数処理の後に基板の搬出処理へ移行させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention described in claim 1 is provided in a substrate processing apparatus for processing a substrate in a processing unit, and a mounting table on which a FOUP (Front Opening Unified Pod) for storing a plurality of substrates is mounted. Detachment means for attaching and detaching a lid attached to the carry-in / out port of the FOUP with respect to the FOUP, counting means for counting the number of substrates accommodated in the FOUP, and the carry-in / out opening when the substrates accommodated in the FOUP are displaced Between the first detection means for detecting that it is popping out from the normal position detected by the counting means in plan view and the shift position detected by the first detection means from the FOUP When the first detection means detects the substrate when the first detection means detects the substrate, the second detection means that detects that the substrate has popped out and is in an intermediate position, and the first detection means The second detecting means is not detected Controls the attachment / detachment of the lid by operating the attaching / detaching means when detecting the substrate, and moving to the substrate unloading process after the counting process when only the counting means detects the substrate. And means.
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、着脱手段によりFOUPから蓋を取り外すとともに計数手段で計数を行うが、第1の検出手段に加え、第2の検出手段を備えているので、正規位置とずれ位置との間にあたる中間位置にまで基板がずれてきたとしても検出することができる。したがって、基板の取りこぼしを防止することができる。また、制御手段は、第1の検出手段が基板を検出している場合には、異常発生を報知し、第1の検出手段が基板を検出しておらず第2の検出手段が基板を検出している場合には、着脱手段を操作して蓋を着脱させ、計数手段だけが基板を検出している場合には、計数処理の後に基板の搬出処理へ移行させる。したがって、基板が中間位置にずれている場合には、着脱手段を操作して蓋を着脱させることにより、人手を介することなく次の処理に移行させることができる。 [Operation / Effect] According to the first aspect of the present invention, the lid is removed from the FOUP by the attaching / detaching means and the counting is performed by the counting means. In addition to the first detecting means, the second detecting means is provided. Therefore, even if the substrate has shifted to an intermediate position between the normal position and the shift position, it can be detected. Therefore, it is possible to prevent the substrate from being missed. In addition, when the first detection unit detects the substrate, the control unit notifies the occurrence of abnormality, and the first detection unit does not detect the substrate and the second detection unit detects the substrate. In this case, the lid is attached / detached by operating the attaching / detaching means, and when only the counting means detects the substrate, the processing is shifted to the substrate unloading processing after the counting processing. Therefore, when the substrate is shifted to the intermediate position, it is possible to shift to the next processing without manual operation by operating the attaching / detaching means to attach / detach the lid.
本発明において、前記計数手段は、前記FOUPの搬入出口側にて基板の端縁を挟んで配置された一対のマッピングアームと、前記一対のマッピングアームの先端側にそれぞれ設けられ、基板の端縁を検出する方向に光軸を向けて配設された投受光器と、前記一対のマッピングアームを基板の積層方向に移動させる移動手段とを備え、前記第1の検出手段は、平面視で前記FOUPの搬入出口よりも外側にあたる位置に設けられ、基板の積層方向に光軸を有する投受光器を備えていることすることが好ましい(請求項2)。移動手段によりマッピングアームを移動させることにより基板の枚数及び位置を検出でき、第1の検出手段の投受光器により基板の飛び出しを検出できる。 In the present invention, the counting means is provided on each of the pair of mapping arms arranged on the loading / unloading side of the FOUP across the edge of the substrate, and on the tip side of the pair of mapping arms, And a moving unit that moves the pair of mapping arms in the stacking direction of the substrate, and the first detecting unit includes the first detecting unit in a plan view. It is preferable that a projector / receiver provided at a position outside the carry-in / out port of the FOUP and having an optical axis in the substrate stacking direction is provided. The number and position of the substrates can be detected by moving the mapping arm by the moving means, and the protrusion of the substrate can be detected by the light projecting / receiving device of the first detecting means.
本発明において、前記第2の検出手段は、前記一対のマッピングアームの先端側であって、平面視にて前記計数手段の投受光器の光軸と前記第1の検出手段の投受光器の光軸との間に光軸を有する投受光器を備えていることが好ましい(請求項3)。第2の検出手段は、その投受光器の光軸が、計数手段の投受光器の光軸と、第1の検出手段の投受光器の光軸との間に位置するように一対のマッピングアームの先端側に備えられる。これにより基板が飛び出して中間位置にあることを検出することができる。 In the present invention, the second detection means is on the distal end side of the pair of mapping arms, and in plan view, the optical axis of the light emitter / receiver of the counting means and the light emitter / receiver of the first detector means It is preferable that a projector / receiver having an optical axis between the optical axis and the optical axis is provided. The second detection means has a pair of mappings such that the optical axis of the light projecting / receiving device is located between the optical axis of the light projecting / receiving device of the counting means and the optical axis of the light projecting / receiving device of the first detection means. Provided on the tip side of the arm. As a result, it is possible to detect that the substrate has popped out and is at an intermediate position.
(削除)(Delete)
本発明に係る載置台によれば、着脱手段によりFOUPから蓋を取り外すとともに計数手段で計数を行うが、第1の検出手段に加え、第2の検出手段を備えているので、正規位置とずれ位置との間にあたる中間位置にまで基板がずれてきたとしても検出することができる。したがって、基板の取りこぼしを防止することができる。また、制御手段は、第1の検出手段が基板を検出している場合には、異常発生を報知し、第1の検出手段が基板を検出しておらず第2の検出手段が基板を検出している場合には、着脱手段を操作して蓋を着脱させ、計数手段だけが基板を検出している場合には、計数処理の後に基板の搬出処理へ移行させる。したがって、基板が中間位置にずれている場合には、着脱手段を操作して蓋を着脱させることにより、人手を介することなく次の処理に移行させることができる。 According to the mounting table of the present invention, the lid is removed from the FOUP by the attaching / detaching means and the counting means is used for counting. However, since the second detecting means is provided in addition to the first detecting means, it is displaced from the normal position. Even if the substrate is shifted to an intermediate position corresponding to the position, it can be detected. Therefore, it is possible to prevent the substrate from being missed. In addition, when the first detection unit detects the substrate, the control unit notifies the occurrence of abnormality, and the first detection unit does not detect the substrate and the second detection unit detects the substrate. In this case, the lid is attached / detached by operating the attaching / detaching means, and when only the counting means detects the substrate, the processing is shifted to the substrate unloading processing after the counting processing. Therefore, when the substrate is shifted to the intermediate position, it is possible to shift to the next processing without manual operation by operating the attaching / detaching means to attach / detach the lid.
以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明する。
図1は、実施例に係る載置台の概略構成を示す一部破断縦断面図であり、図2は、実施例に係る載置台の要部を示す一部破断横断面図であり、図3は、制御系のブロック図である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1 is a partially broken longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a mounting table according to the embodiment, and FIG. 2 is a partially broken transverse sectional view showing a main part of the mounting table according to the embodiment. FIG. 3 is a block diagram of a control system.
実施例に係る載置台は、複数枚の基板Wを積層収納したFOUP1を載置するための載置部3を備えている。FOUP1は、その一側面に基板Wが搬入出される搬入出口5を備えている。搬入出口5には、FOUP1内を外部雰囲気から遮断するため蓋7が取り付けられている。
The mounting table according to the embodiment includes a mounting unit 3 for mounting a FOUP 1 in which a plurality of substrates W are stacked and stored. The FOUP 1 includes a loading /
基板Wに対して種々の処理、例えば、基板Wに所定パターンを形成したり、基板Wに対して薬液処理などを行ったりする、基板処理装置が備えている処理部9は、この載置台に隣接して配置されている。載置部3の処理部9側には、遮蔽部材11が立設されている。遮蔽部材11の一部位には、開口部13が形成されている。この開口部13は、FOUP1が載置部3に載置された場合にのみ開閉され、それ以外の時は閉止される構造となっている。
The
開口部13は、本発明における着脱手段に相当する蓋着脱部15によって開閉される。具体的には、蓋着脱部15は開口部13を閉止した状態(図1に二点差線で示す)である「閉止位置」と、FOUP1の蓋7を取り外して、処理部9側で開口部13よりも下方にあたる「開放位置」とにわたって昇降可能である。
The
蓋着脱部15の処理部9側には、計数部17が配置されている。この計数部17は、蓋着脱部15とは別体で動作するものであり、蓋着脱部15の処理部9側に昇降部材19を備えている。この昇降部材19の上面には、一対のマッピングアーム21が取り付けられている。マッピングアーム21は、基端部側が昇降部材19の上面において鉛直軸周りに揺動自在であり、先端部側にマッピングセンサ23が設けられている。マッピングアーム21は、待機時に二点差線で示すように開放された状態(昇降部材19側に収納された状態)であり、後述するように基板Wを計数する際には、図2に示すように基板Wの端縁を検出可能なように半閉止状態とされる。マッピングセンサ23は、投光器25と受光器27とを備えている。この光軸LA1は、FOUP1に正常に基板Wが収容された状態(正規位置)にあることを検出可能な位置になるように投光器25と受光器27とが対向して取り付けられている。マッピングアーム21は、基板Wを計数する際に、図示しない昇降機構によって昇降部材19とともに基板Wの積層方向にわたって移動される。
A
なお、上記の計数部17が本発明における計数手段に相当する。
The counting
載置部3の開口部13には、飛び出し検出部29が配設されている。飛び出し検出部29は、例えば、投光器31と受光器33を備え、開口部13の上部に投光器31が、下部に受光器33が埋設されている。飛び出し検出器29の光軸LA2は、基板WがFOUP1の搬入出口5から大きく飛び出した際に検出可能な位置(ずれ位置:図2中に二点鎖線で示す)に合わせてある。このずれ位置は、正規位置から23mm程度である。
A pop-
なお、上記の飛び出し検出部29が本発明における第1の検出手段に相当する。
The pop-
また、マッピングアーム21におけるマッピングセンサ23の先端部側には、さらに中間センサ35が取り付けられている。中間センサ35は、例えば、投光器37と受光器39とを対向して備えており、その光軸LA3が光軸LA1と光軸LA2との間にあたり、かつ基板Wの端縁が搬入出口5から大きく飛び出さない位置(中間位置:図2中に点線で示す)に調節されている。
Further, an
なお、上記の中間センサ35が本発明における第2の検出手段に相当する。
The
上述した蓋着脱部15の昇降及び蓋7着脱の動作、一対のマッピングアーム21の開閉動作、計数部17の昇降動作などは、CPUやタイマ・カウンタなどを備えた制御部41によって統括的に制御される。また、上述したマッピングセンサ23、飛び出し検出部29、中間センサ35の出力信号は、制御部41に与えられる。後述するような異常状態となった場合には、制御部41は報知部43を動作させて異常発生を報知する。報知部43としては、例えば、ランプやブザーなどが挙げられる。
The above-described lifting / removing operation of the lid attaching / detaching
なお、制御部41が本発明の制御手段に相当する。
The
次に、図4を参照して、上述した載置台の動作について説明する。なお、図4は、装置の動作を示すフローチャートである。 Next, the operation of the mounting table described above will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the apparatus.
ステップS1
制御部41は、まずカウンタをリセットして初期化しておく。このカウンタは、後述する処理において、中間センサ35がオンとなった場合に無限ループに陥るのを防止するために利用される。
Step S1
The
ステップS2
制御部41は、蓋着脱部15を操作して、FOUP1の蓋7を開放させ始める。蓋着脱部15は、蓋7のFOUP1に対するロックを解除するとともに、蓋7を手前側に引き出して、蓋7とともに下方へ向かって移動を開始する。
Step S2
The
ステップS3
蓋7が移動を開始した後、一対のマッピングアーム21を開放させて昇降部材19ごとマッピングセンサ23を下降させ始める。これにより、制御部41は、FOUP1に収容されている基板Wの枚数および位置を検出して記憶する。
Step S3
After the
ステップS4
制御部41は、飛び出し検出部29が基板Wの飛び出しを検出したか否かで処理を分岐する。
Step S4
The
ステップS5
ステップS4において、飛び出し検出部29がオンしている場合には、報知部43を作動させて作業者に異常が発生したことを知らせる。基板WがFOUP1から飛び出した状態であり、蓋7をFOUP1に戻すことはできないので、このままの状態で待機する。
Step S5
In step S4, when the pop-
ステップS6
ステップS4において、飛び出し検出部29がオフしている場合には、中間センサ35が作動したか否かによって処理を分岐する。
Step S6
In step S4, when the pop-
ステップS7〜S10
中間センサ35がオンした場合には、基板WがFOUP1から搬入出口5から飛び出すほどの「ずれ位置」にまではずれていないものの、「正規位置」からは飛び出した状態である。そこで、蓋7が「開放位置」まで移動した後(ステップS7)、報知部43を操作してアラームを発生させ、注意を喚起する(ステップS8)。さらに蓋着脱部15を操作して、ステップS7で「開放位置」にまで移動して開放完了した蓋7を再び「閉止位置」にまで移動してFOUP1に対して装着させる(ステップS10)。蓋7を装着させることにより、中間位置へずれた基板Wを正規位置へと戻せる場合がある。このとき、制御部41は、カウンタを1だけインクリメントする。
Steps S7 to S10
When the
なお、ステップS9では、制御部41がカウンタをチェックし、カウンタが所定値に達しているかどうかを判断する。所定値としては、例えば「3」であり、基板Wの中間位置へのずれが3回検出された場合には、次のずれ検出時にはステップS11へ移行する。これにより基板Wの中間位置へのずれを検出して蓋7を装着しても正規位置へと基板Wが戻らない場合に、無限ループへと陥ることを防止することができる。なお、3回の蓋7開閉を繰り返しているので、正規位置にまで戻らない基板Wがあるものの、そのずれが小さく基板Wの搬送時に基板Wの取りこぼしが生じる可能性が極めて低いので基板Wの搬送を行うが、アラームを発して処理を中止するようにしてもよい。つまり、ステップS9でYesの場合に、ステップS5へ移行するようにしてもよい。
In step S9, the
ステップS11,S12
蓋7が「開放位置」へ移動した後、飛び出し検出部29も中間センサ35もオンしなかった場合には、全ての基板WがFOUP1の正規位置にあることを示すので、制御部41は処理部9側にある図示しない搬送手段により基板Wを搬出させる。なお、搬出時には、マッピングセンサ23によって得られた基板Wの位置情報に基づいて搬出作業が行われる。
Steps S11 and S12
If neither the pop-
上述したように、蓋着脱部15によりFOUP1から蓋7を取り外すとともに計数部17で計数を行うが、飛び出し検出部29に加え、中間センサ35を備えているので、正規位置とずれ位置との間にあたる中間位置にまで基板Wがずれてきたとしても検出することができる。したがって、基板Wの取りこぼしを防止することができる。
As described above, the
また、制御部41は、計数部17だけが基板Wを検出している場合には、計数処理の後に基板Wの搬出処理へ移行させ、計数部17及び飛び出し検出部29とが基板を検出している場合には、蓋着脱部15を操作して蓋7を着脱させ、計数部17及び飛び出し検出部29並びに中間センサ35が基板Wを検出している場合には、異常発生を報知する。したがって、基板Wが中間位置にずれている場合には、蓋着脱部15を操作して蓋7を着脱させることにより、人手を介することなく次の処理に自動的に移行させることができる。
In addition, when only the
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。 The present invention is not limited to the above embodiment, and can be modified as follows.
(1)上述した実施例では、飛び出し検出部29及び中間センサ35が光による検出方式を採用しているが、音波式などの他の検出方式を採用してもよい。また、透過型の検出方式でなく、反射型の検出方式のものとしてもよい。
(1) In the above-described embodiment, the pop-
(2)上述した実施例では、一対のマッピングアーム21に中間センサ35を備えているが、これとは別体で、基板Wが中間位置にあることを検出できる構成としてもよい。例えば、FOUP1の搬入出口5内に進退自在の上アームと下アームを備え、FOUP1内の基板Wの積層方向に光軸を備える構成としてもよい。
(2) In the embodiment described above, the pair of
(3)上述した実施例では、一つの中間センサ35によって基板Wの中間位置への飛び出しを検出しているが、異なる位置に配設された複数個の中間センサ35を備え、飛び出しの状態を複数段階に判断する構成としてもよい。
(3) In the above-described embodiment, the jumping to the intermediate position of the substrate W is detected by one
W … 基板
1 … FOUP
3 … 載置部
5 … 搬入出口
7 … 蓋
9 … 処理部
15 … 蓋着脱部
17 … 計数部
21 … 一対のマッピングセンサ
23 … マッピングセンサ
29 … 飛び出し検出部
35 … 中間センサ
41 … 制御部
W ... Board 1 ... FOUP
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Mounting
Claims (3)
前記FOUPの搬入出口に取り付けられる蓋を前記FOUPに対して着脱する着脱手段と、
前記FOUPに収納されている基板の枚数を計数する計数手段と、
前記FOUPに収納されている基板がずれて搬入出口から飛び出していることを検出する第1の検出手段と、
平面視にて前記計数手段で検出される正規位置と、前記第1の検出手段で検出されるずれ位置との間で、前記FOUPから基板が飛び出して中間位置にあることを検出する第2の検出手段と、
前記第1の検出手段が基板を検出している場合には、異常発生を報知し、前記第1の検出手段が基板を検出しておらず前記第2の検出手段が基板を検出している場合には、前記着脱手段を操作して蓋を着脱させ、前記計数手段だけが基板を検出している場合には、計数処理の後に基板の搬出処理へ移行させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする載置台。 In a mounting table that is installed in a substrate processing apparatus that processes substrates in a processing unit and that mounts FOUP (Front Opening Unified Pod) for storing multiple substrates,
Removable means for attaching and detaching a lid attached to the carry-in / out port of the FOUP with respect to the FOUP,
Counting means for counting the number of substrates stored in the FOUP;
First detecting means for detecting that the substrate stored in the FOUP is displaced and jumps out of the loading / unloading port;
A second position for detecting that the substrate protrudes from the FOUP and is in an intermediate position between a normal position detected by the counting means in plan view and a shift position detected by the first detection means; Detection means;
When the first detection means detects the substrate, the occurrence of abnormality is notified, and the first detection means does not detect the substrate, and the second detection means detects the substrate. In this case, the control means for operating the attaching / detaching means to attach / detach the lid, and when only the counting means detects the substrate, shifts to the substrate unloading process after the counting process;
A mounting table characterized by comprising:
前記計数手段は、
前記FOUPの搬入出口側にて基板の端縁を挟んで配置された一対のマッピングアームと、前記一対のマッピングアームの先端側にそれぞれ設けられ、基板の端縁を検出する方向に光軸を向けて配設された投受光器と、前記一対のマッピングアームを基板の積層方向に移動させる移動手段とを備え、
前記第1の検出手段は、
平面視で前記FOUPの搬入出口よりも外側にあたる位置に設けられ、基板の積層方向に光軸を有する投受光器を備えていることを特徴とする載置台。 The mounting table according to claim 1,
The counting means includes
A pair of mapping arms arranged across the edge of the substrate on the loading / unloading side of the FOUP, and provided on the tip side of the pair of mapping arms, with the optical axis directed in the direction of detecting the edge of the substrate And a moving means for moving the pair of mapping arms in the substrate stacking direction,
The first detection means includes
A mounting table provided with a projector / receiver which is provided at a position outside the loading / unloading port of the FOUP in a plan view and has an optical axis in the substrate stacking direction.
前記第2の検出手段は、
前記一対のマッピングアームの先端側であって、平面視にて前記計数手段の投受光器の光軸と前記第1の検出手段の投受光器の光軸との間に光軸を有する投受光器を備えていることを特徴とする載置台。 The mounting table according to claim 2,
The second detection means includes
Projecting / receiving light having an optical axis between the optical axis of the light projecting / receiving device of the counting means and the optical axis of the light projecting / receiving device of the first detection means in a plan view, on the tip side of the pair of mapping arms A mounting table characterized by comprising a container.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2940721A1 (en) | 2014-04-28 | 2015-11-04 | Sinfonia Technology Co., Ltd. | Wafer mapping apparatus and load port including same |
JP2018029210A (en) * | 2017-11-21 | 2018-02-22 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Load port and wafer mapping device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11145239A (en) * | 1997-11-11 | 1999-05-28 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Wafer processor |
KR19990086237A (en) * | 1998-05-26 | 1999-12-15 | 윤종용 | Transfer arm of semiconductor wafer transfer device and transfer device having same |
JP4096213B2 (en) * | 1998-07-17 | 2008-06-04 | 株式会社安川電機 | Wafer transfer device |
JP4669643B2 (en) * | 2001-09-17 | 2011-04-13 | ローツェ株式会社 | Wafer mapping apparatus and load port having the same |
-
2007
- 2007-08-16 JP JP2007212086A patent/JP4866315B2/en active Active
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2940721A1 (en) | 2014-04-28 | 2015-11-04 | Sinfonia Technology Co., Ltd. | Wafer mapping apparatus and load port including same |
KR20150124399A (en) | 2014-04-28 | 2015-11-05 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | Wafer mapping apparatus and load port having the same |
US9239228B2 (en) | 2014-04-28 | 2016-01-19 | Sinfonia Technology Co., Ltd. | Wafer mapping apparatus and load port including same |
KR20220050868A (en) | 2014-04-28 | 2022-04-25 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | Wafer mapping apparatus and load port having the same |
JP2018029210A (en) * | 2017-11-21 | 2018-02-22 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Load port and wafer mapping device |
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